KR20230115285A - 표시장치의 열화 보상 시스템과 그 열화 보상 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 입력 영상 데이터를 분석하여 데이터 사용량에 따른 스트레스 누적값과 휘도값을 포함한 열화정보를 저장하는 메모리; 패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성하는 중앙 서버; 상기 관계식을 이용하여 보상 게인을 생성하고, 상기 보상 게인으로 상기 입력 영상 데이터를 보상하는 보상부; 및 상기 중앙 서버로부터 다운 로드 받은 상기 관계식을 상기 보상부에 출력하는 데이터 수집부를 포함한다.
Description
본 발명은 표시장치의 열화 보상 시스템과 그 열화 보상 방법에 관한 것이다.
다양한 종류의 표시장치가 개발 및 시판되고 있다. 이 중에서 액티브 매트릭스 타입(active matrix type)의 유기발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode: 이하, "OLED"라 함)를 포함하여, 응답속도가 빠르고 발광효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있다.
유기발광 표시장치는 OLED 소자의 열화를 보상하기 위해, 사용량 또는 스트레스를 누적하여 보상하는 데이터 카운팅 기술을 사용하고 있다. 데이터 카운팅 기술을 사용하는 경우 누적 데이터(또는 열화 정보)와 보상값 간의 관계식과 보상 룩업 테이블이 필요하다.
그런데, 관계식과 보상 룩업 테이블을 도출하기 위해서는 제품 출하 전에 열화 정보를 얻기 위한 실험이 오랜 기간 동안 이루어져야 한다. 열화 정보와 보상값 간의 관계는 공정 조건에 따라 변동되므로, 공정 조건이 바뀔 때마다 새로운 열화 실험이 필요한 것이다.
이러한 이유로, 종래의 열화 보상 기술에 따르면 제품 출하 전에 보상 관련 비용이 증가할 수 있다. 또한, 제품 출하 시기를 고려할 때 실험 샘플의 수와 실험 기간이 한정되어 있기 때문에, 종래의 열화 보상 기술은 공정 조건 별로 보상의 정확도를 높이기 어려운 실정이다.
따라서, 본 발명은 제품 출하 후에 수집된 열화 정보와 그에 따라 업데이트 된 관계식을 기반으로 열화 보상을 수행하여, 제품 출하 전 보상 관련 비용을 줄이고 공정 조건 별로 보상의 정확도를 향상시킬 수 있도록 한 표시장치의 열화 보상 시스템과 그 열화 보상 방법을 제공한다.
이를 위해, 본 발명에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 입력 영상 데이터를 분석하여 데이터 사용량에 따른 스트레스 누적값과 휘도값을 포함한 열화정보를 저장하는 메모리; 패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성하는 중앙 서버; 상기 관계식을 이용하여 보상 게인을 생성하고, 상기 보상 게인으로 상기 입력 영상 데이터를 보상하는 보상부; 및 상기 중앙 서버로부터 다운 로드 받은 상기 관계식을 상기 보상부에 출력하는 데이터 수집부를 포함한다.
또한, 본 발명에 따른 표시장치의 열화 보상 방법은, 열화정보 도출부에서 입력 영상 데이터를 분석하여 데이터 사용량에 따른 스트레스 누적값과 휘도값을 포함한 열화정보를 도출하는 단계; 상기 열화 정보와 함께 패널 식별 정보를 메모리에 저장하는 단계; 중앙 서버에서 패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성하는 단계; 데이터 수집부에서 상기 중앙 서버로부터 다운 로드 받은 상기 관계식을 보상부로 출력하는 단계; 및 상기 보상부에서 상기 관계식을 이용하여 보상 게인을 생성하고, 상기 보상 게인으로 상기 입력 영상 데이터를 보상하는 단계를 포함한다.
본 명세서의 실시예들에 의하면 본 발명은 다음과 같은 효과가 있다.
본 발명은 제품 출하 후에 수집된 열화 정보와 그에 따라 업데이트 된 관계식을 기반으로 열화 보상을 수행한다. 따라서, 본 발명은 공정 조건이 바뀔 때마다 새로운 열화 실험을 할 필요가 없어 제품 출하 전의 보상 관련 비용을 줄이기 용이하다.
본 발명은 제품 출하 후에 일정 조건 하에서 열화 정보 업데이트, 관계식 업데이트, 및 데이터 보상을 수행하기 때문에 공정 조건 별로 보상의 정확도를 획기적으로 향상시킬 수 있다.
본 명세서에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템을 보여주는 도면이다.
도 2는 도 1의 표시장치의 구성을 보여주는 도면이다.
도 3은 도 2의 표시패널에 구비된 픽셀 어레이를 보여주는 도면이다.
도 4는 도 3의 픽셀 어레이에 포함된 일 픽셀 회로를 보여주는 도면이다.
도 5는 A/S 기사의 분석 소프트웨어를 통해 열화 정보가 수집되는 예를 보여주는 도면이다.
도 6은 표시장치에 내장된 OS(Operating System)를 통해 열화 정보가 수집되는 예를 보여주는 도면이다.
도 7은 수집된 열화 정보에 따라 관계식을 업데이트하는 중앙 서버의 세부 구성과, 선택된 관계식에 따라 열화 보상을 수행하는 보상부의 세부 구성을 보여주는 도면이다.
도 8 및 도 9는 중앙 서버에서 유의차가 발생하는 공정 조건별로 휘도 데이터와 누적 데이터 간의 관계식을 업데이트하는 일 예를 보여주는 도면들이다.
도 2는 도 1의 표시장치의 구성을 보여주는 도면이다.
도 3은 도 2의 표시패널에 구비된 픽셀 어레이를 보여주는 도면이다.
도 4는 도 3의 픽셀 어레이에 포함된 일 픽셀 회로를 보여주는 도면이다.
도 5는 A/S 기사의 분석 소프트웨어를 통해 열화 정보가 수집되는 예를 보여주는 도면이다.
도 6은 표시장치에 내장된 OS(Operating System)를 통해 열화 정보가 수집되는 예를 보여주는 도면이다.
도 7은 수집된 열화 정보에 따라 관계식을 업데이트하는 중앙 서버의 세부 구성과, 선택된 관계식에 따라 열화 보상을 수행하는 보상부의 세부 구성을 보여주는 도면이다.
도 8 및 도 9는 중앙 서버에서 유의차가 발생하는 공정 조건별로 휘도 데이터와 누적 데이터 간의 관계식을 업데이트하는 일 예를 보여주는 도면들이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 ' ~ 만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.
위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, ' ~ 상에', ' ~ 상부에', ' ~ 하부에', ' ~ 옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.
명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하며, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템을 보여주는 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 제품 출하 후에 수집된 열화 정보와 그에 따라 업데이트 된 관계식을 기반으로 열화 보상을 수행할 수 있도록, 중앙 서버(100)와 데이터 수집부(200)와 표시장치(300)를 포함할 수 있다.
중앙 서버(100)는 통신 회선을 통해 데이터 수집부(200)에 연결되는 원격 서버이다. 중앙 서버(100)는 데이터 수집부(200)에서 수집된 패널 정보(패널 식별 정보와 열화 정보 등을 포함)를 참조하여, 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성할 수 있다. 중앙 서버(100)는 패널 식별 정보에 따른 패널 공정 조건을 확인하고, 열화 정보를 대상으로 선형 회귀 분석을 수행하여 상기 패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성
데이터 수집부(200)는 표시장치(300)에 내장될 수도 있고, 표시장치(300)와 독립되어 별개로 구성될 수도 있다. 다시 말해, 데이터 수집부(200)는 표시장치(300)에 내장된 OS(Operating System)로 구현되거나, 또는 는 A/S 기사의 분석 소프트웨어로 구현될 수 있다.
데이터 수집부(200)는 표시장치(300)의 메모리(16)로부터 패널 정보를 수집하여 중앙 서버(100)에 업 로드하고, 중앙 서버(100)로부터 다운 로드 받은 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 표시장치(300)의 보상부(17)에 출력할 수 있다.
표시장치(300)는 유기발광 표시장치로 구현될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 본 발명의 기술적 사상은 유기발광 표시장치뿐만 아니라 다른 표시장치에도 적용될 수 있음에 주의하여야 한다.
표시장치(300)는 메모리(16), 보상부(17), 및 열화정보 도출부(18)를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 열화정보 도출부(18)는 데이터 카운팅 기술을 기반으로 입력 영상 데이터를 분석하고, 데이터 사용량에 따른 스트레스 누적값과 휘도값을 포함한 열화정보를 도출한다. 메모리(16)는 열화 정보와 함께 패널 식별 정보(즉, 패널 ID)를 저장한다. 보상부(17)는 메모리(16)로부터의 열화 정보와 데이터 수집부(200)로부터의 관계식을 이용하여 보상 게인을 생성하고, 이 보상 게인으로 입력 영상 데이터를 보상한다.
이러한 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 표시장치(300)로부터의 패널 식별 정보와 열화 정보를 기초로 중앙 서버(100)에서 패널 공정 조건을 확인한 후 패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성한다. 그러면, 표시장치(300)는 중앙 서버(100)에서 생성된 관계식을 기반으로 보상 프로세스를 수행한다. 다시 말해, 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 제품 출하 후에 수집된 열화 정보와 그에 따라 업데이트 된 관계식을 기반으로 열화 보상을 수행한다. 따라서, 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 공정 조건이 바뀔 때마다 새로운 열화 실험을 할 필요가 없어 제품 출하 전의 보상 관련 비용을 줄이기 용이하다.
본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 시스템은 제품 출하 후에 일정 조건 하에서 전술한 열화 정보 업데이트, 관계식 업데이트, 및 데이터 보상을 수행하기 때문에 공정 조건 별로 보상의 정확도를 획기적으로 향상시킬 수 있다.
도 2는 도 1의 표시장치의 구성을 보여주는 도면이다. 도 3은 도 2의 표시패널에 구비된 픽셀 어레이를 보여주는 도면이다. 그리고, 도 4는 도 3의 픽셀 어레이에 포함된 일 픽셀 회로를 보여주는 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시장치(300)는 전술한 메모리(16), 보상부(17), 및 열화정보 도출부(18) 외에, 픽셀들(PXL)이 구비된 표시패널(10), 픽셀들(PXL)에 연결된 신호라인들(14,15)을 구동하는 패널 구동부(12,13), 패널 구동부(12,13)를 제어하는 타이밍 콘트롤러(11)를 더 포함한다.
표시패널(10)에는 다수의 데이터 라인들(14)과 다수의 게이트 라인들(15)이 교차되고, 픽셀들(PXL)이 매트릭스 형태로 배치되어, 도 3과 같은 픽셀 어레이를 구성할 수 있다.
도 3을 참조하면, 픽셀 어레이는 다수의 수평 픽셀 라인들(L1~L4)이 구비되며, 각 수평 픽셀 라인(L1~L4) 상에는 수평으로 이웃하며 각 게이트 라인(15(1)~15(4))에 연결된 다수의 픽셀들(PXL)이 배치된다. 여기서, 수평 픽셀 라인들(L1~L4) 각각은 물리적인 신호 라인이 아니라, 수평으로 이웃한 픽셀들(PXL)에 의해 구현되는 1라인 분량의 픽셀 블록을 의미한다. 픽셀 어레이에는 고전위 전원 전압(EVDD)을 픽셀들(PXL)에 공급하는 제1 전원라인들(17), 기준전압(Vref)을 픽셀들(PXL)에 공급하는 제2 전원라인들(16)이 포함될 수 있다. 또한, 픽셀들(PXL)은 저전위 전원 전압(EVSS)에 더 연결될 수 있다.
각 픽셀들(PXL)은 도 4와 같은 OLED와, 구동 TFT(Thin Film Transistor)(DT)와, 스위치 TFT(ST)와, 스토리지 커패시터(Cst)를 포함한다.
도 4를 참조하면, OLED는 구동 전류에 따라 발광하는 자발광 소자이다. OLED는 구동 TFT(DT)의 소스전극에 접속되는 애노드전극과, 저전위 전원 전압(EVSS)에 접속되는 캐소드전극과, 애노드전극과 캐소드전극 사이에 구비된 유기 화합물층을 포함한다. 유기 화합물층은 정공주입층(Hole Injection layer, HIL), 정공수송층(Hole Transport Layer, HTL), 발광층(Emission Layer, EML), 전자수송층(Electron Transport Layer, ETL) 및 전자주입층(Electron Injection Layer, EIL)으로 이루어진다. 애노드전극과 캐소드전극에 전원전압이 인가되면 정공수송층(HTL)을 통과한 정공과 전자수송층(ETL)을 통과한 전자가 발광층(EML)으로 이동되어 여기자를 형성하고, 그 결과 발광층(EML)이 가시광을 발생하게 된다.
도 4를 참조하면, 구동 TFT(DT)는 구동 전류를 게이트-소스간 전압(Vgs)으로 조절하는 구동 소자이다. 구동 TFT(DT)의 게이트전극은 제1 노드(N1)에 접속되고, 소스전극은 제2 노드(N2)에 접속된다. 구동 TFT(DT)의 소스전극에는 제2 전원라인(16)을 통해 기준전압(Vref)이 인가된다. 그리고, 구동 TFT(DT)의 드레인전극에는 제1 전원라인(17)을 통해 고전위 구동전압(EVDD)이 인가된다.
도 4를 참조하면, 스위치 TFT(ST)는 게이트신호(SCAN)에 따라 온/오프 되어 데이터라인(14)과 제1 노드(N1) 간의 전류 흐름을 제어한다. 스위치 TFT(ST)는 게이트신호(SCAN)에 따라 턴 온 되어 데이터전압(Vdata)을 구동 TFT(DT)의 게이트전극에 인가한다. 스위치 TFT(ST)는 게이트라인(15)에 접속된 게이트전극, 데이터라인(14)에 접속된 드레인전극, 및 제1 노드(N1)에 접속된 소스전극을 구비한다.
도 4를 참조하면, 스토리지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 접속되어, 구동 TFT(DT)의 게이트-소스간 전압(Vgs)을 일정 시간 동안 유지시킨다.
이러한 픽셀들(PXL) 각각은 다양한 컬러 구현을 위하여 적색 픽셀, 녹색 픽셀, 청색 픽셀, 및 백색 픽셀 중 어느 하나일 수 있다. 적색 픽셀, 녹색 픽셀, 청색 픽셀, 및 백색 픽셀은 하나의 단위 픽셀을 구성할 수 있다. 단위 픽셀에서 구현되는 컬러는 적색 픽셀, 녹색 픽셀, 청색 픽셀, 및 백색 픽셀의 발광 비율에 따라 결정될 수 있다.
한편, 도 2를 참조하면, 패널 구동부(12,13)는 표시패널(10)의 픽셀들(PXL)에 입력 영상 데이터(DATA)를 기입한다. 패널 구동부(12,13)는 픽셀들(PXL)에 연결된 데이터라인들(14)을 구동하는 소스 드라이버(12)와, 픽셀들(PXL)에 연결된 게이트라인들(15)을 구동하는 게이트 드라이버(13)를 포함한다.
도 2를 참조하면, 소스 드라이버(12)는 매 프레임 마다 타이밍 콘트롤러(11)로부터 수신되는 보정 영상 데이터(CDATA)를 데이터전압(Vdata)으로 변환한 후, 그 데이터전압(Vdata)을 데이터 라인들(14)에 공급한다. 소스 드라이버(12)는 보정 영상 데이터(CDATA)를 감마 보상 전압으로 변환하는 디지털 아날로그 컨버터(Digital to Analog Converter, DAC)를 이용하여 데이터전압(Vdata)을 생성한다.
본 발명의 보상 동작은 데이터 카운팅 기술을 기반으로 OLED 열화 정보를 도출하기 때문에, 각 픽셀들(PXL)에 대한 OLED의 문턱전압을 센싱하기 위한 센싱 회로가 소스 드라이버(12)에 구비될 필요가 없다. 따라서, 소스 드라이버(12)는 픽셀들 각각을 개별적으로 센싱하기 위한 다수의 센싱 유닛들과 복수의 아날로그-디지털 컨버터(Analog-Digital Converter, ADC)를 포함하지 않으므로, 별도의 센싱 회로를 실장할 때에 비해 그 회로 사이즈가 작고, 제조 비용이 적은 이점이 있다.
소스 드라이버(12)와 표시패널(10)의 데이터 라인들(14) 사이에는 멀티플렉서(미도시)가 더 배치될 수 있다. 멀티플렉서는 소스 드라이버(12)에서 하나의 출력 채널을 통해 출력되는 데이터 전압을 복수개의 데이터라인들(14)로 분배함으로써, 데이터라인의 개수 대비 소스 드라이버(12)의 출력 채널 개수를 줄일 수 있다. 멀티플렉서는 표시장치의 해상도, 용도에 따라 생략 가능하다.
도 2를 참조하면, 게이트 드라이버(13)는 타이밍 콘트롤러(11)의 제어 하에 게이트신호(SCAN)를 라인 순차 방식으로 게이트라인들(15)에 공급하여, 데이터 전압(Vdata)이 충전되는 수평 픽셀 라인(L1~Ln)을 선택한다. 게이트 드라이버(13)는 GIP(Gate-driver In Panel) 공정으로 픽셀 어레이와 함께 표시패널(10)의 기판 상에 직접 형성될 수 있으나 그에 한정되지 않는다. 게이트 드라이버(13)는 IC 타입으로 제작된 후 도전성 필름을 통해 표시패널(10)에 접합될 수도 있다.
도 2를 참조하면, 타이밍 콘트롤러(11)는 메모리(16), 보상부(17), 및 열화정보 도출부(18)를 포함할 수 있다. 타이밍 콘트롤러(11)는 도시하지 않은 호스트로부터 입력 영상 데이터(DATA)와, 그와 동기되는 타이밍 신호들을 수신한다. 타이밍 신호들은 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 도트 클럭 신호(DCLK) 및 데이터 인에이블신호(DE) 등을 포함할 수 있다. 호스트는 TV(Television) 시스템, 셋톱박스, 네비게이션 시스템, DVD 플레이어, 블루레이 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 폰 시스템(Phone system) 중 어느 하나일 수 있다.
타이밍 콘트롤러(11)는 입력 영상 데이터(DATA)를 보상부(17)에 공급하고, 보상부(17)로부터 입력 받은 보정 영상 데이터(CDATA)를 소스 드라이버(12)에 공급한다.
타이밍 콘트롤러(11)는 호스트로부터 수신된 타이밍 신호들(Vsync, Hsync, DE)을 기반으로 소스 드라이버(12)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어 신호(DDC)와, 게이트 드라이버(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어 신호(GDC)를 생성한다.
데이터 타이밍 제어신호(DDC)는 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock), 및 소스 출력 인에이블신호(Source Output Enable) 등을 포함한다. 소스 스타트 펄스는 소스 드라이버(12)의 샘플링 스타트 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭은 데이터 샘플링 타이밍을 쉬프트시키는 클럭이다. 타이밍 콘트롤러(11)와 소스 드라이버(12)사이의 신호 전송 인터페이스가 mini LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 인터페이스라면, 소스 스타트 펄스와 소스 샘플링 클럭은 생략될 수 있다.
게이트 타이밍 제어신호(GDC)는 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블신호(Gate Output Enable) 등을 포함한다. GIP 회로의 경우에, 게이트 출력 인에이블신호(Gate Output Enable)는 생략될 수 있다. 게이트 스타트 펄스는 매 프레임 기간마다 프레임 기간의 초기에 발생되어 게이트 드라이버(13) 각각의 쉬프트 레지스터에 입력된다. 게이트 스타트 펄스는 매 프레임 기간 마다 게이트신호(SCAN)가 출력되는 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭은 게이트 드라이버(13)의 쉬프트 레지스터에 입력되어 쉬프트 레지스트의 쉬프트 타이밍(shift timing)을 제어한다.
도 5는 A/S 기사의 분석 소프트웨어를 통해 열화 정보가 수집되는 예를 보여주는 도면이다.
도 5를 참조하면, 데이터 수집부(200)는 A/S 기사의 분석 소프트웨어로 구현될 수 있다. A/S(After Service) 발생시, A/S 기사는 표시장치(300)의 메모리(16)에 저장된 패널 ID, 열화 정보(즉, 스트레스 누적값과 휘도값)을 데이터 수집부(200)의 A/S 분석 SW(Soft Ware)에 백업(Backup)한다. 그러면, A/S 분석 SW는 백업된 정보를 중앙 서버(100)에 업로드 한다. 그러면, 중앙 서버(100)는 업로드 된 패널 정보(즉, 패널 ID와 열화 정보)를 이용하여 표시패널(10)의 공정 조건(또는 공정 특성)을 알아내고, 공정 조건 별로 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 계산한다. 그리고, 중앙 서버(100)는 새로 계산된 관계식을 A/S 분석 SW로 다운로드 한다. 그러면, A/S 분석 SW는 다운로드 받은 관계식을 표시장치(300)의 하드 웨어 구조에 맞게 데이터 프로토콜을 변환하여 표시장치(300)에 공급한다. 표시장치(300)의 보상부(17)는 하드 웨어 구조에 맞게 변환된 관계식을 이용하여 보상 룩업 테이블의 보상 계수(즉, 수명 정보)를 업데이트하고, 업데이트된 보상 계수를 기초로 보상 게인을 생성한다.
도 6은 표시장치에 내장된 OS(Operating System)를 통해 열화 정보가 수집되는 예를 보여주는 도면이다.
도 6을 참조하면, 데이터 수집부(200)는 표시장치(300)에 내장된 OS(Operating System)로 구현될 수 있다. OS는 표시장치(300)의 타이밍 콘트롤러(11)에 내장될 수 있다. OS는 주기적으로 메모리(16)에 저장된 패널 ID, 열화 정보(즉, 스트레스 누적값과 휘도값)을 중앙 서버(100)에 업로드 한다. 그러면, 중앙 서버(100)는 업로드 된 패널 정보(즉, 패널 ID와 열화 정보)를 이용하여 표시패널(10)의 공정 조건(또는 공정 특성)을 알아내고, 공정 조건 별로 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 계산한다. OS는 중앙 서버(100)에서 새로 계산된 관계식을 주기적으로 다운로드 한 후, 이 관계식을 표시장치(300)의 하드 웨어 구조에 맞게 데이터 프로토콜을 변환하여 표시장치(300)의 보상부(17)에 공급한다. 보상부(17)는 하드 웨어 구조에 맞게 변환된 관계식을 이용하여 보상 룩업 테이블의 보상 계수(즉, 수명 정보)를 업데이트하고, 업데이트된 보상 계수를 기초로 보상 게인을 생성한다.
도 7은 수집된 열화 정보에 따라 관계식을 업데이트하는 중앙 서버의 세부 구성과, 선택된 관계식에 따라 열화 보상을 수행하는 보상부의 세부 구성을 보여주는 도면이다. 그리고, 도 8 및 도 9는 중앙 서버에서 유의차가 발생하는 공정 조건별로 휘도 데이터와 누적 데이터 간의 관계식을 업데이트하는 일 예를 보여주는 도면들이다.
중앙 서버(100)는 수집된 열화 정보에 따라 관계식을 업데이트하기 위해, 공정조건 확인부(100A), 데이터베이스 업데이트부(100B), 회귀분석 수행부(100C), 관계식 업데이트부(100D), 및 관계식 선택부(100E)를 포함할 수 있다.
공정조건 확인부(100A)는 데이터 수집부(200)로부터 입력 받은 패널 ID를 기반으로 어떠한 공정 조건 하에서 표시패널(10)이 생성되었는지를 확인한다. 여기서 공정 조건에는 제조 시기, 제조 장소, 사용 장비, 양산 차수 등이 포함될 수 있다.
데이터베이스 업데이트부(100B)는 공정 조건이 확인 되면, 데이터 수집부(200)로부터 입력 받은 패널 정보를 이용하여 도 8 및 도 9에 해당되는 열화 정보를 업데이트한다. 공정 조건에는 사용 장비와 양산 차수까지 포함되어 있기 때문에, 열화 정보를 업데이트하기 용이하다. 도 8 및 도 9에서, X축은 패널의 스트레스 누적값이고, Y축은 패널의 수명이다. 도 8 및 도 9에 해당되는 관계식 그래프는 다양한 공정 조건들에 대한 열화 정보를 기반으로 한다. 열화 정보는 새로운 공정 조건이 추가될 때마다 업데이트되는 빅 데이터(Big Data)이다.
회귀분석 수행부(100C)는 해당 공정 조건에 대한 열화 정보가 업데이트되고 나면, 빅 데이터(그래프 정보)를 대상으로 선형 회귀 분석을 수행하여 유의차가 발생하는 공정 조건을 확인한다. 그리고, 유의차가 발생하는 공정 조건별로 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성한다. 여기서, 관계식은 수명을 종속 변수(Y)로 하고 스트레스 누적값을 독립 변수(X)로 하는 선형 회귀식으로 구현될 수 있다. 선형 회귀 분석을 사용하면 보다 정확한 관계식 도출이 가능해진다.
관계식 업데이트부(100D)는 새로 생성된 관계식으로 기존에 저장되어 있던 관계식을 업데이트한다.
관계식 선택부(100E)는 표시패널(10)의 공정 조건에 일치하는 관계식을 선택한다. 선택된 관계식은 데이터 수집부(200)를 통해 표시장치(300)의 보상부(17)로 입력된다.
보상부(17)는 선택된 관계식에 따라 열화 보상을 수행하기 위해, 연산부(171), 보상 LUT(172), 및 데이터 보상부(173)을 포함할 수 있다.
연산부(171)는 메모리(16)로부터의 스트레스 누적값을 중앙 서버(100)로부터의 관계식에 적용하여, 스트레스 누적값을 수명 정보로 변경한다.
보상 LUT(172)는 수명 정보와 현재 사용 시간을 바탕으로 열화 휘도를 계산한다. 일 예로, 보상 LUT(172)는 L/L0 = exp (- t / 수명)을 이용하여 열화 휘도(L/L0)를 계산할 수 있다. 여기서, “t”는 사용 시간이다. 다른 예로, 보상 LUT(172)는 L/L0 = f (t, 수명)와 같이, 실험을 통해 미리 저장된 함수 f를 수행하여 열화 휘도를 계산할 수 있다. 그리고, 보상 LUT(172)는 계산된 열화 휘도(L/L0)의 역수를 취해 보상 게인을 생성한다.
데이터 보상부(173)는 입력 영상 데이터(DATA)에 보상 게인을 곱하여 보정 영상 데이터(CDATA)를 생성한다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
100 : 중앙 서버
200 : 데이터 수집부
300 : 표시 장치 16 : 메모리
17 : 보상부 18 : 열화정보 도출부
300 : 표시 장치 16 : 메모리
17 : 보상부 18 : 열화정보 도출부
Claims (10)
- 입력 영상 데이터를 분석하여 데이터 사용량에 따른 스트레스 누적값과 휘도값을 포함한 열화정보를 저장하는 메모리;
패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성하는 중앙 서버;
상기 관계식을 이용하여 보상 게인을 생성하고, 상기 보상 게인으로 상기 입력 영상 데이터를 보상하는 보상부; 및
상기 중앙 서버로부터 다운 로드 받은 상기 관계식을 상기 보상부에 출력하는 데이터 수집부를 포함하는 표시장치의 열화 보상 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 데이터 수집부는 A/S 기사의 분석 소프트웨어로 구현되는 표시장치의 열화 보상 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 데이터 수집부는 표시장치에 내장된 OS(Operating System)로 구현되는 표시장치의 열화 보상 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 관계식은 상기 수명이 종속 변수가 되고 상기 스트레스 누적값이 독립 변수가 되는 선형 회귀식으로 구현되는 표시장치의 열화 보상 시스템. - 제 1 항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 메모리로부터의 상기 스트레스 누적값을 상기 중앙 서버로부터의 상기 관계식에 적용하여, 상기 스트레스 누적값을 수명 정보로 변경하는 연산부;
상기 수명 정보와 현재 사용 시간을 바탕으로 열화 휘도를 얻고, 상기 열화 휘도의 역수를 취해 보상 게인을 생성하는 보상 LUT; 및
상기 입력 영상 데이터에 상기 보상 게인을 곱하여 보정 영상 데이터를 생성하는 데이터 보상부를 포함하는 표시장치의 열화 보상 시스템. - 열화정보 도출부에서 입력 영상 데이터를 분석하여 데이터 사용량에 따른 스트레스 누적값과 휘도값을 포함한 열화정보를 도출하는 단계;
상기 열화 정보와 함께 패널 식별 정보를 메모리에 저장하는 단계;
중앙 서버에서 패널 공정 조건에 대응되는 수명 및 스트레스 누적값 간의 관계식을 생성하는 단계;
데이터 수집부에서 상기 중앙 서버로부터 다운 로드 받은 상기 관계식을 보상부로 출력하는 단계; 및
상기 보상부에서 상기 관계식을 이용하여 보상 게인을 생성하고, 상기 보상 게인으로 상기 입력 영상 데이터를 보상하는 단계를 포함하는 표시장치의 열화 보상 방법. - 제 6 항에 있어서,
상기 데이터 수집부는 A/S 기사의 분석 소프트웨어로 구현되는 표시장치의 열화 보상 방법. - 제 6 항에 있어서,
상기 데이터 수집부는 표시장치에 내장된 OS(Operating System)로 구현되는 표시장치의 열화 보상 방법. - 제 6 항에 있어서,
상기 관계식은 상기 수명이 종속 변수가 되고 상기 스트레스 누적값이 독립 변수가 되는 선형 회귀식으로 구현되는 표시장치의 열화 보상 방법. - 제 6 항에 있어서,
상기 보상부에서 상기 입력 영상 데이터를 보상하는 단계는,
상기 메모리로부터의 상기 스트레스 누적값을 상기 중앙 서버로부터의 상기 관계식에 적용하여, 상기 스트레스 누적값을 수명 정보로 변경하는 단계;
상기 수명 정보와 현재 사용 시간을 바탕으로 열화 휘도를 얻고, 상기 열화 휘도의 역수를 취해 보상 게인을 생성하는 단계; 및
상기 입력 영상 데이터에 상기 보상 게인을 곱하여 보정 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 표시장치의 열화 보상 방법.
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