KR20230153869A - 방사선 검출기용 정렬 장치 - Google Patents

방사선 검출기용 정렬 장치 Download PDF

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KR20230153869A
KR20230153869A KR1020220053845A KR20220053845A KR20230153869A KR 20230153869 A KR20230153869 A KR 20230153869A KR 1020220053845 A KR1020220053845 A KR 1020220053845A KR 20220053845 A KR20220053845 A KR 20220053845A KR 20230153869 A KR20230153869 A KR 20230153869A
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원유호
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한국수력원자력 주식회사
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Abstract

본 발명의 방사선 검출기용 정렬 장치는, 방사선 검출기가 장착되며, 방사선이 방출되는 조사장치 중심축에 시준되도록 시준홀이 형성되는 하우징; 상기 하우징이 설치되며 슬라이딩 가능하게 마련되는 이동부; 및 상기 이동부의 이동 경로를 가이드하는 가이드 홈이 형성되는 베이스부를 포함하고, 상기 하우징은, 상기 시준홀의 중심축에 상기 조사장치의 빔 중심 축이 정렬되는 제1 기준선과 상기 방사선 검출기의 검출 중심 축이 일치되도록, 상기 이동부에 연동하여 이동한다.

Description

방사선 검출기용 정렬 장치{Apparatus of alignment for Radiation detector}
본 발명은 방사선 검출기용 정렬 장치에 관한 것이다.
방사선 검출기를 조사장치의 빔 중심 축에 정렬하기 위해 조사 장치 내 선원 중심 후면에 레이저를 설치하고 레이저 중심이 방사선 검출기 전면 기준점에 정렬하도록 위치시킨다. 엑스선 조사장치는 설계상 엑스선 관에 레이저를 설치할 수 없으므로, 조사 장치 맞은 편의 빔 중심 축에 레이저를 설치하고 방사선 검출기 후면 기준점에 정렬하도록 위치시킨다.
그런데 방사선 검출기 형태가 상하, 좌우 대칭인 경우 레이저 위치와 무관하게 정렬이 이루어질 수 있으나, 방사선 검출기의 형태가 비대칭이면 방사선 검출기 후면 기준점을 정렬하여도 전면 기준점이 빔 축 상에 있다고 보장할 수 없는 문제점이 있어 방사선 검출기의 정렬이 어렵다.
게다가 방사선 검출기 중심 축이 빔 중심 축과 정확히 정렬되어야 하나, 좁은 영역의 방사선(장)을 측정할 경우(collimated pencil beam) 상기와 같은 정렬 방식은 대략적인 위치를 설정하는 것이므로, 정확한 정렬이 이루어지기 어렵다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 방사선 검출기의 형상에 관계없이 조사 장치의 빔 중심 축에 시준할 수 있도록 방사선 검출기를 정렬할 수 있는 방사선 검출기용 정렬 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 방사선 검출기용 정렬 장치의 일 면(aspect)은, 방사선 검출기가 장착되며, 방사선이 방출되는 조사장치 중심축에 시준되도록 시준홀이 형성되는 하우징; 상기 하우징이 설치되며 슬라이딩 가능하게 마련되는 이동부; 및 상기 이동부의 이동 경로를 가이드하는 가이드 홈이 형성되는 베이스부를 포함하고, 상기 하우징은, 상기 시준홀의 중심축에 상기 조사장치의 빔 중심 축이 정렬되는 제1 기준선과 상기 방사선 검출기의 검출 중심 축이 일치되도록, 상기 이동부에 연동하여 이동한다.
상기 베이스부는, 상기 이동부의 이동 경로와 평행하게 마련되며, 상기 이동부의 이동 거리를 측정하도록 수치 또는 일정 간격으로 마킹되는 마킹부를 포함할 수 있다.
상기 이동부는, 상기 시준홀이 투영되는 위치와 동일 중심축 상에서 상기 마킹부와 대향되는 위치에 마련되는 시준홀 표시부; 및 상기 검출 중심 축이 투영되는 위치와 동일 중심축 상에서 상기 마킹부와 대향되는 위치에 마련되는 검출 중심 축 표시부를 포함하고, 상기 하우징은, 상기 제1 기준선과 상기 시준홀 표시부가 일치하는 위치에서 상기 검출 중심 축 표시부가 일치하는 위치로 이동하여 상기 방사선 검출기를 정렬할 수 있다.
상기 하우징은, 상기 방사선 검출기에 간섭되지 않도록 돌출되며 상기 시준홀이 형성되는 돌출부를 포함할 수 있다.
상기 돌출부는, 복수 개로 구비되고, 상기 시준홀은, 상기 복수 개의 돌출부에서 상기 검출 중심 축과 동일한 축의 가상의 선으로 이어지되, 상기 검출 중심 축과 수평 방향으로 평행하게 마련될 수 있다.
상기 이동부의 상부에 마련되어 상기 하우징을 지지하며, 상기 이동부와 연동하여 이동하는 받침부를 더 포함할 수 있다.
상기 받침부는, 상기 하우징의 수평 방향 각도를 조절하도록, 축 회전하는 요잉부를 포함할 수 있다.
상기 요잉부는, 원판, 및 상기 원판의 둘레를 따라 맞닿게 마련되어 상기 원판의 축 회전을 가이드하는 축회전 지지부를 포함할 수 있다.
상기 받침부는, 상기 하우징의 상하 방향 각도를 조절하도록, 전후 방향으로 곡면이 형성되어 상기 곡면을 따라 피칭하는 피칭부를 포함할 수 있다.
상기와 같은 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 하나 혹은 그 이상 있다.
본 발명의 방사선 검출기용 정렬 장치에 따르면, 방사선 검출기의 형상에 관계없이 엑스선관과 같이 방사선을 방출하는 조사장치의 빔 중심 축에 방사선 검출기의 검출 중심 축을 용이하게 정렬시킬 수 있어, 방사선 검출기의 정렬이 용이할 뿐만 아니라, 방사선 검출기의 측정 정확도가 향상될 수 있다.
도 1은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치가 조사장치에서 발생하는 방사선을 측정하는 상태를 도시한 도면이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치를 도시한 사시도이다.
도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치의 피칭 방향을 표시한 사시도이다.
도 2c는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치의 요잉 방향을 표시한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치를 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치가 시준홀을 기준으로 조사장치의 중심축에 시준되는 상태를 도시한 평면도이다.
도 5는 도 4에서 베이스부에 대한 이동부의 위치를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치에 의해 방사선 검출기의 정렬이 완료된 상태를 도시한 평면도이다.
도 7은 도 6에서 베이스부에 대한 이동부의 위치를 도시한 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도 1은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치가 조사장치에서 발생하는 방사선을 측정하는 상태를 도시한 도면이고, 도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치를 도시한 사시도이며, 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치의 피칭 방향을 표시한 사시도이고, 도 2c는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치의 요잉 방향을 표시한 사시도이다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치를 도시한 평면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면 방사선 검출기용 정렬 장치(100)는, 방사선 검출기(20)를 정렬하는 장치로서, 방사선 검출기(20)가 설치될 수 있으며, 하우징(110) 및 본체부(120)를 포함할 수 있다. 본체부(120)는 하우징(110)을 지지 및 이동시키는 구성으로서, 베이스부(121), 이동부(122), 받침부(123)를 포함할 수 있다.
설명에 앞서 방사선 검출기(20)는 조사장치에서 방출하는 방사선(예를 들어 엑스선 관)을 검출할 수 있으며, 다양한 형상을 가질 수 있어, 외관이 대칭 또는 비대칭 구조를 가질 수 있다. 방사선 검출기(20)는 대칭일 뿐만 아니라 비대칭 구조를 가지더라도 본 실시예의 방사선 검출기용 정렬 장치(100)에 의해 정렬이 용이하게 이루질 수 있다.
하우징(110)은, 방사선 검출기(20)가 장착되며 방사선 검출기(20)의 정렬을 위해 검사 대상을 시준하는 구성이다. 하우징(110)은 방사선 검출기(20)가 장착될 수 있도록 중공이 형성될 수 있고, 내부 및 외부 형상은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어 하우징(110)은 상부에서 하부 방향으로 방사선 검출기(20)가 단순히 삽입되어 장착될 수 있도록, 상부가 개구되는 박스 구조, 또는 프레임 구조를 가질 수 있다. 더불어 하우징(110)은 다양한 사이즈의 방사선 검출기(20)가 장착 및 고정될 수 있도록, 스프링 등의 탄성 구조물, 브라켓 및/또는 리브 등이 마련될 수도 있는 바와 같이 다양한 변형예가 가능하다.
하우징(110)은, 레이저 시준을 위해 돌출부(111)가 마련될 수 있으며, 2개 이상의 시준홀(111H)이 형성될 수 있다.
돌출부(111)는, 시준홀(111H)의 중심축(B)과 검출 중심 축(C)이 평행한 방향에 형성될 수 있도록, 하우징(110)의 측면에 마련될 수 있다. 예를 들어 돌출부(111)는 하우징(110)의 측면에서 돌출되는 판 구조로서, 서로 이격되게 쌍으로 마련될 수 있다.
도 2a 및 도 3을 참조하면 돌출부(111)가 2개 마련되고, 각각의 돌출부(111)에 시준홀(111H)이 마련되어, 시준홀(111H)이 2개 마련되는 것을 예시하였다. 그러나 이는 예시에 불과하여 이에 한정되지 않으며, 시준될 수 있는 다양한 구성의 변경이 가능하다. 그리고 시준홀(111H)은 레이저가 시준되는 홀을 이루는데, 레이저가 시준홀(111H)을 통해 조사장치(10)의 중심축에 정렬시 간섭되지 않는 다양한 구조가 가능함을 언급하여 둔다.
시준홀(111H)은 레이저가 시준되는 관통 구조로서, 돌출부(111)의 중심을 관통하여 형성될 수 있다. 시준홀(111H)은, 복수 개의 돌출부(111)에서 검출 중심 축(C)과 동일한 축의 가상의 선으로 이어지되, 검출 중심 축(C)과 수평 방향으로 평행하게 마련되어, 검출 중심 축(C)이 위치하기 위한 기준을 이룰 수 있다.
다시 말해서 시준홀(111H)은 방사선이 방출되는 조사장치(10)의 중심축에 시준되는 구성으로서, 이동이 어려운 조사장치(10)를 이동시키지 않고 시준홀(111H)에 조사장치(10)의 빔 중심 축(A)을 일치시켜, 방사선 검출기(20)의 중심축 정렬(방사선 검출기(20) 중심축과 조사장치(10)의 중심축을 정렬하는 작업)에 선행하는 작업으로 방사선 검출기(20)가 배치되기 위한 기준을 설정하는 구성이다. 시준홀(111H)의 위치는 방사선 검출기(20)가 조사장치(10)에서 방출되는 방사선을 측정하기 위한 검출 중심 축(C)을 정렬시키는데 이용될 수 있다. 시준홀(111H)을 이용하여 방사선 검출기(20)를 정렬하는 과정은 도 4 내지 도7을 참조하여 후술하도록 한다.
이러한 하우징(110)은, 시준홀(111H)의 중심축(B)에 조사 장치(10)의 빔 중심 축(A)이 정렬되는 제1 기준선(L1)(도 5 및 도 7 참조)과 방사선 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 일치되도록, 이동부(122)에 연동하여 이동할 수 있다.
본체부(120)의 받침부(123)는, 하우징(110)과 이동부(122)를 매개하는 구성이다. 받침부(123)는 이동부(122)의 상부에 마련되어 하우징(110)을 지지할 수 있으며, 이동부(122)와 연동하여 이동할 수 있다.
게다가 받침부(123)는, 수평 방향 각도 및 상하 방향 각도를 조절할 수 있도록, 피칭부(123A)와 요잉부(123B)를 포함할 수 있다. 즉 받침부(123)는 하우징(110)의 지지와 더불어, 시준홀(111H)에 레이저(빔)가 관통하게 함으로써 검출 중심 축(C)이 빔 중심 축인 제1 기준선(L1)에 일치하도록 보장하는 구조를 이룰 수 있다.
먼저 도 2c를 참조하면 요잉부(123B)는, R2 각도를 조절할 수 있다. 다시 말해서 요잉부(123B)는 하우징(110)의 수평 방향 각도를 조절하도록, 요잉(yawing)할 수 있다.
예시적으로 요잉부(123B)는, 원판(부호 도시하지 않음), 및 원판의 둘레를 따라 맞닿게 마련되어 원판의 축 회전을 가이드하는 축회전 지지부(123BB)를 포함할 수 있다.
그리고 원판은 단차를 이룰 수 있고, 축회전 지지부(123BB)는 원판의 단차 하면에 맞닿게 마련되어, 원판의 하단이 축 기능을 이룰 수도 있다. 축회전 지지부(123BB)는 원판의 둘레를 따라 하나 이상 이격되게 마련될 수 있다.
이와 더불어 요잉부(123B)는, 축회전을 지지하는 회전축이 원판의 내부 중심에 마련될 수도 있다. 원판의 축 회전은, 축회전 지지부(123BB)와 회전축 중 어느 하나에 의해서만 수행될 수도 있어, 회전축과 축회전 지지부(123BB) 중 어느 하나는 생략될 수도 있는 바와 같이 다양한 변형예가 가능하다. 더불어 요잉부(123B)는 턴테이블이 제공될 수도 있다.
그리고 도 2b를 참조하면 피칭부(123A)는, R1 각도를 조절할 수 있다. 다시 말해서 피칭부(123A)는, 하우징(110)의 상하 방향 각도를 조절하도록, 전후 방향으로 곡면(123AA)이 형성되어 곡면(123AA)을 따라 피칭(pitching)할 수 있다.
예를 들어 피칭부(123A)는 곡면 이동을 이루도록, 하부 방향으로 오목한 하부 부재, 및 하부 부재의 곡면에 맞닿게 하부 방향으로 볼록한 상부 부재를 포함할 수 있다.
다만 이에 한정되는 것은 아니며, 실시예의 변형예에 따라 요잉부(123B)와 피칭부(123A)가 생략되고, 볼 캐스터(볼트랜스퍼)가 구비될 수도 있는 바와 같이 다양한 변형예가 가능하다.
게다가 피칭부(123A) 및 요잉부(123B)는 다이얼을 포함하여 다이얼의 조작에 의해 요잉 및 피칭할 수도 있다. 다이얼에 의해 원판 및 하부 부재의 운동이 수행되도록, 다이얼은 웜기어, 피니언/선 기어, 피니언/선 기어와 맞물리는 랙기어 등의 기어 모듈이 제공될 수도 있다.
이동부(122)는 시준홀(111H)을 기준으로 검출 중심 축(C)이 정렬되도록 하우징(110)을 이동시키기 위해 이동하는 구성이다. 이동부(122)는 받침부(123)에 의해 하우징(110)이 설치될 수 있으며, 베이스부(121)에서 슬라이딩 가능하게 마련될 수 있다.
예를 들어 이동부(122)는 평평한 판의 형태를 이룰 수 있다. 도면에 도시하지 않았으나, 이동이 용이하게 이루어지도록 이동부(122)와 베이스부(121)는 레일 구조를 가질 수 있다. 또는 랙기어와 피니언 구조와 같은 기어 유닛과 다이얼 손잡이가 마련되어 손잡이를 이용한 미세 이동이 수행될 수도 있는 바와 같이 다양한 변형예가 가능하다.
게다가 이동부(122)는, 시준홀 표시부(도 5 및 도 7 참조, 표시 'C' 및 이와 함께 표시되는 선) 및 검출 중심 축 표시부(도 5 및 도 7 참조, 표시 'B' 및 이와 함께 표시되는 선)를 포함할 수 있다.
이는 시준홀(111H)에 의해 설정되는 제1 기준선(L1)에 따라 검출 중심 축(C)의 위치를 설정시, 가상으로 이루어지는 시준홀(111H)과 검출 중심 축(C)을 육안으로 감지하지 않고, 이동부(122)와 하우징(110)에 표시되는 시준홀 표시부와 검출 중심 축 표시부를 이용하기 위함이다.
다시 말해서 시준홀(111H)을 이용하여 방사선 검출기(20)가 배치되기 위한 제1 기준선(L1)을 설정하면서도, 가상으로 형성되는 시준홀(111H)을 육안으로 쉽게 인지할 수 있도록 시준홀 표시부 및 검출 중심 축 표시부가 제공되는 것이다.
시준홀 표시부는, 시준홀(111H)이 투영되는 위치와 동일 중심축 상에서 마킹부(121M)(도 5 및 도 7 참조)와 대향되는 위치에 마련될 수 있다. 이는 시준홀(111H)의 중심축(B)의 위치가 이동부(122)에 위치된 효과를 가지기 위함이다.
다시 말해서 하우징(110)이 설치되는 이동부(122)의 이동은 시준홀(111H)의 중심축(B)을 기준으로 이동되는데, 시준홀(111H)의 중심축(B)은 이동부(122)와 이격되며 가상으로 형성되어 육안으로 감지하기 용이하지 않을 수도 있다. 따라서 작업자가 이동부(122)에 마련되는 시준홀 표시부를 통해 시준홀(111H)의 위치를 이동부(122)에서 직접 육안으로 파악하기 위함이다. 더불어 시준홀 표시부가 마킹부(121M)와 대향되는 위치에 마련됨으로써 이동부(122)의 이동된 거리를 마킹부(121M)에 표시된 수치를 이용하여 빠른 측정 작업을 이루도록 하기 위함이다.
검출 중심 축 표시부는 검출 중심 축(C)이 투영되는 위치와 동일 중심축 상에서 마킹부(121M)와 대향되는 위치에 마련될 수 있다. 이는 검출 중심 축(C)의 위치가 이동부(122)에 위치된 효과를 가지기 위함이다. 다시 말해서 하우징(110)이 설치되는 이동부(122)가 최종으로 이동되는 위치는 검출 중심 축(C)의 최종 위치로 설정될 수 있는데, 검출 중심 축(C)은 이동부(122)와 이격되며 가상으로 형성되어 육안으로 감지하기 용이하지 않을 수도 있다. 따라서 작업자가 이동부(122)에 마련되는 검출 중심 축 표시부를 통해 검출 중심 축(C)의 위치를 이동부(122)에서 직접 육안으로 파악하기 위함이다. 더불어 검출 중심 축 표시부가 마킹부(121M)와 대향되는 위치에 마련되는 것은, 시준홀 표시부가 마킹부(121M)와 대향되는 위치에 마련되는 것과 동일한 효과를 가지기 위함이다.
따라서 하우징(110)은, 제1 기준선(L1)과 시준홀 표시부가 일치하는 위치에서 검출 중심 축 표시부가 일치하는 위치로 이동하여 방사선 검출기(20)를 정렬할 수 있으며, 이에 대하여 도 4 내지 도 7을 참조하여 후술하도록 한다.
베이스부(121)는, 이동부(122)의 이동 경로를 가이드하는 가이드 홈(121G)이 형성될 수 있다. 가이드 홈(121G)은, 이동부(122)의 이동 경로를 따라 형성되는 홈으로 이루어질 수 있다.
예를 들어 베이스부(121)는, 상단이 평평한 판 구조로 이루어지고 상부에서 하부 방향으로 오목한 가이드 홈(121G)이 형성될 수 있으며, 가이드 홈(121G)과 나란하게 마킹부(121M)가 마련될 수 있다.
도 5 및 도 7을 참조하면 마킹부(121M)는, 이동부(122)의 이동 경로와 평행하게 마련될 수 있으며, 이동부(122)의 이동 거리를 측정하도록 수치 또는 일정 간격으로 마킹될 수 있다. 예를 들어 수치는 미리미리(mm) 단위로 이루어질 수 있으며, 일례로 길이를 측정하는 자(scale)의 형태를 이룰 수 있으나, 이는 예시에 불과하다.
이하에서는 도면을 참조하여 빔 중심축인 제1 기준선(L1)에 시준홀(111H)이 일치되고, 방사선 검출기의 정렬이 형성되는 것을 설명하도록 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치가 시준홀을 기준으로 조사장치의 중심축에 시준되는 상태를 도시한 평면도이고, 도 5는 도 4에서 베이스부에 대한 이동부의 위치를 도시한 도면이다. 더불어 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치에 의해 방사선 검출기의 정렬이 완료된 상태를 도시한 평면도이고, 도 7은 도 6에서 베이스부에 대한 이동부의 위치를 도시한 도면이다. 이하에서는 도 4 내지 도 7을 참조하되, 앞서 언급되는 도면이 함께 참조될 수 있다.
본 실시예의 시준홀(111H)은 제1 기준선(L1)에 일치하여, 레이저가 관통할 수 있다. 그리고 하우징(110)은, 제1 기준선(L1)과 시준홀 표시부가 일치하는 위치에서 검출 중심 축 표시부가 일치하는 위치로 이동하여 방사선 검출기(20)를 정렬할 수 있다. 이하에서는 조사장치(10)가 엑스선관(11)을 포함하고, 방사선 검출기(20)가 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)과 일치되도록 정렬시키는 것을 예시하여 설명하도록 한다.
먼저 도 4 및 도 5를 참조하면, 방사선 검출기(20)가 방사선을 검출하기 위해서는, 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)과 방사선 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 동일선상(동일 중심축)에 배치되어야 한다. 그런데 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)과 검출기(20)의 검출 중심 축(C)은 육안으로 확인하기 어렵고, 조사장치(10) 맞은편의 레이저를 이용해 방사선 검출기(20) 후면 기준점을 정렬하여도 전면 기준점이 빔 축 상에 있다고 보장하기 어렵다. 이에 따라 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)에 일치되도록 검출기(20)의 검출 중심 축(C)을 직접 활용하여 즉시 정렬시키는 것은 어렵다.
따라서 본 실시예는 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)과 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 일치되도록, 우선 시준홀(111H)의 중심축(B)을 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)에 일치시킨다. 다시 말해서 방사선 검출기(20)를 정렬시키기 위해, 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 최종 배치되는 위치를 레이저가 시준될 수 있는 시준홀(111H)을 이용한다.
이는 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 최종 배치되는 위치인 제1 기준선(L1)을 시준홀(111H)의 중심축(B)에 조사장치(10)의 빔 중심 축(A)이 정렬되는 위치로 설정함으로써 이룰 수 있다.
도 4를 참조하면, 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)에 시준홀(111H)의 중심축(B)이 일치되는 위치가 설정되도록, 받침부(123)를 이용하여 레이저가 시준홀(111H)을 통과하도록 조절할 수 있다.
여기서 수평 방향 및/또는 상하 방향의 각도가 불일치하면, 수평 및 상하 방향의 각도를 조절할 수도 있다. 그리고 수평 및 상하 방향의 각도 조절의 선순위는 한정되지 않아, 수평 방향의 각도가 먼저 조절되거나 상하 방향의 각도가 먼저 조절되거나, 또는 수평 및 상하 방향의 각도 조절이 반복으로 이루어질 수도 있다.
예를 들어 도 2c를 참조하면, 요잉부(123B)는, R2 각도(하우징(110)의 수평 방향 각도)를 조절하도록, 요잉할 수 있다. 요잉부(123B)의 작동은, 작업자가 원판을 직접 회전시키거나 다이얼의 조작에 의해 이루어질 수 있다.
그리고 도 2b를 참조하면 피칭부(123A)는, R1 각도(하우징(110)의 상하 방향 각도)를 조절하도록, 곡면(123AA)을 따라 피칭할 수 있다. 피칭부(123A)의 동작은, 요잉부(123B)와 유사하게 작업자가 직접 피칭부(123A)의 상부 부재를 피칭시키거나 다이얼의 조절에 의해 이루어질 수 있다.
그러면 도 5를 참조하는 바와 같이, 시준홀(111H)의 중심축(B)으로 표시되는 시준홀 표시부의 위치가 제1 기준선(L1)이 되어, 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 최종 이동되는 위치로 설정될 수 있다.
이와 같이 제1 기준선(L1)이 설정되면 도 7을 참조하는 바와 같이, 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 표시되는 검출 중심 축 표시부를 제1 기준선(L1)에 일치시키도록 이동부(122)를 슬라이딩시킨다. 그러면 도 6을 참조하는 바와 같이, 방사선 검출기(20)가 정렬되기 전의 검출기(20)의 검출 중심 축(C)은 엑스선관(11)의 빔 중심 축(A)에 일치되는 위치로 이동되어, 검출기(20)는 최종의 검출 중심 축(C')이 설정될 수 있다. 이때 검출기(20)가 이동되는 거리는, 도 3을 참조하는 바와 같이 시준홀(111H)의 중심축(B)과 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 이격되는 거리(d)일 수 있다.
이와 같이 베이스부(121) 상에서 이동부(122)가 이동하면, 하우징(110)이 함께 이동하여, 조사장치(10)의 빔 중심 축(A)이 정렬되기 위한 제1 기준선(L1)에 방사선 검출기(20)의 검출 중심 축(C)이 정렬될 수 있다.
그리고 설명되지 않은 식별부호 '11'은 엑스선관(11)이고, '12'는 부가필터(12)이며, '13' 및 '21'은 콜리메이터(13, 21)이다.
본 실시예에 따른 방사선 검출기용 정렬 장치(100)는, 방사선 검출기(20)의 형상에 관계없이 엑스선관(11)과 같이 방사선을 방출하는 조사장치(10)의 빔 중심 축(A)에 방사선 검출기(20)의 검출 중심 축(C)을 용이하게 정렬시킬 수 있어, 방사선 검출기(20)의 정렬이 용이할 뿐만 아니라, 방사선 검출기(20)의 측정 정확도가 향상될 수 있다.
게다가 본 실시예의 방사선 검출기용 정렬 장치(100)는, 콜리메이터(13, 21)를 통과하여 형성되는 좁은 영역의 방사선 빔 중심 축(A)에 방사선 검출기(20)를 정렬할 수 있다.
이상과 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
100: 정렬 장치 110: 하우징
111: 돌출부 111H: 시준홀
120: 본체부 121: 베이스부
121M: 마킹부 121G: 가이드 홈
122: 이동부 123: 받침부
10: 조사장치 20: 방사선 검출기

Claims (9)

  1. 방사선 검출기가 장착되며, 방사선이 방출되는 조사장치의 중심축에 시준되도록 시준홀이 형성되는 하우징;
    상기 하우징이 설치되며 슬라이딩 가능하게 마련되는 이동부;
    상기 이동부의 이동 경로를 가이드하는 가이드 홈이 형성되는 베이스부를 포함하고,
    상기 하우징은, 상기 시준홀의 중심축에 상기 조사장치의 빔 중심 축이 정렬되는 제1 기준선과 상기 방사선 검출기의 검출 중심 축이 일치되도록, 상기 이동부에 연동하여 이동하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 베이스부는, 상기 이동부의 이동 경로와 평행하게 마련되며, 상기 이동부의 이동 거리를 측정하도록 수치 또는 일정 간격으로 마킹되는 마킹부를 포함하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 이동부는,
    상기 시준홀이 투영되는 위치와 동일 중심축 상에서 상기 마킹부와 대향되는 위치에 마련되는 시준홀 표시부; 및
    상기 검출 중심 축이 투영되는 위치와 동일 중심축 상에서 상기 마킹부와 대향되는 위치에 마련되는 검출 중심 축 표시부를 포함하고,
    상기 하우징은, 상기 제1 기준선과 상기 시준홀 표시부가 일치하는 위치에서 상기 검출 중심 축 표시부가 일치하는 위치로 이동하여 상기 방사선 검출기를 정렬하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 하우징은, 상기 방사선 검출기에 간섭되지 않도록 돌출되며 상기 시준홀이 형성되는 돌출부를 포함하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 돌출부는, 복수 개로 구비되고,
    상기 시준홀은, 상기 복수 개의 돌출부에서 상기 검출 중심 축과 동일한 축의 가상의 선으로 이어지되, 상기 검출 중심 축과 수평 방향으로 평행하게 마련되는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 이동부의 상부에 마련되어 상기 하우징을 지지하며, 상기 이동부와 연동하여 이동하는 받침부를 더 포함하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 받침부는, 상기 하우징의 수평 방향 각도를 조절하도록, 축 회전하는 요잉부를 포함하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 요잉부는, 원판, 및 상기 원판의 둘레를 따라 맞닿게 마련되어 상기 원판의 축 회전을 가이드하는 축회전 지지부를 포함하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 받침부는, 상기 하우징의 상하 방향 각도를 조절하도록, 전후 방향으로 곡면이 형성되어 상기 곡면을 따라 피칭하는 피칭부를 포함하는, 방사선 검출기용 정렬 장치.

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