KR20230065082A - Battery inspecting apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
실시예들은 전지 검사 장치에 관한 것이다. 구체적으로, 실시예들은 전지 내부에서 발생하는 결함을 검사하는 전지 검사 장치에 적용된다.Embodiments relate to battery inspection devices. Specifically, the embodiments are applied to a battery inspection device that inspects defects occurring inside the battery.
최근 환경에 대한 관심이 높아지면서, 에너지 절감 및 환경 보호를 실현하기 위하여 이차 전지가 대두되고 있다. As interest in the environment has recently increased, secondary batteries have emerged in order to realize energy saving and environmental protection.
이차 전지란 외부 전원으로 공급받은 전류가 양극과 음극 사이에서 물질의 산화 환원 반응을 일으키는 과정에서 생성된 전기를 충전함으로써, 반영구적으로 사용 가능한 전지를 의미한다. 이차 전지는, 종래의 일회성 이용만이 가능하던 일차 전지와 달리, 여러 번 충전하여 재사용이 가능하다는 장점이 있다. A secondary battery refers to a battery that can be used semi-permanently by charging electricity generated in a process in which a current supplied from an external power source causes a redox reaction of a material between an anode and a cathode. A secondary battery has an advantage in that it can be recharged several times and reused, unlike a conventional primary battery that can only be used once.
이차 전지는, 양극판, 음극판, 양극판과 음극판을 나누는 분리막, 전해액 및 이들을 넣고 밀봉한 케이스를 포함한다. 양극판, 음극판 및 분리막을 포함하는 구조를 전극 조립체라고 한다.The secondary battery includes a positive electrode plate, a negative electrode plate, a separator separating the positive electrode plate and the negative electrode plate, an electrolyte solution, and a case in which they are placed and sealed. A structure including a positive electrode plate, a negative electrode plate, and a separator is called an electrode assembly.
이때, 전극 조립체를 제조하는 과정에서, 전극 조립체의 내외부에 이물이 있거나, 찢어지거나 또는 접히는 문제가 발생할 수 있다. 이러한 결함이 발생하는 경우, 이차 전지는 자가 방전율 이상의 전압 강하 거동을 보이는 저전압 불량이 발생할 수 있다. 그러나, 전극 조립체 내부의 불량은 전극 조립체의 불투명하거나 또는 반투명한 외관을 통하여는 관찰하기 어려운 문제가 있다.At this time, in the process of manufacturing the electrode assembly, there may be foreign matter inside or outside of the electrode assembly, or a tear or folding problem may occur. When such a defect occurs, a low voltage defect may occur in the secondary battery showing a voltage drop behavior equal to or greater than a self-discharge rate. However, defects inside the electrode assembly are difficult to observe through the opaque or translucent appearance of the electrode assembly.
따라서, 전지의 내부에 발생한 결함을 검출하기 위한 방안이 요구된다.Therefore, a method for detecting a defect occurring inside a battery is required.
실시예들은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 전지의 내부 결함을 검사하는 장치를 제공할 수 있다.Embodiments are intended to solve the above problems, and can provide a device for inspecting internal defects of a battery.
실시예들은 여러 조건을 가변하여 전지 내부의 결함을 검사하는 장치를 제공할 수 있다.Embodiments may provide a device for inspecting defects in a battery by varying various conditions.
실시예들은 결함에 대응되는 데이터의 정도를 증폭시켜 검사 성능이 극대화 된 전지 검사 장치를 제공할 수 있다.Embodiments may provide a battery testing device with maximized testing performance by amplifying the degree of data corresponding to a defect.
실시예들에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 사항들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 이하 설명할 다양한 실시예들로부터 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 고려될 수 있다.Technical tasks to be achieved in the embodiments are not limited to those mentioned above, and other technical tasks not mentioned will be considered by those skilled in the art from various embodiments to be described below. can
실시예들에 따르면, 전지가 거치되고, 전지를 이동시키는 전지 거치부; 기 설정된 횟수 및 기 설정된 주기에 따라, 전지를 향해 기 설정된 범위의 파장을 소정 시간동안 방출하는 파장 방출부; 및 방출한 파장과 전지로부터 수신되는 파장을 비교하여 변형 데이터를 검출하고, 변형 데이터에 기초하여 전지의 결함을 분석하는 파장 분석부; 를 포함하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the battery is mounted, the battery holder for moving the battery; a wavelength emitting unit that emits wavelengths in a predetermined range toward the battery for a predetermined time according to a predetermined number of times and a predetermined period; and a wavelength analysis unit that compares the emitted wavelength with the wavelength received from the battery, detects deformation data, and analyzes defects of the battery based on the deformation data. Including, it provides a battery inspection device.
실시예들에 따르면, 변형 데이터는, 방출한 파장의 파면과 수신된 파장의 파면 사이의 차이, 방출한 파장과 상기 수신된 파장의 밀도 차이, 방출한 파장의 온도 변화율, 방출한 파면의 중첩 정도 중 적어도 하나를 포함하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the deformation data may include a difference between the wavefront of the emitted wavelength and the wavefront of the received wavelength, a difference in density between the emitted wavelength and the received wavelength, a temperature change rate of the emitted wavelength, and an overlapping degree of the emitted wavefront. It provides a battery inspection device including at least one of.
실시예들에 따르면, 파장 분석부는, 방출한 파장의 파면과 수신된 파장의 파면 사이에 차이가 발생한 영역에 기초하여 전지의 결함의 위치를 검출하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength analyzer provides a battery inspection device that detects a location of a defect in a battery based on a region in which a difference occurs between a wavefront of an emitted wavelength and a wavefront of a received wavelength.
실시예들에 따르면, 파장 분석부는, 방출한 파장의 온도 변화율에 기초하여 방출한 파장의 누적 온도 변화율을 검출하고, 누적 온도 변화율이 기 설정된 변화량 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 전지의 결함의 위치를 검출하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength analyzer detects a cumulative temperature change rate of the emitted wavelength based on the temperature change rate of the emitted wavelength, and based on a region in which the cumulative temperature change rate has a value greater than or equal to a preset change amount, the location of the defect in the battery. A battery inspection device for detecting is provided.
실시예들에 따르면, 파장 분석부는, 방출한 파면의 중첩 정도에 기초하여 방출한 파장의 주파수를 검출하고, 주파수가 기 설정된 주파수 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 전지의 결함의 위치를 검출하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength analyzer detects the frequency of the emitted wavelength based on the overlapping degree of the emitted wavefront, and detects the location of the defect in the battery based on a region in which the frequency has a value greater than or equal to a preset frequency, A battery inspection device is provided.
실시예들에 따르면, 파장 방출부는, 전지를 향해 기준파를 방출한 뒤, 전지를 향해 소정의 파장을 다시 방출하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength emitting unit provides a battery inspection device that emits a reference wave toward the battery and then emits a predetermined wavelength toward the battery again.
실시예들에 따르면, 파장 분석부는, 기준파에 따라 전지로부터 수신된 파장 및 소정의 파장에 따라 전지로부터 수신된 파장을 중첩하고, 중첩에 따라 생성된 파장의 값이 기 설정된 범위 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 전지의 결함의 위치를 검출하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength analyzer overlaps the wavelength received from the battery according to the reference wave and the wavelength received from the battery according to the predetermined wavelength, and the value of the wavelength generated according to the overlap has a value greater than or equal to a preset range. A battery inspection device that detects a location of a defect in a battery based on an area is provided.
실시예들에 따르면, 파장 방출부는 열화상 카메라 및 적외선 카메라 중 적어도 하나인, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength emitter provides a battery inspection device that is at least one of a thermal imaging camera and an infrared camera.
실시예들에 따르면, 파장 분석부는, 파장 방출부와 동기화되어 실행되는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, the wavelength analyzer, which is executed in synchronization with the wavelength emitter, provides a battery inspection device.
실시예들에 따르면, 파장 방출부, 파장 분석부 중 적어도 하나를 냉각하는 냉각부; 를 더 포함하는, 전지 검사 장치를 제공한다.According to embodiments, a cooling unit for cooling at least one of a wavelength emitting unit and a wavelength analyzer; It provides a battery inspection device further comprising a.
실시예들에 따르면, 전지의 내부 결함을 검사하는 장치를 제공한다.According to embodiments, an apparatus for inspecting internal defects of a battery is provided.
실시예들은 검사 성능이 극대화 된 전지 검사 장치를 제공한다.Embodiments provide a battery inspection device with maximized inspection performance.
실시예들로부터 얻을 수 있는 효과들은 이상에서 언급된 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 이하의 상세한 설명을 기반으로 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 도출되고 이해될 수 있다.Effects obtainable from the embodiments are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned are clearly derived and understood by those skilled in the art based on the detailed description below. It can be.
실시예들에 대한 이해를 돕기 위해 상세한 설명의 일부로 포함된, 첨부 도면은 다양한 실시예들을 제공하고, 상세한 설명과 함께 다양한 실시예들의 기술적 특징을 설명한다.
도 1은 실시예들의 검사 대상이 되는 전지의 전개도를 개략적으로 나타낸 것이다.
도 2는 실시예들에 따른 전지 검사 장치에 포함되는 구성요소를 개략적으로 나타낸 것이다.
도 3은 실시예들에 따라 파면의 차이를 통해 전지를 검사하는 것을 나타낸 것이다.
도 4는 실시예들에 따라 온도 누적 변화율 및/또는 주파수를 통해 전지를 검사하는 것을 나타낸 것이다.
도 5는 실시예들에 따른 파장 방출부를 STROBE 컨트롤을 통해 제어하는 것을 나타낸 것이다.
도 6은 공간 위상 제어를 통해 실시예들을 제어하는 것을 나타낸 것이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Included as part of the detailed description to aid understanding of the embodiments, the accompanying drawings provide various embodiments and, together with the detailed description, describe technical features of the various embodiments.
1 schematically shows a developed view of a battery to be inspected in the embodiments.
2 schematically illustrates components included in a battery inspection device according to embodiments.
Figure 3 shows the inspection of the battery through the difference in the wavefront according to the embodiments.
4 illustrates examining a cell through temperature cumulative rate of change and/or frequency according to embodiments.
5 illustrates controlling a wavelength emitting unit through STROBE control according to embodiments.
6 illustrates controlling embodiments via spatial phase control.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다.Hereinafter, the embodiments disclosed in this specification will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the same or similar components are given the same reference numerals regardless of reference numerals, and redundant description thereof will be omitted. The suffixes "module" and "unit" for components used in the following description are given or used together in consideration of ease of writing the specification, and do not have meanings or roles that are distinct from each other by themselves.
또한, 본 명세서에 개시된 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. In addition, in describing the embodiments disclosed in this specification, if it is determined that a detailed description of a related known technology may obscure the gist of the embodiment disclosed in this specification, the detailed description thereof will be omitted. In addition, the accompanying drawings are only for easy understanding of the embodiments disclosed in this specification, the technical idea disclosed in this specification is not limited by the accompanying drawings, and all changes included in the spirit and technical scope of the present invention , it should be understood to include equivalents or substitutes.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. Terms including ordinal numbers, such as first and second, may be used to describe various components, but the components are not limited by the terms. These terms are only used for the purpose of distinguishing one component from another. It is understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, but other elements may exist in the middle. It should be.
반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함한다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.On the other hand, when an element is referred to as “directly connected” or “directly connected” to another element, it should be understood that no other element exists in the middle. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, terms such as "comprise" or "have" are intended to designate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, but one or more other features It should be understood that the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof is not precluded.
본 명세서에서 설명하는 실시예들의 검사 대상이 되는 전지(battery)는, 이차 전지(secondary battery)로서 방전 후 충전을 통해 재사용이 가능한 전지이다. 이때, 이차 전지는 납 축전지, 니켈-카드뮴 전지, 니켈-메탈 수소 전지, 리튬 이온 전지를 포함한다. A battery to be inspected in the embodiments described herein is a secondary battery, which can be reused through charging after discharging. At this time, the secondary battery includes a lead acid battery, a nickel-cadmium battery, a nickel-metal hydride battery, and a lithium ion battery.
본 명세서에서는 설명의 편의를 위하여 적층형 전극 조립체를 예시로 설명한다. 그러나, 본 명세서의 검사 대상은 이에 한정되지 않으며, 젤리-롤 전극 조립체, 스택/폴딩형 전극 조립체에 대하여도 검사 가능하다. 또한, 실시예들의 검사 대상은 모노셀(mono-cell), 바이셀(bi-cell), 풀셀(full-cell) 모두에 대하여 적용 가능하다. 실시예들의 검사 대상은 임의의 파장을 투과 또는 반사시킬 수 있는 모든 대상(object)에 대하여 적용 가능하다. 예를 들어, 실시예들의 검사 대상은 분리막과 같은 반투명 재질로서 초음파, 원적외선이 투과될 수 있는 재질을 포함하는 대상이다.In this specification, for convenience of description, a stacked electrode assembly is described as an example. However, the inspection subject of the present specification is not limited thereto, and may also be inspected for a jelly-roll electrode assembly and a stack/folding type electrode assembly. In addition, inspection targets of the embodiments are applicable to all of mono-cells, bi-cells, and full-cells. The inspection target of the embodiments can be applied to any object capable of transmitting or reflecting an arbitrary wavelength. For example, the inspection target of the embodiments is a translucent material such as a separator, which includes a material through which ultrasonic waves and far-infrared rays can be transmitted.
본 명세서에서 Y 방향은 실시예들에 따라 검사 가능한 검사 대상의 이동 방향을 나타낸다. 이때, 검사 대상의 이동 방향은, 검사 대상의 길이 방향이다. 본 명세서에서 Z 방향은 Y 방향과 수직한 방향으로, 검사 대상으로부터 실시예들에 따른 파장 분석부를 향하는 방향을 나타낸다. 본 명세서에서 X 방향은 Y 방향 및 Z 방향과 수직한 방향으로, 검사 대상의 폭(두께) 방향을 나타낸다.In the present specification, the Y direction represents a moving direction of an inspection target capable of being inspected according to embodiments. At this time, the moving direction of the inspection target is the longitudinal direction of the inspection target. In the present specification, the Z direction is a direction perpendicular to the Y direction, and indicates a direction from the inspection target toward the wavelength analyzer according to the embodiments. In this specification, the X direction is a direction perpendicular to the Y and Z directions, and represents the width (thickness) direction of the inspection target.
도 1은 실시예들의 검사 대상이 되는 전지의 전개도를 개략적으로 나타낸 것이다.1 schematically shows a developed view of a battery to be inspected in the embodiments.
도 1의 (a)는 전지(100)의 측면을 도시한 것이다. 도 1의 (b)는 전지(100)의 상면을 도시한 것이다. 도 1의 (c)는 도 1의 (a) 및 (b)에 도시된 A에 대하여 상세히 도시한 것이다.1(a) shows a side view of the
도 1에서 100은 실시예들의 검사 대상이 되는 전지를 나타낸다. In FIG. 1, 100 denotes a battery to be inspected in the embodiments.
도 1의 (a) 및 (b)에 도시한 것처럼, 전지(100)는 하나 또는 그 이상의 모노셀(110)과 분리막(120)이 교차로 적층되어 형성된다. As shown in (a) and (b) of FIG. 1 , the
모노셀(110)은 제 1 전극판 및 제 2 전극판 중 적어도 하나를 포함한다. 모노셀(110)은, 예를 들어, 음극판 및 양극판 중 적어도 하나를 포함한다. The
분리막(120)은 복수 개의 모노셀(110) 사이에 배치된다. 분리막(120)은 제 1 전극판과 제 2 전극판의 접촉을 방지한다. 또한, 모노셀(110) 간의 접촉을 방지한다. 분리막(120)은 절연 소재이다. 이를 통해 제 1 전극판과 제 2 전극판 사이 또는 복수 개의 모노셀(110) 사이에 전기적 단락(쇼트)이 발생하는 것을 방지한다. 분리막(120)은 복수 개의 기 설정된 크기 이하의 기공(pore)을 포함한다. 따라서, 분리막(120) 사이 사이를 기공의 크기보다 작은 입자들이 이동할 수 있다. 예를 들어, 전지(100)가 리튬 이온 전지인 경우, 리튬 이온은 분리막(120)에 형성된 기공 사이를 이동 가능하다.The
도 1의 (c)에 도시한 바와 같이, 모노셀(110)과 분리막(120)을 적층하여 전지(100)를 제조하는 과정에서, 결함(130)이 형성될 수 있다. 결함(130)은, 예를 들어, 전지(100)의 내부 또는 외부에 형성된 이물질(131), 전지(100)의 내부 또는 외부의 일부에 찢김 현상(132), 전지(100)의 내부 또는 외부의 일부가 접힌 현상(133)을 포함한다. As shown in (c) of FIG. 1 ,
그러나, 도 1의 (c)에 도시된 결함(130)은, 전지(100)의 외부 또는 분리막(120)의 외부에서는 관찰이 어렵다. 따라서, 이러한 전지(100) 내부에 형성된 결함을 검출하기 위한 방안을 이하에서 설명한다.However, the
도 2는 실시예들에 따른 전지 검사 장치에 포함되는 구성요소를 개략적으로 나타낸 것이다.2 schematically illustrates components included in a battery inspection device according to embodiments.
실시예들에 따른 전지 검사 장치(200)는 전지(100, 도 1 참조)의 내부에 결함이 존재하는지 여부 및/또는 내부에 존재하는 결함이 어디에 위치하는지를 검출하는 장치이다.The
전지 검사 장치(200)는 전지 거치부(210), 파장 방출부(220), 파장 분석부(230)를 포함한다. 또한, 전지 검사 장치(200)는 출력부(240), 통신부(250), 전원 공급부(260), 메모리(270) 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다. 또한, 전지 검사 장치(200)는 냉각부(280)를 더 포함할 수 있다. 또한, 전지 검사 장치(200)는, 전지 검사 장치(200)의 구성 요소들의 전부 또는 일부를 제어하는 제어부(290)를 포함한다.The
실시예들에 따른 전지 거치부(210)는 실시예들의 검사 대상인 전지(100)가 거치된다. 전지 거치부(210)는, 전지(100)가 거치되면 전지(100)를 파장 방출부(220) 및/또는 파장 분석부(230)에 대응되는 위치로 이동시킨다. 또한, 전지 거치부(210)는, 전지(100)에 대한 검사가 완료된 후 전지(100)를 전지 검사 장치(200)로부터 배출한다.In the
실시예들에 따른 파장 방출부(220)는 전지(100)에 대해 파장을 방출한다. The
파장 방출부(220)는 전지(100)를 향하여 장파장을 방출하고, 예를 들어, 적외선을 방출한다. 예를 들어, 파장 방출부(220)는 전지(100)를 향해 0.7um 내지 1000um의 범위에 있는 파장을 방출한다. The
파장 방출부(220)로부터 방출된 파장은, 전지(100)를 투과하거나 또는 전지(100)에 의해 반사된다.Waves emitted from the
실시예들에 따른 파장 분석부(230)는 전지(100)를 투과하거나 또는 전지(100)로부터 반사되는 파장에 대한 데이터를 획득한다. 예를 들어, 파장 분석부(230)는, 방출된 파장을 분석할 수 있는 장치로서, 열화상 카메라 또는 적외선 카메라이다. 예를 들어, 파장 분석부(230)가 열화상 카메라인 경우, 파장 분석부(230)는 전지(100)를 투과하거나 또는 전지(100)로부터 반사되는 파장으로부터 발생하는 열을 감지한다. 예를 들어, 파장 분석부(230)는 불투명 또는 반투명한 재질의 전지(100)의 표면을 투과하기 위하여 원적외선과 같은 투과성이 높은 특수 파장대를 이용한다.The
파장 분석부(230)는 획득한 데이터에 기초하여, 전지 검사 장치(200)의 내부에 결함이 존재하는지 여부 또는 내부에 결함이 존재하는 경우 결함의 위치를 분석한다.Based on the acquired data, the
실시예들에 따른 출력부(240)는 파장 분석부(230)가 분석한 결과를 외부에 출력한다. 출력부(240)는, 예를 들어, 디스플레이, 음향 기기 등을 포함한다. 예를 들어, 출력부(240)가 디스플레이인 경우, 디스플레이는 분석한 결과를 이미지(동영상 및/또는 정지영상)를 디스플레이 상에 표시한다. 예를 들어, 출력부(240)가 음향 기기인 경우, 음향 기기는 분석한 결과를 소리 데이터로서 출력한다. The
실시예들에 따른 통신부(250)는 외부 서버 또는 통신망과 데이터 송수신 가능하다. 예를 들어, 통신부(250)는 전지 검사 장치(200)가 전지(100)를 검사한 검사 결과를 외부로 전송한다. The
통신부(250)는 예를 들어, 3G 모듈, LTE 모듈, LTE-A 모듈, Wi-Fi 모듈, 와이기그(WiGig) 모듈, UWB(Ultra Wide Band) 모듈 또는 랜카드 등과 같이 원거리용 네트워크 인터페이스를 포함한다. 또한, 통신부(1600)는, 예를 들어, 마그네틱 보안 전송(MST, Magnetic Secure Transmission) 모듈, 블루투스 모듈, NFC(Near Field Communication) 모듈, RFID(Radio Frequency Identification) 모듈, 지그비(ZigBee) 모듈, Z-Wave 모듈 또는 적외선 모듈 등과 같이 근거리용 네트워크 인터페이스를 포함한다.The
실시예들에 따른 전원 공급부(260)는 전지 검사 장치(200)에 전원을 공급한다.The
실시예들에 따른 메모리(270)는 전지 검사 장치(200)에 이용되는 각종 명령을 저장한다. 예를 들어, 메모리(270)는 도 5에서 설명하는 PWM 제어를 위한 명령을 저장한다. 메모리(270)는 휘발성 저장 매체 및 비휘발성 저장 매체 중에서 적어도 하나를 포함한다. 메모리(270)는 읽기 전용 메모리(read only memory, ROM) 및 랜덤 액세스 메모리(random access memory, RAM) 중에서 적어도 하나이다.The
실시예들에 따른 냉각부(280)는 전지 검사 장치(200)에 포함되는 구성요소들의 전부 또는 일부의 온도를 낮춘다. 냉각부(280)는 전지 검사 장치(200)에 포함되는 구성요소들의 전부 또는 일부를 냉각시킨다. 즉, 냉각부(280)는 파장 분석부(230)가 더 높은 감도를 얻을 수 있도록 파장 방출부(220)가 강하게 제어하는 과정에서 발생하는 발열 특성을 억제 또는 완화시킨다. 이를 통해, 전지 검사 장치(200)는 충분한 출력과 내구성, 최소 리플이 유지되도록 한다.The
실시예들에 따른 제어부(290)는 전지 검사 장치(200) 내에 포함되는 구성요소들의 전부 또는 일부를 제어한다. 제어부(290)는 예를 들어, CPU(Central processing unit)와 같은 일반적인 프로세서(processor)로서 전지 검사 장치(200) 내부에 내장된다. 그러나, 제어부(290)는 전지 검사 장치(200) 내부에 물리적으로 위치하지 않고, 통신부(250)를 통해 전지 검사 장치(200)를 제어할 수도 있다.The
이하에서는, 도 2에서 설명한 구성요소들의 전부 또는 일부를 포함하는 전지 검사 장치가 실시되는 예시들을 설명한다.Hereinafter, examples in which a battery inspection device including all or some of the components described in FIG. 2 are implemented will be described.
도 3은 실시예들에 따라 파면의 차이를 통해 전지를 검사하는 것을 나타낸 것이다.Figure 3 shows the inspection of the battery through the difference in the wavefront according to the embodiments.
도 3에서 전지 거치부(210, 도 2 참조)는 생략되었으나, 전지(100)는 저지 거치부(210) 상에 거치된 상태로 이동하는 것을 가정한다.Although the battery holder 210 (see FIG. 2 ) is omitted in FIG. 3 , it is assumed that the
파장 방출부(220)는 전지(100)를 향해 파장을 방출한다. 파장 방출부(220)는 기 설정된 횟수 및 기 설정된 주기에 따라, 전지(100)를 향해 기 설정된 범위의 파장을 소정 시간동안 방출한다.The
파장 방출부(221)는 전지(100)와 파장 분석부(230) 사이에 배치된다. 파장 방출부(221)로부터 방출되는 파장은 전지(100)에 의해 반사되어 파장 분석부(230)를 향한다. 이때, 파장 방출부(221)로부터 방출되는 파장이 전지(100)를 투과하는 경우, 투과한 파장은 전지 거치부(210) 또는 파장 반사부(도시하지 않음)에 의해 반사되어 파장 분석부(230)를 향한다. The
또는, 파장 방출부(222)는 전지(100)의 아래에 배치된다. 파장 방출부(222)로부터 방출되는 파장은 전지(100)를 투과하여 파장 분석부(230)를 향한다. Alternatively, the
파장 분석부(230)는 전지(100)로부터 수신한 파장으로부터 데이터를 획득한다. 파장 분석부(230)는, 파장 방출부(222)가 방출한 파장에 대한 데이터와 전지(100)로부터 수신한 파장에 대한 데이터를 비교하여 차이를 계산한다. 파장 분석부(230)는 계산한 차이로부터 변형 데이터를 검출한다. The
파장 분석부(230)는 획득한 데이터로부터 검출한 변형 데이터를 통해, 예를 들어, 파장의 밀도 차이를 검출한다. 즉, 파장 분석부(230)는 밀도 차이에 의한 파면의 중첩 특성을 통해 전지(100)의 내부에 발생되는 결함을 검출한다.The
이때, 변형 데이터는, 예를 들어, 방출한 파장의 파면과 수신된 파장의 파면 사이의 차이, 방출한 파장과 수신된 파장의 밀도 차이, 방출한 파장의 온도 변화율, 방출한 파면의 중첩 정도 중 적어도 하나를 포함한다.At this time, the deformation data is, for example, the difference between the wavefront of the emitted wavelength and the wavefront of the received wavelength, the difference in density between the emitted wavelength and the received wavelength, the temperature change rate of the emitted wavelength, and the overlapping degree of the emitted wavefront. contains at least one
파장 분석부(230)는 변형 데이터에 기초하여 전지(100)의 결함 존부 및/또는 결함 위치를 검출한다. 예를 들어, 파장 분석부(230)는 방출한 파장의 파면과 수신된 파장의 파면 사이에 차이가 발생한 영역에 기초하여 전지(100)의 결함의 위치를 검출한다.The
도 3의 (a) 및 (b)는, 파장 방출부(220)가 전지(100)를 향해 기준파를 방출한 것에 대하여, 전지로부터 반사 또는 전지를 투과한 파장을 도시한 것이다. 기준파는 예를 들어, 평행파이다.3 (a) and (b) show the wavelengths reflected from or transmitted through the battery when the
도 3의 (a)는 전지 검사 장치(200)가 결함이 없는 전지(100)를 검사하는 경우에 있어서의 파면을 나타내었다.3(a) shows a fracture surface in the case where the
310은 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과하는 파장의 파면이다. 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 310은 광파(optical wave)의 변형 없이, 평행(collimated)한 상태로 투과 또는 반사된다. 이때, 반사는 전지(100)가 이상적인 평편한 대상인 경우 또는 내부 결함이 없는 깨끗한 상태인 경우에 발생된다. 파장 분석부(230)는, 기준파와 동일한 파장의 파면으로부터 전지(100) 내부에 결함이 존재하지 않음을 검출한다.310 is a wavefront of a wavelength that is reflected from or transmitted through the
도 3의 (b)는 전지 검사 장치(200)가 결함이 있는 전지(100)를 검사하는 경우에 있어서의 파면을 도시한 것이다.3(b) shows a fracture surface in the case where the
320은 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과하는 파장의 파면이다. 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 320은 광파의 변형(예를 들어, 321, 322, 323)이 나타난다. 즉, 파장 분석부(230)는, 기준파와 상이한 파장의 파면으로부터 전지(100) 내부에 결함이 존재함을 검출한다. 즉, 파장 분석부(230)는, 파면의 중첩의 결과로서 발생되는 위상의 변동을 감지한다.320 is a wavefront of a wavelength that is reflected from or transmitted through the
또한, 파장 분석부(230)는, 변형된 파면으로부터 전지(100) 내부에 존재하는 결함의 위치를 검출한다. 이때, 파장 분석부(230)는 내부의 결함의 중심으로부터 변형되어 전파(propagation)된 위치에 변형된 파면이 위치하는 점에 기초하여, 결함의 위치를 검출한다. 예를 들어, 파장 분석부(230)는, 321에 기초하여, 전지(100) 내부의 131의 위치에 결함이 존재함을 검출한다. 또한, 예를 들어, 파장 분석부(230)는, 322에 기초하여, 전지(100) 내부의 132의 위치에 결함이 존재함을 검출한다. 또한, 파장 분석부(230)는, 323에 기초하여, 전지(100) 내부의 132의 위치에 결함이 존재함을 검출한다.In addition, the
도 3에서는 밀도 차에 의해 발생하는 파면의 검출 특성을 통해 전지의 내부를 검사하는 실시예에 대해 설명하였다. 도 4에서는, 밀도차에 의해 발생하는 온도 변화 및 주파수 변화를 통해 전지의 내부를 검사하는 실시예에 대해 설명한다.In FIG. 3, an embodiment of inspecting the inside of a battery through detection characteristics of a wavefront generated by a density difference has been described. In FIG. 4, an embodiment of inspecting the inside of a battery through a temperature change and a frequency change caused by a density difference will be described.
도 4는 실시예들에 따라 온도 누적 변화율 및/또는 주파수를 통해 전지를 검사하는 것을 나타낸 것이다.4 illustrates examining a cell through temperature cumulative rate of change and/or frequency according to embodiments.
도 4는 전지 검사 장치(200, 도 2 참조)가 결함이 없는 전지(100, 도 1 참조)와 결함이 있는 전지(100)를 검사하는 경우에 있어서의 누적 온도 변화율 및 주파수 검출 특성을 도시한 것이다.FIG. 4 shows the cumulative temperature change rate and frequency detection characteristics when the battery inspection device 200 (see FIG. 2) inspects a non-defective battery 100 (see FIG. 1) and a
파장 분석부(230, 도 2 참조)는 방출한 파장의 온도 변화율에 기초하여 방출한 파장의 누적 온도 변화율을 검출한다. 또한, 파장 분석부(230)는 누적 온도 변화율이 기 설정된 변화량 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 전지(100)의 결함의 위치를 검출한다.The wavelength analyzer 230 (see FIG. 2 ) detects a cumulative temperature change rate of the emitted wavelength based on the temperature change rate of the emitted wavelength. In addition, the
또는, 파장 분석부(230)는 방출한 파면의 중첩 정도에 기초하여 방출한 파장의 주파수를 검출하고, 주파수가 기 설정된 주파수 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 전지(100)의 결함의 위치를 검출한다.Alternatively, the
도 4에서, 330은 결함이 없는 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과하는 파장의 온도 변화율 또는 주파수 특성을 나타낸 것이다. 결함이 없는 전지(100)의 경우, 밀도 차가 없거나 거의 없으므로, 누적된 온도 변화율 역시 작다. 이에 따라, 결함이 없는 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과하는 파장은 저주파수(low-frequency)를 갖는다. 즉, 결함이 없는 전지(100)의 경우, 330과 같이 온도 변화율이 거의 없고, 낮은 주파수를 갖는 것을 알 수 있다.In FIG. 4 , 330 represents a temperature change rate or frequency characteristic of a wavelength reflected from or transmitted through the
이와 같은 경우, 파장 분석부(230)는 누적된 온도 변화율이 기 설정된 변화량 미만의 값을 갖는다고 판단하고, 전지(100) 내부에 결함이 존재하지 않음을 검출한다.In this case, the
또는, 파장 분석부(230)는 검출된 주파수 특성이 기 설정된 주파수 미만의 값을 갖는다고 판단하고, 전지(100) 내부에 결함이 존재하지 않음을 검출한다.Alternatively, the
도 4에서, 340은 결함이 있는 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과하는 파장의 온도 변화율 또는 주파수 특성을 나타낸 것이다. 결함이 있는 전지(100)의 경우, 결함으로 인해 기 설정된 값 이상의 밀도 차이가 발생한다. 또한, 누적된 온도 변화율 역시 크다. 이에 따라, 결함이 있는 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과하는 파장은 고주파수(high-frequency)를 갖는다. 즉, 결함이 있는 전지(100)의 경우, 340과 같이 온도 변화율이 크고, 높은 주파수를 갖는 것을 알 수 있다.In FIG. 4 , 340 represents a temperature change rate or frequency characteristic of a wavelength reflected from or transmitted through the
이와 같은 경우, 파장 분석부(240)는 누적된 온도 변화율이 기 설정된 변화량 이상의 값을 갖는다고 판단하고, 전지(100) 내부에 결함이 존재함을 검출한다. 또한, 파장 분석부(240)는, 누적된 온도 변화율의 변화 정도가 큰 지점(예를 들어, 341)에 대응되는 위치에 결함이 존재함을 검출한다. 이때, 파장 분석부(240)는, 누적된 온도 변화율의 상승 곡선에 있어서, 기 설정된 각도 이상의 기울기를 가지고 상승하는 경우를 누적된 온도 변화율이 크다고 판단한다. In this case, the
또는, 파장 분석부(230)는 검출된 주파수 특성이 기 설정된 주파수 이상의 값을 갖는다고 판단하고, 전지(100) 내부에 결함이 존재함을 검출한다. 또한, 파장 분석부(240)는, 고주파수를 갖는 지점에 결함이 존재함을 검출한다. 이때, 파장 분석부(240)는, 고주파수와 저주파수를 나누는 기준은 기 설정된 값에 의한다.Alternatively, the
도 5는 실시예들에 따른 파장 방출부를 STROBE 컨트롤을 통해 제어하는 것을 나타낸 것이다.5 illustrates controlling a wavelength emitting unit through STROBE control according to embodiments.
이때, STROBE 컨트롤은 PMW(Pulse Width Modulation) 제어와 스트로브(strobe) 중 적어도 하나 이상을 포함한다. PMW 제어는 온/오프(on/off) 제어를 포함한다. 스트로브는 일반적인 전류 제어 대비 더 높은 강도의 전류를 흘려주는 것을 포함한다.At this time, the STROBE control includes at least one of PMW (Pulse Width Modulation) control and strobe. PMW control includes on/off control. Strobe involves passing a higher intensity current than normal current control.
도 5에서 x 축은 시간(t)을 나타내고, y 축은 출력 또는 신호를 나타낸다. In FIG. 5 , the x-axis represents time t, and the y-axis represents output or signal.
출력 또는 신호는 1) 파장 방출부(220, 도 2 참조)와 파장 분석부(230, 도 2 참조)의 동기화 시간(trigger sync time)을 포함한다. 도 5에 도시한 바와 같이, 파장 방출부(220)가 파장을 방출하기 전에 파장 방출부(220)와 파장 분석부(230)는 서로 동기화 된다. 이를 통해, 파장 분석부(230)는, 수분, 열 등의 노이즈 없이 파장 방출부(220)로부터 방출되는 파장의 정보를 획득할 수 있다.The output or signal includes 1) a trigger sync time between the wavelength emitter (220, see FIG. 2) and the wavelength analyzer (230, see FIG. 2). As shown in FIG. 5 , before the
출력 또는 신호는 2) 파장 분석부(230)의 노출 시간(exposure time)을 포함한다. 도 5에 도시한 바와 같이, 파장 분석부(230)는 정확한 파장의 정보를 획득하기 위하여, 파장 방출부(220)에 의한 스트로브 타임에 비해 긴 시간을 노출한다. 이를 통해 더 정확한 정보의 획득이 가능하다.The output or signal includes 2) exposure time of the
출력 또는 신호는 3) 종래 기술의 파장 방출부의 스트로브 타임(strobe time)(350)을 포함한다. 종래 기술의 경우, 2)와 3)의 시간이 동일 또는 유사한 것을 알 수 있다. 이와 같이 파장 분석부(230)가 스트로브 타임을 길게 갖는 경우, 공간 밀도의 특성이나 시간에 따른 열 전달에 의해 오류가 발생하는 문제가 있다.The output or signal includes 3) the
이를 해결하기 위하여, 출력 또는 신호는 4) 실시예들에 따른 파장 방출부(220)의 스트로브 타임(strobe time)(360)을 포함한다. 실시예들의 경우, 파장 분석부(230)의 노출 시간에 비해 파장 방출부(220)가 훨씬 짧은 스트로브 타임을 갖는 것을 알 수 있다. 즉, 파장 방출부(220)는 공간 밀도의 특성이나 시간에 따른 열 전달의 오류를 최소화하기 위하여, 임펄스(impulse) 특성을 갖도록 기 설정된 시간 동안 파장을 방출한다. 이때, 임펄스 특성은 짧은 시간 내에 강한 충격파를 흘리는 것을 의미한다. To solve this problem, the output or signal includes 4) a
이와 같이, 파장 방출부(220)는, 종래의 스트로브 타임의 간격(w1)에 비하여, 스트로브 타임의 간격(w2)을 좁게 가짐으로써, 시간에 따른 변동량을 최소화할 수 있다. 따라서, 파장 방출부(220)는 기 설정된 주기 동안 고속으로 점멸한다. 즉, 파장 방출부(220)는 매우 짧은 시간인 기 설정된 시간동안 파장을 방출하여, 주변 환경에 있어서 열 변화율의 잡은 침투를 최소화하기 위하여 연속 점멸한다. 이를 통해, 실시예들은, 공간 밀도의 변화 및 온도 변화 정도를 최소화하여, 내부 결함에 대한 가시도를 높일 수 있다. In this way, the
또한, 실시예들은 PWM 제어를 통해, 파장 방출부(220)의 주기는 일정하되, 점멸하는 폭을 변화시키는 전지 검사 장치(200)를 제공한다. 이에 따라, 전지 검사 장치(200)는 전지(100)의 검사에 대하여, 밀도 차의 특성을 여러 가지 조건으로 가변하는 환경을 제공할 수 있다.In addition, the embodiments provide a
도 6은 공간 위상 제어를 통해 실시예들을 제어하는 것을 나타낸 것이다.6 illustrates controlling embodiments via spatial phase control.
도 6의 그래프에서, X 축은 시간 또는 공간 위상의 구현을 나타내고, Y 축은 전지(100)로부터 반사되거나 또는 전지(100)를 투과한 파장의 공간 위상을 나타낸다. In the graph of FIG. 6 , the X axis represents the temporal or spatial phase implementation, and the Y axis represents the spatial phase of wavelengths reflected from or transmitted through the
파장 방출부(220)는 전지(100)를 향해 기준파를 방출한 뒤, 전지(100)를 향해 소정의 파장을 다시 방출한다. 이를 통해 실시예들은 전지(100)의 결함에 대한 가시도를 증대시킨다. 예를 들어, 파장 방출부(220)는 기준파로서 평면파를 방출한 뒤, 소정의 파장으로서 평면에 대한 임의 방향의 파장을 방출한다. The
예를 들어, 파장 방출부(220)는 기 설정된 시간 간격으로 n 번의 소정의 파장(w1 내지 wn)을 방출하고, 소정의 파장(w1 내지 wn)은 시분할 고속 제어된다. 소정의 파장은, 예를 들어, sine 파(sine wave)의 형태를 갖는다. For example, the
이때, 1 주기 내에서 sine 파의 방출 시의 위상 변동량은, sine 파의 4 시프트(shift)의 위상 분석법에 기초한다.At this time, the amount of phase change during emission of the sine wave within one period is based on a phase analysis method of 4 shifts of the sine wave.
파장 방출부(220)는 기준파에 따라 전지(100)로부터 수신된 파장 및 소정의 파장에 따라 전지(100)로부터 수신된 파장을 중첩한다. 파장 분석부(230)는 중첩에 따라 생성된 파장의 값이 기 설정된 범위 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 전지의 결함의 위치를 검출한다.The
이 경우, 소정의 파장(w1 내지 wn)은 중첩됨으로써, 파장의 간섭에 의해 가시도가 극대화되고, 주파수 특성이 달라지게 된다. 이에 따라, 실시예들은 극대화된 검사 성능을 제공할 수 있다.In this case, predetermined wavelengths (w1 to wn) are overlapped, thereby maximizing visibility and changing frequency characteristics due to interference of the wavelengths. Accordingly, the embodiments may provide maximized inspection performance.
이상 본 발명의 실시예에 따른 시스템 및 방법을 구체적인 실시 형태로서 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로서 본 발명은 이에 한정되지 않는 것이며, 본 명세서에 개시된 기초 사상에 따르는 최광의 범위를 갖는 것으로 해석되어야 한다. Although the system and method according to the embodiment of the present invention have been described as specific embodiments, this is only an example, and the present invention is not limited thereto, and should be interpreted as having the widest scope according to the basic ideas disclosed herein. .
당업자는 개시된 실시 형태들을 조합, 치환하여 적시되지 않은 실시 형태를 실시할 수 있으나, 이 역시 본 발명의 권리범위를 벗어나지 않는 것이다. 이외에도 당업자는 본 명세서에 기초하여 개시된 실시형태를 용이하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변형도 본 발명의 권리범위에 속함은 명백하다.A person skilled in the art may implement an embodiment that is not indicated by combining or substituting the disclosed embodiments, but this also does not deviate from the scope of the present invention. In addition, those skilled in the art can easily change or modify the disclosed embodiments based on this specification, and it is clear that such changes or modifications also fall within the scope of the present invention.
100: 전지
200: 전지 검사 장치
210: 전지 거치부
220: 파장 방출부
230: 파장 분석부
270: 냉각부
280: 제어부100: battery
200: battery inspection device
210: battery holder
220: wavelength emitting unit
230: wavelength analysis unit
270: cooling unit
280: control unit
Claims (10)
기 설정된 횟수 및 기 설정된 주기에 따라, 상기 전지를 향해 기 설정된 범위의 파장을 소정 시간동안 방출하는 파장 방출부; 및
상기 방출한 파장과 상기 전지로부터 수신되는 파장을 비교하여 변형 데이터를 검출하고, 상기 변형 데이터에 기초하여 상기 전지의 결함을 분석하는 파장 분석부;
를 포함하는,
전지 검사 장치.A battery holding unit in which the battery is mounted and the battery is moved;
a wavelength emitting unit that emits wavelengths in a predetermined range toward the battery for a predetermined time according to a predetermined number of times and a predetermined period; and
a wavelength analysis unit comparing the emitted wavelength with a wavelength received from the battery to detect deformation data, and analyzing defects of the battery based on the deformation data;
including,
battery tester.
상기 변형 데이터는,
상기 방출한 파장의 파면과 상기 수신된 파장의 파면 사이의 차이, 상기 방출한 파장과 상기 수신된 파장의 밀도 차이, 상기 방출한 파장의 온도 변화율, 상기 방출한 파면의 중첩 정도 중 적어도 하나를 포함하는,
전지 검사 장치.According to claim 1,
The transformed data,
At least one of a difference between a wavefront of the emitted wavelength and a wavefront of the received wavelength, a difference in density between the emitted wavelength and the received wavelength, a temperature change rate of the emitted wavelength, and an overlapping degree of the emitted wavefront. doing,
battery tester.
상기 파장 분석부는,
상기 방출한 파장의 파면과 상기 수신된 파장의 파면 사이에 차이가 발생한 영역에 기초하여 상기 전지의 결함의 위치를 검출하는,
전지 검사 장치.According to claim 2,
The wavelength analysis unit,
Detecting a location of a defect in the battery based on a region in which a difference occurs between a wavefront of the emitted wavelength and a wavefront of the received wavelength;
battery tester.
상기 파장 분석부는,
상기 방출한 파장의 온도 변화율에 기초하여 상기 방출한 파장의 누적 온도 변화율을 검출하고,
상기 누적 온도 변화율이 기 설정된 변화량 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 상기 전지의 결함의 위치를 검출하는,
전지 검사 장치.According to claim 2,
The wavelength analysis unit,
Detecting a cumulative temperature change rate of the emitted wavelength based on the temperature change rate of the emitted wavelength;
Detecting a location of a defect in the battery based on a region in which the cumulative temperature change rate has a value greater than or equal to a preset change amount;
battery tester.
상기 파장 분석부는,
상기 방출한 파면의 중첩 정도에 기초하여 상기 방출한 파장의 주파수를 검출하고,
상기 주파수가 기 설정된 주파수 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 상기 전지의 결함의 위치를 검출하는,
전지 검사 장치.According to claim 2,
The wavelength analysis unit,
Detecting the frequency of the emitted wavelength based on the overlapping degree of the emitted wavefront;
Detecting the location of the defect in the battery based on a region in which the frequency has a value equal to or greater than a preset frequency;
battery tester.
상기 파장 방출부는,
상기 전지를 향해 기준파를 방출한 뒤, 상기 전지를 향해 소정의 파장을 다시 방출하는,
전지 검사 장치.According to claim 1,
The wavelength emitting part,
After emitting a reference wave toward the battery, emitting a predetermined wavelength toward the battery again,
battery tester.
상기 파장 분석부는,
상기 기준파에 따라 상기 전지로부터 수신된 파장 및 상기 소정의 파장에 따라 상기 전지로부터 수신된 파장을 중첩하고,
상기 중첩에 따라 생성된 파장의 값이 기 설정된 범위 이상의 값을 갖는 영역에 기초하여 상기 전지의 결함의 위치를 검출하는,
전지 검사 장치.According to claim 6,
The wavelength analysis unit,
overlapping the wavelength received from the battery according to the reference wave and the wavelength received from the battery according to the predetermined wavelength;
Detecting the location of the defect of the battery based on a region in which the value of the wavelength generated according to the overlap has a value greater than or equal to a preset range,
battery tester.
상기 파장 방출부는 열화상 카메라 및 적외선 카메라 중 적어도 하나인,
전지 검사 장치.According to claim 1,
The wavelength emitting unit is at least one of a thermal imaging camera and an infrared camera,
battery tester.
상기 파장 분석부는, 상기 파장 방출부와 동기화되어 실행되는,
전지 검사 장치.According to claim 1,
The wavelength analyzer is executed in synchronization with the wavelength emitter,
battery tester.
상기 파장 방출부, 상기 파장 분석부 중 적어도 하나를 냉각하는 냉각부;
를 더 포함하는,
전지 검사 장치.According to claim 1,
a cooling unit cooling at least one of the wavelength emitting unit and the wavelength analyzer;
Including more,
battery tester.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210150913A KR20230065082A (en) | 2021-11-04 | 2021-11-04 | Battery inspecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210150913A KR20230065082A (en) | 2021-11-04 | 2021-11-04 | Battery inspecting apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20230065082A true KR20230065082A (en) | 2023-05-11 |
Family
ID=86379305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020210150913A KR20230065082A (en) | 2021-11-04 | 2021-11-04 | Battery inspecting apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20230065082A (en) |
-
2021
- 2021-11-04 KR KR1020210150913A patent/KR20230065082A/en unknown
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