KR20230103721A - Light Emitting Display Device - Google Patents

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KR20230103721A
KR20230103721A KR1020210194773A KR20210194773A KR20230103721A KR 20230103721 A KR20230103721 A KR 20230103721A KR 1020210194773 A KR1020210194773 A KR 1020210194773A KR 20210194773 A KR20210194773 A KR 20210194773A KR 20230103721 A KR20230103721 A KR 20230103721A
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KR
South Korea
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light emitting
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electrode
spacer
bank
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Application number
KR1020210194773A
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Korean (ko)
Inventor
변혜원
고인태
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

The present invention may comprise: a substrate having a plurality of sub-pixels; a scan line of a first direction on the substrate, and a data line and a power supply voltage line of a second direction intersecting the first direction; a flattening layer covering the scan line, the data line, and the power supply voltage line on the substrate; a bank exposing a light emitting part of each of the plurality of sub-pixels on the flattening layer; a spacer equipped in one part of the bank; and a metal pattern equipped between the spacer and the bank and connected to the power supply voltage line. Therefore, the present invention is capable of improving a reliability of the device.

Description

발광 표시 장치 {Light Emitting Display Device}Light Emitting Display Device {Light Emitting Display Device}

본 명세서는 금속 패턴을 이용하여 스페이서 상에서 침입하는 전도성 이물에 기인한 불량을 방지할 수 있는 발광 표시 장치에 관한 것이다. The present specification relates to a light emitting display device capable of preventing defects due to conductive foreign substances penetrating on a spacer by using a metal pattern.

최근 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 전기적 정보신호를 시각적으로 표현하는 디스플레이(display) 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저소비전력화의 우수한 성능을 지닌 여러 가지 다양한 평판 표시장치(Flat Display Device)가 개발되어 기존의 브라운관(Cathode Ray Tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.Recently, as we entered the full-fledged information age, the display field that visually expresses electrical information signals has developed rapidly. Display Device) has been developed and is rapidly replacing the existing cathode ray tube (CRT).

이 같은 평판 표시장치의 구체적인 예로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display device: LCD), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Panel device: PDP), 전계방출 표시장치(Field Emission Display device: FED), 유기 발광 표시장치(Organic Light Emitting Device: OLED) 등을 들 수 있다. Specific examples of such a flat panel display device include a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel device (PDP), a field emission display device (FED), and an organic light emitting display device. (Organic Light Emitting Device: OLED) etc. are mentioned.

이 중, 별도의 광원을 요구하지 않으며 장치의 컴팩트화 및 선명한 컬러 표시를 위해 발광 표시 장치가 경쟁력 있는 어플리케이션(application)으로 고려되고 있다.Among them, a light emitting display device that does not require a separate light source is being considered as a competitive application for compact device and vivid color display.

발광 표시 장치는 발광 소자를 포함하며, 발광 소자는 내부 기능층을 보호하기 위해 봉지 구조로 커버하고 있다. 그러나, 공정 중 발생된 이물이나 이물에 기인되어 유입되어 발광 소자 내부로 들어오는 이온 등으로 발광 소자의 내부 구성이 손상되는 문제가 있다.The light emitting display device includes a light emitting element, and the light emitting element is covered with an encapsulation structure to protect an internal functional layer. However, there is a problem in that the internal structure of the light emitting device is damaged due to foreign substances generated during the process or ions that are introduced into the light emitting device due to foreign substances.

본 명세서는 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 이물 침투에 취약한 스페이서에 대응되어 금속 패턴을 적용하여 이온성 불량을 방지할 수 있는 발광 표시 장치에 관한 것이다.The present specification has been devised to solve the above problems, and relates to a light emitting display device capable of preventing ionic defects by applying a metal pattern corresponding to a spacer vulnerable to penetration of foreign substances.

본 명세서의 실시예에 따른 발광 표시 장치는, 스페이서와 뱅크 사이에 금속 패턴을 구비하고, 이에 양의 전원 전압을 인가함으로써, 발광 표시 장치에 남아있는 전도성 이온을 포획하고, 발광 소자의 영향을 방지하며, 장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The light emitting display device according to the exemplary embodiment of the present specification includes a metal pattern between a spacer and a bank, and a positive power supply voltage is applied to the metal pattern to trap conductive ions remaining in the light emitting display device and prevent the influence of the light emitting element. and improve the reliability of the device.

본 명세서의 실시예에 따른 발광 표시 장치는 복수개의 서브 화소들을 갖는 기판과, 상기 기판 상에 제 1 방향의 스캔 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2방향의 데이터 라인 및 전원전압 라인과, 상기 기판 상에 상기 스캔 라인, 상기 데이터 라인 및 상기 전원전압 라인을 덮는 평탄화층과, 상기 평탄화층 상에, 복수개의 서브 화소들 각각의 발광부를 노출하는 뱅크와, 상기 뱅크의 일부분에 구비된 스페이서 및 상기 스페이서와 뱅크 사이에 구비되고, 상기 평탄화층 및 상기 뱅크를 관통하는 제 1 콘택홀을 통해 상기 전원전압 라인과 접속된 금속 패턴을 포함할 수 있다.A light emitting display device according to an embodiment of the present specification includes a substrate having a plurality of sub-pixels, a scan line in a first direction on the substrate, a data line and a power supply voltage line in a second direction crossing the first direction, and , a planarization layer covering the scan line, the data line, and the power supply voltage line on the substrate, a bank exposing the light emitting part of each of a plurality of sub-pixels on the planarization layer, and a part of the bank provided A spacer and a metal pattern provided between the spacer and the bank and connected to the power voltage line through a first contact hole penetrating the planarization layer and the bank.

.본 명세서의 발광 표시 장치는 다음과 같은 효과가 있다.The light emitting display device of the present specification has the following effects.

본 명세서의 실시예에 따른 발광 표시 장치는, 스페이서와 뱅크 사이에 금속 패턴을 구비하며, 금속 패턴을 절연막을 관통한 콘택홀을 구비하여, 콘택홀을 통행 하부 전원전압 라인과 접속시키며, 금속 패턴으로 양(陽)(또는 포지티브(positive))의 전원 전압을 인가함으로써, 발광 표시 장치에 남아있는 전도성 이온을 금속 패턴으로 포획하고, 전도성 기인한 불량을 방지하며, 장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The light emitting display device according to the exemplary embodiment of the present specification includes a metal pattern between a spacer and a bank, a contact hole passing through an insulating film, and connecting the contact hole to a passing lower power supply voltage line. By applying a positive (or positive) power supply voltage to the light emitting display device, conductive ions remaining in the light emitting display device can be captured with a metal pattern, defects caused by conductivity can be prevented, and reliability of the device can be improved. .

도 1은 본 명세서의 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 발광 표시 장치에서, 도 1의 A 영역을 나타낸 평면도이다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 도 2의 I~I' 선상의 단면도이다.
도 4는 도 2의 일 서브 화소의 회로도이다.
도 5는 본 명세서의 발광 표시 장치에 있어서, 이물 발생시 전도성 이온의 이동 경로를 나타낸 단면도이다.
도 6은 비교예에 따른 발광 표시 장치에 있어서, 이물 발생시 전도성 이온의 이동을 나타낸 단면도이다.
도 7a 및 도 7b는 본 명세서의 발광 표시 장치 내 발광 소자의 예를 나타낸 단면도이다.
도 8은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다
1 is a plan view illustrating a light emitting display device according to the present specification.
FIG. 2 is a plan view illustrating an area A of FIG. 1 in a light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present specification.
3 is a cross-sectional view taken along the line II-I' of FIG. 2 according to an embodiment of the present specification.
4 is a circuit diagram of one sub-pixel of FIG. 2 .
5 is a cross-sectional view illustrating a movement path of conductive ions when a foreign material is generated in the light emitting display device of the present specification.
6 is a cross-sectional view illustrating movement of conductive ions when a foreign material is generated in a light emitting display device according to a comparative example.
7A and 7B are cross-sectional views illustrating examples of light emitting elements in the light emitting display device of the present specification.
8 is a plan view illustrating a light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present specification.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여, 본 명세서의 바람직한 실시예들을 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 실질적으로 동일한 구성 요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 명세서와 관련된 기술 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것으로, 실제 제품의 부품 명칭과 상이할 수 있다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present specification will be described. Like reference numbers throughout the specification indicate substantially the same elements. In the following description, if it is determined that a detailed description of a technology or configuration related to the present specification may unnecessarily obscure the gist of the present specification, the detailed description will be omitted. In addition, the component names used in the following description are selected in consideration of the ease of writing the specification, and may be different from the part names of the actual product.

본 명세서의 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 명세서가 도면에 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 본 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 명세서를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급한 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.The shape, size, ratio, angle, number, etc. disclosed in the drawings for explaining various embodiments of the present specification are illustrative, so the present specification is not limited to those shown in the drawings. Like reference numerals designate like elements throughout this specification. In addition, in describing the present specification, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the subject matter of the present specification, the detailed description will be omitted. When 'includes', 'has', 'consists of', etc. mentioned in this specification is used, other parts may be added unless 'only' is used. In the case where a component is expressed in the singular, the case including the plural is included unless otherwise explicitly stated.

본 명세서의 다양한 실시예에 포함된 구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the components included in various embodiments of the present specification, even if there is no separate explicit description, it is interpreted as including an error range.

본 명세서의 다양한 실시예를 설명함에 있어, 위치 관계에 대하여 설명하는 경우에, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In describing various embodiments of the present specification, in the case of describing a positional relationship, for example, 'on ~', '~ on top', '~ on the bottom', '~ next to', etc. When the positional relationship of parts is described, one or more other parts may be located between two parts unless 'immediately' or 'directly' is used.

본 명세서의 다양한 실시예를 설명함에 있어, 시간 관계에 대한 설명하는 경우에, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In describing various embodiments of the present specification, in the case of explaining the temporal relationship, for example, 'after', 'after', 'after', 'before', etc. When is described, it may also include non-continuous cases unless 'immediately' or 'directly' is used.

본 명세서의 다양한 실시예를 설명함에 있어, '제 1~', '제 2~' 등이 다양한 구성 요소를 서술하기 위해서 사용될 수 있지만, 이러한 용어들은 서로 동일 유사한 구성 요소 간에 구별을 하기 위하여 사용될 따름이다. 따라서, 본 명세서에서 '제 1~'로 수식되는 구성 요소는 별도의 언급이 없는 한, 본 명세서의 기술적 사상 내에서 '제 2~' 로 수식되는 구성 요소와 동일할 수 있다.In describing various embodiments of the present specification, 'first ~', 'second ~', etc. may be used to describe various components, but these terms are only used to distinguish between identical and similar components. am. Accordingly, elements modified as 'first to' in this specification may be the same as elements modified as 'second to' within the technical spirit of the present specification, unless otherwise noted.

본 명세서의 여러 다양한 실시예의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 다양한 실시예가 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다. Each feature of the various embodiments of the present specification may be partially or entirely combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the various embodiments may be implemented independently of each other or together in an association relationship. may be

이하, 본 명세서의 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법에 대해 설명한다.Hereinafter, a light emitting display device and a manufacturing method of the present specification will be described.

본 명세서의 발광 표시 장치는 별도의 광원 유닛없이 표시 장치 내에 구성된 어레이에 자발광이 가능한 발광 소자를 포함한 것으로, 예를 들어, 이러한 표시 장치는 유기 발광 표시 장치, 마이크로 LED 표시 장치, 전기 영동 표시 장치, 양자점 발광 표시 장치 등을 고려할 수 있다. 그러한, 열거된 예는 일 예이며, 자발광이 가능한 표시 장치라면 다른 어플리케이션으로 확장될 수 있다.The light emitting display device of the present specification includes light emitting elements capable of self-emitting light in an array configured in the display device without a separate light source unit. For example, such a display device includes an organic light emitting display device, a micro LED display device, and an electrophoretic display device. , a quantum dot light emitting display device, etc. may be considered. The listed examples are just examples, and a display device capable of self-emission can be extended to other applications.

도 1은 본 명세서의 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이며, 도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 발광 표시 장치에서, 도 1의 A 영역을 나타낸 평면도이다. 또한, 도 3은 일 실시예에 따른 도 2의 I~I' 선상의 단면도이다. 또한, 도 4은 도 2의 일 서브 화소의 회로도이다.1 is a plan view illustrating a light emitting display device of the present specification, and FIG. 2 is a plan view illustrating an area A of FIG. 1 in the light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present specification. Also, FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line II to I' of FIG. 2 according to an exemplary embodiment. 4 is a circuit diagram of one sub-pixel of FIG. 2 .

도 1 내지 도 3과 같이, 본 명세서의 일 실시예에 따른 발광 표시 장치는 복수개의 서브 화소들을 갖는 기판(100)과, 상기 기판 상에 제 1 방향의 스캔 라인(Scan1 (121), Scan2 (122a, 122b))과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2방향의 데이터 라인(DL)(163) 및 전원전압 라인(VDL)(161)과, 상기 기판(100) 상에 상기 스캔 라인(Scan1 (121), Scan2 (122a, 122b)), 상기 데이터 라인(DL)(163) 및 상기 전원전압 라인(VDL)(161)을 덮는 평탄화층(170)과, 상기 평탄화층(170) 상에, 복수개의 서브 화소들 각각의 발광부(REM, GEM, BEM)를 노출하는 뱅크(180)와, 상기 뱅크의 일부분에 구비된 스페이서(190) 및 상기 스페이서(190)와 뱅크(180) 사이에 구비된 금속 패턴(185)를 포함한다.1 to 3 , the light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present specification includes a substrate 100 having a plurality of sub-pixels, and scan lines (Scan1 (121), Scan2 ( 122a, 122b)), the data line (DL) 163 and the power voltage line (VDL) 161 in the second direction crossing the first direction, and the scan line (Scan1) on the substrate 100 (121), Scan2 (122a, 122b), a planarization layer 170 covering the data line (DL) 163 and the power voltage line (VDL) 161, and on the planarization layer 170, A bank 180 exposing light emitting parts REM, GEM, and BEM of each of a plurality of sub-pixels, a spacer 190 provided in a part of the bank, and provided between the spacer 190 and the bank 180 The metal pattern 185 is included.

상기 금속 패턴(185)은 상기 평탄화층(170) 및 상기 뱅크(180)를 관통하는 제 1 콘택홀(CT4)을 통해 상기 전원전압 라인(VDL: 161)과 접속시켜, 뱅크(180) 상부 표면에 양의 전원 전압을 인가할 수 있다. 전원전압 라인(VDL: 161)은 양의 구동 전압(EVDD)을 구동 트랜지스터(DT)측으로 공급하는 라인으로, 대략 +10V 이상의 양의 전원 전압이 인가된다. 도 4를 참조하면, 전원 전압 라인(VDL)과 발광 소자(OLED)의 제 1 전극 사이에는 구동 트랜지스터(DT)와 제 4 스위칭 트랜지스터(T4)이 구비되고, 적어도 발광 소자의 제 1 전극에는 전원 전압 라인(VDL)의 공급된 양의 전원 전압 대비 구동 트랜지스터(DT)와 제 4 스위칭 트랜지스터(T4)에 걸린 전압을 뺀 값에 해당하는 전압이 인가되는 것으로, 금속 패턴(185)에 인가되는 양의 전원 전압이 제 1 전극에 인가되는 전압보다 크다. 따라서, 전도성 이온이 스페이서(190) 내부로 침입하더라도, 발광 소자의 제 1 전극(210)측으로 이동하지 못하고, 제 1 전극(210)보다 인가된 전압 값이 큰 금속 패턴(185)을 통해 전원 전압 라인(161) 측에 포획되어 있어, 전도성 이온 및 이물에 기인되는 불량을 방지할 수 있다.The metal pattern 185 is connected to the power voltage line VDL 161 through the first contact hole CT4 penetrating the planarization layer 170 and the bank 180, thereby forming an upper surface of the bank 180. A positive supply voltage can be applied to The power supply voltage line VDL 161 is a line for supplying the positive driving voltage EVDD to the driving transistor DT, to which a positive power supply voltage of approximately +10V or more is applied. Referring to FIG. 4 , a driving transistor DT and a fourth switching transistor T4 are provided between the power supply voltage line VDL and the first electrode of the light emitting element OLED, and at least the first electrode of the light emitting element has a power source. A voltage corresponding to a value obtained by subtracting the voltage applied to the driving transistor DT and the fourth switching transistor T4 from the supply voltage of the voltage line VDL is applied, and the amount applied to the metal pattern 185 The power supply voltage of is greater than the voltage applied to the first electrode. Therefore, even if conductive ions penetrate into the spacer 190, they do not move toward the first electrode 210 of the light emitting device, and the power voltage is passed through the metal pattern 185 having a higher applied voltage than the first electrode 210. Since it is captured on the line 161 side, defects caused by conductive ions and foreign matter can be prevented.

도 1과 같이, 기판(100)은 복수개의 서브 화소가 배치된 표시 영역(AA)과 표시 영역(AA) 외측에 구동부 및 구동부와 표시 영역(AA)에 구비된 스캔 라인(Scan1 (121), Scan2 (122a, 122b))과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2방향의 데이터 라인(DL)(163) 및 전원전압 라인(VDL)(161))를 외측에서 연결하며 신호를 전달하는 링크 배선(미도시)를 포함한 비표시 영역(NA)을 포함한다.As shown in FIG. 1 , the substrate 100 includes a display area AA where a plurality of sub-pixels are disposed, a driver outside the display area AA, and scan lines Scan1 (121) provided in the driver and the display area AA. Scan2 (122a, 122b)), the data line (DL) 163 and the power supply voltage line (VDL) 161) of the second direction intersecting the first direction from the outside and transmitting the link wiring and a non-display area NA including (not shown).

비표시 영역(AA)에서 링크 배선은 기판(100)의 가장 자리에 구비된 패드 전극과 연결되고, 패드 전극은 상기 기판(100) 상에 구비되는 집적 회로(IC)를 포함한 인쇄회로 필름과 접속될 수 있다. 또한, 인쇄회로 필름은 기판(100) 외측에 회로 기판과 접속될 수 있다. In the non-display area AA, the link wiring is connected to the pad electrode provided on the edge of the substrate 100, and the pad electrode is connected to the printed circuit film including the integrated circuit (IC) provided on the substrate 100. It can be. In addition, the printed circuit film may be connected to the circuit board outside the board 100 .

도 2 및 도 3을 기준으로 설명하면, 서브 화소들의 발광부들(EM: REM, GEM, BEM)은 뱅크(180)의 오픈 영역으로 정의된다. 서브 화소에서 발광부(EM: REM, GEM, BEM) 외측은 비발광부(NEM)가 된다. 뱅크(180)가 형성된 영역이 비발광부가 된다. 뱅크(180)가 기판(100)의 표시 영역(AA)에 걸쳐 각 서브 화소에 대응하여 복수개의 발광부(EM)를 오픈시키며 일체형으로 형성되어 있어 서브 화소들의 비발광부(NEM)들은 인접한 서브 화소들 사이에 끊기지 않고 연속되어 있다. 서브 화소는 기판(100) 상에 구조물로 분리된 영역을 의미하는 것이 아니라, 하나의 발광부(EM: REM, GEM, BEM)를 중심으로 그 주변 영역을 포함하며, 색을 발광하기 위해 최소 단위로 동작하는 영역을 의미한다. 인접한 서브 화소들은 스캔 라인(Scan1 (121), Scan2 (122a, 122b))과, 상기 제 1 방향(도 2의 X방향)과 교차하는 제 2 방향(도 2의 Y방향)의 데이터 라인(DL)(163) 및 전원전압 라인(VDL)(161) 중 적어도 일부 공유될 수 있다.Referring to FIGS. 2 and 3 , the light emitting units EM (REM, GEM, and BEM) of the sub-pixels are defined as an open area of the bank 180 . In the sub-pixel, the outside of the light emitting part (EM: REM, GEM, BEM) becomes a non-emitting part (NEM). The region where the bank 180 is formed becomes a non-light emitting region. Since the bank 180 opens a plurality of light emitting units EM corresponding to each sub-pixel across the display area AA of the substrate 100 and is integrally formed, the non-emitting areas NEM of the sub-pixels are adjacent to each other. They are continuous without interruption between them. The sub-pixel does not mean an area separated by a structure on the substrate 100, but includes an area around one light emitting unit (EM: REM, GEM, BEM) and is the smallest unit to emit color. means the area that operates as Adjacent sub-pixels include scan lines (Scan1 (121), Scan2 (122a, 122b)) and data lines (DL) in a second direction (Y direction in FIG. 2) crossing the first direction (X direction in FIG. 2). ) 163 and the power voltage line (VDL) 161 may be shared at least in part.

한편, 본 명세서의 발광 표시 장치는 금속 패턴(185)을 스페이서(190)에 대응시켜 형성한다. 스페이서(190)가 수직 방향(Z 방향)에서 돌출되어 있어 이물이 달라붙기 쉬운 구조물이기 때문에, 스페이서(190) 상의 이물이 발생시 이물에 의해 스페이서(190) 상의 제 2 전극(230) 및 제 1 무기 봉지층(310)의 구조물에 크랙 등의 씸(seam)이 발생할 수 있다. 이 경우 씸에 의해 발광 표시 장치 내에 잔존한 전도성 이온이 내부로 들어올 수 있는데, 본 명세서의 발광 표시 장치는, 상기 전도성 이온을 금속 패턴(185)에 인가된 양의 전원 전압으로 포획하여 전도성 이물이 발광 표시 장치 내부 발광 소자(200: OLED)에 영향을 일으키는 것을 방지하는 것이다. 또한, 전도성 이온은 공정 상 주로 음의 이온이 잔존하는데, 금속 패턴(185)의 양의 전원 전압을 가해 강한 전계로 음의 이온을 끌어 당기기 때문에 전도성 이온의 유동을 방지하며 전도성 이온에 기인한 발광 소자 내부 구성의 변화를 방지할 수 있다.Meanwhile, in the light emitting display device of the present specification, the metal pattern 185 is formed to correspond to the spacer 190 . Since the spacer 190 protrudes in the vertical direction (Z direction) and is a structure to which foreign matter easily adheres, when a foreign matter occurs on the spacer 190, the second electrode 230 and the first inorganic Seams such as cracks may occur in the structure of the encapsulation layer 310 . In this case, the conductive ions remaining in the light emitting display device may come into the interior by the seam. In the light emitting display device of the present specification, the conductive ions are captured by a positive power supply voltage applied to the metal pattern 185 so that the conductive foreign material is not removed. This is to prevent the light emitting element 200 (OLED) inside the light emitting display device from being affected. In addition, the conductive ions mainly remain negative ions in the process. Since the positive power voltage of the metal pattern 185 is applied to attract negative ions with a strong electric field, the flow of conductive ions is prevented and light emission due to conductive ions is prevented. A change in the internal configuration of the device can be prevented.

상기 금속 패턴(185)은 상기 뱅크(180)의 상부 표면에 구비되며, 뱅크(180)를 형성한 후 별도의 금속을 패터닝하여 형성한다. The metal pattern 185 is provided on the upper surface of the bank 180 and is formed by patterning a separate metal after forming the bank 180 .

상기 금속 패턴(185)은 전기적 기능을 위해 구비되는 것으로, 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 구리(Cu), 몰리브덴(Mo)과 같이, 내식성 및 내산성이 강하고 전도성이 좋은 금속을 이용하여 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다. 상기 금속 패턴(185)은 단일 금속 혹은 열거된 금속을 포함한 합금을 포함할 수 있다. The metal pattern 185 is provided for an electrical function, and is made of a metal having strong corrosion resistance and acid resistance and good conductivity, such as aluminum (Al), titanium (Ti), copper (Cu), and molybdenum (Mo). Alternatively, it may be formed in a multi-layer structure. The metal pattern 185 may include a single metal or an alloy including listed metals.

상기 금속 패턴(185)은 스페이서(190)와 같거나 스페이서(190)보다 작은 폭으로 형성된다. 보다 바람직하게 상기 금속 패턴(185)은 스페이서(190)의 하부 폭보다 작은 폭일 수 있다. 즉, 금속 패턴(185)을 스페이서(190)의 하부 폭보다 작게 하여 스페이서(190)에 인접한 제 2 전극(230)과 금속 패턴(185)과 전기적 이격을 갖게 한다. 금속 패턴(185)은 스페이서(190) 상부에 이물이 침투될 때거나 스페이서(190) 상부의 구조물에 크랙과 같은 씸(seam)이 발생되었을 때, 크랙을 통해 들어온 전도성 이온의 전기적 경로가 될 수 있으므로, 제 2 전극(185)이나 내부 스택(220)에 전도성 이온에 의한 영향을 방지하기 위해 금속 패턴(185)과 제 2 전극(230)과 충분한 이격을 갖는다. The metal pattern 185 has a width equal to or smaller than that of the spacer 190 . More preferably, the metal pattern 185 may have a smaller width than the lower width of the spacer 190 . That is, the second electrode 230 adjacent to the spacer 190 and the metal pattern 185 are electrically separated by making the metal pattern 185 smaller than the lower width of the spacer 190 . The metal pattern 185 can serve as an electrical path for conductive ions entering through a crack when a foreign substance penetrates the upper part of the spacer 190 or when a seam such as a crack is generated in the structure above the spacer 190. Therefore, a sufficient distance is provided between the metal pattern 185 and the second electrode 230 to prevent the second electrode 185 or the internal stack 220 from being affected by conductive ions.

발광 소자(200: OLED)가 발광 소자(200)는 상기 서브 화소들에 각각에 구비되며, 각 서브 화소들에 독립적으로 형성된 제 1 전극(210: 210R, 210G, 210B)에 의해 개별 동작할 수 있다. 발광 소자(200)는 서로 대향된 제 1 전극(210: 210R, 210G, 210B)과 제 2 전극(230)과 기능 스택(220)을 포함할 수 있다. 제 1 전극(210: 210R, 210G, 210B)은 개별적으로 구비되며, 서브 화소별로 분리될 수 있다. The light emitting element 200 (OLED) is provided in each of the sub-pixels and can operate individually by first electrodes 210 (210R, 210G, 210B) independently formed in each sub-pixel. there is. The light emitting device 200 may include first electrodes 210 (210R, 210G, 210B) and second electrodes 230 and a functional stack 220 that face each other. The first electrodes 210 (210R, 210G, 210B) are individually provided and may be separated for each sub-pixel.

발광 소자가 유기 발광 소자일 때, 발광 소자의 기능 스택(220)은 유기층으로 이루어질 수 있으며, 적어도 유기층은 발광층을 포함한다. 발광층 외에 기능 스택(220)에는 제 1 전극과 발광층 사이에 정공 주입층, 정공 수송층이 형성될 수 있고, 발광층과 제 2 전극 사이에 전자 수송층 및 전자 주입층이 형성될 수 있다. 기능 스택(220)에 포함된 복수개의 층 중 적어도 하나 이상은 발광부(EM) 뿐만 아니라 비발광부(NEM)에도 형성될 수 있고, 표시 영역(AA) 전체에 일체형으로 형성된 층은 그 일체성 및 연속성 면에서 공통층으로 명명하기도 한다. 도 3에 도시된 기능 스택(220)은 일예로 발광층만을 도시한 것이고, 기능 스택에 정공 주입층, 정공 수송층, 전자 수송층 및 전자 주입층 중 적어도 하나의 공통층을 포함할 때, 그 공통층은 발광부(EM)뿐만 아니라 비발광부(NEM)에도 균일하게 형성된다. 공통층이 구비될 때, 상기 뱅크(180)의 상부면 및 스페이서(190)의 상부면 및 측면에 공통층이 형성될 것이다. When the light emitting device is an organic light emitting device, the function stack 220 of the light emitting device may include an organic layer, and at least the organic layer includes the light emitting layer. In addition to the light emitting layer, in the functional stack 220, a hole injection layer and a hole transport layer may be formed between the first electrode and the light emitting layer, and an electron transport layer and electron injection layer may be formed between the light emitting layer and the second electrode. At least one or more of the plurality of layers included in the functional stack 220 may be formed not only in the light emitting part EM but also in the non-emitting part NEM, and a layer integrally formed over the entire display area AA may have its integrity and In terms of continuity, it is also called a common layer. The functional stack 220 shown in FIG. 3 shows only the light emitting layer as an example, and when the functional stack includes at least one common layer of a hole injection layer, a hole transport layer, an electron transport layer, and an electron injection layer, the common layer is It is uniformly formed not only in the light emitting portion EM but also in the non-emitting portion NEM. When the common layer is provided, the common layer may be formed on the top surface of the bank 180 and the top surface and side surfaces of the spacer 190 .

도 2에 도시된 각 라인들은 제 1 방향(X 방향), 제 2 방향(Y 방향)을 따르지만, 이에 한하지 않으며, X방향에서 일정하게 기울어진 대각선 방향을 따라 배치될 수 있고, 서로 교차하는 스캔 라인(122a, 122b, 121), 데이터 라인(163)의 교차 각도가 90도가 아닌 예각일 수도 있다.Each line shown in FIG. 2 follows, but is not limited to, a first direction (X direction) and a second direction (Y direction), and may be disposed along a diagonal direction that is constantly inclined in the X direction, and intersects each other. The intersection angle of the scan lines 122a, 122b, and 121 and the data line 163 may be an acute angle other than 90 degrees.

또한, 도 2는 각 라인과 발광부들(REM, GEM, BEM)의 대응 위치를 나타내기 위해 도시하였고, 트랜지스터나 스토리지 캐패시터의 구체 구성은 생략하였다. 트랜지스터의 배치에 따라 각 라인들(121, 122a, 122b, 123, 161, 162, 163, 164)은 돌출부를 더 가질 수 있고, 돌출부에서 폭을 달리할 수 있다. 혹은 각 발광부(REM, GEM, BEM)와 중첩하는 영역에서 인접 발광부(REM, GEM, BEM)와 기생 캐패시터 발생을 방지하기 위해 상기 스캔 라인들(121, 122a, 122b), 발광 제어 라인(EM)들은 도시된 제 1 방향에서 제 1 전극(210R, 210G, 210B)과 중첩한 영역에서 도시된 형상보다 상측이나 하측으로 치우진 회피 영역을 가질 수 있고, 상기 데이터 라인(163), 전원전압 라인(161), 기저전압 라인(162), 레퍼런스 라인(RL: 164)은 도시된 제 2 방향에서 제 1 전극(210R, 210G, 210B)과 중첩한 영역에서 도시된 형상보다 우측이나 좌측으로 치우진 회피 영역을 가질 수 있다.In addition, FIG. 2 is shown to show the corresponding positions of each line and the light emitting units REM, GEM, and BEM, and specific configurations of transistors or storage capacitors are omitted. Depending on the arrangement of the transistors, each of the lines 121, 122a, 122b, 123, 161, 162, 163, and 164 may further have protrusions, and the protrusions may have different widths. Alternatively, the scan lines 121, 122a, and 122b, the emission control line ( EM) may have an avoidance region skewed upward or downward from the illustrated shape in an area overlapping the first electrodes 210R, 210G, and 210B in the illustrated first direction, and the data line 163, power voltage The line 161, the base voltage line 162, and the reference line RL 164 are shifted to the right or left of the illustrated shape in the region overlapping the first electrodes 210R, 210G, and 210B in the illustrated second direction. You can have a true avoidance area.

도 2는 청색 발광부(BEM)가 적색 발광부(REM) 및 녹색 발광부(GEM)보다 큰 면적을 갖는 것으로 이는 상대적으로 청색이 시인성이 낮고, 동일 면적에서 청색을 발광하는 발광 소자가 타색을 발광하는 발광 소자 대비 부족한 효율을 면적으로 보상하기 위함이다. 청색 발광 소자가 타색 발광 소자와 동일 효율을 갖는다면 각 발광부(REM, GEM, BEM)를 동일 면적으로 할 수 있다.2 shows that the blue light emitting part (BEM) has a larger area than the red light emitting part (REM) and green light emitting part (GEM), which means that the visibility of blue is relatively low, and a light emitting element emitting blue color in the same area can emit other colors. This is to compensate for the insufficient efficiency compared to the light emitting device that emits light by area. If the blue light emitting device has the same efficiency as the other color light emitting device, each of the light emitting units REM, GEM, and BEM may have the same area.

한편, 도 2에는 제 2 방향을 따른 하나의 청색 발광부(BEM)에, 제 2 방향을 따른 적색 발광부(REM), 녹색 발광부(GEM)가 이웃한 형상을 나타낸다. 이는 광학적인 특성을 고려한 일예이며, 발광 표시 장치가 지향되는 색 특성에 따라 발광부의 배치나 발광부의 형상은 변경될 수 있다.Meanwhile, FIG. 2 shows a shape in which a red light emitting part REM and a green light emitting part GEM along the second direction are adjacent to one blue light emitting part BEM along the second direction. This is an example considering optical characteristics, and the arrangement or shape of the light emitting unit may be changed according to the color characteristics of the light emitting display device.

또한, 각 발광부(REM, GEM, BEM)는 제 1 전극(210R, 210G, 210B) 내에 구비되는 것으로, 제 1 전극(210R, 210G, 210G)이 뱅크(180)와 중첩한 영역은 비발광부에 있고, 뱅크(180)의 오픈 영역(도 2의 점선 영역 내)의 제 1 전극(210R, 210G, 210G) 상부는 뱅크(180)로부터 노출되어 있다.In addition, each of the light emitting units REM, GEM, and BEM is provided in the first electrodes 210R, 210G, and 210B, and a region where the first electrodes 210R, 210G, and 210G overlap the bank 180 is a non-light emitting portion. , and upper portions of the first electrodes 210R, 210G, and 210G in the open area of the bank 180 (within the dotted line area in FIG. 2 ) are exposed from the bank 180 .

스페이서(190)는 제 1 전극(210R, 210G, 210B)과 이격시키는 것이 바람직하다. 이는 스페이서(190)가 구조적으로 수직 방향에서 돌출되어 있어 상대적으로 이물이 침투되기 용이하기 때문에, 이물에 기인한 불량 원인으로부터 전기적 신호가 인가되는 제 1 전극(210R, 210G, 210B)을 분리시키기 위함이다.The spacer 190 is preferably spaced apart from the first electrodes 210R, 210G, and 210B. This is to separate the first electrodes 210R, 210G, and 210B to which electrical signals are applied from the cause of defects caused by the foreign matter, since the spacer 190 is structurally protruded in the vertical direction and relatively easily penetrated by foreign matter. am.

적어도 서로 다른 색을 발광하는 발광부들(REM, GEM, BEM) 사이에 스페이서(190)가 구비될 수 있다. 스페이서(190)는 뱅크(180) 상부에 있으며, 발광 소자의 내부 스택(220)을 형성하는 공정 중 특히 미세 금속 마스크(FMM: Fine Metal Mask)가 적용될 때, 미세 금속 마스크와 먼저 스페이서(190)가 닿아, 미세 금속 마스크의 처짐을 방지하여 미세 금속 마스크로부터 기판(100) 상에 형성된 구성을 보호하고, 또한 하부 스페이서(190) 하부의 뱅크(180)의 형태 무너짐을 방지하여, 내부 구성의 신뢰성을 유지하며 내부 스택(220)의 증착 공정을 진행하기 위함이다.A spacer 190 may be provided between at least the light emitting units REM, GEM, and BEM emitting different colors. The spacer 190 is located above the bank 180, and during the process of forming the internal stack 220 of the light emitting device, especially when a fine metal mask (FMM) is applied, the fine metal mask and the spacer 190 are formed first. , to prevent sagging of the fine metal mask to protect the structure formed on the substrate 100 from the fine metal mask, and also to prevent the collapse of the shape of the bank 180 under the lower spacer 190, thereby increasing the reliability of the internal structure This is to proceed with the deposition process of the internal stack 220 while maintaining the .

스페이서(190)는 발광부들(REM, GEM, BEM) 사이에서 동일 위치에 있을 수도 있고, 다른 위치에 있을 수도 있다. The spacer 190 may be located at the same position or different positions between the light emitting units REM, GEM, and BEM.

상기 스페이서(190)는 전원전압 라인(161)과 중첩하며, 스페이서(190)보다 작은 폭으로 형성되는 하부의 금속 패턴(185)이 전원전압 라인(161)과 뱅크(180) 및 평탄화층(170)을 관통한 제 1 콘택홀(CT)을 통해 수직 접속 될 수 있다.The spacer 190 overlaps the power voltage line 161, and the lower metal pattern 185 formed with a smaller width than the spacer 190 is connected to the power voltage line 161, the bank 180, and the planarization layer 170. ) through the first contact hole CT.

또한, 도 2와 같이, 상기 데이터 라인(163) 및 기저전원 라인(VSL: 162)은 상기 전원전압 라인(VDL: 161)과 이격하여 평행하게 구비되고, 상기 스페이서(190)와 중첩할 수 있다. 기저전원 라인(VSL:162)은 저전위 전압이 인가되는 라인이다.Also, as shown in FIG. 2 , the data line 163 and the base power supply line (VSL: 162) are spaced apart from and provided in parallel with the power supply voltage line (VDL: 161), and may overlap the spacer 190. . The base power supply line (VSL: 162) is a line to which a low potential voltage is applied.

순서 상 평탄화층(170)을 형성하고, 각 발광부(REM, GEM, BEM)의 제 1 전극을 형성하고, 포토 아크릴, 폴리 이미드 등의 뱅크 물질을 전면 도포한 후, 발광부(EM)에 대응하여 제 1 전극(210R, 210G, 210B)의 상부를 노출시키는 오픈 영역을 형성하는 동일 공정에서, 전원전압 라인(161)의 상부 일부를 노출시키도록 뱅크(180), 평탄화층(170)을 함께 관통하는 제 1 콘택홀(CT4)을 형성할 수 있다.In order, the planarization layer 170 is formed, the first electrode of each light emitting unit (REM, GEM, BEM) is formed, and a bank material such as photo acrylic or polyimide is coated on the entire surface, and then the light emitting unit EM In the same process of forming an open region exposing the upper portion of the first electrodes 210R, 210G, and 210B corresponding to the bank 180 and the planarization layer 170 to expose a portion of the upper portion of the power voltage line 161 A first contact hole CT4 penetrating both may be formed.

그리고, 제 1 콘택홀(CT4) 내부를 채우며, 금속 물질을 뱅크(180) 상부를 포함한 기판(100) 상에 증착하여 형성 후 금속 물질을 뱅크(180) 상의 소정 부위에만 남겨 뱅크(180) 상부 표면의 일부에 남는 금속 패턴(185)을 형성한다. 금속 패턴(185)은 도 2에 도시된 바와 같이 원형일 수도 있고, 혹은 사각형일 수도 있고, 혹은 다른 다각형일 수 있다. 금속 패턴(185)은 스페이서(190)보다 작은 면적을 갖고, 전원전압 라인(161)과 접속시 저항을 늘리지 않는다면 다양한 형상으로 변경될 수 있다.In addition, the inside of the first contact hole CT4 is filled, and a metal material is deposited on the substrate 100 including the upper part of the bank 180, and after formation, the metal material is left only in a predetermined area on the bank 180 to form the upper part of the bank 180. A metal pattern 185 remaining on a part of the surface is formed. As shown in FIG. 2 , the metal pattern 185 may be circular, square, or other polygonal shape. The metal pattern 185 has a smaller area than the spacer 190 and can be changed into various shapes as long as resistance is not increased when connected to the power voltage line 161 .

도 3을 참조하여 발광 소자(200) 외에 서브 화소에 구비되는 어레이 구성을 설명한다.Referring to FIG. 3 , an array configuration provided in sub-pixels in addition to the light emitting element 200 will be described.

기판(100)은 유리 기판일 수도 있고, 혹은 플라스틱 필름일 수 있다. The substrate 100 may be a glass substrate or a plastic film.

발광 표시 장치가 플렉서블 장치로 구현될 때, 기판(100)은 식각 처리되어 플렉서블 가능한 얇은 두께의 유리 기판이거나 플라스틱 필름일 수 있다. 기판(100)이 플라스틱 필름일 때, 하나 이상의 폴리 이미드 필름을 포함할 수 있다. 기판(100)이 복수층의 필름을 포함할 때, 필름 사이에는 층간 절연층이 사이에 구비될 수 있다. When the light emitting display device is implemented as a flexible device, the substrate 100 may be a thin glass substrate or a plastic film that is etched and flexible. When the substrate 100 is a plastic film, it may include one or more polyimide films. When the substrate 100 includes a plurality of layers of films, an interlayer insulating layer may be provided between the films.

기판(100) 상에는 버퍼층(110)이 구비되어 기판(100)에 남아 있는 불순물이나 기판(100)을 통과하는 수분 등이 기판(100) 상에 어레이 구성에 영향을 주지 않도록 한다. 버퍼층(110)은 질화막, 산화막 혹은 산질화막, 혹은 경우에 따라 금속을 포함한 절연막일 수 있다. A buffer layer 110 is provided on the substrate 100 to prevent impurities remaining on the substrate 100 or moisture passing through the substrate 100 from affecting the array configuration on the substrate 100 . The buffer layer 110 may be a nitride film, an oxide film, an oxynitride film, or an insulating film including a metal in some cases.

버퍼층(110) 상의 소정 부위에 액티브층(120)이 구비된다. 도 3과 같이, 액티브층(120)은 일체형일 수도 있고, 혹은 서브 화소에 구비되는 트랜지스터의 수에 따라 분리된 형태일 수도 있고, 혹은 하나 이상의 트랜지스터에 공유되는 형태일 수도 있다. 상기 액티브층(120)은 폴리 실리콘, 아몰퍼스 실리콘, 산화물 반도체 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The active layer 120 is provided on a predetermined portion on the buffer layer 110 . As shown in FIG. 3 , the active layer 120 may be integral, may be separated according to the number of transistors included in sub-pixels, or may be shared by one or more transistors. The active layer 120 may include at least one of polysilicon, amorphous silicon, and an oxide semiconductor.

상기 액티브층(120) 상에 게이트 절연막(130)이 형성되고, 상기 게이트 절연막(130) 상에 제 1 스캔 라인(Scan1: 121), 제 2 스캔 라인(Scan2, 122a, 122b), 발광 제어 라인(EM: 123) 및 제 1 스토리지 전극(124)이 구비된다. A gate insulating layer 130 is formed on the active layer 120, and a first scan line (Scan1: 121), a second scan line (Scan2, 122a, 122b) and an emission control line are formed on the gate insulating layer 130. (EM: 123) and a first storage electrode 124 are provided.

상기 제 1 스캔 라인(Scan1: 121), 제 2 스캔 라인(Scan2, 122a, 122b), 발광 제어 라인(EM: 123) 및 제 1 스토리지 전극(124)을 덮으며, 제 1 층간 절연막(140)이 구비된다.The first interlayer insulating film 140 covers the first scan line (Scan1: 121), the second scan line (Scan2, 122a, 122b), the emission control line (EM: 123), and the first storage electrode 124. is provided

상기 제 1 층간 절연막(140) 상에 제 2 스토리지 전극(150)이 제 1 스토리지 전극(124)과 중첩하여 구비된다. A second storage electrode 150 is provided on the first interlayer insulating layer 140 and overlaps with the first storage electrode 124 .

상기 제 2 스토리지 전극(150)을 덮으며, 제 2 층간 절연막(155)이 구비된다. A second interlayer insulating layer 155 is provided to cover the second storage electrode 150 .

일예로, 도 4의 제 4 스위칭 트랜지스터(T4)는 액티브층(120)과, 제 2스캔 라인(122b)과 일체형인 게이트 전극, 상기 액티브층(120)의 양측에 이격하여 접속한 소스 전극(166) 및 드레인 전극(165)을 포함하여 이루어질 수 있다.For example, the fourth switching transistor T4 of FIG. 4 includes a gate electrode integrated with the active layer 120 and the second scan line 122b, and a source electrode connected to both sides of the active layer 120 at a distance from each other ( 166) and a drain electrode 165.

여기서, 상기 액티브층(120)의 이격한 상부 일부를 노출하도록 상기 제 2 층간 절연막(155), 제 1 층간 절연막(140), 게이트 절연막(130)에 콘택홀(CT1, CT2)이 구비되며, 상기 콘택홀(CT1, CT2)을 통해 액티브층(120)에 각각 이격하여 접속하며 소스 전극(166) 및 드레인 전극(165)이 구비된다. 제 4 스위칭 트랜지스터(T4)를 형성하는 동일 공정에서 스위칭 제 1 내지 제 3 스위칭 트랜지스터(T1, T2, T3) 및 제 5 스위칭 트랜지스터(T5)와 스토리지 캐패시터(Cst)가 형성될 수 있다.Here, contact holes CT1 and CT2 are provided in the second interlayer insulating film 155, the first interlayer insulating film 140, and the gate insulating film 130 to expose a spaced upper part of the active layer 120, The active layer 120 is spaced apart and connected to each other through the contact holes CT1 and CT2, and a source electrode 166 and a drain electrode 165 are provided. In the same process of forming the fourth switching transistor T4, the first to third switching transistors T1, T2, and T3, the fifth switching transistor T5, and the storage capacitor Cst may be formed.

평탄화층(170)는 스위칭 트랜지스터들(T1~T5)과 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)를 덮으며 표면을 평탄화하며 형성된다.The planarization layer 170 covers the switching transistors T1 to T5, the driving transistor DT, and the storage capacitor Cst, and is formed by planarizing the surface.

스토리지 캐패시터(Cst)는 서로 중첩한 제 1, 제 2 스토리지 전극(124, 150) 및 그 사이의 제 1 층간 절연막(140)을 포함하여 이루어진다. 경우에 따라, 제 1 스토리지 전극(124)과 중첩한 액티브층(120)과, 제 1 스토리지 전극(124)과 액티브층(120) 사이에 있는 게이트 절연막(130)까지 포함하여 3중 전극으로 이루어진 스토리지 캐패시터(Cst)가 정의될 수도 있다.The storage capacitor Cst includes first and second storage electrodes 124 and 150 overlapping each other and a first interlayer insulating layer 140 therebetween. In some cases, the active layer 120 overlaps with the first storage electrode 124, and the gate insulating layer 130 between the first storage electrode 124 and the active layer 120 is made of a triple electrode. A storage capacitor Cst may be defined.

또한, 발광 소자(200)의 제 2 전극(230)은 내부 스택(220)의 공통층과 같이 기판(100)의 표시 영역(AA)에 일체형으로 구비될 수 있다. 이 경우, 제 2 전극(230)은 서브 화소의 발광부(EM)와 비발광부(NEM)에 끊김없이 연속되어 있다. 따라서, 제 2 전극(230)은 스페이서(190)의 상부면 및 측면 상에도 구비된다. 예를 들어, 내부 스택(220)의 발광층이 발광부(EM) 및 발광부(EM) 주변의 비발광부(NEM) 일부에 구비될 때, 상기 제 2 전극(230)은 발광층 외측으로 연장되며 제 2 전극(230)은 스페이서(190)의 상부면 및 측면 상에도 구비된다.Also, the second electrode 230 of the light emitting device 200 may be integrally provided in the display area AA of the substrate 100 like the common layer of the internal stack 220 . In this case, the second electrode 230 is continuously connected to the light emitting part EM and the non-emitting part NEM of the sub-pixel. Accordingly, the second electrode 230 is also provided on the top and side surfaces of the spacer 190 . For example, when the light emitting layer of the internal stack 220 is provided in the light emitting part EM and a part of the non-light emitting part NEM around the light emitting part EM, the second electrode 230 extends to the outside of the light emitting layer and The second electrode 230 is also provided on the top and side surfaces of the spacer 190 .

발광 소자(200)를 덮으며 발광 소자(200)를 외부의 투습 및 외기로부터 보호하는 봉지 구조(300)가 구비된다. 봉지 구조(300)는 예를 들어, 무기막(310, 330)과 유기 봉지층(320)이 교번되는 구조를 가질 수 있다. 발광 소자(200) 이후에 형성되는 봉지 구조(300)의 무기 봉지층(310, 330) 및 유기 봉지층(320)은 발광 소자(200) 내의 내부 스택의 변성을 막기 위해 저온으로 성막된다. 저온 성막시 온도는 일예로 120℃ 이하일 수 있다.An encapsulation structure 300 covering the light emitting element 200 and protecting the light emitting element 200 from external moisture and air is provided. The encapsulation structure 300 may have, for example, a structure in which the inorganic layers 310 and 330 and the organic encapsulation layer 320 are alternated. The inorganic encapsulation layers 310 and 330 and the organic encapsulation layer 320 of the encapsulation structure 300 formed after the light emitting device 200 are formed at a low temperature to prevent denaturation of an internal stack in the light emitting device 200 . When forming a film at a low temperature, the temperature may be, for example, 120° C. or less.

도 4와 같이, 서브 화소 내에는 일예로, 5개의 스위칭 트랜지스터(T1 ~ T5), 1개의 구동 트랜지스터(DT), 1개의 스토리지 캐패시터(Cst) 및 1개의 발광다이오드(OLED) 등을 포함할 수 있다. Cgv는 보상을 위해 마련된 보상 커패시터일 수 있으며 이는 생략될 수도 있다.As shown in FIG. 4 , a sub-pixel may include, for example, five switching transistors T1 to T5, one driving transistor DT, one storage capacitor Cst, and one light emitting diode (OLED). there is. Cgv may be a compensation capacitor provided for compensation and may be omitted.

제 1 스위칭 트랜지스터(T1)는 제 1 스캔라인(Scan1)을 통해 인가된 제 1 스캔신호(Vscan1)에 응답하여 데이터 라인(DL)을 통해 인가된 데이터전압(Vd)을 스토리지 캐패시터(Cst)의 제 1 스토리지 전극에 전달하는 역할을 할 수 있다.The first switching transistor T1 converts the data voltage Vd applied through the data line DL to the voltage of the storage capacitor Cst in response to the first scan signal Vscan1 applied through the first scan line Scan1. It may serve to transfer to the first storage electrode.

제 2 스위칭 트랜지스터(T2)는 제 2 스캔라인(Scan2)을 통해 인가된 제 2 스캔신호(Vscan2)에 응답하여 구동 트랜지스터(DT)의 게이트전극과 스토리지 캐패시터(Cst)의 제 2 스토리지 전극을 전기적으로 연결하는 역할(문턱전압 보상을 위해 구동 트랜지스터(DT)를 다이오드 커넥션 상태로 만드는 역할)을 할 수 있다.The second switching transistor T2 electrically connects the gate electrode of the driving transistor DT and the second storage electrode of the storage capacitor Cst in response to the second scan signal Vscan2 applied through the second scan line Scan2. (to make the driving transistor DT into a diode connection state for threshold voltage compensation).

제 3 스위칭 트랜지스터(T3)는 발광 제어 라인(또는 제 3 스캔라인)(EM)을 통해 인가된 발광제어신호(또는 제 3 스캔신호)에 응답하여 레퍼런스 전압 라인(RL)을 통해 인가된 레퍼런스전압(VREF: 초기화전압)을 스토리지 캐패시터(Cst)의 제 1 스토리지전극에 전달하는 역할을 할 수 있다.The third switching transistor T3 responds to the emission control signal (or the third scan signal) applied through the emission control line (or third scan line) EM, and the reference voltage applied through the reference voltage line RL. (VREF: initialization voltage) may be transferred to the first storage electrode of the storage capacitor Cst.

제 4 스위칭 트랜지스터(T4)는 발광 제어 라인(EM)을 통해 인가된 발광제어신호(Vem)에 응답하여 구동 트랜지스터(DT)로부터 발생된 구동전류를 발광소자(OLED)의 제 1 전극에 전달하는 역할을 할 수 있다.The fourth switching transistor T4 transfers the driving current generated from the driving transistor DT to the first electrode of the light emitting element OLED in response to the light emitting control signal Vem applied through the light emitting control line EM. can play a role

제 5 스위칭 트랜지스터(T5)는 제 2 스캔라인(Scan2)을 통해 인가된 제 2 스캔신호(Vscan2)에 응답하여 레퍼런스 전압 라인(RL)을 통해 인가된 보상 전압 등을 발광 소자(OLED)의 제 1 전극에 공급한다.The fifth switching transistor T5 converts the compensation voltage applied through the reference voltage line RL in response to the second scan signal Vscan2 applied through the second scan line Scan2 to the light emitting element OLED. 1 supplied to the electrode.

스토리지 캐패시터(Cst)는 데이터전압을 저장하고 저장된 데이터전압을 기반으로 구동 트랜지스터(DT)를 구동하는 역할을 할 수 있다. 발광소자(OLED)는 구동 트랜지스터(DT)로부터 발생된 구동전류를 기반으로 빛을 발광하는 역할을 할 수 있다.The storage capacitor Cst may serve to store the data voltage and drive the driving transistor DT based on the stored data voltage. The light emitting device OLED may emit light based on the driving current generated from the driving transistor DT.

도 4에 도시된 서브 화소는 제 2 및 제 3 스위칭 트랜지스터(T2, T3) 등을 기반으로 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압을 보상할 수 있고, 제 4 스위칭 트랜지스터(T4) 등을 기반으로 발광 소자(OLED)의 발광 시간을 제어할 수 있는 등 다양한 이점이 있다.The sub-pixel shown in FIG. 4 can compensate for the threshold voltage of the driving transistor DT based on the second and third switching transistors T2 and T3, and emits light based on the fourth switching transistor T4. There are various advantages, such as being able to control the light emission time of the element OLED.

한편, 도 4에서는 서브 화소에 포함된 트랜지스터들이 모두 P타입으로 이루어진 것을 일례로 설명하였다. 그러나 서브 화소에 포함된 트랜지스터들은 모두 N타입으로 이루어지거나 P타입과 N타입이 혼합된 구조로 구현될 수도 있다. 덧붙여, 도 4는 이상의 실시예와 결부하여 서브 화소에 연결된 각종 신호 라인들 및 전원라인들의 평면 및 단면 구조 등에 대한 이해를 돕기 위해 도시 및 설명한 것일 뿐, 본 명세서는 이에 한정되지 않는다.Meanwhile, in FIG. 4 , it has been described as an example that the transistors included in the sub-pixel are all P-type. However, all of the transistors included in the sub-pixel may be formed of N-type or may be implemented in a mixed structure of P-type and N-type transistors. In addition, FIG. 4 is only illustrated and described to help understand the planar and cross-sectional structures of various signal lines and power lines connected to sub-pixels in connection with the above embodiment, and the present specification is not limited thereto.

한편, 본 명세서의 금속 패턴(185)은 스페이서(190)에 대응되어 구비된 것이다. 그러나, 스페이서(190) 상의 이물에 의한 씸(Seam) 및 씸에 의한 전도성 이물은 기판(100)에 구비된 스페이서들 중 일부에 한해서일 것이다. 본 명세서의 금속 패턴(185)은 매 스페이서(190)에 대응되어 구비되며, 각 금속 패턴(185)이 양의 전원 전압이 인가되는 전원전압 라인(VDL: 161)에 연결되어 안정화된 포텐셜을 유지한다.Meanwhile, the metal pattern 185 of the present specification is provided to correspond to the spacer 190 . However, the seam caused by the foreign material on the spacer 190 and the conductive foreign material caused by the seam may be limited to some of the spacers provided on the substrate 100 . The metal patterns 185 of the present specification are provided to correspond to each spacer 190, and each metal pattern 185 is connected to a power supply voltage line (VDL: 161) to which a positive power supply voltage is applied to maintain a stabilized potential. do.

이하에서는 도 5를 참조하며, 이물 발생시 전도성 이온의 이동 경로를 살펴본다.Hereinafter, referring to FIG. 5 , a movement path of conductive ions when a foreign material is generated is examined.

도 5는 본 명세서의 발광 표시 장치에 있어서, 전도성 이물 발생시 이온의 이동 경로를 나타낸 단면도이다. 도 6은 비교예에 따른 발광 표시 장치에 있어서, 이물 발생시 전도성 이온의 이동을 나타낸 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a movement path of ions when a conductive foreign material is generated in the light emitting display device of the present specification. 6 is a cross-sectional view illustrating movement of conductive ions when a foreign material is generated in a light emitting display device according to a comparative example.

스페이서(190)가 형성된 이후 내부 스택(220)의 정공 주입층, 정공 수송층, 발광층, 전자 수송층 및 전자 주입층 등을 증착 방식으로 형성할 수 있다.After the spacer 190 is formed, a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer of the internal stack 220 may be formed by a deposition method.

이 때, 증착 마스크가 이용될 수 있고, 스페이서(190)는 증착 마스크와 직간접적으로 접촉될 수 있다. 이 경우, 스페이서(190)는 구조적으로 높은 위치에 있어 이물(FR)이 잔존할 수 있다. 또한, 증착 공정에서 직접적으로 스페이서(190) 상에 이물(FR)이 달라붙어 있지 않는다고 하더라도 봉지 구조(300) 형성 후에 공정 중에 발생된 이물이 발광 표시 장치에 남아있을 때 두꺼운 봉지 구조(300) 내부의 유기층(320)에 잔존한 이물(FR)은 상대적으로 높은 스페이서(190) 상부에 잔존할 수 있다. In this case, a deposition mask may be used, and the spacer 190 may directly or indirectly contact the deposition mask. In this case, since the spacer 190 is structurally at a high position, the foreign material FR may remain. In addition, even if the foreign material FR is not directly attached to the spacer 190 in the deposition process, when the foreign material generated during the process remains in the light emitting display device after the formation of the encapsulation structure 300, the inside of the thick encapsulation structure 300 The foreign material FR remaining in the organic layer 320 of may remain on the relatively high spacer 190 .

도 5와 같이, 두꺼운 이물(FR)이 스페이서(190)에 잔존하며, 얇은 제 2 전극(230)이나 내부 스택(220)에 크랙을 일으켜 크랙이 발생한 부위에 씸(seam)이 발생한다. 그리고, 씸(seam)을 통해 공정 중 남아있는 F- 이온 등이 스페이서(190) 내부로 침투될 수 있다. 본 명세서의 발광 표시 장치는 도 5와 같이, 침투된 음의 이온이 양의 전원 전압이 인가되는 금속 패턴(185)으로 포획되어, 발광 소자(200)에 영향을 끼침을 방지할 수 있다.As shown in FIG. 5 , the thick foreign material FR remains in the spacer 190 and causes a crack in the thin second electrode 230 or the internal stack 220 to create a seam where the crack occurs. In addition, F- ions remaining during the process may permeate into the spacer 190 through the seam. As shown in FIG. 5 , in the light emitting display device of the present specification, penetrating negative ions may be captured by the metal pattern 185 to which a positive power supply voltage is applied, preventing the light emitting element 200 from being affected.

이물(FR)은 복수 패널에 대해 증착 공정을 진행하는 증착 마스크에 남아있거나 챔버 내에 있는 이물(FR)들이 기판에 접하며 전사되는 것으로, 탄소를 포함한 유기 성분이다. 또한, 수회 혹은 수십 회 증착 과정에서 쌓이거나 비산된 물질이 집합화될 수 있는 물질로 비정형성을 갖는다.The foreign material FR is an organic component including carbon, which remains in a deposition mask for performing a deposition process on a plurality of panels or is transferred while in contact with the substrate. In addition, it is a material in which materials piled up or scattered during the deposition process several times or dozens of times can be aggregated and has an amorphous shape.

도 6과 같이, 이러한 이물(25)은 그 자체가 문제를 일으킨다기 보다, 발광 소자의 구성보다 두께가 두꺼워 발광 소자의 내부 스택(22) 및 제 2 전극(23)이 이물(25)을 만나며 그 표면 상에 구조적인 결락을 만들며, 이어 형성되는 무기 봉지층(31)에서 이물(25) 측부에서 크랙(crack)을 유발한다. 또한, 상기 크랙은 유기 봉지층(32)에 남아있던 F-이온 등의 불순물들이 침투되는 경로가 되어 얇은 두께의 제 2 전극(23)을 통과해 내부 스택(22)에 영향을 미치고, 특히 불순물 이온에 민감도가 큰 발광층을 손상시킬 수 있다. 발광층이 인광 재료를 포함시 이리듐과 같은 중금속과 리간드간의 결합을 갖는 인광 도펀트를 포함하는데 F-이온은 인광 도펀트의 결합을 깨뜨려 이물의 영향을 받은 발광층은 열화가 촉진되며, 이는 휘도 및 수명 등에 직접적인 영향을 미칠 수 있는 것이다. As shown in FIG. 6 , the foreign material 25 is thicker than the structure of the light emitting element rather than causing a problem in itself, so that the internal stack 22 and the second electrode 23 of the light emitting element meet the foreign material 25 and A structural defect is created on the surface, and a crack is induced at the side of the foreign material 25 in the inorganic encapsulation layer 31 formed subsequently. In addition, the crack becomes a path through which impurities such as F- ions remaining in the organic encapsulation layer 32 penetrate, pass through the second electrode 23 having a thin thickness, and affect the internal stack 22. In particular, the impurities The light emitting layer, which is highly sensitive to ions, may be damaged. When the light emitting layer includes a phosphorescent material, it includes a phosphorescent dopant having a ligand bond with a heavy metal such as iridium. The F-ion breaks the bond between the phosphorescent dopant and promotes deterioration of the light emitting layer affected by the foreign matter, which has a direct effect on luminance and lifespan. that can affect

본 명세서의 발광 표시 장치는 이러한 이물에 대비하여 이물이 침투될 수 있는 취약부인 스페이서(190)에 대응하여 스페이서(190)와 뱅크(180) 사이에 금속 패턴(185)을 구비하고, 상기 금속 패턴(185)에 양의 전원 전압을 인가시켜, 상대적으로 낮은 전압이 인가되는 발광 소자(OLED)의 제 1 전극(210)보다 금속 패턴(185)으로 전도성 이온을 포집하여 전도성 이온에 의한 발광 소자의 영향을 방지할 수 있다. The light emitting display device of the present specification includes a metal pattern 185 between the spacer 190 and the bank 180 to correspond to the spacer 190, which is a weak portion into which foreign matter can penetrate, in preparation for such a foreign material. By applying a positive power supply voltage to 185, conductive ions are collected by the metal pattern 185 rather than the first electrode 210 of the light emitting element (OLED) to which a relatively low voltage is applied, thereby increasing the efficiency of the light emitting element by conductive ions. impact can be avoided.

도 7a 및 도 7b는 본 명세서의 발광 표시 장치 내 발광 소자의 예를 나타낸 단면도이다.7A and 7B are cross-sectional views illustrating examples of light emitting elements in the light emitting display device of the present specification.

도 7a와 같이, 본 명세서의 발광 소자는 일예로, 제 1 전극(210)과 제 2 전극(230) 사이에 내부 스택(220)을 하나의 발광층과 그 하부 및 상부에 공통층을 구비한 단일 스택 형태로 구비할 수 있다.As shown in FIG. 7A, the light emitting device of the present specification includes, for example, an internal stack 220 between the first electrode 210 and the second electrode 230 with one light emitting layer and a single layer having a common layer below and above the stack. It can be provided in the form of a stack.

즉, 도 7a에 따른 내부 스택(220)은 정공 주입층(HIL), 정공 수송층(HTL), 발광층 (EML), 전자 수송층(ETL), 및 전자 주입층(EIL)을 포함할 수 있다. 발광층(EML) 을 제외한 정공 주입층(HIL), 정공 수송층(HTL), 전자 수송층(ETL) 및 전자 주입층(ETL)이 공통층일 수 있다.That is, the internal stack 220 according to FIG. 7A may include a hole injection layer (HIL), a hole transport layer (HTL), an emission layer (EML), an electron transport layer (ETL), and an electron injection layer (EIL). A hole injection layer (HIL), a hole transport layer (HTL), an electron transport layer (ETL), and an electron injection layer (ETL) other than the light emitting layer (EML) may be common layers.

다른 예로, 도 7b와 같이, 발광 소자(OLED)의 제 1 전극(210)과 제 2 전극(230) 사이에 형성되는 내부 스택(220)은 전하 생성층(225)으로 구분되는 복수개의 스택이 적층되어 이루어질 수 있다. 또한, 복수층의 유기층들은 일부 층은 서브 화소들에 공통적으로 형성되고 색 발광층과 같이 해당 서브 화소에만 구비되는 층이 포함될 수 있다. 따라서, 내부 스택(220)은 서브 화소들에 공통적으로 형성되는 층과 서브 화소별로 이격되는 층을 포함할 수 있다.As another example, as shown in FIG. 7B , the internal stack 220 formed between the first electrode 210 and the second electrode 230 of the light emitting element OLED includes a plurality of stacks divided by the charge generation layer 225. may be layered. In addition, the plurality of organic layers may include layers in which some layers are commonly formed in sub-pixels and provided only in corresponding sub-pixels, such as a color emission layer. Accordingly, the internal stack 220 may include a layer commonly formed in sub-pixels and a layer spaced apart for each sub-pixel.

도 7b 도시된 예는 2개의 스택(221~224, 226~228)이 적층된 예를 나타내지만 이에 한하지 않으며 3개 이상의 스택으로 유기 스택(220)이 이루어질 수도 있고 혹은 단일 스택으로 이루어질 수도 있다. 복수 스택일 경우 장점은 단일 스택에 비해 동일 휘도에 대해 장수명이 확보되는 점이다. 장수명이 요구되는 차량 등의 발광 표시 장치에서 복수 스택의 이점이 있다.The example shown in FIG. 7B shows an example in which two stacks 221 to 224 and 226 to 228 are stacked, but is not limited thereto, and the organic stack 220 may be made of three or more stacks or may be made of a single stack. . In the case of a plurality of stacks, an advantage is that a long lifespan is secured for the same luminance compared to a single stack. There is an advantage of a plurality of stacks in a light emitting display device such as a vehicle requiring a long lifespan.

한편 하측 스택은 제 1 전극(210)과의 계면을 통해 정공의 주입을 용이하게 하기 p형 도펀트를 포함한 정공 주입층(221)과, 제 1 정공 수송층(222), 제 1 발광층(223a, 223b, 223c), 제 1 전자 수송층(224)을 포함할 수 있다.Meanwhile, the lower stack includes a hole injection layer 221 including a p-type dopant to facilitate injection of holes through an interface with the first electrode 210, a first hole transport layer 222, and first light emitting layers 223a and 223b. , 223c), and a first electron transport layer 224 .

전하 생성층(225)은 n형 전하 생성층(225a) 및 p형 전하 생성층(225b)이 적층되어 이루어질 수도 있고, 혹은 이를 단일층으로 형성할 수도 있다.The charge generation layer 225 may be formed by stacking an n-type charge generation layer 225a and a p-type charge generation layer 225b, or may be formed as a single layer.

상측 스택은 제 2 정공 주입층(226), 제 2 발광층(227a, 227b, 227c), 제 2 전자 수송층(228) 및 전자 주입층(229)을 포함할 수 있다.The upper stack may include a second hole injection layer 226 , second emission layers 227a , 227b and 227c , a second electron transport layer 228 and an electron injection layer 229 .

각 서브 화소(R_SP, G_SP, B_SP)를 살펴보면 다음과 같다. Looking at each sub-pixel (R_SP, G_SP, B_SP) is as follows.

적색 서브 화소(R_SP)의 제 1 적색 발광층(223a)이 하측 스택에 구비되고, 상측 스택에는 제 2 정공 수송층(226) 상부에 정공 보조 수송층(226a)가 더 구비되고, 상기 정공 보조 수송층(226a) 상에 제 2 적색 발광층(227a)이 형성된다. The first red emission layer 223a of the red sub-pixel R_SP is provided in the lower stack, and the auxiliary hole transport layer 226a is further provided on the second hole transport layer 226 in the upper stack. ) is formed on the second red light emitting layer 227a.

녹색 서브 화소(G_SP)의 제 1 녹색 발광층(223b)이 하측 스택에 구비되고, 상측 스택에는 제 2 정공 수송층(226) 상부에 제 2 녹색 발광층(227b)이 형성된다. The first green light-emitting layer 223b of the green sub-pixel G_SP is provided in the lower stack, and the second green light-emitting layer 227b is formed on the second hole transport layer 226 in the upper stack.

청색 서브 화소(B_SP)의 제 1 청색 발광층(223c)이 하측 스택에 구비되고, 상측 스택에는 제 2 정공 수송층(226) 상부에 제 2 청색 발광층(227c)이 형성된다. The first blue light emitting layer 223c of the blue sub-pixel B_SP is provided in the lower stack, and the second blue light emitting layer 227c is formed on the second hole transport layer 226 in the upper stack.

같은 하측 스택 내에 있는 제 1 적색 발광층(223a), 제 1 녹색 발광층(223b) 및 제 1 청색 발광층(223c)과, 같은 상측 스택 내에 있는 제 2 적색 발광층(227a), 제 2 녹색 발광층(227b) 및 제 2 청색 발광층(227c)은 색 파장별 서로 다른 공진 효과에 의해 제 1 전극(210)으로 다른 수직적 거리의 있으며, 이를 위해 서로의 높이를 달리한다. 또한, 적색 서브 화소(SP)에서 상측 스택에 있어, 인접 서브 화소들과 공통으로 형성되는 제 2 정공 수송층(226)의 공정적인 요건과 제 2 적색 발광층(227a)이 갖는 발광 영역을 고려하여, 제 2 정공 수송층(226)과 제 2 적색 발광층(227a) 사이에 정공 보조 수송층(226a)을 더 구비할 수 있다. 정공 보조 수송층(226a)은 경우에 따라 생략될 수 있다. The first red light emitting layer 223a, the first green light emitting layer 223b, and the first blue light emitting layer 223c in the same lower stack, and the second red light emitting layer 227a and the second green light emitting layer 227b in the same upper stack and the second blue light-emitting layer 227c have different vertical distances to the first electrode 210 due to different resonance effects for each color wavelength, and for this purpose, they have different heights. In addition, in consideration of the process requirements of the second hole transport layer 226 formed in common with adjacent sub-pixels in the upper stack in the red sub-pixel SP and the light-emitting area of the second red light-emitting layer 227a, An auxiliary hole transport layer 226a may be further provided between the second hole transport layer 226 and the second red emission layer 227a. The auxiliary hole transport layer 226a may be omitted in some cases.

한편, 도시된 예에서는 제 1, 제 2 적색 발광층(223a, 227a)이 인광 발광할 수 있고, 제 1, 제 2 녹색 발광층(223b, 227b) 및 제 1, 제 2 청색 발광층(223a, 223b)이 형광 발광할 수 있다. 그러나, 이는 일예이며, 적색 외에도 녹색 혹은 청색 또한 인광 발광층으로 형성될 수 있다.Meanwhile, in the illustrated example, the first and second red light-emitting layers 223a and 227a may emit phosphorescent light, and the first and second green light-emitting layers 223b and 227b and the first and second blue light-emitting layers 223a and 223b may emit light. This fluorescence can be emitted. However, this is an example, and in addition to red, green or blue may also be formed as a phosphorescent light emitting layer.

단, 이와 같이, 각 색의 서브 화소별로 색 발광층을 나누는 구조에 있어서는, 각 색 발광층을 형성하기 위해 소정 서브 화소의 발광부에 상당하여 개구부를 갖는 미세 금속 마스크를 사용하여 색 발광층 증착 공정이 이루어져야 한다. 이 경우, 색 발광층 형성하기 위한 미세 금속 마스크를 사용하는 과정에서 챔버 또는 미세 금속 마스크의 이물(FR)이 기판(100) 상의 스페이서(190)로 전사될 수 있으며, 본 명세서는 이러한 이물(FR)이 갖는 측부의 급격한 경사로 갖는 공정 중에 발생된 전도성 이온이 침투되더라도 이를 스페이서(190)으로 하측의 금속 패턴(185)으로 포획하여 전도성 이온에 의한 영향을 방지한 것이다. However, in such a structure in which the color light emitting layer is divided into sub-pixels of each color, in order to form each color light emitting layer, a color light emitting layer deposition process must be performed using a fine metal mask having an opening corresponding to the light emitting part of a predetermined sub-pixel. do. In this case, in the process of using the fine metal mask for forming the color light emitting layer, the foreign material FR of the chamber or the fine metal mask may be transferred to the spacer 190 on the substrate 100, and the present specification describes such foreign material FR Even if the conductive ions generated during the process of having the steep slope of the side are penetrated, they are captured by the spacer 190 and the lower metal pattern 185 to prevent the effect of the conductive ions.

한편, 제 2 전극(230)은 그 상부에 발광 소자(OLED)를 보호하고 광추출 효과를 높이기 위한 캐핑층(235)을 더 구비하기도 한다. 캐핑층(235)은 굴절률 차로 광 추출 효과를 높이기 위해 유기 캐핑층(235a) 및 무기 캐핑층(235b)의 적층으로 이루어지기도 한다.On the other hand, the second electrode 230 may further include a capping layer 235 thereon to protect the light emitting element OLED and to enhance a light extraction effect. The capping layer 235 may be formed by stacking an organic capping layer 235a and an inorganic capping layer 235b in order to enhance a light extraction effect due to a difference in refractive index.

상기 캐핑층(235) 상부에 무기 봉지층(310) 및 유기 봉지층(320)을 포함한 봉지층(300)이 적용된다. An encapsulation layer 300 including an inorganic encapsulation layer 310 and an organic encapsulation layer 320 is applied on the capping layer 235 .

도 8은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 발광 표시 장치를 나타낸 평면도이다.8 is a plan view illustrating a light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present specification.

도 8은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 발광 표시 장치로, 스트라이프 형상의 발광부(EM1, EM2, EM3, EM4) 들 사이에 스페이서(490) 및 스페이서(490)에 대응된 금속 패턴(485)를 구비한 것이다. 금속 패턴(485)과 전원전압 라인(VDL)에 연결시켜 양의 전원전압을 인가하는 것은 앞서 설명한 바와 같다.8 is a light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present specification, and includes spacers 490 between stripe-shaped light emitting units EM1, EM2, EM3, and EM4 and a metal pattern 485 corresponding to the spacers 490. will be equipped with Applying a positive power voltage by connecting the metal pattern 485 to the power voltage line VDL is as described above.

도 8과 같이, 발광부(EM1, EM2, EM3, EM4)는 일예로, 적색 발광부, 녹색 발광부, 청색 발광부 외에 백색 발광부를 더 구비할 수 있다.As shown in FIG. 8 , the light emitting units EM1 , EM2 , EM3 , and EM4 may further include, for example, a white light emitting unit in addition to a red light emitting unit, a green light emitting unit, and a blue light emitting unit.

또한, 서로 다른 색을 발광하는 발광부들 사이에 스페이서(490)를 구비하고, 스페이서(490) 하측에 금속 패턴(485)을 구비하고, 스페이서(490)와 이격하여 각 발광부(EM1, EM2, EM3, EM4)를 커버하며 구비된 발광 소자의 제 1 전극(410)을 형성할 수 있다. 일예로, 발광층이 인광 도펀트를 포함하는 경우, 특히 전도성 이온에 취약하며, 전도성 이온이 발광 소자로 유입될 경우 이로 인한 열화, 더 나아가서는 흑점 등의 불량이 발생할 수 있는데, 본 명세서의 발광 표시 장치는 발광 소자로 전도성 이온이 유입됨을 방지하고 금속 패턴에 강한 전계로 금속 패턴 및 그 하측으로 전도성 이온이 포획되도록 하여 내부 스택(230)의 안정성을 확보할 수 있다.In addition, a spacer 490 is provided between the light emitting units emitting different colors, a metal pattern 485 is provided below the spacer 490, and spaced apart from the spacer 490, each light emitting unit EM1, EM2, A first electrode 410 of a light emitting device provided to cover EM3 and EM4 may be formed. For example, when the light emitting layer includes a phosphorescent dopant, it is particularly vulnerable to conductive ions, and when conductive ions are introduced into the light emitting device, deterioration due to this and defects such as black spots may occur. The light emitting display device of the present specification may prevent conductive ions from flowing into the light emitting device and ensure the stability of the internal stack 230 by trapping the conductive ions in the metal pattern and its lower side with a strong electric field in the metal pattern.

상기 발광부(EM1, EM2, EM3, EM4) 외의 영역이 비발광부이며, 비발광부에 뱅크(480)가 구비된다. 금속 패턴(485)는 뱅크(480)과 스페이서(490) 사이에 구비된다. 금속 패턴(485)의 하부 수직 구조는 도 3의 설명을 참조한다. Areas other than the light emitting parts EM1 , EM2 , EM3 , and EM4 are non-light emitting parts, and the banks 480 are provided in the non-emitting parts. A metal pattern 485 is provided between the bank 480 and the spacer 490 . The lower vertical structure of the metal pattern 485 is described in FIG. 3 .

본 명세서의 발광 표시 장치는, 스페이서와 뱅크 사이에 금속 패턴을 구비하며, 금속 패턴을 절연막을 관통한 콘택홀을 구비하여, 콘택홀을 통행 하부 전원전압 라인과 접속시키며, 금속 패턴으로 양의 전원 전압을 인가함으로써, 발광 표시 장치에 남아있는 전도성 이온을 금속 패턴으로 포획하고, 전도성 기인한 불량을 방지하며, 장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The light emitting display device of the present specification includes a metal pattern between a spacer and a bank, the metal pattern has a contact hole penetrating an insulating film, the contact hole is connected to a passing lower power supply voltage line, and a positive power source is formed by the metal pattern By applying a voltage, conductive ions remaining in the light emitting display device may be captured by the metal pattern, defects due to conductivity may be prevented, and reliability of the device may be improved.

이를 위한 본 명세서의 일 실시예에 따른 발광 표시 장치는 복수개의 서브 화소를 갖는 기판과, 상기 기판 상에 제 1 방향의 스캔 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2방향의 데이터 라인 및 전원전압 라인과, 상기 기판 상에 상기 스캔 라인, 상기 데이터 라인 및 상기 전원전압 라인을 덮는 평탄화층과, 상기 평탄화층 상에, 복수개의 서브 화소들 각각의 발광부를 노출하는 뱅크와, 상기 뱅크의 일부분에 구비된 스페이서 및 상기 스페이서와 뱅크 사이에 구비되고, 상기 평탄화층 및 상기 뱅크를 관통하는 제 1 콘택홀을 통해 상기 전원전압 라인과 접속된 금속 패턴을 포함할 수 있다. To this end, a light emitting display device according to an embodiment of the present specification includes a substrate having a plurality of sub-pixels, a scan line in a first direction on the substrate, a data line in a second direction crossing the first direction, and a power supply. a voltage line, a planarization layer covering the scan line, the data line, and the power supply voltage line on the substrate, a bank exposing a light emitting unit of each of a plurality of sub-pixels on the planarization layer, and a portion of the bank and a metal pattern provided between the spacer and the bank and connected to the power voltage line through a first contact hole passing through the planarization layer and the bank.

상기 서브 화소들에 각각 발광 소자를 구비하며, 상기 발광 소자는, 상기 발광부에 상기 평탄화층과 상기 뱅크 사이에, 상기 뱅크와 가장자리가 중첩된 제 1 전극과, 상기 발광부의 상기 제 1 전극 상부와 상기 뱅크의 측부 상에 구비된 유기층 및 상기 유기층 상부에 구비된 제 2 전극을 포함할 수 있다. Each of the sub-pixels includes a light emitting element, and the light emitting element comprises: a first electrode between the planarization layer and the bank in the light emitting part and an edge overlapping the bank, and an upper part of the first electrode of the light emitting part. and an organic layer provided on the side of the bank and a second electrode provided on the organic layer.

상기 전원전압 라인은 양의 전원 전압을 인가받을 수 있다. A positive power supply voltage may be applied to the power supply voltage line.

상기 전원전압 라인은 제 1 전극에 인가되는 전압보다 높은 양의 전원 전압을 인가받을 수 있다. The power voltage line may receive a higher positive power voltage than the voltage applied to the first electrode.

상기 금속 패턴은 상기 뱅크의 상부 표면에 구비되고, 상기 스페이서의 폭보다 작은 폭을 가질 수 있다. The metal pattern may be provided on an upper surface of the bank and may have a width smaller than that of the spacer.

상기 평탄화층은 상기 스캔 라인, 상기 데이터 라인 및 상기 전원 전압 라인과 적어도 하나에 연결된 복수개의 박막 트랜지스터들을 덮고, 상기 복수개의 박막 트랜지스터들 중 적어도 하나는 각 서브 화소들의 상기 평탄화층에 구비된 제 2 콘택홀을 통해 상기 제 1 전극과 접속될 수 있다. The planarization layer covers a plurality of thin film transistors connected to at least one of the scan line, the data line, and the power supply voltage line, and at least one of the plurality of thin film transistors is provided on the planarization layer of each sub-pixel. It may be connected to the first electrode through a contact hole.

상기 각 서브 화소들에 구비된 상기 제 1 전극은 상기 스페이서와 평면적으로 이격할 수 있다. The first electrode provided in each of the sub-pixels may be spaced apart from the spacer in a plane.

상기 스페이서는 서로 다른 색을 발광하는 발광부들 사이에 구비될 수 있다. The spacer may be provided between light emitting units emitting different colors.

상기 스페이서는 상기 전원전압 라인과 중첩할 수 있다. The spacer may overlap the power voltage line.

상기 데이터 라인 및 기저전원 라인은 상기 전원전압 라인과 이격하여 평행하게 구비되고, 상기 스페이서와 중첩할 수 있다. The data line and the base power line may be spaced apart from the power supply line and provided in parallel, and may overlap the spacer.

상기 유기층은 발광층과, 상기 제 1 전극과 상기 발광층 사이의 제 1 공통층, 상기 발광층과 상기 제 2 전극 사이의 제 2 공통층을 포함할 수 있다. The organic layer may include a light emitting layer, a first common layer between the first electrode and the light emitting layer, and a second common layer between the light emitting layer and the second electrode.

또한, 상기 유기층은 발광층을 복수개 구비하며, 상기 복수개 구비된 발광층들 사이에 공통층을 더 구비할 수 있다. In addition, the organic layer may include a plurality of light emitting layers, and may further include a common layer between the plurality of light emitting layers.

제 1, 제 2 공통층 및 상기 공통층은 상기 서브 화소들에서 연속될 수 있다. The first and second common layers and the common layer may be continuous in the sub-pixels.

혹은 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이의 상기 발광층, 상기 제 1 공통층 및 상기 제 2 공통층 중 적어도 하나는 상기 복수개의 서브 화소들에서 연속될 수 있다.Alternatively, at least one of the light emitting layer between the first electrode and the second electrode, the first common layer, and the second common layer may be continuous in the plurality of sub-pixels.

한편, 이상에서 설명한 본 명세서는 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 명세서의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 명세서가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.On the other hand, the present specification described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible within a range that does not depart from the technical spirit of the present specification. It will be clear to those skilled in the art.

100: 기판 120: 액티브층
121: 제 1 스캔 라인 122a, 122b: 제 2 스캔 라인
123: 발광 제어 라인 161: 전원전압 라인
162: 기저전압 라인 163: 데이터 라인
180: 뱅크 185: 금속 패턴
190: 스페이서 200, OLED: 발광 소자
210: 제 1 전극 220: 내부 스택
230: 제 2 전극 300: 발광 구조
310, 330: 무기 봉지층 320: 유기 봉지층
FR: 이물 164: 레퍼런스 라인
100: substrate 120: active layer
121: first scan line 122a, 122b: second scan line
123: emission control line 161: power voltage line
162 base voltage line 163 data line
180: bank 185: metal pattern
190: spacer 200, OLED: light emitting element
210: first electrode 220: inner stack
230: second electrode 300: light emitting structure
310, 330: inorganic encapsulation layer 320: organic encapsulation layer
FR: foreign body 164: reference line

Claims (14)

복수개의 서브 화소를 갖는 기판;
상기 기판 상에 제 1 방향의 스캔 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향의 데이터 라인 및 전원전압 라인;
상기 기판 상에 상기 스캔 라인, 상기 데이터 라인 및 상기 전원전압 라인을 덮는 평탄화층;
상기 평탄화층 상에, 상기 복수개의 서브 화소들 각각의 발광부를 노출하는 뱅크;
상기 뱅크의 일부분에 구비된 스페이서; 및
상기 스페이서와 상기 뱅크 사이에 구비되고, 상기 전원전압 라인과 접속된 금속 패턴을 포함하는 발광 표시 장치.
a substrate having a plurality of sub-pixels;
a scan line in a first direction on the substrate, a data line and a power supply voltage line in a second direction crossing the first direction;
a planarization layer covering the scan line, the data line, and the power voltage line on the substrate;
a bank exposing a light emitting part of each of the plurality of sub-pixels on the planarization layer;
a spacer provided on a portion of the bank; and
and a metal pattern disposed between the spacer and the bank and connected to the power voltage line.
제 1항에 있어서,
상기 금속 패턴은 상기 평탄화층 및 상기 뱅크를 관통하는 제 1 콘택홀을 통해 상기 전원전압 라인과 접속된 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The metal pattern is connected to the power voltage line through a first contact hole penetrating the planarization layer and the bank.
제 1항에 있어서,
상기 서브 화소들에 각각 발광 소자를 구비하며,
상기 발광 소자는,
상기 발광부에 상기 평탄화층과 상기 뱅크 사이에, 상기 뱅크와 가장자리가 중첩된 제 1 전극;
상기 발광부의 상기 제 1 전극 상부와 상기 뱅크의 측부 상에 구비된 유기층; 및
상기 유기층 상부에 구비된 제 2 전극을 포함한 발광 표시 장치.
According to claim 1,
A light emitting element is provided in each of the sub-pixels,
The light emitting element,
a first electrode between the planarization layer and the bank in the light emitting unit, the first electrode having an edge overlapping the bank;
an organic layer provided on an upper portion of the first electrode of the light emitting unit and a side portion of the bank; and
A light emitting display device including a second electrode provided on the organic layer.
제 1항에 있어서,
상기 전원전압 라인은 양(陽)의 전원 전압을 인가받는 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The light emitting display device of claim 1 , wherein a positive power supply voltage is applied to the power supply voltage line.
제 3항에 있어서,
상기 전원전압 라인은 제 1 전극에 인가되는 전압보다 높은 양(陽)의 전원 전압을 인가받는 발광 표시 장치.
According to claim 3,
The power voltage line receives a positive power voltage higher than the voltage applied to the first electrode.
제 1항에 있어서,
상기 금속 패턴은 상기 뱅크의 상부 표면에 구비되고 상기 스페이서의 폭보다 작은 폭을 갖는 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The metal pattern is provided on an upper surface of the bank and has a width smaller than that of the spacer.
제 3항에 있어서,
상기 평탄화층은 상기 스캔 라인, 상기 데이터 라인 및 상기 전원 전압 라인과 적어도 하나에 연결된 복수개의 박막 트랜지스터들을 덮고,
상기 복수개의 박막 트랜지스터들 중 적어도 하나는 상기 평탄화층에 구비된 제 2 콘택홀을 통해 각 서브 화소들의 상기 제 1 전극과 연결되는 발광 표시 장치.
According to claim 3,
The planarization layer covers a plurality of thin film transistors connected to at least one of the scan line, the data line, and the power supply voltage line;
At least one of the plurality of thin film transistors is connected to the first electrode of each sub-pixel through a second contact hole provided in the planarization layer.
제 1항에 있어서,
상기 서브 화소들 각각에 구비된 상기 제 1 전극은 상기 스페이서와 평면적으로 이격된 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The first electrode provided in each of the sub-pixels is spaced apart from the spacer in a planar manner.
제 1항에 있어서,
상기 스페이서는 서로 다른 색을 발광하는 발광부들 사이에 구비된 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The spacer is provided between light emitting units emitting different colors.
제 1항에 있어서,
상기 스페이서는 상기 전원전압 라인과 중첩된 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The spacer overlaps the power voltage line.
제 1항에 있어서,
상기 데이터 라인 및 기저전원 라인은 상기 전원전압 라인과 이격하여 평행하게 구비되고, 상기 스페이서와 중첩한 발광 표시 장치.
According to claim 1,
The data line and the base power line are provided in parallel and spaced apart from the power voltage line, and overlap with the spacer.
제 3항에 있어서,
상기 유기층은 발광층과, 상기 제 1 전극과 상기 발광층 사이의 제 1 공통층, 상기 발광층과 상기 제 2 전극 사이의 제 2 공통층을 포함한 발광 표시 장치.
According to claim 3,
The organic layer includes a light emitting layer, a first common layer between the first electrode and the light emitting layer, and a second common layer between the light emitting layer and the second electrode.
제 12항에 있어서,
상기 유기층은 발광층을 복수개 구비하며, 상기 복수개 구비된 발광층들 사이에 공통층을 더 구비한 발광 표시 장치.
According to claim 12,
The organic layer includes a plurality of light emitting layers, and a common layer is further provided between the plurality of light emitting layers.
제 12항에 있어서,
상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이의 상기 발광층, 상기 제 1 공통층 및 상기 제 2 공통층 중 적어도 하나는 상기 복수개의 서브 화소들에서 연속된 발광 표시 장치.
According to claim 12,
At least one of the light emitting layer between the first electrode and the second electrode, the first common layer, and the second common layer is continuous in the plurality of sub-pixels.
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