KR20230094636A - Micro LED display manufacturing method - Google Patents
Micro LED display manufacturing method Download PDFInfo
- Publication number
- KR20230094636A KR20230094636A KR1020210183960A KR20210183960A KR20230094636A KR 20230094636 A KR20230094636 A KR 20230094636A KR 1020210183960 A KR1020210183960 A KR 1020210183960A KR 20210183960 A KR20210183960 A KR 20210183960A KR 20230094636 A KR20230094636 A KR 20230094636A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- micro led
- passivation layer
- led chip
- layer
- intermediate substrate
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 111
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 101
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 35
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 17
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 21
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 160
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 8
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- -1 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 4
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 4
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000025600 response to UV Effects 0.000 description 1
- 230000031070 response to heat Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
- H01L25/0753—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
- H01L2933/0066—Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 마이크로 LED 칩과 패시베이션의 계면에서 배선이 단절되는 현상을 방지하여 불량 발생률은 낮추고 수율은 높일 수 있는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a micro LED display, and more particularly, to a method for manufacturing a micro LED display capable of reducing the occurrence rate of defects and increasing the yield by preventing disconnection of wires at the interface between a micro LED chip and passivation.
일반적으로 마이크로 발광 소자는 가로와 세로의 길이가 100㎛ 이하인 LED이다. 최근에는 이러한 미세 사이즈의 마이크로 발광 소자를 광원으로 사용하는 TV가 선보이면서 주목을 받고 있다. 마이크로 발광 소자를 디스플레이의 광원으로 사용하면 LCD 보다는 필요한 부품이 적고 OLED 보다는 수명이 길다는 점 외에도 광효율과 응답속도가 빠른 장점을 갖는다고 알려져 있다.In general, a micro light emitting device is an LED having a horizontal and vertical length of 100 μm or less. Recently, a TV using such a fine-sized micro light emitting device as a light source has been introduced and attracts attention. It is known that using a micro light emitting device as a light source for a display has the advantage of having fewer parts than LCD and longer lifespan than OLED, as well as fast light efficiency and response speed.
다만 마이크로 발광 소자는 사이즈가 미세하기 때문에 디스플레이 광원으로 적용하는데 몇 가지 어려움이 있다. However, since the micro light emitting device is small in size, there are some difficulties in applying it as a display light source.
종래에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조과정은 웨이퍼에서 제작된 마이크로 LED 칩은 전사장치를 통해 후면기판(backplane)으로 바로 전사가 이루어진다.In the conventional micro LED display manufacturing process, the micro LED chip manufactured on the wafer is directly transferred to the back plane through a transfer device.
따라서, 마이크로 LED 칩을 후면기판으로 전사 후에 검사를 통해 불량칩이 발생될 경우 후면기판 상에서 불량칩을 제거하고 수리를 진행해야 하기 때문에 후면기판의 손상을 야기할 수 있다. 또한, 불량칩의 수리가 불가능할 경우, 후면기판 전체를 폐기해야 하는 문제가 발생되기 때문에 디스플레이 모듈의 수율이 떨어지게 되고, 이는 가격 상승으로 이어지는 문제가 발생한다.Therefore, if a defective chip is generated through inspection after transferring the micro LED chip to the rear substrate, the defective chip must be removed from the rear substrate and repaired, causing damage to the rear substrate. In addition, when it is impossible to repair the defective chip, the entire rear substrate has to be discarded, resulting in a decrease in the yield of the display module, which leads to an increase in price.
본 발명은 상기와 같은 종래의 문제를 해결하기 위한 것으로서, 후면기판으로 전사하기 전에 중간기판으로 전사하여 불량칩을 교체함으로써, 불량칩 교체가 수월하고, 제조과정을 단축시킬 수 있는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above conventional problems, and to manufacture a micro LED display that can easily replace defective chips and shorten the manufacturing process by replacing defective chips by transferring them to an intermediate substrate before transferring them to a rear substrate. Its purpose is to provide a method.
또한, 본 발명은 패시베이션층의 큐어링 과정에서 마이크로 LED 칩과 패시베이션층의 계면 부근에서 배선층이 단절되는 현상을 방지할 수 있는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a micro LED display capable of preventing a phenomenon in which a wiring layer is disconnected near an interface between a micro LED chip and a passivation layer during a curing process of the passivation layer.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 성장기판에 형성된 마이크로 LED 칩을 중간기판의 제1면상에 배치되도록 전사하는 제1전사단계와; 상기 중간기판에 전사된 마이크로 LED 칩을 검사하는 검사단계와; 상기 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩을 상기 중간기판 상에서 제거후 양품의 마이크로 LED 칩으로 교체하는 교체단계와; 상기 중간기판 상의 상기 마이크로 LED 칩을 상기 중간기판에 고정시키는 고정단계와; 상기 중간기판에 고정된 상기 마이크로 LED 칩 상에 배선부를 형성하는 배선단계와; 상기 중간기판으로부터 상기 마이크로 LED 칩들만 백플레인으로 기능하는 후면기판 상으로 전사하는 제2전사단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A method for manufacturing a micro LED display according to the present invention for achieving the above object includes a first transfer step of transferring a micro LED chip formed on a growth substrate to be disposed on a first surface of an intermediate substrate; an inspection step of inspecting the micro LED chip transferred to the intermediate substrate; a replacement step of removing the defective micro LED chips selected in the inspection step from the intermediate substrate and replacing them with good micro LED chips; a fixing step of fixing the micro LED chip on the intermediate substrate to the intermediate substrate; a wiring step of forming a wiring part on the micro LED chip fixed to the intermediate substrate; and a second transfer step of transferring only the micro LED chips from the intermediate substrate onto a rear substrate serving as a backplane.
본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 배선단계는 상기 중간기판의 제1면과 상기 마이크로 LED 칩을 함께 감싸도록 제1패시베이션층을 형성하는 제1패시베이션층 형성단계와, 상기 마이크로 LED 칩 상측의 상기 제1패시베이션층 상에 상기 마이크로 LED 칩보다 넓은 면적을 갖도록 포토레지스트층을 형성하는 포토레지스트층 형성단계와, 상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제1차 에칭단계와, 상기 제1패시베이션층 상의 포토레지스트층을 제거하는 포토레지스트층 제거단계와, 상기 마이크로 LED 칩의 전극 및 상면이 전부 외부로 노출되게 상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제2차 에칭단계와, 상기 마이크로 LED 칩의 전극과 전기적으로 연결되도록 제1배선층을 형성하는 제1배선층 형성단계와, 상기 제1패시베이션층 및 상기 제1배선층 상에 제2패시베이션층을 형성하는 제2패시베이션층 형성단계와, 상기 마이크로 LED 칩의 상기 제1배선층 상면의 일부가 노출되게 상기 제2패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제3차 에칭단계와, 상기 제2패시베이션층에 상기 제1배선층과 전기적으로 연결되도록 제2배선층을 형성하는 제2배선층 형성단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The wiring step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention includes the first passivation layer forming step of forming a first passivation layer to surround the first surface of the intermediate substrate and the micro LED chip together, and the upper side of the micro LED chip. A photoresist layer forming step of forming a photoresist layer on the first passivation layer to have a larger area than the micro LED chip; a first etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer; A photoresist layer removal step of removing the photoresist layer on the first passivation layer; a second etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer so that the electrodes and upper surface of the micro LED chip are all exposed to the outside; A first wiring layer forming step of forming a first wiring layer to be electrically connected to an electrode of a micro LED chip, and a second passivation layer forming step of forming a second passivation layer on the first passivation layer and the first wiring layer; A third etching step of etching and removing a portion of the second passivation layer to expose a portion of the upper surface of the first wiring layer of the micro LED chip; and a second passivation layer electrically connected to the first wiring layer. It is characterized in that it includes a second wiring layer forming step of forming a wiring layer.
본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 제2차 에칭단계는 상기 제1배선층 형성단계 이후에 상기 제1패시베이션층이 경화 도중 변형되면서 상기 제1패시베이션층과 상기 마이크로 LED 칩의 계면 부근에서 상기 제1배선층이 단절되는 것을 방지할 수 있도록 상기 마이크로 LED 칩의 상면과 상기 제1패시베이션층의 상면 사이의 거리가 상기 제1배선층의 두께보다 작아지도록 상기 제1패시베이션층을 제거하는 것을 특징으로 한다.In the second etching step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention, the first passivation layer is deformed during curing after the first wiring layer forming step, and the first passivation layer and the micro LED chip are deformed in the vicinity of the interface. In order to prevent the first wiring layer from being disconnected, the first passivation layer is removed so that the distance between the top surface of the micro LED chip and the top surface of the first passivation layer is smaller than the thickness of the first wiring layer. .
본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 제2배선층 형성단계에서 형성되는 상기 제2배선층은 상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제1접속전극과 접속되는 제2양극배선층과, 상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제2접속전극과 접속되는 제2음극배선층을 포함하는 것을 특징으로 한다.The second wiring layer formed in the second wiring layer forming step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention is formed to be exposed on the second passivation layer and a second anode connected to the first connection electrode of the rear substrate. It is characterized in that it includes a wiring layer and a second cathode wiring layer formed to be exposed on the second passivation layer and connected to the second connection electrode of the rear substrate.
본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 제2패시베이션층 형성단예에서 형성되는 상기 제1패시베이션층은 블랙 매트릭스(black matrix)를 포함하는 것을 특징으로 한다.The first passivation layer formed in the example of the second passivation layer forming step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention is characterized in that it includes a black matrix.
상기 제2전사단계는 상기 제2배선층 상에 백플레인으로 기능하는 후면기판을 전기적으로 연결시키는 연결단계와, 상기 마이크로 LED 칩과 상기 중간기판 상호간 결합력을 약화 또는 해제시킬 수 있도록 상기 중간기판 측에서 상기 중간기판과 마이크로 LED 칩의 계면 및 상기 중간기판과 제1패시베이션층의 계면을 향해 레이저를 일정 시간 조사한 후에 마이크로 LED 칩과 제1패시베이션층을 중간기판으로부터 분리시키는 분리단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The second transfer step is a connection step of electrically connecting a rear substrate functioning as a backplane on the second wiring layer, and a bonding force between the micro LED chip and the intermediate substrate can be weakened or released from the intermediate substrate side. A separation step of separating the micro LED chip and the first passivation layer from the intermediate substrate after irradiating the laser toward the interface between the intermediate substrate and the micro LED chip and the interface between the intermediate substrate and the first passivation layer for a predetermined time. .
본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 제1패시베이션층의 높이를 마이크로 LED 칩의 상면 또는 양전극 및 음전극의 높이보나 낮거나 대등하게 형성(단차를 최대한 줄이도록 형성)하고, 제1배선층의 두께를 제1패시베이션층과 마이크로 LED 칩의 상면 사이의 간격보다 두껍게 형성함으로써 제1패시베이션층의 큐어링 도중 마이크로 LED 칩과 제1패시베이션층의 계면 부근에서 마이크로 LED 칩에 접속되는 제1배선층이 단절되는 현상을 방지할 수 있고 이를 통해 마이크로 LED 디스플레이의 불량 발생률은 낮추고 수율은 높일 수 있는 장점이 있다.In the micro LED display manufacturing method according to the present invention, the height of the first passivation layer is formed to be lower or equal to the height of the upper surface of the micro LED chip or the positive and negative electrodes (formed to minimize the step difference), and the thickness of the first wiring layer A phenomenon in which the first wiring layer connected to the micro LED chip is disconnected near the interface between the micro LED chip and the first passivation layer during curing of the first passivation layer by forming the first passivation layer thicker than the gap between the top surface of the micro LED chip. can be prevented, and through this, the defect occurrence rate of the micro LED display can be reduced and the yield can be increased.
또한, 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 전극의 재배열을 통해 전극을 상태적으로 크게 형성할 수 있어서 최종 타겟기판에 실장시 높은 align 정확도가 필요하지 않으므로 매우 작은 전극을 갖는 플립칩을 최종기판에 실장할 시 높은 align 정확도가 요구되는 종래의 방법에 비해 매우 간편하고 쉬운 장점이 있다.In addition, in the method of manufacturing a micro LED display according to the present invention, electrodes can be formed to be relatively large through rearrangement of electrodes, so that high alignment accuracy is not required when mounted on a final target substrate. When mounting on a board, it has the advantage of being very simple and easy compared to the conventional method that requires high alignment accuracy.
도 1 내지 도 13은 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법을 나타낸 도면.
도 14는 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 의해 제조된 마이크로 LED 칩 패키지의 구조와 종래 마이크로 LED 칩의 구조를 비교하기 위한 도면.1 to 13 are views showing a micro LED display manufacturing method according to the present invention.
14 is a view for comparing the structure of a micro LED chip package manufactured by the method for manufacturing a micro LED display according to the present invention and the structure of a conventional micro LED chip.
이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 대하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, a micro LED display manufacturing method according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1 내지 도 13에는 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법가 도시되어 있다. 도 1 내지 도 13을 참조하면, 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 성장기판에 형성된 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)의 제1면상에 배치되도록 전사하는 제1전사단계와; 상기 중간기판(10)에 전사된 마이크로 LED 칩(20)을 검사하는 검사단계와; 상기 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)을 상기 중간기판(10) 상에서 제거후 양품의 마이크로 LED 칩(20)으로 교체하는 교체단계와; 상기 중간기판(10) 상의 상기 마이크로 LED 칩(20)을 상기 중간기판(10)에 고정시키는 고정단계와; 상기 중간기판(10)에 고정된 상기 마이크로 LED 칩(20) 상에 배선부를 형성하는 배선단계와; 상기 중간기판(10)으로부터 마이크로 LED 칩(20)들만 백플레인으로서 기능하는 후면기판(80) 상으로 전사하는 제2전사단계;를 포함하여 구성된다.1 to 13 show a micro LED display manufacturing method according to the present invention. 1 to 13, a method of manufacturing a micro LED display according to the present invention includes a first transfer step of transferring a
도 1은 마이크로 LED 칩(20)이 중간기판(10) 상에 전사된 구조를 나타내었다. 도 1을 참조하면, 제1전사단계에서 마이크로 LED 칩(20)은 중간기판(10)에 전사된다. 1 shows a structure in which a
마이크로 LED 칩(20)은 중간기판(10)의 상부 방향인 제1면(11) 상에 배치될 수 있다. 여기서, 중간기판(10)은 마이크로 LED 칩(20)에서 출력되는 광이 투과되도록 투명 기판으로 형성될 수도 있다. 일 예로, 유리(Glass), 사파이어, PET, 또는 PI 중 어느 하나의 재질로 형성된 기판일 수 있다. 중간기판(10)은 리지드(rigid) 기판 또는 플렉서블(flexible) 기판 등 다양한 기판이 사용될 수 있다.The
또한, 마이크로 LED 칩(20)은 R, G, B(RED, Green, Blue) 등과 같은 색을 재현하기 위하여 사용되는 것으로 성장기판 상에서 제작될 수 있다. 그리고, 마이크로 LED 칩(20)의 상면에는 양전극(201)과 음전극(22)이 각각 구비되며, 마이크로 LED 칩(20)은 3개가 R, G, B로 구성된 하나의 픽셀(P)을 이루도록 서로 설정된 간격으로 인접하게 배열되며, 3개의 마이크로 LED 칩(20)은 각각 R, G, B로 구성된다. In addition, the
한편, 마이크로 LED 칩(20)은 투명접착층에 의해 중간기판(10)에 접착 및 고정될 수 있다. 즉, 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)으로 전사하는 제1전사단계 이전에 중간기판(10) 상에 투명접착층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the
투명접착층은 중간기판(10) 상에 포토리소그라피(photolithography) 공정을 통해 패터닝 될 수 있다. 일 예로, 중간기판(10)의 제1면(11) 상에 투명접착층을 증착하고, 플라즈마 식각 공정을 통해 마이크로 LED 칩(20)이 배치되지 않는 부위는 제거될 수 있다. The transparent adhesive layer may be patterned on the
투명접착층은 PSA, 실리콘계, 아크릴계 또는 에폭시 중어느 하나의 물질로 형성될 수 있으며, 열 및 UV광에 반응하여 경화되면서 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)에 접착시킬 수 있는 물질이면 어느 물질이든 사용가능하다. 마이크로 LED 칩(20)은 투명접착층에 의해 중간기판(10)에 접착되며 후술하는 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)에서 비교적 용이하게 분리할 수 있게 소정의 접착력으로 접착될 수 있다. 여기서, 투명접착층의 접착력은 온도 또는 UV광 등을 조절함으로써 조절가능하다.The transparent adhesive layer may be formed of any one of PSA, silicon-based, acrylic-based, and epoxy materials, and any material capable of adhering the
검사단계는 중간기판(10)에 전사된 마이크로 LED 칩(20)을 마이크로 PL 또는 EL 방식의 측정방법을 이용하여 측정하고, 측정 결과에 따라 마이크로 LED 칩(20)의 불량 여부를 판별한다. In the inspection step, the
교체단계는 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10) 상에서 제거한 후 양품의 마이크로 LED 칩(20)으로 교체한다. 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)은 위치 판별후에 개별 또는 동시에 제거될 수 있다.In the replacement step, the defective
불량 마이크로 LED 칩(20)을 제거하는 방법으로는 레이저 조사(laser ablation), 정전기척(electrostatic chuck) 또는 마그네틱 척(magnetic chuck) 등을 이용함으로써 제거될 수 있다. As a method of removing the defective
고정단계는 열 또는 UV 경화방식을 통해 투명접착층을 영구 경화시켜 중간기판(10) 상의 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)에 고정시킨다.In the fixing step, the
배선단계는 고정단계를 거친 후 중간기판(10) 상에 고정된 모든 마이크로 LED 칩(20) 상에 배선부를 형성한다. In the wiring step, after going through the fixing step, wiring parts are formed on all the
배선단계는 제1패시베이션층(30) 형성단계와, 포토레지스트층(40) 형성단계와, 제1차 에칭단계와, 포토레지스트층(40) 제거단계와, 제2차 에칭단계와, 제1배선층 형성단계와, 제2패시베이션층(60) 형성단계와, 제3차 에칭단계와, 제2배선층 형성단계를 포함하여 구성할 수 있다.The wiring step includes a
도 2에는 제1패시베이션층(30) 형성단계가 도시되어 있다. 2 shows a step of forming the
도 2를 참조하면, 제1패시베이션층(30) 형성단계는 중간기판(10)의 제1면과 마이크로 LED 칩(20)을 함께 감싸도록 제1패시베이션층(30)을 형성한다. 이때, 제1패시베이션층(30)은 중간기판(10) 상에 배치된 마이크로 LED 칩(20)을 모두 감싸도록 형성됨이 바람직하다. 또한, 제1패시베이션층(30)은 중간기판(10) 전역에 대해 형성될 수도 있고, 이와 다르게 3개의 마이크로 LED 칩(20)으로 구성된 픽셀(P) 영역마다 독립적으로 형성될 수도 있다.Referring to FIG. 2 , in the step of forming the
제1패시베이션층(30)은 절연물질로 형성될 수 있으며, 일 예로, 아크릴, 폴리(메틸 메타크릴레이트)(PMMA), 벤조사이클로부텐(BCB), 폴리이미드, 아크릴레이트, 에폭시 및 폴리에스테르 등으로 형성될 수 있다. 바람직하게는 제1패시베이션층(30)의 경우 광을 흡수할 수 있는 물질, 일 예로 블랙 매트릭스(black matrix)를 포함하여 구성할 수 있으며, 블랙 매트릭스를 적용하는 경우 중간기판(10)을 통해 발광되는 색들이 혼합되는 것을 방지할 수 있다.The
도 3에는 포토레지스트층(40) 형성단계가 도시되어 있다. 3 shows a
도 3을 참조하면, 포토레지스트층(40) 형성단계는 마이크로 LED 칩(20) 상측의 제1패시베이션층(30) 상에 마이크로 LED 칩(20)보다 넓은 면적을 갖도록 포토레지스트층(40)을 형성한다. 이때, 포토레지스트층(40)은 제1패시베이션층(30)과 대응되는 영역에 형성될 수도 있고, 이와 다르게 3개의 마이크로 LED 칩(20)으로 구성된 픽셀(P) 영역에 대응되는 부분에만 각각 독립적으로 형성할 수도 있다. 바람직하게는 후술하는 제1차 에칭단계 및 제2차 에칭단계에서 픽셀(P) 영역 주변의 제1패시베이션층(30)을 모두 제거하여 각 픽셀(P) 영역의 구분이 가능하도록 픽셀(P) 영역에 대응되는 부분에만 각각 독립적으로 형성한다. Referring to FIG. 3 , in the step of forming the
도 4에는 제1차 에칭단계가 도시되어 있다. 4 shows the first etching step.
도 4를 참조하면, 제1차 에칭단계는 제1패시베이션층(30) 일부를 에칭하여 제거한다. 더욱 상세하게 제1차 에칭단계에서는 제1패시베이션층(30)의 가장자리 영역인 픽셀(P) 영역 주변에 대응하는 제1패시베이션층(30)을 일정 두께 제거하여 픽셀(P) 영역에 대응되는 제1패시베이션층(30)과 픽셀(P) 영역 주변의 제1패시베이션층(30) 사이에 단차가 발생하도록 한다. 제1차 에칭단계에서는 RIE(Reactive Ion Etching) 방법을 적용할 수 있다.Referring to FIG. 4 , in the first etching step, a portion of the
포토레지스트층(40) 제거단계는 제1차 에칭단계 이후에 도 5에 도시된 바와 같이 제1패시베이션층(30)이 노출되게 제1패시베이션층(30) 상의 포토레지스트층(40)을 제거한다. The
도 6에는 제2차 에칭단계가 도시되어 있다. 6 shows a second etching step.
도 6을 참조하면, 제2차 에칭단계는 마이크로 LED 칩(20)의 전극 및 상면이 전부 외부로 노출되게 제1차 에칭단계 이후 남아있는 제1패시베이션층(30)을 일정 두께 에칭하여 제거한다. 제2차 에칭단계에서는 제1차 에칭단계에서 적용한 바와 같이 RIE(Reactive Ion Etching) 방법을 적용할 수 있다.Referring to FIG. 6 , in the second etching step, the
제2차 에칭단계에서는 마이크로 LED 칩(20)의 전극 또는 그 상면과 제1패시베이션층(30)의 상면 사이의 거리가 후술하는 제1배선층의 두께보다 작아지도록 제1패시베이션층(30)을 제거하는 것이 바람직하다. 이는 후술하는 제1배선층 형성단계 이후 중간기판(10) 상의 제1패시베이션층(30)을 경화시키는 도중 제1패시베이션층(30)이 변형되면서 제1패시베이션층(30)과 마이크로 LED 칩(20)의 계면 부근에서 제1배선층이 단절되는 것을 방지하기 위한 것이다.In the second etching step, the
도 7에는 제1배선층 형성단계가 도시되어 있다. 7 shows a step of forming the first wiring layer.
도 7을 참조하면, 제1배선층 형성단계는 제2차 에칭단계가 완료된 후, 마이크로 LED 칩(20)의 상면에 마련된 양전극(201)과 음전극(22) 각각에 접속 및 연결되도록 제1배선층을 형성한다.Referring to FIG. 7 , in the first wiring layer forming step, after the second etching step is completed, the first wiring layer is formed to be connected to and connected to the positive electrode 201 and the
제1배선층 형성단계에서는 형성되는 제1배선층은 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(201)에 접속 및 연결되는 제1양극배선층(51)과, 마이크로 LED 칩(20)의 음전극(22)에 접속 및 연결되는 제1음극배선층(52)을 포함하여 구성된다.In the first wiring layer forming step, the first wiring layer formed is connected to the first
제2패시베이션층(60) 형성단계는 도 8에 도시된 바와 같이 제1패시베이션층(30) 및 제1배선층을 함께 감싸도록 제2패시베이션층(60)을 일정 두께로 형성한다. 여기서, 제2패시베이션층(60)은 제1배선층을 모두 덮도록 형성될 수 있다. 제2패시베이션층(60)의 재질로는 일 예로, 아크릴, 폴리(메틸 메타크릴레이트)(PMMA), 벤조사이클로부텐(BCB), 폴리이미드, 아크릴레이트, 에폭시 및 폴리에스테르 등으로 형성될 수 있다.In the step of forming the
도 9에는 제3차 에칭단계가 도시되어 있다.9 shows a third etching step.
도 9를 참조하면, 제3차 에칭단계는 마이크로 LED 칩(20)의 양전극 및 음전극에 각각 연결된 제1배선층의 상면 일부가 노출되게 제2패시베이션층(60) 일부를 에칭하여 제거한다. 제3차 에칭단계에서는 제1배선층의 상부에 대응되는 제2패시베이션층(60) 영역에 상하로 관통하는 홀이 형성된다.Referring to FIG. 9 , in the third etching step, a portion of the
도 10에는 제2배선층 형성단계가 도시되어 있다. 10 shows a step of forming a second wiring layer.
도 10을 참조하면, 제2배선층 형성단계는 제2패시베이션층(60)에 제1배선층과 전기적으로 연결되도록 제2배선층을 형성한다. 제2배선층 형성단계에서 형성되는 제2배선층은 도전성 물질을 포함하여 구성되고, 제2패시베이션층(60)을 관통하여 제2패시베이션층(60)의 표면에 노출되도록 연장 형성된다. Referring to FIG. 10 , in the step of forming the second wiring layer, a second wiring layer is formed on the
그리고, 제2배선층은 제2양극배선층(71)과 제2음극배선층(72)을 포함하여 구성할 수 있다. 제2양극배선층(71)은 일 측이 제1양극배선층(51)과 접속 및 연결되고, 제2패시베이션층(60)을 관통하여 타 측이 제2패시베이션층(60)의 표면으로 노출되게 형성된다. 제2음극배선층(72)은 일 측이 제1음극배선층(52)과 접속 및 연결되고, 제2패시베이션층(60)을 관통하여 타 측이 제2패시베이션층(60)의 표면으로 노출되게 형성된다.Also, the second wiring layer may include a second
도 11에는 제2전사단계가 도시되어 있다. 11 shows a second transfer step.
도 11을 참조하면, 제2전사단계는 중간기판(10)으로부터 패키징된 마이크로 LED 칩(20)들만 백플레인으로 기능하는 후면기판 상으로 전사시키는 단계로서 연결단계와, 분리단계를 포함하여 구성할 수 있다.Referring to FIG. 11, the second transfer step is a step of transferring only the
연결단계는 제2양극배선층(71)과 제2음극배선층(72)을 포함하는 제2배선층 상에 백플레인으로 기능하는 후면기판(80)을 전기적으로 연결시킨다.The connecting step electrically connects the
후면기판(80)은 백플레인(backplane)으로써 박막 트랜지스터(TFT) 또는 PCB를 포함할 수 있다. 여기서, 박막 트랜지스터는 게이트 전극, 게이트 절연층에 의해 게이트 전극과 전기적으로 절연되는 활성층, 활성층과 전기적으로 연결되는 소스전극 및 드레인전극을 갖는 회로부를 포함할 수 있다. 또한, 후면기판(80)의 저면에는 박막 트랜지스터(TFT)와 연결된 제1접속전극(81)들 및 제2접속전극(82)들이 각각 노출되게 형성된다.The
후면기판(80)은 제1접속전극(81)들 및 제2접속전극(82)들이 각각 제2배선층의 제2양극배선층(71)들과 제2음극배선층(72)들에 각각 접촉되도록 부착되며, 제1접속전극(81)들과 제2접속전극(82)들이 각각 제2양극배선층(71)들과 제2음극배선층(72)들과 본딩을 통해 서로 접촉되도록 부착될 수 있다. The
일 예로, 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(21)과 연결된 제2양극배선층(71)은 후면기판(80)의 제1접속전극들(81)들과 연결될 수 있고, 마이크로 LED 칩(20)의 음전극(22)과 연결된 제2음극배선층(72)은 후면기판(80)의 제2접속전극들(82)들과 연결될 수 있다. 이외에도, 후면기판(80)과 배선부를 부착하는 방법으로 메탈 솔더 범프(metal solder bump), 스터드 범프(stud bump) 또는 수직전도성필름이나 ACF 또는 ACA 또는 SAP 등과 같은 접합소재를 이용하여 부착시킬 수 있다. For example, the second
제2배선층 상에 후면기판(80)을 부착하여 연결시킨 후에는 도 12에 도시된 바와 같이 제2패시베이션층(60) 및 제2배선층과 후면기판(80) 사이에 수지를 충진하는 언더필(underfill) 공정이 수행될 수 있다. After attaching and connecting the
언더필 공정이 완료된 후에는 도 13에 도시된 바와 같이 분리단계가 수행된다. 분리단계는 중간기판(10)과 마이크로 LED 칩(20)을 분리시키는 단계로서, 마이크로 LED 칩(20)과 중간기판(10) 상호간 결합력 또는 접착력을 약화 또는 해제시킬 수 있도록 중간기판(10) 측에서 중간기판(10)과 마이크로 LED 칩(20)의 계면 및 중간기판(10)과 제1패시베이션층(30)의 계면을 향해 레이저를 일정 시간 조사한 뒤, 마이크로 LED 칩(20)과 제1패시베이션층(30)을 중간기판(10)으로부터 분리시킨다. 중간기판(10)으로부터 분리된 마이크로 LED 디스플레이모듈은 최종 타겟기판에 픽셀별로 실장할 수 있다.After the underfill process is completed, a separation step is performed as shown in FIG. 13 . The separation step is a step of separating the
상술한 바와 같은 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 제1패시베이션층(30)의 높이를 마이크로 LED 칩(20)의 상면 또는 양전극(201) 및 음전극(22)의 높이보나 낮거나 대등하게 형성하고, 제1배선층의 두께를 제1패시베이션층(30)과 마이크로 LED 칩(20)의 상면 사이의 간격보다 두껍게 형성함으로써 제1패시베이션층(30)의 큐어링 도중 마이크로 LED 칩(20)과 제1패시베이션층(30)의 계면 부근에서 배선층이 단절되는 현상을 방지할 수 있고 이를 통해 마이크로 LED 디스플레이의 불량 발생률은 낮추고 수율은 높일 수 있는 장점이 있다.As described above, in the manufacturing method of the micro LED display according to the present invention, the height of the
한편, 도 14에는 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 의해 제조된 마이크로 LED 칩 패키지와, 종래 플립칩 구조를 갖는 마이크로 LED 칩이 도시되어 있다. Meanwhile, FIG. 14 shows a micro LED chip package manufactured by the micro LED display manufacturing method according to the present invention and a micro LED chip having a conventional flip chip structure.
도 14A를 참조하면, 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 의해 제조된 마이크로 LED 칩 패키지(P)는 배선층의 재배열 구조를 통해 후면기판의 접속전극에 접속되는 제2배선층(71, 72)이 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(21) 및 음전극(22)보다 상대적으로 넓은 면적을 가지도록 크게 형성된다. 반면, 도 14B에 도시된 종래의 플립칩 구조의 마이크로 LED 칩(20A)은 그 전극(21A, 22A)의 크기가 매우 작고, 후면기판 또는 최종기판 상의 접속전극들의 크기 또한 매우 작을뿐만 아니라 상호 매우 좁은 간격으로 이격되어 있어 후면기판 또는 최종기판에 실장시 마이크로 LED 칩(20A)은 그 전극(21A, 22A)을 후면기판 또는 최동기판의 접속전극에 맞추기 위해 높은 align 정확도가 요구된다.Referring to FIG. 14A, the micro LED chip package P manufactured by the micro LED display manufacturing method according to the present invention includes second wiring layers 71 and 72 connected to the connection electrodes of the rear substrate through the rearrangement structure of the wiring layers. It is formed to have a relatively larger area than the
본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 따라 제조된 마이크로 LED 칩 패키지(P)는 제2배선층(71, 72)이 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(21) 및 음전극(22)보다 상대적으로 넓은 면적을 가지도록 크게 형성되어 있어 후면기판 또는 최종 타겟기판의 접속전극에 접속시키기 위해 종래와 같이 높은 align 정확도가 필요하지 않으므로 종래에 비해 제조가 매우 간편하고 쉬운 장점이 있다.In the micro LED chip package P manufactured according to the micro LED display manufacturing method according to the present invention, the second wiring layers 71 and 72 are relatively wider than the
이상에서 설명한 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 첨부된 도면을 참조로 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. The micro LED display manufacturing method according to the present invention described above has been described with reference to the accompanying drawings, but this is only exemplary, and various modifications and other equivalent embodiments can be made by those skilled in the art. will understand that
따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호의 범위는 첨부된 청구범위의 기술적 사상에 의해서만 정해져야 할 것이다.Therefore, the scope of true technical protection of the present invention should be determined only by the technical spirit of the appended claims.
10 : 중간기판
20 : 마이크로 LED 칩
21 : 양전극
22 : 음전극
30 : 제1패시베이션층
40 : 포토레지스트층
51 : 제1양극배선층
52 : 제1음극배선층
60 : 제2패시베이션층
71 : 제2양극배선층
72 : 제2음극배선층
80 : 후면기판
81 : 제1접속전극
82 : 제2접속전극10: intermediate board
20: micro LED chip
21: positive electrode
22: negative electrode
30: first passivation layer
40: photoresist layer
51: first anode wiring layer
52: first cathode wiring layer
60: second passivation layer
71: second anode wiring layer
72: second cathode wiring layer
80: rear board
81: first connection electrode
82: second connection electrode
Claims (5)
상기 배선단계는
상기 중간기판의 제1면과 상기 마이크로 LED 칩을 함께 감싸도록 제1패시베이션층을 형성하는 제1패시베이션층 형성단계와,
상기 마이크로 LED 칩 상측의 상기 제1패시베이션층 상에 상기 마이크로 LED 칩보다 넓은 면적을 갖도록 포토레지스트층을 형성하는 포토레지스트층 형성단계와,
상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제1차 에칭단계와,
상기 포토레지스트층을 제거하는 포토레지스트층 제거단계와,
상기 마이크로 LED 칩의 전극 및 상면이 전부 외부로 노출되게 상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제2차 에칭단계와,
상기 마이크로 LED 칩의 전극과 전기적으로 연결되도록 제1배선층을 형성하는 제1배선층 형성단계와,
상기 제1패시베이션층 및 상기 제1배선층 상에 제2패시베이션층을 형성하는 제2패시베이션층 형성단계와,
상기 마이크로 LED 칩의 상기 제1배선층 상면의 일부가 노출되게 상기 제2패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제3차 에칭단계와;
상기 제2패시베이션층에 상기 제1배선층과 전기적으로 연결되도록 제2배선층을 형성하는 제2배선층 형성단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.a first transfer step of transferring the micro LED chip formed on the growth substrate to be disposed on the first surface of the intermediate substrate; an inspection step of inspecting the micro LED chip transferred to the intermediate substrate; a replacement step of removing the defective micro LED chips selected in the inspection step from the intermediate substrate and replacing them with good micro LED chips; a fixing step of fixing the micro LED chip on the intermediate substrate to the intermediate substrate; a wiring step of forming a wiring part on the micro LED chip fixed to the intermediate substrate; In the micro LED display manufacturing method comprising a; second transfer step of transferring only the micro LED chips from the intermediate substrate onto a rear substrate functioning as a backplane,
The wiring step is
A first passivation layer forming step of forming a first passivation layer to surround the first surface of the intermediate substrate and the micro LED chip;
A photoresist layer forming step of forming a photoresist layer on the first passivation layer above the micro LED chip to have a larger area than the micro LED chip;
A first etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer;
A photoresist layer removal step of removing the photoresist layer;
A second etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer so that the electrode and upper surface of the micro LED chip are all exposed to the outside;
A first wiring layer forming step of forming a first wiring layer to be electrically connected to the electrode of the micro LED chip;
a second passivation layer forming step of forming a second passivation layer on the first passivation layer and the first wiring layer;
a third etching step of etching and removing a portion of the second passivation layer so that a portion of the upper surface of the first wiring layer of the micro LED chip is exposed;
and a second wiring layer forming step of forming a second wiring layer on the second passivation layer to be electrically connected to the first wiring layer.
상기 제2차 에칭단계는
상기 제1패시베이션층이 경화 도중 변형되면서 상기 제1패시베이션층과 상기 마이크로 LED 칩의 계면 부근에서 상기 제1배선층이 단절되는 것을 방지할 수 있도록 상기 마이크로 LED 칩의 상면과 상기 제1패시베이션층의 상면 사이의 거리가 상기 제1배선층의 두께보다 작아지도록 상기 제1패시베이션층을 제거하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.According to claim 1,
The second etching step is
The top surface of the micro LED chip and the top surface of the first passivation layer may be prevented from being disconnected near the interface between the first passivation layer and the micro LED chip while the first passivation layer is deformed during curing. The method of manufacturing a micro LED display, characterized in that by removing the first passivation layer so that the distance between them is smaller than the thickness of the first wiring layer.
상기 제2배선층은
상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제1접속전극과 접속되는 제2양극배선층과,
상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제2접속전극과 접속되는 제2음극배선층을 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.According to claim 1,
The second wiring layer is
a second anode wiring layer formed to be exposed on the second passivation layer and connected to the first connection electrode of the rear substrate;
A micro LED display manufacturing method comprising a second cathode wiring layer formed to be exposed on the second passivation layer and connected to the second connection electrode of the rear substrate.
상기 제1패시베이션층은 블랙 매트릭스(black matrix)를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.According to claim 1,
The first passivation layer is a micro LED display manufacturing method, characterized in that it comprises a black matrix (black matrix).
상기 제2전사단계는
상기 제2배선층 상에 백플레인으로 기능하는 후면기판을 전기적으로 연결시키는 연결단계와,
상기 마이크로 LED 칩과 상기 중간기판 상호간 결합력을 약화 또는 해제시킬 수 있도록 상기 중간기판 측에서 상기 중간기판과 마이크로 LED 칩의 계면 및 상기 중간기판과 제1패시베이션층의 계면을 향해 레이저를 일정 시간 조사한 후에 마이크로 LED 칩과 제1패시베이션층을 중간기판으로부터 분리시키는 분리단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.
According to claim 1,
The second transfer step is
A connection step of electrically connecting a rear substrate functioning as a backplane on the second wiring layer;
After irradiating a laser toward the interface between the intermediate substrate and the micro LED chip and the interface between the intermediate substrate and the first passivation layer from the side of the intermediate substrate for a predetermined time to weaken or release the bonding force between the micro LED chip and the intermediate substrate, A micro LED display manufacturing method comprising a separation step of separating the micro LED chip and the first passivation layer from the intermediate substrate.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210183960A KR20230094636A (en) | 2021-12-21 | 2021-12-21 | Micro LED display manufacturing method |
PCT/KR2022/014971 WO2023120898A1 (en) | 2021-12-21 | 2022-10-05 | Micro led package, display having same, and method for manufacturing display |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210183960A KR20230094636A (en) | 2021-12-21 | 2021-12-21 | Micro LED display manufacturing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20230094636A true KR20230094636A (en) | 2023-06-28 |
Family
ID=86994412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020210183960A KR20230094636A (en) | 2021-12-21 | 2021-12-21 | Micro LED display manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20230094636A (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200004688A (en) | 2018-07-04 | 2020-01-14 | 주식회사 루멘스 | Micro led display module |
KR20200026777A (en) | 2019-11-29 | 2020-03-11 | 엘지전자 주식회사 | Display device using semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same |
KR102225498B1 (en) | 2020-03-12 | 2021-03-10 | (주)라이타이저 | Led chip transferring method and adevice using foam, manufacturing method of display apparatus using the same |
-
2021
- 2021-12-21 KR KR1020210183960A patent/KR20230094636A/en not_active Application Discontinuation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200004688A (en) | 2018-07-04 | 2020-01-14 | 주식회사 루멘스 | Micro led display module |
KR20200026777A (en) | 2019-11-29 | 2020-03-11 | 엘지전자 주식회사 | Display device using semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same |
KR102225498B1 (en) | 2020-03-12 | 2021-03-10 | (주)라이타이저 | Led chip transferring method and adevice using foam, manufacturing method of display apparatus using the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI706554B (en) | Pixel array substrate and manufacturing method thereof | |
EP3248226B1 (en) | Micro-led transferring method and manufacturing method of micro-led device | |
CN107251237B (en) | Repairing method, manufacturing method and device of micro light-emitting diode and electronic equipment | |
EP3218939B1 (en) | Pre-screening method of micro-led | |
US11482641B2 (en) | Electronic device and method for manufacturing the same | |
WO2017066921A1 (en) | Transferring method, manufacturing method, device and electronic apparatus of micro-led | |
JP5437489B2 (en) | Electronic equipment | |
CN110634840B (en) | Detection substrate, preparation method thereof, detection device and detection method | |
KR20200007498A (en) | Micro led display and manufacturing method thereof | |
KR101899063B1 (en) | Display device and reworking methode thereof | |
JP2018506166A5 (en) | ||
US20170103926A1 (en) | Mounting substrate and electronic apparatus | |
CN111584519B (en) | Driving backboard, transfer method of light-emitting diode chip and display device | |
KR102288309B1 (en) | Micro LED Display Manufacturing Method | |
JP2019140400A (en) | Pre-screening method, manufacturing method, device, and electronic apparatus of micro light emitting diode | |
WO2020262034A1 (en) | Electronic component mounting structure, method for mounting same, and method for mounting led chip | |
KR20230094636A (en) | Micro LED display manufacturing method | |
KR20230094637A (en) | Micro LED display manufacturing method | |
KR102323587B1 (en) | Manufacturing method of display apparatus and display apparatus manufactured by that method | |
CN118176586A (en) | Micro LED package, display having the same, and method for manufacturing the display | |
TWI843449B (en) | Display module, fabrication method and repair method thereof | |
KR20200106701A (en) | Led array package and manufacturing method thereof | |
KR102626606B1 (en) | Method for manufacturing display apparatus and display apparatus | |
JP2004039938A (en) | Chip-like electronic part, its mounting structure, its intermediate substrate, manufacturing method, and inspection method for chip-like electronic part | |
KR20230025713A (en) | Apparatus and manufacturing method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E902 | Notification of reason for refusal |