KR20230094636A - Micro LED display manufacturing method - Google Patents

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KR20230094636A
KR20230094636A KR1020210183960A KR20210183960A KR20230094636A KR 20230094636 A KR20230094636 A KR 20230094636A KR 1020210183960 A KR1020210183960 A KR 1020210183960A KR 20210183960 A KR20210183960 A KR 20210183960A KR 20230094636 A KR20230094636 A KR 20230094636A
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정탁
박준범
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한국광기술원
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Abstract

The present invention relates to a method for manufacturing a micro LED display and, more specifically, to a method for manufacturing a micro LED display, which can prevent wiring from being disconnected at the interface between micro LED chips and a passivation layer, thereby reducing the defect rate and increasing the yield. The method can form a first passivation layer to have a height lower than or equal to that of the top surface or the positive and negative electrodes of the micro LED chips (formed to have reduced step difference as much as possible), and can form a first wiring layer to have a thickness greater than the gap between the first passivation layer and the top surface of the micro LED chips to prevent the first wiring layer connected to the micro LED chips from being disconnected near the interface between the micro LED chips and the first passivation layer during curing of the first passivation layer, thereby reducing the defect rate of the micro LED display and increasing the yield. Furthermore, the method can form the electrodes to be relatively great by rearranging the electrodes, not to require high alignment accuracy when the micro LED display is mounted on a final target substrate, thereby being very simple and easy compared to conventional methods requiring high alignment accuracy, when flip chips with very small electrodes are mounted on a final substrate.

Description

마이크로 LED 디스플레이 제조방법{Micro LED display manufacturing method}Micro LED display manufacturing method {Micro LED display manufacturing method}

본 발명은 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 마이크로 LED 칩과 패시베이션의 계면에서 배선이 단절되는 현상을 방지하여 불량 발생률은 낮추고 수율은 높일 수 있는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a micro LED display, and more particularly, to a method for manufacturing a micro LED display capable of reducing the occurrence rate of defects and increasing the yield by preventing disconnection of wires at the interface between a micro LED chip and passivation.

일반적으로 마이크로 발광 소자는 가로와 세로의 길이가 100㎛ 이하인 LED이다. 최근에는 이러한 미세 사이즈의 마이크로 발광 소자를 광원으로 사용하는 TV가 선보이면서 주목을 받고 있다. 마이크로 발광 소자를 디스플레이의 광원으로 사용하면 LCD 보다는 필요한 부품이 적고 OLED 보다는 수명이 길다는 점 외에도 광효율과 응답속도가 빠른 장점을 갖는다고 알려져 있다.In general, a micro light emitting device is an LED having a horizontal and vertical length of 100 μm or less. Recently, a TV using such a fine-sized micro light emitting device as a light source has been introduced and attracts attention. It is known that using a micro light emitting device as a light source for a display has the advantage of having fewer parts than LCD and longer lifespan than OLED, as well as fast light efficiency and response speed.

다만 마이크로 발광 소자는 사이즈가 미세하기 때문에 디스플레이 광원으로 적용하는데 몇 가지 어려움이 있다. However, since the micro light emitting device is small in size, there are some difficulties in applying it as a display light source.

종래에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조과정은 웨이퍼에서 제작된 마이크로 LED 칩은 전사장치를 통해 후면기판(backplane)으로 바로 전사가 이루어진다.In the conventional micro LED display manufacturing process, the micro LED chip manufactured on the wafer is directly transferred to the back plane through a transfer device.

따라서, 마이크로 LED 칩을 후면기판으로 전사 후에 검사를 통해 불량칩이 발생될 경우 후면기판 상에서 불량칩을 제거하고 수리를 진행해야 하기 때문에 후면기판의 손상을 야기할 수 있다. 또한, 불량칩의 수리가 불가능할 경우, 후면기판 전체를 폐기해야 하는 문제가 발생되기 때문에 디스플레이 모듈의 수율이 떨어지게 되고, 이는 가격 상승으로 이어지는 문제가 발생한다.Therefore, if a defective chip is generated through inspection after transferring the micro LED chip to the rear substrate, the defective chip must be removed from the rear substrate and repaired, causing damage to the rear substrate. In addition, when it is impossible to repair the defective chip, the entire rear substrate has to be discarded, resulting in a decrease in the yield of the display module, which leads to an increase in price.

대한민국 공개특허 10-2020-0004688Republic of Korea Patent Publication 10-2020-0004688 대한민국 공개특허 10-2020-0026777Republic of Korea Patent Publication 10-2020-0026777 대한민국 등록특허 10-2225498Korean Registered Patent No. 10-2225498

본 발명은 상기와 같은 종래의 문제를 해결하기 위한 것으로서, 후면기판으로 전사하기 전에 중간기판으로 전사하여 불량칩을 교체함으로써, 불량칩 교체가 수월하고, 제조과정을 단축시킬 수 있는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above conventional problems, and to manufacture a micro LED display that can easily replace defective chips and shorten the manufacturing process by replacing defective chips by transferring them to an intermediate substrate before transferring them to a rear substrate. Its purpose is to provide a method.

또한, 본 발명은 패시베이션층의 큐어링 과정에서 마이크로 LED 칩과 패시베이션층의 계면 부근에서 배선층이 단절되는 현상을 방지할 수 있는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a micro LED display capable of preventing a phenomenon in which a wiring layer is disconnected near an interface between a micro LED chip and a passivation layer during a curing process of the passivation layer.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 성장기판에 형성된 마이크로 LED 칩을 중간기판의 제1면상에 배치되도록 전사하는 제1전사단계와; 상기 중간기판에 전사된 마이크로 LED 칩을 검사하는 검사단계와; 상기 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩을 상기 중간기판 상에서 제거후 양품의 마이크로 LED 칩으로 교체하는 교체단계와; 상기 중간기판 상의 상기 마이크로 LED 칩을 상기 중간기판에 고정시키는 고정단계와; 상기 중간기판에 고정된 상기 마이크로 LED 칩 상에 배선부를 형성하는 배선단계와; 상기 중간기판으로부터 상기 마이크로 LED 칩들만 백플레인으로 기능하는 후면기판 상으로 전사하는 제2전사단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A method for manufacturing a micro LED display according to the present invention for achieving the above object includes a first transfer step of transferring a micro LED chip formed on a growth substrate to be disposed on a first surface of an intermediate substrate; an inspection step of inspecting the micro LED chip transferred to the intermediate substrate; a replacement step of removing the defective micro LED chips selected in the inspection step from the intermediate substrate and replacing them with good micro LED chips; a fixing step of fixing the micro LED chip on the intermediate substrate to the intermediate substrate; a wiring step of forming a wiring part on the micro LED chip fixed to the intermediate substrate; and a second transfer step of transferring only the micro LED chips from the intermediate substrate onto a rear substrate serving as a backplane.

본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 배선단계는 상기 중간기판의 제1면과 상기 마이크로 LED 칩을 함께 감싸도록 제1패시베이션층을 형성하는 제1패시베이션층 형성단계와, 상기 마이크로 LED 칩 상측의 상기 제1패시베이션층 상에 상기 마이크로 LED 칩보다 넓은 면적을 갖도록 포토레지스트층을 형성하는 포토레지스트층 형성단계와, 상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제1차 에칭단계와, 상기 제1패시베이션층 상의 포토레지스트층을 제거하는 포토레지스트층 제거단계와, 상기 마이크로 LED 칩의 전극 및 상면이 전부 외부로 노출되게 상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제2차 에칭단계와, 상기 마이크로 LED 칩의 전극과 전기적으로 연결되도록 제1배선층을 형성하는 제1배선층 형성단계와, 상기 제1패시베이션층 및 상기 제1배선층 상에 제2패시베이션층을 형성하는 제2패시베이션층 형성단계와, 상기 마이크로 LED 칩의 상기 제1배선층 상면의 일부가 노출되게 상기 제2패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제3차 에칭단계와, 상기 제2패시베이션층에 상기 제1배선층과 전기적으로 연결되도록 제2배선층을 형성하는 제2배선층 형성단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The wiring step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention includes the first passivation layer forming step of forming a first passivation layer to surround the first surface of the intermediate substrate and the micro LED chip together, and the upper side of the micro LED chip. A photoresist layer forming step of forming a photoresist layer on the first passivation layer to have a larger area than the micro LED chip; a first etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer; A photoresist layer removal step of removing the photoresist layer on the first passivation layer; a second etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer so that the electrodes and upper surface of the micro LED chip are all exposed to the outside; A first wiring layer forming step of forming a first wiring layer to be electrically connected to an electrode of a micro LED chip, and a second passivation layer forming step of forming a second passivation layer on the first passivation layer and the first wiring layer; A third etching step of etching and removing a portion of the second passivation layer to expose a portion of the upper surface of the first wiring layer of the micro LED chip; and a second passivation layer electrically connected to the first wiring layer. It is characterized in that it includes a second wiring layer forming step of forming a wiring layer.

본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 제2차 에칭단계는 상기 제1배선층 형성단계 이후에 상기 제1패시베이션층이 경화 도중 변형되면서 상기 제1패시베이션층과 상기 마이크로 LED 칩의 계면 부근에서 상기 제1배선층이 단절되는 것을 방지할 수 있도록 상기 마이크로 LED 칩의 상면과 상기 제1패시베이션층의 상면 사이의 거리가 상기 제1배선층의 두께보다 작아지도록 상기 제1패시베이션층을 제거하는 것을 특징으로 한다.In the second etching step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention, the first passivation layer is deformed during curing after the first wiring layer forming step, and the first passivation layer and the micro LED chip are deformed in the vicinity of the interface. In order to prevent the first wiring layer from being disconnected, the first passivation layer is removed so that the distance between the top surface of the micro LED chip and the top surface of the first passivation layer is smaller than the thickness of the first wiring layer. .

본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 제2배선층 형성단계에서 형성되는 상기 제2배선층은 상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제1접속전극과 접속되는 제2양극배선층과, 상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제2접속전극과 접속되는 제2음극배선층을 포함하는 것을 특징으로 한다.The second wiring layer formed in the second wiring layer forming step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention is formed to be exposed on the second passivation layer and a second anode connected to the first connection electrode of the rear substrate. It is characterized in that it includes a wiring layer and a second cathode wiring layer formed to be exposed on the second passivation layer and connected to the second connection electrode of the rear substrate.

본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법의 상기 제2패시베이션층 형성단예에서 형성되는 상기 제1패시베이션층은 블랙 매트릭스(black matrix)를 포함하는 것을 특징으로 한다.The first passivation layer formed in the example of the second passivation layer forming step of the micro LED display manufacturing method according to the present invention is characterized in that it includes a black matrix.

상기 제2전사단계는 상기 제2배선층 상에 백플레인으로 기능하는 후면기판을 전기적으로 연결시키는 연결단계와, 상기 마이크로 LED 칩과 상기 중간기판 상호간 결합력을 약화 또는 해제시킬 수 있도록 상기 중간기판 측에서 상기 중간기판과 마이크로 LED 칩의 계면 및 상기 중간기판과 제1패시베이션층의 계면을 향해 레이저를 일정 시간 조사한 후에 마이크로 LED 칩과 제1패시베이션층을 중간기판으로부터 분리시키는 분리단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The second transfer step is a connection step of electrically connecting a rear substrate functioning as a backplane on the second wiring layer, and a bonding force between the micro LED chip and the intermediate substrate can be weakened or released from the intermediate substrate side. A separation step of separating the micro LED chip and the first passivation layer from the intermediate substrate after irradiating the laser toward the interface between the intermediate substrate and the micro LED chip and the interface between the intermediate substrate and the first passivation layer for a predetermined time. .

본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 제1패시베이션층의 높이를 마이크로 LED 칩의 상면 또는 양전극 및 음전극의 높이보나 낮거나 대등하게 형성(단차를 최대한 줄이도록 형성)하고, 제1배선층의 두께를 제1패시베이션층과 마이크로 LED 칩의 상면 사이의 간격보다 두껍게 형성함으로써 제1패시베이션층의 큐어링 도중 마이크로 LED 칩과 제1패시베이션층의 계면 부근에서 마이크로 LED 칩에 접속되는 제1배선층이 단절되는 현상을 방지할 수 있고 이를 통해 마이크로 LED 디스플레이의 불량 발생률은 낮추고 수율은 높일 수 있는 장점이 있다.In the micro LED display manufacturing method according to the present invention, the height of the first passivation layer is formed to be lower or equal to the height of the upper surface of the micro LED chip or the positive and negative electrodes (formed to minimize the step difference), and the thickness of the first wiring layer A phenomenon in which the first wiring layer connected to the micro LED chip is disconnected near the interface between the micro LED chip and the first passivation layer during curing of the first passivation layer by forming the first passivation layer thicker than the gap between the top surface of the micro LED chip. can be prevented, and through this, the defect occurrence rate of the micro LED display can be reduced and the yield can be increased.

또한, 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 전극의 재배열을 통해 전극을 상태적으로 크게 형성할 수 있어서 최종 타겟기판에 실장시 높은 align 정확도가 필요하지 않으므로 매우 작은 전극을 갖는 플립칩을 최종기판에 실장할 시 높은 align 정확도가 요구되는 종래의 방법에 비해 매우 간편하고 쉬운 장점이 있다.In addition, in the method of manufacturing a micro LED display according to the present invention, electrodes can be formed to be relatively large through rearrangement of electrodes, so that high alignment accuracy is not required when mounted on a final target substrate. When mounting on a board, it has the advantage of being very simple and easy compared to the conventional method that requires high alignment accuracy.

도 1 내지 도 13은 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법을 나타낸 도면.
도 14는 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 의해 제조된 마이크로 LED 칩 패키지의 구조와 종래 마이크로 LED 칩의 구조를 비교하기 위한 도면.
1 to 13 are views showing a micro LED display manufacturing method according to the present invention.
14 is a view for comparing the structure of a micro LED chip package manufactured by the method for manufacturing a micro LED display according to the present invention and the structure of a conventional micro LED chip.

이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 대하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, a micro LED display manufacturing method according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 13에는 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법가 도시되어 있다. 도 1 내지 도 13을 참조하면, 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 성장기판에 형성된 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)의 제1면상에 배치되도록 전사하는 제1전사단계와; 상기 중간기판(10)에 전사된 마이크로 LED 칩(20)을 검사하는 검사단계와; 상기 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)을 상기 중간기판(10) 상에서 제거후 양품의 마이크로 LED 칩(20)으로 교체하는 교체단계와; 상기 중간기판(10) 상의 상기 마이크로 LED 칩(20)을 상기 중간기판(10)에 고정시키는 고정단계와; 상기 중간기판(10)에 고정된 상기 마이크로 LED 칩(20) 상에 배선부를 형성하는 배선단계와; 상기 중간기판(10)으로부터 마이크로 LED 칩(20)들만 백플레인으로서 기능하는 후면기판(80) 상으로 전사하는 제2전사단계;를 포함하여 구성된다.1 to 13 show a micro LED display manufacturing method according to the present invention. 1 to 13, a method of manufacturing a micro LED display according to the present invention includes a first transfer step of transferring a micro LED chip 20 formed on a growth substrate to be disposed on a first surface of an intermediate substrate 10; an inspection step of inspecting the micro LED chip 20 transferred to the intermediate substrate 10; a replacement step of removing the defective micro LED chips 20 selected in the inspection step from the intermediate substrate 10 and replacing them with good micro LED chips 20; a fixing step of fixing the micro LED chip 20 on the intermediate substrate 10 to the intermediate substrate 10; a wiring step of forming a wiring part on the micro LED chip 20 fixed to the intermediate substrate 10; A second transfer step of transferring only the micro LED chips 20 from the intermediate substrate 10 onto the rear substrate 80 serving as a backplane;

도 1은 마이크로 LED 칩(20)이 중간기판(10) 상에 전사된 구조를 나타내었다. 도 1을 참조하면, 제1전사단계에서 마이크로 LED 칩(20)은 중간기판(10)에 전사된다. 1 shows a structure in which a micro LED chip 20 is transferred onto an intermediate substrate 10 . Referring to FIG. 1 , in the first transfer step, the micro LED chip 20 is transferred to the intermediate substrate 10 .

마이크로 LED 칩(20)은 중간기판(10)의 상부 방향인 제1면(11) 상에 배치될 수 있다. 여기서, 중간기판(10)은 마이크로 LED 칩(20)에서 출력되는 광이 투과되도록 투명 기판으로 형성될 수도 있다. 일 예로, 유리(Glass), 사파이어, PET, 또는 PI 중 어느 하나의 재질로 형성된 기판일 수 있다. 중간기판(10)은 리지드(rigid) 기판 또는 플렉서블(flexible) 기판 등 다양한 기판이 사용될 수 있다.The micro LED chip 20 may be disposed on the first surface 11 in the upper direction of the intermediate substrate 10 . Here, the intermediate substrate 10 may be formed of a transparent substrate so that light output from the micro LED chip 20 is transmitted. For example, it may be a substrate made of any one of glass, sapphire, PET, or PI. As the intermediate substrate 10, various substrates such as a rigid substrate or a flexible substrate may be used.

또한, 마이크로 LED 칩(20)은 R, G, B(RED, Green, Blue) 등과 같은 색을 재현하기 위하여 사용되는 것으로 성장기판 상에서 제작될 수 있다. 그리고, 마이크로 LED 칩(20)의 상면에는 양전극(201)과 음전극(22)이 각각 구비되며, 마이크로 LED 칩(20)은 3개가 R, G, B로 구성된 하나의 픽셀(P)을 이루도록 서로 설정된 간격으로 인접하게 배열되며, 3개의 마이크로 LED 칩(20)은 각각 R, G, B로 구성된다. In addition, the micro LED chip 20 is used to reproduce colors such as R, G, and B (RED, Green, Blue), and may be manufactured on a growth substrate. In addition, a positive electrode 201 and a negative electrode 22 are provided on the upper surface of the micro LED chip 20, respectively, and the micro LED chip 20 is connected to each other to form one pixel P composed of R, G, and B. Arranged adjacently at set intervals, the three micro LED chips 20 are composed of R, G, and B, respectively.

한편, 마이크로 LED 칩(20)은 투명접착층에 의해 중간기판(10)에 접착 및 고정될 수 있다. 즉, 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)으로 전사하는 제1전사단계 이전에 중간기판(10) 상에 투명접착층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the micro LED chip 20 may be adhered and fixed to the intermediate substrate 10 by a transparent adhesive layer. That is, before the first transfer step of transferring the micro LED chip 20 to the intermediate substrate 10, a step of forming a transparent adhesive layer on the intermediate substrate 10 may be further included.

투명접착층은 중간기판(10) 상에 포토리소그라피(photolithography) 공정을 통해 패터닝 될 수 있다. 일 예로, 중간기판(10)의 제1면(11) 상에 투명접착층을 증착하고, 플라즈마 식각 공정을 통해 마이크로 LED 칩(20)이 배치되지 않는 부위는 제거될 수 있다. The transparent adhesive layer may be patterned on the intermediate substrate 10 through a photolithography process. For example, a transparent adhesive layer may be deposited on the first surface 11 of the intermediate substrate 10, and portions where the micro LED chip 20 is not disposed may be removed through a plasma etching process.

투명접착층은 PSA, 실리콘계, 아크릴계 또는 에폭시 중어느 하나의 물질로 형성될 수 있으며, 열 및 UV광에 반응하여 경화되면서 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)에 접착시킬 수 있는 물질이면 어느 물질이든 사용가능하다. 마이크로 LED 칩(20)은 투명접착층에 의해 중간기판(10)에 접착되며 후술하는 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)에서 비교적 용이하게 분리할 수 있게 소정의 접착력으로 접착될 수 있다. 여기서, 투명접착층의 접착력은 온도 또는 UV광 등을 조절함으로써 조절가능하다.The transparent adhesive layer may be formed of any one of PSA, silicon-based, acrylic-based, and epoxy materials, and any material capable of adhering the micro LED chip 20 to the intermediate substrate 10 while curing in response to heat and UV light. Any material can be used. The micro LED chip 20 is adhered to the intermediate substrate 10 by a transparent adhesive layer, and has a predetermined adhesive strength to relatively easily separate the defective micro LED chips 20 selected from the intermediate substrate 10 in the inspection step described later. can be bonded to. Here, the adhesive force of the transparent adhesive layer can be adjusted by adjusting the temperature or UV light.

검사단계는 중간기판(10)에 전사된 마이크로 LED 칩(20)을 마이크로 PL 또는 EL 방식의 측정방법을 이용하여 측정하고, 측정 결과에 따라 마이크로 LED 칩(20)의 불량 여부를 판별한다. In the inspection step, the micro LED chip 20 transferred to the intermediate substrate 10 is measured using a micro PL or EL method, and whether or not the micro LED chip 20 is defective is determined according to the measurement result.

교체단계는 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10) 상에서 제거한 후 양품의 마이크로 LED 칩(20)으로 교체한다. 선별된 불량 마이크로 LED 칩(20)은 위치 판별후에 개별 또는 동시에 제거될 수 있다.In the replacement step, the defective micro LED chip 20 selected in the inspection step is removed from the intermediate substrate 10 and replaced with a good micro LED chip 20 . The sorted defective micro LED chips 20 may be individually or simultaneously removed after location determination.

불량 마이크로 LED 칩(20)을 제거하는 방법으로는 레이저 조사(laser ablation), 정전기척(electrostatic chuck) 또는 마그네틱 척(magnetic chuck) 등을 이용함으로써 제거될 수 있다. As a method of removing the defective micro LED chip 20, it may be removed by using laser ablation, an electrostatic chuck, or a magnetic chuck.

고정단계는 열 또는 UV 경화방식을 통해 투명접착층을 영구 경화시켜 중간기판(10) 상의 마이크로 LED 칩(20)을 중간기판(10)에 고정시킨다.In the fixing step, the micro LED chip 20 on the intermediate substrate 10 is fixed to the intermediate substrate 10 by permanently curing the transparent adhesive layer through a heat or UV curing method.

배선단계는 고정단계를 거친 후 중간기판(10) 상에 고정된 모든 마이크로 LED 칩(20) 상에 배선부를 형성한다. In the wiring step, after going through the fixing step, wiring parts are formed on all the micro LED chips 20 fixed on the intermediate substrate 10 .

배선단계는 제1패시베이션층(30) 형성단계와, 포토레지스트층(40) 형성단계와, 제1차 에칭단계와, 포토레지스트층(40) 제거단계와, 제2차 에칭단계와, 제1배선층 형성단계와, 제2패시베이션층(60) 형성단계와, 제3차 에칭단계와, 제2배선층 형성단계를 포함하여 구성할 수 있다.The wiring step includes a first passivation layer 30 forming step, a photoresist layer 40 forming step, a first etching step, a photoresist layer 40 removing step, a second etching step, and a first etching step. It may include a wiring layer forming step, a second passivation layer 60 forming step, a tertiary etching step, and a second wiring layer forming step.

도 2에는 제1패시베이션층(30) 형성단계가 도시되어 있다. 2 shows a step of forming the first passivation layer 30 .

도 2를 참조하면, 제1패시베이션층(30) 형성단계는 중간기판(10)의 제1면과 마이크로 LED 칩(20)을 함께 감싸도록 제1패시베이션층(30)을 형성한다. 이때, 제1패시베이션층(30)은 중간기판(10) 상에 배치된 마이크로 LED 칩(20)을 모두 감싸도록 형성됨이 바람직하다. 또한, 제1패시베이션층(30)은 중간기판(10) 전역에 대해 형성될 수도 있고, 이와 다르게 3개의 마이크로 LED 칩(20)으로 구성된 픽셀(P) 영역마다 독립적으로 형성될 수도 있다.Referring to FIG. 2 , in the step of forming the first passivation layer 30 , the first passivation layer 30 is formed to surround the first surface of the intermediate substrate 10 and the micro LED chip 20 together. At this time, the first passivation layer 30 is preferably formed to cover all of the micro LED chips 20 disposed on the intermediate substrate 10 . In addition, the first passivation layer 30 may be formed over the entire intermediate substrate 10 or may be formed independently for each pixel P area composed of three micro LED chips 20 .

제1패시베이션층(30)은 절연물질로 형성될 수 있으며, 일 예로, 아크릴, 폴리(메틸 메타크릴레이트)(PMMA), 벤조사이클로부텐(BCB), 폴리이미드, 아크릴레이트, 에폭시 및 폴리에스테르 등으로 형성될 수 있다. 바람직하게는 제1패시베이션층(30)의 경우 광을 흡수할 수 있는 물질, 일 예로 블랙 매트릭스(black matrix)를 포함하여 구성할 수 있으며, 블랙 매트릭스를 적용하는 경우 중간기판(10)을 통해 발광되는 색들이 혼합되는 것을 방지할 수 있다.The first passivation layer 30 may be formed of an insulating material, for example, acrylic, poly(methyl methacrylate) (PMMA), benzocyclobutene (BCB), polyimide, acrylate, epoxy and polyester, etc. can be formed as Preferably, the first passivation layer 30 may include a material capable of absorbing light, for example, a black matrix, and when the black matrix is applied, light is emitted through the intermediate substrate 10. Mixing of colors can be prevented.

도 3에는 포토레지스트층(40) 형성단계가 도시되어 있다. 3 shows a photoresist layer 40 forming step.

도 3을 참조하면, 포토레지스트층(40) 형성단계는 마이크로 LED 칩(20) 상측의 제1패시베이션층(30) 상에 마이크로 LED 칩(20)보다 넓은 면적을 갖도록 포토레지스트층(40)을 형성한다. 이때, 포토레지스트층(40)은 제1패시베이션층(30)과 대응되는 영역에 형성될 수도 있고, 이와 다르게 3개의 마이크로 LED 칩(20)으로 구성된 픽셀(P) 영역에 대응되는 부분에만 각각 독립적으로 형성할 수도 있다. 바람직하게는 후술하는 제1차 에칭단계 및 제2차 에칭단계에서 픽셀(P) 영역 주변의 제1패시베이션층(30)을 모두 제거하여 각 픽셀(P) 영역의 구분이 가능하도록 픽셀(P) 영역에 대응되는 부분에만 각각 독립적으로 형성한다. Referring to FIG. 3 , in the step of forming the photoresist layer 40, the photoresist layer 40 is formed on the first passivation layer 30 above the micro LED chip 20 to have a larger area than the micro LED chip 20. form At this time, the photoresist layer 40 may be formed in an area corresponding to the first passivation layer 30, or independently only in a portion corresponding to the pixel P area composed of three micro LED chips 20. can also be formed. Preferably, in the first etching step and the second etching step to be described later, all of the first passivation layer 30 around the pixel P region is removed so that each pixel P region can be distinguished. It is formed independently only in the part corresponding to the area.

도 4에는 제1차 에칭단계가 도시되어 있다. 4 shows the first etching step.

도 4를 참조하면, 제1차 에칭단계는 제1패시베이션층(30) 일부를 에칭하여 제거한다. 더욱 상세하게 제1차 에칭단계에서는 제1패시베이션층(30)의 가장자리 영역인 픽셀(P) 영역 주변에 대응하는 제1패시베이션층(30)을 일정 두께 제거하여 픽셀(P) 영역에 대응되는 제1패시베이션층(30)과 픽셀(P) 영역 주변의 제1패시베이션층(30) 사이에 단차가 발생하도록 한다. 제1차 에칭단계에서는 RIE(Reactive Ion Etching) 방법을 적용할 수 있다.Referring to FIG. 4 , in the first etching step, a portion of the first passivation layer 30 is etched and removed. More specifically, in the first etching step, the first passivation layer 30 corresponding to the periphery of the pixel (P) area, which is the edge area of the first passivation layer 30, is removed by a predetermined thickness to remove the first passivation layer 30 corresponding to the pixel (P) area. A step is created between the first passivation layer 30 and the first passivation layer 30 around the pixel (P) region. In the first etching step, a reactive ion etching (RIE) method may be applied.

포토레지스트층(40) 제거단계는 제1차 에칭단계 이후에 도 5에 도시된 바와 같이 제1패시베이션층(30)이 노출되게 제1패시베이션층(30) 상의 포토레지스트층(40)을 제거한다. The photoresist layer 40 removing step removes the photoresist layer 40 on the first passivation layer 30 so that the first passivation layer 30 is exposed as shown in FIG. 5 after the first etching step. .

도 6에는 제2차 에칭단계가 도시되어 있다. 6 shows a second etching step.

도 6을 참조하면, 제2차 에칭단계는 마이크로 LED 칩(20)의 전극 및 상면이 전부 외부로 노출되게 제1차 에칭단계 이후 남아있는 제1패시베이션층(30)을 일정 두께 에칭하여 제거한다. 제2차 에칭단계에서는 제1차 에칭단계에서 적용한 바와 같이 RIE(Reactive Ion Etching) 방법을 적용할 수 있다.Referring to FIG. 6 , in the second etching step, the first passivation layer 30 remaining after the first etching step is etched to a predetermined thickness so that the electrode and upper surface of the micro LED chip 20 are all exposed to the outside. . In the second etching step, a reactive ion etching (RIE) method may be applied as applied in the first etching step.

제2차 에칭단계에서는 마이크로 LED 칩(20)의 전극 또는 그 상면과 제1패시베이션층(30)의 상면 사이의 거리가 후술하는 제1배선층의 두께보다 작아지도록 제1패시베이션층(30)을 제거하는 것이 바람직하다. 이는 후술하는 제1배선층 형성단계 이후 중간기판(10) 상의 제1패시베이션층(30)을 경화시키는 도중 제1패시베이션층(30)이 변형되면서 제1패시베이션층(30)과 마이크로 LED 칩(20)의 계면 부근에서 제1배선층이 단절되는 것을 방지하기 위한 것이다.In the second etching step, the first passivation layer 30 is removed so that the distance between the electrode or the upper surface of the micro LED chip 20 and the upper surface of the first passivation layer 30 is smaller than the thickness of the first wiring layer described later. It is desirable to do This is because the first passivation layer 30 is deformed while curing the first passivation layer 30 on the intermediate substrate 10 after the first wiring layer forming step described later, and the first passivation layer 30 and the micro LED chip 20 This is to prevent the first wiring layer from being disconnected in the vicinity of the interface.

도 7에는 제1배선층 형성단계가 도시되어 있다. 7 shows a step of forming the first wiring layer.

도 7을 참조하면, 제1배선층 형성단계는 제2차 에칭단계가 완료된 후, 마이크로 LED 칩(20)의 상면에 마련된 양전극(201)과 음전극(22) 각각에 접속 및 연결되도록 제1배선층을 형성한다.Referring to FIG. 7 , in the first wiring layer forming step, after the second etching step is completed, the first wiring layer is formed to be connected to and connected to the positive electrode 201 and the negative electrode 22 provided on the upper surface of the micro LED chip 20, respectively. form

제1배선층 형성단계에서는 형성되는 제1배선층은 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(201)에 접속 및 연결되는 제1양극배선층(51)과, 마이크로 LED 칩(20)의 음전극(22)에 접속 및 연결되는 제1음극배선층(52)을 포함하여 구성된다.In the first wiring layer forming step, the first wiring layer formed is connected to the first anode wiring layer 51 connected to and connected to the positive electrode 201 of the micro LED chip 20 and the negative electrode 22 of the micro LED chip 20. and a first cathode wiring layer 52 connected thereto.

제2패시베이션층(60) 형성단계는 도 8에 도시된 바와 같이 제1패시베이션층(30) 및 제1배선층을 함께 감싸도록 제2패시베이션층(60)을 일정 두께로 형성한다. 여기서, 제2패시베이션층(60)은 제1배선층을 모두 덮도록 형성될 수 있다. 제2패시베이션층(60)의 재질로는 일 예로, 아크릴, 폴리(메틸 메타크릴레이트)(PMMA), 벤조사이클로부텐(BCB), 폴리이미드, 아크릴레이트, 에폭시 및 폴리에스테르 등으로 형성될 수 있다.In the step of forming the second passivation layer 60, as shown in FIG. 8, the second passivation layer 60 is formed to a certain thickness so as to surround the first passivation layer 30 and the first wiring layer together. Here, the second passivation layer 60 may be formed to cover the entire first wiring layer. The material of the second passivation layer 60 may be formed of, for example, acrylic, poly(methyl methacrylate) (PMMA), benzocyclobutene (BCB), polyimide, acrylate, epoxy, and polyester. .

도 9에는 제3차 에칭단계가 도시되어 있다.9 shows a third etching step.

도 9를 참조하면, 제3차 에칭단계는 마이크로 LED 칩(20)의 양전극 및 음전극에 각각 연결된 제1배선층의 상면 일부가 노출되게 제2패시베이션층(60) 일부를 에칭하여 제거한다. 제3차 에칭단계에서는 제1배선층의 상부에 대응되는 제2패시베이션층(60) 영역에 상하로 관통하는 홀이 형성된다.Referring to FIG. 9 , in the third etching step, a portion of the second passivation layer 60 is etched and removed so that a portion of the upper surface of the first wiring layer connected to the positive and negative electrodes of the micro LED chip 20 is exposed. In the third etching step, holes penetrating vertically are formed in the region of the second passivation layer 60 corresponding to the upper portion of the first wiring layer.

도 10에는 제2배선층 형성단계가 도시되어 있다. 10 shows a step of forming a second wiring layer.

도 10을 참조하면, 제2배선층 형성단계는 제2패시베이션층(60)에 제1배선층과 전기적으로 연결되도록 제2배선층을 형성한다. 제2배선층 형성단계에서 형성되는 제2배선층은 도전성 물질을 포함하여 구성되고, 제2패시베이션층(60)을 관통하여 제2패시베이션층(60)의 표면에 노출되도록 연장 형성된다. Referring to FIG. 10 , in the step of forming the second wiring layer, a second wiring layer is formed on the second passivation layer 60 to be electrically connected to the first wiring layer. The second wiring layer formed in the second wiring layer forming step includes a conductive material and extends through the second passivation layer 60 to be exposed on the surface of the second passivation layer 60 .

그리고, 제2배선층은 제2양극배선층(71)과 제2음극배선층(72)을 포함하여 구성할 수 있다. 제2양극배선층(71)은 일 측이 제1양극배선층(51)과 접속 및 연결되고, 제2패시베이션층(60)을 관통하여 타 측이 제2패시베이션층(60)의 표면으로 노출되게 형성된다. 제2음극배선층(72)은 일 측이 제1음극배선층(52)과 접속 및 연결되고, 제2패시베이션층(60)을 관통하여 타 측이 제2패시베이션층(60)의 표면으로 노출되게 형성된다.Also, the second wiring layer may include a second anode wiring layer 71 and a second cathode wiring layer 72 . The second anode wiring layer 71 is formed such that one side is connected to and connected to the first anode wiring layer 51 and penetrates the second passivation layer 60 to expose the other side to the surface of the second passivation layer 60. do. The second cathode wiring layer 72 is formed such that one side is connected to and connected to the first cathode wiring layer 52 and penetrates the second passivation layer 60 to expose the other side to the surface of the second passivation layer 60. do.

도 11에는 제2전사단계가 도시되어 있다. 11 shows a second transfer step.

도 11을 참조하면, 제2전사단계는 중간기판(10)으로부터 패키징된 마이크로 LED 칩(20)들만 백플레인으로 기능하는 후면기판 상으로 전사시키는 단계로서 연결단계와, 분리단계를 포함하여 구성할 수 있다.Referring to FIG. 11, the second transfer step is a step of transferring only the micro LED chips 20 packaged from the intermediate substrate 10 onto the back substrate functioning as a backplane, and may include a connection step and a separation step. there is.

연결단계는 제2양극배선층(71)과 제2음극배선층(72)을 포함하는 제2배선층 상에 백플레인으로 기능하는 후면기판(80)을 전기적으로 연결시킨다.The connecting step electrically connects the rear substrate 80 functioning as a backplane on the second wiring layer including the second anode wiring layer 71 and the second cathode wiring layer 72 .

후면기판(80)은 백플레인(backplane)으로써 박막 트랜지스터(TFT) 또는 PCB를 포함할 수 있다. 여기서, 박막 트랜지스터는 게이트 전극, 게이트 절연층에 의해 게이트 전극과 전기적으로 절연되는 활성층, 활성층과 전기적으로 연결되는 소스전극 및 드레인전극을 갖는 회로부를 포함할 수 있다. 또한, 후면기판(80)의 저면에는 박막 트랜지스터(TFT)와 연결된 제1접속전극(81)들 및 제2접속전극(82)들이 각각 노출되게 형성된다.The rear substrate 80 may include a thin film transistor (TFT) or PCB as a backplane. Here, the thin film transistor may include a gate electrode, an active layer electrically insulated from the gate electrode by a gate insulating layer, and a circuit unit having a source electrode and a drain electrode electrically connected to the active layer. In addition, first connection electrodes 81 and second connection electrodes 82 connected to the thin film transistor (TFT) are formed on the lower surface of the rear substrate 80 to be exposed.

후면기판(80)은 제1접속전극(81)들 및 제2접속전극(82)들이 각각 제2배선층의 제2양극배선층(71)들과 제2음극배선층(72)들에 각각 접촉되도록 부착되며, 제1접속전극(81)들과 제2접속전극(82)들이 각각 제2양극배선층(71)들과 제2음극배선층(72)들과 본딩을 통해 서로 접촉되도록 부착될 수 있다. The rear substrate 80 is attached so that the first connection electrodes 81 and the second connection electrodes 82 are in contact with the second anode wiring layers 71 and the second cathode wiring layers 72 of the second wiring layer, respectively. The first connection electrodes 81 and the second connection electrodes 82 may be attached to the second anode wiring layers 71 and the second cathode wiring layers 72 through bonding to contact each other.

일 예로, 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(21)과 연결된 제2양극배선층(71)은 후면기판(80)의 제1접속전극들(81)들과 연결될 수 있고, 마이크로 LED 칩(20)의 음전극(22)과 연결된 제2음극배선층(72)은 후면기판(80)의 제2접속전극들(82)들과 연결될 수 있다. 이외에도, 후면기판(80)과 배선부를 부착하는 방법으로 메탈 솔더 범프(metal solder bump), 스터드 범프(stud bump) 또는 수직전도성필름이나 ACF 또는 ACA 또는 SAP 등과 같은 접합소재를 이용하여 부착시킬 수 있다. For example, the second anode wiring layer 71 connected to the positive electrode 21 of the micro LED chip 20 may be connected to the first connection electrodes 81 of the rear substrate 80, and the micro LED chip 20 The second cathode wiring layer 72 connected to the negative electrode 22 of may be connected to the second connection electrodes 82 of the back substrate 80 . In addition, as a method of attaching the rear substrate 80 and the wiring part, it can be attached using a metal solder bump, a stud bump, a vertical conductive film, or a bonding material such as ACF, ACA, or SAP. .

제2배선층 상에 후면기판(80)을 부착하여 연결시킨 후에는 도 12에 도시된 바와 같이 제2패시베이션층(60) 및 제2배선층과 후면기판(80) 사이에 수지를 충진하는 언더필(underfill) 공정이 수행될 수 있다. After attaching and connecting the rear substrate 80 on the second wiring layer, as shown in FIG. 12, the second passivation layer 60 and an underfill for filling a resin between the second wiring layer and the rear substrate 80 ) process can be performed.

언더필 공정이 완료된 후에는 도 13에 도시된 바와 같이 분리단계가 수행된다. 분리단계는 중간기판(10)과 마이크로 LED 칩(20)을 분리시키는 단계로서, 마이크로 LED 칩(20)과 중간기판(10) 상호간 결합력 또는 접착력을 약화 또는 해제시킬 수 있도록 중간기판(10) 측에서 중간기판(10)과 마이크로 LED 칩(20)의 계면 및 중간기판(10)과 제1패시베이션층(30)의 계면을 향해 레이저를 일정 시간 조사한 뒤, 마이크로 LED 칩(20)과 제1패시베이션층(30)을 중간기판(10)으로부터 분리시킨다. 중간기판(10)으로부터 분리된 마이크로 LED 디스플레이모듈은 최종 타겟기판에 픽셀별로 실장할 수 있다.After the underfill process is completed, a separation step is performed as shown in FIG. 13 . The separation step is a step of separating the intermediate substrate 10 and the micro LED chip 20, and the intermediate substrate 10 side is capable of weakening or releasing the bonding force or adhesive force between the micro LED chip 20 and the intermediate substrate 10. After irradiating a laser toward the interface between the intermediate substrate 10 and the micro LED chip 20 and the interface between the intermediate substrate 10 and the first passivation layer 30 for a certain period of time, the micro LED chip 20 and the first passivation Layer 30 is separated from intermediate substrate 10 . The micro LED display module separated from the intermediate substrate 10 may be mounted pixel by pixel on the final target substrate.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 제1패시베이션층(30)의 높이를 마이크로 LED 칩(20)의 상면 또는 양전극(201) 및 음전극(22)의 높이보나 낮거나 대등하게 형성하고, 제1배선층의 두께를 제1패시베이션층(30)과 마이크로 LED 칩(20)의 상면 사이의 간격보다 두껍게 형성함으로써 제1패시베이션층(30)의 큐어링 도중 마이크로 LED 칩(20)과 제1패시베이션층(30)의 계면 부근에서 배선층이 단절되는 현상을 방지할 수 있고 이를 통해 마이크로 LED 디스플레이의 불량 발생률은 낮추고 수율은 높일 수 있는 장점이 있다.As described above, in the manufacturing method of the micro LED display according to the present invention, the height of the first passivation layer 30 is formed to be lower than or equal to the upper surface of the micro LED chip 20 or the heights of the positive electrode 201 and the negative electrode 22 And, by forming the thickness of the first wiring layer thicker than the distance between the first passivation layer 30 and the upper surface of the micro LED chip 20, the micro LED chip 20 and the micro LED chip 20 are removed during curing of the first passivation layer 30. It is possible to prevent a phenomenon in which the wiring layer is disconnected near the interface of the first passivation layer 30, and through this, there is an advantage in that the rate of occurrence of defects in the micro LED display can be reduced and the yield can be increased.

한편, 도 14에는 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 의해 제조된 마이크로 LED 칩 패키지와, 종래 플립칩 구조를 갖는 마이크로 LED 칩이 도시되어 있다. Meanwhile, FIG. 14 shows a micro LED chip package manufactured by the micro LED display manufacturing method according to the present invention and a micro LED chip having a conventional flip chip structure.

도 14A를 참조하면, 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 의해 제조된 마이크로 LED 칩 패키지(P)는 배선층의 재배열 구조를 통해 후면기판의 접속전극에 접속되는 제2배선층(71, 72)이 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(21) 및 음전극(22)보다 상대적으로 넓은 면적을 가지도록 크게 형성된다. 반면, 도 14B에 도시된 종래의 플립칩 구조의 마이크로 LED 칩(20A)은 그 전극(21A, 22A)의 크기가 매우 작고, 후면기판 또는 최종기판 상의 접속전극들의 크기 또한 매우 작을뿐만 아니라 상호 매우 좁은 간격으로 이격되어 있어 후면기판 또는 최종기판에 실장시 마이크로 LED 칩(20A)은 그 전극(21A, 22A)을 후면기판 또는 최동기판의 접속전극에 맞추기 위해 높은 align 정확도가 요구된다.Referring to FIG. 14A, the micro LED chip package P manufactured by the micro LED display manufacturing method according to the present invention includes second wiring layers 71 and 72 connected to the connection electrodes of the rear substrate through the rearrangement structure of the wiring layers. It is formed to have a relatively larger area than the positive electrode 21 and the negative electrode 22 of the micro LED chip 20. On the other hand, in the micro LED chip 20A of the conventional flip chip structure shown in FIG. 14B, the size of the electrodes 21A and 22A is very small, and the size of the connection electrodes on the rear substrate or the final substrate is also very small, and the size of each other is very small. Since they are spaced apart at a narrow interval, high alignment accuracy is required to align the electrodes 21A and 22A of the micro LED chip 20A to the connecting electrodes of the rear substrate or the final substrate when mounted on the rear substrate or final substrate.

본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 따라 제조된 마이크로 LED 칩 패키지(P)는 제2배선층(71, 72)이 마이크로 LED 칩(20)의 양전극(21) 및 음전극(22)보다 상대적으로 넓은 면적을 가지도록 크게 형성되어 있어 후면기판 또는 최종 타겟기판의 접속전극에 접속시키기 위해 종래와 같이 높은 align 정확도가 필요하지 않으므로 종래에 비해 제조가 매우 간편하고 쉬운 장점이 있다.In the micro LED chip package P manufactured according to the micro LED display manufacturing method according to the present invention, the second wiring layers 71 and 72 are relatively wider than the positive electrodes 21 and negative electrodes 22 of the micro LED chip 20. Since it is formed to have a large area, it does not require high align accuracy as in the prior art to connect to the connection electrode of the rear substrate or the final target substrate, so it has the advantage of being very simple and easy to manufacture compared to the prior art.

이상에서 설명한 본 발명에 따른 마이크로 LED 디스플레이 제조방법은 첨부된 도면을 참조로 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. The micro LED display manufacturing method according to the present invention described above has been described with reference to the accompanying drawings, but this is only exemplary, and various modifications and other equivalent embodiments can be made by those skilled in the art. will understand that

따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호의 범위는 첨부된 청구범위의 기술적 사상에 의해서만 정해져야 할 것이다.Therefore, the scope of true technical protection of the present invention should be determined only by the technical spirit of the appended claims.

10 : 중간기판
20 : 마이크로 LED 칩
21 : 양전극
22 : 음전극
30 : 제1패시베이션층
40 : 포토레지스트층
51 : 제1양극배선층
52 : 제1음극배선층
60 : 제2패시베이션층
71 : 제2양극배선층
72 : 제2음극배선층
80 : 후면기판
81 : 제1접속전극
82 : 제2접속전극
10: intermediate board
20: micro LED chip
21: positive electrode
22: negative electrode
30: first passivation layer
40: photoresist layer
51: first anode wiring layer
52: first cathode wiring layer
60: second passivation layer
71: second anode wiring layer
72: second cathode wiring layer
80: rear board
81: first connection electrode
82: second connection electrode

Claims (5)

성장기판에 형성된 마이크로 LED 칩을 중간기판의 제1면상에 배치되도록 전사하는 제1전사단계와; 상기 중간기판에 전사된 마이크로 LED 칩을 검사하는 검사단계와; 상기 검사단계에서 선별된 불량 마이크로 LED 칩을 상기 중간기판 상에서 제거후 양품의 마이크로 LED 칩으로 교체하는 교체단계와; 상기 중간기판 상의 상기 마이크로 LED 칩을 상기 중간기판에 고정시키는 고정단계와; 상기 중간기판에 고정된 상기 마이크로 LED 칩 상에 배선부를 형성하는 배선단계와; 상기 중간기판으로부터 상기 마이크로 LED 칩들만 백플레인으로 기능하는 후면기판 상으로 전사하는 제2전사단계;를 포함하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법에 있어서,
상기 배선단계는
상기 중간기판의 제1면과 상기 마이크로 LED 칩을 함께 감싸도록 제1패시베이션층을 형성하는 제1패시베이션층 형성단계와,
상기 마이크로 LED 칩 상측의 상기 제1패시베이션층 상에 상기 마이크로 LED 칩보다 넓은 면적을 갖도록 포토레지스트층을 형성하는 포토레지스트층 형성단계와,
상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제1차 에칭단계와,
상기 포토레지스트층을 제거하는 포토레지스트층 제거단계와,
상기 마이크로 LED 칩의 전극 및 상면이 전부 외부로 노출되게 상기 제1패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제2차 에칭단계와,
상기 마이크로 LED 칩의 전극과 전기적으로 연결되도록 제1배선층을 형성하는 제1배선층 형성단계와,
상기 제1패시베이션층 및 상기 제1배선층 상에 제2패시베이션층을 형성하는 제2패시베이션층 형성단계와,
상기 마이크로 LED 칩의 상기 제1배선층 상면의 일부가 노출되게 상기 제2패시베이션층 일부를 에칭하여 제거하는 제3차 에칭단계와;
상기 제2패시베이션층에 상기 제1배선층과 전기적으로 연결되도록 제2배선층을 형성하는 제2배선층 형성단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.
a first transfer step of transferring the micro LED chip formed on the growth substrate to be disposed on the first surface of the intermediate substrate; an inspection step of inspecting the micro LED chip transferred to the intermediate substrate; a replacement step of removing the defective micro LED chips selected in the inspection step from the intermediate substrate and replacing them with good micro LED chips; a fixing step of fixing the micro LED chip on the intermediate substrate to the intermediate substrate; a wiring step of forming a wiring part on the micro LED chip fixed to the intermediate substrate; In the micro LED display manufacturing method comprising a; second transfer step of transferring only the micro LED chips from the intermediate substrate onto a rear substrate functioning as a backplane,
The wiring step is
A first passivation layer forming step of forming a first passivation layer to surround the first surface of the intermediate substrate and the micro LED chip;
A photoresist layer forming step of forming a photoresist layer on the first passivation layer above the micro LED chip to have a larger area than the micro LED chip;
A first etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer;
A photoresist layer removal step of removing the photoresist layer;
A second etching step of etching and removing a portion of the first passivation layer so that the electrode and upper surface of the micro LED chip are all exposed to the outside;
A first wiring layer forming step of forming a first wiring layer to be electrically connected to the electrode of the micro LED chip;
a second passivation layer forming step of forming a second passivation layer on the first passivation layer and the first wiring layer;
a third etching step of etching and removing a portion of the second passivation layer so that a portion of the upper surface of the first wiring layer of the micro LED chip is exposed;
and a second wiring layer forming step of forming a second wiring layer on the second passivation layer to be electrically connected to the first wiring layer.
제1항에 있어서,
상기 제2차 에칭단계는
상기 제1패시베이션층이 경화 도중 변형되면서 상기 제1패시베이션층과 상기 마이크로 LED 칩의 계면 부근에서 상기 제1배선층이 단절되는 것을 방지할 수 있도록 상기 마이크로 LED 칩의 상면과 상기 제1패시베이션층의 상면 사이의 거리가 상기 제1배선층의 두께보다 작아지도록 상기 제1패시베이션층을 제거하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.
According to claim 1,
The second etching step is
The top surface of the micro LED chip and the top surface of the first passivation layer may be prevented from being disconnected near the interface between the first passivation layer and the micro LED chip while the first passivation layer is deformed during curing. The method of manufacturing a micro LED display, characterized in that by removing the first passivation layer so that the distance between them is smaller than the thickness of the first wiring layer.
제1항에 있어서,
상기 제2배선층은
상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제1접속전극과 접속되는 제2양극배선층과,
상기 제2패시베이션층 상에 노출되도록 형성되고, 상기 후면기판의 제2접속전극과 접속되는 제2음극배선층을 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.
According to claim 1,
The second wiring layer is
a second anode wiring layer formed to be exposed on the second passivation layer and connected to the first connection electrode of the rear substrate;
A micro LED display manufacturing method comprising a second cathode wiring layer formed to be exposed on the second passivation layer and connected to the second connection electrode of the rear substrate.
제1항에 있어서,
상기 제1패시베이션층은 블랙 매트릭스(black matrix)를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.
According to claim 1,
The first passivation layer is a micro LED display manufacturing method, characterized in that it comprises a black matrix (black matrix).
제1항에 있어서,
상기 제2전사단계는
상기 제2배선층 상에 백플레인으로 기능하는 후면기판을 전기적으로 연결시키는 연결단계와,
상기 마이크로 LED 칩과 상기 중간기판 상호간 결합력을 약화 또는 해제시킬 수 있도록 상기 중간기판 측에서 상기 중간기판과 마이크로 LED 칩의 계면 및 상기 중간기판과 제1패시베이션층의 계면을 향해 레이저를 일정 시간 조사한 후에 마이크로 LED 칩과 제1패시베이션층을 중간기판으로부터 분리시키는 분리단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 LED 디스플레이 제조방법.
According to claim 1,
The second transfer step is
A connection step of electrically connecting a rear substrate functioning as a backplane on the second wiring layer;
After irradiating a laser toward the interface between the intermediate substrate and the micro LED chip and the interface between the intermediate substrate and the first passivation layer from the side of the intermediate substrate for a predetermined time to weaken or release the bonding force between the micro LED chip and the intermediate substrate, A micro LED display manufacturing method comprising a separation step of separating the micro LED chip and the first passivation layer from the intermediate substrate.
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Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200004688A (en) 2018-07-04 2020-01-14 주식회사 루멘스 Micro led display module
KR20200026777A (en) 2019-11-29 2020-03-11 엘지전자 주식회사 Display device using semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
KR102225498B1 (en) 2020-03-12 2021-03-10 (주)라이타이저 Led chip transferring method and adevice using foam, manufacturing method of display apparatus using the same

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