KR20240008791A - Holding apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article - Google Patents

Holding apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article Download PDF

Info

Publication number
KR20240008791A
KR20240008791A KR1020230085484A KR20230085484A KR20240008791A KR 20240008791 A KR20240008791 A KR 20240008791A KR 1020230085484 A KR1020230085484 A KR 1020230085484A KR 20230085484 A KR20230085484 A KR 20230085484A KR 20240008791 A KR20240008791 A KR 20240008791A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
optical element
elastic member
holding device
force against
paragraph
Prior art date
Application number
KR1020230085484A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
가츠히사 아오키
Original Assignee
캐논 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 캐논 가부시끼가이샤 filed Critical 캐논 가부시끼가이샤
Publication of KR20240008791A publication Critical patent/KR20240008791A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70833Mounting of optical systems, e.g. mounting of illumination system, projection system or stage systems on base-plate or ground
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70191Optical correction elements, filters or phase plates for controlling intensity, wavelength, polarisation, phase or the like
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70883Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of optical system
    • G03F7/70891Temperature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

외주에 평면을 갖는 광학 소자를 보유 지지하는 보유 지지 장치이며, 상기 평면에 맞닿는 맞닿음면을 포함하는 경통과, 상기 광학 소자의 광축 방향으로, 상기 광학 소자를 압박하는 제1 탄성 부재와, 상기 맞닿음면에 상기 평면을 압박하는 제2 탄성 부재를 갖는다.A holding device for holding an optical element having a flat surface on the outer periphery, comprising: a barrel including an abutting surface abutting the flat surface; a first elastic member that presses the optical element in the direction of the optical axis of the optical element; It has a second elastic member on the abutting surface that presses the plane.

Description

보유 지지 장치, 노광 장치 및 물품의 제조 방법{HOLDING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING ARTICLE}HOLDING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING ARTICLE}

본 발명은, 보유 지지 장치, 노광 장치 및 물품의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a holding device, an exposure device, and a method of manufacturing an article.

액정 패널이나 유기 EL 디스플레이, 혹은 반도체 디바이스 등의 제조에 있어서의 리소그래피 공정에서는, 감광제가 도포된 기판에 원판의 패턴을 전사하는 노광 장치가 사용된다. 노광 장치에 탑재되는 광학 소자에는 높은 위치 정밀도가 요구된다. 그러나, 노광광의 에너지에 의한 온도 변화에 의해 광학 소자나 광학 소자를 보유 지지하는 보유 지지 장치가 열팽창되어, 광학 소자의 위치 변화가 발생할 수 있다.In the lithography process in the manufacture of liquid crystal panels, organic EL displays, or semiconductor devices, an exposure device is used to transfer a pattern of an original plate to a substrate coated with a photosensitive agent. Optical elements mounted on exposure equipment require high positional accuracy. However, the optical element or the holding device holding the optical element may thermally expand due to a temperature change due to the energy of the exposure light, resulting in a change in the position of the optical element.

특허문헌 1에는, 외부 환경 변화에 의해 광학 소자가 직경 방향으로 변화된 경우라도, 광학 소자의 위치를 높은 정밀도로 유지할 수 있는 내용이 개시되어 있다.Patent Document 1 discloses that the position of an optical element can be maintained with high precision even when the optical element changes in the radial direction due to changes in the external environment.

일본 특허 공개 제2007-188010호 공보Japanese Patent Publication No. 2007-188010

그러나, 특허문헌 1에서는 광학 소자의 광축에 대하여 회전하는 방향의 유지를 고정밀도로 행하지 못할 우려가 있다. 그 때문에, 회전 대칭이 아닌 특성을 갖는 광학 소자를 보유 지지하는 경우에는, 원하는 광학 성능을 달성하지 못하게 될 우려가 있다.However, in Patent Document 1, there is a risk that the direction of rotation of the optical element with respect to the optical axis may not be maintained with high precision. Therefore, when holding an optical element having characteristics other than rotational symmetry, there is a risk that the desired optical performance may not be achieved.

이에, 본 발명은, 광학 소자의 보유 지지를 고정밀도로 행하는 데 유리한 보유 지지 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Accordingly, the purpose of the present invention is to provide a holding device that is advantageous for holding an optical element with high precision.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 일측면으로서의 보유 지지 장치는, 외주에 평면을 갖는 광학 소자를 보유 지지하는 보유 지지 장치이며, 상기 평면에 맞닿는 맞닿음면을 포함하는 경통과, 상기 광학 소자의 광축 방향으로, 상기 광학 소자를 압박하는 제1 탄성 부재와, 상기 맞닿음면에 상기 평면을 압박하는 제2 탄성 부재를 갖는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a holding device as one aspect of the present invention is a holding device that holds an optical element having a flat surface on the outer periphery, a lens passage including an abutting surface abutting the flat surface, and the optical element. It is characterized by having a first elastic member that presses the optical element in the direction of the optical axis, and a second elastic member that presses the flat surface on the contact surface.

본 발명의 또 다른 특징은 이하의 예시적인 실시예의 설명(첨부된 도면 참조)으로부터 명백해질 것이다.Further features of the present invention will become apparent from the following description of exemplary embodiments (see accompanying drawings).

본 발명에 따르면, 광학 소자의 보유 지지를 고정밀도로 행하는 데 유리한 보유 지지 장치를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a holding device that is advantageous for holding an optical element with high precision.

도 1은 제1 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 사시도이다.
도 2는 제1 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 분해도이다.
도 3은 제1 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 측면도와 정면도이다.
도 4는 제1 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 단면도이다.
도 5는 제2 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 사시도이다.
도 6은 제2 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 분해도이다.
도 7은 제2 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 측면도와 정면도이다.
도 8은 제2 실시 형태에 있어서의 보유 지지 장치의 단면도이다.
도 9는 본 발명의 일측면으로서의 노광 장치의 구성을 나타내는 개략도이다.
도 10은 조명 광학계의 구성을 나타내는 개략도이다.
Fig. 1 is a perspective view of the holding device in the first embodiment.
Fig. 2 is an exploded view of the holding device in the first embodiment.
Figure 3 is a side view and a front view of the holding device in the first embodiment.
Fig. 4 is a cross-sectional view of the holding device in the first embodiment.
Fig. 5 is a perspective view of the holding device in the second embodiment.
Fig. 6 is an exploded view of the holding device in the second embodiment.
Fig. 7 is a side view and a front view of the holding device in the second embodiment.
Fig. 8 is a cross-sectional view of the holding device in the second embodiment.
Figure 9 is a schematic diagram showing the configuration of an exposure apparatus as one aspect of the present invention.
Figure 10 is a schematic diagram showing the configuration of an illumination optical system.

이하에, 본 발명의 바람직한 실시 형태를 첨부의 도면에 기초하여 상세하게 설명한다. 또한, 각 도면에 있어서, 동일한 부재에 대해서는 동일한 참조 번호를 붙이고, 중복되는 설명은 생략한다.Below, preferred embodiments of the present invention will be described in detail based on the attached drawings. In addition, in each drawing, the same reference numbers are assigned to the same members, and overlapping descriptions are omitted.

<제1 실시 형태><First embodiment>

먼저, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 본 실시 형태의 보유 지지 장치에 대하여 설명한다. 도 1은, 보유 지지 장치(101)의 사시도이다. 도 2는, 도 1의 분해도이다. 도 3의 (a)는, 보유 지지 장치(101)의 측면도, 도 3의 (b)는, 보유 지지 장치(101)의 정면도이다. 도 4는, 도 3의 (a)에 나타낸 A-A의 단면도이다. 본 실시 형태에 있어서, 광학 소자(2)의 광축 방향을 Z방향이라고 정의하고, Z방향에 대하여 수직인 방향을 X방향 및 Y방향이라고 정의한다. 본 실시 형태에 있어서, 보유 지지 장치(101)는, 광학 소자(2)(예를 들어, 렌즈나 광학 필터 등의 유리 부재)를 보유 지지한다.First, with reference to FIGS. 1 to 4, the holding device of this embodiment will be described. Figure 1 is a perspective view of the holding device 101. Figure 2 is an exploded view of Figure 1. FIG. 3 (a) is a side view of the holding device 101, and FIG. 3 (b) is a front view of the holding device 101. Figure 4 is a cross-sectional view taken along line A-A shown in Figure 3(a). In this embodiment, the optical axis direction of the optical element 2 is defined as the Z direction, and directions perpendicular to the Z direction are defined as the X and Y directions. In this embodiment, the holding device 101 holds the optical element 2 (for example, a glass member such as a lens or an optical filter).

보유 지지 장치(101)는, 경통(1)과, 스페이서 부재(3)와, 판 스프링(4)(제1 탄성 부재)과, 나사(5)와, 플런저(6)(제2 탄성 부재)를 갖는다. 광학 소자(2)는, 환상의 스페이서 부재(3)를 통해, 판 스프링(4)(제1 탄성 부재)에 의해 압박됨으로써, Z방향(광축 방향)으로 위치 결정을 한 상태에서 탄성 유지된다. 판 스프링(4)은 나사(5)에 의해 경통(1)에 고정된다. 판 스프링(4)은, 광학 소자(2)를 안정적으로 보유 지지하기 위해, 광학 소자의 주위 방향을 따라 복수 배치될 수 있다.The holding device 101 includes a barrel 1, a spacer member 3, a leaf spring 4 (first elastic member), a screw 5, and a plunger 6 (second elastic member). has The optical element 2 is elastically maintained while positioned in the Z direction (optical axis direction) by being pressed by the leaf spring 4 (first elastic member) through the annular spacer member 3. The leaf spring (4) is fixed to the barrel (1) by a screw (5). In order to stably hold the optical element 2, a plurality of leaf springs 4 may be arranged along the circumferential direction of the optical element 2.

광학 소자(2)는, 플런저(6)(제2 탄성 부재)에 의해 압박됨으로써, 경통(1)의 맞닿음면(1a)과 광학 소자(2)의 평면(2a)이 맞닿도록, X방향이고 또한 θ방향(광축을 중심으로 하는 각도 방향)으로 위치 결정을 한 상태에서 탄성 유지된다. 경통(1)에는 관통 구멍이 마련되어 있고, 관통 구멍의 각각에 플런저(6)가 배치되어 있다. 관통 구멍 및 플런저(6)는 단수여도 되고 복수여도 된다. 플런저(6)는, 선단의 볼이 동작하는 볼 플런저나 선단의 핀이 동작하는 핀 플런저일 수 있다.The optical element 2 is pressed by the plunger 6 (second elastic member) in the and is elastically maintained while positioned in the θ direction (angular direction centered on the optical axis). The barrel 1 is provided with a through hole, and a plunger 6 is disposed in each of the through holes. The through hole and plunger 6 may be singular or plural. The plunger 6 may be a ball plunger in which a ball at the tip moves or a pin plunger in which a pin at the tip moves.

또한, 본 실시 형태에 있어서의 광학 소자(2)는, 외주에 평면(2a)을 갖는, 비회전 대칭 형상의 소자이다. 맞닿음면(1a)과 평면(2a)이 접촉함으로써, 광학 소자(2)가 Z방향으로 회전하지 않도록 보증할 수 있다. 또한, 스페이서 부재(3)가 배치됨으로써, 판 스프링(4)으로부터의 압박력을 균일하게 하여 광학 소자(2)로 전달할 수 있다. 또한, 스페이서 부재(3)가 배치됨으로써, 스페이서 부재(3)에서 광이 차광되기 때문에, 광학 소자(2)가 수광하는 영역을 임의의 영역이 되도록 설정할 수도 있다. 스페이서 부재는 진원의 개구를 가질 수 있다. 또한, 평면(2a)에서 탄성 유지를 행할 때, 곡면에서 탄성 유지를 행하는 경우에 비해, 유지하기 쉬운 효과도 있다.In addition, the optical element 2 in this embodiment is a non-rotationally symmetric element having a plane 2a on the outer periphery. By contacting the contact surface 1a with the plane 2a, it is possible to ensure that the optical element 2 does not rotate in the Z direction. Additionally, by disposing the spacer member 3, the pressing force from the leaf spring 4 can be uniformly transmitted to the optical element 2. Additionally, since the spacer member 3 blocks light by disposing the spacer member 3, the area where the optical element 2 receives light can be set to be any area. The spacer member may have a circular opening. Additionally, when elastic holding is performed on a flat surface 2a, there is an effect of making it easier to hold compared to when elastic holding is performed on a curved surface.

본 실시 형태에 있어서, 맞닿음면(1a)은, 광학 소자(2)의 θ방향(광축을 중심으로 하는 각도 방향)의 위치를 정하는 역할을 하는 면이다. 맞닿음면(1a)이 마련되어 있음으로써 광학 소자(2)가 θ방향으로 회전 어긋나 버리는 것을 방지하는 것이 가능하다. 또한, 광학 소자(2)는, 외주에 평면(2a)뿐만 아니라, 곡면도 더 가질 수 있다.In this embodiment, the contact surface 1a is a surface that serves to determine the position of the optical element 2 in the θ direction (angular direction centered on the optical axis). By providing the contact surface 1a, it is possible to prevent the optical element 2 from being rotated out of alignment in the θ direction. Additionally, the optical element 2 may have not only a flat surface 2a but also a curved surface on its outer periphery.

다음으로, 판 스프링(4)이나 플런저(6)에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력에 대하여 설명한다. 여기서, 판 스프링(4)이 광학 소자(2)에 압박하는 Z방향의 압박력을 F1이라고 한다. 또한, 판 스프링(4)이 광학 소자(2)에 압박하는 X방향의 마찰력을 Fa라고 한다. 또한, 플런저(6)가 광학 소자(2)에 압박하는 X방향의 압박력을 F2라고 한다. 또한, 플런저(6)가 광학 소자(2)에 압박하는 Z방향의 마찰력을 Fb라고 한다.Next, the pressing force on the optical element 2 by the leaf spring 4 or plunger 6 will be explained. Here, the Z-direction pressing force exerted by the leaf spring 4 on the optical element 2 is referred to as F1. Additionally, the frictional force in the X direction exerted by the leaf spring 4 on the optical element 2 is referred to as Fa. Additionally, the pressing force in the X direction applied by the plunger 6 to the optical element 2 is referred to as F2. Additionally, the frictional force in the Z direction with which the plunger 6 presses against the optical element 2 is referred to as Fb.

본 실시 형태에서는, F1>Fb, 또한 F2>Fa가 되도록, 판 스프링(4) 및 플런저(6)의 탄성력이 설정된다. 즉, 제1 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 마찰력보다도 제2 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력이 강하고, 또한 제2 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 마찰력보다도 제1 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력이 강해지도록 설정된다.In this embodiment, the elastic forces of the leaf spring 4 and the plunger 6 are set so that F1>Fb and F2>Fa. That is, the pressing force against the optical element 2 by the second elastic member is stronger than the frictional force against the optical element 2 by the first elastic member, and is stronger than the frictional force against the optical element 2 by the second elastic member. It is set so that the pressing force on the optical element 2 by the first elastic member becomes strong.

상기 설정에 의해, 예를 들어 보유 지지 장치(101) 및 광학 소자(2)를 수송할 때의 충격에 의해 광학 소자(2)가 Z방향으로 움직인다고 해도, 광학 소자(2)에 가해지는 마찰력 Fb보다도, 판 스프링(4)에 의한 압박력 F1이 크기 때문에, 광학 소자(2)가 원래의 Z방향으로 위치 결정된 상태로 복귀된다.With the above settings, for example, even if the optical element 2 moves in the Z direction due to an impact when transporting the holding device 101 and the optical element 2, the frictional force Fb applied to the optical element 2 Moreover, since the pressing force F1 caused by the leaf spring 4 is large, the optical element 2 returns to its original position in the Z direction.

또한, 광학 소자(2)가 X방향으로 움직인다고 해도, 광학 소자(2)에 가해지는 마찰력 Fa보다도, 플런저(6)에 의한 압박력 F2가 크기 때문에, 광학 소자(2)가 원래의 X방향으로 위치 결정된 상태로 복귀된다.In addition, even if the optical element 2 moves in the It is returned to the determined state.

따라서, 본 실시 형태에 따르면, 보유 지지 장치(101)가 온도나 수송의 충격의 영향을 받아도, 광학 소자(2)는, 판 스프링(4) 및 플런저(6)에 의해, 경통(1)에 계속해서 압박된다. 이에 의해, 광학 소자(2)는, 경통(1)에 대하여 덜걱거림이 발생하지 않아, 고정밀도로 위치 결정을 행할 수 있다. 즉, 보유 지지 장치(101)는, 광학 소자(2)의 보유 지지를 고정밀도로 행할 수 있다.Therefore, according to the present embodiment, even if the holding device 101 is affected by temperature or transportation shock, the optical element 2 is attached to the barrel 1 by the leaf spring 4 and the plunger 6. The pressure continues. As a result, the optical element 2 does not rattle against the lens barrel 1 and can be positioned with high precision. That is, the holding device 101 can hold the optical element 2 with high precision.

<제2 실시 형태><Second Embodiment>

본 실시 형태에서는, 광학 소자에 마련된 복수의 평면의 각각을 플런저에 의해 탄성 유지하는 예에 대하여 설명한다. 또한, 본 실시 형태에서 설명하지 않는 구성에 대해서는 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에 설명을 생략한다. 본 실시 형태에서 언급하지 않는 사항에 대해서는, 제1 실시 형태에 따른다.In this embodiment, an example in which each of a plurality of planes provided in the optical element is elastically held by a plunger will be described. In addition, descriptions of configurations not described in this embodiment are omitted since they are the same as those in the first embodiment. Matters not mentioned in this embodiment follow the first embodiment.

도 5 내지 도 8을 참조하여, 본 실시 형태의 보유 지지 장치(201)에 대하여 설명한다. 도 5는, 보유 지지 장치(201)의 사시도이다. 도 6은, 도 5의 분해도이다. 도 7의 (a)는, 보유 지지 장치(201)의 측면도, 도 7의 (b)는 정면도이다. 도 8은, 도 7의 (a)에 나타낸 A-A의 단면도이다.With reference to FIGS. 5 to 8, the holding device 201 of this embodiment will be described. Figure 5 is a perspective view of the holding device 201. Figure 6 is an exploded view of Figure 5. Figure 7(a) is a side view of the holding device 201, and Figure 7(b) is a front view. Fig. 8 is a cross-sectional view taken along line A-A shown in Fig. 7(a).

광학 소자(2)는, 판 스프링(4)(제1 탄성 부재) 및 플런저(6)(제2 탄성 부재)에 의해, 경통(1)에 위치 결정 및 탄성 유지된다. 또한, 광학 소자(2)는, 플런저(7)(제3 탄성 부재)에 의해, 경통(1)에 마련된 맞닿음면(1b)(제2 맞닿음면)과, 광학 소자(2)의 평면(2b)(제2 평면)이 맞닿도록, Y방향으로 위치 결정을 한 상태에서 탄성 유지된다.The optical element 2 is positioned and elastically held in the barrel 1 by the leaf spring 4 (first elastic member) and plunger 6 (second elastic member). In addition, the optical element 2 has an abutment surface 1b (second abutment surface) provided on the barrel 1 by the plunger 7 (a third elastic member), and a flat surface of the optical element 2. (2b) It is elastically maintained while positioned in the Y direction so that (second plane) contacts it.

즉, 광학 소자(2)는 플런저(6) 및 플런저(7)와, 맞닿음면(1a) 및 맞닿음면(1b)에 의해, X방향, Y방향 또한 θ방향(광축을 중심으로 하는 각도 방향)으로 위치 결정된 상태에서 탄성 유지된다.That is, the optical element 2 is formed by the plunger 6 and the plunger 7, and the contact surface 1a and the contact surface 1b, in the It is maintained elastically in a positioned position (direction).

이상의 구성에 의해, 온도 변화에 의해 광학 소자(2)나 보유 지지 장치(201)가 열팽창되어도, 광학 소자(2)는, 판 스프링(4), 플런저(6) 및 플런저(7)에 의해, 경통(1)에 계속해서 압박된다. 따라서, 광학 소자(2)는 경통(1)에 대하여 덜걱거림이 발생하지 않아, 상술한 위치 결정 상태가 유지된다.With the above configuration, even if the optical element 2 and the holding device 201 are thermally expanded due to temperature changes, the optical element 2 is maintained by the leaf spring 4, plunger 6, and plunger 7. There is continuous pressure on the cervical barrel (1). Accordingly, the optical element 2 does not rattle against the lens barrel 1, and the above-described positioning state is maintained.

다음으로, 판 스프링(4), 플런저(6), 플런저(7)에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력에 대하여 설명한다. 여기서, 판 스프링(4)이 광학 소자(2)에 압박하는 Z방향의 압박력을 F1이라고 한다. 또한, 판 스프링(4)이 광학 소자(2)에 압박하는 X방향의 마찰력을 Fax, Y방향의 마찰력을 Fay라고 한다. 또한, 플런저(6)가 광학 소자(2)에 압박하는 X방향의 압박력을 F2라고 한다. 또한, 플런저(6)가 광학 소자(2)에 압박하는 Y방향의 마찰력을 Fby, Z방향의 마찰력을 Fbz라고 한다. 또한, 플런저(7)가 광학 소자(2)에 압박하는 Y방향의 압박력을 F3이라고 한다. 또한, 플런저(7)가 광학 소자(2)에 압박하는 X방향의 마찰력을 Fcx, Z방향의 마찰력을 Fcz라고 한다.Next, the pressing force on the optical element 2 by the leaf spring 4, plunger 6, and plunger 7 will be explained. Here, the Z-direction pressing force exerted by the leaf spring 4 on the optical element 2 is referred to as F1. Additionally, the frictional force in the Additionally, the pressing force in the X direction applied by the plunger 6 to the optical element 2 is referred to as F2. Additionally, the frictional force in the Y direction with which the plunger 6 presses against the optical element 2 is referred to as Fby, and the frictional force in the Z direction is referred to as Fbz. Additionally, the Y-direction pressing force exerted by the plunger 7 on the optical element 2 is referred to as F3. In addition, the frictional force in the

본 실시 형태에서는, F1>Fbz+Fcz, 또한 F2>Fax+Fcx, 또한 F3>Fay+Fby가 되도록, 판 스프링(4), 플런저(6), 플런저(7)의 탄성력이 설정된다. 즉, Z방향에 있어서, 광학 소자(2)가 받는 마찰력의 합계보다도 제1 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력이 강해지도록 설정된다. 또한, X방향에 있어서, 광학 소자(2)가 받는 마찰력의 합계보다도 제2 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력이 강해지도록 설정된다. 또한, Y방향에 있어서, 광학 소자(2)가 받는 마찰력의 합계보다도 제3 탄성 부재에 의한 광학 소자(2)에 대한 압박력이 강해지도록 설정된다.In this embodiment, the elastic forces of the leaf spring 4, plunger 6, and plunger 7 are set so that F1>Fbz+Fcz, F2>Fax+Fcx, and F3>Fay+Fby. That is, in the Z direction, the pressing force on the optical element 2 by the first elastic member is set to be stronger than the sum of the frictional forces experienced by the optical element 2. Additionally, in the Additionally, in the Y direction, the pressing force on the optical element 2 by the third elastic member is set to be stronger than the sum of the frictional forces experienced by the optical element 2.

상기 설정에 의해, 예를 들어 보유 지지 장치(201) 및 광학 소자(2)를 수송할 때의 충격에 의해 광학 소자(2)가 Z방향으로 움직인다고 해도, 광학 소자(2)에 가해지는 마찰력 Fbz+Fcz보다도, 판 스프링(4)에 의한 압박력 F1이 크다. 따라서, 광학 소자(2)가 원래의 Z방향으로 위치 결정된 상태로 복귀된다. 또한, 광학 소자(2)가 X방향으로 움직인다고 해도, 광학 소자(2)에 가해지는 마찰력 Fax+Fcx보다도, 플런저(6)에 의한 압박력 F2가 크기 때문에, 광학 소자(2)가 원래의 X방향으로 위치 결정된 상태로 복귀된다. 또한, 광학 소자(2)가 Y방향으로 움직인다고 해도, 광학 소자(2)에 가해지는 마찰력 Fay+Fby보다도, 플런저(7)에 의한 압박력 F3이 크기 때문에, 광학 소자(2)가 원래의 Y방향으로 위치 결정된 상태로 복귀된다.With the above settings, for example, even if the optical element 2 moves in the Z direction due to an impact when transporting the holding device 201 and the optical element 2, the frictional force Fbz applied to the optical element 2 The pressing force F1 caused by the leaf spring 4 is greater than +Fcz. Accordingly, the optical element 2 is returned to its original position in the Z direction. Furthermore, even if the optical element 2 moves in the It returns to the positioned state. Furthermore, even if the optical element 2 moves in the Y direction, the pressing force F3 caused by the plunger 7 is greater than the friction force Fay+Fby applied to the optical element 2, so the optical element 2 moves in the original Y direction. It returns to the positioned state.

따라서, 본 실시 형태에 따르면, 보유 지지 장치(201)가 온도나 수송의 충격의 영향을 받아도, 광학 소자(2)는, 판 스프링(4), 플런저(6) 및 플런저(7)에 의해, 경통(1)에 계속해서 압박된다. 이에 의해, 광학 소자(2)는, 경통(1)에 대하여 덜걱거림이 발생하지 않아, 고정밀도로 위치 결정을 행할 수 있다. 즉, 보유 지지 장치(201)는, 광학 소자(2)의 보유 지지를 고정밀도로 행할 수 있다.Therefore, according to this embodiment, even if the holding device 201 is affected by temperature or transportation shock, the optical element 2 is maintained by the leaf spring 4, plunger 6, and plunger 7, There is continuous pressure on the cervical barrel (1). As a result, the optical element 2 does not rattle against the lens barrel 1 and can be positioned with high precision. That is, the holding device 201 can hold the optical element 2 with high precision.

이하, 도 9를 참조하여, 노광 장치(500)에 대하여 설명한다. 이하에는 노광 장치를 예로 들어 설명하지만, 기판에 패턴을 형성하는 리소그래피 장치이면 된다. 노광 장치(500)는, 반도체 디바이스나 액정 표시 소자의 제조 공정인 리소그래피 공정에 채용되어, 기판에 패턴을 형성하는 리소그래피 장치이다. 노광 장치(500)는, 마스크(원판이나 레티클)를 개재하여 기판을 노광하여, 마스크의 패턴을 기판에 전사한다.Hereinafter, the exposure apparatus 500 will be described with reference to FIG. 9 . Below, an exposure device will be described as an example, but any lithographic device that forms a pattern on a substrate will suffice. The exposure apparatus 500 is a lithography device used in a lithography process, which is a manufacturing process for semiconductor devices and liquid crystal display elements, to form a pattern on a substrate. The exposure apparatus 500 exposes the substrate through a mask (original plate or reticle) and transfers the pattern of the mask to the substrate.

노광 장치(500)는, 도 9에 나타낸 바와 같이, 조명 광학계(510)와, 투영 광학계(520)와, 마스크(530)를 보유 지지하여 이동하는 마스크 스테이지(540)와, 기판(550)을 보유 지지하여 이동하는 기판 스테이지(560)를 갖는다. 또한, 노광 장치(500)는, CPU나 메모리 등을 포함하는 컴퓨터로 구성되어, 기억부에 기억된 프로그램에 따라 노광 장치(500)의 각 부를 통괄적으로 제어하여 노광 장치(500)를 동작시키는 제어부(570)를 갖는다.As shown in FIG. 9, the exposure apparatus 500 includes an illumination optical system 510, a projection optical system 520, a mask stage 540 that holds and moves the mask 530, and a substrate 550. It has a substrate stage 560 that holds and moves. In addition, the exposure apparatus 500 is composed of a computer including a CPU, memory, etc., and operates the exposure apparatus 500 by comprehensively controlling each part of the exposure apparatus 500 according to a program stored in a storage unit. It has a control unit 570.

조명 광학계(510)는, 도 10에 나타낸 바와 같이, 복수의 렌즈(512), 플라이아이 렌즈(513), 미러(514) 등의 광학 소자를 포함하고, 광원 LS로부터의 광으로 마스크(530)(피조명면)를 조명하는 광학계이다. 플라이아이 렌즈(513)는 광을 균일화하는 작용을 하는 광학계이다. 플라이아이 렌즈의 출사면에는, 개구 조리개(515)가 배치되고, 윤대 형상이나 4중극 형상의 2차 광원을 형성하기 위한 광학 필터가 배치될 수 있다. 예를 들어, 윤대 형상의 조리개는, 유리 필터에 타원 형상의 중심부를 차광하는 차광부가 마련되어 있다. 차광부가 타원 형상인 경우, 유리 필터의 광축에 대하여 회전하는 방향의 위치도 중요하기 때문에, 각 실시 형태에서 설명한 보유 지지 장치(101 또는 201)에 의해 각도 방향도 고정밀도로 보유 지지하는 것이 요구된다.As shown in FIG. 10, the illumination optical system 510 includes optical elements such as a plurality of lenses 512, a fly-eye lens 513, and a mirror 514, and illuminates the mask 530 with light from the light source LS. It is an optical system that illuminates the (illuminated surface). The fly-eye lens 513 is an optical system that functions to equalize light. An aperture stop 515 may be disposed on the exit surface of the FlyEye lens, and an optical filter for forming a secondary light source in an annular shape or a quadrupole shape may be disposed. For example, in an annulus-shaped aperture, a glass filter is provided with a light-shielding portion that blocks light from the oval-shaped center. When the light-shielding portion has an elliptical shape, the position in the direction of rotation with respect to the optical axis of the glass filter is also important, so it is required to hold the angular direction with high precision by the holding device 101 or 201 described in each embodiment.

조명 광학계(510)는, 광원 LS의 근방에 위치하는 광학계이기 때문에, 조명 광학계(510)를 구성하는 광학 소자나 이러한 광학 소자를 보유 지지하는 보유 지지 장치에는 열부하가 작용한다. 또한, 광학 소자는 보유 지지 장치에 보유 지지된 상태에서 수송될 수 있지만, 광학 소자를 수송할 때, 충격을 받아 위치 어긋남이 발생해 버릴 우려가 있다. 그래서, 조명 광학계(510)를 구성하는 광학 소자를 보유 지지하는 보유 지지 장치에는, 각 실시 형태에서 설명한 보유 지지 장치(101 또는 201)를 적용한다. 예를 들어, 조명 광학계(510)에 있어서의 개구 조리개(515)의 광학 필터를 보유 지지할 용도로 보유 지지 장치(101 또는 201)가 적용될 수 있다.Since the illumination optical system 510 is an optical system located near the light source LS, a thermal load acts on the optical elements constituting the illumination optical system 510 and the holding device holding these optical elements. Additionally, although the optical element can be transported while being held by a holding device, there is a risk that the optical element may be subjected to shock and become misaligned when transporting the optical element. Therefore, the holding device 101 or 201 described in each embodiment is applied to the holding device that holds the optical elements constituting the illumination optical system 510. For example, the holding device 101 or 201 may be applied to hold the optical filter of the aperture stop 515 in the illumination optical system 510.

마스크(530)는, 마스크 스테이지(540)에 보유 지지되어 있다. 마스크(530)에는, 기판(550)에 형성해야 할 패턴에 대응하는 패턴이 형성되어 있다. 기판(550)은, 기판 스테이지(560)에 보유 지지되어 있다. 마스크(530)와 기판(550)은, 투영 광학계(520)를 통해, 광학적으로 대략 공역의 위치(투영 광학계(520)의 물체면 및 상면의 위치)에 배치되어 있다. 투영 광학계(520)는, 물체를 상면에 투영하는 광학계이다. 투영 광학계(520)에는, 도 9에 나타내는 반사계뿐만 아니라, 굴절계나 반사 굴절계도 적용할 수 있다. 투영 광학계(520)는, 본 실시 형태에서는, 소정의 투영 배율을 갖고, 마스크(530)에 형성된 패턴을 기판(550)에 투영한다. 그리고, 마스크 스테이지(540) 및 기판 스테이지(560)를, 투영 광학계(520)의 물체면과 평행한 방향(예를 들어, X방향)으로, 투영 광학계(520)의 투영 배율에 따른 속도비로 주사한다. 이에 의해, 마스크(530)에 형성된 패턴을 기판(550)에 전사할 수 있다.The mask 530 is held on the mask stage 540 . A pattern corresponding to the pattern to be formed on the substrate 550 is formed on the mask 530 . The substrate 550 is held on the substrate stage 560 . The mask 530 and the substrate 550 are optically disposed through the projection optical system 520 at approximately conjugate positions (positions of the object surface and image surface of the projection optical system 520). The projection optical system 520 is an optical system that projects an object onto an image surface. In addition to the reflection system shown in FIG. 9, a refractometer or catadioptric system can also be applied to the projection optical system 520. In this embodiment, the projection optical system 520 has a predetermined projection magnification and projects the pattern formed on the mask 530 onto the substrate 550. Then, the mask stage 540 and the substrate stage 560 are scanned in a direction parallel to the object plane of the projection optical system 520 (for example, the X direction) at a speed ratio according to the projection magnification of the projection optical system 520. do. As a result, the pattern formed on the mask 530 can be transferred to the substrate 550.

<물품의 제조 방법의 실시 형태><Embodiment of manufacturing method of article>

본 발명의 실시 형태에 관한 물품의 제조 방법은, 예를 들어 플랫 패널 디스플레이(FPD), 반도체 디바이스, 센서나 광학 소자 등의 물품을 제조하는 데 적합하다. 본 실시 형태의 물품의 제조 방법은, 상기한 리소그래피 장치를 사용하여 기판에 패턴을 형성하는 형성 공정(형성 공정)과, 이러한 공정에서 패턴이 형성된 기판을 처리하는 공정(처리 공정)을 포함한다. 또한, 이러한 제조 방법은, 다른 주지의 공정(산화, 성막, 증착, 도핑, 평탄화, 에칭, 레지스트 박리, 다이싱, 본딩, 패키징 등)을 포함할 수 있다. 본 실시 형태의 물품의 제조 방법은, 종래의 방법에 비해, 물품의 성능·품질·생산성·생산 비용 중 적어도 하나에 있어서 유리하다.The method for manufacturing an article according to an embodiment of the present invention is suitable for manufacturing articles such as, for example, a flat panel display (FPD), a semiconductor device, a sensor, or an optical element. The manufacturing method of the article of this embodiment includes a forming process (forming process) of forming a pattern on a substrate using the above-described lithography apparatus, and a process of processing the substrate on which the pattern was formed in this process (processing process). Additionally, this manufacturing method may include other well-known processes (oxidation, film formation, deposition, doping, planarization, etching, resist stripping, dicing, bonding, packaging, etc.). The method for manufacturing an article of this embodiment is advantageous compared to a conventional method in at least one of product performance, quality, productivity, and production cost.

이상, 본 발명의 바람직한 실시 형태에 대하여 설명했지만, 본 발명은 이들 실시 형태에 한정되지 않는 것은 물론이고, 그 요지의 범위 내에서 다양한 변형 및 변경이 가능하다. 보유 지지 장치는, 예를 들어 반도체 제조 장치(성막 장치, 스퍼터 장치, 어닐 장치 등), 유기 EL 증착 장치, 나노임프린트 장치 등의 기판 처리 장치에 사용되는 광학 소자를 보유 지지하는 용도로 사용되어도 된다.Although preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and changes are possible within the scope of the gist. The holding device may be used to hold and support optical elements used in substrate processing devices such as semiconductor manufacturing equipment (film formation equipment, sputtering equipment, annealing equipment, etc.), organic EL deposition equipment, and nanoimprint equipment. .

1: 경통
1a: 맞닿음면
2: 광학 소자
2a: 평면
4: 판 스프링(제1 탄성 부재)
6: 플런저(제2 탄성 부재)
101, 201: 보유 지지 장치
1: Tube
1a: Contact surface
2: Optical element
2a: flat
4: Leaf spring (first elastic member)
6: Plunger (second elastic member)
101, 201: holding support device

Claims (13)

외주에 평면을 갖는 광학 소자를 보유 지지하는 보유 지지 장치이며,
상기 평면에 맞닿는 맞닿음면을 포함하는 경통과,
상기 광학 소자의 광축 방향으로, 상기 광학 소자를 압박하는 제1 탄성 부재와,
상기 맞닿음면에 상기 평면을 압박하는 제2 탄성 부재를 갖는 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
It is a holding device that holds and supports an optical element having a flat surface on the outer periphery,
A barrel including an abutment surface in contact with the plane,
a first elastic member that presses the optical element in the optical axis direction of the optical element;
A holding device characterized by having a second elastic member on the abutment surface that presses the plane.
제1항에 있어서,
상기 제1 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 마찰력보다도 상기 제2 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 압박력이 강하고, 또한 상기 제2 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 마찰력보다도 상기 제1 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 압박력이 강한 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
The pressing force against the optical element by the second elastic member is stronger than the frictional force against the optical element by the first elastic member, and the first elastic member is stronger than the frictional force against the optical element by the second elastic member. A holding device characterized in that the pressing force against the optical element is strong.
제1항에 있어서,
상기 광학 소자와 상기 제1 탄성 부재 사이에, 환상의 스페이서 부재가 배치되어 있는 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
A holding device characterized in that an annular spacer member is disposed between the optical element and the first elastic member.
제1항에 있어서,
복수의 상기 제2 탄성 부재로 상기 평면을 압박하는 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
A holding device, characterized in that the plane is pressed by a plurality of the second elastic members.
제1항에 있어서,
상기 광학 소자는, 상기 평면과는 다른 제2 평면을 더 갖고,
상기 경통은,
상기 제2 평면에 맞닿고, 상기 맞닿음면과는 다른 제2 맞닿음면을 더 포함하고,
상기 제2 맞닿음면에 마련된 관통 구멍에 배치되어, 상기 제2 평면을 압박하는 제3 탄성 부재를 더 갖는 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
The optical element further has a second plane different from the plane,
The barrel is,
It contacts the second plane and further includes a second contact surface different from the contact surface,
The holding device further includes a third elastic member disposed in a through hole provided in the second abutment surface and pressing the second plane.
제5항에 있어서,
상기 제1 탄성 부재 및 상기 제2 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 마찰력보다도 상기 제3 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 압박력이 강하고, 또한 상기 제2 탄성 부재 및 상기 제3 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 마찰력보다도 상기 제1 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 압박력이 강하고, 또한 상기 제1 탄성 부재 및 상기 제3 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 마찰력보다도 상기 제2 탄성 부재에 의한 상기 광학 소자에 대한 압박력이 강한 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to clause 5,
The pressing force against the optical element by the third elastic member is stronger than the frictional force against the optical element by the first elastic member and the second elastic member, and the pressing force by the second elastic member and the third elastic member is stronger than the frictional force against the optical element by the first elastic member and the second elastic member. The pressing force against the optical element by the first elastic member is stronger than the frictional force against the optical element, and the pressing force against the optical element by the first elastic member and the third elastic member is stronger than the frictional force against the optical element by the first elastic member and the third elastic member. A holding device characterized in that the pressing force against the optical element is strong.
제1항에 있어서,
상기 제1 탄성 부재는 판 스프링인 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
A holding device, characterized in that the first elastic member is a leaf spring.
제1항에 있어서,
상기 제2 탄성 부재는 플런저인 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
A holding device, characterized in that the second elastic member is a plunger.
제1항에 있어서,
상기 보유 지지 장치는, 차광부가 마련된 광학 필터를 보유 지지하는 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
The holding device is characterized in that it holds an optical filter provided with a light blocking portion.
제1항에 있어서,
상기 맞닿음면은, 상기 광학 소자의 광축을 중심으로 하는 각도 방향의 위치를 정하는 면인 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
A holding device characterized in that the contact surface is a surface that determines the position in the angular direction centered on the optical axis of the optical element.
제1항에 있어서,
상기 광학 소자는, 외주에 곡면을 더 포함하고,
상기 경통은, 상기 곡면에 맞닿는 면을 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 보유 지지 장치.
According to paragraph 1,
The optical element further includes a curved surface on the outer periphery,
The holding device, wherein the barrel further includes a surface that abuts the curved surface.
기판에 패턴을 형성하는 리소그래피 장치이며,
상기 기판에 형성해야 할 패턴에 대응하는 패턴이 형성된 마스크를 조명하는 조명 광학계와,
보유 지지 장치를 포함하고,
상기 조명 광학계는 광학 소자를 포함하고,
상기 보유 지지 장치는, 상기 광학 소자를 보유 지지하는 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 보유 지지 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는, 리소그래피 장치.
It is a lithographic device that forms a pattern on a substrate,
an illumination optical system that illuminates a mask on which a pattern corresponding to the pattern to be formed on the substrate is formed;
comprising a holding support device,
The illumination optical system includes an optical element,
A lithographic apparatus, wherein the holding device includes the holding device according to any one of claims 1 to 11 for holding the optical element.
제12항에 기재된 리소그래피 장치를 사용하여 기판에 패턴을 형성하는 형성 공정과,
상기 형성 공정에서 상기 패턴이 형성된 상기 기판을 처리하는 처리 공정을 포함하고,
상기 처리 공정에서 처리된 상기 기판으로부터 물품을 제조하는 것을 특징으로 하는, 물품의 제조 방법.
A forming process of forming a pattern on a substrate using the lithography apparatus according to claim 12;
A processing step of processing the substrate on which the pattern is formed in the forming step,
A method for manufacturing an article, characterized in that an article is manufactured from the substrate treated in the treatment process.
KR1020230085484A 2022-07-12 2023-07-03 Holding apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article KR20240008791A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022111885A JP2024010507A (en) 2022-07-12 2022-07-12 Holding device, exposure apparatus, and method for manufacturing article
JPJP-P-2022-111885 2022-07-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20240008791A true KR20240008791A (en) 2024-01-19

Family

ID=89439833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020230085484A KR20240008791A (en) 2022-07-12 2023-07-03 Holding apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2024010507A (en)
KR (1) KR20240008791A (en)
CN (1) CN117389113A (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007188010A (en) 2006-01-16 2007-07-26 Fujinon Corp Lens device, lens barrel and lens holding method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007188010A (en) 2006-01-16 2007-07-26 Fujinon Corp Lens device, lens barrel and lens holding method

Also Published As

Publication number Publication date
CN117389113A (en) 2024-01-12
JP2024010507A (en) 2024-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7253975B2 (en) Retainer, exposure apparatus, and device fabrication method
TWI407266B (en) Optically compensated unidirectional reticle bender
US7821726B2 (en) Optical element positioning apparatus, projection optical system and exposure apparatus
US7184227B2 (en) Optical unit, exposure unit and optical devices
JP2001318470A (en) Exposure system, micro-device, photomask and exposure method
JP2004258273A (en) Holding device
JP2004347814A (en) Holding device, exposure device, and device manufacturing method
JPH11194479A (en) Production of photomask and apparatus therefor
KR102193387B1 (en) Holding device, projection optical system, exposure device, and article manufacturing method
JP2006173305A (en) Aligner and its method, and device manufacturing method
JPH10253872A (en) Holding device for reflecting optical member and exposure device
US20110063740A1 (en) Supporting device, optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
TWI589942B (en) Optical member holding device, position adjusting method for optical member, exposure device, and device manufacturing method
KR20240008791A (en) Holding apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article
CN107783383B (en) Exposure apparatus, exposure method, and article manufacturing method
TW202417995A (en) Holding device, exposure device and method for manufacturing article
JPH0685385B2 (en) Exposure method
JP2004146792A (en) Holding device for optical member, illuminating optical device, exposure system, and method of exposure
TWI588621B (en) Illumination optical device, exposure apparatus, and method of manufacturing article
JP7446096B2 (en) Illumination optical system and article manufacturing method
TWI837434B (en) Illumination optical system, exposure device, and article manufacturing method
JP2937942B2 (en) Method and apparatus for manufacturing active matrix type liquid crystal display element
JP2818391B2 (en) Exposure equipment
JPH10116762A (en) Aligner and exposing method using the same
JP2003344741A (en) Correcting member, holding device, exposure device and device manufacturing method