KR20230092632A - Display device and manufacturing method thereof - Google Patents
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- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/20—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
- H10K71/231—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers
- H10K71/236—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers using printing techniques, e.g. applying the etch liquid using an ink jet printer
Abstract
오탄착된 잉크를 용이하게 제거할 수 있는 표시 장치의 제조 방법이 제공된다. 상기 기판 처리 방법은 베이스 상에, 잉크 토출 영역을 정의하는 뱅크를 형성하고, 상기 뱅크 상에 희생 패턴을 형성하고, 상기 잉크 토출 영역 상에 잉크를 토출하고, 상기 잉크 토출 영역의 잉크 상에 제1 캡핑 패턴을 형성하고 상기 희생 패턴 상에 제2 캡핑 패턴을 형성하고, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하여, 상기 뱅크의 상면을 노출하는 것을 포함한다.A method for manufacturing a display device capable of easily removing misplaced ink is provided. The substrate processing method includes forming a bank defining an ink ejection area on a base, forming a sacrificial pattern on the bank, ejecting ink on the ink ejection area, and forming a layer on the ink in the ink ejection area. The method may include forming a first capping pattern, forming a second capping pattern on the sacrificial pattern, and exposing the top surface of the bank by removing the sacrificial pattern and the second capping pattern.
Description
본 발명은 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a display device and a manufacturing method thereof.
액정 표시 장치(Liquid Crystal Display Device, LCD), 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting diode Display Device, OLED) 등의 표시 장치를 제조하기 위해, 잉크를 토출하는 프린팅 공정을 수행할 수 있다.In order to manufacture a display device such as a Liquid Crystal Display Device (LCD) or an Organic Light Emitting Diode Display Device (OLED), a printing process of discharging ink may be performed.
한편, 잉크는 픽셀 영역에 프린팅되어야 한다. 그런데, 잉크가 픽셀 영역 이외의 영역에 오탄착될 수 있는데, 이는 후공정에서 불량을 발생시킬 수 있다. 따라서, 리페어 공정을 통해서 오탄착된 잉크를 제거한다. 예를 들어, 레이저(laser)를 이용하여 오탄착된 잉크를 제거할 수 있다.On the other hand, ink must be printed in the pixel area. However, ink may be erroneously landed on an area other than the pixel area, which may cause a defect in a subsequent process. Therefore, misplaced ink is removed through the repair process. For example, misplaced ink may be removed using a laser.
그런데, 오탄착된 잉크의 개수가 많아질수록 리페어 공정 시간이 증가한다. 또한, 오탄착된 잉크의 개수가 기설정된 개수를 벗어나면, 리페어하지 않고 기판 전체를 불량 처리한다. 해상도가 높아질수록 픽셀의 개수가 증가하므로, 오탄착되는 잉크의 개수가 더 많아질 수 있다.However, as the number of misplaced inks increases, the repair process time increases. In addition, if the number of misplaced inks exceeds the preset number, the entire substrate is treated as defective without repair. Since the number of pixels increases as the resolution increases, the number of misplaced ink may increase.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 오탄착된 잉크를 용이하게 제거할 수 있는 표시 장치의 제조 방법을 제공하는 것이다. An object to be solved by the present invention is to provide a method for manufacturing a display device capable of easily removing misplaced ink.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는, 상기 제조 방법에 의해 제조된 표시 장치를 제공하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide a display device manufactured by the above manufacturing method.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The tasks of the present invention are not limited to the tasks mentioned above, and other tasks not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 표시 장치의 제조 방법의 일 면(aspect)은, 베이스 상에, 잉크 토출 영역을 정의하는 뱅크를 형성하고, 상기 뱅크 상에 희생 패턴을 형성하고, 상기 잉크 토출 영역 상에 잉크를 토출하고, 상기 잉크 토출 영역의 잉크 상에 제1 캡핑 패턴을 형성하고 상기 희생 패턴 상에 제2 캡핑 패턴을 형성하고, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하여, 상기 뱅크의 상면을 노출하는 것을 포함한다.One aspect of the manufacturing method of the display device of the present invention for achieving the above object is to form a bank defining an ink ejection area on a base, form a sacrificial pattern on the bank, and eject the ink. ink is ejected on an area, a first capping pattern is formed on the ink in the ink ejection area, a second capping pattern is formed on the sacrificial pattern, and the sacrificial pattern and the second capping pattern are removed, Including exposing the top of the bank.
여기서, 상기 잉크 토출 영역 상에 상기 잉크를 토출하는 것은, 상기 잉크 토출 영역 상에 잉크가 토출되면서 상기 희생 패턴 상에 오탄착된 잉크가 토출되는 것을 포함하고, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하는 것은, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴과 함께, 상기 희생 패턴 상에 오탄착된 잉크가 제거되는 것을 포함한다. Here, the ejection of the ink onto the ink ejection area includes ejecting ink misplaced on the sacrificial pattern while the ink is ejected onto the ink ejection area, and wherein the sacrificial pattern and the second capping pattern are ejected. The removing of the ink may include removing ink misattached on the sacrificial pattern together with the sacrificial pattern and the second capping pattern.
상기 잉크 토출 영역 상에 잉크를 토출하는 것은, 상기 뱅크의 상면이 상기 잉크의 상면보다 높도록 잉크를 토출하는 것을 포함한다. 상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, 상기 희생 패턴의 상면이 상기 제1 캡핑 패턴의 상면보다 높아서 상기 희생 패턴의 측면의 적어도 일부가 노출되는 것을 포함할 수 있다. 또는, 상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, 상기 제1 캡핑 패턴의 상면이 상기 뱅크의 상면보다 낮도록 제1 캡핑 패턴을 형성하는 것을 포함할 수 있다. Discharging the ink onto the ink ejection area may include discharging the ink so that an upper surface of the bank is higher than an upper surface of the ink. Forming the first capping pattern and the second capping pattern may include exposing at least a portion of a side surface of the sacrificial pattern because the top surface of the sacrificial pattern is higher than the top surface of the first capping pattern. Alternatively, forming the first capping pattern and the second capping pattern may include forming the first capping pattern such that a top surface of the first capping pattern is lower than a top surface of the bank.
상기 뱅크는 제1 감광물질을 포함하고, 상기 희생 패턴은 상기 제1 감광물질과 다른 제2 감광물질을 포함하고, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하는 것은, 상기 제1 감광물질에 비해 상기 제2 감광물질에 대한 선택비가 높은 약액을 이용하여 상기 희생 패턴을 제거하고 상기 뱅크는 제거하지 않는 것을 포함한다. 여기서, 상기 약액은 TMAH(Tetramethylammonium hydroxide)일 수 있다. The bank includes a first photosensitive material, the sacrificial pattern includes a second photosensitive material different from the first photosensitive material, and removing the sacrificial pattern and the second capping pattern may The sacrificial pattern may be removed using a chemical solution having a higher selectivity to the second photosensitive material than the second photosensitive material, but the bank may not be removed. Here, the chemical solution may be TMAH (Tetramethylammonium hydroxide).
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴은, 산화막, 질화막 또는 산질화막을 포함할 수 있다. 상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, PECVD(Plasma-enhanced chemical vapor deposition)를 이용하는 것을 포함할 수 있다. The first capping pattern and the second capping pattern may include an oxide layer, a nitride layer, or an oxynitride layer. Forming the first capping pattern and the second capping pattern may include using plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD).
상기 잉크 토출 영역에 형성된 제1 캡핑 패턴의 상면과, 상기 노출된 뱅크의 상면에 추가 캡핑막을 형성하는 것을 더 포함한다. The method may further include forming an additional capping layer on an upper surface of the first capping pattern formed in the ink ejection region and an upper surface of the exposed bank.
상기 뱅크를 형성하기 전에, 상기 베이스 상에 컬러 필터를 형성하는 것을 더 포함한다. The method may further include forming a color filter on the base before forming the bank.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 표시 장치의 제조 방법의 다른 면은, 베이스 상에, 잉크 토출 영역을 정의하는 뱅크를 형성하되, 상기 뱅크는 제1 감광물질을 포함하고, 상기 뱅크 상에 희생 패턴을 형성하되, 상기 희생 패턴은 상기 제1 감광물질과 다른 제2 감광물질을 포함하고, 상기 잉크 토출 영역 상에 양자점 잉크를 토출하되, 상기 희생 패턴 상에는 오탄착된 양자점 잉크가 토출되고, 상기 잉크 토출 영역의 양자점 잉크 상에 제1 캡핑 패턴을 형성하고 상기 희생 패턴 및 오탄착된 양자점 잉크 상에 제2 캡핑 패턴을 형성하되, 상기 희생 패턴의 상면이 상기 제1 캡핑 패턴의 상면보다 높아서 상기 희생 패턴의 측면의 적어도 일부가 노출되고, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하여 상기 희생 패턴 상에 오탄착된 양자점 잉크를 제거하되, 상기 제1 감광물질에 비해 상기 제2 감광물질에 대한 선택비가 높은 약액을 이용하여 제거하는 것을 포함한다. Another aspect of the manufacturing method of the display device of the present invention for achieving the above object is to form a bank defining an ink ejection area on a base, wherein the bank includes a first photosensitive material, and a sacrificial material is formed on the bank A pattern is formed, the sacrificial pattern includes a second photosensitive material different from the first photosensitive material, and quantum dot ink is ejected onto the ink ejection area, wherein misattached quantum dot ink is ejected on the sacrificial pattern. A first capping pattern is formed on the quantum dot ink in the ink ejection area, and a second capping pattern is formed on the sacrificial pattern and the misattached quantum dot ink, so that the upper surface of the sacrificial pattern is higher than the upper surface of the first capping pattern. At least a portion of a side surface of the sacrificial pattern is exposed, and quantum dot ink erroneously deposited on the sacrificial pattern is removed by removing the sacrificial pattern and the second capping pattern, wherein the second photosensitive material is more sensitive to the second photosensitive material than the first photosensitive material. It includes removing using a chemical solution with a high selectivity for
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴은, 산화막, 질화막 또는 산질화막을 포함한다. 상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, PECVD(Plasma-enhanced chemical vapor deposition)를 이용하는 것을 포함한다. The first capping pattern and the second capping pattern include an oxide layer, a nitride layer, or an oxynitride layer. Forming the first capping pattern and the second capping pattern may include using plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD).
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, 상기 제1 캡핑 패턴의 상면이 상기 뱅크의 상면보다 낮도록 제1 캡핑 패턴을 형성하는 것을 포함할 수 있다. Forming the first capping pattern and the second capping pattern may include forming the first capping pattern so that a top surface of the first capping pattern is lower than a top surface of the bank.
상기 약액은 TMAH(Tetramethylammonium hydroxide)일 수 있다. The chemical solution may be TMAH (Tetramethylammonium hydroxide).
상기 다른 과제를 달성하기 위한 본 발명의 표시 장치의 일 면(aspect)은, 베이스 상에 형성되고, 잉크 토출 영역을 정의하는 뱅크; 상기 잉크 토출 영역 상에 형성된 잉크; 상기 잉크 상에 형성된 캡핑 패턴을 포함하고, 상기 캡핑 패턴의 상면은, 상기 뱅크의 상면과 같거나 낮을 수 있다. One aspect of the display device of the present invention for achieving the above object is a bank formed on a base and defining an ink ejection area; ink formed on the ink ejection area; A capping pattern formed on the ink may be included, and an upper surface of the capping pattern may be equal to or lower than an upper surface of the bank.
상기 뱅크의 상면 및 상기 캡핑 패턴의 상면에 설치된 추가 캡핑막을 더 포함할 수 있다.An additional capping layer may be further included on the upper surface of the bank and the upper surface of the capping pattern.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 2 내지 도 7은 도 1의 제조 방법을 설명하기 위한 중간단계 도면들이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 발명의 제3 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 이용하여 제조된 표시 장치의 제1 기판(색변환 기판)를 도시한 단면도이다.
도 11은 도 10에 도시된 제1 기판(색변환 기판)을 이용하여 제조된 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다.1 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a display device according to a first embodiment of the present invention.
2 to 7 are intermediate stage views for explaining the manufacturing method of FIG. 1 .
8 is a diagram for explaining a manufacturing method of a display device according to a second embodiment of the present invention.
9 is a diagram for explaining a manufacturing method of a display device according to a third embodiment of the present invention.
10 is a cross-sectional view illustrating a first substrate (color conversion substrate) of a display device manufactured using a method of manufacturing a display device according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 11 is a cross-sectional view for explaining a display device manufactured using the first substrate (color conversion substrate) shown in FIG. 10 .
12 is a cross-sectional view for explaining a display device according to another exemplary embodiment of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them, will become clear with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below and may be implemented in various different forms, only the present embodiments make the disclosure of the present invention complete, and the common knowledge in the art to which the present invention belongs It is provided to fully inform the holder of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numbers designate like elements throughout the specification.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)" 또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.The spatially relative terms "below", "beneath", "lower", "above", "upper", etc. It can be used to easily describe the correlation between elements or components and other elements or components. Spatially relative terms should be understood as encompassing different orientations of elements in use or operation in addition to the orientations shown in the figures. For example, when flipping elements shown in the figures, elements described as “below” or “beneath” other elements may be placed “above” the other elements. Thus, the exemplary term “below” may include directions of both below and above. Elements may also be oriented in other orientations, and thus spatially relative terms may be interpreted according to orientation.
비록 제1, 제2 등이 다양한 소자, 구성요소 및/또는 섹션들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 소자, 구성요소 및/또는 섹션들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 소자, 구성요소 또는 섹션들을 다른 소자, 구성요소 또는 섹션들과 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 소자, 제1 구성요소 또는 제1 섹션은 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 소자, 제2 구성요소 또는 제2 섹션일 수도 있음은 물론이다.Although first, second, etc. are used to describe various elements, components and/or sections, it is needless to say that these elements, components and/or sections are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one element, component or section from another element, component or section. Accordingly, it goes without saying that the first element, first element, or first section referred to below may also be a second element, second element, or second section within the spirit of the present invention.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어 도면 부호에 상관없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description with reference to the accompanying drawings, the same or corresponding components regardless of reference numerals are given the same reference numerals, Description is omitted.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 2 내지 도 7은 도 1의 제조 방법을 설명하기 위한 중간단계 도면들이다.1 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a display device according to a first embodiment of the present invention. 2 to 7 are intermediate stage views for explaining the manufacturing method of FIG. 1 .
도 1 및 도 2를 참고하면, 베이스(310) 상에, 잉크 토출 영역(또는 투광 영역)(TA1, TA2, TA3)을 정의하는 뱅크(380)를 형성한다(S10).Referring to FIGS. 1 and 2 ,
구체적으로, 베이스(310)는 광이 투과할 수 있는 재질이고, 예를 들어, 유리 기판 또는 플라스틱 기판일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 뱅크(380)는 광을 조사하면 화학 변화를 일으키는 물질(즉, 제1 감광물질)일 수 있다. 예를 들어, 뱅크(380)는 네가티브 포토레지스트(예를 들어, 방향족 비스아지드(bis-azide), 메타크릴산 에스테르(methacrylic acid ester) 등), 파지티브 포토레지스트(예를 들어, 폴리메타크릴산 메틸, 나프트키논디아지드 등)를 포함할 수 있다. 또한, 선택적으로 뱅크(380)는 차광층 역할을 하기 위해, 블랙 매트릭스, 블랙 안료, 금속 물질 등을 포함하거나, 광 효율을 높이기 위해 Al, Ag와 같은 반사성 물질을 포함할 수도 있다.Specifically, the
도 1 및 도 3을 참고하면, 뱅크(380) 상에 희생 패턴(410)을 형성한다(S20).Referring to FIGS. 1 and 3 , a
구체적으로, 뱅크(380)가 형성된 베이스(310) 전면에 희생물질을 형성한다. 여기서, 희생물질은 광을 조사하면 화학 변화를 일으키는 물질(즉, 제2 감광물질)일 수 있다. 희생물질은 네가티브 포토레지스트 또는 파지티브 포토레지스트일 수 있으나, 뱅크(380)를 이루는 제1 감광물질과는 다른 물질일 수 있다. Specifically, a sacrificial material is formed on the entire surface of the base 310 on which the
잉크 토출 영역(TA1, TA2, TA3)에 형성된 희생물질을 제거하고, 뱅크(380) 상에만 희생물질을 남겨서 희생 패턴(410)을 형성한다. 희생물질로 감광물질을 사용하는 경우, 노광 및 현상공정을 통해서, 잉크 토출 영역(TA1, TA2, TA3)에 형성된 희생물질만 선택적으로 제거할 수 있다.The sacrificial material formed in the ink ejection areas TA1 , TA2 , and TA3 is removed, and the sacrificial material is left only on the
도 1 및 도 4를 참고하면, 잉크 토출 영역(TA1, TA2, TA3) 상에 잉크(330, 340, 350)를 토출한다(S30). 예를 들어, 잉크젯 장비를 통해서 제1 잉크(330)를 제1 잉크 토출 영역(TA1)에, 제2 잉크(340)를 제2 잉크 토출 영역(TA2)에, 제3 잉크(350)를 제3 잉크 토출 영역(TA3)에 프린팅할 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 4 ,
예를 들어, 제1 잉크(330)는 청색광 용이고, 제2 잉크(340)는 적색광 용이고, 제3 잉크(350)는 녹색광 용일 수 있다. 예를 들어, 제1 잉크(330)는 청색광을 투과시키고, 제2 잉크(340)는 청색광을 파장 변환 또는 쉬프트하여 적색광으로 만들고, 제3 잉크(350)는 청색광을 파장 변환 또는 쉬프트하여 녹색광으로 만들 수 있다. 이에 대한 자세한 설명은 도 10을 참고하여 후술한다. 제1 잉크(330) 내지 제3 잉크(350) 중 적어도 하나는 양자점을 포함할 수 있다. 여기서, 양자점을 포함하는 잉크를 양자점 잉크라 한다.For example, the
또한, 도시된 것과 같이, 뱅크(380)의 상면이 잉크(330, 340, 350)의 상면보다 높도록, 잉크(330, 340, 350)를 토출한다. 예를 들어, 제1 잉크(330)가 대응되는 제1 잉크 토출 영역(TA1)을 넘어서 이웃하는 제2 잉크 토출 영역(TA2)에 영향을 주는 것을 방지하기 위함이다. 제1 잉크(330)와 제2 잉크(340)는 서로 다른 종류이기 때문에, 제1 잉크(330)와 제2 잉크(340)는 서로 섞이지 않아야 한다. 따라서, 제1 잉크(330)는 제2 잉크 토출 영역(TA2)에 토출되지 않아야 한다. Also, as shown, the
한편, 잉크 토출 영역(TA1, TA2, TA3) 상에 잉크(330, 340, 350)를 토출하면서, 일부의 잉크(330a, 340a)는 잉크 토출 영역(TA1, TA2, TA3) 이외의 영역에 오탄착될 수 있다. 즉, 일부의 잉크(330a, 340a)는 희생 패턴(410) 상에 오탄착될 수 있다.Meanwhile, while the
도 1 및 도 5를 참고하면, 잉크 토출 영역(TA1, TA2, TA3)의 잉크(330, 340, 350) 상에 제1 캡핑 패턴(451)을 형성하고 희생 패턴(410) 상에 제2 캡핑 패턴(452)을 형성한다(S40).Referring to FIGS. 1 and 5 , a
구체적으로, 제2 캡핑 패턴(452)은 희생 패턴(410)의 상면(410u)에 주로 형성되고, 희생 패턴(410)의 측면(410s)에는 거의 형성되지 않는다. 또한, 제1 캡핑 패턴(451)은 희생 패턴(410)보다 높게 형성되지 않는다. 즉, 희생 패턴(410)의 상면(410u)이 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)보다 높다(도면부호 H1 참고). 따라서, 희생 패턴(410)의 측면(410s)의 적어도 일부가 노출된다. Specifically, the
이러한 형태로, 제1 캡핑 패턴(451) 및 제2 캡핑 패턴(452)을 형성하기 위해서, 예를 들어, PECVD(Plasma-enhanced chemical vapor deposition) 방식을 이용할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 제1 캡핑 패턴(451) 및 제2 캡핑 패턴(452)은 예를 들어, 산화막, 질화막 또는 산질화막일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. To form the
도시된 것과 같이, 희생 패턴(410) 상에 일부 잉크(330a, 340a)가 오탄착되어 있기 때문에, 제2 캡핑 패턴(452)을 희생 패턴(410) 상에 형성하면, 희생 패턴(410)와 제2 캡핑 패턴(452) 사이에, 오탄착된 잉크(330a, 340a)가 위치할 수 있다.As shown, since some of the
도 1, 도 6 및 도 7을 참고하면, 희생 패턴(410) 및 제2 캡핑 패턴(452)을 제거하여(도 6 참고), 뱅크(380)의 상면(380u)을 노출한다(도 7 참고). Referring to FIGS. 1, 6, and 7, the
구체적으로, 약액을 이용하여 희생 패턴(410)을 제거할 수 있다. 희생 패턴(410)을 제거함에 따라, 희생 패턴(410) 상의 제2 캡핑 패턴(452)도 같이 제거된다. 희생 패턴(410)와 제2 캡핑 패턴(452) 사이에 위치하던, 오탄착된 잉크(330a, 340a)도 같이 제거된다. Specifically, the
여기서, 희생 패턴(410)을 제거하는 약액은, 뱅크(380)에 비해서 희생 패턴(410)에 대한 선택비가 높은 약액을 사용한다. 즉, 뱅크(380)가 제1 감광물질을 포함하고 희생 패턴(410)이 제2 감광물질을 포함하는 경우, 약액은 제1 감광물질에 비해 제2 감광물질에 대한 선택비가 높아야 한다. 예를 들어, 약액은 TMAH(Tetramethylammonium hydroxide)일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. Here, as the chemical solution for removing the
도 5에서 설명한 것과 같이, 희생 패턴(410)의 상면(410u)이 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)보다 높고, 또는 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)은 뱅크(380)의 상면(380u)과 같거나, 뱅크(380)의 상면(380u)보다 낮게 배치되어 있다. 이에 따라, 희생 패턴(410)의 측면(410s)의 적어도 일부가 노출되어 있기 때문에, 약액에 의해서 희생 패턴(410)을 용이하게 제거할 수 있다. As described in FIG. 5 , the
뿐만 아니라, 잉크(330, 340, 350) 상에는 제1 캡핑 패턴(451)이 배치되어 있기 때문에, 약액에 의해서 잉크(330, 340, 350)가 손상되지 않는다.In addition, since the
본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법에 따르면, 희생 패턴(410)을 이용하여 오탄착된 잉크(330a, 340a)를 용이하게 제거할 수 있다. 레이저 등을 이용한 별도의 리페어 공정을 사용하지 않거나, 최소화할 수 있기 때문에, 리페어 공정 시간 증가에 따른 수율 저하를 방지할 수 있다. According to the manufacturing method of the display device according to the first embodiment of the present invention, the
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. 설명의 편의상, 도 1 내지 도 7을 이용하여 설명한 것과 다른 점을 위주로 설명한다.8 is a diagram for explaining a manufacturing method of a display device according to a second embodiment of the present invention. For convenience of explanation, the description will focus on differences from those described with reference to FIGS. 1 to 7 .
본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법에서, 도 1의 S40 단계와 관련해서, 잉크(330, 340, 350) 상에 제1 캡핑 패턴(451)을 형성할 때, 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)과 뱅크(380)의 상면(380u)은 동일 높이에 위치할 수 있다(도 5 참고). 따라서, 희생 패턴(410)이 제거된 후에도, 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)과 뱅크(380)의 상면(380u)은 동일 높이에 위치할 수 있다(도 7 참고).In the manufacturing method of the display device according to the first embodiment of the present invention, when forming the
반면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법에서, 도 1의 S40 단계에서, 잉크(330, 340, 350) 상에 제1 캡핑 패턴(451)을 형성할 때, 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)이 뱅크(380)의 상면(380u)보다 낮게 형성될 수 있다. 이와 같이 제1 캡핑 패턴(451)을 형성하면, 뱅크(380)와 희생 패턴(410) 사이의 경계면이 노출되기 때문에, 희생 패턴(410)을 제거할 때, 약액에 의해서 희생 패턴(410)이 더 용이하게 제거될 수 있다. 희생 패턴(410)을 제거하면, 도 8과 같은 단면이 형성될 수 있다. 즉, 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)과, 뱅크(380)의 상면(380u)은 소정 높이(H2)만큼 차이날 수 있다.On the other hand, in the manufacturing method of the display device according to the second exemplary embodiment of the present invention, when forming the
도 9는 본 발명의 제3 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. 설명의 편의상, 도 1 내지 도 7을 이용하여 설명한 것과 다른 점을 위주로 설명한다.9 is a diagram for explaining a manufacturing method of a display device according to a third embodiment of the present invention. For convenience of explanation, the description will focus on differences from those described with reference to FIGS. 1 to 7 .
도 9를 참고하면, 도 7의 결과물 상에, 추가 캡핑막(393)을 형성할 수 있다. 즉, 노출된 뱅크(380)의 상면(380u)와, 제1 캡핑 패턴(451)의 상면(451u)에 추가 캡핑막(393)을 형성할 수 있다. 추가 캡핑막(393)은 산화막, 질화막 또는 산질화막일 수 있다. 제1 캡핑 패턴(451)과 추가 캡핑막(393)이 모두 무기물이면, 제1 캡핑 패턴(451)과 추가 캡핑막(393)이 접하는 부분은 무기-무기 결합이 이루어질 수 있고, 외부로부터 수분이나 공기가 유입되는 것을 효과적으로 차단할 수 있다. Referring to FIG. 9 , an
도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 이용하여 제조된 표시 장치의 일부를 도시한 단면도이다. 도 10은 표시 장치 중 제1 기판(또는 색변환 기판)(30a)을 도시한 것이다. 10 is a cross-sectional view of a portion of a display device manufactured using a method of manufacturing a display device according to a third exemplary embodiment of the present invention. 10 illustrates the first substrate (or color conversion substrate) 30a of the display device.
도 10을 참고하면, 베이스(310)에는 제1 투광 영역(TA1), 제2 투광 영역(TA2), 제3 투광 영역(TA3), 제1 차광 영역(BA1), 제2 차광 영역(BA2), 제3 차광 영역(BA3)가 정의된다. 제1 내지 제3 투광 영역(TA1~TA3)은 도 2의 잉크 토출 영역(TA1~TA3)에 대응된다.Referring to FIG. 10 , the
베이스(310) 상에는 제1 컬러 필터(231), 제2 컬러 필터(233) 및 제3 컬러 필터(235)가 배치된다.A
제1 투광 영역(TA1)에 배치된 제1 컬러 필터(231)은, 제1색의 광(예컨대, 청색광)을 선택적으로 투과시키고 제2색의 광(예컨대, 적색광) 및 제3색의 광(예컨대, 녹색광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 제1 컬러 필터(231)는 청색 컬러필터(blue color filter)일 수 있으며, 청색염료(blue dye) 또는 청색안료(blue pigment)와 같은 청색의 색재(blue colorant)를 포함할 수 있다. 본 명세서에서 색재(colorant)란, 염료(dye) 및 안료(pigment)를 모두 포함하는 개념이다.The
제2 투광 영역(TA2)에 배치된 제2 컬러 필터(233)은, 제1색의 광(예컨대, 청색광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 즉, 제2 컬러 필터(233)는 청색광을 차단하는 청색광 차단 필터로 기능할 수 있다. 제2 컬러 필터(233)는 제2색의 광(예컨대, 적색광)을 선택적으로 투과시키고 제1색의 광(예컨대, 청색광) 및 제3색의 광(예컨대, 녹색광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 제2 컬러 필터(233)는 적색 컬러필터(red color filter)일 수 있으며, 적색염료(red dye) 또는 적색안료(red pigment)와 같은 적색의 색재(red colorant)를 포함할 수 있다.The
제3 투광 영역(TA3)에 배치된 제3 컬러 필터(235)은, 상기 제1색의 광(예컨대, 청색광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 즉, 제3 컬러 필터(235)도 청색광 차단 필터로 기능할 수 있다. 제3 컬러 필터(235)는 제3색의 광(예컨대, 녹색광)을 선택적으로 투과시키고 제1색의 광(예컨대, 청색광) 및 제2색의 광(예컨대, 적색광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 제3 컬러 필터(235)는 녹색 컬러필터(green color filter)일 수 있으며, 녹색염료(green dye) 또는 녹색안료(green pigment)와 같은 녹색의 색재(green colorant)를 포함할 수 있다.The
컬러 패턴(251, 252, 253)은 제1 내지 제3 차광 영역(BA1~BA3) 상에 형성된다. 컬러 패턴(251, 252, 253)은 제1 컬러 필터(231)와 동일 물질일 수 있고, 제1 컬러 필터(231)와 동일 레벨에 설치될 수 있다.The
컬러 패턴(251, 252, 253) 상에는 제1 내지 제3 차광 부재(221, 222, 223)이 형성될 수 있다. First to third
제1 캡핑층(391)은 제1 내지 제3 컬러 필터(231, 233, 235), 제1 내지 제3 차광 부재(221, 222, 223) 상에 컨포말하게 형성될 수 있다. 제1 캡핑층(391)은 외부로부터 수분 또는 공기 등의 불순물이 침투하여 컬러 패턴(251, 252, 253), 제1 내지 제3 차광 부재(221, 222, 223) 등을 손상시키거나 오염시키는 것을 방지할 수 있다. 또한 제1 캡핑층(391)은 제1 컬러 필터(231), 제2 컬러 필터(233) 및 제3 컬러 필터(235)에 포함된 색재가 제1 컬러 필터(231), 제2 컬러 필터(233) 및 제3 컬러 필터(235)와 다른 구성, 예컨대 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 파장 변환 패턴(350) 등으로 확산되는 것을 방지할 수 있다. 몇몇 실시예에서 제1 캡핑층(391)은 무기물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제1 캡핑층(391)은 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 티타늄 산화물, 주석 산화물, 세륨 산화물 및 실리콘 산질화물 등을 포함하여 이루어질 수 있다.The
뱅크(380)은 제1 내지 제3 차광 영역(BA1~BA3) 상에 위치할 수 있다. 뱅크(380)의 평면 형상은 격자 형상일 수 있다.The
제1 투광 영역(TA1)의 제1 컬러 필터(231) 상에는 광투과 패턴(330)(도 4의 제1 잉크(330)에 대응됨)이 형성된다. 광투과 패턴(330)은 제1 베이스 수지(331)와 제1 산란체(333)로 이루어질 수 있다. 제1 베이스 수지(331)는 광 투과율이 높은 재료로 이루어지고, 예를 들어, 에폭시계 수지, 아크릴계 수지, 카도계 수지 또는 이미드계 수지 등의 유기 재료일 수 있다. 제1 산란체(333)는 광 산란 입자일 수 있고, 예를 들어, 금속 산화물 입자 또는 유기 입자일 수 있다. 금속 산화물로는 산화 티타늄(TiO2), 산화 지르코늄(ZrO2), 산화 알루미늄(Al2O3), 산화 인듐(In2O3), 산화 아연(ZnO) 또는 산화 주석(SnO2) 등을 예시할 수 있고, 유기입자의 재료로는 아크릴계 수지 또는 우레탄계 수지 등을 예시할 수 있다. 제1 산란체(333)는 광투과 패턴(330)을 투과하는 광의 파장을 실질적으로 변환시키지 않으면서 입사광의 입사 방향과 무관하게 랜덤한 방향으로 광을 산란시킬 수 있다.A light transmission pattern 330 (corresponding to the
광투과 패턴(330)은 입사광을 투과시킬 수 있다. 입사광은 광투과 패턴(330) 및 제1 컬러 필터(231)을 통과하면서, 적색광/녹색광 성분은 필터링되어 청색광으로 출사될 수 있다.The
제2 투광 영역(TA2)의 제2 컬러 필터(233) 상에는 제1 파장 변환 패턴(340)(도 4의 제2 잉크(340)에 대응됨)이 형성된다. 제1 파장 변환 패턴(340)은 제2 베이스 수지(341), 제2 산란체(343), 제1 파장 시프터(345)를 포함한다.A first wavelength conversion pattern 340 (corresponding to the
제2 베이스 수지(341)는 제1 베이스 수지(331)와 동일한 물질이거나, 제1 베이스 수지(331)의 구성물질로 예시된 물질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제2 산란체(343)도 제1 산란체(333)와 동일한 물질이거나, 제1 산란체(333)의 구성물질로 예시된 물질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The
제1 파장 시프터(345)는 입사광의 피크 파장을 다른 특정 피크 파장으로 변환 또는 시프트시킬 수 있다. 제1 파장 시프터(345)는 입사광(예를 들어, 청색광)을 약 610nm 내지 약 650nm 범위에서 단일 피크 파장을 갖는 적색광으로 변환하여 방출할 수 있다.The
제1 파장 시프터(345)의 예로는 양자점, 양자 막대 또는 형광체 등을 들 수 있다. 예를 들어 양자점은 전자가 전도대에서 가전자대로 전이하면서 특정한 색을 방출하는 입자상 물질일 수 있다.Examples of the
상기 양자점은 반도체 나노 결정 물질일 수 있다. 상기 양자점은 그 조성 및 크기에 따라 특정 밴드갭을 가져 빛을 흡수한 후 고유의 파장을 갖는 광을 방출할 수 있다. 상기 양자점의 반도체 나노 결정의 예로는 IV족계 나노 결정, II-VI족계 화합물 나노 결정, III-V족계 화합물 나노 결정, IV-VI족계 나노 결정 또는 이들의 조합 등을 들 수 있다.The quantum dots may be semiconductor nanocrystal materials. The quantum dots may have a specific bandgap according to their composition and size, absorb light, and then emit light having a unique wavelength. Examples of the quantum dot semiconductor nanocrystal include group IV nanocrystals, group II-VI compound nanocrystals, group III-V compound nanocrystals, group IV-VI nanocrystals, or combinations thereof.
II-VI족 화합물은 CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; InZnP, AgInS, CuInS, CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe, HgZnTe, MgZnSe, MgZnS 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다.The group II-VI compound is a binary element compound selected from the group consisting of CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe, MgSe, MgS, and mixtures thereof; InZnP, AgInS, CuInS, CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe, HgZnTe, MgZn With Se, MgZnS and their mixtures A three-element compound selected from the group consisting of; And it may be selected from the group consisting of quaternary compounds selected from the group consisting of HgZnTeS, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe, and mixtures thereof.
III-V족 화합물은 GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InGaP, InNP, InAlP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다.Group III-V compound is a binary element compound selected from the group consisting of GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb and mixtures thereof; A ternary compound selected from the group consisting of GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InGaP, InNP, InAlP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP, and mixtures thereof; and a quaternary compound selected from the group consisting of GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb, and mixtures thereof.
IV-VI족 화합물은 SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물; SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 삼원소 화합물; 및 SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 원소로는 Si, Ge 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. IV족 화합물로는 SiC, SiGe 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 이원소 화합물일 수 있다.Group IV-VI compounds are SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe, and a binary element compound selected from the group consisting of mixtures thereof; a ternary compound selected from the group consisting of SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe, and mixtures thereof; And it may be selected from the group consisting of quaternary compounds selected from the group consisting of SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe, and mixtures thereof. Group IV elements may be selected from the group consisting of Si, Ge, and mixtures thereof. The group IV compound may be a binary element compound selected from the group consisting of SiC, SiGe, and mixtures thereof.
이때, 이원소 화합물, 삼원소 화합물 또는 사원소 화합물은 균일한 농도로 입자 내에 존재하거나, 농도 분포가 부분적으로 다른 상태로 나누어져 동일 입자 내에 존재하는 것일 수 있다. 또한 하나의 양자점이 다른 양자점을 둘러싸는 코어/쉘 구조를 가질 수도 있다. 코어와 쉘의 계면은 쉘에 존재하는 원소의 농도가 중심으로 갈수록 낮아지는 농도 구배(gradient)를 가질 수 있다.In this case, the two-element compound, the three-element compound, or the quaternary element compound may be present in the particle at a uniform concentration or may be present in the same particle in a state in which the concentration distribution is partially different. Also, one quantum dot may have a core/shell structure surrounding another quantum dot. The interface between the core and the shell may have a concentration gradient in which the concentration of elements present in the shell decreases toward the center.
몇몇 실시예에서, 양자점은 전술한 나노 결정을 포함하는 코어 및 상기 코어를 둘러싸는 쉘을 포함하는 코어-쉘 구조를 가질 수 있다. 상기 양자점의 쉘은 상기 코어의 화학적 변성을 방지하여 반도체 특성을 유지하기 위한 보호층 역할 및/또는 양자점에 전기 영동 특성을 부여하기 위한 차징층(charging layer)의 역할을 수행할 수 있다. 상기 쉘은 단층 또는 다중층일 수 있다. 코어와 쉘의 계면은 쉘에 존재하는 원소의 농도가 중심으로 갈수록 낮아지는 농도 구배(gradient)를 가질 수 있다. 상기 양자점의 쉘의 예로는 금속 또는 비금속의 산화물, 반도체 화합물 또는 이들의 조합 등을 들 수 있다.In some embodiments, the quantum dot may have a core-shell structure including a core including the aforementioned nanocrystal and a shell surrounding the core. The shell of the quantum dots may serve as a protective layer for maintaining semiconductor properties by preventing chemical deterioration of the core and/or as a charging layer for imparting electrophoretic properties to the quantum dots. The shell may be monolayer or multilayer. The interface between the core and the shell may have a concentration gradient in which the concentration of elements present in the shell decreases toward the center. Examples of the quantum dot shell include metal or non-metal oxides, semiconductor compounds, or combinations thereof.
예를 들어, 상기 금속 또는 비금속의 산화물은 SiO2, Al2O3, TiO2, ZnO, MnO, Mn2O3, Mn3O4, CuO, FeO, Fe2O3, Fe3O4, CoO, Co3O4, NiO 등의 이원소 화합물, 또는 MgAl2O4, CoFe2O4, NiFe2O4, CoMn2O4등의 삼원소 화합물을 예시할 수 있으나 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.For example, the metal or nonmetal oxide may be SiO2, Al2O3, TiO2, ZnO, MnO, Mn2O3, Mn3O4, CuO, FeO, Fe2O3, Fe3O4, CoO, Co3O4, NiO, or a binary element compound such as MgAl2O4, CoFe2O4, or NiFe2O4. , CoMn 2 O 4 and the like can be exemplified, but the present invention is not limited thereto.
또한, 상기 반도체 화합물은 CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnSeS, ZnTeS, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, InAs, InP, InGaP, InSb, AlAs, AlP, AlSb등을 예시할 수 있으나 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.In addition, examples of the semiconductor compound include CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnSeS, ZnTeS, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, InAs, InP, InGaP, InSb, AlAs, AlP, AlSb, and the like. However, the present invention is not limited thereto.
제3 투광 영역(TA3)의 제3 컬러 필터(235) 상에는 제2 파장 변환 패턴(350)(도 4의 제3 잉크(350)에 대응됨)이 형성된다.A second wavelength conversion pattern 350 (corresponding to the
제2 파장 변환 패턴(350)은 제3 베이스 수지(351), 제3 산란체(353), 제2 파장 시프터(355)를 포함한다.The second
제3 베이스 수지(351)는 제1 베이스 수지(331)와 동일한 물질이거나, 제1 베이스 수지(331)의 구성물질로 예시된 물질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제3 산란체(353)도 제1 산란체(333)와 동일한 물질이거나, 제1 산란체(333)의 구성물질로 예시된 물질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The
제2 파장 시프터(355)는 입사광의 피크 파장을 다른 특정 피크 파장으로 변환 또는 시프트시킬 수 있다. 제2 파장 시프터(355)는 입사광(예를 들어, 청색광)을 약 510nm 내지 550nm 범위의 피크 파장을 갖는 녹색광으로 변환하여 방출할 수 있다.The
제2 파장 시프터(355)의 예로는 양자점, 양자 막대 또는 형광체 등을 들 수 있다. 예를 들어 양자점은 전자가 전도대에서 가전자대로 전이하면서 특정한 색을 방출하는 입자상 물질일 수 있다.Examples of the
광투과 패턴(330), 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 파장 변환 패턴(350) 상에는, 각각 제1 캡핑 패턴(451)이 형성된다. 제1 캡핑 패턴(451)의 상면은 뱅크(380)의 상면과 같거나, 낮게 배치될 수 있다. 제1 캡핑 패턴(451)과, 광투과 패턴(330), 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 파장 변환 패턴(350) 상에는 제2 캡핑층(393)(도 9의 추가 캡핑막(393)에 대응됨)이 위치할 수 있다. A
제1 캡핑 패턴(451) 및 제2 캡핑층(393)은 광투과 패턴(330), 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 파장 변환 패턴(350)을 밀봉할 수 있다. 이에 따라 외부로부터 수분 또는 공기 등의 불순물이 침투하여 광투과 패턴(330), 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 파장 변환 패턴(350)을 손상시키거나 오염시키는 것을 방지할 수 있다. The
도 11은 도 10에 도시된 제1 기판(색변환 기판)을 이용하여 제조된 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다. FIG. 11 is a cross-sectional view for explaining a display device manufactured using the first substrate (color conversion substrate) shown in FIG. 10 .
도 11을 참고하면, 도 10을 이용하여 설명한 제1 기판(30a)과, 영상을 표시하기 위한 회로가 형성된 제2 기판(10)이 서로 결합된다. 제1 기판(30a)과 제2 기판(10) 사이의 공간에는 충진제(70)가 위치할 수 있다.Referring to FIG. 11 , the
제1 기판(30a)는 도 10을 이용하여 설명하였으므로, 설명을 생략한다. Since the
제2 기판(10)에 대해서 설명하면, 제2 기판(10)에서, 베이스(110)에는 제1 발광 영역(LA1), 제2 발광 영역(LA2), 제3 발광 영역(LA3), 비발광 영역(NLA)이 정의된다. 제1 발광 영역(LA1), 제2 발광 영역(LA2), 제3 발광 영역(LA3)은 제1 기판(30a)의 제1 내지 제3 투광 영역(TA1~TA3)에 대응되고, 비발광 영역(NLA)은 제1 기판(30a)의 차광 영역(BA1~BA3)에 대응된다.Referring to the
제1 발광 영역(LA1)에는 제1 스위칭 소자(T1)와 제1 발광 소자(ED1)가 위치하고, 제2 발광 영역(LA2)에는 제2 스위칭 소자(T2)와 제2 발광 소자(ED2)가 위치하고, 제3 발광 영역(LA3)에는 제3 스위칭 소자(T3)와 제3 발광 소자(ED3)가 위치한다.The first switching element T1 and the first light emitting element ED1 are positioned in the first light emitting region LA1, and the second switching element T2 and the second light emitting element ED2 are positioned in the second light emitting region LA2. and the third switching element T3 and the third light emitting element ED3 are located in the third light emitting region LA3.
제1 발광소자(ED1)는 제1 애노드 전극(AE1), 발광층(OL) 및 캐소드 전극(CE)을 포함하고, 제2 발광소자(ED2)는 제2 애노드 전극(AE2), 발광층(OL) 및 캐소드 전극(CE)을 포함하고, 제3 발광소자(ED3)은 제3 애노드 전극(AE3), 발광층(OL) 및 캐소드 전극(CE)을 포함한다.The first light emitting device ED1 includes a first anode electrode AE1, a light emitting layer OL, and a cathode electrode CE, and the second light emitting device ED2 includes a second anode electrode AE2 and a light emitting layer OL. and a cathode electrode CE, and the third light emitting element ED3 includes a third anode electrode AE3, an emission layer OL, and a cathode electrode CE.
제1 스위칭 소자(T1), 제2 스위칭 소자(T2) 및 제3 스위칭 소자(T3) 상에는 절연막(130)이 위치할 수 있다. 몇몇 실시예에서 절연막(130)은 평탄화막일 수 있다. An insulating
절연막(130) 상에는 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3)이 위치한다. 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3) 상에는 화소정의막(150)이 위치할 수 있다. 화소정의막(150)은 제1 애노드 전극(AE1)을 노출하는 개구부, 제2 애노드 전극(AE2)을 노출하는 개구부 및 제3 애노드 전극(AE3)을 노출하는 개구부를 포함할 수 있으며, 제1발광영역(LA1), 제2발광영역(LA2), 제3발광영역(LA3) 및 비발광 영역(NLA)을 정의할 수 있다. A first anode electrode AE1 , a second anode electrode AE2 , and a third anode electrode AE3 are positioned on the insulating
절연막(130) 위에는 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3)이 위치할 수 있다. 제1 애노드 전극(AE1)은 제1발광영역(LA1) 내에 위치하되 적어도 일부는 비발광 영역(NLA)까지 확장될 수 있다. 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3)은 반사형 전극일 수 있고, 이 경우에 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3)은 Ag, Mg, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir 및 Cr와 같은 금속을 포함하는 금속층일 수 있다. 다른 실시예에서는, 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3)은 상기 금속층 위에 적층된 금속 산화물층을 더 포함할 수 있다. 예시적인 실시예에서 제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3)은 ITO/Ag, Ag/ITO, ITO/Mg, ITO/MgF의 2층 구조 또는 ITO/Ag/ITO와 같은 다중층의 구조를 가질 수도 있다.A first anode electrode AE1 , a second anode electrode AE2 , and a third anode electrode AE3 may be positioned on the insulating
제1 애노드 전극(AE1), 제2 애노드 전극(AE2) 및 제3 애노드 전극(AE3) 상에는 발광층(OL)이 위치할 수 있다. 발광층(OL)은 복수의 발광 영역(LA1, LA2, LA3, LA4, LA5, LA6) 및 비발광 영역(NLA)에 걸쳐 형성된 연속된 막의 형상을 가질 수 있다.An emission layer OL may be positioned on the first anode electrode AE1 , the second anode electrode AE2 , and the third anode electrode AE3 . The light emitting layer OL may have a shape of a continuous film formed over a plurality of light emitting areas LA1 , LA2 , LA3 , LA4 , LA5 , and LA6 and a non-light emitting area NLA.
캐소드 전극(CE)은 반투과성 또는 투과성을 가질 수 있다. 캐소드 전극(CE)이 상기 반투과성을 갖는 경우에, 캐소드 전극(CE)은 Ag, Mg, Cu, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, LiF/Ca, LiF/Al, Mo, Ti 또는 이들의 화합물이나 혼합물, 예를 들어 Ag와 Mg의 혼합물을 포함할 수 있다. 또한, 캐소드 전극(CE)의 두께가 수십 내지 수백 옹스트롬인 경우에, 캐소드 전극(CE)은 반투과성을 가질 수 있다.The cathode electrode CE may have semi-transmissive or transmissive properties. When the cathode electrode CE has the above semi-permeability, the cathode electrode CE is Ag, Mg, Cu, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, LiF/Ca, LiF /Al, Mo, Ti or compounds or mixtures thereof, such as Ag and Mg. In addition, when the thickness of the cathode electrode CE is several tens to hundreds of angstroms, the cathode electrode CE may have semi-permeability.
캐소드 전극(CE)이 투과성을 갖는 경우, 캐소드 전극(CE)은 투명한 도전성 산화물(transparent conductive oxide, TCO)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 캐소드 전극(CE)은 WxOx(tungsten oxide), TiO2(Titanium oxide), ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), ZnO(zinc oxide), ITZO(indium tin zinc oxide), MgO(magnesium oxide) 등을 포함할 수 있다.When the cathode electrode CE has transparency, the cathode electrode CE may include transparent conductive oxide (TCO). For example, the cathode electrode CE may be WxOx (tungsten oxide), TiO2 (titanium oxide), ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), ZnO (zinc oxide), ITZO (indium tin zinc oxide), MgO (magnesium oxide) and the like may be included.
발광층(OL)에서 출사되는 광(L1)은 청색광이며, 장파장 성분, 중간파장 성분 및 단파장 성분을 포함한다. 따라서 최종적으로 발광층(OL)은 광(L1)으로서 좀 더 넓게 분포(broad)된 발광 피크(peak)를 가지는 청색광을 출사할 수 있게 된다. The light L1 emitted from the light emitting layer OL is blue light and includes a long wavelength component, a medium wavelength component, and a short wavelength component. Therefore, finally, the light emitting layer OL can emit blue light having a broader emission peak as the light L1.
캐소드 전극(CE) 상에는 박막 봉지층(170)이 배치된다. 박막 봉지층(170)은 제1발광영역(LA1), 제2발광영역(LA2), 제3발광영역(LA3) 및 비발광 영역(NLA)에 공통적으로 배치된다.A thin
박막 봉지층(170)은 캐소드 전극(CE) 상에 순차적으로 적층된 제1 봉지 무기막(171), 봉지 유기막(173) 및 제2 봉지 무기막(175)을 포함할 수 있다. 제1 봉지 무기막(171) 및 제2 봉지 무기막(175)은 각각 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 티타늄 산화물, 주석 산화물, 세륨 산화물, 실리콘 산질화물(SiON) 등으로 이루어질 수 있다. 봉지 유기막(173)은 아크릴계 수지, 메타크릴계 수지, 폴리이소프렌, 비닐계 수지, 에폭시계 수지, 우레탄계 수지, 셀룰로오스계 수지 및 페릴렌계 수지 등으로 이루어질 수 있다.The thin
또한, 박막 봉지층(170) 상에는 패널차광부재(190)가 위치할 수 있다. 패널차광부재(190)는 박막 봉지층(170) 상에 위치하고 비발광 영역(NLA) 내에 위치할 수 있다. 패널차광부재(190)는 인접한 발광영역 간에 광이 침범하여 혼색이 발생하는 것을 방지할 수 있으며, 이에 따라 색 재현율을 더욱 향상시킬 수 있다.In addition, a panel
이와 같은 제2 기판(10)과, 도 10을 이용하여 설명한 제1 기판(30a)는 서로 결합된다. 제2 기판(10)과 제1 기판(30a) 사이의 공간에는 충진제(70)가 위치할 수 있다. 충진제(70)는 광을 투과할 수 있는 재질로 이루어질 수 있다. 몇몇 실시예에서 충진제(70)는 유기물질로 이루어질 수 있다. 예시적으로 충진제(70)는 Si계 유기물질, 에폭시계 유기물질 등으로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. The
제1 발광소자(ED1)에서 발생된 광(L1)은, 제1 기판(30a)의 광투과 패턴(330) 및 제1 컬러 필터(231)을 통과하여, 청색광으로 출사된다. 제2 발광소자(ED2)에서 발생된 광(L1)은, 제1 기판(30a)의 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 컬러 필터(233)을 통과하여, 적색광으로 출사된다. 제3 발광소자(ED3)에서 발생된 광(L1)은, 제1 기판(30a)의 제2 파장 변환 패턴(350) 및 제3 컬러 필터(235)을 통과하여, 녹색광으로 출사된다.The light L1 generated by the first light emitting device ED1 passes through the
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다. 설명의 편의상 도 10 및 도 11을 이용하여 설명한 것과 실질적으로 동일한 내용은 생략한다.12 is a cross-sectional view illustrating a display device according to another exemplary embodiment of the present invention. For convenience of description, the substantially same contents as those described with reference to FIGS. 10 and 11 will be omitted.
도 12를 참고하면, 제1 기판(10b)에는, 베이스(110) 상에 제1 발광 소자(ED1), 제2 발광 소자(ED2) 및 제3 발광 소자(ED3) 뿐만 아니라, 광투과 패턴(330), 제1 파장 변환 패턴(340) 및 제2 파장 변환 패턴(350), 컬러필터(231a, 233a, 235a), 제1 캡핑 패턴(451), 컬러패턴(250a) 및 차광부재(220a)가 형성된다. Referring to FIG. 12 , the
제1 기판(10b) 상에는, 베이스(310)를 포함하는 제2 기판(30b)이 위치하고, 제1 기판(10b)과 제2 기판(30b) 사이에는 충진제(70)이 위치할 수 있다. A
이상과 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although the embodiments of the present invention have been described with reference to the above and accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains can implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. You will understand that there is Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative in all respects and not limiting.
310: 베이스
330, 340, 350: 잉크
330a, 340a: 오탄착된 잉크
380: 뱅크
410: 희생 패턴
451: 제1 캡핑 패턴
452: 제2 캡핑 패턴310: base
330, 340, 350: ink
330a, 340a: misplaced ink
380: bank
410: Sacrificial Pattern
451: first capping pattern
452: second capping pattern
Claims (18)
상기 뱅크 상에 희생 패턴을 형성하고,
상기 잉크 토출 영역 상에 잉크를 토출하고,
상기 잉크 토출 영역의 잉크 상에 제1 캡핑 패턴을 형성하고 상기 희생 패턴 상에 제2 캡핑 패턴을 형성하고,
상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하여, 상기 뱅크의 상면을 노출하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.On the base, forming a bank defining an ink ejection area;
Forming a sacrificial pattern on the bank;
ejecting ink on the ink ejection area;
forming a first capping pattern on the ink in the ink ejection area and a second capping pattern on the sacrificial pattern;
and exposing an upper surface of the bank by removing the sacrificial pattern and the second capping pattern.
상기 잉크 토출 영역 상에 상기 잉크를 토출하는 것은, 상기 잉크 토출 영역 상에 잉크가 토출되면서 상기 희생 패턴 상에 오탄착된 잉크가 토출되는 것을 포함하고,
상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하는 것은, 상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴과 함께, 상기 희생 패턴 상에 오탄착된 잉크가 제거되는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법. According to claim 1,
The ejection of the ink onto the ink ejection area includes ejecting ink misplaced on the sacrificial pattern while the ink is ejected onto the ink ejection area;
The method of manufacturing a display device, wherein the removing of the sacrificial pattern and the second capping pattern includes removing ink erroneously deposited on the sacrificial pattern together with the sacrificial pattern and the second capping pattern.
상기 잉크 토출 영역 상에 잉크를 토출하는 것은, 상기 뱅크의 상면이 상기 잉크의 상면보다 높도록 잉크를 토출하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 1,
The method of claim 1 , wherein the ejecting the ink onto the ink ejection area includes ejecting the ink such that an upper surface of the bank is higher than an upper surface of the ink.
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, 상기 희생 패턴의 상면이 상기 제1 캡핑 패턴의 상면보다 높아서 상기 희생 패턴의 측면의 적어도 일부가 노출되는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 3,
Forming the first capping pattern and the second capping pattern may include exposing at least a portion of a side surface of the sacrificial pattern because the top surface of the sacrificial pattern is higher than the top surface of the first capping pattern. method.
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, 상기 제1 캡핑 패턴의 상면이 상기 뱅크의 상면보다 낮도록 제1 캡핑 패턴을 형성하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 3,
The method of claim 1 , wherein forming the first capping pattern and the second capping pattern includes forming the first capping pattern such that a top surface of the first capping pattern is lower than a top surface of the bank.
상기 뱅크는 제1 감광물질을 포함하고, 상기 희생 패턴은 상기 제1 감광물질과 다른 제2 감광물질을 포함하고,
상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하는 것은, 상기 제1 감광물질에 비해 상기 제2 감광물질에 대한 선택비가 높은 약액을 이용하여 상기 희생 패턴을 제거하고 상기 뱅크는 제거하지 않는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법. According to claim 1,
The bank includes a first photosensitive material, the sacrificial pattern includes a second photosensitive material different from the first photosensitive material,
The removing of the sacrificial pattern and the second capping pattern includes removing the sacrificial pattern using a liquid chemical having a higher selectivity for the second photosensitive material than the first photosensitive material and not removing the bank. , A method for manufacturing a display device.
상기 약액은 TMAH(Tetramethylammonium hydroxide)인, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 6,
The method of manufacturing a display device, wherein the chemical solution is TMAH (Tetramethylammonium hydroxide).
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴은, 산화막, 질화막 또는 산질화막을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 1,
The method of manufacturing a display device, wherein the first capping pattern and the second capping pattern include an oxide layer, a nitride layer, or an oxynitride layer.
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, PECVD(Plasma-enhanced chemical vapor deposition)를 이용하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 8,
The method of claim 1 , wherein forming the first capping pattern and the second capping pattern includes using plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD).
상기 잉크 토출 영역에 형성된 제1 캡핑 패턴의 상면과, 상기 노출된 뱅크의 상면에 추가 캡핑막을 형성하는 것을 더 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 1,
The method of claim 1 , further comprising forming an additional capping layer on an upper surface of the first capping pattern formed in the ink ejection region and on an upper surface of the exposed bank.
상기 뱅크를 형성하기 전에, 상기 베이스 상에 컬러 필터를 형성하는 것을 더 포함하는, 표시 장치의 제조 방법. According to claim 1,
The manufacturing method of the display device further comprising forming a color filter on the base before forming the bank.
상기 뱅크 상에 희생 패턴을 형성하되, 상기 희생 패턴은 상기 제1 감광물질과 다른 제2 감광물질을 포함하고,
상기 잉크 토출 영역 상에 양자점 잉크를 토출하되, 상기 희생 패턴 상에는 오탄착된 양자점 잉크가 토출되고,
상기 잉크 토출 영역의 양자점 잉크 상에 제1 캡핑 패턴을 형성하고 상기 희생 패턴 및 오탄착된 양자점 잉크 상에 제2 캡핑 패턴을 형성하되, 상기 희생 패턴의 상면이 상기 제1 캡핑 패턴의 상면보다 높아서 상기 희생 패턴의 측면의 적어도 일부가 노출되고,
상기 희생 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 제거하여 상기 희생 패턴 상에 오탄착된 양자점 잉크를 제거하되, 상기 제1 감광물질에 비해 상기 제2 감광물질에 대한 선택비가 높은 약액을 이용하여 제거하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.Forming a bank defining an ink ejection area on the base, wherein the bank includes a first photosensitive material;
Forming a sacrificial pattern on the bank, wherein the sacrificial pattern includes a second photosensitive material different from the first photosensitive material;
Quantum dot ink is ejected on the ink ejection area, and quantum dot ink that is misplaced is ejected on the sacrificial pattern;
A first capping pattern is formed on the quantum dot ink in the ink ejection area, and a second capping pattern is formed on the sacrificial pattern and the misattached quantum dot ink, wherein the upper surface of the sacrificial pattern is higher than the upper surface of the first capping pattern. At least a portion of a side surface of the sacrificial pattern is exposed;
Removing the sacrificial pattern and the second capping pattern to remove the quantum dot ink erroneously deposited on the sacrificial pattern, using a liquid chemical having a higher selectivity for the second photosensitive material than for the first photosensitive material. A method of manufacturing a display device, comprising:
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴은, 산화막, 질화막 또는 산질화막을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 12,
The method of manufacturing a display device, wherein the first capping pattern and the second capping pattern include an oxide layer, a nitride layer, or an oxynitride layer.
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, PECVD(Plasma-enhanced chemical vapor deposition)를 이용하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 13,
The method of claim 1 , wherein forming the first capping pattern and the second capping pattern includes using plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD).
상기 제1 캡핑 패턴 및 상기 제2 캡핑 패턴을 형성하는 것은, 상기 제1 캡핑 패턴의 상면이 상기 뱅크의 상면보다 낮도록 제1 캡핑 패턴을 형성하는 것을 포함하는, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 12,
The method of claim 1 , wherein forming the first capping pattern and the second capping pattern includes forming the first capping pattern such that a top surface of the first capping pattern is lower than a top surface of the bank.
상기 약액은 TMAH(Tetramethylammonium hydroxide)인, 표시 장치의 제조 방법.According to claim 12,
The method of manufacturing a display device, wherein the chemical solution is TMAH (Tetramethylammonium hydroxide).
상기 잉크 토출 영역 상에 형성된 잉크;
상기 잉크 상에 형성된 캡핑 패턴을 포함하고,
상기 캡핑 패턴의 상면은, 상기 뱅크의 상면과 같거나 낮은, 표시 장치.a bank formed on the base and defining an ink ejection area;
ink formed on the ink ejection area;
A capping pattern formed on the ink;
A top surface of the capping pattern is equal to or lower than a top surface of the bank.
상기 뱅크의 상면 및 상기 캡핑 패턴의 상면에 설치된 추가 캡핑막을 더 포함하는, 표시 장치.According to claim 17,
The display device further comprises an additional capping layer disposed on upper surfaces of the bank and upper surfaces of the capping pattern.
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