KR20230044930A - Film for protective film formation, sheet for protective film formation, composite sheet for protective film formation, rework method and device manufacturing method - Google Patents

Film for protective film formation, sheet for protective film formation, composite sheet for protective film formation, rework method and device manufacturing method Download PDF

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Abstract

Provided are a protective film-forming film that exhibits good reworkability even when the protective film-forming film that has been scratched after application is reworked, a protective film-forming sheet and a protective film-forming composite sheet including the same, a rework method, and a method of manufacturing of a device such as a semiconductor device, etc. In the protective film-forming film for forming a protective film, the elongation rate when the protective film-forming film breaks in the right-angle tear test is 200% or less at 23℃, and the adhesion to the silicon wafer after one hour of applying the protective film on the #2000 polished surface of the silicon wafer is 20 N/25 mm or less at 23℃.

Description

보호막 형성 필름, 보호막 형성용 시트, 보호막 형성용 복합 시트, 리워크 방법 및 장치의 제조 방법{FILM FOR PROTECTIVE FILM FORMATION, SHEET FOR PROTECTIVE FILM FORMATION, COMPOSITE SHEET FOR PROTECTIVE FILM FORMATION, REWORK METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD}Protective film forming film, sheet for forming a protective film, composite sheet for forming a protective film, rework method and method for manufacturing a device

본 발명은 보호막 형성 필름, 보호막 형성용 시트, 보호막 형성용 복합 시트, 리워크 방법 및 장치의 제조 방법에 관한 것이다. 특히, 반도체 웨이퍼 등의 워크 또는 워크를 가공하여 얻어지는 반도체 칩 등의 가공물을 보호하기 위해서 바람직하게 사용되는 보호막 형성 필름, 당해 보호막 형성 필름을 구비하는 보호막 형성용 시트 및 보호막 형성용 복합 시트, 그리고, 리워크 방법 및, 반도체 칩 등을 구비하는 장치의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a film for forming a protective film, a sheet for forming a protective film, a composite sheet for forming a protective film, a rework method, and a method for manufacturing an apparatus. In particular, a protective film-forming film preferably used to protect a workpiece such as a semiconductor wafer or a workpiece such as a semiconductor chip obtained by processing the workpiece, a sheet for forming a protective film and a composite sheet for forming a protective film having the protective film-forming film, and It relates to a rework method and a method of manufacturing a device including a semiconductor chip and the like.

최근, 플립 칩 본딩으로 불리는 실장법에 의해서 반도체 장치를 제조하는 것이 행해지고 있다. 이 실장법에서는, 범프 등의 볼록상 전극이 형성된 회로면을 갖는 반도체 칩을 실장할 때에, 반도체 칩의 회로면과 기판의 칩 탑재면이 대향하도록 반도체 칩을 반전 (페이스 다운) 시켜, 반도체 칩의 회로면과 기판의 칩 탑재면을 무선으로 접합하고 있다. 따라서, 반도체 칩의 회로면과는 반대측의 면 (회로가 형성되어 있지 않은 면. 이후, 이면이라고도 한다.) 은 외부에 노출된다.In recent years, manufacturing of semiconductor devices has been performed by a mounting method called flip chip bonding. In this mounting method, when mounting a semiconductor chip having a circuit surface on which convex electrodes such as bumps are formed, the semiconductor chip is inverted (face down) so that the circuit surface of the semiconductor chip and the chip mounting surface of the substrate face each other. The circuit surface of the circuit board and the chip mounting surface of the board are bonded wirelessly. Therefore, the surface opposite to the circuit surface of the semiconductor chip (a surface on which circuits are not formed. Hereafter referred to as a back surface) is exposed to the outside.

반도체 칩의 이면이 외부에 노출되어 있으면, 그 후의 공정에 있어서 반송시 등의 충격에서 기인하는 균열이나 결손 등의 치핑이 발생될 우려가 있다. 그래서, 이와 같은 치핑으로부터 반도체 칩을 보호하기 위해서, 반도체 칩의 이면에는, 유기 재료로 구성되는 경질의 수지막이 보호막으로서 형성되는 경우가 많다.If the back surface of the semiconductor chip is exposed to the outside, there is a risk that chipping, such as cracks or fractures, caused by impact during conveyance or the like may occur in subsequent steps. Therefore, in order to protect the semiconductor chip from chipping, a hard resin film composed of an organic material is often formed as a protective film on the back surface of the semiconductor chip.

이와 같은 보호막은, 그 전구체인 미경화의 수지 필름 (이후, 보호막 형성 필름이라고도 한다.) 을 경화시킴으로써 형성된다. 보호막 형성 필름은 반도체 웨이퍼의 이면에 첩부되고, 보호막 형성 필름의 경화 전 또는 경화 후에, 반도체 웨이퍼와 보호막 형성 필름 또는 보호막이 다이싱되어 복수의 소편으로 분할된다 (개편화된다). 분할된 소편은, 이면에 보호막을 갖는 반도체 칩 (보호막 부착 반도체 칩) 이다.Such a protective film is formed by curing an uncured resin film (hereinafter also referred to as a protective film forming film) as the precursor. The protective film forming film is attached to the back surface of the semiconductor wafer, and before or after curing of the protective film forming film, the semiconductor wafer and the protective film forming film or protective film are diced and divided into a plurality of small pieces (individualized). The divided small piece is a semiconductor chip having a protective film on its back surface (semiconductor chip with a protective film).

그러나, 보호막 형성 필름을 반도체 웨이퍼에 첩부하는 공정에 있어서는, 첩부해야 할 위치로부터 어긋나 보호막 형성 필름이 첩부될 경우, 첩부된 보호막 형성 필름에 주름이 발생되는 경우 등의 보호막 형성 필름이 적절히 반도체 웨이퍼에 첩부되지 않는 경우가 있다.However, in the step of attaching the protective film forming film to the semiconductor wafer, when the protective film forming film is affixed out of position from the position to be attached, the protective film forming film, such as when wrinkles are generated in the attached protective film forming film, is properly applied to the semiconductor wafer There are cases where it is not attached.

반도체 웨이퍼에 보호막 형성 필름이 적절히 첩부되어 있지 않을 경우, 보호막 부착 칩의 수율이 저하된다는 문제가 있다. 그래서, 보호막 형성 필름이 적절히 첩부되어 있지 않을 경우에는, 당해 보호막 형성 필름을 반도체 웨이퍼로부터 벗겨, 반도체 웨이퍼를, 보호막 형성 필름이 첩부되기 전의 상태로 되돌리는 것이 행해진다. 이것은 리워크로 불린다. 그 후, 벗겨진 보호막 형성 필름과는 별도의 보호막 형성 필름을 반도체 웨이퍼에 첩부하는 것이 행해진다.When the protective film formation film is not properly affixed on the semiconductor wafer, there is a problem that the yield of chips with a protective film is lowered. Then, when the protective film forming film is not affixed appropriately, the said protective film forming film is peeled off from a semiconductor wafer, and returning a semiconductor wafer to the state before a protective film forming film is affixed is performed. This is called a rework. After that, sticking a protective film forming film different from the peeled protective film forming film onto the semiconductor wafer is performed.

리워크에 적절한 보호막 형성 필름으로서, 특허문헌 1 은, 소정의 아크릴 중합체를 포함하고, 두께 200 ㎛ 에 있어서의 파단 신도가 소정의 범위 내인 보호막 형성용 시트를 개시하고 있다.As a protective film-forming film suitable for rework, Patent Literature 1 discloses a sheet for forming a protective film containing a predetermined acrylic polymer and having a breaking elongation at a thickness of 200 µm within a predetermined range.

일본 공개특허공보 2016-141749호Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-141749

그러나, 본 발명자는, 첩부된 보호막 형성 필름에 흠집이 발생되어 보호막 형성 필름의 두께가 균일하지 않을 부분이 발생되어 있는 경우, 리워크를 행하기 위해서, 이 보호막 형성 필름을 반도체 웨이퍼로부터 벗기면, 보호막 형성 필름의 일부가 잔류물로서 반도체 웨이퍼 상에 남는 것을 알아내었다. 이와 같은 잔류물이 발생되면, 반도체 웨이퍼의 세정이 필요하게 되어, 공정수가 증가되는 등의 문제가 있었다.However, the inventors of the present invention, when scratches occur on the pasted protective film forming film and a portion where the thickness of the protective film forming film is not uniform occurs, in order to perform rework, if this protective film forming film is peeled off from the semiconductor wafer, the protective film It was found that part of the formed film remained on the semiconductor wafer as a residue. When such a residue is generated, cleaning of the semiconductor wafer is required, resulting in an increase in the number of processes.

또한, 본 발명자는, 이와 같은 잔류물이, 보호막 형성 필름의 흠집 근방에 있어서의 두께의 불균일성에서 기인하는 보호막 형성 필름의 신장 및 파단에 의한 잔류물인 것을 알아내었다.Further, the present inventors have found that such a residue is a residue caused by elongation and breakage of the protective film-forming film resulting from non-uniformity in thickness in the vicinity of the flaw of the protective film-forming film.

종래, 보호막 형성 필름의 위치 어긋남, 주름의 발생 등에 기초하는 리워크에서는, 두께가 균일한 보호막 형성 필름을 벗기기 위해서, 보호막 형성 필름의 반도체 웨이퍼에의 높은 점착력에서 기인하는 잔류물이 문제로 되어 있었다. 즉, 보호막 형성 필름에 흠집이 있는 경우와, 흠집이 없는 경우에는, 잔류물이 발생되는 원인이 상이하다.Conventionally, in rework based on misalignment of the protective film forming film, occurrence of wrinkles, etc., in order to peel off the protective film forming film having a uniform thickness, residue resulting from high adhesive force of the protective film forming film to the semiconductor wafer has been a problem. . That is, the cause of residue generation is different between the case where the protective film-forming film has flaws and the case where there are no flaws.

따라서, 특허문헌 1 에 기재된 보호막 형성용 시트는, 흠집이 발생되어 있는 보호막 형성용 시트를 리워크하는 경우에는, 양호한 리워크성을 발휘할 수 없어, 잔류물이 발생되어 버린다는 문제가 있었다.Therefore, the sheet for forming a protective film described in Patent Literature 1 had a problem that, when a scratched sheet for forming a protective film was reworked, good reworkability could not be exhibited and residue was generated.

본 발명은 이와 같은 실상을 감안하여 이루어지고, 첩부시에 또는 첩부 후에 흠집이 발생된 보호막 형성 필름을 리워크하는 경우여도, 리워크성이 양호한 보호막 형성 필름, 이것을 구비하는 보호막 형성용 시트 및 보호막 형성용 복합 시트, 그리고, 리워크 방법 및 반도체 장치 등의 장치의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of such an actual situation, and even when reworking a protective film-forming film having scratches during or after sticking, a protective film-forming film with good reworkability, a sheet for forming a protective film comprising the same, and a protective film It aims at providing the manufacturing method of apparatuses, such as a composite sheet for formation, a rework method, and a semiconductor device.

본 발명의 양태는, 아래와 같다.An aspect of the present invention is as follows.

[1] 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성 필름으로서, [1] As a protective film forming film for forming a protective film,

직각 인열 시험에 있어서의 보호막 형성 필름이 파단되었을 때의 신장률이 23 ℃ 에 있어서 200 % 이하이고, The elongation rate when the protective film-forming film breaks in the right angle tear test is 200% or less at 23°C,

실리콘 웨이퍼의 #2000 연마면에 보호막 형성 필름을 첩부하고 나서 1 시간 후의 실리콘 웨이퍼에의 점착력이 23 ℃ 에 있어서 20 N/25 ㎜ 이하인 보호막 형성 필름이다.It is a protective film formation film whose adhesive force to a silicon wafer 1 hour after affixing a protective film formation film to the #2000 polishing surface of a silicon wafer is 20 N/25 mm or less at 23 degreeC.

[2] 보호막 형성 필름이, 열 경화성 또는 에너지선 경화성인 [1] 에 기재된 보호막 형성 필름이다.[2] The protective film-forming film is the protective film-forming film according to [1], which is thermosetting or energy ray-curable.

[3] [1] 또는 [2] 에 기재된 보호막 형성 필름과, 보호막 형성 필름의 적어도 일방의 주면에 박리 가능하게 배치된 박리 필름을 갖는 보호막 형성용 시트이다.[3] A sheet for forming a protective film comprising the film for forming a protective film according to [1] or [2] and a release film disposed on at least one main surface of the film for forming a protective film so that peeling is possible.

[4] [1] 또는 [2] 에 기재된 보호막 형성 필름과, 보호막 형성 필름을 지지하는 지지 시트를 갖는 보호막 형성용 복합 시트이다.[4] A composite sheet for forming a protective film comprising the film for forming a protective film according to [1] or [2] and a support sheet for supporting the film for forming a protective film.

[5] [1] 또는 [2] 에 기재된 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정과, [5] a step of attaching the protective film-forming film according to [1] or [2] to the back side of the work;

첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정과, A step of inspecting the appearance of the attached protective film forming film;

첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정에 있어서, 첩부된 보호막 형성 필름에 흠집이 발견된 경우에, 흠집이 있는 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗기는 공정을 갖는 리워크 방법이다.In the step of inspecting the external appearance of the pasted protective film forming film, it is a rework method comprising a step of peeling off the scratched protective film forming film from the work when a flaw is found in the pasted protective film forming film.

[6] [1] 또는 [2] 에 기재된 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정과, [6] a step of attaching the protective film-forming film according to [1] or [2] to the back side of the work;

첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정과, A step of inspecting the appearance of the attached protective film forming film;

첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정에 있어서, 첩부된 보호막 형성 필름에 흠집이 발견된 경우에, 흠집이 있는 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗기는 공정과, In the step of inspecting the external appearance of the attached protective film forming film, in the case where a flaw is found in the attached protective film forming film, a step of peeling off the scratched protective film forming film from the work;

워크로부터 벗긴 보호막 형성 필름과는 별도의, [1] 또는 [2] 에 기재된 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정과, A step of attaching a protective film forming film according to [1] or [2] to the back surface of the work, which is different from the protective film forming film peeled off from the work;

보호막 형성 필름을 보호막화하여 보호막 부착 워크를 얻는 공정과, A step of forming a protective film forming film into a protective film to obtain a workpiece with a protective film;

보호막 부착 워크를 가공하여, 보호막 부착 워크 가공물을 얻는 공정을 갖는 장치의 제조 방법이다.It is a manufacturing method of an apparatus which has the process of processing the workpiece|work with a protective film and obtaining the workpiece|workpiece with a protective film.

본 발명에 의하면, 첩부시에 또는 첩부 후에 흠집이 발생된 보호막 형성 필름을 리워크하는 경우여도, 리워크성이 양호한 보호막 형성 필름, 이것을 구비하는 보호막 형성용 시트 및 보호막 형성용 복합 시트, 그리고, 리워크 방법 및 반도체 장치 등의 장치의 제조 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention, even in the case of reworking the protective film-forming film in which scratches occur during or after sticking, a protective film-forming film having good reworkability, a sheet for forming a protective film and a composite sheet for forming a protective film comprising the same, and A rework method and a manufacturing method of devices such as semiconductor devices can be provided.

도 1 은, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름이 첩부된 워크의 일례를 나타내는 단면 모식도이다.
도 2a 는, 워크에 첩부되어 있는 보호막 형성 필름에 흠집부가 발생되어 있는 것을 나타내는 사시 모식도이다.
도 2b 는, 도 2a 에 있어서의 IIB-IIB 선을 따른 단면 모식도이다.
도 3a 는, 종래예에 관련된 보호막 형성 필름이 첩부된 워크로부터, 보호막 형성 필름을 벗기기 시작한 직후의 모습을 나타내는 평면 모식도이다.
도 3b 는, 도 3a 에 있어서의 IIIB-IIIB 선을 따른 단면 모식도이다.
도 3c 는, 도 3a 에 이어지는 도면이다.
도 3d 는, 도 3b 에 이어지는 도면이다.
도 3e 는, 도 3c 에 이어지는 도면이다.
도 3f 는, 도 3d 에 이어지는 도면이다.
도 4a 는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름이 첩부된 워크로부터, 보호막 형성 필름을 박리하여 박리 계면이 흠집부에 도달한 모습을 나타내는 평면 모식도이다.
도 4b 는, 도 4a 에 있어서의 IVB-IVB 선을 따른 단면 모식도이다.
도 5 는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 시트의 일례를 나타내는 단면 모식도이다.
도 6 은, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 복합 시트의 일례를 나타내는 단면 모식도이다.
도 7a 는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 시트를 워크의 이면에 첩부하는 공정을 설명하기 위한 단면 모식도이다.
도 7b 는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 복합 시트를 워크의 이면에 첩부하는 공정을 설명하기 위한 단면 모식도이다.
도 8 은, 보호막 부착 워크를 다이싱하여 보호막 부착 칩을 얻는 공정을 설명하기 위한 단면 모식도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a cross-sectional schematic view showing an example of a workpiece to which a protective film-forming film according to the present embodiment is affixed.
Fig. 2A is a schematic perspective view showing that scratches are generated in the protective film-forming film adhered to the work.
Fig. 2B is a cross-sectional schematic view taken along the line IIB-IIB in Fig. 2A.
3A is a schematic plan view showing a state immediately after starting to peel off a protective film forming film from a work to which a protective film forming film according to a conventional example was stuck.
Fig. 3B is a cross-sectional schematic diagram taken along line IIIB-IIIB in Fig. 3A.
Fig. 3C is a view continuing from Fig. 3A.
Fig. 3d is a view continuing from Fig. 3b.
Fig. 3E is a diagram continuing from Fig. 3C.
Fig. 3f is a diagram continuing from Fig. 3d.
4A is a schematic plan view showing a state in which a peeling interface reaches a flawed portion by peeling a protective film forming film from a work to which the protective film forming film according to the present embodiment has been stuck.
Fig. 4B is a cross-sectional schematic view taken along the IVB-IVB line in Fig. 4A.
Fig. 5 is a schematic cross-sectional view showing an example of the sheet for forming a protective film according to the present embodiment.
Fig. 6 is a schematic cross-sectional view showing an example of the composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment.
7A is a cross-sectional schematic diagram for explaining a step of attaching the sheet for forming a protective film according to the present embodiment to the back surface of a workpiece.
7B is a cross-sectional schematic view for explaining a step of attaching the composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment to the back surface of a workpiece.
8 is a cross-sectional schematic diagram for explaining a step of obtaining chips with a protective film by dicing the work with a protective film.

이하, 본 발명을 구체적인 실시형태에 기초하여, 도면을 사용하여 상세하게 설명한다. 먼저, 본 명세서에서 사용하는 주된 용어를 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail using drawings based on specific embodiments. First, the main terms used in this specification will be described.

워크는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 시트 또는 보호막 형성용 복합 시트가 구비하는 보호막 형성 필름이 첩부되어 가공되는 판상체이다. 워크로는, 예를 들어, 웨이퍼, 패널을 들 수 있다. 구체적으로는, 반도체 웨이퍼, 반도체 패널을 들 수 있다. 워크 가공물로는, 예를 들어, 웨이퍼를 개편화하여 얻어지는 칩을 들 수 있다. 구체적으로는, 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어지는 반도체 칩이 예시된다.The work is a plate-like body to which the protective film-forming film of the sheet for forming a protective film or the composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment is applied and processed. As a work, a wafer and a panel are mentioned, for example. Specifically, a semiconductor wafer and a semiconductor panel are mentioned. Examples of the workpiece include chips obtained by dicing a wafer into pieces. Specifically, a semiconductor chip obtained by cutting a semiconductor wafer into pieces is exemplified.

웨이퍼 등의 워크의「표면」은, 회로, 범프 등의 볼록상 전극 등이 형성된 면을 가리키고,「이면」은 회로, 전극 (예를 들어 범프 등의 볼록상 전극) 등이 형성되어 있지 않은 면을 가리킨다. 보호막은, 웨이퍼 및 칩의 이면에 형성된다.The "surface" of a work such as a wafer refers to the surface on which convex electrodes such as circuits and bumps are formed, and the "rear surface" refers to the surface on which circuits and electrodes (eg, convex electrodes such as bumps) are not formed. points to A protective film is formed on the back surface of the wafer and chip.

리워크는, 별도의 보호막 형성 필름을 다시 워크에 첩부하는 것을 목적으로 하고, 워크에 첩부된 보호막 형성 필름을 벗기는 것을 말한다. 보호막 형성 필름의 양호한 리워크성이란, 보호막 형성 필름을 벗길 때에, 워크 상에 보호막 형성 필름을 잔존시키지 않고, 벗길 수 있는 성질의 것을 말한다.Rework aims at sticking another protective film forming film on a work again, and means peeling off the protective film forming film stuck on the work. The good reworkability of the protective film-forming film refers to a property that can be peeled off without leaving the protective film-forming film on the workpiece when peeling off the protective film-forming film.

웨이퍼의 개편화는, 웨이퍼를 회로마다 분할하여 칩을 얻는 것을 말한다.Segmentation of a wafer refers to obtaining chips by dividing a wafer for each circuit.

본 명세서에 있어서, 예를 들어「(메트)아크릴레이트」라는 표기는,「아크릴레이트」및「메타크릴레이트」의 쌍방을 나타내는 용어로 사용하고 있고, 다른 유사 표기에 대해서도 동일하다.In this specification, for example, the notation "(meth)acrylate" is used as a term indicating both "acrylate" and "methacrylate", and the same applies to other similar notations.

「에너지선」은, 자외선, 전자선 등을 가리키고, 바람직하게는 자외선이다."Energy rays" refer to ultraviolet rays, electron beams, and the like, and are preferably ultraviolet rays.

박리 필름은, 점착제층 또는 보호막 형성 필름을 박리 가능하게 지지하는 필름이다. 필름이란, 두께를 한정하는 것이 아니고, 시트를 포함하는 개념으로 사용한다.A peeling film is a film which supports an adhesive layer or a protective film formation film so that peeling is possible. The film is used as a concept including a sheet without limiting the thickness.

보호막 형성 필름용 조성물 등의 조성물에 관한 설명에 있어서의 질량비는, 유효 성분 (고형분) 에 기초하고 있고, 특별한 설명이 없는 한, 용매는 산입하지 않는다.The mass ratio in the description of the composition, such as the composition for forming a protective film, is based on the active ingredient (solid content), and the solvent is not included unless otherwise specified.

(1. 보호막 형성 필름) (1. Protective film forming film)

본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름은, 워크에 첩부되고, 보호막화함으로써, 워크 또는 워크의 가공물을 보호하기 위한 보호막을 형성한다.The protective film-forming film according to the present embodiment forms a protective film for protecting a work or a workpiece of the work by attaching the film to a work and forming a protective film.

「보호막화하는」이란, 보호막 형성 필름을, 워크 또는 워크의 가공물을 보호하기에 충분한 특성을 갖는 상태로 하는 것이다. 구체적으로는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름이 경화성인 경우에는,「보호막화하는」이란, 미경화의 보호막 형성 필름을 경화물로 하는 것을 말한다. 바꾸어 말하면, 보호막화된 보호막 형성 필름은, 보호막 형성 필름의 경화물로서, 보호막 형성 필름과는 상이하다."To form a protective film" means to make the protective film-forming film into a state having characteristics sufficient to protect the work or the workpiece of the work. Specifically, when the protective film-forming film according to the present embodiment is curable, "to form a protective film" means to use an uncured protective film-forming film as a cured product. In other words, the protective film forming film formed into a protective film is a cured product of the protective film forming film, and is different from the protective film forming film.

경화성 보호막 형성 필름에 워크를 중첩한 후, 보호막 형성 필름을 경화시킴으로써, 보호막을 워크에 강고하게 접착할 수 있어, 내구성을 갖는 보호막을 형성할 수 있다.After the work is superimposed on the curable protective film-forming film, the protective film can be firmly adhered to the work by curing the protective film-forming film, thereby forming a durable protective film.

한편, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름이 경화성 성분을 함유하지 않고 비경화의 상태에서 사용되는 경우에는, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름이 워크에 첩부된 시점에서, 당해 보호막 형성 필름은 보호막화된다. 바꾸어 말하면, 보호막화된 보호막 형성 필름은, 보호막 형성 필름과 동일하다.On the other hand, when the protective film-forming film according to the present embodiment does not contain a curable component and is used in an uncured state, the protective film-forming film according to the present embodiment is formed into a protective film at the time when the protective film-forming film according to the present embodiment is attached to the work. do. In other words, the protective film forming film formed into a protective film is the same as the protective film forming film.

높은 보호 성능이 요구되지 않는 경우에는, 보호막 형성 필름을 경화시킬 필요가 없기 때문에, 보호막 형성 필름의 사용이 용이하다.When high protective performance is not required, since there is no need to cure the protective film forming film, use of the protective film forming film is easy.

또, 보호막 형성 필름은, 상온 (23 ℃) 에서 점착성을 갖거나, 가열에 의해서 점착성을 발휘하는 것이 바람직하다. 이로써, 보호막 형성 필름에 워크를 중첩할 때에 양자를 첩합할 수 있다. 따라서, 보호막 형성 필름을 경화시키기 전에 위치 결정을 확실하게 행할 수 있다.Moreover, it is preferable that the protective film formation film has adhesiveness at normal temperature (23 degreeC), or exhibits adhesiveness by heating. Thereby, when overlapping a workpiece on the protective film formation film, both can be bonded together. Therefore, positioning can be reliably performed before curing the protective film forming film.

보호막 형성 필름은 1 층 (단층) 으로 구성되어 있어도 되고, 2 층 이상의 복수층으로 구성되어 있어도 된다. 보호막 형성 필름이 복수층을 갖는 경우, 이들 복수층은, 서로 동일해도 되고 상이해도 되며, 이들 복수층을 구성하는 층의 조합은 특별히 제한되지 않는다.The protective film-forming film may be composed of one layer (single layer) or may be composed of a plurality of layers of two or more layers. When the protective film-forming film has multiple layers, these multiple layers may be the same as or different from each other, and the combination of the layers constituting these multiple layers is not particularly limited.

본 실시형태에서는, 보호막 형성 필름은 1 층 (단층) 인 것이 바람직하다. 1 층의 보호막 형성 필름은 두께에 관해서 높은 정밀도가 얻어지기 때문에 생산이 용이하다. 또, 보호막 형성 필름이 복수층으로 구성되면, 층간의 밀착성 및 각 층의 신축성을 고려할 필요가 있고, 이것들에 기인하여 피착체로부터의 박리가 발생될 리스크가 있다. 보호막 형성 필름이 1 층인 경우에는, 상기한 리스크를 저감할 수 있어, 설계의 자유도도 높아진다. 또, 온도 변화가 발생되는 공정 (리플로 처리시나 장치의 사용시) 에서, 층간의 열신축성의 차이로부터 층간 박리가 발생될 리스크도 저감할 수 있다.In this embodiment, it is preferable that the protective film forming film is one layer (single layer). The one-layer protective film-forming film is easy to produce because high accuracy in terms of thickness can be obtained. In addition, when the protective film forming film is composed of a plurality of layers, it is necessary to consider the adhesion between the layers and the elasticity of each layer, and there is a risk of peeling from the adherend due to these. When the protective film-forming film is one layer, the risk described above can be reduced, and the degree of freedom in design is also increased. In addition, in a process in which a temperature change occurs (at the time of reflow treatment or use of the device), the risk of occurrence of separation between layers due to the difference in thermal elasticity between the layers can also be reduced.

보호막 형성 필름의 두께는, 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 100 ㎛ 이하, 70 ㎛ 이하, 45 ㎛ 이하, 30 ㎛ 이하이다. 또, 보호막 형성 필름의 두께는, 바람직하게는 5 ㎛ 이상, 10 ㎛ 이상, 15 ㎛ 이상이다. 보호막 형성 필름의 두께가 상기 범위에 있으면, 얻어지는 보호막의 보호 성능이 양호해진다.The thickness of the protective film-forming film is not particularly limited, but is preferably 100 μm or less, 70 μm or less, 45 μm or less, or 30 μm or less. Moreover, the thickness of the protective film formation film is preferably 5 μm or more, 10 μm or more, or 15 μm or more. When the thickness of the protective film-forming film is in the above range, the protective performance of the protective film obtained becomes good.

또한, 보호막 형성 필름의 두께는, 보호막 형성 필름 전체의 두께를 의미한다. 예를 들어, 복수층으로 구성되는 보호막 형성 필름의 두께는, 보호막 형성 필름을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다.In addition, the thickness of a protective film formation film means the thickness of the whole protective film formation film. For example, the thickness of a protective film forming film composed of multiple layers means the total thickness of all layers constituting the protective film forming film.

본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름은 워크의 이면을 보호하기 위해서 첩부된다. 도 1 에, 보호막 형성 필름이 이면에 첩부된 워크를 나타낸다. 당해 워크의 이면측 (도 1 에서는 하방측) 에 보호막 형성 필름 (10) 이 첩부되고, 워크 (6) 의 표면측 (도 1 에서는 상방측) 에 볼록상 전극 (6b) 이 형성되어 있다. 워크 (6) 의 표면측에는 회로가 형성되어 있고, 볼록상 전극 (6b) 은 회로와 전기적으로 접속하도록 형성되어 있다.The protective film-forming film according to the present embodiment is applied to protect the back surface of the workpiece. 1 shows a work in which a protective film forming film is affixed to the back surface. A protective film formation film 10 is attached to the back side of the workpiece (lower side in FIG. 1 ), and a convex electrode 6b is formed on the front side of the work 6 (upper side in FIG. 1 ). A circuit is formed on the surface side of the work 6, and the convex electrode 6b is formed so as to be electrically connected to the circuit.

보호막 형성 필름이 워크에 첩부될 때에, 통상적으로 후술하는 보호막 형성용 시트 또는 보호막 형성용 복합 시트의 형태로, 보호막 형성 필름의 주면을 보호하기 위해서 당해 주면 상에 배치되는 박리 필름을 박리하고 나서, 보호막 형성 필름의 일방의 주면이 워크의 이면에 첩부된다.When the protective film-forming film is attached to the work, in order to protect the main surface of the protective film-forming film in the form of a sheet for forming a protective film or a composite sheet for forming a protective film, which will be described later, the release film disposed on the main surface is peeled off, One main surface of the film for forming a protective film is affixed to the back surface of the workpiece.

또한, 첩부 후에는, 특히 보호막 형성용 시트에 있어서는, 워크의 이면에 접하고 있는 주면과 반대측의 주면은 외부에 노출되어 있는 경우가 많다.In addition, after sticking, especially in the sheet for forming a protective film, the main surface on the opposite side to the main surface in contact with the back surface of the workpiece is exposed to the outside in many cases.

보호막 형성 필름이 첩부된 워크는 외관 검사에 제공된다. 이 외관 검사에 있어서, 보호막 형성 필름에 외관 불량이 발생되어 있지 않은지의 여부가 검사된다. 구체적으로는, 첩부된 보호막 형성 필름의 위치 어긋남, 주름의 발생 등이 발생되어 있지 않은지의 여부가 검사된다. 외관 불량이 발생되어 있으면, 보호막 형성 필름은 리워크된다.The work to which the protective film forming film was affixed is subjected to visual inspection. In this appearance inspection, it is inspected whether or not defects in appearance have occurred in the protective film-forming film. Specifically, it is inspected whether or not misalignment of the pasted protective film forming film, generation of wrinkles, or the like has not occurred. If appearance defects have occurred, the protective film-forming film is reworked.

그런데, 보호막 형성 필름이 경화성인 경우, 보호막 형성 필름은 보호막에 비해서 연질이다.By the way, when a protective film formation film is curable, compared with a protective film formation film, it is soft.

따라서, 보호막 형성 필름의 첩부시에, 경질인 소이물 (小異物) 이 부착된 라미네이트 롤 등으로 가압하거나, 첩부 직후에, 첩부 장치 등과 보호막 형성 필름이 접촉하거나 하면, 보호막 형성 필름에 흠집 (예를 들어, 패임) 이 발생되기 쉽다.Therefore, when attaching the protective film forming film, pressing with a laminate roll or the like with a hard incendiary material attached thereto, or immediately after attaching, if the sticking device or the like and the protective film forming film come into contact, the protective film forming film is damaged (e.g. For example, dents) are likely to occur.

또, 워크에 첩부된 보호막 형성 필름은, 보호막화 (예를 들어, 경화) 하기 전에, 다른 공정에 제공되는 경우, 또는, 어느 공정부터 다른 공정까지 반송되는 경우가 있다. 그 때문에, 다른 공정에서 사용되는 장치, 반송 장치 등과 보호막 형성 필름이 접촉하면, 동일하게, 보호막 형성 필름에 흠집이 발생되기 쉽다.In addition, the protective film formation film affixed to the work may be transferred to another process before forming into a protective film (for example, curing), or conveyed from one process to another process. Therefore, similarly, when the protective film forming film contacts a device used in another process, a conveying device, etc., the protective film forming film is likely to be scratched.

이와 같은 흠집이 발생된 보호막 형성 필름을 보호막화하면, 흠집이 그대로 보호막으로 가져가게 되고, 보호막의 외관 불량으로 연결된다. 그 결과, 보호막 부착 워크 가공물 (예를 들어, 보호막 부착 칩) 의 수율이 저하된다.If the protective film-forming film having such scratches is converted into a protective film, the scratches are transferred to the protective film as they are, leading to poor appearance of the protective film. As a result, the yield of workpieces with a protective film (for example, chips with a protective film) decreases.

따라서, 보호막 형성 필름에 흠집이 발생되어 있는 경우에 대해서도, 보호막 형성 필름이 첩부된 워크의 외관 검사에 있어서, 보호막 형성 필름의 외관 불량으로서 판정될 필요가 있다.Therefore, even when the protective film forming film is scratched, it is necessary to judge the protective film forming film as a defective appearance in the external appearance inspection of the work to which the protective film forming film is affixed.

그 결과, 보호막 형성 필름에 흠집이 발생되어 있는 경우에는, 흠집이 발생되어 있는 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗겨, 흠집이 발생되어 있지 않은 별도의 보호막 형성 필름을 워크에 첩부한다. 즉, 흠집이 발생되어 있는 보호막 형성 필름을 리워크한다. 이로써, 보호막의 외관 불량이 발생되기 어려워져, 칩의 수율 저하를 억제할 수 있다.As a result, when the protective film forming film is scratched, the scratched protective film forming film is peeled off from the work, and another protective film forming film without scratches is attached to the work. That is, the scratched protective film forming film is reworked. This makes it difficult for the appearance defect of the protective film to occur, and a decrease in chip yield can be suppressed.

따라서, 보호막 형성 필름에 흠집이 발생되어 있는 경우여도, 리워크성이 양호할 것이 요구된다.Therefore, even if the protective film forming film is scratched, it is required to have good reworkability.

그러나, 흠집이 발생되어 있는 종래의 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗기는 경우에는, 하기에 나타내는 특유의 문제가 발생된다.However, in the case of peeling off the conventional protective film-forming film having scratches from the workpiece, the peculiar problem shown below arises.

도 2a 는, 워크 (6) 에 첩부되어 있는 종래의 보호막 형성 필름 (100) 에 흠집부 (12) 가 발생되어 있는 것을 나타내는 사시 모식도 (도 2a) 이다. 도 2b 는, 도 2a 에 있어서의 IIB-IIB 선을 따른 단면 모식도 (도 2b) 이다.FIG. 2A is a schematic perspective view ( FIG. 2A ) showing that a scratch portion 12 is generated in a conventional protective film-forming film 100 attached to a work 6 . Fig. 2B is a cross-sectional schematic diagram along the line IIB-IIB in Fig. 2A (Fig. 2B).

도 2a 에 나타내는 흠집부 (12) 는, 도 2b 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성 필름 (100) 의 표면이 패이거나 또는 깎여져 형성된 흠집이고, 보호막 형성 필름 (100) 을 관통하지 않을 정도의 흠집이다. 따라서, 흠집이 형성된 지점의 보호막 형성 필름 (100) 의 두께 T1 는, 흠집이 형성되어 있지 않은 지점의 보호막 형성 필름 (100) 의 두께 T 보다 작다.As shown in FIG. 2B , the flaw 12 shown in FIG. 2A is a flaw formed by denting or scraping the surface of the protective film forming film 100, and is a flaw that does not penetrate the protective film forming film 100. . Therefore, the thickness T 1 of the protective film-forming film 100 at the point where the flaws are formed is smaller than the thickness T 100 of the protective film-forming film 100 at the point where the flaws are not formed.

도 2a 및 b 에 나타내는 보호막 형성 필름 (100) 을 벗길 (리워크할) 경우, 예를 들어, 보호막 형성 필름 (100) 에 박리용 테이프를 첩부하고, 박리용 테이프를 소정의 방향으로 잡아당김으로써, 보호막 형성 필름 (100) 을 워크 (6) 로부터 당겨 벗긴다.When the protective film-forming film 100 shown in FIGS. 2A and B is peeled off (reworked), for example, by sticking a peeling tape on the protective film-forming film 100 and pulling the peeling tape in a predetermined direction , The protective film formation film 100 is pulled off from the work 6.

도 3a 는, 보호막 형성 필름 (100) 과 박리용 테이프 (30) 가 첩부된 워크 (6) 로부터, 보호막 형성 필름 (100) 을 벗기기 시작한 직후의 모습을 나타내는 평면 모식도이다. 도 3b 는, 도 3a 에 있어서의 IIIB-IIIB 선을 따른 단면 모식도이다.3A is a planar schematic diagram showing a state immediately after starting to peel off the protective film forming film 100 from the work 6 to which the protective film forming film 100 and the peeling tape 30 were attached. Fig. 3B is a cross-sectional schematic diagram taken along line IIIB-IIIB in Fig. 3A.

도 3a 및 b 에 있어서, 보호막 형성 필름 (100) 을 소정의 방향 (도 3a 및 b 에서는, 좌측에서 우측으로) 을 향하여 당겨 벗긴다. 보호막 형성 필름 (100) 의 박리 계면이 거의 흠집부 (12) 에 도달하면, 흠집부 (12) 의 두께는 흠집부가 발생되어 있지 않은 지점의 두께에 비해서 작기 때문에, 당겨 벗김에 대항하여 보호막 형성 필름 (100) 의 내부에 발생된 응력이 흠집부 (12) 근방에 집중된다.3A and B, the protective film-forming film 100 is pulled off in a predetermined direction (from left to right in FIGS. 3A and B). When the peeling interface of the protective film forming film 100 almost reaches the flawed portion 12, the thickness of the flawed portion 12 is smaller than the thickness at the point where the flawed portion does not occur, so that the protective film forming film resists peeling off. Stress generated inside 100 is concentrated in the vicinity of the flaw 12 .

더욱 당겨 벗김이 진행되면, 도 3c 및 d 에 나타내는 바와 같이, 집중된 응력에 의해서, 흠집부 (12) 근방이 신장하기 시작한다. 한편, 보호막 형성 필름 (100) 에 있어서, 흠집부 (12) 가 형성되어 있지 않은 다른 지점은 두께가 균일한 점에서, 당겨 벗김에 의해서, 다른 지점 전체에 응력이 걸리기 때문에, 다른 지점이 신장하기 시작하기 전에 워크 (6) 로부터 당겨 벗겨지고, 당겨 벗김이 쉽게 진행된다. 그 결과, 흠집부 (12) 이외의 지점은 워크 (6) 로부터의 당겨 벗김이 진행되기는 하지만, 흠집부 (12) 근방은 워크 (6) 로부터 당겨 벗겨지지 않고 계속 신장한다.As the peeling further proceeds, the vicinity of the flawed portion 12 starts to expand due to the concentrated stress, as shown in FIGS. 3C and 3D . On the other hand, in the protective film-forming film 100, the other points where the flaws 12 are not formed have a uniform thickness, and since stress is applied to all other points by peeling, the other points are less likely to elongate. It is pulled off from the work 6 before starting, and the peeling proceeds easily. As a result, although peeling from the work 6 proceeds at points other than the flawed portion 12, the vicinity of the flawed portion 12 continues to elongate without being pulled away from the work 6.

흠집부 (12) 근방의 신장이 한계에 도달하면, 흠집부 (12) 근방이 파단된다. 그리고, 도 3e 및 f 에 나타내는 바와 같이, 흠집부 (12) 근방은 벗겨지는 보호막 형성 필름 (100) 으로부터 떼어 내어져, 워크 상에 잔류물 (14) 로서 남겨진다. 흠집부 (12) 근방이 떼어 내어진 후에는, 보호막 형성 필름 (100) 에 대해서는, 두께가 상이한 부분인 흠집부 (12) 근방이 떼어 내어졌기 때문에, 보호막 형성 필름 (100) 의 전체의 두께가 균일해진다. 그 때문에, 보호막 형성 필름 (100) 에 신장이 잘 발생되지 않게 되어, 당겨 벗김이 양호하게 진행된다.When the elongation in the vicinity of the flaw 12 reaches the limit, the vicinity of the flaw 12 is broken. And as shown to FIG. 3E and f, the vicinity of the flaw part 12 is peeled off from the peeling protective film formation film 100, and remains as the residue 14 on the workpiece. After the scratch portion 12 vicinity is peeled off, about the protective film forming film 100, since the scratch portion 12 vicinity, which is a portion having a different thickness, is peeled off, the overall thickness of the protective film forming film 100 become uniform Therefore, elongation of the protective film-forming film 100 is less likely to occur, and peeling proceeds favorably.

또한, 본 실시형태에서는, 흠집부의 사이즈는, 예를 들어, 길이가 5 ㎜ 이상이고, 깊이 t 가 10 ㎛ 이상이며, 또한 보호막 형성 필름의 두께 T 로부터 흠집부의 깊이 t 를 뺀 값 T1 이 5 ㎛ 이상이다. 즉, T1 = T - t ≥ 5 ㎛ 이다. 이와 같은 흠집부가 보호막 형성 필름에 형성되면, 상기와 같은 박리시의 잔류물이 발생되기 쉽다.In the present embodiment, the size of the flaw is, for example, 5 mm or more in length, 10 µm or more in depth, and T 1 obtained by subtracting the depth t of the flaw from the thickness T of the protective film-forming film is 5. more than μm. That is, T 1 = T - t ≥ 5 µm. If such flaws are formed on the protective film-forming film, residues at the time of peeling as described above are likely to be generated.

이상으로부터, 흠집부가 형성된 보호막 형성 필름을 리워크하는 경우, 보호막 형성 필름을 벗기면, 리워크 후의 워크 상에 보호막 형성 필름의 잔류물이 발생되어 버린다. 워크에 다시 보호막 형성 필름을 첩부하는 경우에는, 잔류물을 제거할 필요가 있기 때문에, 여분의 공정이 증가되어 버린다는 문제가 있다.From the above, in the case of reworking the protective film forming film in which the flaws were formed, if the protective film forming film is peeled off, the residue of the protective film forming film will be generated on the workpiece after rework. In the case of attaching the protective film formation film to the work again, since it is necessary to remove the residue, there is a problem that an extra step is increased.

이에 비해서, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름은 후술하는 물성을 갖고 있기 때문에, 흠집부가 형성된 보호막 형성 필름을 리워크하는 경우여도, 리워크시에 잔류물이 잘 발생되지 않으며, 또한 워크의 파손이 억제된다.In contrast, since the protective film-forming film according to the present embodiment has the physical properties described below, even when the protective film-forming film with flaws is reworked, residue is less likely to be generated during rework, and damage to the work is less likely to occur. are suppressed

(1.1. 직각 인열 시험에서의 파단시의 신장률) (1.1. Elongation at break in right angle tear test)

본 실시형태에서는, 23 ℃ 에 있어서, 직각 인열 시험에 있어서, 보호막 형성 필름이 파단되었을 때의 신장률이 200 % 이하이다. 파단시의 신장률은, JIS K 7128-3 : 1998 에 준하여 측정된다. 즉, 보호막 형성 필름의 파단시의 신장률은, JIS K 7128-3 : 1998 에 규정되어 있는 측정 방법 (직각형 인열법) 과 동일하게 측정되지만, 측정 조건이 상이해도 된다.In this embodiment, in the right angle tear test at 23°C, the elongation rate when the protective film-forming film is broken is 200% or less. Elongation at break is measured according to JIS K 7128-3:1998. That is, the elongation at break of the protective film-forming film is measured in the same way as the measuring method (rectangular tearing method) specified in JIS K 7128-3:1998, but the measuring conditions may be different.

구체적인 측정 방법은 실시예에 있어서 설명한다. 시험편은, JIS K 7128-3 : 1998 의 도 2 에 나타내는 형상을 갖고 있고, 시험편의 중앙부는, 90°의 각도를 이루는 패인 형상이다. 직각 인열 시험은, 시험편의 양단을 잡아 당김으로써 행해진다.A specific measurement method is described in Examples. The test piece has a shape shown in Fig. 2 of JIS K 7128-3:1998, and the central portion of the test piece has a hollow shape forming an angle of 90°. A right angle tear test is performed by pulling both ends of a test piece.

따라서, 직각 인열 시험은, 흠집부가 형성된 보호막 형성 필름을 벗길 때에, 흠집부 근방에 응력이 걸리는 양태와 유사하다. 즉, 신장률이 상기한 범위 내임으로써, 흠집부가 형성된 보호막 형성 필름을 벗길 때에, 파단에 이르기까지의 보호막 형성 필름의 신장을 작게 할 수 있다. 바꾸어 말하면, 통상적인 인장 시험은, 흠집부 근방에 응력이 걸리는 양태와 유사하지 않기 때문에, 통상적인 인장 시험에 있어서의 파단시의 신장률은, 상기한 직각 인열 시험에서의 파단시의 신장률과는 직접적으로 관련되지 않는다.Therefore, the perpendicular tear test is similar to the manner in which stress is applied to the vicinity of the flawed portion when peeling off the protective film forming film on which the flawed portion is formed. That is, when peeling off the protective film formation film in which the damage|wound part was formed, the elongation of the protective film formation film leading to fracture|rupture can be made small by the elongation rate being in the above-mentioned range. In other words, since the normal tensile test is not similar to the way stress is applied near the flaw, the elongation at break in the normal tensile test is directly related to the elongation at break in the right angle tear test described above. not related to

도 3a 및 b 와 동일하게, 보호막 형성 필름 (10) 의 박리 계면이 거의 흠집부 (12) 에 도달하면, 흠집부 (12) 근방에 응력이 집중된다. 그러나, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름 (10) 에서는, 흠집부 (12) 근방의 보호막 형성 필름 (10) 이 신장하기 시작해도, 신장이 커지기 전에, 흠집부 (12) 근방을 기점으로 하는 파괴가 보호막 형성 필름 (10) 의 반대측의 주면에 도달하고, 흠집부 (12) 근방의 보호막 형성 필름 (10) 이 파단된다. 도 4a 및 b 에 나타내는 바와 같이, 파단 지점의 주변의 두께는, 다른 지점의 두께와 거의 동일해지고, 응력이 집중되는 지점이 존재하지 않는다. 또, 파단 지점은, 보호막 형성 필름 (10) 의 일부분으로서, 보호막 형성 필름 (10) 으로부터 떼어 내어지지 않았다. 그 결과, 잔류물이 발생되지 않고, 보호막 형성 필름 (10) 의 당겨 벗김이 양호하게 진행된다. 바꾸어 말하면, 흠집부 (12) 의 형성에 의해서 보호막 형성 필름 (10) 의 리워크가 필요하게 된 경우여도, 당해 보호막 형성 필름 (10) 의 리워크성은 양호하다.3A and 3B, when the peeling interface of the protective film-forming film 10 almost reaches the flawed portion 12, stress is concentrated in the vicinity of the flawed portion 12. However, in the protective film-forming film 10 according to the present embodiment, even if the protective film-forming film 10 in the vicinity of the flawed portion 12 starts to elongate, before the elongation increases, destruction starting from the vicinity of the flawed portion 12 begins. reaches the main surface on the opposite side of the protective film forming film 10, and the protective film forming film 10 in the vicinity of the flaw 12 is broken. As shown in FIGS. 4A and B, the thickness around the fracture point is almost the same as that of other points, and there is no point where stress is concentrated. Moreover, the ruptured part was not separated from the protective film forming film 10 as a part of the protective film forming film 10. As a result, no residue is generated, and peeling of the protective film-forming film 10 proceeds favorably. In other words, even when rework of the protective film forming film 10 is required due to formation of the flaws 12, the reworkability of the protective film forming film 10 is good.

파단시의 신장률은 150 % 이하인 것이 바람직하고, 120 % 이하인 것이 보다 바람직하며, 90 % 이하인 것이 더욱 바람직하다. 파단시의 신장률은 낮을수록 바람직하지만, 파단시의 신장률의 하한치는, 예를 들어, 10 % 이다.The elongation at break is preferably 150% or less, more preferably 120% or less, still more preferably 90% or less. The elongation rate at break is so preferable that it is lower, but the lower limit of the elongation rate at break is, for example, 10%.

(1.2 실리콘 웨이퍼에의 점착력) (1.2 Adhesion to Silicon Wafer)

본 실시형태에서는, 23 ℃ 에 있어서, 실리콘 웨이퍼의 #2000 연마면에 보호막 형성 필름을 첩부하고 나서 1 시간 후의 실리콘 웨이퍼에의 점착력 (이후, 실리콘 웨이퍼에의 점착력이라고도 한다) 이 20 N/25 ㎜ 이하이다. #2000 연마면은, #2000 의 연마재로 연마한 면의 표면 조도와 동등한 표면 조도를 갖는 면이다. 이 표면 조도는, 반도체 칩 등을 제조하기 위해서 사용되는 실리콘 웨이퍼의 이면의 표면 조도에 대응하고 있다. 또, 보호막 형성 필름을 웨이퍼에 첩부 후, 웨이퍼의 외관 검사를 하고, 보호막 형성 필름에 흠집부가 형성되어 있는 경우에 보호막 형성 필름의 리워크는 행해진다. 따라서, 보호막 형성 필름의 첩부 직후가 아니고, 첩부하고 나서 1 시간 후의 점착력을 제어함으로써, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름의 구체적인 첩부 대상물에 준거한 특성으로 제어할 수 있다.In this embodiment, at 23 ° C., the adhesive force to the silicon wafer (hereinafter also referred to as the adhesive force to the silicon wafer) 1 hour after the protective film forming film is attached to the # 2000 polished surface of the silicon wafer is 20 N / 25 mm below The #2000 polished surface is a surface having a surface roughness equal to that of the surface polished with the #2000 abrasive. This surface roughness corresponds to the surface roughness of the back surface of a silicon wafer used to manufacture semiconductor chips and the like. Moreover, after attaching a protective film formation film to a wafer, the external appearance of a wafer is inspected, and when a flaw is formed in the protective film formation film, the protective film formation film is reworked. Therefore, the protective film forming film according to the present embodiment can be controlled in accordance with the specific object to be attached by controlling the adhesive force not immediately after the attachment of the protective film-forming film but one hour after the attachment.

이상으로부터, 실리콘 웨이퍼에의 점착력이 상기한 범위 내임으로써, 워크 (예를 들어 웨이퍼) 로부터 보호막 형성 필름을 당겨 벗길 때에, 보다 잔류물이 잘 발생되지 않고, 또, 워크 (예를 들어 웨이퍼) 에 주는 부하가 작아져, 워크의 파손을 저감할 수 있다.From the above, when the adhesive force to the silicon wafer is within the above range, when the protective film forming film is peeled off from the work (eg wafer), residue is less likely to be generated, and also to the work (eg wafer) The applied load is reduced, and damage to the workpiece can be reduced.

실리콘 웨이퍼에의 점착력은 14 N/25 ㎜ 이하인 것이 바람직하고, 9 N/25 ㎜ 이하인 것이 보다 바람직하며, 4 N/25 ㎜ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 실리콘 웨이퍼에의 점착력은 리워크성의 관점에서는 낮을수록 바람직하지만, 첩부 후의 각 공정에 있어서 의도치 않게 박리될 우려가 있는 관점에서, 0.2 N/25 ㎜ 이상이 바람직하고, 0.5 N/25 ㎜ 이상이 보다 바람직하다.The adhesive force to the silicon wafer is preferably 14 N/25 mm or less, more preferably 9 N/25 mm or less, and still more preferably 4 N/25 mm or less. The adhesive force to the silicon wafer is preferably as low as possible from the standpoint of reworkability, but from the viewpoint of unintentional peeling in each step after sticking, 0.2 N/25 mm or more is preferable, and 0.5 N/25 mm or more is preferable. more preferable

실리콘 웨이퍼에의 점착력을 측정하는 방법은 실시예에 있어서 설명한다.A method for measuring the adhesive force to a silicon wafer will be described in Examples.

(1.3 보호막 형성 필름용 조성물) (1.3 Composition for protective film forming film)

보호막이 상기한 물성을 갖고 있으면, 보호막 형성 필름의 조성은 특별히 한정되지 않는다. 본 실시형태에서는, 보호막 형성 필름을 구성하는 조성물 (보호막 형성 필름용 조성물) 은, 적어도, 중합체 성분 (A) 와 경화성 성분 (B) 와 충전재 (E) 를 함유하는 수지 조성물인 것이 바람직하다. 중합체 성분은, 중합성 화합물이 중합 반응하여 형성되었다고 간주할 수 있는 성분이다. 또, 경화성 성분은, 경화 (중합) 반응할 수 있는 성분이다. 또한, 본 발명에 있어서 중합 반응에는, 중축합 반응도 포함된다.As long as the protective film has the above physical properties, the composition of the protective film forming film is not particularly limited. In this embodiment, it is preferable that the composition (composition for protective film formation film) which comprises a protective film formation film is a resin composition containing at least a polymer component (A), a curable component (B), and a filler (E). A polymer component is a component that can be considered to have been formed by a polymerization reaction of a polymerizable compound. In addition, the curable component is a component that can undergo a curing (polymerization) reaction. In addition, a polycondensation reaction is also included in the polymerization reaction in this invention.

또, 중합체 성분에 함유되는 성분은, 경화성 성분에도 해당되는 경우가 있다. 본 실시형태에서는, 보호막 형성 필름용 조성물이, 이와 같은 중합체 성분 및 경화성 성분의 양방에 해당되는 성분을 함유하는 경우, 보호막 형성 필름용 조성물은, 중합체 성분 및 경화성 성분을 양방 함유한다고 간주한다.Moreover, the component contained in a polymer component also corresponds to a curable component in some cases. In this embodiment, when the composition for protective film formation films contains components applicable to both such a polymer component and a curable component, it is considered that the composition for protective film formation films contains both a polymer component and a curable component.

(1.3.1 중합체 성분) (1.3.1 Polymer component)

중합체 성분 (A) 는, 보호막 형성 필름에, 필름 형성성 (조막성) 을 갖게 하면서, 적당한 택을 부여하여, 워크에 대한 보호막 형성 필름의 균일한 첩부를 확실하게 한다. 중합체 성분의 중량 평균 분자량은, 통상적으로는 5 만 ∼ 200 만, 바람직하게는 10 만 ∼ 150 만, 특히 바람직하게는 20 만 ∼ 100 만의 범위에 있다. 이와 같은 중합체 성분으로는, 예를 들어, 아크릴 수지, 우레탄 수지, 페녹시 수지, 실리콘 수지, 포화 폴리에스테르 수지 등이 사용되고, 특히 아크릴 수지가 바람직하게 사용된다.The polymer component (A) imparts an appropriate tack to the protective film-forming film while imparting film-formability (film-formability) to ensure uniform adhesion of the protective film-forming film to the workpiece. The weight average molecular weight of the polymer component is usually in the range of 50,000 to 2,000,000, preferably 100,000 to 1,500,000, and particularly preferably 200,000 to 1,000,000. As such a polymer component, for example, an acrylic resin, a urethane resin, a phenoxy resin, a silicone resin, a saturated polyester resin, etc. are used, and an acrylic resin is particularly preferably used.

또한, 본 명세서에 있어서,「중량 평균 분자량」이란, 특별히 언급이 없는 한, 겔·퍼미에이션·크로마토그래피 (GPC) 법에 의해서 측정되는 폴리스티렌 환산치이다. 이와 같은 방법에 의한 측정은, 예를 들어, 토소사 제조의 고속 GPC 장치「HLC-8120GPC」에, 고속 칼럼「TSK guard column HXL-H」,「TSK Gel GMHXL」,「TSK Gel G2000HXL」(이상, 모두 토소사 제조) 을 이 순서로 연결한 것을 사용하고, 칼럼 온도 : 40 ℃, 송액 속도 : 1.0 ㎖/분의 조건에서, 검출기를 시차 굴절률계로 하여 행해진다.In addition, in this specification, "weight average molecular weight" is a polystyrene conversion value measured by the gel permeation chromatography (GPC) method unless there is particular notice. Measurement by such a method is, for example, a high-speed GPC device manufactured by Tosoh Corporation "HLC-8120GPC", a high-speed column "TSK guard column H XL -H", "TSK Gel GMH XL ", "TSK Gel G2000H XL" ” (above, all manufactured by Tosoh Corporation) were connected in this order, and the detector was a differential refractometer under conditions of a column temperature of 40° C. and a feed rate of 1.0 ml/min.

아크릴 수지로는, 예를 들어, (메트)아크릴산에스테르 모노머와 (메트)아크릴산 유도체로부터 유도되는 구성 단위로 이루어지는 (메트)아크릴산에스테르 공중합체를 들 수 있다. 여기에서 (메트)아크릴산에스테르 모노머로는, 바람직하게는 알킬기의 탄소수가 1 ∼ 18 인 (메트)아크릴산알킬에스테르를 들 수 있고, 구체적으로는 (메트)아크릴산메틸, (메트)아크릴산에틸, (메트)아크릴산프로필, (메트)아크릴산부틸 등을 들 수 있다. 또, (메트)아크릴산 유도체로는, 예를 들어, (메트)아크릴산, (메트)아크릴산글리시딜, (메트)아크릴산하이드록시에틸 등을 들 수 있다.As an acrylic resin, the (meth)acrylic acid ester copolymer which consists of structural units derived from a (meth)acrylic acid ester monomer and a (meth)acrylic acid derivative is mentioned, for example. Here, the (meth)acrylic acid ester monomer is preferably a (meth)acrylic acid alkyl ester having 1 to 18 carbon atoms in the alkyl group, specifically, methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, (meth)acrylate. ) propyl acrylate, butyl (meth)acrylate, and the like. Moreover, as a (meth)acrylic acid derivative, (meth)acrylic acid, glycidyl (meth)acrylate, hydroxyethyl (meth)acrylate etc. are mentioned, for example.

본 실시형태에서는, 워크에 대한 접착성이나 점착 물성을 컨트롤하기 위해서, 아크릴산하이드록시에틸 등을 사용하여 아크릴 수지에 수산기를 도입하는 것이 바람직하다.In this embodiment, in order to control the adhesiveness to the workpiece and adhesive physical properties, it is preferable to introduce a hydroxyl group into the acrylic resin using hydroxyethyl acrylate or the like.

아크릴 수지의 유리 전이 온도는 바람직하게는 -70 ℃ ∼ 40 ℃, -60 ℃ ∼ 30 ℃, -50 ℃ ∼ 20 ℃, -40 ℃ ∼ 15 ℃, -30 ℃ ∼ 10 ℃ 이다. 아크릴 수지의 유리 전이 온도를 상기한 범위 내로 함으로써, 보호막 형성 필름의 택을 적당히 높임과 함께, 상기 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기 서술한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해져, 보호막 형성 필름의 워크와의 점착력을 적당한 범위로 하고, 보호막의 워크와의 접착력이 적당히 향상된다.The glass transition temperature of the acrylic resin is preferably -70°C to 40°C, -60°C to 30°C, -50°C to 20°C, -40°C to 15°C, or -30°C to 10°C. By setting the glass transition temperature of the acrylic resin within the above-mentioned range, it becomes easier to appropriately increase the tack of the protective film-forming film and to make the elongation at break in the above-mentioned right angle tearing test within the above-mentioned range, and the protective film-forming film When the adhesive force of the protective film with the workpiece is set within an appropriate range, the adhesive force of the protective film with the workpiece is moderately improved.

아크릴 수지가 m 종 (m 은 2 이상의 정수이다.) 의 구성 단위를 갖고 있는 경우, 당해 아크릴 수지의 유리 전이 온도는 아래와 같이 하여 산출할 수 있다. 즉, 아크릴 수지 중의 구성 단위를 유도하는 m 종의 모노머에 대해서, 각각 1 부터 m 까지의 어느 것의 중복되지 않는 번호를 순차 할당하고,「모노머 m」으로 이름붙였을 경우, 아크릴 수지의 유리 전이 온도 (Tg) 는, 아래에 나타내는 Fox 의 식을 이용하여 산출할 수 있다.When an acrylic resin has m type (m is an integer of 2 or more) structural unit, the glass transition temperature of the said acrylic resin is computable as follows. That is, for m types of monomers leading to structural units in the acrylic resin, each non-overlapping number from 1 to m is sequentially assigned and named as "monomer m", the glass transition temperature of the acrylic resin ( Tg) can be calculated using Fox's formula shown below.

Figure pat00001
Figure pat00001

(식 중, Tg 는 아크릴 수지의 유리 전이 온도이고 ; m 은 2 이상의 정수이며 ; Tgk 는 모노머 m 의 호모폴리머의 유리 전이 온도이고 ; Wk 는 아크릴 수지에 있어서의, 모노머 m 으로부터 유도된 구성 단위 m 의 질량 분율이며, 단, Wk 는 하기 식을 만족한다.) (Wherein, Tg is the glass transition temperature of the acrylic resin; m is an integer greater than or equal to 2; Tg k is the glass transition temperature of the homopolymer of the monomer m; W k is the composition derived from the monomer m in the acrylic resin; It is the mass fraction of unit m, provided that W k satisfies the following formula.)

Figure pat00002
Figure pat00002

(식 중, m 및 Wk 는, 상기와 같다.) (In the formula, m and W k are as described above.)

Tgk 로는, 고분자 데이터·핸드북, 점착 핸드북 또는 Polymer Handbook 등에 기재되어 있는 값을 사용할 수 있다. 예를 들어, 메틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 10 ℃, n-부틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 -54 ℃, 메틸메타크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 105 ℃, 2-하이드록시에틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 -15 ℃, 글리시딜메타크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 41 ℃, 2-에틸헥실아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 -70 ℃, 에틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 -24 ℃, 4-하이드록시부틸아크릴레이트의 호모폴리머의 Tgk 는 -32 ℃ 이다.As Tg k , a value described in Polymer Data Handbook, Adhesion Handbook, or Polymer Handbook can be used. For example, the Tg k of the homopolymer of methyl acrylate is 10 ° C, the Tg k of the homopolymer of n-butyl acrylate is -54 ° C, the Tg k of the homopolymer of methyl methacrylate is 105 ° C, 2-hydroxy Tg k of homopolymer of oxyethyl acrylate is -15 ℃, Tg k of homopolymer of glycidyl methacrylate is 41 ℃, Tg k of homopolymer of 2-ethylhexyl acrylate is -70 ℃, ethyl acryl The Tg k of the homopolymer of rate is -24°C, and the Tg k of the homopolymer of 4-hydroxybutyl acrylate is -32°C.

보호막 형성 필름용 조성물의 총중량을 100 질량부로 했을 때의 중합체 성분의 함유량은, 바람직하게는 1 ∼ 70 질량부, 5 ∼ 60 질량부, 10 ∼ 50 질량부, 13 ∼ 40 질량부이다. 중합체 성분의 함유량을 상기한 범위 내로 함으로써, 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기 서술한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해진다. 또, 보호막 형성 필름의 점착성의 제어가 보다 용이해진다.The content of the polymer component when the total weight of the composition for forming a protective film is 100 parts by mass is preferably 1 to 70 parts by mass, 5 to 60 parts by mass, 10 to 50 parts by mass, and 13 to 40 parts by mass. By setting the content of the polymer component within the above range, it becomes easier to make the elongation at break in the right angle tear test within the above range. Moreover, control of the adhesiveness of a protective film formation film becomes easier.

(1.3.2 열 경화성 성분) (1.3.2 Thermosetting Components)

경화성 성분 (B) 는, 보호막 형성 필름을 경화시켜, 경화물로서의 보호막을 형성한다. 상기 서술한 바와 같이, 경화성 성분으로는, 열 경화성 성분, 에너지선 경화성 성분, 또는 이것들의 혼합물을 사용할 수 있다.The curable component (B) cures the protective film-forming film to form a protective film as a cured product. As described above, as the curable component, a heat curable component, an energy ray curable component, or a mixture thereof can be used.

본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름은, 후술하는 충전재 및 착색제 등을 함유하기 때문에 광선 투과율이 저하된다. 에너지선 경화성의 보호막 형성 필름은, 에너지선의 조사에 의해서 경화되기 때문에, 예를 들어 보호막 형성 필름의 두께가 두꺼워졌을 경우, 에너지선에 의한 경화가 불충분해지기 쉽다.Since the film for forming a protective film according to the present embodiment contains a filler, a colorant, and the like described later, the light transmittance decreases. Since the energy ray-curable protective film-forming film is cured by energy ray irradiation, for example, when the protective film-forming film is thick, curing by energy ray tends to be insufficient.

한편, 열 경화성의 보호막 형성 필름은, 그 두께가 두꺼워져도, 가열에 의해서 충분히 경화되기 때문에, 보호 성능이 높은 보호막을 형성할 수 있다. 또, 가열 오븐 등의 통상적인 가열 수단을 사용함으로써, 다수의 보호막 형성 필름을 일괄하여 가열하고, 열 경화시킬 수 있다.On the other hand, even if the thickness of the thermosetting protective film formation film is increased, since it is sufficiently cured by heating, a protective film with high protective performance can be formed. In addition, by using a normal heating means such as a heating oven, a large number of protective film forming films can be collectively heated and thermally cured.

따라서, 본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름은, 열 경화성인 것이 바람직하다.Therefore, it is preferable that the protective film formation film which concerns on this embodiment is thermosetting.

보호막 형성 필름이 열 경화성인지의 여부는 아래와 같이 하여 판단할 수 있다. 먼저, 상온 (23 ℃) 의 보호막 형성 필름을, 상온을 초과하는 온도가 될 때까지 가열하고, 이어서 상온이 될 때까지 냉각시킴으로써, 가열·냉각 후의 보호막 형성 필름으로 한다. 다음으로, 가열·냉각 후의 보호막 형성 필름의 경도와, 가열 전의 보호막 형성 필름의 경도를 동일한 온도에서 비교했을 때에, 가열·냉각 후의 보호막 형성 필름 쪽이 딱딱한 경우에는, 이 보호막 형성 필름은 열 경화성이라고 판단한다.Whether or not the protective film-forming film is thermosetting can be judged as follows. First, a protective film forming film at normal temperature (23°C) is heated to a temperature exceeding normal temperature, and then cooled to normal temperature to obtain a protective film forming film after heating and cooling. Next, when the hardness of the protective film formation film after heating and cooling is compared with the hardness of the protective film formation film before heating at the same temperature, if the protective film formation film after heating and cooling is harder, this protective film formation film is said to be thermosetting. judge

열 경화성 성분으로는, 예를 들어, 에폭시 수지, 열 경화성 폴리이미드 수지, 불포화 폴리에스테르 수지 및 이것들의 혼합물이 바람직하게 사용된다. 또한, 열 경화성 폴리이미드 수지란, 열 경화함으로써 폴리이미드 수지를 형성하는, 저분자량, 저점성의 모노머 또는 전구체 폴리머의 총칭이다. 열 경화성 폴리이미드 수지의 비제한적인 구체예는, 예를 들어 섬유 학회지「섬유와 공업」, Vol.50, No.3 (1994), P106-P118 에 기재되어 있다.As the thermosetting component, for example, epoxy resins, thermosetting polyimide resins, unsaturated polyester resins, and mixtures thereof are preferably used. In addition, a thermosetting polyimide resin is a general term for a low-molecular-weight, low-viscosity monomer or precursor polymer that forms a polyimide resin by thermally curing. Non-limiting specific examples of thermosetting polyimide resins are described, for example, in the Journal of Textile Society "Fiber and Industry", Vol.50, No.3 (1994), P106-P118.

열 경화성 성분으로서의 에폭시 수지는, 가열을 받으면 삼차원 망상화되어, 강고한 피막을 형성하는 성질을 갖는다. 이와 같은 에폭시 수지로는, 공지된 여러 가지의 에폭시 수지가 사용된다. 본 실시형태에서는, 에폭시 수지의 분자량 (식량) 은, 바람직하게는 300 이상 50000 미만, 300 이상 10000 미만, 300 이상 5000 미만, 300 이상 3000 미만이다. 또, 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 50 ∼ 5000 g/eq 인 것이 바람직하고, 100 ∼ 2000 g/eq 인 것이 보다 바람직하며, 150 ∼ 1000 g/eq 인 것이 더욱 바람직하다.An epoxy resin as a thermosetting component has a property of forming a three-dimensional network when heated to form a strong film. As such an epoxy resin, well-known various epoxy resins are used. In this embodiment, the molecular weight (diet) of the epoxy resin is preferably 300 or more and less than 50000, 300 or more and less than 10000, 300 or more and less than 5000, and 300 or more and less than 3000. Further, the epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably from 50 to 5000 g/eq, more preferably from 100 to 2000 g/eq, still more preferably from 150 to 1000 g/eq.

이와 같은 에폭시 수지로는, 구체적으로는, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 레조르시놀, 페닐 노볼락, 크레졸 노볼락 등의 페놀류의 글리시딜에테르 ; 부탄디올, 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜 등의 알코올류의 글리시딜에테르 ; 프탈산, 이소프탈산, 테트라하이드로프탈산 등의 카르복실산의 글리시딜에테르 ; 아닐린이소시아누레이트 등의 질소 원자에 결합한 활성 수소를 글리시딜기로 치환한 글리시딜형 혹은 알킬글리시딜형의 에폭시 수지 ; 비닐시클로헥산디에폭시드, 3,4-에폭시시클로헥실메틸-3,4-디시클로헥산카르복실레이트, 2-(3,4-에폭시)시클로헥실-5,5-스피로(3,4-에폭시)시클로헥산-m-디옥산 등과 같이, 분자 내의 탄소-탄소 이중 결합을 예를 들어 산화시킴으로써 에폭시가 도입된, 이른바 지환형 에폭시드를 들 수 있다. 그 밖에, 비페닐 골격, 디시클로헥사디엔 골격, 나프탈렌 골격 등을 갖는 에폭시 수지를 사용할 수도 있다.As such an epoxy resin, specifically, glycidyl ether of phenols, such as bisphenol A, bisphenol F, resorcinol, a phenyl novolac, and a cresol novolak; glycidyl ethers of alcohols such as butanediol, polyethylene glycol, and polypropylene glycol; glycidyl ethers of carboxylic acids such as phthalic acid, isophthalic acid, and tetrahydrophthalic acid; glycidyl-type or alkyl glycidyl-type epoxy resins in which active hydrogen bonded to a nitrogen atom, such as aniline isocyanurate, is substituted with a glycidyl group; Vinylcyclohexanediepoxide, 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3,4-dicyclohexanecarboxylate, 2-(3,4-epoxy)cyclohexyl-5,5-spiro(3,4-epoxy ) such as cyclohexane-m-dioxane and the like, so-called alicyclic epoxides in which epoxy is introduced by, for example, oxidizing carbon-carbon double bonds in the molecule. In addition, an epoxy resin having a biphenyl skeleton, a dicyclohexadiene skeleton, a naphthalene skeleton, or the like can also be used.

경화성 성분 (B) 로서, 열 경화성 성분을 사용하는 경우에는, 보조제로서 경화제 (C) 를 병용하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지에 대한 경화제로는, 열 활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제가 바람직하다. 「열 활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제」란, 상온 (23 ℃) 에서는 에폭시 수지와 잘 반응하지 않고, 어느 온도 이상의 가열에 의해서 활성화하여, 에폭시 수지와 반응하는 타입의 경화제이다. 열 활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제의 활성화 방법에는, 가열에 의한 화학 반응으로 활성종 (아니온, 카티온) 을 생성하는 방법 ; 상온 부근에서는 에폭시 수지 중에 안정적으로 분산되어 있고, 고온에서 에폭시 수지와 상용·용해되어, 경화 반응을 개시하는 방법 ; 몰레큘러 시브 봉입 타입의 경화제로 고온에서 용출시켜 경화 반응을 개시하는 방법 ; 마이크로 캡슐에 의한 방법 등이 존재한다.As the curable component (B), when a thermosetting component is used, it is preferable to use a curing agent (C) in combination as an auxiliary agent. As the curing agent for the epoxy resin, a thermally active type latent epoxy resin curing agent is preferable. A “heat-activated latent epoxy resin curing agent” is a type of curing agent that does not react well with an epoxy resin at room temperature (23° C.), but is activated by heating above a certain temperature and reacts with the epoxy resin. Examples of the activation method of the heat-activated latent epoxy resin curing agent include a method of generating active species (anions and cations) by a chemical reaction by heating; a method in which a curing reaction is initiated by being stably dispersed in an epoxy resin at around normal temperature, and being compatible/dissolved with the epoxy resin at a high temperature; a method of initiating a curing reaction by eluting at a high temperature with a molecular sieve-enclosed curing agent; Methods using microcapsules and the like exist.

예시한 방법 중, 상온 부근에서는 에폭시 수지 중에 안정적으로 분산되어 있고 고온에서 에폭시 수지와 상용·용해되어, 경화 반응을 개시하는 방법이 바람직하다.Among the exemplified methods, a method in which it is stably dispersed in the epoxy resin at around normal temperature, and is compatible/dissolved with the epoxy resin at a high temperature and initiates a curing reaction is preferable.

열 활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제의 구체예로는, 각종 오늄염이나, 이염기산디하이드라지드 화합물, 디시안디아미드, 아민 어덕트 경화제, 이미다졸 화합물 등의 고융점 활성 수소 화합물 등을 들 수 있다. 이들 열 활성형 잠재성 에폭시 수지 경화제는, 1 종을 단독으로, 또는 2 종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 본 실시형태에서는, 디시안디아미드가 특히 바람직하다.Specific examples of the heat-activated latent epoxy resin curing agent include various onium salts, dibasic acid dihydrazide compounds, dicyandiamide, amine adduct curing agents, and high melting point active hydrogen compounds such as imidazole compounds. there is. These heat-activated latent epoxy resin curing agents can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. In this embodiment, dicyandiamide is particularly preferred.

또, 에폭시 수지에 대한 경화제로는, 페놀 수지도 바람직하다. 페놀 수지로는, 알킬페놀, 다가 페놀, 나프톨 등의 페놀류와 알데히드류의 축합물 등이 특별히 제한되지 않고 사용된다. 구체적으로는, 페놀 노볼락 수지, o-크레졸 노볼락 수지, p-크레졸 노볼락 수지, t-부틸페놀 노볼락 수지, 디시클로펜타디엔크레졸 수지, 폴리파라비닐페놀 수지, 비스페놀 A 형 노볼락 수지, 혹은 이것들의 변성물 등이 사용된다.Moreover, as a hardening|curing agent for an epoxy resin, a phenol resin is also preferable. As the phenolic resin, condensates of phenols such as alkylphenols, polyhydric phenols, and naphthols and aldehydes are used without particular limitation. Specifically, phenol novolak resin, o-cresol novolac resin, p-cresol novolak resin, t-butylphenol novolac resin, dicyclopentadienecresol resin, polyparavinylphenol resin, bisphenol A novolak resin , or modified products thereof, etc. are used.

이들 페놀 수지에 함유되는 페놀성 수산기는, 상기 에폭시 수지의 에폭시기와 가열에 의해서 용이하게 부가 반응하여, 내충격성이 높은 경화물을 형성할 수 있다.The phenolic hydroxyl groups contained in these phenol resins easily undergo an addition reaction with the epoxy groups of the epoxy resins by heating to form a cured product having high impact resistance.

경화제 (C) 의 함유량은, 에폭시 수지 100 질량부에 대해서, 바람직하게는 0.2 ∼ 100 질량부, 0.5 ∼ 50 질량부, 1 ∼ 20 질량부, 1.5 ∼ 10 질량부이다. 경화제 (C) 의 함유량을 상기한 범위 내로 함으로써, 보호막의 망상 구조가 조밀해지기 때문에, 보호막으로서, 워크를 보호하는 성능이 얻어지기 쉽고, 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기 서술한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해진다.The content of the curing agent (C) is preferably 0.2 to 100 parts by mass, 0.5 to 50 parts by mass, 1 to 20 parts by mass, and 1.5 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the epoxy resin. By setting the content of the curing agent (C) within the above range, the network structure of the protective film becomes dense, so that the performance of protecting the work as a protective film is easily obtained, and the elongation at break in the right angle tear test is as described above. It becomes easier to make it within a range.

경화제 (C) 로서 디시안디아미드를 사용하는 경우에는, 경화 촉진제 (D) 를 추가로 병용하는 것이 바람직하다. 경화 촉진제로는, 예를 들어, 2-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸 등의 이미다졸류 (1 개 이상의 수소 원자가 수소 원자 이외의 기로 치환된 이미다졸) 가 바람직하다. 이 중에서도, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸이 특히 바람직하다.In the case of using dicyandiamide as the curing agent (C), it is preferable to further use the curing accelerator (D) in combination. Examples of the curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, Imidazoles (imidazoles in which one or more hydrogen atoms are substituted with groups other than hydrogen atoms) such as 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole are preferred. Among these, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole is particularly preferable.

경화 촉진제의 함유량은, 에폭시 수지 100 질량부에 대해서, 바람직하게는 0.1 ∼ 10 질량부, 0.3 ∼ 5 질량부, 0.5 ∼ 4 질량부, 1 ∼ 3 질량부이다. 경화 촉진제 (D) 의 함유량을 상기한 범위 내로 함으로써, 보호막의 망상 구조가 조밀해지기 때문에, 보호막으로서 워크를 보호하는 성능이 얻어지기 쉽고, 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기 서술한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해진다.The content of the curing accelerator is preferably 0.1 to 10 parts by mass, 0.3 to 5 parts by mass, 0.5 to 4 parts by mass, or 1 to 3 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the epoxy resin. By setting the content of the curing accelerator (D) within the above range, the network structure of the protective film becomes dense, so that the performance of protecting the workpiece as the protective film is easily obtained, and the elongation rate at break in the right angle tear test is as described above. It becomes easier to make it within a range.

보호막 형성 필름용 조성물의 총중량을 100 질량부로 했을 때의 열 경화성 성분 및 경화제의 합계 함유량은, 바람직하게는 3 ∼ 80 질량부, 5 ∼ 60 질량부, 7 ∼ 50 질량부, 9 ∼ 40 질량부, 10 ∼ 30 질량부이다. 열 경화성 성분 및 경화제의 합계 함유량을 상기한 하한치 이상으로 함으로써, 경화 전에는 적당한 택을 나타내어, 첩부 작업을 안정적으로 행할 수 있다. 또, 경화 후에는, 보호막으로서, 워크를 보호하는 성능이 얻어지기 쉽다. 열 경화성 성분 및 경화제의 합계 함유량을 상기한 범위 내로 하는 점에서 경화도를 조정함으로써, 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기 서술한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해진다.The total content of the thermosetting component and the curing agent when the total weight of the composition for forming a protective film is 100 parts by mass is preferably 3 to 80 parts by mass, 5 to 60 parts by mass, 7 to 50 parts by mass, and 9 to 40 parts by mass. , 10 to 30 parts by mass. By making the total content of the thermosetting component and the curing agent equal to or more than the lower limit described above, an appropriate tack is exhibited before curing, and the sticking operation can be stably performed. Moreover, after hardening, the performance which protects a workpiece|work as a protective film is easy to be obtained. By adjusting the degree of curing by setting the total content of the thermosetting component and the curing agent within the above range, it becomes easier to make the elongation at break in the right angle tear test within the above range.

(1.3.3 에너지선 경화성 성분) (1.3.3 Energy ray curable component)

경화성 성분 (B) 가 에너지선 경화성 성분인 경우, 에너지선 경화성 성분은, 미경화인 것이 바람직하고, 점착성을 갖는 것이 바람직하며, 미경화이면서 또한 점착성을 갖는 것이 보다 바람직하다.When the curable component (B) is an energy ray-curable component, the energy ray-curable component is preferably uncured, preferably has adhesive properties, and more preferably has uncured yet adhesive properties.

에너지선 경화성 성분은, 에너지선의 조사에 의해서 경화되는 성분으로서, 보호막 형성 필름에 조막성이나, 가요성 등을 부여하기 위한 성분이기도 하다.The energy ray-curable component is a component that is cured by irradiation with energy rays, and is also a component for imparting film-formability, flexibility, and the like to the protective film-forming film.

에너지선 경화성 성분으로는, 예를 들어, 에너지선 경화성 기를 갖는 화합물이 바람직하다. 이와 같은 화합물로는, 공지된 것을 들 수 있다.As the energy ray-curable component, for example, a compound having an energy ray-curable group is preferable. As such a compound, a well-known thing is mentioned.

(1.3.4 충전재) (1.3.4 Filling)

보호막 형성 필름이 충전재 (E) 를 함유함으로써, 보호막 형성 필름을 보호막화하여 얻어지는 보호막은, 열팽창 계수의 조정이 용이해지고, 이 열팽창 계수를 워크의 열팽창 계수에 근접시킴으로써, 보호막 형성 필름을 사용하여 얻어진 보호막 부착 칩의 접착 신뢰성이 보다 향상된다. 또, 보호막 형성 필름이 충전재 (E) 를 함유함으로써, 경질의 보호막이 얻어지고, 추가로 보호막의 흡습률을 저감할 수 있어, 보호막 부착 칩의 접착 신뢰성이 더욱 향상된다.When the protective film-forming film contains the filler (E), the thermal expansion coefficient of the protective film obtained by converting the protective film-forming film into a protective film can be easily adjusted, and the thermal expansion coefficient is approximated to the thermal expansion coefficient of the workpiece, which is obtained using the protective film-forming film. The adhesion reliability of the chip with a protective film is further improved. In addition, when the protective film-forming film contains the filler (E), a hard protective film is obtained, the moisture absorptivity of the protective film can be reduced, and the adhesion reliability of the tip with a protective film is further improved.

충전재 (E) 는, 유기 충전재 및 무기 충전재 중 어느 것이어도 되지만, 고온에서의 형상 안정성의 관점에서 무기 충전재인 것이 바람직하다.The filler (E) may be either an organic filler or an inorganic filler, but it is preferably an inorganic filler from the viewpoint of shape stability at high temperature.

바람직한 무기 충전재로는, 예를 들어, 실리카, 알루미나, 탤크, 탄산칼슘, 벵갈라, 탄화규소, 질화붕소 등의 분말 ; 이들 무기 충전재를 구형화한 비드 ; 이들 무기 충전재의 표면 개질품 ; 이들 무기 충전재의 단결정 섬유 ; 유리 섬유 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 실리카 및 표면 개질된 실리카가 바람직하다. 표면 개질된 실리카는, 커플링제에 의해서 표면 개질되어 있는 것이 바람직하고, 실란 커플링제에 의해서 표면 개질되어 있는 것이 보다 바람직하다.As a preferable inorganic filler, For example, powders, such as silica, alumina, talc, calcium carbonate, bengala, silicon carbide, boron nitride; Beads which spheroidized these inorganic fillers; surface-modified products of these inorganic fillers; single crystal fibers of these inorganic fillers; Glass fiber etc. are mentioned. Among these, silica and surface-modified silica are preferred. The surface-modified silica is preferably surface-modified with a coupling agent, and more preferably surface-modified with a silane coupling agent.

충전재의 평균 입경은, 바람직하게는 0.05 ∼ 10 ㎛, 0.07 ∼ 3 ㎛, 0.09 ∼ 1 ㎛ 이다.The average particle diameter of the filler is preferably 0.05 to 10 μm, 0.07 to 3 μm, and 0.09 to 1 μm.

또, 본 실시형태에서는, 평균 입경이 상이한 충전재를 2 종류 이상 함유하는 것이 바람직하다. 평균 입경이 상이한 충전재가 보호막 형성 필름에 함유됨으로써, 평균 입경이 큰 충전재의 간극에, 평균 입경이 작은 충전재가 배치되기 쉬워진다. 그 결과, 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해진다. 또, 평균 입경이 상이한 충전재를 2 종류 이상 함유하는 경우, 평균 입경이 가장 큰 충전재의 평균 입경은, 바람직하게는 1 ㎛ 이하, 0.7 ㎛ 이하, 0.5 ㎛ 이하이다.Moreover, in this embodiment, it is preferable to contain two or more types of fillers with different average particle diameters. When fillers having different average particle sizes are contained in the protective film-forming film, the fillers having a small average particle size are easily disposed in gaps between the fillers having a large average particle size. As a result, it becomes easier to make the elongation at break in the right angle tear test within the above range. Moreover, when two or more types of fillers with different average particle diameters are contained, the average particle diameter of the filler with the largest average particle diameter is preferably 1 μm or less, 0.7 μm or less, or 0.5 μm or less.

특히, 평균 입경이 가장 큰 충전재의 평균 입경은, 평균 입경이 가장 작은 충전재의 평균 입경의 1.5 내지 10 배인 것이 바람직하다.In particular, the average particle diameter of the filler having the largest average particle diameter is preferably 1.5 to 10 times the average particle diameter of the filler having the smallest average particle diameter.

또한, 본 명세서에 있어서「평균 입경」이란, 특별히 언급이 없는 한, 레이저 회절 산란법에 의해서 구해진 입도 분포 곡선에 있어서의, 적산치 50 % 에서의 입자경 (D50) 의 값을 의미한다.In addition, in this specification, "average particle diameter" means the value of the particle diameter (D50) at 50% of the integrated value in the particle size distribution curve obtained by the laser diffraction scattering method unless otherwise specified.

보호막 형성 필름용 조성물의 총중량을 100 질량부로 했을 때의 충전재의 함유량은, 바람직하게는 10 ∼ 80 질량부, 25 ∼ 75 질량부, 40 ∼ 70 질량부, 56 ∼ 70 질량부이다.The content of the filler when the total weight of the composition for forming a protective film is 100 parts by mass is preferably 10 to 80 parts by mass, 25 to 75 parts by mass, 40 to 70 parts by mass, and 56 to 70 parts by mass.

충전재의 함유량의 하한치를 상기한 값으로 함으로써, 보호막 형성 필름을 사용하여 얻어진 보호막 부착 칩의 접착 신뢰성이 보다 향상되어, 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률을 상기 서술한 범위 내로 하는 것이 보다 용이해진다. 또, 충전재의 함유량의 상한치를 상기한 값으로 함으로써, 보호막 형성 필름의 워크와의 점착력을 향상시켜, 보호막의 워크와의 접착력이 적당히 향상된다.By setting the lower limit of the content of the filler to the above-mentioned value, the adhesion reliability of the chip with a protective film obtained using the protective film-forming film is further improved, and it is easier to make the elongation at break in the right angle tear test within the above-mentioned range. It happens. Moreover, by making the upper limit of content of a filler into the above-mentioned value, the adhesive force of a protective film formation film with a workpiece|work is improved, and the adhesive force of a protective film with a workpiece|work improves suitably.

(1.3.5 커플링제) (1.3.5 coupling agent)

보호막 형성 필름은, 커플링제 (F) 를 함유하는 것이 바람직하다. 커플링제를 함유함으로써, 보호막 형성 필름의 경화 후에 있어서, 보호막의 내열성을 저해하지 않고, 보호막과 워크의 접착성을 향상시킬 수 있음과 함께, 내수성 (내습 열성) 을 향상시킬 수 있다. 커플링제로는, 그 범용성과 비용 장점의 관점에서, 실란 커플링제가 바람직하다.It is preferable that the protective film formation film contains a coupling agent (F). By containing a coupling agent, after hardening of a protective film formation film, while being able to improve the adhesiveness of a protective film and a workpiece|work without impairing the heat resistance of a protective film, water resistance (heat-and-moisture resistance) can be improved. As the coupling agent, a silane coupling agent is preferable from the viewpoints of its versatility and cost advantages.

실란 커플링제로는, 예를 들어, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필메틸디에톡시실란, β-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, γ-(메타크릴옥시프로필)트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필메틸디에톡시실란, N-페닐-γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-우레이도프로필트리에톡시실란, γ-메르캅토프로필트리메톡시실란, γ-메르캅토프로필메틸디메톡시실란, 비스 (3-트리에톡시실릴프로필)테트라술판, 메틸트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리아세톡시실란, 이미다졸실란 등을 들 수 있다. 바람직한 실란 커플링제로는, 1 분자 중에 복수 개의 알콕시실릴기를 갖는 올리고머형 실란 커플링제도 들 수 있다. 상기 올리고머형 실란 커플링제는, 휘발하기 어렵고, 1 분자 중에 복수 개의 알콕시실릴기를 갖는 점에서, 내구성 향상에 효과적인 점에서 바람직하다. 상기 올리고머형 실란 커플링제로는, 예를 들어, 에폭시기 함유 올리고머형 실란 커플링제인「X-41-1053」,「X-41-1059A」,「X-41-1056」및「X-40-2651」(모두 신에츠 화학사 제조) ; 메르캅토기 함유 올리고머형 실란 커플링제인「X-41-1818」,「X-41-1810」및「X-41-1805」(모두 신에츠 화학사 제조) 등을 들 수 있다. 이것들은 1 종을 단독으로, 또는 2 종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Examples of the silane coupling agent include γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, and γ -(Methacryloxypropyl)trimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6-(aminoethyl)-γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6-(aminoethyl)-γ- Aminopropylmethyldiethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, Bis (3-triethoxysilylpropyl) tetrasulfane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, imidazolesilane, etc. are mentioned. As a preferable silane coupling agent, the oligomer type silane coupling agent which has several alkoxysilyl groups in 1 molecule is mentioned. The oligomeric silane coupling agent is preferable in that it is difficult to volatilize, has a plurality of alkoxysilyl groups in one molecule, and is effective in improving durability. Examples of the oligomeric silane coupling agent include "X-41-1053", "X-41-1059A", "X-41-1056" and "X-40-" which are epoxy group-containing oligomeric silane coupling agents. 2651” (all manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.); "X-41-1818", "X-41-1810" and "X-41-1805" (all manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) which are mercapto group-containing oligomeric silane coupling agents. These can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

보호막 형성 필름용 조성물의 총중량을 100 질량부로 했을 때의 커플링제의 함유량은, 바람직하게는 0.01 ∼ 20 질량부, 0.1 ∼ 10 질량부, 0.2 ∼ 5 질량부, 0.3 ∼ 3 질량부이다.The content of the coupling agent when the total weight of the composition for forming a protective film is 100 parts by mass is preferably 0.01 to 20 parts by mass, 0.1 to 10 parts by mass, 0.2 to 5 parts by mass, and 0.3 to 3 parts by mass.

(1.3.6 착색제) (1.3.6 Colorants)

보호막 형성 필름은, 착색제 (G) 를 함유하는 것이 바람직하다. 이로써, 칩 등의 워크의 가공물의 이면이 은폐되기 때문에, 전자 기기 내에서 발생되는 여러 가지의 전자파를 차단하여, 칩 등의 워크의 가공물의 오작동을 저감할 수 있다.It is preferable that the protective film formation film contains a coloring agent (G). As a result, since the back side of the workpiece such as chip is concealed, various electromagnetic waves generated in the electronic device can be blocked, and malfunction of the workpiece such as chip can be reduced.

착색제 (G) 로는, 예를 들어, 유기계 안료, 유기계 염료, 무기계 안료 등 공지된 것을 사용할 수 있다. 본 실시형태에서는, 무기계 안료가 바람직하다.As the colorant (G), known ones such as organic pigments, organic dyes, and inorganic pigments can be used, for example. In this embodiment, an inorganic pigment is preferable.

무기계 안료로는, 예를 들어, 카본 블랙, 코발트계 색소, 철계 색소, 크롬계 색소, 티탄계 색소, 바나듐계 색소, 지르코늄계 색소, 몰리브덴계 색소, 루테늄계 색소, 백금계 색소, ITO (인듐주석옥사이드) 계 색소, ATO (안티몬주석옥사이드) 계 색소 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 특히 카본 블랙을 사용하는 것이 바람직하다. 카본 블랙에 의하면, 넓은 파장 범위의 전자파를 차단할 수 있다.As the inorganic pigment, for example, carbon black, cobalt pigment, iron pigment, chromium pigment, titanium pigment, vanadium pigment, zirconium pigment, molybdenum pigment, ruthenium pigment, platinum pigment, ITO (indium tin oxide)-based pigments, ATO (antimony tin oxide)-based pigments, and the like. Among these, it is especially preferable to use carbon black. Carbon black can block electromagnetic waves in a wide wavelength range.

보호막 형성 필름 중에 있어서의 착색제 (특히 카본 블랙) 의 배합량은, 보호막 형성 필름의 두께에 따라서도 상이하지만, 예를 들어 보호막 형성 필름의 두께가 25 ㎛ 인 경우에는, 보호막 형성 필름용 조성물의 총중량을 100 질량부로 했을 때의 착색제의 함유량은, 바람직하게는 0.01 ∼ 10 질량부, 0.03 ∼ 7 질량부, 0.05 ∼ 4 질량부이다.The blending amount of the colorant (particularly carbon black) in the protective film-forming film varies depending on the thickness of the protective film-forming film. For example, when the thickness of the protective film-forming film is 25 µm, Content of the coloring agent at the time of setting it as 100 mass parts is Preferably they are 0.01-10 mass parts, 0.03-7 mass parts, and 0.05-4 mass parts.

착색제 (특히 카본 블랙) 의 평균 입경은, 바람직하게는 1 ∼ 500 ㎚, 3 ∼ 100 ㎚, 5 ∼ 50 ㎚ 이다. 착색제의 평균 입경이 상기한 범위 내에 있으면, 광선 투과율을 원하는 범위로 제어하기 쉽다.The average particle diameter of the coloring agent (especially carbon black) is preferably 1 to 500 nm, 3 to 100 nm, and 5 to 50 nm. When the average particle diameter of the colorant is within the above range, it is easy to control the light transmittance within a desired range.

(1.3.7 그 밖의 첨가제) (1.3.7 Other additives)

보호막 형성 필름용 조성물은, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위 내에 있어서, 그 밖의 첨가제로서, 예를 들어, 광 중합 개시제, 가교제, 가소제, 대전 방지제, 산화 방지제, 게터링제, 점착 부여제, 박리제 등을 함유하고 있어도 된다.The composition for a protective film forming film, within the range which does not impair the effect of this invention, as other additives, for example, a photoinitiator, a crosslinking agent, a plasticizer, an antistatic agent, antioxidant, a gettering agent, a tackifier, You may contain a release agent etc.

(2. 보호막 형성용 시트) (2. Sheet for forming protective film)

본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 시트는, 상기한 보호막 형성 필름과, 보호막 형성 필름의 적어도 일방의 주면 상에 배치된 박리 필름을 갖는다. 박리 필름은, 보호막 형성 필름의 사용시에 박리된다.The sheet for forming a protective film according to the present embodiment has the protective film forming film described above and a release film disposed on at least one main surface of the protective film forming film. A peeling film peels at the time of use of a protective film formation film.

도 5 에 나타내는 보호막 형성용 시트 (50) 는, 보호막 형성 필름 (10) 의 일방의 주면 (10a) 상에, 보호막 형성 필름 (10) 을 지지하는 제 1 박리 필름 (21) 이 배치되고, 타방의 주면 (10b) 상에 제 2 박리 필름 (22) 이 배치된 구성을 갖고 있다.In the sheet 50 for forming a protective film shown in FIG. 5 , the first peeling film 21 supporting the protective film forming film 10 is disposed on one main surface 10a of the protective film forming film 10, and the other side It has the structure in which the 2nd peeling film 22 was arrange|positioned on the main surface 10b of .

본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 시트는, 워크를 가공할 때에, 당해 워크에 보호막 형성 필름을 첩부하여, 보호막 형성 필름을 보호막화하고, 당해 워크 또는 당해 워크의 가공물에 보호막을 형성하기 위해서 사용된다.The sheet for forming a protective film according to the present embodiment is used to form a protective film on the work or a workpiece of the work by attaching the protective film forming film to the work when processing the work to form a protective film on the protective film forming film. .

또, 보호막 형성용 시트는, 폭 방향의 길이에 대한 길이 방향의 길이가 매우 긴 장척 시트의 형태여도 된다. 또, 이와 같은 장척 시트가 감긴 시트 롤의 형태여도 된다.Further, the sheet for forming a protective film may be in the form of a long sheet having an extremely long length in the longitudinal direction relative to the length in the width direction. Moreover, the form of the sheet|seat roll on which such a long sheet|seat was wound may be sufficient.

또한, 보호막 형성용 시트는, 워크에 첩부되어야 할 보호막 형성 필름이 소정의 닫힌 형상을 갖도록 발출 가공된 보호막 형성용 시트여도 된다. 소정의 닫힌 형상은 특별히 제한되지 않지만, 첩부되는 워크와 대략 동 형상인 것이 바람직하다.Further, the sheet for forming a protective film may be a sheet for forming a protective film in which a protective film forming film to be affixed to a workpiece is drawn out so as to have a predetermined closed shape. The predetermined closed shape is not particularly limited, but it is preferably substantially the same shape as the work to be affixed.

(2.1 박리 필름) (2.1 release film)

박리 필름은, 보호막 형성 필름을 박리 가능하게 지지할 수 있는 필름이다.A peeling film is a film which can support a protective film formation film so that peeling is possible.

박리 필름은 1 층 (단층) 또는 2 층 이상의 기재로 구성되어 있어도 되고, 박리성을 제어하는 관점에서, 기재의 표면이 박리 처리되어 있어도 된다. 즉, 기재의 표면이 개질되어 있어도 되고, 기재의 표면에 기재에서 유래하지 않는 재료 (박리제층) 가 형성되어 있어도 된다.The peeling film may be composed of a substrate of one layer (single layer) or two or more layers, and the surface of the substrate may be subjected to a peeling treatment from the viewpoint of controlling the peelability. That is, the surface of the substrate may be modified, or a material (release agent layer) not derived from the substrate may be formed on the surface of the substrate.

기재로는, 보호막 형성 필름이 워크에 첩부될 때까지 보호막 형성 필름을 지지할 수 있는 재료이면 특별히 한정되지 않고, 통상적으로는 수지계의 재료를 주재 (主材) 로 하는 필름 (이하「수지 필름」이라고 한다.) 으로 구성된다.The base material is not particularly limited as long as it is a material capable of supporting the protective film forming film until the protective film forming film is attached to the work, and usually a film mainly composed of a resin-based material (hereinafter referred to as "resin film"). is called).

수지 필름의 구체예로서, 폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리부텐 필름, 폴리부타디엔 필름, 폴리메틸펜텐 필름, 폴리염화비닐 필름, 염화비닐 공중합체 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리에틸렌나프탈레이트 필름, 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리우레탄 필름, 에틸렌아세트산비닐 공중합체 필름, 아이오노머 수지 필름, 에틸렌·(메트)아크릴산 공중합체 필름, 에틸렌·(메트)아크릴산에스테르 공중합체 필름, 폴리스티렌 필름, 폴리카보네이트 필름, 폴리이미드 필름, 불소 수지 필름 등이 사용된다. 또 이것들의 가교 필름도 사용된다. 또한, 이것들의 적층 필름이어도 된다. 본 실시형태에서는, 환경 안전성, 비용 등의 관점에서, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름이 바람직하다.Specific examples of the resin film include a polyethylene film, a polypropylene film, a polybutene film, a polybutadiene film, a polymethylpentene film, a polyvinyl chloride film, a vinyl chloride copolymer film, a polyethylene terephthalate film, a polyethylene naphthalate film, and a polybutyl film. Lenterephthalate film, polyurethane film, ethylene vinyl acetate copolymer film, ionomer resin film, ethylene/(meth)acrylic acid copolymer film, ethylene/(meth)acrylic acid ester copolymer film, polystyrene film, polycarbonate film, polye A mid film, a fluororesin film, etc. are used. Moreover, these crosslinked films are also used. Moreover, these laminated|multilayer films may be sufficient. In this embodiment, a polyethylene terephthalate film is preferable from viewpoints of environmental safety, cost, and the like.

상기한 수지 필름은, 착색제, 난연제, 가소제, 대전 방지제, 활제, 필러 등의 각종 첨가제를 함유해도 된다.The resin film described above may contain various additives such as a colorant, a flame retardant, a plasticizer, an antistatic agent, a lubricant, and a filler.

박리제층은, 기재의 일방의 면에, 박리제층용 조성물을 함유하는 도포제를 도포한 후, 그 도막을 건조 및 경화시킴으로써 얻어진다. 박리제층용 조성물은, 기재에 보호막 형성 필름과의 박리성을 부여할 수 있는 재료이면 특별히 제한되지 않는다. 본 실시형태에서는, 박리제층용 조성물은, 예를 들어, 알키드계 이형제, 실리콘계 이형제, 불소계 이형제, 불포화 폴리에스테르계 이형제, 폴리올레핀계 이형제, 왁스계 이형제가 바람직하고, 그 중에서도, 실리콘계 이형제가 바람직하다.The release agent layer is obtained by applying a coating agent containing the composition for a release agent layer to one surface of the substrate, and then drying and curing the coating film. The composition for the release agent layer is not particularly limited as long as it is a material capable of imparting releasability with the protective film forming film to the base material. In the present embodiment, the release agent layer composition is preferably an alkyd type release agent, a silicone type release agent, a fluorine type release agent, an unsaturated polyester type release agent, a polyolefin type release agent, or a wax type release agent, and among these, a silicone type release agent is preferable.

박리 필름의 두께는, 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 15 ∼ 100 ㎛, 더욱 바람직하게는 25 ∼ 80 ㎛, 보다 바람직하게는 35 ∼ 60 ㎛ 이다.The thickness of the release film is not particularly limited, but is preferably 15 to 100 μm, more preferably 25 to 80 μm, and still more preferably 35 to 60 μm.

또한, 도 5 에 나타내는 보호막 형성용 시트에 있어서는, 일방의 박리 필름의 박리력을 크게 하여 중박리형 박리 필름으로 하고, 타방의 박리 필름의 박리력을 작게 하여 경박리형 박리 필름으로 하는 것이 바람직하다.In addition, in the sheet for forming a protective film shown in FIG. 5, it is preferable to increase the peeling force of one release film to obtain a heavy release type release film and to decrease the peel force of the other release film to obtain a light release type release film.

(3. 보호막 형성용 복합 시트) (3. Composite sheet for forming protective film)

본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 복합 시트는, 상기한 보호막 형성 필름과, 보호막 형성 필름을 지지하는 지지 시트를 갖는다. 지지 시트의 구성은, 보호막 부착 워크 가공물이 얻어지는 만큼의 밀착성과 박리성을 제어할 수 있다면, 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 지지 시트는, 후술하는 소정의 강성을 갖는 기재만으로 이루어지는 것이어도 된다. 본 실시형태에서는, 밀착성과 박리성의 제어를 보다 용이하게 하기 위해서, 지지 시트는, 기재 및 점착제층을 갖는 점착 시트인 것이 바람직하다.The composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment has the protective film forming film described above and a support sheet supporting the protective film forming film. The configuration of the support sheet is not particularly limited as long as the adhesion and peelability can be controlled to the extent that a workpiece with a protective film can be obtained. For example, the support sheet may be made of only a substrate having a predetermined rigidity described later. In this embodiment, in order to make control of adhesiveness and peelability easier, it is preferable that a support sheet is an adhesive sheet which has a base material and an adhesive layer.

도 6 에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트 (60) 는, 기재 (41) 의 일방의 면에 점착제층 (42) 이 적층되어 이루어지는 점착 시트 (4) 와, 점착 시트 (4) 의 점착제층 (42) 측에 적층된 보호막 형성 필름 (10) 과, 보호막 형성 필름 (10) 의 주연부에 적층된 지그용 점착제층 (5) 을 구비하는 구성을 갖고 있다. 즉, 점착 시트 (4) 는 지지 시트이다. 또한, 지그용 점착제층 (5) 은, 보호막 형성용 복합 시트 (60) 를 링 프레임 등의 지그에 접착하기 위한 층이다.The composite sheet 60 for forming a protective film shown in FIG. 6 includes an adhesive sheet 4 in which an adhesive layer 42 is laminated on one surface of a substrate 41, and an adhesive layer 42 of the adhesive sheet 4 It has a structure provided with the protective film formation film 10 laminated|stacked on the side, and the adhesive layer 5 for jig laminated|stacked on the periphery of the protective film formation film 10. That is, the adhesive sheet 4 is a support sheet. In addition, the adhesive layer 5 for a jig is a layer for adhering the composite sheet 60 for forming a protective film to a jig such as a ring frame.

본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 복합 시트는, 워크를 가공할 경우에, 당해 워크에 첩부되어 당해 워크를 유지함과 함께, 보호막 형성 필름을 보호막화하여, 당해 워크 또는 당해 워크의 가공물에 보호막을 형성하기 위해서 사용된다.In the case of processing a work, the composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment is attached to the work to maintain the work, and forms a protective film forming film to form a protective film on the work or a workpiece of the work. used to do

구체적으로는, 워크로서의 웨이퍼의 다이싱 가공시에 웨이퍼를 유지함과 함께, 다이싱에 의해서 얻어지는 가공물로서의 칩에 보호막을 형성하기 위해서 사용되지만, 이것에 한정되는 것은 아니다.Specifically, while holding the wafer during the dicing process of the wafer as a workpiece, it is used to form a protective film on a chip as a workpiece obtained by dicing, but is not limited thereto.

(3.1. 점착 시트) (3.1. Adhesive Sheet)

본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 복합 시트의 점착 시트 (4) 는, 기재 (41) 와, 기재 (41) 의 일방의 면에 적층된 점착제층 (42) 을 구비하여 구성된다.The pressure-sensitive adhesive sheet 4 of the composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment includes a base material 41 and a pressure-sensitive adhesive layer 42 laminated on one surface of the base material 41 .

(3.1.1. 기재) (3.1.1. Description)

점착 시트의 기재는, 워크의 가공, 예를 들어 웨이퍼의 다이싱 및 익스펜딩에 적절한 것이면, 그 구성 재료는 특별히 한정되지 않고, 통상적으로는 수지계의 재료를 주재로 하는 필름 (이하「수지 필름」이라고 한다.) 으로 구성된다.As long as the base material of the pressure-sensitive adhesive sheet is suitable for workpiece processing, for example, wafer dicing and expanding, the constituent material thereof is not particularly limited, and usually a film mainly composed of a resin-based material (hereinafter referred to as "resin film"). is called).

수지 필름의 구체예로서, 저밀도 폴리에틸렌 (LDPE) 필름, 직사슬 저밀도 폴리에틸렌 (LLDPE) 필름, 고밀도 폴리에틸렌 (HDPE) 필름 등의 폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리부텐 필름, 폴리부타디엔 필름, 폴리메틸펜텐 필름, 에틸렌-노르보르넨 공중합체 필름, 노르보르넨 수지 필름 등의 폴리올레핀계 필름 ; 에틸렌-아세트산비닐 공중합체 필름, 에틸렌-(메트)아크릴산 공중합체 필름, 에틸렌-(메트)아크릴산에스테르 공중합체 필름 등의 에틸렌계 공중합 필름 ; 폴리염화비닐 필름, 염화비닐 공중합체 필름 등의 폴리염화비닐계 필름 ; 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름 등의 폴리에스테르계 필름 ; 폴리우레탄 필름 ; 폴리이미드 필름 ; 폴리스티렌 필름 ; 폴리카보네이트 필름 ; 불소 수지 필름 등을 들 수 있다. 또 이것들의 가교 필름, 아이오노머 필름과 같은 변성 필름도 사용된다. 상기한 기재 (41) 는 이것들의 1 종으로 이루어지는 필름이어도 되고, 추가로 이것들을 2 종류 이상 조합한 적층 필름이어도 된다. 본 실시형태에서는, 보호막 형성용 복합 시트가 가열되는 공정에서 사용되는 경우의 내열성의 관점에서, 폴리프로필렌 필름 및 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름이 바람직하다.Specific examples of the resin film include polyethylene films such as low-density polyethylene (LDPE) film, linear low-density polyethylene (LLDPE) film, high-density polyethylene (HDPE) film, polypropylene film, polybutene film, polybutadiene film, and polymethylpentene film. Polyolefin films, such as an ethylene-norbornene copolymer film and a norbornene resin film; Ethylene copolymer films, such as an ethylene-vinyl acetate copolymer film, an ethylene-(meth)acrylic acid copolymer film, and an ethylene-(meth)acrylic acid ester copolymer film; Polyvinyl chloride type films, such as a polyvinyl chloride film and a vinyl chloride copolymer film; Polyester-type films, such as a polyethylene terephthalate film and a polybutylene terephthalate film; polyurethane film; polyimide film; polystyrene film; polycarbonate film; A fluororesin film etc. are mentioned. In addition, modified films such as these crosslinked films and ionomer films are also used. The base material 41 described above may be a film composed of one of these, or may be a laminated film obtained by combining two or more of these. In this embodiment, a polypropylene film and a polybutylene terephthalate film are preferred from the viewpoint of heat resistance when the composite sheet for forming a protective film is used in a heating step.

상기한 수지 필름은, 그 표면에 적층되는 점착제층 (42) 과의 밀착성을 향상시키는 목적에서, 원하는 바에 따라서 편면 또는 양면에, 산화법이나 요철화법 등에 의한 표면 처리, 혹은 프라이머 처리를 실시할 수 있다. 상기 산화법으로는, 예를 들어 코로나 방전 처리, 플라즈마 방전 처리, 크롬 산화 처리 (습식), 화염 처리, 열풍 처리, 오존, 자외선 조사 처리 등을 들 수 있고, 또, 요철화법으로는, 예를 들어 샌드 블라스트법, 용사 처리법 등을 들 수 있다.For the purpose of improving adhesion to the pressure-sensitive adhesive layer 42 laminated on the surface of the resin film described above, surface treatment by an oxidation method or a concavo-convex method or a primer treatment can be applied to one or both surfaces as desired. . Examples of the oxidation method include corona discharge treatment, plasma discharge treatment, chromium oxidation treatment (wet), flame treatment, hot air treatment, ozone, and ultraviolet irradiation treatment. A sand blast method, a thermal spray treatment method, etc. are mentioned.

상기한 수지 필름은, 착색제, 난연제, 가소제, 대전 방지제, 활제, 필러 등의 각종 첨가제를 함유해도 된다.The resin film described above may contain various additives such as a colorant, a flame retardant, a plasticizer, an antistatic agent, a lubricant, and a filler.

기재 (41) 의 두께는, 보호막 형성용 복합 시트가 사용되는 각 공정에 있어서 적절히 기능할 수 있는 한, 특별히 한정되지 않는다. 바람직하게는 20 ∼ 200 ㎛, 보다 바람직하게는 40 ∼ 170 ㎛, 특히 바람직하게는 50 ∼ 140 ㎛ 의 범위이다.The thickness of the substrate 41 is not particularly limited as long as it can properly function in each step in which the composite sheet for forming a protective film is used. It is preferably in the range of 20 to 200 μm, more preferably in the range of 40 to 170 μm, and particularly preferably in the range of 50 to 140 μm.

(3.1.2. 점착제층) (3.1.2. Adhesive layer)

본 실시형태에 관련된 보호막 형성용 복합 시트의 점착 시트가 구비하는 점착제층은, 비에너지선 경화성 점착제로 구성되어도 되고, 에너지선 경화성 점착제로 구성되어도 된다. 비에너지선 경화성 점착제로는, 원하는 점착력 및 재박리성을 갖는 것이 바람직하고, 예를 들어, 아크릴계 점착제, 고무계 점착제, 실리콘계 점착제, 우레탄계 점착제, 폴리에스테르계 점착제, 폴리비닐에테르계 점착제 등을 사용할 수 있다. 이 중에서도, 보호막 형성 필름과의 밀착성이 높고, 다이싱 공정 등에서 워크 또는 워크의 가공물의 탈락을 효과적으로 억제할 수 있는 관점에서 아크릴계 점착제가 바람직하다. 또, 보호막이 부착된 칩의 픽업 적성 (適性) 을 제어하기 쉬운 관점에서도 아크릴계 점착제가 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet of the composite sheet for forming a protective film according to the present embodiment may be composed of a non-energy ray-curable pressure-sensitive adhesive or an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive. As the non-energy ray curable adhesive, those having desired adhesive strength and re-peelability are preferable. For example, acrylic adhesives, rubber-based adhesives, silicone-based adhesives, urethane-based adhesives, polyester-based adhesives, polyvinyl ether-based adhesives, etc. can be used. there is. Among these, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferable from the viewpoint of having high adhesion to the protective film forming film and effectively suppressing the drop-off of the workpiece or the workpiece of the workpiece in a dicing step or the like. In addition, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferable also from the viewpoint of easy control of pick-up aptitude of a chip with a protective film.

한편, 에너지선 경화성 점착제는, 에너지선 조사에 의해서 점착력이 저하되기 때문에, 워크 또는 워크의 가공물과 점착 시트를 분리시키고자 할 때에, 에너지선 조사함으로써, 용이하게 분리시킬 수 있다.On the other hand, since the adhesive force of energy ray-curable pressure-sensitive adhesive is reduced by energy ray irradiation, it can be easily separated by energy ray irradiation when it is desired to separate a workpiece or a workpiece of a workpiece from an adhesive sheet.

점착제층을 구성하는 에너지선 경화성 점착제는, 에너지선 경화성을 갖는 폴리머를 주성분으로 하는 것이어도 되고, 에너지선 경화성을 갖지 않는 폴리머와 에너지선 경화성의 모노머 및/또는 올리고머의 혼합물을 주성분으로 하는 것이어도 된다.The energy ray-curable pressure-sensitive adhesive constituting the pressure-sensitive adhesive layer may have a polymer having energy ray curability as a main component, or may have a mixture of a polymer having no energy ray curability and an energy ray curable monomer and/or oligomer as a main component. do.

에너지선 경화성을 갖는 폴리머로는, 예를 들어, 에너지선 경화성 기가 도입된 (메트)아크릴산에스테르 (공)중합체 등이 예시된다. 에너지선 경화성의 모노머 및/또는 올리고머로는, 다가 알코올과 (메트)아크릴산의 에스테르가 예시된다. 또, 에너지선 경화성 점착제는, 에너지선 경화성을 갖는 성분 이외에, 광 중합 개시제, 가교제 등의 첨가제를 함유하고 있어도 된다.Examples of polymers having energy ray curability include (meth)acrylic acid ester (co)polymers in which energy ray curable groups are introduced. As an energy ray-curable monomer and/or oligomer, ester of a polyhydric alcohol and (meth)acrylic acid is illustrated. Moreover, the energy-beam curable adhesive may contain additives, such as a photoinitiator and a crosslinking agent, other than the component which has energy-beam curability.

점착제층의 두께는, 보호막 형성용 복합 시트가 사용되는 각 공정에 있어서 적절히 기능할 수 있는 한, 특별히 한정되지 않는다. 구체적으로는, 점착제층의 두께는, 바람직하게는 1 ∼ 50 ㎛, 2 ∼ 30 ㎛, 2 ∼ 20 ㎛, 3 ∼ 10 ㎛, 3 ∼ 8 ㎛ 이다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited as long as it can properly function in each step in which the composite sheet for forming a protective film is used. Specifically, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 1 to 50 μm, 2 to 30 μm, 2 to 20 μm, 3 to 10 μm, and 3 to 8 μm.

지그용 점착제층을 구성하는 점착제로는, 원하는 점착력 및 재박리성을 갖는 것이 바람직하고, 예를 들어, 아크릴계 점착제, 고무계 점착제, 실리콘계 점착제, 우레탄계 점착제, 폴리에스테르계 점착제, 폴리비닐에테르계 점착제 등을 사용할 수 있다. 이 중에서도, 링 프레임 등의 지그와의 밀착성이 높고, 다이싱 공정 등에서 링 프레임 등으로부터 보호막 형성용 복합 시트가 벗겨지는 것을 효과적으로 억제할 수 있는 아크릴계 점착제가 바람직하다. 또한, 지그용 점착제층의 두께 방향의 도중에는, 심재로서의 기재가 개재되어 있어도 된다.The adhesive constituting the pressure-sensitive adhesive layer for a jig is preferably one having desired adhesive strength and releasability, and examples thereof include acrylic adhesives, rubber-based adhesives, silicone-based adhesives, urethane-based adhesives, polyester-based adhesives, polyvinyl ether-based adhesives, etc. can be used. Among these, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferable because it has high adhesion to a jig such as a ring frame and can effectively suppress peeling of the composite sheet for forming a protective film from the ring frame or the like in a dicing step or the like. Further, in the middle of the pressure-sensitive adhesive layer for jig in the thickness direction, a base material as a core material may be interposed.

지그용 점착제층의 두께는, 링 프레임 등의 지그에 대한 점착성의 관점에서, 5 ∼ 200 ㎛ 인 것이 바람직하고, 특히 10 ∼ 100 ㎛ 인 것이 바람직하다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer for jigs is preferably 5 to 200 μm, particularly preferably 10 to 100 μm, from the viewpoint of adhesiveness to jigs such as ring frames.

(4. 보호막 형성 필름 및 보호막 형성용 시트의 제조 방법) (4. Manufacturing method of protective film forming film and sheet for forming protective film)

보호막 형성 필름의 제조 방법은 특별히 한정은 되지 않는다. 당해 필름은, 상기 서술한 보호막 형성 필름용 조성물, 또는, 당해 보호막 형성 필름용 조성물을 용매에 의해서 희석하여 얻어지는 조성물 (상기 2 개의 조성물을「도포제」라고 칭한다.) 을 사용하여 제조된다. 도포제는, 보호막 형성 필름용 조성물을 구성하는 성분을 공지된 방법에 의해서 혼합하여 조제된다.The manufacturing method of the protective film formation film is not specifically limited. The said film is manufactured using the above-mentioned composition for protective film formation films, or the composition obtained by diluting the said protective film formation film composition with a solvent (The said two compositions are called a "coating agent."). The coating agent is prepared by mixing the components constituting the composition for a protective film-forming film by a known method.

얻어지는 도포제를, 롤 코터, 나이프 코터, 롤 나이프 코터, 에어 나이프 코터, 다이 코터, 바 코터, 그라비어 코터, 커튼 코터 등의 도공기를 사용하여, 제 1 박리 필름의 박리면에 도포하고, 필요에 따라서 건조시켜, 제 1 박리 필름 상에 보호막 형성 필름을 형성한다.The obtained coating agent is applied to the release surface of the first release film using a coating machine such as a roll coater, knife coater, roll knife coater, air knife coater, die coater, bar coater, gravure coater, curtain coater, and the like, as needed It is made to dry and a protective film formation film is formed on the 1st peeling film.

다음으로, 제 1 박리 필름 상에 형성된 보호막 형성 필름의 노출면에, 추가로 제 2 박리 필름의 박리면을 첩합함으로써, 도 5 에 나타내는 보호막 형성용 시트가 얻어진다.Next, the sheet|seat for protective film formation shown in FIG. 5 is obtained by bonding together the peeling surface of the 2nd peeling film further to the exposed surface of the protective film formation film formed on the 1st peeling film.

(5. 보호막 형성용 복합 시트의 제조 방법) (5. Manufacturing method of composite sheet for forming protective film)

보호막 형성용 복합 시트의 제조 방법은 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 보호막 형성 필름을 포함하는 제 1 적층체와, 지지 시트로서의 점착 시트를 포함하는 제 2 적층체를 따로 따로 제작한 후, 제 1 적층체 및 제 2 적층체를 사용하여, 보호막 형성 필름과 점착 시트를 적층함으로써 제조할 수 있다.The manufacturing method of the composite sheet for forming a protective film is not particularly limited. For example, after separately producing a first laminate containing a protective film forming film and a second laminate containing an adhesive sheet as a support sheet, the first laminate and the second laminate are used to form a protective film. It can be manufactured by laminating a film and an adhesive sheet.

제 1 적층체는, 상기한 보호막 형성용 시트와 같은 방법에 의해서 제조할 수 있다. 즉, 제 1 박리 필름의 박리면에 보호막 형성 필름을 형성하고, 보호막 형성 필름의 노출면에 제 2 박리 필름의 박리면을 첩합한다.The first layered product can be manufactured by the same method as the sheet for forming a protective film described above. That is, a protective film forming film is formed on the peeling surface of the first peeling film, and the peeling surface of the second peeling film is bonded to the exposed surface of the protective film forming film.

한편, 제 2 적층체를 제조하려면, 먼저, 점착제층을 구성하는 점착제 조성물, 또는, 당해 점착제 조성물을 용매로 희석한 조성물 (상기 2 개의 조성물을「도포제」라고 칭한다.) 을 조제한다. 계속해서, 제 3 박리 필름의 박리면에, 도포제를 도포하고, 필요에 따라서 건조시켜 제 3 박리 필름 상에 점착제층을 형성한다. 그 후, 점착제층의 노출면에 기재를 첩합하여, 기재 및 점착제층으로 이루어지는 점착 시트와, 제 3 박리 필름으로 이루어지는 적층체 (제 2 적층체) 를 얻는다.On the other hand, in order to manufacture a 2nd laminated body, first, the adhesive composition which comprises the adhesive layer or the composition which diluted the said adhesive composition with a solvent (the said two compositions are called "coating agent") is prepared. Subsequently, a coating agent is applied to the peeling surface of the third peeling film, and dried as necessary to form an adhesive layer on the third peeling film. After that, a base material is bonded to the exposed surface of the pressure-sensitive adhesive layer to obtain a laminate (second laminate) composed of an adhesive sheet composed of the base material and the pressure-sensitive adhesive layer, and a third peeling film.

여기에서, 점착제층이 에너지선 경화성 점착제로 이루어지는 경우에는, 이 단계에서 점착제층에 대해서 에너지선을 조사하여, 점착제층을 경화시켜도 되고, 보호막 형성 필름과 적층한 후에 점착제층을 경화시켜도 된다. 또, 보호막 형성 필름과 적층한 후에 점착제층을 경화시키는 경우, 다이싱 공정 전에 점착제층을 경화시켜도 되고, 다이싱 공정 후에 점착제층을 경화시켜도 된다.Here, when the pressure-sensitive adhesive layer is made of an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive, the pressure-sensitive adhesive layer may be cured by irradiating energy rays to the pressure-sensitive adhesive layer at this stage, or the pressure-sensitive adhesive layer may be cured after being laminated with a protective film forming film. Moreover, when hardening an adhesive layer after laminating|stacking with a protective film formation film, you may harden an adhesive layer before a dicing process, and you may harden an adhesive layer after a dicing process.

에너지선으로는, 통상적으로 자외선, 전자선 등이 사용된다. 에너지선의 조사량은, 에너지선의 종류에 따라서 상이하지만, 예를 들어 자외선의 경우에는, 광량으로 50 ∼ 1000 mJ/㎠ 가 바람직하고, 특히 100 ∼ 500 mJ/㎠ 가 바람직하다. 또, 전자선의 경우에는, 10 ∼ 1000 krad 정도가 바람직하다.As the energy beam, an ultraviolet ray, an electron beam or the like is usually used. The irradiation amount of the energy ray varies depending on the type of the energy ray, but in the case of ultraviolet rays, for example, the light amount is preferably 50 to 1000 mJ/cm 2 , particularly preferably 100 to 500 mJ/cm 2 . Moreover, in the case of an electron beam, about 10 to 1000 krad is preferable.

이상과 같이 하여 제 1 적층체 및 제 2 적층체가 얻어지면, 제 1 적층체에 있어서의 제 2 박리 필름을 박리함과 함께, 제 2 적층체에 있어서의 제 3 박리 필름을 박리하고, 제 1 적층체에서 노출된 보호막 형성 필름과 제 2 적층체에서 노출된 점착 시트의 점착제층을 첩합한다.When the 1st laminated body and the 2nd laminated body are obtained as mentioned above, while peeling the 2nd peeling film in a 1st laminated body, the 3rd peeling film in a 2nd laminated body is peeled, and the 1st The protective film forming film exposed from the laminate and the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet exposed from the second laminate are bonded together.

이와 같이 하여, 기재 상에 점착제층이 적층되어 이루어지는 점착 시트와, 점착 시트의 점착제층측에 적층된 보호막 형성 필름과, 보호막 형성 필름에 있어서의 점착 시트는 반대측에 적층된 제 1 박리 필름으로 이루어지는 보호막 형성용 복합 시트가 얻어진다. 필요에 따라서, 제 1 박리 필름을 박리한 후, 노출된 점착제층의 주연부에 지그용 점착제층을 형성한다.In this way, the adhesive sheet formed by laminating the adhesive layer on the substrate, the protective film forming film laminated on the adhesive layer side of the adhesive sheet, and the protective film formed of the first peeling film laminated on the opposite side of the adhesive sheet in the protective film forming film A composite sheet for formation is obtained. After peeling off the 1st peeling film as needed, the adhesive layer for jig|tools is formed in the peripheral part of the exposed adhesive layer.

(6. 리워크 방법 및 장치의 제조 방법) (6. Rework method and device manufacturing method)

본 실시형태에 관련된 보호막 형성 필름을 사용한 리워크 방법 및 장치의 제조 방법에 대해서 설명한다. 장치의 제조 방법의 일례로서, 보호막 형성 필름이 첩부된 워크를 개편화하여 얻어지는 보호막 부착 워크 가공물을 얻는 방법에 대해서 설명한다.The rework method using the protective film formation film concerning this embodiment and the manufacturing method of an apparatus are demonstrated. As an example of the manufacturing method of the apparatus, a method of obtaining a workpiece with a protective film obtained by singling a workpiece to which a protective film forming film has been affixed will be described.

본 실시형태에 관련된 리워크 방법은, 적어도 아래의 공정 1 내지 공정 3 을 갖는다. 또, 본 실시형태에 관련된 장치의 제조 방법은, 적어도 아래의 공정 1 내지 공정 6 을 갖는다. 즉, 본 실시형태에 관련된 리워크 방법과, 본 실시형태에 관련된 장치의 제조 방법은, 공정 1 내지 공정 3 에 관해서 중복된다.The rework method according to the present embodiment includes at least the following steps 1 to 3. In addition, the manufacturing method of the device according to the present embodiment includes at least the following steps 1 to 6. That is, the rework method according to the present embodiment and the device manufacturing method according to the present embodiment overlap with respect to steps 1 to 3.

공정 1 : 상기한 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정Step 1: Step of attaching the protective film-forming film described above to the back surface of the workpiece

공정 2 : 첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정Process 2: Process of inspecting the external appearance of the affixed protective film forming film

공정 3 : 공정 2 에 있어서, 첩부된 보호막 형성 필름에 흠집이 발견된 경우에, 흠집이 있는 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗기는 공정Step 3: In step 2, when a flaw is found in the pasted protective film forming film, a step of peeling off the scratched protective film forming film from the work

공정 4 : 워크로부터 벗긴 보호막 형성 필름과는 별도의, 상기한 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정Step 4: A step of attaching the protective film-forming film described above to the back side of the work, separate from the protective film-forming film peeled off from the work

공정 5 : 보호막 형성 필름을 보호막화하여 보호막 부착 워크를 얻는 공정Step 5: A step of forming a protective film forming film into a protective film to obtain a workpiece with a protective film

공정 6 : 보호막 부착 워크를 가공하여, 보호막 부착 워크 가공물을 얻는 공정Step 6: Step of processing the workpiece with protective film to obtain a workpiece with protective film

상기한 공정 1 내지 공정 3 을 갖는 리워크 방법과, 상기한 공정 1 내지 공정 6 을 갖는 장치의 제조 방법을 도 7a, 도 7b 및 도 8 을 사용하여 설명한다.A rework method having steps 1 to 3 described above and a method for manufacturing a device having steps 1 to 6 described above will be described using FIGS. 7A, 7B and 8 .

도 7a 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성용 시트 (50) 의 보호막 형성 필름 (10) 을, 워크로서의 웨이퍼 (6) 의 이면에 첩부한다 (공정 1). 필요에 따라서, 제 1 박리 필름 (21) 은 박리하면 된다.As shown in FIG. 7A, the protective film formation film 10 of the sheet|seat 50 for protective film formation is affixed on the back surface of the wafer 6 as a workpiece (process 1). What is necessary is just to peel the 1st peeling film 21 as needed.

또, 도 7b 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성용 복합 시트 (60) 의 보호막 형성 필름 (10) 을, 워크로서의 웨이퍼 (6) 에 첩부한다 (공정 1). 이 때에, 보호막 형성 필름 (10) 의 외주부를 링 프레임 (7) 에 의해서 고정시켜도 된다. 본 실시형태에서는, 도 6 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성 필름 (10) 의 외주부에 지그용 점착제층 (5) 을 형성하고 있기 때문에, 지그용 점착제층 (5) 을 링 프레임 (7) 에 첩부한다. 웨이퍼 (6) 는, 보호막 형성 필름 (10) 에 있어서의 점착제층 (42) 과의 첩부면과는 반대의 면에 첩부된다. 보호막 형성 필름 (10) 을 웨이퍼 (6) 에 첩부할 때에 있어서, 원하는 바에 따라서 보호막 형성 필름 (10) 을 가열하여, 점착성을 발휘시켜도 된다.Moreover, as shown in FIG. 7B, the protective film formation film 10 of the composite sheet 60 for protective film formation is affixed to the wafer 6 as a work (process 1). At this time, you may fix the outer periphery of the protective film formation film 10 with the ring frame 7. In this embodiment, as shown in Fig. 6, since the adhesive layer 5 for jigs is formed on the outer periphery of the protective film forming film 10, the adhesive layer 5 for jigs is attached to the ring frame 7. . The wafer 6 is affixed on a surface opposite to the affixed surface of the protective film-forming film 10 with the pressure-sensitive adhesive layer 42 . When attaching the protective film-forming film 10 to the wafer 6, if desired, the protective film-forming film 10 may be heated and adhesiveness may be exhibited.

다음으로, 첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사한다 (공정 2). 공정 1 로부터 공정 2 로 즉시 진행되어도 되지만, 공정 1 로부터 다른 공정을 거쳐 공정 2 로 진행되어도 된다. 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 방법으로는, 보호막 형성 필름에 흠집부가 형성되어 있는지의 여부를 발견할 수 있는 방법이면 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 보호막 형성 필름의 외관을 육안으로 확인하는 검사여도 되고, 소정의 광학계를 구비하는 촬상 장치를 사용하여 취득한 보호막 형성 필름의 화상을 육안으로 확인하는 검사여도 되며, 당해 화상을 화상 처리 소프트웨어 또는 화상 처리 프로세서 등에 의해서 화상 처리를 행하여 확인하는 검사여도 되고, 소정의 파장을 갖는 광을 조사하여 투과광 또는 반사광을 분석하여 외관을 확인하는 검사여도 된다.Next, the external appearance of the affixed protective film forming film is inspected (step 2). Although you may progress immediately from process 1 to process 2, you may progress to process 2 from process 1 through another process. The method for inspecting the appearance of the protective film-forming film is not particularly limited as long as it can detect whether or not a flaw is formed in the protective film-forming film. For example, an inspection may be performed to visually confirm the appearance of the protective film forming film, or an inspection may be performed to visually confirm an image of the protective film forming film acquired using an imaging device having a predetermined optical system, and the image may be processed by image processing software Alternatively, it may be an inspection performed by image processing by an image processing processor or the like, or an inspection in which light having a predetermined wavelength is irradiated and transmitted light or reflected light is analyzed to confirm the appearance.

공정 2 에 있어서, 보호막 형성 필름에 흠집부가 발견되지 않으면, 당해 보호막 형성 필름이 첩부된 워크는 다음 공정으로 반송된다.In step 2, if no scratches are found on the protective film-forming film, the work to which the protective film-forming film has been affixed is transported to the next step.

한편, 보호막 형성 필름에 흠집부가 발견된 경우, 당해 보호막 형성 필름이 첩부된 워크로부터, 보호막 형성 필름은 리워크된다 (공정 3). 공정 3 에서는, 보호막 형성용 복합 시트의 보호막 형성 필름이 워크에 첩부되어 있는 경우, 먼저, 보호막 형성 필름이 워크에 첩부되어 있는 면과 반대측의 면에 배치되어 있는 지지 시트 (점착 시트) 를 보호막 형성 필름으로부터 당겨 벗겨, 보호막 형성 필름을 외부에 노출시킨다. 계속해서, 흠집부가 형성된 보호막 형성 필름의 표면에 박리용 테이프를 첩부한다. 박리용 테이프는, 기재와 점착제층을 갖는 시트이다. 박리용 테이프를 소정의 각도로 잡아 당김으로써, 보호막 형성 필름이 박리용 테이프에 추종하여, 박리용 테이프와 함께 보호막 형성 필름이 워크로부터 당겨 벗겨진다 (리워크된다).On the other hand, when a flaw is found in the protective film forming film, the protective film forming film is reworked from the work to which the protective film forming film was affixed (step 3). In Step 3, when the protective film forming film of the composite sheet for forming a protective film is attached to the work, first, a protective film is formed on a support sheet (adhesive sheet) disposed on the surface opposite to the surface on which the protective film forming film is attached to the work It is pulled off from the film to expose the protective film forming film to the outside. Then, the tape for peeling is affixed on the surface of the protective film formation film in which the flaw part was formed. The peeling tape is a sheet having a substrate and an adhesive layer. By pulling the peeling tape at a predetermined angle, the protective film forming film follows the peeling tape, and the protective film forming film is pulled off (reworked) from the work together with the peeling tape.

이 때에, 보호막 형성 필름은 상기 서술한 물성을 갖고 있기 때문에, 흠집부가 형성되어 있어도, 당겨 벗긴 후에, 워크 상에 보호막 형성 필름으로 이루어지는 잔류물이 남지 않는다. 즉, 보호막 형성 필름은 양호하게 리워크된다. 또, 당겨 벗기는 힘을 크게 하지 않아도, 양호하게 당겨 벗겨지기 때문에, 강한 힘의 인가에서 기인하는 워크의 파손을 억제할 수 있다.At this time, since the protective film-forming film has the above-mentioned physical properties, even if a flaw is formed, no residue consisting of the protective film-forming film remains on the work after being peeled off. That is, the protective film-forming film is reworked satisfactorily. Moreover, since it pulls off satisfactorily even without increasing the peeling force, damage to the workpiece resulting from application of strong force can be suppressed.

이상으로부터, 공정 1 내지 공정 3 을 거침으로써, 리워크 방법이 성립된다.From the above, the rework method is established by passing through steps 1 to 3.

계속해서, 공정 1 내지 공정 6 을 갖는 장치의 제조 방법에 대해서 설명한다. 장치의 제조 방법에 있어서, 공정 1 내지 공정 3 은 리워크 방법에서의 공정 1 내지 공정 3 과 동일하기 때문에, 공정 1 내지 공정 3 의 설명은 생략한다.Subsequently, the manufacturing method of the apparatus which has process 1 - process 6 is demonstrated. In the device manufacturing method, since steps 1 to 3 are the same as steps 1 to 3 in the rework method, descriptions of steps 1 to 3 are omitted.

보호막 형성 필름이 리워크되면, 워크의 이면에는 보호막 형성 필름이 존재하지 않는다. 그래서, 리워크된 보호막 형성 필름과는 상이한 별도의 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부한다 (공정 4).When the protective film forming film is reworked, the protective film forming film does not exist on the back side of the work. Then, another protective film forming film different from the reworked protective film forming film is affixed on the back surface of a work (process 4).

첩부 후에는, 상기 서술한 바와 같이, 보호막 형성 필름에 흠집부가 형성되어 있는지의 여부를 검사하고, 흠집부가 형성되어 있는 경우에는 리워크하면 된다.After sticking, as mentioned above, it is good to inspect whether or not a flaw part is formed in the protective film formation film, and what is necessary is just to rework when a flaw part is formed.

보호막 형성 필름에 흠집부가 형성되어 있지 않은 경우에는, 보호막 형성 필름을 보호막화하여 보호막 (1) 을 형성하고, 보호막 부착 워크를 얻는다 (공정 5). 보호막 형성 필름이 경화성인 경우에는, 보호막 형성 필름을 경화시키는 조작을 행하면 된다. 예를 들어, 보호막 형성 필름이 열 경화성인 경우에는, 보호막 형성 필름 (10) 을 소정 온도에서 적절한 시간 가열하면 된다. 예를 들어, 가열 온도는, 100 ∼ 200 ℃ 인 것이 바람직하고, 예를 들어, 110 ∼ 180 ℃, 및 120 ∼ 170 ℃ 중 어느 것이어도 된다. 가열 시간은, 0.5 ∼ 5 시간인 것이 바람직하고, 예를 들어, 0.5 ∼ 3 시간, 및 1 ∼ 2 시간 중 어느 것이어도 된다. 또, 보호막 형성 필름 (10) 이 에너지선 경화성인 경우에는, 점착 시트 (4) 또는 박리 필름측으로부터 에너지선을 입사하면 된다. 예를 들어, 에너지선의 조도는 120 ∼ 280 ㎽/㎠, 에너지선의 광량은 100 ∼ 1000 mJ/㎠ 인 것이 바람직하다.When the flaw part is not formed in the protective film formation film, the protective film formation film is made into a protective film, the protective film 1 is formed, and the workpiece|work with a protective film is obtained (process 5). What is necessary is just to perform operation which hardens a protective film formation film, when a protective film formation film is curable. For example, what is necessary is just to heat the protective film formation film 10 at predetermined temperature for an appropriate time, when a protective film formation film is thermosetting. For example, the heating temperature is preferably 100 to 200°C, and may be, for example, 110 to 180°C or 120 to 170°C. The heating time is preferably 0.5 to 5 hours, and may be, for example, 0.5 to 3 hours or 1 to 2 hours. Moreover, what is necessary is just to make an energy beam incident from the adhesive sheet 4 or the peeling film side, when the protective film formation film 10 is energy-beam curable. For example, the illuminance of the energy ray is preferably 120 to 280 mW/cm 2 , and the light quantity of the energy ray is preferably 100 to 1000 mJ/cm 2 .

다음으로, 보호막 부착 워크를 가공한다 (공정 6). 보호막 부착 워크의 가공하는 공정으로는, 예를 들어, 보호막 부착 워크를 분할하여, 소정 수의 보호막 부착 워크 가공물을 얻는 공정이 예시된다. 워크가 웨이퍼이고, 워크 가공물이 칩인 경우에는, 도 8 에 나타내는 바와 같이, 다이싱 테이프 (22) 에 의해서 유지된 보호막 부착 웨이퍼를 다이싱하여, 보호막 부착 칩 (70) 을 얻으면 된다. 또, 공정 6 에서는, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여 보호막 부착 웨이퍼를 얻은 경우에는, 지지 시트에 의해서 유지된 보호막 부착 웨이퍼를 다이싱하여 보호막 부착 칩을 얻으면 된다. 다이싱 방법으로는, 공지된 다이싱 방법을 채용하면 된다. 얻어진 보호막 부착 칩 (70) 은 흡착 콜릿 등에 의해서 픽업되어 회수된다.Next, the workpiece with a protective film is processed (Step 6). As a process of processing a workpiece with a protective film, a process of obtaining a predetermined number of workpieces with a protective film by dividing the workpiece with a protective film is exemplified. When the work is a wafer and the workpiece is a chip, as shown in FIG. 8 , the wafer with a protective film held by the dicing tape 22 may be diced to obtain a chip 70 with a protective film. In Step 6, when a wafer with a protective film is obtained using the composite sheet for forming a protective film, the wafer with a protective film held by the support sheet may be diced to obtain a chip with a protective film. As the dicing method, a known dicing method may be employed. The obtained chip 70 with a protective film is picked up and collected by a suction collet or the like.

픽업된 보호막 부착 칩은 다음 공정으로 반송해도 되고, 트레이, 테이프 등에 일시적으로 수납 보관하여, 소정 기간 후에 다음 공정으로 반송해도 된다.The picked-up chip with a protective film may be conveyed to the next step, or may be temporarily housed in a tray, tape, etc., and then conveyed to the next step after a predetermined period of time.

다음 공정으로 반송된 보호막 부착 칩 (70) 은 기판에 실장되고, 반도체 장치가 제조된다.The chip 70 with a protective film conveyed in the next step is mounted on a substrate, and a semiconductor device is manufactured.

(7. 변형예) (7. Variation)

보호막 형성용 복합 시트 (60) 의 보호막 형성 필름 (10) 측의 면에는, 사용시까지 보호막 형성 필름을 보호하기 위해서, 박리 필름이 적층되어도 된다.A release film may be laminated on the surface of the composite sheet 60 for forming a protective film on the side of the protective film forming film 10 in order to protect the protective film forming film until use.

이상, 본 발명의 실시형태에 대해서 설명해 왔지만, 본 발명은 상기한 실시형태에 전혀 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 범위 내에 있어서 여러 가지의 양태로 개변해도 된다.As mentioned above, although the embodiment of the present invention has been described, the present invention is not limited to the above-described embodiment at all, and may be modified in various aspects within the scope of the present invention.

[실시예] [Example]

이하, 실시예를 사용하여, 발명을 보다 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예로 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail using examples, but the present invention is not limited to these examples.

(보호막 형성용 시트의 제작) (Production of Sheet for Forming a Protective Film)

보호막 형성용 시트를, 하기의 보호막 형성 필름용 조성물을 함유하는 도포제를 사용하여 아래와 같이 제작하였다.A sheet for forming a protective film was produced as follows using a coating agent containing the following composition for forming a protective film.

(보호막 형성 필름용 조성물을 함유하는 도포제) (Coating agent containing composition for protective film forming film)

다음의 각 성분을 표 1 에 나타내는 배합비 (고형분 환산) 로 혼합하고, 고형분 농도가 50 질량% 가 되도록 메틸에틸케톤으로 희석하여, 보호막 형성 필름용 조성물을 함유하는 도포제를 조제하였다.Each of the following components was mixed at the compounding ratio (in terms of solid content) shown in Table 1, diluted with methyl ethyl ketone so that the solid content concentration was 50% by mass, and a coating agent containing the composition for forming a protective film was prepared.

(A) 중합체 성분(A) polymer component

(A-1) : n-부틸아크릴레이트 10 질량부, 에틸아크릴레이트 70 질량부, 메틸아크릴레이트 10 질량부 및 4-하이드록시부틸아크릴레이트 10 질량부를 공중합하여 이루어지는 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 (중량 평균 분자량 : 60 만, 유리 전이 온도 : -25 ℃) (A-1): A (meth)acrylic acid ester copolymer obtained by copolymerizing 10 parts by mass of n-butyl acrylate, 70 parts by mass of ethyl acrylate, 10 parts by mass of methyl acrylate, and 10 parts by mass of 4-hydroxybutyl acrylate ( Weight average molecular weight: 600,000, glass transition temperature: -25 ℃)

(A-2) : 에틸아크릴레이트 10 질량부, 메틸메타크릴레이트 5 질량부, 메틸아크릴레이트 75 질량부 및 4-하이드록시부틸아크릴레이트 10 질량부를 공중합하여 이루어지는 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 (중량 평균 분자량 : 50 만, 유리 전이 온도 : 1 ℃) (A-2): (meth)acrylic acid ester copolymer (weight Average Molecular Weight: 500,000, Glass Transition Temperature: 1℃)

(B) 경화성 성분 (열 경화성 성분) (B) curable component (heat curable component)

(B-1) 비스페놀 A 형 에폭시 수지 (미츠비시 화학사 제조, jER828, 에폭시 당량 184 ∼ 194 g/eq) (B-1) bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, jER828, epoxy equivalent 184 to 194 g/eq)

(B-2) 비스페놀 A 형 에폭시 수지 (미츠비시 화학사 제조, jER1055, 에폭시 당량 800 ∼ 900 g/eq) (B-2) bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, jER1055, epoxy equivalent 800 to 900 g/eq)

(B-3) 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지 (다이닛폰 잉크 화학 공업사 제조, 에피클론 HP-7200HH, 연화점 88 ∼ 98 ℃, 에폭시 당량 274 ∼ 286 g/eq) (B-3) dicyclopentadiene type epoxy resin (Epiclon HP-7200HH manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc., softening point 88-98°C, epoxy equivalent 274-286 g/eq)

(C) 경화제 : 디시안디아미드 (ADEKA 사 제조, 아데카 하드너 EH-3636AS, 열 활성 잠재성 에폭시 수지 경화제, 활성 수소량 21 g/eq) (C) curing agent: dicyandiamide (manufactured by ADEKA, Adeka Hardner EH-3636AS, thermally active latent epoxy resin curing agent, active hydrogen amount 21 g/eq)

(D) 경화 촉진제 : 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸 (시코쿠 화성 공업사 제조, 큐어졸 2PHZ) (D) Curing accelerator: 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (Curesol 2PHZ, manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd.)

(E) 충전재(E) filling material

(E-1) 실리카 필러 (아드마텍스사 제조, SC2050-MNU, 평균 입경 0.5 ㎛) (E-1) Silica filler (Admatex Co., Ltd., SC2050-MNU, average particle diameter 0.5 μm)

(E-2) 실리카 필러 (아드마텍스사 제조, SC1050-MLQ, 평균 입경 0.3 ㎛) (E-2) Silica filler (Admatex Co., Ltd., SC1050-MLQ, average particle diameter 0.3 μm)

(E-3) 실리카 필러 (아드마텍스사 제조, Y100SV-CM1, 평균 입경 0.1 ㎛) (E-3) Silica filler (manufactured by Admatechs, Y100SV-CM1, average particle diameter: 0.1 µm)

(F) 커플링제(F) Coupling agent

(F-1) : 3-글리시딜옥시프로필트리메톡시실란 (신에츠 실리콘사 제조, KBM403) (F-1): 3-glycidyloxypropyltrimethoxysilane (Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., KBM403)

(F-2) : 에폭시기, 메틸기 및 메톡시기를 함유하는 올리고머형 실란 커플링제 (신에츠 실리콘사 제조, X-41-1056, 에폭시 당량 280 g/eq) (F-2): Oligomeric silane coupling agent containing an epoxy group, a methyl group and a methoxy group (manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., X-41-1056, epoxy equivalent 280 g/eq)

(G) 착색제 : 카본 블랙 (미츠비시 화학사 제조, MA-600B, 평균 입경 28 ㎚) (G) Colorant: Carbon black (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, MA-600B, average particle diameter 28 nm)

두께 50 ㎛ 의 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름의 편면에 실리콘계의 박리제층이 형성되어 이루어지는 제 1 박리 필름 (린텍 주식회사 제조, SP-PET502150) 을 준비하였다. 또, 두께 38 ㎛ 의 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름의 편면에 실리콘계의 박리제층이 형성되어 이루어지는 제 2 박리 필름 (린텍 주식회사 제조, SP-PET381031) 을 준비하였다.A first release film (SP-PET502150 manufactured by Lintec Corporation) in which a silicone-based release agent layer is formed on one side of a polyethylene terephthalate (PET) film having a thickness of 50 μm was prepared. In addition, a second release film (SP-PET381031 manufactured by Lintec Corporation) in which a silicone-based release agent layer is formed on one side of a polyethylene terephthalate (PET) film having a thickness of 38 μm was prepared.

조제된 보호막 형성 필름용 조성물을 함유하는 도포제를, 제 1 박리 필름의 박리 처리면에 도공하고, 100 ℃ 에서 2 분 건조시켜 두께가 25 ㎛ 인 보호막 형성 필름을 형성하였다. 계속해서, 제 2 박리 필름을, 보호막 형성 필름 상에 첩부하여, 보호막 형성 필름의 양면에 박리 필름이 적층된 3 층 구조의 보호막 형성용 시트를 얻었다. 제 2 박리 필름의 첩부 조건은, 온도가 60 ℃, 압력이 0.4 ㎫, 속도가 1 m/분이었다.A coating agent containing the prepared composition for forming a protective film was coated on the release-treated surface of the first release film, and dried at 100°C for 2 minutes to form a film for forming a protective film having a thickness of 25 µm. Then, the 2nd peeling film was affixed on the protective film formation film, and the sheet|seat for forming a protective film of 3 layer structure in which the peeling film was laminated|stacked on both surfaces of the protective film formation film was obtained. As for the sticking conditions of the 2nd peeling film, the temperature was 60 degreeC, the pressure was 0.4 Mpa, and the speed was 1 m/min.

얻어진 보호막 형성용 시트를 사용하여, 하기의 측정 및 평가를 행하였다.The following measurement and evaluation were performed using the obtained sheet for forming a protective film.

(직각 인열 시험에 있어서의 보호막 형성 필름의 파단시의 신장률) (Elongation at break of protective film-forming film in right angle tear test)

얻어진 2 장의 보호막 형성용 시트에 있어서, 각각의 제 2 박리 필름을 박리하고, 보호막 형성 필름의 노출면 (제 1 박리 필름이 형성되어 있지 않은 면) 끼리를 첩부하여, 일방의 제 1 박리 필름을 박리하고, 타방의 제 1 박리 필름에 보호막 형성 필름이 2 장 적층된 적층체를 얻었다. 또한, 별도의 보호막 형성용 시트로부터 제 2 박리 필름을 박리한 보호막 형성 필름의 노출면과, 상기 제 1 박리 필름에 보호막 형성 필름이 2 장 적층된 적층체의 보호막 형성 필름의 노출면을 첩부하여, 별도의 보호막 형성용 시트의 제 1 박리 필름을 박리하였다. 이것을 6 회 반복하여, 보호막 형성 필름을 합계 8 장 적층하고, 제 1 박리 필름과, 두께가 200 ㎛ 인 보호막 형성 필름과, 제 1 박리 필름이 이 순으로 적층되어 구성된 적층체를 제작하였다.In the obtained two sheets for forming a protective film, the respective second peeling films were peeled off, the exposed surfaces of the protective film forming films (surfaces on which the first peeling film was not formed) were adhered to each other, and one of the first peeling films was formed. It peeled and obtained the laminated body in which the 2 protective film formation films were laminated|stacked on the other 1st peeling film. In addition, the exposed surface of the protective film forming film obtained by peeling the second peeling film from a separate sheet for forming a protective film and the exposed surface of the protective film forming film of a laminate in which two protective film forming films are laminated on the first peeling film are adhered, , the first peeling film of another sheet for forming a protective film was peeled off. This was repeated 6 times, a total of 8 sheets of protective film forming film were laminated, and a laminate composed of a first peeling film, a protective film forming film having a thickness of 200 μm, and a first peeling film were laminated in this order was produced.

또한, 보호막 형성 필름이 25 ㎛ 인 경우에는 적층된 보호막 형성 필름은 두께 200 ㎛ 가 바람직하지만, 보호막 형성 필름이 25 ㎛ 가 아닌 경우에는 적층 횟수는 적절히 선택하고, 적층된 보호막 형성 필름의 두께는 180 ∼ 220 ㎛ 로 하는 것이 바람직하다.In addition, when the protective film forming film is 25 μm, the laminated protective film forming film preferably has a thickness of 200 μm, but when the protective film forming film is not 25 μm, the number of laminations is appropriately selected, and the thickness of the laminated protective film forming film is 180 It is preferable to set it as -220 micrometers.

얻어진 적층된 보호막 형성 필름의 양 표면에 제 1 박리 필름이 적층된 적층체를, 슈퍼 덤벨 커터 (주식회사 덤벨 제조, SDBK-1000) 를 사용하여, JIS K 7128-3 : 1998 에 기재된 직각형 인열 시험편의 치수로 타발 (打拔) 하였다. 직각형 인열 시험편의 형상은 JIS K 7128-3 : 1998 의 도 2 에 나타내는 형상이었다.A rectangular tear test piece described in JIS K 7128-3: 1998 using a super dumbbell cutter (SDBK-1000, manufactured by Dumbbell Co., Ltd.) for a laminate in which the first release film is laminated on both surfaces of the obtained laminated protective film forming film. It was punched with the size of . The shape of the rectangular tear test piece was the shape shown in FIG. 2 of JIS K 7128-3:1998.

얻어진 직각형 인열 시험편으로부터 양 표면의 제 1 박리 필름을 제거하고, 만능 인장 시험기 (주식회사 시마즈 제작소 제조, AG-IS) 를 사용하여, 시험 온도 23 ℃ 에 있어서 직각 인열 시험을 행하였다. 직각 인열 시험에서는, 시험 전의 직각형 인열 시험편의 시험 길이 (척간 거리) 를 60 ㎜ 로 하고, 인장 속도를 200 ㎜/min 으로 하였다.The first peeling films on both surfaces were removed from the obtained right-angle tear test piece, and a right-angle tear test was conducted at a test temperature of 23°C using a universal tensile tester (manufactured by Shimadzu Corporation, AG-IS). In the right angle tear test, the test length (distance between chucks) of the right angle tear test piece before the test was set to 60 mm, and the tensile speed was set to 200 mm/min.

23 ℃ 에 있어서의 파단시의 신장률 (%) 은, 인장 개시시를 기점으로 하여, 파단시의 시험편의 신장을 ΔL 로 했을 때에, 하기의 식으로부터 산출하였다. 결과를 표 1 에 나타낸다.The elongation rate (%) at break at 23°C was calculated from the following equation when the elongation of the test piece at break was ΔL with the start of tension as the starting point. A result is shown in Table 1.

파단시의 신장률 = (ΔL/시험 전의 직각형 인열 시험편의 시험 길이 (60 ㎜)) ×100Elongation at break = (ΔL/Test length (60 mm) of rectangular tear test piece before test) × 100

(보호막 형성 필름의 실리콘 웨이퍼에의 점착력) (Adhesion of protective film forming film to silicon wafer)

얻어진 보호막 형성용 시트에 있어서, 제 2 박리 필름을 벗긴 보호막 형성 필름의 노출면 (제 1 박리 필름이 형성되어 있지 않은 면) 에, 기재와 점착제층으로 구성되는 점착 테이프 (린텍사 제조, Adwill D-841) 를 첩부하였다. 그리고, 자외선 조사 장치를 사용하여, 조도 230 ㎽/㎠, 광량 190 mJ/㎠ 의 조건에서, 점착 테이프에 자외선을 조사하여, 보호막 형성 필름과 점착 테이프의 박리가 발생되지 않을 정도로 점착 테이프를 경화시켰다. 얻어진 적층체를 25 ㎜ ×140 ㎜ 의 크기로 재단함으로써, 시험편을 제작하였다.In the obtained sheet for forming a protective film, an adhesive tape composed of a base material and an adhesive layer (manufactured by Lintec, Adwill D -841) was attached. Then, using an ultraviolet irradiation device, the adhesive tape was irradiated with ultraviolet rays under the conditions of an illuminance of 230 mW/cm 2 and an amount of light of 190 mJ/cm 2 to cure the adhesive tape to such an extent that the protective film forming film and the adhesive tape did not separate. . A test piece was produced by cutting the obtained layered product into a size of 25 mm x 140 mm.

또한, 보호막 형성 필름이 에너지선 경화성인 경우에는, 보호막 형성 필름이 경화되어 버리기 때문에, 점착 테이프에의 자외선의 조사를 행하지 않은 시험편을 측정에 사용한다.In addition, since the protective film formation film will harden when a protective film formation film is energy-beam curable, the test piece which irradiated the adhesive tape with the ultraviolet-ray is used for the measurement.

이어서, 얻어진 시험편으로부터 제 1 박리 필름을 박리하고, 노출된 보호막 형성 필름의 면을, 두께 500 ㎛, 외경 6 인치의 실리콘 웨이퍼의 #2000 연마면에 라미네이터 장치 (타이세이 라미네이터 주식회사 제조, VA-400형) 를 사용하여 첩부하였다. 이 때에, 롤러 온도를 70 ℃, 첩부 속도를 0.3 m/min, 첩부 압력을 0.3 ㎫ 의 조건으로 하였다. 그 후, 23 ℃, 상대 습도 50 % 환경 하에서 1 시간 정치 (靜置) 하였다.Next, the first peeling film was peeled from the obtained test piece, and the surface of the exposed protective film forming film was placed on the #2000 polished surface of a silicon wafer with a thickness of 500 µm and an outer diameter of 6 inches by a laminator (VA-400 manufactured by Taisei Laminator Co., Ltd.). type) was used to attach it. At this time, the roller temperature was 70 degreeC, the sticking speed|rate was 0.3 m/min, and the sticking pressure was made into the conditions of 0.3 Mpa. Then, it was left still for 1 hour in an environment of 23°C and 50% relative humidity.

이어서, 23 ℃ 의 조건 하에서, 정밀 만능 시험기 (시마즈 제작소 제조, 오토 그래프 AG-IS) 를 사용하여, 실리콘 웨이퍼로부터 보호막 형성 필름 및 점착 테이프의 적층체를 박리 속도 300 ㎜/min 으로 당겨 벗겼다. 이 때에, 보호막 형성 필름과 실리콘 웨이퍼가 접촉되어 있던 면끼리가 180°의 각도를 이루는, 이른바 180°박리를 행하였다. 이 때의 박리력 (N/25 ㎜) 을 측정하여, 이 측정치를 보호막 형성 필름의 실리콘 웨이퍼에의 점착력으로 하였다. 결과를 표 1 에 나타낸다.Then, under the condition of 23 degreeC, the laminated body of the protective film formation film and adhesive tape was peeled off from the silicon wafer at the peeling speed of 300 mm/min using the precision universal testing machine (Autograph AG-IS manufactured by Shimadzu Corporation). At this time, so-called 180° peeling was performed in which the surfaces where the protective film forming film and the silicon wafer were in contact formed an angle of 180°. The peeling force (N/25 mm) at this time was measured, and this measured value was made into the adhesive force of the protective film formation film to the silicon wafer. A result is shown in Table 1.

(리워크 시험) (rework test)

두께 300 ㎛, 외경 8 인치의 실리콘 웨이퍼로 이루어지는 워크의 이면 (#2000 연마면) 에, 실리콘 웨이퍼와 동 형상으로 절단 가공된 보호막 형성용 시트의 보호막 형성 필름의 노출면을, 첩부 장치 (린텍사 제조, RAD-3600F/12) 를 사용하여 70 ℃ 에서 첩부하였다. 그리고, 첩부시에 또는 첩부 후에 흠집이 발생된 보호막 형성 필름을 재현하기 위해서, 보호막 형성 필름에 길이 10 ㎜, 깊이 12 ㎛ 의 직선상의 흠집을 형성하였다. 직선상의 흠집의 위치 및 방향은 도 4a 의 흠집부 (12) 에 나타내는 위치 및 방향이었다. 다음으로, 23 ℃ 에 있어서, 박리 필름을 박리하여, 노출된 보호막 형성 필름의 면에, 기재와 점착제층으로 구성되는 점착 테이프 (린텍사 제조, Adwill D-841) 를 박리용 테이프로서 첩부하였다. 그리고, 자외선 조사 장치를 사용하여, 조도 230 ㎽/㎠, 광량 190 mJ/㎠ 의 조건에서, 점착 테이프에 자외선을 조사하여, 보호막 형성 필름과 점착 테이프의 박리가 발생되지 않을 정도로 점착 테이프를 경화시켰다.The exposed surface of the protective film formation film of the sheet for forming a protective film cut and processed in the same shape as the silicon wafer is applied to the back surface (#2000 polished surface) of a workpiece made of a silicon wafer with a thickness of 300 μm and an outer diameter of 8 inches. It was affixed at 70 degreeC using manufacture, RAD-3600F/12). Then, in order to reproduce the protective film-forming film having scratches during or after the application, linear scratches having a length of 10 mm and a depth of 12 μm were formed on the protective film-forming film. The position and direction of the linear flaw were the position and direction shown in the flaw part 12 of FIG. 4A. Next, at 23°C, the release film was peeled off, and an adhesive tape (Adwill D-841, manufactured by Lintec Co., Ltd.) composed of a base material and an adhesive layer was affixed as a peeling tape to the surface of the exposed protective film forming film. Then, using an ultraviolet irradiation device, the adhesive tape was irradiated with ultraviolet rays under the conditions of an illuminance of 230 mW/cm 2 and an amount of light of 190 mJ/cm 2 to cure the adhesive tape to such an extent that the protective film forming film and the adhesive tape did not separate. .

보호막 형성 필름 및 점착 테이프가 첩부된 실리콘 웨이퍼를 흡착 테이블에 고정시키고, 실리콘 웨이퍼로부터 보호막 형성 필름 및 점착 테이프의 적층체를 박리 속도 300 ㎜/min 으로 당겨 벗겼다. 이 때에, 보호막 형성 필름과 실리콘 웨이퍼가 접촉되어 있던 면끼리가 180°의 각도를 이루는, 이른바 180°박리를 행하였다.The silicon wafer to which the protective film forming film and the adhesive tape were affixed was fixed to a suction table, and the laminated body of the protective film forming film and the adhesive tape was pulled off from the silicon wafer at a peeling speed of 300 mm/min. At this time, so-called 180° peeling was performed in which the surfaces where the protective film forming film and the silicon wafer were in contact formed an angle of 180°.

실시예 및 비교예의 보호막 형성 필름에 대해서, 상기한 리워크 시험을 10 회 행하고, 아래의 평가 기준에서 평가하였다. 결과를 표 1 에 나타낸다.About the protective film formation films of Examples and Comparative Examples, the rework test described above was performed 10 times, and the following evaluation criteria were evaluated. A result is shown in Table 1.

우수 : 리워크 시험을 행한 웨이퍼 10 장 중, 잔류물 없이 보호막 형성 필름이 벗겨진 웨이퍼가 9 장 이상Excellent: Out of 10 wafers subjected to the rework test, 9 or more wafers had no residue and the protective film forming film was peeled off.

양호 : 리워크 시험을 행한 웨이퍼 10 장 중, 잔류물 없이 보호막 형성 필름이 벗겨진 웨이퍼가 6 장 이상 8 장 이하Good: Out of 10 wafers subjected to the rework test, 6 or more and 8 or less wafers had no residue and the protective film forming film was peeled off.

불가 : 리워크 시험을 행한 웨이퍼 10 장 중, 잔류물 없이 보호막 형성 필름이 벗겨진 웨이퍼가 5 장 이하Impossible: Out of 10 wafers subjected to the rework test, 5 or less wafers have no residue and the protective film forming film has been peeled off.

Figure pat00003
Figure pat00003

표 1 로부터, 보호막 형성 필름의 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률 및 실리콘 웨이퍼에의 점착력이 상기 서술한 범위 내인 경우에, 리워크시의 잔류물이 발생되지 않고 양호하다는 것을 확인할 수 있었다. 한편, 보호막 형성 필름의 직각 인열 시험에 있어서의 파단시의 신장률이 상기 서술한 범위 외인 경우에는, 리워크시에 잔류물이 발생되기 쉬운 것을 확인할 수 있었다.From Table 1, it was confirmed that when the elongation at break and the adhesive force to the silicon wafer in the right angle tear test of the protective film forming film were within the above-mentioned range, no residue was generated during rework and was good. On the other hand, when the elongation rate at break in the perpendicular tear test of the protective film-forming film was outside the above-mentioned range, it was confirmed that residues were likely to be generated during rework.

10, 100 : 보호막 형성 필름
50 : 보호막 형성용 시트
10 : 보호막 형성 필름
21 : 제 1 박리 필름
22 : 제 2 박리 필름
60 : 보호막 형성용 복합 시트
10 : 보호막 형성 필름
4 : 점착 시트
70 : 보호막 부착 칩
1 : 보호막
10, 100: protective film forming film
50: sheet for forming a protective film
10: protective film forming film
21: first release film
22: second peeling film
60: composite sheet for forming a protective film
10: protective film forming film
4: adhesive sheet
70: chip with protective film
1 : Shield

Claims (6)

보호막을 형성하기 위한 보호막 형성 필름으로서,
직각 인열 시험에 있어서의 상기 보호막 형성 필름이 파단되었을 때의 신장률이 23 ℃ 에 있어서 200 % 이하이고,
실리콘 웨이퍼의 #2000 연마면에 상기 보호막 형성 필름을 첩부하고 나서 1 시간 후의 상기 실리콘 웨이퍼에의 점착력이 23 ℃ 에 있어서 20 N/25 ㎜ 이하인 보호막 형성 필름.
As a protective film forming film for forming a protective film,
The elongation rate when the protective film-forming film is broken in a right angle tear test is 200% or less at 23°C,
A protective film-forming film having an adhesive force to the silicon wafer 1 hour after attaching the protective film-forming film to the #2000 polished surface of a silicon wafer at 23°C of 20 N/25 mm or less.
제 1 항에 있어서,
상기 보호막 형성 필름이, 열 경화성 또는 에너지선 경화성인 보호막 형성 필름.
According to claim 1,
The protective film forming film wherein the protective film forming film is heat curable or energy ray curable.
제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 보호막 형성 필름과, 상기 보호막 형성 필름의 적어도 일방의 주면에 박리 가능하게 배치된 박리 필름을 갖는 보호막 형성용 시트.A sheet for forming a protective film comprising the protective film-forming film according to claim 1 or 2 and a release film disposed on at least one main surface of the protective film-forming film so that peeling is possible. 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 보호막 형성 필름과, 상기 보호막 형성 필름을 지지하는 지지 시트를 갖는 보호막 형성용 복합 시트.A composite sheet for forming a protective film comprising the protective film-forming film according to claim 1 or 2 and a support sheet supporting the protective film-forming film. 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정과,
첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정과,
첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정에 있어서, 첩부된 보호막 형성 필름에 흠집이 발견된 경우에, 흠집이 있는 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗기는 공정을 갖는 리워크 방법.
A step of attaching the protective film-forming film according to claim 1 or 2 to the back surface of the work;
A step of inspecting the appearance of the attached protective film forming film;
A rework method comprising a step of peeling off the scratched protective film forming film from the work when a flaw is found in the applied protective film forming film in the step of inspecting the external appearance of the applied protective film forming film.
제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정과,
첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정과,
첩부된 보호막 형성 필름의 외관을 검사하는 공정에 있어서, 첩부된 보호막 형성 필름에 흠집이 발견된 경우에, 흠집이 있는 보호막 형성 필름을 워크로부터 벗기는 공정과,
워크로부터 벗긴 보호막 형성 필름과는 별도의, 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 보호막 형성 필름을 워크의 이면에 첩부하는 공정과,
보호막 형성 필름을 보호막화하여 보호막 부착 워크를 얻는 공정과,
보호막 부착 워크를 가공하여, 보호막 부착 워크 가공물을 얻는 공정을 갖는 장치의 제조 방법.
A step of attaching the protective film-forming film according to claim 1 or 2 to the back surface of the work;
A step of inspecting the appearance of the attached protective film forming film;
In the step of inspecting the external appearance of the attached protective film forming film, in the case where a flaw is found in the attached protective film forming film, a step of peeling off the scratched protective film forming film from the work;
A step of attaching the protective film-forming film according to claim 1 or 2 to the back surface of the work, which is different from the protective film-forming film peeled off from the work;
A step of forming a protective film forming film into a protective film to obtain a workpiece with a protective film;
A method for manufacturing an apparatus having a step of processing a workpiece with a protective film to obtain a workpiece with a protective film.
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Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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