KR890003029B1 - Hishspeed input convertor of ecl/ttl data - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 종래 ECL/TTL 겸용 입력 버퍼의 개요도.1 is a schematic diagram of a conventional ECL / TTL combined input buffer.
제2도는 제1도의 상세한 회로도.2 is a detailed circuit diagram of FIG.
제3도는 본 발명에 따른 회로도.3 is a circuit diagram according to the present invention.
제4(a)도, 제4(b)도는 제3도의 일실시예를 도시한 도면.4 (a) and 4 (b) show an embodiment of FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 모드선택부 2 : 모드 스위치 전환제어부1: Mode selector 2: Mode switch switching control unit
3, 4 : 스위치 5 : ECL용 기준전압 발생부3, 4: switch 5: reference voltage generator for ECL
6 : ECL용 비교기 7 : TTL용 기준전압 발생부6: Comparator for ECL 7: Reference voltage generator for TTL
8 : TTL용 비교기 9 : 부하 저항8: comparator for TTL 9: load resistance
10 : 버퍼.10: buffer.
본 발명은 ECL/TTL 데이터 겸용 고속 입력 변환기에 관한 것으로서, 특히 두모드(ECL/TTL)에서 함께 사용될 수 있는 집적회로의 입력단에 ECL(Emitter Coupled Logic)의 전압 레벨과 TTL(Transistor-Transistor Logic)의 전압 레벨이 각 경우에 모두 대응할 수 있는 버퍼를 제공하여 ECL 모드 선택시 발생하는 지연신호를 방지할 수 있는 변환기에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로 높은 시피드(Speed)가 요구되는 분야에서 사용되는 바이폴라(Bipolar) 로직(Logid)에는 크게 ECL(Emitter Coupled Logic)과 TTL(Transistor-Transistor Logic)이 있다.Generally, bipolar logic used in the field where high speed is required includes emitter coupled logic (ECL) and transistor-transistor logic (TTL).
ECL과 TTL를 이용한 디지탈 시스템 제작 디지탈 데이터를 받아들여 처리하는 직접회로는 두 로직의 전압레벨이 서로 다르므로 두 모드에서 함께 사용될 수 있는 버퍼가 필요하다. ECL과 TTL겸용 버퍼를 구성함에 있어 도시바에서 IEEE Consumer Electronics에 발표한 제1도 및 제2도와 같은 회로에 의하면 한개의 기준 전압을 ECL 비교기(B)와 TTL 비교기(C)에 공통으로 사용하여 ECL 데이터 입력시에는 기준 전압이 DC 전압 변환기(A)를 통하도록 입력신호 레벨을 변환시켜 비교하고 있다. 상기와 같은 회로구성은 ECL모드로 사용시에 입력데이터 신호가 DC전압 변화기(A)를 거쳐 ECL 비교기(B)로 들어가기 때문에 출력단애 출력된 신호는 DC전압 변환기(A)에서 지연이 되므로 전체 버퍼의 스피드가 낮추어지는 단점이 있었다.Digital System Fabrication Using ECL and TTL Integrated circuits that accept and process digital data require buffers that can be used together in both modes because the voltage levels of the two logics are different. In constructing the ECL and TTL combined buffers, according to the circuits shown in FIGS. 1 and 2, published by Toshiba to IEEE Consumer Electronics, one reference voltage is commonly used for the ECL comparator (B) and the TTL comparator (C). At the time of data input, the input signal level is converted and compared so that the reference voltage passes through the DC voltage converter (A). In the circuit configuration as described above, since the input data signal enters the ECL comparator B through the DC voltage changer A when the ECL mode is used, the output signal is delayed in the DC voltage converter A. There was a disadvantage that the speed is lowered.
따라서 본 발명은 상기와 같은 제반 결점을 해소코자 안출한 것으로써, 두 모드(ECL/TTL)에서 함께 사용되도록 구성된 직접회로 시스템의 입력단에 ECL 및 TTL 전압 레벨 각각의 경우에 따라 모두 대응할 수 있는 변환기를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention solves the above-mentioned shortcomings, and is a converter capable of coping with both ECL and TTL voltage levels at the input of an integrated circuit system configured to be used together in two modes (ECL / TTL). The purpose is to provide.
이하, 첨부된 도면에 의거하여 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성할 수 있는 실시예를 상세히 기술하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail an embodiment that can achieve the object of the present invention as described above.
제3도는 본 발명의 회로도로써, 사용자가 소망하는 모드(ECL, TTL)를 선택하는 모드 선택부(1)와 선택된 모드에 의해서 스위치(3)(4)를 제어하는 모드스위치 전환제어부(2)와 ECL용 및 TTL용 비교기(6)(8)에 기준전압을 인가하는 ECL용 및 TTL용 기준전압 발생부(5), (7)와 상기 ECL용 및 TTL용 비교기(6), (8)에서 출력되는 데이터를 완충시켜 ECL 및 TTL겸용 시스템에 입력시키는 버퍼(10) 및 부하저항(9)으로 본 발명의 회로가 구성된다.3 is a circuit diagram of the present invention, in which a user selects a desired mode (ECL, TTL), and a mode
제4(a)도, 제4(b)도는 본 발명의 일실시예를 나타낸 것으로써, 모드선택부(1)에서 선택된 모드에 따라서 스위치(3)(4)를 제어하도록 모드선택부(1)에서 출력된 데이터가 트랜지스터(Q1)(Q8) 각각의 베이스단자에 인가되도록 하고 트랜지스터(Q1)(Q7)(Q8)(Q11)(Q15)의 콜렉터단자와 트랜지스터(Q4)(Q12)의 베이스단자 및 콜렉터단자에 각 일정한 전압(Vcc)을 인가하도록 연결하며, 상기한 트랜지스터(Q1)의 에미터단자에서 출력된 데이터가 저항(R1), 다이오드(D1)를 통하여 트랜지스터(Q2)의 콜렉터단자 및 베이스단자에 각각 인가되도록 연결하는 한편 트랜지스터(Q3)의 베이스단자에 인가되도록 하고, 트랜지스터(Q2)(Q3)의 에미터단자에는 저항(R2), (R3)을 각각 연결하는 전압(Vcc)가 인가되도록 한다.4 (a) and 4 (b) show an embodiment of the present invention, and the
한편, 트랜지스터(Q3)의 콜렉터단자에서 출력된 데이터가 저항(R4) 및 저항(R5)의 일측단자를 거쳐 트랜지스터(Q7)의 베이스단자에 인가되도록 하고, 트랜지스터(Q4)의 에미터단자에서 출력된 데이터가 저항(R4), (R5) 및 다이오드(D2)를 거쳐 트랜지스터(Q5)의 콜렉터단자 및 베이스단자에 각각 인가되도록 하는 한편 트랜지스터(Q6)의 콜렉터단자와 트랜지스터(Q7)의 에미터단자가 연결된 트랜지스터(Q6)의 베이스단자에 인가되도록 하고, 상기한 트랜지스터(Q5)(Q6)의 에미터단자에는 저항(R6), 저항(R7)을 각각 통한 전압(VEE)가 인가되도록 하여 트랜지스터(Q7)의 에미터단자에서 출력된 데이터를 스위치(3)에 인가되도록 한다.On the other hand, in the data output from the collector terminal of the transistor (Q 3) resistance (R 4) and a resistor (R 5) and to the base terminal of the transistor (Q 7) via the one terminal is of a transistor (Q 4) The data output from the emitter terminal is applied to the collector terminal and the base terminal of transistor Q 5 via resistors R 4 , R 5 , and diode D 2 , respectively, while the collector of transistor Q 6 is applied. the emitter terminal of the resistor (R 6), the resistance of the terminal and the transistor (Q 7) the emitter terminal is connected to the transistor (Q 6) the base terminal is such that, said one transistor (Q 5) (Q 6) in the ( The voltages V EE through R 7 ) are applied to each other so that data output from the emitter terminal of transistor Q 7 is applied to the
아울러, 트랜지스터(Q8)의 에미터단자에서 출력된 데이터가 저항(R8),을 거쳐 트랜지스터(Q11)의 베이스단에 인가되도록 하는 한편 저항(R9) 및 다이오드(D3)를 통하여 트랜지스터(Q9)의 콜렉터단자와 베이스단자 및 트랜지스터(Q10)의 베이스단자에 각각 인가되도록 하며, 상기한 트랜지스터(Q9), (Q10)의 에미터단자에는 저항(R10), (R11)을 통한 전압(VEE)이 각각 인가되도록 한다. 한편, 트랜지스터(Q11)의 에미터단자에서 출력된 데이터가 스위치(4) 및 트랜지스터(Q10)의 콜렉터단자에 인가되도록 한다.In addition, the data output from the emitter terminal of the transistor Q 8 is applied to the base terminal of the transistor Q 11 through the resistor R 8 , and through the resistor R 9 and the diode D 3 . It is applied to the collector terminal of the transistor Q 9 , the base terminal, and the base terminal of the transistor Q 10 , respectively. The emitter terminals of the transistors Q 9 and Q 10 are resistors R 10 and ( The voltages V EE through R 11 ) are respectively applied. Meanwhile, data output from the emitter terminal of the transistor Q 11 is applied to the collector terminal of the
그리고, 트랜지스터(Q12)의 에미터단자에서 출력된 데이터가 저항(R12)을 통하여 트랜지스터(Q15)의 베이스단자 및 다이오드(D4)를 통하여 트랜지스터(Q13)의 콜렉터단자와 베이스단자 및 트랜지스터(Q14)의 베이스단자에 각각 인가되도록 하고, 트랜지스터(Q13), (Q14)에 에미터단자에는 저항(R13), (R14)를 각각 통한 전압(VDD)가 인가되도록 하며, 상기한 트랜지스터(Q15)의 콜렉터단자에서 출력된 데이터가 스위치(4) 및 트랜지스터(Q14)의 콜렉터단자에 인가되도록 하여 모드 선택부(1)에서 출력된 데이터에 의해 스위치(3)(4)를 제어하도록 구성한다.Then, the transistor (Q 12) the emitter terminal of the data is a resistance (R 12) The collector terminal of the transistor base terminal and a transistor (Q 13) via a diode (D 4) of the (Q 15) through the base terminal of the output from the and to be applied respectively to the base terminal of the transistor (Q 14) and the transistor (Q 13), applied to the emitter terminal of the resistor (R 13), voltage (V DD) via a (R 14), respectively (Q 14) The data output from the collector terminal of the transistor Q 15 is applied to the collector terminal of the
스위치(3)는 트랜지스터(Q19)(Q20)와 저항(R23)으로 구성이 되며 스위치(4)는 트랜지스터(Q21), (Q22), 저항(R24)로 구성이 된다. ECL용 기준전압 발생부(5)는 ECL용 비교기(6)에 기준전압을 인가하도록 저항(R15-R20), 다이오드(D5-D7), 트랜지스터(Q15-Q18)로 구성이 된다. TTL용 기준전압 발생부(7)는 TTL용 비교기(8)에 기준전압을 인가하도록 트랜지스터(Q27-Q13), 저항(R25-R32)로 구성이 된다.The
버퍼(10)는 선택된 데이터를 완충하여 출력하도록 트랜지스터(Q34-Q37), 다이오드(D9)(D10) 및 저항(R33), (R34)로 구성이 된다.The
상기와 같은 구성을 가진 본 발명의 회로동작을 설명한다.The circuit operation of the present invention having the above configuration will be described.
본 발명의 모드선택부(1)는 사용자가 ECL모드를 선택하면 "로우"신호가 출력이 되고 반대로 TTL코드를 선택하면 "하이"신호가 출력된다고 가정하여 본 발명의 회로동작을 설명한다.The
모드 스위치 전환제어부(2)는 모드선택부(1)에서 출력되는 데이터에 의해서 동작하는바, 예컨대 사용자가 모드를 선택하면, 이때 발생하는 "로우"전압이 트랜지스터(Q1)(Q8)의 베이스단자에 인가되므로 트랜지스터(Q1)(Q12)가 각각 "오프"상태가 되고, 트랜지스터(Q4), (Q12)는 "온"상태가 된다.The mode
따라서, 상기한 트랜지스터(Q4)를 통한 전원전압(Vcc)이 저항(R4)을 거쳐 트랜지스터(Q7)의 베이스단자에 인가되므로 트랜지스터(Q7)가 "온"되어 스위치(3)인 트랜지스터(Q19)의 베이스단자에 전원전압(Vcc)가 인가되고 다른 트랜지스터(Q20)의 베이스단자에는 트랜지스터(Q15)를 통한 전원전압(Vcc)가 인가되므로 스위치(3)이 동작을 하여 ECL용 비교기(6)를 선택동작을 한다. 반대로 사용자가 모드선택부(1)에서 TTL모드를 선택하면, 이때 발생하는 "하이"전압이 트랜지스터(Q1)(Q8)의 베이스단자에 인가되므로 "온"상태가 된다. 따라서 상기 트랜지스터(Q1)를 통한 전원전압(Vcc)이 트랜지스터(Q3)이 베이스단자에 인가되어 트랜지스터(Q3)를 "온"시키므로 저항(R4)을 통한 전원전압(Vcc)이 트랜지스터(Q3)의 콜렉터단자로 흐르므로 트랜지스터(Q7)의 베이스단자에는 "로우"전압이 인가되므로 트랜지스터(Q7)가 "오프"되어 스위치(3)인 트랜지스터(Q19)의 베이스단자에는 "로우"전압이 인가되므로 "오프"가 된다. 한편, 트랜지스터(Q8)이 "온"되면 트랜지스터(Q11)이 "온"되므로 스위치(4)인 트랜지스터(Q22)의 베이스단자에 "하이"전압이 인가되고, 트랜지스터(Q15)가 "온"상태가 되어 있으므로 스위치(4)인 트랜지스터(Q21)의 베이스단자에 인가되므로 해서 스위치(4)가 동작을 하여 TTL용 비교기(8)를 동작시킨다.Therefore, the power supply voltage (Vcc), so applied to the base terminal of the resistance transistor (Q 7) through (R 4) transistor (Q 7) is "on" the
상술한 바와같이 동작하는 본 발명의 작용효과는 ECL과 TTL 모드를 겸용하는 시스템에 입력신호의 지연을 미연에 방지하여 입력시키므로 해서 빠른 데이터를 처리할 수 있는 이점이 있다.The operation and effect of the present invention, which operates as described above, has an advantage that the data can be processed quickly by preventing the delay of the input signal to be input to the system using the ECL and TTL modes.
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