KR20240137460A - Sheet for forming resin film and workpiece processing method - Google Patents
Sheet for forming resin film and workpiece processing method Download PDFInfo
- Publication number
- KR20240137460A KR20240137460A KR1020240008948A KR20240008948A KR20240137460A KR 20240137460 A KR20240137460 A KR 20240137460A KR 1020240008948 A KR1020240008948 A KR 1020240008948A KR 20240008948 A KR20240008948 A KR 20240008948A KR 20240137460 A KR20240137460 A KR 20240137460A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- film
- peeling
- resin film
- resin
- forming
- Prior art date
Links
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 298
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 298
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 63
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 32
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 description 232
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 87
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 71
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 66
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 63
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 37
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 37
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 24
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 23
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 23
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 21
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 19
- -1 alicyclic epoxides Chemical class 0.000 description 18
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 18
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 17
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 17
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 14
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 13
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 12
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 11
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 11
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 10
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 10
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 9
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 8
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 8
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 8
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 8
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 7
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 7
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 6
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N bisphenol F Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1CC1=CC=C(O)C=C1 PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 6
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 6
- 239000003431 cross linking reagent Substances 0.000 description 6
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 6
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 6
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 6
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 5
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 5
- GYZLOYUZLJXAJU-UHFFFAOYSA-N diglycidyl ether Chemical class C1OC1COCC1CO1 GYZLOYUZLJXAJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 5
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 description 5
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 5
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 5
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 5
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 4
- 238000007259 addition reaction Methods 0.000 description 4
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- QGBSISYHAICWAH-UHFFFAOYSA-N dicyandiamide Chemical compound NC(N)=NC#N QGBSISYHAICWAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 4
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 4
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 4
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 4
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 4
- OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxyethyl prop-2-enoate Chemical compound OCCOC(=O)C=C OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UUQQGGWZVKUCBD-UHFFFAOYSA-N [4-(hydroxymethyl)-2-phenyl-1h-imidazol-5-yl]methanol Chemical compound N1C(CO)=C(CO)N=C1C1=CC=CC=C1 UUQQGGWZVKUCBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 description 3
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 3
- 239000001023 inorganic pigment Substances 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000004850 liquid epoxy resins (LERs) Substances 0.000 description 3
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 3
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 3
- HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 1755-01-7 Chemical compound C1[C@H]2[C@@H]3CC=C[C@@H]3[C@@H]1C=C2 HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 0.000 description 2
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N Methyl acrylate Chemical compound COC(=O)C=C BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N [3-prop-2-enoyloxy-2-[[3-prop-2-enoyloxy-2,2-bis(prop-2-enoyloxymethyl)propoxy]methyl]-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 125000005370 alkoxysilyl group Chemical group 0.000 description 2
- 229920000180 alkyd Polymers 0.000 description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 2
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 2
- 235000013870 dimethyl polysiloxane Nutrition 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 2
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 2
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 2
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 2
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 2
- VOZRXNHHFUQHIL-UHFFFAOYSA-N glycidyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1CO1 VOZRXNHHFUQHIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QQVIHTHCMHWDBS-UHFFFAOYSA-N isophthalic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC(C(O)=O)=C1 QQVIHTHCMHWDBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- QWVGKYWNOKOFNN-UHFFFAOYSA-N o-cresol Chemical compound CC1=CC=CC=C1O QWVGKYWNOKOFNN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- IWDCLRJOBJJRNH-UHFFFAOYSA-N p-cresol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1 IWDCLRJOBJJRNH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N phthalic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 2
- 239000004848 polyfunctional curative Substances 0.000 description 2
- 229920001843 polymethylhydrosiloxane Polymers 0.000 description 2
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 238000002407 reforming Methods 0.000 description 2
- GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N resorcinol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1 GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 2
- SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N stibanylidynetin;hydrate Chemical compound O.[Sn].[Sb] SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 2
- 238000001392 ultraviolet--visible--near infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 229920006305 unsaturated polyester Polymers 0.000 description 2
- 239000012463 white pigment Substances 0.000 description 2
- QNODIIQQMGDSEF-UHFFFAOYSA-N (1-hydroxycyclohexyl)-phenylmethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1(O)CCCCC1 QNODIIQQMGDSEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CVBWTNHDKVVFMI-LBPRGKRZSA-N (2s)-1-[4-[2-[6-amino-8-[(6-bromo-1,3-benzodioxol-5-yl)sulfanyl]purin-9-yl]ethyl]piperidin-1-yl]-2-hydroxypropan-1-one Chemical compound C1CN(C(=O)[C@@H](O)C)CCC1CCN1C2=NC=NC(N)=C2N=C1SC(C(=C1)Br)=CC2=C1OCO2 CVBWTNHDKVVFMI-LBPRGKRZSA-N 0.000 description 1
- RUEBPOOTFCZRBC-UHFFFAOYSA-N (5-methyl-2-phenyl-1h-imidazol-4-yl)methanol Chemical compound OCC1=C(C)NC(C=2C=CC=CC=2)=N1 RUEBPOOTFCZRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003067 (meth)acrylic acid ester copolymer Polymers 0.000 description 1
- KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 1-naphthol Chemical compound C1=CC=C2C(O)=CC=CC2=C1 KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZDDUSDYMEXVQNJ-UHFFFAOYSA-N 1H-imidazole silane Chemical compound [SiH4].N1C=NC=C1 ZDDUSDYMEXVQNJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GOXQRTZXKQZDDN-UHFFFAOYSA-N 2-Ethylhexyl acrylate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C=C GOXQRTZXKQZDDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LXBGSDVWAMZHDD-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1h-imidazole Chemical compound CC1=NC=CN1 LXBGSDVWAMZHDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCUJYXPAKHMBAZ-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1h-imidazole Chemical compound C1=CNC(C=2C=CC=CC=2)=N1 ZCUJYXPAKHMBAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- WJQOZHYUIDYNHM-UHFFFAOYSA-N 2-tert-Butylphenol Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC=C1O WJQOZHYUIDYNHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IKYAJDOSWUATPI-UHFFFAOYSA-N 3-[dimethoxy(methyl)silyl]propane-1-thiol Chemical compound CO[Si](C)(OC)CCCS IKYAJDOSWUATPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LVNLBBGBASVLLI-UHFFFAOYSA-N 3-triethoxysilylpropylurea Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCNC(N)=O LVNLBBGBASVLLI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SJECZPVISLOESU-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropan-1-amine Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCN SJECZPVISLOESU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UUEWCQRISZBELL-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropane-1-thiol Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCS UUEWCQRISZBELL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FVCSARBUZVPSQF-UHFFFAOYSA-N 5-(2,4-dioxooxolan-3-yl)-7-methyl-3a,4,5,7a-tetrahydro-2-benzofuran-1,3-dione Chemical compound C1C(C(OC2=O)=O)C2C(C)=CC1C1C(=O)COC1=O FVCSARBUZVPSQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TYOXIFXYEIILLY-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-2-phenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C(C)=CN=C1C1=CC=CC=C1 TYOXIFXYEIILLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002126 Acrylic acid copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GAWIXWVDTYZWAW-UHFFFAOYSA-N C[CH]O Chemical group C[CH]O GAWIXWVDTYZWAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001024304 Mino Species 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N N-phenyl amine Natural products NC1=CC=CC=C1 PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002319 Poly(methyl acrylate) Polymers 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004283 SiO 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 1
- ORLQHILJRHBSAY-UHFFFAOYSA-N [1-(hydroxymethyl)cyclohexyl]methanol Chemical compound OCC1(CO)CCCCC1 ORLQHILJRHBSAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NOZAQBYNLKNDRT-UHFFFAOYSA-N [diacetyloxy(ethenyl)silyl] acetate Chemical compound CC(=O)O[Si](OC(C)=O)(OC(C)=O)C=C NOZAQBYNLKNDRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 150000001299 aldehydes Chemical class 0.000 description 1
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 1
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 1
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 1
- 239000012752 auxiliary agent Substances 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- CDQSJQSWAWPGKG-UHFFFAOYSA-N butane-1,1-diol Chemical compound CCCC(O)O CDQSJQSWAWPGKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N butyl acrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C=C CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011203 carbon fibre reinforced carbon Substances 0.000 description 1
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000001031 chromium pigment Substances 0.000 description 1
- 239000001032 cobalt pigment Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- IFDVQVHZEKPUSC-UHFFFAOYSA-N cyclohex-3-ene-1,2-dicarboxylic acid Chemical compound OC(=O)C1CCC=CC1C(O)=O IFDVQVHZEKPUSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- OTARVPUIYXHRRB-UHFFFAOYSA-N diethoxy-methyl-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)CCCOCC1CO1 OTARVPUIYXHRRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005388 dimethylhydrogensiloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C=C NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LDLDYFCCDKENPD-UHFFFAOYSA-N ethenylcyclohexane Chemical compound C=CC1CCCCC1 LDLDYFCCDKENPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 238000005247 gettering Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011086 glassine Substances 0.000 description 1
- 125000006038 hexenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002483 hydrogen compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 1
- 229920000554 ionomer Polymers 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 229920000092 linear low density polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004707 linear low-density polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229920001684 low density polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004702 low-density polyethylene Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N methyltrimethoxysilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)OC BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003094 microcapsule Substances 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- KBJFYLLAMSZSOG-UHFFFAOYSA-N n-(3-trimethoxysilylpropyl)aniline Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCNC1=CC=CC=C1 KBJFYLLAMSZSOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 1
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012766 organic filler Substances 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 239000012860 organic pigment Substances 0.000 description 1
- 150000001282 organosilanes Chemical class 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- AFEQENGXSMURHA-UHFFFAOYSA-N oxiran-2-ylmethanamine Chemical compound NCC1CO1 AFEQENGXSMURHA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 1
- 239000013034 phenoxy resin Substances 0.000 description 1
- 229920006287 phenoxy resin Polymers 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920001485 poly(butyl acrylate) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 1
- 229920003209 poly(hydridosilsesquioxane) Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 229920000306 polymethylpentene Polymers 0.000 description 1
- 239000011116 polymethylpentene Substances 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001451 polypropylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 125000004368 propenyl group Chemical group C(=CC)* 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 239000001054 red pigment Substances 0.000 description 1
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000000790 scattering method Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000454 talc Substances 0.000 description 1
- 229910052623 talc Inorganic materials 0.000 description 1
- UFDHBDMSHIXOKF-UHFFFAOYSA-N tetrahydrophthalic acid Natural products OC(=O)C1=C(C(O)=O)CCCC1 UFDHBDMSHIXOKF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001038 titanium pigment Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N triethoxy(methyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)OCC CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VTHOKNTVYKTUPI-UHFFFAOYSA-N triethoxy-[3-(3-triethoxysilylpropyltetrasulfanyl)propyl]silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCSSSSCCC[Si](OCC)(OCC)OCC VTHOKNTVYKTUPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DQZNLOXENNXVAD-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[2-(7-oxabicyclo[4.1.0]heptan-4-yl)ethyl]silane Chemical compound C1C(CC[Si](OC)(OC)OC)CCC2OC21 DQZNLOXENNXVAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOCC1CO1 BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PZJJKWKADRNWSW-UHFFFAOYSA-N trimethoxysilicon Chemical compound CO[Si](OC)OC PZJJKWKADRNWSW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006337 unsaturated polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
- C09J7/40—Adhesives in the form of films or foils characterised by release liners
- C09J7/403—Adhesives in the form of films or foils characterised by release liners characterised by the structure of the release feature
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B27/00—Layered products comprising a layer of synthetic resin
- B32B27/06—Layered products comprising a layer of synthetic resin as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material
- B32B27/08—Layered products comprising a layer of synthetic resin as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material of synthetic resin
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B7/00—Layered products characterised by the relation between layers; Layered products characterised by the relative orientation of features between layers, or by the relative values of a measurable parameter between layers, i.e. products comprising layers having different physical, chemical or physicochemical properties; Layered products characterised by the interconnection of layers
- B32B7/04—Interconnection of layers
- B32B7/06—Interconnection of layers permitting easy separation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
- C09J7/20—Adhesives in the form of films or foils characterised by their carriers
- C09J7/29—Laminated material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J2301/00—Additional features of adhesives in the form of films or foils
- C09J2301/30—Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier
- C09J2301/312—Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier parameters being the characterizing feature
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Adhesive Tapes (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(과제) 중면 박리 필름(12)/수지막 형성 필름(11)/경면 박리 필름(13)과의 적층 시트인 수지막 형성용 시트(10)로부터, 중면 박리 필름(12)을 박리 후, 박리가 확실하게 행해진 것을 확인할 때의 식별 에러를 방지한다.
(해결 수단) 본 발명의 수지막 형성용 시트(10)는,
수지막을 형성하기 위한 수지막 형성 필름(11)과,
상기 수지막 형성 필름의 한쪽 면에 마련된 중면 박리 필름(12)과,
상기 수지막 형성 필름의 다른쪽 면에 마련된 경면 박리 필름(13)을 갖고,
상기 중면 박리 필름(12)의 상기 수지막 형성 필름(11)으로부터의 박리력을 F1로 하고, 상기 경면 박리 필름(13)의 상기 수지막 형성 필름(11)으로부터의 박리력을 F2로 한 경우에, F1 > F2인 관계를 만족하고,
상기 중면 박리 필름(12)은, 555㎚의 광선 투과율이 80% 이하인 것, 및 헤이즈가 4% 이상인 것 중 어느 한쪽, 또는 양쪽 모두를 만족한다.(Task) To prevent identification errors when confirming that peeling has been performed reliably after peeling the middle-surface peeling film (12) from a resin film forming sheet (10) which is a laminated sheet of a middle-surface peeling film (12)/resin film forming film (11)/mirror peeling film (13).
(Solution) The sheet (10) for forming a resin film of the present invention,
A resin film forming film (11) for forming a resin film,
A middle-surface peeling film (12) provided on one side of the above resin film forming film,
Having a hard surface release film (13) provided on the other side of the above resin film forming film,
When the peeling force of the above-mentioned middle-surface peeling film (12) from the above-mentioned resin film forming film (11) is F1 and the peeling force of the above-mentioned hard-surface peeling film (13) from the above-mentioned resin film forming film (11) is F2, the relationship F1 > F2 is satisfied.
The above-mentioned middle-surface peeling film (12) satisfies either one or both of the following: a light transmittance of 555 nm of 80% or less, and a haze of 4% or more.
Description
본 발명은, 수지막 형성용 시트 및 이를 이용한 워크의 가공 방법에 관한 것이다. 특히, 반도체 웨이퍼 등의 워크 또는 워크를 가공하여 얻어지는 반도체 칩 등의 워크 개편화물을 보호하기 위한 보호막 또는 워크 개편화물을 접착하기 위한 접착막을 생성하기 위해 바람직하게 사용되는 수지막 형성 필름을 구비하는 수지막 형성용 시트, 그리고, 상기 수지막 형성용 시트를 이용한 워크의 가공 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a resin film forming sheet and a method for processing a work using the same. In particular, the present invention relates to a resin film forming sheet having a resin film forming film which is preferably used for producing a protective film for protecting a work such as a semiconductor wafer or a workpiece obtained by processing the work such as a semiconductor chip, or an adhesive film for bonding the workpiece. The present invention also relates to a method for processing a work using the resin film forming sheet.
근년, 플립 칩 본딩이라고 불리는 실장법에 의해 반도체 장치를 제조하는 것이 행해지고 있다. 이 실장법에서는, 범프 등의 볼록상 전극이 형성된 회로면을 갖는 반도체 칩을 실장할 때에, 반도체 칩의 회로면 측을 칩 탑재부에 반전(페이스 다운)시켜 접합하고 있다. 따라서, 회로가 형성되어 있지 않은 반도체 칩의 이면 측이 노출되는 구조가 된다.In recent years, semiconductor devices have been manufactured using a mounting method called flip chip bonding. In this mounting method, when mounting a semiconductor chip having a circuit surface on which convex electrodes such as bumps are formed, the circuit surface side of the semiconductor chip is flipped (face down) and bonded to the chip mounting portion. Therefore, the back side of the semiconductor chip, where the circuit is not formed, is exposed.
이 때문에, 반도체 칩의 이면 측에는, 반도체 칩을 반송 시 등의 충격으로부터 보호하기 위해, 유기 재료로 이루어지는 경질(硬質)인 수지막이 형성되는 경우가 많다. 이러한 수지막은 보호막이라고 불린다. 보호막은, 예를 들면, 반도체 웨이퍼의 이면에 수지막 형성 필름의 일례로서의 보호막 형성 필름을 첩부한 후, 경화하거나, 또는, 비경화 상태에서 형성된다.For this reason, a hard resin film made of organic material is often formed on the back side of the semiconductor chip to protect the semiconductor chip from impacts such as when returning it. This resin film is called a protective film. The protective film is formed, for example, by attaching a protective film forming film as an example of a resin film forming film to the back side of a semiconductor wafer, and then curing or in a non-cured state.
또한, 반도체 칩은, 그 이면에 첩부된 수지막에 의해, 기판의 회로 형성면에 접착되는 경우가 있다. 이러한 수지막을 형성하여 접착하기 위한 수지막 형성 필름은 다이 본딩 필름이라고 불린다. 다이 본딩에 의해 반도체 칩이 다이 본딩 필름을 통해 기판 상에 배치된다. 그 후, 필요에 따라, 이 반도체 칩에 또 다른 반도체 칩이 1개 이상 적층되고, 와이어 본딩을 행한 후, 전체가 수지에 의해 봉지(封止)되어, 반도체 패키지가 제작된다.In addition, semiconductor chips are sometimes bonded to the circuit formation surface of a substrate by a resin film attached to the back surface thereof. A resin film forming film for forming and bonding such a resin film is called a die bonding film. A semiconductor chip is placed on a substrate via the die bonding film by die bonding. Thereafter, if necessary, one or more semiconductor chips are laminated on this semiconductor chip, wire bonding is performed, and the entirety is sealed with resin, thereby producing a semiconductor package.
특허문헌 1에는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 중박리 필름인 제1 박리 필름(12)과 경박리 필름인 제2 박리 필름(13) 사이에, 보호막을 생성하기 위한 보호막 형성 필름(11)을 협지(挾持)한 3층 구조의 보호막 형성용 시트(10)가 개시되어 있다. 보호막 형성 필름(11)은, 제1 박리 필름(12) 및 제2 박리 필름(13)으로부터 박리 가능하게 적층되어 있다. 특허문헌 1의 보호막 형성용 시트는, 제1 박리 필름(12)의 보호막 형성 필름(11)으로부터의 박리력을 F1로 하고, 제2 박리 필름(13)의 보호막 형성 필름(11)으로부터의 박리력을 F2로 한 경우에, F1 > F2를 만족한다. 상기 보호막 형성용 시트(10)는, 통상은 장척(長尺)이며 롤상으로 권취(卷取)되어 보관, 수송되고 있다.Patent Document 1 discloses a protective film forming sheet (10) having a three-layer structure in which a protective film forming film (11) for forming a protective film is sandwiched between a first peeling film (12), which is a heavy peeling film, and a second peeling film (13), which is a light peeling film, as shown in FIG. 1. The protective film forming film (11) is laminated so as to be releasable from the first peeling film (12) and the second peeling film (13). The protective film forming sheet of Patent Document 1 satisfies F1 > F2 when the peeling force of the first peeling film (12) from the protective film forming film (11) is F1, and the peeling force of the second peeling film (13) from the protective film forming film (11) is F2. The above-mentioned sheet (10) for forming a protective film is usually long and is wound in a roll shape for storage and transport.
수지막 형성용 시트(10)의 사용 태양 중 하나는, 박리력이 작은 경면 박리 필름(13)을 박리하고, 노출된 수지막 형성 필름(11)을 워크에 첩부한다. 그 후, 중면 박리 필름(12)과 수지막 형성 필름(11)을, 워크의 외주(外周) 형상에 맞추어 불필요부를 절제하는 공정을 행해도 된다. 그 후, 중면 박리 필름(12)을 수지막 형성 필름(11)으로부터 박리하고, 수지막 형성 필름(11)을 소정의 수단으로 경화해서 보호막으로 하여, 보호막 부착 워크를 얻는다. 보호막 부착 워크는, 다이싱되어 개편화되고, 이면에 보호막을 갖는 워크 개편화물이 얻어진다. 또, 수지막 형성 필름(11)의 경화는 다이싱 후에 행해지는 경우도 있다. 예를 들면, 수지막을 접착막으로서 사용하는 경우에는, 미경화 상태에서 다이싱되고, 접착 시에 필요에 따라 수지막을 경화한다.One of the ways of using the sheet (10) for forming a resin film is to peel off a light-surface peeling film (13) having a low peeling force, and to attach the exposed resin film forming film (11) to a workpiece. Thereafter, a process of cutting off unnecessary parts of the middle-surface peeling film (12) and the resin film forming film (11) according to the shape of the outer circumference of the workpiece may be performed. Thereafter, the middle-surface peeling film (12) is peeled off from the resin film forming film (11), and the resin film forming film (11) is cured by a predetermined means to form a protective film, thereby obtaining a workpiece with a protective film attached. The workpiece with the protective film attached is diced to be separated into pieces, and a workpiece separated into pieces having a protective film on the back surface is obtained. In addition, the curing of the resin film forming film (11) may be performed after dicing. For example, when the resin film is used as an adhesive film, it is diced in an uncured state, and the resin film is cured as necessary at the time of bonding.
상기 중면 박리 필름(12)을 수지막 형성 필름(11)으로부터 박리하는 공정에서는, 중면 박리 필름(12)의 박리의 확인을 센서 또는 육안으로 행하지만, 이때에 식별 에러가 발생하는 경우가 있었다. 즉, 중면 박리 필름(12)이 박리되어 있지 않음에도 불구하고, 박리된 것이라고 판단하여 다음 공정으로 이송되는 경우가 있었다.In the process of peeling the above-mentioned middle-surface peeling film (12) from the resin film forming film (11), peeling of the middle-surface peeling film (12) is confirmed by a sensor or by visual inspection, but there were cases where identification errors occurred at this time. That is, there were cases where the middle-surface peeling film (12) was judged to be peeled even though it was not peeled and was transferred to the next process.
본 발명자는, 이러한 식별 에러를 방지하기 위해, 예의(銳意) 검토한 바, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.The inventor of the present invention has conducted careful examination to prevent such identification errors and has completed the present invention.
이러한 과제를 해결하는 본 발명의 태양은, 이하와 같다.The aspect of the present invention that solves these problems is as follows.
(1) 수지막을 형성하기 위한 수지막 형성 필름과,(1) A resin film forming film for forming a resin film,
상기 수지막 형성 필름의 한쪽 면에 마련된 중면 박리 필름과,A middle-side peeling film provided on one side of the above resin film forming film,
상기 수지막 형성 필름의 다른쪽 면에 마련된 경면 박리 필름을 갖고,Having a hard-surface peeling film provided on the other side of the above resin film forming film,
상기 중면 박리 필름의 상기 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F1로 하고, 상기 경면 박리 필름의 상기 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F2로 한 경우에, F1 > F2인 관계를 만족하고,When the peeling force of the above-mentioned middle-surface peeling film from the above-mentioned resin film forming film is F1, and the peeling force of the above-mentioned hard-surface peeling film from the above-mentioned resin film forming film is F2, the relationship F1 > F2 is satisfied,
상기 중면 박리 필름은, 555㎚의 광선 투과율이 80% 이하인 것, 및 헤이즈가 4% 이상인 것 중 어느 한쪽, 또는 양쪽 모두를 만족하는, 수지막 형성용 시트.The above-mentioned middle-surface peeling film is a sheet for forming a resin film, which satisfies either one or both of a light transmittance of 555 nm of 80% or less and a haze of 4% or more.
(2) 상기 중면 박리 필름의 적어도 한쪽 면은, 조면화(粗面化)되어 있는 (1)에 기재된 수지막 형성용 시트.(2) A sheet for forming a resin film as described in (1), wherein at least one side of the above-mentioned middle-surface peeling film is roughened.
(3) 상기 중면 박리 필름은, 착색되어 있는 (1)에 기재된 수지막 형성용 시트.(3) The above-mentioned middle-surface peeling film is a colored resin film forming sheet described in (1).
(4) 상기 수지막 형성 필름의 중면 박리 필름과의 접촉 표면의 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값은 40% 이하인 (1)에 기재된 수지막 형성용 시트.(4) The resin film forming sheet described in (1), wherein the average value of the light reflectance at 400 to 800 nm of the contact surface of the resin film forming film with the middle-surface peeling film is 40% or less.
(5) 상기 중면 박리 필름의 수지막 형성 필름과의 접촉 표면의 산술 평균 높이 Sa는 0.03㎛ 미만인 (1)에 기재된 수지막 형성용 시트.(5) The resin film forming sheet described in (1), wherein the arithmetic mean height Sa of the contact surface of the above-mentioned middle-surface peeling film with the resin film forming film is less than 0.03 ㎛.
(6) 상기 (1) 내지 (5) 중 어느 것에 기재된 수지막 형성용 시트의 경면 박리 필름을 박리하고, 노출된 수지막 형성 필름을 워크에 첩부하는 공정,(6) A process of peeling off the hard surface peeling film of the resin film forming sheet described in any one of (1) to (5) above and attaching the exposed resin film forming film to a workpiece.
워크에 첩부된 수지막 형성 필름으로부터 중면 박리 필름을 박리하는 공정, 및A process for peeling a middle-surface peeling film from a resin film forming film attached to a work, and
중면 박리 필름의 박리를 확인하는 공정을 갖는, 워크의 가공 방법.A method for processing a workpiece, comprising a process for confirming the peeling of a middle-surface peeling film.
본 발명에 의하면, 중면 박리 필름(12)의 박리의 확인을 높은 정밀도로 행할 수 있다.According to the present invention, confirmation of peeling of a middle-surface peeling film (12) can be performed with high precision.
도 1은, 본 실시형태에 따른 수지막 형성용 시트의 단면 모식도이다.Fig. 1 is a cross-sectional schematic diagram of a sheet for forming a resin film according to the present embodiment.
우선, 본 명세서에서 사용하는 주된 용어를 설명한다.First, we explain the main terms used in this specification.
워크는, 본 실시형태에 따른 수지막 형성 필름이 첩부되어 가공되는 판상체이다. 워크로서는, 예를 들면, 웨이퍼, 패널을 들 수 있다. 구체적으로는, 반도체 웨이퍼, 반도체 패널을 들 수 있다. 워크의 가공물로서는, 예를 들면, 웨이퍼를 개편화하여 얻어지는 칩을 들 수 있다. 구체적으로는, 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어지는 반도체 칩이 예시된다. 이 경우, 수지막은, 웨이퍼 및 칩의 이면 측에 형성된다.The work is a plate-shaped body to which the resin film forming film according to the present embodiment is attached and processed. Examples of the work include a wafer and a panel. Specifically, a semiconductor wafer and a semiconductor panel can be mentioned. Examples of the processed product of the work include a chip obtained by dividing a wafer into pieces. Specifically, a semiconductor chip obtained by dividing a semiconductor wafer is exemplified. In this case, the resin film is formed on the back side of the wafer and the chip.
웨이퍼 등의 워크의 「표면」이란 회로 및 범프 등의 볼록상 전극 등이 형성된 면을 가리키고, 「이면」은 회로, 전극(예를 들면 범프 등의 볼록상 전극) 등이 형성되어 있지 않은 면을 가리킨다.The "surface" of a work such as a wafer refers to the surface on which circuits and convex electrodes such as bumps are formed, and the "back surface" refers to the surface on which circuits, electrodes (e.g. convex electrodes such as bumps), etc. are not formed.
수지막 형성 필름은, 워크에 전사(轉寫)되고, 보호막 또는 접착막을 형성하는 필름으로서 기능한다.The resin film forming film is transferred to a work and functions as a film that forms a protective film or adhesive film.
본 명세서에서, 예를 들면 「(메타)아크릴레이트」란, 「아크릴레이트」 및 「메타크릴레이트」의 쌍방을 나타내는 어(語)로서 이용하고 있으며, 다른 유사 용어에 대해서도 마찬가지이다.In this specification, for example, the term “(meth)acrylate” is used as a word representing both “acrylate” and “methacrylate”, and the same applies to other similar terms.
박리 필름이란, 수지막 형성 필름을 박리 가능하게 지지하는 필름이다. 필름이란, 두께를 한정하는 것은 아니고, 시트를 포함하는 개념으로 이용한다. 중면 박리 필름과 경면 박리 필름은, 수지막 형성 필름으로부터의 박리력에 의해 구별된다. 중면 박리 필름의 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F1로 하고, 경면 박리 필름의 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F2로 한 경우에, F1 > F2인 관계를 만족한다.A peeling film is a film that supports a resin film forming film so that it can be peeled. The film does not have a limited thickness, and is used as a concept including a sheet. A middle-surface peeling film and a mirror-surface peeling film are distinguished by the peeling force from the resin film forming film. When the peeling force from the resin film forming film of the middle-surface peeling film is F1, and the peeling force from the resin film forming film of the mirror-surface peeling film is F2, the relationship F1 > F2 is satisfied.
수지막 형성 필름용 조성물, 박리제층용 조성물에 관한 설명에서의 질량비는, 유효 성분(고형분)에 기초하여, 특별한 설명이 없는 한, 용매는 산입하지 않는다.In the description of the composition for a resin film forming film and the composition for a release agent layer, the mass ratio is based on the effective ingredient (solid content), and unless otherwise specified, the solvent is not included.
이하, 본 발명을, 구체적인 실시형태에 기초하여 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described based on specific embodiments.
(1. 수지막 형성 필름)(1. Resin film formation film)
본 실시형태에 따른 수지막 형성용 시트(10)는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 수지막 형성 필름(11)(보다 구체적으로는 보호막 형성 필름(11))과, 수지막 형성 필름(11)의 한쪽 면에 마련된 중면 박리 필름(12)과, 다른쪽 면에 마련된 경면 박리 필름(13)을 갖는다. 이러한 수지막 형성용 시트는 통상은 장척 시트로서, 롤상으로 권수(卷收)되어 있다.As shown in Fig. 1, the resin film forming sheet (10) according to the present embodiment has a resin film forming film (11) (more specifically, a protective film forming film (11)), a middle-surface release film (12) provided on one side of the resin film forming film (11), and a hard-surface release film (13) provided on the other side. This resin film forming sheet is usually wound in a roll shape as a long sheet.
수지막으로서는, 워크 또는 워크 개편화물을 보호하기 위한 보호막, 워크 개편화물을 기판 등에 접착하기 위한 접착막 등이 예시된다.Examples of the resin film include a protective film for protecting a work or work reforming material, and an adhesive film for adhering a work reforming material to a substrate, etc.
「보호막화한다」란, 수지막 형성 필름(11)을, 워크 또는 워크 개편화물을 보호하는데 충분한 특성을 갖는 상태로 하는 것이다. 구체적으로는, 본 실시형태에 따른 수지막 형성 필름이 경화성인 경우에는, 「보호막화한다」란, 미경화의 수지막 형성 필름을 경화물로 하는 것을 말한다. 환언하면, 보호막화된 수지막 형성 필름은, 수지막 형성 필름의 경화물이며, 수지막 형성 필름과는 다르다."Creating a protective film" means making the resin film-forming film (11) into a state having sufficient properties to protect the work or the workpiece. Specifically, when the resin film-forming film according to the present embodiment is curable, "creating a protective film" means making an uncured resin film-forming film into a cured product. In other words, the protective film-forming resin film is a cured product of the resin film-forming film and is different from the resin film-forming film.
경화성 수지막 형성 필름에 워크를 중첩한 후, 수지막 형성 필름을 경화시킴으로써, 수지막을 워크에 강고하게 접착할 수 있어, 내구성을 갖는 보호막을 형성할 수 있다.By superimposing a workpiece onto a curable resin film forming film and then curing the resin film forming film, the resin film can be firmly adhered to the workpiece, thereby forming a durable protective film.
수지막 형성 필름(11)이 경화성 성분을 함유하지 않고 비경화 상태에서 보호막으로서 사용되는 경우에는, 본 실시형태에 따른 수지막 형성 필름이 워크에 첩부된 시점에서, 상기 수지막 형성 필름은 보호막화된다. 환언하면, 수지막은, 수지막 형성 필름과 같아도 된다.When the resin film forming film (11) does not contain a curable component and is used as a protective film in a non-cured state, the resin film forming film according to the present embodiment is formed into a protective film at the time when it is attached to the work. In other words, the resin film may be the same as the resin film forming film.
높은 보호 성능이 요구되지 않는 경우에는, 수지막 형성 필름을 경화시킬 필요가 없으므로, 수지막 형성 필름은 비경화성이어도 된다.If high protective performance is not required, there is no need to cure the resin film forming film, so the resin film forming film may be non-curable.
본 실시형태에서는, 수지막 형성 필름은, 경화성인 것이 바람직하다. 따라서, 수지막은 경화물인 것이 바람직하다. 경화물로서는, 예를 들면, 열경화물, 에너지선 경화물이 예시된다. 본 실시형태에서는, 수지막은 열경화물인 것이 보다 바람직하다.In this embodiment, the resin film forming film is preferably curable. Therefore, the resin film is preferably a cured product. Examples of the cured product include a thermosetting product and an energy ray cured product. In this embodiment, it is more preferable that the resin film is a thermosetting product.
또한, 수지막 형성 필름은, 상온(23℃)에서 점착성을 갖거나, 가열에 의해 점착성을 발휘하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 수지막 형성 필름에 워크를 중첩할 때에 양자(兩者)를 첩합할 수 있다. 따라서, 수지막 형성 필름을 경화시키기 전에 위치 결정을 확실하게 행할 수 있다.In addition, it is preferable that the resin film forming film has adhesiveness at room temperature (23°C) or exhibits adhesiveness upon heating. Accordingly, when overlapping a workpiece on the resin film forming film, the two can be bonded together. Therefore, positioning can be reliably determined before curing the resin film forming film.
수지막 형성 필름은 1층(단층)으로 구성되어 있어도 좋고, 2층 이상의 복수층으로 구성되어 있어도 좋다. 수지막 형성 필름이 복수층을 가질 경우, 이들 복수층은, 서로 동일해도 달라도 좋고, 이들 복수층을 구성하는 층의 조합은 특별히 제한되지 않는다.The resin film forming film may be composed of one layer (single layer) or may be composed of two or more multiple layers. When the resin film forming film has multiple layers, these multiple layers may be the same or different from each other, and the combination of layers constituting these multiple layers is not particularly limited.
본 실시형태에서는, 수지막 형성 필름은 1층(단층)인 것이 바람직하다. 수지막 형성 필름이 복수층으로 구성되면, 온도 변화가 발생하는 공정(리플로우 처리 시나 장치의 사용 시)에서, 층간의 열신축성의 차이로부터 층간 박리가 발생하는 리스크가 있지만, 1층이면 그 리스크를 저감할 수 있다.In this embodiment, it is preferable that the resin film forming film is a single layer (monolayer). If the resin film forming film is composed of multiple layers, there is a risk that delamination occurs between layers due to differences in thermal elasticity between layers in a process where temperature changes occur (during reflow processing or when using the device), but if it is a single layer, that risk can be reduced.
수지막 형성 필름의 두께는, 특별히 제한되지 않지만, 100㎛ 이하인 것이 바람직하고, 70㎛ 이하인 것이 더 바람직하고, 50㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 40㎛ 이하인 것이 특히 바람직하다. 또한, 5㎛ 이상인 것이 바람직하고, 10㎛ 이상인 것이 더 바람직하고, 15㎛ 이상인 것이 보다 바람직하고, 20㎛ 이상인 것이 특히 바람직하다. 수지막 형성 필름의 두께가 상기 범위에 있으면, 수지막 형성용 시트를 워크 형상으로 맞추어 절단할 때의 작업성이 우수하고, 얻어지는 수지막의 보호 성능이 양호해진다.The thickness of the resin film forming film is not particularly limited, but is preferably 100 µm or less, more preferably 70 µm or less, still more preferably 50 µm or less, and particularly preferably 40 µm or less. Furthermore, it is preferably 5 µm or more, more preferably 10 µm or more, still more preferably 15 µm or more, and particularly preferably 20 µm or more. When the thickness of the resin film forming film is within the above range, the workability when cutting the resin film forming sheet to fit the shape of the workpiece is excellent, and the protective performance of the obtained resin film is improved.
또, 수지막 형성 필름의 두께는, 수지막 형성 필름 전체의 두께를 의미한다. 예를 들면, 복수층으로 구성되는 수지막 형성 필름의 두께는, 수지막 형성 필름을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다.In addition, the thickness of the resin film forming film means the thickness of the entire resin film forming film. For example, the thickness of a resin film forming film composed of multiple layers means the thickness of the sum of all layers constituting the resin film forming film.
이하에서는, 본 실시형태에 따른 수지막 형성 필름이 보호막화되어 형성되는 보호막을 설명한다. 보호막 부착 워크 개편화물의 일례인, 보호막 부착 칩은, 칩의 이면 측(회로가 형성되어 있지 않은 면)에 보호막이 형성된다. 칩의 표면 측에는 회로, 전극이 형성되어 있고, 전극은 회로와 전기적으로 접속하도록 형성되어 있다. 보호막 부착 칩은, 전극이 형성되어 있는 면이 칩 탑재용 기판과 대향하도록 배치된다. 그 후, 소정의 가열 처리(리플로우 처리)에 의해, 전극을 통해, 상기 기판과 전기적 및 기계적으로 접합되어 실장된다. 전극으로서는, 범프, 필라 전극 등이 예시된다.Hereinafter, a protective film formed by a protective film forming film according to the present embodiment is described. An example of a protective film-attached work-piece, a protective film-attached chip, has a protective film formed on the back side of the chip (a surface on which a circuit is not formed). A circuit and an electrode are formed on the surface side of the chip, and the electrode is formed so as to be electrically connected to the circuit. The protective film-attached chip is arranged so that the surface on which the electrode is formed faces the chip-mounting substrate. Thereafter, the chip is mounted by electrically and mechanically joining the substrate with the electrode through a predetermined heat treatment (reflow treatment). Examples of the electrode include a bump, a pillar electrode, and the like.
(1.1 수지막 형성 필름의 박리 특성)(1.1 Peeling characteristics of resin film formation film)
본 실시형태에서는, 중면 박리 필름(12)의 수지막 형성 필름(11)으로부터의 박리력을 F1로 하고, 경면 박리 필름의 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F2로 한 경우에, F1 > F2이며, 바람직하게는 F1 > 1.2 × F2, 더 바람직하게는 F1 > 1.5 × F2, 보다 바람직하게는 F1 > 2 × F2의 관계를 만족한다. 박리력 F1 및 박리력 F2가 상기의 관계를 만족하면, 경면 박리 필름의 제거가 용이해져, 수지막 형성 필름의 노출을 원활하게 행할 수 있고, 워크를 수지막 형성 필름에 확실하게 첩부할 수 있다. 박리력 F1의 상한은 특별히 한정은 되지 않지만, 박리력 F2와의 관계에 있어서, 바람직하게는 F1 < 10 × F2, 더 바람직하게는 F1 < 7 × F2, 보다 바람직하게는 F1 < 5 × F2, 특히 바람직하게는 F1 < 3.5 × F2의 관계를 만족한다. 박리력 F1 및 박리력 F2가 상기의 관계를 만족한다. 또한, F2는 바람직하게는 30mN/100㎜ 이상이며, 더 바람직하게는 40mN/100㎜ 이상, 보다 바람직하게는 50mN/100㎜ 이상이다.In the present embodiment, when the peeling force of the middle-surface peeling film (12) from the resin film forming film (11) is F1, and the peeling force of the mirror-surface peeling film from the resin film forming film is F2, the relationship F1 > F2 is satisfied, preferably F1 > 1.2 × F2, more preferably F1 > 1.5 × F2, and even more preferably F1 > 2 × F2. When the peeling force F1 and the peeling force F2 satisfy the above relationship, the removal of the mirror-surface peeling film becomes easy, the exposure of the resin film forming film can be performed smoothly, and the work can be reliably attached to the resin film forming film. The upper limit of the peeling force F1 is not particularly limited, but in relation to the peeling force F2, it preferably satisfies the relationship F1 < 10 × F2, more preferably F1 < 7 × F2, more preferably F1 < 5 × F2, and especially preferably F1 < 3.5 × F2. The peeling force F1 and the peeling force F2 satisfy the above relationship. In addition, F2 is preferably 30 mN/100 mm or more, more preferably 40 mN/100 mm or more, and even more preferably 50 mN/100 mm or more.
또, 박리력 F1은 바람직하게는 50mN/100㎜ 이상, 더 바람직하게는 70mN/100㎜ 이상, 보다 바람직하게는 90mN/100㎜ 이상, 더욱 바람직하게는 110mN/100㎜ 이상, 특히 바람직하게는 130mN/100㎜ 이상이다. F1이 상기의 범위 내임으로써, 수지막 형성 필름(11)과 중면 박리 필름(12)이 의도하지 않게 박리하는 것을 억제할 수 있다.In addition, the peeling force F1 is preferably 50 mN/100 mm or more, more preferably 70 mN/100 mm or more, still more preferably 90 mN/100 mm or more, still more preferably 110 mN/100 mm or more, and particularly preferably 130 mN/100 mm or more. When F1 is within the above range, the resin film forming film (11) and the middle-surface peeling film (12) can be suppressed from being unintentionally peeled off.
(1.2 수지막 형성 필름용 조성물)(1.2 Composition for resin film forming film)
수지막 형성 필름이 상기의 물성을 갖고 있으면, 수지막 형성 필름의 조성은 특별히 한정되지 않는다. 본 실시형태에서는, 수지막 형성 필름을 구성하는 조성물(수지막 형성 필름용 조성물)은, 적어도, 중합체 성분(A)과 경화성 성분(B)과 충진재(E)를 함유하는 수지 조성물인 것이 바람직하다. 중합체 성분은, 중합성 화합물이 중합 반응하여 형성되었다고 간주할 수 있는 성분이다. 또한, 경화성 성분은, 경화(중합) 반응할 수 있는 성분이다. 또, 본 발명에서 중합 반응에는, 중축합 반응도 포함된다.If the resin film forming film has the above properties, the composition of the resin film forming film is not particularly limited. In the present embodiment, the composition constituting the resin film forming film (composition for the resin film forming film) is preferably a resin composition containing at least a polymer component (A), a curable component (B), and a filler (E). The polymer component is a component that can be considered to have been formed by a polymerization reaction of a polymerizable compound. In addition, the curable component is a component that can undergo a curing (polymerization) reaction. In addition, in the present invention, the polymerization reaction also includes a polycondensation reaction.
또한, 중합체 성분에 포함되는 성분은, 경화성 성분에도 해당하는 경우가 있다. 본 실시형태에서는, 수지막 형성 필름용 조성물이, 이러한 중합체 성분 및 경화성 성분 양쪽 모두에 해당하는 성분을 함유하는 경우, 수지막 형성 필름용 조성물은, 중합체 성분 및 경화성 성분을 양쪽 모두 함유한다고 간주한다.In addition, there are cases where a component included in a polymer component also corresponds to a curable component. In the present embodiment, when a composition for a resin film forming film contains components corresponding to both the polymer component and the curable component, the composition for a resin film forming film is considered to contain both the polymer component and the curable component.
(1.2.1 중합체 성분)(1.2.1 Polymer Components)
중합체 성분(A)은, 수지막 형성 필름에, 필름 형성성(조막성)을 갖게 하면서, 적당한 택을 부여하여, 워크에의 수지막 형성 필름의 균일한 첩부를 확실하게 한다. 중합체 성분의 중량 평균 분자량은, 통상은 5만 ∼ 200만, 바람직하게는 10만 ∼ 150만, 특히 바람직하게는 20만 ∼ 100만의 범위에 있다. 중량 평균 분자량이 지나치게 낮으면, 박리 필름의 박리력이 증대하는 경향이 있다. 한편, 중량 평균 분자량이 지나치게 높으면 다른 성분과의 상용성(相溶性)이 나빠져, 결과적으로 균일한 필름 형성이 방해된다. 이러한 중합체 성분으로서는, 예를 들면, 아크릴 수지, 우레탄 수지, 페녹시 수지, 실리콘 수지, 포화 폴리에스테르 수지 등이 이용되고, 특히 아크릴 수지가 바람직하게 이용된다.The polymer component (A) imparts film-forming properties (film-forming properties) to the resin film-forming film, while providing an appropriate tack, thereby ensuring uniform adhesion of the resin film-forming film to the work. The weight average molecular weight of the polymer component is usually in the range of 50,000 to 2 million, preferably 100,000 to 1.5 million, and particularly preferably 200,000 to 1 million. If the weight average molecular weight is too low, the peeling force of the peeling film tends to increase. On the other hand, if the weight average molecular weight is too high, the compatibility with other components deteriorates, resulting in the impediment of uniform film formation. Examples of such polymer components include acrylic resins, urethane resins, phenoxy resins, silicone resins, and saturated polyester resins, and acrylic resins are particularly preferably used.
또, 본 명세서에서, 「중량 평균 분자량」이란, 특별히 언급이 없는 한, 겔·퍼미에이션·크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산값이다. 이러한 방법에 의한 측정은, 예를 들면, TOSOH CORPORATION 제조의 고속 GPC 장치 「HLC-8120GPC」에, 고속 칼럼 「TSK gurd column HXL-H」, 「TSK Gel GMHXL」, 「TSK Gel G2000 HXL」(이상, 모두 TOSOH CORPORATION 제조)을 이 순서로 연결한 것을 이용하고, 칼럼 온도: 40℃, 송액 속도: 1.0mL/분의 조건으로, 검출기를 시차 굴절률계로 하여 행해진다.In addition, in this specification, unless otherwise specified, the "weight average molecular weight" is a polystyrene conversion value measured by the gel permeation chromatography (GPC) method. The measurement by this method is performed, for example, using a high-speed GPC device "HLC-8120GPC" manufactured by TOSOH CORPORATION, in which high-speed columns "TSK gurd column H XL -H", "TSK Gel GMH XL ", and "TSK Gel G2000 H XL " (all manufactured by TOSOH CORPORATION) are connected in this order, under the conditions of a column temperature of 40°C and a feed speed of 1.0 mL/min, and a differential refractometer as a detector.
아크릴 수지로서는, 예를 들면, (메타)아크릴산에스테르 모노머와 (메타)아크릴산 유도체로부터 유도되는 구성 단위로 이루어지는 (메타)아크릴산에스테르 공중합체를 들 수 있다. 여기에서 (메타)아크릴산에스테르 모노머로서는, 바람직하게는 알킬기의 탄소수가 1 ∼ 18인 (메타)아크릴산알킬에스테르를 들 수 있고, 구체적으로는 (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산프로필, (메타)아크릴산부틸 등을 들 수 있다. 또한, (메타)아크릴산 유도체로서는, 예를 들면, (메타)아크릴산, (메타)아크릴산글리시딜, (메타)아크릴산히드록시에틸 등을 들 수 있다.As the acrylic resin, for example, a (meth)acrylic acid ester copolymer composed of a (meth)acrylic acid ester monomer and a structural unit derived from a (meth)acrylic acid derivative can be mentioned. Here, as the (meth)acrylic acid ester monomer, a (meth)acrylic acid alkyl ester having an alkyl group of 1 to 18 carbon atoms can be mentioned, and specific examples thereof include methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, propyl (meth)acrylate, butyl (meth)acrylate, and the like. In addition, as the (meth)acrylic acid derivative, for example, (meth)acrylic acid, glycidyl (meth)acrylate, hydroxyethyl (meth)acrylate, and the like can be mentioned.
본 실시형태에서는, 메타크릴산글리시딜 등을 이용하여 아크릴 수지에 글리시딜기를 도입하는 것이 바람직하다. 글리시딜기를 도입한 아크릴 수지와, 후술하는 열경화성 성분으로서의 에폭시 수지와의 상용성이 향상되고, 수지막 형성 필름의 경화 후의 유리 전이 온도(Tg)가 높아져, 내열성이 향상된다. 또한, 본 실시형태에서는, 워크에의 접착성이나 점착 물성을 컨트롤하기 위해, 아크릴산히드록시에틸 등을 이용하여 아크릴 수지에 수산기를 도입하는 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable to introduce a glycidyl group into the acrylic resin using glycidyl methacrylate or the like. The compatibility of the acrylic resin into which the glycidyl group has been introduced and the epoxy resin as a thermosetting component described later is improved, and the glass transition temperature (Tg) of the resin film forming film after curing is increased, thereby improving the heat resistance. Furthermore, in this embodiment, it is preferable to introduce a hydroxyl group into the acrylic resin using hydroxyethyl acrylate or the like in order to control the adhesion to the work or the adhesive properties.
아크릴 수지의 유리 전이 온도는 바람직하게는 -70℃ ∼ 40℃, 더 바람직하게는 -35℃ ∼ 35℃, 보다 바람직하게는 -20℃ ∼ 30℃, 더욱 바람직하게는 -10℃ ∼ 25℃, 특히 바람직하게는 -5℃ ∼ 20℃이다. 아크릴 수지의 유리 전이 온도를 상기 범위로 함으로써, 수지막 형성 필름 및 수지막의 가열 시의 유동성이 억제되므로, 평활한 수지막이 얻어지기 쉽다. 유리 전이 온도가 지나치게 낮으면, 박리 필름의 박리력이 증대하는 경향이 있다. 유리 전이 온도가 지나치게 높으면 다른 성분과의 상용성이 나빠져, 결과적으로 균일한 필름 형성이 방해되고, 또한 경면 박리 필름의 박리력 F2가 과잉으로 저하되는 경향이 있다.The glass transition temperature of the acrylic resin is preferably -70°C to 40°C, more preferably -35°C to 35°C, even more preferably -20°C to 30°C, even more preferably -10°C to 25°C, and particularly preferably -5°C to 20°C. By setting the glass transition temperature of the acrylic resin within the above range, the fluidity of the resin film-forming film and the resin film during heating is suppressed, so that a smooth resin film is easily obtained. If the glass transition temperature is too low, the peeling force of the release film tends to increase. If the glass transition temperature is too high, the compatibility with other components deteriorates, and as a result, uniform film formation is hindered, and further, the peeling force F2 of the mirror-like release film tends to be excessively reduced.
아크릴 수지가 m종(m은 2 이상의 정수임)의 구성 단위를 갖고 있는 경우, 상기 아크릴 수지의 유리 전이 온도는 이하와 같이 하여 산출할 수 있다. 즉, 아크릴 수지 중의 구성 단위를 유도하는 m종의 모노머에 대하여, 각각 1부터 m까지의 어느 중복되지 않는 번호를 순차적으로 할당하여, 「모노머 m」이라고 이름 붙인 경우, 아크릴 수지의 유리 전이 온도(Tg)는, 이하에 나타내는 Fox의 식을 이용하여 산출할 수 있다.When an acrylic resin has m kinds of constituent units (m is an integer greater than or equal to 2), the glass transition temperature of the acrylic resin can be calculated as follows. That is, when m kinds of monomers that induce constituent units in an acrylic resin are sequentially assigned a non-overlapping number from 1 to m and named "monomer m", the glass transition temperature (Tg) of the acrylic resin can be calculated using Fox's equation shown below.
[수 1][Number 1]
(식 중, Tg는 아크릴 수지의 유리 전이 온도이며, m은 2 이상의 정수이며, Tgk는 모노머 m의 호모폴리머의 유리 전이 온도이며, Wk는 아크릴 수지에 있어서의, 모노머 m으로부터 유도된 구성 단위 m의 질량분율이다. 단, Wk는 하기 식을 충족시킨다.)(In the formula, Tg is the glass transition temperature of the acrylic resin, m is an integer greater than or equal to 2, Tgk is the glass transition temperature of the homopolymer of monomer m, and Wk is the mass fraction of the constituent unit m derived from monomer m in the acrylic resin. However, Wk satisfies the following formula.)
[수 2][Number 2]
(식 중, m 및 Wk는, 상기와 같다.)(In the equation, m and Wk are as above.)
Tgk로서는, 고분자 데이터·핸드북, 점착 핸드북 또는 Polymer Handbook 등에 기재되어 있는 값을 사용할 수 있다. 예를 들면, 메틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk는 10℃, n-부틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk는 -54℃, 메틸메타크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk는 105℃, 2-히드록시에틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk는 -15℃, 글리시딜메타크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk는 41℃, 2-에틸헥실아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk는 -70℃이다.For Tgk, the values described in the Polymer Data Handbook, Adhesion Handbook, or Polymer Handbook can be used. For example, the Tgk of a methyl acrylate homopolymer is 10°C, the Tgk of a n-butylacrylate homopolymer is -54°C, the Tgk of a methyl methacrylate homopolymer is 105°C, the Tgk of a 2-hydroxyethyl acrylate homopolymer is -15°C, the Tgk of a glycidyl methacrylate homopolymer is 41°C, and the Tgk of a 2-ethylhexylacrylate homopolymer is -70°C.
수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 중합체 성분의 함유량은, 바람직하게는 5 ∼ 80질량부, 더 바람직하게는 8 ∼ 70질량부, 보다 바람직하게는 10 ∼ 60질량부, 더욱 바람직하게는 12 ∼ 55질량부, 한층 더 바람직하게는 14 ∼ 50질량부, 특히 바람직하게는 15 ∼ 45질량부이다. 중합체 성분의 함유량이 상기 범위 내임으로써, 박리 필름의 박리력을 증대하는 저분자량 성분의 양이 적정한 범위로 제한되므로, 수지막 형성 필름용 조성물의 재료 설계가 용이해진다.When the total weight of the composition for a resin film forming film is 100 parts by mass, the content of the polymer component is preferably 5 to 80 parts by mass, more preferably 8 to 70 parts by mass, still more preferably 10 to 60 parts by mass, still more preferably 12 to 55 parts by mass, still more preferably 14 to 50 parts by mass, and particularly preferably 15 to 45 parts by mass. When the content of the polymer component is within the above range, the amount of the low molecular weight component that increases the peeling strength of the peeling film is limited to an appropriate range, so that material design of the composition for a resin film forming film becomes easy.
(1.2.2 열경화성 성분)(1.2.2 Thermosetting components)
경화성 성분(B)은, 수지막 형성 필름을 경화시켜, 경질인 수지막을 형성한다. 경화성 성분으로서는, 열경화성 성분, 에너지선 경화성 성분, 또는 이들 혼합물을 이용할 수 있다. 에너지선의 조사에 의해 경화시키는 경우, 본 실시형태에 따른 수지막 형성 필름은, 후술하는 충진재 및 착색제 등을 함유하기 때문에 광선 투과율이 저하된다. 그 때문에, 예를 들면 수지막 형성 필름의 두께가 두꺼워진 경우, 에너지선 경화가 불충분해지기 쉽다.The curable component (B) cures the resin film forming film to form a hard resin film. As the curable component, a thermosetting component, an energy ray curable component, or a mixture thereof can be used. When cured by irradiation with energy rays, the resin film forming film according to the present embodiment has a reduced light transmittance because it contains a filler and a colorant, etc., which will be described later. Therefore, for example, when the thickness of the resin film forming film becomes thick, energy ray curing tends to become insufficient.
한편, 열경화성의 수지막 형성 필름은, 그 두께가 두꺼워져도, 가열에 의해 충분히 경화하기 때문에, 보호 성능이 높은 수지막을 형성할 수 있다. 또한, 가열 오븐 등의 통상의 가열 수단을 이용함으로써, 다수의 수지막 형성 필름을 일괄적으로 가열하여, 열경화시킬 수 있다.Meanwhile, since the thermosetting resin film forming film is sufficiently cured by heating even when its thickness is increased, it can form a resin film with high protective performance. In addition, by using a normal heating means such as a heating oven, a plurality of resin film forming films can be heated at once and heat-cured.
따라서, 본 실시형태에서는, 경화성 성분은 열경화성인 것이 바람직하다. 즉, 본 실시형태에 따른 수지막 형성 필름은, 열경화성인 것이 바람직하다.Therefore, in the present embodiment, the curable component is preferably thermosetting. That is, the resin film forming film according to the present embodiment is preferably thermosetting.
수지막 형성 필름이 열경화성인지의 여부는 이하와 같이 하여 판단할 수 있다. 우선, 상온(23℃)의 수지막 형성 필름을, 상온을 초과하는 온도가 될 때까지 가열하고, 그 다음에 상온이 될 때까지 냉각함으로써, 가열 및 냉각 후의 수지막 형성 필름으로 한다. 다음으로, 가열 및 냉각 후의 수지막 형성 필름의 경도와, 가열 전의 수지막 형성 필름의 경도를 같은 온도에서 비교했을 때, 가열 및 냉각 후의 수지막 형성 필름의 쪽이 단단한 경우에는, 이 수지막 형성 필름은, 열경화성이라고 판단한다.Whether or not the resin film forming film is thermosetting can be judged as follows. First, the resin film forming film at room temperature (23°C) is heated until the temperature exceeds room temperature, and then cooled until it reaches room temperature, thereby obtaining a resin film forming film after heating and cooling. Next, when the hardness of the resin film forming film after heating and cooling is compared with the hardness of the resin film forming film before heating at the same temperature, if the resin film forming film after heating and cooling is harder, the resin film forming film is judged to be thermosetting.
열경화성 성분으로서는, 예를 들면, 에폭시 수지, 열경화성 폴리이미드 수지, 불포화 폴리에스테르 수지 및 이들 혼합물이 바람직하게 이용된다. 또, 열경화성 폴리이미드 수지란, 열경화함으로써 폴리이미드 수지를 형성하는, 저분자량, 저점성의 모노머 또는 전구체 폴리머의 총칭이다. 열경화성 폴리이미드 수지의 비제한적인 구체예는, 예를 들면 섬유 학회지 「섬유와 공업」, Vol.50, No.3 (1994), P106-P118에 기재되어 있다.As the thermosetting component, for example, epoxy resin, thermosetting polyimide resin, unsaturated polyester resin, and mixtures thereof are preferably used. In addition, the thermosetting polyimide resin is a general term for low molecular weight, low viscosity monomer or precursor polymer that forms a polyimide resin by thermosetting. Non-limiting specific examples of the thermosetting polyimide resin are described in, for example, the Journal of the Textile Society, "Textile and Industry", Vol. 50, No. 3 (1994), P106-P118.
열경화성 성분으로서의 에폭시 수지는, 가열을 받으면 삼차원 망상화(網狀化)하여, 강고한 피막을 형성하는 성질을 갖는다. 이러한 에폭시 수지로서는, 공지된 여러 가지의 에폭시 수지가 이용된다. 본 실시형태에서는, 에폭시 수지의 분자량(식량)은, 바람직하게는, 300 이상 50000 미만, 300 이상 10000 미만, 300 이상 5000 미만, 300 이상 3000 미만이다. 또한, 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 50 ∼ 5000g/eq인 것이 바람직하고, 100 ∼ 2000g/eq인 것이 더 바람직하고, 150 ∼ 1000g/eq인 것이 보다 바람직하다.As a thermosetting component, an epoxy resin has the property of forming a three-dimensional network when heated, thereby forming a strong film. As such an epoxy resin, various known epoxy resins are used. In the present embodiment, the molecular weight (molecular weight) of the epoxy resin is preferably 300 or more and less than 50,000, 300 or more and less than 10,000, 300 or more and less than 5,000, or 300 or more and less than 3,000. In addition, the epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 5,000 g/eq, more preferably 100 to 2,000 g/eq, and still more preferably 150 to 1,000 g/eq.
이러한 에폭시 수지로서는, 구체적으로는, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 레조르시놀, 페닐 노볼락, 크레졸 노볼락 등의 페놀류의 글리시딜에테르; 부탄디올, 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜 등의 알코올류의 글리시딜에테르; 프탈산, 이소프탈산, 테트라히드로프탈산 등의 카르복시산의 글리시딜에테르; 아닐린이소시아누레이트 등의 질소 원자에 결합한 활성수소를 글리시딜기로 치환한 글리시딜형 혹은 알킬글리시딜형의 에폭시 수지; 비닐시클로헥산디에폭시드, 3,4-에폭시시클로헥실메틸-3,4-디시클로헥산카복실레이트, 2-(3,4-에폭시)시클로헥실-5,5-스피로(3,4-에폭시)시클로헥산-m-디옥산 등과 같이, 분자 내의 탄소-탄소 이중 결합을 예를 들면 산화함으로써 에폭시가 도입된, 소위 지환형 에폭사이드를 들 수 있다. 그 외, 비페닐 골격, 디시클로헥사디엔 골격, 나프탈렌 골격 등을 갖는 에폭시 수지를 이용할 수도 있다.Specific examples of such epoxy resins include glycidyl ethers of phenols such as bisphenol A, bisphenol F, resorcinol, phenyl novolac, and cresol novolac; glycidyl ethers of alcohols such as butanediol, polyethylene glycol, and polypropylene glycol; glycidyl ethers of carboxylic acids such as phthalic acid, isophthalic acid, and tetrahydrophthalic acid; glycidyl-type or alkylglycidyl-type epoxy resins in which active hydrogen bonded to a nitrogen atom of aniline isocyanurate is substituted with a glycidyl group; Examples of so-called alicyclic epoxides in which epoxy is introduced by oxidizing the carbon-carbon double bond in the molecule, such as vinylcyclohexane diepoxide, 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3,4-dicyclohexanecarboxylate, and 2-(3,4-epoxy)cyclohexyl-5,5-spiro(3,4-epoxy)cyclohexane-m-dioxane, may be mentioned. In addition, epoxy resins having a biphenyl skeleton, a dicyclohexadiene skeleton, a naphthalene skeleton, and the like can also be used.
이들 에폭시 수지 중에서도, 상온(23℃)에서 액상인 에폭시 수지를 이용하는 경우에는, 수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 한 경우에 상온에서 액상인 에폭시 수지의 중량을, 바람직하게는 15질량부 이하, 더 바람직하게는 12질량부 이하, 보다 바람직하게는 1 ∼ 11질량부로 한다. 이러한 액상 에폭시 수지가 다량으로 포함되면, 수지막 형성 필름으로부터의 박리 필름의 박리력이 증대하는 경향이 있다.Among these epoxy resins, when using an epoxy resin that is liquid at room temperature (23°C), when the total weight of the composition for a resin film forming film is 100 parts by mass, the weight of the epoxy resin that is liquid at room temperature is preferably 15 parts by mass or less, more preferably 12 parts by mass or less, and even more preferably 1 to 11 parts by mass. When such a liquid epoxy resin is included in a large amount, the peeling strength of the peeling film from the resin film forming film tends to increase.
상온(23℃)에서 액상인 에폭시 수지(액상 에폭시 수지)로서는, 예를 들면, 비스페놀 A의 글리시딜에테르(비스페놀 A형 에폭시 수지), 비스페놀 F의 글리시딜에테르(비스페놀 F형 에폭시 수지), 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 시클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 및 글리시딜아민형 에폭시 수지 등 중, 분자량이 작은 것을 들 수 있다.As epoxy resins that are liquid at room temperature (23°C) (liquid epoxy resins), examples thereof include glycidyl ethers of bisphenol A (bisphenol A type epoxy resin), glycidyl ethers of bisphenol F (bisphenol F type epoxy resin), phenol novolac type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, cyclohexanedimethanol type epoxy resins, and glycidylamine type epoxy resins, among which those having small molecular weights can be mentioned.
경화성 성분(B)으로서, 열경화성 성분을 이용하는 경우에는, 조제(助劑)로서, 경화제(C)를 병용하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지에 대한 경화제로서는, 열활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제가 바람직하다. 「열활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제」란, 상온(23℃)에서는 에폭시 수지와 반응하기 어렵고, 어느 온도 이상의 가열에 의해 활성화하고, 에폭시 수지와 반응하는 타입의 경화제이다. 열활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제의 활성화 방법에는, 가열에 의한 화학 반응으로 활성종(음이온, 양이온)을 생성하는 방법; 상온 부근에서는 에폭시 수지 중에 안정적으로 분산하고 있으며 고온에서 에폭시 수지와 상용·용해하고, 경화 반응을 개시하는 방법; 몰레큘러시브 봉입 타입의 경화제로 고온에서 용출하여 경화 반응을 개시하는 방법; 마이크로 캡슐에 의한 방법 등이 존재한다.When a thermosetting component is used as the curable component (B), it is preferable to use a curing agent (C) together as an auxiliary agent. As the curing agent for the epoxy resin, a heat-activated latent epoxy resin curing agent is preferable. A "heat-activated latent epoxy resin curing agent" is a type of curing agent that is difficult to react with an epoxy resin at room temperature (23°C) and is activated by heating at a certain temperature or higher and reacts with the epoxy resin. Methods for activating a heat-activated latent epoxy resin curing agent include a method of generating an active species (anion, cation) through a chemical reaction by heating; a method of stably dispersing the curing agent in the vicinity of room temperature in the epoxy resin and being compatible and dissolving with the epoxy resin at high temperature to initiate a curing reaction; a method of using a molecular sieve-encapsulated type curing agent that is eluted at high temperature to initiate a curing reaction; and a method using microcapsules.
예시한 방법 중, 상온 부근에서는 에폭시 수지 중에 안정적으로 분산하고 있으며 고온에서 에폭시 수지와 상용·용해하고, 경화 반응을 개시하는 방법이 바람직하다.Among the methods exemplified, a method in which the compound is stably dispersed in an epoxy resin at around room temperature and is compatible with and dissolves in the epoxy resin at high temperatures and initiates a curing reaction is preferable.
열활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제의 구체예로서는, 각종 오늄염이나, 이염기산디히드라지드 화합물, 디시안디아미드, 아민 어덕트 경화제, 이미다졸 화합물 등의 고융점 활성수소 화합물 등을 들 수 있다. 이들 열활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제는, 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다. 본 실시형태에서는, 디시안디아미드가 특히 바람직하다.Specific examples of the thermally activated latent epoxy resin curing agent include various onium salts, dibasic acid dihydrazide compounds, dicyandiamide, amine adduct curing agents, high-melting-point active hydrogen compounds such as imidazole compounds, etc. These thermally activated latent epoxy resin curing agents can be used singly or in combination of two or more. In the present embodiment, dicyandiamide is particularly preferred.
또한, 에폭시 수지에 대한 경화제로서는, 페놀 수지도 바람직하다. 페놀 수지로서는, 알킬페놀, 다가 페놀, 나프톨 등의 페놀류와 알데히드류와의 축합물 등이 특별히 제한되는 일 없이 이용된다. 구체적으로는, 페놀 노볼락 수지, o-크레졸 노볼락 수지, p-크레졸 노볼락 수지, t-부틸페놀 노볼락 수지, 디시클로펜타디엔 크레졸 수지, 폴리파라비닐페놀 수지, 비스페놀 A형 노볼락 수지, 혹은 이들 변성물 등이 이용된다.In addition, as a curing agent for the epoxy resin, a phenol resin is also preferable. As the phenol resin, a condensate of a phenol such as an alkylphenol, a polyhydric phenol, a naphthol, and an aldehyde, etc., is used without particular limitation. Specifically, a phenol novolac resin, an o-cresol novolac resin, a p-cresol novolac resin, a t-butylphenol novolac resin, a dicyclopentadiene cresol resin, a polyparavinylphenol resin, a bisphenol A type novolac resin, or a modified product thereof, etc., is used.
이들 페놀 수지에 포함되는 페놀성 수산기는, 상기 에폭시 수지의 에폭시기와 가열에 의해 용이하게 부가 반응하여, 내충격성이 높은 경화물을 형성할 수 있다.The phenolic hydroxyl group contained in these phenol resins can easily undergo addition reaction with the epoxy group of the epoxy resin by heating, thereby forming a cured product with high impact resistance.
경화제(C)의 함유량은, 에폭시 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 0.01 ∼ 30질량부, 더 바람직하게는 0.1 ∼ 20질량부, 보다 바람직하게는 0.2 ∼ 15질량부, 특히 바람직하게는 0.3 ∼ 10질량부이다. 경화제(C)의 함유량을 상기의 범위로 함으로써, 수지막의 망상 구조가 조밀해지므로, 수지막으로서, 워크를 보호하는 성능이 얻어지기 쉽다.The content of the hardener (C) is preferably 0.01 to 30 parts by mass, more preferably 0.1 to 20 parts by mass, even more preferably 0.2 to 15 parts by mass, and particularly preferably 0.3 to 10 parts by mass, per 100 parts by mass of the epoxy resin. By setting the content of the hardener (C) within the above range, the network structure of the resin film becomes dense, so that the performance of protecting the work as the resin film can be easily obtained.
경화제(C)로서, 디시안디아미드를 이용하는 경우에는, 경화 촉진제(D)를 더 병용하는 것이 바람직하다. 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-히드록시메틸이미다졸 등의 이미다졸류(1개 이상의 수소 원자가 수소 원자 이외의 기로 치환된 이미다졸)가 바람직하다. 이들 중에서도, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸이 특히 바람직하다.When using dicyandiamide as a curing agent (C), it is preferable to further use a curing accelerator (D). As the curing accelerator, for example, imidazoles (imidazoles in which one or more hydrogen atoms are substituted with a group other than a hydrogen atom) such as 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, and 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole are preferable. Among these, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole is particularly preferable.
경화 촉진제의 함유량은, 에폭시 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 0.01 ∼ 30질량부, 더 바람직하게는 0.1 ∼ 20질량부, 보다 바람직하게는 0.2 ∼ 15질량부, 특히 바람직하게는 0.3 ∼ 10질량부이다. 경화 촉진제(D)의 함유량을 상기의 범위로 함으로써, 수지막의 망상 구조가 조밀해지므로, 수지막으로서, 워크를 보호하는 성능이 얻어지기 쉽다.The content of the curing accelerator is preferably 0.01 to 30 parts by mass, more preferably 0.1 to 20 parts by mass, even more preferably 0.2 to 15 parts by mass, and particularly preferably 0.3 to 10 parts by mass, per 100 parts by mass of the epoxy resin. By setting the content of the curing accelerator (D) within the above range, the network structure of the resin film becomes dense, so that the performance of protecting the work as the resin film can be easily obtained.
수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 열경화성 성분 및 경화제의 합계 함유량은, 바람직하게는, 3 ∼ 80질량부, 더 바람직하게는 5 ∼ 60질량부, 보다 바람직하게는 7 ∼ 50질량부, 한층 더 바람직하게는 9 ∼ 40질량부, 특히 바람직하게는 10 ∼ 30질량부이다. 이러한 비율로 열경화성 성분과 경화제를 배합하면, 경화 전에는 적당한 택을 나타내며, 첩부 작업을 안정적으로 행할 수 있다. 또한, 경화 후에는, 수지막으로서, 워크를 보호하는 성능이 얻어지기 쉽다.When the total weight of the composition for forming a resin film is 100 parts by mass, the total content of the thermosetting component and the curing agent is preferably 3 to 80 parts by mass, more preferably 5 to 60 parts by mass, still more preferably 7 to 50 parts by mass, still more preferably 9 to 40 parts by mass, and particularly preferably 10 to 30 parts by mass. When the thermosetting component and the curing agent are mixed in this ratio, an appropriate tack is exhibited before curing, and the bonding work can be stably performed. Furthermore, after curing, the performance of protecting the work as a resin film can be easily obtained.
열경화성 성분 및 경화제로서, 저분자량의 화합물을 사용하면, 수지막 형성 필름의 택이 상승하여, 박리 필름의 박리력이 증대하는 경우가 있다. 따라서, 열경화성 성분 및 경화제의 종류 및 그 배합량은, 상기의 범위 내에서, 택을 적절한 값으로 제어하도록 선택하는 것이 바람직하다.When a low molecular weight compound is used as a thermosetting component and a curing agent, the tackiness of the resin film forming film increases, and the peeling strength of the peeling film may be enhanced. Therefore, it is preferable to select the type and blending amount of the thermosetting component and the curing agent so as to control the tackiness to an appropriate value within the above range.
(1.2.3 에너지선 경화성 성분)(1.2.3 Energy ray curable component)
경화성 성분(B)이 에너지선 경화성 성분인 경우, 에너지선 경화성 성분은, 미경화인 것이 바람직하고, 점착성을 갖는 것이 바람직하고, 미경화이며 또한 점착성을 갖는 것이 보다 바람직하다.When the curable component (B) is an energy ray curable component, the energy ray curable component is preferably uncured and preferably has adhesiveness, and is more preferably uncured and also has adhesiveness.
에너지선 경화성 성분은, 에너지선의 조사에 의해 경화하는 성분이며, 수지막 형성 필름에 조막성이나, 가요성(可撓性) 등을 부여하기 위한 성분이기도 하다.The energy ray curable component is a component that is cured by irradiation with energy rays, and is also a component that provides film-forming properties such as film-forming properties and flexibility to the resin film.
에너지선 경화성 성분으로서는, 예를 들면, 에너지선 경화성기를 갖는 화합물이 바람직하다. 이러한 화합물로서는, 공지된 것을 들 수 있다.As the energy ray curable component, a compound having an energy ray curable group is preferable. Known compounds can be cited as such compounds.
에너지선 경화성 성분으로서, 저분자량의 화합물을 사용하면, 수지막 형성 필름의 택이 상승하여, 박리 필름의 박리력이 증대하는 경우가 있다. 따라서, 에너지선 경화성 성분의 종류 및 그 배합량은, 택을 적절한 값으로 제어하도록 선택하는 것이 바람직하다.When a low molecular weight compound is used as an energy ray curable component, the tackiness of the resin film forming film increases, and the peeling strength of the peeling film may be enhanced. Therefore, it is preferable to select the type and blending amount of the energy ray curable component so as to control the tackiness to an appropriate value.
(1.2.4 충진재)(1.2.4 Filler)
수지막 형성 필름이 충진재(E)를 함유함으로써, 수지막 형성 필름으로부터 형성된 수지막은, 열팽창 계수의 조정이 용이해져, 이 열팽창 계수를 워크의 열팽창 계수에 가깝게 함으로써, 수지막 형성 필름을 이용하여 얻어진 패키지의 접착 신뢰성이 보다 향상된다. 또한, 수지막 형성 필름이 충진재(E)를 함유함으로써, 경질인 수지막이 얻어지고, 또한 수지막의 흡습률을 저감할 수 있어, 패키지의 접착 신뢰성이 더욱 향상된다.Since the resin film forming film contains the filler (E), the resin film formed from the resin film forming film can easily have its thermal expansion coefficient adjusted, and by making this thermal expansion coefficient close to the thermal expansion coefficient of the work, the adhesion reliability of the package obtained using the resin film forming film is further improved. In addition, since the resin film forming film contains the filler (E), a hard resin film is obtained, and furthermore, the moisture absorption rate of the resin film can be reduced, so that the adhesion reliability of the package is further improved.
충진재(E)는, 유기 충진재 및 무기 충진재 중 어느 것이어도 좋지만, 고온에서의 형상 안정성의 관점에서 무기 충진재인 것이 바람직하다.The filler (E) may be either an organic filler or an inorganic filler, but from the viewpoint of shape stability at high temperatures, an inorganic filler is preferable.
바람직한 무기 충진재로서는, 예를 들면, 실리카, 알루미나, 탈크, 탄산칼슘, 벵갈라, 탄화규소, 질화붕소 등의 분말; 이들 무기 충진재를 구형화(球形化)한 비드; 이들 무기 충진재의 표면 개질품; 이들 무기 충진재의 단결정 섬유; 유리 섬유 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 실리카 및 표면 개질된 실리카가 바람직하다. 표면 개질된 실리카는, 커플링제에 의해 표면 개질되어 있는 것이 바람직하고, 실란 커플링제에 의해 표면 개질되어 있는 것이 보다 바람직하다.Preferred inorganic fillers include, for example, powders of silica, alumina, talc, calcium carbonate, bengala, silicon carbide, boron nitride, etc.; beads obtained by spheroidizing these inorganic fillers; surface-modified products of these inorganic fillers; single-crystal fibers of these inorganic fillers; glass fibers, etc. Among these, silica and surface-modified silica are preferable. The surface-modified silica is preferably surface-modified with a coupling agent, and more preferably surface-modified with a silane coupling agent.
충진재의 평균 입경(粒徑)은, 바람직하게는 0.02 ∼ 10㎛, 더 바람직하게는 0.05 ∼ 5㎛, 특히 바람직하게는 0.10 ∼ 3㎛이다.The average particle size of the filler is preferably 0.02 to 10 ㎛, more preferably 0.05 to 5 ㎛, and particularly preferably 0.10 to 3 ㎛.
충진재의 평균 입경을 상기의 값으로 함으로써, 수지막 형성 필름용 조성물의 취급성이 양호해진다. 그 때문에, 수지막 형성 필름용 조성물 및 수지막 형성 필름의 품질이 안정되기 쉽다.By setting the average particle size of the filler to the above value, the handling properties of the composition for a resin film forming film are improved. Therefore, the quality of the composition for a resin film forming film and the resin film forming film are likely to be stable.
또, 본 명세서에서 「평균 입경」이란, 특별히 언급이 없는 한, 레이저 회절 산란법에 의해 구해진 입도 분포 곡선에서의, 적산값 50%에서의 입자경(D50)의 값을 의미한다.In addition, in this specification, unless otherwise specified, the “average particle diameter” means the particle diameter (D50) at 50% of the accumulated value in a particle size distribution curve obtained by laser diffraction scattering method.
수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 충진재의 함유량의 상한값은, 바람직하게는 80질량부 미만, 더 바람직하게는 70질량부 미만, 보다 바람직하게는 60질량부 미만, 특히 바람직하게는 55질량부 미만이며, 하한값은, 바람직하게는 15질량부 이상, 더 바람직하게는 30질량부 이상, 보다 바람직하게는 40질량부 이상, 특히 바람직하게는 45질량부 이상이다.When the total weight of the composition for forming a resin film is 100 parts by mass, the upper limit of the content of the filler is preferably less than 80 parts by mass, more preferably less than 70 parts by mass, more preferably less than 60 parts by mass, and particularly preferably less than 55 parts by mass, and the lower limit is preferably 15 parts by mass or more, more preferably 30 parts by mass or more, more preferably 40 parts by mass or more, and particularly preferably 45 parts by mass or more.
충진재의 함유량을 상기의 값으로 함으로써, 박리 필름의 박리력을 적정한 범위로 제어하기 쉽다. 충진재의 함유량이 지나치게 적으면, 수지막 형성 필름의 택이 증가하여, 박리 필름의 박리력이 과도하게 증대한다. 한편, 충진재의 배합량이 지나치게 많으면, 수지막 형성 필름의 보형성(保型性)이 저하되는 경우가 있다.By setting the content of the filler to the above value, it is easy to control the peeling strength of the peeling film within an appropriate range. If the content of the filler is too small, the tackiness of the resin film forming film increases, and the peeling strength of the peeling film increases excessively. On the other hand, if the mixing amount of the filler is too large, the shape retention of the resin film forming film may be reduced.
또한, 수지막 형성 필름은, 2종류 이상의 충진재를 포함하고 있어도 된다. 즉, 충진재(E)는, 2종류 이상의 충진재의 혼합물이어도 된다. 「2종류 이상의 충진재를 포함한다」란, 재질이 다른 충진재를 2종류 이상 포함하고 있어도 좋고, 평균 입경이 다른 충진재를 2종류 이상 포함하고 있어도 좋다.In addition, the resin film forming film may contain two or more types of fillers. That is, the filler (E) may be a mixture of two or more types of fillers. "Contains two or more types of fillers" means that it may contain two or more types of fillers of different materials, and it may contain two or more types of fillers with different average particle sizes.
또, 수지막 또는 수지막 형성 필름이 평균 입경이 다른 충진재를 2종류 이상 포함하고 있는지의 여부는, 수지막 또는 수지막 형성 필름의 단면을 관찰하는 것에 의해서도 확인할 수 있다.In addition, whether the resin film or resin film-forming film contains two or more types of fillers having different average particle diameters can be confirmed by observing the cross-section of the resin film or resin film-forming film.
(1.2.5 커플링제)(1.2.5 Coupling agent)
수지막 형성 필름은, 커플링제(F)를 함유하는 것이 바람직하다. 커플링제를 함유함으로써, 수지막 형성 필름의 경화 후에 있어서, 수지막의 내열성을 손상시키지 않고, 수지막과 워크와의 접착성을 향상시킬 수 있음과 함께, 내수성(내습열성)을 향상시킬 수 있다. 커플링제로서는, 그 범용성과 비용 메리트의 관점에서 실란 커플링제가 바람직하다.It is preferable that the resin film forming film contains a coupling agent (F). By containing a coupling agent, after curing of the resin film forming film, the adhesiveness between the resin film and the work can be improved without damaging the heat resistance of the resin film, and the water resistance (moisture resistance) can be improved. As the coupling agent, a silane coupling agent is preferable from the viewpoint of its versatility and cost merit.
실란 커플링제로서는, 예를 들면, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필메틸디에톡시실란, β-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, γ-(메타크릴옥시프로필)트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필메틸디에톡시실란, N-페닐-γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-우레이도프로필트리에톡시실란, γ-메르캅토프로필트리메톡시실란, γ-메르캅토프로필메틸디메톡시실란, 비스(3-트리에톡시실릴프로필)테트라설판, 메틸트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리아세톡시실란, 이미다졸실란 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로, 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.As the silane coupling agent, for example, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, γ-(methacryloxypropyl)trimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6-(aminoethyl)-γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6-(aminoethyl)-γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, bis(3-triethoxysilylpropyl)tetrasulfane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, Examples include vinyltriacetoxysilane and imidazole silane. These can be used singly or in combination of two or more.
바람직한 실란 커플링제로서는, 1분자 중에 복수 개의 알콕시실릴기를 갖는 올리고머형 실란 커플링제도 들 수 있다. 상기 올리고머형 실란 커플링제는, 휘발하기 어렵고, 1분자 중에 복수 개의 알콕시실릴기를 갖기 때문에, 내구성 향상에 효과적인 점에서 바람직하다. 상기 올리고머형 실란 커플링제로서는, 예를 들면, 에폭시기 함유 올리고머형 실란 커플링제인 「X-41-1053」, 「X-41-1059A」, 「X-41-1056」 및 「X-40-2651」(모두 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 제조); 메르캅토기 함유 올리고머형 실란 커플링제인 「X-41-1818」, 「X-41-1810」 및 「X-41-1805」(모두 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 제조) 등을 들 수 있다.Preferred examples of the silane coupling agent include oligomeric silane coupling agents having multiple alkoxysilyl groups per molecule. The oligomeric silane coupling agent is preferable in that it is difficult to volatilize and is effective in improving durability because it has multiple alkoxysilyl groups per molecule. Examples of the oligomeric silane coupling agent include epoxy group-containing oligomeric silane coupling agents such as "X-41-1053", "X-41-1059A", "X-41-1056", and "X-40-2651" (all manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.); mercapto group-containing oligomeric silane coupling agents such as "X-41-1818", "X-41-1810", and "X-41-1805" (all manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.).
수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 커플링제의 함유량은, 바람직하게는, 0.01 ∼ 20질량부, 더 바람직하게는 0.1 ∼ 10질량부, 보다 바람직하게는 0.2 ∼ 5질량부, 특히 바람직하게는 0.3 ∼ 3질량부이다.When the total weight of the composition for forming a resin film is 100 parts by mass, the content of the coupling agent is preferably 0.01 to 20 parts by mass, more preferably 0.1 to 10 parts by mass, even more preferably 0.2 to 5 parts by mass, and particularly preferably 0.3 to 3 parts by mass.
(1.2.6 착색제)(1.2.6 Colorant)
수지막 형성 필름은, 착색제(G)를 함유하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 칩 등의 워크 개편화물의 이면이 은폐되기 때문에, 전자 기기 내에서 발생하는 여러 가지의 전자파를 차단하여, 칩 등의 워크 개편화물의 오작동을 저감할 수 있다. 또한, 수지막 형성 필름의 첩부 장치 내의 텐션 롤러 등의 롤러나, 절단날 등에 수지막 형성 필름의 잔착(殘着)이 발생한 경우에는, 육안으로 즉시 발견할 수 있다. 또한, 후술하는 수지막 형성 필름(11)의 중면 박리 필름(12)과의 접촉 표면의 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값을 원하는 범위로 제어하기 쉽다.It is preferable that the resin film forming film contains a coloring agent (G). Accordingly, since the back surface of the workpiece fragmentation material such as a chip is concealed, various electromagnetic waves generated within the electronic device can be blocked, thereby reducing malfunction of the workpiece fragmentation material such as a chip. In addition, if residual adhesion of the resin film forming film occurs on a roller such as a tension roller or a cutting blade within the resin film forming film attachment device, it can be immediately detected with the naked eye. In addition, it is easy to control the average value of the light reflectance at 400 to 800 nm of the contact surface with the middle-surface release film (12) of the resin film forming film (11) described later within a desired range.
착색제(G)로서는, 예를 들면, 무기계 안료, 유기계 안료, 유기계 염료 등 공지된 것을 사용할 수 있다. 본 실시형태에서는, 무기계 안료가 바람직하다.As the colorant (G), known ones such as inorganic pigments, organic pigments, and organic dyes can be used, for example. In the present embodiment, inorganic pigments are preferred.
무기계 안료로서는, 예를 들면, 카본 블랙, 코발트계 색소, 철계 색소, 크롬계 색소, 티탄계 색소, 바나듐계 색소, 지르코늄계 색소, 몰리브덴계 색소, 루테늄계 색소, 백금계 색소, ITO(인듐주석옥사이드)계 색소, ATO(안티몬주석옥사이드)계 색소 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 특히 카본 블랙을 사용하는 것이 바람직하다. 카본 블랙에 의하면, 넓은 파장 범위의 전자파를 차단할 수 있다.Examples of inorganic pigments include carbon black, cobalt pigments, iron pigments, chromium pigments, titanium pigments, vanadium pigments, zirconium pigments, molybdenum pigments, ruthenium pigments, platinum pigments, ITO (indium tin oxide) pigments, ATO (antimony tin oxide) pigments, etc. Among these, carbon black is particularly preferable. Carbon black can block electromagnetic waves in a wide wavelength range.
수지막 형성 필름 중에서의 착색제(특히 카본 블랙)의 배합량은, 수지막 형성 필름의 두께에 따라 다르지만, 예를 들면 수지막 형성 필름의 두께가 20㎛인 경우는, 수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 착색제의 함유량은, 바람직하게는 0.01 ∼ 10질량부, 더 바람직하게는 0.03 ∼ 7질량부, 보다 바람직하게는 0.05 ∼ 4질량부이다.The blending amount of the colorant (particularly carbon black) in the resin film forming film varies depending on the thickness of the resin film forming film. For example, when the thickness of the resin film forming film is 20 µm, the content of the colorant when the total weight of the composition for the resin film forming film is 100 parts by mass is preferably 0.01 to 10 parts by mass, more preferably 0.03 to 7 parts by mass, and even more preferably 0.05 to 4 parts by mass.
착색제(특히 카본 블랙)의 평균 입경은, 1 ∼ 500㎚인 것이 바람직하고, 특히 3 ∼ 100㎚인 것이 바람직하고, 더욱이는 5 ∼ 50㎚인 것이 바람직하다. 착색제의 평균 입경이 상기의 범위 내에 있으면, 광선 반사율을 원하는 범위로 보다 제어하기 쉽다.The average particle size of the colorant (especially carbon black) is preferably 1 to 500 nm, particularly preferably 3 to 100 nm, and further preferably 5 to 50 nm. When the average particle size of the colorant is within the above range, it is easier to control the light reflectance within the desired range.
(1.2.7 그 외의 첨가제)(1.2.7 Other additives)
수지막 형성 필름용 조성물은, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위 내에서, 그 외의 첨가제로서, 예를 들면, 광중합개시제, 가교제, 가소제, 대전 방지제, 산화 방지제, 게터링제, 점착 부여제, 박리제 등을 함유하고 있어도 된다.The composition for a resin film forming film may contain other additives, such as a photopolymerization initiator, a crosslinking agent, a plasticizer, an antistatic agent, an antioxidant, a gettering agent, a tackifier, a release agent, etc., within a range that does not impair the effects of the present invention.
단, 본 실시형태에서는, 수지막 형성 필름용 조성물의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 박리제의 함유량은, 0.00099질량부 미만인 것이 바람직하다. 박리제의 함유량이 지나치게 많으면, 수지막과 워크와의 접착 신뢰성이 저하되는 경향이 있다. 박리제로서는, 예를 들면, 알키드계 박리제, 실리콘계 박리제, 불소계 박리제, 불포화 폴리에스테르계 박리제, 폴리올레핀계 박리제, 왁스계 박리제가 예시된다.However, in the present embodiment, the content of the release agent is preferably less than 0.00099 parts by mass when the total weight of the composition for forming a resin film is 100 parts by mass. If the content of the release agent is too high, the reliability of adhesion between the resin film and the work tends to decrease. Examples of the release agent include alkyd-based release agents, silicone-based release agents, fluorine-based release agents, unsaturated polyester-based release agents, polyolefin-based release agents, and wax-based release agents.
(1.2.8 수지막 형성 필름에 있어서의 박리력, 점착력의 제어)(1.2.8 Control of peeling force and adhesive force in resin film forming film)
상술한 바와 같이, 본 실시형태에서는, 중면 박리 필름(12)의 수지막 형성 필름(11)으로부터의 박리력 F1과, 경면 박리 필름(13)의 수지막 형성 필름(11)으로부터의 박리력 F2가 F1 > F2의 관계를 충족시킨다. 이러한 박리 특성은, 상술한 바와 같이, 수지막 형성 필름을 구성하는 각 성분의 종류나 그 배합량, 중면 박리 필름(12), 경면 박리 필름(13)의 박리제의 종류, 또한 수지막 형성용 시트의 제조 공정 등에 의해 제어할 수 있다.As described above, in the present embodiment, the peeling force F1 of the middle-surface peeling film (12) from the resin film forming film (11) and the peeling force F2 of the mirror-surface peeling film (13) from the resin film forming film (11) satisfy the relationship F1 > F2. As described above, such peeling characteristics can be controlled by the type and mixing amount of each component constituting the resin film forming film, the type of the peeling agent of the middle-surface peeling film (12) and the mirror-surface peeling film (13), and the manufacturing process of the resin film forming sheet.
중합체 성분(A)의 중량 평균 분자량이 낮으면, 박리력은 증대하는 경향이 있다. 중합체 성분(A)의 유리 전이 온도가 낮으면, 박리력은 증대하는 경향이 있다. 또한, 경화성 성분(B), 경화제(C), 경화 촉진제(D), 에너지선 경화성 성분으로서, 저분자량의 화합물을 이용하면, 박리력은 증대하는 경향이 있다. 충진재(E)의 배합량이 많으면, 박리력은 저하되는 경향이 있다.When the weight average molecular weight of the polymer component (A) is low, the peel strength tends to increase. When the glass transition temperature of the polymer component (A) is low, the peel strength tends to increase. In addition, when a low molecular weight compound is used as the curable component (B), the curing agent (C), the curing accelerator (D), and the energy ray curable component, the peel strength tends to increase. When the amount of the filler (E) blended is large, the peel strength tends to decrease.
수지막 형성 필름을 부분 경화함으로써, 박리력을 제어할 수도 있다. 예를 들면 경화성 성분(B)을 부분적으로 경화함으로써, 박리력을 저하할 수 있다.By partially curing the resin film forming film, the peeling strength can also be controlled. For example, by partially curing the curable component (B), the peeling strength can be reduced.
또한, 박리력 F1, F2는, 중면 박리 필름(12), 경면 박리 필름(13)의 박리 처리에 의해 제어할 수도 있다. 또한, 수지막 형성용 시트의 제조 공정 등에 의해 제어할 수 있다. 이 점에 대해서는 후술한다.In addition, the peeling force F1 and F2 can be controlled by the peeling treatment of the middle-surface peeling film (12) and the hard-surface peeling film (13). In addition, they can be controlled by the manufacturing process of the sheet for forming the resin film, etc. This will be described later.
(2. 수지막 형성용 시트)(2. Sheet for forming resin film)
수지막 형성 필름은 사용 전에는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 2매의 박리 필름(중면 박리 필름(12), 경면 박리 필름(13))간에 수지막 형성 필름(11)을 협지한 3층 구조의 수지막 형성용 시트(10)의 형태로 보관되고 있다. 박리 필름은, 수지막 형성 필름의 사용 시에 박리된다. 상기 수지막 형성용 시트는, 통상은 장척이며 롤상으로 권취되어 보관, 수송되고 있다.Before use, the resin film forming film is stored in the form of a three-layer resin film forming sheet (10) in which the resin film forming film (11) is sandwiched between two peeling films (a middle-surface peeling film (12) and a hard-surface peeling film (13)), as shown in Fig. 1. The peeling films are peeled off when the resin film forming film is used. The resin film forming sheet is usually long and is wound up in a roll shape for storage and transport.
중면 박리 필름 및 경면 박리 필름은, 1층(단층) 또는 2층 이상의 기재로 구성되어 있어도 좋고, 박리성을 제어하는 관점에서, 기재의 표면이 박리 처리되어 있어도 좋다. 즉, 기재의 표면이 개질되어 있어도 좋고, 기재의 표면에 기재와는 다른 재질의 층이 형성되어 있어도 좋다. 본 실시형태에서는, 중면 박리 필름 및 경면 박리 필름은, 기재와 박리제층을 갖는 것이 바람직하다. 박리제층을 가짐으로써, 중면 박리 필름 및 경면 박리 필름에 있어서 박리제층이 형성되어 있는 면의 물성을 제어하기 쉽다. 본 실시형태에서는, 기재의 한쪽 면에, 후술하는 박리제층용 조성물을 포함하는 도포제를 도포한 후, 그 도막을 건조 및 경화시킴으로써 박리제층을 형성한다. 이에 따라 중면 박리 필름 및 경면 박리 필름이 얻어진다.The middle-surface release film and the mirror-surface release film may be composed of a substrate of one layer (single layer) or two or more layers, and from the viewpoint of controlling the release property, the surface of the substrate may be subjected to a release treatment. That is, the surface of the substrate may be modified, and a layer of a material different from that of the substrate may be formed on the surface of the substrate. In the present embodiment, the middle-surface release film and the mirror-surface release film preferably have a substrate and a release agent layer. By having a release agent layer, it is easy to control the physical properties of the surface on which the release agent layer is formed in the middle-surface release film and the mirror-surface release film. In the present embodiment, a coating agent including a release agent layer composition described later is applied to one surface of the substrate, and then the coating film is dried and cured to form a release agent layer. Thereby, the middle-surface release film and the mirror-surface release film are obtained.
(2.1 중면 박리 필름(12))(2.1 Mid-surface peeling film (12))
중면 박리 필름(12)의 두께는, 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 30 ∼ 100㎛, 더 바람직하게는 40 ∼ 80㎛, 보다 바람직하게는 45 ∼ 70㎛이며, 후기하는 경면 박리 필름(13)의 두께보다 두꺼운 것이 바람직하다.The thickness of the mid-surface peeling film (12) is not particularly limited, but is preferably 30 to 100 µm, more preferably 40 to 80 µm, and even more preferably 45 to 70 µm, and is preferably thicker than the thickness of the later hard-surface peeling film (13).
중면 박리 필름(12)의 두께가 상기의 범위의 값임으로써, 수지막 형성용 시트를 워크 형상에 맞추어 절단할 때의 작업성이 우수하다.Since the thickness of the middle-surface peeling film (12) is within the above range, the workability when cutting the sheet for forming the resin film to fit the shape of the work is excellent.
또, 중면 박리 필름(12)의 두께는, 중면 박리 필름 전체의 두께를 의미한다. 예를 들면, 복수층으로 구성되는 중면 박리 필름의 두께는, 중면 박리 필름을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다.In addition, the thickness of the middle-surface peeling film (12) means the thickness of the entire middle-surface peeling film. For example, the thickness of a middle-surface peeling film composed of multiple layers means the total thickness of all layers constituting the middle-surface peeling film.
중면 박리 필름(12)의 기재로서는, 수지 필름 및 종이 등을 들 수 있다. 수지 필름의 수지로서는, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리부덴, 폴리부타디엔, 폴리메틸펜텐, 폴리염화비닐, 염화비닐 공중합체, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리우레탄, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체, 아이오노머 수지, 에틸렌(메타)아크릴산 공중합체, 폴리스티렌, 폴리카보네이트, 불소 수지, 저밀도 폴리에틸렌, 직쇄 저밀도 폴리에틸렌, 및 트리아세틸셀룰로오스 등을 들 수 있다. 종이로서는, 상질지, 코팅지, 글라신지, 및 라미네이트지 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 이용해도 좋고, 2종 이상을 병용해도 좋다. 이들 중에서도, 저렴하며 강성(剛性)도 있다는 관점에서, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름이 바람직하다.As the substrate of the middle-surface peeling film (12), resin films and paper, etc. can be mentioned. As the resin of the resin film, polyethylene terephthalate, polyethylene, polypropylene, polybutadiene, polymethylpentene, polyvinyl chloride, vinyl chloride copolymer, polybutylene terephthalate, polyurethane, ethylene-vinyl acetate copolymer, ionomer resin, ethylene (meth)acrylic acid copolymer, polystyrene, polycarbonate, fluororesin, low-density polyethylene, linear low-density polyethylene, and triacetyl cellulose can be mentioned. As the paper, high-quality paper, coated paper, glassine paper, and laminated paper can be mentioned. One type of these may be used alone, or two or more types may be used in combination. Among these, polyethylene terephthalate film is preferable from the viewpoint of being inexpensive and having rigidity.
중면 박리 필름(12)의 적어도 편면(수지막 형성 필름(11)과 적층하는 면)은 박리제층용 조성물에 의해 박리 처리되어 있어도 된다. 박리제층의 두께는, 30㎚ 이상 200㎚ 이하인 것이 바람직하고, 50㎚ 이상 180㎚ 이하인 것이 보다 바람직하다.At least one side (the side laminated with the resin film forming film (11)) of the middle-surface release film (12) may be subjected to release treatment using a composition for a release agent layer. The thickness of the release agent layer is preferably 30 nm or more and 200 nm or less, and more preferably 50 nm or more and 180 nm or less.
중면 박리 필름(12)은, 상술한 기재의 한쪽 면을 박리 처리함으로써 간편하게 얻어진다. 이러한 박리 처리에 이용하는 박리제층용 조성물은, 예를 들면, 알키드계 이형제, 실리콘계 이형제, 불소계 이형제, 불포화 폴리에스테르계 이형제, 폴리올레핀계 이형제, 왁스계 이형제가 바람직하고, 그 중에서도, 실리콘계 이형제가 바람직하고, 특히 실리콘계 이형제와 중박리 첨가제를 포함하는 것이 바람직하다.The middle-side release film (12) is easily obtained by performing a release treatment on one side of the above-described substrate. The release layer composition used for this release treatment is preferably an alkyd-based release agent, a silicone-based release agent, a fluorine-based release agent, an unsaturated polyester-based release agent, a polyolefin-based release agent, or a wax-based release agent, and among these, a silicone-based release agent is preferable, and particularly, one containing a silicone-based release agent and a middle-side release additive is preferable.
실리콘계 이형제로서는, 디메틸폴리실록산을 기본 골격으로서 갖는 실리콘을 배합한 실리콘 이형제를 이용할 수 있다.As a silicone release agent, a silicone release agent that contains silicone having dimethylpolysiloxane as its basic skeleton can be used.
상기 실리콘은, 부가 반응형, 축합 반응형, 그리고 자외선 경화형 및 전자선 경화형 등의 에너지선 경화형 중 어느 것이어도 좋지만, 부가 반응형 실리콘인 것이 바람직하다. 부가 반응형 실리콘은, 반응성이 높고 생산성이 우수함과 함께, 축합 반응형과 비교하면, 제조 후의 박리력의 변화가 작으며, 경화 수축이 없는 등의 메리트가 있다.The above silicone may be any of addition reaction type, condensation reaction type, and energy ray curable type such as ultraviolet curable and electron beam curable, but addition reaction type silicone is preferable. Addition reaction type silicone has high reactivity and excellent productivity, and compared to condensation reaction type, it has the merits of small change in peeling force after production and no curing shrinkage.
부가 반응형 실리콘의 구체예로서는, 분자의 말단 및/또는 측쇄에, 비닐기, 알릴기, 프로페닐기, 및 헥세닐기 등의 탄소수 2 ∼ 10의 알케닐기를 2개 이상 구비한 오르가노폴리실록산을 들 수 있다.Specific examples of addition-reactive silicones include organopolysiloxanes having two or more alkenyl groups having 2 to 10 carbon atoms, such as vinyl groups, allyl groups, propenyl groups, and hexenyl groups, at the terminal and/or side chains of the molecule.
박리제층용 조성물(후술하는 촉매는 제외함)의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 디메틸폴리실록산으로 이루어지는 실리콘의 함유량은, 바람직하게는 100질량부 미만, 더 바람직하게는 90질량부 미만, 보다 바람직하게는 80질량부 미만, 특히 바람직하게는 70질량부 미만이다.When the total weight of the composition for a peeling layer (excluding the catalyst described later) is 100 parts by mass, the content of silicone made of dimethylpolysiloxane is preferably less than 100 parts by mass, more preferably less than 90 parts by mass, even more preferably less than 80 parts by mass, and particularly preferably less than 70 parts by mass.
이러한 부가 반응형 실리콘을 이용할 때에는, 가교제 및 촉매를 병용하는 것이 바람직하다.When using such additional reactive silicone, it is desirable to use a crosslinking agent and a catalyst together.
가교제로서는, 예를 들면 1분자 중에 적어도 2개의 규소 원자에 결합한 수소 원자를 갖는 오르가노폴리실록산을 들 수 있다.As a crosslinking agent, an example may be an organopolysiloxane having hydrogen atoms bonded to at least two silicon atoms in one molecule.
가교제의 구체예로서는, 디메틸하이드로젠실록시기 말단 봉쇄 디메틸실록산-메틸하이드로젠실록산 공중합체, 트리메틸실록시기 말단 봉쇄 디메틸실록산-메틸하이드로젠실록산 공중합체, 트리메틸실록시기 말단 봉쇄 메틸하이드로젠폴리실록산, 폴리(하이드로젠실세스퀴옥산) 등을 들 수 있다.Specific examples of the crosslinking agent include a dimethylhydrogensiloxy group-terminated dimethylsiloxane-methylhydrogensiloxane copolymer, a trimethylsiloxy group-terminated dimethylsiloxane-methylhydrogensiloxane copolymer, a trimethylsiloxy group-terminated methylhydrogenpolysiloxane, and poly(hydrogensilsesquioxane).
촉매로서는, 미립자상 백금, 탄소 분말 담체 상에 흡착된 미립자상 백금, 염화백금산, 알코올 변성 염화백금산, 염화백금산의 올레핀 착체, 팔라듐, 및 로듐 등의 백금족 금속계 화합물 등을 들 수 있다.Examples of catalysts include particulate platinum, particulate platinum adsorbed on a carbon powder carrier, chloroplatinic acid, alcohol-modified chloroplatinic acid, olefin complexes of chloroplatinic acid, palladium, and platinum group metal compounds such as rhodium.
이러한 촉매를 이용함으로써, 박리제층용 조성물의 경화 반응을 보다 효율적으로 진행시킬 수 있다.By using such a catalyst, the curing reaction of the composition for the release layer can proceed more efficiently.
박리제층용 조성물(촉매는 제외함)의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 실리콘계 이형제의 함유량은, 박리력 F1을 적절한 범위 내로 하는 관점에서, 바람직하게는 30 ∼ 100질량부, 더 바람직하게는 50 ∼ 100질량부이다.When the total weight of the composition for the release layer (excluding the catalyst) is 100 parts by mass, the content of the silicone-based release agent is preferably 30 to 100 parts by mass, more preferably 50 to 100 parts by mass, from the viewpoint of keeping the release force F1 within an appropriate range.
중박리 첨가제는, 수지막 형성 필름(11)으로부터의 중면 박리 필름(12)의 박리력 F1을 크게 하기 위해 이용된다. 중박리 첨가제로서는, 예를 들면, 실리콘 레진, 실란 커플링제 등의 오르가노실란을 들 수 있지만, 이들 중에서도, 실리콘 레진을 이용하는 것이 바람직하다.The heavy-release additive is used to increase the peeling force F1 of the heavy-release film (12) from the resin film forming film (11). Examples of the heavy-release additive include organosilanes such as silicone resin and silane coupling agents, but among these, it is preferable to use silicone resin.
실리콘 레진으로서는, 예를 들면, 1관능 실록산 단위[R3SiO1/2]인 M 단위와, 4관능 실록산 단위[SiO4/2]인 Q 단위를 포함하는 MQ 레진을 이용하는 것이 바람직하다. 또, M 단위 중의 3개의 R은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 수산기 또는 유기기를 나타낸다. 실리콘 이행을 억제하기 쉽게 하는 관점에서 M 단위 중의 3개의 R 중 하나 이상은, 수산기 또는 비닐기인 것이 바람직하고, 비닐기인 것이 보다 바람직하다.As the silicone resin, for example, it is preferable to use an MQ resin including an M unit which is a monofunctional siloxane unit [R 3 SiO 1/2 ] and a Q unit which is a tetrafunctional siloxane unit [SiO 4/2 ]. In addition, three R in the M unit each independently represent a hydrogen atom, a hydroxyl group, or an organic group. From the viewpoint of making it easy to suppress silicone migration, at least one of the three R in the M unit is preferably a hydroxyl group or a vinyl group, and is more preferably a vinyl group.
박리제층용 조성물(촉매는 제외함)의 총 중량을 100질량부로 했을 때의 중박리 첨가제의 함유량은, 바람직하게는 0 ∼ 50질량부, 더 바람직하게는 5 ∼ 45질량부, 특히 바람직하게는 10 ∼ 40질량부이다.When the total weight of the composition for a peeling layer (excluding the catalyst) is 100 parts by mass, the content of the heavy peeling additive is preferably 0 to 50 parts by mass, more preferably 5 to 45 parts by mass, and particularly preferably 10 to 40 parts by mass.
박리제층용 조성물은, 점도를 조정하여 기재에의 도포성을 향상시키는 관점에서, 상술한 각종 유효 성분과 함께, 희석 용매를 포함하는 도포제로서 이용하는 것이 바람직하다. 본 명세서에서, 「유효 성분」이란, 대상이 되는 조성물을 포함하는 도포제에 포함되는 성분 중, 희석 용매를 제외한 성분을 가리킨다.From the viewpoint of improving the applicability to the substrate by adjusting the viscosity, the composition for the release layer is preferably used as a coating agent containing the various effective ingredients described above and a dilution solvent. In this specification, the "effective ingredient" refers to a component excluding the dilution solvent among the components contained in the coating agent containing the target composition.
희석 용매로서는, 톨루엔 등의 방향족 탄화수소, 아세트산에틸 등의 지방산 에스테르, 메틸에틸케톤 등의 케톤, 헥산, 헵탄 등의 지방족 탄화수소 등의 유기 용제 등을 들 수 있다. 이들 희석 용매는, 1종을 단독으로 이용해도 좋고, 2종 이상을 병용해도 좋다.Examples of diluting solvents include organic solvents such as aromatic hydrocarbons such as toluene, fatty acid esters such as ethyl acetate, ketones such as methyl ethyl ketone, and aliphatic hydrocarbons such as hexane and heptane. One of these diluting solvents may be used alone, or two or more may be used in combination.
박리제층용 조성물을 포함하는 도포제의 유효 성분(고형분) 농도로서는, 바람직하게는 0.3 ∼ 10질량%, 더 바람직하게는 0.5 ∼ 5질량%, 보다 바람직하게는 0.5 ∼ 3질량%이다.The concentration of the effective ingredient (solid content) of the coating agent including the composition for the peeling layer is preferably 0.3 to 10 mass%, more preferably 0.5 to 5 mass%, and even more preferably 0.5 to 3 mass%.
박리제층용 조성물은, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 박리제층에서 일반적으로 사용되는 첨가제를 함유해도 된다. 이러한 첨가제로서는, 안료, 염료 및 분산제 등을 들 수 있다.The composition for the release layer may contain additives generally used in release layers, as long as the effects of the present invention are not impaired. Such additives include pigments, dyes, and dispersants.
(2.2 경면 박리 필름(13))(2.2 Hard surface peeling film (13))
경면 박리 필름(13)의 두께는, 특별히 제한되지 않지만, 박리를 용이하게 하는 관점에서, 중면 박리 필름(12)의 두께 이하인 것이 바람직하고, 중면 박리 필름(12)보다 얇은 것이 보다 바람직하다. 따라서, 경면 박리 필름(13)의 두께는, 바람직하게는 10 ∼ 75㎛, 더 바람직하게는 18 ∼ 60㎛, 보다 바람직하게는 24 ∼ 45㎛이다.The thickness of the hard-surface peeling film (13) is not particularly limited, but from the viewpoint of facilitating peeling, it is preferably less than the thickness of the middle-surface peeling film (12), and more preferably thinner than the middle-surface peeling film (12). Accordingly, the thickness of the hard-surface peeling film (13) is preferably 10 to 75 µm, more preferably 18 to 60 µm, and even more preferably 24 to 45 µm.
경면 박리 필름(13)에 이용하는 기재는, 재질에 대해서는, 상기 중면 박리 필름(12)과 마찬가지이다. 경면 박리 필름(13)의 박리제층용 조성물은, 상기의 F1 및 F2의 관계를 만족하는 한에 있어서, 중면 박리 필름(12)에서 예시한 재료에서 선택할 수 있다. 단, 박리제층용 조성물의 조성에 의해 박리력을 제어하는 경우에는, 중박리 첨가제로서 예시한 재료는, 중면 박리 필름(12)에 있어서의 함유량보다 적거나, 또는 포함되지 않는 것이 바람직하다.The substrate used in the hard-surface release film (13) is the same as that of the above-mentioned middle-surface release film (12) in terms of material. The composition for the release agent layer of the hard-surface release film (13) can be selected from the materials exemplified in the middle-surface release film (12) as long as it satisfies the relationships of F1 and F2 described above. However, when controlling the release force by the composition of the composition for the release agent layer, it is preferable that the material exemplified as the middle-surface release additive is contained in a smaller amount than that in the middle-surface release film (12), or is not contained at all.
또한, 실리콘 오일을 박리제층용 조성물에 첨가함으로써, 박리력을 낮게 억제할 수 있으므로, 박리력을 조정하기 위해 실리콘 오일을 이용해도 된다.In addition, since the peeling force can be suppressed to a low level by adding silicone oil to the composition for the peeling agent layer, silicone oil can be used to adjust the peeling force.
(2.3 박리 필름에 있어서의 박리력의 제어)(2.3 Control of peeling force in peeling film)
박리력 F1, F2는, 상기한 수지막 형성 필름의 조성에 더하여, 다음과 같은 여러 가지의 인자(因子)에 의해 제어된다.The peeling power F1 and F2 are controlled by the following various factors in addition to the composition of the above-mentioned resin film formation film.
·박리제층용 조성물의 주성분을 이루는 수지 재료의 종류(실리콘계, 불소계, 장쇄 알킬계 등)·Type of resin material that constitutes the main component of the composition for the release layer (silicon-based, fluorine-based, long-chain alkyl-based, etc.)
·박리제층용 조성물의 주성분을 이루는 수지 재료의 분자량·Molecular weight of the resin material forming the main component of the composition for the release layer
·박리제층용 조성물의 가교 밀도(이 가교 밀도는, 가교제의 종류나 그 가교 반응 진행 전의 함유량, 가교제와 반응하는 관능기의 존재 밀도 등에도 영향을 받는다.)· Crosslinking density of the composition for the release layer (this crosslinking density is also affected by the type of crosslinking agent, the content before the crosslinking reaction, the density of functional groups that react with the crosslinking agent, etc.)
·박리제층용 조성물에 함유되는 첨가 성분(구체적으로는, 가교하지 않거나 및/또는 가교하기 어려운 저분자량체가 예시된다.)·Additive components contained in the composition for the release layer (specifically, low molecular weight substances that are not crosslinked and/or difficult to crosslink are exemplified)
·박리제층의 두께·Thickness of the peeling layer
·박리제층의 수지막 형성 필름과의 첩합면의 표면 거칠기· Surface roughness of the bonding surface with the resin film forming film of the release layer
·기재인 수지 필름의 두께·Thickness of the resin film
·박리 필름과 수지막 형성 필름과의 첩합 시의 온도·Temperature at the time of bonding the peeling film and the resin film forming film
·박리 필름과 수지막 형성 필름과의 첩합 시의 압력·Pressure during bonding of the peeling film and the resin film forming film
·박리 필름과 수지막 형성 필름과의 첩합 시의 롤러의 속도·Roller speed when bonding the peeling film and the resin film forming film
기재인 수지 필름의 두께가 얇으면, 작은 박리력으로 박리할 수 있고, 두꺼우면 박리력은 증대하는 경향이 있다. 박리 필름의 한쪽 면을 조면화하고, 조면화한 면에 수지막 형성 필름을 형성하면, 박리 필름의 박리력은 증대하는 경향이 있으며, 즉 중면 박리 필름이 된다. 또한, 제1 박리 필름에 후술하는 수지막 형성 필름용 조성물을 포함하는 도포제를 도포, 필요에 따라 건조한 후, 제2 박리 필름을 적층하면, 제1 박리 필름의 박리력이 커지고, 제2 박리 필름의 박리력이 작아지는 경향이 있다.If the thickness of the base resin film is thin, it can be peeled with a small peeling force, and if it is thick, the peeling force tends to increase. If one side of the peeling film is roughened and a resin film forming film is formed on the roughened side, the peeling force of the peeling film tends to increase, that is, it becomes a double-sided peeling film. In addition, if a coating agent containing a composition for a resin film forming film described later is applied to a first peeling film, dried if necessary, and then a second peeling film is laminated, the peeling force of the first peeling film tends to increase and the peeling force of the second peeling film tends to decrease.
박리 필름의 수지막 형성 필름과의 첩합면을 평활화해 두면, 상기와 같은 제조 프로세스에 비교적 영향을 받지 않고 박리제층용 조성물의 처방에 의해, 중면 박리 필름 및 경면 박리 필름을 얻을 수 있다. 박리제층용 조성물의 처방에 의해 중면 박리 필름의 박리력을 제어하는 경우, 중면 박리 필름의 수지막 형성 필름과의 접촉 표면(중면 박리 필름의 박리 처리면)의 산술 평균 높이 Sa는, 1㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.2㎛ 이하인 것이 더 바람직하고, 0.1㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.03㎛ 미만인 것이 특히 바람직하다. 중면 박리 필름(12)의 박리 처리면의 산술 평균 높이 Sa는, 예를 들면 기재인 수지 필름의 제막 방법(구체적으로는, 연신 방법이나 냉각 롤의 온도와 표면 거칠기), 제막 후의 기재에의 표면 가공, 박리제층의 두께 등에 의해 제어할 수 있다.If the bonding surface of the release film with the resin film forming film is smoothed, a middle-surface release film and a mirror-surface release film can be obtained by the prescription of the release agent layer composition relatively unaffected by the manufacturing process as described above. When the peeling force of the middle-surface release film is controlled by the prescription of the release agent layer composition, the arithmetic mean height Sa of the contact surface of the middle-surface release film with the resin film forming film (the peeling-treated surface of the middle-surface release film) is preferably 1 µm or less, more preferably 0.2 µm or less, still more preferably 0.1 µm or less, and particularly preferably less than 0.03 µm. The arithmetic mean height Sa of the peeling-treated surface of the middle-surface release film (12) can be controlled by, for example, the film forming method of the resin film as the substrate (specifically, the stretching method or the temperature and surface roughness of the cooling roll), surface processing of the substrate after film forming, the thickness of the release agent layer, etc.
산술 평균 높이(Arithmetical mean height of the surface)는, ISO25178에서 규정되는 면 거칠기 파라미터 중 하나이며, 측정면에 있어서의 산 높이 및 골 깊이의 절대값의 평균값이다. 본 명세서에서 산술 평균 높이 Sa는, 1.0㎜ × 1.0㎜의 사각형 영역을 측정면으로 하여 얻어지는 면 거칠기이다. 또, 본 발명에서의 산술 평균 높이 Sa의 측정 방법은, 후술하는 실시예에 상세히 기술한다.Arithmetic mean height of the surface is one of the surface roughness parameters specified in ISO25178, and is the average of the absolute values of the peak height and valley depth on the measurement surface. In this specification, the arithmetic mean height Sa is the surface roughness obtained by using a 1.0 mm × 1.0 mm square area as the measurement surface. In addition, the method for measuring the arithmetic mean height Sa in the present invention is described in detail in the examples described below.
(2.4 중면 박리 필름의 식별성 제어)(2.4 Identification control of the mid-surface peeling film)
본 발명은, 수지막 형성용 시트를 사용한, 반도체 웨이퍼 등의 워크의 가공에 있어서, 중면 박리 필름(12)의 박리의 확인 정밀도를 향상하는 것을 목적으로 하고 있다.The present invention aims to improve the accuracy of confirmation of peeling of a middle-surface peeling film (12) in processing a workpiece such as a semiconductor wafer using a sheet for forming a resin film.
이러한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에서는, 중면 박리 필름(12)의 555㎚의 광선 투과율이 80% 이하이거나, 또는 헤이즈가 4% 이상인 것을 특징으로 하고 있다. 또, 중면 박리 필름은, 상기 광선 투과율 및 헤이즈를 동시에 충족시켜도 된다. 중면 박리 필름(12)이 상기 광선 투과율 및/또는 상기 헤이즈를 만족하면, 중면 박리 필름(12)의 식별성이 높아져, 센서 혹은 육안으로, 중면 박리 필름(12)의 박리가 행해졌는지의 여부를 확실하게 판정할 수 있어, 워크의 가공을 원활하게 행할 수 있다.To achieve this purpose, the present invention is characterized in that the 555 nm light transmittance of the middle-surface peeling film (12) is 80% or less, or the haze is 4% or more. In addition, the middle-surface peeling film may satisfy the above light transmittance and haze at the same time. When the middle-surface peeling film (12) satisfies the above light transmittance and/or the above haze, the identification of the middle-surface peeling film (12) increases, and it is possible to reliably determine by a sensor or the naked eye whether peeling of the middle-surface peeling film (12) has been performed, so that the processing of the work can be performed smoothly.
이러한 관점에서, 중면 박리 필름(12)의 555㎚의 광선 투과율은, 바람직하게는 70% 이하이며, 더 바람직하게는 60% 이하이며, 특히 바람직하게는 50% 이하이다. 상기 상한값 이하임으로써, 보다 식별성을 향상할 수 있다. 상기 광선 투과율의 하한은 특별히 한정은 되지 않지만, 과도하게 광선 투과율을 저하할 필요성은 없고, 바람직하게는 1% 이상이며, 더 바람직하게는 10% 이상이며, 특히 바람직하게는 30% 이상이다. 또, 본 발명에서의 광선 투과율은, 후술하는 실시예에 기재된 바와 같이 측정된다.From this point of view, the 555 nm light transmittance of the middle-surface release film (12) is preferably 70% or less, more preferably 60% or less, and particularly preferably 50% or less. By being less than or equal to the upper limit, the identification can be further improved. The lower limit of the light transmittance is not particularly limited, but there is no need to excessively reduce the light transmittance, and it is preferably 1% or more, more preferably 10% or more, and particularly preferably 30% or more. In addition, the light transmittance in the present invention is measured as described in the examples described below.
중면 박리 필름(12)의 광선 투과율을 상기 범위로 제어하는 관점에서, 중면 박리 필름(12)은 착색되어 있는 것이 바람직하다. 중면 박리 필름(12)의 착색은, 중면 박리 필름(12)의 기재 자체를 착색해도 되지만, 중면 박리 필름(12)의 편면에 안료나 염료를 포함하는 착색층을 마련하는 것이 간편하다. 사용하는 안료, 염료는 특별히 한정은 되지 않지만, 예를 들면 백색 안료(Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. 제조, NX-501 화이트), 흑색 안료(TOYO INK CO., LTD. 제조, 멀티 랙 A903 블랙), 적색 안료(Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. 제조, NX-031 레드) 등을 들 수가 있다. 이들 안료, 염료의 사용량은, 중면 박리 필름(12)의 광선 투과율을 상기 범위로 제어할 수 있으면 특별히 한정은 되지 않는다. 상기 안료를 사용하는 경우에는, 착색층의 고형분 100질량부당, 안료를 1 ∼ 40질량부 정도 배합하면 된다. 착색층의 두께는 특별히 한정은 되지 않지만, 중면 박리 필름(12)의 박리성에 영향을 주지 않는 관점에서, 바람직하게는 10 ∼ 500㎚ 정도이면 된다. 중면 박리 필름(12)의 편면에 상기 착색층을 마련하고, 타면에 박리제층을 마련하는 것이 바람직하다. 또한, 박리제층용 조성물에 안료, 염료를 배합하여, 박리제층을 착색해도 된다.From the viewpoint of controlling the light transmittance of the middle-surface peeling film (12) within the above range, it is preferable that the middle-surface peeling film (12) be colored. The coloring of the middle-surface peeling film (12) may be accomplished by coloring the substrate of the middle-surface peeling film (12) itself, but it is convenient to provide a coloring layer containing a pigment or dye on one side of the middle-surface peeling film (12). The pigment or dye to be used is not particularly limited, but examples thereof include white pigment (NX-501 White, manufactured by Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd.), black pigment (Multi Rack A903 Black, manufactured by TOYO INK CO., LTD.), and red pigment (NX-031 Red, manufactured by Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd.). The amount of these pigments or dyes to be used is not particularly limited as long as the light transmittance of the middle-surface peeling film (12) can be controlled within the above range. When using the above pigment, the pigment may be blended in an amount of about 1 to 40 parts by mass per 100 parts by mass of the solid content of the coloring layer. The thickness of the coloring layer is not particularly limited, but from the viewpoint of not affecting the peelability of the middle-surface release film (12), it is preferably about 10 to 500 nm. It is preferable to provide the coloring layer on one side of the middle-surface release film (12) and to provide a release agent layer on the other side. In addition, a pigment or dye may be blended into the composition for the release agent layer to color the release agent layer.
또한, 마찬가지로 중면 박리 필름(12)의 식별성을 향상하는 관점에서, 중면 박리 필름(12)의 헤이즈는, 바람직하게는 6% 이상이며, 더 바람직하게는 10% 이상이며, 특히 바람직하게는 20% 이상이다. 상기 헤이즈의 상한은 특별히 한정은 되지 않지만, 과도하게 헤이즈를 높일 필요성은 없고, 바람직하게는 70% 이하이며, 더 바람직하게는 60% 이하이며, 특히 바람직하게는 55% 이하이다. 또, 본 발명에서의 헤이즈는, 후술하는 실시예에 기재된 바와 같이 헤이즈미터를 사용하여 측정된다.In addition, from the viewpoint of improving the identification of the middle-surface peeling film (12), the haze of the middle-surface peeling film (12) is preferably 6% or more, more preferably 10% or more, and particularly preferably 20% or more. The upper limit of the haze is not particularly limited, but there is no need to excessively increase the haze, and it is preferably 70% or less, more preferably 60% or less, and particularly preferably 55% or less. In addition, the haze in the present invention is measured using a haze meter as described in the examples described later.
중면 박리 필름(12)의 헤이즈를 상기 범위로 제어하는 관점에서, 중면 박리 필름(12)의 적어도 한쪽 면은 조면화되어 있는 것이 바람직하다. 조면화 처리는, 중면 박리 필름(12)의 양면에 실시해도 된다. 중면 박리 필름(12)의 조면화 방법은, 특별히 한정은 되지 않지만, 예를 들면 중면 박리 필름(12)에 이용하는 기재 표면을 샌드블라스트 처리하거나, 샌드페이퍼 등으로 연마하거나 하여 조면화한다. 조면화한 면과는 반대면에 박리 처리를 실시해도 좋고, 조면화한 면에 박리 처리를 행해도 좋다. 조면화의 정도는, 중면 박리 필름(12)의 헤이즈를 상기 범위로 제어할 수 있으면 특별히 한정은 되지 않는다.From the viewpoint of controlling the haze of the middle-surface release film (12) within the above range, it is preferable that at least one side of the middle-surface release film (12) is roughened. The roughening treatment may be performed on both sides of the middle-surface release film (12). The method for roughening the middle-surface release film (12) is not particularly limited, but for example, the surface of the substrate used for the middle-surface release film (12) is roughened by sandblasting or polishing with sandpaper or the like. The peeling treatment may be performed on the opposite side to the roughened side, or the peeling treatment may be performed on the roughened side. The degree of roughening is not particularly limited as long as the haze of the middle-surface release film (12) can be controlled within the above range.
(2.5 수지막 형성 필름의 식별성 제어)(2.5 Control of the identification of the resin film formation film)
상기와 같이, 본 발명은, 중면 박리 필름(12)의 광선 투과율 및/또는 헤이즈를 제어함으로써, 중면 박리 필름(12)의 박리의 확인 정밀도를 향상하고 있다. 또한, 중면 박리 필름(12)의 박리 후에, 연삭된 웨이퍼를 대표로 하는 광반사성이나 광택을 갖는 워크 상에, 수지막 형성 필름이 워크 형상에 맞추어 잔류하고 있는 것의 확인 정밀도를 향상하는 관점, 또는 금속제의, 광반사성이나 광택을 갖는 절단날 등에 수지막 형성 필름의 잔착이 발생하고 있는 것의 확인 정밀도를 향상하는 관점에서, 수지막 형성 필름(11)의 중면 박리 필름(12)과의 접촉 표면의 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값이 40% 이하인 것이 바람직하다.As described above, the present invention improves the accuracy of confirming the peeling of the middle-surface peeling film (12) by controlling the light transmittance and/or haze of the middle-surface peeling film (12). In addition, from the viewpoint of improving the accuracy of confirming that the resin film formation film remains in accordance with the shape of the workpiece, such as a ground wafer having light reflectivity or gloss, after peeling of the middle-surface peeling film (12), or from the viewpoint of improving the accuracy of confirming that the resin film formation film remains on a metal cutting blade having light reflectivity or gloss, it is preferable that the average value of the light reflectance at 400 to 800 nm of the contact surface of the resin film formation film (11) with the middle-surface peeling film (12) is 40% or less.
수지막 형성 필름(11)으로부터 중면 박리 필름(12)이 박리되면, 중면 박리 필름(12)과 접촉하고 있던 수지막 형성 필름(11)의 면이 노출된다. 이 노출면을 확인할 수 있으면, 중면 박리 필름(12)의 박리가 행해진 것을 확인할 수 있다. 이 때문에, 중면 박리 필름 박리 후의 수지막 형성 필름(11)의 표면을 센서나 육안 등으로 확인하기 위해, 수지막 형성 필름(11)의 표면의 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값은 바람직하게는 40% 이하이며, 더 바람직하게는 32% 이하이며, 보다 바람직하게는 25% 이하이며, 더욱 바람직하게는 18% 이하이며, 특히 바람직하게는 10% 이하이다. 또한, 상기 광선 반사율의 평균값의 하한값은 특별히 한정은 되지 않지만, 수지막 형성 필름용 조성물의 재료 설계가 보다 용이하다는 관점에서, 바람직하게는 0.1% 이상이며, 더 바람직하게는 1% 이상이며, 보다 바람직하게는 2% 이상이며, 특히 바람직하게는 3% 이상이다. 또, 본 발명에서의 광선 반사율은, 후술하는 실시예에 기재된 바와 같이 적분구를 사용하여 측정된다. 수지막 형성 필름(11)의 표면의 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값은, 예를 들면, 수지막 형성 필름이 함유하는 착색제 및 충진재 등의 재료종, 입경, 함유량을 조정함으로써 제어할 수 있다.When the middle-surface peeling film (12) is peeled off from the resin film forming film (11), the surface of the resin film forming film (11) that was in contact with the middle-surface peeling film (12) is exposed. If this exposed surface can be confirmed, it can be confirmed that the middle-surface peeling film (12) has been peeled. Therefore, in order to confirm the surface of the resin film forming film (11) after peeling of the middle-surface peeling film by a sensor or the naked eye, the average value of the light reflectance at 400 to 800 nm of the surface of the resin film forming film (11) is preferably 40% or less, more preferably 32% or less, still more preferably 25% or less, still more preferably 18% or less, and particularly preferably 10% or less. In addition, the lower limit of the average value of the light reflectance is not particularly limited, but from the viewpoint of easier material design of the composition for the resin film forming film, it is preferably 0.1% or more, more preferably 1% or more, even more preferably 2% or more, and particularly preferably 3% or more. In addition, the light reflectance in the present invention is measured using an integrating sphere as described in the examples described later. The average value of the light reflectance at 400 to 800 nm of the surface of the resin film forming film (11) can be controlled by adjusting, for example, the material type, particle size, and content of the colorant and filler contained in the resin film forming film.
(3. 수지막 형성용 시트의 제조 방법)(3. Manufacturing method of sheet for forming resin film)
수지막 형성 필름의 제조 방법은 특별히 한정은 되지 않는다. 상기 필름은, 상술한 수지막 형성 필름용 조성물, 또는, 상기 수지막 형성 필름용 조성물을 용매에 의해 희석하여 얻어지는 조성물(이 2개의 조성물을 본 명세서에서는 「수지막 형성 필름용 조성물을 포함하는 도포제」라고 함)을 이용하여 제조된다. 희석 용매로서는, 톨루엔 등의 방향족 탄화수소, 아세트산에틸 등의 지방산 에스테르, 메틸에틸케톤 등의 케톤, 헥산, 헵탄 등의 지방족 탄화수소 등의 유기 용제 등을 들 수 있다. 이들 희석 용매는, 1종을 단독으로 이용해도 좋고, 2종 이상을 병용해도 좋다. 도포제는, 수지막 형성 필름용 조성물을 구성하는 성분을 공지된 방법에 의해 혼합하여 조제된다.The method for producing a resin film forming film is not particularly limited. The film is produced using the composition for the resin film forming film described above, or a composition obtained by diluting the composition for the resin film forming film with a solvent (these two compositions are referred to herein as a “coating agent including a composition for a resin film forming film”). Examples of the diluting solvent include organic solvents such as aromatic hydrocarbons such as toluene, fatty acid esters such as ethyl acetate, ketones such as methyl ethyl ketone, aliphatic hydrocarbons such as hexane and heptane. These diluting solvents may be used singly, or two or more may be used in combination. The coating agent is prepared by mixing the components constituting the composition for the resin film forming film by a known method.
얻어지는 도포제를, 롤 코터, 나이프 코터, 롤 나이프 코터, 에어 나이프 코터, 다이 코터, 바 코터, 그라비아 코터, 커튼 코터 등의 도공기를 이용하여, 중면 박리 필름(12)의 박리면에 도포하여 필요에 따라 건조시키고, 그 후, 수지막 형성 필름(11)의 노출면에 경면 박리 필름(13)을 적층하여, 본 실시형태에 따른 수지막 형성용 시트(10)가 얻어진다. 상기 수지막 형성용 시트(10)는, 재단을 거쳐 중면 박리 필름의 폭과 수지막 형성 필름의 폭과 경면 박리 필름의 폭이 동일하며, 따내기 가공이 아직 이루어져 있지 않은 장척 시트로서, 롤상으로 권수된 롤체인 것이 바람직하다. 또, 적층순은 특별히 한정은 되지 않고, 경면 박리 필름에 도포제를 도포해도 된다. 또한, 다른 수지 필름 상에 도포제를 도포, 필요에 따라 건조하고, 얻어진 수지막 형성 필름을 중면 박리 필름 혹은 경면 박리 필름에 전사해도 된다. 또한, 이들 필름을 적층 후에, 열 롤러 등에 의해, 가열, 가압해도 된다. 제조 시의 작업성의 관점 등에서, 중면 박리 필름(12)의 박리면에 도포하여 필요에 따라 건조시키고, 그 후, 수지막 형성 필름(11)의 노출면에 공정용 박리 필름을 적층한 후에, 공정용 박리 필름을 박리하고, 경면 박리 필름(13)을 첩부해도 된다.The obtained coating agent is applied to the peeling surface of the middle-surface release film (12) using a coating machine such as a roll coater, a knife coater, a roll knife coater, an air knife coater, a die coater, a bar coater, a gravure coater, or a curtain coater, and dried as necessary, and then a mirror-surface release film (13) is laminated on the exposed surface of the resin film formation film (11), thereby obtaining a resin film formation sheet (10) according to the present embodiment. The resin film formation sheet (10) is preferably a roll body wound into a roll shape as a long sheet in which the width of the middle-surface release film, the width of the resin film formation film, and the width of the mirror-surface release film are the same after cutting and the cutting process has not yet been performed. In addition, the order of lamination is not particularly limited, and the coating agent may be applied to the mirror-surface release film. In addition, the coating agent may be applied to another resin film, dried as necessary, and the obtained resin film formation film may be transferred to the middle-surface release film or the mirror-surface release film. In addition, after laminating these films, they may be heated and pressurized by a heat roller, etc. From the viewpoint of workability during manufacturing, etc., they may be applied to the peeling surface of a middle-surface peeling film (12) and dried as necessary, and then a process-use peeling film may be laminated on the exposed surface of a resin film-forming film (11), and then the process-use peeling film may be peeled off and a hard-surface peeling film (13) may be attached.
(4. 워크의 가공 방법)(4. Work processing method)
본 실시형태에 따른 수지막 형성용 시트(10)에서는, 수지막 형성 필름(11)이 소정의 형상으로 따내기 가공되어 있어도 좋지만(프리커트), 이하에 설명하는 바와 같이, 첩부 전에는 따내기 가공이 이루어지지 않고, 워크에 첩부 후에, 워크의 외주 형상에 맞추어 절단해도 좋다. 이하, 후자의 방법에 대해서 상세히 기술한다.In the resin film forming sheet (10) according to the present embodiment, the resin film forming film (11) may be processed by cutting into a predetermined shape (precut), but as described below, the cutting process may not be performed before attachment, and the film may be cut to fit the outer peripheral shape of the work after attachment to the work. The latter method will be described in detail below.
우선, 도 1에 나타내는 바와 같이, 따내기 가공되어 있지 않은 수지막 형성용 시트(10)를 준비한다. 수지막 형성용 시트(10)의 경면 박리 필름(13)을 박리한다. 수지막 형성 필름(11)으로부터 경면 박리 필름(13)을 제거할 때에, F1 > F2의 관계를 만족함으로써, 경면 박리 필름(13)의 제거가 용이해져, 수지막 형성 필름(11)을 중면 박리 필름(12) 상에 확실하게 잔류할 수 있다.First, as shown in Fig. 1, a resin film forming sheet (10) that has not been processed for cutting is prepared. The hard surface release film (13) of the resin film forming sheet (10) is released. When removing the hard surface release film (13) from the resin film forming film (11), by satisfying the relationship F1 > F2, the removal of the hard surface release film (13) becomes easy, and the resin film forming film (11) can be reliably left on the middle surface release film (12).
본 실시형태에 따른 워크의 가공 방법의 일례로서, 수지막 형성 필름이 첩부된 웨이퍼를 가공하여 얻어지는 보호막 부착 칩을 제조하는 방법에 대해서 설명한다.이 때문에, 이하에서는 수지막 형성 필름을 「보호막 형성 필름」이라고 기재하는 경우가 있다.As an example of a method for processing a work according to the present embodiment, a method for manufacturing a chip with a protective film attached by processing a wafer to which a resin film forming film is attached is described. Therefore, in the following, the resin film forming film is sometimes referred to as a “protective film forming film.”
보호막 부착 칩의 제조 방법은, 적어도 이하의 공정 1 내지 공정 5를 갖는다.A method for manufacturing a chip with a protective film attachment has at least the following steps 1 to 5.
공정 1: 보호막 형성용 시트(10)로부터 경면 박리 필름(13)을 박리하고, 보호막 형성 필름(11)을, 웨이퍼 이면에 첩부하는 공정Process 1: A process of peeling off a hard surface peeling film (13) from a sheet (10) for forming a protective film, and attaching a protective film forming film (11) to the back surface of a wafer.
공정 2: 보호막 형성 필름(11) 및 중면 박리 필름(12)을, 웨이퍼 외주 형상에 맞추어 절단하는 공정Process 2: Process of cutting the protective film forming film (11) and the middle-surface peeling film (12) to fit the outer shape of the wafer
공정 3: 첩부된 보호막 형성 필름을 보호막화하는 공정Process 3: Process of forming a protective film by forming a protective film
공정 4: 보호막 또는 보호막 형성 필름으로부터 중면 박리 필름(12)을 박리하는 공정Process 4: Process of peeling off the middle-surface peeling film (12) from the protective film or protective film forming film
공정 5: 이면에 보호막 또는 보호막 형성 필름을 갖는 웨이퍼를 개편화하여, 복수의 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 칩을 얻는 공정Process 5: Process of obtaining chips having multiple protective films or protective film-forming films attached by slicing a wafer having a protective film or protective film-forming film on its back surface
공정 1에서는, 보호막 형성용 시트(10)의 경면 박리 필름(13)을 박리하고, 보호막 형성 필름(11)을 노출하여, 노출된 보호막 형성 필름(11)을 웨이퍼의 이면에 첩부한다. 경면 박리 필름(13)은, 중면 박리 필름(12)보다 박리력이 작기 때문에, 경면 박리 필름(13)의 박리를 원활하게 행할 수 있다. 웨이퍼에의 보호막 형성 필름(11)의 첩부 시에는, 열압착을 행해도 된다.In process 1, the mirror-surface peeling film (13) of the protective film forming sheet (10) is peeled off, the protective film forming film (11) is exposed, and the exposed protective film forming film (11) is attached to the back surface of the wafer. Since the mirror-surface peeling film (13) has a lower peeling force than the middle-surface peeling film (12), the mirror-surface peeling film (13) can be peeled off smoothly. When attaching the protective film forming film (11) to the wafer, thermal compression bonding may be performed.
그 후, 첩부된 보호막 형성 필름(11) 및 중면 박리 필름(12)을 웨이퍼의 외주 형상에 맞추어 절단하고(공정 2), 보호막 형성 필름 부착 웨이퍼를 얻는다. 또, 보호막 형성 필름(11)이 비경화성인 경우에는, 공정 1을 마친 시점에서 보호막 형성 필름은 보호막이 되고 있지만, 여기에서는 편의상 「보호막 형성 필름」이라고 표현한다.Thereafter, the attached protective film-forming film (11) and the middle-surface peeling film (12) are cut to fit the outer shape of the wafer (process 2), and a wafer with a protective film-forming film attached is obtained. In addition, in the case where the protective film-forming film (11) is non-curable, the protective film-forming film becomes a protective film at the time of completing process 1, but for convenience, it is expressed as a "protective film-forming film" here.
공정 3에서는, 보호막 형성 필름을 보호막화한다. 보호막 형성 필름(11)이 열경화성인 경우에는, 보호막 형성 필름(11)을 소정 온도에서 적절한 시간 가열하면 된다. 또한, 보호막 형성 필름(11)이 에너지선 경화성인 경우에는, 중면 박리 필름(12)으로서 에너지선 투과성 필름을 이용하여, 중면 박리 필름(12) 측으로부터 에너지선을 입사하면 된다. 보호막 형성 필름(11)이 비경화성인 경우에는, 공정 1을 마친 시점에서 보호막화된다.In process 3, the protective film forming film is protectively formed. If the protective film forming film (11) is thermosetting, the protective film forming film (11) may be heated at a predetermined temperature for an appropriate time. In addition, if the protective film forming film (11) is energy ray curable, an energy ray-transmitting film may be used as the middle-surface peeling film (12), and energy rays may be incident from the middle-surface peeling film (12) side. If the protective film forming film (11) is non-curable, the protective film is formed at the time of completion of process 1.
또, 보호막 형성 필름(11)의 경화는, 공정 1 및 공정 2 후라면, 중면 박리 필름(12)을 박리하기(공정 4) 전에 행해도 좋고, 중면 박리 필름(12)의 박리 후에 행해도 좋다. 또한, 보호막 형성 필름(11)의 경화는, 후술하는 다이싱 공정(공정 5) 후에 행해도 좋고, 다이싱 시트로부터 보호막 형성 필름이 부착된 칩을 픽업하고, 그 후에 보호막 형성 필름(11)을 경화해도 좋다.In addition, the curing of the protective film forming film (11) may be performed before peeling off the middle-surface peeling film (12) (process 4) after processes 1 and 2, or may be performed after peeling off the middle-surface peeling film (12). In addition, the curing of the protective film forming film (11) may be performed after the dicing process (process 5) described later, or the chip to which the protective film forming film is attached may be picked up from the dicing sheet, and then the protective film forming film (11) may be cured.
그 다음에, 보호막 또는 보호막 형성 필름(11)으로부터 중면 박리 필름(12)을 박리한다(공정 4). 예를 들면 공정 4에서는, 중면 박리 필름(12)이 부착된 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 웨이퍼를 1매 또는 2매 이상, 웨이퍼끼리는 겹치는 일이 없도록 직선 상에 나열하고, 각각의 중면 박리 필름(12)을 벗겨 테이프라고 불리는 장척의 점착 테이프에 부착시킨 후, 상기 중면 박리 필름 부착 점착 테이프를, 보호막 또는 보호막 형성 필름(11)으로부터 떼어내는 방향으로 이동시킴으로써, 중면 박리 필름(12)을 박리할 수 있다. 본 발명에서는, 중면 박리 필름(12)의 광선 투과율 및/또는 헤이즈를 특정 범위로 제어하고 있기 때문에, 중면 박리 필름(12)의 박리의 확인을 높은 정밀도로 행할 수 있다. 이 때문에, 다음 공정에의 이송을 원활하며 또한 확실하게 행할 수 있다.Next, the middle-surface peeling film (12) is peeled off from the protective film or protective film forming film (11) (process 4). For example, in process 4, one or more protective film or protective film forming film attached wafers having the middle-surface peeling film (12) attached are arranged in a straight line so that the wafers do not overlap, each middle-surface peeling film (12) is peeled off and attached to a long adhesive tape called a tape, and then the middle-surface peeling film attached adhesive tape is moved in the direction of peeling off from the protective film or protective film forming film (11), whereby the middle-surface peeling film (12) can be peeled off. In the present invention, since the light transmittance and/or haze of the middle-surface peeling film (12) is controlled within a specific range, the peeling of the middle-surface peeling film (12) can be confirmed with high precision. Therefore, the transfer to the next process can be performed smoothly and reliably.
그 다음에, 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 웨이퍼를 공지된 다이싱 시트 상에 전사하고, 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 웨이퍼를 다이싱하여, 보호막 또는 보호막 형성 필름을 갖는 칩을 얻는다(공정 5). 그 후, 필요에 따라 다이싱 시트를 평면 방향으로 익스팬드하고, 다이싱 시트로부터 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 칩을 흡착 콜렛 등에 의해 픽업한다. 픽업된 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 칩은 다음 공정으로 반송해도 좋고, 트레이, 테이프 등에 일시적으로 수납 보관하여, 소정의 기간 후에 다음 공정으로 반송해도 좋다. 다음 공정으로 반송된 보호막 또는 보호막 형성 필름 부착 칩은, 상법(常法)에 따라서, 기판 상에 실장되어도 좋다.Next, the wafer with the protective film or the protective film-forming film attached is transferred onto a known dicing sheet, and the wafer with the protective film or the protective film-forming film attached is diced to obtain a chip having the protective film or the protective film-forming film (process 5). Thereafter, the dicing sheet is expanded in a planar direction as necessary, and the chip with the protective film or the protective film-forming film attached is picked up from the dicing sheet by a suction collet or the like. The chip with the protective film or the protective film-forming film attached that is picked up may be returned to the next process, or may be temporarily stored in a tray, tape, or the like, and returned to the next process after a predetermined period of time. The chip with the protective film or the protective film-forming film attached that is returned to the next process may be mounted on a substrate according to a conventional method.
(5. 변형예)(5. Variant example)
상기에서는, 수지막 형성 필름을 이용하여 보호막을 생성하는 경우에 대해서 설명했지만, 상술한 바와 같이, 수지막 형성 필름을 이용하여, 접착막을 생성해도 된다. 이 경우, 수지막 형성 필름은, 다이 본딩 필름으로서 기능한다. 다이 본딩 필름은, 필름상 접착제로 구성된다. 필름상 접착제는 공지된 조성 및 물성을 갖고 있으면 된다.In the above, the case of creating a protective film using a resin film forming film was described, but as described above, an adhesive film may be created using a resin film forming film. In this case, the resin film forming film functions as a die bonding film. The die bonding film is composed of a film-shaped adhesive. The film-shaped adhesive may have a known composition and physical properties.
이상, 본 발명의 실시형태에 대해서 설명해 왔지만, 본 발명은 상기의 실시형태에 하등 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 범위 내에서 여러 가지의 태양으로 개변해도 좋다.Above, the embodiments of the present invention have been described, but the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications may be made within the scope of the present invention.
[실시예][Example]
이하, 실시예를 이용하여, 발명을 보다 상세히 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the invention will be described in more detail using examples, but the present invention is not limited to these examples.
(수지막 형성용 시트의 제작)(Production of sheets for forming a resin film)
[중면 박리 필름][Middle-sided peeling film]
폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름(Mitsubishi Chemical Corporation. 제조, 상품명: DIAFOIL(등록상표) T-100, 두께: 50㎛)의 편면에, 하기 표에 기재된 방법으로 착색층을 형성, 또는 조면화 처리를 실시하고, 후술하는 박리제층용 조성물에서의 박리 처리를 행하여, 중면 박리 필름 번호 1 ∼ 9 및 14를 얻었다.A colored layer was formed on one side of a polyethylene terephthalate (PET) film (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, trade name: DIAFOIL (registered trademark) T-100, thickness: 50 μm) by the method described in the table below, or a roughening treatment was performed, and a release treatment was performed using a composition for a release agent layer described below, thereby obtaining middle-surface release films Nos. 1 to 9 and 14.
또한, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름(Mitsubishi Chemical Corporation. 제조, 상품명: DIAFOIL(등록상표) T-100, 두께: 50㎛)의 편면에, 후술하는 박리제층용 조성물에서의 박리 처리를 행하여, 중면 박리 필름 번호 13을 얻었다. 또한 중면 박리 필름 번호 10 ∼ 12에서는, 중면 박리 필름 번호 13에 있어서의 박리 처리면과는 반대면(逆面)에 조면화 처리를 실시했다.In addition, a release treatment using a release agent layer composition described later was performed on one side of a polyethylene terephthalate (PET) film (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, trade name: DIAFOIL (registered trademark) T-100, thickness: 50 µm), thereby obtaining a middle-surface release film No. 13. In addition, in middle-surface release films Nos. 10 to 12, a roughening treatment was performed on the side opposite to the release-treated side in middle-surface release film No. 13.
[표 1][Table 1]
DPHA: 디펜타에리스리톨헥사아크릴레이트DPHA: Dipentaerythritol hexaacrylate
Irg.184: Irgacure 184Irg.184: Irgacure 184
MEK:메틸에틸케톤MEK: Methyl ethyl ketone
<박리제층용 조성물><Composition for peeling layer>
하기의 박리제층용 조성물을 준비했다.The following composition for a peeling layer was prepared.
[표 2][Table 2]
상기 원료를 표 2에 기재된 배합비(고형분 환산)로, 톨루엔과 메틸에틸케톤의 혼합 용제(톨루엔/메틸에틸케톤 = 1/1(질량비))에 더하여 전체 고형분을 2질량%로 조정하고, 박리제층용 조성물을 포함하는 도포제를 조제하고, 상기한 착색층을 형성 또는 조면화 처리를 실시한 PET 필름에, 건조 후의 막두께가 0.15㎛가 되도록 도포, 가열, 건조하여, PET 필름 상에 박리제층을 형성하고, 중면 박리 필름 번호 1 ∼ 9 및 14를 제작했다.The above raw materials were added to a mixed solvent of toluene and methyl ethyl ketone (toluene/methyl ethyl ketone = 1/1 (mass ratio)) in the mixing ratio (converted to solid content) shown in Table 2, and the total solid content was adjusted to 2 mass%, and a coating agent including a composition for a release agent layer was prepared, and the coating agent was applied to a PET film on which the above-mentioned colored layer had been formed or roughened so that the film thickness after drying became 0.15 μm, heated, and dried to form a release agent layer on the PET film, and middle-surface release films No. 1 to 9 and 14 were produced.
또한, 마찬가지의 박리제층용 조성물을 포함하는 도포제를 조제하고, 상기한 PET 필름에, 건조 후의 막두께가 0.15㎛가 되도록 도포, 가열, 건조하여, PET 필름 상에 박리제층을 형성하고, 중면 박리 필름 번호 13을 제작했다.In addition, a coating agent including a similar composition for a release agent layer was prepared, and applied to the PET film described above so that the film thickness after drying became 0.15 ㎛, heated, and dried to form a release agent layer on the PET film, and a middle-surface release film No. 13 was produced.
또한 별도로, 마찬가지의 박리제층용 조성물을 포함하는 도포제를 조제하고, 상기한 PET 필름에, 건조 후의 막두께가 0.15㎛가 되도록 도포, 가열, 건조하여, PET 필름 상에 박리제층을 형성하고, 박리 처리면과는 반대면에 조면화 처리를 실시함으로써 중면 박리 필름 번호 10 ∼ 12를 제작했다.In addition, separately, a coating agent including a similar composition for a release agent layer was prepared, applied to the PET film described above so that the film thickness after drying became 0.15 ㎛, heated, and dried to form a release agent layer on the PET film, and roughening was performed on the surface opposite to the release-treated surface, thereby producing a middle-surface release film No. 10 to 12.
[경면 박리 필름][Light surface peeling film]
PET 필름(Mitsubishi Chemical Corporation. 제조, 상품명: DIAFOIL(등록상표) T-100, 두께: 38㎛)에, 상기 박리제층용 조성물을 포함하는 도포제를, 건조 후의 막두께가 0.15㎛가 되도록 도포, 가열, 건조하여, PET 필름 상에 박리제층을 형성하고, 경면 박리 필름을 제작했다. 또, 경면 박리 필름의 박리제층은, 상기 중면 박리 필름의 박리제층과 동일하지만, PET 필름의 두께가 얇고, 또한, 중면 박리 필름에 수지막 형성 필름용 조성물을 포함하는 도포제를 도포, 건조한 후에 경면 박리 필름을 첩부했기 때문에, 중면 박리 필름보다 경박리성이 된다.A coating agent containing the composition for a release agent layer was applied to a PET film (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, trade name: DIAFOIL (registered trademark) T-100, thickness: 38 μm) so that the film thickness after drying became 0.15 μm, heated, and dried to form a release agent layer on the PET film, and a mirror-surface release film was produced. In addition, the release agent layer of the mirror-surface release film is the same as the release agent layer of the above-mentioned middle-surface release film, but since the PET film is thinner and furthermore, the coating agent containing the composition for a resin film forming film was applied to the middle-surface release film, dried, and then the mirror-surface release film was attached, it has a lighter peelability than the middle-surface release film.
[수지막 형성 필름용 조성물을 포함하는 도포제][Coating agent comprising a composition for forming a resin film]
다음의 각 성분을 표 3에 나타내는 배합비(고형분 환산)로 혼합하고, 고형분 농도가 50질량%가 되도록 메틸에틸케톤으로 희석하여, 수지막 형성 필름용 조성물을 포함하는 도포제를 조제했다.The following components were mixed in the mixing ratio (converted to solid content) shown in Table 3, and diluted with methyl ethyl ketone so that the solid content concentration became 50 mass%, thereby preparing a coating agent including a composition for a resin film forming film.
(A) 중합체 성분: 메틸아크릴레이트 87질량부 및 2-히드록시에틸아크릴레이트 13질량부를 공중합하여 이루어지는 공중합체(중량 평균 분자량: 45만, 유리 전이 온도: 6℃)(A) Polymer component: Copolymer formed by copolymerizing 87 parts by mass of methyl acrylate and 13 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate (weight average molecular weight: 450,000, glass transition temperature: 6°C)
(B) 경화성 성분(열경화성 성분)(B) Curable component (thermosetting component)
(B-1) 비스페놀 A형 액상 에폭시 수지(Mitsubishi Chemical Corporation. 제조, jER828, 에폭시 당량 184 ∼ 194g/eq)(B-1) Bisphenol A type liquid epoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, jER828, epoxy equivalent 184 to 194 g/eq)
(B-2) 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지(DIC Corporation 제조, EPICLON HP-7200, 에폭시 당량 254 ∼ 264g/eq)(B-2) Dicyclopentadiene type epoxy resin (manufactured by DIC Corporation, EPICLON HP-7200, epoxy equivalent 254 to 264 g/eq)
(C) 경화제: 디시안디아미드(Mitsubishi Chemical Corporation. 제조, DICY7)(C) Curing agent: Dicyandiamide (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, DICY7)
(D) 경화 촉진제: 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸(SHIKOKU CHEMICALS CORPORATION 제조, CUREZOL 2PHZ)(D) Curing accelerator: 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by SHIKOKU CHEMICALS CORPORATION, CUREZOL 2PHZ)
(E) 충진재: 에폭시기 수식 구상(球狀) 실리카 필러(ADMATECHS MINO COMPANY LIMITED 제조, SC2050MA, 평균 입경 0.5㎛)(E) Filler: Epoxy-modified spherical silica filler (manufactured by ADMATECHS MINO COMPANY LIMITED, SC2050MA, average particle size 0.5㎛)
(F) 실란 커플링제: Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 제조, X-41-1056(F) Silane coupling agent: X-41-1056 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
(G) 착색제(G) Colorant
(G-1) 유기계 흑색 안료(Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. 제조, 6377 블랙)(G-1) Organic black pigment (manufactured by Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd., 6377 Black)
(G-2) 산화티탄계 백색 안료(Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. 제조, NX-501 화이트)(G-2) Titanium oxide white pigment (manufactured by Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd., NX-501 White)
[표 3][Table 3]
조제한 수지막 형성 필름용 조성물을 포함하는 도포제를, 상기 중면 박리 필름의 박리 처리면에 도공하고, 100℃에서 2분 건조하여 두께가 25㎛인 수지막 형성 필름을 형성했다. 계속해서, 경면 박리 필름을, 수지막 형성 필름 상에 첩부하여, 중면 박리 필름/수지막 형성 필름/경면 박리 필름의 적층체인 수지막 형성용 시트를 얻었다. 첩부 조건은, 온도가 60℃, 압력이 0.4㎫, 속도가 1m/분이었다. 이 상태에서, 23℃ 상대습도 50%의 환경하에 48시간 정치했다.A coating agent including a composition for a prepared resin film forming film was applied to the peeling-treated surface of the above-described middle-surface release film, and dried at 100°C for 2 minutes to form a resin film forming film having a thickness of 25 μm. Subsequently, a mirror-surface release film was attached on the resin film forming film, to obtain a resin film forming sheet which is a laminate of the middle-surface release film/resin film forming film/mirrored release film. The attachment conditions were a temperature of 60°C, a pressure of 0.4 MPa, and a speed of 1 m/min. In this state, the film was left to stand for 48 hours in an environment of 23°C and a relative humidity of 50%.
계속해서, 수지막 형성용 시트를, 폭 220㎜로 재단하고, 길이 50미터를 권취하여 롤체로 했다.Next, the sheet for forming the resin film was cut to a width of 220 mm and wound into a length of 50 m to make a roll.
얻어진 수지막 형성용 시트를 이용하여, 하기의 측정 및 평가를 행했다.Using the obtained resin film forming sheet, the following measurements and evaluations were performed.
[중면 박리 필름의 수지막 형성 필름으로부터의 박리력 F1][Peel strength F1 from the resin film forming film of the middle-surface peeling film]
얻어진 수지막 형성용 시트로부터, 경면 박리 필름을 박리했다. 박리에 의해 노출된 수지막 형성 필름의 표면에, 두께가 25㎛인 양(良)접착 PET(TOYOBO CO., LTD. 제조, PET25A-4100)의 양접착면을 열라미네이트(70℃, 1m/min)에 의해 첩부하여 적층체 샘플을 제작했다. 적층체 샘플을 100㎜ 폭으로 잘라내어, 측정용 샘플을 제작했다. 측정용 샘플의 중면 박리 필름의 배면을 양면 테이프로 경질인 지지판에 고정했다.From the obtained resin film forming sheet, a hard release film was peeled. On the surface of the resin film forming film exposed by peeling, a good adhesive PET (manufactured by TOYOBO CO., LTD., PET25A-4100) having a thickness of 25 ㎛ was attached with both adhesive surfaces by heat lamination (70°C, 1 m/min) to produce a laminate sample. The laminate sample was cut into 100 mm widths to produce a measurement sample. The back surface of the middle release film of the measurement sample was fixed to a hard support plate with double-sided tape.
만능형 인장 시험기(Shimadzu Corporation 제조, 제품명 「AUTOGRAPH(등록상표) AG-IS」)를 이용하여, 수지막 형성 필름/양접착 PET의 복합(일체형)체를, 23℃ 상대습도 50%의 환경하에서, 박리 각도 180°, 박리 속도 1m/min으로 중면 박리 필름으로부터 박리하고, 그때의 하중을 측정했다. 측정 거리는 전체 100㎜이며, 처음 10㎜와 끝 10㎜를 제외한 80㎜ 사이의 측정값의 평균을 단위 mN/100㎜로 환산하여, 박리력 F1로 했다. 결과를 표 4에 나타낸다.Using a universal tensile tester (product name "AUTOGRAPH (registered trademark) AG-IS" manufactured by Shimadzu Corporation), a composite (integrated) body of a resin film-forming film/double-adhesive PET was peeled from a middle-sided peeling film at a peeling angle of 180° and a peeling speed of 1 m/min in an environment of 23°C and a relative humidity of 50%, and the load at that time was measured. The measurement distance was 100 mm in total, and the average of the measurement values for 80 mm excluding the first 10 mm and the last 10 mm was converted to the unit of mN/100 mm and taken as the peeling force F1. The results are shown in Table 4.
[경면 박리 필름의 수지막 형성 필름으로부터의 박리력 F2][Peel strength F2 from the resin film forming film of the hard surface peeling film]
얻어진 수지막 형성용 시트를 100㎜ 폭으로 잘라내어, 측정용 샘플을 제작했다. 측정용 샘플의 중면 박리 필름의 배면을 양면 테이프로 경질인 지지판에 고정했다.The obtained resin film forming sheet was cut into 100 mm widths to produce a measurement sample. The back surface of the middle peeling film of the measurement sample was fixed to a hard support plate with double-sided tape.
만능형 인장 시험기(Shimadzu Corporation 제조, 제품명 「AUTOGRAPH(등록상표) AG-IS」)를 이용하여, 측정용 샘플로부터 경면 박리 필름을 박리하고, 그때의 하중을 상기 F1의 측정과 같은 조건으로 측정하여, 박리력 F2로 했다. 결과를 표 4에 나타낸다.Using a universal tensile tester (manufactured by Shimadzu Corporation, product name "AUTOGRAPH (registered trademark) AG-IS"), a mirror-peelable film was peeled from a measurement sample, and the load at that time was measured under the same conditions as the measurement of F1 above, and was defined as the peeling force F2. The results are shown in Table 4.
[중면 박리 필름의 광선 투과율의 평가 방법][Method for evaluating light transmittance of a mid-surface peeling film]
수지막 형성용 시트로부터 벗긴, 중면 박리 필름을, UV-Vis 분광 광도계(Shimadzu Corporation 제조 「UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETER UV-3600」)의 시료 폴더에 재치했다. 적분구를 이용하지 않고, 직접 수광 모드로, 파장역이 190 ∼ 1200㎚에서, 투과율을 측정했다. 555㎚의 광선 투과율을 표 4에 나타낸다.The middle-surface release film, peeled off from the sheet for forming a resin film, was placed in the sample folder of a UV-Vis spectrophotometer ("UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETER UV-3600" manufactured by Shimadzu Corporation). The transmittance was measured in the wavelength range of 190 to 1200 nm in the direct light receiving mode without using an integrating sphere. The light transmittance at 555 nm is shown in Table 4.
[중면 박리 필름의 헤이즈의 평가 방법][Method for evaluating haze of a mid-surface peeling film]
수지막 형성용 시트로부터 벗긴, 중면 박리 필름에 대해서, 헤이즈미터(NIPPON DENSHOKU INDUSTRIES CO., LTD 제조 「NDH-2000」)를 이용하여, JIS K 7136에 따라서, 헤이즈를 측정했다. 결과를 표 4에 나타낸다.For the middle-surface release film peeled off from the sheet for forming a resin film, the haze was measured in accordance with JIS K 7136 using a haze meter ("NDH-2000" manufactured by NIPPON DENSHOKU INDUSTRIES CO., LTD). The results are shown in Table 4.
[400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값의 평가 방법][Method for evaluating the average value of light reflectance at 400 to 800 nm]
수지막 형성용 시트로부터 경면 박리 필름을 벗기고, 수지막 형성 필름 표면을, 무색 투명한 조면 가공이 없는 소다 라임 유리판(Nippon Sheet Glass Company, Ltd. 제조, 두께 1.1㎜)에 첩부하고(첩부 조건은, 라미네이트 롤러 온도가 50℃, 압력이 0.3㎫, 속도가 1m/분), 중면 박리 필름을 벗겼다.The surface release film was peeled off from the sheet for forming a resin film, and the surface of the resin film formation film was attached to a colorless and transparent soda lime glass plate (manufactured by Nippon Sheet Glass Company, Ltd., thickness 1.1 mm) without roughening (attachment conditions were: a laminating roller temperature of 50°C, a pressure of 0.3 MPa, and a speed of 1 m/min), and the middle surface release film was peeled off.
노출된 수지막 형성 필름 표면을, 하기 조건으로 UV-Vis 분광 광도계(Shimadzu Corporation 제조 「UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETER UV-3600」)로 파장역이 400 ∼ 800㎚인 파장역에서, 1㎚마다 SCE 방식에 의해, 경면 반사광(정반사광)을 제외한 확산 반사광의 광량을 측정했다. 또한, 황산바륨제의 기준판에 대해서도, 같은 방법으로 확산 반사광의 광량을 측정했다. 시료 폴더로서는 Shimadzu Corporation 제조 「대형 시료실 MPC-3100」을 이용하고, 적분구로서는 Shimadzu Corporation 제조 「적분구 부속 장치 ISR-3100」을 이용했다.The amount of diffuse reflected light excluding specular reflected light (regular reflected light) was measured at 1 nm intervals by the SCE method in a wavelength range of 400 to 800 nm on the surface of the exposed resin film formation using a UV-Vis spectrophotometer ("UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETER UV-3600" manufactured by Shimadzu Corporation) under the following conditions. In addition, the amount of diffuse reflected light was measured for a barium sulfate reference plate by the same method. As a sample folder, "Large Sample Room MPC-3100" manufactured by Shimadzu Corporation was used, and as an integrating sphere, "Integrating Sphere Accessory ISR-3100" manufactured by Shimadzu Corporation was used.
그리고, 상기 기준판에서의 측정값에 대한, 상기 수지막 형성 필름에서의 측정값의 비율([수지막 형성 필름에서의 광량의 측정값]/[기준판에서의 광량의 측정값] × 100), 즉 상기 수지막 형성 필름의 상대 반사율을, 1㎚마다 구했다. 400 ∼ 800㎚의 파장역에서, 1㎚마다의 상기 상대 반사율의 값을 합산하고, 그 합계값을, 합산한 상대 반사율의 값의 개수(즉, 800 ― 400 + 1 = 401)로 나눔으로써, 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값을 산출했다. 결과를 표 4에 나타낸다.And, the ratio of the measurement value in the resin film-forming film to the measurement value in the reference plate ([measured value of light amount in the resin film-forming film] / [measured value of light amount in the reference plate] × 100), i.e., the relative reflectance of the resin film-forming film, was obtained per 1 nm. In the wavelength range of 400 to 800 nm, the values of the relative reflectance per 1 nm were added, and the total value was divided by the number of values of the added relative reflectance (i.e., 800 - 400 + 1 = 401), thereby calculating the average value of the light reflectance in the range of 400 to 800 nm. The results are shown in Table 4.
[박리 처리면의 산술 평균 높이 Sa 평가 방법][Method for evaluating the arithmetic mean height Sa of the peeled surface]
적층체(수지막 형성용 시트)로부터 벗긴, 중면 박리 필름에 대해서, ISO 25178에 준거하여, 산술 평균 높이 Sa를 측정했다. Sa의 보다 구체적인 측정은, 이하와 같다.For the middle-surface release film peeled off from the laminate (sheet for forming a resin film), the arithmetic mean height Sa was measured in accordance with ISO 25178. More specific measurement of Sa is as follows.
즉, 주사형 백색 간섭 현미경(Hitachi High-Tech Science Corporation 제조 「VS-1550」)을 이용하여, 측정 대상인 중면 박리 필름의 박리 처리면을, 50배의 관찰 배율로, 복수 시야 모드로 관찰했다. 이때, 관찰 시야에 있어서, X축 방향의 길이 0.36㎜, Y축 방향의 길이 0.27㎜의 영역을 설정하고, X축 방향으로 3열분, Y축 방향으로 4행분 관찰함으로써, 합계 12셀을 관찰했다. 그리고, 12셀분의 화상을 합성하고, 1.0㎜ × 1.0㎜의 1매의 화상으로 하여, 합성한 화상 1매의 전역(全域)에 대해서, Sa를 측정했다. 결과를 표 4에 나타낸다.That is, using a scanning white light interference microscope ("VS-1550" manufactured by Hitachi High-Tech Science Corporation), the peel-treated surface of the middle-surface peeling film, which is the measurement target, was observed at a magnification of 50 times in the multiple-field mode. At this time, in the observation field, an area of 0.36 mm in the X-axis direction and 0.27 mm in the Y-axis direction was set, and 12 cells in total were observed by observing 3 columns in the X-axis direction and 4 rows in the Y-axis direction. Then, the images for the 12 cells were synthesized to form one 1.0 mm × 1.0 mm image, and Sa was measured for the entire area of one synthesized image. The results are shown in Table 4.
[센서에서의 중면 박리 필름의 박리 확인 시험][Test to confirm peeling of the middle-surface peeling film on the sensor]
직경 200㎜의 실리콘 미러 웨이퍼에, 수지막 형성용 시트로부터 경면 박리 필름을 벗긴, 노출된 수지막 형성 필름을 첩부했다(첩부 조건은, 라미네이트 롤러 온도가 60℃, 압력이 0.3㎫, 속도가 1m/분). 그 후, 강제(鋼製) 절단날로, 웨이퍼의 형상에 맞추어 원형으로, 수지막 형성 필름 및 중면 박리 필름을 절단했다. 그 다음에, 중면 박리 필름의 수지막 형성 필름과는 반대면에, 폭 20㎜의 장척의 점착 테이프(박리 테이프)를 부착시키고, 수지막 형성 필름으로부터 중면 박리 필름을 벗겼다. 벗긴 직경 200㎜의 원형의 중면 박리 필름에 대해서, 진행 속도 80㎜/초로 KEYENCE CORPORATION 제조 FU-12의 투과형 센서를 통과시키고, 중면 박리 필름의 통과 전, 통과 중 및 통과 후의 동작(즉, 중면 박리 필름이 박리되어 센서를 통과했는지의 여부)을 즉시 올바르게 확인할 수 있는지를 시험했다. 결과를 표 4에 나타낸다. 중면 박리 필름의 박리를 확인할 수 있었던 경우를 「가능」이라고 하고, 확인할 수 없는 경우를 「불가」라고 했다.On a silicon mirror wafer having a diameter of 200 mm, an exposed resin film was attached by peeling off the mirror-like release film from the resin film forming sheet (attachment conditions were: a laminating roller temperature of 60°C, a pressure of 0.3 MPa, and a speed of 1 m/min). Thereafter, the resin film forming film and the middle-surface release film were cut into a circle according to the shape of the wafer using a steel cutting blade. Next, a long adhesive tape (release tape) having a width of 20 mm was attached to the opposite side of the middle-surface release film to the resin film forming film, and the middle-surface release film was peeled from the resin film forming film. A circular middle-surface peeling film with a peeled diameter of 200 mm was passed through a transmission sensor of FU-12 manufactured by KEYENCE CORPORATION at a traveling speed of 80 mm/sec, and a test was conducted to see whether the behavior before, during, and after passage of the middle-surface peeling film (i.e., whether the middle-surface peeling film was peeled and passed through the sensor) could be immediately and correctly confirmed. The results are shown in Table 4. Cases where peeling of the middle-surface peeling film could be confirmed were considered “possible,” and cases where it could not be confirmed were considered “impossible.”
[표 4][Table 4]
표 4에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 수지막 형성용 시트에 사용하는 중면 박리 필름은 식별성이 높아, 그 박리의 확인을 확실하게 행할 수 있다.As shown in Table 4, the middle-surface peeling film used in the resin film forming sheet of the present invention has high identification, so that the peeling can be confirmed with certainty.
10: 수지막 형성용 시트(본 실시형태)
11: 수지막 형성 필름
12: 중면 박리 필름
13: 경면 박리 필름10: Sheet for forming a resin film (present embodiment)
11: Resin film formation film
12: Middle peeling film
13: Hard-surface peeling film
Claims (6)
상기 수지막 형성 필름의 한쪽 면에 마련된 중면 박리 필름과,
상기 수지막 형성 필름의 다른쪽 면에 마련된 경면 박리 필름을 갖고,
상기 중면 박리 필름의 상기 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F1로 하고, 상기 경면 박리 필름의 상기 수지막 형성 필름으로부터의 박리력을 F2로 한 경우에, F1 > F2인 관계를 만족하고,
상기 중면 박리 필름은, 555㎚의 광선 투과율이 80% 이하인 것, 및 헤이즈가 4% 이상인 것 중 어느 한쪽, 또는 양쪽 모두를 만족하는, 수지막 형성용 시트.A resin film forming film for forming a resin film,
A middle-side peeling film provided on one side of the above resin film forming film,
Having a hard-surface peeling film provided on the other side of the above resin film forming film,
When the peeling force of the above-mentioned middle-surface peeling film from the above-mentioned resin film forming film is F1, and the peeling force of the above-mentioned hard-surface peeling film from the above-mentioned resin film forming film is F2, the relationship F1 > F2 is satisfied,
The above-mentioned middle-surface peeling film is a sheet for forming a resin film, which satisfies either one or both of a light transmittance of 555 nm of 80% or less and a haze of 4% or more.
상기 중면 박리 필름의 적어도 한쪽 면은, 조면화되어 있는, 수지막 형성용 시트.In the first paragraph,
A sheet for forming a resin film, at least one side of the above-mentioned middle-surface peeling film being roughened.
상기 중면 박리 필름은, 착색되어 있는, 수지막 형성용 시트.In the first paragraph,
The above-mentioned middle-surface peeling film is a colored sheet for forming a resin film.
상기 수지막 형성 필름의 중면 박리 필름과의 접촉 표면의 400 ∼ 800㎚에서의 광선 반사율의 평균값은 40% 이하인, 수지막 형성용 시트.In the first paragraph,
A sheet for forming a resin film, wherein the average value of the light reflectance at 400 to 800 nm of the contact surface of the resin film forming film with the middle-surface peeling film is 40% or less.
상기 중면 박리 필름의 수지막 형성 필름과의 접촉 표면의 산술 평균 높이 Sa는 0.03㎛ 미만인, 수지막 형성용 시트.In the first paragraph,
A sheet for forming a resin film, wherein the arithmetic mean height Sa of the contact surface of the above-mentioned middle-surface peeling film and the resin film forming film is less than 0.03 ㎛.
워크에 첩부된 수지막 형성 필름으로부터 중면 박리 필름을 박리하는 공정, 및 중면 박리 필름의 박리를 확인하는 공정을 갖는, 워크의 가공 방법.
A process of peeling off the surface release film of the resin film forming sheet described in any one of claims 1 to 5 and attaching the exposed resin film forming film to a workpiece.
A method for processing a work, comprising: a process for peeling a middle-surface peeling film from a resin film forming film attached to a work; and a process for confirming peeling of the middle-surface peeling film.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2023-036010 | 2023-03-08 | ||
JP2023036010A JP2024127113A (en) | 2023-03-08 | 2023-03-08 | Sheet for forming resin film and method for processing workpiece |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20240137460A true KR20240137460A (en) | 2024-09-20 |
Family
ID=92600675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020240008948A KR20240137460A (en) | 2023-03-08 | 2024-01-19 | Sheet for forming resin film and workpiece processing method |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2024127113A (en) |
KR (1) | KR20240137460A (en) |
CN (1) | CN118617827A (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022032571A (en) | 2020-08-12 | 2022-02-25 | リンテック株式会社 | Protective film forming sheet and manufacturing method thereof |
-
2023
- 2023-03-08 JP JP2023036010A patent/JP2024127113A/en active Pending
-
2024
- 2024-01-19 KR KR1020240008948A patent/KR20240137460A/en unknown
- 2024-03-07 CN CN202410259330.6A patent/CN118617827A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022032571A (en) | 2020-08-12 | 2022-02-25 | リンテック株式会社 | Protective film forming sheet and manufacturing method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2024127113A (en) | 2024-09-20 |
CN118617827A (en) | 2024-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI634187B (en) | Protective film forming film, protective film forming sheet, and inspection method | |
TWI664688B (en) | Protective film forming film, protective film forming sheet, protective film forming composite sheet, and inspection method | |
TWI672353B (en) | Protective film forming film, protective film forming sheet, and method of producing the same | |
TW201544571A (en) | Protection membrane forming film, protection membrane forming utilization sheet, production method and inspection method for workpiece or processed product, workpiece determined as adequate product, and processed product determined as adequate product | |
WO2016158727A1 (en) | Sheet for forming resin film and composite sheet for forming resin film | |
JP7448441B2 (en) | Protective film forming sheet and manufacturing method thereof | |
KR20220020769A (en) | Manufacturing method for protective film formation sheet roll | |
JP7544528B2 (en) | Sheet for forming protective film and method for producing same | |
JP7555758B2 (en) | Sheet for forming protective film and processing method for sheet for forming protective film | |
CN114599517B (en) | Film for forming protective film, composite sheet for forming protective film, and method for producing small sheet with protective film | |
KR20220130007A (en) | Supporting sheet, composite sheet for protective film formation and device manufacturing method | |
KR20240137460A (en) | Sheet for forming resin film and workpiece processing method | |
JP2024127111A (en) | Sheet for forming resin film and method for processing workpiece | |
JP7453879B2 (en) | Protective film forming sheet roll and protective film forming sheet roll manufacturing method | |
TW202436115A (en) | Resin film forming sheet and workpiece processing method | |
TW202436119A (en) | Resin film forming sheet and workpiece processing method | |
CN115851144A (en) | Protective film forming film, protective film forming sheet, protective film forming composite sheet, rework method, and device manufacturing method |