KR20240070082A - Apparatus of lateral shearing phase contrast imaging device - Google Patents

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KR20240070082A
KR20240070082A KR1020220151462A KR20220151462A KR20240070082A KR 20240070082 A KR20240070082 A KR 20240070082A KR 1020220151462 A KR1020220151462 A KR 1020220151462A KR 20220151462 A KR20220151462 A KR 20220151462A KR 20240070082 A KR20240070082 A KR 20240070082A
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KR1020220151462A
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주기남
박효미
조진희
강면구
김진섭
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조선대학교산학협력단
(주)에이앤아이
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Abstract

본 발명은 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 관한 것으로서, 광원으로부터 출력되는 광을 측정대상물에 조사시켜, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 획득하는 광학모듈과, 상기 광학모듈에서 획득한 반사광을 층밀림시키기 위해 해당 반사광을 편광시켜 미러부에 조사하고, 상기 미러부에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부를 구비한다.
본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치는 측정대상체로부터 반사된 반사광을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 획득할 수 있으므로 구조가 비교적 단순하여 제조에 소요되는 비용 및 인력을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명은 종래의 일반적인 간섭계와 달리 기준광이 요구되지 않으므로 외부로부터 진동이 인가되더라도 보다 신뢰성이 높은 광 간섭신호를 획득할 수 있다.
그리고, 본 발명은 기존의 광학 현미경의 광검출부를 대신하여 층밀림 간섭계를 이용한 광검출모듈을 장착하여 구성할 수 있으므로 광강도 영상과 위상 영상을 동시에 획득하는 것이 가능하다.
The present invention relates to a layer-slipped phase difference image acquisition module device, which includes an optical module that irradiates light output from a light source to a measurement object to obtain reflected light reflected from the measurement object, and a layer-slipped phase difference image acquisition module device that acquires reflected light reflected from the measurement object. In order to do this, the reflected light is polarized and irradiated to the mirror unit, and a signal generator is provided to generate an optical interference signal through the light reflected from the mirror unit.
The layer-sliding phase difference image acquisition module device according to the present invention can acquire an optical interference signal by layer-sliding the reflected light reflected from the measurement object using a polarizer, so the structure is relatively simple, which can reduce the cost and manpower required for manufacturing. there is.
In addition, unlike conventional interferometers, the present invention does not require reference light, so a more reliable optical interference signal can be obtained even when vibration is applied from the outside.
In addition, since the present invention can be configured by installing a light detection module using a layer-push interferometer instead of the light detection unit of a conventional optical microscope, it is possible to simultaneously acquire light intensity images and phase images.

Description

층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치{Apparatus of lateral shearing phase contrast imaging device}Apparatus of lateral shearing phase contrast imaging device}

본 발명은 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 관한 것으로서, 측정대상물에 반사된 반사광을 편광 및 회절시켜 획득한 광을 토대로 광간섭 신호를 획득할 수 있는 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a shearing phase difference image acquisition module device, which is capable of acquiring an optical interference signal based on light obtained by polarizing and diffracting reflected light reflected from a measurement object.

오늘날 현미경 결상광학계 기술은 광학, 생명공학 및 여러 분야에서 널리 활용되고 있다. 특히, 생명공학에서 다루는 조직 관찰은 살아있는 세포의 구조 및 특성을 분석하기 위해 현미경 사용이 필수적이지만, 세포의 투명한 특징으로 인해 기본 광학 현미경 사용시 세포의 관찰 및 분석에 한계점이 존재하기에 위상차 현미경(phase contrast microscopy) 및 미분 간섭 현미경(Differential interference contrast microscopy)를 사용한다. Today, microscope imaging optical system technology is widely used in optics, biotechnology, and many other fields. In particular, the use of a microscope is essential for tissue observation in biotechnology to analyze the structure and characteristics of living cells. However, due to the transparent nature of cells, there are limitations in observing and analyzing cells when using a basic optical microscope, so phase contrast microscopy (phase contrast microscopy) Contrast microscopy and differential interference contrast microscopy are used.

이 중에서 위상차 현미경은 물질을 통과한 빛이 투명한 시편의 굴절률에 의해 위상차를 갖게 되었을 때 이를 명암으로 바꾸어 시편을 입체적으로 관찰하는 기술이 활용되고 있다. 또한, 미분 간섭 현미경은 복굴절 물질을 통해 빛의 간섭을 발생시켜 관찰하는 시편 이미지의 대비를 극대화하는 기술을 활용한다. Among these, phase contrast microscopy is a technology used to observe the specimen in three dimensions by converting it into light and dark when the light passing through the material has a phase difference due to the refractive index of the transparent specimen. In addition, differential interference microscopy utilizes a technology that maximizes the contrast of the image of the observed specimen by generating light interference through a birefringent material.

특히, 살아있는 세포를 관찰할 때, 투명한 세포의 설징에 의해 광학 현미경으로는 관찰이 어려워 위상사 현미경을 사용한다. 위상차 현미경은 세포의 굴절률을 통해 나뉘어지는 산란광과 배경광의 간섭을 통해 세포의 위상을 검출하여 명암의 대비를 극대화시켜 세포의 영상을 얻는다. 그러나, 종래의 위상차 현미경은 구조가 복잡하고, 제조에 소요되는 비용 및 인력이 비교적 높다는 단점이 있다. 또한, 종래의 위상차 현미경은 일반적인 현미경에서 획득되는 광강도 영상 획득이 어렵다.In particular, when observing living cells, it is difficult to observe them with an optical microscope due to the transparent appearance of the cells, so a phase contrast microscope is used. Phase-contrast microscopy obtains images of cells by maximizing contrast between light and dark by detecting the phase of cells through the interference of scattered light and background light, which are divided through the refractive index of cells. However, conventional phase contrast microscopes have the disadvantage of having a complex structure and relatively high manufacturing costs and manpower. Additionally, it is difficult for a conventional phase contrast microscope to acquire light intensity images obtained from a general microscope.

등록특허공보 제10-1595858호: 광학부품 및 광학부품을 이용한 위상차 현미경Registered Patent Publication No. 10-1595858: Optical components and phase contrast microscope using optical components

본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창안된 것으로서, 측정대상체로부터 반사된 반사광을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 발생시킬 수 있는 층밀림 간섭계를 이용한 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention was created to improve the above problems, and includes a layer-throw phase difference image acquisition module device using a layer-throw interferometer that can generate an optical interference signal by layer-thrive the reflected light reflected from the measurement object using a polarizer. The purpose is to provide.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치는 광원으로부터 출력되는 광을 측정대상물에 조사시켜, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 획득하는 광학모듈과, 상기 광학모듈에서 획득한 반사광을 층밀림시키기 위해 해당 반사광을 편광시켜 미러부에 조사하고, 상기 미러부에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부를 구비한다. To achieve the above object, the layer shear phase difference image acquisition module device according to the present invention includes an optical module that irradiates light output from a light source to a measurement object and acquires reflected light reflected from the measurement object, and In order to deflect the reflected light, the reflected light is polarized and irradiated to the mirror, and a signal generator is provided to generate an optical interference signal through the light reflected from the mirror.

상기 신호생성부는 상기 광학모듈에서 입사되는 반사광의 광 경로 상에 설치되어 해당 반사광을 편광시키는 선형편광기와, 상기 선형편광기에서 편광된 반사광을 상기 미러부에 조사하는 빔스플리터와, 상기 빔스플리터 및 미러부 사이에 설치되며, 상기 미러부로 입사되는 상기 반사광을 편광시키되, 해당 반사광을 상호 상이한 방향으로 회절되는 복수의 편광으로 분할하며, 상기 미러부에서 반사되는 상기 편광들을 재차 회절시키는 제1편광부와, 상기 편광부에서 출사되는 편광들을 검출하고, 검출된 편광들을 토대로 광간섭 신호를 생성하는 광검출 모듈을 구비한다. The signal generator includes a linear polarizer installed on the optical path of the reflected light incident from the optical module to polarize the reflected light, a beam splitter that irradiates the reflected light polarized by the linear polarizer to the mirror, and the beam splitter and mirror. A first polarizing unit installed between the units, polarizing the reflected light incident on the mirror unit, splitting the reflected light into a plurality of polarized lights diffracted in different directions, and diffracting the polarized light reflected from the mirror unit again; , and is provided with a light detection module that detects polarized light emitted from the polarization unit and generates an optical interference signal based on the detected polarized light.

상기 제1편광부는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 반사광을, 해당 반사광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 미러부로 출력되는 좌원 편광 및 우원 편광으로 분할하고, 상기 미러부에서 반사된 상기 좌원 편광 및 우원 편광을 상기 반사광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사한다. The first polarization unit divides the reflected light incident from the beam splitter into left-circular polarization and right-circular polarization, which are diffracted in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the reflected light and output to the mirror unit. The reflected left-circularly polarized light and right-circularly polarized light are emitted to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis of the reflected light.

상기 빔스플리터는 상기 선광 편광기에서 입사되는 반사광을 상호 교차되는 방향으로 출사되는 제1 및 제2분할광으로 분할하고, 상기 미러부는 해당 제1분할광의 광 경로 상에 설치되는 제1미러와, 해당 제2분할광의 광 경로 상에 설치되는 제2미러를 구비하고, 상기 제1편광부는 상기 빔스플리터 및 제1미러 사이에 설치되어 상기 제1분할광을 편광시키되, 해당 제1분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제1미러로 출사하고, 상기 제1미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제1편광부재와, 상기 빔스플리터 및 제2미러 사이에 설치되어 상기 제2분할광을 편광시키되, 해당 제2분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제2미러로 출사하고, 상기 제2미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제2편광부재를 구비한다. The beam splitter splits the reflected light incident from the polarizer into first and second split lights that are emitted in mutually intersecting directions, and the mirror unit includes a first mirror installed on the optical path of the first split light, and It has a second mirror installed on the optical path of the second split light, and the first polarization unit is installed between the beam splitter and the first mirror to polarize the first split light, and divides the first split light into a plurality of A first polarizing member that diffracts and splits polarized light and emits it to the first mirror, diffracts the polarized light reflected from the first mirror again and emits it, and is installed between the beam splitter and the second mirror to produce the second split light. It is provided with a second polarizing member that diffracts and splits the second split light into a plurality of polarized lights and emits it to the second mirror, and diffracts the polarized light reflected from the second mirror and emits it again.

상기 제1편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제1분할광을, 해당 제1분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 기준미러로 출력되는 제1좌원 편광 및 제1우원 편광으로 분할하고, 상기 기준미러에서 반사된 상기 제1좌원 편광 및 제1우원 편광을 상기 제1분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사한다. The first polarizing member diffracts the first split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the first split light, and outputs the first left circular polarization and the first split light to the reference mirror. Split into 1 right circularly polarized light, and the first left circularly polarized light and the first right circularly polarized light reflected from the reference mirror are emitted to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis of the first split light.

상기 제2편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제2분할광을, 해당 제2분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회전되어 상기 고정미러로 출력되는 제2좌원 편광 및 제2우원 편광으로 분할하고, 상기 고정미러에서 반사된 상기 제2좌원 편광 및 제2우원 편광을 상기 제2분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사한다. The second polarizing member rotates the second split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the second split light, and outputs the second left circular polarization and the second split light to the fixed mirror. Split into two right circularly polarized lights, the second left circularly polarized light and the second right circularly polarized light reflected from the fixed mirror are emitted to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis of the second split light.

상기 신호생성부는 상기 미러부에 설치되며, 상기 반사광의 층밀림량을 조절할 수 있도록 상기 미러부를 상기 편광부에 인접되거나 멀어지게 이동시키는 구동기를 더 구비할 수 있다. The signal generator may be installed in the mirror unit, and may further include a driver that moves the mirror unit closer to or away from the polarization unit to adjust the amount of layer shedding of the reflected light.

상기 빔스플리터는 상기 미러부에서 반사된 광을 상기 광검출모듈로 출사하고, 상기 광검출 모듈은 상기 빔스플리터에서 출사되는 광을 검출하는 광검출부와, 상기 빔스플리터 및 카메라 사이에 설치되며, 해당 카메라로 입사되는 광을 편광시키는 제2편광부를 구비한다. The beam splitter emits the light reflected from the mirror unit to the light detection module, and the light detection module is installed between a light detection unit that detects the light emitted from the beam splitter, the beam splitter, and the camera, A second polarizer is provided to polarize light incident on the camera.

상기 광학모듈은 상기 광원에서 출력되는 광을 반사하여 상기 측정대상물에 입사시키되, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 투과시켜 상기 신호생성부로 출사하는 광분배기를 구비한다. The optical module reflects the light output from the light source and makes it incident on the measurement object, and includes an optical splitter that transmits the reflected light reflected from the measurement object and emits it to the signal generator.

상기 광학모듈은 상기 광원 및 광분배기 사이에 설치되어 상기 광원에서 출력되는 광을 평행광으로 시준시키는 콜리메이팅 렌즈를 더 구비할 수 있다. The optical module may further include a collimating lens installed between the light source and the optical distributor to collimate the light output from the light source into parallel light.

상기 신호생성부는 상기 선형 편광기와 빔스플리터 사이에 설치되어 상기 선형 편광기에서 편광된 반사광을 집속시켜 상기 빔스플리터로 출사하는 튜브렌즈를 더 구비할 수 있다. The signal generator may further include a tube lens installed between the linear polarizer and the beam splitter to focus the reflected light polarized by the linear polarizer and output it to the beam splitter.

본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치는 측정대상체로부터 반사된 반사광을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 획득할 수 있으므로 구조가 비교적 단순하여 제조에 소요되는 비용 및 인력을 절감할 수 있다. The layer-sliding phase difference image acquisition module device according to the present invention can acquire an optical interference signal by layer-sliding the reflected light reflected from the measurement object using a polarizer, so the structure is relatively simple, which can reduce the cost and manpower required for manufacturing. there is.

또한, 본 발명은 종래의 일반적인 간섭계와 달리 기준광이 요구되지 않으므로 외부로부터 진동이 인가되더라도 보다 신뢰성이 높은 광 간섭신호를 획득할 수 있다.In addition, unlike conventional interferometers, the present invention does not require reference light, so a more reliable optical interference signal can be obtained even when vibration is applied from the outside.

그리고, 본 발명은 기존의 광학 현미경의 광검출부를 대신하여 층밀림 간섭계를 이용한 광검출모듈을 장착하여 구성할 수 있으므로 광강도 영상과 위상 영상을 동시에 획득하는 것이 가능하다. In addition, the present invention can be configured by installing a light detection module using a layer-push interferometer instead of the light detection unit of a conventional optical microscope, so it is possible to simultaneously acquire light intensity images and phase images.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 대한 개념도이고,
도 2 및 도 3은 도 1의 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치의 제1편광부에 대한 개념도이고,
도 4는 도 1의 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치의 광검출 모듈에 대한 도면이고,
도 5는 도 1의 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치의 광검출 모듈에서 획득한 광 간섭신호에 대한 예시도이고,
도 6 내지 도 13은 혈관에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치에서 획득한 분석 영상이고,
도 14 및 도 15은 간에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치에서 획득한 분석 영상이고,
도 16 내지 도 20은 신장에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치에서 획득한 분석 영상이다.
1 is a conceptual diagram of a layer shear phase difference image acquisition module device according to an embodiment of the present invention;
Figures 2 and 3 are conceptual diagrams of the first polarization unit of the layer-sliding phase contrast image acquisition module device of Figure 1;
Figure 4 is a diagram of the photodetection module of the layer shear phase difference image acquisition module device of Figure 1;
FIG. 5 is an exemplary diagram of an optical interference signal acquired from the optical detection module of the layer shear phase difference image acquisition module device of FIG. 1;
6 to 13 are analysis images obtained by the layer milling phase contrast image acquisition module device of the present invention for blood vessels;
14 and 15 are analysis images obtained from the layer milling phase contrast image acquisition module device of the present invention for the liver;
Figures 16 to 20 are analysis images obtained from the layer milling phase contrast image acquisition module device of the present invention for the kidney.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, a layer shear phase difference image acquisition module device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings. Since the present invention can be subject to various changes and can have various forms, specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to a specific disclosed form, and should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention. While describing each drawing, similar reference numerals are used for similar components. In the attached drawings, the dimensions of the structures are enlarged from the actual size for clarity of the present invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, a first component may be named a second component, and similarly, the second component may also be named a first component without departing from the scope of the present invention.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in this application are only used to describe specific embodiments and are not intended to limit the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate the presence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but are not intended to indicate the presence of one or more other features. It should be understood that this does not exclude in advance the possibility of the existence or addition of elements, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as generally understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains. Terms defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and should not be interpreted in an ideal or excessively formal sense unless explicitly defined in the present application. No.

도 1 내지 도 4에는 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)가 도시되어 있다. 1 to 4 show a layer shear phase difference image acquisition module device 100 according to the present invention.

도면을 참조하면, 상기 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)는 광원(200)으로부터 출력되는 광을 측정대상물(10)에 조사시켜, 해당 측정대상물(10)로부터 반사되는 반사광(11)을 획득하는 광학모듈(300)과, 상기 광학모듈(300)에서 획득한 반사광(11)을 층밀림시키기 위해 해당 반사광(11)을 편광시켜 미러부(500)에 조사하고, 상기 미러부(500)에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부(400)를 구비한다. Referring to the drawing, the layer shear phase difference image acquisition module device 100 radiates light output from the light source 200 to the measurement object 10 to obtain reflected light 11 reflected from the measurement object 10. In order to push the reflected light 11 obtained from the optical module 300, the reflected light 11 is polarized and irradiated to the mirror unit 500, It is provided with a signal generator 400 that generates an optical interference signal through reflected light.

광원(200)은 측정대상물(10)을 촬상하는데 이용하게 될 광을 생성한다. 즉, 해당 광원(200)은 측정대상물(10)에 입사될 광을 생성하며, 후술되는 광학모듈(300)의 시준기로 광을 조사한다. 상기 광원(200)은 fiber-coupled LED가 적용되며, 554nm 파장의 광을 출력한다. The light source 200 generates light to be used to image the measurement object 10. That is, the light source 200 generates light to be incident on the measurement object 10, and irradiates the light with a collimator of the optical module 300, which will be described later. The light source 200 uses a fiber-coupled LED and outputs light with a wavelength of 554 nm.

광학모듈(300)은 광분배기(310), 콜리메이팅 렌즈(320), 대물렌즈(330)를 구비한다. The optical module 300 includes an optical splitter 310, a collimating lens 320, and an objective lens 330.

광분배기(310)는 광원(200)에서 입사되는 광의 광 경로 상에 설치되며, 광원(200)에서 입사되는 광을 측정대상물(10)로 반사하고, 측정대상물(10)에서 반사되는 반사광(11)을 투과시킨다. 해당 광분배기(310)는 입사되는 광을 분배하기 위해 종래에 일반적으로 사용되는 스플리터가 적용되므로 상세한 설명은 생략한다. The optical splitter 310 is installed on the optical path of the light incident from the light source 200, reflects the light incident from the light source 200 to the measurement object 10, and reflects the reflected light 11 reflected from the measurement object 10. ) is transmitted. Since the optical splitter 310 is a splitter commonly used in the related art to distribute incident light, a detailed description will be omitted.

콜리메이팅 렌즈(320)는 광원(200)과 광분배기(310) 사이에 설치되어 광원(200)에서 출력되는 광을 평행광으로 시준시킨다. 콜리메이팅 렌즈(320)를 통과한 광은 광분배기(310)에 입사되고, 해당 광분배기(310)에 의해 측정대상물(10)로 입사된다. The collimating lens 320 is installed between the light source 200 and the optical distributor 310 to collimate the light output from the light source 200 into parallel light. The light passing through the collimating lens 320 is incident on the optical splitter 310, and is incident on the measurement object 10 by the optical splitter 310.

대물렌즈(330)는 측정대상물(10)과 광분배기(310) 사이에 설치되어 광분배기(310)에서 입사되는 광을 굴절시켜 초점을 맞추어 측정대상물(10)에 입사시킨다. 측정대상물(10)에 반사되는 반사광(11)은 대물렌즈(330)로 입사되는데, 해당 대물렌즈(330)는 해당 반사광(11)을 굴절시켜 평행광으로 시준시켜 광분배기(310)로 출력한다. 해당 반사광(11)은 광분배기(310)를 통해 신호생성부(400)로 출사된다. The objective lens 330 is installed between the measurement object 10 and the optical splitter 310 to refract and focus the light incident from the optical splitter 310 and make it enter the measurement object 10. The reflected light 11 reflected by the measurement object 10 is incident on the objective lens 330. The objective lens 330 refracts the reflected light 11, collimates it into parallel light, and outputs it to the optical splitter 310. . The reflected light 11 is emitted to the signal generator 400 through the optical splitter 310.

신호생성부(400)는 선형편광기(410), 튜브렌즈(420), 빔스플리터(430), 제1편광부(440) 및 광검출 모듈(450)을 구비한다. The signal generator 400 includes a linear polarizer 410, a tube lens 420, a beam splitter 430, a first polarizer 440, and a light detection module 450.

상기 선형편광기(410)는 광분배기(310)를 투과한 반사광(11)을 편광시켜 빔스플리터(430)로 출사한다. 해당 선형편광기(410)는 입사되는 광의 편광 상태를 선형 편광 상태로 조정하여 출력하기 위해 종래에 일반적으로 사용되는 편광수단이 적용되므로 상세한 설명은 생략한다. The linear polarizer 410 polarizes the reflected light 11 that passes through the optical splitter 310 and outputs it to the beam splitter 430. Since the linear polarizer 410 uses a polarization means generally used in the related art to adjust the polarization state of the incident light to a linear polarization state and output it, a detailed description thereof will be omitted.

튜브렌즈(420)는 선형편광기(410) 및 빔스플리터(430) 사이의 반사광(11)의 광 경로 상에 설치되며, 상기 선형 편광기에서 편광된 반사광(11)을 집속시켜 상기 빔스플리터(430)로 출사한다. The tube lens 420 is installed on the optical path of the reflected light 11 between the linear polarizer 410 and the beam splitter 430, and focuses the reflected light 11 polarized by the linear polarizer to form the beam splitter 430. Enter the military service as

빔스플리터(430)는 상기 선형편광기(410)에서 편광된 반사광(11)을 상기 미러부(500)에 조사하고, 해당 미러부(500)에서 반사된 광을 광검출 모듈(450)에 출사한다. 여기서, 빔스플리터(430)는 상기 선광 편광기에서 입사되는 반사광(11)을 상호 교차되는 방향으로 출사되는 제1 및 제2분할광(12,13)으로 분할하여 출사한다. The beam splitter 430 irradiates the reflected light 11 polarized by the linear polarizer 410 to the mirror unit 500, and emits the light reflected from the mirror unit 500 to the light detection module 450. . Here, the beam splitter 430 divides the reflected light 11 incident from the polarizer into first and second split lights 12 and 13 that are emitted in mutually intersecting directions.

여기서, 빔스플리터(430)는 입사되는 반사광(11) 중 일부를 직선편광시켜 입사방향과 직교되는 90˚방향으로 반사시키고, 반사광(11) 중 나머지를 직선편광시켜 입사방향을 따라 투과시킬 수 있는 편광 빔 스플리터(PBS)가 적용될 수도 있다. 여기서, 빔스플리터(430)에 의해 입사방향과 직교되는 90˚방향으로 반사되는 광이 제1분할광(12)이고, 입사방향을 따라 투과되는 광이 제2분할광(13)으로 설정된다. Here, the beam splitter 430 linearly polarizes some of the incident reflected light 11 to reflect it in a 90° direction orthogonal to the incident direction, and linearly polarizes the remainder of the reflected light 11 to transmit it along the incident direction. A polarizing beam splitter (PBS) may be applied. Here, the light reflected by the beam splitter 430 in a 90° direction orthogonal to the incident direction is set as the first split light 12, and the light transmitted along the incident direction is set as the second split light 13.

상기 미러부(500)는 해당 제1분할광(12)의 광 경로 상에 설치되어 입사되는 광을 빔스플리터(430)로 반사하는 제1미러(510)와, 해당 제2분할광(13)의 광 경로 상에 설치되어 입사되는 광을 빔스플리터(430)로 반사하는 제2미러(520)를 구비한다. 한편, 도면에 도시되진 않았지만, 미러부(500) 즉, 제1미러(510) 및 제2미러(520)의 하부에는 해당 제1미러(510) 및 제2미러(520)를 이동시키기 위한 구동기(미도시)가 각각 설치되어 있다. 해당 구동기는 상기 제1미러(510) 또는 제2미러(520)를 제1분할광(12) 또는 제2분할광(13)의 광 경로를 따라 편광부에 인접되거나 멀어지게 이동시킨다. 상기 구동기를 통해 미러부(500)와 제1편광부(440) 사이의 이격거리를 조절하여 반사광(11)의 층밀림량을 조절할 수 있다. The mirror unit 500 includes a first mirror 510 installed on the optical path of the first split light 12 and reflecting the incident light to the beam splitter 430, and a second split light 13. It is provided with a second mirror 520 that is installed on the optical path and reflects the incident light to the beam splitter 430. Meanwhile, although not shown in the drawing, a driver for moving the first mirror 510 and the second mirror 520 is provided at the bottom of the mirror unit 500, that is, the first mirror 510 and the second mirror 520. (not shown) is installed respectively. The corresponding driver moves the first mirror 510 or the second mirror 520 to be adjacent to or away from the polarization unit along the optical path of the first split light 12 or the second split light 13. The amount of layer shedding of the reflected light 11 can be adjusted by adjusting the separation distance between the mirror unit 500 and the first polarizing unit 440 through the driver.

제1편광부(440)는 상기 빔스플리터(430)로부터 입사되는 반사광(11)을, 해당 반사광(11)의 광축 선(14)에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 미러부(500)로 출력되는 좌원 편광 및 우원 편광으로 분할하고, 상기 미러부(500)에서 반사된 상기 좌원 편광 및 우원 편광을 상기 반사광(11)의 광축 선(14)과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터(430)에 출사한다. 여기서, 제1편광부(440)는 편광격자로 이루어진 제1편광부재(441) 및 제2편광부재(442)를 구비한다. The first polarizing unit 440 diffracts the reflected light 11 incident from the beam splitter 430 in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line 14 of the reflected light 11, thereby diffracting the reflected light 11 incident from the beam splitter 430 into mutually different directions. It is divided into left-circularly polarized light and right-circularly polarized light output to 500, and the left-circularly polarized light and right-circularly polarized light reflected from the mirror unit 500 are split in a direction parallel to the optical axis line 14 of the reflected light 11 through the beam splitter ( 430). Here, the first polarizing unit 440 includes a first polarizing member 441 and a second polarizing member 442 made of a polarizing grid.

상기 제1편광부재(441)는 상기 빔스플리터(430) 및 제1미러(510) 사이에 설치되어 상기 제1분할광(12)을 편광시키되, 해당 제1분할광(12)을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제1미러(510)로 출사한다. 또한, 제1편광부재(441)는 제1미러(510)에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사한다. The first polarizing member 441 is installed between the beam splitter 430 and the first mirror 510 to polarize the first split light 12, and divides the first split light 12 into a plurality of polarizations. It is diffracted and divided and output to the first mirror 510. Additionally, the first polarizing member 441 diffracts the polarized light reflected from the first mirror 510 again and emits it.

도 3을 참조하여 상기 제1편광부재(441)를 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다. The first polarizing member 441 will be described in more detail with reference to FIG. 3 as follows.

빔스플리터(430)에서 제1편광부재(441)로 입사되는 제1분할광(12)은 해당 제1편광부재(441)에 의해 편광된 상태로 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)으로 분할되어 제1미러(510)로 출사된다. 이때, 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 해당 제1편광부재(441)의 회절 격자 특성에 의해 해당 제1분할광(12)의 광축 선(14)에 대해 소정의 회절 각도(θ)를 갖고 상호 상이한 방향으로 출사된다. 한편, 제1미러(510)에 의해 반사된 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 제1편광부재(441)로 재입사되는데, 상기 제1편광부재(441)의 회절격자 특성에 의해 반사된 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 제1분할광(12)의 광축 선(14)과 나란한 방향 즉, 제1분할광(12)과 평행하게 빔스플리터(430)에 출사된다. 여기서, 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 제1편광부재(441)와 제1미러(510) 사이의 이격거리와, 제1편광부재(441)에서 발생하는 회절 각도(θ)에 의해 하기의 수학식 1과 같은 층밀림이 발생한다.The first split light 12 incident from the beam splitter 430 to the first polarizing member 441 is polarized by the first polarizing member 441 and is divided into first left circular polarization 15 and first right circular polarization. It is divided into (16) and output to the first mirror (510). At this time, the first left circular polarization 15 and the first right circular polarization 16 are predetermined with respect to the optical axis line 14 of the first split light 12 according to the diffraction grating characteristics of the first polarization member 441. They have a diffraction angle (θ) and are emitted in different directions. Meanwhile, the first left circularly polarized light 15 and the first right circularly polarized light 16 reflected by the first mirror 510 are re-incident to the first polarizing member 441, and are diffracted by the first polarizing member 441. The first left circularly polarized light 15 and the first right circularly polarized light 16 reflected by the grating characteristic are oriented parallel to the optical axis line 14 of the first split light 12, that is, parallel to the first split light 12. It is emitted from the beam splitter (430). Here, the first left circular polarization 15 and the first right circular polarization 16 are the separation distance between the first polarizing member 441 and the first mirror 510, and the diffraction angle occurring in the first polarizing member 441. (θ) causes floor shedding as shown in Equation 1 below.

Figure pat00001
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여기서, △s 는 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)에서 발생되는 층밀림 값이고, d는 제1편광부재(441)와 제1미러(510) 사이의 이격거리이고, θ는 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)의 회절 각도이다. 즉, 수학식 1에 의하면, 제1미러(510)와 제1편광부재(441) 사이의 이격거리가 변경되면 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)에서 발생되는 층밀림 값이 변경됨을 알 수 있다. Here, △s is the layer shedding value generated from the first left-handed circularly polarized light 15 and the first right-handed circularly polarized light 16, and d is the separation distance between the first polarizing member 441 and the first mirror 510, θ is the diffraction angle of the first left-handed circularly polarized light 15 and the first right-handed circularly polarized light 16. That is, according to Equation 1, when the separation distance between the first mirror 510 and the first polarizing member 441 is changed, the layer shedding value generated in the first left circular polarization 15 and the first right circular polarization 16 You can see that this has changed.

제1편광부재(441)에서 출사된 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 빔스플리터(430)에 의해 광검출 모듈(450)로 입사된다. The first left circularly polarized light 15 and the first right circularly polarized light 16 emitted from the first polarizing member 441 are incident on the light detection module 450 by the beam splitter 430.

상기 제2편광부재(442)는 상기 빔스플리터(430) 및 제2미러(520) 사이에 설치되어 제2분할광(13)을 편광시키되, 해당 제1분할광(12)을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 제2미러(520)로 출사한다. 또한, 제2편광부재(442)는 제2미러(520)에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사한다. The second polarizing member 442 is installed between the beam splitter 430 and the second mirror 520 to polarize the second split light 13, and converts the first split light 12 into a plurality of polarized lights. It is diffracted and divided and output to the second mirror 520. Additionally, the second polarizing member 442 diffracts the polarized light reflected from the second mirror 520 again and emits it.

상기 제2편광부재(442)를 보다 상세히 설명하면 다음과 같다. The second polarizing member 442 will be described in more detail as follows.

빔스플리터(430)에서 제2편광부재(442)로 입사되는 제2분할광(13)은 해당 제2편광부재(442)에 의해 편광된 상태로 제2좌원 편광 및 제2우원 편광으로 분할되어 제2미러(520)로 출사된다. 이때, 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 해당 제2편광부재(442)의 회절 격자 특성에 의해 해당 제2분할광(13)의 광축 선(14)에 대해 소정의 회절 각도(θ)를 갖고 상호 상이한 방향으로 출사된다. 한편, 제2미러(520)에 의해 반사된 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 제2편광부재(442)로 재입사되는데, 상기 제2편광부재(442)의 회절격자 특성에 의해 반사된 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 제2분할광(13)의 광축 선(14)과 나란한 방향 즉, 제2분할광(13)과 평행하게 빔스플리터(430)에 출사된다. 여기서, 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 제2편광부재(442)와 제2미러(520) 사이의 이격거리와, 제2편광부재(442)에서 발생하는 회절 각도(θ)에 의해 층밀림이 발생한다. 이때, 제1편광부재(441) 및 제1미러(510)와 같이 제2미러(520)와 제2편광부재(442) 사이의 이격거리가 변경되면 제2좌원 편광 및 제2우원 편광에서 발생되는 층밀림 값이 변경된다. 제2편광부재(442)에서 출사된 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 빔스플리터(430)에 의해 광검출 모듈(450)로 입사된다. The second split light 13 incident from the beam splitter 430 to the second polarizing member 442 is polarized by the second polarizing member 442 and is divided into second left circular polarization and second right circular polarization. It is projected to the second mirror (520). At this time, the second left circular polarization and the second right circular polarization have a predetermined diffraction angle (θ) with respect to the optical axis line 14 of the second split light 13 due to the diffraction grating characteristics of the second polarization member 442. and are emitted in different directions. Meanwhile, the second left circularly polarized light and the second right circularly polarized light reflected by the second mirror 520 are re-incident to the second polarizing member 442, and are reflected by the diffraction grating characteristics of the second polarizing member 442. The second left circular polarization and the second right circular polarization are emitted to the beam splitter 430 in a direction parallel to the optical axis line 14 of the second split light 13, that is, parallel to the second split light 13. Here, the second left-handed circular polarization and the second right-handed circular polarization are determined by the separation distance between the second polarizing member 442 and the second mirror 520 and the diffraction angle (θ) generated in the second polarizing member 442. Jungle occurs. At this time, when the separation distance between the second mirror 520 and the second polarizing member 442 is changed, as in the case of the first polarizing member 441 and the first mirror 510, the second left-circular polarization and the second right-circular polarization are generated. The floor push value is changed. The second left circularly polarized light and the second right circularly polarized light emitted from the second polarizing member 442 are incident on the light detection module 450 by the beam splitter 430.

광검출 모듈(450)은 상기 빔스플리터(430)에서 출사되는 광을 검출하는 광검출부(451)와, 상기 빔스플리터(430) 및 광검출부(451) 사이에 설치되며, 해당 카메라로 입사되는 광을 편광시키는 제2편광부(452)를 구비한다. The light detection module 450 is installed between the light detection unit 451, which detects the light emitted from the beam splitter 430, and the beam splitter 430 and the light detection unit 451, and the light incident to the camera It is provided with a second polarization unit 452 that polarizes.

광검출부(451)는 빔스플리터(430)에서 출사되는 제1좌원 편광(15), 제1우원 편광(16), 제2좌원 편광 및 제2우원 편광을 검출하기 위한 다수의 이미지 센서(453)를 구비한다. 상기 이미지 센서(453)들은 격자형태로 배열되는 것이 바람직하다. 상기 광검출부(451)는 입사되는 좌원 편광 및 우원 편광에 의한 광간섭 신호를 획득할 수 있다. The light detection unit 451 includes a plurality of image sensors 453 for detecting the first left-handed circularly polarized light 15, the first right-handed circularly polarized light 16, the second left-handed circularly polarized light, and the second right-handed circularly polarized light emitted from the beam splitter 430. is provided. The image sensors 453 are preferably arranged in a grid shape. The light detection unit 451 can acquire optical interference signals due to incident left-circularly polarized light and right-handedly polarized light.

제2편광부(452)는 광이 입사되는 영상소자들의 입사면에 각각 설치되는 다수의 제3편광부재(454)를 구비한다. 상기 제3편광부재(454)는 0˚,45˚,90˚,135˚의 투과축을 가진 선형 편광기가 적용된다. 해당 제3편광부재(454)들은 영상소자들에 대응되게 격자형태로 배열되는 것이 바람직하다. 또한, 빔스플리터(430)에서 광이 입사되는 제3편광부재(454)의 입사면에는, 마이크로 렌즈(455)가 설치될 수도 있다. The second polarization unit 452 includes a plurality of third polarization members 454 respectively installed on the incident surfaces of the imaging elements where light is incident. The third polarizing member 454 is a linear polarizer with transmission axes of 0˚, 45˚, 90˚, and 135˚. It is preferable that the third polarizing members 454 are arranged in a grid shape corresponding to the imaging elements. Additionally, a micro lens 455 may be installed on the incident surface of the third polarizing member 454 where light is incident from the beam splitter 430.

상술된 제2편광부(452)에 의해 상기 광검출부(451)는 도 5에 도시된 바와 같이 4장의 위상 천이된 광 간섭신호를 동시에 획득할 수 있다. 여기서, 'X'는 제2분할광(13) 즉, 제2좌원 편광 및 제2우원 편광에 의해 획득된 광간섭신호에 대한 이미지이고, 'Y'는 제1분할광(12) 즉, 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)에 의해 획득된 광간섭 신호에 대한 이미지이고, 'X+Y'는 'X'의 이미지와 'Y'의 이미지를 합성한 이미지이다. By using the above-described second polarization unit 452, the light detection unit 451 can simultaneously acquire four phase-shifted optical interference signals as shown in FIG. 5. Here, ' This is an image of an optical interference signal obtained by first left circular polarization (15) and first right circular polarization (16), and 'X+Y' is an image that combines the image of 'X' and the image of 'Y'.

상기 광검출 모듈(450)은 이에 한정하는 것이 아니라 입사되는 광을 토대로 광 간섭 신호를 획득할 수 있는 편광 카메라이면 무엇이든 적용 가능하다. The light detection module 450 is not limited to this, but can be applied to any polarization camera that can acquire an optical interference signal based on incident light.

한편, 광검출 모듈(450)은 광검출부(451)에서 획득한 광간섭 신호를 토대로 측정대상물(10)의 이미지를 생성하는 이미지 분석모듈을 더 구비할 수 있다. 여기서, 이미지 분석모듈은 구동기를 제어하여 제1미러(510)와 제1편광부재(441) 사이의 이격거리 또는 제2미러(520)와 제2편광부재(442) 사이의 이격거리를 조절하여 반사광(11) 즉, 제1 및 제2분할광(12,13)의 층밀림량을 조절할 수 있다. Meanwhile, the light detection module 450 may further include an image analysis module that generates an image of the measurement object 10 based on the light interference signal acquired by the light detection unit 451. Here, the image analysis module controls the driver to adjust the separation distance between the first mirror 510 and the first polarizing member 441 or the separation distance between the second mirror 520 and the second polarizing member 442. The amount of layer shedding of the reflected light 11, that is, the first and second split lights 12 and 13, can be adjusted.

여기서, 이미지 분석모듈은 위상 천이된 광간섭 신호들을 이용하여 하기의 수학식 2를 통해 상기 광 간섭신호의 위상 추출할 수 있다. Here, the image analysis module can use phase-shifted optical interference signals to extract the phase of the optical interference signal through Equation 2 below.

Figure pat00002
Figure pat00002

여기서, Φ는 측정하는 시편의 위상이고, I,I45˚,I90˚,I135˚는 각 편광 방향에 따른 광강도이다.Here, Φ is the phase of the specimen being measured, and I , I 45˚ , I 90˚ , I 135˚ are the light intensity according to each polarization direction.

또한, 이미지 분석모듈은 하기의 수학식 3과 같이 가시도 검출을 통해 종래의 현미경에서 측정되는 광강도 기반의 영상도 획득할 수도 있다. In addition, the image analysis module can also acquire images based on light intensity measured in a conventional microscope through visibility detection, as shown in Equation 3 below.

Figure pat00003
Figure pat00003

한편, 도 6 내지 도 13에는 혈관에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)에서 획득한 분석 영상 즉, Bright field image, Phase contrast image, Image visibility가 게시되어 있다. 또한, 도 14 및 도 15에는 간에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)에서 획득한 Bright field image, Phase contrast image, Image visibility가 게시되어 있다. 그리고, 도 16 내지 도 20에는 신장에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)에서 획득한 Bright field image, Phase contrast image, Image visibility가 게시되어 있다. 도면을 참조하면, 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)은 측정대상물이 미세하거나 투명도가 높더라도 신뢰성 및 정확도가 높은 분석영상을 획득할 수 있음을 알 수 있다. Meanwhile, in FIGS. 6 to 13 , analysis images obtained by the layer milling phase contrast image acquisition module device 100 of the present invention for blood vessels, that is, bright field image, phase contrast image, and image visibility, are posted. In addition, Figures 14 and 15 show the bright field image, phase contrast image, and image visibility acquired by the layer milling phase contrast image acquisition module device 100 of the present invention for the liver. And, in FIGS. 16 to 20, bright field images, phase contrast images, and image visibility acquired by the layer milling phase contrast image acquisition module device 100 for the kidney of the present invention are posted. Referring to the drawings, it can be seen that the layer shear phase difference image acquisition module device 100 according to the present invention can acquire an analysis image with high reliability and accuracy even if the measurement object is fine or has high transparency.

상술된 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)는 측정대상물(10)로부터 반사된 반사광(11)을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 획득할 수 있으므로 구조가 비교적 단순하여 제조에 소요되는 비용 및 인력을 절감할 수 있다. The layer shearing phase difference image acquisition module device 100 according to the present invention configured as described above can acquire an optical interference signal by shearing the reflected light 11 reflected from the measurement object 10 using a polarizer, and thus has a structure. It is relatively simple and can reduce manufacturing costs and manpower.

또한, 본 발명은 종래의 일반적인 간섭계와 달리 기준광이 요구되지 않으므로 외부로부터 진동이 인가되더라도 보다 신뢰성이 높은 광 간섭신호를 획득할 수 있다.In addition, unlike conventional interferometers, the present invention does not require reference light, so a more reliable optical interference signal can be obtained even when vibration is applied from the outside.

그리고, 본 발명은 기존의 광학 현미경의 광검출부를 대신하여 층밀림 간섭계를 이용한 광검출모듈을 장착하여 구성할 수 있으므로 광강도 영상과 위상 영상을 동시에 획득하는 것이 가능하다. In addition, the present invention can be configured by installing a light detection module using a layer-push interferometer instead of the light detection unit of a conventional optical microscope, so it is possible to simultaneously acquire light intensity images and phase images.

제시된 실시예들에 대한 설명은 임의의 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 이용하거나 또는 실시할 수 있도록 제공된다. 이러한 실시예들에 대한 다양한 변형들은 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자에게 명백할 것이며, 여기에 정의된 일반적인 원리들은 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 다른 실시예들에 적용될 수 있다. 그리하여, 본 발명은 여기에 제시된 실시예들로 한정되는 것이 아니라, 여기에 제시된 원리들 및 신규한 특징들과 일관되는 최광의의 범위에서 해석되어야 할 것이다.The description of the presented embodiments is provided to enable any person skilled in the art to use or practice the present invention. Various modifications to these embodiments will be apparent to those skilled in the art, and the general principles defined herein may be applied to other embodiments without departing from the scope of the invention. Thus, the present invention is not limited to the embodiments presented herein, but is to be construed in the broadest scope consistent with the principles and novel features presented herein.

100: 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치 200: 광원
300: 광학모듈 310: 광분배기
320: 콜리메이팅 렌즈 330: 대물렌즈
400: 신호생성부 410: 선형편광기
420: 튜브렌즈 430: 빔스플리터
440: 제1편광부 441: 제1편광부재
442: 제2편광부재 450: 광검출 모듈
451: 광검출부 452: 제2편광부
500: 미러부 510: 제1미러
520: 제2미러
100: layer shear phase contrast image acquisition module device 200: light source
300: Optical module 310: Optical splitter
320: collimating lens 330: objective lens
400: signal generator 410: linear polarizer
420: Tube lens 430: Beam splitter
440: first polarization unit 441: first polarization member
442: second polarizing member 450: light detection module
451: light detection unit 452: second polarization unit
500: Mirror unit 510: First mirror
520: Second mirror

Claims (11)

광원으로부터 출력되는 광을 측정대상물에 조사시켜, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 획득하는 광학모듈; 및
상기 광학모듈에서 획득한 반사광을 층밀림시키기 위해 해당 반사광을 편광시켜 미러부에 조사하고, 상기 미러부에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
An optical module that irradiates light output from a light source to a measurement object and obtains reflected light reflected from the measurement object; and
In order to deflect the reflected light obtained from the optical module, the reflected light is polarized and irradiated to the mirror unit, and a signal generator that generates an optical interference signal through the light reflected from the mirror unit; comprising a.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제1항에 있어서,
상기 신호생성부는
상기 광학모듈에서 입사되는 반사광의 광 경로 상에 설치되어 해당 반사광을 편광시키는 선형편광기;
상기 선형편광기에서 편광된 반사광을 상기 미러부에 조사하는 빔스플리터;
상기 빔스플리터 및 미러부 사이에 설치되며, 상기 미러부로 입사되는 상기 반사광을 편광시키되, 해당 반사광을 상호 상이한 방향으로 회절되는 복수의 편광으로 분할하며, 상기 미러부에서 반사되는 상기 편광들을 재차 회절시키는 제1편광부;
상기 편광부에서 출사되는 편광들을 검출하고, 검출된 편광들을 토대로 광간섭 신호를 생성하는 광검출 모듈;을 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 1,
The signal generator
A linear polarizer installed on the optical path of the reflected light incident from the optical module to polarize the reflected light;
a beam splitter that irradiates reflected light polarized by the linear polarizer to the mirror unit;
It is installed between the beam splitter and the mirror unit, polarizes the reflected light incident on the mirror unit, splits the reflected light into a plurality of polarized lights diffracted in mutually different directions, and re-diffracts the polarized light reflected from the mirror unit. First polarization unit;
A light detection module that detects polarized light emitted from the polarization unit and generates an optical interference signal based on the detected polarized light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제2항에 있어서,
상기 제1편광부는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 반사광을, 해당 반사광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 미러부로 출력되는 좌원 편광 및 우원 편광으로 분할하고, 상기 미러부에서 반사된 상기 좌원 편광 및 우원 편광을 상기 반사광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The first polarization unit divides the reflected light incident from the beam splitter into left-circular polarization and right-circular polarization, which are diffracted in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the reflected light and output to the mirror unit. Emitting the reflected left-circularly polarized light and right-handedly polarized light to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis line of the reflected light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제2항에 있어서,
상기 빔스플리터는 상기 선광 편광기에서 입사되는 반사광을 상호 교차되는 방향으로 출사되는 제1 및 제2분할광으로 분할하고,
상기 미러부는 해당 제1분할광의 광 경로 상에 설치되는 제1미러와, 해당 제2분할광의 광 경로 상에 설치되는 제2미러를 구비하고,
상기 제1편광부는
상기 빔스플리터 및 제1미러 사이에 설치되어 상기 제1분할광을 편광시키되, 해당 제1분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제1미러로 출사하고, 상기 제1미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제1편광부재; 및
상기 빔스플리터 및 제2미러 사이에 설치되어 상기 제2분할광을 편광시키되, 해당 제2분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제2미러로 출사하고, 상기 제2미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제2편광부재;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The beam splitter splits the reflected light incident from the polarizer into first and second split lights that are emitted in mutually intersecting directions,
The mirror unit includes a first mirror installed on the optical path of the first split light and a second mirror installed on the optical path of the second split light,
The first polarizer
It is installed between the beam splitter and the first mirror to polarize the first split light, and the first split light is diffracted and divided into a plurality of polarized lights to be emitted to the first mirror, and the polarized light reflected from the first mirror A first polarizing member that diffracts again and emits light; and
It is installed between the beam splitter and the second mirror to polarize the second split light, and the second split light is diffracted and split into a plurality of polarized lights to be emitted to the second mirror, and the polarized light reflected from the second mirror A second polarizing member that diffracts again and emits light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제4항에 있어서,
상기 제1편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제1분할광을, 해당 제1분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 기준미러로 출력되는 제1좌원 편광 및 제1우원 편광으로 분할하고, 상기 기준미러에서 반사된 상기 제1좌원 편광 및 제1우원 편광을 상기 제1분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to clause 4,
The first polarizing member diffracts the first split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the first split light, and outputs the first left circular polarization and the first split light to the reference mirror. Splitting into 1 right circular polarization, and emitting the first left circular polarization and the first right circular polarization reflected from the reference mirror to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis line of the first split light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제4항에 있어서,
상기 제2편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제2분할광을, 해당 제2분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회전되어 상기 고정미러로 출력되는 제2좌원 편광 및 제2우원 편광으로 분할하고, 상기 고정미러에서 반사된 상기 제2좌원 편광 및 제2우원 편광을 상기 제2분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to clause 4,
The second polarizing member rotates the second split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the second split light, and outputs the second left circular polarization and the second split light to the fixed mirror. Splitting the second right circular polarization into two right circular polarizations, and emitting the second left circular polarization and the second right circular polarization reflected from the fixed mirror to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis line of the second split light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제2항에 있어서,
상기 신호생성부는 상기 미러부에 설치되며, 상기 반사광의 층밀림량을 조절할 수 있도록 상기 미러부를 상기 편광부에 인접되거나 멀어지게 이동시키는 구동기;를 더 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The signal generator is installed in the mirror unit, and further includes a driver that moves the mirror unit adjacent to or away from the polarization unit to adjust the amount of layer shedding of the reflected light.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제2항에 있어서,
상기 빔스플리터는 상기 미러부에서 반사된 광을 상기 광검출모듈로 출사하고,
상기 광검출 모듈은
상기 빔스플리터에서 출사되는 광을 검출하는 광검출부; 및
상기 빔스플리터 및 카메라 사이에 설치되며, 해당 카메라로 입사되는 광을 편광시키는 제2편광부;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The beam splitter emits the light reflected from the mirror unit to the light detection module,
The light detection module is
a light detection unit that detects light emitted from the beam splitter; and
A second polarizer installed between the beam splitter and the camera and polarizing the light incident on the camera,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 광학모듈은 상기 광원에서 출력되는 광을 반사하여 상기 측정대상물에 입사시키되, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 투과시켜 상기 신호생성부로 출사하는 광분배기;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to claim 1 or 2,
The optical module reflects the light output from the light source and makes it incident on the measurement object, and includes an optical splitter that transmits the reflected light reflected from the measurement object and emits it to the signal generator.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제8항에 있어서,
상기 광학모듈은 상기 광원 및 광분배기 사이에 설치되어 상기 광원에서 출력되는 광을 평행광으로 시준시키는 콜리메이팅 렌즈;를 더 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to clause 8,
The optical module further includes a collimating lens installed between the light source and the optical distributor to collimate the light output from the light source into parallel light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
제2항에 있어서,
상기 신호생성부는 상기 선형 편광기와 빔스플리터 사이에 설치되어 상기 선형 편광기에서 편광된 반사광을 집속시켜 상기 빔스플리터로 출사하는 튜브렌즈;를 더 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The signal generator further includes a tube lens installed between the linear polarizer and the beam splitter to focus the reflected light polarized by the linear polarizer and emit it to the beam splitter.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
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