KR20230050997A - Test socket - Google Patents

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KR20230050997A KR1020210134463A KR20210134463A KR20230050997A KR 20230050997 A KR20230050997 A KR 20230050997A KR 1020210134463 A KR1020210134463 A KR 1020210134463A KR 20210134463 A KR20210134463 A KR 20210134463A KR 20230050997 A KR20230050997 A KR 20230050997A
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Abstract

The present invention relates to a test socket and more specifically, relates to the test socket that can prevent damage of a contact member and a device under test. The test socket comprises: a base member; a contact ball; and a contact member.

Description

테스트 소켓{TEST SOCKET}test socket {TEST SOCKET}

본 발명은 테스트 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 컨택트 부재 및 피검사 디바이스의 손상을 방지할 수 있는 테스트 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a test socket, and more particularly, to a test socket capable of preventing damage to a contact member and a device under test.

반도체 소자는 제조 과정을 거친 후 전기적 성능을 판단하기 위한 검사를 수행하게 된다. 반도체 소자의 성능 검사는 반도체 소자의 단자와 전기적으로 접촉될 수 있도록 형성된 테스트 소켓을 반도체 소자와 검사회로기판 사이에 삽입한 상태에서 검사가 수행된다. 그리고, 테스트 소켓은 반도체 소자의 검사 외에도 반도체 소자의 제조 과정 중 번-인(Burn-In) 테스트 과정에서도 사용되고 있다.A semiconductor device undergoes a manufacturing process and then undergoes an inspection to determine electrical performance. A performance test of a semiconductor device is performed in a state in which a test socket formed to electrically contact a terminal of the semiconductor device is inserted between the semiconductor device and the test circuit board. Also, the test socket is used in a burn-in test process during manufacturing of a semiconductor device as well as inspection of a semiconductor device.

도 1 은 종래 기술의 일 예에 의한 테스트 소켓의 구조를 나타낸 도면이다. 종래 기술의 일 예에 의한 테스트 소켓은, 베이스 부재(12) 및 컨택트 부재(14)를 포함한다. 베이스 부재(12)에는 피검사 디바이스가 탑재될 수 있는 탑재 슬롯이 형성되어 있다. 피검사 디바이스는, 예컨대 SSD 일 수 있다. 1 is a view showing the structure of a test socket according to an example of the prior art. A test socket according to an example of the prior art includes a base member 12 and a contact member 14 . A mounting slot into which a device under test can be mounted is formed in the base member 12 . The device under test may be, for example, an SSD.

도 2 내지 4 를 참조하여, 피검사 디바이스(P)가 탑재 슬롯 내에 탑재되는 과정을 살펴보면, 이하와 같다. 피검사 디바이스(P)는 소정의 단자(Q)를 포함한다. 피검사 디바이스(P)가 탑재 슬롯 내에 탑재되면, 단자(Q)와 컨택트 부재(14)가 서로 밀착한다. 이때, 단자(Q)와 컨택트 부재(14) 사이에 마찰이 발생하게 된다. Referring to FIGS. 2 to 4 , the process of mounting the device P under test in the mounting slot is as follows. The device under test (P) includes a predetermined terminal (Q). When the device to be tested P is mounted in the mounting slot, the terminal Q and the contact member 14 come into close contact with each other. At this time, friction is generated between the terminal Q and the contact member 14 .

이 과정에서, 도 5 에 도시된 바와 같이 컨택트 부재(14)가 피검사 디바이스(P)의 단자(Q)와 접촉하는 부분(T)에 화살표 방향의 외력 및 마찰이 집중적으로 가해지며, 이러한 외력 및 마찰은 마모 및 변형으로 이어질 수 있다.In this process, as shown in FIG. 5, the external force and friction in the direction of the arrow are intensively applied to the portion T where the contact member 14 contacts the terminal Q of the device P under test. and friction can lead to wear and deformation.

특히, 테스트는 수천~수만 회 반복적으로 이루어질 수 있으므로, 다수의 테스트 과정에서 단자(Q) 및 컨택트 부재(14)에 손상이 발생할 수 있다. 이는, 테스트 소켓(10)의 고장 및 제품의 불량을 발생시킬 수 있다. 아울러, 컨택트 부재(14)가 손상된 상태로 사용될 경우, 접촉 불량으로 인해 피검사 디바이스의 검사 결과의 신뢰성이 낮아질 수 있다.In particular, since the test may be repeatedly performed thousands to tens of thousands of times, damage may occur to the terminal Q and the contact member 14 during multiple test processes. This may cause failure of the test socket 10 and product failure. In addition, when the contact member 14 is used in a damaged state, the reliability of test results of the device under test may be lowered due to poor contact.

따라서, 이러한 불리점을 개선할 수 있는 장치가 필요하다.Therefore, there is a need for a device capable of improving these disadvantages.

공개특허 제10-2011-0085710호Patent Publication No. 10-2011-0085710

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 컨택트 부재 및 피검사 디바이스의 손상을 방지할 수 있는 테스트 소켓을 제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a test socket capable of preventing damage to a contact member and a device under test.

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓은, 피검사 디바이스가 투입되는 탑재 슬롯을 갖는 베이스 부재; 상기 베이스 부재 내에 탑재되며, 적어도 일 부분이 상기 탑재 슬롯 내에 돌출되는 컨택트 볼; 및 상기 베이스 부재 내에 탑재되며, 적어도 일 부분이 상기 컨택트 볼과 접하는 컨택트 부재; 를 포함한다.A test socket according to an embodiment of the present invention includes a base member having a mounting slot into which a device under test is inserted; a contact ball mounted in the base member, at least a portion of which protrudes into the mounting slot; and a contact member mounted in the base member and having at least one portion in contact with the contact ball. includes

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓은, 상기 베이스 부재는, 상기 탑재 슬롯과 교차하며, 상기 탑재 슬롯을 관통하는 방향으로 관통되는 제2 수납부를 포함하고, 상기 제2 수납부는, 상기 탑재 슬롯과 면하는 부분에 형성된 테이퍼부를 포함한다.In the test socket according to an embodiment of the present invention, the base member includes a second accommodating portion intersecting the mounting slot and penetrating in a direction penetrating the mounting slot, wherein the second accommodating portion comprises the mounting slot. and a tapered portion formed on a portion facing the

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓은, 상기 베이스 부재는, 상기 탑재 슬롯 상에 형성되며 후방이 오픈된 컨택트 부재 투입부를 포함하고, 상기 제2 수납부는 상기 컨택트 부재 투입부를 상하 방향으로 관통한다.In the test socket according to an embodiment of the present invention, the base member includes a contact member insertion part formed on the mounting slot and having an open rear, and the second receiving part penetrates the contact member insertion part in a vertical direction. .

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓은, 상기 컨택트 부재는, 하방향으로 경사진 슬로프부를 포함하며, 상기 컨택트 볼은 상기 슬로프부 하부에 위치한다.In the test socket according to an embodiment of the present invention, the contact member includes a slope portion inclined downward, and the contact ball is positioned below the slope portion.

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓은, 상기 컨택트 볼은, 둘레면을 따라서 형성된 접촉면을 가지며, 상기 접촉면은 타 부분에 비해서 곡률 반경이 상대적으로 더 큰 부분으로 구성된다.In the test socket according to an embodiment of the present invention, the contact ball has a contact surface formed along a circumferential surface, and the contact surface is composed of a portion having a relatively larger radius of curvature than other portions.

본 발명에 의하면, 컨택트 부재 및 피검사 디바이스의 손상을 방지할 수 있다.According to the present invention, damage to the contact member and the device to be tested can be prevented.

또한, 피검사 디바이스가 테스트 소켓 내로 탑재될 때, 마찰이 감소하므로 설비 운영이 유리할 수 있다.In addition, when the device under test is mounted into the test socket, the operation of the facility may be advantageous because friction is reduced.

도 1 은 종래 기술에 의한 테스트 소켓을 나타낸 도면이다.
도 2 내지 4 는 종래 기술에 의한 테스트 소켓에 피검사 디바이스를 투입하는 과정을 나타낸 도면이며, 도 5 는 컨택트 부재에 가해지는 마찰 및 손상을 나타낸 도면이다.
도 6 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓의 구조를 나타낸 도면이다.
도 7 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓의 베이스 부재의 구조를 나타낸 도면이다.
도 8 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓의 컨택트 부재의 구조를 나타낸 도면이다.
도 9 는 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓의 컨택트 볼의 구조를 나타낸 도면이다.
도 10 및 11 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓의 단면 구조를 나타낸 도면이다.
도 12 내지 15 는 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓에 피검사 디바이스를 투입하는 과정 및 그에 의한 테스트 소켓의 작동을 나타낸 도면이다.1 is a view showing a test socket according to the prior art.
2 to 4 are views showing a process of inserting a device under test into a test socket according to the prior art, and FIG. 5 is a view showing friction and damage applied to a contact member.
6 is a diagram showing the structure of a test socket according to an embodiment of the present invention.
7 is a view showing the structure of a base member of a test socket according to an embodiment of the present invention.
8 is a view showing the structure of a contact member of a test socket according to an embodiment of the present invention.
9 is a view showing the structure of a contact ball of a test socket according to an embodiment of the present invention.
10 and 11 are views showing a cross-sectional structure of a test socket according to an embodiment of the present invention.
12 to 15 are diagrams illustrating a process of inserting a device under test into a test socket according to an embodiment of the present invention and operation of the test socket accordingly.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 대하여 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 6 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 구조를 나타낸 도면이다. 도 7 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 베이스 부재(100)의 구조를 나타낸 도면이다. 도 8 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 컨택트 부재(200)의 구조를 나타낸 도면이다. 도 9 는 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 컨택트 볼(300)의 구조를 나타낸 도면이다. 도 10 및 11 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 단면 구조를 나타낸 도면이다.6 is a diagram showing the structure of a test socket 1 according to an embodiment of the present invention. 7 is a view showing the structure of the base member 100 of the test socket 1 according to an embodiment of the present invention. 8 is a view showing the structure of the contact member 200 of the test socket 1 according to an embodiment of the present invention. 9 is a view showing the structure of the contact ball 300 of the test socket 1 according to an embodiment of the present invention. 10 and 11 are views showing a cross-sectional structure of a test socket 1 according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)은, 베이스 부재(100), 컨택트 부재(200), 및 컨택트 볼(300)을 포함한다.A test socket 1 according to an embodiment of the present invention includes a base member 100, a contact member 200, and a contact ball 300.

<베이스 부재(100)><Base member 100>

베이스 부재(100)는 탑재 슬롯(110), 제1 수납부(120), 및 제2 수납부(130)를 포함할 수 있다.The base member 100 may include a mounting slot 110 , a first accommodating part 120 , and a second accommodating part 130 .

탑재 슬롯(110)은 피검사 디바이스가 투입될 수 있는 소정의 슬롯이다. 탑재 슬롯(110)은 베이스 부재(100)의 전면에 구비되며, 후방으로 소정 깊이만큼 함몰되고 좌우 방향으로 길게 연장되는 소정의 슬롯으로 구성될 수 있다.The mounting slot 110 is a predetermined slot into which a device under test can be inserted. The mounting slot 110 is provided on the front surface of the base member 100, and may be configured as a predetermined slot that is recessed backward by a predetermined depth and extends long in the left and right directions.

제1 수납부(120)는 베이스 부재(100)의 적어도 일 부분을 전후 방향으로 관통하는 소정의 홀 형태의 탑재 공간으로 구성될 수 있다. 제1 수납부(120)는 컨택트 부재(200)를 수납할 수 있는 공간이다. 제1 수납부(120)는 베이스 부재(100)의 후방으로 오픈될 수 있다. 따라서, 제1 수납부(120)의 후방에서 상기 컨택트 부재(200)를 투입할 수 있다. The first accommodating part 120 may be configured as a mounting space in the form of a predetermined hole penetrating at least a portion of the base member 100 in the front-back direction. The first accommodating part 120 is a space capable of accommodating the contact member 200 . The first accommodating part 120 may be opened to the rear of the base member 100 . Therefore, the contact member 200 can be put in from the rear of the first accommodating part 120 .

제1 수납부(120)는 탑재 슬롯(110) 위에 위치한다. 제1 수납부(120)의 적어도 일 부분은 상기 탑재 슬롯(110) 방향으로 오픈되어 있다. 따라서, 제1 수납부(120)는 탑재 슬롯(110)과 연통한다. The first accommodating part 120 is located above the mounting slot 110 . At least one portion of the first housing part 120 is open toward the mounting slot 110 . Thus, the first storage unit 120 communicates with the mounting slot 110 .

제1 수납부(120)는 복수 개 구비된다. 제1 수납부(120)는, 탑재 슬롯(110)이 연장되는 방향인 좌우 방향을 따라서 나란하게 배열될 수 있다. A plurality of first housing parts 120 are provided. The first accommodating parts 120 may be arranged side by side along the left-right direction, which is the direction in which the mounting slot 110 extends.

제2 수납부(130)는 베이스 부재(100)의 적어도 일 부분을 상하 방향으로 관통하는 홀로 구성될 수 있다. 실시예에 의하면, 제2 수납부(130)의 상단은 베이스 부재(100)의 상방향으로 오픈되어 있다. 따라서, 제2 수납부(130)의 상단으로부터 컨택트 볼(300)이 투입될 수 있다. The second accommodating part 130 may be formed of a hole penetrating at least a portion of the base member 100 in a vertical direction. According to the embodiment, the upper end of the second housing part 130 is open upward of the base member 100 . Therefore, the contact ball 300 can be put in from the upper end of the second accommodating part 130 .

아울러, 제2 수납부(130)의 하단은 탑재 슬롯(110) 방향으로 오픈되어 있다. 제2 수납부(130)의 하단에는 테이퍼부(132)가 구비될 수 있다. 따라서, 제2 수납부(130)의 하단은 테이퍼진 구성을 가질 수 있다. 따라서, 제2 수납부(130)의 상단에서 투입된 컨택트 볼(300)은 제2 수납부(130)의 하단에 위치 고정될 수 있다.In addition, the lower end of the second housing unit 130 is open toward the mounting slot 110 . A tapered portion 132 may be provided at a lower end of the second housing portion 130 . Accordingly, the lower end of the second accommodating part 130 may have a tapered configuration. Accordingly, the contact ball 300 inserted from the upper end of the second accommodating part 130 may be fixed in position at the lower end of the second accommodating part 130 .

제2 수납부(130)는 컨택트 볼(300)을 투입하고, 수납할 수 있는 부분이다.The second accommodating part 130 is a part capable of inserting and accommodating the contact ball 300 .

<컨택트 부재(200)><Contact member 200>

컨택트 부재(200)는 전기 전도성 및 탄성을 갖는 재질로 구성된다. The contact member 200 is made of a material having electrical conductivity and elasticity.

컨택트 부재(200)는 전체적으로 소정의 길이를 갖는 빔(beam) 형태의 부재일 수 있다. The contact member 200 may be a beam-shaped member having a predetermined length as a whole.

구체적인 실시예에 의하면, 컨택트 부재(200)의 전방 부분은 하방향으로 경사져서 슬로프(slope)된 슬로프부(210)를 포함할 수 있다. 아울러, 컨택트 부재(200)의 후방 부분은 상방향, 또는 하방향으로 절곡되며 외부의 전극 패드와 연결되는 연결 푸트(220)(foot)가 구비되는 구성을 가질 수 있다.According to a specific embodiment, the front portion of the contact member 200 may include a slope portion 210 inclined downward. In addition, the rear portion of the contact member 200 may have a configuration in which a connecting foot 220 is bent upward or downward and connected to an external electrode pad.

아울러, 컨택트 부재(200)는 소정의 고정 돌부(230)를 구비할 수 있다. 고정 돌부(230)는 컨택트 부재(200)의 후방의 적어도 일 측에 구비되며, 측 방향으로 돌출되는 돌기일 수 있다. 컨택트 부재(200)가 제1 수납부(120) 내에 수납되었을 때 고정 돌부(230)는 컨택트 부재(200)를 제1 수납부(120) 내에 위치 고정시킬 수 있다.In addition, the contact member 200 may have a fixed protrusion 230 . The fixing protrusion 230 is provided on at least one side of the rear of the contact member 200 and may be a protrusion protruding in a lateral direction. When the contact member 200 is accommodated in the first accommodating portion 120 , the fixing protrusion 230 may fix the contact member 200 within the first accommodating portion 120 .

<컨택트 볼(300)><Contact ball (300)>

컨택트 볼(300)은 구름(rolling)이 가능한 형상을 갖는다. 따라서, 컨택트 볼(300)은 전체적으로 구형 형상을 가질 수 있다. 한편, 이에 반드시 한정하는 것은 아니며, 컨택트 볼(300)은 원통형 형상, 또는 원통과 구형이 혼합된 형상을 가질 수 있다. The contact ball 300 has a rolling shape. Accordingly, the contact ball 300 may have a spherical shape as a whole. Meanwhile, it is not necessarily limited thereto, and the contact ball 300 may have a cylindrical shape or a mixed shape of a cylinder and a sphere.

구체적인 실시예에 의하면, 컨택트 볼(300)은, 전체적으로 구형 형상을 갖되, 둘레면을 따라서 접촉면(310)이 형성된 구성을 가질 수 있다. 상기 접촉면(310)은 타 부분(접촉면(310)의 양 측에 구비된 반구형 부분(320))에 비해서 곡률 반경이 큰 면으로 구성되며, 실시예에 의하면 평면 단면을 가질 수 있다. According to a specific embodiment, the contact ball 300 may have a spherical shape as a whole, and may have a configuration in which the contact surface 310 is formed along the circumferential surface. The contact surface 310 is composed of a surface having a larger radius of curvature than other parts (hemispherical parts 320 provided on both sides of the contact surface 310), and may have a flat cross section according to an embodiment.

상기와 같이 접촉면(310)이 형성됨으로서, 컨택트 볼(300)과 컨택트 부재(200), 및 컨택트 볼(300)과 피검사 디바이스의 단자가 서로 면접촉할 수 있다.By forming the contact surface 310 as described above, the contact ball 300 and the contact member 200 and the contact ball 300 and the terminals of the device to be tested may come into surface contact with each other.

컨택트 볼(300)은 전기 전도성을 갖는 재질을 포함한다. 실시예에 의하면, 컨택트 볼(300)은 전체적으로 전기 전도성 재질로 구성될 수 있고, 또는 절연성 재질과 전기 전도성 재질을 모두 포함하는 구성을 가질 수도 있다. 단, 어떤 실시형태에서도, 컨택트 볼(300)의 일 면과 타 면은 서로 통전이 가능하다.The contact ball 300 includes a material having electrical conductivity. According to the embodiment, the contact ball 300 may be entirely composed of an electrically conductive material, or may have a configuration including both an insulating material and an electrically conductive material. However, in any embodiment, one side and the other side of the contact ball 300 can conduct electricity to each other.

<각각의 부재의 결합 관계 및 작동><Coupling relationship and operation of each member>

이하에서는 본 발명의 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 결합 관계 및 작동에 대해서 설명한다.Hereinafter, the coupling relationship and operation of the test socket 1 according to an embodiment of the present invention will be described.

먼저, 베이스 부재(100)의 제2 수납부(130) 내에 컨택트 볼(300)을 투입할 수 있다. 컨택트 볼(300)의 투입은, 제2 수납부(130)의 상부로부터 컨택트 볼(300)이 투입되는 형태로 이루어질 수 있다. 컨택트 볼(300)이 제2 수납부(130)의 하단에 도달하면, 테이퍼부(132)에 의해서 컨택트 볼(300)의 적어도 일 부분이 지지되고, 컨택트 볼(300)이 위치를 유지한다. 따라서, 컨택트 볼(300)이 제2 수납부(130)를 빠져나가서 외부로 이탈하지 않는다. 이때, 제2 수납부(130)의 하단 부분은 하부 오픈부를 통해서 오픈되어 있으므로, 컨택트 볼(300)의 적어도 일 부분이 상기 하부 오픈부를 통해서 탑재 슬롯(110) 내로 노출될 수 있다. First, the contact ball 300 may be put into the second accommodating part 130 of the base member 100 . The contact ball 300 may be inserted from the top of the second housing 130 . When the contact ball 300 reaches the lower end of the second accommodating part 130, at least a portion of the contact ball 300 is supported by the tapered part 132, and the contact ball 300 maintains its position. Therefore, the contact ball 300 does not escape from the second accommodating part 130 to the outside. At this time, since the lower part of the second storage part 130 is open through the lower open part, at least a portion of the contact ball 300 may be exposed into the mounting slot 110 through the lower open part.

이때, 컨택트 볼(300)은, 접촉면(310)이 위, 아래 방향에 걸쳐서 위치하는 형태로 투입될 수 있다. 즉, 제2 수납부(130)의 하단 부분에 형성된 테이퍼부(132)는, 컨택트 볼(300)의 접촉면(310)이 위, 아래 방향에 걸쳐서 위치하며, 위치를 이탈하지 않도록 적절한 형상을 가질 수 있다. 예컨대, 접촉면(310)의 양 측에 형성된 반구형 부분에 맞물리는 형상의 테이퍼부(132)가 형성될 수 있다. At this time, the contact ball 300 may be inserted in a form in which the contact surface 310 is positioned over the upper and lower directions. That is, the tapered portion 132 formed at the lower end of the second accommodating portion 130 has an appropriate shape so that the contact surface 310 of the contact ball 300 is positioned in the upper and lower directions and does not deviate from the position. can For example, a tapered portion 132 having a shape engaged with a hemispherical portion formed on both sides of the contact surface 310 may be formed.

이어서, 컨택트 부재(200)를 제1 수납부(120) 내에 수납한다. 제1 수납부(120)의 후방으로부터 컨택트 부재(200)를 수납하면, 컨택트 부재(200)에 구비되는 고정 돌부(230)는 제1 수납부(120) 내에 구비된 고정 홈부에 끼워짐으로서, 컨택트 부재(200)가 고정되게 된다. 앞서 설명한 바와 같이, 컨택트 부재(200)의 전방부는 하방으로 슬로프되어 있으므로, 컨택트 부재(200)가 컨택트 볼(300)을 가압하는 상태가 된다.Next, the contact member 200 is accommodated in the first accommodating portion 120 . When the contact member 200 is stored from the rear of the first accommodating portion 120, the fixing protrusion 230 provided on the contact member 200 is fitted into the fixing groove provided in the first accommodating portion 120, The contact member 200 is fixed. As described above, since the front portion of the contact member 200 slopes downward, the contact member 200 presses the contact ball 300.

도 10 및 11 은 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 단면 구조를 나타낸 도면이다. 상기와 같은 결합 구조에 의해서, 컨택트 볼(300)은 탑재 슬롯(110)과 컨택트 부재(200) 사이에 위치하게 된다. 10 and 11 are views showing a cross-sectional structure of a test socket 1 according to an embodiment of the present invention. Due to the coupling structure as described above, the contact ball 300 is located between the mounting slot 110 and the contact member 200.

도 12 내지 15 를 참조하여, 본 발명의 실시예에 의한 테스트 소켓(1)의 결합 관계 및 작동에 대해서 설명한다.Referring to FIGS. 12 to 15 , the coupling relationship and operation of the test socket 1 according to an embodiment of the present invention will be described.

상기와 같이 테스트 소켓(1)이 구성된 상태에서, 도 12 내지 14 와 같이 탑재 슬롯(110)에 피검사 디바이스(P)를 투입하면, 피검사 디바이스(P)에 구비되는 단자(Q)는 컨택트 볼(300)과 맞닿게 된다. 이때, 피검사 디바이스(P)가 투입되는 과정에서, 단자(Q)는 컨택트 볼(300)을 상방향으로 누르게 된다. 따라서, 도 15 에 도시된 바와 같이, 피검사 디바이스(P)가 투입되는 과정에서, 컨택트 볼(300)은 구름 작동할 수 있다. 또한, 컨택트 부재(200)는 탄성 변형되므로 피검사 디바이스(P)의 단자(Q)와 컨택트 부재(200)는 서로 컨택트 볼(300)에 밀착하며, 컨택트 볼(300)을 사이에 두고 전기적으로 연결된다.In the state in which the test socket 1 is configured as described above, when the device P to be tested is inserted into the mounting slot 110 as shown in FIGS. 12 to 14, the terminal Q provided in the device P to be tested It comes into contact with the ball 300. At this time, in the process of inputting the device P to be tested, the terminal Q presses the contact ball 300 upward. Therefore, as shown in FIG. 15 , the contact ball 300 may perform a rolling operation while the device P under test is inserted. In addition, since the contact member 200 is elastically deformed, the terminal Q of the device P to be tested and the contact member 200 come into close contact with the contact ball 300, electrically with the contact ball 300 interposed therebetween. Connected.

피검사 디바이스(P)가 투입되는 과정에서, 컨택트 볼(300)은 구름 작동하므로, 피검사 디바이스(P)의 단자(Q)와 컨택트 볼(300) 사이가 밀착함에도 불구하고, 컨택트 부재(200) 및 피검사 디바이스(P)의 단자(Q)에 가해지는 마찰이 감소할 수 있다. In the process of inserting the device P under test, since the contact ball 300 operates by rolling, despite the close contact between the terminal Q of the device P under test and the contact ball 300, the contact member 200 ) and friction applied to the terminal Q of the device P under test can be reduced.

따라서 컨택트 부재(200)와 피검사 디바이스(P)의 마모 및 변형과 같은 손상이 방지될 수 있다. 따라서, 테스트 소켓(1)의 사용 연한이 증가하고, 피검사 디바이스의 검사 결과의 신뢰성이 높아질 수 있다.Accordingly, damage such as wear and deformation of the contact member 200 and the device P under test can be prevented. Therefore, the lifespan of the test socket 1 can be increased, and the reliability of test results of the device under test can be increased.

아울러, 앞서 설명한 바와 같이, 컨택트 볼(300)은 접촉면(310)을 구비함으로서, 컨택트 볼(300)과 컨택트 부재(200), 및 컨택트 볼(300)과 피검사 디바이스의 단자가 서로 면접촉할 수 있다. 따라서 접촉 안정성이 높아질 수 있다.In addition, as described above, the contact ball 300 has a contact surface 310, so that the contact ball 300 and the contact member 200 and the contact ball 300 and the terminals of the device under test can make surface contact with each other. can Therefore, contact stability can be increased.

또한, 본 발명에 의하면, 피검사 디바이스가 테스트 소켓(1) 내로 탑재될 때, 마찰이 감소하므로 전체적인 설비 운영이 유리할 수 있다.In addition, according to the present invention, when the device under test is mounted into the test socket 1, since friction is reduced, overall facility operation may be advantageous.

이상에서는 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.Although preferred embodiments have been shown and described above, the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and ordinary knowledge in the art to which the present invention belongs without departing from the gist of the present invention claimed in the claims Of course, various modifications are possible by the possessor, and these modifications should not be individually understood from the technical spirit or prospect of the present invention.

1: 테스트 소켓
100: 베이스 부재
110: 탑재 슬롯
120: 제1 수납부
130: 제2 수납부
132: 테이퍼부
200: 컨택트 부재
210: 슬로프부
220: 연결 푸트
230: 고정 돌부
300: 컨택트 볼
310: 접촉면
320: 반구형 부분1: test socket
100: base member
110: mounting slot
120: first storage unit
130: second storage unit
132: taper part
200: no contact
210: slope part
220: connection foot
230: fixed protrusion
300: contact ball
310: contact surface
320: hemispherical part

Claims (5)

피검사 디바이스가 투입되는 탑재 슬롯을 갖는 베이스 부재;
상기 베이스 부재 내에 탑재되며, 적어도 일 부분이 상기 탑재 슬롯 내에 돌출되는 컨택트 볼; 및
상기 베이스 부재 내에 탑재되며, 적어도 일 부분이 상기 컨택트 볼과 접하는 컨택트 부재; 를 포함하는 테스트 소켓.a base member having a mounting slot into which a device under test is put;
a contact ball mounted in the base member, at least a portion of which protrudes into the mounting slot; and
a contact member mounted within the base member and having at least one portion in contact with the contact ball; A test socket containing a . 제1항에 있어서,
상기 베이스 부재는,
상기 탑재 슬롯과 교차하며, 상기 탑재 슬롯을 관통하는 방향으로 관통되는 제2 수납부를 포함하고,
상기 제2 수납부는,
상기 탑재 슬롯과 면하는 부분에 형성된 테이퍼부를 포함하는 테스트 소켓.According to claim 1,
The base member,
A second accommodating portion intersecting the mounting slot and penetrating in a direction penetrating the mounting slot;
The second storage part,
A test socket including a tapered portion formed at a portion facing the mounting slot. 제2항에 있어서,
상기 베이스 부재는,
상기 탑재 슬롯 상에 형성되며 후방이 오픈된 컨택트 부재 투입부를 포함하고,
상기 제2 수납부는 상기 컨택트 부재 투입부를 상하 방향으로 관통하는 테스트 소켓.According to claim 2,
The base member,
A contact member inlet formed on the mounting slot and having an open rear,
The second receiving part penetrates the contact member insertion part in the vertical direction. 제3항에 있어서,
상기 컨택트 부재는,
하방향으로 경사진 슬로프부를 포함하며,
상기 컨택트 볼은 상기 슬로프부 하부에 위치하는 테스트 소켓.According to claim 3,
The contact member,
Including a slope portion inclined downward,
The contact ball is a test socket located below the slope portion. 제4항에 있어서,
상기 컨택트 볼은,
둘레면을 따라서 형성된 접촉면을 가지며,
상기 접촉면은 타 부분에 비해서 곡률 반경이 상대적으로 더 큰 부분인 테스트 소켓.
According to claim 4,
The contact ball,
It has a contact surface formed along the circumferential surface,
The test socket wherein the contact surface is a portion having a relatively larger radius of curvature than other portions.
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