KR20230165667A - Camera module and electronic device having the same - Google Patents
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Abstract
일 실시 예에 따른 전자 장치는, 하우징, 광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리, 하우징 내에서 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키도록 렌즈 어셈블리와 작동적으로 연결되는 AF 구동부를 포함할 수 있다. AF 구동부는 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 렌즈 어셈블리를 기준으로 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어, 하우징 내측에 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일, 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로, 하우징 내측에 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일, 및 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함할 수 있다. 제1 구동 회로는, 제1 AF 마그넷의 위치 및 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써 AF 캐리어를 통해 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키고, 제2 구동 회로는, 제1 AF 마그넷의 위치 및 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, AF 캐리어를 이용하여 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.
이 외에도 명세서를 통해 파악되는 다양한 실시 예가 가능하다.An electronic device according to an embodiment may include a housing, a lens assembly disposed along an optical axis, and an AF driver operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing. The AF driving unit is an AF carrier including a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in a first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. , a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet, a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control the current applied to the first AF coil, and a second AF magnet inside the housing. It may include a second AF coil disposed to face the second AF coil, and a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil. The first driving circuit moves the lens assembly in the optical axis direction through the AF carrier by controlling the current applied to the first AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet, and the second driving circuit By controlling the current applied to the second AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet, the lens assembly can be moved in the optical axis direction using the AF carrier.
In addition to this, various embodiments identified through the specification are possible.
Description
아래의 설명들은, 카메라 모듈을 포함하는 모바일 전자 장치에 관한 것이다. The descriptions below relate to a mobile electronic device including a camera module.
모바일 전자 장치의 기능이 다양화되면서 모바일 전자 장치를 이용한 이미지 촬영 기능의 향상에 대한 요구도 늘어나고 있다. 이에 따라 이미지 촬영 시 초점을 조절하기 위한 자동 초점(auto focus; AF) 기능이 발전하고 있다.As the functions of mobile electronic devices become more diverse, the demand for improved image capture functions using mobile electronic devices is also increasing. Accordingly, auto focus (AF) functions for controlling focus when taking images are being developed.
모바일 전자 장치에 적용되는 카메라는 전면 및 후면 중 적어도 하나에 위치하여 사진 및/또는 동영상을 촬영하는 기능을 제공하도록 동작할 수 있다. 영상을 촬영하는 경우, 사용자의 광학 이미지 안정화(optical image stabilization; OIS) 및 자동 초점(auto focus; AF) 기능을 위하여, 모바일 전자 장치는 광학계의 적어도 일부 또는 이미지 센서를 이동시켜 선명한 사진과 동영상을 취득하기 위한 액추에이터(actuator)를 포함할 수 있다. A camera applied to a mobile electronic device may be located on at least one of the front and rear sides and operate to provide the function of taking photos and/or videos. When shooting a video, the mobile electronic device moves at least part of the optical system or the image sensor for the user's optical image stabilization (OIS) and auto focus (AF) functions to take clear photos and videos. It may include an actuator for acquisition.
본 개시의 일 실시 예에 따른 전자 장치는 하우징, 광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리, 하우징 내에서 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키도록 렌즈 어셈블리와 작동적으로 연결되는 AF 구동부를 포함할 수 있다. AF 구동부는 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 렌즈 어셈블리를 기준으로 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어, 하우징 내측에 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일, 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로, 하우징 내측에 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일, 및 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함할 수 있다. 제1 구동 회로는, 제1 AF 마그넷의 위치 및 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써 AF 캐리어를 통해 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키고, 제2 구동 회로는, 제1 AF 마그넷의 위치 및 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, AF 캐리어를 이용하여 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.An electronic device according to an embodiment of the present disclosure may include a housing, a lens assembly disposed along an optical axis, and an AF driver operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing. The AF driving unit is an AF carrier including a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in a first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. , a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet, a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control the current applied to the first AF coil, and a second AF magnet inside the housing. It may include a second AF coil disposed to face the second AF coil, and a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil. The first driving circuit moves the lens assembly in the optical axis direction through the AF carrier by controlling the current applied to the first AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet, and the second driving circuit By controlling the current applied to the second AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet, the lens assembly can be moved in the optical axis direction using the AF carrier.
본 개시의 일 실시 예에 따른 카메라 모듈은, 하우징, 광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리, 하우징 내에서 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키도록 렌즈 어셈블리와 작동적으로 연결되는 AF 구동부를 포함할 수 있다. AF 구동부는 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 렌즈 어셈블리를 기준으로 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어, 하우징 내측에 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일, 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로, 하우징 내측에 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일, 및 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함할 수 있다. 제2 구동 회로는 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, AF 캐리어를 이용하여 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.A camera module according to an embodiment of the present disclosure may include a housing, a lens assembly disposed along an optical axis, and an AF driver operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing. The AF driving unit is an AF carrier including a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in a first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. , a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet, a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control the current applied to the first AF coil, and a second AF magnet inside the housing. It may include a second AF coil disposed to face the second AF coil, and a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil. The second driving circuit can control the current applied to the second AF coil to move the lens assembly in the optical axis direction using the AF carrier.
도 1은 일 실시 예에 따른 전자 장치 및 카메라 모듈에 대한 구조를 도시한 도면이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 카메라 모듈의 AF 구동부의 분해 사시도이다.
도 3은 일 실시 예에 따른 로렌츠 및 솔레노이드 타입으로 구동하는 OIS 구동부, 및 AF 구동부를 포함하는 카메라 모듈을 도시한 도면이다.
도 4는 일 실시 예에 따라 캘리브레이션 값에 기반하여 AF 구동부를 제어하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 볼 타입의 AF 구동부를 도시한다.
도 6은 일 실시 예에 따른 샤프트 타입의 AF 구동부를 도시한다.
도 7a는 일 실시 예에 따른 접힌 타입 광학계를 포함하는 볼 타입의 AF 구동부에 따른 광의 이동 경로를 도시한 도면이다.
도 7b는 일 실시 예에 따른 접힌 타입 광학계를 포함하는 샤프트 타입의 AF 구동부에 따른 광의 이동 경로를 도시한 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 AF 마그넷이 하단에 위치한 접힌 타입 광학계를 포함하는 카메라 모듈을 도시한다.
도 9는 일 실시 예에 따른 스트로크 조정공정을 통해 캘리브레이션 값을 결정하는 동작을 나타낸 흐름도이다.
도 10은 일 실시 예에 따른 추가 조정 공정을 통해 오프셋 값을 결정하는 동작을 나타낸 흐름도이다.
도 11은 일 실시 예에 따른 네트워크 환경 내의 전자 장치를 도시한 도면이다.
도 12는, 다양한 실시예들에 따른, 카메라 모듈을 예시하는 블럭도이다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.FIG. 1 is a diagram illustrating the structure of an electronic device and a camera module according to an embodiment.
Figure 2 is an exploded perspective view of an AF driving unit of a camera module according to an embodiment.
FIG. 3 is a diagram illustrating a camera module including an OIS driver and an AF driver driven by Lorentz and solenoid types according to an embodiment.
FIG. 4 is a diagram illustrating an operation of controlling an AF driver based on a calibration value according to an embodiment.
Figure 5 shows a ball-type AF driving unit according to an embodiment.
Figure 6 shows a shaft-type AF driving unit according to an embodiment.
FIG. 7A is a diagram illustrating a light movement path according to a ball-type AF driver including a folded-type optical system according to an embodiment.
FIG. 7B is a diagram illustrating a light movement path according to a shaft-type AF driving unit including a folded-type optical system according to an embodiment.
Figure 8 shows a camera module including a folded type optical system with an AF magnet located at the bottom, according to one embodiment.
Figure 9 is a flowchart showing an operation of determining a calibration value through a stroke adjustment process according to an embodiment.
Figure 10 is a flowchart illustrating an operation of determining an offset value through an additional adjustment process according to an embodiment.
FIG. 11 is a diagram illustrating an electronic device in a network environment according to an embodiment.
12 is a block diagram illustrating a camera module, according to various embodiments.
In relation to the description of the drawings, identical or similar reference numerals may be used for identical or similar components.
이하, 본 문서의 다양한 실시 예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나, 이는 본 문서를 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 문서의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. Hereinafter, various embodiments of this document are described with reference to the attached drawings. However, this is not intended to limit this document to specific embodiments, and should be understood to include various modifications, equivalents, and/or alternatives to the embodiments of this document.
도 1은 일 실시 예에 따른 전자 장치 및 카메라 모듈에 대한 구조를 도시한 도면이다.FIG. 1 is a diagram illustrating the structure of an electronic device and a camera module according to an embodiment.
도 1은 일 실시 예에 따른 카메라 모듈(180)(예: 도 11의 카메라 모듈(1180))을 장착한 전자 장치(100)(예: 도 11의 전자 장치(1101))의 외관 및 카메라 모듈(180)을 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 1의 실시 예는 모바일 기기, 예를 들어, 스마트 폰을 전제로 도시 및 설명되었으나, 다양한 전자 기기 또는 모바일 기기들 중 카메라를 탑재한 전자 기기에 적용될 수 있음은 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확히 이해될 것이다.1 shows the exterior and camera module of an electronic device 100 (e.g., the electronic device 1101 of FIG. 11) equipped with a camera module 180 (e.g., the
도 1을 참고하면, 일 실시 예에 따른 전자 장치(100)의 전면에는 디스플레이(110)가 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(110)는 전자 장치(100)의 전면의 대부분을 차지할 수 있다. 전자 장치(100)의 전면에는 디스플레이(110), 및 디스플레이(110)의 적어도 일부 가장자리를 둘러싸는 베젤(bezel)(190) 영역이 배치될 수 있다. 디스플레이(110)는 평면 영역(flat area)과 평면 영역에서 전자 장치(100)의 측면을 향해 연장되는 곡면 영역(curved area)을 포함할 수 있다. 도 1에 도시된 전자 장치(100)는 하나의 예시이며, 다양한 실시 예가 가능하다. 예를 들어, 전자 장치(100)의 디스플레이(110)는 곡면 영역 없이 평면 영역만 포함하거나 양측이 아닌 한 쪽 가장자리에만 곡면 영역을 구비할 수 있다. 또한 일 실시 예에서, 곡면 영역은 전자 장치의 후면으로 연장되어 전자 장치(100)는 추가적인 평면 영역을 구비할 수도 있다.Referring to FIG. 1, a
일 실시 예에서 전자 장치(100)는 추가적으로 스피커(speaker), 리시버, 전면 카메라, 근접 센서, 홈 키 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 후면 커버(150)가 전자 장치의 본체와 일체화되어 제공될 수도 있다. 일 실시 예에서, 후면 커버(150)가 전자 장치(100)의 본체로부터 분리되어, 배터리를 교체할 수 있는 형태를 가질 수 있다. 후면 커버(150)는 배터리 커버 또는 배면 커버로 참조될 수도 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에서, 디스플레이(110)의 일 영역(170)에 사용자의 지문 인식을 위한 지문 센서(171)가 포함될 수 있다. 지문 센서(171)는 디스플레이(110)의 아래 층에 배치됨으로써, 사용자에 의해 시인되지 않거나, 시인이 어렵게 배치될 수 있다. 또한, 지문 센서(171) 외에 추가적인 사용자 및/또는 생체 인증을 위한 센서가 디스플레이(110)의 일부 영역에 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 사용자 및/또는 생체 인증을 위한 센서는 베젤(190)의 일 영역에 배치될 수 있다. 예를 들어, 홍채 인증을 위한 IR 센서가 디스플레이(110)의 일 영역을 통해 노출되거나, 베젤(190)의 일 영역을 통해 노출될 수 있다.In one embodiment, a
일 실시 예에서, 전자 장치(100)의 전면의 일 영역(160)에는 전면 카메라(161)가 배치될 수 있다. 도 1의 실시 예에서는 전면 카메라(161)가 디스플레이(110)의 일 영역을 통해 노출되는 것으로 도시되었으나, 전면 카메라(161)가 베젤(190)을 통해 노출될 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(110)는 일 영역(160)의 배면에, 오디오 모듈(예: 도 11의 오디오 모듈(1170)), 센서 모듈(예: 도 11의 센서 모듈(1176), 또는 도 1의 센서(163)), 카메라 모듈(예: 도 11의 카메라 모듈(1180), 또는 도 1의 전면 카메라(161)), 및 발광 소자(미도시) 중 적어도 하나 이상을 포함할 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(100)의 전면 및/또는 측면에, 카메라 모듈이 상기 전면 및/또는 상기 측면을 향하도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 전면 카메라(161)는 일 영역(160)으로 시각적으로 노출되지 않을 수 있고, 감춰진 디스플레이 배면 카메라(under display camera; UDC)를 포함할 수 있다.In one embodiment, a
일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 하나 이상의 전면 카메라(161)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 제1 전면 카메라 및 제2 전면 카메라와 같이 2개의 전면 카메라를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 전면 카메라와 제2 전면 카메라는 동등한 사양(예: 화소)을 가지는 동종의 카메라일 수 있다. 또한, 제1 전면 카메라와 제2 전면 카메라는 다른 사양의 카메라로 구현될 수 있다. 전자 장치(100)는 2개의 전면 카메라를 통해 듀얼 카메라와 관련된 기능(예: 3D 촬영, 자동 초점(auto focus))을 지원할 수 있다. 상기 언급된 전면 카메라에 대한 설명은 전자 장치(100)의 후면 카메라에 동일 또는 유사하게 적용될 수 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 플래시와 같이 촬영을 보조하는 각종 하드웨어나 센서(163)가 추가적으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 피사체와 전자 장치(100) 사이의 거리를 감지하기 위한 거리 센서(예: TOF 센서)가 더 포함될 수 있다. 상기 거리 센서는 전면 카메라 및/또는 후면 카메라에 모두 적용될 수 있다. 상기 거리 센서는 별도로 배치되거나 포함되어 전면 카메라 및/또는 후면 카메라에 배치될 수 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에서, 전자 장치(100)의 측면부에는 적어도 하나의 물리 키가 배치될 수 있다. 예를 들어, 디스플레이(110)를 ON 및/또는 OFF하거나 전자 장치(100)의 전원을 ON 및/또는 OFF하기 위한 제1 기능 키(151)가 전자 장치(100)의 전면을 기준으로 우측 가장자리에 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 전자 장치(100)의 볼륨을 제어하거나 화면 밝기를 제어하기 위한 제2 기능 키(152)가 전자 장치(100)의 전면을 기준으로 좌측 가장자리에 배치될 수 있다. 이 외에도 추가적은 버튼이나 키가 전자 장치(100)의 전면이나 후면에도 배치될 수 있다. 예를 들어, 전면의 베젤(190) 중 하단 영역에 특정 기능에 맵핑된 물리 버튼이나 터치 버튼이 배치될 수 있다.In one embodiment, at least one physical key may be placed on the side of the
도 1에 도시된 전자 장치(100)는 하나의 예시에 해당하며, 본 개시에 개시된 기술적 사상이 적용되는 장치의 형태를 제한하는 것은 아니다. 예를 들어, 플렉서블 디스플레이 및 힌지 구조를 채용하여 가로 방향으로 폴딩이 가능하거나 세로 방향으로 폴딩이 가능한 폴더블 전자 장치나, 롤링이 가능한 롤러블 전자 장치나, 태블릿 또는 노트북에도 본 개시의 기술적 사상이 적용될 수 있다. 또한, 같은 방향을 향하는 제1 카메라와 제2 카메라가, 장치의 회전, 접힘, 변형 중 적어도 하나를 통해 다른 방향을 향하도록 배치되는 것이 가능한 경우에도 본 기술적 사상은 적용될 수 있다.The
도 1을 참조하면, 일 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 카메라 모듈(180)을 포함할 수 있다. 카메라 모듈(180)(예: 도 11의 카메라 모듈(1180))은 렌즈 어셈블리(111), 하우징(113), 적외선 차단 필터(infrared cut filter)(115), 이미지 센서(120) 및 이미지 시그널 프로세서(image signal processor)(130)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1 , an
일 실시 예에서, 렌즈 어셈블리(111)는 전면 카메라와 후면 카메라에 따라 렌즈의 개수, 배치, 종류 중 적어도 하나가 서로 다를 수 있다. 렌즈 어셈블리의 타입에 따라 전면 카메라와 후면 카메라는 서로 다른 특성(예: 초점 거리, 최대 배율)을 가질 수 있다. 상기 렌즈는 광축(미도시)을 따라 전, 후로 움직일 수 있으며, 초점 거리를 변화시켜 피사체가 되는 대상 객체가 선명하게 찍힐 수 있도록 동작할 수 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, 광은 렌즈 어셈블리(111)의 전방(예: +z 방향)에서 후방(예: -z 방향)으로 진행할 수 있다. 렌즈 어셈블리(111)의 상기 전방에서 렌즈 어셈블리(111)의 최전방의 렌즈로 입사한 광은, 복수의 렌즈들을 거쳐 렌즈 어셈블리(111)의 후방으로 진행할 수 있다.According to one embodiment, light may travel from the front (eg, +z direction) to the rear (eg, -z direction) of the
일 실시 예에서, 카메라 모듈(180)은 광축 상에 정렬된 적어도 하나 이상의 렌즈를 배치하는 경통과 광축을 중심으로 상기 경통의 둘레를 둘러싸는 적어도 하나의 코일 및/또는 마그넷을 배치하는 하우징(113)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 하우징(113)은 중앙 부분에 렌즈 어셈블리(111)의 일부가 노출될 수 있도록 개구(opening)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 카메라 모듈(180)은 하우징(113)에 포함된 적어도 하나의 코일 및/또는 마그넷을 이용하여, 이미지 센서(120)로 획득되는 이미지의 안정화 기능(예: OIS)을 수행할 수 있다. 예를 들면, 적어도 하나의 코일은 제어 회로(예: 도 1의 이미지 시그널 프로세서(130)), 또는 도 11의 프로세서(1120)))의 제어에 의해 서로 전자기적으로 상호 작용할 수 있다. 예를 들면, 카메라 모듈(180)은, 프로세서의 제어 하에, 적어도 하나의 코일을 통과하는 전류의 방향 및/또는 세기를 제어하여 전자기력을 제어할 수 있고, 전자기력에 의한 로렌츠 힘 또는 솔레노이드 타입 액추에이터를 이용하여 렌즈 어셈블리(111) 및 렌즈 어셈블리(111)를 포함하는 캐리어(예: OIS 캐리어(OIS carrier) )의 적어도 일부를 광축(미도시)과 실질적으로 수직인 방향으로 이동(회전)할 수 있다.In one embodiment, the
카메라 모듈(180)은 하우징(113)에 포함된 적어도 하나의 코일 및/또는 마그넷을 이용하여, 이미지 센서(120)로 획득되는 이미지와 관련하여 자동 초점(예: AF) 기능을 수행할 수 있다. 예를 들면, 적어도 하나의 코일은 제어 회로(예: 도 1의 이미지 시그널 프로세서(130)), 또는 도 11의 프로세서(1120)))의 제어에 의해 서로 전자기적으로 상호 작용할 수 있다. 예를 들면, 카메라 모듈(180)은, 프로세서의 제어 하에, 적어도 하나의 코일을 통과하는 전류의 방향 및/또는 세기를 제어하여 전자기력을 제어할 수 있고, 전자기력에 의한 로렌츠 힘 또는 솔레노이드 타입 액추에이터를 이용하여 렌즈 어셈블리(111) 및 AF 캐리어(예: 도 2의 AF 캐리어(210))의 적어도 일부를 광축(미도시) 방향으로 이동할 수 있다.The
일 실시 예에서, 적외선 차단 필터(115)는 이미지 센서(120)의 상면에 배치될 수 있다. 예를 들어, 적외선 차단 필터(115)는, 이미지 센서(120)의 면들 중에서 카메라 모듈(180)이 외부로 노출되는 방향의 면(예: +z 방향)에 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 렌즈를 통과한 피사체의 상은 적외선 차단 필터(115)에 의해 일부 필터링된 후 이미지 센서(120)에 의해 감지될 수 있다.In one embodiment, the infrared cut-
일 실시 예에서, 이미지 센서(120)는 인쇄회로기판(140)(예: PCB(printed circuit board), PBA(printed board assembly), FPCB(flexible PCB), 또는 RFPCB(rigid-flexible PCB))의 상면에 배치될 수 있다. 일 실시 예 따르면, 상기 상면은 카메라 모듈(180)이 외부로 노출되는 방향의 면(예: +z 방향)을 나타낼 수 있다. 이미지 센서(120)는 커넥터(connector)에 의해 인쇄회로기판(140)과 연결된 이미지 시그널 프로세서(130)와 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 커넥터로는 연성 인쇄회로 기판(FPCB) 또는 케이블(cable) 중 적어도 하나가 사용될 수 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에서, 이미지 센서(120)는 CMOS(complementary metal oxide semiconductor) 센서 또는 CCD(charged coupled device) 센서일 수 있다. 이미지 센서(120)에는 복수의 개별 픽셀들(pixels)이 집적되며, 각 개별 픽셀은 마이크로 렌즈(micro lens), 컬러 필터 및 포토다이오드(photodiode)를 포함할 수 있다. 각 개별 픽셀은 일종의 광 검출기로서 입력되는 광을 전기적 신호로 변환시킬 수 있다. 상기 광 검출기는 포토다이오드를 포함할 수 있다. In one embodiment, the
일 실시 예에서, 렌즈 어셈블리(111)를 통해 입사된 피사체의 광 정보는 이미지 센서(120)에 의해 전기적 신호로 변환되어 이미지 시그널 프로세서(130)로 입력될 수 있다.In one embodiment, light information about a subject incident through the
일 실시 예에서, 이미지 시그널 프로세서(130)와 이미지 센서(120)가 물리적으로 구분된 경우, 적절한 규격을 따르는 센서 인터페이스가 이미지 센서(120)와 이미지 시그널 프로세서(130)를 전기적으로 연결할 수 있다.In one embodiment, when the
일 실시 예에서, 카메라 모듈(180)은 전자 장치(100)의 후면뿐만 아니라, 전면에 배치될 수 있다. 또한 전자 장치(100)는 카메라의 성능 향상을 위해 한 개의 카메라 모듈(180)뿐만 아니라, 여러 개의 카메라 모듈(180)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 영상 통화 또는 셀프 카메라 촬영을 위한 전면 카메라(161)를 더 포함할 수 있다. 전면 카메라(161)는 후면 카메라 모듈에 비하여 상대적으로 낮은 화소 수를 지원할 수 있다. 전면 카메라는 후면 카메라 모듈에 비하여 상대적으로 보다 소형일 수 있으나 제한은 없다.In one embodiment, the
일 실시 예에서 카메라 모듈(180)은 제1 하우징(예: 도 1의 하우징(113)), 제1 하우징과 결합되어 공간을 형성하는 제2 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(210)), 렌즈 어셈블리(111), 및 AF 캐리어(AF(auto focus) carrier)(예: 도 2의 AF 캐리어(210))를 포함할 수 있다. 상기 제1 하우징은 쉴드 캔(shield can)으로 참조되거나 지칭될 수 있다. 상기 제2 하우징은 베이스(base)로 참조되거나 지칭될 수 있다. 카메라 모듈(180)의 구성요소들은 상기 제1 하우징 및 상기 제2 하우징 사이에 형성되는 공간에 수용될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 상기 나열된 구성에 제한되지 않고 다양한 구성을 포함할 수 있다. 예를 들어, 카메라 모듈(180)은 제2 하우징에 수용되는 스토퍼(stopper), 렌즈 배럴(lens barrel), OIS 캐리어(OIS carrier)를 포함할 수 있다. In one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, 상기 스토퍼는 렌즈 어셈블리(111)의 이동 범위를 제한할 수 있다. 예를 들어, 상기 스토퍼는 AF 구동에 따라 광축 방향(예: +z, -z축 방향)으로 움직이는 렌즈 어셈블리(111)의 움직임을 제한할 수 있다.According to one embodiment, the stopper may limit the movement range of the
일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 손 떨림 보정 기능(예: 이미지 안정화 기능)을 위하여 상기 OIS 캐리어를 구동할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 상기 OIS 캐리어를 광축 방향에 실질적으로 수직한 방향(예: +x, -x 방향 또는 +y, -y 방향)으로 움직임으로써 카메라의 흔들림을 보정할 수 있다. In one embodiment, the
일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 초점 조절 기능(예: 자동 초점 기능)을 위하여 상기 AF 캐리어를 구동할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 상기 AF 캐리어를 광축 방향(예: +z, -z 방향)으로 움직임으로써 카메라의 초점 거리를 조절할 수 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 상기 OIS 및 상기 AF를 구동함에 있어서, 렌즈들을 일체로 이동시키는 구조로 설계될 수 있다. 예를 들면, AF 캐리어 상에 볼 가이드가 배치되고, 볼 가이드 상에 OIS 캐리어가 배치되며, OIS 캐리어 상에 렌즈들이 배치될 수 있다. AF 캐리어 및 OIS 캐리어가 이동함에 따라 렌즈들이 일체로 AF 및 OIS를 수행할 수 있다.According to one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 고화소화 및 소형화를 만족시키기 위하여 렌즈 배럴이 광축 방향을 따라 틸트없이 이동하기 위해서 렌즈 배럴을 탄성부재로 지지하는 타입 대신 볼에 의한 구름 지지 방식 또는 샤프트에 의한 구동 지지 방식이 적용되고 있다. 예를 들어, 렌즈 배럴을 광축 방향으로 전진 또는 후진시키기 위해, 하우징의 내부에 광축 방향으로 연장된 샤프트에 렌즈 배럴이 슬라이딩 가능하게 설치될 수 있다. 또는, 하우징 내측부와 렌즈 배럴 사이에 볼을 이용하여 마찰을 줄이면서 볼의 구름에 따라 렌즈 배럴이 슬라이딩 되도록 설치될 수 있다.According to one embodiment, the
도 2는 일 실시 예에 따른 카메라 모듈(180)의 AF 구동부의 분해 사시도이다. 도 3는 일 실시 예에 따른 로렌츠 타입 및 솔레노이드 타입으로 구동하는 OIS 구동부, 및 AF 구동부를 포함하는 카메라 모듈을 도시한 도면이다.Figure 2 is an exploded perspective view of the AF driving unit of the
도 2 및 도 3의 설명에 있어서, 도 1에서 설명된 구성은 간략하게 설명되거나 설명이 생략될 수 있다.In the description of FIGS. 2 and 3, the configuration described in FIG. 1 may be briefly described or the description may be omitted.
240210240240240240240240210210210210240240210240240240240240240210210210210240
도 2 및 도 3을 참조하면, 카메라 모듈(180)은 초점 조절 기능(예: 자동 초점 기능)을 구현하기 위하여 AF 구동부를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, AF 구동부는 제1 하우징(예: 도 1의 하우징(113)) 및 제2 하우징(240) 사이에 형성되는 공간에 AF 캐리어(210), 마그넷(예: 제1 마그넷(211), 제2 마그넷(213)), 코일(예: 제1 코일(225), 제2 코일(227)), 및/또는 AF 볼(230)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, AF 구동부는 상기 나열된 예시에 제한되지 않고, 초점 조절 기능을 수행하기 위한 다양한 구성을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 2 and 3 , the
일 실시 예에서, AF 캐리어(210)는 제2 하우징(240) 내에서 움직일 수 있게 배치될 수 있다. AF 캐리어(210)는 1차원(예: 1축 방향) 상에서 이동할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 초점 이탈에 의하여 이미지 품질이 저하되는 것을 방지하기 위하여 AF 캐리어(210)를 움직이게 할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 AF 캐리어(210)를 광축 방향(예: +z, -z 방향)으로 움직임으로써 카메라의 초점 거리를 조절할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 AF 캐리어(210)룰 광축 방향(예: +z, -z 방향)으로 움직여 렌즈 배럴(220)을 상하로 이동시킴으로써 AF 제어를 수행할 수 있다.In one embodiment, the
일 실시 예에서, AF 캐리어(210)는 일부에 부착된 제1 마그넷(211) 뿐만 아니라 제2 마그넷(213)을 포함할 수 있다. 예를 들어, AF 캐리어(210)는 일부에 부착된 제1 마그넷(211) 및 제1 마그넷(211)과 마주보는 면에 배치된 제2 마그넷(213)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 마그넷(211)은 제1 코일(225)을 마주보도록 AF 캐리어(210)의 제1 방향(예: -y 방향)을 향하는 제1 측면에 배치될 수 있다. 제2 마그넷(213)은, 제2 코일(227)과 마주보도록, AF 캐리어(210)의 제2 방향(예: +y 방향)을 향하는 제2 측면에 배치될 수 있다. 제1 마그넷(211)은 제1 코일(225)과 상호 작용을 통해 발생된 자기력에 의하여 제3 축 방향(예: +z/-z 방향)으로 움직일 수 있다. 또한, 제2 마그넷(213)은 제2 코일(227)과 상호 작용을 통해 발생된 자기력에 의하여 제3 마그넷(211)과 마찬가지로 제3 축 방향(예: +z/-z 방향)으로 움직일 수 있다. 따라서, AF 캐리어(210)는 제3 축 방향(예: +z/-z 방향)의 제1 마그넷(211) 및 제1 코일(225) 사이에서 로렌츠 힘 및 제2 마그넷(213) 및 제2 코일(227) 사이에서 로렌츠 힘에 의해 구동될 수 있다. 일 실시 예에서 AF 캐리어(210)의 이동은 AF 볼(230)에 의해 가이드 될 수 있다. AF 캐리어(210)가 구동함에 따라 렌즈 어셈블리(111)가 이동하여 이미지 센서(120)까지의 광의 경로를 조절하여 초점 조절(AF) 기능이 수행될 수 있다. 예를 들면, AF 캐리어(210)는 서로 마주보는 위치에 배치된 제1 마그넷(211) 및 제2 마그넷(213)을 포함하고, 제1 코일(225) 및 제2 코일(227)을 제어함에 있어서 각각 별도로 제어함으로써 렌즈 어셈블리(111)의 기울어짐 및/또는 틀림(예: 틸트(tilt))를 방지할 수 있다. 제1 코일(225) 및 제2 코일(227)이 각각 별도로 제어되는 것과 관련하여 이하 도 4, 5 및 도 6을 통해 후술된다.In one embodiment, the
일 실시 예에서, 적어도 하나의 인쇄회로기판(미도시)은 AF 캐리어(210)의 적어도 일 부분과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 촬영 시, 전자 장치(100)에 포함된 적어도 하나의 프로세서(예: 도 11의 프로세서(1120))는 피사체와 카메라의 초점 거리를 조정하기 위해 AF 제어 값을 생성할 수 있고, 전자 장치(100)는 AF 제어 값에 대응하는 전기 신호를 AF 구동 코일(예: 제1 코일(225), 제2 코일(227))에 전달함으로써 AF를 구현할 수 있다. In one embodiment, at least one printed circuit board (not shown) may be electrically connected to at least a portion of the
일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)에 포함된 적어도 하나의 프로세서(예: 도 11의 프로세서(1120))는 렌즈 어셈블리(111)의 기울어짐 및/또는 뒤틀림을 보정하기 위해, 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130)에 저장된 캘리브레이션(calibration) 값에 기초하여 캘리브레이션 값에 대응하는 전기 신호를 AF 구동 코일(예: 제1 코일(225), 제2 코일(227))에 전달함으로써 뒤틀림을 보정할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)는 제1 코일(225), 제2 코일(227)과 관련하여 각각 별도의 제어 회로를 두고 각각 제어함으로써 AF 구동에 따른 뒤틀림을 보상할 수 있다. According to one embodiment, at least one processor (e.g., processor 1120 of FIG. 11) included in the
일 실시 예에서, 적어도 하나의 구동 코일(예: 제1 코일(225) 및 제2 코일(227))의 중심부에 드라이버 IC(driver integrated circuit)를 각각 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 드라이버 IC는 홀 센서를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 코일(225)의 중심부의 제1 드라이버 IC(221)는, 제1 홀 센서를 포함할 수 있다. 제2 코일(227)의 중심부의 제2 드라이버 IC(223)는, 제2 홀 센서를 포함할 수 있다. 따라서, 제1 코일(225)의 중심부엔 제1 홀 센서가 배치되고, 및 제2 코일(227)의 중심부엔 제2 홀 센서가 배치될 수 있다.In one embodiment, a driver integrated circuit (IC) may be included in the center of at least one driving coil (eg, the
일 실시 예에서, 상기 적어도 하나의 홀 센서(예: 제1 홀 센서, 제2 홀 센서)는 AF 캐리어(210))와 함께 이동하는 마그넷(예: 제1 마그넷(211), 또는 제2 마그넷(213))의 위치를 통해 상기 적어도 하나의 캐리어의 변위를 검출할 수 있다. 상기 적어도 하나의 홀 센서는 대향하는 마그넷과 상호 작용을 통해, 상기 대향하는 마그넷의 홀 센서에 대한 위치를 측정할 수 있다. 상기 적어도 하나의 홀 센서는 대향하는 마그넷이 형성하는 자기장의 변화를 측정하여 상기 대향하는 마그넷의 위치를 감지할 수 있다. 예를 들어, In one embodiment, the at least one Hall sensor (e.g., a first Hall sensor, a second Hall sensor) is a magnet (e.g., a
제1 홀 센서는 제1 코일(225)의 중심부의 제1 드라이버 IC(221)에 포함되어, 제1 마그넷(211)의 제1 홀 센서에 대한 제3 축(예: z축) 방향의 위치를 측정하도록 구성될 수 있다. 제2 홀 센서는 제2 코일(227)의 중심부의 제2 드라이버 IC(223)에 포함되어, 제2 마그넷(213)의 제2 홀 센서에 대한 제3 축(예: z축) 방향의 위치를 측정하도록 구성될 수 있다. 일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 AF 기능을 수행함에 있어서, 제1 드라이버 IC(221) 및 제2 드라이버 IC(223)를 통해 제1 코일(225) 및 제2 코일(227)을 각각 제어함으로써 AF 구동 시 발생하는 뒤틀림 및/또는 기울어짐(예: 틸트(tilt))을 보상할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 제1 홀 센서를 통해 제1 홀 센서에 대한 제3 축(예: z축) 방향의 위치를 측정하고, 제2 홀 센서를 통해 제2 홀 센서에 대한 제3 축(예: z축) 방향의 위치를 측정하여 제1 코일(225) 및 제2 코일(227) 각각에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 따라서, 전자 장치(100)는 AF 캐리어(210)의 양 단을 각각 제어함에 따라 AF 구동 시 발생하는 뒤틀림 및/또는 기울어짐(예: 틸트(tilt))을 보상할 수 있다.The first Hall sensor is included in the
일 실시 예에 따르면, 제1 드라이버 IC(221) 및 제2 드라이버 IC(223)는 하나의 AF 드라이버 IC로 구성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 제1 코일(225) 및 제2 코일(227) 각각에 연결되는 제어 회로는 별도로 구성하고, 각각의 제어 회로를 제어하는 드라이버 IC를 AF 드라이버 IC로 구성할 수 있다.According to one embodiment, the
일 실시 예에서, 적어도 둘 이상의 홀 센서(예: 제1 홀 센서 및 제2 홀 센서)는 적어도 둘 이상의 코일(예: 제1 코일(225) 및 제2 코일(227))의 내부에 포함될 수 있다. 코일의 내부에 포함된 홀 센서는 내장형 홀센서로 참조될 수 있다. In one embodiment, at least two Hall sensors (e.g., a first Hall sensor and a second Hall sensor) may be included inside at least two coils (e.g., the
일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 적어도 하나의 자성체(또는 마그넷)(예: 제1 마그넷(211), 또는 제2 마그넷(213))의 이동(회전)(예: x축, y축, 및 z축 방향의 위치)을 확인하기 위한 다른 센서를 포함할 수 있다. 예를 들면, 카메라 모듈(180)은, TMR 센서(tunnel magneto-resistance sensor)를 포함할 수 있고, TMR 센서의 복수의 마그넷들의 상대 각도에 기반하여 변하는 저항값을 이용하여, 적어도 하나의 마그넷의 이동(회전)을 확인할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 AMR(anisotropic magneto-resistance) 센서, 또는 GMR(giant magneto-resistance) 센서를 이용하여 적어도 하나의 마그넷의 이동(회전)을 확인할 수 있다.According to one embodiment, the
일 실시 예들에 따른 카메라 모듈(180)의 마그넷(예: 제1 마그넷(211) 및/또는 제2 마그넷(213)) 및 코일(예: 제1 코일(225) 및/또는 제2 코일(227))은 도 2 및 도 3에 도시된 배치로 한정되지 않는다. A magnet (e.g., the
일 실시 예에 따르면, 도 3의 OIS 구동부 및 AF 구동부는 도 2의 AF 구동부의 일부를 생략한 도면일 수 있다.According to one embodiment, the OIS driver and the AF driver of FIG. 3 may be a diagram in which part of the AF driver of FIG. 2 is omitted.
도 3을 참조하면, 다양한 실시 예에서, 카메라 모듈(180)은 손 떨림 보정 기능을 위하여 도 1을 참조하여 설명된 OIS 구동부를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, OIS 구동부는 제3 코일(311) 및 제4 코일(313)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제3 코일(311) 및 제4 코일(313) 중 어느 하나는 대응되는 마그넷(예: 제3 마그넷(301) 및/또는 제4 마그넷(303))과 솔레노이드 타입으로 구동되고 다른 하나는 로렌츠 타입으로 구동되도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 3 , in various embodiments, the
일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(180)의 OIS 구동은 로렌츠-솔레노이드 타입으로 구동될 수 있다. 예를 들어, 제3 마그넷(301)은 제3 코일(311)과 마주보도록 배치되고, 제4 마그넷(303)은 제4 코일(313)과 마주보도록 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, OIS 구동부의 구동에 따라 도 1을 참조하여 설명된 이미지 센서(120)가 이동하여 광학 이미지 안정화 기능(예: OIS)이 수행될 수 있다.According to one embodiment, the OIS of the
일 실시 예에서, 상기와 같은 구조는 프리즘을 포함하는 굴곡형 카메라 모듈(180)에도 적용될 수 있다. In one embodiment, the above structure can also be applied to the
일 실시 예에 따르면, 굴곡형 카메라 모듈(180)은 렌즈 어셈블리(111) 및 프리즘(미도시)을 포함하는 광학계를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 굴곡형 카메라 모듈(180)은 피사체로부터 렌즈 어셈블리(111) 및 프리즘(미도시)을 지나 이미지 센서(120)에 이르는 광 경로가 한 번 이상 굴절된 굴절형 광학계를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 굴곡형 카메라 모듈(180)은 광의 이동 방향에 따라 적어도 하나의 마그넷(예: 제1 마그넷(211), 또는 제2 마그넷(213), 제3 마그넷(301) 및/또는 제4 마그넷(303)) 및/또는 적어도 하나의 코일(예: 제1 코일(225), 제2 코일(227), 제3 코일(311) 및/또는 제4 코일(313))이 배치될 수 있다. According to one embodiment, the
도 4는 일 실시 예에 따라 캘리브레이션 값에 기반하여 AF 구동부를 제어하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 4 is a diagram illustrating an operation of controlling an AF driver based on a calibration value according to an embodiment.
도 4를 참조하면, 도 2 및 도 3을 참조하여 설명된 AF 구동부를 포함하는 이미지 액츄에이터(400)가 도시된다. 본 개시의 이미지 액츄에이터(400)는 카메라 모듈(예: 도 1의 카메라 모듈(180))의 초점 조절 기능을 제공하기 위해 필요한 모든 구성을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, AF 구동부(예: 도 2 및 도 3을 참조하여 설명된 AF 구동부)는 카메라 모듈(180)의 초점 조절 기능을 제공하기 위해 렌즈 어셈블리(예: 도 1의 렌즈 어셈블리(111))를 이동시키기 위한 모든 구성을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, AF 캐리어(예: 도 2의 AF 캐리어(210))는 렌즈 어셈블리(111)와 연결되어 렌즈 어셈블리는 광축 방향으로 이동시키기 위해 광축 방향으로 이동하는 AF 구동부의 일 구성요소를 의미한다.Referring to FIG. 4 , an
도 4를 참조하면, 프로세서(410)(예: 도 11의 프로세서(1120))는 이미지 액츄에이터(400)와 연결되어 카메라 모듈(180)의 초점 조절 기능을 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 프로세서(410)는 이미지 액츄에이터(400)에 포함된 렌즈 어셈블리의 뒤틀림 및/또는 기울어짐(예: 틸트(tilt))을 감소시키기 위해, 틸트 보정 요청(401)을 이미지 액츄에이터(400)로 전달할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(410)는 전원이 인가되면 카메라 캘리브레이션 값에 기반하여 AF 구동부를 제어할 수 있다.Referring to FIG. 4 , the processor 410 (eg, processor 1120 in FIG. 11 ) is connected to the
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)(예: 도 2의 제1 드라이버 IC(221) 및/또는 제2 드라이버 IC(223))는 틸트 보정 요청(401)에 응답하여, 메모리(440)(예: 도 11의 메모리(1130))로부터 캘리브레이션 데이터(403)를 획득할 수 있다. 캘리브레이션 데이터(403)는 제1 캘리브레이션 값 및 제2 캘리브레이션 값을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 캘리브레이션 데이터(403)는 메모리(440) 및/또는 AF 드라이버 IC(420)의 메모리에 저장된 값을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 캘리브레이션 데이터(403)는 도 9를 참조하여 후술되는 동작을 수행하여 획득될 수 있다. 예를 들어, 캘리브레이션 데이터(403)는 스트로크 조정 공정을 통해 결정된 값을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the AF driver IC 420 (e.g., the
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 렌즈 어셈블리의 뒤틀림 및/또는 기울어짐을 추가로 보정하기 위한 오프셋 데이터(405)를 메모리(440)를 통해 획득할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 오프셋 데이터(405)는 메모리(440) 및/또는 AF 드라이버 IC(420)의 메모리에 저장된 값을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 오프셋 데이터(405)는 도 10를 참조하여 후술되는 동작을 수행하여 획득될 수 있다. 예를 들어, 오프셋 데이터(405)는 카메라 모듈(180)에 대한 추가 공정에서 발생한 기울임 및/또는 틀어짐을 보상하기 위한 데이터를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the AF driver IC 420 may obtain offset data 405 for additionally correcting distortion and/or tilt of the lens assembly through the
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 캘리브레이션 데이터(403)에 대응되는 위치를 맵핑(mapping)할 수 있다. 예를 들어, AF 드라이버 IC(420)는 제1 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 제2 하우징(240)으로부터 제1 AF 마그넷(예: 도 2의 제1 마그넷(211))의 높이인 제1 캘리브레이션 위치를 맵핑할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 제2 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 제2 하우징(240)으로부터 제2 AF 마그넷(예: 제2 마그넷(213))의 높이인 제2 캘리브레이션 위치를 맵핑할 수 있다.According to one embodiment, the AF driver IC 420 may map a location corresponding to the calibration data 403. For example, the AF driver IC 420 performs a first calibration, which is the height of the first AF magnet (e.g., the
일 실시 예에 따르면, AF 기능을 수행함에 따라 홀 센서(430)는 상기 제1 AF 마그넷 및 상기 제2 AF 마그넷의 위치를 감지할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 홀 센서(430)는 제1 AF 마그넷에 대응하는 제1 AF 홀 센서, 제2 AF 마그넷에 대응하는 제2 AF 홀 센서를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 AF 홀 센서 및 제2 AF 홀 센서는 제1 AF 마그넷의 제1 위치 및 제2 AF 마그넷의 제2 위치 감지할 수 있다. 예를 들어, 제1 AF 홀 센서는 제2 하우징(240)으로부터 현재 제1 AF 마그넷의 위치를 나타내는 제1 위치를 감지할 수 있다. 예를 들어, 제2 AF 홀 센서는 제2 하우징(240)으로부터 현재 제2 AF 마그넷의 위치를 나타내는 제2 위치를 감지할 수 있다. According to one embodiment, as the AF function is performed, the hall sensor 430 may detect the positions of the first AF magnet and the second AF magnet. According to one embodiment, the Hall sensor 430 may include a first AF Hall sensor corresponding to the first AF magnet and a second AF Hall sensor corresponding to the second AF magnet. In one embodiment, the first AF Hall sensor and the second AF Hall sensor may detect the first position of the first AF magnet and the second position of the second AF magnet. For example, the first AF Hall sensor may detect a first position indicating the current position of the first AF magnet from the
일 실시 예에 따르면, 홀 센서(430)는 상기 제1 위치 및 상기 제2 위치에 대한 정보를 포함하는 위치 데이터(407)를 생성할 수 있다. 일 실시 예에서, AF 드라이버 IC(420)는 상기 홀 센서(430)로부터 위치 데이터(407)를 획득할 수 있다.According to one embodiment, the hall sensor 430 may generate
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 제1 위치와 제1 캘리브레이션 위치가 동일하거나 임계값 미만의 차이가 나는지 판단할 수 있다. 또한, AF 드라이버 IC(420)는 제2 위치와 제2 캘리브레이션 위치가 동일하거나 임계값 미만의 차이가 나는지 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 임계값 미만의 차이가 나는 것은 실질적으로 동일한 것으로 판단될 수 있다. According to one embodiment, the AF driver IC 420 may determine whether the first position and the first calibration position are the same or have a difference of less than a threshold value. Additionally, the AF driver IC 420 may determine whether the second position and the second calibration position are the same or have a difference of less than a threshold value. In one embodiment, differences less than a threshold may be determined to be substantially the same.
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 틸트를 보상하기 위한 위치인 제1 캘리브레이션 위치와 제1 위치가 동일한지 판단할 수 있다. 또한, AF 드라이버 IC(420)는 틸트를 보상하기 위한 위치인 제2 캘리브레이션 위치와 제2 위치가 동일한지 판단할 수 있다. According to one embodiment, the AF driver IC 420 may determine whether the first calibration position, which is a position for compensating tilt, is the same as the first position. Additionally, the AF driver IC 420 may determine whether the second calibration position, which is a position for compensating tilt, is the same as the second position.
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 제1 위치와 제1 캘리브레이션 위치가 동일하지 않거나 제2 위치와 제2 캘리브레이션 위치가 동일하지 않은 경우, 제1 AF 마그넷 및 제2 AF 마그넷의 위치를 조정할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 제1 위치와 제1 캘리브레이션 위치가 임계값 이상의 차이가 나거나 제2 위치와 제2 캘리브레이션 위치가 임계값 이상의 차이가 나는 경우, 제1 AF 마그넷 및 제2 AF 마그넷의 위치를 조정할 수 있다. According to one embodiment, the AF driver IC 420 determines the positions of the first AF magnet and the second AF magnet when the first position and the first calibration position are not the same or the second position and the second calibration position are not the same. can be adjusted. According to one embodiment, the AF driver IC 420 operates the first AF magnet and The position of the second AF magnet can be adjusted.
일 실시 예에서, AF 드라이버 IC(420)는 오프셋 데이터(405)를 고려하여 제1 AF 마그넷 및 제2 AF 마그넷의 위치를 조정할 수 있다.In one embodiment, the AF driver IC 420 may adjust the positions of the first AF magnet and the second AF magnet by considering the offset data 405.
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)는 제어 신호(409)를 AF 코일(450)로 전달하여 제1 AF 마그넷 및 제2 AF 마그넷의 위치를 조정할 수 있다. 일 실시 예에서, AF 코일(450)은 제1 AF 코일(예: 도 2의 제1 코일(225)) 및 제2 AF 코일(예: 도 2의 제2 코일(227))을 포함할 수 있다. According to one embodiment, the AF driver IC 420 may transmit a control signal 409 to the
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)은 틸트를 보상하기 위한 위치인 제1 캘리브레이션 위치 및 제2 캘리브레이션 위치에 제1 AF 마그넷 및 제2 AF 마그넷이 위치할 수 있도록 AF 코일(450)에 제어 신호(409)를 전달하여 제1 AF 코일 및 제2 AF 코일에 인가되는 전원을 제어할 수 있다.According to one embodiment, the AF driver IC 420 is installed in the
일 실시 예에 따르면, 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)는 제1 위치와 제1 캘리브레이션 위치가 동일하거나 임계값 미만의 차이가 나고, 제2 위치와 제2 캘리브레이션 위치가 동일하거나 임계값 미만의 차이가 나는 경우, 틸트를 보정하기 위한 동작을 종료할 수 있다.According to one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, AF 드라이버 IC(420)의 동작은 프로세서(410)에 의해 수행될 수 있다.According to one embodiment, the operation of the AF driver IC 420 may be performed by the
도 5는 일 실시 예에 따른 볼 타입의 제1 AF 구동부(500)를 도시한다. 도 6은 일 실시 예에 따른 샤프트 타입의 제2 AF 구동부(600)를 도시한다.Figure 5 shows a ball-type
도 5 및 도 6을 참조하면, AF 구동부(예: 제1 AF 구동부(500) 및/또는 제2 AF 구동부(600))에 포함된 복수 개의 구성들 중에서 일부 구성이 도시된다. 이때, 도 1 내지 도 4를 참조하여 설명된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 일부 생략될 수 있다. 도 5 및 도 6은 피사체로부터 렌즈의 광축을 통과한 광이 굴절되지 않고 이미지 센서(예: 도 1의 이미지 센서(120))로 직접 입사하는 직하형 광학계를 도시한다. Referring to FIGS. 5 and 6 , some of a plurality of components included in the AF driver (eg, the
도 5를 참조하면, 카메라 모듈(예: 도 1의 카메라 모듈(180))은 AF 기능을 수행하기 위해 제1 AF 구동부(500)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 AF 구동부(500)는 AF 캐리어(540)(예: 도 2의 AF 캐리어(210)), 제1 AF 드라이버 IC(512)(예: 도 2의 제1 드라이버 IC(221)), 제2 AF 드라이버 IC(522)(예: 도 2의 제2 드라이버 IC(223)), 제1 AF 마그넷(513)(예: 도 2의 제1 마그넷(211)), 제2 AF 마그넷(523)(예: 도 2의 제2 마그넷(213)), 제1 AF 코일(511)(예: 도 2의 제1 코일(225)), 제2 AF 코일(521)(예: 도 2의 제2 코일(227))을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 AF 구동부는 양 단에 각각 제1 AF 드라이버 IC(512) 및 제2 AF 드라이버 IC(522)를 배치하여 제1 AF 구동부(500) 양 단을 각각 제어할 수 있다. Referring to FIG. 5, a camera module (e.g., the
예를 들어, 카메라 모듈(180)의 제1 AF 구동부(500)는 제1 AF 드라이버 IC(512)를 통해 제1 AF 코일(511)에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 AF 코일(511)에 전류가 인가됨에 따라 제1 AF 마그넷(513)과 제1 AF 코일(511) 사이에 발생하는 자기력에 의해 AF 구동부가 광축 방향으로 이동할 수 있다. 또한, 카메라 모듈(180)의 AF 구동부는 제2 AF 드라이버 IC(522)를 통해 제2 AF 코일(521)에 인가되는 전류를 제1 AF 코일(511)에 인가되는 전류와 다른 전류가 인가되도록 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 AF 코일(521)에 전류가 인가됨에 따라 제2 AF 마그넷(523)과 제2 AF 코일(521) 사이에 발생하는 자기력에 의해 제1 AF 구동부(500)가 광축 방향으로 이동할 수 있다.For example, the
일 실시 예에 따르면, 제1 AF 드라이버 IC(512) 및 제2 AF 드라이버 IC(522)는 전자 장치(100)의 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장된 캘리브레이션 값에 기반하여 제1 AF 코일(511) 및 제2 AF 코일(521)에 인가되는 전류의 크기를 제어할 수 있다. 예를 들어, 제1 AF 드라이버 IC(512) 및 제2 AF 드라이버 IC(522)는 제1 AF 구동부(500)의 양단이 실질적으로 동일한 스트로크(stroke)를 갖도록 하는 캘리브레이션 값을 이용하여 AF 구동을 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 캘리브레이션 값은 전자 장치(100)의 공정 단계에서 제1 AF 구동부(500) 양단 동일 스트로크 조정공정이 적용됨에 따라 결정된 값을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 캘리브레이션 값을 설정하는 실시 예는 도 9를 참조하여 후술된다.According to one embodiment, the first
일 실시 예에 따르면, 제1 AF 드라이버 IC(512) 및 제2 AF 드라이버 IC(522)는 각각 내장형 홀 센서를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 AF 드라이버 IC(512)는 제1 AF 홀 센서(예: 도 2 및 도 3을 참조하여 설명된 제3 홀 센서)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 AF 드라이버 IC(522)는 제2 AF 홀 센서(예: 도 2 및 도 3을 참조하여 설명된 제4 홀 센서)를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the first
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 홀 센서는, 적어도 하나의 캐리어와 함께 이동하는 마그넷의 위치를 통해, 적어도 하나의 캐리어의 변위를 검출할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 AF 홀 센서는 대향하는 제1 AF 마그넷(513)과 상호 작용을 통해, 상기 대향하는 제1 AF 마그넷(513)의 제1 AF 홀센서에 대한 위치를 측정할 수 있다. 예를 들어, 제1 AF 홀 센서는 대향하는 제1 AF 마그넷(513)이 형성하는 자기장의 변화를 측정하여 상기 대향하는 제1 AF 마그넷(513)의 위치를 감지할 수 있다. 따라서, 제1 AF 홀 센서는 제1 AF 코일(511)의 중심부의 제1 AF 드라이버 IC(512)에 내장되어 제1 AF 마그넷(513)의 제1 AF 홀 센서에 대한 광축 방향의 위치를 측정하도록 구성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 AF 드라이버 IC(512)는 제1 AF 홀 센서를 통해 측정된 AF 캐리어(540)의 광축 방향의 변위를 검출하고, 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장된 캘리브레이션 값에 기반하여 제1 AF 코일(511)에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 예를 들면, 제1 AF 드라이버 IC(512)는 제1 AF 코일(511)에 인가되는 전류를 조절하여, 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 위치에 AF 캐리어(540)가 위치하도록 제어할 수 있다. 따라서, 제1 AF 드라이버 IC(512)가 AF 캐리어(540)의 제1 단(a)의 광축 방향에서의 변위를 제어할 수 있다.According to one embodiment, at least one Hall sensor may detect displacement of at least one carrier through the position of a magnet moving with the at least one carrier. According to one embodiment, the first AF Hall sensor may measure the position of the opposing
일 실시 예에 따르면, 제2 AF 홀 센서는 대향하는 제2 AF 마그넷(523)과 상호 작용을 통해, 상기 대향하는 제2 AF 마그넷(523)의 제2 AF 홀센서에 대한 위치를 측정할 수 있다. 예를 들어, 제2 AF 홀 센서는 대향하는 제2 AF 마그넷(523)이 형성하는 자기장의 변화를 측정하여 상기 대향하는 제2 AF 마그넷(523)의 위치를 감지할 수 있다. 따라서, 제2 AF 홀 센서는 제2 AF 코일(521)의 중심부의 제2 AF 드라이버 IC(522)에 내장되어 제2 AF 마그넷(523)의 제2 AF 홀 센서에 대한 광축 방향의 위치를 측정하도록 구성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 AF 드라이버 IC(522)는 제2 AF 홀 센서를 통해 측정된 AF 캐리어(540)의 광축 방향의 변위를 검출하고, 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장된 캘리브레이션 값에 기반하여 제2 AF 코일(521)에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 예를 들면, 제2 AF 드라이버 IC(522)는 제2 AF 코일(521)에 인가되는 전류를 조절하여, 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 위치에 AF 캐리어(540)가 위치하도록 제어할 수 있다. 따라서, 제2 AF 드라이버 IC(522)가 AF 캐리어(540)의 제2 단(b)의 광축 방향에서의 변위를 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따라, AF 구동부의 제1 단(a) 및 제2 단(b)에 각각 대응되는 제1 AF 구동부(500)의 구성부분들이 각각 별도로 제어됨에 따라 제1 단(a)과 제2 단(b) 광축 방향의 높이 차이에서 발생할 수 있는 틸트를 보상할 수 있다. 예를 들어, 제1 AF 구동부(500)가 구동됨에 따라 제1 단(a) 및 제2 단(b)이 광축 방향에서 실질적으로 동일한 변위에 위치할 수 있다. According to one embodiment, the second AF Hall sensor may measure the position of the opposing
일 실시 예에 따르면, AF 캐리어(540)는 일 측면에 AF 볼(530)(예: 도 2의 AF 볼(230))을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 렌즈 배럴(예: 도 1을 참조하여 설명된 렌즈 배럴은 AF 볼(230)의 구름 운동에 의해 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(240))의 내측에서 이동할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 AF 코일(511) 및 제1 AF 마그넷(513) 사이에 발생하는 전자기력에 의해 AF 캐리어(540)가 이동하는 경우, AF 볼(530)의 구름 운동에 의해 이동할 수 있다. According to one embodiment, the
도 6을 참조하면, 카메라 모듈(180)은 AF 기능을 수행하기 위해 제2 AF 구동부(600)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 AF 구동부(600)는 AF 캐리어(640), 제3 AF 드라이버 IC(612)(예: 도 2의 제1 드라이버 IC(221)), 제4 AF 드라이버 IC(622)(예: 도 2의 제2 드라이버 IC(223)), 제3 AF 마그넷(613)(예: 도 2의 제1 마그넷(211)), 제4 AF 마그넷(623)(예: 도 2의 제2 마그넷(213)), 제3 AF 코일(611)(예: 도 2의 제1 코일(225)), 제4 AF 코일(621)(예: 도 2의 제2 코일(227))을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 AF 구동부는 양 단에 각각 제3 AF 드라이버 IC(612) 및 제4 AF 드라이버 IC(622)를 배치하여 제2 AF 구동부(600) 양 단을 각각 제어할 수 있다. Referring to FIG. 6, the
일 실시 예에 따르면, 제3 AF 코일(611), 제4 AF 코일(621)은 각각 제1 AF 코일(511), 제2 AF 코일(521)과 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다. 또한, 제3 AF 마그넷 (613), 제4 AF 마그넷(623)은 각각 제1 AF 마그넷(513), 제2 AF 마그넷(523)과 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다. 또한, 제3 AF 드라이버 IC(612), 제4 AF 드라이버 IC(622)는 각각 제1 AF 드라이버 IC(512), 제2 AF 드라이버 IC(522)와 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다. 따라서, 제3 AF 드라이버 IC(612)는 제1 AF 홀 센서와 유사한 동작을 수행하는 제3 AF 홀 센서를 포함할 수 있다. 또한, 제4 AF 드라이버 IC(622)는 제2 AF 홀 센서와 유사한 동작을 수행하는 제4 AF 홀 센서를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the
일 실시 예에 따라, AF 구동부의 제1 단(a) 및 제2 단(b)에 각각 대응되는 AF 구동부의 구성부분들이 각각 별도로 제어됨에 따라 제1 단(a)과 제2 단(b) 광축 방향의 높이 차이에서 발생할 수 있는 틸트를 보상할 수 있다. 일 실시 예에 따르면 도 5의 AF 캐리어(540)와 도 6의 AF 캐리어(640)는 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다.According to one embodiment, the components of the AF driving unit corresponding to the first stage (a) and the second stage (b) of the AF driving unit are controlled separately, so that the first stage (a) and the second stage (b) Tilt that may occur due to height differences in the optical axis direction can be compensated. According to one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, 도 6의 AF 캐리어(640)는 일 측면에 AF 샤프트(미도시)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 광축 방향으로 연장된 샤프트에 렌즈 배럴이 슬라이딩 가능하게 설치될 수 있다. 따라서, 샤프트에 의해 렌즈 배럴 또는 AF 캐리어(640)가 슬라이딩 됨에 따라 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(240))의 내측에서 이동할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제3 AF 코일(611) 및 제3 AF 마그넷(613) 사이에 발생하는 전자기력에 의해 AF 캐리어(640)가 이동하는 경우, AF 샤프트에 의한 슬라이딩에 의해 이동할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제4 AF 코일(621) 및 제4 AF 마그넷(623) 사이에 발생하는 전자기력에 의해 AF 캐리어(640)가 이동하는 경우, AF 샤프트에 의한 슬라이딩에 의해 이동할 수 있다.According to one embodiment, the
도 7a는 일 실시 예에 따른 접힌 타입 광학계를 포함하는 볼 타입(또는 굴절형 볼 타입)의 AF 구동부에 따른 광의 이동 경로를 도시한 도면이다. 도 7b는 일 실시 예에 따른 접힌 타입 광학계를 포함하는 샤프트 타입(또는 굴절형 샤프트 타입)의 AF 구동부에 따른 광의 이동 경로를 도시한 도면이다. 도 8은 일 실시 예에 따른 AF 마그넷이 하단에 위치한 접힌 타입 광학계를 포함하는 카메라 모듈을 도시한다.FIG. 7A is a diagram illustrating a light movement path according to a ball-type (or refractive ball-type) AF driver including a folded-type optical system according to an embodiment. FIG. 7B is a diagram illustrating a light movement path according to a shaft-type (or refractive shaft-type) AF driving unit including a folded-type optical system according to an embodiment. Figure 8 shows a camera module including a folded type optical system with an AF magnet located at the bottom, according to an embodiment.
도 7a, 도 7b 및/또는 도 8을 참조하면, 굴곡형 카메라 모듈(예: 카메라 모듈(180))이 도시된다. 도 7a, 도 7b 및/또는 도 8은 렌즈 어셈블리(111)를 광축 방향으로 이동시키는 방법이 볼 타입인지 샤프트 타입인지에 따라 분류될 수 있다. 따라서, 그 외에 AF 구동을 위한 구성 및 동작은 유사할 수 있다. 따라서, 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 설명은 생략될 수 있다.7A, 7B, and/or 8, a curved camera module (eg, camera module 180) is shown. 7A, 7B, and/or 8 may be classified depending on whether the method of moving the
도 7a, 도 7b 및/또는 도 8은 피사체로부터 렌즈 어셈블리(예: 도 1의 렌즈 어셈블리(111)) 및 프리즘을 지나 이미지 센서(예: 도 1의 이미지 센서(120))에 이르는 광 경로가 한 번 이상 굴절된 굴절형 광학계를 도시한다. 7A, 7B and/or 8 show an optical path from a subject to an image sensor (e.g.,
도 7a를 참조하면, 카메라 모듈(180)(예: 도 1의 카메라 모듈(180))은 AF 기능을 수행하기 위해 AF 구동부(예: 도 2의 AF 구동부, 도 5의 제1 AF 구동부(500) 및/또는 도 6의 제2 AF 구동부(600))를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710)는 제1 렌즈 어셈블리(711)(예: 도 1의 렌즈 어셈블리(111)), 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1)(예: 도 2의 제1 드라이버 IC(221)), 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)(예: 도 2의 제2 드라이버 IC(223)), 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)(예: 도 2의 제1 마그넷(211)), 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)(예: 도 2의 제2 마그넷(213)), 제1 굴절형 AF 코일(713_1)(예: 도의 제1 코일(225)), 제2 굴절형 AF 코일(713_2)(예: 도 2의 제2 코일(227))을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 AF 구동부는 양 단에 각각 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1) 및 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)를 배치하여 AF 구동부 양 단을 각각 제어할 수 있다. Referring to FIG. 7A, the camera module 180 (e.g., the
일 실시 예에 따르면, 도 7a의 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710)는 피사체로부터 제1 렌즈 어셈블리(711) 및 제1 프리즘(716)을 지나 도 1을 참조하여 설명된 이미지 센서(120)에 이르는 광 경로가 한 번 이상 굴절된 굴절형 광학계를 포함할 수 있다. 따라서, 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710)는 제1 렌즈 어셈블리(711)를 광축 방향으로 이동시켜 AF 기능을 수행할 수 있다.According to one embodiment, the refractive ball-
예를 들어, 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710)는 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1)를 통해 제1 굴절형 AF 코일(713_1)에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 굴절형 AF 코일(713_1)에 전류가 인가됨에 따라 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)과 제1 굴절형 AF 코일(713_1) 사이에 발생하는 자기력에 의해 제1 렌즈 어셈블리(711)가 광축 방향으로 이동할 수 있다. 또한, 카메라 모듈(180)의 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710)는 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)를 통해 제2 굴절형 AF 코일(713_2)에 인가되는 전류를 제1 굴절형 AF 코일(713_1)에 인가되는 전류와 다른 전류가 인가되도록 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 굴절형 AF 코일(713_2)에 전류가 인가됨에 따라 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)과 제2 굴절형 AF 코일(713_2) 사이에 발생하는 자기력에 의해 제1 렌즈 어셈블리(711)가 광축 방향으로 이동할 수 있다.For example, the refractive ball
일 실시 예에 따르면, 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1) 및 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)는 전자 장치(100)의 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장된 캘리브레이션 값에 기반하여 제1 굴절형 AF 코일(713_1) 및 제2 굴절형 AF 코일(713_2)에 인가되는 전류의 크기를 제어할 수 있다. 예를 들어, 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1) 및 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)는 AF 구동부의 양단이 실질적으로 동일한 스트로크(stroke)를 갖도록 하는 캘리브레이션 값을 이용하여 제1 렌즈 어셈블리(711)의 광축 방향의 이동을 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 캘리브레이션 값은 전자 장치(100)의 공정 단계에서 AF 구동부 양단 동일 스트로크 조정공정이 적용됨에 따라 결정된 값을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 캘리브레이션 값을 설정하는 실시 예는 도 9를 참조하여 후술된다.According to one embodiment, the first refractive AF driver IC 714_1 and the second refractive AF driver IC 714_2 are memory of the electronic device 100 (e.g.,
일 실시 예에 따르면, 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1) 및 제2 AF 굴절형 드라이버 IC(714_2)는 각각 내장형 홀 센서를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1)는 제1 굴절형 AF 홀 센서(예: 도 2를 참조하여 설명된 제1 홀 센서)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)는 제2 굴절형 AF 홀 센서(예: 도 2를 참조하여 설명된 제2 홀 센서)를 내장할 수 있다. According to one embodiment, the first refractive-type AF driver IC 714_1 and the second AF refractive-type driver IC 714_2 may each include a built-in Hall sensor. For example, the first refractive AF driver IC 714_1 may include a first refractive AF Hall sensor (eg, the first Hall sensor described with reference to FIG. 2). For example, the second refractive AF driver IC 714_2 may include a second refractive AF Hall sensor (eg, the second Hall sensor described with reference to FIG. 2).
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 홀 센서는 적어도 하나의 캐리어 및 렌즈 어셈블리와 함께 이동하는 마그넷의 위치를 통해 렌즈 어셈블리의 변위를 검출할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 굴절형 AF 홀 센서는 대향하는 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)과 상호 작용을 통해, 상기 대향하는 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)의 제1 굴절형 AF 홀센서에 대한 위치를 측정할 수 있다. 예를 들어, 제1 굴절형 AF 홀 센서는 대향하는 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)이 형성하는 자기장의 변화를 측정하여 상기 대향하는 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)의 위치를 감지할 수 있다. 따라서, 제1 굴절형 AF 홀 센서는, 제1 굴절형 AF 코일(713_1)의 중심부의 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1)에 내장되어, 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1)의 제1 굴절형 AF 홀 센서에 대한 광축 방향의 위치를 측정하도록 구성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1)는 제1 굴절형 AF 홀 센서를 통해 측정된 제1 렌즈 어셈블리(711)의 광축 방향의 변위를 검출하고, 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장된 캘리브레이션 값에 기반하여 제1 굴절형 AF 코일(713_1)에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 예를 들면, 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1)는 제1 굴절형 AF 코일(713_1)에 인가되는 전류를 조절하여, 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 위치에 제1 렌즈 어셈블리(711)가 위치하도록 제어할 수 있다. According to one embodiment, at least one Hall sensor may detect displacement of the lens assembly through the position of the magnet that moves together with the at least one carrier and the lens assembly. According to one embodiment, the first refractive AF Hall sensor interacts with the opposing first refractive AF magnet 715_1 to detect the first refractive AF hole of the opposing first refractive AF magnet 715_1. The position of the sensor can be measured. For example, the first refractive AF Hall sensor may detect the position of the opposing first refractive AF magnet (715_1) by measuring changes in the magnetic field formed by the opposing first refractive AF magnet (715_1). there is. Therefore, the first refracted AF Hall sensor is built into the first refracted AF driver IC 714_1 at the center of the first refracted AF coil 713_1, and the first refracted AF hall sensor is installed in the first refracted AF driver IC 714_1 at the center of the first refracted AF coil 713_1. It can be configured to measure the position of the optical axis direction with respect to the type AF Hall sensor. According to one embodiment, the first refractive AF driver IC 714_1 detects the displacement in the optical axis direction of the
일 실시 예에 따르면, 제2 굴절형 AF 홀 센서는 대향하는 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)과 상호 작용을 통해, 상기 대향하는 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)의 제2 굴절형 AF 홀센서에 대한 위치를 측정할 수 있다. 예를 들어, 제2 굴절형 AF 홀 센서는 대향하는 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)이 형성하는 자기장의 변화를 측정하여 상기 대향하는 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)의 위치를 감지할 수 있다. 따라서, 제2 굴절형 AF 홀 센서는, 제2 굴절형 AF 코일(713_2)의 중심부의 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)에 내장되어, 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)의 제2 굴절형 AF 홀 센서에 대한 광축 방향의 위치를 측정하도록 구성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)는 제2 굴절형 AF 홀 센서를 통해 측정된 제1 렌즈 어셈블리(711)의 광축 방향의 변위를 검출하고, 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장된 캘리브레이션 값에 기반하여 제2 굴절형 AF 코일(713_2)에 인가되는 전류를 제어할 수 있다. 예를 들면, 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)는 제2 굴절형 AF 코일(713_2)에 인가되는 전류를 조절하여, 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 위치에 제1 렌즈 어셈블리(711)가 위치하도록 제어할 수 있다. 따라서, AF 구동부의 광축을 기준으로 구분되는 양 단(예: 도 5의 제1 단(a) 및 제2 단(b))에 각각 대응되는 AF 구동부의 구성부분들이, 각각 별도로 제어됨에 따라 제1 렌즈 어셈블리(711)의 뒤틀림에 기반한 틸트를 보상할 수 있다. 예를 들면, 제1 렌즈 어셈블리(711)의 양 끝단이 각각 별도로 제어됨에 따라 제1 렌즈 어셈블리(711)의 뒤틀림을 효과적으로 보상할 수 있다.According to one embodiment, the second refractive AF Hall sensor interacts with the opposing second refractive AF magnet 715_2 to detect the second refractive AF hole of the opposing second refractive AF magnet 715_2. The position of the sensor can be measured. For example, the second refractive AF Hall sensor may detect the position of the opposing second refractive AF magnet (715_2) by measuring changes in the magnetic field formed by the opposing second refractive AF magnet (715_2). there is. Accordingly, the second refracted AF Hall sensor is built into the second refracted AF driver IC 714_2 at the center of the second refracted AF coil 713_2, and the second refracted AF hall sensor is built into the second refracted AF magnet 715_2. It can be configured to measure the position of the optical axis direction with respect to the type AF Hall sensor. According to one embodiment, the second refractive AF driver IC 714_2 detects the displacement in the optical axis direction of the
일 실시 예에 따르면, 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710)는 적어도 일 측면에 굴절형 AF 볼(712)(예: 도 2의 AF 볼(230))을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 렌즈 어셈블리(711)는 굴절형 AF 볼(712)의 구름 운동에 의해 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(240))의 내측에서 이동할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 굴절형 AF 코일(713_1) 및 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1), 제2 굴절형 AF 코일(713_2) 및 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2) 사이에 발생하는 전자기력에 의해 제1 렌즈 어셈블리(711)가 굴절형 AF 볼(712)의 구름 운동에 의해 이동할 수 있다. According to one embodiment, the refractive ball
도 7b를 참조하면, 카메라 모듈(180)은 AF 기능을 수행하기 위해 AF 구동부를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)는 AF 기능을 수행하기 위해 AF 구동부를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)는 제2 렌즈 어셈블리(721)(예: 도 1의 렌즈 어셈블리(111)), 제3 굴절형 AF 드라이버 IC(724_1)(예: 도 2의 제1 드라이버 IC(221)), 제4 굴절형 AF 드라이버 IC(724_2)(예: 도 2의 제2 드라이버 IC(223)), 제3 굴절형 AF 마그넷(725_1)(예: 도 2의 제1 마그넷(211)), 제4 굴절형 AF 마그넷(725_2)(예: 도 2의 제2 마그넷(213)), 제3 굴절형 AF 코일(723_1)(예: 도 2의 제1 코일(225)), 제4 굴절형 AF 코일(723_2)(예: 도 2의 제2 코일(227))을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따른 AF 구동부는 양 단에 각각 제3 굴절형 AF 드라이버 IC(724_1) 및 제4 굴절형 AF 드라이버 IC(724_2)를 배치하여 AF 구동부 양 단을 각각 제어할 수 있다. Referring to FIG. 7B, the
일 실시 예에 따르면, 제3 굴절형 AF 코일(723_1), 제4 굴절형 AF 코일(723_2)은 각각 제1 굴절형 AF 코일(713_1), 제2 굴절형 AF 코일(713_2)과 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다. 또한, 제3 굴절형 AF 마그넷(725_1), 제4 굴절형 AF 마그넷(725_2)은 각각 제1 굴절형 AF 마그넷(715_1), 제2 굴절형 AF 마그넷(715_2)과 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다. 또한, 제3 굴절형 AF 드라이버 IC(724_1), 제4 굴절형 AF 드라이버 IC(724_2)는 각각 제1 굴절형 AF 드라이버 IC(714_1), 제2 굴절형 AF 드라이버 IC(714_2)와 동일 및/또는 유사한 동작을 수행할 수 있다. 따라서, 제3 굴절형 AF 드라이버 IC(724_1)는 제1 굴절형 AF 홀 센서와 유사한 동작을 수행하는 제3 굴절형 AF 홀 센서를 포함할 수 있다. 또한, 제4 굴절형 AF 드라이버 IC(724_2)는 제2 굴절형 AF 홀 센서와 유사한 동작을 수행하는 제4 굴절형 AF 홀 센서를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the third refractive AF coil 723_1 and the fourth refractive AF coil 723_2 are the same as the first refractive AF coil 713_1 and the second refractive AF coil 713_2, respectively, and/ Alternatively, a similar operation can be performed. In addition, the third refracted AF magnet 725_1 and the fourth refracted AF magnet 725_2 have the same and/or similar operations as the first refracted AF magnet 715_1 and the second refracted AF magnet 715_2, respectively. It can be done. In addition, the third refracted AF driver IC 724_1 and the fourth refracted AF driver IC 724_2 are the same as the first refracted AF driver IC 714_1 and the second refracted AF driver IC 714_2, respectively, and/ Alternatively, a similar operation can be performed. Accordingly, the third refractive AF driver IC 724_1 may include a third refractive AF Hall sensor that performs a similar operation as the first refractive AF Hall sensor. Additionally, the fourth refractive AF driver IC 724_2 may include a fourth refractive AF Hall sensor that performs a similar operation as the second refractive AF Hall sensor.
일 실시 예에 따라, 제3 굴절형 AF 드라이버 IC(724_1), 제4 굴절형 AF 드라이버 IC(724_2) 각각이, 제3 굴절형 AF 코일(723_1), 제4 굴절형 AF 코일(723_2)에 인가되는 전류를 각각 제어함에 따라 제2 렌즈 어셈블리(721)가 광축 방향으로 이동하여 AF 기능을 수행하면서 제2 렌즈 어셈블리(721)의 뒤틀림을 보상할 수 있다.According to one embodiment, the third refractive AF driver IC 724_1 and the fourth refractive AF driver IC 724_2 are connected to the third refractive AF coil 723_1 and the fourth refractive AF coil 723_2, respectively. By controlling the applied current, the
도 7b의 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)는 피사체로부터 제2 렌즈 어셈블리(721) 및 제2 프리즘(726)을 지나 도 1을 참조하여 설명된 이미지 센서(120)에 이르는 광 경로가 한 번 이상 굴절된 굴절형 광학계를 포함할 수 있다. 따라서, 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)는 제1 렌즈 어셈블리(721)를 광축 방향으로 이동시켜 AF 기능을 수행할 수 있다.The first refractive shaft
일 실시 예에 따르면, 도 7b의 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)는 적어도 일 측면에 제1 AF 샤프트(722)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 광축 방향으로 연장된 샤프트에 제2 렌즈 어셈블리(721)가 슬라이딩 가능하게 설치될 수 있다. 따라서, 제1 AF 샤프트(722_1) 및/또는 제2 AF 샤프트(722_2)에 의해 제2 렌즈 어셈블리(721)가 슬라이딩 됨에 따라 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(240))의 내측에서 이동할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제3 굴절형 AF 코일(723_1) 및 제3 굴절형 AF 마그넷(725_1), 제4 굴절형 AF 코일(723_2) 및 제4 굴절형 AF 마그넷(725_2) 사이에 발생하는 전자기력에 의해 제2 렌즈 어셈블리(721)가 이동하는 경우, 제1 AF 샤프트(722_1) 및/또는 제2 AF 샤프트(722_2)에 의한 슬라이딩에 의해 제2 렌즈 어셈블리(721)가 이동할 수 있다. 이때, 제2 렌즈 어셈블리(721)의 양 끝단이 각각 별도로 제어됨에 따라 제2 렌즈 어셈블리(721)의 뒤틀림을 효과적으로 보상할 수 있다.According to one embodiment, the first articulated shaft
도 8을 참조하면, 카메라 모듈(180)은 AF 기능을 수행하기 위해 AF 구동부를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 AF 기능을 수행하기 위해 AF 구동부를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)와 유사한 동작을 수행할 수 있다. 다만, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 일부 구성이 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720)와 다르게 배치되어 솔레노이드 타입으로 구성될 수 있다. Referring to FIG. 8, the
일 실시 예에 따르면, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 광축에 실질적으로 수직한 면에 배치된 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1) 및 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2)를 포함할 수 있다. 또한, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 광축에 실질적으로 수직한 면에 배치된 제5 굴절형 AF 코일(813_1) 및 제6 굴절형 AF 코일(813_2)을 포함할 수 있다. 또한, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 제5 굴절형 AF 코일(813_1)을 마주보는 방향으로 배치된 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1) 및 제6 굴절형 AF 코일(813_2)을 마주보는 방향으로 배치된 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the second refracted shaft
일 실시 예에 따르면, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 양 단에 각각 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1) 및 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2)를 배치하여 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.According to one embodiment, the second articulated shaft
예를 들어, 제5 굴절형 AF 코일(813_1)은 광축 방향과 실질적으로 수직하고, 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1)과 마주보도록 배치될 수 있다. 또한, 제6 굴절형 AF 코일(813_2)은 광축 방향과 실질적으로 수직하고, 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2)과 마주보도록 배치될 수 있다. For example, the fifth refractive AF coil 813_1 may be arranged substantially perpendicular to the optical axis direction and face the fifth refractive AF magnet 815_1. Additionally, the sixth refractive AF coil 813_2 may be arranged substantially perpendicular to the optical axis direction and face the sixth refractive AF magnet 815_2.
일 실시 예에 따르면, 제5 굴절형 AF 코일(813_1)과 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1)은 상호 작용을 통해 자기력(인력 및/또는 척력)을 발생시킬 수 있다. 따라서, 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다. 예를 들어, 제5 굴절형 AF 코일(813_1)에 전류가 흘러 자기장이 발생하고, 상기 자기장으로 인해 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1)과 발생하는 인력 및/또는 척력을 이용하여 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다. 본 개시에 따르면, 상기와 같이 인력 및/또는 척력을 발생시키는 타입의 AF 구동부를 솔레노이드 타입으로 지칭할 수 있다.According to one embodiment, the fifth refractive AF coil 813_1 and the fifth refractive AF magnet 815_1 may generate magnetic force (attractive force and/or repulsive force) through interaction. Accordingly, the third AF shaft 812_1 and/or the fourth AF shaft 812_2 can be moved in the optical axis direction. For example, a current flows through the fifth bending AF coil (813_1) to generate a magnetic field, and the third AF shaft is formed using the attractive and/or repulsive force generated by the magnetic field and the fifth bending AF magnet (815_1). (812_1) and/or the fourth AF shaft (812_2) may be moved in the optical axis direction. According to the present disclosure, the type of AF driving unit that generates attractive and/or repulsive force as described above may be referred to as a solenoid type.
일 실시 예에 따르면, 제6 굴절형 AF 코일(813_2)은 제5 굴절형 AF 코일(813_1)과 유사한 동작을 수행하고, 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2)은 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1)과 유사한 동작을 수행할 수 있다. 따라서, 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)를 광축 방향으로 움직일 수 있다. According to one embodiment, the sixth refracted AF coil (813_2) performs a similar operation as the fifth refracted AF coil (813_1), and the sixth refracted AF magnet (815_2) performs a similar operation as the fifth refracted AF coil (815_1). ) can perform similar operations. Accordingly, the third AF shaft 812_1 and/or the fourth AF shaft 812_2 can be moved in the optical axis direction.
일 실시 예에 따르면, 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)가 광축 방향으로 움직임에 따라 제3 렌즈 어셈블리(811)가 광축 방향으로 이동할 수 있다. According to one embodiment, the
일 실시 예에 따르면, 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1)는 제3 굴절형 AF 홀 센서와 유사한 동작을 수행하는 제5 굴절형 AF 홀 센서를 내장할 수 있다. 또한, 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2)는 제4 굴절형 AF 홀 센서와 유사한 동작을 수행하는 제6 굴절형 AF 홀 센서를 내장할 수 있다. According to one embodiment, the fifth refractive AF driver IC 814_1 may include a fifth refractive AF Hall sensor that performs a similar operation as the third refractive AF Hall sensor. Additionally, the sixth refractive AF driver IC 814_2 may include a sixth refractive AF Hall sensor that performs a similar operation as the fourth refractive AF Hall sensor.
일 실시 예에 따라, 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1), 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2) 각각이, 제5 굴절형 AF 코일(813_1), 제6 굴절형 AF 코일(813_2)에 인가되는 전류를 각각 제어할 수 있다. 따라서, 제5 굴절형 AF 코일(813_1), 제6 굴절형 AF 코일(813_2) 각각에 자기장이 형성되고 제3 렌즈 어셈블리(811)가 광축 방향으로 이동하여 AF 기능을 수행하면서 제3 렌즈 어셈블리(811)의 뒤틀림을 보상할 수 있다. According to one embodiment, the fifth refracted AF driver IC 814_1 and the sixth refracted AF driver IC 814_2 are connected to the fifth refracted AF coil 813_1 and the sixth refracted AF coil 813_2, respectively. Each applied current can be controlled. Accordingly, a magnetic field is formed in each of the fifth refractive AF coil 813_1 and the sixth refractive AF coil 813_2, and the
다양한 실시 예들에 따라, 도 7a, 도 7b 및 도 8에 도시된 것에 제한되지 않고, AF 구동부의 구성요소는 다양하게 배치될 수 있다. 예를 들어, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1), 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2), 제5 굴절형 AF 코일(813_1), 제6 굴절형 AF 코일(813_2), 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1), 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2)을 제3 프리즘(816)의 하단부에 배치하고, 상기 구성 중 일부 구성에 AF 캐리어와 결합되는 지지 부재를 포함하여 제3 렌즈 어셈블리(811)를 광축 방향으로 이동시키도록 하는 구성을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 굴절형 볼 타입 AF 구동부(710), 제1 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(720), 또는 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)의 구성 요소들은 도시된 바에 한정하지 않으며, 렌즈 어셈블리(예: 제1 렌즈 어셈블리(711), 제2 렌즈 어셈블리(721), 또는 제3 렌즈 어셈블리(811)) 및/또는 프리즘(예: 제1 프리즘(716), 제2 프리즘(726), 또는 제3 프리즘(816))을 제어(또는 이동)할 수 있도록 분리되어 배치될 수 있다.According to various embodiments, the components of the AF driver may be arranged in various ways without being limited to those shown in FIGS. 7A, 7B, and 8. For example, the second bending shaft
예를 들어, 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1), 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2), 제5 굴절형 AF 코일(813_1), 제6 굴절형 AF 코일(813_2), 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1), 및 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2)을 제3 프리즘(816)의 하단부에 배치하고, 상기 구성 중 일부 구성에 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)와 결합되는 지지 부재를 포함할 수 있다. 따라서, 제2 굴절형 샤프트 타입 AF 구동부(810)는 제3 AF 샤프트(812_1) 및/또는 제4 AF 샤프트(812_2)에 의한 슬라이딩에 의해 제3 렌즈 어셈블리(811)를 광축 방향으로 이동시킬 수 있다. 또는, 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1), 제5 굴절형 AF 코일(813_1), 및 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1)을 렌즈 어셈블리(811)의 옆면(측면)에 배치하고, 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2), 제6 굴절형 AF 코일(813_2), 및 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2)을 제3 프리즘(816)의 옆면(측면)에 배치할 수 있다.For example, the fifth refracted AF driver IC (814_1), the sixth refracted AF driver IC (814_2), the fifth refracted AF coil (813_1), the sixth refracted AF coil (813_2), and the fifth refracted AF coil. The AF magnet 815_1 and the sixth refractive AF magnet 815_2 are disposed at the lower end of the
일 실시 예에 따르면, 제2 프리즘(726)의 평면들 중에서 제2 렌즈 어셈블리(721)와 마주보는 면 및/또는 제3 프리즘(816)의 평면들 중에서 제3 렌즈 어셈블리(811)와 마주보는 면은 상단부로 지칭될 수 있다. 또한, 제2 프리즘(726) 및/또는 제3 프리즘(816)이 이미지 센서(120)와 마주보는 각각의 면은 하단부로 지칭될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 상단부 및 상기 하단부를 둘러싸는 제2 프리즘(726) 및/또는 제3 프리즘(816)의 면은 옆면으로 지칭될 수 있다.According to one embodiment, the plane facing the
일 실시 예에 따르면, 제3 굴절형 AF 드라이버 IC(724_1), 제3 굴절형 AF 코일(723_1), 제3 굴절형 AF 마그넷(725_1)은 제2 프리즘(726)의 옆면 중 하나의 면에 대향하여 배치될 수 있다. 또한, 제4 굴절형 AF 마그넷(725_2), 제4 굴절형 AF 드라이버 IC(724_2), 제4 굴절형 AF 코일(723_2)은 제2 프리즘(726)의 옆면 중 하나의 면에 대향하여 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기와 같이 제2 프리즘(726)의 옆면 중 적어도 하나의 면에 상기 구성요소들이 배치된 경우, 제2 프리즘(726)의 일 축 및 제2 렌즈 어셈블리(721)의 내부 및/또는 일 축에 기반하여 OIS 또는 센서 OIS가 실시될 수 있다. According to one embodiment, the third refractive AF driver IC (724_1), the third refractive AF coil (723_1), and the third refractive AF magnet (725_1) are located on one of the side surfaces of the second prism (726). Can be placed opposite each other. In addition, the fourth refracted AF magnet 725_2, the fourth refracted AF driver IC 724_2, and the fourth refracted AF coil 723_2 are disposed opposite to one of the side surfaces of the
일 실시 예에 따르면, 제5 굴절형 AF 드라이버 IC(814_1), 제5 굴절형 AF 코일(813_1), 제5 굴절형 AF 마그넷(815_1)은 제3 프리즘(816)의 옆면 중 하나의 면에 대향하여 배치될 수 있다. 또한, 제6 굴절형 AF 마그넷(815_2), 제6 굴절형 AF 드라이버 IC(814_2), 제6 굴절형 AF 코일(813_2)은 제3 프리즘(816)의 옆면 중 하나의 면에 대향하여 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기와 같이 제3 프리즘(816)의 옆면 중 적어도 하나의 면에 상기 구성요소들이 배치된 경우, 제3 프리즘(816)의 일 축 및 제3 렌즈 어셈블리(811)의 내부 및/또는 일 축에 기반하여 OIS 또는 센서 OIS가 실시될 수 있다. According to one embodiment, the fifth refracted AF driver IC (814_1), the fifth refracted AF coil (813_1), and the fifth refracted AF magnet (815_1) are located on one of the side surfaces of the third prism (816). Can be placed opposite each other. In addition, the sixth refracted AF magnet (815_2), the sixth refracted AF driver IC (814_2), and the sixth refracted AF coil (813_2) are disposed opposite to one of the side surfaces of the third prism (816). You can. According to one embodiment, when the components are arranged on at least one side of the
도 9는 일 실시 예에 따른 스트로크 조정공정을 통해 캘리브레이션 값을 결정하는 동작을 나타낸 흐름도(900)이다.Figure 9 is a
도 9를 참조하면, 동작 901에서, 프로세서(예: 도 4의 프로세서(410), 도 11의 프로세서(1120))는 공정에서 AF 구동부 양 단의 스트로크를 조정하기 위해 제1 AF 드라이버 IC(예: 도 2의 제1 드라이버 IC (221))에 대한 제1 AF 홀 센서(예: 도 2를 참조하여 설명된 제1 홀 센서)를 통해 제1 홀 캘리브레이션을 수행하고, 제2 AF 드라이버 IC(예: 도 2의 제2 드라이버 IC(223))에 대한 제2 AF 홀 센서(예: 도 2를 참조하여 설명된 제2 홀 센서)를 통해 제2 홀 캘리브레이션 수행할 수 있다.Referring to FIG. 9, in
일 실시 예에 따르면, 동작 903에서, 프로세서는 AF 구동부 양 단 중에서, 제1 AF 드라이버 IC 쪽의 제1 스트로크 측정하고, 제2 AF 드라이버 IC 쪽의 제2 스트로크 측정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서는 렌즈 어셈블리(111)를 기준으로 구분되는 AF 구동부의 양 단 중에서 제1 AF 드라이버 IC에 내장된 제1 AF 홀 센서를 통해 광축 방향으로 제1 AF 홀 센서와 마주보는 제1 AF 마그넷(예: 도 2의 제1 마그넷(211))의 제2 하우징(240)을 기준으로 측정되는 위치인 제1 스트로크를 측정할 수 있다. 또한, 프로세서는 렌즈 어셈블리(111)를 기준으로 구분되는 AF 구동부의 양 단 중에서 제2 AF 드라이버 IC에 내장된 제2 AF 홀 센서를 통해 광축 방향으로 제2 AF 홀 센서와 마주보는 제2 AF 마그넷(예: 도 2의 제2 마그넷(213))의 제2 하우징(240)을 기준으로 측정되는 위치인 제2 스트로크를 측정할 수 있다. According to one embodiment, in
일 실시 예에 따르면, 프로세서는 동작 905에서 제1 AF 드라이버 IC 및 제2 AF 드라이버 IC에 기반하여 제1 스트로크 및 제2 스트로크를 조정할 수 있다. 예를 들어, 제1 AF 드라이버 IC를 통해 제1 AF 드라이버에 대한 제1 AF 코일(예: 도 2의 제1 코일(225))에 인가되는 전류를 제어하여 제1 AF 마그넷의 위치를 조정할 수 있다. 예를 들어, 제2 AF 드라이버 IC를 통해 제2 AF 드라이버에 대한 제2 AF 코일(예: 도 2의 제2 코일(227))에 인가되는 전류를 제어하여 제2 AF 마그넷의 위치를 조정할 수 있다.According to one embodiment, the processor may adjust the first stroke and the second stroke based on the first AF driver IC and the second AF driver IC in
일 실시 예에 따르면, 프로세서는 동작 907에서, 제1 스트로크와 제2 스트로크 값이 실질적으로 일치하는 지 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서는, 제2 하우징(240)을 기준으로 제2 하우징(240)으로부터 제1 AF 마그넷의 높이와 제2 하우징(240)으로부터 제2 AF 마그넷의 실질적으로 높이가 일치하는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서는 제1 스트로크 값과 제2 스트로크 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서는 제1 스트로크 값과 제2 스트로크 값의 임계 값 미만으로 차이가 나는지 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 임계 값은 실질적으로 일치하는 것으로 판단할 수 있는 값을 의미할 수 있다. According to one embodiment, in
일 실시 예에 따르면, 프로세서는 동작 909에서, 제1 스트로크와 제2 스트로크 값이 실질적으로 일치함에 응답하여, 제1 AF 드라이버 IC 측에 대한 제1 캘리브레이션 값 및 제2 AF 드라이버 IC 측에 대한 제2 캘리브레이션 값을 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130))에 저장할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 제1 AF 드라이버 IC에 포함된 메모리에 제1 캘리브레이션 값을 저장하고, 제2 AF 드라이버 IC에 포함된 메모리에 제2 캘리브레이션 값을 저장할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 캘리브레이션 값은 제1 스트로크와 제2 스트로크가 동일할 때의 제1 AF 드라이버 IC가 제1 AF 코일에 인가한 전류 값에 기반하여 결정될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 캘리브레이션 값은 제1 스트로크와 제2 스트로크가 동일할 때의 제2 AF 드라이버 IC가 제2 AF 코일에 인가한 전류 값에 대응될 수 있다.According to one embodiment, in
일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)는 제1 스트로크와 제2 스트로크가 실질적으로 일치하지 않는 경우, 동작 907에서 동작 905를 반복적으로 수행할 수 있다.According to one embodiment, when the first stroke and the second stroke do not substantially match, the
도 10은 일 실시 예에 따른 추가 조정 공정을 통해 오프셋 값을 결정하는 동작을 나타낸 흐름도(1000)이다.FIG. 10 is a
일 실시 예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(100))는 카메라 모듈(예: 도 1의 카메라 모듈(180)) 조립 공정 시 발생되는 기울임 및/또는 틀어짐을 보상할 수 있다. 이하, 기울임 및/또는 틀어짐은 틸트(tilt)로 표현될 수 있다.According to one embodiment, an electronic device (e.g., the
전자 장치(100)의 카메라 모듈(180) 조립 공정에서 렌즈 어셈블리(예: 도 1의 렌즈 어셈블리(111))의 뒤틀림 및/또는 기울어짐이 발생할 수 있다. 예를 들어, 렌즈 어셈블리(111)를 베이스 하우징(예: 도 2의 하우징(240))의 일 구성요소에 배치하는 공정에서 기울임 및/또는 틀어짐이 발생할 수 있다. During the assembly process of the
일 실시 예에 따르면, 상기와 같은 추가 공정에서 발생한 기울임 및/또는 틀어짐은 오프셋(offset) 값을 조정함으로써 보상할 수 있다. 예를 들어, 상기 오프셋 값은 AF 드라이버 IC(예: 도 4의 AF 드라이버 IC(420)) 내부 또는 별도 메모리(예: 도 4의 메모리(440))에 저장된 값일 수 있다. According to one embodiment, tilt and/or distortion occurring in the above additional process can be compensated for by adjusting the offset value. For example, the offset value may be a value stored inside the AF driver IC (e.g., AF driver IC 420 in FIG. 4) or in a separate memory (e.g.,
일 실시 예에 따르면, 프로세서(예: 도 4의 프로세서(410), 도 11의 프로세서(1120))는 추가 공정에서 발생한 기울임 및/또는 틀어짐에 기반하여 AF 틸트 보상이 필요한지 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 동작 1001에서, 프로세서는 제1 위치 및 제2 위치가 실질적으로 동일한지 판단할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 위치는 베이스 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(240))으로부터 제1 AF 마그넷(예: 도 2의 제1 마그넷(211))의 위치를 나타낼 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 위치는 베이스 하우징(예: 도 2의 제2 하우징(240))으로부터 제2 AF 마그넷(예: 도 2의 제2 마그넷(213))의 위치를 나타낼 수 있다. According to one embodiment, a processor (e.g.,
일 실시 예에 따르면, 프로세서는 제1 위치 및 제2 위치가 동일하거나 임계값 미만으로 차이가 나는 경우 실질적으로 동일한 것으로 판단할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서는 제1 위치 및 제2 위치가 실질적으로 동일한 경우 동작 1005를 수행할 수 있다. According to one embodiment, the processor may determine that the first location and the second location are substantially the same when they are the same or differ by less than a threshold value. In one embodiment, the processor may perform
일 실시 예에서, 프로세서는 제1 위치 및 제2 위치가 실질적으로 동일하지 않은 경우, 동작 1003에서 제1 AF 드라이버 IC(예: 도 2의 제1 드라이버 IC(221)) 및 제2 AF 드라이버 IC(예: 도 2의 제2 드라이버 IC(223))의 오프셋 값을 조정할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 오프셋 값은 상기 제1 AF 마그넷과 마주보는 제1 AF 코일(예: 도 2의 제1 코일(225)) 및 상기 제2 AF 마그넷과 마주보는 제2 코일(예: 도 2의 제2 코일(227))에 인가되는 전류를 제어하기 위한 정보를 포함할 수 있다.In one embodiment, if the first position and the second position are not substantially the same, the processor determines the first AF driver IC (e.g.,
일 실시 예에 따르면, 프로세서는, 동작 1005에서 틸트 보상이 완료되었는지 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서는 오프셋 값에 기반하여 상기 제1 AF 코일 및 상기 제2 코일에 전류를 인가하고, 제1 위치 및 제2 위치가 실질적으로 동일한지 판단할 수 있다.According to one embodiment, the processor may determine whether tilt compensation is complete in
일 실시 예에서, 제1 위치 및 제2 위치가 실질적으로 동일하다고 판단된 경우, 프로세서는 동작 1007에서, 결정된 오프셋 값을 메모리(예: 도 4의 메모리(440), 도 11의 메모리(1130) 또는 상기 AF 드라이버 IC 내 메모리)에 저장할 수 있다. In one embodiment, when it is determined that the first location and the second location are substantially the same, the processor stores the determined offset value in memory (e.g.,
일 실시 예에서, 프로세서는, 틸트 보상이 완료되지 않았다고 판단된 경우(예: 제1 위치 및 제2 위치가 임계값 이상 차이나는 경우) 동작 1003을 다시 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor may perform
도 1 내지 도 10을 참조하여 설명된 전자 장치(100)의 동작은 카메라 모듈(180) 및/또는 적어도 프로세서의 동작으로 표현될 수 있다.The operation of the
상술한 바와 같이, 본 개시의 일 실시 예에 따른 전자 장치는 하우징, 광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리, 상기 하우징 내에서 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키도록 상기 렌즈 어셈블리와 작동적으로 연결되는 AF 구동부를 포함할 수 있다. 상기 AF 구동부는 상기 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 상기 렌즈 어셈블리를 기준으로 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어, 상기 하우징 내측에 상기 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일, 상기 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로, 상기 하우징 내측에 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일, 및 상기 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함할 수 있다. 상기 제1 구동 회로는, 상기 제1 AF 마그넷의 위치 및 상기 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써 상기 AF 캐리어를 통해 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키고, 상기 제2 구동 회로는, 상기 제1 AF 마그넷의 위치 및 상기 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, 상기 AF 캐리어를 이용하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.As described above, an electronic device according to an embodiment of the present disclosure includes a housing, a lens assembly disposed along an optical axis, and operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing. It may include an AF driver. The AF driving unit includes a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in a first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. an AF carrier, a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet, a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control a current applied to the first AF coil, It may include a second AF coil disposed inside the housing to face the second AF magnet, and a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil. . The first driving circuit controls the current applied to the first AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet to move the lens assembly in the optical axis direction through the AF carrier. and the second driving circuit controls the current applied to the second AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet, thereby using the AF carrier to control the lens assembly. can be moved in the direction of the optical axis.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 메모리를 더 포함하고, 상기 메모리는 상기 제1 구동 회로를 통해 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제1 캘리브레이션 값을 저장하고, 및 상기 제2 구동 회로를 통해 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제2 캘리브레이션 값을 저장할 수 있다.According to one embodiment, the electronic device further includes a memory, wherein the memory stores a first calibration value related to a current applied to the first AF coil through the first driving circuit, and the second driving circuit. A second calibration value related to the current applied to the second AF coil may be stored through a circuit.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 캘리브레이션 값과 상기 제2 캘리브레이션 값은 상기 하우징을 기준으로 상기 렌즈 어셈블리의 상기 제1 면과 상기 제2 면의 높이 차이에서 발생되는 틸트를 보상하는 값인 전자 장치.According to one embodiment, the first calibration value and the second calibration value are values for compensating tilt generated from a height difference between the first surface and the second surface of the lens assembly with respect to the housing.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로는 제1 AF 홀 센서를 내장하고, 상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제1 AF 마그넷의 상기 제1 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정할 수 있다.According to one embodiment, the first driving circuit has a built-in first AF Hall sensor, and can measure the position of the first AF magnet with respect to the first AF Hall sensor using the first AF Hall sensor. .
일 실시 예에 따르면, 상기 제2 구동 회로는 제2 AF 홀 센서를 내장하고, 상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제2 AF 마그넷의 상기 제2 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정할 수 있다.According to one embodiment, the second driving circuit has a built-in second AF Hall sensor, and can measure the position of the second AF magnet with respect to the second AF Hall sensor using the second AF Hall sensor. .
일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 상기 제1 캘리브레이션 값에 기반한 상기 하우징으로부터 상기 제1 AF 마그넷의 높이를 맵핑하여 제1 캘리브레이션 위치를 결정할 수 있다.According to one embodiment, the electronic device may determine the first calibration position by mapping the height of the first AF magnet from the housing based on the first calibration value.
일 실시 예에 따르면, 상기 구동 회로는 상기 제1 구동 회로에 내장된 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제1 AF 마그넷의 높이인 제1 현재 위치를 측정하고, 상기 제1 캘리브레이션 위치와 상기 제1 현재 위치를 비교하고, 비교 결과에 기반하여, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.According to one embodiment, the driving circuit measures a first current position, which is the height of the first AF magnet, from the housing using a first AF Hall sensor built in the first driving circuit, and determines the first calibration position. and the first current position, and based on the comparison result, the lens assembly may be moved in the optical axis direction by controlling the current applied to the first AF coil.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 상기 제2 캘리브레이션 값에 기반한 상기 하우징으로부터 상기 제2 AF 마그넷의 높이를 맵핑하여 제2 캘리브레이션 위치를 결정할 수 있다.According to one embodiment, the electronic device may determine the second calibration position by mapping the height of the second AF magnet from the housing based on the second calibration value.
일 실시 예에 따르면, 상기 제2 구동 회로는 상기 제2 구동 회로에 내장된 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제2 AF 마그넷의 높이인 제2 현재 위치를 측정하고, 상기 제2 캘리브레이션 위치와 상기 제2 현재 위치를 비교하고, 비교 결과에 기반하여, 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.According to one embodiment, the second driving circuit measures a second current position, which is the height of the second AF magnet, from the housing using a second AF Hall sensor built in the second driving circuit, and the second driving circuit measures the second current position, which is the height of the second AF magnet, from the housing. The calibration position and the second current position may be compared, and based on the comparison result, the current applied to the second AF coil may be controlled to move the lens assembly in the optical axis direction.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로가 상기 제1 AF 코일에 인가하는 전류는 상기 제2 구동 회로가 상기 제2 AF 코일에 인가하는 전류와 상이할 수 있다.According to one embodiment, the current applied by the first driving circuit to the first AF coil may be different from the current applied by the second driving circuit to the second AF coil.
일 실시 예에 따르면, 상기 AF 캐리어는 적어도 하나의 AF 볼을 더 포함하고, 상기 AF 구동부는 상기 적어도 하나의 AF 볼이 구름에 따라 상기 렌즈 어셈블리가 상기 광축 방향으로 이동하도록 제어할 수 있다.According to one embodiment, the AF carrier further includes at least one AF ball, and the AF driver may control the lens assembly to move in the optical axis direction as the at least one AF ball rolls.
일 실시 예에 따르면, 상기 AF 캐리어는 적어도 하나의 AF 샤프트를 더 포함하고, 상기 AF 구동부는 상기 적어도 하나의 AF 샤프트가 슬라이딩 됨에 따라 상기 렌즈 어셈블리가 상기 광축 방향으로 이동하도록 제어할 수 있다.According to one embodiment, the AF carrier further includes at least one AF shaft, and the AF driver may control the lens assembly to move in the optical axis direction as the at least one AF shaft slides.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 상기 렌즈 어셈블리를 통과한 광이 입사되는 프리즘, 및 상기 렌즈 어셈블리 및 상기 프리즘을 통과한 상기 광을 획득하는 이미지 센서를 더 포함할 수 있다.According to one embodiment, the electronic device may further include a prism onto which light passing through the lens assembly is incident, and an image sensor acquiring the light passing through the lens assembly and the prism.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는, 상기 제1 구동 회로 및 상기 제2 구동 회로와 연결된 AF 드라이버 IC를 더 포함하고, 상기 AF 드라이버 IC는 상기 제1 구동 회로 및 상기 제2 구동 회로를 각각 제어할 수 있다.According to one embodiment, the electronic device further includes an AF driver IC connected to the first driving circuit and the second driving circuit, and the AF driver IC connects the first driving circuit and the second driving circuit, respectively. You can control it.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로는 상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 획득한 상기 제2 AF 마그넷의 상기 제2 AF 홀 센서에 대한 위치에 기반하여 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하고, 상기 제2 구동 회로는 상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 획득한 상기 제1 AF 마그넷의 상기 제1 AF 홀 센서에 대한 위치에 기반하여 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어할 수 있다.According to one embodiment, the first driving circuit applies a current to the first AF coil based on the position of the second AF magnet with respect to the second AF Hall sensor obtained using the second AF Hall sensor. Controls, and the second driving circuit controls the current applied to the second AF coil based on the position of the first AF magnet with respect to the first AF Hall sensor obtained using the first AF Hall sensor. can do.
상술한 바와 같이, 본 개시의 일 실시 예에 따른 카메라 모듈은, 하우징, 광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리, 상기 하우징 내에서 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키도록 상기 렌즈 어셈블리와 작동적으로 연결되는 AF 구동부를 포함할 수 있다. 상기 AF 구동부는 상기 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 상기 렌즈 어셈블리를 기준으로 상기 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어, 상기 하우징 내측에 상기 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일, 상기 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로, 상기 하우징 내측에 상기 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일, 및 상기 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함할 수 있다. 상기 제2 구동 회로는 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, 상기 AF 캐리어를 이용하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.As described above, a camera module according to an embodiment of the present disclosure includes a housing, a lens assembly disposed along an optical axis, and operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing. It may include an AF driving unit. The AF driving unit includes a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in the first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. An AF carrier comprising, a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet, and a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control the current applied to the first AF coil. , a second AF coil disposed inside the housing to face the second AF magnet, and a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil. You can. The second driving circuit can control the current applied to the second AF coil to move the lens assembly in the optical axis direction using the AF carrier.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로는 상기 제1 구동 회로를 통해 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제1 캘리브레이션 값을 저장하는 제1 메모리를 포함하고, 상기 제2 구동 회로는 상기 제2 구동 회로를 통해 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제2 캘리브레이션 값을 저장하는 제2 메모리를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the first driving circuit includes a first memory that stores a first calibration value related to a current applied to the first AF coil through the first driving circuit, and the second driving circuit includes It may include a second memory that stores a second calibration value related to the current applied to the second AF coil through the second driving circuit.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로는 상기 제1 캘리브레이션 값에 기반하여 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하고, 상기 제2 구동 회로는 상기 제2 캘리브레이션 값에 기반하여 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어할 수 있다.According to one embodiment, the first driving circuit controls the current applied to the first AF coil based on the first calibration value, and the second driving circuit controls the current applied to the first AF coil based on the second calibration value. The current applied to the AF coil can be controlled.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 캘리브레이션 값과 상기 제2 캘리브레이션 값은 상기 하우징을 기준으로 상기 렌즈 어셈블리의 상기 제1 면과 상기 제2 면의 높이 차이에서 발생되는 틸트를 보상하는 값일 수 있다.According to one embodiment, the first calibration value and the second calibration value may be values that compensate for tilt occurring from a height difference between the first surface and the second surface of the lens assembly with respect to the housing.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로는, 제1 AF 홀 센서를 내장하고, 및 상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제1 AF 마그넷의 상기 제1 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정할 수 있다. 상기 제2 구동 회로는 제2 AF 홀 센서를 내장하고, 및 상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제2 AF 마그넷의 상기 제2 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정할 수 있다.According to one embodiment, the first driving circuit includes a first AF Hall sensor, and measures the position of the first AF magnet with respect to the first AF Hall sensor using the first AF Hall sensor. You can. The second driving circuit may have a built-in second AF Hall sensor, and may measure the position of the second AF magnet with respect to the second AF Hall sensor using the second AF Hall sensor.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 구동 회로는, 상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제1 AF 마그넷의 높이인 제1 현재 위치를 측정하고, 상기 제1 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 제1 캘리브레이션 위치와 상기 제1 현재 위치를 비교하고, 비교 결과에 기반하여, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시킬 수 있다. 상기 제2 구동 회로는, 상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제2 AF 마그넷의 높이인 제2 현재 위치를 측정하고, 상기 제2 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 제2 캘리브레이션 위치와 상기 제2 현재 위치를 비교하고, 비교 결과에 기반하여, 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시킬 수 있다.According to one embodiment, the first driving circuit measures the first current position, which is the height of the first AF magnet, from the housing using the first AF Hall sensor, and determines the first current position based on the first calibration value. The first calibration position and the first current position may be compared, and based on the comparison result, the current applied to the first AF coil may be controlled to move the lens assembly in the optical axis direction. The second driving circuit measures a second current position, which is the height of the second AF magnet, from the housing using the second AF Hall sensor, and has a second calibration position determined based on the second calibration value. The second current position may be compared, and based on the comparison result, the current applied to the second AF coil may be controlled to move the lens assembly in the optical axis direction.
카메라 모듈의 높이를 낮추는 설계가 요구됨에 따라 AF 구동부의 높이를 낮추기 위한 노력이 계속되고 있다. 다만, AF 구동부의 높이가 낮아짐에 따라 AF 구동 스트로크(stroke)가 줄어들어 동일 간격에 의해 AF가 이동하는 길이의 직진도(straightness) 에러량이 증가될 수 있다. 이에 따라 AF 구동부의 뒤틀림 및/또는 기울어짐(예: 틸트(tilt))이 증가할 수 있다. 예를 들어, AF 구동부의 높이가 낮아져 볼 베어링 간격이 짧아져 공차에 의한 틸트 민감도가 증가할 수 있다. As the design of lowering the height of the camera module is required, efforts are continuing to lower the height of the AF driver. However, as the height of the AF driving unit decreases, the AF driving stroke decreases, which may increase the straightness error in the length that the AF moves at the same interval. Accordingly, distortion and/or tilt (e.g., tilt) of the AF driving unit may increase. For example, the height of the AF drive unit is lowered and the ball bearing spacing is shortened, which may increase tilt sensitivity due to tolerance.
카메라 모듈이 피사체로부터 렌즈의 광축을 통과한 광이 광학계의 구성요소를 거치는 과정에서 굴절되어 이미지 센서로 입사하는 굴절형 광학계를 포함할 수 있다. 카메라 모듈이 굴절형 광학계인 접힌 타입(folded type) 광학계를 포함하는 경우, BFL(back focus length)가 상당히 길어져 렌즈의 기울어짐에 따라 이미지 센서의 상면의 시차 변화량이 기존보다 커질 수 있다. 렌즈 AF 수행을 위한 AF 구동부의 높이가 낮아짐에 따라 렌즈의 틸트가 크게 발생할 수 있다 The camera module may include a refractive optical system in which light passing through the optical axis of the lens from the subject is refracted while passing through components of the optical system and enters the image sensor. If the camera module includes a folded type optical system, which is a refractive optical system, the back focus length (BFL) becomes significantly longer, and as the lens is tilted, the amount of parallax change on the image sensor's image sensor may become larger than before. As the height of the AF driver for performing lens AF decreases, a large tilt of the lens may occur.
본 문서에서 이루고자 하는 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 개시가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical problems to be achieved in this document are not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description below. There will be.
본 문서에 개시되는 다양한 실시 예에 따르면, 카메라 모듈의 AF 구동부 양단을 각각 따로 제어함으로써, AF 구동에 따른 기울어짐, 뒤틀림, 또는 틸트를 보상할 수 있다.According to various embodiments disclosed in this document, tilt, distortion, or tilt due to AF driving can be compensated by separately controlling both ends of the AF driving unit of the camera module.
다양한 실시 예에 따르면, 카메라 모듈이 AF 구동부 양단에 드라이버 IC를 각각 배치하여 구동을 제어함으로써 AF 구동에 따른 기울어짐, 뒤틀림, 또는 틸트를 보상할 수 있다.According to various embodiments, the camera module may compensate for inclination, distortion, or tilt due to AF driving by controlling the driving by arranging driver ICs at both ends of the AF driving unit.
다양한 실시 예에 따른 AF 구동부의 구조는, 피사체로부터 카메라의 렌즈의 광축을 통과한 광이 굴절되지 않고 이미지 센서로 직접 입사하는 직하형 광학계의 볼 타입 및 샤프트 타입에도 적용될 수 있다. 또한, 다양한 실시 예에 따른 AF 구동부의 구조는 프리즘 타입의 렌즈 리드형 접힌 타입(folded type) 광학계를 포함하는 카메라 모듈에도 적용될 수 있다.The structure of the AF driver according to various embodiments can also be applied to the ball type and shaft type of a direct optical system in which light passing from the subject through the optical axis of the camera lens is directly incident on the image sensor without being refracted. Additionally, the structure of the AF driver according to various embodiments can also be applied to a camera module including a prism-type lens lead-type folded type optical system.
다양한 실시 예에 따른 AF 구동부는 양단에 별도의 드라이버 IC로 제어함으로써 높은 구동 전류를 확보하여 구동력을 개선할 수 있다.The AF driver according to various embodiments can improve driving power by securing a high driving current by controlling both ends with separate driver ICs.
다양한 실시 예에 따른 AF 구동부는 양단 동일 스트로크 조정공정 적용을 통해 AF 양단의 스트로크 편차를 개선할 수 있다.The AF driving unit according to various embodiments can improve the stroke deviation at both ends of the AF by applying the same stroke adjustment process to both ends.
이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.In addition, various effects that can be directly or indirectly identified through this document may be provided.
본 개시에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects that can be obtained from the present disclosure are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description below. will be.
도 11은 다양한 실시 예들에 따른 네트워크 환경(1100) 내의 전자 장치(1101)의 블록도이다. 도 11을 참조하면, 네트워크 환경(1100)에서 전자 장치(1101)는 제1 네트워크(1198)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(1102)와 통신하거나, 또는 제2 네트워크(1199)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(1104) 또는 서버(1108)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(1101)는 서버(1108)를 통하여 전자 장치(1104)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(1101)는 프로세서(1120), 메모리(1130), 입력 모듈(1150), 음향 출력 모듈(1155), 디스플레이 모듈(1160), 오디오 모듈(1170), 센서 모듈(1176), 인터페이스(1177), 연결 단자(1178), 햅틱 모듈(1179), 카메라 모듈(1180), 전력 관리 모듈(1188), 배터리(1189), 통신 모듈(1190), 가입자 식별 모듈(1196), 또는 안테나 모듈(1197)을 포함할 수 있다. 어떤 실시 예에서는, 전자 장치(1101)에는 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 연결 단자(1178))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시 예에서는, 이 구성요소들 중 일부들(예: 센서 모듈(1176), 카메라 모듈(1180), 또는 안테나 모듈(1197))은 하나의 구성요소(예: 디스플레이 모듈(1160))로 통합될 수 있다.FIG. 11 is a block diagram of an electronic device 1101 in a
프로세서(1120)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(1140))를 실행하여 프로세서(1120)에 연결된 전자 장치(1101)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)를 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(1120)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(1176) 또는 통신 모듈(1190))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(1132)에 저장하고, 휘발성 메모리(1132)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(1134)에 저장할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 프로세서(1120)는 메인 프로세서(1121)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서) 또는 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(1123)(예: 그래픽 처리 장치, 신경망 처리 장치(NPU: neural processing unit), 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1101)가 메인 프로세서(1121) 및 보조 프로세서(1123)를 포함하는 경우, 보조 프로세서(1123)는 메인 프로세서(1121)보다 저전력을 사용하거나, 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(1123)는 메인 프로세서(1121)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The processor 1120, for example, executes software (e.g., program 1140) to operate at least one other component (e.g., hardware or software component) of the electronic device 1101 connected to the processor 1120. It can be controlled and various data processing or calculations can be performed. According to one embodiment, as at least part of data processing or computation, the processor 1120 stores commands or data received from another component (e.g., sensor module 1176 or communication module 1190) in volatile memory 1132. The commands or data stored in the volatile memory 1132 can be processed, and the resulting data can be stored in the non-volatile memory 1134. According to one embodiment, the processor 1120 may include a main processor 1121 (e.g., a central processing unit or an application processor) or an auxiliary processor 1123 that can operate independently or together (e.g., a graphics processing unit, a neural network processing unit ( It may include a neural processing unit (NPU), an image signal processor, a sensor hub processor, or a communication processor). For example, if the electronic device 1101 includes a main processor 1121 and a auxiliary processor 1123, the auxiliary processor 1123 may be set to use lower power than the main processor 1121 or be specialized for a designated function. You can. The auxiliary processor 1123 may be implemented separately from the main processor 1121 or as part of it.
보조 프로세서(1123)는, 예를 들면, 메인 프로세서(1121)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(1121)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(1121)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(1121)와 함께, 전자 장치(1101)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 디스플레이 모듈(1160), 센서 모듈(1176), 또는 통신 모듈(1190))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 보조 프로세서(1123)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성요소(예: 카메라 모듈(1180) 또는 통신 모듈(1190))의 일부로서 구현될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 보조 프로세서(1123)(예: 신경망 처리 장치)는 인공지능 모델의 처리에 특화된 하드웨어 구조를 포함할 수 있다. 인공지능 모델은 기계 학습을 통해 생성될 수 있다. 이러한 학습은, 예를 들어, 인공지능이 수행되는 전자 장치(1101) 자체에서 수행될 수 있고, 별도의 서버(예: 서버(1108))를 통해 수행될 수도 있다. 학습 알고리즘은, 예를 들어, 지도형 학습(supervised learning), 비지도형 학습(unsupervised learning), 준지도형 학습(semi-supervised learning) 또는 강화 학습(reinforcement learning)을 포함할 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은, 복수의 인공 신경망 레이어들을 포함할 수 있다. 인공 신경망은 심층 신경망(DNN: deep neural network), CNN(convolutional neural network), RNN(recurrent neural network), RBM(restricted Boltzmann machine), DBN(deep belief network), BRDNN(bidirectional recurrent deep neural network), 심층 Q-네트워크(deep Q-networks) 또는 상기 중 둘 이상의 조합 중 하나일 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은 하드웨어 구조 이외에, 추가적으로 또는 대체적으로, 소프트웨어 구조를 포함할 수 있다. The auxiliary processor 1123 may, for example, act on behalf of the main processor 1121 while the main processor 1121 is in an inactive (e.g., sleep) state, or while the main processor 1121 is in an active (e.g., application execution) state. ), together with the main processor 1121, at least one of the components of the electronic device 1101 (e.g., the display module 1160, the sensor module 1176, or the communication module 1190) At least some of the functions or states related to can be controlled. According to one embodiment, coprocessor 1123 (e.g., image signal processor or communication processor) may be implemented as part of another functionally related component (e.g.,
메모리(1130)는, 전자 장치(1101)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(1120) 또는 센서 모듈(1176))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(1140)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(1130)는, 휘발성 메모리(1132) 또는 비휘발성 메모리(1134)를 포함할 수 있다. The memory 1130 may store various data used by at least one component (eg, the processor 1120 or the sensor module 1176) of the electronic device 1101. Data may include, for example, input data or output data for software (e.g., program 1140) and instructions related thereto. Memory 1130 may include volatile memory 1132 or non-volatile memory 1134.
프로그램(1140)은 메모리(1130)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(1142), 미들 웨어(1144) 또는 어플리케이션(1146)을 포함할 수 있다. The program 1140 may be stored as software in the memory 1130 and may include, for example, an operating system 1142, middleware 1144, or application 1146.
입력 모듈(1150)은, 전자 장치(1101)의 구성요소(예: 프로세서(1120))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(1101)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 모듈(1150)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 키(예: 버튼), 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다. The input module 1150 may receive commands or data to be used in a component of the electronic device 1101 (e.g., the processor 1120) from outside the electronic device 1101 (e.g., a user). The input module 1150 may include, for example, a microphone, mouse, keyboard, keys (eg, buttons), or digital pen (eg, stylus pen).
음향 출력 모듈(1155)은 음향 신호를 전자 장치(1101)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 모듈(1155)은, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있다. 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The
디스플레이 모듈(1160)은 전자 장치(1101)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 디스플레이 모듈(1160)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 디스플레이 모듈(1160)은 터치를 감지하도록 설정된 터치 센서, 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 압력 센서를 포함할 수 있다. The display module 1160 can visually provide information to the outside of the electronic device 1101 (eg, a user). The display module 1160 may include, for example, a display, a hologram device, or a projector, and a control circuit for controlling the device. According to one embodiment, the display module 1160 may include a touch sensor configured to detect a touch, or a pressure sensor configured to measure the intensity of force generated by the touch.
오디오 모듈(1170)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 오디오 모듈(1170)은, 입력 모듈(1150)을 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 모듈(1155), 또는 전자 장치(1101)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1102))(예: 스피커 또는 헤드폰)를 통해 소리를 출력할 수 있다.The audio module 1170 can convert sound into an electrical signal or, conversely, convert an electrical signal into sound. According to one embodiment, the audio module 1170 acquires sound through the input module 1150, the
센서 모듈(1176)은 전자 장치(1101)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(1176)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다. The sensor module 1176 detects the operating state (e.g., power or temperature) of the electronic device 1101 or the external environmental state (e.g., user state) and generates an electrical signal or data value corresponding to the detected state. can do. According to one embodiment, the sensor module 1176 includes, for example, a gesture sensor, a gyro sensor, an air pressure sensor, a magnetic sensor, an acceleration sensor, a grip sensor, a proximity sensor, a color sensor, an IR (infrared) sensor, a biometric sensor, It may include a temperature sensor, humidity sensor, or light sensor.
인터페이스(1177)는 전자 장치(1101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1102))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 인터페이스(1177)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.The interface 1177 may support one or more designated protocols that can be used to directly or wirelessly connect the electronic device 1101 to an external electronic device (eg, the electronic device 1102). According to one embodiment, the interface 1177 may include, for example, a high definition multimedia interface (HDMI), a universal serial bus (USB) interface, an SD card interface, or an audio interface.
연결 단자(1178)는, 그를 통해서 전자 장치(1101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1102))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 연결 단자(1178)는, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.The
햅틱 모듈(1179)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 햅틱 모듈(1179)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.The haptic module 1179 can convert electrical signals into mechanical stimulation (e.g., vibration or movement) or electrical stimulation that the user can perceive through tactile or kinesthetic senses. According to one embodiment, the haptic module 1179 may include, for example, a motor, a piezoelectric element, or an electrical stimulation device.
카메라 모듈(1180)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(1180)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.The
전력 관리 모듈(1188)은 전자 장치(1101)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전력 관리 모듈(1188)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.The power management module 1188 can manage power supplied to the electronic device 1101. According to one embodiment, the power management module 1188 may be implemented as at least a part of, for example, a power management integrated circuit (PMIC).
배터리(1189)는 전자 장치(1101)의 적어도 하나의 구성요소에 전력을 공급할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 배터리(1189)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.The
통신 모듈(1190)은 전자 장치(1101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1102), 전자 장치(1104), 또는 서버(1108)) 간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(1190)은 프로세서(1120)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 통신 모듈(1190)은 무선 통신 모듈(1192)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(1194)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제1 네트워크(1198)(예: 블루투스, WiFi 다이렉트(wireless fidelity direct) 또는 IrDA(infrared data association)와 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제2 네트워크(1199)(예: 레거시 셀룰러 네트워크, 5G 네트워크, 차세대 통신 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부의 전자 장치(1104)와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성요소(예: 단일 칩)로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(1192)은 가입자 식별 모듈(1196)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제1 네트워크(1198) 또는 제2 네트워크(1199)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(1101)를 확인 또는 인증할 수 있다. Communication module 1190 provides a direct (e.g., wired) communication channel or wireless communication channel between the electronic device 1101 and an external electronic device (e.g., electronic device 1102,
무선 통신 모듈(1192)은 4G 네트워크 이후의 5G 네트워크 및 차세대 통신 기술, 예를 들어, NR 접속 기술(new radio access technology)을 지원할 수 있다. NR 접속 기술은 고용량 데이터의 고속 전송(eMBB(enhanced mobile broadband)), 단말 전력 최소화와 다수 단말의 접속(mMTC(massive machine type communications)), 또는 고신뢰도와 저지연(URLLC(ultra-reliable and low-latency communications))을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(1192)은, 예를 들어, 높은 데이터 전송률 달성을 위해, 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(1192)은 고주파 대역에서의 성능 확보를 위한 다양한 기술들, 예를 들어, 빔포밍(beamforming), 거대 배열 다중 입출력(massive MIMO(multiple-input and multiple-output)), 전차원 다중 입출력(FD-MIMO: full dimensional MIMO), 어레이 안테나(array antenna), 아날로그 빔포밍, 또는 대규모 안테나(large scale antenna)와 같은 기술들을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(1192)은 전자 장치(1101), 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1104)) 또는 네트워크 시스템(예: 제2 네트워크(1199))에 규정되는 다양한 요구사항을 지원할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 무선 통신 모듈(1192)은 eMBB 실현을 위한 피크 데이터 레이트(peak data rate)(예: 20Gbps 이상), mMTC 실현을 위한 손실 커버리지(예: 164dB 이하), 또는 URLLC 실현을 위한 U-plane latency(예: 다운링크(DL) 및 업링크(UL) 각각 0.5ms 이하, 또는 라운드 트립 1ms 이하)를 지원할 수 있다.The wireless communication module 1192 may support 5G networks and next-generation communication technologies after 4G networks, for example, NR access technology (new radio access technology). NR access technology provides high-speed transmission of high-capacity data (eMBB (enhanced mobile broadband)), minimization of terminal power and access to multiple terminals (mMTC (massive machine type communications)), or high reliability and low latency (URLLC (ultra-reliable and low latency). -latency communications)) can be supported. The wireless communication module 1192 may support high frequency bands (e.g., mmWave bands), for example, to achieve high data rates. The wireless communication module 1192 uses various technologies to secure performance in high frequency bands, for example, beamforming, massive array multiple-input and multiple-output (MIMO), and full-dimensional multiplexing. It can support technologies such as input/output (FD-MIMO: full dimensional MIMO), array antenna, analog beamforming, or large scale antenna. The wireless communication module 1192 may support various requirements specified in the electronic device 1101, an external electronic device (e.g., electronic device 1104), or a network system (e.g., second network 1199). According to one embodiment, the wireless communication module 1192 has a peak data rate (e.g., 20 Gbps or more) for realizing eMBB, loss coverage (e.g., 164 dB or less) for realizing mmTC, or a peak data rate (e.g., 20 Gbps or more) for realizing eMBB, or U-plane latency (e.g., downlink (DL) and uplink (UL) of less than 0.5 ms each, or round trip of less than 1 ms) can be supported.
안테나 모듈(1197)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부의 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 안테나 모듈(1197)은 기판(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 안테나를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 안테나 모듈(1197)은 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제1 네트워크(1198) 또는 제2 네트워크(1199)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(1190)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(1190)과 외부의 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시 예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC(radio frequency integrated circuit))이 추가로 안테나 모듈(1197)의 일부로 형성될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 안테나 모듈(1197)은 mmWave 안테나 모듈을 형성할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, mmWave 안테나 모듈은 인쇄 회로 기판, 상기 인쇄 회로 기판의 제1 면(예: 아래 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 지정된 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있는 RFIC, 및 상기 인쇄 회로 기판의 제2 면(예: 윗면 또는 측면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 상기 지정된 고주파 대역의 신호를 송신 또는 수신할 수 있는 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다.The
상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))을 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.At least some of the components are connected to each other through a communication method between peripheral devices (e.g., bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI)) and signal ( (e.g. commands or data) can be exchanged with each other.
일 실시 예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제2 네트워크(1199)에 연결된 서버(1108)를 통해서 전자 장치(1101)와 외부의 전자 장치(1104)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 외부의 전자 장치(1102, 또는 1104) 각각은 전자 장치(1101)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(1101)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부의 전자 장치들(1102, 1104, 또는 1108) 중 하나 이상의 외부의 전자 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(1101)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(1101)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부의 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부의 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(1101)로 전달할 수 있다. 전자 장치(1101)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 모바일 에지 컴퓨팅(MEC: mobile edge computing), 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다. 전자 장치(1101)는, 예를 들어, 분산 컴퓨팅 또는 모바일 에지 컴퓨팅을 이용하여 초저지연 서비스를 제공할 수 있다. 다른 실시 예에 있어서, 외부의 전자 장치(1104)는 IoT(internet of things) 기기를 포함할 수 있다. 서버(1108)는 기계 학습 및/또는 신경망을 이용한 지능형 서버일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 외부의 전자 장치(1104) 또는 서버(1108)는 제2 네트워크(1199) 내에 포함될 수 있다. 전자 장치(1101)는 5G 통신 기술 및 IoT 관련 기술을 기반으로 지능형 서비스(예: 스마트 홈, 스마트 시티, 스마트 카, 또는 헬스 케어)에 적용될 수 있다. According to one embodiment, commands or data may be transmitted or received between the electronic device 1101 and the external
도 12는, 다양한 실시예들에 따른, 카메라 모듈(1180)을 예시하는 블럭도(1200)이다. 도 12를 참조하면, 카메라 모듈(1180)은 렌즈 어셈블리(1210), 플래쉬(1220), 이미지 센서(1230), 이미지 스태빌라이저(1240), 메모리(1250)(예: 버퍼 메모리), 또는 이미지 시그널 프로세서(1260)를 포함할 수 있다. 렌즈 어셈블리(1210)는 이미지 촬영의 대상인 피사체로부터 방출되는 빛을 수집할 수 있다. 렌즈 어셈블리(1210)는 하나 또는 그 이상의 렌즈들을 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 카메라 모듈(1180)은 복수의 렌즈 어셈블리(1210)들을 포함할 수 있다. 이런 경우, 카메라 모듈(1180)은, 예를 들면, 듀얼 카메라, 360도 카메라, 또는 구형 카메라(spherical camera)를 형성할 수 있다. 복수의 렌즈 어셈블리(1210)들 중 일부는 동일한 렌즈 속성(예: 화각, 초점 거리, 자동 초점, f 넘버(f number), 또는 광학 줌)을 갖거나, 또는 적어도 하나의 렌즈 어셈블리는 다른 렌즈 어셈블리의 렌즈 속성들과 다른 하나 이상의 렌즈 속성들을 가질 수 있다. 렌즈 어셈블리(1210)는, 예를 들면, 광각 렌즈 또는 망원 렌즈를 포함할 수 있다. FIG. 12 is a block diagram 1200 illustrating a
플래쉬(1220)는 피사체로부터 방출 또는 반사되는 빛을 강화하기 위하여 사용되는 빛을 방출할 수 있다. 일실시예에 따르면, 플래쉬(1220)는 하나 이상의 발광 다이오드들(예: RGB(red-green-blue) LED, white LED, infrared LED, 또는 ultraviolet LED), 또는 xenon lamp를 포함할 수 있다. 이미지 센서(1230)는 피사체로부터 방출 또는 반사되어 렌즈 어셈블리(1210)를 통해 전달된 빛을 전기적인 신호로 변환함으로써, 상기 피사체에 대응하는 이미지를 획득할 수 있다. 일실시예에 따르면, 이미지 센서(1230)는, 예를 들면, RGB 센서, BW(black and white) 센서, IR 센서, 또는 UV 센서와 같이 속성이 다른 이미지 센서들 중 선택된 하나의 이미지 센서, 동일한 속성을 갖는 복수의 이미지 센서들, 또는 다른 속성을 갖는 복수의 이미지 센서들을 포함할 수 있다. 이미지 센서(1230)에 포함된 각각의 이미지 센서는, 예를 들면, CCD(charged coupled device) 센서 또는 CMOS(complementary metal oxide semiconductor) 센서를 이용하여 구현될 수 있다.The flash 1220 may emit light used to enhance light emitted or reflected from a subject. According to one embodiment, the flash 1220 may include one or more light emitting diodes (eg, red-green-blue (RGB) LED, white LED, infrared LED, or ultraviolet LED), or a xenon lamp. The image sensor 1230 may acquire an image corresponding to the subject by converting light emitted or reflected from the subject and transmitted through the
이미지 스태빌라이저(1240)는 카메라 모듈(1180) 또는 이를 포함하는 전자 장치(1101)의 움직임에 반응하여, 렌즈 어셈블리(1210)에 포함된 적어도 하나의 렌즈 또는 이미지 센서(1230)를 특정한 방향으로 움직이거나 이미지 센서(1230)의 동작 특성을 제어(예: 리드 아웃(read-out) 타이밍을 조정 등)할 수 있다. 이는 촬영되는 이미지에 대한 상기 움직임에 의한 부정적인 영향의 적어도 일부를 보상하게 해 준다. 일실시예에 따르면, 이미지 스태빌라이저(1240)는, 일실시예에 따르면, 이미지 스태빌라이저(1240)는 카메라 모듈(1180)의 내부 또는 외부에 배치된 자이로 센서(미도시) 또는 가속도 센서(미도시)를 이용하여 카메라 모듈(1180) 또는 전자 장치(1101)의 그런 움직임을 감지할 수 있다. 일실시예에 따르면, 이미지 스태빌라이저(1240)는, 예를 들면, 광학식 이미지 스태빌라이저로 구현될 수 있다. 메모리(1250)는 이미지 센서(1230)를 통하여 획득된 이미지의 적어도 일부를 다음 이미지 처리 작업을 위하여 적어도 일시 저장할 수 있다. 예를 들어, 셔터에 따른 이미지 획득이 지연되거나, 또는 복수의 이미지들이 고속으로 획득되는 경우, 획득된 원본 이미지(예: Bayer-patterned 이미지 또는 높은 해상도의 이미지)는 메모리(1250)에 저장이 되고, 그에 대응하는 사본 이미지(예: 낮은 해상도의 이미지)는 디스플레이 모듈(1160)을 통하여 프리뷰될 수 있다. 이후, 지정된 조건이 만족되면(예: 사용자 입력 또는 시스템 명령) 메모리(1250)에 저장되었던 원본 이미지의 적어도 일부가, 예를 들면, 이미지 시그널 프로세서(1260)에 의해 획득되어 처리될 수 있다. 일실시예에 따르면, 메모리(1250)는 메모리(1130)의 적어도 일부로, 또는 이와는 독립적으로 운영되는 별도의 메모리로 구성될 수 있다.The image stabilizer 1240 moves at least one lens or image sensor 1230 included in the
이미지 시그널 프로세서(1260)는 이미지 센서(1230)를 통하여 획득된 이미지 또는 메모리(1250)에 저장된 이미지에 대하여 하나 이상의 이미지 처리들을 수행할 수 있다. 상기 하나 이상의 이미지 처리들은, 예를 들면, 깊이 지도(depth map) 생성, 3차원 모델링, 파노라마 생성, 특징점 추출, 이미지 합성, 또는 이미지 보상(예: 노이즈 감소, 해상도 조정, 밝기 조정, 블러링(blurring), 샤프닝(sharpening), 또는 소프트닝(softening)을 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 이미지 시그널 프로세서(1260)는 카메라 모듈(1180)에 포함된 구성 요소들 중 적어도 하나(예: 이미지 센서(1230))에 대한 제어(예: 노출 시간 제어, 또는 리드 아웃 타이밍 제어 등)를 수행할 수 있다. 이미지 시그널 프로세서(1260)에 의해 처리된 이미지는 추가 처리를 위하여 메모리(1250)에 다시 저장되거나 카메라 모듈(1180)의 외부 구성 요소(예: 메모리(1130), 디스플레이 모듈(1160), 전자 장치(1102), 전자 장치(1104), 또는 서버(1108))로 제공될 수 있다. 일실시예에 따르면, 이미지 시그널 프로세서(1260)는 프로세서(1120)의 적어도 일부로 구성되거나, 프로세서(1120)와 독립적으로 운영되는 별도의 프로세서로 구성될 수 있다. 이미지 시그널 프로세서(1260)가 프로세서(1120)와 별도의 프로세서로 구성된 경우, 이미지 시그널 프로세서(1260)에 의해 처리된 적어도 하나의 이미지는 프로세서(1120)에 의하여 그대로 또는 추가의 이미지 처리를 거친 후 디스플레이 모듈(1160)을 통해 표시될 수 있다. The image signal processor 1260 may perform one or more image processes on an image acquired through the image sensor 1230 or an image stored in the memory 1250. The one or more image processes may include, for example, depth map creation, three-dimensional modeling, panorama creation, feature point extraction, image compositing, or image compensation (e.g., noise reduction, resolution adjustment, brightness adjustment, blurring). may include blurring, sharpening, or softening. Additionally or alternatively, the image signal processor 1260 may include at least one of the components included in the camera module 1180 (e.g., an image sensor). (1230)) may perform control (e.g., exposure time control, read-out timing control, etc.). The image processed by the image signal processor 1260 is stored back in the memory 1250 for further processing. or may be provided as an external component of the camera module 1180 (e.g., memory 1130, display module 1160, electronic device 1102,
일실시예에 따르면, 전자 장치(1101)는 각각 다른 속성 또는 기능을 가진 복수의 카메라 모듈(1180)들을 포함할 수 있다. 이런 경우, 예를 들면, 상기 복수의 카메라 모듈(1180)들 중 적어도 하나는 광각 카메라이고, 적어도 다른 하나는 망원 카메라일 수 있다. 유사하게, 상기 복수의 카메라 모듈(1180)들 중 적어도 하나는 전면 카메라이고, 적어도 다른 하나는 후면 카메라일 수 있다.According to one embodiment, the electronic device 1101 may include a plurality of
본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치(예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시 예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.Electronic devices according to various embodiments disclosed in this document may be of various types. Electronic devices may include, for example, portable communication devices (e.g., smartphones), computer devices, portable multimedia devices, portable medical devices, cameras, wearable devices, or home appliances. Electronic devices according to embodiments of this document are not limited to the above-mentioned devices.
본 문서의 다양한 실시 예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시 예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시 예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C", "A, B 및 C 중 적어도 하나", 및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제1", "제2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제1) 구성요소가 다른(예: 제2) 구성요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.The various embodiments of this document and the terms used herein are not intended to limit the technical features described in this document to specific embodiments, and should be understood to include various changes, equivalents, or replacements of the embodiments. In connection with the description of the drawings, similar reference numbers may be used for similar or related components. The singular form of a noun corresponding to an item may include one or more of the above items, unless the relevant context clearly indicates otherwise. As used herein, “A or B”, “at least one of A and B”, “at least one of A or B”, “A, B or C”, “at least one of A, B and C”, and “A Each of phrases such as “at least one of , B, or C” may include any one of the items listed together in the corresponding phrase, or any possible combination thereof. Terms such as "first", "second", or "first" or "second" may be used simply to distinguish one element from another, and may be used to distinguish such elements in other respects, such as importance or order) is not limited. One (e.g. first) component is said to be "coupled" or "connected" to another (e.g. second) component, with or without the terms "functionally" or "communicatively". Where mentioned, it means that any of the components can be connected to the other components directly (e.g. wired), wirelessly, or through a third component.
본 문서의 다양한 실시 예들에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로와 같은 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일 실시 예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다. The term “module” used in various embodiments of this document may include a unit implemented in hardware, software, or firmware, and is interchangeable with terms such as logic, logic block, component, or circuit, for example. can be used A module may be an integrated part or a minimum unit of the parts or a part thereof that performs one or more functions. For example, according to one embodiment, the module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).
본 문서의 다양한 실시 예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(1101)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(1136) 또는 외장 메모리(1138))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(1140))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(1101))의 프로세서(예: 프로세서(1120))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장 매체는, 비일시적(non-transitory) 저장 매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, '비일시적'은 저장 매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장 매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.Various embodiments of this document are one or more instructions stored in a storage medium (e.g., built-in memory 1136 or external memory 1138) that can be read by a machine (e.g., electronic device 1101). It may be implemented as software (e.g., program 1140) including these. For example, a processor (e.g., processor 1120) of a device (e.g., electronic device 1101) may call at least one command among one or more commands stored from a storage medium and execute it. This allows the device to be operated to perform at least one function according to the at least one instruction called. The one or more instructions may include code generated by a compiler or code that can be executed by an interpreter. A storage medium that can be read by a device may be provided in the form of a non-transitory storage medium. Here, 'non-transitory' only means that the storage medium is a tangible device and does not contain signals (e.g. electromagnetic waves), and this term refers to cases where data is semi-permanently stored in the storage medium. There is no distinction between temporary storage cases.
일 실시 예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: CD-ROM(compact disc read only memory))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어™)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트 폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.According to one embodiment, methods according to various embodiments disclosed in this document may be included and provided in a computer program product. Computer program products are commodities and can be traded between sellers and buyers. The computer program product may be distributed in the form of a machine-readable storage medium (e.g., compact disc read only memory (CD-ROM)), or through an application store (e.g., Play Store™), or on two user devices (e.g., It can be distributed (e.g. downloaded or uploaded) directly between smart phones) or online. In the case of online distribution, at least a portion of the computer program product may be at least temporarily stored or temporarily created in a machine-readable storage medium, such as the memory of a manufacturer's server, an application store's server, or a relay server.
다양한 실시 예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있으며, 복수의 개체 중 일부는 다른 구성요소에 분리 배치될 수도 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.According to various embodiments, each component (e.g., module or program) of the above-described components may include a single or plural entity, and some of the plurality of entities may be separately placed in other components. . According to various embodiments, one or more of the components or operations described above may be omitted, or one or more other components or operations may be added. Additionally or alternatively, multiple components (eg, modules or programs) may be integrated into a single component. In this case, the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components in the same or similar manner as those performed by the corresponding component of the plurality of components prior to the integration. . According to various embodiments, operations performed by a module, program, or other component may be executed sequentially, in parallel, iteratively, or heuristically, or one or more of the operations may be executed in a different order, omitted, or , or one or more other operations may be added.
Claims (21)
하우징;
광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리;
상기 하우징 내에서 상기 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키도록 상기 렌즈 어셈블리와 작동적(operatively)으로 연결되는 AF 구동부, 상기 AF 구동부는:
상기 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 상기 렌즈 어셈블리를 기준으로 상기 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어;
상기 하우징 내측에 상기 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일;
상기 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로;
상기 하우징 내측에 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일; 및
상기 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함하고,
상기 제1 구동 회로는, 상기 제1 AF 마그넷의 위치 및 상기 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써 상기 AF 캐리어를 통해 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키고,
상기 제2 구동 회로는, 상기 제1 AF 마그넷의 위치 및 상기 제2 AF 마그넷의 위치에 따라, 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, 상기 AF 캐리어를 이용하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키는 전자 장치.In electronic devices,
housing;
a lens assembly disposed along an optical axis;
An AF driving unit operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing, the AF driving unit:
An AF carrier including a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in a first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. ;
a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet;
a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control a current applied to the first AF coil;
a second AF coil disposed inside the housing to face the second AF magnet; and
It includes a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil,
The first driving circuit controls the current applied to the first AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet to move the lens assembly in the optical axis direction through the AF carrier. move it,
The second driving circuit controls the current applied to the second AF coil according to the position of the first AF magnet and the position of the second AF magnet, thereby moving the lens assembly to the optical axis using the AF carrier. An electronic device that moves in a direction.
상기 메모리는:
상기 제1 구동 회로를 통해 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제1 캘리브레이션 값을 저장하고, 및
상기 제2 구동 회로를 통해 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제2 캘리브레이션 값을 저장하는 전자 장치. The method of claim 1, wherein the electronic device further includes a memory,
The memory is:
storing a first calibration value related to a current applied to the first AF coil through the first driving circuit, and
An electronic device that stores a second calibration value related to a current applied to the second AF coil through the second driving circuit.
상기 제1 캘리브레이션 값과 상기 제2 캘리브레이션 값은 상기 하우징을 기준으로 상기 렌즈 어셈블리의 상기 제1 면과 상기 제2 면의 높이 차이에서 발생되는 틸트를 보상하는 값인 전자 장치.In claim 2,
The first calibration value and the second calibration value are values for compensating tilt generated from a height difference between the first surface and the second surface of the lens assembly with respect to the housing.
상기 제1 구동 회로는 제1 AF 홀 센서를 내장하고,
상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제1 AF 마그넷의 상기 제1 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정하는 전자 장치.In claim 1,
The first driving circuit includes a first AF Hall sensor,
An electronic device that measures the position of the first AF magnet with respect to the first AF Hall sensor using the first AF Hall sensor.
상기 제2 구동 회로는 제2 AF 홀 센서를 내장하고,
상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제2 AF 마그넷의 상기 제2 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정하는 전자 장치.In claim 4,
The second driving circuit includes a second AF Hall sensor,
An electronic device that measures the position of the second AF magnet with respect to the second AF Hall sensor using the second AF Hall sensor.
상기 제1 캘리브레이션 값에 기반한 상기 하우징으로부터 상기 제1 AF 마그넷의 높이를 맵핑하여 제1 캘리브레이션 위치를 결정하는 전자 장치.The method of claim 2, wherein the electronic device:
An electronic device that determines a first calibration position by mapping the height of the first AF magnet from the housing based on the first calibration value.
상기 제1 구동 회로에 내장된 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제1 AF 마그넷의 높이인 제1 현재 위치를 측정하고,
상기 제1 캘리브레이션 위치와 상기 제1 현재 위치를 비교하고,
비교 결과에 기반하여, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키는 전자 장치.The method of claim 6, wherein the first driving circuit:
Measure the first current position, which is the height of the first AF magnet, from the housing using the first AF Hall sensor built into the first driving circuit,
Compare the first calibration position and the first current position,
An electronic device that moves the lens assembly in the optical axis direction by controlling the current applied to the first AF coil based on the comparison result.
상기 제2 캘리브레이션 값에 기반한 상기 하우징으로부터 상기 제2 AF 마그넷의 높이를 맵핑하여 제2 캘리브레이션 위치를 결정하는 전자 장치.The method of claim 2, wherein the electronic device:
An electronic device that determines a second calibration position by mapping the height of the second AF magnet from the housing based on the second calibration value.
상기 제2 구동 회로에 내장된 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제2 AF 마그넷의 높이인 제2 현재 위치를 측정하고,
상기 제2 캘리브레이션 위치와 상기 제2 현재 위치를 비교하고,
비교 결과에 기반하여, 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키는 전자 장치.The method of claim 8, wherein the second driving circuit is:
Measure a second current position, which is the height of the second AF magnet, from the housing using a second AF Hall sensor built into the second driving circuit,
Compare the second calibration position and the second current position,
An electronic device that moves the lens assembly in the optical axis direction by controlling the current applied to the second AF coil based on the comparison result.
상기 제1 구동 회로가 상기 제1 AF 코일에 인가하는 전류는 상기 제2 구동 회로가 상기 제2 AF 코일에 인가하는 전류와 상이한 전자 장치.In claim 1,
The electronic device wherein the current applied by the first driving circuit to the first AF coil is different from the current applied by the second driving circuit to the second AF coil.
상기 AF 캐리어는 적어도 하나의 AF 볼을 더 포함하고,
상기 AF 구동부는 상기 적어도 하나의 AF 볼이 구름에 따라 상기 렌즈 어셈블리가 상기 광축 방향으로 이동하도록 제어하는 전자 장치.In claim 1,
The AF carrier further includes at least one AF ball,
The AF driver controls the lens assembly to move in the optical axis direction as the at least one AF ball rolls.
상기 AF 캐리어는 적어도 하나의 AF 샤프트를 더 포함하고,
상기 AF 구동부는 상기 적어도 하나의 AF 샤프트가 슬라이딩 됨에 따라 상기 렌즈 어셈블리가 상기 광축 방향으로 이동하도록 제어하는 전자 장치.In claim 1,
The AF carrier further includes at least one AF shaft,
The AF driver controls the lens assembly to move in the optical axis direction as the at least one AF shaft slides.
상기 전자 장치는:
상기 렌즈 어셈블리를 통과한 광이 입사되는 프리즘; 및
상기 렌즈 어셈블리 및 상기 프리즘을 통과한 상기 광을 획득하는 이미지 센서를 더 포함하는 전자 장치.In claim 1,
The electronic device:
a prism onto which light passing through the lens assembly is incident; and
An electronic device further comprising an image sensor configured to acquire the light passing through the lens assembly and the prism.
상기 전자 장치는, 상기 제1 구동 회로 및 상기 제2 구동 회로와 연결된 AF 드라이버 IC를 더 포함하고,
상기 AF 드라이버 IC는 상기 제1 구동 회로 및 상기 제2 구동 회로를 각각 제어하는 전자 장치.In claim 1,
The electronic device further includes an AF driver IC connected to the first driving circuit and the second driving circuit,
The AF driver IC is an electronic device that controls the first driving circuit and the second driving circuit, respectively.
상기 제1 구동 회로는 상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 획득한 상기 제2 AF 마그넷의 상기 제2 AF 홀 센서에 대한 위치에 기반하여 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하고,
상기 제2 구동 회로는 상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 획득한 상기 제1 AF 마그넷의 상기 제1 AF 홀 센서에 대한 위치에 기반하여 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 전자 장치.In claim 5,
The first driving circuit controls the current applied to the first AF coil based on the position of the second AF magnet with respect to the second AF Hall sensor obtained using the second AF Hall sensor,
The second driving circuit is an electronic device that controls the current applied to the second AF coil based on the position of the first AF magnet with respect to the first AF Hall sensor obtained using the first AF Hall sensor.
하우징;
광축을 따라 배치된 렌즈 어셈블리;
상기 하우징 내에서 상기 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키도록 상기 렌즈 어셈블리와 작동적(operatively)으로 연결되는 AF 구동부, 상기 AF 구동부는:
상기 렌즈 어셈블리의 제1 방향을 향하는 제1 면에 배치된 제1 AF 마그넷 및 상기 렌즈 어셈블리를 기준으로 상기 제1 방향과 반대 방향을 향하는 제2 면에 배치된 제2 AF 마그넷을 포함하는 AF 캐리어;
상기 하우징 내측에 상기 제1 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제1 AF 코일;
상기 제1 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제1 구동 회로;
상기 하우징 내측에 상기 제2 AF 마그넷과 대향하도록 배치된 제2 AF 코일; 및
상기 제2 AF 코일의 중심부에 배치되어 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 제2 구동 회로를 포함하고,
상기 제1 구동 회로는, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써 상기 AF 캐리어를 이용하여 상기 렌즈 어셈블리를 광축 방향으로 이동시키고,
상기 제2 구동 회로는 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어함으로써, 상기 AF 캐리어를 이용하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키는 카메라 모듈.In the camera module,
housing;
a lens assembly disposed along an optical axis;
An AF driving unit operatively connected to the lens assembly to move the lens assembly in the optical axis direction within the housing, the AF driving unit:
An AF carrier including a first AF magnet disposed on a first surface of the lens assembly facing in a first direction and a second AF magnet disposed on a second surface facing in a direction opposite to the first direction with respect to the lens assembly. ;
a first AF coil disposed inside the housing to face the first AF magnet;
a first driving circuit disposed at the center of the first AF coil to control a current applied to the first AF coil;
a second AF coil disposed inside the housing to face the second AF magnet; and
It includes a second driving circuit disposed at the center of the second AF coil to control the current applied to the second AF coil,
The first driving circuit moves the lens assembly in the optical axis direction using the AF carrier by controlling the current applied to the first AF coil,
The second driving circuit controls the current applied to the second AF coil, thereby moving the lens assembly in the optical axis direction using the AF carrier.
상기 제1 구동 회로는, 상기 제1 구동 회로를 통해 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제1 캘리브레이션 값을 저장하는 제1 메모리를 포함하고,
상기 제2 구동 회로는, 상기 제2 구동 회로를 통해 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류와 관련된 제2 캘리브레이션 값을 저장하는 제2 메모리를 포함하는 카메라 모듈.In claim 16,
The first driving circuit includes a first memory that stores a first calibration value related to a current applied to the first AF coil through the first driving circuit,
The second driving circuit includes a second memory that stores a second calibration value related to a current applied to the second AF coil through the second driving circuit.
상기 제1 구동 회로는 상기 제1 캘리브레이션 값에 기반하여 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하고,
상기 제2 구동 회로는 상기 제2 캘리브레이션 값에 기반하여 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하는 카메라 모듈.In claim 17,
The first driving circuit controls the current applied to the first AF coil based on the first calibration value,
The second driving circuit is a camera module that controls the current applied to the second AF coil based on the second calibration value.
상기 제1 캘리브레이션 값과 상기 제2 캘리브레이션 값은 상기 하우징을 기준으로 상기 렌즈 어셈블리의 상기 제1 면과 상기 제2 면의 높이 차이에서 발생되는 틸트를 보상하는 값인 카메라 모듈.In claim 18,
The first calibration value and the second calibration value are values that compensate for tilt generated from a height difference between the first surface and the second surface of the lens assembly with respect to the housing.
상기 제1 구동 회로는:
제1 AF 홀 센서를 내장하고, 및
상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제1 AF 마그넷의 상기 제1 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정하고,
상기 제2 구동 회로는:
제2 AF 홀 센서를 내장하고, 및
상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 제2 AF 마그넷의 상기 제2 AF 홀 센서에 대한 위치를 측정하는 카메라 모듈.In claim 19,
The first driving circuit is:
Built-in first AF Hall sensor, and
Measure the position of the first AF magnet with respect to the first AF Hall sensor using the first AF Hall sensor,
The second driving circuit is:
Built-in second AF Hall sensor, and
A camera module that measures the position of the second AF magnet with respect to the second AF Hall sensor using the second AF Hall sensor.
상기 제1 구동 회로는:
상기 제1 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제1 AF 마그넷의 높이인 제1 현재 위치를 측정하고,
상기 제1 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 제1 캘리브레이션 위치와 상기 제1 현재 위치를 비교하고,
비교 결과에 기반하여, 상기 제1 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키고,
상기 제2 구동 회로는:
상기 제2 AF 홀 센서를 이용하여 상기 하우징으로부터 상기 제2 AF 마그넷의 높이인 제2 현재 위치를 측정하고,
상기 제2 캘리브레이션 값에 기반하여 결정되는 제2 캘리브레이션 위치와 상기 제2 현재 위치를 비교하고,
비교 결과에 기반하여, 상기 제2 AF 코일에 인가되는 전류를 제어하여 상기 렌즈 어셈블리를 상기 광축 방향으로 이동시키는 카메라 모듈.
In claim 20,
The first driving circuit is:
Measure the first current position, which is the height of the first AF magnet, from the housing using the first AF Hall sensor,
Compare the first calibration position determined based on the first calibration value and the first current position,
Based on the comparison result, control the current applied to the first AF coil to move the lens assembly in the optical axis direction,
The second driving circuit is:
Measure a second current position, which is the height of the second AF magnet, from the housing using the second AF Hall sensor,
Compare the second current position with a second calibration position determined based on the second calibration value,
A camera module that moves the lens assembly in the optical axis direction by controlling the current applied to the second AF coil based on the comparison result.
Priority Applications (2)
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2022
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