KR870000065B1 - 다수 측정지점의 측정치의 중앙파악방법 - Google Patents

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내용 없음.

Description

다수 측정지점의 측정치의 중앙파악방법

제1도는 한측정치, 예컨대, 섬유기계에 있어 주행하는 사의 사장력의 측정치를 보여주는 예시도.

제2도는 제1도의 측정치가 본 발명 방법에 따라 변형된 상태를 보여주는 예시도.

제3도는 본 발명 방법이 섬유기계에 응용된 실시예를 보여주는 약시도.

제4도는 제3도의 일부 상세도로서 본 방법에 의해 측정 영역을 측정단계로 분할하기 위한 비교회로도.

제5도는 각 측정지점의 아날로그 출력신호를 이용함에 있어서 본 발명의 측정방법의 예시도.

제6도는 아날로그 극치와 아날로그 평균치를 각 측정지점에 공급하기 위한 원리회로도.

제7도는 제6도의 회로도에 있어서의 극치 측정기를 상세히 나타내는 회로도.

제8도는 제7도에 있어서의 절대극치를 평균치와의 편차로서의 극치로 표시되게 하기 위한 극치 발생회로도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

5 : 검출기(사장력 측정기) 10 : 비교기

14 : 메모리 15, 18 : 병렬-직렬변환기

17 : 컴퓨터

독일 특허공보 3005746호의 방법에 의하면, 다위치 섬유기계에 있어서 다수의 측정지점에서 계속 발생하는 측정데이타가 한 중앙데이타처리장치에 모여져 처리된다.

중앙 데이타처리장치와 다수의 측정지점 사이에 수개의 분산 데이타처리장치가 배설되어 있으므로써 스케닝(양이나 상태의 샘플링, 측정, 체크)속도가 빨라진다. 이 분산데이타처리장치들 각각에는 단지 한정된 개수의 측정지점이 배속된다.

분산 데이터처리장치가 데이터의 스캐너(scanner) 및 중간기억장치를 맡고 있다.

이것은 일면으로는 낭비적 해결법이다. 다른 한편으로는 이 해결법에 의해 스케닝속도와 스케닝 빈도수가 실제로 증가한다.

그러면서도 단순히 측정의 순간차가 스케닝 순간에 수집되는 결점은 그대로 남는다. 그때문에 공정진행과 목적제품질을 위해 신뢰성 있는 보장을 해줄 수 없는 랜덤치(random value)만 구해지고 평가될 뿐인 것이다.

본 발명은 데이타파악장치에 의해 일정시간 간격으로 스케닝되고 처리될 동일한 측정치를 갖는 다수의 측정지점이 있는 경우에 있어, 시간적으로 빈틈없이(연속하여)품질감시를 보장하는 과제를 해결하고 있다.

이 목적을 위하여 단순히 각 스케닝기간내에서 계속 수집되는 측정치의 극치가 구해져 중앙데이타 파악장치에 의해 스케닝될때까지 측정지점의 출력신호로서 이용가능하게 된다.

공급된 신호는 중앙데이타처리장치에 스케닝 및 수집된 후에 바람직하게 소멸한다. 시간적으로 수집되는 극치의 스케닝에 대한 제한에 의해서 계측에 의해 제어되는 프로세스의 질을 항시 계속하여 보장할 수 있는 것이다.

처음부터 허용 측정치로서는 그것을 초과하면 착오신호가 발생하는 그런 일정한 범위의 허용 측정치를 각 측정점별로 설정함으로써, 측정결과의 평가를 더욱 간략화 및 가속화할 수 있다.

본 발명의 한 바람직한 실시예에서는 측정결과의 평균치도 또한 구해져 주기적 스케닝에 제공된다. 측정결과의 평균치는 그 자체만으로서 그리고 극치와 공동으로 질평가에 대해 높은 가치를 갖고 있다. 이런 이유로 측정치들 중의 피이크치가 평균치로부터 편의한 정도(편차)로서 극치를 구하는 것이 바람직하다.

이 방법에 의해, 평균치의 변동(플럭츄에이션)에 대한 허용 영역폭(범위)과 앞식으로의 평균치의 편차로서 얻어진 극치에 대한 혀용 영역폭을 일단 확정해 두면, 주기적으로 단지 3종류의 측정치만 스케닝함으로써 확실하고 시간적으로 계속해서 품질확증을 얻을수가 있다. 여기서 실제적 평균치는 저역필터를 통하여 얻어질 수 있기 때문에 평균치는 대단히 용이하게 주기적 스케닝이 가능하다.

지금까지는 발명에 따라 측정치는 아날로그 신호로서 기억되어 주기적 스케닝이 가능하다. 그러나 거기에 추가하여 측정치는 더욱 많은 처리를 할수 있게하는 장점을 가진 디지달형으로도 제공된다.

수행되는 방식을 살펴보면, 측정영역(범위)은 측정단계로 분할되며, 한 지점의 계속 발생 측정치가 그단계에 도달되거나 초과하는 바의 각 측정단계에 대해서는 잔류성 출력신호가 발생하며, 수집된 출력신호는 소정시간 간격으로 중앙데이타처리장치에 의해 스케닝되고 수집된다.

이 방법에 의해서는 측정치 크기의 시간적 변화는 사실상 알 수 없다. 그러나 스케닝기간중에 어떤 크기의 측정치가 등장했는가는 알수가 있다.

그래서 측정 매개변수로서의 스케닝기간중 있었던 극치는 알 수 있다. 이것으로서 스케닝기간중의 측정치 경과에 대한 확언을 할 수 있다.

스케닝되어질때 단지 극치만 기억하고 수집한다면 전달되어야 할 데이타량은 감소될 수 있을 것이다.

출력신호는 중앙처리장치에 의해 스케닝 및 수집된 후에는 다시 소멸된다. 그후는, 잇따르는 여러 스케닝기간의 측정치가 평가됨으로써 측정치의 특성 및 프로세스의 질에 관한 더 많은 정보가 얻어질 수 있다.

측정치는 이미 디지탈화되어 이용가능하므로 스케닝기간의 길이는 아주 짧게 될 수 있다.

스케닝기간을 단측시킴에 의한 극치의 제어 및 평가는 사실상 연속적인 제어 및 감시와 같아진다. 그러나 본 발명에서는 종래의 연속적 데이타 수집방법에서 필요했던 것보다 스케닝빈도수는 낮다. 다음에는 본 발명을 실시예에 따라 설명하겠다. 제1도는 한 측정치 예컨대 섬유기계에 있어 주행하는 사(1)의 사응력(장력)을 부단히 계속 측정한 값을 보여준다. 그러한 섬유기계의 일부가 제3도에 표시되어 있다.

제3도에서는 다위치 섬유기계의 4개의 동일한 처리 위치가 사(1)와 함께 약시되어 있다.

각 사(1)는 안내로울러(2)에 의해 직선영역으로 진행되고 그 안에서 가열기(3)위로 안내되고 다시 안내 로울러(4)에 의해 끌린다. (5)에 의해 사장력 측정기가 표시되어 있다. 권취기에서 각 사가 구동로울러(6)에 의해 보빈위에 감겨진다.

각 픽업(5)은 센서(8)와 비교회로(결선)(9)로 되어 있고 비교회로는 제4도에 상세히 표시되어 있다. 거기에 대해서는 나중에 설명하겠다.

제1도에 표시되어 있는 사장력측정치는 공정을 방해함이 없이 일정한 범위내에 유지된다. 그 값은 일정한 것이 이상적이다. 그러나 변동 특히 단시간의 상하변동은 있다.

시간으로 계속해서 스케닝하면 거기 해당하는 측정치의 연속신호를 계속해서 얻을 수 있음은 알 수 있다. 특히 섬유공장에서 기계로 다수의 사를 처리 또는 생산하는 경우와 같이 측정지점이 다수인때는, 시간적으로 빈틈없이 부단히 파악 및 중앙 처리하기 위해서는 대형 컴퓨터뿐만 아니라 실현가능성이 거의 없는 케이블 및 결선비용이 필요할 것이다.

그래서 보통 측정지점은 일련적으로 차례차례 스케닝된다. 각 스케닝을 위해서는 일정한 시간이 필요하므로, 이런 일련의 스케닝으로는 시간적으로 계속해서 측정치의 수집은 불가능한 것이고, 그위에 한 측정치의 스케닝을 위해서는(잊어서 안될일로서)필요한 아날로그-디지탈변환을 하는데 일정하게 소요되는 최소의 시간이 필요하게 된다.

짧은 스케닝시간으로 측정치를 충분하고 예리하게 해석하는 것은, 따라서, 컴퓨터에 연결되어 있는 측정지점의 수효를 한정함으로서만이 가능하다.

그러나 역시 시간이 짧으므로 순간적인 변동은 공업적 의히가 어쩌면 있을지라 할지라도 그런 변동은 포착되지 않는다.

본 발명에 의하면 먼저 일반적으로 발생되거나 수집되어야할 측정치의 일정 영역폭을 설정한다. 이 영역폭이 제1도에서는 파선으로 표시되어 있다. 이 측정치의 영역폭을 본원에서는 측정영역이라 정의 하겠다.

이 실시예에서는 이 측정폭이 각각 크기가 같은 측정 단 I, II, III...VIII로 분할되어 있다.

제2도에는 이 시간적으로 계속해서 나오는 측정치가 어떻게 본 발명방법에 따라 변형되는가 하는 것과 어떤 형상으로 이 측정치가 소정시간 간격 ST1,ST2,ST3에서 스케닝에 주어지는가 하는 것이 설명되어 있다.

본 발명에 의해, 각 측정영역 I 내지 VIII에는 일정한 디지털 출력신호 A I 내지 AVIII가 배당된다. 실제 측정치가 해당단을 지나면 즉시 출력신호 A I 내지 AVIII가 발생된다.

또한 출력신호 A I 내지 A VIII는 호출됨과 동시에 기억된다. 그래서 호출된 출력신호는 스케닝되기 위하여 대기한다. 시간구간 T1에서는 A II에서 A VIII까지의 모든 출력신호가 발생한다.

이 출력신호들은 기억되고 스케닝시점 ST1에서 스케닝되기 위해 대기한다.

이것으로부터 이 스케닝시간에는 대단히 큰 측정치 변동이 도입되는 것을 알수 있다. 스케닝시간 T2에서는 변동폭이 더욱 더 크고 반면에 스케닝시간 T3에서는 실질적으로 작은 변동이 생긴다.

시간 T1,T2,T3에서 기억된 값은 이제 시점 ST1,ST2에서 중앙컴퓨에 의해 호출되고 이어서 소멸된다.

그래서 측정치 특성을 시간적으로 빈틈없이 포착하지 못하는 것은 사실상 어쩔수 없다. 그러나 극치는 시간적으로 빈틈없이 포착될수 있다. 특히 스케닝시간 T1,T2,T3,....을 작게 함으로써, 예컨대, 주기적 측정치 변동, 측정치 분포의 시간적 경과, 극치의 시간적 경향등에 대한 광범위한 측정치 특성의 해명이 이루어질 수 있다.

그러나 역시 스케닝시간 T1,T2,T3는 종전에 행해지던 방법에서 필요했던 스케닝시간보다 상당히 더커서 아날로그적으로 생기는 측정치의 극치를 충분히 신뢰성 있게 처리할 수가 있다.

부가하면, 스케닝시점에서 랜덤하게 수집되는 측정치만 탐색되고 고가의 중간데이타처리장치가 있어야 한다는 결점을 피할수 있는 것이며, 이 중간데이타 처리장치는 그것대로 역시 일정시간간격으로 일정시점에서 스케닝을 할수 있고 특히 단지 랜덤하게 극치와 피이크치를 수집할수 있으므로 결과적으로 단지적은 정보를 제공한다.

측정영역을 측정단계로 분할하기 위해 비교회로(제4도)가 특히 유리하게 마련되어 있다. 그것에 의해 각 측정치는 일정한 비교치 등급(단)에 할당되어 있어, 측정치와 각 비교신호단이 비교판정기준을 만족할 때 예컨대 동일할때에는 각 측정단에 배당된 출력신호가 발생한다.

각 비교회로는 8개의 비교기(10)로 구성되어 있고, 이 비교기는 첫 번째 입력(11)이 직렬로 접속된 저항(12)에 연결되어 있다.

두 번째 입력(13)은 센서(8)로부터 출력신호를 받는다. 비교기는 입력(13)의 값이 입력(11)의 전압치에 도달하자마자 출력신호 A I 내지 AVIII를 발신하도록 구성되어 있다.

각 저항(12)의 크기는 각각이 한 측정단을 나타내도록 되어 있어서 각 출력신호 A I 내지 AVIII는 각 측정단 I 내지 VIII에 해당한다.

회로는, 측정단계들이 조금 서로 중첩하도록 선택될 수도 있다. 그리하여 두단계의 중첩영역에 드는 측정치에 대해서 두측정단계의 신호가 기억되는 일은 예컨대 측정단계의 상호폐쇄에 의해서 방지될 수 있다.

어느 경우에나 최고치만이 기억된다. 따라서 비교기는 논리회로에 연결되어 있고 이 논리회로(표시안됨)는 조금 더 높은 치의 출력신호가 생기자마자 각 출력신호 A I 내지 AVII를 소멸시킨다.

제3도와 제4도에 표시되어 있는 것처럼 각 비교회로에는 메모리(기억장치)(14)가 결합되어 있어, 그안에 각 출력치 A I 내지 AVIII가 기억된다. 메모리의 시초에는 출력신호 A I 내지 AVIII는 스캐닝기간동안 호출되고 있는 동안까지는 기다리고 있은후 병렬-직렬 변환기(15)에 주어진다. 병렬-직렬 변환기는 병렬적으로 동시에 생기는 신호 AI 내지 AVIII를 하나의 임펄스열로 변환시키며 이 임펄스열은 단일의 도선(16)을 통하여 컴퓨터(17)에 도입될 수 있다.

메모리(14)는 또한 높은 값의 출력신호가 생기자마자 각 출력신호 AI 내지 AVII를 소멸시키는 상이한 논리회로를 내장하고 있다.

스캐닝시점은 컴퓨터(17)(제3도)에 의해 설정된다. 컴퓨터는 각 스캐닝시점에서 결합되어 있는 병렬-직렬 변환기(18)를 통해 코우드화된 신호열을 경우에 따라 어드레스시키기 위해 도선(19)을 통해 내보내며, 그에 의해 메모리(14)는 각각 어드레스되고, 한 측정점에 대한 기억된 출력신호 AI 내지 AVIII가 스캐닝된다.

도선(16)을 통해 발생한 데이터를 호출한 뒤는, 컴퓨터는 각 메모리에 코우드되어 있는 소거신호를 도선(19)을 통해 발신하며, 그에 의해 이 측정점에 대한 기억된 출력신호는 소거되고 다음의 스캐닝시간을 위해 자유롭게 된다.

바람직하기는, 측정기의 전 포착영역이나 또는 생기는 측정치의 전 영역을 평가하는 것이 아니라 생기는 측정치 가운데서 합리적 운전을 하기에 대표가 될 수 있는 한 측정치의 영역폭을 선택할 것을 권하는 바이다.

본 발명에 의해 포착(파악)되는 측정영역을 이렇게 제한함으로써 처리영역 바깥에 놓이는 측정치는 최초부터 평가에서 제외되며, 그에 의해-확언 정확성을 감소함이 없이-가일층의 단순화 내지는 같은 기술수단을 사용하면서도 선택된 측정영역내에서의 확언정확성(신뢰보증성)의 개선을 달성할 수 있다.

제5도는 각 측정점에 아날로그 출력신호를 공급하기 위한 본 발명에 의한 측정방법을 예시하고 있다.

횡좌표는 모든 다이아그램에 공통되는 시간축이다. 시간축에는 몇 개의 스캐닝기간이 S1-S4로 표시되어 있다.

다이아그램 I의 종축은 가능한 센서의 측정전압(U)의 경과를 예시한다. 측정전압은 실제의 계속 포착된 측정치를 표시한다. 다이아그램 II는 좌표위에 측정전압의 평균치 U 평균을 표시한다.

본 발명에 의하면 이 평균치는 측정치를 저역필터를 통과시켜서 얻는다. 다이아그램 III은 시간경과에 따른 최대치 U 최대의 형성, 공급 및 스캐닝을 표시한다. 다이아그램 IV는 마찬가지로 최소 측정전압치 U 최소의 형성, 공급 및 스캐닝의 시간적 경과를 보여준다. 다이아그램 II와 IV에서는 측정전압이 각각 기준전압위에 표시되어 있다.

이 기준전압으로는 특별히 전압제로 또는 평균치가 고려되어 있다. 극치의 형성 및 공급은 다음과 같이 진행된다.

예컨대 스캐닝기간 S3에서는 측정전압이 처음기간 a에서는 사실상 일정하고 평균치와 같다. 그래서 극치 U최대와 U최소도 또한 이 기간에는 평균치와 상등하다.

그러나 다음 시간구간 b에서는 다이아그램 I이 보이는 것처럼 도약적 단기간의 전압 U의 상승이 나타난다.

이 극치가 단시간이기 때문에 이 변동은 평균치에는 전혀 영향을 미치지 않는다. 그러나 최대치 U 최대는 극치까지의 측정치 상승을 따르고 그래서 이 극치를 취한다.

이 극치는 다이아그램 III에서 나타나 있는 것처럼 스캐닝기간 S3이 존속하는 동안 유지되다가 스캐닝 기간의 종말에서 중앙데이타 처리장치에 의해 호출되고 그런뒤 다시 소멸되며, 그리하여 측정지점에 공급된 값은 다시 기준치에 되돌아간다.

S3의 스캐닝기간에 있어서 시간구간 b의 끝쪽에서는 평균치로부터 약간 마이너스쪽으로의 편의가 보이고 특히 c에서는 도약적 단기 강하가 보인다. 다이아그램 IV이 보이는 것처럼 최소기억치 U 최소는 실제 측정치 U의 이 평균치로부터의 부의 편차를 따르며 그리하여 가장 낮은 값이 기억되어 스캐닝 기간 S3의 종말에서 스캐닝이 가능하다.

결국, 스캐닝기간 S3의 종말에는 스캐닝기간을 대표하는 평균치와 최대의 정편차 및 부편차를 중앙데이타 처리장치의 스캐닝과 평가를 위해 제공하는 것이다.

또는 평균치와 절대극치를 발생하는 것도 가능하다.

이런 방식과 방법으로, 예컨대, 다수의 처리지점을 가진 섬유기계에 있어서 처리하려는 사에대해 계속하여 사장력이 검출되고, 각 스캐닝기간에 최대, 최소 및 평균치로서 준비되고, 중앙 데이터 처리장치에 의해 스캐너를 통해서 처리지점으로부터 처리지점까지 어떤 시간간격으로 스캐닝되어 품질보장이 될 수 있도록 평가될수 있는 것이다.

스캐닝치 U 평균, U 최대 및 U 최소에 따라서 착오(오차)신호가 발생될수 있다. 일정한 영역폭이 초기전압 U 평균에 의해 표현되는 평균 사장력에 설정된다.

실제 검출된 평균치가 이 허용 사장력 영역폭(범위)을 벗어나면, 착오신호가 발생하여, 예컨대 해당처리 지점은 정지되거나 또는 이 처리지점에 대한 착오신호가 나온다.

이와 마찬가지로 평균치로부터의 편차로서의 최대치에 대해서도 일정한 허용 영역폭이 설정되고 또한 평균에서 벗어난 최소치에 대해서도 설정된다. 여기에서 이들 영역폭들은 서로 그 크기가 상이해도 좋을 것이다.

제6도는 각 측정지점에 아날로그 극치와 아날로그 평균치를 미리 설정하기 위한 원리회로도이다. 측정치, 예컨대 제3도에서처럼 한 측정지점의 사장력은 검출기(5)에 의해 계속 검출된다. (14)로 메모리가 표시되어 있고, 이 메모리는 각 측정점에 연결되어 있다.

메모리내에서 측정치들은 증폭되고 처리되어 최대치 U 최대, 평균치 U 평균 및 최소치 U 최소로되고 스캐닝이 가능하다.

여기서 메모리(14)는 우선 측정신호를 증폭시키기 위한 증폭기(20)를 갖고 있다. 최대치 측정기(21)에서는 평균치로부터의 편차로서 최대치가 형성되고 최소치 측정기(22)에서는 평균치의 편차로서의 최소치 형성이 행해진다.

(23)에는 평균치를 얻기 위한 저역필터가 표시되어 있다. 메모리의 기타의 전자부속장치는 표시되어 있지 않다. 메모리의 출력에는 스캐닝기간당의 측정치들중의 최대치, 계속적 평균치 및 스캐닝 기간당의 측정치들중의 최소치가 각기 공급된다.

이들 값들은 스위치회로, 소위스캐너(31)에 공급된다. 이 회로의 기능은 병렬적으로 동시에 기억된신호를 아날로그-디지탈변환기(A/D 변환기)(32)와 도선(16)을 지나 프로세서(컴퓨터)(17)에 직렬적으로 공급하는 것이다.

이미 설명한 것처럼 컴퓨터(17)에 의해 스캐닝시점이 설정된다. 각 스캐닝시점에서 컴퓨터는 경우에 따라 어드레스(주소지정)시키기 위해 부호화된 신호열을 도선(19)을 통해 발신하며, 그에 의해 측정지점은 각각 해당 메모리(14)와 연결되고, 기억된 출력신호는 스캐닝된다.

도선(16)을 통한 발생한 데이타 호출후에는 컴퓨터는 도선(19)을 통해 각 기억장치에 코우드된 소거신호를 발생하여 기억된 최대내지 최소치가 소멸되게한다. 평균치는 그대로 잔류한다. 더우기 도선(19)을 통하여 착오신호장치(24)가 또한 연결될수 있다.

이 회로에 사용되는 극치 측정기와 저역필터는 공지되어 있다. 극치 측정기를 제7도에 표시된 간단한 회로도에 의해 간단히 설명하겠다.

최대치 검출을 위한 극치 측정기는 다이오드(25)와 콘덴서(26)를 갖고 있다. 콘덴서는 OV의 전위에 있다.

측정치 U로서는 0내지 10V의 전압이 허용된다. 다이오드(25)는 역방향 전류는 막기 때문에 스캐닝기간에 도달되는 최고치까지 콘덴서(26)는 충전된다. 그래서 이 최고치가 기억되고 스캐닝기간의 출력신호로서 보유된다.

(27)에는 스위치가 표시되어 있는데 이 스위치에 의해 콘덴서(26)는 단락될 수 있다. 스위치(27)는 스캐닝후 최대치 U 최대가 소멸될수 있을 때, 도선(19)을 통해 조작된다.

극소치 형성기(22)는 다이오드(28)와 함께 콘덴서(29)를 갖고 있다. 다이오드(28)의 통전방향이 앞과는 반대로 되어있다. 그리고 콘덴서는, 앞에서 10V로 주어졌던 최고 측정전압보다도 더 높은 15V의 전압에 놓여있다. 이것이 의미하는 바는, 각 측정치의 감소가 증폭되고 체류하는 전압으로서 콘덴서(29)에 나타나고 그 결과 전압이 최소치 U 최소로서 메모리의 출구에 체류된다는 것이다.

(30)은 다시 스위치를 표시하고, 이 스위치에 의해 콘덴서는 단락될수 있고 그럼에 의해 도선(19)을 통해 소거신호가 전송될 수 있다.

저역필터(23)는 본질적으로 알려져 있는 바 저항과 콘덴서로 되어 있다.

제7도의 회로는 극치가 절대치로 표시된 점에서만 제6도의 설명 및 흐름 다이아그램과 상이하다는 것을 주의할 필요가 있다.

제7도를 제6도에 일치시키려면 메모리(14)의 측정치를 극치가 측정극치와 평균치와의 차로 표시되도록 처리하면 된다. 이를 위해서는 두가지 방법이 있다.

첫째는, 점(38)과 전압 플로워(33) 사이와 점(38)과 전압 폴로워(34) 사이에 실제측정치와 평균치 U 평균의 차를 산출하는 수단을 삽입하는 것이다. 이러한 차동증폭기가 제8도에 부재번호 39로 표시되어 있다.

두번째 방법은, 제7도의 전압 플로워(35)와 (36)의 각각을 차동증폭기(37)의 출구에 연결되는 차동증폭기로 대치시켜서 극치 U 최고와 U 최소가 극치와 평균치의차로 표시되게 처리하는 것이다.

Claims (12)

1. 각 측정지점에서 수집된 데이타를 중앙데이타 파악장치 및 또는 중앙데이타처리장치에 일정시간간격으로 주기적으로 전달함으로써 다수 측정지점의 측정치를 중앙파악하는 방법에 있어서, 각 시간 간격내에 계속적 측정치들중의 최대치와 최소치가 각각 출력신호로서 기억되는 것과, 기억된 출력신호가 소성시간 간격으로 중앙데이타 파악장치에 의해 스캐닝되고 파악되는 것을 특징으로하는 다수 측정지점의 측정치의 중앙 파악방법.
2. 제1항에 있어서, 기억된 출력신호는 중앙데이타처리장치에 의해 스캐닝되고 수집된후에 소멸되는 것을 특징으로 하는방법.
3. 제1항에 있어서, 발생하는 측정치 또는 픽업의 처리영역중에서 측정치의 한계 밴드폭이 측정영역으로 선택되는 것을 특징으로하는 방법.
4. 제3항에 있어서, 선택된 측정영역의 초과는 착오로서 신호발생되는 것을 특징으로하는 방법.
5. 제1항에 있어서, 계속적 측정치들로부터 평균치가 형성되고, 기억되고 스캐닝되는 것을 특징으로하는 방법.
6. 제5항에 있어서, 평균치와의 비교에 의해 극치가 형성되며 바람직하게는 상기 방법으로 형성된 극치가 소정의 최고 허용편차를 초과할때는 착오신호가 발생하는 것을 특징으로하는 방법.
7. 제5항에 있어서, 스캐닝기간내에 발생하는 극치는 측정치들중의 평균치로부터의 최대 편차로서 구해지고 기억되고 스캐닝되는 것을 특징으로하는 방법.
8. 제5항에 있어서, 평균치는 스캐닝기간과는 관계없이 실제측정되는 데이타로부터 계속하여 구해지는 것을 특징으로하는 방법.
9. 제8항에 있어서, 평균치는 계속발생하는 실제측정치들의 저역필터를 통과함으로써 형성되는 것을 특징으로하는 방법.
10. 제1항에 있어서, 극치는 실제측정치들중의 피이크치를 측정함으로써 얻어지는 것을 특징으로하는 방법.
11. 제1항에 있어서, 각 측정지점의 전 측정영역이 측정단계(I 내지 VIII)로 분할되는 것과, 한 지점에서 수집된 측정치가 초과하는 바의 측정단계들에 대해서는 각 측정지점에서 각각 출력신호((AI 내지 AVIII)가 발생되고 기억되어 스캐닝이 가능한 것을 특징으로하는 방법.
12. 제11항에 있어서, 단계별로 증대하는 기준치가 각각 비교기에 공급되어 그안에서 측정치와 비교되며, 측정치가 적어도 기준치에 접근하거나 초과하면 그때마다 비교기가 출력신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 방법.

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