KR20240025483A - Photosensitive resin composition, resin layer, cured product, partition wall, organic light emitting diode device, display, method for producing cured product, fluororesin and polymer blend - Google Patents

Photosensitive resin composition, resin layer, cured product, partition wall, organic light emitting diode device, display, method for producing cured product, fluororesin and polymer blend Download PDF

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유타 사카이다
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Abstract

[과제] 양호한 경화성과 발액성을 갖는 감광성 수지 조성물 및 그 경화물을 제공한다.
[해결 수단] 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유한다.
[화학식 1]

Figure pat00080

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)[Problem] To provide a photosensitive resin composition and a cured product thereof having good curability and liquid repellency.
[Solution] Contains an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin (E) having a structure represented by the following general formula (1). A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.
[Formula 1]
Figure pat00080

(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

Description

감광성 수지 조성물, 수지막, 경화물, 격벽, 유기 전계 발광 소자, 디스플레이, 경화물의 제조 방법, 함불소 수지 및 폴리머 블렌드{PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIN LAYER, CURED PRODUCT, PARTITION WALL, ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DEVICE, DISPLAY, METHOD FOR PRODUCING CURED PRODUCT, FLUORORESIN AND POLYMER BLEND}Photosensitive resin composition, resin film, cured product, partition wall, organic electroluminescent device, display, manufacturing method of cured product, fluorinated resin and polymer blend {PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIN LAYER, CURED PRODUCT, PARTITION WALL, ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DEVICE, DISPLAY, METHOD FOR PRODUCING CURED PRODUCT, FLUORORESIN AND POLYMER BLEND}

본 개시는 감광성 수지 조성물, 수지막, 경화물, 격벽, 유기 전계 발광 소자, 디스플레이, 경화물의 제조 방법, 함불소 수지 및 폴리머 블렌드에 관한 것이다.The present disclosure relates to photosensitive resin compositions, resin films, cured products, partitions, organic electroluminescent devices, displays, methods for producing cured products, fluorinated resins, and polymer blends.

유기 EL 디스플레이, 마이크로 LED 디스플레이, 양자 도트 디스플레이 등의 표시 소자를 제조할 때, 발광 등의 기능을 갖는 유기층의 형성 방법으로서 잉크젯법이 알려져 있다. 잉크젯법에는 몇 개의 방법이 있으며, 구체적으로는, 기판 상에 형성한 요철을 갖는 패턴막의 오목부에 노즐로부터 적하한 잉크를 고화(固化)하는 방법, 또는 잉크에 젖는 부위인 친액부와 잉크를 튕겨내는 부위인 발액부로서, 미리 기판 상에 형성한 패턴막 상에 잉크의 액적을 적하하고, 친액부에만 잉크를 부착시키는 방법 등을 들 수 있다.When manufacturing display elements such as organic EL displays, micro LED displays, and quantum dot displays, the inkjet method is known as a method of forming an organic layer having a function such as light emission. There are several methods in the inkjet method, specifically, a method of solidifying ink dropped from a nozzle into a concave part of a pattern film having irregularities formed on a substrate, or a method of solidifying ink with a lyophilic part that is a part wetted by ink. As a liquid-repellent portion that is a repelling portion, a method of dropping ink droplets on a pattern film previously formed on a substrate and attaching the ink only to the liquid-repellent portion may be used.

특히, 전자에 든 패턴막의 오목부에 노즐로부터 적하한 잉크를 고화시키는 방법에 있어서, 이와 같은 요철을 갖는 패턴막을 제조하기 위하여, 주로 2개의 방법을 채용할 수 있다. 하나는, 기판 상에 도포한 감광성 레지스트 막의 표면을 패턴 형상으로 노광함으로써 노광부와 미노광부를 형성하고, 어느 것인가의 부위를 현상액으로 용해하여 제거하는 포토리소그래피법이며, 다른 하나는 인쇄 기술을 이용하는 임프린트법이다.In particular, in the method of solidifying ink dropped from a nozzle into the concave portion of the pattern film contained in the former, two methods can be mainly adopted to produce a pattern film having such irregularities. One is a photolithography method in which the surface of a photosensitive resist film applied on a substrate is exposed in a pattern to form exposed and unexposed areas, and either part is removed by dissolving it in a developer, and the other is a method using printing technology. This is the imprint method.

형성한 요철을 갖는 패턴막의 볼록부는 뱅크(격벽)라고 불리고, 뱅크는 패턴막의 오목부에 잉크를 적하하였을 때, 잉크끼리가 섞이지 않게 하기 위한 장벽으로서 작용한다. 이 장벽으로서의 효과를 높이기 위해, 패턴막 오목부는 기판 표면이 노출되고, 그 기판 표면은 잉크에 대하여 친액성이고, 또한, 뱅크 상면은 잉크에 대하여 발액성인 것이 요구되고 있다.The convex portion of the pattern film having the formed irregularities is called a bank (partition), and the bank acts as a barrier to prevent the inks from mixing when ink is dropped into the concave portion of the pattern film. In order to increase the effect as a barrier, the pattern film recess is required to expose the substrate surface, the substrate surface is required to be lyophilic to ink, and the upper surface of the bank is required to be liquid-repellent to ink.

이와 같은 뱅크를 형성하기 위한 수지로서, 함불소 수지가 발(撥)잉크제로서 이용되고 있다. 함불소 수지를 이용함으로써 발액성이 향상된다.As a resin for forming such a bank, a fluorinated resin is used as an ink repellent agent. Liquid repellency is improved by using a fluorinated resin.

특허문헌 1에는, 에틸렌성 불포화 화합물, 광중합개시제, 알칼리 가용성 수지, 및 발액제를 함유하는 감광성 수지가 개시되어 있다. 또, 당해 감광성 수지를 경화시킨 경화물이 격벽을 구성하는 것이 개시되어 있다.Patent Document 1 discloses a photosensitive resin containing an ethylenically unsaturated compound, a photopolymerization initiator, an alkali-soluble resin, and a liquid repellent. In addition, it is disclosed that the cured product obtained by curing the photosensitive resin constitutes a partition.

국제공개 제2021/090836호International Publication No. 2021/090836

발액성의 향상을 위하여, 불소 원자 함유율이 높은 함불소 수지를 발액제로서 감광성 수지 조성물에 첨가하는 것이 알려져 있다. 그러나, 불소 원자 함유율이 높은 함불소 수지는, 불소를 포함하지 않는 용매나 화합물과의 상용성이 낮아, 각 성분이 편재하는 경우가 있다. 그와 같은 감광성 수지 조성물의 수지 경화물은, 경화 불량이나 발액 불량이 일어나는 경우가 있어, 개선의 여지가 있었다. 본 개시는, 양호한 경화성과 발액성을 갖는 감광성 수지 조성물 및 그 경화물을 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to improve liquid repellency, it is known to add a fluorinated resin with a high fluorine atom content as a liquid repellent to the photosensitive resin composition. However, fluorinated resins with a high fluorine atom content have low compatibility with solvents or compounds that do not contain fluorine, and each component may be omnipresent. Resin cured products of such photosensitive resin compositions sometimes have poor curing or poor liquid repellency, and there is room for improvement. The purpose of this disclosure is to provide a photosensitive resin composition and a cured product thereof having good curability and liquid repellency.

본 발명자들이 예의 검토한 결과, 발액제와 에틸렌성 불포화 화합물, 알칼리 가용성 수지 등이 편재함으로써 부분적으로 경화 불량이 일어나기 때문에, 발액제의 경화물 중으로의 보지(保持)가 어려워져, 발액성의 달성이 어려워지는 것을 발견하였다. 그리고, 특정의 기를 갖는 수지를 첨가함으로써 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 발견하고, 본 개시에 이르렀다.As a result of careful study by the present inventors, the uneven distribution of liquid repellent, ethylenically unsaturated compounds, alkali-soluble resins, etc. partially causes curing failure, making it difficult to retain the liquid repellent in the cured product, making it difficult to achieve liquid repellency. I found this to be difficult. Then, it was discovered that the above problem could be solved by adding a resin having a specific group, which led to the present disclosure.

상기 과제를 해결하기 위한 수단에는, 이하의 실시 형태가 포함된다.Means for solving the above problems include the following embodiments.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유한다.The first photosensitive resin composition of the present disclosure includes an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin having a structure represented by general formula (1). A photosensitive resin composition containing (E), where the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass, contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E).

Figure pat00001
Figure pat00001

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

본 개시의 제 2 감광성 수지 조성물은, 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 수지 (E)가, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는 수지이다.The second photosensitive resin composition of the present disclosure includes an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin having a structure represented by general formula (1). A photosensitive resin composition containing (E), wherein the resin (E) is a resin having a structural unit having a structure represented by General Formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.

Figure pat00002
Figure pat00002

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

본 개시의 수지막은, 상기 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물로부터 얻어진다.The resin film of the present disclosure is obtained from the first or second photosensitive resin composition.

본 개시의 경화물은, 상기 수지막을 경화시킨 것이다.The cured product of the present disclosure is obtained by curing the above resin film.

본 개시의 격벽은, 상기 경화물로 구성된다.The partition wall of the present disclosure is composed of the above-mentioned cured material.

본 개시의 유기 전계 발광 소자는, 상기 격벽과, 상기 격벽에 의해 구획되는 영역에 배치되는 발광층 또는 파장변환층을 구비한다.The organic electroluminescent device of the present disclosure includes the partition wall and a light-emitting layer or wavelength conversion layer disposed in a region defined by the partition wall.

본 개시의 디스플레이는, 상기 격벽을 구비한다.The display of the present disclosure includes the partition wall.

본 개시의 경화물의 제조 방법은, 상기 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을, 기판에 도포한 후, 가열함으로써 수지막을 얻는 성막 공정과, 상기 수지막에 고에너지선을 노광하는 노광 공정을 포함한다.The method for producing a cured product of the present disclosure includes a film forming step of obtaining a resin film by applying the first or second photosensitive resin composition to a substrate and then heating it, and an exposure step of exposing the resin film to a high-energy ray. Includes.

본 개시의 함불소 수지는, 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는다.The fluorinated resin of the present disclosure has a structural unit having a structure represented by the following general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.

Figure pat00003
Figure pat00003

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

본 개시의 폴리머 블렌드는, 상기 함불소 수지를 포함하는 것을 특징으로 한다.The polymer blend of the present disclosure is characterized by containing the above-described fluorinated resin.

양호한 경화성과 발액성을 갖는 감광성 수지 조성물 및 그 경화물을 제공할 수 있다.A photosensitive resin composition having good curability and liquid repellency and a cured product thereof can be provided.

이하, 본 개시를 상세하게 설명한다. 본 개시는 이하의 실시 태양에 한정되는 것은 아니며, 본 개시의 취지를 손상하지 않는 범위에서, 당업자의 통상의 지식에 기초하여 적절히 실시할 수 있다.Hereinafter, the present disclosure will be described in detail. The present disclosure is not limited to the following embodiments, and can be appropriately implemented based on the common knowledge of those skilled in the art, within the scope without impairing the spirit of the present disclosure.

또한, 본 명세서에 있어서, 「뱅크」와 「격벽」은 동의어이며, 별도로 주석이 없는 한, 잉크젯법에 있어서의 요철을 갖는 패턴막의 볼록부를 의미한다.In addition, in this specification, “bank” and “partition wall” are synonyms, and unless otherwise noted, mean a convex portion of a pattern film having irregularities in the inkjet method.

이하에서는, 본 개시의 감광성 수지 조성물 중, 제 1 감광성 수지 조성물에 대하여 설명한다.Below, among the photosensitive resin compositions of the present disclosure, the first photosensitive resin composition is explained.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 것을 특징으로 한다.The first photosensitive resin composition of the present disclosure includes an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin having a structure represented by general formula (1). A photosensitive resin composition containing (E), characterized in that it contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming 100 parts by mass of the fluorinated resin (D).

Figure pat00004
Figure pat00004

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다. 여기에서 임의의 수는 1 이상이다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. (Number of hydrogen atoms is replaced with fluorine atom. Here, any number is 1 or more.)

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함함으로써 각 성분이 편재하는 문제를 해결하고, 불소 원자 함유량이 많은 발액제를 이용하더라도 발액성이나 경화성이 개선된 경화물이나 격벽을 제조할 수 있다. 상기 「발액제」는, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서의 함불소 수지 (D)이다. 이하에서는, 「일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)」를 「수지 (E)」라고 기재하는 경우가 있다.The first photosensitive resin composition of the present disclosure solves the problem of ubiquitous distribution of each component by including the resin (E) having a structure represented by General Formula (1), and has liquid repellency even when a liquid repellent containing a large fluorine atom content is used. However, cured products or partition walls with improved hardenability can be manufactured. The “liquid repellent” is a fluorinated resin (D) in the first photosensitive resin composition of the present disclosure. Hereinafter, “resin (E) having a structure represented by General Formula (1)” may be referred to as “resin (E).”

< 에틸렌성 불포화 화합물 (A) ><Ethylenically unsaturated compound (A)>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물이 에틸렌성 불포화 화합물 (A)를 포함하면, 광조사에 의한 제 1 감광성 수지 조성물의 경화가 촉진되어, 보다 단시간으로의 경화가 가능하게 된다. 에틸렌성 불포화 화합물 (A)로서는, 에틸렌성 불포화기를 2 이상 갖는 화합물을 이용할 수 있다. 벤젠환의 이중 결합과 같은 공액 안정화된 이중 결합은, 에틸렌성 불포화기에 해당하지 않는다. 반응성 향상의 관점에서, 에틸렌성 불포화 화합물 (A)는, 그 말단(末端)에 에틸렌성 불포화기를 갖는 것이 바람직하다. 에틸렌성 포화 화합물 (A)는 불소 원자를 포함하지 않는다.When the first photosensitive resin composition of the present disclosure contains an ethylenically unsaturated compound (A), curing of the first photosensitive resin composition by light irradiation is promoted, and curing in a shorter time becomes possible. As the ethylenically unsaturated compound (A), a compound having two or more ethylenically unsaturated groups can be used. Conjugated stabilized double bonds, such as the double bond of the benzene ring, do not correspond to ethylenically unsaturated groups. From the viewpoint of improving reactivity, the ethylenically unsaturated compound (A) preferably has an ethylenically unsaturated group at its terminal. The ethylenically saturated compound (A) does not contain a fluorine atom.

에틸렌성 불포화 화합물 (A)의 구체예로서는, 다관능 아크릴레이트(예를 들면, 신나카무라화학공업주식회사 제의 제품명: A-TMM-3, A-TMM-3L, A-TMM-3LM-N, A-TMPT, AD-TMP), 폴리에틸렌글리콜디아크릴레이트(예를 들면, 신나카무라화학공업주식회사 제의 제품명: A-200, A-400, A-600), 우레탄아크릴레이트(예를 들면, 신나카무라화학공업주식회사 제의 제품명: UA-122P, UA-4HA, UA-6HA, UA-6LPA, UA-11003H, UA-53H, UA-4200, UA-200PA, UA-33H, UA-7100, UA-7200), 펜타에리스리톨테트라아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사아크릴레이트 등을 들 수 있다.Specific examples of the ethylenically unsaturated compound (A) include polyfunctional acrylates (e.g., product names: A-TMM-3, A-TMM-3L, A-TMM-3LM-N, A manufactured by Shin Nakamura Chemical Co., Ltd. -TMPT, AD-TMP), polyethylene glycol diacrylate (e.g., product name: A-200, A-400, A-600 manufactured by Shinnakamura Chemical Industry Co., Ltd.), urethane acrylate (e.g., Shinnakamura Chemical Co., Ltd. Product name manufactured by Chemical Industry Co., Ltd.: UA-122P, UA-4HA, UA-6HA, UA-6LPA, UA-11003H, UA-53H, UA-4200, UA-200PA, UA-33H, UA-7100, UA-7200 ), pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, etc.

다관능 아크릴레이트 화합물로서, 바람직한 것을 이하에 예시한다.As a polyfunctional acrylate compound, preferred ones are exemplified below.

Figure pat00005
Figure pat00005

Figure pat00006
Figure pat00006

상기 예시 중, V1은, 「-O-C(CH3)H-CH2-」로 나타내는 구성단위가 m1개, 「-O-CH2-C(CH3)H-」로 나타내는 구성단위가 n1개, 블록 공중합 또는 랜덤 공중합한 구조이며, m1+n1=2, 3, 7, 12이다. V2는, 「-O-C(CH3)H-CH2-」로 나타내는 구성단위가 m2개, 「-O-CH2-C(CH3)H-」로 나타내는 구성단위가 n2개, 블록 공중합 또는 랜덤 공중합한 구조이며, m2+n2=7이다.In the above example, V 1 has m1 structural units represented by “-OC(CH 3 )H-CH 2 -” and n1 structural units represented by “-O-CH 2 -C(CH 3 )H-”. It has a structure of block copolymerization or random copolymerization, and m1 + n1 = 2, 3, 7, 12. V 2 has m2 structural units represented by “-OC(CH 3 )H-CH 2 -”, n2 structural units represented by “-O-CH 2 -C(CH 3 )H-”, and is a block copolymer. Alternatively, it has a random copolymerization structure, and m2+n2=7.

Figure pat00007
Figure pat00007

Figure pat00008
Figure pat00008

에틸렌성 불포화 화합물 (A)의 함유량은, 후술의 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 수지 (E)와의 합계를 100 질량부로 하여, 10 질량부 이상 300 질량부 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 50 질량부 이상 200 질량부 이하이다. 에틸렌성 불포화 화합물 (A)의 함유량이 10 질량부보다 적으면 가교 효과가 충분히 얻어지지 않는 경향이 있고, 300 질량부를 초과하면 해상성이나 감도가 저하되는 경향이 있다.The content of the ethylenically unsaturated compound (A) is preferably 10 parts by mass or more and 300 parts by mass or less, with the total of the alkali-soluble resin (C), fluorinated resin (D), and resin (E) described later being 100 parts by mass. , more preferably 50 parts by mass or more and 200 parts by mass or less. If the content of the ethylenically unsaturated compound (A) is less than 10 parts by mass, the crosslinking effect tends not to be sufficiently obtained, and if it exceeds 300 parts by mass, resolution and sensitivity tend to decrease.

< 광중합개시제 (B) >< Photopolymerization initiator (B) >

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 광중합개시제 (B)는, 전자파나 전자선 등의 고에너지선에 의해, 중합성 이중 결합을 갖는 단량체를 중합시키는 것이라면 특별히 한정되는 것은 아니며, 공지의 광중합개시제를 이용할 수 있다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the photopolymerization initiator (B) is not particularly limited as long as it polymerizes a monomer having a polymerizable double bond by high-energy rays such as electromagnetic waves or electron beams, and may be any known photopolymerization initiator. can be used.

광중합개시제 (B)로서, 광라디칼 개시제 또는 광산 개시제를 이용할 수 있으며, 이들은 단독으로 이용해도 되고, 광라디칼 개시제 및 광산 개시제를 병용해도 되고, 2종 이상의 광라디칼 개시제 및/또는 2종 이상의 광산 개시제를 혼합하여 이용해도 된다. 또, 광중합개시제와 아울러 첨가제를 사용함으로써, 경우에 따라서 리빙 중합을 행하는 것도 가능하다. 당해 첨가제는 공지의 것을 사용할 수 있다.As the photopolymerization initiator (B), a photo-radical initiator or a photo-acid initiator can be used. These may be used alone, a photo-radical initiator and a photo-acid initiator may be used in combination, two or more types of photo-radical initiators and/or two or more types of photo-acid initiators. You may use a mixture of . Moreover, it is also possible to perform living polymerization in some cases by using additives in addition to the photopolymerization initiator. The additive may be a known additive.

광라디칼 개시제로서는, 구체적으로, 분자 내의 결합이 전자파 또는 전자선의 흡수에 의해서 개열하여 라디칼을 생성하는 분자 내 개열형이나, 3급 아민이나 에테르 등의 수소 공여체를 병용함으로써 라디칼을 생성하는 수소인발형 등으로 분류할 수 있으며, 어느 것을 사용해도 된다. 상기에 든 형태 이외의 광라디칼 개시제를 이용할 수도 있다.Photoradical initiators include, specifically, the intramolecular cleavage type, which generates radicals by cleaving the bonds within the molecule by absorption of electromagnetic waves or electron beams, or the hydrogen abstraction type, which generates radicals by using a hydrogen donor such as tertiary amine or ether in combination. It can be classified as follows, and any one can be used. Photoradical initiators other than those listed above can also be used.

광라디칼 개시제로서, 구체적으로는 벤조페논계, 아세토페논계, 디케톤계, 아실포스핀옥사이드계, 퀴논계, 아실로인계, 티오크산톤계 등을 들 수 있다.As a photo radical initiator, benzophenone type, acetophenone type, diketone type, acylphosphine oxide type, quinone type, acyloin type, thioxanthone type, etc. are mentioned specifically.

벤조페논계로서는, 구체적으로 벤조페논, 4-히드록시벤조페논, 2-벤조일안식향산, 4-벤조일안식향산, 4,4'-비스(디메틸아미노)벤조페논, 4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논 등을 들 수 있다. 그 중에서도 2-벤조일안식향산, 4-벤조일안식향산, 4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논이 바람직하다.As benzophenone series, specifically benzophenone, 4-hydroxybenzophenone, 2-benzoylbenzoic acid, 4-benzoylbenzoic acid, 4,4'-bis(dimethylamino)benzophenone, 4,4'-bis(diethylamino) ) Benzophenone, etc. can be mentioned. Among them, 2-benzoylbenzoic acid, 4-benzoylbenzoic acid, and 4,4'-bis(diethylamino)benzophenone are preferable.

아세토페논계로서는, 구체적으로 아세토페논, 2-(4-톨루엔술포닐옥시)-2-페닐아세토페논, p-디메틸아미노아세토페논, 2,2'-디메톡시-2-페닐아세토페논, p-메톡시아세토페논, 2-메틸-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노-1-프로판온, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄-1-온 등을 들 수 있다. 그 중에서도 p-디메틸아미노아세토페논, p-메톡시아세토페논이 바람직하다.Acetophenone series specifically includes acetophenone, 2-(4-toluenesulfonyloxy)-2-phenylacetophenone, p-dimethylaminoacetophenone, 2,2'-dimethoxy-2-phenylacetophenone, and p- Methoxyacetophenone, 2-methyl-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholino-1-propanone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)- butan-1-one, etc. can be mentioned. Among them, p-dimethylaminoacetophenone and p-methoxyacetophenone are preferable.

디케톤계로서는, 구체적으로 4,4'-디메톡시벤질, 벤조일포름산 메틸, 9,10-페난트렌퀴논 등을 들 수 있다. 그 중에서도 4,4'-디메톡시벤질, 벤조일포름산 메틸이 바람직하다.Specific examples of the diketone series include 4,4'-dimethoxybenzyl, methyl benzoyl formate, and 9,10-phenanthrenequinone. Among them, 4,4'-dimethoxybenzyl and methyl benzoylformate are preferable.

아실포스핀옥사이드계로서는, 구체적으로 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드 등을 들 수 있다.Specific examples of the acylphosphine oxide series include bis(2,4,6-trimethylbenzoyl)-phenylphosphine oxide.

퀴논계로서는, 구체적으로 안트라퀴논, 2-에틸안트라퀴논, 캄퍼퀴논, 1,4-나프토퀴논 등을 들 수 있다. 그 중에서도 캄퍼퀴논, 1,4-나프토퀴논이 바람직하다.Specific examples of the quinone series include anthraquinone, 2-ethylanthraquinone, camphorquinone, and 1,4-naphthoquinone. Among them, camphorquinone and 1,4-naphthoquinone are preferable.

아실로인계로서는, 구체적으로 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르 등을 들 수 있다. 그 중에서도 벤조인, 벤조인메틸에테르가 바람직하다.Specific examples of acyloin include benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, and benzoin isopropyl ether. Among them, benzoin and benzoin methyl ether are preferable.

티오크산톤계로서는, 구체적으로 2,4-디에틸티오크산톤 등을 들 수 있다.As thioxanthone series, specific examples include 2,4-diethylthioxanthone.

광라디칼 개시제로서 벤조페논계, 아세토페논계, 디케톤계가 바람직하고, 벤조페논계가 보다 바람직하다.As a radical photoinitiator, benzophenone series, acetophenone series, and diketone series are preferred, and benzophenone series are more preferred.

시판의 광라디칼 개시제 중에서, 바람직한 것으로서, 비에이에스에프주식회사 제의 제품명: 이르가큐어 127, 이르가큐어 184, 이르가큐어 369, 이르가큐어 651, 이르가큐어 819, 이르가큐어 907, 이르가큐어 2959, 이르가큐어 OXE-01, 이르가큐어 OXE-04, 다로큐어 1173, 루시린 TPO, 니혼가야쿠사 제의 제품명: DETXs 등을 들 수 있다. 그 중에서도 이르가큐어 651, 이르가큐어 369가 보다 바람직하다.Among commercially available optical radical initiators, preferred ones are those manufactured by BASF Co., Ltd., product names: Irgacure 127, Irgacure 184, Irgacure 369, Irgacure 651, Irgacure 819, Irgacure 907, Irga Cure 2959, Irgacure OXE-01, Irgacure OXE-04, Darocure 1173, Lucirin TPO, product name manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd.: DETXs, etc. Among them, Irgacure 651 and Irgacure 369 are more preferable.

광산 개시제는, 구체적으로 방향족 술폰산, 방향족 요오도늄, 방향족 디아조늄, 방향족 암모늄, 티안트레늄, 티오크산토늄, (2,4-시클로펜타디엔-1-일)(1-메틸에틸벤젠)철로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 카티온과, 테트라플루오로보레이트, 헥사플루오로포스페이트, 헥사플루오로안티모네이트, 펜타플루오로페닐보레이트로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 아니온의 쌍으로 이루어지는 오늄염이다.The photoacid initiator is specifically aromatic sulfonic acid, aromatic iodonium, aromatic diazonium, aromatic ammonium, thianthrenium, thioxanthonium, (2,4-cyclopentadien-1-yl)(1-methylethylbenzene) A pair of at least one cation selected from the group consisting of iron and at least one anion selected from the group consisting of tetrafluoroborate, hexafluorophosphate, hexafluoroantimonate, and pentafluorophenyl borate It is an onium salt consisting of.

그 중에서도 비스[4-(디페닐술포니오)페닐]술피드비스헥사플루오로포스페이트, 비스[4-(디페닐술포니오)페닐]술피드테트라키스(펜타플루오로페닐)보레이트, 디페닐요오도늄헥사플루오로포스페이트가 특히 바람직하다.Among them, bis[4-(diphenylsulfonio)phenyl]sulfide bishexafluorophosphate, bis[4-(diphenylsulfonio)phenyl]sulfide tetrakis(pentafluorophenyl)borate, diphenyl Iodonium hexafluorophosphate is particularly preferred.

시판의 광산 개시제로서는, 예를 들면, 산아프로주식회사 제의 제품명: CPI-100P, CPI-110P, CPI-101A, CPI-200K, CPI-210S, 다우·케미컬일본주식회사 제의 제품명: 사이라큐어 광경화 개시제 UVI-6990, 사이라큐어 광경화 개시제 UVI-6992, 사이라큐어 광경화 개시제 UVI-6976, 주식회사ADEKA 제의 제품명: 아데카옵토머 SP-150, 아데카옵토머 SP-152, 아데카옵토머 SP-170, 아데카옵토머 SP-172, 아데카옵토머 SP-300, 니혼소다주식회사 제의 제품명: CI-5102, CI-2855, 산신화학공업 주식회사 제의 제품명: 산에이드 SI-60L, 산에이드 SI-80L, 산에이드 SI-100L, 산에이드 SI-110L, 산에이드 SI-180L, 산에이드 SI-110, 산에이드 SI-180, 람베르티사 제의 제품명: 에사큐어 1064, 에사큐어 1187, 치바·스페셜리티·케미컬즈주식회사 제의 제품명: 이르가큐어 250 등을 들 수 있다.Commercially available mineral initiators include, for example, product names manufactured by San-Apro Co., Ltd.: CPI-100P, CPI-110P, CPI-101A, CPI-200K, CPI-210S, and product names manufactured by Dow Chemical Japan Co., Ltd.: Cyracure Kyonggyeong. Curing initiator UVI-6990, Cyracure photocuring initiator UVI-6992, Cyracure photocuring initiator UVI-6976, manufactured by ADEKA Co., Ltd. Product names: Adeka Optomer SP-150, Adeka Optomer SP-152, Adeka Optomer SP-170, Adeka Optomer SP-172, Adeka Optomer SP-300, manufactured by Nippon Soda Co., Ltd. Product name: CI-5102, CI-2855, manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd. Product name: San-Aid SI-60L , San Aid SI-80L, San Aid SI-100L, San Aid SI-110L, San Aid SI-180L, San Aid SI-110, San Aid SI-180, product names made by Lamberti: Esacure 1064, Esacure 1187 , product name: Irgacure 250 manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd., etc.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서의 광중합개시제 (B)의 함유량은, 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 수지 (E)의 합계를 100 질량부로 하여 0.1 질량부 이상 30 질량부 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 1 질량부 이상 20 질량부 이하이다. 광중합개시제 (B)의 함유량이 0.1 질량부보다 적으면 가교 효과가 충분히 얻어지지 않는 경향이 있고, 30 질량부를 넘으면 해상성이나 감도가 저하되는 경향이 있다.The content of the photopolymerization initiator (B) in the first photosensitive resin composition of the present disclosure is the total of the ethylenically unsaturated compound (A), alkali-soluble resin (C), fluorinated resin (D), and resin (E) of 100. It is preferably 0.1 part by mass or more and 30 parts by mass or less, more preferably 1 part by mass or more and 20 parts by mass or less. If the content of the photopolymerization initiator (B) is less than 0.1 parts by mass, the crosslinking effect tends not to be sufficiently obtained, and if it exceeds 30 parts by mass, resolution and sensitivity tend to decrease.

< 알칼리 가용성 수지 (C) ><Alkali-soluble resin (C)>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물이 알칼리 가용성 수지 (C)를 포함하면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물로부터 얻어지는 뱅크의 형상을 양호하게 할 수 있다. 알칼리 가용성 수지 (C)는, 불소 원자를 포함하고 있어도 되고, 포함하고 있지 않아도 되지만, 알칼리 가용성 수지 (C)는, 불소 원자를 포함하지 않는 수지인 것이 바람직하다. 알칼리 가용성 수지 (C)는, 알칼리 가용성이라면 그 종류는 특별히 한정되지 않지만, 후술의 함불소 수지 (D), 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E) 이외의 수지이다.When the first photosensitive resin composition of the present disclosure contains an alkali-soluble resin (C), the shape of the bank obtained from the first photosensitive resin composition of the present disclosure can be improved. The alkali-soluble resin (C) may or may not contain a fluorine atom, but the alkali-soluble resin (C) is preferably a resin that does not contain a fluorine atom. The type of the alkali-soluble resin (C) is not particularly limited as long as it is alkali-soluble, but it is a resin other than the fluorinated resin (D) described later and the resin (E) having a structure represented by General Formula (1).

알칼리 가용성 수지 (C)로서는, 알칼리 용해성 노볼락 수지를 들 수 있다.Examples of the alkali-soluble resin (C) include alkali-soluble novolac resin.

알칼리 용해성 노볼락 수지는, 페놀류와 알데히드류를 산 촉매 존재 하에서 축합하여 얻을 수 있다.Alkali-soluble novolak resin can be obtained by condensing phenols and aldehydes in the presence of an acid catalyst.

페놀류로서는, 구체적으로 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 2,3-디메틸페놀, 2,4-디메틸페놀, 2,5-디메틸페놀, 3,4-디메틸페놀, 3,5-디메틸페놀, 2,3,5-트리메틸페놀, 3,4,5-트리메틸페놀, 레조르시놀, 2-메틸레조르시놀, 4-에틸레조르시놀, 하이드로퀴논, 메틸하이드로퀴논, 카테콜, 4-메틸-카테콜, 피로갈롤, 플로로글루시놀, 티몰, 이소티몰 등을 예시할 수 있다. 이들 페놀류는 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 된다.Specific examples of phenols include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,3-dimethylphenol, 2,4-dimethylphenol, 2,5-dimethylphenol, 3,4-dimethylphenol, and 3,5-dimethylphenol. -Dimethylphenol, 2,3,5-trimethylphenol, 3,4,5-trimethylphenol, resorcinol, 2-methylresorcinol, 4-ethylresorcinol, hydroquinone, methylhydroquinone, catechol, Examples include 4-methyl-catechol, pyrogallol, phloroglucinol, thymol, and isothymol. These phenols may be used individually or in combination of two or more types.

알데히드류로서는, 구체적으로 포름알데히드, 트리옥산, 파라포름알데히드, 벤즈알데히드, 아세트알데히드, 프로필알데히드, 페닐아세트알데히드, α-페닐프로필알데히드, β-페닐프로필알데히드, o-히드록시벤즈알데히드, m-히드록시벤즈알데히드, p-히드록시벤즈알데히드, o-메틸벤즈알데히드, m-메틸벤즈알데히드, p-메틸벤즈알데히드, 니트로벤즈알데히드, 푸르푸랄, 글리옥살, 글루타르알데히드, 테레프탈알데히드, 이소프탈알데히드 등을 예시할 수 있다.Aldehydes include, specifically, formaldehyde, trioxane, paraformaldehyde, benzaldehyde, acetaldehyde, propylaldehyde, phenylacetaldehyde, α-phenylpropylaldehyde, β-phenylpropylaldehyde, o-hydroxybenzaldehyde, and m-hydroxybenzaldehyde. Examples include benzaldehyde, p-hydroxybenzaldehyde, o-methylbenzaldehyde, m-methylbenzaldehyde, p-methylbenzaldehyde, nitrobenzaldehyde, furfural, glyoxal, glutaraldehyde, terephthaldehyde, and isophthalaldehyde.

산 촉매로서는, 구체적으로 염산, 질산, 황산, 인산, 아인산, 포름산, 옥살산, 아세트산, 메탄술폰산, 디에틸황산, p-톨루엔술폰산 등을 예시할 수 있다. 이들 산 촉매는 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 된다.Specific examples of the acid catalyst include hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, phosphoric acid, phosphorous acid, formic acid, oxalic acid, acetic acid, methanesulfonic acid, diethyl sulfuric acid, and p-toluenesulfonic acid. These acid catalysts may be used individually, or two or more types may be used in combination.

그 외에, 알칼리 가용성 수지 (C)로서, 산 변성 에폭시 아크릴레이트계를 들 수 있다. 시판의 산 변성 에폭시 아크릴레이트계로서, 예를 들면, 니혼가야쿠주식회사 제의 제품명: CCR-1218H, CCR-1159H, CCR-1222H, CCR-1291H, CCR-1235, PCR-1050, TCR-1335H, UXE-3024, ZAR-1035, ZAR-2001H, ZAR-2050H, ZAR-2051H, ZFR-1185 및 ZCR-1569H 등을 사용할 수 있다.In addition, examples of the alkali-soluble resin (C) include acid-modified epoxy acrylate-based resins. Commercially available acid-modified epoxy acrylate systems include, for example, product names manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd.: CCR-1218H, CCR-1159H, CCR-1222H, CCR-1291H, CCR-1235, PCR-1050, TCR-1335H, UXE-3024, ZAR-1035, ZAR-2001H, ZAR-2050H, ZAR-2051H, ZFR-1185 and ZCR-1569H are available.

알칼리 가용성 수지 (C) 성분의 질량평균 분자량은, 제 1 감광성 수지 조성물의 현상성 및 해상성의 관점에서 1,000∼50,000이 바람직하다.The mass average molecular weight of the alkali-soluble resin (C) component is preferably 1,000 to 50,000 from the viewpoint of developability and resolution of the first photosensitive resin composition.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물의 전(全) 고형분에 대한 알칼리 가용성 수지 (C)의 함유량은, 10∼70 질량%인 것이 바람직하다. 알칼리 가용성 수지 (C)의 함유량이 70 질량%를 초과하면, 후술의 함불소 수지 (D)가 갖는 잉크에 대한 발액성이 충분히 얻어지지 않는 경향이 있다.The content of the alkali-soluble resin (C) relative to the total solid content of the first photosensitive resin composition of the present disclosure is preferably 10 to 70% by mass. If the content of the alkali-soluble resin (C) exceeds 70% by mass, the liquid repellency for ink of the fluorinated resin (D) described later tends not to be sufficiently obtained.

< 함불소 수지 (D) ><Fluorinated resin (D)>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 불소 원자를 갖는 탄화수소로 이루어지는 구성단위를 갖는다. 함불소 수지 (D)는, 후술의 일반식 (1)의 구조를 포함하지 않는다. 함불소 수지 (D)는, 라디칼 발생기를 포함하지 않는다. 본 명세서에 있어서, 라디칼 발생기는 빛이 닿음으로써 라디칼을 발생하는 기이다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) has a structural unit made of a hydrocarbon having a fluorine atom. The fluorinated resin (D) does not contain the structure of general formula (1) described later. The fluorinated resin (D) does not contain a radical generator. In this specification, a radical generator is a group that generates radicals when exposed to light.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 하기 일반식 (2)로 나타내어지는 구조를 갖고 있어도 되고, 하기 일반식 (3)으로 나타내어지는 구조를 갖고 있어도 된다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) may have a structure represented by the following general formula (2), or may have a structure represented by the following general formula (3).

Figure pat00009
Figure pat00009

(일반식 (2) 중, Rb는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 당해 알킬기 중의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있다. 여기에서 임의의 수는 1 이상이다. R2는 수소 원자, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기를 나타낸다.)(In the general formula (2), Rb each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and any of the alkyl groups Numerous hydrogen atoms are replaced by fluorine atoms. Here, the arbitrary number is 1 or more. R 2 is a hydrogen atom, linear with 1 to 6 carbon atoms, branched with 3 to 6 carbon atoms, or cyclic with 3 to 6 carbon atoms. represents an alkyl group.)

Figure pat00010
Figure pat00010

(일반식 (3) 중, Rb는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 당해 알킬기 중의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있다. 여기에서 임의의 수는 1 이상이다. R1은 수소 원자, 불소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. R2는 수소 원자, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기를 나타낸다.)(In the general formula (3), Rb each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and any of the alkyl groups Numerous hydrogen atoms are replaced by fluorine atoms. Here, the arbitrary number is 1 or more. R 1 represents a hydrogen atom, a fluorine atom, or a methyl group. R 2 represents a hydrogen atom, a straight chain with 1 to 6 carbon atoms, and a carbon number. It represents a branched chain of 3 to 6 carbon atoms or a cyclic alkyl group of 3 to 6 carbon atoms.)

일반식 (3)에 있어서, R1은 수소 원자, 메틸기가 바람직하다. 또, R2로서는, 예를 들면 수소 원자, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 1-메틸프로필기, 2-메틸프로필기, tert-부틸기, n-펜틸기, 이소펜틸기, 1,1-디메틸프로필기, 1-메틸부틸기, 1,1-디메틸부틸기, n-헥실기, 시클로펜틸기, 시클로헥실기 등을 들 수 있으며, 수소 원자, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기가 바람직하고, 수소 원자, 메틸기가 보다 바람직하다.In general formula (3), R 1 is preferably a hydrogen atom or a methyl group. Additionally, R 2 is, for example, hydrogen atom, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, tert-butyl group, n-phene. Examples include ethyl group, isopentyl group, 1,1-dimethylpropyl group, 1-methylbutyl group, 1,1-dimethylbutyl group, n-hexyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, etc., and hydrogen atom and methyl group. , an ethyl group, n-propyl group, and isopropyl group are preferable, and a hydrogen atom and a methyl group are more preferable.

또, 일반식 (2) 또는 일반식 (3) 중의 Rb는, 불소 원자, 트리플루오로메틸기, 디플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, 2,2,2-트리플루오로에틸기, n-헵타플루오로프로필기, 2,2,3,3,3-펜타플루오로프로필기, 3,3,3-트리플루오로프로필기, 헥사플루오로이소프로필기, 헵타플루오로이소프로필기, n-노나플루오로부틸기, 이소노나플루오로부틸기, tert-노나플루오로부틸기가 바람직하고, 불소 원자, 트리플루오로메틸기, 디플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, 2,2,2-트리플루오로에틸기, n-헵타플루오로프로필기, 2,2,3,3,3-펜타플루오로프로필기, 3,3,3-트리플루오로프로필기, 헥사플루오로이소프로필기가 보다 바람직하고, 불소 원자, 디플루오로메틸기, 트리플루오로메틸기가 특히 바람직하다.Moreover, Rb in general formula (2) or (3) is a fluorine atom, trifluoromethyl group, difluoromethyl group, pentafluoroethyl group, 2,2,2-trifluoroethyl group, or n-heptafluoro. Lopropyl group, 2,2,3,3,3-pentafluoropropyl group, 3,3,3-trifluoropropyl group, hexafluoroisopropyl group, heptafluoroisopropyl group, n-nonafluo Lobutyl group, isononafluorobutyl group, and tert-nonafluorobutyl group are preferred, and fluorine atom, trifluoromethyl group, difluoromethyl group, pentafluoroethyl group, 2,2,2-trifluoroethyl group, n-heptafluoropropyl group, 2,2,3,3,3-pentafluoropropyl group, 3,3,3-trifluoropropyl group, and hexafluoroisopropyl group are more preferable, and a fluorine atom, di Fluoromethyl group and trifluoromethyl group are particularly preferable.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서의 함불소 수지 (D)에 포함되는 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위에 대하여, 바람직한 것으로서 이하의 구조를 예시할 수 있다.With respect to the structural unit represented by general formula (3) contained in the fluorinated resin (D) in the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the following structure can be exemplified as a preferable one.

Figure pat00011
Figure pat00011

Figure pat00012
Figure pat00012

일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위의 함불소 수지 (D) 중의 함유량은, 함불소 수지 (D)를 구성하는 전체 구성단위 100 몰%에 대하여, 5 몰% 이상 70 몰% 이하가 바람직하고, 10 몰% 이상 50 몰% 이하가 보다 바람직하고, 10 몰% 이상 30 몰% 이하가 특히 바람직하다.The content of the structural unit represented by the general formula (3) in the fluorinated resin (D) is preferably 5 mol% or more and 70 mol% or less, based on 100 mol% of all structural units constituting the fluorinated resin (D). , 10 mol% or more and 50 mol% or less is more preferable, and 10 mol% or more and 30 mol% or less is particularly preferable.

일반식 (3)의 구성단위의 함유량이 70 몰%보다 많으면, 함불소 수지 (D)가 용매에 녹기 어려워지는 경향이 있다. 한편으로, 일반식 (3)의 구성단위의 함유량이 5 몰%보다 적으면, 제 1 감광성 수지 조성물로부터 제조한 경화물을 UV 오존 처리 또는 산소 플라즈마 처리하는 경우에, 내성이 저하되는 경향이 있다.If the content of the structural unit of general formula (3) is more than 70 mol%, the fluorinated resin (D) tends to become difficult to dissolve in the solvent. On the other hand, when the content of the structural unit of general formula (3) is less than 5 mol%, when the cured product manufactured from the first photosensitive resin composition is subjected to UV ozone treatment or oxygen plasma treatment, resistance tends to decrease. .

함불소 수지 (D)가 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위를 가지면, UV 오존 처리 또는 산소 플라즈마 처리하는 경우에 내성을 갖기 때문에, 바람직한 태양 중 하나이다.If the fluorinated resin (D) has a structural unit represented by general formula (3), it is one of the preferred embodiments because it has resistance to UV ozone treatment or oxygen plasma treatment.

또, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 하기 일반식 (4)로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.Moreover, in the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) may contain a structure represented by the following general formula (4).

Figure pat00013
Figure pat00013

일반식 (4)에 있어서, R3, R4는 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.In General Formula (4), R 3 and R 4 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group.

일반식 (4)에 있어서, W1은 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타낸다. 그 중에서도 -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-인 것이 바람직하다.In general formula (4), W 1 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)-O-, -OC(=O)-NH-, - It represents C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-. Among them, -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH- are preferable.

W1이, -O-C(=O)-NH-일 때, UV 오존 처리 후 또는 산소 플라즈마 처리 후의 잉크에 대한 발액성이 보다 우수하기 때문에, 바람직한 태양 중 하나이다.When W 1 is -OC(=O)-NH-, it is one of the preferred embodiments because the ink has better liquid repellency after UV ozone treatment or oxygen plasma treatment.

일반식 (4)에 있어서, A1은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어도 된다.In the general formula (4), A 1 represents a 2- to 4-valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and Any number of hydrogen atoms may be substituted by hydroxyl groups or -OC(=O)-CH 3 .

2가의 연결기 A1은, 탄소수 1∼10의 직쇄상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, n-부틸렌기, n-펜틸렌기, n-헥실렌기, n-헵틸렌기, n-옥틸렌기, n-노닐렌기, n-데카닐렌기를 들 수 있다.When the divalent linking group A 1 is a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, for example, methylene group, ethylene group, propylene group, n-butylene group, n-pentylene group, n-hexylene group, n- Heptylene group, n-octylene group, n-nonylene group, and n-decanylene group can be mentioned.

2가의 연결기 A1은, 탄소수 3∼10의 분기쇄상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면 이소프로필렌기, 이소부틸렌기, sec-부틸렌기, tert-부틸렌기, 이소펜틸렌기, 이소헥실렌기 등을 들 수 있다.When the divalent linking group A 1 is a branched alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, for example, isopropylene group, isobutylene group, sec-butylene group, tert-butylene group, isopentylene group, isohexylene group, etc. can be mentioned.

2가의 연결기 A1은, 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 2 치환의 시클로프로판, 2 치환의 시클로부탄, 2 치환의 시클로펜탄, 2 치환의 시클로헥산, 2 치환의 시클로헵탄, 2 치환의 시클로옥탄, 2 치환의 시클로데칸, 2 치환의 4-tert-부틸시클로헥산 등을 들 수 있다.When the divalent linking group A 1 is a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, for example, di-substituted cyclopropane, di-substituted cyclobutane, di-substituted cyclopentane, di-substituted cyclohexane, di-substituted Cycloheptane, disubstituted cyclooctane, disubstituted cyclodecane, disubstituted 4-tert-butylcyclohexane, etc. can be mentioned.

이들 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기에 의해 치환되어 있는 경우, 당해 수산기 치환 알킬렌기로서, 예를 들면 히드록시에틸렌기, 1-히드록시-n-프로필렌기, 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-), 1-히드록시-n-부틸렌기, 2-히드록시-n-부틸렌기, 히드록시-sec-부틸렌기(-CH(CH2OH)CH2CH2-), 히드록시-이소부틸렌기(-CH2CH(CH2OH)CH2-), 히드록시-tert-부틸렌기(-C(CH2OH)(CH3)CH2-) 등을 들 수 있다.When any number of hydrogen atoms in these alkylene groups are substituted with hydroxyl groups, examples of the hydroxyl group-substituted alkylene groups include hydroxyethylene group, 1-hydroxy-n-propylene group, and 2-hydroxy-n group. -Propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 -), 1-hydroxy-n-butylene group, 2-hydroxy-n-butylene group, hydroxy-sec-butylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 CH 2 -), hydroxy-isobutylene group (-CH 2 CH(CH 2 OH)CH 2 -), hydroxy-tert-butylene group (-C(CH 2 OH )(CH 3 )CH 2 -) and the like.

또, 이들 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있는 경우, 당해 치환 알킬렌기로서, 상기에 예시한 수산기 치환 알킬렌기의 수산기가 -O-C(=O)-CH3으로 치환된 것을 들 수 있다.In addition, when any number of hydrogen atoms in these alkylene groups are substituted by -OC(=O)-CH 3 , the hydroxyl group of the hydroxyl group-substituted alkylene group exemplified above as the substituted alkylene group is -OC(= O)-CH 3 may be substituted.

그 중에서도, 2가의 연결기 A1은 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, n-부틸렌기, 이소부틸렌기, sec-부틸렌기, 시클로헥실기, 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-), 2-히드록시-n-부틸렌기, 히드록시-sec-부틸렌기(-CH(CH2OH)CH2CH2-)가 바람직하고, 에틸렌기, 프로필렌기, 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-)가 보다 바람직하고, 에틸렌기, 2-히드록시-n-프로필렌기가 특히 바람직하다.Among them, the divalent linking group A 1 is methylene group, ethylene group, propylene group, n-butylene group, isobutylene group, sec-butylene group, cyclohexyl group, 2-hydroxy-n-propylene group, and hydroxy-iso Propylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 -), 2-hydroxy-n-butylene group, hydroxy-sec-butylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 CH 2 -) are preferred, Ethylene group, propylene group, 2-hydroxy-n-propylene group, and hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 -) are more preferable, and ethylene group and 2-hydroxy-n-propylene are more preferable. group is particularly preferable.

3가의 연결기 A1로서는 -C(CH2-)2CH3 등을 들 수 있고, 4가의 연결기 A1로서는 C(CH2-)4 등을 들 수 있다.Examples of the trivalent linking group A 1 include -C(CH 2 -) 2 CH 3 , and examples of the tetravalent linking group A 1 include C(CH 2 -) 4 .

일반식 (4)에 있어서, Y1은 2가의 연결기를 나타내고, -O- 또는 -NH-를 나타내고, -O-인 것이 보다 바람직하다.In General Formula (4), Y 1 represents a divalent linking group, represents -O- or -NH-, and is more preferably -O-.

일반식 (4)에 있어서, u는 1∼3의 정수를 나타내고, u는 1인 것이 특히 바람직하다.In General Formula (4), u represents an integer of 1 to 3, and it is particularly preferable that u is 1.

일반식 (4)에 있어서, n은 1∼3의 정수를 나타내고, n은 1인 것이 특히 바람직하다.In General Formula (4), n represents an integer of 1 to 3, and n is particularly preferably 1.

방향환의 치환 위치는 각각 독립적으로, 오르토 위치, 메타 위치, 파라 위치를 나타내고, 파라 위치인 것이 바람직하다.The substitution positions of the aromatic ring each independently represent an ortho position, a meta position, and a para position, and the para position is preferred.

일반식 (4)로 나타내어지는 구성단위에 대하여, 바람직한 것으로서 이하의 구조를 예시할 수 있다. 또한, 방향환의 치환 위치는 파라 위치인 것을 예시하지만, 각각 독립적으로 치환 위치가 오르토 위치, 메타 위치여도 된다.Regarding the structural unit represented by general formula (4), the following structures can be exemplified as preferable ones. In addition, the substitution position of the aromatic ring is exemplified as the para position, but the substitution position may each independently be an ortho position or a meta position.

Figure pat00014
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Figure pat00015
Figure pat00015

Figure pat00016
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Figure pat00017
Figure pat00017

일반식 (4)로 나타내어지는 구성단위의 함불소 수지 (D) 중의 함유량은, 함불소 수지 (D)를 구성하는 전체 구성단위 100 몰%에 대하여, 5 몰% 이상 70 몰% 이하가 바람직하고, 10 몰% 이상 50 몰% 이하가 보다 바람직하고, 10 몰% 이상 30 몰% 이하가 특히 바람직하다.The content of the structural unit represented by the general formula (4) in the fluorinated resin (D) is preferably 5 mol% or more and 70 mol% or less, based on 100 mol% of all structural units constituting the fluorinated resin (D). , 10 mol% or more and 50 mol% or less is more preferable, and 10 mol% or more and 30 mol% or less is particularly preferable.

일반식 (4)의 구성단위의 함유량이 70 몰%보다 많으면, 함불소 수지 (D)가 용매에 녹기 어려워지는 경향이 있다. 한편으로, 일반식 (4)의 구성단위의 함유량이 5 몰%보다 적으면, UV 오존 처리 또는 산소 플라즈마 처리하는 경우에 내성이 저하되는 경향이 있다.If the content of the structural unit of general formula (4) is more than 70 mol%, the fluorinated resin (D) tends to become difficult to dissolve in the solvent. On the other hand, when the content of the structural unit of general formula (4) is less than 5 mol%, resistance tends to decrease when subjected to UV ozone treatment or oxygen plasma treatment.

여기서 본 개시의 일반식 (4)로 나타내어지는 구성단위가 갖는 효과에 대하여, 명확하지는 않지만, 제 1 감광성 수지 조성물로부터 제조한 경화물이 UV 오존 처리 또는 산소 플라즈마 처리에 대한 내성을 갖는다, 라고 추찰한다. 단, 본 개시의 효과는 여기에 기술하는 효과에 한정되는 것은 아니다.Although the effect of the structural unit represented by general formula (4) of the present disclosure is not clear, it is speculated that the cured product manufactured from the first photosensitive resin composition has resistance to UV ozone treatment or oxygen plasma treatment. do. However, the effects of the present disclosure are not limited to the effects described here.

함불소 수지 (D)는, 전술한 대로, 상기 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위와 상기 일반식 (4)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 공중합체와, 상기 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위와 상기 일반식 (4)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 별종의 공중합체와의 혼합체(블렌드)여도 된다. 특히, 함불소 수지 (D)가, 일반식 (4)에 있어서의 W1이 -O-C(=O)-NH-인 구성단위를 포함하는 함불소 수지와, 일반식 (4)에 있어서의 W1이 -C(=O)-NH-인 구성단위를 포함하는 함불소 수지와의 혼합체인 것은 본 개시의 바람직한 태양 중 하나이다.As described above, the fluorinated resin (D) is a copolymer containing a structural unit represented by the general formula (3) and a structural unit represented by the general formula (4), and a copolymer containing the structural unit represented by the general formula (3) It may be a mixture (blend) of a different type of copolymer containing a structural unit and a structural unit represented by the above general formula (4). In particular, the fluorinated resin (D) is a fluorinated resin containing a structural unit wherein W 1 in general formula (4) is -OC(=O)-NH-, and W in general formula (4) One of the preferred embodiments of the present disclosure is that 1 is a mixture with a fluorinated resin containing the structural unit -C(=O)-NH-.

또, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.Moreover, in the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) may contain a structure represented by the following general formula (5).

Figure pat00018
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일반식 (5)에 있어서, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.In General Formula (5), R 5 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group.

일반식 (5)에 있어서, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타낸다. 그 중에서도 -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-인 것이 바람직하다.In general formula (5), W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)-O-, -OC(=O)-NH-, - It represents C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-. Among them, -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH- are preferable.

W2가, -O-C(=O)-NH-일 때, 본 개시의 함불소 수지 (D)의 UV 오존 처리 후 또는 산소 플라즈마 처리 후의 잉크에 대한 발액성이 보다 우수하기 때문에, 특히 바람직한 태양 중 하나이다.When W 2 is -OC(=O)-NH-, the liquid repellency of the fluorinated resin (D) of the present disclosure to ink after UV ozone treatment or oxygen plasma treatment is more excellent, and is therefore a particularly preferred embodiment. It is one.

일반식 (5)에 있어서, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어도 된다.In general formula (5), A 2 represents a divalent linking group, a linear alkylene group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group with 3 to 10 carbon atoms, and any of the alkylene groups. The number of hydrogen atoms may be substituted by a hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 .

일반식 (5)에 있어서, A3은, 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어도 된다.In general formula (5), A 3 represents a 2 to 4 valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and the hydrocarbon group Any number of hydrogen atoms may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 .

2가의 연결기 A2, A3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼10의 직쇄상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, n-부틸렌기, n-펜틸렌기, n-헥실렌기, n-헵틸렌기, n-옥틸렌기, n-노닐렌기, n-데카닐렌기를 들 수 있다.When the divalent linking groups A 2 and A 3 are each independently a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, for example, methylene group, ethylene group, propylene group, n-butylene group, n-pentylene group, n-hexylene group, n-heptylene group, n-octylene group, n-nonylene group, and n-decanylene group.

2가의 연결기 A2, A3은, 각각 독립적으로, 탄소수 3∼10의 분기쇄상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 이소프로필렌기, 이소부틸렌기, sec-부틸렌기, tert-부틸렌기, 이소펜틸렌기, 이소헥실렌기 등을 들 수 있다.When the divalent linking groups A 2 and A 3 are each independently a branched alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, for example, isopropylene group, isobutylene group, sec-butylene group, tert-butylene group, iso Pentylene group, isohexylene group, etc. are mentioned.

2가의 연결기 A2, A3은, 각각 독립적으로, 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 2 치환의 시클로프로판, 2 치환의 시클로부탄, 2 치환의 시클로펜탄, 2 치환의 시클로헥산, 2 치환의 시클로헵탄, 2 치환의 시클로옥탄, 2 치환의 시클로데칸, 2 치환의 4-tert-부틸시클로헥산 등을 들 수 있다.When the divalent linking groups A 2 and A 3 are each independently a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, for example, disubstituted cyclopropane, disubstituted cyclobutane, disubstituted cyclopentane, or disubstituted cyclopropane. cyclohexane, disubstituted cycloheptane, disubstituted cyclooctane, disubstituted cyclodecane, disubstituted 4-tert-butylcyclohexane, etc.

이들 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기에 의해 치환되어 있는 경우, 당해 수산기 치환 알킬렌기로서, 예를 들면 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-), 1-히드록시-n-프로필렌기, 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-), 1-히드록시-n-부틸렌기, 2-히드록시-n-부틸렌기, 히드록시-sec-부틸렌기(-CH(CH2OH)CH2CH2-), 히드록시-이소부틸렌기(-CH2CH(CH2OH)CH2-), 히드록시-tert-부틸렌기(-C(CH2OH)(CH3)CH2-) 등을 들 수 있다.When any number of hydrogen atoms in these alkylene groups are substituted with a hydroxyl group, the hydroxyl group-substituted alkylene group is, for example, 1-hydroxyethylene group (-CH(OH)CH 2 -), 2-hydroxy Ethylene group (-CH 2 CH(OH)-), 1-hydroxy-n-propylene group, 2-hydroxy-n-propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 - ), 1-hydroxy-n-butylene group, 2-hydroxy-n-butylene group, hydroxy-sec-butylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 CH 2 -), hydroxy-isobutylene group (-CH 2 CH(CH 2 OH)CH 2 -), hydroxy-tert-butylene group (-C(CH 2 OH)(CH 3 )CH 2 -), and the like.

또, 이들 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있는 경우, 당해 치환 알킬렌기로서, 상기에 예시한 수산기 치환 알킬렌기의 수산기가 -O-C(=O)-CH3으로 치환된 것을 들 수 있다.In addition, when any number of hydrogen atoms in these alkylene groups are substituted by -OC(=O)-CH 3 , the hydroxyl group of the hydroxyl group-substituted alkylene group exemplified above as the substituted alkylene group is -OC(= O)-CH 3 may be substituted.

그 중에서도 2가의 연결기 A2, A3은, 각각 독립적으로, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, n-부틸렌기, 이소부틸렌기, sec-부틸렌기, 시클로헥실기, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-), 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-), 2-히드록시-n-부틸렌기, 히드록시-sec-부틸렌기(-CH(CH2OH)CH2CH2-)가 바람직하고, 에틸렌기, 프로필렌기, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-), 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-)가 보다 바람직하고, 에틸렌기, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-)가 특히 바람직하다.Among them, the divalent linking groups A 2 and A 3 are each independently a methylene group, ethylene group, propylene group, n-butylene group, isobutylene group, sec-butylene group, cyclohexyl group, and 1-hydroxyethylene group ( -CH(OH)CH 2 -), 2-hydroxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-), 2-hydroxy-n-propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH )CH 2 -), 2-hydroxy-n-butylene group, hydroxy-sec-butylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 CH 2 -) is preferable, ethylene group, propylene group, 1-hyde Oxyethylene group (-CH(OH)CH 2 -), 2-hydroxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-), 2-hydroxy-n-propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH (CH 2 OH)CH 2 -) is more preferable, and ethylene group, 1-hydroxyethylene group (-CH(OH)CH 2 -), 2-hydroxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-) is particularly preferable.

3가의 연결기 A3으로서는 -C(CH2-)2CH3 등을 들 수 있고, 4가의 연결기 A3으로서는 C(CH2-)4 등을 들 수 있다.Examples of the trivalent linking group A 3 include -C(CH 2 -) 2 CH 3 , and examples of the tetravalent linking group A 3 include C(CH 2 -) 4 .

일반식 (5)에 있어서, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, -O-인 것이 보다 바람직하다.In General Formula (5), Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group and each independently represents -O- or -NH-, and -O- is more preferable.

일반식 (5)에 있어서, n은 1∼3의 정수를 나타내고, n은 1인 것이 특히 바람직하다.In General Formula (5), n represents an integer of 1 to 3, and n is particularly preferably 1.

일반식 (5)에 있어서, r은 0 또는 1을 나타낸다. r이 0일 때 (-C(=O)-)는 단결합을 나타낸다.In General Formula (5), r represents 0 or 1. When r is 0, (-C(=O)-) represents a single bond.

일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위에 대하여, 바람직한 것으로서 이하의 구조를 예시할 수 있다.Regarding the structural unit represented by general formula (5), the following structure can be exemplified as a preferable one.

Figure pat00019
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Figure pat00020
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Figure pat00021
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Figure pat00022
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Figure pat00023
Figure pat00023

일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위의 함불소 수지 (D) 중의 함유량은, 함불소 수지 (D)를 구성하는 전체 구성단위 100 몰%에 대하여, 5 몰% 이상 70 몰% 이하가 바람직하고, 10 몰% 이상 50 몰% 이하가 보다 바람직하고, 10 몰% 이상 30 몰% 이하가 특히 바람직하다.The content of the structural unit represented by the general formula (5) in the fluorinated resin (D) is preferably 5 mol% or more and 70 mol% or less, based on 100 mol% of all structural units constituting the fluorinated resin (D). , 10 mol% or more and 50 mol% or less is more preferable, and 10 mol% or more and 30 mol% or less is particularly preferable.

일반식 (5)의 구성단위의 함유량이 70 몰%보다 많으면, 함불소 수지 (D)가 용매에 녹기 어려워지는 경향이 있다. 한편으로, 일반식 (5)의 구성단위의 함유량이 5 몰%보다 적으면, 함불소 수지 (D)로부터 얻어지는 수지막 또는 뱅크의 기판에 대한 밀착성이 저하되는 경향이 있다.If the content of the structural unit of general formula (5) is more than 70 mol%, the fluorinated resin (D) tends to become difficult to dissolve in the solvent. On the other hand, if the content of the structural unit of general formula (5) is less than 5 mol%, the adhesion of the resin film or bank obtained from the fluorinated resin (D) to the substrate tends to decrease.

일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위가 갖는 효과에 대하여, 명확하지는 않지만, 함불소 수지 (D)가 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함함으로써, 얻어지는 수지막 또는 뱅크가 기판에 대한 밀착성을 향상한다, 고 추찰한다. 단, 본 개시의 효과는 여기에 기술하는 효과에 한정되는 것은 아니다.Although the effect of the structural unit represented by General Formula (5) is not clear, when the fluorinated resin (D) contains the structural unit represented by General Formula (5), the resulting resin film or bank has an effect on the substrate. It is speculated that it improves adhesion. However, the effects of the present disclosure are not limited to the effects described here.

함불소 수지 (D)는, 상기 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위와 상기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 공중합체와, 상기 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위와 상기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 별종의 공중합체와의 혼합체(블렌드)여도 된다. 특히, 함불소 수지 (D)가, 일반식 (5)에 있어서의 W2가 -O-C(=O)-NH-인 구성단위를 포함하는 함불소 수지와, 일반식 (5)에 있어서의 W2가 -C(=O)-NH-인 구성단위를 포함하는 함불소 수지와의 혼합체인 것은, 본 개시의 바람직한 태양 중 하나이다.The fluorinated resin (D) is a copolymer containing a structural unit represented by the general formula (3) and a structural unit represented by the general formula (5), a structural unit represented by the general formula (3), and It may be a mixture (blend) with a different type of copolymer containing the structural unit represented by the general formula (5). In particular, the fluorinated resin (D) is a fluorinated resin containing a structural unit wherein W 2 in general formula (5) is -OC(=O)-NH-, and W in general formula (5) One of the preferred embodiments of the present disclosure is a mixture with a fluorinated resin containing a divalent -C(=O)-NH- structural unit.

또, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 하기 일반식 (6)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.Moreover, in the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) may contain a structure represented by the following general formula (6).

Figure pat00024
Figure pat00024

일반식 (6) 중, R7은 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.In General Formula (6), R 7 represents a hydrogen atom or a methyl group.

일반식 (6) 중, R8은 탄소수 1∼15의 직쇄상, 탄소수 3∼15의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼15의 환상의 알킬기를 나타내고, 당해 알킬기 중의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있고, 구성단위 중의 불소 원자 함유율은 30 질량% 이상이다. 여기에서 임의의 수는 1 이상이다.In general formula (6), R 8 represents a linear alkyl group with 1 to 15 carbon atoms, a branched chain with 3 to 15 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 15 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the alkyl group are atomized by a fluorine atom. It is substituted, and the fluorine atom content in the structural unit is 30% by mass or more. Here, the arbitrary number is 1 or more.

R8이 직쇄상의 알킬기일 때, 구체적으로는 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기 또는 탄소수 10∼14의 직쇄상 알킬기의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있는 것을 예시할 수 있다.When R 8 is a linear alkyl group, specifically, methyl, ethyl, propyl, butyl, pentyl, hexyl, heptyl, octyl, nonyl, or any number of linear alkyl groups having 10 to 14 carbon atoms. An example is that the hydrogen atom of is replaced by a fluorine atom.

R8이 직쇄상의 알킬기인 경우, 상기 일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위는 하기 일반식 (6-1)로 나타내어지는 구성단위인 것이 바람직하다.When R 8 is a linear alkyl group, the structural unit represented by the general formula (6) is preferably a structural unit represented by the following general formula (6-1).

Figure pat00025
Figure pat00025

일반식 (6-1) 중, R9는 일반식 (6)의 R7과 동의(同義)이다.In general formula (6-1), R 9 is the same as R 7 in general formula (6).

일반식 (6-1) 중, X는 수소 원자 또는 불소 원자이다.In general formula (6-1), X is a hydrogen atom or a fluorine atom.

일반식 (6-1) 중, p는 1∼4의 정수이다. q는 1∼14의 정수이다. p는 1∼2의 정수이고, q는 2∼8의 정수이고, X는 불소 원자인 것이 특히 바람직하다.In general formula (6-1), p is an integer of 1 to 4. q is an integer from 1 to 14. It is particularly preferable that p is an integer of 1 to 2, q is an integer of 2 to 8, and X is a fluorine atom.

일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위에 대하여, 바람직한 것으로서 이하의 구조를 예시할 수 있다.Regarding the structural unit represented by general formula (6), the following structure can be exemplified as a preferable one.

Figure pat00026
Figure pat00026

Figure pat00027
Figure pat00027

Figure pat00028
Figure pat00028

Figure pat00029
Figure pat00029

일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위의 함유량은, 함불소 수지 (D)를 구성하는 전체 구성단위 100 몰%에 대하여, 5 몰% 이상 70 몰% 이하가 바람직하고, 10 몰% 이상 50 몰% 이하가 보다 바람직하고, 10 몰% 이상 30 몰% 이하가 특히 바람직하다.The content of the structural unit represented by the general formula (6) is preferably 5 mol% or more and 70 mol% or less, and 10 mol% or more and 50 mol%, based on 100 mol% of all structural units constituting the fluorinated resin (D). % or less is more preferable, and 10 mol% or more and 30 mol% or less is particularly preferable.

일반식 (6)의 구성단위의 함유량이 70 몰%보다 많으면, 함불소 수지 (D)가 용매에 녹기 어려워지는 경향이 있다.If the content of the structural unit of general formula (6) is more than 70 mol%, the fluorinated resin (D) tends to become difficult to dissolve in the solvent.

일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위는, UV 오존 처리 후 또는 산소 플라즈마 처리 후의 잉크에 대한 발액성을 부여하는 구성단위이다. 그 때문에, 잉크에 대한 고발액성을 추구하고자 하는 경우에는, 함불소 수지 (D)에 일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다.The structural unit represented by general formula (6) is a structural unit that provides liquid repellency to ink after UV ozone treatment or oxygen plasma treatment. Therefore, when it is desired to pursue high liquid properties for ink, it is preferable that the fluorinated resin (D) contains a structural unit represented by general formula (6).

또, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 하기 일반식 (7)로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.Moreover, in the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) may contain a structure represented by the following general formula (7).

Figure pat00030
Figure pat00030

일반식 (7) 중, R10은 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.In General Formula (7), R 10 represents a hydrogen atom or a methyl group.

일반식 (7) 중, B는 각각 독립적으로, 수산기, 카르복실기, -C(=O)-O-R11(R11은 탄소수 1∼15의 직쇄상, 탄소수 3∼15의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼15의 환상의 알킬기를 나타내고, 당해 알킬기 중의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있고, R11 중의 불소 원자 함유율은 30 질량% 이상임) 또는 -O-C(=O)-R12(R12는 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기를 나타낸다.)를 나타낸다. 또, m은 0∼3의 정수를 나타낸다. 여기에서 임의의 수는 1 이상이다.In the general formula (7), B is each independently a hydroxyl group, a carboxyl group, -C(=O)-OR 11 (R 11 is a straight chain having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain having 3 to 15 carbon atoms, or a branched chain having 3 to 15 carbon atoms. represents a cyclic alkyl group, any number of hydrogen atoms in the alkyl group are substituted with fluorine atoms, and the fluorine atom content in R 11 is 30% by mass or more) or -OC(=O)-R 12 (R 12 is It represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms. Additionally, m represents an integer from 0 to 3. Here, the arbitrary number is 1 or more.

일반식 (7)로 나타내어지는 구성단위에 대하여, 바람직한 것으로서 이하의 구조를 예시할 수 있다.Regarding the structural unit represented by general formula (7), the following structure can be exemplified as a preferable one.

Figure pat00031
Figure pat00031

Figure pat00032
Figure pat00032

일반식 (7)로 나타내어지는 구성단위의 함유량은, 함불소 수지 (D)를 구성하는 전체 구성단위 100 몰%에 대하여, 5 몰% 이상 70 몰% 이하가 바람직하고, 10 몰% 이상 50 몰% 이하가 보다 바람직하고, 20 몰% 이상 40 몰% 이하가 특히 바람직하다.The content of the structural unit represented by general formula (7) is preferably 5 mol% or more and 70 mol% or less, and 10 mol% or more and 50 mol%, based on 100 mol% of all structural units constituting the fluorinated resin (D). % or less is more preferable, and 20 mol% or more and 40 mol% or less is particularly preferable.

일반식 (7)의 구성단위의 함유량이 70 몰%보다 많으면, 함불소 수지 (D)가 용매에 녹기 어려워지는 경향이 있다.If the content of the structural unit of general formula (7) is more than 70 mol%, the fluorinated resin (D) tends to become difficult to dissolve in the solvent.

일반식 (7)에 있어서, B가 수산기 또는 카르복실기인 경우, 일반식 (7)로 나타내어지는 구성단위는, 알칼리 현상액에 대한 용해성을 갖는다. 그 때문에, 함불소 수지 (D)에, B가 수산기 또는 카르복실기인 경우의 일반식 (7)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다.In General Formula (7), when B is a hydroxyl group or a carboxyl group, the structural unit represented by General Formula (7) has solubility in an alkaline developer. Therefore, it is preferable that the fluorinated resin (D) contains a structural unit represented by general formula (7) where B is a hydroxyl group or a carboxyl group.

또, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는, 하기 일반식 (8)로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.Moreover, in the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorinated resin (D) may contain a structure represented by the following general formula (8).

Figure pat00033
Figure pat00033

일반식 (8)에 있어서, R13은 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.In General Formula (8), R 13 represents a hydrogen atom or a methyl group.

일반식 (8)에 있어서, A4는, 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어도 된다.In general formula (8), A 4 represents a divalent linking group, a linear alkylene group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group with 3 to 10 carbon atoms, and is selected from the alkylene group. Any number of hydrogen atoms may be substituted by hydroxyl groups or -OC(=O)-CH 3 .

2가의 연결기 A4는, 탄소수 1∼10의 직쇄상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, n-부틸렌기, n-펜틸렌기, n-헥실렌기, n-헵틸렌기, n-옥틸렌기, n-노닐렌기, n-데카닐렌기를 들 수 있다.When the divalent linking group A 4 is a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, for example, methylene group, ethylene group, propylene group, n-butylene group, n-pentylene group, n-hexylene group, n -Heptylene group, n-octylene group, n-nonylene group, and n-decanylene group.

2가의 연결기 A4는, 탄소수 3∼10의 분기쇄상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 이소프로필렌기, 이소부틸렌기, sec-부틸렌기, tert-부틸렌기, 이소펜틸렌기, 이소헥실렌기 등을 들 수 있다.When the divalent linking group A 4 is a branched alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, for example, isopropylene group, isobutylene group, sec-butylene group, tert-butylene group, isopentylene group, isohexylene group. etc. can be mentioned.

2가의 연결기 A4는, 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기인 경우, 예를 들면, 2 치환의 시클로프로판, 2 치환의 시클로부탄, 2 치환의 시클로펜탄, 2 치환의 시클로헥산, 2 치환의 시클로헵탄, 2 치환의 시클로옥탄, 2 치환의 시클로데칸, 2 치환의 4-tert-부틸시클로헥산 등을 들 수 있다.When the divalent linking group A 4 is a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, for example, di-substituted cyclopropane, di-substituted cyclobutane, di-substituted cyclopentane, di-substituted cyclohexane, di-substituted Cycloheptane, disubstituted cyclooctane, disubstituted cyclodecane, disubstituted 4-tert-butylcyclohexane, etc. can be mentioned.

이들 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기에 의해 치환되어 있는 경우, 당해 수산기 치환 알킬렌기로서, 예를 들면, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-), 1-히드록시-n-프로필렌기, 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-), 1-히드록시-n-부틸렌기, 2-히드록시-n-부틸렌기, 히드록시-sec-부틸렌기(-CH(CH2OH)CH2CH2-), 히드록시-이소부틸렌기(-CH2CH(CH2OH)CH2-), 히드록시-tert-부틸렌기(-C(CH2OH)(CH3)CH2-) 등을 들 수 있다.When any number of hydrogen atoms in these alkylene groups are substituted with hydroxyl groups, examples of the hydroxyl group-substituted alkylene group include, for example, 1-hydroxyethylene group (-CH(OH)CH 2 -), 2-hyde Oxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-), 1-hydroxy-n-propylene group, 2-hydroxy-n-propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 -), 1-hydroxy-n-butylene group, 2-hydroxy-n-butylene group, hydroxy-sec-butylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 CH 2 -), hydroxy-isobutyl Examples include lene group (-CH 2 CH(CH 2 OH)CH 2 -) and hydroxy-tert-butylene group (-C(CH 2 OH)(CH 3 )CH 2 -).

또, 이들 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있는 경우, 당해 치환 알킬렌기로서, 상기에 예시한 수산기 치환 알킬렌기의 수산기가 -O-C(=O)-CH3으로 치환된 것을 들 수 있다.In addition, when any number of hydrogen atoms in these alkylene groups are substituted by -OC(=O)-CH 3 , the hydroxyl group of the hydroxyl group-substituted alkylene group exemplified above as the substituted alkylene group is -OC(= O)-CH 3 may be substituted.

그 중에서도, 2가의 연결기 A4는 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, n-부틸렌기, 이소부틸렌기, sec-부틸렌기, 시클로헥실기, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-), 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-), 2-히드록시-n-부틸렌기, 히드록시-sec-부틸렌기(-CH(CH2OH)CH2CH2-)가 바람직하고, 에틸렌기, 프로필렌기, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-), 2-히드록시-n-프로필렌기, 히드록시-이소프로필렌기(-CH(CH2OH)CH2-)가 보다 바람직하고, 에틸렌기, 1-히드록시에틸렌기(-CH(OH)CH2-), 2-히드록시에틸렌기(-CH2CH(OH)-)가 특히 바람직하다.Among them, the divalent linking group A 4 is methylene group, ethylene group, propylene group, n-butylene group, isobutylene group, sec-butylene group, cyclohexyl group, and 1-hydroxyethylene group (-CH(OH)CH 2 -), 2-hydroxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-), 2-hydroxy-n-propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 -), 2 -Hydroxy-n-butylene group, hydroxy-sec-butylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 CH 2 -) is preferable, and ethylene group, propylene group, 1-hydroxyethylene group (-CH( OH)CH 2 -), 2-hydroxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-), 2-hydroxy-n-propylene group, hydroxy-isopropylene group (-CH(CH 2 OH)CH 2 -) is more preferable, and ethylene group, 1-hydroxyethylene group (-CH(OH)CH 2 -), and 2-hydroxyethylene group (-CH 2 CH(OH)-) are particularly preferable.

일반식 (8)에 있어서, Y4는 2가의 연결기를 나타내고, -O- 또는 -NH-를 나타내고, -O-인 것이 보다 바람직하다.In General Formula (8), Y 4 represents a divalent linking group, represents -O- or -NH-, and is more preferably -O-.

일반식 (8)에 있어서, r은 0 또는 1을 나타낸다. r이 0일 때 (-C(=O)-)는 단결합을 나타낸다.In General Formula (8), r represents 0 or 1. When r is 0, (-C(=O)-) represents a single bond.

일반식 (8)에 있어서, E1은 수산기, 카르복실기 또는 옥시란기를 나타낸다.In general formula (8), E 1 represents a hydroxyl group, a carboxyl group, or an oxirane group.

E1이 옥시란기일 때, 예를 들면, 에틸렌옥사이드기, 1,2-프로필렌옥사이드기, 1,3-프로필렌옥사이드기 등을 들 수 있다. 그 중에서도 에틸렌옥사이드기인 것이 바람직하다.When E 1 is an oxirane group, examples include ethylene oxide group, 1,2-propylene oxide group, and 1,3-propylene oxide group. Among these, ethylene oxide group is preferable.

일반식 (8)에 있어서, s는 0 또는 1을 나타낸다. s가 0일 때, (-Y4-A4-)는 단결합을 나타낸다. r이 0, 또한, s가 0일 때는, 구성단위의 주쇄에 E1이 결합한 구조가 된다.In General Formula (8), s represents 0 or 1. When s is 0, (-Y 4 -A 4 -) represents a single bond. When r is 0 and s is 0, it has a structure in which E 1 is bonded to the main chain of the structural unit.

일반식 (8)로 나타내어지는 구성단위에 대하여, 바람직한 것으로서 이하의 구조를 예시할 수 있다.Regarding the structural unit represented by general formula (8), the following structure can be exemplified as a preferable one.

Figure pat00034
Figure pat00034

일반식 (8)에 있어서, E1이 수산기 또는 카르복실기인 경우, 일반식 (8)로 나타내어지는 구성단위는, 함불소 수지 (D)의 알칼리 현상액에 대한 용해성을 부여한다. 그 때문에, 본 개시의 함불소 수지 (D)에, E1이 수산기 또는 카르복실기인 경우의 일반식 (8)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다.In the general formula (8), when E 1 is a hydroxyl group or a carboxyl group, the structural unit represented by the general formula (8) gives the fluorinated resin (D) solubility in an alkaline developer. Therefore, it is preferable that the fluorinated resin (D) of the present disclosure contains a structural unit represented by general formula (8) in which E 1 is a hydroxyl group or a carboxyl group.

함불소 수지 (D)는 가교 부위를 갖고 있어도 된다. 본 개시에 있어서, 「가교 부위」는, 다른 모노머와 중합 반응 가능한 부위를 의미한다. 가교 부위로서는, 예를 들면 광중합성기를 들 수 있고, 바람직하게는 중합체의 측쇄에 도입되어 있다. 함불소 수지 (D)는, 예를 들면 모노머를 중합하여 상술의 일반식 (3), (6)∼(8)에 나타내는 구조로 이루어지는 구성단위를 갖는 함불소 수지 전구체를 얻고, 이어서 함불소 수지 전구체와 광중합성기 유도체를 반응시킴으로써 중합체의 측쇄에 광중합성기를 도입하여, 상술의 일반식 (4), (5)에 나타내는 구조로 이루어지는 구성단위를 갖는 함불소 수지 (D)를 합성할 수 있다.The fluorinated resin (D) may have a crosslinking site. In the present disclosure, “crosslinking site” means a site capable of polymerization reaction with another monomer. Examples of the crosslinking site include a photopolymerizable group, and it is preferably introduced into the side chain of the polymer. The fluorinated resin (D) is obtained by, for example, polymerizing monomers to obtain a fluorinated resin precursor having structural units having the structures shown in the above-mentioned general formulas (3), (6) to (8), and then fluorinated resin. By reacting the precursor with a photopolymerizable group derivative, a photopolymerizable group is introduced into the side chain of the polymer, and a fluorinated resin (D) having a structural unit having the structure shown in the above-mentioned general formulas (4) and (5) can be synthesized.

함불소 수지 전구체에 도입하는 광중합성기로서는, 아크릴기, 메타크릴기, 비닐기, 알릴기가 바람직하고, 아크릴기가 보다 바람직하다.As the photopolymerizable group introduced into the fluorinated resin precursor, an acrylic group, a methacrylic group, a vinyl group, and an allyl group are preferable, and an acrylic group is more preferable.

광중합성기로서 아크릴기를 도입하는 경우, 광중합성기 유도체로서는, 예를 들면 아크릴기를 갖는 이소시아네이트 모노머, 아크릴기를 갖는 에폭시 모노머 등의 아크릴산 유도체를 들 수 있다.When introducing an acrylic group as a photopolymerizable group, examples of the photopolymerizable group derivative include acrylic acid derivatives such as isocyanate monomers having an acrylic group and epoxy monomers having an acrylic group.

아크릴기를 갖는 이소시아네이트 모노머로서는, 예를 들면, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트, 2-(2-메타크릴로일옥시에틸옥시)에틸이소시아네이트, 1,1-(비스아크릴로일옥시메틸)에틸이소시아네이트 등을 들 수 있다. 바람직하게는 2-이소시아나토에틸아크릴레이트이다.Isocyanate monomers having an acrylic group include, for example, 2-isocyanatoethyl methacrylate, 2-isocyanatoethyl acrylate, 2-(2-methacryloyloxyethyloxy)ethyl isocyanate, and 1,1- (bisacryloyloxymethyl)ethyl isocyanate, etc. are mentioned. Preferably it is 2-isocyanatoethyl acrylate.

아크릴기를 갖는 에폭시 모노머로서는, 예를 들면, 아크릴산 글리시딜, 4-히드록시부틸아크릴레이트글리시딜에테르(4HBAGE, 미쓰비시케미컬주식회사 제) 등을 들 수 있다.Examples of the epoxy monomer having an acrylic group include glycidyl acrylate, 4-hydroxybutylacrylate glycidyl ether (4HBAGE, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and the like.

함불소 수지 전구체가 갖는 수산기와 광중합성기 유도체와의 부가 반응에 의해, 함불소 수지 전구체에 광중합성기가 도입된다.A photopolymerizable group is introduced into the fluorinated resin precursor through an addition reaction between the hydroxyl group of the fluorinated resin precursor and the photopolymerizable group derivative.

함불소 수지 (D)에 있어서의 광중합성기의 비율은, 함불소 수지 (D)를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 10 몰% 이상, 70 몰% 이하인 것이 바람직하다. 함불소 수지 (D)가 광중합성기를 1개 갖는 구성단위만으로 형성되어 있는 경우, 함불소 수지 (D)의 광중합성기의 함유량은 100 몰%이다. 광중합성기의 비율이 10 몰% 미만이면, 수지막이나 격벽의 강도가 저하되는 경향이 있다. 광중합성기의 비율이 70 몰%를 초과하면, 도포에 의한 수지막의 형성이 곤란해지는 경우가 있다. 보다 바람직하게는 15∼60 몰%이다.The proportion of photopolymerizable groups in the fluorinated resin (D) is preferably 10 mol% or more and 70 mol% or less, assuming that the total amount of structural units constituting the fluorinated resin (D) is 100 mol%. When the fluorinated resin (D) is formed only of structural units having one photopolymerizable group, the content of the photopolymerizable group in the fluorinated resin (D) is 100 mol%. If the ratio of the photopolymerizable group is less than 10 mol%, the strength of the resin film or partition tends to decrease. If the ratio of photopolymerizable groups exceeds 70 mol%, formation of a resin film by application may become difficult. More preferably, it is 15 to 60 mol%.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)의 분자량은, 폴리스티렌을 표준물질로 한 고속 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)에 의해 측정한 질량평균 분자량으로, 바람직하게는 1,000 이상, 1,000,000 이하, 보다 바람직하게는 2,000 이상, 500,000 이하이고, 특히 바람직하게는 3,000 이상, 100,000 이하이다. 분자량이 1,000보다 작으면 형성하는 수지막 또는 뱅크의 강도가 저하되는 경향이 있고, 분자량이 1,000,000보다 크면 용매에의 용해성이 부족하여 도포에 의한 수지막의 형성이 곤란해지는 경우가 있다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the molecular weight of the fluorinated resin (D) is the mass average molecular weight measured by high-performance gel permeation chromatography (GPC) using polystyrene as a standard material, and is preferably 1,000 or more. , 1,000,000 or less, more preferably 2,000 or more and 500,000 or less, and particularly preferably 3,000 or more and 100,000 or less. If the molecular weight is less than 1,000, the strength of the formed resin film or bank tends to decrease, and if the molecular weight is greater than 1,000,000, the solubility in the solvent may be insufficient, making it difficult to form a resin film by application.

함불소 수지 (D)의 분산도 (Mw/Mn)은 1.01∼5.00이 바람직하고, 1.01∼4.00이 보다 바람직하고, 1.01∼3.00이 특히 바람직하다.The dispersion degree (Mw/Mn) of the fluorinated resin (D) is preferably 1.01 to 5.00, more preferably 1.01 to 4.00, and especially preferably 1.01 to 3.00.

함불소 수지 (D)는, 랜덤 공중합체여도 되고, 교호(交互) 공중합체여도 되고, 블록 공중합체여도 되고, 그라프트 공중합체여도 된다. 각각의 특성을 국소적으로는 아니라 적당한 정도로 분산시키는 관점에서, 랜덤 공중합체인 것이 바람직하다.The fluorinated resin (D) may be a random copolymer, an alternating copolymer, a block copolymer, or a graft copolymer. From the viewpoint of dispersing each characteristic to an appropriate degree rather than locally, it is preferable that it is a random copolymer.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서의 함불소 수지 (D)의 바람직한 태양은 이하와 같다.Preferred aspects of the fluorinated resin (D) in the first photosensitive resin composition of the present disclosure are as follows.

< 태양 1 ><Sun 1>

다음의 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위, 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위, 일반식 (6-1)로 나타내어지는 구성단위 및 일반식 (7)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 함불소 수지 (D)Containing the structural unit represented by the following general formula (3), the structural unit represented by the general formula (5), the structural unit represented by the general formula (6-1), and the structural unit represented by the general formula (7) Fluorinated resin (D)

일반식 (3): R1 및 R2는 수소 원자, Rb는 각각 독립적으로, 불소 원자, 디플루오로메틸기 또는 트리플루오로메틸기General formula (3): R 1 and R 2 are hydrogen atoms, and Rb is each independently a fluorine atom, a difluoromethyl group, or a trifluoromethyl group.

일반식 (5): R5 및 R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기, W2는 -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-, A2, A3은 각각 독립적으로, 에틸렌기, Y2 및 Y3은 -O-, n은 1, r은 1General formula (5): R 5 and R 6 are each independently a hydrogen atom or a methyl group, W 2 is -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, A 2 and A 3 are each independently an ethylene group, Y 2 and Y 3 are -O-, n is 1, r is 1

일반식 (6-1): R9는 메틸기, p는 2의 정수, q는 4∼8의 정수, X는 불소 원자General formula (6-1): R 9 is a methyl group, p is an integer of 2, q is an integer of 4 to 8, and X is a fluorine atom

일반식 (7): R10은 수소 원자, B는 아세톡시기, 수산기 또는 카르복실기, m은 1General formula (7): R 10 is a hydrogen atom, B is an acetoxy group, hydroxyl group or carboxyl group, and m is 1

< 태양 2 ><Sun 2>

다음의 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위, 일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위, 일반식 (6-1)로 나타내어지는 구성단위 및 일반식 (8)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 함불소 수지 (D)Containing the structural unit represented by the following general formula (5), the structural unit represented by the general formula (6), the structural unit represented by the general formula (6-1), and the structural unit represented by the general formula (8) Fluorinated resin (D)

일반식 (5): R5 및 R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기, W2는 -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-, A2, A3은 각각 독립적으로, 에틸렌기, Y2 및 Y3은 -O-, n은 1, r은 1General formula (5): R 5 and R 6 are each independently a hydrogen atom or a methyl group, W 2 is -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, A 2 and A 3 are each independently an ethylene group, Y 2 and Y 3 are -O-, n is 1, r is 1

일반식 (6): R7은 메틸기, R8은 탄소수 3∼15의 분기쇄상의 퍼플루오로알킬기General formula (6): R 7 is a methyl group, and R 8 is a branched perfluoroalkyl group having 3 to 15 carbon atoms.

일반식 (6-1): R9는 메틸기, p는 2의 정수, q는 4∼8의 정수, X는 불소 원자General formula (6-1): R 9 is a methyl group, p is an integer of 2, q is an integer of 4 to 8, and X is a fluorine atom

일반식 (8): R13은 메틸기, A4는 에틸렌기, Y4는 -O-, r은 1, s는 0 또는 1, E1은 수산기 또는 카르복실기General formula (8): R 13 is a methyl group, A 4 is an ethylene group, Y 4 is -O-, r is 1, s is 0 or 1, E 1 is a hydroxyl group or a carboxyl group

< 태양 3 ><Sun 3>

다음의 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위 및 일반식 (6-1)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 함불소 수지 (D)Fluorinated resin (D) containing a structural unit represented by the following general formula (5) and a structural unit represented by the general formula (6-1)

일반식 (5): R5 및 R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기, W2는 -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-, A2, A3은 각각 독립적으로, 에틸렌기, Y2 및 Y3은 -O-, n은 1, r은 1General formula (5): R 5 and R 6 are each independently a hydrogen atom or a methyl group, W 2 is -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, A 2 and A 3 are each independently an ethylene group, Y 2 and Y 3 are -O-, n is 1, r is 1

일반식 (6-1): R9는 메틸기, p는 2의 정수, q는 4∼8의 정수, X는 불소 원자General formula (6-1): R 9 is a methyl group, p is an integer of 2, q is an integer of 4 to 8, and X is a fluorine atom

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)의 불소 원자 함유율은, 20∼60 질량%인 것이 바람직하고, 25∼60 질량%인 것이 보다 바람직하다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the fluorine atom content of the fluorinated resin (D) is preferably 20 to 60% by mass, and more preferably 25 to 60% by mass.

불소 원자 함유율이 이 범위 내이면, 용매에 용해되기 쉽다. 함불소 수지 (D)가 불소 원자를 포함함으로써, 발액성이 우수한 수지막 또는 뱅크를 얻을 수 있다.If the fluorine atom content is within this range, it is easy to dissolve in the solvent. When the fluorinated resin (D) contains a fluorine atom, a resin film or bank with excellent liquid repellency can be obtained.

또한, 본 명세서에 있어서, 「수지의 불소 원자 함유율」은, NMR(핵자기공명분광법)에 의해 측정된 수지를 구성하는 모노머의 몰 비율, 수지를 구성하는 모노머의 분자량, 모노머에 포함되는 불소의 함유량으로부터 산출한 값을 의미한다.In addition, in this specification, “fluorine atom content of the resin” refers to the molar ratio of the monomer constituting the resin measured by NMR (nuclear magnetic resonance spectroscopy), the molecular weight of the monomer constituting the resin, and the fluorine contained in the monomer. It means the value calculated from the content.

여기서 일례로서, 함불소 수지 (D)가, 1,1-비스트리플루오로메틸부타디엔, 4-히드록시스티렌 및 2-(퍼플루오로헥실)에틸메타크릴레이트를 중합하여 이루어지는 수지인 경우의 불소 원자의 함유량의 측정 방법을 설명한다.Here, as an example, fluorine in the case where the fluorinated resin (D) is a resin obtained by polymerizing 1,1-bistrifluoromethylbutadiene, 4-hydroxystyrene, and 2-(perfluorohexyl)ethyl methacrylate. Explain how to measure atomic content.

(i) 먼저, 함불소 수지 (D)를 NMR 측정함으로써, 각 조성의 비율을 산출한다(몰 비율).(i) First, the fluorinated resin (D) is subjected to NMR measurement to calculate the ratio of each composition (molar ratio).

(ii) 함불소 수지 (D)의 각 조성의 모노머의 분자량(Mw)과, 몰 비율을 곱하고, 얻어진 값을 서로 더하여, 합계값을 구한다. 그 합계값으로부터 각 조성의 중량 비율(wt%)을 산출한다. 또한, 1,1-비스트리플루오로메틸부타디엔의 분자량은 190이고, 4-히드록시스티렌의 분자량은 120이고, 2-(퍼플루오로헥실)에틸메타크릴레이트의 분자량은 432이다.(ii) The molecular weight (Mw) of the monomer of each composition of the fluorinated resin (D) is multiplied by the molar ratio, and the obtained values are added together to obtain the total value. From the total value, the weight ratio (wt%) of each composition is calculated. Additionally, the molecular weight of 1,1-bistrifluoromethylbutadiene is 190, the molecular weight of 4-hydroxystyrene is 120, and the molecular weight of 2-(perfluorohexyl)ethyl methacrylate is 432.

(iii) 다음으로, 불소를 함유하는 조성에 있어서, 모노머 중의 불소 원자 함유량을 계산한다.(iii) Next, in the composition containing fluorine, the fluorine atom content in the monomer is calculated.

(iv) 각 성분에 있어서의 「모노머 중의 불소 원자 함유량÷모노머 분자량(Mw)×중량 비율(wt%)」의 값을 산출하고, 얻어진 수치를 합산한다.(iv) Calculate the value of “fluorine atom content in monomer ÷ monomer molecular weight (Mw) × weight ratio (wt%)” for each component, and add up the obtained values.

(v) 「상기 (iv)에서 얻어진 수치」/「상기 (ii)에서 얻어진 합계값」을 산출하여, 함불소 수지 (D)의 불소 원자 함유율을 산출한다.(v) Calculate “value obtained in (iv) above”/“total value obtained in (ii) above” to calculate the fluorine atom content of the fluorinated resin (D).

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 알칼리 가용성 수지 (C)와 함불소 수지 (D)의 불소 원자 함유율의 차가 15∼60 질량%인 것이 바람직하고, 20∼55 질량%인 것이 보다 바람직하고, 25∼45 질량%인 것이 보다 더 바람직하다. 불소 원자 함유율의 차가 상기 범위이면, 알칼리 가용성 수지 (C)와 함불소 수지 (D)의 편재가 해소된다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the difference in fluorine atom content between the alkali-soluble resin (C) and the fluorinated resin (D) is preferably 15 to 60% by mass, and more preferably 20 to 55% by mass. , it is more preferable that it is 25 to 45 mass%. If the difference in fluorine atom content is within the above range, uneven distribution of the alkali-soluble resin (C) and the fluorinated resin (D) is eliminated.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 함불소 수지 (D)는 1종 또는 2종 이상을 이용할 수 있다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, one type or two or more types of fluorinated resin (D) can be used.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 함불소 수지 (D)의 함유량은, 0.01∼40 질량%가 바람직하고, 0.01∼10 질량%가 보다 바람직하다. 당해 범위이면 수지막의 발수발유성이나 기재 밀착성이 양호하게 된다.The content of the fluorinated resin (D) relative to the total solid content of the first photosensitive resin composition of the present disclosure is preferably 0.01 to 40% by mass, and more preferably 0.01 to 10% by mass. Within this range, the water and oil repellency and substrate adhesion of the resin film become good.

< 수지 (E) ><Resin (E)>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함한다. 또한, 수지 (E)는 함불소 수지이지만, 상기의 함불소 수지 (D)와는 다른 수지이다. 수지 (E)는 라디칼 발생기를 포함하지 않는다. 본 명세서에 있어서, 라디칼 발생기는 빛이 닿음으로써 라디칼을 발생하는 기이다.The first photosensitive resin composition of the present disclosure contains a resin (E) having a structure represented by the following general formula (1). In addition, the resin (E) is a fluorine-containing resin, but it is a different resin from the above-mentioned fluorine-containing resin (D). Resin (E) does not contain radical generators. In this specification, a radical generator is a group that generates radicals when exposed to light.

Figure pat00035
Figure pat00035

일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다. 여기에서 임의의 수는 1 이상이다.In general formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is any number. The hydrogen atom of is replaced with a fluorine atom. Here, the arbitrary number is 1 or more.

탄소수 1∼6의 직쇄상의 알킬기로서는 트리플루오로메틸기, 디플루오로메틸기, 펜타플루오로에틸기, 2,2,2-트리플루오로에틸기, 헵타플루오로프로필기, 3,3,3-트리플루오로프로필기, 노나플루오로부틸기 등을 들 수 있다. 탄소수 3∼6의 분기쇄상의 알킬기로서는 헵타플루오로이소프로필기, 헥사플루오로이소프로필기, 노나플루오로이소부틸기, 노나플루오로-tert-부틸기 등을 들 수 있다. 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기로서는 펜타플루오로시클로프로필기 등을 들 수 있다. Ra로서 바람직하게는 탄소수 1∼6의 직쇄상 알킬기이고, 보다 바람직하게는 트리플루오로메틸기이다.Straight-chain alkyl groups having 1 to 6 carbon atoms include trifluoromethyl group, difluoromethyl group, pentafluoroethyl group, 2,2,2-trifluoroethyl group, heptafluoropropyl group, and 3,3,3-trifluoro group. Examples include lopropyl group and nonafluorobutyl group. Examples of the branched alkyl group having 3 to 6 carbon atoms include heptafluoroisopropyl group, hexafluoroisopropyl group, nonafluoroisobutyl group, and nonafluoro-tert-butyl group. Examples of cyclic alkyl groups having 3 to 6 carbon atoms include pentafluorocyclopropyl group. Ra is preferably a linear alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably a trifluoromethyl group.

일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 구체예로서는, 디플루오로메탄올기, 테트라플루오로에탄올기, 헥사플루오로이소프로판올기, 트리플루오로프로판올기 등을 들 수 있고, 헥사플루오로이소프로판올기가 바람직하다.Specific examples of the structure represented by General Formula (1) include difluoromethanol group, tetrafluoroethanol group, hexafluoroisopropanol group, trifluoropropanol group, etc., with hexafluoroisopropanol group being preferable.

수지 (E)는, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다. 일반식 (1)로 나타내어지는 구조는, 수지 (E)의 측쇄에 포함되는 것이 바람직하다. 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위로서는, 예를 들면 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위를 들 수 있다.The resin (E) preferably contains a structural unit having a structure represented by General Formula (1). The structure represented by General Formula (1) is preferably contained in the side chain of the resin (E). Examples of the structural unit having the structure represented by General Formula (1) include the structural unit represented by the following General Formula (1-1).

Figure pat00036
Figure pat00036

일반식 (1-1) 중, Ra는 일반식 (1) 중의 Ra와 동일하다.In general formula (1-1), Ra is the same as Ra in general formula (1).

Rc는, 수소 원자, 할로겐 원자, 탄화수소기, 및 함불소 알킬기(당해 탄화수소기 및 함불소 알킬기는, 직쇄 또는 분기쇄이며, 환상 구조를 포함할 수 있음)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기를 나타낸다. 여기에서, 할로겐 원자로서는 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자 및 요오드 원자를 들 수 있고, 불소 원자가 특히 바람직하다. 탄화수소기로서는 탄소수 1∼10의 알킬기(당해 알킬기는 직쇄, 분기쇄 또는 환상 구조를 취할 수 있음), 페닐기, 톨루일기를 들 수 있고, 메틸기가 특히 바람직하다. 함불소 알킬기로서는 탄소수 1∼6의 함불소 알킬기를 들 수 있고, 트리플루오로메틸기가 바람직하다. 이들 중에서도, Rc가 수소, 메틸기인 경우는, 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구조를 얻기 위한 중합성 단량체의 원료가 아크릴산 유도체, 메타크릴산 유도체가 되고, 대량 규모의 입수가 용이하기 때문에, 특히 바람직하다.Rc represents a group selected from the group consisting of a hydrogen atom, a halogen atom, a hydrocarbon group, and a fluorinated alkyl group (the hydrocarbon group and the fluorinated alkyl group are straight chain or branched and may include a cyclic structure). Here, examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable. Examples of the hydrocarbon group include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (the alkyl group may have a straight chain, branched chain, or cyclic structure), a phenyl group, and a toluyl group, with a methyl group being particularly preferable. Examples of the fluorinated alkyl group include fluorinated alkyl groups having 1 to 6 carbon atoms, and trifluoromethyl group is preferable. Among these, when Rc is hydrogen or a methyl group, the raw materials for the polymerizable monomer to obtain the structure represented by general formula (1-1) are acrylic acid derivatives and methacrylic acid derivatives, and they are easy to obtain in large quantities. , is particularly preferable.

Rd는, 2가(t=1일 때) 또는 3가(t=2일 때)의 유기기로서, 당해 유기기는, 환상 구조를 포함하고 있어도 되는 직쇄 또는 분기쇄의 지방족 탄화수소기, 방향환기 또는 그들의 복합 치환기로부터 선택되는 기로서, 수소 원자의 일부 또는 전부가 불소 원자 또는 수산기에 의해서 치환되어 있어도 된다. 지방족 탄화수소기로서는 탄소수 1∼20의 것을 들 수 있다. 방향환기로서는, 벤젠환에 2개 또는 3개의 결합손이 붙어 있는 것을 들 수 있다. 「복합 치환기」란, 1개의 Rd 중에, 지방족 탄화수소 유닛과 방향환 유닛이, 직렬 또는 병렬 관계로 포함되는 것을 말한다. 그 중에서도 Rd로서, 하기의 관능기의 것은, 우수한 물성을 갖는 중합체의 원료가 될 수 있기 때문에, 바람직하다(식 중의 점선은, 결합손을 나타냄).Rd is a divalent (when t = 1) or trivalent (when t = 2) organic group, and the organic group is a straight-chain or branched aliphatic hydrocarbon group that may contain a cyclic structure, an aromatic ring group, or As a group selected from these complex substituents, part or all of the hydrogen atoms may be substituted with a fluorine atom or a hydroxyl group. Examples of aliphatic hydrocarbon groups include those having 1 to 20 carbon atoms. Examples of the aromatic ring group include those having two or three bonding hands attached to the benzene ring. “Complex substituent” means that in one Rd, an aliphatic hydrocarbon unit and an aromatic ring unit are included in series or parallel relationship. Among them, as Rd, those having the following functional groups are preferable because they can serve as raw materials for polymers with excellent physical properties (the dotted lines in the formula represent bond hands).

Figure pat00037
Figure pat00037

Figure pat00038
Figure pat00038

t는 1 또는 2를 나타낸다.t represents 1 or 2.

수지 (E)에 있어서, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조는, 방향환에 직접 결합해 있지 않는 것이 바람직하다. 일반식 (1)로 나타내어지는 구조는, 직쇄상, 분기쇄상 또는 환상의 알킬렌기에 직접 결합해 있는 것이 바람직하다.In the resin (E), it is preferable that the structure represented by General Formula (1) is not directly bonded to the aromatic ring. The structure represented by General Formula (1) is preferably directly bonded to a linear, branched, or cyclic alkylene group.

수지 (E)는 가교 부위를 갖는 것이 바람직하다. 수지 (E)가 가교 부위를 가지면, 제 1 감광성 수지 조성물의 각 성분의 편재가 더 해소되기 때문이다.Resin (E) preferably has a crosslinking site. This is because when the resin (E) has a crosslinking site, the uneven distribution of each component of the first photosensitive resin composition is further eliminated.

가교 부위로서는, 상기의 함불소 수지 (D)의 가교 부위로서 예시한 광중합성기 등을 들 수 있고, 중합체의 측쇄에 도입되어 있는 것이 바람직하다. 수지 (E)는, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다.Examples of the crosslinking site include the photopolymerizable group exemplified as the crosslinking site of the above-described fluorinated resin (D), and it is preferable that it is introduced into the side chain of the polymer. The resin (E) preferably contains a structural unit represented by the following general formula (5).

Figure pat00039
Figure pat00039

상기 일반식 (5)는, 함불소 수지 (D)에 대하여 예시한 것과 동일하다.The above general formula (5) is the same as that exemplified for the fluorinated resin (D).

수지 (E)는, 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 수지인 것이 바람직하다.The resin (E) is preferably a resin containing a structural unit represented by the following general formula (1-1) and a structural unit represented by the following general formula (5).

Figure pat00040
Figure pat00040

수지 (E)는, 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위와, 이하 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위 외에, 추가로 하기 일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다.Resin (E), in addition to the structural unit represented by the following general formula (1-1) and the structural unit represented by the following general formula (5), further contains a structural unit represented by the following general formula (6) It is desirable.

Figure pat00041
Figure pat00041

상기 일반식 (6)은, 함불소 수지 (D)에 대하여 예시한 것과 동일하다.The above general formula (6) is the same as that exemplified for the fluorinated resin (D).

수지 (E)는, 추가로, 함불소 수지 (D)에 대하여 예시한 일반식 (3)으로 나타내어지는 구성단위, 일반식 (7)로 나타내어지는 구성단위 등을 포함하고 있어도 된다.The resin (E) may further contain a structural unit represented by the general formula (3) exemplified for the fluorinated resin (D), a structural unit represented by the general formula (7), etc.

수지 (E)는, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이, 수지 (E)를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만인 것이 바람직하다. 수지 (E)가 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 1개 갖는 구성단위만으로 형성되어 있는 경우, 수지 (E)의 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량은, 100 몰%이다. 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이 0.1 몰% 미만이면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서 각 성분을 충분히 상용시키는 효과가 충분히 얻어지지 않는 경우가 있다. 50 몰% 이상이면, 발액성이 저하되는 경우가 있다. 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만이면, 충분한 발액성, 상용성을 보지하면서 추가로, 밀착성, 내열성, 알칼리 용해성 등의 다른 물성을 부여하는 것도 가능하게 된다. 보다 바람직하게는 1 몰% 이상, 50 몰% 미만이다.The resin (E) preferably has a content of the structure represented by General Formula (1) of 0.1 mol% or more and less than 50 mol%, assuming that the total amount of structural units constituting the resin (E) is 100 mol%. When the resin (E) is formed only of structural units having one structure represented by general formula (1), the content of the structure represented by general formula (1) in the resin (E) is 100 mol%. If the content of the structure represented by General Formula (1) is less than 0.1 mol%, the effect of making each component sufficiently compatible in the first photosensitive resin composition of the present disclosure may not be sufficiently obtained. If it is 50 mol% or more, the liquid repellency may decrease. If the content of the structure represented by General Formula (1) is 0.1 mol% or more but less than 50 mol%, it is possible to provide other physical properties such as adhesion, heat resistance, and alkali solubility while maintaining sufficient liquid repellency and compatibility. I do it. More preferably, it is 1 mol% or more and less than 50 mol%.

수지 (E)에 있어서의, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위 이외의 구성단위(이하에서는, 기타의 단량체라고도 기재함)의 함유량은, 수지 (E) 중, 99.9 몰% 이하인 것이 바람직하다. 기타의 단량체에 유래하는 구성단위가 99.9 몰%를 초과하면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서 각 성분의 편재가 해소되지 않는 경우가 있다. 보다 바람직하게는 99 몰% 이하이다. 또, 수지 (E)에 있어서의 기타의 단량체에 유래하는 구성단위는, 50 몰% 이상이 바람직하다. 수지 (E)에 있어서의 각 단량체에 유래하는 구성단위의 몰비는, NMR(핵자기공명분광법)의 측정값으로부터 결정할 수 있다.In the resin (E), the content of structural units other than the structural unit having the structure represented by General Formula (1) (hereinafter also referred to as other monomers) is 99.9 mol% or less in the resin (E). It is desirable. When the amount of structural units derived from other monomers exceeds 99.9 mol%, uneven distribution of each component may not be resolved in the first photosensitive resin composition of the present disclosure. More preferably, it is 99 mol% or less. Moreover, the structural unit derived from other monomers in the resin (E) is preferably 50 mol% or more. The molar ratio of the structural units derived from each monomer in the resin (E) can be determined from the measured value of NMR (nuclear magnetic resonance spectroscopy).

수지 (E)는, 중량평균 분자량이 1,000 이상, 50,000 이하인 것이 바람직하다. 수지 (E)의 중량평균 분자량이 상기의 범위 외이면, 각 성분의 편재가 충분히 개선되지 않는 경우가 있다. 보다 바람직하게는 5,000 이상, 40,000 이하, 더 바람직하게는 5,000 이상, 30,000 이하이다.Resin (E) preferably has a weight average molecular weight of 1,000 or more and 50,000 or less. If the weight average molecular weight of the resin (E) is outside the above range, the distribution of each component may not be sufficiently improved. More preferably, it is 5,000 or more and 40,000 or less, and even more preferably 5,000 or more and 30,000 or less.

수지 (E)의 분산도(중량평균 분자량(Mw)과 수평균 분자량(Mn)의 비; Mw/Mn)는 1.01∼5.00이 바람직하고, 1.10∼4.00이 보다 바람직하고, 1.30∼3.00이 특히 바람직하다.The dispersion degree (ratio of weight average molecular weight (Mw) and number average molecular weight (Mn); Mw/Mn) of the resin (E) is preferably 1.01 to 5.00, more preferably 1.10 to 4.00, and especially preferably 1.30 to 3.00. do.

본 개시에 있어서, 수지 (E)의 중량평균 분자량과 분산도는, 폴리스티렌을 표준물질로 한 고속 겔 퍼미에이션 크로마토그래피에 의해 얻어지는 값이다.In the present disclosure, the weight average molecular weight and dispersion degree of resin (E) are values obtained by high-speed gel permeation chromatography using polystyrene as a standard material.

수지 (E)는, 불소 원자 함유율이 15∼60 질량%인 것이 바람직하다. 수지 (E)의 불소 원자 함유율이 상기 범위이면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서 각 성분의 편재를 해소할 수 있다. 보다 바람직하게는 15∼40 질량%이고, 보다 더 바람직하게는 18∼36 질량%이다.The resin (E) preferably has a fluorine atom content of 15 to 60 mass%. If the fluorine atom content of the resin (E) is within the above range, uneven distribution of each component can be eliminated in the first photosensitive resin composition of the present disclosure. More preferably, it is 15 to 40 mass%, and even more preferably, it is 18 to 36 mass%.

수지 (E)는, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 단량체 등을 중합하여 얻을 수 있다.Resin (E) can be obtained by polymerizing a monomer or the like having a structure represented by General Formula (1).

일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 단량체로서는, 예를 들면 메타크릴산-5,5,5-트리플루오로-4-히드록시-4-(트리플루오로메틸)펜탄-2-일, 4-(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)스티렌(4-HFA-ST), 3,5-비스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)스티렌(3,5-HFA-ST), 2,4-비스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)시클로헥실메타크릴레이트, 3,5-비스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)시클로헥실메타크릴레이트, 2,4,6-트리스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)시클로헥실메타크릴레이트, 1,3-비스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)이소프로필메타크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 단량체는 1종 또는 2종 이상 이용할 수 있다. 바람직하게는 메타크릴산-5,5,5-트리플루오로-4-히드록시-4-(트리플루오로메틸)펜탄-2-일, 3,5-비스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)시클로헥실메타크릴레이트, 1,3-비스(1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2-히드록시-2-프로파닐)이소프로필메타크릴레이트이다.Monomers having a structure represented by general formula (1) include, for example, methacrylic acid-5,5,5-trifluoro-4-hydroxy-4-(trifluoromethyl)pentan-2-yl; 4-(1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxy-2-propanyl)styrene (4-HFA-ST), 3,5-bis(1,1,1, 3,3,3-hexafluoro-2-hydroxy-2-propanyl)styrene (3,5-HFA-ST), 2,4-bis(1,1,1,3,3,3-hexa Fluoro-2-hydroxy-2-propanyl)cyclohexyl methacrylate, 3,5-bis(1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxy-2-propanyl ) Cyclohexyl methacrylate, 2,4,6-tris (1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxy-2-propanyl) cyclohexyl methacrylate, 1,3 -Bis(1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxy-2-propanyl)isopropyl methacrylate, etc. These monomers can be used one type or two or more types. Preferably methacrylic acid-5,5,5-trifluoro-4-hydroxy-4-(trifluoromethyl)pentan-2-yl, 3,5-bis(1,1,1,3, 3,3-hexafluoro-2-hydroxy-2-propanyl)cyclohexyl methacrylate, 1,3-bis(1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxy -2-Propanyl) isopropyl methacrylate.

수지 (E)는, 예를 들면, 단량체를 용매에 용해하여 중합개시제를 추가하고, 필요에 따라서 가열하여 반응시키는 방법에 의해서 합성할 수 있다. 당해 반응에 있어서는, 필요에 따라서 연쇄이동제를 존재시키는 것이 바람직하다. 단량체, 용매, 중합개시제 및 연쇄이동제는 반응 개시시에 전량 첨가해도 되고, 연속하여 첨가해도 된다.Resin (E) can be synthesized, for example, by dissolving a monomer in a solvent, adding a polymerization initiator, and heating as necessary to cause a reaction. In this reaction, it is preferable to include a chain transfer agent as needed. The monomer, solvent, polymerization initiator, and chain transfer agent may be added in their entirety at the start of the reaction, or may be added continuously.

상기 합성 방법에 있어서의 용매로서는 특별히 제한되지 않고, 케톤류, 알코올류, 다가 알코올류 및 그 유도체, 에테르류, 에스테르류, 방향족계 용매, 불소계 용제 등을 들 수 있다. 이들은 단독으로 이용해도 되고, 2종 이상 혼합하여 이용해도 된다.The solvent in the above synthesis method is not particularly limited and includes ketones, alcohols, polyhydric alcohols and their derivatives, ethers, esters, aromatic solvents, and fluorine-based solvents. These may be used individually, or two or more types may be mixed and used.

케톤류로서는, 구체적으로 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK), 시클로펜탄온, 시클로헥산온, 메틸이소아밀케톤, 2-헵틸시클로펜탄온, 메틸이소부틸케톤, 메틸이소펜틸케톤, 2-헵탄온 등을 들 수 있다.Ketones include, specifically, acetone, methyl ethyl ketone (MEK), cyclopentanone, cyclohexanone, methyl isoamyl ketone, 2-heptyl cyclopentanone, methyl isobutyl ketone, methyl isopentyl ketone, 2-heptanone, etc. can be mentioned.

알코올류로서는, 구체적으로 이소프로판올, 부탄올, 이소부탄올, n-펜탄올, 이소펜탄올, tert-펜탄올, 4-메틸-2-펜탄올, 3-메틸-3-펜탄올, 2,3-디메틸-2-펜탄올, n-헥산올, n-헵탄올, 2-헵탄올, n-옥탄올, n-데칸올, s-아밀알코올, t-아밀알코올, 이소아밀알코올, 2-에틸-1-부탄올, 라우릴알코올, 헥실데칸올, 올레일알코올 등을 들 수 있다.Alcohols specifically include isopropanol, butanol, isobutanol, n-pentanol, isopentanol, tert-pentanol, 4-methyl-2-pentanol, 3-methyl-3-pentanol, and 2,3-dimethyl. -2-pentanol, n-hexanol, n-heptanol, 2-heptanol, n-octanol, n-decanol, s-amyl alcohol, t-amyl alcohol, isoamyl alcohol, 2-ethyl-1 - Examples include butanol, lauryl alcohol, hexyldecanol, and oleyl alcohol.

다가 알코올류 및 그 유도체로서는, 구체적으로 에틸렌글리콜, 에틸렌글리콜모노아세테이트, 에틸렌글리콜디메틸에테르, 디에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜디메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노아세테이트, 프로필렌글리콜, 프로필렌글리콜모노아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르(PGME), 프로필렌글리콜모노에틸에테르, 프로필렌글리콜모노프로필에테르, 프로필렌글리콜모노부틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트(PGMEA), 디프로필렌글리콜 또는 디프로필렌글리콜모노아세테이트의 모노메틸에테르, 모노에틸에테르, 모노프로필에테르, 모노부틸에테르, 모노페닐에테르 등을 들 수 있다.Polyhydric alcohols and their derivatives specifically include ethylene glycol, ethylene glycol monoacetate, ethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol, propylene glycol monoacetate, and propylene glycol mono. Methyl ether (PGME), propylene glycol monoethyl ether, propylene glycol monopropyl ether, propylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), monomethyl ether of dipropylene glycol or dipropylene glycol monoacetate, monoethyl Ether, monopropyl ether, monobutyl ether, monophenyl ether, etc. are mentioned.

에테르류로서는, 구체적으로 디에틸에테르, 디이소프로필에테르, 테트라히드로푸란, 디옥산, 아니솔 등을 들 수 있다.Specific examples of ethers include diethyl ether, diisopropyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, and anisole.

에스테르류로서는, 구체적으로 젖산 메틸, 젖산 에틸(EL), 아세트산 메틸, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 피루브산 메틸, 피루브산 에틸, 메톡시프로피온산 메틸, 에톡시프로피온산 에틸, γ-부티로락톤 등을 들 수 있다.Specific examples of esters include methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate, and γ-butyrolactone. .

방향족계 용매로서는 크실렌, 톨루엔 등을 들 수 있다.Examples of aromatic solvents include xylene and toluene.

불소계 용제로서는 프레온, 대체 프레온, 퍼플루오로 화합물, 헥사플루오로이소프로필알코올 등을 들 수 있다.Examples of fluorine-based solvents include freon, substitute freon, perfluoro compounds, and hexafluoroisopropyl alcohol.

중합개시제로서는 공지의 유기 과산화물, 무기 과산화물, 아조 화합물 등을 들 수 있다. 유기 과산화물, 무기 과산화물은, 환원제와 조합하여, 레독스계 촉매로서 사용할 수도 있다.Polymerization initiators include known organic peroxides, inorganic peroxides, and azo compounds. Organic peroxides and inorganic peroxides can also be used as a redox-based catalyst in combination with a reducing agent.

연쇄이동제로서는 n-부틸메르캅탄, n-도데실메르캅탄, t-부틸메르캅탄, 티오 글리콜산 에틸, 티오글리콜산 2-에틸헥실, 2-메르캅토에탄올 등의 메르캅탄류; 클로로포름, 사염화탄소, 사브롬화탄소 등의 할로겐화 알킬류 등을 들 수 있다.Examples of chain transfer agents include mercaptans such as n-butyl mercaptan, n-dodecyl mercaptan, t-butyl mercaptan, ethyl thioglycolic acid, 2-ethylhexyl thioglycolic acid, and 2-mercaptoethanol; and halogenated alkyls such as chloroform, carbon tetrachloride, and carbon tetrabromide.

수지 (E)가 가교 부위를 갖는 경우는, 중합에 의해 중합체의 측쇄에 가교 부위가 도입되는 단량체를 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 단량체와 함께 중합하는 방법을 들 수 있다. 또, 가교 부위를 갖는 함불소 수지 (D)의 합성과 마찬가지로, 단량체를 중합하여 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와 일반식 (8)로 나타내어지는 구성단위를 갖는 수지 (E)의 전구체를 얻고, 이어서 수지 (E)의 전구체와 광중합성기 유도체를 반응시킴으로써 중합체의 측쇄에 광중합성기를 도입하는 방법을 들 수 있다.When the resin (E) has a crosslinking site, a method of polymerizing a monomer whose crosslinking site is introduced into the side chain of the polymer by polymerization together with a monomer having a structure represented by General Formula (1) is exemplified. In addition, similar to the synthesis of the fluorinated resin (D) having a crosslinking site, monomers are polymerized to obtain a resin (E) having a structural unit having a structure represented by general formula (1) and a structural unit represented by general formula (8) ), and then reacting the precursor of resin (E) with a photopolymerizable group derivative to introduce a photopolymerizable group into the side chain of the polymer.

수지 (E)는 1종 단독이어도 되고, 2종 이상을 혼합한 것이어도 된다.Resin (E) may be used singly or in a mixture of two or more types.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서, 수지 (E)의 함유량은, 제 1 감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대하여 0.01∼10 질량%인 것이 바람직하다. 수지 (E)의 함유량이 상기 범위이면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서 각 성분의 편재를 해소할 수 있다. 보다 바람직하게는 0.03∼5 질량%이고, 보다 더 바람직하게는 0.03∼1.0 질량%이다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, the content of resin (E) is preferably 0.01 to 10% by mass based on the total solid content of the first photosensitive resin composition. If the content of the resin (E) is within the above range, uneven distribution of each component can be eliminated in the first photosensitive resin composition of the present disclosure. More preferably, it is 0.03 to 5 mass%, and even more preferably, it is 0.03 to 1.0 mass%.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하고, 바람직하게는 40∼520 질량부이다. 수지 (E)의 함유량이 상기 범위이면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서 각 성분의 편재를 해소할 수 있다.The first photosensitive resin composition of the present disclosure contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), based on 100 parts by mass of the fluorinated resin (D), and preferably 40 to 520 parts by mass. If the content of the resin (E) is within the above range, uneven distribution of each component can be eliminated in the first photosensitive resin composition of the present disclosure.

< 용매 ><Solvent>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 용매를 포함하는 것이 바람직하다. 용매는 함불소 수지 (D)가 가용이면 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 상기의 수지 (E)의 합성에서 예시한 용매와 동일한 것 등을 들 수 있다. 바람직하게는 메틸에틸케톤, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트(PGMEA), 프로필렌글리콜모노메틸에테르(PGME), 시클로헥산온, 젖산 에틸, 아세트산 부틸, γ-부티로락톤이다.It is preferable that the first photosensitive resin composition of the present disclosure contains a solvent. The solvent is not particularly limited as long as the fluorinated resin (D) is soluble, and examples include the same solvents as those exemplified in the synthesis of the resin (E) above. Preferred are methyl ethyl ketone, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME), cyclohexanone, ethyl lactate, butyl acetate, and γ-butyrolactone.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서의 용매의 양은, 알칼리 가용성 수지 (C)와 함불소 수지 (D)와의 합계를 100 질량부로 하여, 50 질량부 이상, 2,000 질량부 이하가 되는 범위인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는 100 질량부 이상, 1,000 질량부 이하이다. 용매의 양을 조정함으로써, 형성되는 수지막의 막두께를 조정할 수 있으며, 상기 범위 내이면, 특히 뱅크를 얻기 위하여 적합한 수지막의 막두께를 얻을 수 있다.The amount of solvent in the first photosensitive resin composition of the present disclosure is in the range of 50 parts by mass or more and 2,000 parts by mass or less, with the total of the alkali-soluble resin (C) and the fluorinated resin (D) being 100 parts by mass. desirable. More preferably, it is 100 parts by mass or more and 1,000 parts by mass or less. By adjusting the amount of solvent, the film thickness of the resin film formed can be adjusted, and if it is within the above range, a resin film film thickness suitable for obtaining a bank can be obtained.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 추가로 광라디칼 증감제, 연쇄이동제, 자외선흡수제 및 중합금지제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하다.The first photosensitive resin composition of the present disclosure preferably further contains at least one member selected from the group consisting of a photoradical sensitizer, a chain transfer agent, an ultraviolet absorber, and a polymerization inhibitor.

< 광라디칼 증감제 ><Optical radical sensitizer>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물이 광라디칼 증감제를 포함하면, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물의 노광 감도를 보다 향상시킬 수 있다. 광라디칼 증감제는, 광선 또는 방사선을 흡수하여 여기 상태가 되는 화합물인 것이 바람직하다. 광라디칼 증감제는 여기 상태가 됨으로써, 광중합개시제와 접촉하였을 때, 전자 이동, 에너지 이동 또는 발열 등을 발생하고, 이에 의해, 광중합개시제는 분해되어 산을 생성하기 쉬워진다. 광라디칼 증감제는, 350 ㎚∼450 ㎚의 영역에 흡수 파장을 가지면 되며, 다핵 방향족류, 크산텐류, 크산톤류, 시아닌류, 메로시아닌류, 티아진류, 아크리딘류, 아크리돈류, 안트라퀴논류, 스쿠아릴리움류, 스티릴류, 베이스스티릴류, 또는 쿠마린류를 들 수 있다.When the first photosensitive resin composition of the present disclosure contains a photoradical sensitizer, the exposure sensitivity of the first photosensitive resin composition of the present disclosure can be further improved. The photoradical sensitizer is preferably a compound that absorbs light or radiation and enters an excited state. By being in an excited state, the photo-radical sensitizer generates electron transfer, energy transfer, or heat generation when it comes into contact with the photo-polymerization initiator, and as a result, the photo-polymerization initiator is easily decomposed to produce acid. The photoradical sensitizer should have an absorption wavelength in the range of 350 nm to 450 nm, and may include polynuclear aromatics, xanthenes, xanthons, cyanines, merocyanines, thiazines, acridines, acridones, and anthracis. Quinones, squarylliums, styryls, basestyryls, or coumarins can be mentioned.

다핵 방향족류로서는 피렌, 페릴렌, 트리페닐렌, 안트라센, 9,10-디부톡시안트라센, 9,10-디에톡시안트라센, 3,7-디메톡시안트라센, 또는 9,10-디프로필옥시안트라센을 예시할 수 있다.Examples of polynuclear aromatics include pyrene, perylene, triphenylene, anthracene, 9,10-dibutoxyanthracene, 9,10-diethoxyanthracene, 3,7-dimethoxyanthracene, or 9,10-dipropyloxyanthracene. can do.

크산텐류로서는 플루오레세인, 에오신, 에리트로신, 로다민 B, 로즈 벵골을 예시할 수 있다.Examples of xanthenes include fluorescein, eosin, erythrosine, rhodamine B, and rose bengal.

크산톤류로서는 크산톤, 티오크산톤, 디메틸티오크산톤, 디에틸티오크산톤,또는 이소프로필티오크산톤을 예시할 수 있다.Examples of xanthone include xanthone, thioxanthone, dimethylthioxanthone, diethylthioxanthone, or isopropylthioxanthone.

시아닌류로서는 티아카르보시아닌, 옥사카르보시아닌을 예시할 수 있다.Examples of cyanines include thiacarbocyanine and oxacarbocyanine.

메로시아닌류로서는 메로시아닌, 카르보메로시아닌을 예시할 수 있다.Examples of merocyanines include merocyanine and carbomerocyanine.

티아진류로서는 티오닌, 메틸렌블루, 톨루이딘블루를 예시할 수 있다.Examples of thiazines include thionine, methylene blue, and toluidine blue.

아크리딘류로서는 아크리딘오렌지, 클로로플라빈, 아크리플라빈을 예시할 수 있다.Examples of acridine include acridine orange, chloroflavin, and acriflavin.

아크리돈류로서는 아크리돈, 10-부틸-2-클로로아크리돈을 예시할 수 있다.Examples of acridones include acridone and 10-butyl-2-chloroacridone.

안트라퀴논류로서는 안트라퀴논을 예시할 수 있다.Examples of anthraquinones include anthraquinone.

스쿠아릴리움류로서는 스쿠아릴리움을 예시할 수 있다.Examples of squaryllium include squaryllium.

베이스스티릴류로서는 2-[2-[4-(디메틸아미노)페닐]에테닐]벤조옥사졸을 예시할 수 있다.Examples of base styryls include 2-[2-[4-(dimethylamino)phenyl]ethenyl]benzoxazole.

쿠마린류로서는 7-디에틸아미노 4-메틸쿠마린, 7-히드록시 4-메틸쿠마린, 또는 2,3,6,7-테트라히드로-9-메틸-1H,5H,11H[l]벤조피라노[6,7,8-ij]퀴놀리진-11-온을 예시할 수 있다.Examples of coumarins include 7-diethylamino 4-methylcoumarin, 7-hydroxy 4-methylcoumarin, or 2,3,6,7-tetrahydro-9-methyl-1H,5H,11H[l]benzopyrano[ 6,7,8-ij]quinolizin-11-one can be exemplified.

이들 광라디칼 증감제는 단독, 또는 2종류 이상을 조합하여 이용해도 된다.These photoradical sensitizers may be used individually or in combination of two or more types.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 사용하는 광라디칼 증감제로서는, 노광 감도 향상의 효과가 큰 것으로부터, 바람직하게는 다핵 방향족류, 아크리돈류, 스티릴류, 베이스스티릴류, 쿠마린류, 또는 크산톤류이고, 특히 바람직하게는 크산톤류이다. 크산톤류 중에서도 디에틸티오크산톤 및 이소프로필티오크산톤이 바람직하다.The photoradical sensitizer used in the first photosensitive resin composition of the present disclosure is preferably polynuclear aromatics, acridones, styryls, basestyryls, coumarins, or xanes, since they have a large effect in improving exposure sensitivity. They are tones, and xanthons are particularly preferable. Among xanthone, diethylthioxanthone and isopropylthioxanthone are preferable.

광라디칼 증감제의 함유량은, 함불소 수지 (D) 100 질량부에 대하여 바람직하게는 0.1 질량부∼8 질량부이고, 보다 바람직하게는 1 질량부∼4 질량부이다. 광라디칼 증감제의 함유량을 상술의 범위로 함으로써, 감광성 수지 조성물의 노광 감도를 향상시키고, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물을 노광한 후의 패턴형성막에 있어서 발액 부위와 친액 부위의 경계가 명확하게 되고, 잉크 도포 후의 잉크 패턴의 콘트라스트가 향상되어, 정치(精緻)한 패턴이 얻어진다.The content of the photoradical sensitizer is preferably 0.1 parts by mass to 8 parts by mass, more preferably 1 part by mass to 4 parts by mass, based on 100 parts by mass of the fluorinated resin (D). By setting the content of the photoradical sensitizer within the above-mentioned range, the exposure sensitivity of the photosensitive resin composition is improved, and the boundary between the liquid-repellent portion and the lyophilic portion in the pattern forming film after exposure of the first photosensitive resin composition of the present disclosure is made clear. The contrast of the ink pattern after ink application is improved, and a fine pattern is obtained.

< 연쇄이동제 >< Chain transfer system >

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 필요에 따라서 연쇄이동제를 이용하는 것이 바람직하다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, it is preferable to use a chain transfer agent as needed.

연쇄이동제로서는, 상술의 수지 (E)의 합성에 이용할 수 있는 것과 동일한 화합물 등을 들 수 있다.Examples of the chain transfer agent include the same compounds that can be used in the synthesis of the above-mentioned resin (E).

< 자외선흡수제 ><UV absorbent>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 필요에 따라서 자외선흡수제를 이용하는 것이 바람직하며, 자외선흡수제로서는 살리실산계, 벤조페논계, 트리아졸계 등을 들 수 있다. 자외선흡수제의 함유량은, 제 1 감광성 수지 조성물 중에 바람직하게는 0.5∼5 질량%이고, 보다 바람직하게는 1∼3 질량%이다.In the first photosensitive resin composition of the present disclosure, it is preferable to use an ultraviolet absorber as necessary. Examples of the ultraviolet absorber include salicylic acid-based, benzophenone-based, triazole-based, etc. The content of the ultraviolet absorber is preferably 0.5 to 5% by mass, more preferably 1 to 3% by mass, in the first photosensitive resin composition.

< 중합금지제 ><Polymerization inhibitor>

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 사용하는 중합금지제로서는 특별히 한정되지 않지만, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 6-t-부틸-2,4-크실레놀, 2,6-디-t-부틸-p-크레졸, 하이드로퀴논, 카테콜, 4-t-부틸피로카테콜, 2,5-비스테트라메틸부틸하이드로퀴논, 2,5-디-t-부틸하이드로퀴논, p-메톡시페놀, 1,2,4-트리히드록시벤젠, 1,2-벤조퀴논, 1,3-벤조퀴논, 1,4-벤조퀴논, 류코퀴니자린, 페노티아진, 2-메톡시페노티아진, 테트라에틸티우람디술피드, 1,1-디페닐-2-피크릴히드라질 또는 1,1-디페닐-2-피크릴히드라진을 예시할 수 있다.The polymerization inhibitor used in the first photosensitive resin composition of the present disclosure is not particularly limited, and includes o-cresol, m-cresol, p-cresol, 6-t-butyl-2,4-xylenol, 2,6- Di-t-butyl-p-cresol, hydroquinone, catechol, 4-t-butylpyrocatechol, 2,5-bistetramethylbutylhydroquinone, 2,5-di-t-butylhydroquinone, p- Methoxyphenol, 1,2,4-trihydroxybenzene, 1,2-benzoquinone, 1,3-benzoquinone, 1,4-benzoquinone, leucoquinizarin, phenothiazine, 2-methoxyphenothiazine Azine, tetraethylthiuram disulfide, 1,1-diphenyl-2-picrylhydrazyl or 1,1-diphenyl-2-picrylhydrazine can be exemplified.

시판되는 중합금지제로서는, 세이코화학주식회사 제의 N,N'-디-2-나프틸-p-페닐렌디아민(상품명, 논플렉스 F), N,N-디페닐-p-페닐렌디아민(상품명, 논플렉스 H), 4,4'-비스(a,a-디메틸벤질)디페닐아민(상품명, 논플렉스 DCD), 2,2'-메틸렌-비스(4-메틸-6-tert-부틸페놀)(상품명, 논플렉스 MBP), N-(1-메틸헵틸)-N'-페닐-p-페닐렌디아민(상품명, 오조논 35) 또는 후지필름와코쥰야쿠공업주식회사 제의 암모늄 N-니트로소페닐히드록시아민(상품명, Q-1300) 또는 N-니트로소페닐히드록시아민알루미늄염(상품명, Q-1301)을 예시할 수 있다.Commercially available polymerization inhibitors include N,N'-di-2-naphthyl-p-phenylenediamine (brand name, Nonflex F) manufactured by Seiko Chemical Co., Ltd., N,N-diphenyl-p-phenylenediamine ( Product name, Nonflex H), 4,4'-bis(a,a-dimethylbenzyl)diphenylamine (Product name, Nonflex DCD), 2,2'-methylene-bis(4-methyl-6-tert-butyl) Phenol) (brand name, Nonflex MBP), N-(1-methylheptyl)-N'-phenyl-p-phenylenediamine (brand name, Ozonon 35) or ammonium N-nitro manufactured by Fujifilm Wako Pure Chemical Industries, Ltd. Examples include sophenylhydroxyamine (brand name, Q-1300) or N-nitrosophenylhydroxyamine aluminum salt (brand name, Q-1301).

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물에 있어서의 전 고형분 중의 중합금지제의 함유 비율은 0.001∼20 질량%가 바람직하고, 0.005∼10 질량%가 보다 바람직하고, 0.01∼5 질량%가 특히 바람직하다. 함유 비율이 상기 범위이면, 감광성 수지 조성물의 현상 잔사가 저감되어, 패턴 직선성이 양호하다.The content ratio of the polymerization inhibitor in the total solid content in the first photosensitive resin composition of the present disclosure is preferably 0.001 to 20% by mass, more preferably 0.005 to 10% by mass, and especially preferably 0.01 to 5% by mass. If the content ratio is within the above range, the development residue of the photosensitive resin composition is reduced and pattern linearity is good.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물은, 필요에 따라서, 기타 첨가제를 포함해도 된다. 기타 첨가제로서 용해억제제, 가소제, 안정제, 착색제, 증점제, 밀착제, 산화방지제 등의 감광성 수지 조성물에 통상 이용되는 여러 가지의 첨가제를 들 수 있다. 이들 기타 첨가제는 공지의 것이어도 된다.The first photosensitive resin composition of this disclosure may contain other additives as needed. Other additives include various additives commonly used in photosensitive resin compositions, such as dissolution inhibitors, plasticizers, stabilizers, colorants, thickeners, adhesives, and antioxidants. These other additives may be known.

다음으로, 본 개시의 감광성 수지 조성물 중, 제 2 감광성 수지 조성물에 대하여 설명한다. 제 2 감광성 수지 조성물에 대해서는, 제 1 감광성 수지 조성물과 다른 점만 설명한다.Next, among the photosensitive resin compositions of the present disclosure, the second photosensitive resin composition is explained. About the second photosensitive resin composition, only the differences from the first photosensitive resin composition will be explained.

본 개시의 제 2 감광성 수지 조성물은, 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 수지 (E)가, 상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는 수지이다.The second photosensitive resin composition of the present disclosure includes an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin having a structure represented by general formula (1). A photosensitive resin composition containing (E), wherein the resin (E) is a resin having a structural unit having a structure represented by the general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.

제 2 감광성 수지 조성물은, 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 것이 바람직하다.The second photosensitive resin composition preferably contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), based on 100 parts by mass of the fluorinated resin (D).

제 2 감광성 수지 조성물에 포함되는 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D), 수지 (E)나 그 외에 사용할 수 있는 화합물 등의 구체적인 종류나 배합량은, 제 1 감광성 수지 조성물에 대하여 설명한 것과 동일하다.Specific details of the ethylenically unsaturated compound (A), photopolymerization initiator (B), alkali-soluble resin (C), fluorinated resin (D), resin (E) and other usable compounds contained in the second photosensitive resin composition. The type and mixing amount are the same as those described for the first photosensitive resin composition.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물은, 격벽의 형성에 이용되는 것이 바람직하다.The first photosensitive resin composition or the second photosensitive resin composition of the present disclosure is preferably used for forming a partition.

본 개시의 수지막은, 상기의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물로부터 얻어지는 것이다. 본 개시의 수지막은, 상기의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을 공지의 방법에 의해 성막하여 제조할 수 있다.The resin film of the present disclosure is obtained from the first photosensitive resin composition or the second photosensitive resin composition. The resin film of the present disclosure can be produced by forming the first photosensitive resin composition or the second photosensitive resin composition into a film by a known method.

본 개시의 경화물은, 상기의 수지막을 경화시킨 것이다. 본 개시의 경화물은, 상기 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을, 기판에 도포한 후, 가열함으로써 수지막을 얻는 성막 공정과, 상기 수지막에 고에너지선을 노광하는 노광 공정을 포함하는 경화물의 제조 방법에 의하여 얻을 수 있다. 성막 공정 및 노광 공정에서의 구체적인 조작에 대해서는, 후술의 격벽을 형성하는 방법과 동일하다. 상기의 경화물의 제조 방법도, 본 개시 중 하나이다.The cured product of the present disclosure is obtained by curing the above resin film. The cured product of the present disclosure includes a film forming step of obtaining a resin film by applying the first or second photosensitive resin composition to a substrate and then heating it, and an exposure step of exposing the resin film to high energy rays. It can be obtained by the manufacturing method of the cured product. The specific operations in the film formation process and exposure process are the same as the method of forming the partition described later. The method for producing the above-mentioned cured product is also one of the present disclosure.

본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물에 의해 얻어지는 경화물은, 상기의 수지 (E)를 포함함으로써, 양호한 경화성과 발액성을 갖고 있다. 본 개시의 경화물은, 격벽으로서 이용하는 것이 바람직하고, 유기 EL 디스플레이나 양자 도트 디스플레이 등의 격벽으로서 이용하는 것이 특히 바람직하다.The cured product obtained from the first photosensitive resin composition or the second photosensitive resin composition of the present disclosure has good curability and liquid repellency by containing the above-mentioned resin (E). The cured product of the present disclosure is preferably used as a partition wall, and is particularly preferably used as a partition wall in an organic EL display or quantum dot display.

본 개시의 경화물로 구성되는 격벽도 본 개시 중 하나이다.A partition wall composed of the cured material of the present disclosure is also one of the present disclosure.

또, 본 개시의 격벽과, 상기 격벽에 의해 구획되는 영역에 배치되는 발광층 또는 파장변환층을 구비하는 유기 전계 발광 소자도 본 개시 중 하나이다.Additionally, an organic electroluminescent device including a barrier rib of the present disclosure and a light-emitting layer or wavelength conversion layer disposed in a region defined by the barrier rib is also one of the present disclosure.

또, 본 개시의 격벽을 구비하는 파장변환층도 본 개시 중 하나이다.In addition, the wavelength conversion layer provided with the barrier rib of the present disclosure is also one of the present disclosure.

또한, 본 개시의 격벽을 구비하는 디스플레이도 본 개시 중 하나이다.Additionally, a display provided with a partition of the present disclosure is also one of the present disclosure.

다음으로, 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을 이용하여 격벽을 형성하는 방법에 대하여 설명한다.Next, a method of forming a partition using the first or second photosensitive resin composition of the present disclosure will be described.

당해 격벽을 형성하는 방법은, (1) 성막 공정과, (2) 노광 공정과, (3) 현상 공정을 포함하고 있어도 된다.The method of forming the partition may include (1) a film forming process, (2) an exposure process, and (3) a developing process.

각 공정에 대하여 이하에 설명한다.Each process is explained below.

(1) 성막 공정(1) Film forming process

먼저, 상기 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을, 기판에 도포한 후, 가열함으로써 상기 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을 함불소 수지막으로 한다.First, the first photosensitive resin composition or the second photosensitive resin composition of the present disclosure is applied to a substrate and then heated to form a fluorinated resin film.

가열의 조건은 특별히 한정되지 않지만, 80∼100℃, 60∼200초인 것이 바람직하다.Heating conditions are not particularly limited, but are preferably 80 to 100°C and 60 to 200 seconds.

이에 의해, 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물에 포함되는 용매 등을 제거할 수 있다.Thereby, the solvent etc. contained in the 1st photosensitive resin composition or the 2nd photosensitive resin composition can be removed.

기판은 실리콘 웨이퍼, 금속, 유리, ITO 기판 등을 이용할 수 있다.The substrate can be a silicon wafer, metal, glass, ITO substrate, etc.

또, 기판 상에는 미리 유기계 혹은 무기계의 막이 마련되어 있어도 된다. 예를 들면, 반사방지막, 다층 레지스트의 하층이 있어도 되고, 그것에 패턴이 형성되어 있어도 된다. 또, 기판을 미리 세정해도 된다. 예를 들면, 초순수, 아세톤, 알코올(메탄올, 에탄올, 이소프로필알코올) 등을 이용하여 세정할 수 있다.Additionally, an organic or inorganic film may be provided in advance on the substrate. For example, there may be an antireflection film or a lower layer of a multilayer resist, and a pattern may be formed on it. Additionally, the substrate may be cleaned in advance. For example, it can be cleaned using ultrapure water, acetone, alcohol (methanol, ethanol, isopropyl alcohol), etc.

기판에 본 개시의 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물을 도포하는 방법으로서는, 스핀 코터 등, 공지의 방법을 이용할 수 있다.As a method for applying the first photosensitive resin composition or the second photosensitive resin composition of the present disclosure to the substrate, a known method such as a spin coater can be used.

(2) 노광 공정(2) Exposure process

다음으로, 원하는 포토마스크를 노광 장치에 세트하고, 고에너지선을, 당해 포토마스크를 개재하여 상기 함불소 수지막에 노광한다.Next, the desired photomask is set in the exposure apparatus, and the fluorinated resin film is exposed to high-energy rays through the photomask.

고에너지선은, 자외선, 감마선, X선, 및 α선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인 것이 바람직하다.The high-energy ray is preferably at least one selected from the group consisting of ultraviolet rays, gamma rays, X-rays, and α-rays.

고에너지선의 노광량은 1 mJ/㎠ 이상, 200 mJ/㎠ 이하인 것이 바람직하고, 10 mJ/㎠ 이상, 100 mJ/㎠ 이하인 것이 보다 바람직하다.The exposure amount of high-energy rays is preferably 1 mJ/cm2 or more and 200 mJ/cm2 or less, and more preferably 10 mJ/cm2 or more and 100 mJ/cm2 or less.

(3) 현상 공정(3) Development process

다음으로, 노광 공정 후의 함불소 수지막을 알칼리 수용액으로 현상하여 함불소 수지 패턴막으로 한다.Next, the fluorinated resin film after the exposure process is developed with an aqueous alkaline solution to form a fluorinated resin pattern film.

즉, 함불소 수지막 노광부 또는 막 미노광부 중 어느 것을 알칼리 수용액에 용해시킴으로써, 함불소 수지 패턴막으로 한다.That is, either the exposed portion of the fluorinated resin film or the unexposed portion of the film is dissolved in an aqueous alkaline solution to form a fluorinated resin pattern film.

알칼리 수용액으로서는 테트라메틸암모늄히드록시드(TMAH) 수용액, 테트라부틸암모늄히드록시드(TBAH) 수용액 등을 사용할 수 있다.As an aqueous alkaline solution, an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (TMAH), an aqueous solution of tetrabutylammonium hydroxide (TBAH), etc. can be used.

알칼리 수용액이 테트라메틸암모늄히드록시드(TMAH) 수용액인 경우, 그 농도는 0.1 질량% 이상 5 질량% 이하인 것이 바람직하고, 2 질량% 이상 3 질량% 이하인 것이 보다 바람직하다.When the aqueous alkaline solution is an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (TMAH), the concentration is preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less, and more preferably 2% by mass or more and 3% by mass or less.

현상 방법은, 공지의 방법을 이용할 수 있으며, 예를 들면, 딥법, 패들법, 스프레이법 등을 들 수 있다.As the development method, a known method can be used, and examples include the dip method, paddle method, and spray method.

현상 시간(현상액이 함불소 수지막에 접촉하는 시간)은 10초 이상 3분간 이하인 것이 바람직하고, 30초 이상 2분간 이하인 것이 보다 바람직하다.The development time (the time the developer is in contact with the fluorinated resin film) is preferably 10 seconds or more and 3 minutes or less, and more preferably 30 seconds or more and 2 minutes or less.

현상한 후, 필요에 따라서, 탈이온수 등을 이용하여, 함불소 수지 패턴막을 세정하는 공정을 마련해도 된다. 세정 방법 및 세정 시간에 대해서는, 10초 이상 3분간 이하인 것이 바람직하고, 30초 이상 2분간 이하인 것이 보다 바람직하다.After development, if necessary, a step of cleaning the fluorinated resin pattern film using deionized water or the like may be provided. Regarding the cleaning method and cleaning time, it is preferably 10 seconds or more and 3 minutes or less, and more preferably 30 seconds or more and 2 minutes or less.

이와 같이 하여 제조된 격벽은 디스플레이용의 뱅크로서 사용할 수 있다.The partition wall manufactured in this way can be used as a bank for a display.

본 개시의 함불소 수지는, 상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는다. 본 개시의 함불소 수지는, 상기 제 1 감광성 수지 조성물 또는 제 2 감광성 수지 조성물에 포함되는, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)의 일종이다.The fluorinated resin of the present disclosure has a structural unit having a structure represented by the general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site. The fluorinated resin of the present disclosure is a type of resin (E) having a structure represented by general formula (1) and contained in the first or second photosensitive resin composition.

본 개시의 함불소 수지는, 가교 부위를 갖는 구성단위로서, 상기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 것이 바람직하다.The fluorinated resin of the present disclosure preferably contains a structural unit represented by the above general formula (5) as a structural unit having a crosslinking site.

본 개시의 함불소 수지는, 불소 원자 함유율이 15∼60 질량%인 것이 바람직하다.The fluorinated resin of the present disclosure preferably has a fluorine atom content of 15 to 60 mass%.

본 개시의 함불소 수지는, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이, 수지를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만인 것이 바람직하다.In the fluorinated resin of the present disclosure, the content of the structure represented by General Formula (1) is preferably 0.1 mol% or more and less than 50 mol%, assuming the total amount of structural units constituting the resin is 100 mol%.

본 개시의 함불소 수지는, 중량평균 분자량이 5,000 이상, 40,000 이하인 것이 바람직하다.The fluorinated resin of the present disclosure preferably has a weight average molecular weight of 5,000 or more and 40,000 or less.

본 개시의 함불소 수지는, 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 가짐으로써, 조성물 중의 각 성분의 편재를 해소하는 상용화재로서 작용하고 있다고 생각된다. 예를 들면 본 개시의 함불소 수지를 수지 조성물에 도입하여 이용함으로써, 각 성분의 편재가 개선된 수지막이나 격벽(뱅크) 등의 성형품을 제작할 수 있다. 본 개시의 함불소 수지는, 불소 원자 함유량의 차가 15∼60 질량%인 2종 이상의 수지를 함유하는 조성물에 특히 적절히 이용할 수 있다.The fluorinated resin of the present disclosure is believed to function as a commercial agent that eliminates uneven distribution of each component in the composition by having a structural unit having a structure represented by general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site. . For example, by introducing and using the fluorinated resin of the present disclosure into a resin composition, molded articles such as resin films and partitions (banks) with improved localization of each component can be produced. The fluorinated resin of the present disclosure can be particularly suitably used in a composition containing two or more types of resins having a difference in fluorine atom content of 15 to 60% by mass.

본 개시의 함불소 수지는, 계면활성제로서의 작용도 가지므로, 계면활성제로서 이용하는 것도 가능하다.Since the fluorinated resin of the present disclosure also functions as a surfactant, it can also be used as a surfactant.

본 개시의 함불소 수지를 포함하는 폴리머 블렌드도, 본 개시 중 하나이다. 본 개시의 함불소 수지와 함께 폴리머 블렌드에 포함되는 수지의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 올레핀계 수지, 에폭시 수지, (메타)아크릴 수지, 우레탄 수지, 불소 수지 등의 1종 또는 2종 이상을 조합한 것을 들 수 있다.A polymer blend containing the fluorinated resin of the present disclosure is also one of the present disclosure. The type of resin included in the polymer blend together with the fluorinated resin of the present disclosure is not particularly limited, and for example, one or two types of olefin resin, epoxy resin, (meth)acrylic resin, urethane resin, fluorine resin, etc. A combination of the above can be mentioned.

본 명세서에는, 이하의 발명이 개시되어 있다.In this specification, the following invention is disclosed.

〔1〕 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 감광성 수지 조성물.[1] An ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin (E) having a structure represented by the following general formula (1): A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming 100 parts by mass of the fluorinated resin (D).

Figure pat00042
Figure pat00042

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

〔2〕 상기 수지 (E)가 가교 부위를 갖는 상기 〔1〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[2] The photosensitive resin composition according to [1], wherein the resin (E) has a crosslinking site.

〔3〕 에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 수지 (E)가, 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는 수지인, 감광성 수지 조성물.[3] A photosensitive product comprising an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin (E) having a structure represented by general formula (1). A photosensitive resin composition, wherein the resin (E) is a resin having a structural unit having a structure represented by the following general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.

Figure pat00043
Figure pat00043

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

〔4〕 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 상기 〔3〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[4] The photosensitive resin composition according to [3], which contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.

〔5〕 상기 가교 부위를 갖는 구성단위로서, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는, 상기 〔3〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[5] The photosensitive resin composition described in [3] above, comprising a structural unit having the crosslinking site, and a structural unit represented by the following general formula (5).

Figure pat00044
Figure pat00044

(일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다.)(In General Formula (5), R 5 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(= O)-O-, -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH-, or -C(=O)-NH-, and A 2 is a divalent linking group. represents a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, a branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the alkylene group is a hydroxyl group or -OC (=O) It may be substituted by -CH 3 , and A 3 represents a 2 to 4 valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and the hydrocarbon group Any number of hydrogen atoms in the group may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, and are each independently -O- or -NH- , n represents an integer from 1 to 3, and r represents 0 or 1.)

〔6〕 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 상기 〔5〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[6] The photosensitive resin composition according to [5], which contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.

〔7〕 상기 수지 (E)가, 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 수지인 상기 〔3〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[7] The photosensitive resin composition according to [3] above, wherein the resin (E) is a resin containing a structural unit represented by the following general formula (1-1) and a structural unit represented by the following general formula (5) .

Figure pat00045
Figure pat00045

(일반식 (1-1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다. Rc는, 수소 원자, 할로겐 원자, 탄화수소기, 및 함불소 알킬기(당해 탄화수소기 및 함불소 알킬기는, 직쇄 또는 분기쇄이며, 환상 구조를 포함할 수 있음)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기를 나타낸다. Rd는 2가 또는 3가의 유기기로서, 당해 유기기는, 환상 구조를 포함하고 있어도 되는 직쇄 또는 분기쇄의 지방족 탄화수소기, 방향환기, 또는 그들의 복합 치환기로부터 선택되는 기로서, 수소 원자의 일부 또는 전부가 불소 원자 또는 수산기에 의해서 치환되어 있어도 된다. t는 1 또는 2를 나타낸다. 일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다.)(In General Formula (1-1), Ra each independently represents a linear alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a branched chain having 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group having 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is Any number of hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms. Rc is a hydrogen atom, a halogen atom, a hydrocarbon group, and a fluorinated alkyl group (the hydrocarbon group and the fluorinated alkyl group are straight or branched and may include a cyclic structure). Rd is a divalent or trivalent organic group, and the organic group is selected from a straight or branched aliphatic hydrocarbon group that may contain a cyclic structure, an aromatic ring group, or a complex substituent thereof. As the selected group, part or all of the hydrogen atoms may be substituted with a fluorine atom or a hydroxyl group, and t represents 1 or 2. In General Formula (5), R 5 and R 6 are each independently a hydrogen atom. Or represents a methyl group, and W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)-O-, -OC(=O)-NH-, -C(= O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, and A 2 represents a divalent linking group, linear with 1 to 10 carbon atoms, branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or carbon atoms. It represents a 3-10 cyclic alkylene group, any number of hydrogen atoms in the alkylene group may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , and A 3 represents a 2-4 valent linking group. , a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the hydrocarbon group, a hydroxyl group, or -OC(=O)-CH 3 may be substituted, Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, each independently represents -O- or -NH-, n represents an integer of 1 to 3, and r represents 0 or 1. .)

〔8〕 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 상기 〔7〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[8] The photosensitive resin composition according to [7], which contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.

〔9〕 상기 수지 (E)가, 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위, 를 포함하는 수지인 상기 〔3〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[9] The above resin (E) has a structural unit represented by the following general formula (1-1), a structural unit represented by the following general formula (5), and a structural unit represented by the following general formula (6), The photosensitive resin composition according to [3] above, which is a resin containing.

Figure pat00046
Figure pat00046

(일반식 (1-1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다. Rc는, 수소 원자, 할로겐 원자, 탄화수소기, 및 함불소 알킬기(당해 탄화수소기 및 함불소 알킬기는, 직쇄 또는 분기쇄이며, 환상 구조를 포함할 수 있음)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기를 나타낸다. Rd는 2가 또는 3가의 유기기로서, 당해 유기기는, 환상 구조를 포함하고 있어도 되는 직쇄 또는 분기쇄의 지방족 탄화수소기, 방향환기, 또는 그들의 복합 치환기로부터 선택되는 기로서, 수소 원자의 일부 또는 전부가 불소 원자 또는 수산기에 의해서 치환되어 있어도 된다. t는 1 또는 2를 나타낸다. 일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다. 일반식 (6) 중, R7은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R8은 탄소수 1∼15의 직쇄상, 탄소수 3∼15의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼15의 환상의 알킬기를 나타내고, 당해 알킬기 중의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있다.)(In General Formula (1-1), Ra each independently represents a linear alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a branched chain having 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group having 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is Any number of hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms. Rc is a hydrogen atom, a halogen atom, a hydrocarbon group, and a fluorinated alkyl group (the hydrocarbon group and the fluorinated alkyl group are straight or branched and may include a cyclic structure). Rd is a divalent or trivalent organic group, and the organic group is selected from a straight or branched aliphatic hydrocarbon group that may contain a cyclic structure, an aromatic ring group, or a complex substituent thereof. As the selected group, part or all of the hydrogen atoms may be substituted with a fluorine atom or a hydroxyl group, and t represents 1 or 2. In General Formula (5), R 5 and R 6 are each independently a hydrogen atom. Or represents a methyl group, and W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)-O-, -OC(=O)-NH-, -C(= O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, and A 2 represents a divalent linking group, linear with 1 to 10 carbon atoms, branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or carbon atoms. It represents a 3-10 cyclic alkylene group, any number of hydrogen atoms in the alkylene group may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , and A 3 represents a 2-4 valent linking group. , a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the hydrocarbon group, a hydroxyl group, or -OC(=O)-CH 3 may be substituted, Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, each independently represents -O- or -NH-, n represents an integer of 1 to 3, and r represents 0 or 1. In general formula (6), R 7 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 8 represents a linear alkyl group with 1 to 15 carbon atoms, a branched chain with 3 to 15 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 15 carbon atoms, and the alkyl group Any number of hydrogen atoms in are replaced by fluorine atoms.)

〔10〕 상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 상기 〔9〕에 기재된 감광성 수지 조성물.[10] The photosensitive resin composition according to [9], which contains 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.

〔11〕 상기 수지 (E)의 불소 원자 함유율이 15∼60 질량%인, 상기 〔1〕∼〔10〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[11] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [10], wherein the resin (E) has a fluorine atom content of 15 to 60% by mass.

〔12〕 감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 상기 알칼리 가용성 수지 (C)의 함유량이 10∼70 질량%인, 상기 〔1〕∼〔11〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[12] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [11] above, wherein the content of the alkali-soluble resin (C) relative to the total solid content of the photosensitive resin composition is 10 to 70% by mass.

〔13〕 감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 상기 함불소 수지 (D)의 함유량이 0.01∼10 질량%인, 상기 〔1〕∼〔12〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[13] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [12] above, wherein the content of the fluorinated resin (D) relative to the total solid content of the photosensitive resin composition is 0.01 to 10% by mass.

〔14〕 감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 상기 수지 (E)의 함유량이 0.01∼10 질량%인, 상기 〔1〕∼〔13〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[14] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [13] above, wherein the content of the resin (E) relative to the total solid content of the photosensitive resin composition is 0.01 to 10% by mass.

〔15〕 상기 알칼리 가용성 수지 (C)와 상기 함불소 수지 (D)의 불소 원자 함유율의 차가 15∼60 질량%인 상기 〔1〕∼〔14〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[15] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [14] above, wherein the difference in fluorine atom content between the alkali-soluble resin (C) and the fluorinated resin (D) is 15 to 60% by mass.

〔16〕 상기 수지 (E)에 포함되는 상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이, 상기 수지 (E)를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만인 상기 〔1〕∼〔15〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[16] The content of the structure represented by the general formula (1) contained in the resin (E) is 0.1 mol% or more, 50%, assuming that the total amount of structural units constituting the resin (E) is 100 mol%. The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [15] above, which is less than mol%.

〔17〕 상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조가 헥사플루오로이소프로판올기인 상기 〔1〕∼〔16〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[17] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [16] above, wherein the structure represented by the general formula (1) is a hexafluoroisopropanol group.

〔18〕 상기 수지 (E)의 중량평균 분자량이 5,000 이상, 40,000 이하인 상기 〔1〕∼〔17〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[18] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [17], wherein the resin (E) has a weight average molecular weight of 5,000 or more and 40,000 or less.

〔19〕 추가로 광라디칼 증감제, 연쇄이동제, 자외선흡수제 및 중합금지제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는, 상기 〔1〕∼〔18〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[19] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [18] above, further comprising at least one member selected from the group consisting of a photoradical sensitizer, a chain transfer agent, an ultraviolet absorber, and a polymerization inhibitor.

〔20〕 격벽의 형성에 이용되는, 상기 〔1〕∼〔19〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물.[20] The photosensitive resin composition according to any one of [1] to [19] above, which is used for forming a partition.

〔21〕 상기 〔1〕∼〔20〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물로부터 얻어지는 수지막.[21] A resin film obtained from the photosensitive resin composition according to any one of [1] to [20] above.

〔22〕 상기 〔21〕에 기재된 수지막을 경화시킨 경화물.[22] A cured product obtained by curing the resin film described in [21] above.

〔23〕 상기 〔22〕에 기재된 경화물로 구성되는 격벽.[23] A partition wall composed of the cured material described in [22] above.

〔24〕 상기 〔23〕에 기재된 격벽과, 상기 격벽에 의해 구획되는 영역에 배치되는 발광층 또는 파장변환층을 구비하는 유기 전계 발광 소자.[24] An organic electroluminescent device comprising the partition wall described in [23] above, and a light-emitting layer or wavelength conversion layer disposed in a region defined by the partition wall.

〔25〕 상기 〔23〕에 기재된 격벽을 구비하는 디스플레이.[25] A display provided with the partition described in [23] above.

〔26〕 경화물의 제조 방법으로서, 상기 〔1〕∼〔20〕 중 어느 것에 기재된 감광성 수지 조성물을, 기판에 도포한 후, 가열함으로써 수지막을 얻는 성막 공정과, 상기 수지막에 고에너지선을 노광하는 노광 공정을 포함하는 경화물의 제조 방법.[26] A method for producing a cured product, comprising the steps of applying the photosensitive resin composition according to any of [1] to [20] above to a substrate and then heating it to obtain a resin film, and exposing the resin film to a high-energy ray. A method for producing a cured product including an exposure process.

〔27〕 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는 함불소 수지.[27] A fluorinated resin comprising a structural unit having a structure represented by the following general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.

Figure pat00047
Figure pat00047

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)

〔28〕 가교 부위를 갖는 구성단위로서, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는, 상기 〔27〕에 기재된 함불소 수지.[28] The fluorinated resin described in [27] above, which contains a structural unit having a crosslinking site and a structural unit represented by the following general formula (5).

Figure pat00048
Figure pat00048

(일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다.)(In General Formula (5), R 5 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(= O)-O-, -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH-, or -C(=O)-NH-, and A 2 is a divalent linking group. represents a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, a branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the alkylene group is a hydroxyl group or -OC (=O) It may be substituted by -CH 3 , and A 3 represents a 2 to 4 valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and the hydrocarbon group Any number of hydrogen atoms in the group may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, and are each independently -O- or -NH- , n represents an integer from 1 to 3, and r represents 0 or 1.)

〔29〕 불소 원자 함유율이 15∼60 질량%인, 상기 〔27〕 또는 〔28〕에 기재된 함불소 수지.[29] The fluorinated resin according to [27] or [28] above, wherein the fluorine atom content is 15 to 60% by mass.

〔30〕 상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이, 상기 수지를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만인 상기 〔27〕∼〔29〕 중 어느 것에 기재된 함불소 수지.[30] The above [27] to [29] in which the content of the structure represented by the general formula (1) is 0.1 mol% or more and less than 50 mol%, assuming that the total amount of structural units constituting the resin is 100 mol%. The fluorinated resin according to any of the above.

〔31〕 중량평균 분자량이 5,000 이상, 40,000 이하인 상기 〔27〕∼〔30〕 중 어느 것에 기재된 함불소 수지.[31] The fluorinated resin according to any of [27] to [30] above, wherein the weight average molecular weight is 5,000 or more and 40,000 or less.

〔32〕 상기 〔27〕∼〔31〕 중 어느 것에 기재된 함불소 수지를 포함하는, 폴리머 블렌드.[32] A polymer blend containing the fluorinated resin according to any of [27] to [31] above.

[실시예][Example]

이하, 실시예에 의해 본 개시를 상세하게 설명하지만, 본 개시는 이들 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, the present disclosure will be described in detail by way of examples, but the present disclosure is not limited to these examples.

[중합체의 각 구성단위의 몰비의 측정][Measurement of molar ratio of each constituent unit of polymer]

중합체에 있어서의 각 구성단위의 몰비는, 1H-NMR, 19F-NMR 또는 13C-NMR의 측정값으로부터 결정하였다.The molar ratio of each structural unit in the polymer was determined from the measured values of 1 H-NMR, 19 F-NMR, or 13 C-NMR.

[중합체의 분자량의 측정][Measurement of molecular weight of polymer]

중합체의 중량평균 분자량(Mw)과 분자량 분산도(수평균 분자량(Mn)과 중량평균 분자량(Mw)의 비; Mw/Mn)는, 고속 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(이하, GPC라고 하는 경우가 있다. 도소주식회사 제, 형식 HLC-8320GPC)를 사용하고, ALPHA-M 컬럼과 ALPHA-2500 컬럼(모두 도소주식회사 제)을 1개씩 직렬로 연결하고, 전개 용매로서 테트라히드로푸란(THF)을 이용하여 측정하였다. 검출기에는 굴절률차 측정 검출기를 이용하였다.The weight average molecular weight (Mw) and molecular weight dispersion (ratio of number average molecular weight (Mn) and weight average molecular weight (Mw); Mw/Mn) of the polymer can be measured using high-speed gel permeation chromatography (hereinafter sometimes referred to as GPC). Measurement was performed using a Tosoh Co., Ltd. model (HLC-8320GPC), connecting one ALPHA-M column and an ALPHA-2500 column (both manufactured by Tosoh Co., Ltd.) in series, and using tetrahydrofuran (THF) as a developing solvent. did. A refractive index difference measurement detector was used as the detector.

1. 함불소 수지 (D)(발액제)의 합성1. Synthesis of fluorinated resin (D) (liquid repellent)

[발액제 전구체 1의 합성][Synthesis of liquid release agent precursor 1]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, 1,1-비스(트리플루오로메틸)-1,3-부타디엔(샌트랄글래스주식회사 제. 이하, BTFBE라고 표기함)을 2.7 g(0.014 mol), 4-아세톡시스티렌(도쿄가세이공업주식회사품. 이하, p-AcO-St라고 표기함)을 2.3 g(0.014 mol), 2-(퍼플루오로헥실)에틸메타크릴레이트(도쿄가세이공업주식회사품. 이하, MA-C6F라고 표기함)를 18.2 g(0.042 mol), 히드록시에틸메타크릴레이트(도쿄가세이공업주식회사품. 이하, HEMA라고 표기함)를 3.9 g(0.03 mol), 메틸에틸케톤(이하, MEK라고 표기함)을 47.2 g 채취하고, 아조비스(2-메틸부티로니트릴)(도쿄가세이공업주식회사품. 이하, AIBN이라고 표기함)을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온(內溫) 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 200 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별(濾別)하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 발액제 전구체 1을 24.0 g, 수율 89%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 2.7 g (hereinafter referred to as BTFBE) of 1,1-bis(trifluoromethyl)-1,3-butadiene (manufactured by Central Glass Co., Ltd.) at room temperature (about 20°C). 0.014 mol), 4-acetoxystyrene (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., hereinafter referred to as p-AcO-St), 2.3 g (0.014 mol), 2-(perfluorohexyl)ethyl methacrylate (Tokyo) 18.2 g (0.042 mol) of Kasei Kogyo Co., Ltd. (hereinafter referred to as MA-C6F) and 3.9 g (0.03 mol) of hydroxyethyl methacrylate (product of Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd., hereinafter referred to as HEMA). ), 47.2 g of methyl ethyl ketone (hereinafter referred to as MEK) was collected, and 0.84 g (0.005 mol) of azobis(2-methylbutyronitrile) (manufactured by Tokyo Kasei Industry Co., Ltd., hereinafter referred to as AIBN). ) was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was replaced with nitrogen gas, the temperature was raised to an internal temperature of 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 200 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 24.0 g of liquid repellent precursor 1 as a white solid with a yield of 89%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

발액제 전구체 1의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위=14:14:42:30이었다.The composition ratio of each structural unit of liquid repellent precursor 1 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA = 14:14: It was 42:30.

Figure pat00049
Figure pat00049

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=9,200, Mw/Mn=1.5Mw=9,200, Mw/Mn=1.5

[발액제 1의 합성][Synthesis of liquid repellent 1]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 발액제 전구체 1을 20 g(수산기당량 0.03 mol), 트리에틸아민을 0.21 g(수산기당량 0.0021 mol), 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트(이하, PGMEA라고 표기함)를 60 g, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트(쇼와덴코주식회사품. 제품명: 카렌즈 AOI)를 4.26 g(수산기당량 0.030 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하고, 백색 고체로서 발액제 1을 21.6 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 20 g of liquid repellent precursor 1 (hydroxyl equivalent weight 0.03 mol), 0.21 g triethylamine (hydroxyl equivalent weight 0.0021 mol), and propylene glycol monomethyl ether acetate (hereinafter referred to as PGMEA) 60 g, 4.26 g (hydroxyl equivalent weight 0.030 mol) of 2-isocyanatoethyl acrylate (manufactured by Showa Denko Co., Ltd., product name: Karenz AOI) was added, and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 21.6 g of liquid repellent 1 as a white solid with a yield of 90%.

Figure pat00050
Figure pat00050

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

발액제 1에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C6F에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 발액제 전구체 1로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 발액제 1 중의 불소 원자 함유율은 38.6 질량%였다.In liquid repellent 1, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (BTFBE structural unit, p-AcO-St structural unit, MA-C6F structural unit) that does not react with the crosslinking site is unchanged from the liquid repellent precursor 1 used ( It was confirmed that it was the same as before the introduction of the cross-linker. From the structural units, the fluorine atom content in liquid repellent 1 was 38.6% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=13,100, Mw/Mn=1.7Mw=13,100, Mw/Mn=1.7

[발액제 전구체 2의 합성][Synthesis of liquid release agent precursor 2]

교반기 구비 300 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 3.8 g(0.02 mol), p-AcO-St를 3.2 g(0.02 mol), 2-(퍼플루오로부틸)에틸메타크릴레이트(도쿄가세이공업주식회사품. 이하, MA-C4F라고 표기함)를 16.6 g(0.05 mol), HEMA(도쿄가세이공업주식회사품)를 5.2 g(0.04 mol), MEK를 60 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 250 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 발액제 전구체 2를 26.0 g, 수율 90%로 얻었다.In a 300 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 3.8 g (0.02 mol) of BTFBE, 3.2 g (0.02 mol) of p-AcO-St, and 2-(perfluorobutyl)ethyl methacrylate ( 16.6 g (0.05 mol) of Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd. (hereinafter referred to as MA-C4F), 5.2 g (0.04 mol) of HEMA (Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd.), 60 g of MEK, and AIBN were collected. After adding 0.84 g (0.005 mol) and degassing with stirring, the inside of the flask was replaced with nitrogen gas, the temperature was raised to 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 250 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 26.0 g of liquid repellent precursor 2 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

발액제 전구체 2의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C4F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위=15:16:38:31이었다.The composition ratio of each structural unit of liquid repellent precursor 2 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C4F: structural unit by HEMA = 15:16: It was 38:31.

Figure pat00051
Figure pat00051

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=9,200, Mw/Mn=1.4Mw=9,200, Mw/Mn=1.4

[발액제 2의 합성][Synthesis of liquid repellent 2]

교반기 구비 100 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 발액제 전구체 2를 26 g(수산기당량 0.038 mol), 트리에틸아민을 0.21 g(수산기당량 0.0021 mol), PGMEA를 20 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 5.4 g(수산기당량 0.038 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 100 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 발액제 2를 26.7 g, 수율 85%로 얻었다.In a 100 ml glass flask equipped with a stirrer, 26 g of liquid repellent precursor 2 (hydroxyl equivalent 0.038 mol), 0.21 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0021 mol), and 20 g of PGMEA were collected, and 5.4 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.038 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 100 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 26.7 g of liquid repellent 2 as a white solid with a yield of 85%.

Figure pat00052
Figure pat00052

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

발액제 2에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C4F에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 발액제 전구체 2로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 발액제 2 중의 불소 원자 함유율은 31.6 질량%였다.In liquid repellent 2, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (BTFBE structural unit, p-AcO-St structural unit, MA-C4F structural unit) that does not react with the crosslinking site is unchanged from the liquid repellent precursor 2 used ( It was confirmed that it was the same as before the introduction of the cross-linker. From the structural units, the fluorine atom content in liquid repellent 2 was 31.6% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=13,100, Mw/Mn=1.5Mw=13,100, Mw/Mn=1.5

[발액제 전구체 3의 합성][Synthesis of liquid release agent precursor 3]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, MA-C6F를 25.9 g(0.06 mol), HEMA(도쿄가세이공업주식회사품)를 5.2 g(0.04 mol), MEK를 62 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 250 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 발액제 전구체 3을 28 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer at room temperature (about 20°C), 25.9 g (0.06 mol) of MA-C6F, 5.2 g (0.04 mol) of HEMA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), and 62 g of MEK were collected. After adding 0.84 g (0.005 mol) of AIBN and degassing with stirring, the inside of the flask was replaced with nitrogen gas, the temperature was raised to 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 250 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 28 g of liquid repellent precursor 3 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

발액제 전구체 3의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위=60:40이었다.The composition ratio of each structural unit of liquid repellent precursor 3 was expressed in mole ratio, and the structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA = 60:40.

Figure pat00053
Figure pat00053

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=10,800, Mw/Mn=1.6Mw=10,800, Mw/Mn=1.6

[발액제 3의 합성][Synthesis of liquid repellent 3]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 발액제 전구체 3을 28 g(수산기당량 0.05 mol), 트리에틸아민을 0.45 g(수산기당량 0.0045 mol), PGMEA를 60 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 7.1 g(수산기당량 0.050 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 발액제 3을 30 g, 수율 85%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 28 g of liquid repellent precursor 3 (hydroxyl equivalent 0.05 mol), 0.45 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0045 mol), and 60 g of PGMEA were collected, and 7.1 g of Karenz AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.050 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 30 g of liquid repellent 3 as a white solid with a yield of 85%.

Figure pat00054
Figure pat00054

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

발액제 3에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(MA-C6F에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 발액제 전구체 3으로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 발액제 3 중의 불소 원자 함유율은 40.6 질량%였다.In liquid repellent 3, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, it was confirmed that the composition ratio of each structural unit (unit of MA-C6F) that does not react with the crosslinking site did not change from the liquid repellent precursor 3 used (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in liquid repellent 3 was 40.6% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=14,300, Mw/Mn=1.7Mw=14,300, Mw/Mn=1.7

[발액제 4][Liquid remover 4]

DIC사 제 「RS-72A」(불소 원자 함유량 8 질량%)“RS-72A” manufactured by DIC (fluorine atom content 8% by mass)

[발액제 5][Liquid remover 5]

네오스사 제 「프터젠트(Ftergent) 601ADH2」(불소 원자 함유량 19 질량%)“Ftergent 601ADH2” manufactured by Neos (fluorine atom content 19% by mass)

2. 수지 (E)의 합성2. Synthesis of Resin (E)

[불소 수지 전구체 1의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 1]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 2.9 g(0.015 mol), p-AcO-St를 2.4 g(0.015 mol), MA-C6F를 13.0 g(0.03 mol), HEMA를 3.9 g(0.03 mol), 메타크릴산-5,5,5-트리플루오로-4-히드록시-4-(트리플루오로메틸)펜탄-2-일(샌트랄글래스주식회사 제. 이하, MA-BTHB-OH라고 표기함)을 3.0 g(0.01 mol), MEK를 50.0 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 300 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 1을 22.6 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 2.9 g (0.015 mol) of BTFBE, 2.4 g (0.015 mol) of p-AcO-St, 13.0 g (0.03 mol) of MA-C6F, and HEMA were added. 3.9 g (0.03 mol), methacrylic acid-5,5,5-trifluoro-4-hydroxy-4-(trifluoromethyl)pentan-2-yl (Central Glass Co., Ltd., hereinafter referred to as MA- 3.0 g (0.01 mol) of (denoted as BTHB-OH) and 50.0 g of MEK were collected, 0.84 g (0.005 mol) of AIBN was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was replaced with nitrogen gas, and the internal temperature was adjusted to The temperature was raised to 79°C and reaction was performed overnight. When 300 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 22.6 g of fluororesin precursor 1 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 1의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=15:15:30:30:10이었다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 1 중의 불소 원자 함유율은 40.9 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of fluororesin precursor 1 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA: MA-BTHB- The structural unit by OH was 15:15:30:30:10. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 1 was 40.9% by mass.

Figure pat00055
Figure pat00055

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=7,800, Mw/Mn=1.4Mw=7,800, Mw/Mn=1.4

[불소 수지 1의 합성][Synthesis of fluororesin 1]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 1을 22 g(수산기당량 0.03 mol), 트리에틸아민을 0.21 g(수산기당량 0.0021 mol), PGMEA를 60 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 4.26 g(수산기당량 0.03 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하고, 백색 고체로서 불소 수지 1을 22.3 g, 수율 85%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 22 g of fluororesin precursor 1 (hydroxyl equivalent 0.03 mol), 0.21 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0021 mol), and 60 g of PGMEA were collected, and 4.26 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.03 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 22.3 g of fluororesin 1 as a white solid with a yield of 85%.

Figure pat00056
Figure pat00056

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 1에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C6F에 의한 구성단위, MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 1로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 1 중의 불소 원자 함유율은 35.2 질량%였다.In fluororesin 1, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (unit by BTFBE, structural unit by p-AcO-St, structural unit by MA-C6F, structural unit by MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site is, It was confirmed that there was no change from the fluororesin precursor 1 used (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 1 was 35.2% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=10,100, Mw/Mn=1.5Mw=10,100, Mw/Mn=1.5

[불소 수지 전구체 2의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 2]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 2.9 g(0.015 mol), p-AcO-St를 2.4 g(0.015 mol), MA-C4F를 10.0 g(0.03 mol), HEMA를 3.9 g(0.03 mol), MA-BTHB-OH를 3.0 g(0.01 mol), MEK를 44.0 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 300 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 2를 20.1 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 2.9 g (0.015 mol) of BTFBE, 2.4 g (0.015 mol) of p-AcO-St, 10.0 g (0.03 mol) of MA-C4F, and HEMA were added. 3.9 g (0.03 mol), 3.0 g (0.01 mol) of MA-BTHB-OH, and 44.0 g of MEK were collected, 0.84 g (0.005 mol) of AIBN was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was filled with nitrogen gas. , the temperature was raised to 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 300 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was filtered off and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 20.1 g of fluororesin precursor 2 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 2의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C4F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=15:15:30:30:10이었다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 2 중의 불소 원자 함유율은 36.1 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of the fluororesin precursor 2 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C4F: structural unit by HEMA: MA-BTHB- The structural unit by OH was 15:15:30:30:10. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 2 was 36.1% by mass.

Figure pat00057
Figure pat00057

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=7,700, Mw/Mn=1.4Mw=7,700, Mw/Mn=1.4

[불소 수지 2의 합성][Synthesis of fluororesin 2]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 2를 20 g(수산기당량 0.03 mol), 트리에틸아민을 0.21 g(수산기당량 0.0021 mol), PGMEA를 60 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 4.26 g(수산기당량 0.03 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 2를 21.3 g, 수율 87%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 20 g of fluororesin precursor 2 (hydroxyl equivalent 0.03 mol), 0.21 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0021 mol), and 60 g of PGMEA were collected, and 4.26 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.03 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 21.3 g of fluororesin 2 as a white solid with a yield of 87%.

Figure pat00058
Figure pat00058

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 2에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 98:2였다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C4F에 의한 구성단위, MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 2로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 2 중의 불소 원자 함유율은 30.5 질량%였다.In fluororesin 2, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate), expressed in mol ratio, were 98:2. In addition, the composition ratio of each structural unit (unit by BTFBE, structural unit by p-AcO-St, structural unit by MA-C4F, structural unit by MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site is, It was confirmed that there was no change from the fluororesin precursor 2 used (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 2 was 30.5% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=9,100, Mw/Mn=1.4Mw=9,100, Mw/Mn=1.4

[불소 수지 전구체 3의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 3]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, HEMA를 7.2 g(0.055 mol), MA-BTHB-OH를 13.3 g(0.045 mol), MEK를 40.0 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 300 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 3을 18.1 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer at room temperature (about 20°C), 7.2 g (0.055 mol) of HEMA, 13.3 g (0.045 mol) of MA-BTHB-OH, and 40.0 g of MEK were collected, and 0.84 g (0.005 mol) of AIBN. mol), and after degassing with stirring, the inside of the flask was replaced with nitrogen gas, the temperature was raised to 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 300 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was filtered off and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 18.1 g of fluororesin precursor 3 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 3의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=55:45였다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 3 중의 불소 원자 함유율은 25.1 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of the fluororesin precursor 3 was expressed in mol ratio, and was: structural unit by HEMA: structural unit by MA-BTHB-OH = 55:45. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 3 was 25.1% by mass.

Figure pat00059
Figure pat00059

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=6,700, Mw/Mn=1.3Mw=6,700, Mw/Mn=1.3

[불소 수지 3의 합성][Synthesis of fluororesin 3]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 3을 18 g(수산기당량 0.055 mol), 트리에틸아민을 0.30 g(수산기당량 0.0050 mol), PGMEA를 60 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 7.42 g(수산기당량 0.055 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 3을 21 g, 수율 84%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 18 g of fluororesin precursor 3 (hydroxyl equivalent 0.055 mol), 0.30 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0050 mol), and 60 g of PGMEA were collected, and 7.42 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.055 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 21 g of fluororesin 3 as a white solid with a yield of 84%.

Figure pat00060
Figure pat00060

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 3에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 98:2였다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 3으로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 3 중의 불소 원자 함유율은 18.4 질량%였다.In fluororesin 3, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 98:2. In addition, it was confirmed that the composition ratio of each structural unit (unit of MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site did not change from the used fluororesin precursor 3 (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 3 was 18.4% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=8,100, Mw/Mn=1.4Mw=8,100, Mw/Mn=1.4

[불소 수지 4][Fluororesin 4]

상기의 불소 수지 전구체 1을 불소 수지 4라고 하였다. 구성단위로부터 불소 수지 4(불소 수지 전구체 1) 중의 불소 원자 함유율은 40.9 질량%였다.The above fluororesin precursor 1 was called fluororesin 4. From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 4 (fluororesin precursor 1) was 40.9% by mass.

[불소 수지 5][Fluororesin 5]

상기의 불소 수지 전구체 2를 불소 수지 5라고 하였다. 구성단위로부터 불소 수지 5(불소 수지 전구체 2) 중의 불소 원자 함유율은 36.1 질량%였다.The above fluororesin precursor 2 was referred to as fluororesin 5. From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 5 (fluororesin precursor 2) was 36.1% by mass.

[불소 수지 전구체 6의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 6]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 1.0 g(0.005 mol), p-AcO-St를 8.0 g(0.015 mol), MA-C6F를 4.3 g(0.01 mol), HEMA를 3.9 g(0.03 mol), MA-BTHB-OH를 1.5 g(0.005 mol), MEK를 50.0 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 300 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 6을 16.06 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 1.0 g (0.005 mol) of BTFBE, 8.0 g (0.015 mol) of p-AcO-St, 4.3 g (0.01 mol) of MA-C6F, and HEMA were added. 3.9 g (0.03 mol), 1.5 g (0.005 mol) of MA-BTHB-OH, and 50.0 g of MEK were collected, 0.84 g (0.005 mol) of AIBN was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was poured into nitrogen gas. was substituted, the temperature was raised to an internal temperature of 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 300 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 16.06 g of fluororesin precursor 6 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 6의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=5:50:10:30:5였다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 6 중의 불소 원자 함유율은 19.3 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of the fluororesin precursor 6 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA: MA-BTHB- The structural unit by OH was 5:50:10:30:5. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 6 was 19.3% by mass.

Figure pat00061
Figure pat00061

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=8,900, Mw/Mn=1.5Mw=8,900, Mw/Mn=1.5

[불소 수지 6의 합성][Synthesis of fluororesin 6]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 6을 11 g(수산기당량 0.015 mol), 트리에틸아민을 0.11 g(수산기당량 0.001 mol), PGMEA를 60 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 2.13 g(수산기당량 0.015 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 6을 11.2 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 11 g of fluororesin precursor 6 (hydroxyl equivalent 0.015 mol), 0.11 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.001 mol), and 60 g of PGMEA were collected, and 2.13 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.015 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 11.2 g of fluororesin 6 as a white solid with a yield of 90%.

Figure pat00062
Figure pat00062

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 6에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C6F에 의한 구성단위, MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 6으로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 6 중의 불소 원자 함유율은 14.4 질량%였다.In fluororesin 6, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (unit by BTFBE, structural unit by p-AcO-St, structural unit by MA-C6F, structural unit by MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site is, It was confirmed that there was no change from the fluororesin precursor 6 used (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 6 was 14.4% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=10,500, Mw/Mn=1.5Mw=10,500, Mw/Mn=1.5

[불소 수지 전구체 7의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 7]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 2.0 g(0.010 mol), p-AcO-St를 0.5 g(0.003 mol), MA-C6F를 34.5 g(0.079 mol), HEMA를 0.39 g(0.003 mol), MA-BTHB-OH를 1.5 g(0.005 mol), MEK를 100.0 g 채취하고, AIBN을 0.84 g(0.005 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 79℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 500 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 7을 35.2 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 2.0 g (0.010 mol) of BTFBE, 0.5 g (0.003 mol) of p-AcO-St, 34.5 g (0.079 mol) of MA-C6F, and HEMA were added. 0.39 g (0.003 mol), 1.5 g (0.005 mol) of MA-BTHB-OH, and 100.0 g of MEK were collected, 0.84 g (0.005 mol) of AIBN was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was filled with nitrogen gas. was substituted, the temperature was raised to an internal temperature of 79°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 500 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 35.2 g of fluororesin precursor 7 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 7의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=10:3:79:3:5였다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 7 중의 불소 원자 함유율은 56.1 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of the fluororesin precursor 7 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA: MA-BTHB- Constituent unit by OH = 10:3:79:3:5. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 7 was 56.1% by mass.

Figure pat00063
Figure pat00063

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=8,800, Mw/Mn=1.5Mw=8,800, Mw/Mn=1.5

[불소 수지 7의 합성][Synthesis of fluororesin 7]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 7을 30 g(수산기당량 0.003 mol), 트리에틸아민을 0.21 g(수산기당량 0.00021 mol), PGMEA를 100 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 0.42 g(수산기당량 0.03 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 500 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 7을 28.5 g, 수율 95%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 30 g of fluororesin precursor 7 (hydroxyl equivalent 0.003 mol), 0.21 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.00021 mol), and 100 g of PGMEA were collected, and 0.42 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.03 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 500 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 28.5 g of fluororesin 7 as a white solid with a yield of 95%.

Figure pat00064
Figure pat00064

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 7에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C6F에 의한 구성단위, MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 7로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 7 중의 불소 원자 함유율은 55.2 질량%였다.In fluororesin 7, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (unit by BTFBE, structural unit by p-AcO-St, structural unit by MA-C6F, structural unit by MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site is, It was confirmed that there was no change from the used fluororesin precursor 7 (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 7 was 55.2% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=9,100, Mw/Mn=1.5Mw=9,100, Mw/Mn=1.5

[불소 수지 전구체 8의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 8]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 2.9 g(0.015 mol), p-AcO-St를 2.4 g(0.015 mol), MA-C6F를 13.0 g(0.03 mol), HEMA를 3.9 g(0.03 mol), MA-BTHB-OH를 3.0 g(0.01 mol), MEK를 100.0 g 채취하고, AIBN을 3.41 g(0.020 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 81℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 400 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 8을 20.1 g, 수율 80%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 2.9 g (0.015 mol) of BTFBE, 2.4 g (0.015 mol) of p-AcO-St, 13.0 g (0.03 mol) of MA-C6F, and HEMA were added. 3.9 g (0.03 mol), 3.0 g (0.01 mol) of MA-BTHB-OH, and 100.0 g of MEK were collected, 3.41 g (0.020 mol) of AIBN was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was filled with nitrogen gas. was substituted, the temperature was raised to an internal temperature of 81°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 400 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 20.1 g of fluororesin precursor 8 as a white solid with a yield of 80%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 8의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=15:15:30:30:10이었다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 8 중의 불소 원자 함유율은 40.9 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of the fluororesin precursor 8 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA: MA-BTHB- The structural unit by OH was 15:15:30:30:10. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 8 was 40.9% by mass.

Figure pat00065
Figure pat00065

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=4,100, Mw/Mn=1.3Mw=4,100, Mw/Mn=1.3

[불소 수지 8의 합성][Synthesis of fluororesin 8]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 8을 11 g(수산기당량 0.03 mol), 트리에틸아민을 0.11 g(수산기당량 0.0021 mol), PGMEA를 30 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 2.13 g(수산기당량 0.03 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 8을 11.2 g, 수율 85%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 11 g of fluororesin precursor 8 (hydroxyl equivalent 0.03 mol), 0.11 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0021 mol), and 30 g of PGMEA were collected, and 2.13 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.03 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 11.2 g of fluororesin 8 as a white solid with a yield of 85%.

Figure pat00066
Figure pat00066

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 8에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C6F에 의한 구성단위, MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 8로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 8 중의 불소 원자 함유율은 35.2 질량%였다.In fluororesin 8, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (unit by BTFBE, structural unit by p-AcO-St, structural unit by MA-C6F, structural unit by MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site is, It was confirmed that there was no change from the used fluororesin precursor 8 (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 8 was 35.2% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=4,500, Mw/Mn=1.4Mw=4,500, Mw/Mn=1.4

[불소 수지 전구체 9의 합성][Synthesis of fluororesin precursor 9]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에 실온(약 20℃)에서, BTFBE를 2.9 g(0.015 mol), p-AcO-St를 2.4 g(0.015 mol), MA-C6F를 13.0 g(0.03 mol), HEMA를 3.9 g(0.03 mol), MA-BTHB-OH를 3.0 g(0.01 mol), MEK를 40.0 g 채취하고, AIBN을 0.21 g(0.00125 mol) 추가하고, 교반하면서 탈기한 후에, 플라스크 내를 질소 가스에 의해 치환하고, 내온 70℃로 승온하여 밤새 반응시켰다. 반응계에 n-헵탄 300 g을 적하한 바, 백색의 침전을 얻었다. 이 침전을 여별하고, 온도 45℃ 하에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 전구체 9를 22.1 g, 수율 90%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, at room temperature (about 20°C), 2.9 g (0.015 mol) of BTFBE, 2.4 g (0.015 mol) of p-AcO-St, 13.0 g (0.03 mol) of MA-C6F, and HEMA were added. 3.9 g (0.03 mol), 3.0 g (0.01 mol) of MA-BTHB-OH, and 40.0 g of MEK were collected, 0.21 g (0.00125 mol) of AIBN was added, and after degassing with stirring, the inside of the flask was filled with nitrogen gas. was substituted, the temperature was raised to 70°C, and the reaction was allowed to occur overnight. When 300 g of n-heptane was added dropwise to the reaction system, a white precipitate was obtained. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at a temperature of 45°C to obtain 22.1 g of fluororesin precursor 9 as a white solid with a yield of 90%.

< NMR 측정 결과 >< NMR measurement results >

불소 수지 전구체 9의 각 구성단위의 조성비는, mol비로 나타내어, BTFBE에 의한 구성단위:p-AcO-St에 의한 구성단위:MA-C6F에 의한 구성단위:HEMA에 의한 구성단위:MA-BTHB-OH에 의한 구성단위=15:15:30:30:10이었다. 구성단위로부터 불소 수지 전구체 9 중의 불소 원자 함유율은 40.9 질량%였다.The composition ratio of each structural unit of the fluororesin precursor 9 is expressed in mol ratio, structural unit by BTFBE: structural unit by p-AcO-St: structural unit by MA-C6F: structural unit by HEMA: MA-BTHB- The structural unit by OH was 15:15:30:30:10. From the structural units, the fluorine atom content in the fluororesin precursor 9 was 40.9% by mass.

Figure pat00067
Figure pat00067

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=38,200, Mw/Mn=1.8Mw=38,200, Mw/Mn=1.8

[불소 수지 9의 합성][Synthesis of fluororesin 9]

교반기 구비 500 ㎖ 유리제 플라스크 내에, 불소 수지 전구체 9를 22 g(수산기당량 0.03 mol), 트리에틸아민을 0.21 g(수산기당량 0.0021 mol), PGMEA를 60 g 채취하고, 카렌즈 AOI를 4.26 g(수산기당량 0.03 mol) 추가하고, 45℃에서 4시간 반응시켰다. 반응 종료 후의 반응액을 농축 후, n-헵탄 200 g을 추가하고, 침전을 석출시켰다. 이 침전을 여별하고, 40℃에서 감압 건조를 행하여, 백색 고체로서 불소 수지 9를 21.1 g, 수율 80%로 얻었다.In a 500 ml glass flask equipped with a stirrer, 22 g of fluororesin precursor 9 (hydroxyl equivalent 0.03 mol), 0.21 g of triethylamine (hydroxyl equivalent 0.0021 mol), and 60 g of PGMEA were collected, and 4.26 g of Karen's AOI (hydroxyl equivalent) was collected. Equivalent of 0.03 mol) was added and reacted at 45°C for 4 hours. After the reaction was completed, the reaction solution was concentrated, 200 g of n-heptane was added, and the precipitate was deposited. This precipitate was separated by filtration and dried under reduced pressure at 40°C to obtain 21.1 g of fluororesin 9 as a white solid with a yield of 80%.

Figure pat00068
Figure pat00068

< 13C-NMR 측정 결과 >< 13 C-NMR measurement results >

불소 수지 9에 있어서, 카렌즈 AOI 유래의 아크릴산 유도체 도입량(반응률) 및 잔수산기량(미반응률)은, mol비로 나타내어 99:1이었다. 또, 가교 부위와 반응하지 않는 각 구성단위(BTFBE에 의한 구성단위, p-AcO-St에 의한 구성단위, MA-C6F에 의한 구성단위, MA-BTHB-OH에 의한 구성단위)의 조성비는, 이용한 불소 수지 전구체 9로부터 변화가 없는(가교기 도입 전과 동일) 것을 확인하였다. 구성단위로부터 불소 수지 9 중의 불소 원자 함유율은 35.2 질량%였다.In fluororesin 9, the amount of acrylic acid derivative derived from Karen's AOI introduced (reaction rate) and the amount of residual hydroxyl group (unreacted rate) expressed in mol ratio were 99:1. In addition, the composition ratio of each structural unit (unit by BTFBE, structural unit by p-AcO-St, structural unit by MA-C6F, structural unit by MA-BTHB-OH) that does not react with the crosslinking site is, It was confirmed that there was no change from the used fluororesin precursor 9 (same as before introduction of the crosslinking group). From the structural units, the fluorine atom content in fluororesin 9 was 35.2% by mass.

< GPC 측정 결과 >< GPC measurement results >

Mw=45,300, Mw/Mn=1.9Mw=45,300, Mw/Mn=1.9

3. 감광성 수지 조성물의 조제3. Preparation of photosensitive resin composition

이하에 실시예 및 비교예의 감광성 수지 조성물의 조제에서 이용한 각 성분을 나타낸다.Below, each component used in preparation of the photosensitive resin composition of Examples and Comparative Examples is shown.

< 에틸렌성 불포화 화합물 (A) ><Ethylenically unsaturated compound (A)>

에틸렌성 불포화 화합물: 니혼가야쿠사 제 「DPHA」(디펜타에리스리톨헥사아크릴레이트)Ethylenically unsaturated compound: “DPHA” (dipentaerythritol hexaacrylate) manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd.

< 광중합개시제 (B) >< Photopolymerization initiator (B) >

광중합개시제 1: BASF사 제 「Irgacure OXE-01」Light polymerization initiator 1: “Irgacure OXE-01” manufactured by BASF

광중합개시제 2: 니혼가야쿠사 제 「DETXs」(2,4-디에틸티오크산톤)Light polymerization initiator 2: “DETXs” (2,4-diethylthioxanthone) manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd.

광중합개시제 3: BASF사 제 「Irgacure OXE-04」Light polymerization initiator 3: “Irgacure OXE-04” manufactured by BASF

< 알칼리 가용성 수지 (C) ><Alkali-soluble resin (C)>

알칼리 가용성 수지: 니혼가야쿠사 제 「ZAR-2050H」(특수 BIS-A형 에폭시아크릴레이트, 불소 원자를 포함하지 않는다.)Alkali-soluble resin: “ZAR-2050H” manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd. (special BIS-A type epoxy acrylate, does not contain fluorine atoms)

< 첨가제 >< Additives >

밀착제: 니혼가야쿠사 제 「KAYAMER PM-21」Adhesive: “KAYAMER PM-21” manufactured by Nihon Kayakusa.

< 연쇄이동제 >< Chain transfer system >

연쇄이동제: 쇼와덴코사 제 「카렌즈 MT-PE1」Chain transfer agent: “Carens MT-PE1” manufactured by Showa Denko Co., Ltd.

[감광성 수지 기초 조성액의 조제][Preparation of photosensitive resin basic composition liquid]

연쇄이동제로서 카렌즈 MT-PE1을 2.0 질량부, 에틸렌성 불포화 화합물 (A)로서 DPHA를 27.0 질량부, 알칼리 용해성 수지 (C)로서 ZAR-2050H를 18.0 질량부, 밀착제로서 PM-21을 1.0 질량부, 용매로서 PGMEA를 50 질량부 배합하고, 얻어진 용액을 0.2 ㎛의 멤브레인 필터로 여과함으로써, 감광성 수지 기초 조성액을 조제하였다.2.0 parts by mass of Karen's MT-PE1 as a chain transfer agent, 27.0 parts by mass of DPHA as an ethylenically unsaturated compound (A), 18.0 parts by mass of ZAR-2050H as an alkali-soluble resin (C), and 1.0 parts by mass of PM-21 as an adhesive. A photosensitive resin base composition liquid was prepared by mixing 50 parts by mass of PGMEA as a solvent and filtering the resulting solution through a 0.2 µm membrane filter.

[감광성 수지 조성물의 조제][Preparation of photosensitive resin composition]

감광성 수지 기초 조성액과 그 외의 재료의 비율이 표 1∼4에 기재한 값이 되도록 감광성 수지 기초 조성액 및 상술의 각 성분을 추가하고, 교반, 용해시켜, 실시예 1∼26 및 비교예 1∼16의 감광성 수지 조성물을 조제하였다. 얻어진 감광성 수지 조성물을 이용하여, 후술하는 방법으로 평가를 행하였다.The photosensitive resin base composition liquid and each of the above-mentioned components were added so that the ratios of the photosensitive resin base composition liquid and other materials were the values shown in Tables 1 to 4, and stirred and dissolved to produce Examples 1 to 26 and Comparative Examples 1 to 16. A photosensitive resin composition was prepared. Evaluation was performed by the method described later using the obtained photosensitive resin composition.

4. 표면의 불소 성분량4. Amount of fluorine content on the surface

실시예 1∼26 및 비교예 1∼16의 감광성 수지 조성물을 이용하여 도포막을 제작하고, 도포막 표면의 불소 성분량을 산출하고, 평가 및 비교하였다. 결과를 표 1, 2에 나타낸다.Coating films were produced using the photosensitive resin compositions of Examples 1 to 26 and Comparative Examples 1 to 16, and the amount of fluorine component on the surface of the coating film was calculated, evaluated, and compared. The results are shown in Tables 1 and 2.

[도포막의 형성][Formation of coating film]

사방 10 ㎝의 무알칼리 기판을 초순수, 이어서 아세톤에 의해 세정 후, UV 오존 처리 장치를 이용하여, 당해 기판에 대한 UV 오존 처리를 5분간 행하였다. 이어서, 실시예 1∼26 및 비교예 1∼16의 감광성 수지 조성물을 이용하여, 얻어진 UV 오존 처리 후의 기판 상에 스핀 코터를 이용하여 회전수 1,000 rpm으로 도포하고, 핫플레이트 상에서 100℃에서 150초간 가열하여, 막두께 1 ㎛의 도포막을 제작하였다.An alkali-free substrate measuring 10 cm square was washed with ultrapure water and then with acetone, and then UV ozone treatment was performed on the substrate for 5 minutes using a UV ozone treatment device. Next, the photosensitive resin compositions of Examples 1 to 26 and Comparative Examples 1 to 16 were applied to the obtained UV ozone-treated substrate using a spin coater at a rotation speed of 1,000 rpm, and applied on a hot plate at 100°C for 150 seconds. By heating, a coating film with a film thickness of 1 μm was produced.

[불소 성분량의 평가 및 비교][Evaluation and comparison of fluorine content]

도포막에 대하여 X선 광전자 분광법(XPS라고 간략히 함)을 이용하여 표면의 F1s 스펙트럼을 측정하고, 강도를 비교하였다. XPS 측정은 일본전자사 제 JPS-9000MC를 이용하여 행하였다. 도포막의 불균일을 확인하기 위하여 측정은 장소를 바꾸어 10개소 행하고, 평균, 최대값, 최소값, 및, 최대값과 최소값의 차를 나타냈다. 기재된 조건으로 측정한 스펙트럼의 값이 클수록, 막 표면에 불소를 포함하는 공유 결합이 많이 포함된다. 이것으로부터, 스펙트럼의 측정값이 작은 막보다, 큰 막 쪽이 막 표면에 불소 원자를 많이 포함한다고 할 수 있다.The F1s spectrum of the surface of the coating film was measured using X-ray photoelectron spectroscopy (abbreviated as XPS), and the intensity was compared. XPS measurement was performed using JPS-9000MC manufactured by Japan Electronics. In order to check the unevenness of the coating film, measurements were made at 10 different locations, and the average, maximum value, minimum value, and difference between the maximum and minimum values were shown. The larger the value of the spectrum measured under the described conditions, the more covalent bonds containing fluorine are contained on the film surface. From this, it can be said that a film with a larger measured spectrum contains more fluorine atoms on the film surface than a film with a smaller measured spectrum value.

Figure pat00069
Figure pat00069

Figure pat00070
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실시예 1∼26, 비교예 1∼16의 도포막의 표면에 모두 불소에 유래하는 피크가 관측되고, 강도가 1600∼3300 cps였다. 불소 수지 1∼9를 포함하는 실시예 1∼26은, 도포막의 표면에서 관측되는 불소 유래의 피크의 최대값과 최소값의 차는 크더라도 400이고, 비교예 1∼10 및 14∼16에 비하여 최대값과 최소값의 차가 작은 것이 확인되었다. 이것으로부터 불소 수지 1∼9를 포함함으로써, 도포막 표면의 불소 성분량이 보다 균일해져 있는 것을 알았다. 함불소 수지 (D)를 포함하지 않는 비교예 11∼13은, 함불소 수지 (D)를 포함하는 실시예 1∼26, 비교예 1∼10, 비교예 14∼16과 비교하여, 도포막의 표면에서 관측되는 불소 유래의 피크 강도가 작았다. 도포막 표면의 불소 성분량은, 함불소 수지 (D)가 영향을 주는 것을 알았다. 가교 부위를 갖는 불소 수지 1∼3 및 6∼9를 이용한 실시예 1∼20 및 23∼26은, 가교 부위를 함유하지 않는 불소 수지 4 또는 불소 수지 5를 이용한 실시예 21, 22와 비교하여, 도포막의 표면에서 관측되는 불소 유래의 피크의 최대값과 최소값의 차가 보다 작았다.Peaks derived from fluorine were observed on the surfaces of the coating films of Examples 1 to 26 and Comparative Examples 1 to 16, and the intensity was 1600 to 3300 cps. In Examples 1 to 26 containing fluororesins 1 to 9, the difference between the maximum and minimum values of the fluorine-derived peak observed on the surface of the coating film is 400, and the maximum value is 400 compared to Comparative Examples 1 to 10 and 14 to 16. It was confirmed that the difference between and the minimum value was small. From this, it was found that by including fluorine resins 1 to 9, the amount of fluorine component on the surface of the coating film became more uniform. Comparative Examples 11 to 13, which do not contain a fluorinated resin (D), compared with Examples 1 to 26, Comparative Examples 1 to 10, and Comparative Examples 14 to 16 that contain a fluorinated resin (D), the surface of the coating film The fluorine-derived peak intensity observed in was small. It was found that the fluorine-containing resin (D) influences the amount of fluorine component on the surface of the coating film. Examples 1 to 20 and 23 to 26 using fluororesins 1 to 3 and 6 to 9 having a crosslinking site are compared with Examples 21 and 22 using fluororesin 4 or fluororesin 5 not containing a crosslinking site, The difference between the maximum and minimum values of the fluorine-derived peak observed on the surface of the coating film was smaller.

5. 뱅크의 평가5. Bank evaluation

[뱅크의 형성][Formation of a bank]

사방 10 ㎝의 ITO 기판을 초순수, 이어서 아세톤에 의해 세정 후, 전술의 UV 오존 처리 장치를 이용하여, 당해 기판에 대한 UV 오존 처리를 5분간 행하였다. 이어서, 감광성 수지 조성물 실시예 1∼26, 비교예 1∼16을 이용하여, 얻어진 UV 오존 처리 후의 기판 상에 스핀 코터를 이용하여 회전수 1,000 rpm으로 도포하고, 핫플레이트 상에서 80℃ 150초간, 가열하여, 막 두께 1 ㎛의 함불소 수지막 및 비교 함불소 수지막을 형성하였다. 마스크 얼라이너(수스·마이크로테크주식회사 제품)를 이용하여, 라인 앤드 스페이스가 5 ㎛인 마스크를 개재하여, 얻어진 수지막에 i선(파장 365 ㎚)을 조사하고, 노광을 행하였다.An ITO substrate measuring 10 cm square was washed with ultrapure water and then with acetone, and then UV ozone treatment was performed on the substrate for 5 minutes using the UV ozone treatment device described above. Next, the photosensitive resin compositions of Examples 1 to 26 and Comparative Examples 1 to 16 were applied to the obtained UV ozone-treated substrate using a spin coater at a rotation speed of 1,000 rpm, and heated on a hot plate at 80°C for 150 seconds. Thus, a fluorinated resin film and a comparative fluorinated resin film with a film thickness of 1 μm were formed. Using a mask aligner (manufactured by Suss Microtech Co., Ltd.), i-line (wavelength 365 nm) was irradiated to the obtained resin film through a mask with a line and space of 5 μm, and exposure was performed.

얻어진 노광 후의 경화막에 대하여 현상액 용해성, 뱅크 성능의 평가(감도, 해상도), 및 접촉각의 측정을 행하였다.The obtained cured film after exposure was subjected to evaluation of developer solubility, bank performance (sensitivity, resolution), and measurement of contact angle.

[현상액 용해성][Developer solubility]

ITO 기판 상의 노광 후의 경화막을, 알칼리 현상액에 실온에서 80초간 침지하고, 알칼리 현상액에 대한 용해성을 평가하였다. 알칼리 현상액에는, 2.38 질량%의 테트라메틸암모늄히드록시드 수용액(이하, TMAH라고 하는 경우가 있음)을 이용하였다. 뱅크의 용해성은, 침지 후의 뱅크의 막두께를 접촉식 막후계로 측정함으로써 평가하였다. 뱅크가 완전히 용해되어 있는 경우를 「가용」, 레지스트 막이 미용해로 남아 있는 경우를 「불용」이라고 하였다.The cured film after exposure on the ITO substrate was immersed in an alkaline developer at room temperature for 80 seconds, and its solubility in the alkaline developer was evaluated. As the alkaline developer, a 2.38 mass% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (hereinafter sometimes referred to as TMAH) was used. The solubility of the bank was evaluated by measuring the film thickness of the bank after immersion using a contact film thickness meter. The case where the bank was completely dissolved was referred to as “soluble”, and the case where the resist film remained undissolved was referred to as “insoluble.”

[뱅크 성능(감도, 해상도)][Bank performance (sensitivity, resolution)]

상기 라인 앤드 스페이스의 패턴인 뱅크를 형성할 때의 최적 노광량 Eop(mJ/㎠)를 구하고, 감도의 지표로 하였다.The optimal exposure amount Eop (mJ/cm2) when forming the bank, which is the line and space pattern, was determined and used as an index of sensitivity.

또, 얻어진 뱅크 패턴을 레이저 현미경(키엔스사 제, VX-1100)(3000배)으로 관찰하여 해상도를 평가하였다. 라인 엣지 러프니스를 확인할 수 없는 것을 「우(優)」, 약간 확인되는 것을 「양(良)」, 현저한 것을 「불가」라고 하였다.Additionally, the obtained bank pattern was observed with a laser microscope (VX-1100, manufactured by Keyence) (3000x) to evaluate the resolution. The line edge roughness that could not be confirmed was called “good”, the line edge roughness that could not be confirmed was called “good”, and the line edge roughness that was noticeable was called “impossible.”

[접촉각][Contact angle]

상기 공정에 의해 얻어진 경화막을 갖는 기판을, 230℃에서 60분간, 가열을 행한 후, 경화막 표면의 물 및 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트(PGMEA)에 대한 접촉각은 접촉각계(교와계면화학주식회사 제 GMs-601)를 이용하여, 도막 상의 20개소에서 측정하였다.After heating the substrate with the cured film obtained by the above process at 230°C for 60 minutes, the contact angle of the surface of the cured film to water and propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) was measured using a contact angle meter (manufactured by Kyowa Interface Chemicals Co., Ltd.) GMs-601) was used to measure at 20 locations on the coating film.

Figure pat00071
Figure pat00071

Figure pat00072
Figure pat00072

실시예 1∼26과, 비교예 1∼16의 감광성 수지 조성물로부터 제작한 뱅크(경화막)의 현상액 용해성, 뱅크 성능 및 접촉각을 비교한 결과, 현상액 용해성에 대해서는, 모든 실시예 및 비교예에서 미노광부가 가용이고, 노광부가 불용이었으므로, 본 개시의 감광성 수지 조성물은 경화성이 우수했다. 뱅크 성능 중, 감도는, 실시예 및 비교예가 모두 150∼200 mJ/㎠이고, 해상도가 「양」 또는 「우」였다. 뱅크의 해상도에 대해서는, 비교예 1∼16과 비교하여, 실시예 1∼26 쪽이 동등하거나 우수한 것을 알았다. 발액성에 대해서는, 불소 수지 1∼9를 포함하는 실시예 1∼26에서는, 접촉각의 최대값과 최소값의 차가 작았다.As a result of comparing the developer solubility, bank performance, and contact angle of the banks (cured films) produced from the photosensitive resin compositions of Examples 1 to 26 and Comparative Examples 1 to 16, the developer solubility was Mino in all Examples and Comparative Examples. Since the light portion was soluble and the exposed portion was insoluble, the photosensitive resin composition of the present disclosure had excellent curability. Among the bank performances, the sensitivity was 150 to 200 mJ/cm2 in both Examples and Comparative Examples, and the resolution was "positive" or "right". Regarding the resolution of the banks, it was found that Examples 1 to 26 were equivalent or superior to Comparative Examples 1 to 16. Regarding liquid repellency, in Examples 1 to 26 containing fluororesins 1 to 9, the difference between the maximum and minimum contact angles was small.

불소 원자 함유율이 낮은 불소 수지 6을 이용한 실시예 23은, 다른 실시예와 비교하여, 접촉각이 약간 작았다.Example 23, which used fluororesin 6 with a low fluorine atom content, had a slightly smaller contact angle than the other examples.

불소 원자 함유율이 약간 높은 불소 수지 7을 이용한 실시예 24는, 다른 실시예와 비교하여, 라인 엣지 러프니스가 약간 확인되고(「양」), 접촉각의 최대값과 최소값의 차가 약간 컸다.In Example 24, which used fluororesin 7 with a slightly higher fluorine atom content, slightly line edge roughness was observed (“positive”) compared to the other examples, and the difference between the maximum and minimum contact angles was slightly large.

분자량이 약간 작은 불소 수지 8을 이용한 실시예 25는, 다른 실시예와 비교하여, 접촉각이 약간 작았다.Example 25, which used fluororesin 8 with a slightly smaller molecular weight, had a slightly smaller contact angle than the other examples.

분자량이 약간 큰 불소 수지 9를 이용한 실시예 26은, 라인 엣지 러프니스가 약간 확인되었다.In Example 26, which used fluororesin 9 with a slightly large molecular weight, line edge roughness was confirmed slightly.

함불소 수지 (D)를 포함하지 않는 비교예 11∼13은, 함불소 수지 (D)를 포함하는 실시예 1∼26, 비교예 1∼10, 비교예 14∼16과 비교하여, 접촉각이 작았다.Comparative Examples 11 to 13 not containing the fluorinated resin (D) had a small contact angle compared to Examples 1 to 26, Comparative Examples 1 to 10, and Comparative Examples 14 to 16 containing the fluorinated resin (D). all.

수지 (E)의 함유량이 많은 비교예 14, 15, 및, 수지 (E)의 함유량이 적은 비교예 16은, 실시예와 비교하여 접촉각의 최대값과 최소값의 차가 컸다.In Comparative Examples 14 and 15, which contained a large content of Resin (E), and Comparative Example 16, which contained a small content of Resin (E), the difference between the maximum and minimum values of the contact angle was large compared to the Examples.

Claims (32)

에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서,
상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 감광성 수지 조성물.
Figure pat00073

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)
A photosensitive resin composition comprising an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin (E) having a structure represented by the following general formula (1): as,
A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.
Figure pat00073

(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)
제 1 항에 있어서,
상기 수지 (E)가 가교 부위를 갖는 감광성 수지 조성물.
According to claim 1,
A photosensitive resin composition in which the resin (E) has a crosslinking site.
에틸렌성 불포화 화합물 (A), 광중합개시제 (B), 알칼리 가용성 수지 (C), 함불소 수지 (D) 및 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 수지 (E)를 포함하는 감광성 수지 조성물로서,
상기 수지 (E)가, 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는 수지인, 감광성 수지 조성물.
Figure pat00074

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)
A photosensitive resin composition comprising an ethylenically unsaturated compound (A), a photopolymerization initiator (B), an alkali-soluble resin (C), a fluorinated resin (D), and a resin (E) having a structure represented by general formula (1). ,
A photosensitive resin composition in which the resin (E) is a resin having a structural unit having a structure represented by the following general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.
Figure pat00074

(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)
제 3 항에 있어서,
상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 감광성 수지 조성물.
According to claim 3,
A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.
제 3 항에 있어서,
상기 가교 부위를 갖는 구성단위로서, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는, 감광성 수지 조성물.
Figure pat00075

(일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다.)
According to claim 3,
A photosensitive resin composition comprising, as a structural unit having the crosslinking site, a structural unit represented by the following general formula (5).
Figure pat00075

(In General Formula (5), R 5 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(= O)-O-, -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH-, or -C(=O)-NH-, and A 2 is a divalent linking group. represents a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, a branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the alkylene group is a hydroxyl group or -OC (=O) It may be substituted by -CH 3 , and A 3 represents a 2 to 4 valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and the hydrocarbon group Any number of hydrogen atoms in the group may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, and are each independently -O- or -NH- , n represents an integer from 1 to 3, and r represents 0 or 1.)
제 5 항에 있어서,
상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 감광성 수지 조성물.
According to claim 5,
A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.
제 3 항에 있어서,
상기 수지 (E)가, 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는 수지인 감광성 수지 조성물.
Figure pat00076

(일반식 (1-1) 중, Ra는, 일반식 (1) 중의 Ra와 동일하고, Rc는, 수소 원자, 할로겐 원자, 탄화수소기, 및 함불소 알킬기(당해 탄화수소기 및 함불소 알킬기는, 직쇄 또는 분기쇄이고, 환상 구조를 포함할 수 있음)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기를 나타낸다. Rd는, 2가 또는 3가의 유기기로서, 당해 유기기는, 환상 구조를 포함하고 있어도 되는 직쇄 또는 분기쇄의 지방족 탄화수소기, 방향환기, 또는 그들의 복합 치환기로부터 선택되는 기로서, 수소 원자의 일부 또는 전부가 불소 원자 또는 수산기에 의해서 치환되어 있어도 된다. t는 1 또는 2를 나타낸다. 일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다.)
According to claim 3,
A photosensitive resin composition in which the resin (E) is a resin containing a structural unit represented by the following general formula (1-1) and a structural unit represented by the following general formula (5).
Figure pat00076

(In General Formula (1-1), Ra is the same as Ra in General Formula (1), and Rc is a hydrogen atom, a halogen atom, a hydrocarbon group, and a fluorinated alkyl group (the hydrocarbon group and the fluorinated alkyl group are: represents a group selected from the group consisting of (a straight chain or branched chain and may include a cyclic structure. Rd is a divalent or trivalent organic group, and the organic group is a straight chain or branched chain that may include a cyclic structure) A group selected from an aliphatic hydrocarbon group, an aromatic ring group, or a complex substituent group thereof, and some or all of the hydrogen atoms may be substituted with a fluorine atom or a hydroxyl group. t represents 1 or 2. In the general formula (5) , R 5 , and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)-O-, - Represents OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, A 2 represents a divalent linking group, and has 1 to 10 carbon atoms. represents a linear, branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the alkylene group are substituted by a hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 May be optional, and A 3 represents a divalent to tetravalent linking group, a linear hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, a branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogens in the hydrocarbon group. It may be substituted by valence, hydroxyl group, or -OC(=O)-CH 3 , Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, each independently represents -O- or -NH-, and n is 1 to 1. represents the integer of 3, and r represents 0 or 1.)
제 7 항에 있어서,
상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 감광성 수지 조성물.
According to claim 7,
A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.
제 3 항에 있어서,
상기 수지 (E)가, 하기 일반식 (1-1)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위와, 하기 일반식 (6)으로 나타내어지는 구성단위, 를 포함하는 수지인 감광성 수지 조성물.
Figure pat00077

(일반식 (1-1) 중, Ra는, 일반식 (1) 중의 Ra와 동일하고, Rc는, 수소 원자, 할로겐 원자, 탄화수소기, 및 함불소 알킬기(당해 탄화수소기 및 함불소 알킬기는, 직쇄 또는 분기쇄이고, 환상 구조를 포함할 수 있음)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기를 나타낸다. Rd는 2가 또는 3가의 유기기로서, 당해 유기기는, 환상 구조를 포함하고 있어도 되는 직쇄 또는 분기쇄의 지방족 탄화수소기, 방향환기, 또는 그들의 복합 치환기로부터 선택되는 기로서, 수소 원자의 일부 또는 전부가 불소 원자 또는 수산기에 의해서 치환되어 있어도 된다. t는 1 또는 2를 나타낸다. 일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다. 일반식 (6) 중, R7은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R8은 탄소수 1∼15의 직쇄상, 탄소수 3∼15의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼15의 환상의 알킬기를 나타내고, 당해 알킬기 중의 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자에 의해 치환되어 있다.)
According to claim 3,
The resin (E) contains a structural unit represented by the following general formula (1-1), a structural unit represented by the following general formula (5), and a structural unit represented by the following general formula (6). A photosensitive resin composition that is a resin.
Figure pat00077

(In General Formula (1-1), Ra is the same as Ra in General Formula (1), and Rc is a hydrogen atom, a halogen atom, a hydrocarbon group, and a fluorinated alkyl group (the hydrocarbon group and the fluorinated alkyl group are: represents a group selected from the group consisting of: a straight chain or branched chain and may include a cyclic structure. Rd is a divalent or trivalent organic group, and the organic group is a straight chain or branched group that may include a cyclic structure. It is a group selected from an aliphatic hydrocarbon group, an aromatic ring group, or a complex substituent group thereof, and some or all of the hydrogen atoms may be substituted with a fluorine atom or a hydroxyl group. t represents 1 or 2. In general formula (5), R 5 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)-O-, -OC (=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH- or -C(=O)-NH-, A 2 represents a divalent linking group, and has 1 to 10 carbon atoms. It represents a linear, branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, even if any number of hydrogen atoms in the alkylene group are substituted by a hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 and A 3 represents a 2-4 valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1-10 carbon atoms, a branched chain with 3-10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3-10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the hydrocarbon group is , may be substituted with a hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, each independently represents -O- or -NH-, and n is 1 to 3. represents an integer, and r represents 0 or 1. In general formula (6), R 7 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 8 represents a straight chain having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain having 3 to 15 carbon atoms, or a carbon number. Represents a 3 to 15 cyclic alkyl group, and any number of hydrogen atoms in the alkyl group are replaced by fluorine atoms.)
제 9 항에 있어서,
상기 함불소 수지 (D)를 100 질량부라고 하였을 경우에, 상기 수지 (E)를 30∼550 질량부 함유하는 감광성 수지 조성물.
According to clause 9,
A photosensitive resin composition containing 30 to 550 parts by mass of the resin (E), assuming that the fluorinated resin (D) is 100 parts by mass.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 수지 (E)의 불소 원자 함유율이 15∼60 질량%인, 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition wherein the resin (E) has a fluorine atom content of 15 to 60% by mass.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 상기 알칼리 가용성 수지 (C)의 함유량이 10∼70 질량%인, 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition wherein the content of the alkali-soluble resin (C) relative to the total solid content of the photosensitive resin composition is 10 to 70% by mass.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 상기 함불소 수지 (D)의 함유량이 0.01∼10 질량%인, 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition wherein the content of the fluorinated resin (D) relative to the total solid content of the photosensitive resin composition is 0.01 to 10% by mass.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
감광성 수지 조성물의 전 고형분에 대한 상기 수지 (E)의 함유량이 0.01∼10 질량%인, 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition wherein the content of the resin (E) relative to the total solid content of the photosensitive resin composition is 0.01 to 10% by mass.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 알칼리 가용성 수지 (C)와 상기 함불소 수지 (D)의 불소 원자 함유율의 차가 15∼60 질량%인 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition wherein the difference in fluorine atom content between the alkali-soluble resin (C) and the fluorinated resin (D) is 15 to 60% by mass.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 수지 (E)에 포함되는 상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이, 상기 수지 (E)를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만인 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
The content of the structure represented by the general formula (1) contained in the resin (E) is 0.1 mol% or more and less than 50 mol%, assuming that the total amount of structural units constituting the resin (E) is 100 mol%. Photosensitive resin composition.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조가 헥사플루오로이소프로판올기인 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition in which the structure represented by the general formula (1) is a hexafluoroisopropanol group.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 수지 (E)의 중량평균 분자량이 5,000 이상, 40,000 이하인 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition wherein the resin (E) has a weight average molecular weight of 5,000 or more and 40,000 or less.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
추가로 광라디칼 증감제, 연쇄이동제, 자외선흡수제 및 중합금지제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는, 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition further comprising at least one member selected from the group consisting of a photoradical sensitizer, a chain transfer agent, an ultraviolet absorber, and a polymerization inhibitor.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
격벽의 형성에 이용되는, 감광성 수지 조성물.
According to claim 1 or 3,
A photosensitive resin composition used for forming a partition.
제 1 항 또는 제 3 항에 기재된 감광성 수지 조성물로부터 얻어지는 수지막.A resin film obtained from the photosensitive resin composition according to claim 1 or 3. 제 21 항에 기재된 수지막을 경화시킨 경화물.A cured product obtained by curing the resin film according to claim 21. 제 22 항에 기재된 경화물로 구성되는 격벽.A partition comprised of the hardened|cured material of Claim 22. 제 23 항에 기재된 격벽과, 상기 격벽에 의해 구획되는 영역에 배치되는 발광층 또는 파장변환층을 구비하는 유기 전계 발광 소자.An organic electroluminescent device comprising the barrier rib according to claim 23 and a light emitting layer or wavelength conversion layer disposed in a region defined by the barrier rib. 제 23 항에 기재된 격벽을 구비하는 디스플레이.A display comprising the partition wall according to claim 23. 경화물의 제조 방법으로서,
제 1 항 또는 제 3 항에 기재된 감광성 수지 조성물을, 기판에 도포한 후, 가열함으로써 수지막을 얻는 성막 공정과,
상기 수지막에 고에너지선을 노광하는 노광 공정을 포함하는 경화물의 제조 방법.
As a method for producing a cured product,
A film forming step of obtaining a resin film by applying the photosensitive resin composition according to claim 1 or 3 to a substrate and then heating it;
A method of producing a cured product including an exposure process of exposing the resin film to high-energy rays.
하기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조를 갖는 구성단위와, 가교 부위를 갖는 구성단위를 갖는 함불소 수지.
Figure pat00078

(일반식 (1) 중, Ra는, 각각 독립적으로, 탄소수 1∼6의 직쇄상, 탄소수 3∼6의 분기쇄상 혹은 탄소수 3∼6의 환상의 알킬기 또는 불소 원자를 나타내고, 상기 알킬기는 임의의 수의 수소 원자가 불소 원자로 치환되어 있다.)
A fluorinated resin comprising a structural unit having a structure represented by the following general formula (1) and a structural unit having a crosslinking site.
Figure pat00078

(In General Formula (1), Ra each independently represents a linear alkyl group with 1 to 6 carbon atoms, a branched chain with 3 to 6 carbon atoms, or a cyclic alkyl group with 3 to 6 carbon atoms, or a fluorine atom, and the alkyl group is optional. Several hydrogen atoms are replaced with fluorine atoms.)
제 27 항에 있어서,
가교 부위를 갖는 구성단위로서, 하기 일반식 (5)로 나타내어지는 구성단위를 포함하는, 함불소 수지.
Figure pat00079

(일반식 (5) 중, R5, R6은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, W2는 2가의 연결기를 나타내고, -O-, -O-C(=O)-, -C(=O)-O-, -O-C(=O)-NH-, -C(=O)-O-C(=O)-NH- 또는 -C(=O)-NH-를 나타내고, A2는 2가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 알킬렌기를 나타내고, 당해 알킬렌기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, A3은 2∼4가의 연결기를 나타내고, 탄소수 1∼10의 직쇄상, 탄소수 3∼10의 분기쇄상 또는 탄소수 3∼10의 환상의 탄화수소기를 나타내고, 당해 탄화수소기 중의 임의의 수의 수소 원자가, 수산기 또는 -O-C(=O)-CH3에 의해 치환되어 있어도 되고, Y2, Y3은 2가의 연결기를 나타내고, 각각 독립적으로, -O- 또는 -NH-를 나타내고, n은 1∼3의 정수를 나타내고, r은 0 또는 1을 나타낸다.)
According to clause 27,
A fluorinated resin comprising, as a structural unit having a crosslinking site, a structural unit represented by the following general formula (5).
Figure pat00079

(In General Formula (5), R 5 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, W 2 represents a divalent linking group, -O-, -OC(=O)-, -C(= O)-O-, -OC(=O)-NH-, -C(=O)-OC(=O)-NH-, or -C(=O)-NH-, and A 2 is a divalent linking group. represents a linear alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, a branched chain having 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkylene group having 3 to 10 carbon atoms, and any number of hydrogen atoms in the alkylene group is a hydroxyl group or -OC (=O) It may be substituted by -CH 3 , and A 3 represents a 2 to 4 valent linking group, a linear hydrocarbon group with 1 to 10 carbon atoms, a branched chain with 3 to 10 carbon atoms, or a cyclic hydrocarbon group with 3 to 10 carbon atoms, and the hydrocarbon group Any number of hydrogen atoms in the group may be substituted by hydroxyl group or -OC(=O)-CH 3 , Y 2 and Y 3 represent a divalent linking group, and are each independently -O- or -NH- , n represents an integer from 1 to 3, and r represents 0 or 1.)
제 27 항에 있어서,
불소 원자 함유율이 15∼60 질량%인, 함불소 수지.
According to clause 27,
A fluorinated resin having a fluorine atom content of 15 to 60 mass%.
제 27 항에 있어서,
상기 일반식 (1)로 나타내어지는 구조의 함유량이, 상기 수지를 구성하는 구성단위의 합계량을 100 몰%로 하여, 0.1 몰% 이상, 50 몰% 미만인 함불소 수지.
According to clause 27,
A fluorinated resin in which the content of the structure represented by the general formula (1) is 0.1 mol% or more and less than 50 mol%, assuming that the total amount of structural units constituting the resin is 100 mol%.
제 27 항에 있어서,
중량평균 분자량이 5,000 이상, 40,000 이하인 함불소 수지.
According to clause 27,
Fluorinated resin with a weight average molecular weight of 5,000 or more and 40,000 or less.
제 27 항 내지 제 31 항 중 어느 한 항에 기재된 함불소 수지를 포함하는, 폴리머 블렌드.A polymer blend comprising the fluorinated resin according to any one of claims 27 to 31.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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