KR930003671B1 - Testing devices of lcd panel - Google Patents
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Abstract
Description
제 1 도는 본 발명에 의한 액정표시 판넬의 특성측정장치 구성도.1 is a block diagram of a characteristic measuring apparatus for a liquid crystal display panel according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
A : 테스트용 액정표시 판넬 10,20 : 제1,2버퍼부A: liquid crystal display panel for test 10, 20: first and second buffer parts
30,40 : 제1,2버퍼제어부 50 : 신호증폭 및 변환부30,40: first and second buffer control unit 50: signal amplification and conversion unit
60 : 아날로그/디지틀 신호 변환부 70 : 마이크로 프로세서60: analog / digital signal converter 70: microprocessor
80 : 입출력부 90 : 출력 표시부80: input / output unit 90: output display unit
본 발명은 액정표시 판넬의 특성 측정장치에 관한 것으로, 특히 액정표시 판넬의 입력/출력 전압, 전류특성을 판단할 수 있는 특성 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a characteristic measuring apparatus of a liquid crystal display panel, and more particularly, to a characteristic measuring apparatus capable of determining input / output voltage and current characteristics of a liquid crystal display panel.
화상 표시용으로 개발된 X-Y 매트릭스형 액정표시 판넬은 베이스 플레이트에 X-Y 좌표상의 게이트 라인과 소오스 라인이 배열 되도록 구성되며, 이와 같이 배열된 게이트 라인과 소오스 라인의 각 교차점에는 스위칭 소자인 박막 트랜지스터가 형성된다. 이때, 상기 박막 트랜지스터는 베이스 플레이트 상의 소오스 라인 및, 게이트 라인과 함께 고도의 박막 형성 공정을 통하여 형성되게 된다. 따라서, 상기 액정표시 판넬에 있어서의 불량 원인으로서는 완전한 형태의 막이 형성되지 않은 경우가 그 대종을 이루는 바, 특히 미세 요소인 박막 트랜지스터의 단자와 그 인근 라인이 부분적으로 오픈(Open)되게 되는 경우에는 액정표시 판넬을 사용할 수 없게 된다. 이는 액정표시 판넬의 제조과정중에 자주 발생하는 것으로서, 이에 대한 대책으로 공정상의 불량률을 저감시키고자 물리적 방법에 의한 엄격한 공정관리를 하도록 하고 있다. 그러나, 물리적 방법으로 제품의 불량률을 저감시키는데에는 특성 측정에 많은 시간이 소비되어 특성 분석에 한계가 있을 수 밖에 없으며, 또한 특성 분석 데이타가 부정확한 제반 문제점이 있었다.The XY matrix liquid crystal display panel developed for image display is configured such that gate lines and source lines on XY coordinates are arranged on a base plate, and thin film transistors, which are switching elements, are formed at each intersection of the gate lines and the source lines arranged in this manner. do. In this case, the thin film transistor is formed through a highly thin film forming process together with a source line and a gate line on the base plate. Therefore, as a cause of failure in the liquid crystal display panel, a case in which a complete film is not formed is a major problem. In particular, when a terminal and a neighboring line of a thin film transistor, which is a fine element, are partially opened. The liquid crystal panel can no longer be used. This occurs frequently during the manufacturing process of the liquid crystal display panel. As a countermeasure, strict process control by physical methods is performed to reduce the defect rate in the process. However, in order to reduce the defective rate of the product by the physical method, it takes a lot of time to measure the characteristics, there is no limit to the characteristic analysis, and there is a problem that the characterization data is inaccurate.
따라서 본 발명은 상기 제반 문제점을 해결하기 위하여 창출한 것으로서 액정표시 판넬에 입력 신호를 인가하고, 이에 출력되는 파형 및 전압치를 마이크로 프로세서에 전송하여 액정표시 판넬의 특성을 분석함으로써 특성 측정 시간을 단축하고 특성 측정 데이타의 정확성을 기 할수 있도록 한 액정표시 판넬의 특성 측정장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Therefore, the present invention has been made to solve the above problems, by applying an input signal to the liquid crystal display panel, and transmitting the waveform and voltage values to the microprocessor to analyze the characteristics of the liquid crystal display panel, thereby reducing the characteristic measurement time. It is an object of the present invention to provide a characteristic measuring device for a liquid crystal display panel that enables accurate measurement of characteristic data.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 테스트용 액정표시 판넬을 측정하기 위한 신호를 입력 신호 및 출력신호로 구분하여 통과 및 차단시키는 제1,2버퍼부와, 상기 제1,2버퍼부를 각기 제어하는 제1,2버퍼제어부와, 상기 제1,2버퍼부에서 출력되는 신호를 증폭 및 변환시켜주는 신호 증폭 및 변환부와, 상기 신호 증폭 및 변환부에서 전송되는 아날로그 신호를 디지틀 신호로 변환하는 아날로그/디지틀 신호 변환부와, 내장되어 있는 프로그램을 제어하여 그 제어 신호를 출력하는 마이크로 프로세서와, 상기 마이크로 프로세서에서 전송되는 제어 신호에 따라 아날로그/디지틀 신호 변환부의 출력 신호를 제어하거나 상기 제1,2버퍼제어부로 전송되는 신호를 입출력부와, 상기 입출력부에서 전송되는 신호에 따라 데이타 처리되는 결과를 표시해 주는 출력표시부를 포함한다.In order to achieve the above object, the present invention, the first and second buffer section for passing and blocking the signal for measuring the liquid crystal display panel for testing and output signal, and the first and second buffer unit respectively control A first and second buffer control unit, a signal amplifying and converting unit for amplifying and converting the signal output from the first and second buffer unit, and converting an analog signal transmitted from the signal amplifying and converting unit into a digital signal. An analog / digital signal converter, a microprocessor controlling an embedded program to output the control signal, and controlling the output signal of the analog / digital signal converter according to a control signal transmitted from the microprocessor, 2 shows the output of the signal transmitted to the buffer control unit and the result of data processing according to the signal transmitted from the input / output unit And a force display.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 기술하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제 1 도는 본 발명에 의한 액정표시 판넬의 특성 측정장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of an apparatus for measuring characteristics of a liquid crystal display panel according to the present invention.
제 1 도에 의하면, 본 발명에 의한 특성 측정장치는 테스트용 액정표시 판넬(A)을 측정하기 위한 신호를 입력신호 및 출력신호로 구분하여 통과 및 차단시키는 제1,2버퍼부(10,20)와 ; 상기 제1,2버퍼부(10,20)를 각기 제어하는 제1,2버퍼제어부(30,40)와 ; 상기 제1,2버퍼부(10,20)에서 출력되는 신호를 증폭 및 변환 시켜주는 신호 증폭 및 변환부(50)와 ; 상기 신호 증폭 및 변환부(50)에서 전송되는 아날로그 신호를 디지틀 신호로 변환하는 아날로그/디지틀 신호 변환부(60)와 ; 내장되어 있는 프로그램을 제어하여 그 제어 신호를 출력하는 마이크로 프로세서(70)와 ; 상기 마이크로 프로세서(70)에서 전송되는 제어신호에 따라 아날로그/디지틀 신호 변환부(60)의 출력 신호를 제어하거나, 상기 제1,2버퍼제어부(30,40)로 전송되는 신호를 제어하는 입출력부(80)와 ; 상기 입출력부(80)에서 전송되는 신호에 따라 데이타 처리되는 결과를 표시해 주는 출력 표시부(90)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the characteristic measuring apparatus according to the present invention includes first and second buffer units 10 and 20 that pass and block a signal for measuring a liquid crystal display panel A for testing by dividing it into an input signal and an output signal. )Wow ; First and second buffer controllers 30 and 40 for controlling the first and second buffer units 10 and 20, respectively; A signal amplification and conversion unit 50 for amplifying and converting signals output from the first and second buffer units 10 and 20; An analog / digital signal conversion unit 60 for converting an analog signal transmitted from the signal amplification and conversion unit 50 into a digital signal; A microprocessor 70 for controlling an embedded program and outputting a control signal; An input / output unit for controlling an output signal of the analog / digital signal converter 60 or a signal transmitted to the first and second buffer controllers 30 and 40 according to a control signal transmitted from the microprocessor 70. 80 and; And an
상기한 바와 같은 구성을 가진 본 발명의 작동 관계를 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the present invention having the configuration as described above in more detail.
제 1 도에 의하면, 테스트용 액정표시 판넬(A)에 접속되어 있는 제1,2버퍼부(10,20)는 제1,2버퍼제어부(30,40)에서 전송되는 제어 신호에 의해 테스트용 액정표시 판넬(A)의 수평 라인과 수직 라인에서 1라인씩 선택하여 오픈(Open), 단락, 및 액정 표시소자의 셀 특성 신호를 신호 증폭 및 변환부(50)에 전송한다. 상기 신호증폭 및 변환부(50)는 제1,2버퍼부(10,20)에서 전송된 특성 신호(전압값)를 증폭하고 변환하여 아날로그/디지틀 신호 변환부(60)에 입력 시킨다. 상기 아날로그/디지틀 신호 변환부(60)는 신호 증폭 및 변환부(50)에서 신호특성에 따라 약간의 차등을 주어 신호 처리되는 아날로그 신호를 디지틀 신호로 변환하여 마이크로 프로세서(70)가 특성신호를 인식할 수 있도록 한다.Referring to FIG. 1, the first and second buffer units 10 and 20 connected to the test liquid crystal display panel A are connected to each other by a control signal transmitted from the first and second buffer controllers 30 and 40. One line is selected from the horizontal line and the vertical line of the liquid crystal display panel A to transmit open, short circuit, and cell characteristic signals of the liquid crystal display to the signal amplification and conversion unit 50. The signal amplification and conversion unit 50 amplifies and converts the characteristic signals (voltage values) transmitted from the first and second buffer units 10 and 20 and inputs them to the analog / digital signal conversion unit 60. The analog / digital signal converter 60 may give a slight difference according to the signal characteristics of the signal amplification and converter 50 to convert an analog signal processed into a digital signal, and the microprocessor 70 recognizes the characteristic signal. Do it.
한편, 제1,2버퍼제어부(30,40)는 액정표시 판넬(A)의 하나의 액정표시 소자 라인만을 선택할 수 있도록 상기 제1,2버퍼부(10,20)에 순차적으로 제어 신호를 전송한다.Meanwhile, the first and second buffer controllers 30 and 40 sequentially transmit control signals to the first and second buffer units 10 and 20 so that only one liquid crystal display element line of the liquid crystal display panel A can be selected. do.
이때, 상기 제1,2버퍼제어부(30,40)는 입출력부(80)를 거쳐 전송되는 마이크로 프로세서(70)의 명령 제어 신호에 따라 구동된다.In this case, the first and second buffer controllers 30 and 40 are driven according to the command control signal of the microprocessor 70 transmitted through the input / output unit 80.
상기 입출력부(80)는 마이크로 프로세서(70)의 제어신호를 상기 제1,2버퍼제어부(30,40)에 전송할 뿐만 아니라 아날로그/디지틀 신호 변환부(60)에서 출력되는 디지틀 데이타를 마이크로 프로세서(70)에 전송하는 역활을 수행한다. 상기 입출력부(80)에 연결되어 있는 출력 표시부(90)는 마이크로 프로세서(70)의 제어신호에 의해 처리된 테스트용 액정표시 판넬(A)의 특성 및 측정치를 사용자가 직접 눈으로 확일할 수 있도록 액정표시소자 모듈이 채용되어 있다.The input / output unit 80 not only transmits a control signal of the microprocessor 70 to the first and second buffer controllers 30 and 40, but also outputs digital data output from the analog / digital signal converter 60. 70) to transmit. The
상술한 바와 같이 본 발명에 의한 특성측정장치는 테스트용 액정표시 판넬의 오픈, 단락, 셀 갭 분포등을 마이크로 프로세서를 이용하여 자동으로 측정함으로써 테스트용 액정표시 판넬의 특성 측정 및 정확한 특성 분석 데이타를 획득할 수 있는 이점이 있다.As described above, the characteristic measuring apparatus according to the present invention automatically measures the open, short circuit, and cell gap distribution of the test liquid crystal display panel by using a microprocessor, thereby measuring the characteristics of the test liquid crystal display panel and accurate characterization data. There is an advantage that can be obtained.
Claims (3)
Priority Applications (1)
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| KR1019900014155A KR930003671B1 (en) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | Testing devices of lcd panel |
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| KR1019900014155A KR930003671B1 (en) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | Testing devices of lcd panel |
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| KR920006781A KR920006781A (en) | 1992-04-28 |
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Family Applications (1)
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| KR1019900014155A KR930003671B1 (en) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | Testing devices of lcd panel |
Country Status (1)
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1990
- 1990-09-07 KR KR1019900014155A patent/KR930003671B1/en not_active IP Right Cessation
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| KR920006781A (en) | 1992-04-28 |
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