KR20240070082A - Apparatus of lateral shearing phase contrast imaging device - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title description 4
- 238000010008 shearing Methods 0.000 title description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 89
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 60
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 8
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 4
- 238000002135 phase contrast microscopy Methods 0.000 description 4
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 210000003734 kidney Anatomy 0.000 description 2
- 210000004185 liver Anatomy 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001152 differential interference contrast microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
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- G—PHYSICS
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
- G01J2009/0261—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods polarised
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N2021/4173—Phase distribution
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
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Abstract
본 발명은 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 관한 것으로서, 광원으로부터 출력되는 광을 측정대상물에 조사시켜, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 획득하는 광학모듈과, 상기 광학모듈에서 획득한 반사광을 층밀림시키기 위해 해당 반사광을 편광시켜 미러부에 조사하고, 상기 미러부에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부를 구비한다.
본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치는 측정대상체로부터 반사된 반사광을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 획득할 수 있으므로 구조가 비교적 단순하여 제조에 소요되는 비용 및 인력을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명은 종래의 일반적인 간섭계와 달리 기준광이 요구되지 않으므로 외부로부터 진동이 인가되더라도 보다 신뢰성이 높은 광 간섭신호를 획득할 수 있다.
그리고, 본 발명은 기존의 광학 현미경의 광검출부를 대신하여 층밀림 간섭계를 이용한 광검출모듈을 장착하여 구성할 수 있으므로 광강도 영상과 위상 영상을 동시에 획득하는 것이 가능하다. The present invention relates to a layer-slipped phase difference image acquisition module device, which includes an optical module that irradiates light output from a light source to a measurement object to obtain reflected light reflected from the measurement object, and a layer-slipped phase difference image acquisition module device that acquires reflected light reflected from the measurement object. In order to do this, the reflected light is polarized and irradiated to the mirror unit, and a signal generator is provided to generate an optical interference signal through the light reflected from the mirror unit.
The layer-sliding phase difference image acquisition module device according to the present invention can acquire an optical interference signal by layer-sliding the reflected light reflected from the measurement object using a polarizer, so the structure is relatively simple, which can reduce the cost and manpower required for manufacturing. there is.
In addition, unlike conventional interferometers, the present invention does not require reference light, so a more reliable optical interference signal can be obtained even when vibration is applied from the outside.
In addition, since the present invention can be configured by installing a light detection module using a layer-push interferometer instead of the light detection unit of a conventional optical microscope, it is possible to simultaneously acquire light intensity images and phase images.
Description
본 발명은 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 관한 것으로서, 측정대상물에 반사된 반사광을 편광 및 회절시켜 획득한 광을 토대로 광간섭 신호를 획득할 수 있는 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a shearing phase difference image acquisition module device, which is capable of acquiring an optical interference signal based on light obtained by polarizing and diffracting reflected light reflected from a measurement object.
오늘날 현미경 결상광학계 기술은 광학, 생명공학 및 여러 분야에서 널리 활용되고 있다. 특히, 생명공학에서 다루는 조직 관찰은 살아있는 세포의 구조 및 특성을 분석하기 위해 현미경 사용이 필수적이지만, 세포의 투명한 특징으로 인해 기본 광학 현미경 사용시 세포의 관찰 및 분석에 한계점이 존재하기에 위상차 현미경(phase contrast microscopy) 및 미분 간섭 현미경(Differential interference contrast microscopy)를 사용한다. Today, microscope imaging optical system technology is widely used in optics, biotechnology, and many other fields. In particular, the use of a microscope is essential for tissue observation in biotechnology to analyze the structure and characteristics of living cells. However, due to the transparent nature of cells, there are limitations in observing and analyzing cells when using a basic optical microscope, so phase contrast microscopy (phase contrast microscopy) Contrast microscopy and differential interference contrast microscopy are used.
이 중에서 위상차 현미경은 물질을 통과한 빛이 투명한 시편의 굴절률에 의해 위상차를 갖게 되었을 때 이를 명암으로 바꾸어 시편을 입체적으로 관찰하는 기술이 활용되고 있다. 또한, 미분 간섭 현미경은 복굴절 물질을 통해 빛의 간섭을 발생시켜 관찰하는 시편 이미지의 대비를 극대화하는 기술을 활용한다. Among these, phase contrast microscopy is a technology used to observe the specimen in three dimensions by converting it into light and dark when the light passing through the material has a phase difference due to the refractive index of the transparent specimen. In addition, differential interference microscopy utilizes a technology that maximizes the contrast of the image of the observed specimen by generating light interference through a birefringent material.
특히, 살아있는 세포를 관찰할 때, 투명한 세포의 설징에 의해 광학 현미경으로는 관찰이 어려워 위상사 현미경을 사용한다. 위상차 현미경은 세포의 굴절률을 통해 나뉘어지는 산란광과 배경광의 간섭을 통해 세포의 위상을 검출하여 명암의 대비를 극대화시켜 세포의 영상을 얻는다. 그러나, 종래의 위상차 현미경은 구조가 복잡하고, 제조에 소요되는 비용 및 인력이 비교적 높다는 단점이 있다. 또한, 종래의 위상차 현미경은 일반적인 현미경에서 획득되는 광강도 영상 획득이 어렵다.In particular, when observing living cells, it is difficult to observe them with an optical microscope due to the transparent appearance of the cells, so a phase contrast microscope is used. Phase-contrast microscopy obtains images of cells by maximizing contrast between light and dark by detecting the phase of cells through the interference of scattered light and background light, which are divided through the refractive index of cells. However, conventional phase contrast microscopes have the disadvantage of having a complex structure and relatively high manufacturing costs and manpower. Additionally, it is difficult for a conventional phase contrast microscope to acquire light intensity images obtained from a general microscope.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창안된 것으로서, 측정대상체로부터 반사된 반사광을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 발생시킬 수 있는 층밀림 간섭계를 이용한 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention was created to improve the above problems, and includes a layer-throw phase difference image acquisition module device using a layer-throw interferometer that can generate an optical interference signal by layer-thrive the reflected light reflected from the measurement object using a polarizer. The purpose is to provide.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치는 광원으로부터 출력되는 광을 측정대상물에 조사시켜, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 획득하는 광학모듈과, 상기 광학모듈에서 획득한 반사광을 층밀림시키기 위해 해당 반사광을 편광시켜 미러부에 조사하고, 상기 미러부에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부를 구비한다. To achieve the above object, the layer shear phase difference image acquisition module device according to the present invention includes an optical module that irradiates light output from a light source to a measurement object and acquires reflected light reflected from the measurement object, and In order to deflect the reflected light, the reflected light is polarized and irradiated to the mirror, and a signal generator is provided to generate an optical interference signal through the light reflected from the mirror.
상기 신호생성부는 상기 광학모듈에서 입사되는 반사광의 광 경로 상에 설치되어 해당 반사광을 편광시키는 선형편광기와, 상기 선형편광기에서 편광된 반사광을 상기 미러부에 조사하는 빔스플리터와, 상기 빔스플리터 및 미러부 사이에 설치되며, 상기 미러부로 입사되는 상기 반사광을 편광시키되, 해당 반사광을 상호 상이한 방향으로 회절되는 복수의 편광으로 분할하며, 상기 미러부에서 반사되는 상기 편광들을 재차 회절시키는 제1편광부와, 상기 편광부에서 출사되는 편광들을 검출하고, 검출된 편광들을 토대로 광간섭 신호를 생성하는 광검출 모듈을 구비한다. The signal generator includes a linear polarizer installed on the optical path of the reflected light incident from the optical module to polarize the reflected light, a beam splitter that irradiates the reflected light polarized by the linear polarizer to the mirror, and the beam splitter and mirror. A first polarizing unit installed between the units, polarizing the reflected light incident on the mirror unit, splitting the reflected light into a plurality of polarized lights diffracted in different directions, and diffracting the polarized light reflected from the mirror unit again; , and is provided with a light detection module that detects polarized light emitted from the polarization unit and generates an optical interference signal based on the detected polarized light.
상기 제1편광부는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 반사광을, 해당 반사광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 미러부로 출력되는 좌원 편광 및 우원 편광으로 분할하고, 상기 미러부에서 반사된 상기 좌원 편광 및 우원 편광을 상기 반사광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사한다. The first polarization unit divides the reflected light incident from the beam splitter into left-circular polarization and right-circular polarization, which are diffracted in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the reflected light and output to the mirror unit. The reflected left-circularly polarized light and right-circularly polarized light are emitted to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis of the reflected light.
상기 빔스플리터는 상기 선광 편광기에서 입사되는 반사광을 상호 교차되는 방향으로 출사되는 제1 및 제2분할광으로 분할하고, 상기 미러부는 해당 제1분할광의 광 경로 상에 설치되는 제1미러와, 해당 제2분할광의 광 경로 상에 설치되는 제2미러를 구비하고, 상기 제1편광부는 상기 빔스플리터 및 제1미러 사이에 설치되어 상기 제1분할광을 편광시키되, 해당 제1분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제1미러로 출사하고, 상기 제1미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제1편광부재와, 상기 빔스플리터 및 제2미러 사이에 설치되어 상기 제2분할광을 편광시키되, 해당 제2분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제2미러로 출사하고, 상기 제2미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제2편광부재를 구비한다. The beam splitter splits the reflected light incident from the polarizer into first and second split lights that are emitted in mutually intersecting directions, and the mirror unit includes a first mirror installed on the optical path of the first split light, and It has a second mirror installed on the optical path of the second split light, and the first polarization unit is installed between the beam splitter and the first mirror to polarize the first split light, and divides the first split light into a plurality of A first polarizing member that diffracts and splits polarized light and emits it to the first mirror, diffracts the polarized light reflected from the first mirror again and emits it, and is installed between the beam splitter and the second mirror to produce the second split light. It is provided with a second polarizing member that diffracts and splits the second split light into a plurality of polarized lights and emits it to the second mirror, and diffracts the polarized light reflected from the second mirror and emits it again.
상기 제1편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제1분할광을, 해당 제1분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 기준미러로 출력되는 제1좌원 편광 및 제1우원 편광으로 분할하고, 상기 기준미러에서 반사된 상기 제1좌원 편광 및 제1우원 편광을 상기 제1분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사한다. The first polarizing member diffracts the first split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the first split light, and outputs the first left circular polarization and the first split light to the reference mirror. Split into 1 right circularly polarized light, and the first left circularly polarized light and the first right circularly polarized light reflected from the reference mirror are emitted to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis of the first split light.
상기 제2편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제2분할광을, 해당 제2분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회전되어 상기 고정미러로 출력되는 제2좌원 편광 및 제2우원 편광으로 분할하고, 상기 고정미러에서 반사된 상기 제2좌원 편광 및 제2우원 편광을 상기 제2분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사한다. The second polarizing member rotates the second split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the second split light, and outputs the second left circular polarization and the second split light to the fixed mirror. Split into two right circularly polarized lights, the second left circularly polarized light and the second right circularly polarized light reflected from the fixed mirror are emitted to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis of the second split light.
상기 신호생성부는 상기 미러부에 설치되며, 상기 반사광의 층밀림량을 조절할 수 있도록 상기 미러부를 상기 편광부에 인접되거나 멀어지게 이동시키는 구동기를 더 구비할 수 있다. The signal generator may be installed in the mirror unit, and may further include a driver that moves the mirror unit closer to or away from the polarization unit to adjust the amount of layer shedding of the reflected light.
상기 빔스플리터는 상기 미러부에서 반사된 광을 상기 광검출모듈로 출사하고, 상기 광검출 모듈은 상기 빔스플리터에서 출사되는 광을 검출하는 광검출부와, 상기 빔스플리터 및 카메라 사이에 설치되며, 해당 카메라로 입사되는 광을 편광시키는 제2편광부를 구비한다. The beam splitter emits the light reflected from the mirror unit to the light detection module, and the light detection module is installed between a light detection unit that detects the light emitted from the beam splitter, the beam splitter, and the camera, A second polarizer is provided to polarize light incident on the camera.
상기 광학모듈은 상기 광원에서 출력되는 광을 반사하여 상기 측정대상물에 입사시키되, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 투과시켜 상기 신호생성부로 출사하는 광분배기를 구비한다. The optical module reflects the light output from the light source and makes it incident on the measurement object, and includes an optical splitter that transmits the reflected light reflected from the measurement object and emits it to the signal generator.
상기 광학모듈은 상기 광원 및 광분배기 사이에 설치되어 상기 광원에서 출력되는 광을 평행광으로 시준시키는 콜리메이팅 렌즈를 더 구비할 수 있다. The optical module may further include a collimating lens installed between the light source and the optical distributor to collimate the light output from the light source into parallel light.
상기 신호생성부는 상기 선형 편광기와 빔스플리터 사이에 설치되어 상기 선형 편광기에서 편광된 반사광을 집속시켜 상기 빔스플리터로 출사하는 튜브렌즈를 더 구비할 수 있다. The signal generator may further include a tube lens installed between the linear polarizer and the beam splitter to focus the reflected light polarized by the linear polarizer and output it to the beam splitter.
본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치는 측정대상체로부터 반사된 반사광을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 획득할 수 있으므로 구조가 비교적 단순하여 제조에 소요되는 비용 및 인력을 절감할 수 있다. The layer-sliding phase difference image acquisition module device according to the present invention can acquire an optical interference signal by layer-sliding the reflected light reflected from the measurement object using a polarizer, so the structure is relatively simple, which can reduce the cost and manpower required for manufacturing. there is.
또한, 본 발명은 종래의 일반적인 간섭계와 달리 기준광이 요구되지 않으므로 외부로부터 진동이 인가되더라도 보다 신뢰성이 높은 광 간섭신호를 획득할 수 있다.In addition, unlike conventional interferometers, the present invention does not require reference light, so a more reliable optical interference signal can be obtained even when vibration is applied from the outside.
그리고, 본 발명은 기존의 광학 현미경의 광검출부를 대신하여 층밀림 간섭계를 이용한 광검출모듈을 장착하여 구성할 수 있으므로 광강도 영상과 위상 영상을 동시에 획득하는 것이 가능하다. In addition, the present invention can be configured by installing a light detection module using a layer-push interferometer instead of the light detection unit of a conventional optical microscope, so it is possible to simultaneously acquire light intensity images and phase images.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 대한 개념도이고,
도 2 및 도 3은 도 1의 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치의 제1편광부에 대한 개념도이고,
도 4는 도 1의 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치의 광검출 모듈에 대한 도면이고,
도 5는 도 1의 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치의 광검출 모듈에서 획득한 광 간섭신호에 대한 예시도이고,
도 6 내지 도 13은 혈관에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치에서 획득한 분석 영상이고,
도 14 및 도 15은 간에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치에서 획득한 분석 영상이고,
도 16 내지 도 20은 신장에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치에서 획득한 분석 영상이다. 1 is a conceptual diagram of a layer shear phase difference image acquisition module device according to an embodiment of the present invention;
Figures 2 and 3 are conceptual diagrams of the first polarization unit of the layer-sliding phase contrast image acquisition module device of Figure 1;
Figure 4 is a diagram of the photodetection module of the layer shear phase difference image acquisition module device of Figure 1;
FIG. 5 is an exemplary diagram of an optical interference signal acquired from the optical detection module of the layer shear phase difference image acquisition module device of FIG. 1;
6 to 13 are analysis images obtained by the layer milling phase contrast image acquisition module device of the present invention for blood vessels;
14 and 15 are analysis images obtained from the layer milling phase contrast image acquisition module device of the present invention for the liver;
Figures 16 to 20 are analysis images obtained from the layer milling phase contrast image acquisition module device of the present invention for the kidney.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, a layer shear phase difference image acquisition module device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings. Since the present invention can be subject to various changes and can have various forms, specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to a specific disclosed form, and should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention. While describing each drawing, similar reference numerals are used for similar components. In the attached drawings, the dimensions of the structures are enlarged from the actual size for clarity of the present invention.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, a first component may be named a second component, and similarly, the second component may also be named a first component without departing from the scope of the present invention.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in this application are only used to describe specific embodiments and are not intended to limit the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate the presence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but are not intended to indicate the presence of one or more other features. It should be understood that this does not exclude in advance the possibility of the existence or addition of elements, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as generally understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains. Terms defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and should not be interpreted in an ideal or excessively formal sense unless explicitly defined in the present application. No.
도 1 내지 도 4에는 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)가 도시되어 있다. 1 to 4 show a layer shear phase difference image
도면을 참조하면, 상기 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)는 광원(200)으로부터 출력되는 광을 측정대상물(10)에 조사시켜, 해당 측정대상물(10)로부터 반사되는 반사광(11)을 획득하는 광학모듈(300)과, 상기 광학모듈(300)에서 획득한 반사광(11)을 층밀림시키기 위해 해당 반사광(11)을 편광시켜 미러부(500)에 조사하고, 상기 미러부(500)에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부(400)를 구비한다. Referring to the drawing, the layer shear phase difference image
광원(200)은 측정대상물(10)을 촬상하는데 이용하게 될 광을 생성한다. 즉, 해당 광원(200)은 측정대상물(10)에 입사될 광을 생성하며, 후술되는 광학모듈(300)의 시준기로 광을 조사한다. 상기 광원(200)은 fiber-coupled LED가 적용되며, 554nm 파장의 광을 출력한다. The
광학모듈(300)은 광분배기(310), 콜리메이팅 렌즈(320), 대물렌즈(330)를 구비한다. The
광분배기(310)는 광원(200)에서 입사되는 광의 광 경로 상에 설치되며, 광원(200)에서 입사되는 광을 측정대상물(10)로 반사하고, 측정대상물(10)에서 반사되는 반사광(11)을 투과시킨다. 해당 광분배기(310)는 입사되는 광을 분배하기 위해 종래에 일반적으로 사용되는 스플리터가 적용되므로 상세한 설명은 생략한다. The
콜리메이팅 렌즈(320)는 광원(200)과 광분배기(310) 사이에 설치되어 광원(200)에서 출력되는 광을 평행광으로 시준시킨다. 콜리메이팅 렌즈(320)를 통과한 광은 광분배기(310)에 입사되고, 해당 광분배기(310)에 의해 측정대상물(10)로 입사된다. The
대물렌즈(330)는 측정대상물(10)과 광분배기(310) 사이에 설치되어 광분배기(310)에서 입사되는 광을 굴절시켜 초점을 맞추어 측정대상물(10)에 입사시킨다. 측정대상물(10)에 반사되는 반사광(11)은 대물렌즈(330)로 입사되는데, 해당 대물렌즈(330)는 해당 반사광(11)을 굴절시켜 평행광으로 시준시켜 광분배기(310)로 출력한다. 해당 반사광(11)은 광분배기(310)를 통해 신호생성부(400)로 출사된다. The
신호생성부(400)는 선형편광기(410), 튜브렌즈(420), 빔스플리터(430), 제1편광부(440) 및 광검출 모듈(450)을 구비한다. The
상기 선형편광기(410)는 광분배기(310)를 투과한 반사광(11)을 편광시켜 빔스플리터(430)로 출사한다. 해당 선형편광기(410)는 입사되는 광의 편광 상태를 선형 편광 상태로 조정하여 출력하기 위해 종래에 일반적으로 사용되는 편광수단이 적용되므로 상세한 설명은 생략한다. The
튜브렌즈(420)는 선형편광기(410) 및 빔스플리터(430) 사이의 반사광(11)의 광 경로 상에 설치되며, 상기 선형 편광기에서 편광된 반사광(11)을 집속시켜 상기 빔스플리터(430)로 출사한다. The
빔스플리터(430)는 상기 선형편광기(410)에서 편광된 반사광(11)을 상기 미러부(500)에 조사하고, 해당 미러부(500)에서 반사된 광을 광검출 모듈(450)에 출사한다. 여기서, 빔스플리터(430)는 상기 선광 편광기에서 입사되는 반사광(11)을 상호 교차되는 방향으로 출사되는 제1 및 제2분할광(12,13)으로 분할하여 출사한다. The beam splitter 430 irradiates the reflected light 11 polarized by the
여기서, 빔스플리터(430)는 입사되는 반사광(11) 중 일부를 직선편광시켜 입사방향과 직교되는 90˚방향으로 반사시키고, 반사광(11) 중 나머지를 직선편광시켜 입사방향을 따라 투과시킬 수 있는 편광 빔 스플리터(PBS)가 적용될 수도 있다. 여기서, 빔스플리터(430)에 의해 입사방향과 직교되는 90˚방향으로 반사되는 광이 제1분할광(12)이고, 입사방향을 따라 투과되는 광이 제2분할광(13)으로 설정된다. Here, the beam splitter 430 linearly polarizes some of the incident reflected light 11 to reflect it in a 90° direction orthogonal to the incident direction, and linearly polarizes the remainder of the reflected light 11 to transmit it along the incident direction. A polarizing beam splitter (PBS) may be applied. Here, the light reflected by the beam splitter 430 in a 90° direction orthogonal to the incident direction is set as the
상기 미러부(500)는 해당 제1분할광(12)의 광 경로 상에 설치되어 입사되는 광을 빔스플리터(430)로 반사하는 제1미러(510)와, 해당 제2분할광(13)의 광 경로 상에 설치되어 입사되는 광을 빔스플리터(430)로 반사하는 제2미러(520)를 구비한다. 한편, 도면에 도시되진 않았지만, 미러부(500) 즉, 제1미러(510) 및 제2미러(520)의 하부에는 해당 제1미러(510) 및 제2미러(520)를 이동시키기 위한 구동기(미도시)가 각각 설치되어 있다. 해당 구동기는 상기 제1미러(510) 또는 제2미러(520)를 제1분할광(12) 또는 제2분할광(13)의 광 경로를 따라 편광부에 인접되거나 멀어지게 이동시킨다. 상기 구동기를 통해 미러부(500)와 제1편광부(440) 사이의 이격거리를 조절하여 반사광(11)의 층밀림량을 조절할 수 있다. The
제1편광부(440)는 상기 빔스플리터(430)로부터 입사되는 반사광(11)을, 해당 반사광(11)의 광축 선(14)에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 미러부(500)로 출력되는 좌원 편광 및 우원 편광으로 분할하고, 상기 미러부(500)에서 반사된 상기 좌원 편광 및 우원 편광을 상기 반사광(11)의 광축 선(14)과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터(430)에 출사한다. 여기서, 제1편광부(440)는 편광격자로 이루어진 제1편광부재(441) 및 제2편광부재(442)를 구비한다. The first
상기 제1편광부재(441)는 상기 빔스플리터(430) 및 제1미러(510) 사이에 설치되어 상기 제1분할광(12)을 편광시키되, 해당 제1분할광(12)을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제1미러(510)로 출사한다. 또한, 제1편광부재(441)는 제1미러(510)에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사한다. The first
도 3을 참조하여 상기 제1편광부재(441)를 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다. The first
빔스플리터(430)에서 제1편광부재(441)로 입사되는 제1분할광(12)은 해당 제1편광부재(441)에 의해 편광된 상태로 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)으로 분할되어 제1미러(510)로 출사된다. 이때, 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 해당 제1편광부재(441)의 회절 격자 특성에 의해 해당 제1분할광(12)의 광축 선(14)에 대해 소정의 회절 각도(θ)를 갖고 상호 상이한 방향으로 출사된다. 한편, 제1미러(510)에 의해 반사된 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 제1편광부재(441)로 재입사되는데, 상기 제1편광부재(441)의 회절격자 특성에 의해 반사된 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 제1분할광(12)의 광축 선(14)과 나란한 방향 즉, 제1분할광(12)과 평행하게 빔스플리터(430)에 출사된다. 여기서, 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 제1편광부재(441)와 제1미러(510) 사이의 이격거리와, 제1편광부재(441)에서 발생하는 회절 각도(θ)에 의해 하기의 수학식 1과 같은 층밀림이 발생한다.The
여기서, △s 는 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)에서 발생되는 층밀림 값이고, d는 제1편광부재(441)와 제1미러(510) 사이의 이격거리이고, θ는 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)의 회절 각도이다. 즉, 수학식 1에 의하면, 제1미러(510)와 제1편광부재(441) 사이의 이격거리가 변경되면 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)에서 발생되는 층밀림 값이 변경됨을 알 수 있다. Here, △s is the layer shedding value generated from the first left-handed circularly polarized
제1편광부재(441)에서 출사된 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)은 빔스플리터(430)에 의해 광검출 모듈(450)로 입사된다. The first left circularly
상기 제2편광부재(442)는 상기 빔스플리터(430) 및 제2미러(520) 사이에 설치되어 제2분할광(13)을 편광시키되, 해당 제1분할광(12)을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 제2미러(520)로 출사한다. 또한, 제2편광부재(442)는 제2미러(520)에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사한다. The second
상기 제2편광부재(442)를 보다 상세히 설명하면 다음과 같다. The second
빔스플리터(430)에서 제2편광부재(442)로 입사되는 제2분할광(13)은 해당 제2편광부재(442)에 의해 편광된 상태로 제2좌원 편광 및 제2우원 편광으로 분할되어 제2미러(520)로 출사된다. 이때, 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 해당 제2편광부재(442)의 회절 격자 특성에 의해 해당 제2분할광(13)의 광축 선(14)에 대해 소정의 회절 각도(θ)를 갖고 상호 상이한 방향으로 출사된다. 한편, 제2미러(520)에 의해 반사된 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 제2편광부재(442)로 재입사되는데, 상기 제2편광부재(442)의 회절격자 특성에 의해 반사된 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 제2분할광(13)의 광축 선(14)과 나란한 방향 즉, 제2분할광(13)과 평행하게 빔스플리터(430)에 출사된다. 여기서, 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 제2편광부재(442)와 제2미러(520) 사이의 이격거리와, 제2편광부재(442)에서 발생하는 회절 각도(θ)에 의해 층밀림이 발생한다. 이때, 제1편광부재(441) 및 제1미러(510)와 같이 제2미러(520)와 제2편광부재(442) 사이의 이격거리가 변경되면 제2좌원 편광 및 제2우원 편광에서 발생되는 층밀림 값이 변경된다. 제2편광부재(442)에서 출사된 제2좌원 편광 및 제2우원 편광은 빔스플리터(430)에 의해 광검출 모듈(450)로 입사된다. The
광검출 모듈(450)은 상기 빔스플리터(430)에서 출사되는 광을 검출하는 광검출부(451)와, 상기 빔스플리터(430) 및 광검출부(451) 사이에 설치되며, 해당 카메라로 입사되는 광을 편광시키는 제2편광부(452)를 구비한다. The
광검출부(451)는 빔스플리터(430)에서 출사되는 제1좌원 편광(15), 제1우원 편광(16), 제2좌원 편광 및 제2우원 편광을 검출하기 위한 다수의 이미지 센서(453)를 구비한다. 상기 이미지 센서(453)들은 격자형태로 배열되는 것이 바람직하다. 상기 광검출부(451)는 입사되는 좌원 편광 및 우원 편광에 의한 광간섭 신호를 획득할 수 있다. The light detection unit 451 includes a plurality of
제2편광부(452)는 광이 입사되는 영상소자들의 입사면에 각각 설치되는 다수의 제3편광부재(454)를 구비한다. 상기 제3편광부재(454)는 0˚,45˚,90˚,135˚의 투과축을 가진 선형 편광기가 적용된다. 해당 제3편광부재(454)들은 영상소자들에 대응되게 격자형태로 배열되는 것이 바람직하다. 또한, 빔스플리터(430)에서 광이 입사되는 제3편광부재(454)의 입사면에는, 마이크로 렌즈(455)가 설치될 수도 있다. The
상술된 제2편광부(452)에 의해 상기 광검출부(451)는 도 5에 도시된 바와 같이 4장의 위상 천이된 광 간섭신호를 동시에 획득할 수 있다. 여기서, 'X'는 제2분할광(13) 즉, 제2좌원 편광 및 제2우원 편광에 의해 획득된 광간섭신호에 대한 이미지이고, 'Y'는 제1분할광(12) 즉, 제1좌원 편광(15) 및 제1우원 편광(16)에 의해 획득된 광간섭 신호에 대한 이미지이고, 'X+Y'는 'X'의 이미지와 'Y'의 이미지를 합성한 이미지이다. By using the above-described
상기 광검출 모듈(450)은 이에 한정하는 것이 아니라 입사되는 광을 토대로 광 간섭 신호를 획득할 수 있는 편광 카메라이면 무엇이든 적용 가능하다. The
한편, 광검출 모듈(450)은 광검출부(451)에서 획득한 광간섭 신호를 토대로 측정대상물(10)의 이미지를 생성하는 이미지 분석모듈을 더 구비할 수 있다. 여기서, 이미지 분석모듈은 구동기를 제어하여 제1미러(510)와 제1편광부재(441) 사이의 이격거리 또는 제2미러(520)와 제2편광부재(442) 사이의 이격거리를 조절하여 반사광(11) 즉, 제1 및 제2분할광(12,13)의 층밀림량을 조절할 수 있다. Meanwhile, the
여기서, 이미지 분석모듈은 위상 천이된 광간섭 신호들을 이용하여 하기의 수학식 2를 통해 상기 광 간섭신호의 위상 추출할 수 있다. Here, the image analysis module can use phase-shifted optical interference signals to extract the phase of the optical interference signal through Equation 2 below.
여기서, Φ는 측정하는 시편의 위상이고, I0˚,I45˚,I90˚,I135˚는 각 편광 방향에 따른 광강도이다.Here, Φ is the phase of the specimen being measured, and I 0˚ , I 45˚ , I 90˚ , I 135˚ are the light intensity according to each polarization direction.
또한, 이미지 분석모듈은 하기의 수학식 3과 같이 가시도 검출을 통해 종래의 현미경에서 측정되는 광강도 기반의 영상도 획득할 수도 있다. In addition, the image analysis module can also acquire images based on light intensity measured in a conventional microscope through visibility detection, as shown in Equation 3 below.
한편, 도 6 내지 도 13에는 혈관에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)에서 획득한 분석 영상 즉, Bright field image, Phase contrast image, Image visibility가 게시되어 있다. 또한, 도 14 및 도 15에는 간에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)에서 획득한 Bright field image, Phase contrast image, Image visibility가 게시되어 있다. 그리고, 도 16 내지 도 20에는 신장에 대한 본 발명의 층밀링 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)에서 획득한 Bright field image, Phase contrast image, Image visibility가 게시되어 있다. 도면을 참조하면, 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)은 측정대상물이 미세하거나 투명도가 높더라도 신뢰성 및 정확도가 높은 분석영상을 획득할 수 있음을 알 수 있다. Meanwhile, in FIGS. 6 to 13 , analysis images obtained by the layer milling phase contrast image
상술된 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치(100)는 측정대상물(10)로부터 반사된 반사광(11)을 편광부를 이용하여 층밀림하여 광 간섭신호를 획득할 수 있으므로 구조가 비교적 단순하여 제조에 소요되는 비용 및 인력을 절감할 수 있다. The layer shearing phase difference image
또한, 본 발명은 종래의 일반적인 간섭계와 달리 기준광이 요구되지 않으므로 외부로부터 진동이 인가되더라도 보다 신뢰성이 높은 광 간섭신호를 획득할 수 있다.In addition, unlike conventional interferometers, the present invention does not require reference light, so a more reliable optical interference signal can be obtained even when vibration is applied from the outside.
그리고, 본 발명은 기존의 광학 현미경의 광검출부를 대신하여 층밀림 간섭계를 이용한 광검출모듈을 장착하여 구성할 수 있으므로 광강도 영상과 위상 영상을 동시에 획득하는 것이 가능하다. In addition, the present invention can be configured by installing a light detection module using a layer-push interferometer instead of the light detection unit of a conventional optical microscope, so it is possible to simultaneously acquire light intensity images and phase images.
제시된 실시예들에 대한 설명은 임의의 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 이용하거나 또는 실시할 수 있도록 제공된다. 이러한 실시예들에 대한 다양한 변형들은 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자에게 명백할 것이며, 여기에 정의된 일반적인 원리들은 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 다른 실시예들에 적용될 수 있다. 그리하여, 본 발명은 여기에 제시된 실시예들로 한정되는 것이 아니라, 여기에 제시된 원리들 및 신규한 특징들과 일관되는 최광의의 범위에서 해석되어야 할 것이다.The description of the presented embodiments is provided to enable any person skilled in the art to use or practice the present invention. Various modifications to these embodiments will be apparent to those skilled in the art, and the general principles defined herein may be applied to other embodiments without departing from the scope of the invention. Thus, the present invention is not limited to the embodiments presented herein, but is to be construed in the broadest scope consistent with the principles and novel features presented herein.
100: 층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치
200: 광원
300: 광학모듈
310: 광분배기
320: 콜리메이팅 렌즈
330: 대물렌즈
400: 신호생성부
410: 선형편광기
420: 튜브렌즈
430: 빔스플리터
440: 제1편광부
441: 제1편광부재
442: 제2편광부재
450: 광검출 모듈
451: 광검출부
452: 제2편광부
500: 미러부
510: 제1미러
520: 제2미러100: layer shear phase contrast image acquisition module device 200: light source
300: Optical module 310: Optical splitter
320: collimating lens 330: objective lens
400: signal generator 410: linear polarizer
420: Tube lens 430: Beam splitter
440: first polarization unit 441: first polarization member
442: second polarizing member 450: light detection module
451: light detection unit 452: second polarization unit
500: Mirror unit 510: First mirror
520: Second mirror
Claims (11)
상기 광학모듈에서 획득한 반사광을 층밀림시키기 위해 해당 반사광을 편광시켜 미러부에 조사하고, 상기 미러부에서 반사되는 광을 통해 광간섭 신호를 생성하는 신호생성부;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
An optical module that irradiates light output from a light source to a measurement object and obtains reflected light reflected from the measurement object; and
In order to deflect the reflected light obtained from the optical module, the reflected light is polarized and irradiated to the mirror unit, and a signal generator that generates an optical interference signal through the light reflected from the mirror unit; comprising a.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 신호생성부는
상기 광학모듈에서 입사되는 반사광의 광 경로 상에 설치되어 해당 반사광을 편광시키는 선형편광기;
상기 선형편광기에서 편광된 반사광을 상기 미러부에 조사하는 빔스플리터;
상기 빔스플리터 및 미러부 사이에 설치되며, 상기 미러부로 입사되는 상기 반사광을 편광시키되, 해당 반사광을 상호 상이한 방향으로 회절되는 복수의 편광으로 분할하며, 상기 미러부에서 반사되는 상기 편광들을 재차 회절시키는 제1편광부;
상기 편광부에서 출사되는 편광들을 검출하고, 검출된 편광들을 토대로 광간섭 신호를 생성하는 광검출 모듈;을 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 1,
The signal generator
A linear polarizer installed on the optical path of the reflected light incident from the optical module to polarize the reflected light;
a beam splitter that irradiates reflected light polarized by the linear polarizer to the mirror unit;
It is installed between the beam splitter and the mirror unit, polarizes the reflected light incident on the mirror unit, splits the reflected light into a plurality of polarized lights diffracted in mutually different directions, and re-diffracts the polarized light reflected from the mirror unit. First polarization unit;
A light detection module that detects polarized light emitted from the polarization unit and generates an optical interference signal based on the detected polarized light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 제1편광부는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 반사광을, 해당 반사광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 미러부로 출력되는 좌원 편광 및 우원 편광으로 분할하고, 상기 미러부에서 반사된 상기 좌원 편광 및 우원 편광을 상기 반사광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The first polarization unit divides the reflected light incident from the beam splitter into left-circular polarization and right-circular polarization, which are diffracted in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the reflected light and output to the mirror unit. Emitting the reflected left-circularly polarized light and right-handedly polarized light to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis line of the reflected light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 빔스플리터는 상기 선광 편광기에서 입사되는 반사광을 상호 교차되는 방향으로 출사되는 제1 및 제2분할광으로 분할하고,
상기 미러부는 해당 제1분할광의 광 경로 상에 설치되는 제1미러와, 해당 제2분할광의 광 경로 상에 설치되는 제2미러를 구비하고,
상기 제1편광부는
상기 빔스플리터 및 제1미러 사이에 설치되어 상기 제1분할광을 편광시키되, 해당 제1분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제1미러로 출사하고, 상기 제1미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제1편광부재; 및
상기 빔스플리터 및 제2미러 사이에 설치되어 상기 제2분할광을 편광시키되, 해당 제2분할광을 복수의 편광으로 회절 및 분할하여 상기 제2미러로 출사하고, 상기 제2미러에서 반사된 편광을 재차 회절시켜 출사하는 제2편광부재;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The beam splitter splits the reflected light incident from the polarizer into first and second split lights that are emitted in mutually intersecting directions,
The mirror unit includes a first mirror installed on the optical path of the first split light and a second mirror installed on the optical path of the second split light,
The first polarizer
It is installed between the beam splitter and the first mirror to polarize the first split light, and the first split light is diffracted and divided into a plurality of polarized lights to be emitted to the first mirror, and the polarized light reflected from the first mirror A first polarizing member that diffracts again and emits light; and
It is installed between the beam splitter and the second mirror to polarize the second split light, and the second split light is diffracted and split into a plurality of polarized lights to be emitted to the second mirror, and the polarized light reflected from the second mirror A second polarizing member that diffracts again and emits light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 제1편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제1분할광을, 해당 제1분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회절되어 상기 기준미러로 출력되는 제1좌원 편광 및 제1우원 편광으로 분할하고, 상기 기준미러에서 반사된 상기 제1좌원 편광 및 제1우원 편광을 상기 제1분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to clause 4,
The first polarizing member diffracts the first split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the first split light, and outputs the first left circular polarization and the first split light to the reference mirror. Splitting into 1 right circular polarization, and emitting the first left circular polarization and the first right circular polarization reflected from the reference mirror to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis line of the first split light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 제2편광부재는 상기 빔스플리터로부터 입사되는 제2분할광을, 해당 제2분할광의 광축 선에 대해 소정의 각도를 갖고 상호 상이한 방향으로 회전되어 상기 고정미러로 출력되는 제2좌원 편광 및 제2우원 편광으로 분할하고, 상기 고정미러에서 반사된 상기 제2좌원 편광 및 제2우원 편광을 상기 제2분할광의 광축 선과 나란한 방향으로 상기 빔스플리터에 출사하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to clause 4,
The second polarizing member rotates the second split light incident from the beam splitter in mutually different directions at a predetermined angle with respect to the optical axis line of the second split light, and outputs the second left circular polarization and the second split light to the fixed mirror. Splitting the second right circular polarization into two right circular polarizations, and emitting the second left circular polarization and the second right circular polarization reflected from the fixed mirror to the beam splitter in a direction parallel to the optical axis line of the second split light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 신호생성부는 상기 미러부에 설치되며, 상기 반사광의 층밀림량을 조절할 수 있도록 상기 미러부를 상기 편광부에 인접되거나 멀어지게 이동시키는 구동기;를 더 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The signal generator is installed in the mirror unit, and further includes a driver that moves the mirror unit adjacent to or away from the polarization unit to adjust the amount of layer shedding of the reflected light.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 빔스플리터는 상기 미러부에서 반사된 광을 상기 광검출모듈로 출사하고,
상기 광검출 모듈은
상기 빔스플리터에서 출사되는 광을 검출하는 광검출부; 및
상기 빔스플리터 및 카메라 사이에 설치되며, 해당 카메라로 입사되는 광을 편광시키는 제2편광부;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The beam splitter emits the light reflected from the mirror unit to the light detection module,
The light detection module is
a light detection unit that detects light emitted from the beam splitter; and
A second polarizer installed between the beam splitter and the camera and polarizing the light incident on the camera,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 광학모듈은 상기 광원에서 출력되는 광을 반사하여 상기 측정대상물에 입사시키되, 해당 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 투과시켜 상기 신호생성부로 출사하는 광분배기;를 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to claim 1 or 2,
The optical module reflects the light output from the light source and makes it incident on the measurement object, and includes an optical splitter that transmits the reflected light reflected from the measurement object and emits it to the signal generator.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 광학모듈은 상기 광원 및 광분배기 사이에 설치되어 상기 광원에서 출력되는 광을 평행광으로 시준시키는 콜리메이팅 렌즈;를 더 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to clause 8,
The optical module further includes a collimating lens installed between the light source and the optical distributor to collimate the light output from the light source into parallel light,
Laminar phase contrast image acquisition module device.
상기 신호생성부는 상기 선형 편광기와 빔스플리터 사이에 설치되어 상기 선형 편광기에서 편광된 반사광을 집속시켜 상기 빔스플리터로 출사하는 튜브렌즈;를 더 구비하는,
층밀림 위상차 영상 획득 모듈 장치.
According to paragraph 2,
The signal generator further includes a tube lens installed between the linear polarizer and the beam splitter to focus the reflected light polarized by the linear polarizer and emit it to the beam splitter.
Laminar phase contrast image acquisition module device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220151462A KR20240070082A (en) | 2022-11-14 | 2022-11-14 | Apparatus of lateral shearing phase contrast imaging device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020220151462A KR20240070082A (en) | 2022-11-14 | 2022-11-14 | Apparatus of lateral shearing phase contrast imaging device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR20240070082A true KR20240070082A (en) | 2024-05-21 |
Family
ID=91320440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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KR (1) | KR20240070082A (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101595858B1 (en) | 2008-03-06 | 2016-02-19 | 유타카 수에나가 | Optical part and phase-contrast microscope using optical part |
-
2022
- 2022-11-14 KR KR1020220151462A patent/KR20240070082A/en unknown
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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