KR20230018899A - The manufacturing method of the upright diamond conditioner using etching process - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using an etching process. A plurality of grooves into which diamonds are inserted are formed on a substrate through the etching process so that a uniformly shaped diamond abrasive is formed. Therefore, since an octahedral diamond is erected in the same shape, performance deviation and occurrence of a scratch can be reduced. The diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention comprises: a preparation step; a first formation step; a first attachment step; an insertion step; a second formation step; a third formation step; a fourth formation step; a first removal step; a second attachment step; a second removal step; and a coating step.

Description

에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법{THE MANUFACTURING METHOD OF THE UPRIGHT DIAMOND CONDITIONER USING ETCHING PROCESS}Diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using etching process {THE MANUFACTURING METHOD OF THE UPRIGHT DIAMOND CONDITIONER USING ETCHING PROCESS}

본 발명은 웨이퍼의 평탄화 작업에 사용되는 CMP 장치용 패드 컨디셔너 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a pad conditioner for a CMP apparatus used for flattening a wafer, and more particularly, to a method for manufacturing a diamond abrasive grain conditioner using an etching process.

연마 가공장치인 CMP(chemical mechanical polishing) 장치는 반도체 웨이퍼의 평탄도를 얻기 위해 웨이퍼의 연마 균일성은 중요한 특성이다. 웨이퍼의 연마 균일성을 향상시키기 위한 여러 가지 요소 중에 연마 패드의 표면 상태가 연마 가공시간이 지남에 따라 불균일하게 변형되므로, 변형된 연마 패드의 표면을 CMP 패드 컨디셔너(이하 '컨디셔너'라고도 함)를 이용하여 미세하게 연마하는 컨디셔닝 작업을 수행하게 된다.A chemical mechanical polishing (CMP) device, which is an abrasive processing device, is an important characteristic of wafer polishing uniformity in order to obtain a flatness of a semiconductor wafer. Among the various factors to improve the polishing uniformity of the wafer, since the surface state of the polishing pad is non-uniformly deformed over time, the deformed polishing pad surface is treated with a CMP pad conditioner (hereinafter referred to as 'conditioner'). It is used to perform a conditioning operation that finely polishes.

이와 같이 컨디셔너는 컨디셔너 기판과 컨디셔너 기판 상에 배치되는 다수 개의 연마입자 및 이 연마입자들을 컨디셔너 기판 상에 고정시켜 주는 도금층으로 구성된다.In this way, the conditioner is composed of a conditioner substrate, a plurality of abrasive particles disposed on the conditioner substrate, and a plating layer fixing the abrasive particles on the conditioner substrate.

종래 컨디셔너의 제조방법으로 연마입자를 고정하는 전착, 융착, 소결 등의 방식은 컨디셔너의 연마입자의 간격을 자유롭게 조절하는 것이 어렵고 연마입자의 돌출높이와 정확한 지립 형성이 어렵다는 문제점이 있다.Conventional methods of manufacturing conditioners such as electrodeposition, fusion, and sintering for fixing abrasive particles have problems in that it is difficult to freely adjust the distance between abrasive particles of the conditioner and it is difficult to accurately form abrasive grains and protruding heights of abrasive particles.

일반적으로 팔면체 다이아몬드를 연마입자로 사용하여 컨디셔너를 제작하면 연마 패드와 접촉하는 다이아몬드 끝단의 모양은 점, 선, 면 중 무작위 형태로 정해져 다양한 각도와 방향을 가지며 이에 따라 컨디셔너 성능에 편차가 생긴다. 특히 정팔면체 형태의 다이아몬드에서 점접촉의 경우 마모가 쉽게 일어나서 컨디셔너의 수명이 짧아진다는 문제가 발생한다. In general, when a conditioner is manufactured using octahedral diamond as an abrasive particle, the shape of the tip of the diamond contacting the polishing pad is randomly determined among points, lines, and planes, and has various angles and directions, resulting in deviation in conditioner performance. In particular, in the case of point contact in a regular octahedral diamond, abrasion easily occurs, resulting in a problem in that the life of the conditioner is shortened.

그러므로 다이아몬드의 지립은 CMP 패드 컨디셔너 성능을 유지하기 위해 중요하나, 종래 컨디셔너 제조 방법으로는 다이아몬드를 컨디셔너에 고정하기 위한 지립 과정에서 식립 위치 오차 혹은 불균일성 등이 발생하므로 연마 패드의 연마 성능 및 수명 저하로 이어지는 문제가 있다.Therefore, the abrasive grain of diamond is important to maintain the performance of the CMP pad conditioner, but in the conventional conditioner manufacturing method, error or non-uniformity of the placement position occurs during the abrasive process to fix the diamond to the conditioner, which reduces the polishing performance and lifespan of the polishing pad. There is a problem that follows.

한국 공개특허 제2002-0046471호Korean Patent Publication No. 2002-0046471

상기와 같은 점을 감안한 본 발명은 에칭 공정을 이용하여 하나의 컨디셔너 기판 상에 다이아몬드가 삽입되는 홈을 일정 간격과 깊이로 균일하게 형성하고, 연마패드의 컨디셔너에 사용되는 모든 팔면체 다이아몬드를 동일한 모양으로 세워 균일하게 형성되도록 하여, 성능 편차와 스크래치 발생을 줄일 수 있을 뿐만 아니라 컨디셔너의 수명을 향상시킬 수 있는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Considering the above points, the present invention uniformly forms grooves into which diamonds are inserted at regular intervals and depths on one conditioner substrate by using an etching process, and all octahedral diamonds used in the conditioner of the polishing pad have the same shape. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a diamond abrasive grain conditioner using an etching process that can improve the lifespan of the conditioner as well as reduce performance variation and scratch generation by standing and uniformly formed.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법은 (a) 다수개의 홈이 형성된 기판을 준비하는 단계, (b) 상기 준비된 기판의 전면을 하지 도금하여 하지 도금층을 형성하는 단계, (c) 다이아몬드 배열을 위해 메쉬 형태의 감광필름을 상기 하지 도금층 위에 부착하는 단계, (d) 상기 홈에 다이아몬드를 삽입하는 단계, (e) 상기 다이아몬드가 삽입된 기판 위에 상기 다이아몬드를 지지하도록 도금하여 가부착 도금층을 형성하는 단계, (f) 상기 가부착 도금층이 형성된 기판에서 상기 감광필름을 제거하고, 전면을 도금하여 경계 도금층을 형성하는 단계, (g) 상기 경계 도금층 위에 일정 부피로 추가 도금하고, 이를 일정 두께로 가공하여 추가 도금층을 형성하는 단계, (h) 상기 기판 및 상기 하지 도금층을 제거하는 단계, (i) 추가 도금층이 최하부가 되도록 위치를 역전시키고, 추가 도금층 하부면에 준비된 바디 기판을 부착하는 단계, (j) 상기 가부착 도금층을 박리한 다음 상기 경계 도금층을 박리하여 제거하는 단계, 및 (k) 외부로 노출된 다이아몬드와 추가 도금층 위에 내부식성 코팅하는 단계를 포함할 수 있다.In order to achieve the above object, the diamond abrasive conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention includes (a) preparing a substrate having a plurality of grooves, (b) plating the entire surface of the prepared substrate to form an underlying plating layer. (c) attaching a photosensitive film in the form of a mesh to the underlying plating layer for diamond arrangement; (d) inserting diamonds into the grooves; Plating to support to form a provisional plating layer, (f) removing the photosensitive film from the substrate on which the provisional plating layer is formed, and plating the entire surface to form a border plating layer, (g) a certain volume on the border plating layer additionally plating with and processing it to a certain thickness to form an additional plating layer, (h) removing the substrate and the base plating layer, (i) reversing the position so that the additional plating layer is at the bottom, and the lower surface of the additional plating layer (j) peeling off the temporary attachment plating layer and then peeling and removing the border plating layer; and (k) applying corrosion resistant coating on the externally exposed diamond and additional plating layer. can do.

본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법의 상기 (a) 단계에 있어서, 상기 다수개의 홈은 에칭 공정을 통해 형성하는 것을 특징으로 한다.In the step (a) of the diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention, the plurality of grooves are characterized in that formed through an etching process.

상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상은 원형 또는 사각형이며, 상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상이 원형이면 상기 저면도 원형이고, 상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상이 사각형이면 상기 저면도 사각형으로 형성된다.The shape of the groove extending from the surface of the substrate is circular or quadrangular, and if the shape of the groove extending from the surface of the substrate is circular, the bottom surface is also circular, and the shape of the groove extending from the surface of the substrate is rectangular. The lower surface of the back surface is also formed in a quadrangular shape.

상기 홈의 측면은 상기 홈의 저면으로 갈수록 좁아진다.The side of the groove becomes narrower towards the bottom of the groove.

원형인 상기 홈의 직경 또는 사각형인 상기 홈의 변의 길이는 상기 다이아몬드 최대 폭의 20%이상이고, 원형인 상기 홈의 최대 직경 또는 사각형인 상기 홈의 최대 변의 길이는 상기 다이아몬드 최대 폭의 200% 이하인 것이 바람직하다.The diameter of the circular groove or the length of the side of the square groove is 20% or more of the maximum width of the diamond, and the maximum diameter of the circular groove or the length of the maximum side of the square groove is 200% or less of the maximum width of the diamond. it is desirable

상기 홈의 깊이는 상기 다이아몬드 전체높이의 20% 이상이고, 하부높이의 200% 이하인 것이 바람직하다.The depth of the groove is preferably 20% or more of the total height of the diamond and 200% or less of the lower height.

본 발명에서 에칭 공정을 통해 바디 기판 상에 복수개의 홈을 일정 간격과 일정 높이로 균일하게 형성되므로, 연마입자인 다이아몬드가 바디 기판으로부터 균일한 높이로 지립한 CMP 패드 컨디셔너를 제조할 수 있는 효과가 있다.In the present invention, since a plurality of grooves are uniformly formed on the body substrate at regular intervals and at a predetermined height through the etching process, there is an effect of manufacturing a CMP pad conditioner in which diamonds, which are abrasive particles, are abraded at a uniform height from the body substrate. there is.

또한, 연마입자인 정팔면체 형태의 다이아몬드를 점접촉으로 수천개 또는 수만개를 일정한 높이로 만들어 개별적으로 다이아몬드에 가해지는 부하가 줄어들어 컨디셔너의 수명을 크게 연장시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, by making thousands or tens of thousands of diamonds in the form of a regular octahedron, which are abrasive particles, to a certain height through point contact, the load applied to the individual diamonds is reduced, thereby greatly extending the lifespan of the conditioner.

본 발명은 제조방법 측면에서 연도금 방법이 수행되므로 기존의 몰드 방식보다 컨디셔너의 제조시간의 단축 효과가 있다.In the present invention, since the lead plating method is performed in terms of the manufacturing method, the manufacturing time of the conditioner is reduced compared to the conventional mold method.

도 1은 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법의 순서도이다.
도 2는 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법의 모식도이다.
도 3은 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법에서 S1 단계에 대한 모식도이다.
도 4 및 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 기판에 형성된 홈의 3차원 깊이 이미지이다.
도 6은 팔면체 다이아몬드의 모식도이다.
1 is a flow chart of a method for manufacturing a diamond abrasive grain conditioner using the etching process of the present invention.
Figure 2 is a schematic diagram of a diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention.
Figure 3 is a schematic diagram for step S1 in the diamond abrasive conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention.
4 and 5 are 3D depth images of grooves formed in a substrate according to an embodiment of the present invention.
6 is a schematic diagram of an octahedral diamond.

이하에서는 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법에 대해 첨부된 도면을 참조로 상세히 설명하면, 이는 실시예로서 본 발명이 속한 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으므로, 여기에 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, a method for manufacturing a diamond abrasive grain conditioner using the etching process of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, which will be implemented in various different forms by those skilled in the art as an example. Therefore, it is not limited to the embodiments described herein.

도 1 및 도 2는 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법을 나타낸 것이다.1 and 2 show a diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법은, (a) 다수개의 홈이 형성된 기판을 준비(S1), (b) 상기 기판 위에 하지 도금층을 형성(S2), (c) 상기 하지 도금층 위에 메쉬 형태의 감광필름 부착(S3), (d) 상기 홈에 다이아몬드를 삽입(S4), (e) 상기 다이아몬드가 삽입된 기판 위에 가부착 도금층을 형성(S5), (f) 상기 감광필름을 제거하고 전면에 경계 도금층을 형성(S6), (g) 상기 경계 도금층 위에 추가 도금층을 형성(S7), (h) 상기 기판 및 상기 하지 도금층을 제거(S8), (i) 상기 추가 도금층에 준비된 바디 기판을 부착(S9), (j) 상기 가부착 도금층과 상기 경계 도금층을 제거(S10), 및 (k) 내식성코팅을 수행(S11)하는 단계 순서로 이루어진다.As shown in FIG. 1, the diamond abrasive conditioner manufacturing method using an etching process includes (a) preparing a substrate having a plurality of grooves (S1), (b) forming a base plating layer on the substrate (S2), (c) ) Attaching a photosensitive film in the form of a mesh on the underlying plating layer (S3), (d) inserting diamonds into the grooves (S4), (e) forming a provisional plating layer on the substrate with the diamonds inserted (S5), (f) Removing the photosensitive film and forming a border plating layer on the entire surface (S6), (g) forming an additional plating layer on the border plating layer (S7), (h) removing the substrate and the base plating layer (S8), (i) The prepared body substrate is attached to the additional plating layer (S9), (j) the temporary attachment plating layer and the boundary plating layer are removed (S10), and (k) corrosion resistance coating is performed (S11) in this order.

상기 (a) 단계(S1)는 기판에 일정 간격과 높이의 다이아몬드 지립을 갖는 컨디셔너가 제작되도록 에칭 공정을 통해 기판(10) 상에 동일한 모양으로 다수개의 홈(11)을 형성된 기판을 준비하는 단계이다.The (a) step (S1) is a step of preparing a substrate having a plurality of grooves 11 formed in the same shape on the substrate 10 through an etching process so that a conditioner having diamond abrasive grains of a certain distance and height is manufactured on the substrate. am.

도 3은 본 발명의 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법에서 (a) 단계(S1)에 대한 모식도이며, 상기 (a) 단계(S1)에서 수행되는 에칭 공정은 다음과 같은 포토리소그라피(photolithography) 공정을 이용하여 진행될 수 있다.Figure 3 is a schematic diagram of (a) step (S1) in the diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using the etching process of the present invention, the etching process performed in (a) step (S1) is the following photolithography (photolithography) process can be used.

상기 (a) 단계(S1)는 상기 기판(10) 위에 노광필름(60)을 코팅하는 라미네이팅 단계(S101), 상기 노광필름(60) 위에 일정 패턴이 형성된 마스크(70)를 올려놓은 뒤 UV를 조사시켜 상기 노광필름(60)을 감광하는 노광 단계(S102), 상기 노광된 노광필름을 일정 패턴으로 형성하는 현상 단계(S103), 및 상기 패턴 형성된 노광필름(61)에 에칭액을 도포하여 상기 기판(10) 위에 홈(11)을 형성하는 에칭 단계(S104) 및 상기 기판(10) 위에 패턴 형성된 노광필름(61)을 제거하는 필름 제거 단계(S105)로 진행하여 기판(10)의 일측 상부면에 다이아몬드가 삽입하는 다수개의 홈(11)이 형성된 기판을 준비한다.The (a) step (S1) is a laminating step (S101) of coating the exposure film 60 on the substrate 10, placing a mask 70 having a predetermined pattern on the exposure film 60, and then applying UV light. An exposure step of sensitizing the exposure film 60 by irradiation (S102), a development step of forming the exposed exposure film in a predetermined pattern (S103), and applying an etchant to the patterned exposure film 61 to form the substrate. An etching step (S104) of forming grooves (11) on (10) and a film removal step (S105) of removing the patterned exposure film (61) on the substrate (10) are performed on the top surface of one side of the substrate (10). A substrate having a plurality of grooves 11 into which diamonds are inserted is prepared.

상기 노광 단계(S102)는 상기 노광필름(60)에 목적하고자 하는 패턴을 형성하기 위한 마스크(70)를 통해 자외선을 조사한다. 상기 노광필름(60)에 자외선(UV)이 조사되면 자외선이 조사된 부위는 경화가 이루어진다.In the exposure step (S102), ultraviolet rays are irradiated through the mask 70 for forming a desired pattern on the exposure film 60. When the exposure film 60 is irradiated with ultraviolet rays (UV), the portion irradiated with the ultraviolet rays is cured.

상기 노광 단계(S102)에서 상기 자외선(UV)의 종류와 조사량은 필요에 따라 적절히 선택할 수 있으면, 특별히 한정하지 않는다.In the exposure step (S102), the type and amount of the ultraviolet (UV) light are not particularly limited as long as they can be appropriately selected as needed.

상기 노광 단계(S102)는 마스크(70)에서 기 설정된 패턴을 통해 기판(10)에 형성되는 홈(11)의 모양, 홈의 직경 크기, 홈과 홈 사이의 간격 등을 조절할 수 있다. In the exposure step (S102), the shape of the grooves 11 formed in the substrate 10, the size of the diameter of the grooves, the distance between the grooves, and the like can be adjusted through a predetermined pattern in the mask 70.

상기 홈(11)의 모양은 원형, 사각형, 사각형, 오각형, 육각형 등의 다양한 형태일 수 있으며, 다이아몬드 지립 컨디셔너에 적용되는 다이아몬드 입자가 삽입되는 모양이라면 특별히 한정되지 않으나, 바람직하게는 원형 또는 사각형으로 형성된다.The shape of the groove 11 may be in various forms such as circular, square, square, pentagonal, hexagonal, etc., and is not particularly limited as long as the diamond particles applied to the diamond abrasive conditioner are inserted, but is preferably circular or square. is formed

상기 현상 단계(S103)는 상기 노광 단계(S102)를 통해 경화가 종료된 노광필름(60)을 현상액에 접속시켜 자외선(UV)이 조사되지 못한 부위를 용해시키고 경화가 이루어진 부위만 남도록 현상하여 목적하고자 하는 패턴을 형성한다.In the developing step (S103), the exposure film 60, after which curing has been completed through the exposure step (S102), is connected to a developing solution to dissolve the areas not irradiated with ultraviolet rays (UV) and develop so that only the cured areas remain. form the desired pattern.

여기서 형상 방법은 현상액으로 통상 알칼리성 화합물과 계면 활성제를 함유하는 수용액을 사용하여 액첨가법, 디핑법, 스프레이법 등 다양한 방법을 사용할 수 있으며, 당 기술 분야에서 통상적으로 사용되는 것이라면 특별한 제한 없이 사용할 수 있다.Here, the shaping method may use various methods such as a liquid addition method, a dipping method, a spray method, etc. using an aqueous solution containing an alkaline compound and a surfactant as a developer, and if it is commonly used in the art, it can be used without particular limitation. there is.

상기 에칭 단계(S104)는 기판 위에 목적하는 모양의 홈(11)을 형성하는 과정이며, 상기 현상 단계(S103)를 거쳐 상기 패턴 형성된 노광필름(61)의 패턴에 따라 기판(10)에 홈(11)을 형성하기 위하여 상기 패턴 형성된 노광필름(61)에 에칭액을 도포하여 에칭 공정을 수행한다. 패턴 형성된 노광필름(61)이 부착된 기판 부위는 에칭액이 반응하지 못하고, 패턴 형성된 노광필름(61)이 부착되지 않은 기판 부위는 에칭 반응을 통해 다수개의 홈(11)을 형성한다.The etching step (S104) is a process of forming a groove 11 of a desired shape on the substrate, and the groove ( 11), an etching process is performed by applying an etchant to the patterned exposure film 61. The etching solution does not react on the portion of the substrate to which the patterned exposure film 61 is attached, and a plurality of grooves 11 are formed on the portion of the substrate to which the patterned exposure film 61 is not attached through an etching reaction.

상기 에칭 단계(S104)에서 에칭 공정의 시간은 특별히 한정되지 않으나, 에칭 공정의 시간에 따라 형성되는 홈(11)의 깊이가 달라질 수 있으므로, 목적하는 홈(11)의 모양이 형성될 수 있는 충분한 시간으로 수행되는 것이 바람직하다.In the etching step (S104), the time of the etching process is not particularly limited, but since the depth of the groove 11 formed may vary according to the time of the etching process, the desired shape of the groove 11 can be formed sufficiently. It is preferable to do it in time.

상기 에칭 단계(S104)에서 사용되는 에칭액 조성물은 특별히 한정되지 않으며, 당 기술 분야에서 통상적으로 사용되는 에칭액 조성물을 사용할 수 있다. The etchant composition used in the etching step (S104) is not particularly limited, and an etchant composition commonly used in the art may be used.

마지막으로 상기 필름 제거 단계(S105)는 상기 기판 위에 부착되어 있는 패턴 형성된 노광필름(61)을 박리시켜 제거함으로써, 다수개의 홈이 형성된 기판을 준비한다.Finally, in the film removing step (S105), a substrate having a plurality of grooves is prepared by peeling and removing the patterned exposure film 61 attached to the substrate.

도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 기판에 형성된 홈의 3차원 깊이 이미지로 나타낸 것으로, 기판의 상부면으로 평면은 주황색으로 표시되며, 홈의 깊이를 색상으로 표현하였을 때 노란색에서 보라색으로 갈수록 홈의 깊이가 깊어짐을 나타낸다.4 and 5 are shown as a three-dimensional depth image of a groove formed on a substrate according to an embodiment of the present invention, and the upper surface of the substrate is displayed in orange, and when the depth of the groove is expressed in color, it is displayed in yellow. The deeper the purple color, the deeper the groove.

도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 일 실시예에 따라 에칭 공정을 통해 기판(10) 상에 형성된 홈(11)의 형태를 살펴보면, 기판의 상부를 관찰하였을 때 원형의 홈(11)이 형성된다.As shown in FIGS. 4 and 5, looking at the shape of the groove 11 formed on the substrate 10 through the etching process according to one embodiment, the circular groove 11 is formed when observing the top of the substrate. do.

도 5에서처럼 상기 홈(11)은 세로축을 기준으로 절단된 상기 기판(10) 두께 방향의 단면 형상을 살펴보면 상기 홈의 저면은 원형의 평면을 포함하며, 상기 홈의 측면은 상기 홈의 상부면으로부터 저면으로 깊이가 깊어질수록 너비가 좁아진다. 그리고 상기 홈의 측면으로부터 상기 홈의 저면은 곡면으로 연결된다.As shown in FIG. 5, looking at the cross-sectional shape of the substrate 10 in the thickness direction of the groove 11 cut along the vertical axis, the bottom surface of the groove includes a circular plane, and the side surface of the groove extends from the top surface of the groove. The deeper the depth, the narrower the width. And from the side of the groove to the bottom of the groove is connected by a curved surface.

상기 도 5에서는 상기 기판에 형성된 모습이 원형인 것을 나타내었으나, 앞서 살펴본 바와 같이 상기 (a) 단계(S1)의 에칭 공정에 따라 기 설정된 패턴을 통해 원형뿐만 아니라 사각형, 오각형, 육각형 등의 다각형으로 형성될 수 있으며, 기판의 표면에서 연장된 홈의 형상에 따라 저면의 형상도 동일한 형상이 나타난다.5 shows that the shape formed on the substrate is circular, but as described above, polygons such as squares, pentagons, hexagons, etc. It can be formed, and the same shape appears on the bottom surface according to the shape of the groove extending from the surface of the substrate.

예를 들면, 상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상은 원형 또는 사각형이며, 상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상이 원형이면 상기 저면도 원형이고, 상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상이 사각형이면 상기 저면도 사각형으로 형성된다.For example, the shape of the groove extending from the surface of the substrate is circular or quadrangular, and if the shape of the groove extending from the surface of the substrate is circular, the bottom surface is also circular, and the groove extending from the surface of the substrate is circular. If the shape of is a rectangle, the bottom surface is also formed in a rectangle.

에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법에서 (a) 단계(S1)를 통해 기판(10)의 상부면에 형성되는 홈(11)은 다이아몬드가 삽입되도록 하는 크기로 형성되는 것이 바람직하다.In the method for manufacturing a diamond abrasive grain conditioner using an etching process, the groove 11 formed on the upper surface of the substrate 10 through step (S1) of (a) is preferably formed to a size that allows diamond to be inserted.

구체적인 홈(11)의 크기에 대해 도 6에 도시된 팔면체 다이아몬드의 형상을 기준으로 다음과 같이 설명할 수 있다.The specific size of the groove 11 can be explained as follows based on the shape of the octahedral diamond shown in FIG. 6 .

도 6에서 다이아몬드 최대 폭은 D로 표시하고, 다이아몬드의 높이로 다이아몬드 전체 높이는 H2로 표시하며, 다이아몬드 전체 높이(H2)의 절반 값에 해당하는 다이아몬드 하부 높이는 H1로 표시하였다.In FIG. 6, the maximum width of the diamond is indicated by D, the overall height of the diamond is indicated by H2, and the height of the lower part of the diamond corresponding to half of the total height (H2) is indicated by H1.

원형인 상기 홈의 직경 또는 사각형인 상기 홈의 변의 길이는 상기 다이아몬드 최대 폭(D)의 20%이상이고, 원형인 상기 홈의 최대 직경 또는 사각형인 상기 홈의 최대 변의 길이는 상기 다이아몬드 최대 폭(D)의 200% 이하로 형성될 수 있다.The diameter of the circular groove or the length of the side of the square groove is 20% or more of the maximum diamond width (D), and the maximum diameter of the circular groove or the length of the maximum side of the square groove is the maximum width of the diamond ( D) of 200% or less.

또한, 상기 홈(11)의 깊이는 상기 다이아몬드 전체높이(H2)의 20% 이상이고, 하부높이(H1)의 200% 이하로 형성될 수 있다.In addition, the depth of the groove 11 may be 20% or more of the total diamond height H2 and 200% or less of the lower height H1.

(b) 단계(S2)는 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조시 기판(10)과의 도금의 밀착력을 향상시켜 견고한 도금 상태를 이루도록 하지 도금하는 단계이며, 상기 도 2에 나타낸 것처럼 상기 (b) 단계(S2)는 상기 (a) 단계(S1)를 통해 준비된 다수개의 홈(11)이 형성된 기판(10)의 전면을 하지 도금층(21)을 형성할 수 있다.(b) step (S2) is a step of base plating to improve the adhesion of the plating with the substrate 10 to achieve a solid plating state during the manufacture of the diamond abrasive grain conditioner, as shown in FIG. 2, the (b) step (S2) may form the underlying plating layer 21 on the entire surface of the substrate 10 on which the plurality of grooves 11 prepared through step (S1) of (a) are formed.

상기 (b) 단계(S2)는 상기 하지 도금층(21)을 형성함으로써 연마입자인 다이몬드가 직접적으로 기판에 접촉하지 않고 지립할 수 있도록 한다.In the step (b) (S2), the underlying plating layer 21 is formed so that diamond, which is an abrasive particle, can be abrasive without directly contacting the substrate.

(c) 단계(S3)는 상기 (b) 단계(S2)를 통해 하지 도금층(21) 위에 다이아몬드 배열을 위한 메쉬 형태의 감광필름(30)을 부착하는 단계이다. 상기 (c) 단계(S3)에서 사용되는 메쉬 형태의 감광필름(30)은 감광필름 내에 형성된 공극의 크기가 기판(10)에 형성된 홈(11)의 최대 직경 또는 최대 변의 길이와 크기가 같거나 큰 것을 사용하는 것이 바람직하다. 만약 감광필름의 공극 크기가 원형인 상기 홈의 직경 또는 사각형인 상기 홈의 변의 길이보다 작으면, 다이아몬드 지립이 상기 홈(11)에 삽입되지 못해 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조가 제대로 이루어 지지 못하는 문제점이 있다.Step (c) (S3) is a step of attaching the photosensitive film 30 in the form of a mesh for arranging diamonds on the underlying plating layer 21 through step (b) (S2). In the mesh-type photosensitive film 30 used in the step (c) (S3), the size of the pores formed in the photosensitive film is the same as the maximum diameter or maximum side length of the grooves 11 formed in the substrate 10, or It is preferable to use a large one. If the pore size of the photosensitive film is smaller than the diameter of the circular groove or the length of the side of the rectangular groove, the diamond abrasive grain cannot be inserted into the groove 11, and the diamond abrasive grain conditioner cannot be properly manufactured.

(d) 단계(S4)는 상기 (c) 단계(S3)를 거쳐 상기 메쉬 형태의 감광필름(30)이 부착된 기판의 홈(11)에 안착되도록 다이아몬드(100)를 삽입하는 단계이다. Step (d) (S4) is a step of inserting the diamond 100 so as to be seated in the groove 11 of the substrate to which the mesh-shaped photosensitive film 30 is attached through step (c) (S3).

상기 (d) 단계(S4)에서는 상기 다이아몬드(100)의 안착을 위해 기판(10)에 진동을 인가하거나, 별도의 장치를 이용하여 복수 개의 다이아몬드(11)가 홈(11) 내부에 정위치로 안착시키도록 할 수 있다.In the step (d) (S4), vibration is applied to the substrate 10 for the diamonds 100 to be seated, or a plurality of diamonds 11 are positioned in the groove 11 by using a separate device. can make it settle in.

(e) 단계(S5)는 상기 (d) 단계(S4)를 통해 다이아몬드(100)가 삽입된 기판 위에 상기 다이아몬드(100)를 지지하도록 도금하여 가부착 도금층(22)을 형성하는 단계이다.Step (e) (S5) is a step of forming a provisional plating layer 22 by plating to support the diamond 100 on the substrate on which the diamond 100 is inserted through step (d) (S4).

(f) 단계(S6)는 상기 (e) 단계(S5)를 거처 상기 가부착 도금층(22)가 형성된 기판에서 상기 메쉬 형태의 감광필름(30)을 제거하고, 그 다음 감광필름(30)이 제거된 기판의 전면을 도금하여 경계 도금층(23)을 형성한다.In step (f) (S6), the mesh-shaped photosensitive film 30 is removed from the substrate on which the provisional plating layer 22 is formed through step (e) (S5), and then the photosensitive film 30 is The entire surface of the removed substrate is plated to form a boundary plating layer 23 .

상기 경계 도금층(23)은 다이아몬드를 제외한 하지 도금층(21)과 가부착 도금층(22)을 모두 덮어 외부로 노출되지 않도록 전면에 도금된다.The boundary plating layer 23 is plated on the entire surface so as to cover all of the base plating layer 21 and the provisional plating layer 22 except for diamond, so as not to be exposed to the outside.

(g) 단계(S7)는 상기 도 2에 도시된 것처럼 상기 경계 도금층(23) 위에 외부로 노출된 다이아몬드가 충분히 가려지도록 일정 부피 이상으로 추가 도금하고, 이를 다이아몬드가 외부로 노출되지 않도록 하는 두께로 가공하여 추가 도금층(24)을 형성하는 단계이다.(g) step (S7), as shown in FIG. 2, is additionally plated over a certain volume so as to sufficiently cover the externally exposed diamonds on the boundary plating layer 23, and to a thickness such that the diamonds are not exposed to the outside. This is a step of forming the additional plating layer 24 by processing.

(h) 단계(S8)에서는 상기 기판(10) 및 상기 하지 도금층(21)을 제거한다.(h) In step S8, the substrate 10 and the underlying plating layer 21 are removed.

(i) 단계(S9)는 상기 (h) 단계(S8)를 통해 기판(10) 및 하지 도금층(21)이 제거된 것에서 상기 추가 도금층(24)가 최하부가 되도록 위치를 역전시키고 상기 추가 도금층(24) 하부면에 준비된 바디 기판(40)을 부착한다. 즉, 기판(10) 및 하지도금층(21)이 제거된 위치가 아닌 반대편에 바디 기판(40)을 부착한다.(i) Step (S9) reverses the position of the additional plating layer 24 so that the substrate 10 and the underlying plating layer 21 are removed through the (h) step S8 so that the additional plating layer 24 is at the bottom, and the additional plating layer ( 24) Attach the prepared body substrate 40 to the lower surface. That is, the body substrate 40 is attached to the opposite side from where the substrate 10 and the underlying plating layer 21 are removed.

상기 (i) 단계(S9)를 통해 다이아몬드와 기판이 앞서 설명한 공정 단계에서는 다르게 역전되어 있으므로, (i) 단계(S9) 이후의 과정은 역전된 상태에서 수행되는 역도금이다.Since the diamond and the substrate are reversed differently in the process step described above through step (i) (S9), the process after step (i) (S9) is reverse plating performed in an inverted state.

(j) 단계(S10)는 순서대로 상기 가부착 도금층(22)을 박리한 다음 상기 경계 도금층(23)을 박리하여 제거한다.(j) In step S10, the provisional plating layer 22 is sequentially peeled off, and then the boundary plating layer 23 is peeled off and removed.

(k) 단계(S11)는 상기 (j) 단계(S10)를 통해 상기 가부착 도금층(22)과 상기 경계 도금층(23)이 제거됨으로써 외부로 노출된 다이아몬드의 외부 표면을 내식성이 우수한 코팅 조성물로 코팅하여 내구성 및 내식성 등의 물성이 향상된 다이아몬드 지립 컨디셔너를 제조한다.In step (k) (S11), the outer surface of the diamond exposed to the outside by removing the temporary attachment plating layer 22 and the boundary plating layer 23 through the step (j) (S10) is coated with a coating composition having excellent corrosion resistance. coating to produce a diamond abrasive grain conditioner with improved physical properties such as durability and corrosion resistance.

본 명세서에서는 도금층을 형성하는 도금액 성분은 특별히 한정되지 않으며, 통상의 CMP 패드 컨디셔너에서 이용되는 구리, 니켈 등을 포함한 도금액 성분을 이용될 수 있다.In this specification, plating solution components forming the plating layer are not particularly limited, and plating solution components including copper, nickel, and the like used in conventional CMP pad conditioners may be used.

앞서 설명된 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법을 통해 컨디셔너 기판 상에 연마입자인 다이아몬드가 삽입되는 홈을 일정 간격과 깊이로 균일하게 형성하여 모든 팔면체 다이아몬드를 균일하게 형성되도록 함으로써 연마 성능 편차와 스크래치 발생을 줄이며, 정팔면체 형태의 다이아몬드를 점접촉 개수를 증가시켜 컨디셔너의 수명이 향상된 우수한 다이아몬드 지립 컨디셔너를 구현할 수 있다.Through the diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using the above-described etching process, grooves into which diamonds, which are abrasive particles, are inserted are uniformly formed on the conditioner substrate at regular intervals and depths so that all octahedral diamonds are uniformly formed, resulting in variation in polishing performance and scratches It is possible to realize an excellent diamond abrasive grain conditioner with improved lifespan of the conditioner by reducing the occurrence and increasing the number of point contacts of the regular octahedral diamond.

10 : 기판
11 : 홈
21 : 하지 도금층
22 : 가부착 도금층
23 : 경계 도금층
24 : 추가 도금층
30 : 감광필름
40 : 바디 기판
51 : 내부식성 코팅층
60 : 노광필름
61 : 패턴 형성된 노광필름
70 : 마스크
100 : 다이아몬드
10: Substrate
11: home
21: base plating layer
22: provisional plating layer
23: boundary plating layer
24: additional plating layer
30: photosensitive film
40: body substrate
51: corrosion resistant coating layer
60: exposure film
61: patterned exposure film
70: mask
100 : Diamond

Claims (7)

(a) 다수개의 홈이 형성된 기판을 준비하는 단계;
(b) 상기 준비된 기판의 전면을 하지도금하여 하지 도금층을 형성하는 단계;
(c) 다이아몬드 배열을 위해 메쉬 형태의 감광필름을 상기 하지 도금층 위에 부착하는 단계;
(d) 상기 홈에 다이아몬드를 삽입하는 단계;
(e) 상기 다이아몬드가 삽입된 기판 위에 상기 다이아몬드를 지지하도록 도금하여 가부착 도금층을 형성하는 단계;
(f) 상기 가부착 도금층이 형성된 기판에서 상기 감광필름을 제거하고, 전면을 도금하여 경계 도금층을 형성하는 단계;
(g) 상기 경계 도금층 위에 일정 부피로 추가 도금하고, 이를 일정 두께로 가공하여 추가 도금층을 형성하는 단계;
(h) 상기 기판 및 상기 하지 도금층을 제거하는 단계;
(i) 추가 도금층이 최하부가 되도록 위치를 역전시키고, 추가 도금층 하부면에 준비된 바디 기판을 부착하는 단계;
(j) 상기 가부착 도금층을 박리한 다음 상기 경계 도금층을 박리하여 제거하는 단계; 및
(k) 외부로 노출된 다이아몬드와 추가 도금층 위에 내부식성 코팅하는 단계;를 포함하며,
상기 (a) 단계에 있어서,
다수개의 상기 홈은 상기 기판에 대한 에칭공정에 의해 형성하는 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법.
(a) preparing a substrate having a plurality of grooves;
(b) forming an underlying plating layer by underplating the entire surface of the prepared substrate;
(c) attaching a photosensitive film in the form of a mesh to the underlying plating layer for diamond arrangement;
(d) inserting a diamond into the groove;
(e) forming a provisional plating layer by plating to support the diamond on the substrate in which the diamond is inserted;
(f) removing the photosensitive film from the substrate on which the temporary attachment plating layer is formed, and plating the entire surface to form a boundary plating layer;
(g) additionally plating a predetermined volume on the boundary plating layer and processing the additional plating layer to a predetermined thickness to form an additional plating layer;
(h) removing the substrate and the underlying plating layer;
(i) reversing the position of the additional plating layer so that it is at the bottom, and attaching the prepared body substrate to the lower surface of the additional plating layer;
(j) removing the boundary plating layer after peeling off the temporary attachment plating layer; and
(k) coating an anti-corrosion coating on the externally exposed diamond and an additional plating layer;
In step (a),
A method of manufacturing a diamond abrasive grain conditioner using an etching process, characterized in that the plurality of grooves are formed by an etching process for the substrate.
제1항에 있어서,
상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상은 원형 또는 사각형인 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법.
According to claim 1,
Diamond abrasive conditioner manufacturing method using an etching process, characterized in that the shape of the groove extending from the surface of the substrate is circular or square.
제1항에 있어서,
상기 홈의 측면은 상기 홈의 저면으로 갈수록 좁아지는 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법.
According to claim 1,
Diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using an etching process, characterized in that the side surface of the groove becomes narrower toward the bottom surface of the groove.
제3항에 있어서,
상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상이 원형이면 상기 저면도 원형이고, 상기 기판의 표면에서 연장된 상기 홈의 형상이 사각형이면 상기 저면도 사각형인 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법.
According to claim 3,
If the shape of the groove extending from the surface of the substrate is circular, the bottom surface is also circular, and if the shape of the groove extending from the surface of the substrate is rectangular, the bottom surface is also rectangular. Diamond abrasive grain conditioner using an etching process, characterized in that manufacturing method.
제1항에 있어서,
원형인 상기 홈의 직경 또는 사각형인 상기 홈의 변의 길이는 상기 다이아몬드 최대폭의 20%이상인 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법.
According to claim 1,
Diamond abrasive conditioner manufacturing method using an etching process, characterized in that the diameter of the circular groove or the length of the side of the square groove is 20% or more of the maximum width of the diamond.
제1항에 있어서,
원형인 상기 홈의 최대 직경 또는 사각형인 상기 홈의 변의 최대 길이는 상기 다이아몬드 최대폭의 200% 이하인 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법
According to claim 1,
Diamond abrasive conditioner manufacturing method using an etching process, characterized in that the maximum diameter of the circular groove or the maximum length of the side of the square groove is 200% or less of the maximum width of the diamond
제6항에 있어서,
상기 홈의 깊이는 상기 다이아몬드 전체높이의 20% 이상이고, 하부높이의 200% 이하인 것을 특징으로 하는 에칭 공정을 이용한 다이아몬드 지립 컨디셔너 제조방법.
According to claim 6,
The depth of the groove is 20% or more of the total height of the diamond, diamond abrasive grain conditioner manufacturing method using an etching process, characterized in that less than 200% of the lower height.
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