KR20240037169A - Light scattering measuring apparatus - Google Patents

Light scattering measuring apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR20240037169A
KR20240037169A KR1020230120595A KR20230120595A KR20240037169A KR 20240037169 A KR20240037169 A KR 20240037169A KR 1020230120595 A KR1020230120595 A KR 1020230120595A KR 20230120595 A KR20230120595 A KR 20230120595A KR 20240037169 A KR20240037169 A KR 20240037169A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
optical element
light scattering
element holder
measurement device
rotation axis
Prior art date
Application number
KR1020230120595A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
다모츠 하마오
가츠히로 모리사와
유스케 이즈타니
시게유키 나카구시
이쿠오 와카야마
가츠유키 도모마츠
Original Assignee
오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 filed Critical 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤
Publication of KR20240037169A publication Critical patent/KR20240037169A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8483Investigating reagent band
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements

Abstract

본 발명은, 광산란 측정 장치의 소형화에 기여하는 광학 소자 홀더를 구비한 광산란 측정 장치를 제공한다. 광원(1)과, 시료를 수용하고, 광원(1)으로부터의 광이 입사하는 시료셀(2)과, 시료셀(2)로부터 출사하는 출사광(SL)을 검출하는 검출부(3)와, 시료셀(2)로부터 검출부(3)를 향하는 출사광(SL)의 경로(LP)에 의해 정해지는 평면과 직교하는 회전축(AR)을 가짐과 함께, 각각 회전축(AR)의 주위에서 회전축(AR)을 향하도록 마련된 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)를 포함하는 복수의 광학 소자(401)를 보유 지지하는 광학 소자 홀더(4)와, 회전축(AR) 주위로 회전 가능하게 되도록 광학 소자 홀더(4)를 지지하는 광학 소자 홀더 지지부(5)를 구비하고, 광학 소자 홀더(4)는, 적어도, 제1 광학 소자(401-1)가 경로(LP) 상에 위치하는 제1 자세와, 제2 광학 소자(401-2)가 경로(LP) 상에 위치하는 제2 자세의 사이를 회전 가능한, 광산란 측정 장치(100)가 제공된다.The present invention provides a light scattering measurement device equipped with an optical element holder that contributes to miniaturization of the light scattering measurement device. A light source (1), a sample cell (2) that accommodates a sample and into which light from the light source (1) enters, and a detection unit (3) that detects the emitted light (SL) emitted from the sample cell (2), It has a rotation axis (AR) orthogonal to the plane defined by the path (LP) of the emitted light (SL) from the sample cell (2) to the detection unit (3), and a rotation axis (AR) around the rotation axis (AR), respectively. ), an optical element holder 4 holding and supporting a plurality of optical elements 401 including a first optical element 401-1 and a second optical element 401-2, and a rotation axis AR It is provided with an optical element holder support portion 5 that supports the optical element holder 4 so as to be rotatable around it, and the optical element holder 4 has at least the first optical element 401-1 along the path LP. A light scattering measurement device 100 is provided that can rotate between a first posture positioned on the image and a second posture in which the second optical element 401-2 is positioned on the path LP.

Description

광산란 측정 장치{LIGHT SCATTERING MEASURING APPARATUS}Light scattering measuring device {LIGHT SCATTERING MEASURING APPARATUS}

본 발명은 광산란 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a light scattering measurement device.

광산란 측정 장치에서는, 시료셀과 검출부의 사이에, 편광 방향 등의 광학 특성을 변화시키는 광학 소자를 보유 지지한 광학 소자 홀더가 마련되는 경우가 있다. 예를 들어, 광산란 측정 장치를 사용하여 측정 시료의 이방성을 측정하는 경우에는, 시료셀과 검출부의 사이에 편광 소자 홀더가 마련된다.In a light scattering measurement device, an optical element holder holding an optical element that changes optical properties such as polarization direction may be provided between the sample cell and the detection unit. For example, when measuring the anisotropy of a measurement sample using a light scattering measurement device, a polarizing element holder is provided between the sample cell and the detection unit.

광학 소자 홀더에 2종류 이상의 광학 소자가 보유 지지되어 있는 경우, 이들 광학 소자를 서로 전환하는 것이 필요하게 된다. 예를 들어, 측정 시료로부터의 산란광으로부터, 세로 방향의 직선 편광 성분과 가로 방향의 직선 편광 성분을 각각 추출하여 측정하고자 하는 경우에는, 편광축이 세로 방향인 편광 소자와 편광축이 가로 방향인 편광 소자를 전환하는 것이 필요하게 된다.When two or more types of optical elements are held in an optical element holder, it is necessary to switch between these optical elements. For example, in the case of extracting and measuring the vertical linearly polarized light component and the horizontal linearly polarized light component from the scattered light from the measurement sample, a polarizing element with a vertical polarization axis and a polarizing element with a horizontal polarizing axis are used. A transition becomes necessary.

종래, 복수의 광학 소자간 상호 전환을 가능하게 하는 광학 소자 홀더가 다양하게 검토되어 있다. 예를 들어, 가변 편광 웨이퍼 검사에 관한 분야에서는, 복수의 편광 소자가 배치된 판상의 홀더를 가로 방향으로 슬라이드함으로써 편광 방향을 전환하는 기술(하기 특허문헌 1의 도 3 참조)이 알려져 있다. 또한, 복굴절 파이버의 외관 측정에 관한 분야에서는, 광의 경로에 평행한 회전축을 갖는 원반상의 홀더 상에 복수의 편광 소자를 배치하고, 이 홀더를 회전축 주위로 회전시킴으로써 편광 방향을 전환하는 기술(하기 특허문헌 2의 도 3a 참조)이 알려져 있다.Conventionally, various optical element holders that enable mutual switching between a plurality of optical elements have been studied. For example, in the field of variable polarization wafer inspection, a technique for switching the polarization direction by horizontally sliding a plate-shaped holder on which a plurality of polarizing elements are arranged (see FIG. 3 in Patent Document 1 below) is known. Additionally, in the field of measuring the appearance of birefringent fibers, there is a technique for switching the direction of polarization by placing a plurality of polarizing elements on a disk-shaped holder with a rotation axis parallel to the path of light and rotating the holder around the rotation axis (patent below) (see Figure 3a of Document 2) is known.

일본 특허 공표 제2015-516574호 공보Japanese Patent Publication No. 2015-516574 일본 특허 공개 제2011-069805호 공보Japanese Patent Publication No. 2011-069805

한편, 상기 특허문헌에 기재된 바와 같은 종래형의 광학 소자 홀더는, 그 설치에 넓은 스페이스를 요한다. 이것은, 종래형의 광학 소자 홀더에서는, 복수의 광학 소자가 동일 평면 상에 마련되어 있기 때문이다. 구체적으로 설명하면, 종래형의 광학 소자 홀더에서는, 판상 또는 원반상의 기판 상에 복수의 광학 소자가 배치되어 있다. 그리고, 이들 광학 소자는 모두 동일한 방향을, 즉 광학 소자 홀더를 향해서 입사해 오는 광의 경로와 동일한 방향을 향하고 있다. 여기서, 광학 소자 홀더에 있어서, 측정에 관여하는, 즉 광의 경로 상로 놓이는 광학 소자는 복수의 광학 소자 중 1개만이다. 복수의 광학 소자 중, 이 1개의 광학 소자 이외의 광학 소자는, 측정에 관여하지 않음에도 불구하고, 광학 소자 홀더에서의 상기 기판의 폭 방향에 있어서 일정 공간을 차지한다. 결과로서, 그 일정 공간의 분만큼 데드 스페이스가 생겨버린다.On the other hand, the conventional optical element holder as described in the above patent document requires a large space for its installation. This is because, in a conventional optical element holder, a plurality of optical elements are provided on the same plane. Specifically, in a conventional optical element holder, a plurality of optical elements are arranged on a plate-shaped or disk-shaped substrate. And, these optical elements all face the same direction, that is, the same direction as the path of light incident towards the optical element holder. Here, in the optical element holder, the optical element involved in measurement, that is, placed on the path of light, is only one of the plurality of optical elements. Among the plurality of optical elements, optical elements other than this one occupy a certain space in the optical element holder in the width direction of the substrate, even though they are not involved in the measurement. As a result, dead space is created for a certain amount of space.

따라서, 상기 종래형의 광학 소자 홀더를 사용하면, 광산란 측정 장치 자체가 대형화한다는 문제를 초래한다. 특히, 광산란 측정 장치가 2 이상의 검출부를 갖는 경우, 즉 다각도 광산란법에 의한 측정을 행하는 경우에는, 광학 소자 홀더도 2 이상 필요해진다. 이 경우에 종래형의 광학 소자 홀더를 사용하면, 상기 데드 스페이스가 증대하기 때문에 측정 장치의 대형화가 보다 현저해진다.Therefore, using the conventional optical element holder causes the problem that the light scattering measurement device itself becomes larger. In particular, when the light scattering measurement device has two or more detection units, that is, when measuring by a multi-angle light scattering method, two or more optical element holders are also required. In this case, if a conventional optical element holder is used, the dead space increases and the size of the measuring device becomes more significant.

본 발명은 상기 과제를 감안하여 이루어진 것이며, 그 목적은, 광산란 측정 장치의 소형화에 기여하는 광학 소자 홀더를 구비한 광산란 측정 장치를 제공하는 데 있다.The present invention was made in view of the above problems, and its purpose is to provide a light scattering measurement device equipped with an optical element holder that contributes to miniaturization of the light scattering measurement device.

(1) 본 발명에 관한 광산란 측정 장치는, 광원과, 시료를 수용하고, 상기 광원으로부터의 광이 입사하는 시료셀과, 상기 시료셀로부터 출사하는 출사광을 검출하는 검출부와, 상기 시료셀로부터 상기 검출부를 향하는 상기 출사광의 경로에 의해 정해지는 평면과 직교하는 회전축을 가짐과 함께, 각각 상기 회전축의 주위에서 상기 회전축을 향하도록 마련된 제1 광학 소자 및 제2 광학 소자를 포함하는 복수의 광학 소자를 보유 지지하는 광학 소자 홀더와, 상기 회전축 주위로 회전 가능하게 되도록 상기 광학 소자 홀더를 지지하는 광학 소자 홀더 지지부를 구비하고, 상기 광학 소자 홀더는, 적어도, 상기 제1 광학 소자가 상기 경로 상에 위치하는 제1 자세와, 상기 제2 광학 소자가 상기 경로 상에 위치하는 제2 자세의 사이를 회전 가능하다.(1) A light scattering measurement device according to the present invention includes a light source, a sample cell that accommodates a sample and into which light from the light source enters, a detection unit that detects emitted light from the sample cell, and a light scattering unit that detects light emitted from the sample cell. A plurality of optical elements including a first optical element and a second optical element, each of which has a rotation axis orthogonal to a plane determined by the path of the emitted light toward the detection unit and is provided around the rotation axis and toward the rotation axis. an optical element holder that holds and supports an optical element holder support part that supports the optical element holder so as to be rotatable about the rotation axis, wherein the optical element holder is such that at least the first optical element is positioned on the path. It is possible to rotate between a first posture in which the second optical element is positioned and a second posture in which the second optical element is positioned on the path.

(2) (1)의 광산란 측정 장치에 있어서, 상기 광학 소자 홀더는, 본체를 갖고, 상기 본체의 측면에 상기 복수의 광학 소자를 보유 지지하는 것이며, 상기 본체의 측면에는, 상기 제1 광학 소자의 반대측으로 뚫린 제1 개구와, 상기 제2 광학 소자의 반대측으로 뚫린 제2 개구를 포함하는 복수의 개구가 마련되어 있어도 된다.(2) In the light scattering measurement device of (1), the optical element holder has a main body and holds the plurality of optical elements on a side surface of the main body, and the first optical element is on a side surface of the main body. A plurality of openings may be provided, including a first opening opening on the opposite side and a second opening opening on the opposite side of the second optical element.

(3) (2)의 광산란 측정 장치에 있어서, 상기 회전축은, 상기 경로 상에 위치하고, 상기 제1 광학 소자와 상기 제1 개구 사이에 끼워짐과 함께, 상기 제2 광학 소자와 상기 제2 개구 사이에 끼워져 있어도 된다.(3) In the light scattering measuring device of (2), the rotation axis is located on the path and is sandwiched between the first optical element and the first opening, and the second optical element and the second opening. It can be sandwiched between them.

(4) (3)의 광산란 측정 장치에 있어서, 상기 복수의 광학 소자 및 상기 복수의 개구는, 상기 회전축 주위의 전체 둘레에 등각도 간격으로 배치되어 있어도 된다.(4) In the light scattering measurement device of (3), the plurality of optical elements and the plurality of openings may be arranged at equiangular intervals around the entire circumference of the rotation axis.

(5) (1) 내지 (4)의 어느 것의 광산란 측정 장치에 있어서, 상기 광학 소자 홀더는, 다각 형상의 부분을 단면에 포함하고 있어도 된다.(5) In the light scattering measurement device of any of (1) to (4), the optical element holder may include a polygonal portion in its cross section.

(6) (2) 내지 (5)의 어느 것의 광산란 측정 장치에 있어서, 상기 복수의 개구는, 서로 대향하는 제3 개구 및 제4 개구를 포함하고 있어도 된다.(6) In the light scattering measurement device of any of (2) to (5), the plurality of openings may include a third opening and a fourth opening that face each other.

(7) (1) 내지 (6)의 어느 것의 광산란 측정 장치에 있어서, 제1 광학 소자 및 제2 광학 소자는 각각 편광 소자이어도 된다.(7) In the light scattering measurement device of any of (1) to (6), the first optical element and the second optical element may each be a polarizing element.

(8) (1) 내지 (7)의 어느 것의 광산란 측정 장치에 있어서, 상기 제1 광학 소자의 편광축의 방향과, 상기 제2 광학 소자의 편광축의 방향은 서로 달라도 된다.(8) In the light scattering measurement device of any of (1) to (7), the direction of the polarization axis of the first optical element may be different from the direction of the polarization axis of the second optical element.

(9) (1) 내지 (8)의 어느 것의 광산란 측정 장치는, 제1 검출부 및 상기 제1 검출부에 인접하는 제2 검출부를 포함하는 복수의 상기 검출부와, 상기 제1 검출부에 대응하는 제1 광학 소자 홀더 및 상기 제2 검출부에 대응하는 제2 광학 소자 홀더를 포함하는 복수의 상기 광학 소자 홀더를 구비하고 있어도 된다.(9) The light scattering measurement device of any of (1) to (8) includes a plurality of detection units including a first detection unit and a second detection unit adjacent to the first detection unit, and a first detection unit corresponding to the first detection unit. A plurality of the optical element holders including an optical element holder and a second optical element holder corresponding to the second detection unit may be provided.

(10) (1) 내지 (9)의 어느 것의 광산란 측정 장치는, 제1 기어와, 상기 제1 기어와 맞물려서, 상기 제1 기어의 회전에 따라 회전함과 함께, 상기 제1 광학 소자 홀더와 일체적으로 회전 가능한 제2 기어와, 상기 제1 기어와 맞물려서, 상기 제1 기어의 회전에 따라 회전함과 함께, 상기 제2 광학 소자 홀더와 일체적으로 회전 가능한 제3 기어를 구비하고 있어도 된다.(10) The light scattering measurement device of any of (1) to (9) includes a first gear, meshes with the first gear, rotates in accordance with rotation of the first gear, and includes the first optical element holder and It may be provided with a second gear that is rotatable integrally with the first gear, and a third gear that rotates in accordance with the rotation of the first gear and is rotatable integrally with the second optical element holder. .

도 1은 본 발명의 실시 형태에 관한 광산란 측정 장치를 도시하는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시 형태에 관한 광산란 측정 장치의 평면적인 배치를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 형태에 관한 광학 소자 홀더를 도시하는 사시도이다.
도 4는 본 발명의 실시 형태에 관한 광학 소자 홀더를 도시하는 측면도이다.
도 5는 회전축(AR)을 포함하는 면에 의해 절단한 도 4의 종단면도이다.
도 6은 VI-VI선 절단면에 의한 도 4의 단면도이다.
도 7은 변형예에 관한 광산란 측정 장치를 도시하는 사시도이다.
1 is a perspective view showing a light scattering measurement device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram schematically showing the planar arrangement of a light scattering measurement device according to an embodiment of the present invention.
Fig. 3 is a perspective view showing an optical element holder according to an embodiment of the present invention.
Fig. 4 is a side view showing an optical element holder according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a longitudinal cross-sectional view of FIG. 4 cut along a plane including the rotation axis AR.
Figure 6 is a cross-sectional view of Figure 4 taken along line VI-VI.
Fig. 7 is a perspective view showing a light scattering measurement device according to a modified example.

이하, 본 발명의 실시 형태에 대하여 도면에 기초하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on the drawings.

우선, 도 1 및 도 2를 사용하여, 본 발명의 실시 형태에 관한 광산란 측정 장치의 개요에 대하여 설명한다. 도 1은, 본 발명의 실시 형태에 관한 광산란 측정 장치를 도시하는 사시도이다. 도 2는, 본 발명의 실시 형태에 관한 광산란 측정 장치의 평면적인 배치를 모식적으로 도시하는 도면이다.First, using FIGS. 1 and 2, an outline of a light scattering measurement device according to an embodiment of the present invention will be described. 1 is a perspective view showing a light scattering measurement device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram schematically showing the planar arrangement of a light scattering measurement device according to an embodiment of the present invention.

도 1 및 도 2에 도시하는 바와 같이, 광산란 검출 장치(100)는, 광원(1)과, 시료셀(2)과, 복수의 검출부(3)와, 복수의 광학 소자 홀더(4)와, 광학 소자 홀더 지지부(5)를 구비한다. 본 실시 형태의 광산란 검출 장치(100)는, 다각도 광산란 측정 장치이다.As shown in FIGS. 1 and 2, the light scattering detection device 100 includes a light source 1, a sample cell 2, a plurality of detection units 3, a plurality of optical element holders 4, It is provided with an optical element holder support portion (5). The light scattering detection device 100 of this embodiment is a multi-angle light scattering measurement device.

광원(1)은, 시료에 조사되는 광(L)을 발생시킨다. 시료셀(2)은, 시료를 수용하는 투명한 용기이다. 시료셀(2)(시료셀(2) 내의 시료)에는, 광원(1)으로부터의 광(L)이 입사한다. 시료셀(2)(시료셀(2) 내의 시료)로부터는, 시료셀(2) 주위에 각도(θ)씩 다른 복수의 방향으로 산란광(SL)이 출사한다.The light source 1 generates light L that is irradiated to the sample. The sample cell 2 is a transparent container that accommodates the sample. Light L from the light source 1 enters the sample cell 2 (the sample within the sample cell 2). Scattered light SL is emitted from the sample cell 2 (the sample within the sample cell 2) in a plurality of directions with different angles θ around the sample cell 2.

복수의 검출부(3) 각각은, 상기 복수 방향으로 출사하는 산란광(SL) 중, 그 검출부(3)에 대응하는 산란광(SL)을 검출한다. 그 때문에, 복수의 검출부(3) 각각은, 시료셀(2)을 둘러싸는 원주(C1) 상에서, 시료셀(2)을 중심으로 해서 서로 각도(θ) 이격되어 인접하도록 마련되어 있다(도 2). 복수의 검출부(3) 각각의 출력은 제어 장치(도시하지 않음)에 전달된다. 그리고, 제어 장치는, 복수의 검출부(3) 각각에서 검출된 산란광(SL)의 강도의 각도 의존성에 기초하여, 시료 중의 물질의 입자경이나 분자량을 산출한다. 본 실시 형태에서는, 시료는 액체 시료인 것으로 하지만, 시료는 고체 시료이어도 된다.Each of the plurality of detection units 3 detects the scattered light SL corresponding to the detection unit 3 among the scattered light SL emitted in the plurality of directions. Therefore, each of the plurality of detection units 3 is provided adjacent to each other at an angle θ with the sample cell 2 as the center on the circumference C1 surrounding the sample cell 2 (FIG. 2) . The output of each of the plurality of detection units 3 is transmitted to a control device (not shown). Then, the control device calculates the particle size or molecular weight of the substance in the sample based on the angle dependence of the intensity of the scattered light SL detected by each of the plurality of detection units 3. In this embodiment, the sample is assumed to be a liquid sample, but the sample may be a solid sample.

복수의 광학 소자 홀더(4) 각각은, 후술하는 바와 같이, 제1 광학 소자(401-1)와 제2 광학 소자(401-2)를 보유 지지한다(도 3 내지 6 참조). 복수의 광학 소자 홀더(4) 각각은, 시료셀(2)과 그 광학 소자 홀더(4)에 대응하는 검출부(3)의 사이에 마련되어 있다. 즉, 복수의 광학 소자 홀더(4) 각각은, 시료셀(2)을 둘러쌈과 함께 원주(C1)의 내측에 위치하는 동심의 원주(C2) 상에서, 서로 각도(θ) 이격되어 인접하도록 마련되어 있다(도 2). 그리고, 복수의 광학 소자 홀더(4) 각각은, 시료셀(2)로부터 그 광학 소자 홀더(4)에 대응하는 검출부(3)를 향하는 산란광(SL)의 경로(LP) 상에 제1 광학 소자(401-1)가 위치하는 제1 자세와, 경로(LP) 상에 제2 광학 소자(401-2)가 위치하는 제2 자세의 사이를 회전 가능하게 되어 있다(도 3 내지 6 참조).Each of the plurality of optical element holders 4 holds the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 (see FIGS. 3 to 6), as will be described later. Each of the plurality of optical element holders 4 is provided between the sample cell 2 and the detection unit 3 corresponding to the optical element holder 4. That is, each of the plurality of optical element holders 4 is arranged to be adjacent to each other at an angle θ on a concentric circumference C2 surrounding the sample cell 2 and located inside the circumference C1. There is (Figure 2). And, each of the plurality of optical element holders 4 has a first optical element on the path LP of the scattered light SL heading from the sample cell 2 to the detection unit 3 corresponding to the optical element holder 4. It is possible to rotate between a first posture in which 401-1 is located and a second posture in which second optical element 401-2 is located on the path LP (see FIGS. 3 to 6).

이와 같이, 복수의 광학 소자 홀더(4) 각각이 제1 자세와 제2 자세의 사이를 회전 가능하게 되어 있음으로써, 광산란 측정 장치(100)에 있어서, 제1 광학 소자(401-1)를 사용한 측정과 제2 광학 소자(401-2)를 사용한 측정의 전환이 가능하게 된다. 또한, 도 1 및 도 2에서는, 검출부(3) 및 광학 소자 홀더(4)의 수가 각각 11개인 경우가 도시되어 있지만, 검출부(3) 및 광학 소자 홀더(4)의 수는 이것보다 적어도, 또는 많아도 된다.In this way, each of the plurality of optical element holders 4 is rotatable between the first posture and the second posture, so that in the light scattering measurement device 100, the first optical element 401-1 is used. Switching between measurement and measurement using the second optical element 401-2 becomes possible. 1 and 2 show a case where the number of detection units 3 and optical element holders 4 is 11, but the number of detection units 3 and optical element holders 4 is less than this, or It can be more.

광학 소자 홀더 지지부(5)는, 상기한 바와 같이, 복수의 광학 소자 홀더(4)를 회전 가능하게 되도록 지지하고 있다. 즉, 광학 소자 홀더 지지부(5)는, 원주(C2)를 따른 원환 형상의 판재에 의해 형성되어 있고, 그 원환 형상의 중심의 구멍 부분에 시료셀(2)이 배치되어 있다. 또한, 광학 소자 홀더 지지부(5)의 형상은 원환 형상에 한정되지 않고, 다른 형상이어도 된다.As described above, the optical element holder support portion 5 supports the plurality of optical element holders 4 so as to be rotatable. That is, the optical element holder support portion 5 is formed of an annular plate along the circumference C2, and a sample cell 2 is disposed in a hole portion at the center of the annular shape. Additionally, the shape of the optical element holder support portion 5 is not limited to an annular shape, and may have other shapes.

이하에서는, 광학 소자 홀더(4)의 상세에 대하여 설명한다. 먼저, 도 3 내지 도 5를 사용하여, 광학 소자 홀더(4) 전체에 대하여 설명한다. 도 3은, 본 발명의 실시 형태에 관한 광학 소자 홀더를 도시하는 사시도이다. 도 4는, 본 발명의 실시 형태에 관한 광학 소자 홀더를 도시하는 측면도이다. 도 5는, 회전축(AR)을 포함하는 면에 의해 절단한 도 4의 종단면도이다. 또한, 도 3 내지 도 5에서는, 경로(LP) 및 광학 소자 홀더 지지부(5)의 일부분만을 도시한다.Below, details of the optical element holder 4 will be described. First, using FIGS. 3 to 5, the entire optical element holder 4 will be described. Fig. 3 is a perspective view showing an optical element holder according to an embodiment of the present invention. Fig. 4 is a side view showing an optical element holder according to an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a longitudinal cross-sectional view of FIG. 4 cut along a plane including the rotation axis AR. Additionally, in FIGS. 3 to 5, only a portion of the path LP and the optical element holder support 5 are shown.

도 3 내지 도 5에 도시한 바와 같이, 광학 소자 홀더(4)는, 본체(40)와 손잡이(41)를 갖는다. 본체(40)는, 하부(40a)와 상부(40b)를 포함한다.3 to 5, the optical element holder 4 has a main body 40 and a handle 41. The main body 40 includes a lower part 40a and an upper part 40b.

하부(40a)의 형상은 육각기둥상이며, 상부(40b)의 형상은 원기둥상이다(도 3). 하부(40a)의 중심축과 상부(40b)의 중심축은 동일 직선 상에 배열되어 있고(도 5), 그 직선이 광학 소자 홀더(4)의 회전축(AR)으로 된다. 또한, 하부(40a)의 형상은, 육각기둥상에 한정되지 않고, 원기둥상이나 반구상 등, 다른 형상이어도 된다.The shape of the lower part 40a is a hexagonal column shape, and the shape of the upper part 40b is a cylindrical shape (FIG. 3). The central axis of the lower part 40a and the central axis of the upper part 40b are arranged on the same straight line (FIG. 5), and the straight line becomes the rotation axis AR of the optical element holder 4. Additionally, the shape of the lower portion 40a is not limited to a hexagonal column shape, and may be other shapes such as a column shape or a hemisphere shape.

상부(40b)의 하단부는, 스페이서(51, 51)를 통해서 광학 소자 홀더 지지부(5)에 의해 회전 가능하게 지지되어 있다(도 5). 스페이서(51, 51)의 형상은, 각각 원환 판상이며, 그 내주에 원통 벽이 직립된 형상이다. 광학 소자 홀더 지지부(5) 상에는 원주(C2)를 따라 복수의 구멍이 뚫려 있어, 각 구멍의 상측으로부터 스페이서(51, 51)의 한쪽이 끼워지고, 각 구멍의 하측으로부터 스페이서(51, 51)의 다른 한쪽이 끼워져 있다. 또한, 상부(40b)의 상단부에는, 원통상의 손잡이(41)가 회전 불가능하게 끼워져 있다(도 3, 5). 이에 의해, 유저는, 손잡이(41)를 잡고, 광학 소자 홀더(4)를 회전축(AR) 주위로 회전시킬 수 있다. 손잡이(41)의 형상은 원통상 이외의 것이어도 된다.The lower end of the upper part 40b is rotatably supported by the optical element holder support part 5 via spacers 51 and 51 (FIG. 5). The shape of the spacers 51 and 51 is each annular plate, with a cylindrical wall standing upright on its inner circumference. A plurality of holes are formed on the optical element holder support portion 5 along the circumference C2, one side of the spacer 51, 51 is inserted from the upper side of each hole, and one side of the spacer 51, 51 is inserted from the lower side of each hole. The other side is inserted. Additionally, a cylindrical handle 41 is non-rotatably fitted to the upper end of the upper part 40b (FIGS. 3 and 5). Thereby, the user can hold the handle 41 and rotate the optical element holder 4 around the rotation axis AR. The shape of the handle 41 may be other than a cylindrical shape.

이하, 도 6을 또한 참조하면서, 광학 소자 홀더(4)의 상세에 대하여 설명한다. 도 6은, VI-VI선 절단면에 의한 도 4의 단면도이다.Hereinafter, details of the optical element holder 4 will be described, also referring to FIG. 6. FIG. 6 is a cross-sectional view of FIG. 4 taken along line VI-VI.

하부(40a)에는, 대향하는 측면을 관통하는 제1 관통 구멍(TH1) 및 제2 관통 구멍(TH2)이 마련되어 있다(도 6). 제1 관통 구멍(TH1)의 일단에는 제1 광학 소자(401-1)가 마련되고, 제1 관통 구멍(TH1)의 타단은 제1 개구(402-1)로 되어 있다. 제2 관통 구멍(TH2)의 일단에는 제2 광학 소자(401-2)가 마련되고, 제2 관통 구멍(TH2)의 타단은 제2 개구(402-2)로 되어 있다. 또한, 제1 광학 소자(401-1)와 제1 개구(402-1)는 서로 대향하고 있다. 마찬가지로, 제2 광학 소자(401-2)와 제2 개구(402-2)는 서로 대향하고 있다.The lower part 40a is provided with a first through hole TH1 and a second through hole TH2 penetrating opposing side surfaces (FIG. 6). The first optical element 401-1 is provided at one end of the first through hole TH1, and the other end of the first through hole TH1 is a first opening 402-1. The second optical element 401-2 is provided at one end of the second through hole TH2, and the other end of the second through hole TH2 is a second opening 402-2. Additionally, the first optical element 401-1 and the first opening 402-1 face each other. Likewise, the second optical element 401-2 and the second opening 402-2 face each other.

이에 의해, 제1 광학 소자(401-1)에 입사한 산란광(SL)이, 제1 관통 구멍(TH1)을 통과해서, 제1 개구(402-1)로부터 출사되기 때문에, 제1 광학 소자(401-1)를 통과한 산란광(SL)을 검출부(3)가 검출할 수 있다. 마찬가지로, 제2 광학 소자(401-2)에 입사한 산란광(SL)이, 제2 관통 구멍(TH2)을 통과해서, 제2 개구(402-2)로부터 출사되기 때문에, 제2 광학 소자(401-2)를 통과한 산란광(SL)을 검출부(3)가 검출할 수 있다. 또한, 제1 개구(402-1)에 입사한 산란광(SL)이, 제1 관통 구멍(TH1)을 통과한 후, 제1 광학 소자(401-1)를 통과하도록 해도 된다. 또한, 제2 개구(402-2)에 입사한 산란광(SL)이, 제2 관통 구멍(TH2)을 통과한 후, 제2 광학 소자(401-2)를 통과하도록 해도 된다.As a result, the scattered light SL incident on the first optical element 401-1 passes through the first through hole TH1 and is emitted from the first opening 402-1, so that the first optical element ( The detection unit 3 can detect the scattered light (SL) that has passed through 401-1). Similarly, since the scattered light SL incident on the second optical element 401-2 passes through the second through hole TH2 and is emitted from the second opening 402-2, the second optical element 401-2 The detection unit 3 can detect the scattered light (SL) that has passed through -2). Additionally, the scattered light SL incident on the first opening 402-1 may pass through the first through hole TH1 and then through the first optical element 401-1. Additionally, the scattered light SL incident on the second opening 402-2 may pass through the second through hole TH2 and then through the second optical element 401-2.

또한 하부(40a)에는, 대향하는 측면을 관통하는 제3 관통 구멍(TH3)이 마련되어 있다(도 6). 제3 관통 구멍(TH3)의 일단은 제3 개구(402-3)로 되어 있고, 제3 관통 구멍(TH3)의 타단은 제4 개구(402-4)로 되어 있다. 제3 개구(402-3)와 제4 개구(402-4)는 서로 대향하고 있다. 또한, 광학 소자 홀더(4)를 회전시킴으로써, 제3 개구(402-3) 및 제4 개구(402-4)를 경로(LP) 상에 위치시킬 수 있다. 이와 같이, 광학 소자가 마련되지 않는 관통 구멍을 마련하여 둠으로써, 광산란 측정 장치(100)가 광학 소자 홀더(4)를 구비하는 경우에도, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)를 관여시키지 않는 통상의 측정을 실시할 수 있다.Additionally, the lower portion 40a is provided with a third through hole TH3 that penetrates the opposing side surface (FIG. 6). One end of the third through hole TH3 is the third opening 402-3, and the other end of the third through hole TH3 is the fourth opening 402-4. The third opening 402-3 and the fourth opening 402-4 face each other. Additionally, by rotating the optical element holder 4, the third opening 402-3 and the fourth opening 402-4 can be positioned on the path LP. In this way, by providing a through hole in which no optical element is provided, even when the light scattering measurement device 100 is provided with the optical element holder 4, the first optical element 401-1 and the second optical element Ordinary measurements that do not involve (401-2) can be performed.

또한, 광학 소자 홀더(4)는, 4개 이상의 복수의 관통 구멍을 갖는 것이어도 된다. 즉, 광학 소자 홀더(4)는, 3개 이상의 복수의 광학 소자를 보유 지지하는 것이어도 된다. 또한, 광학 소자 홀더(4)는, 5개 이상의 복수의 개구를 갖는 것이어도 된다. 또한, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)의 배치 양태는 도 6에 도시한 것에 한정되지 않고, 예를 들어 제1 광학 소자(401-1)와 제2 광학 소자(401-2)가 인접하는 위치에 있어도 된다.Additionally, the optical element holder 4 may have a plurality of four or more through holes. That is, the optical element holder 4 may hold a plurality of three or more optical elements. Additionally, the optical element holder 4 may have a plurality of openings of five or more. In addition, the arrangement aspect of the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 is not limited to that shown in FIG. 6, and for example, the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 The optical elements 401-2 may be positioned adjacent to each other.

또한, 제1 개구(402-1) 등의 개구는 원 형상의 구멍이었지만(도 3 등), 광을 통과시킨다고 하는 기능을 발휘하는 범위 내에서, 구멍 이외의 형상으로 변경해도 된다. 예를 들어, 개구는, 하부(40a)의 상단 또는 하단에 마련된 절결이어도 된다.Additionally, the openings such as the first opening 402-1 are circular holes (see Fig. 3, etc.), but may be changed to a shape other than a hole within the range of performing the function of allowing light to pass through. For example, the opening may be a notch provided at the top or bottom of the lower portion 40a.

제1 관통 구멍(TH1)의 중심선(CL1)은, 회전축(AR)에 직교함과 함께, 회전축(AR)과 경로(LP)의 교점인 회전 중심(CR)을 통과한다(도 6). 마찬가지로, 제2 관통 구멍(TH2)의 중심선(CL2)은, 회전축(AR)에 직교함과 함께, 회전축(AR)과 경로(LP)의 교점인 회전 중심(CR)을 통과한다(도 6). 또한, 제3 관통 구멍(TH3)의 중심선(CL3)은, 회전축(AR)에 직교함과 함께, 회전축(AR)과 경로(LP)의 교점인 회전 중심(CR)을 통과한다(도 6). 또한, 회전축(AR)은, 경로(LP) 상에 위치하고, 경로(LP)와 직교하고 있다(도 3 내지 5).The center line CL1 of the first through hole TH1 is perpendicular to the rotation axis AR and passes through the rotation center CR, which is the intersection of the rotation axis AR and the path LP (FIG. 6). Similarly, the center line CL2 of the second through hole TH2 is perpendicular to the rotation axis AR and passes through the rotation center CR, which is the intersection of the rotation axis AR and the path LP (FIG. 6) . In addition, the center line CL3 of the third through hole TH3 is perpendicular to the rotation axis AR and passes through the rotation center CR, which is the intersection of the rotation axis AR and the path LP (FIG. 6) . Additionally, the rotation axis AR is located on the path LP and is perpendicular to the path LP (FIGS. 3 to 5).

이에 의해, 광학 소자 홀더(4)를 회전시켰을 때, 산란광(SL)이, 제1 관통 구멍(TH1), 제2 관통 구멍(TH2) 및 제3 관통 구멍(TH3)을 통과할 수 있다. 또한, 이 작용을 발휘하는 한, 회전축(AR)과 경로(LP)는, 직교 이외의 양태로 교차하고 있어도 된다. 또한, 이 작용을 발휘하는 한, 회전축(AR)과, 제1 관통 구멍(TH1)의 중심선(CL1), 제2 관통 구멍(TH2)의 중심선(CL2) 또는 제3 관통 구멍(TH3)의 중심선(CL3)은 직교 이외의 양태로 교차하고 있어도 된다. 또한, 회전축(AR)은, 경로(LP) 상에 위치하고 있지 않아도 되고, 상기 작용을 발휘하는 한, 경로(LP)와 직교 이외의 양태로 교차하고 있어도 된다.As a result, when the optical element holder 4 is rotated, the scattered light SL can pass through the first through hole TH1, the second through hole TH2, and the third through hole TH3. Additionally, as long as this effect is achieved, the rotation axis AR and the path LP may intersect in a manner other than orthogonal. In addition, as long as this effect is exerted, the rotation axis AR and the center line CL1 of the first through hole TH1, the center line CL2 of the second through hole TH2, or the center line of the third through hole TH3 (CL3) may intersect in a manner other than orthogonal. In addition, the rotation axis AR does not have to be located on the path LP, and may intersect the path LP in a manner other than orthogonal to the path LP as long as it exerts the above effect.

제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)의 형상은 각각, 2개의 주면을 갖는 판상이다. 여기서, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2) 각각의 주면의 법선 방향(즉, 제1 관통 구멍(TH1)의 중심선(CL1)의 방향 및 제2 관통 구멍(TH2)의 중심선(CL2)의 방향)은, 회전축(AR)과 직교하고 있다(도 5 내지 6). 바꾸어 말하면, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)는, 각각 회전축(AR)의 주위에서 회전축(AR)을 향하도록 마련되어 있다. 즉, 복수의 광학 소자(401)가 동일 평면 상에 마련되어 있지 않아, 측정에 관여하지 않는 광학 소자에 기인하는 데드 스페이스를 작게 할 수 있기 때문에, 광학 소자 홀더(4)를 소형으로 할 수 있다. 또한, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)의 주면은, 평면이어도 되고, 곡면이어도 된다.The first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 each have a plate shape with two main surfaces. Here, the normal direction of the main surface of each of the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 (i.e., the direction of the center line CL1 of the first through hole TH1 and the direction of the second through hole ( The direction of the center line (CL2) of TH2) is perpendicular to the rotation axis AR (FIGS. 5 and 6). In other words, the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 are each provided around the rotation axis AR and toward the rotation axis AR. That is, since the plurality of optical elements 401 are not provided on the same plane, the dead space caused by optical elements not involved in measurement can be reduced, so the optical element holder 4 can be made compact. Additionally, the main surfaces of the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 may be flat or curved.

제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)는, 여기에서는 일례로서, 각각 편광 소자(편광판)이다. 제1 광학 소자(401-1)의 편광축의 방향은 회전축(AR)과 평행한 방향, 즉 세로 방향이며, 제2 광학 소자(401-2)의 편광축의 방향은 회전축(AR)에 수직인 방향, 즉 가로 방향이다. 또한, 제1 광학 소자(401-1)의 편광축의 방향 및 제2 광학 소자(401-2)의 편광축의 방향은, 측정 목적에 따라서 임의로 설정해도 된다. 또한, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2)로서는, 편광 소자 이외에, 광량 조정을 위한 ND 필터나, 파장 조정을 위한 색 유리 필터 등, 다양한 광학 소자를 선택할 수 있다. 예를 들어, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2) 중 한쪽을 편광 소자로 하고, 제1 광학 소자(401-1) 및 제2 광학 소자(401-2) 중 다른 쪽을 ND 필터로 하는 등, 다른 종류의 광학 소자를 적절히 조합하여 사용해도 된다.The first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 are each polarizing elements (polarizing plates) here as examples. The direction of the polarization axis of the first optical element 401-1 is parallel to the rotation axis AR, that is, the vertical direction, and the direction of the polarization axis of the second optical element 401-2 is perpendicular to the rotation axis AR. , that is, in the horizontal direction. Additionally, the direction of the polarization axis of the first optical element 401-1 and the direction of the polarization axis of the second optical element 401-2 may be set arbitrarily depending on the purpose of measurement. Additionally, as the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2, in addition to the polarizing element, various optical elements such as an ND filter for adjusting the amount of light and a colored glass filter for adjusting the wavelength can be selected. there is. For example, one of the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 is used as a polarizing element, and the first optical element 401-1 and the second optical element 401-2 are used as polarizing elements. Different types of optical elements may be used in appropriate combination, such as using the other side as an ND filter.

그런데, 본 실시 형태의 광학 소자 홀더(4)에서는, 회전축(AR)이 경로(LP) 상에 위치하고, 또한, 제1 광학 소자(401-1)와 제1 개구(402-1)가 회전축(AR)을 사이에 두도록 배치됨과 함께, 제2 광학 소자(401-2)와 제2 개구(402-2)가 회전축(AR)을 사이에 두도록 배치되어 있다(도 5 내지 6). 이러한 구성으로 함으로써, 광학 소자 홀더(4)의 하부(40a)의 측면을 보다 유효 활용할 수 있기 때문에, 광학 소자 홀더(4)를 보다 소형으로 할 수 있다.However, in the optical element holder 4 of this embodiment, the rotation axis AR is located on the path LP, and the first optical element 401-1 and the first opening 402-1 are located on the rotation axis ( The second optical element 401-2 and the second opening 402-2 are arranged so as to sandwich the rotation axis AR (FIGS. 5 and 6). With this configuration, the side surface of the lower part 40a of the optical element holder 4 can be utilized more effectively, so the optical element holder 4 can be made more compact.

또한, 제1 관통 구멍(TH1)의 중심선(CL1)의 방향과, 제2 관통 구멍(TH2)의 중심선(CL2)의 방향과, 제3 관통 구멍(TH3)의 중심선(CL3)의 방향은 회전 중심(CR) 둘레로 60도씩 다르게 되어 있다(도 6). 즉, 제1 광학 소자(401-1)와, 제3 개구(402-3)와, 제2 광학 소자(401-2)와, 제1 개구(402-1)와, 제4 개구(402-4)와, 제2 개구(402-2)는, 회전축(AR) 주위의 전체 둘레에 등각도 간격으로 배치되어 있다. 이러한 구성으로 함으로써, 광학 소자 홀더(4)의 하부(40a)의 측면을 최대한 유효 활용할 수 있으므로, 광학 소자 홀더(4)를 더욱 보다 소형으로 할 수 있다.In addition, the direction of the center line CL1 of the first through hole TH1, the direction of the center line CL2 of the second through hole TH2, and the direction of the center line CL3 of the third through hole TH3 are rotated. It varies by 60 degrees around the center (CR) (Figure 6). That is, the first optical element 401-1, the third opening 402-3, the second optical element 401-2, the first opening 402-1, and the fourth opening 402- 4) and the second opening 402-2 are arranged at equiangular intervals around the entire circumference of the rotation axis AR. With this configuration, the side surface of the lower portion 40a of the optical element holder 4 can be utilized to the fullest extent, making it possible to make the optical element holder 4 even more compact.

또한, 본 발명은 상기 실시 형태에 한정되지 않고, 다양한 변형 실시가 가능하다. 이하, 도 7을 사용하여 본 발명의 변형예의 하나에 대하여 설명한다. 도 7은, 변형예에 관한 광산란 측정 장치를 도시하는 사시도이다.Additionally, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications are possible. Hereinafter, one modification of the present invention will be described using FIG. 7. Fig. 7 is a perspective view showing a light scattering measurement device according to a modified example.

본 변형예에서는, 광산란 측정 장치(100)는, 기어 휠(6)과, 복수의 피니언(7)을 더 구비한다. 기어 휠(6)은, 광학 소자 홀더 지지부(5) 상에 마련되고, 그 복수의 톱니가 시료셀(2)을 둘러싸고 있다. 또한, 기어 휠(6)의 회전축은, 복수의 광학 소자 홀더(4) 각각의 회전축(AR)과 평행하게 되어 있다.In this modification, the light scattering measuring device 100 further includes a gear wheel 6 and a plurality of pinions 7. The gear wheel 6 is provided on the optical element holder support portion 5, and its plural teeth surround the sample cell 2. Additionally, the rotation axis of the gear wheel 6 is parallel to the rotation axis AR of each of the plurality of optical element holders 4.

복수의 피니언(7) 각각은, 앞서 설명한 실시 형태에서의 손잡이(41) 대신에, 광학 소자 홀더의 상부(40b)의 상단부에 회전 불가능하게 끼워져 있고, 광학 소자 홀더와 일체적으로 회전 가능하게 되어 있다. 복수의 피니언(7) 각각은, 기어 휠(6)과 맞물려서, 기어 휠(6)의 회전에 따라 회전한다. 앞서 설명한 실시 형태에서는, 손잡이(41)를 수동으로 돌림으로써 복수의 광학 소자 홀더(4) 각각을 회전시키고 있었지만, 본 변형예에서는, 기어 휠(6)을 모터 등의 동력에 의해 회전시킴으로써, 복수의 광학 소자 홀더(4) 모두를 일거에 회전시킬 수 있다.Each of the plurality of pinions 7 is non-rotatably fitted to the upper end of the upper part 40b of the optical element holder, instead of the handle 41 in the above-described embodiment, and is rotatable integrally with the optical element holder. there is. Each of the plurality of pinions (7) engages with the gear wheel (6) and rotates according to the rotation of the gear wheel (6). In the previously described embodiment, each of the plurality of optical element holders 4 was rotated by manually turning the handle 41, but in this modification, the plurality of optical element holders 4 were rotated by power such as a motor. All of the optical element holders 4 can be rotated at once.

100: 광학 측정 장치 1: 광원
2: 시료셀 3: 검출부
4: 광학 소자 홀더 5: 광학 소자 홀더 지지부
6: 기어 휠 7: 피니언
40: 본체 41: 손잡이
401: 광학 소자 402: 개구
51: 스페이서 L: 광
SL: 산란광 LP: 경로
AR: 회전축 TH: 관통 구멍
CR: 회전 중심
100: optical measurement device 1: light source
2: Sample cell 3: Detection unit
4: Optical element holder 5: Optical element holder support part
6: gear wheel 7: pinion
40: Body 41: Handle
401: optical element 402: aperture
51: Spacer L: Optical
SL: Scattered light LP: Path
AR: Rotating axis TH: Through hole
CR: center of rotation

Claims (10)

광원과,
시료를 수용하고, 상기 광원으로부터의 광이 입사하는 시료셀과,
상기 시료셀로부터 출사하는 출사광을 검출하는 검출부와,
상기 시료셀로부터 상기 검출부를 향하는 상기 출사광의 경로에 의해 정해지는 평면과 직교하는 회전축을 가짐과 함께, 각각 상기 회전축의 주위에서 상기 회전축을 향하도록 마련된 제1 광학 소자 및 제2 광학 소자를 포함하는 복수의 광학 소자를 보유 지지하는 광학 소자 홀더와,
상기 회전축 주위로 회전 가능하게 되도록 상기 광학 소자 홀더를 지지하는 광학 소자 홀더 지지부
를 구비하고,
상기 광학 소자 홀더는, 적어도, 상기 제1 광학 소자가 상기 경로 상에 위치하는 제1 자세와, 상기 제2 광학 소자가 상기 경로 상에 위치하는 제2 자세의 사이를 회전 가능한,
광산란 측정 장치.
light source,
a sample cell that accommodates a sample and receives light from the light source;
a detection unit that detects light emitted from the sample cell;
It has a rotation axis orthogonal to a plane determined by the path of the emitted light from the sample cell to the detection unit, and includes a first optical element and a second optical element each provided around the rotation axis and facing the rotation axis. An optical element holder that holds and supports a plurality of optical elements,
An optical element holder support portion that supports the optical element holder so that it can rotate around the rotation axis.
Equipped with
The optical element holder is rotatable between at least a first posture in which the first optical element is located on the path and a second posture in which the second optical element is located on the path.
Light scattering measurement device.
제1항에 있어서, 상기 광학 소자 홀더는, 본체를 갖고, 상기 본체의 측면에 상기 복수의 광학 소자를 보유 지지하는 것이며,
상기 본체의 측면에는, 상기 제1 광학 소자의 반대측으로 뚫린 제1 개구와, 상기 제2 광학 소자의 반대측으로 뚫린 제2 개구를 포함하는 복수의 개구가 마련되어 있는, 광산란 측정 장치.
The optical element holder according to claim 1, wherein the optical element holder has a main body and holds the plurality of optical elements on a side surface of the main body,
A light scattering measurement device in which a plurality of openings including a first opening opening on a side opposite to the first optical element and a second opening opening on a side opposite to the second optical element are provided on a side of the main body.
제2항에 있어서, 상기 회전축은, 상기 경로 상에 위치하고, 상기 제1 광학 소자와 상기 제1 개구 사이에 끼워짐과 함께, 상기 제2 광학 소자와 상기 제2 개구 사이에 끼워져 있는, 광산란 측정 장치.3. Light scattering measurement according to claim 2, wherein the rotation axis is located on the path and is sandwiched between the first optical element and the first aperture, and is sandwiched between the second optical element and the second aperture. Device. 제3항에 있어서, 상기 복수의 광학 소자 및 상기 복수의 개구는, 상기 회전축 주위의 전체 둘레에 등각도 간격으로 배치되어 있는, 광산란 측정 장치.The light scattering measurement device according to claim 3, wherein the plurality of optical elements and the plurality of openings are arranged at equiangular intervals around the entire circumference of the rotation axis. 제4항에 있어서, 상기 광학 소자 홀더는, 다각 형상의 부분을 단면에 포함하는, 광산란 측정 장치.The light scattering measurement device according to claim 4, wherein the optical element holder includes a polygonal portion in its cross section. 제2항에 있어서, 상기 복수의 개구는, 서로 대향하는 제3 개구 및 제4 개구를 포함하는, 광산란 측정 장치.The light scattering measurement device according to claim 2, wherein the plurality of openings include third openings and fourth openings facing each other. 제1항에 있어서, 제1 광학 소자 및 제2 광학 소자는 각각 편광 소자인, 광산란 측정 장치.The light scattering measurement device according to claim 1, wherein the first optical element and the second optical element are each a polarizing element. 제7항에 있어서, 상기 제1 광학 소자의 편광 축의 방향과, 상기 제2 광학 소자의 편광 축의 방향은 서로 다른, 광산란 측정 장치.The light scattering measuring device according to claim 7, wherein the direction of the polarization axis of the first optical element and the direction of the polarization axis of the second optical element are different from each other. 제1항에 있어서, 제1 검출부 및 상기 제1 검출부에 인접하는 제2 검출부를 포함하는 복수의 상기 검출부와,
상기 제1 검출부에 대응하는 제1 광학 소자 홀더 및 상기 제2 검출부에 대응하는 제2 광학 소자 홀더를 포함하는 복수의 상기 광학 소자 홀더를 구비하는, 광산란 측정 장치.
The method of claim 1, comprising: a plurality of detection units including a first detection unit and a second detection unit adjacent to the first detection unit;
A light scattering measurement device comprising a plurality of optical element holders including a first optical element holder corresponding to the first detection unit and a second optical element holder corresponding to the second detection unit.
제9항에 있어서, 제1 기어와,
상기 제1 기어와 맞물려서, 상기 제1 기어의 회전에 따라 회전함과 함께, 상기 제1 광학 소자 홀더와 일체적으로 회전 가능한 제2 기어와,
상기 제1 기어와 맞물려서, 상기 제1 기어의 회전에 따라 회전함과 함께, 상기 제2 광학 소자 홀더와 일체적으로 회전 가능한 제3 기어를 구비하는, 광산란 측정 장치.
10. The method of claim 9, comprising: a first gear;
a second gear that engages the first gear, rotates in accordance with the rotation of the first gear, and is rotatable integrally with the first optical element holder;
A light scattering measurement device comprising a third gear that engages the first gear, rotates in accordance with rotation of the first gear, and is rotatable integrally with the second optical element holder.
KR1020230120595A 2022-09-14 2023-09-11 Light scattering measuring apparatus KR20240037169A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022145900A JP2024041222A (en) 2022-09-14 2022-09-14 Light scattering measurement device
JPJP-P-2022-145900 2022-09-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20240037169A true KR20240037169A (en) 2024-03-21

Family

ID=90148650

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020230120595A KR20240037169A (en) 2022-09-14 2023-09-11 Light scattering measuring apparatus

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2024041222A (en)
KR (1) KR20240037169A (en)
CN (1) CN117705763A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011069805A (en) 2009-09-25 2011-04-07 Bossa Nova Technologies Llc Method and system for measuring visual appearance of irregularly and regularly disposed birefringence fiber
JP2015516574A (en) 2012-04-09 2015-06-11 ケーエルエー−テンカー コーポレイション Variable polarization wafer inspection

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011069805A (en) 2009-09-25 2011-04-07 Bossa Nova Technologies Llc Method and system for measuring visual appearance of irregularly and regularly disposed birefringence fiber
JP2015516574A (en) 2012-04-09 2015-06-11 ケーエルエー−テンカー コーポレイション Variable polarization wafer inspection

Also Published As

Publication number Publication date
JP2024041222A (en) 2024-03-27
CN117705763A (en) 2024-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2492496C2 (en) Light angle selecting light detector device
US8796653B2 (en) Terahertz radiation source mounting arrangements and methods of mounting a terahertz source
US5963335A (en) Means and method for measuring absorption of radiation-scattering samples
US4053229A (en) 2°/90° Laboratory scattering photometer
CN102435418A (en) Comprehensive polarization measuring device and method of argon fluoride (ArF) laser optical thin film elements
US20180236452A1 (en) Cuvette carrier
Nostell et al. Single-beam integrating sphere spectrophotometer for reflectance and transmittance measurements versus angle of incidence in the solar wavelength range on diffuse and specular samples
WO2012075958A1 (en) Real-time online absorption detection system
JP4538344B2 (en) Axial bearing measuring apparatus and method
KR20240037169A (en) Light scattering measuring apparatus
Treves Limitations of the Magneto‐Optic Kerr Technique in the Study of Microscopic Magnetic Domain Structures
US10746628B2 (en) Method of measuring optical parameters of polarizer and measuring device
Thomas et al. Device and method of optically orienting biaxial crystals for sample preparation
JP2013246161A (en) Spectrophotometer and spectrometry
CN209560829U (en) Spectrum analysis demonstrator
KR101802462B1 (en) Apparatus for testing
WO2015151233A1 (en) Spectrometer and integrating sphere
US2421344A (en) Colorimeter
US3506365A (en) Bidirectional reflection attachment for a double beam spectrophotometer
CN209841685U (en) Transmittance measuring instrument based on diffuse reflection plate
KR200432037Y1 (en) A Polariscope
US3663109A (en) Viewing apparatus for use in a photometer
JP2023531755A (en) Method of Making Polarizing Filter Matched Pairs and Method and Apparatus for Determining Concentration of Birefringent Particles Using Polarizing Filter Pairs
ES2927785T3 (en) optical measuring device
Gibson Visual spectrophotometry