KR800001839Y1 - 화폐 정사 검지장치 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

화폐 정사 검지장치

제 1 도는 본 고안의 블록다이아그램.

제 2 도는 본 고안의 상세회로도.

제 3 도는 지폐의 검출 부위도.

제 4 도는 검출 증폭기의 출력파형 및 관련되는 타이밍 다이아그램.

제 5 도는 지폐통로와 레버위치도.

본 고안은 지폐 정사 검지장치에 관한 것으로서, 특히 지폐의 사용권과 훼손권을 정밀히 구별하여, 훼손권을 자동 배출토록 하는 정사 검지장치에 관한 것이다.

종래에는 지폐의 사용권과 훼손권을 구별할 때에는 일일이 사람의 손으로 구별하여야 하므로 인력관리에 많은 시간낭비를 초래하였다. 또, 화폐를 계수하는 전자장치에서 불량지폐가 주입될 시에 계수작동을 중단하여 훼손권을 빼내도록 한 장치도 있으나, 불량지폐의 검출작용이 불완전하며, 자동적으로 사용권과 훼손권을 분리하여 쌓아놓도록 할 수 없었다. 본원은 이러한 결점을 해결하여 정밀하게 사용권과 훼손권을 분리하도록 한 화폐 정사 검지장치에 관한 것이다.

본 고안에 있어서 가장 중요한 사항은 어떤 기준으로 사용권과 훼손권을 판별하여 분리하느냐에 관한 것이다. 한국은행에서 행하는 정사판별 통계에 의하면, 손상권의 비율 중 가장 많은 퍼센트를 점유하는 경우는 "낡은 지폐"로서 87%를 차지하며, 그밖에 "불순물이 묻은 지폐", "변색된 지폐", "찢어진 지폐", "떨어져 나간 지폐"등은 나머지 13%를 차지한다. 이러한 손상권의 종류를 크게 두가지로 대별하면, 지폐의 표면이 변화될 경우와 일부가 파손된 경우로 나눌 수 있다. 이때, 지폐의 일부가 파손된 경우를 검출하기 위해서는, 전자분야에서 통상적인 방법인 cds 혹은 포토 다이오드 등의 검출소자를 수개소 설치하여 그 검출출력은 단순한 판별에 의해 파손상태를 검출할 수 있으나, 지폐의 표면이 변색된다든지 낡었다든지 하는 경우의 검출은 용이하지 못하며, 그 상태 또한 지극히 불규칙적으로 된다. 본 고안자의 실험결과에 따르면, 표면이 변화된 지폐는 정상적인 지폐보다 광투과율이 낮게 된다. 따라서, 광원으로부터의 지폐로 투과되는 빛의 세기에 따라 지폐표면의 변화정도를 알 수 있게 되며, 훼손정도 또한 식별이 가능하다. 그러한 방법에 의해 훼손정도를 검출할 수는 있을지라도 또 한가지의 문제점은 지폐의 어느 부위의 훼손정도로서 훼손권을 판별하느냐에 관한 것이다. 물론, 지폐의 모든 부위를 그러한 방법에 의해 검출할 수도 있겠으나, 이는 본 고안자의 실험결과에 의하면 불필요한 일의 중복인 뿐만 아니라 본 정사검지장치의 효율을 지극히 저하시키는 결점이 있다. 따라서, 본 고안에 의하면 모든 지폐에서 그림이 그려져 있지 않은 가장자리 부분에서의 빛의 투과를 검출하되, 맨 가장자리 부분에서 일정 간격 떨어진 부분에서 검출하도록 하였다. 그 이유는 지폐의 맨가장자리는 사용될 수 있는 정상적인 지폐라고 할지라도 검게 변색된다든지, 손상이 된다든지 할 수 있음이 실험결과 밝혀졌기 때문이다.

이하 첨부된 도면을 참고하여 본 고안을 상세히 설명하기로 한다. 제 1 도는 본 고안의 블록다이아그램이다. 본 고안에서는 제1,2광원을 설치하여, 제1광원의 검출회로에서는 사용권과 훼손권을 구별하기 위한 출력을 제공하며, 제2광원의 검출회로에서는 훼손권으로 판별된 지폐가 훼손권 출구로 나갈 때 본 고안의 동작상태를 원래상태로 되돌려 놓기 위한 리세트 신호를 제공하기 위한 출력신호를 내보낸다. 즉, 제 5 도에 도시된 바와 같이 제1광원은 지폐주입구 근처에 설치되며, 제2광원은 훼손권 출구 근처에 설치된다. 제1검출회로로부터의 광투과신호는 증폭회로를 통해 제1,2비교회로 입력에 인가되며, 제1비교회로로부터의 출력신호와 제2비교회로를 경유하여, 제1,2펄스발생회로로부터의 출력신호는 AND되어서 제3펄스발생회로 입력에 인가되고, 그것의 출력신호는 한쪽으로는 릴레이 및 솔레노이드 구동회로에 인가된다.

제3펄스발생회로로부터의 출력은, 또 제2검출회로, 증폭회로를 경유한 제3비교회로 출력과 AND되어서 제4펄스발생회로 입력에 인가되어, 그 출력은 반전되어 제3펄스발생회로의 리세트 입력에 인가된다.

이하 본 고안의 동작원리를 설명한다. 제1광원으로부터의 신호를 검출하는 제1검출회로는 구별하고자 하는 지폐가 접근함에 따라서 광검출량이 급속히 달라지게 된다. 즉 제 3 도에 도시된 바와 같이 지폐가 광원에 접근하게 되면, 인쇄가 되어 있지 않는 부위(33) 중 맨가장자리(36)가 탐지되므로 빛의 투과량이 급격지 작아지게 된다.

따라서, 이러한 광투과량의 차이의 탐지로 인해서 지폐의 훼손유무에 대한 판별의 준비가 끝나게 되며, 그 기능은 제1검출회로에서 증폭회로를 통과한 후 제2비교회로에서 행하게 된다. 제2비교회로는 이러한 의미에서 지폐정사검지 준비회로라고도 할 수 있을 것이다. 제1펄스발생회로는 상술한 바와 같이 지폐의 맨가장자리 부분을 피하여 정사검지를 하기 위한 일종의 지연회로이며, 그 시간은 대단히 짧다. 제1펄스발생회로로부터 결정된 시간 후에 제2펄스발생회로는 지폐 정사 검지의 부위를 결정하기 위한 시간정보를 출력시킨다. 즉, 제 3 도에서 검출부위(35)에 해당하는 시간정보를 준다. 한편, 제1비교회로에서는 훼손권의 훼손정도에 따라 전압이 조정되도록 하여서 훼손권 유무의 신호를 출력시킨다. 이때, 제1비교회로의 출력과 제2펄스발생회로가 AND되면 검출부위에서의 정확한 훼손권 유무가 판정이 되어 출력되며 그 신호가 펄스발생회로에 인가되어서 훼손권이 훼손권 출구로 나아가도록 릴레이 및 솔레노이드 구동회로에 인가된다. 제3펄스발생회로의 펄스폭은 매우 길어서 훼손권이 출구로 나아가서 제4펄스발생회로로 부터의 리세트 신호를 확인할 때까지 계속된다. 즉, 훼손권이 훼손권 출구로 나아가면 제2검출회로 및 제3비교회로(제2비교회로와 동일한 것임)에서 훼손권의 출구진입을 탐지하며, 제4펄스발생회로에서 지정되는 일정시간 후에 제3펄스발생회로를 리세트시키고 릴레이 및 솔레노이드 구동회로를 원상태로 복귀시킨다.

본 고안은 이와같이 하여 훼손권과 사용권을 정확히 판별, 분리토록 한 유용한 고안이다. 본 고안에서 사용되는 검출회로로서는, cds 혹은 포도다이오드를 이용한 회로가 사용될 수 있으며, 증폭회로는 op-amp회로, 혹은 트랜지스터 증폭회로가 사용될 수 있다. 비교회로로서는 op-amp를 이용한 비교기가 사용되며, 펄스발생회로로서는 펄스폭 시정수를 임의대로 조정하기 위한 단안정 멀티바이브레이터가 사용된다.

이와같은 본 고안의 구체적인 실시예는 제 2 도에 상세히 도시되어 있다. 이하 제 2 도를 상세히 설명한다.

신호검출은 포토트랜지스터(P₁)가 미소한 광량의 차이에 의해 저항치가 변하므로 포토트랜지스터 양단에 항상 걸리는 전압이 광량에 따라 변화하는 증폭율로 반전증폭기 Q₁에서 증폭하도록 되어 있으며 그 출력(3)은 Q₂의 측정부위 전압(4)에 인가되고 기준전압(5)의 입력은 각종 지폐의 종류에 따라 지질과 훼손도의 차이에 의하여 R₁,R₂,R₃의 기준전압(29,40,41)중 하나를 선택하여 측정부위전압(4)과 전압레벨차이를 비교하여 지폐의 측정부위전압(4)이 기준전압(5)보다 낮을 때는 훼손권으로 처리되는 신호 H가 Q₂의 출력(6)에서 AND 게이트입력(7)에 인가된다. 이때 측정부위전압(4)과 기준전압(5)을 비과하여 기준전압보다 측정부위전압(4)이 높을 때는 Q₂의 출력(6)는 L로 출력된다(H와 L은 H=1, L=0으로 디지탈논리 표기) Q₅,Q₆,Q₇은 지폐의 검출부위(35)를 지적하는 회로로서 AND 게이트입력(8)에 인가되며 Q₅의 입력(13)은 Q₁의 출력(3)에 의하여 입력되고 Q₅의 입력(14)은 지폐가 광원(L₁)과 포토트랜지스터(P₁) 사이에 지폐가 통과시의 전압의 변화와 비교하는 기준전압(38)이다.

이때 지폐가 광원(L₁)과 포토트랜지스터(P₁) 사이를 통과시 Q₅출력(15)은 H, 통과 후에는 L이므로 지폐가 통과를 시작할 때의 Q₅출력신호는 L에서 H로 상승되며, 상승된 신호 H는 Q₆의 입력(16)에서 트리거시켜 Q₆은 R₆과 C₂의 시정수에 의해 수 m/sec 동안 지연시간(제 3 도의 T₂)을 가지며 H상태에서 L로 하강할 때의 신호로 Q₇의 입력(18)에 트리거시킨다.

Q₇은 트리거 된 후 제 3 도의 T₃의 시간을 R₇C₃의 시정수에 의하여 수 m/sec 동안의 펄스신호 H를 AND 게이트입력(8)에 인가시킬 때 AND 게이트 Q₃의 입력(7)이 훼손권으로 처리한 신호가 H이면 AND 게이트 출력은 H가 되므로 Q₄의 타이어 입력에 트리거시킴과 동시에 Q₄의 출력(11)은 H가 되어 TR₁에 입력되고 릴레이(Ry)의 접점이 ON되며 솔레노이드(SL)와 연결되는 레버(43)가 작동된다. Q₉와 Q₁₀의 회로는 레버(43)를 통과한 후 훼손권 출구(44)에 장착된 포토트랜지스터(P₂)에 의해 지폐가 출구(44)로 통과할 때의 Q₁₀의 출력신호 H와(회로 Q₉,Q₁₀은 Q₁과 Q₅와 동일함) Q₄의 출력(11)이 H일때 Q₁₁의 출력(30)은 H로서 Q₁₂의 입력(31)에 트리거시킴과 동시에 출력(32) H는 Q₈을 거쳐 반전된 신호 L로 Q₄의 리세트단자(12)에 인가되어 Q₄는 리세트되고 출력은 OFF되며 릴레이(Ry)와 솔로레이드 레버위치는 원상복귀된다. 단, 여기서 Q₄,Q₆,Q₇,Q₁₂등의 호로는 TTL 74123과 같은 단안정멀티바이브레이터이며, Q₁,Q₂,Q₅,Q₉,Q₁₀등은 예를들어 741 Op-Amp이다.

이와같은 조건이 반복되므로서 훼손권은 레버(43)의 작동으로 훼손권 출구(44)로 배출되며 사용권의 경우에는 Q₂의 입력인 측정부위전압(4)보다 기준전압(5)이 낮을 때 Q₂의 출력은 L이 입력되고 지폐검출부위 지적회로의 출력펄스신호 H가 AND 게이트 Q₃에 입력되어 AND 게이트 출력(9)는 L이 출력이 되므로 Q₄의 입력에 트리거시키지 못하여 레버의 작동이 되지 않고 사용권의 출구(45)로 배출되어 사용권과 훼손권으로 분리된다.

제 4 도는 지폐가 광원과 포토트랜지스터 사이에서 통과를 시작할때 투과량의 신호를 Q₁의 반전증폭기에서 증폭된 출력(3)을 전압이 시간적으로 변화되는 신호파형을 도표로 나타낸 것이다.

기준전압(38)은 Q₅의 전압으로 지폐가 광원과 포토트랜지스터 사이를 지폐의 가장자리면(36)이 통과할 때 신호파형(37)과 기준전압(38)이 교차되는 지점에서 Q₅의 출력(15)는 T₁과 같이 H레벨이 지폐가 통과할 때까지 유지되며 T₂는 T₁이 H레벨로 상승할 때부터 Q₆이 트리거되어 지연시간을 유지하고 T₂는 지폐의 가장자리면(36)을 통과시 서서히 떨어지는 지점을 피하고 검출부위(35)의 지점에 도달시키기 위한 지연시간으로 Q₆에 H에서 L로 하강할 때 Q₇을 트리거시키고, Q₇은 T₃의 지연시간이 지폐검출부위(35)를 지적하며, 지폐의 훼손도에 따라 선택할 수 있는 기준전압(39)(40)(41)(제 1 도의 R₁,R₂,R₃)으로 신호파형(37)과 같은 레벨파형을 갖는 지폐일 경우에 기준전압(41)이 선택되면 이보다 신호파형(37)의 레벨이 높기 때문에 사용권으로 처리되며 기준전압(39),(40)을 선택하면 훼손권으로 처리되는 것으로서 투입구(42)로 지폐가 들어가 L₁과 P₁을 거쳐 훼손권으로 판정되었을 때는 레버(43)가 제 4 도의 점선방향으로 되어 지폐는 훼손권 출구(44)로 나가며 L₂와 P₂에 의하여 레버의 전원을 OFF시켜 원상복귀되면서 사용권은 사용권출구(45)로 배출된다. 또한 상기한 검지회로는 임의의 수량만큼 설치하게 되면 불량화폐의 적발은 물론 규격치 이외의 지폐까지도 검출할 수 있으며 계수회로만 부과시키면 정사와 계수도 함께 할 수 있는 것이다.

Claims (1)

1. 본문에 상술한 바와 같이 제1광원, 상기 제1광원으로부터 지폐에 투과된 광량을 검출하는 제1검출회로, 증폭회로, 상기 증폭회로로부터의 출력신호를 판별하여 훼손된 정도에 따라 훼손권 유무를 나타내는 제1비교회로, 지폐가 상기 광원에 근접하여 정사의 준비상태가 완료됨을 나타내는 제2비교회로, 상기 제2비교회로로부터의 신호를 일정시간 지연시키는 제1펄스발생회로, 상기 제1펄스발생회로의 출력신호를 받아서 정사검출부위의 시간정보를 나타내는 제2펄스발생회로 상기 제1비교회로와 상기 제2펄스발생회로로부터의 출력신호를 AND시킨 신호를 입력시켜 릴레이 및 솔레노 이드 구동회로의 구동신호를 인가하는 제3펄스발생회로, 제2광원, 상기 제2광원으로부터 훼손지폐의 훼손권 출구로의 진입을 탐지하는 제2검출회로, 증폭회로, 제3비교회로, 상기 제3비교회로와 상기 제3펄스발생회로로부터의 출력신호를 AND시킨 신호를 입력으로 하여 상기 제3펄스발생회로의 반전된 리세트 신호를 발생시키는 제4펄스발생회로를 구비한 것을 특징으로 하는 화폐 정사 검지장치.