KR20230013625A - Electronic circuits and measuring devices - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 전자 회로 및 측정 장치에 관한 것으로, 예컨대, 아날로그 신호의 전달을 제어하는 아날로그 스위치를 포함하는 전자 회로 및 이 전자 회로를 구비한 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic circuit and a measuring device, for example, to an electronic circuit including an analog switch for controlling transmission of an analog signal and a measuring device including the electronic circuit.
측정 대상물(DUT : Device Under Test)의 임피던스를 측정하는 LCR 미터 등의 측정 장치의 대부분은 측정을 시작하기 전 또는 측정 중에 측정 대상물과 측정 장치의 프로브가 전기적으로 접속되는지 여부를 검사하는 컨택트 체크의 기능을 갖는다.Most of the measuring devices such as LCR meters that measure the impedance of the measuring object (DUT: Device Under Test) use a contact check to check whether the measuring object and the probe of the measuring device are electrically connected before or during measurement. has a function
컨택트 체크란 측정 장치의 외부 단자에 접속된 프로브를 측정 대상물에 접촉시킨 상태에서 측정 장치로부터 프로브를 통해서 아날로그 신호를 출력하고, 이때 프로브로부터 검출되는 전압 등을 측정함으로써 측정 대상물과 프로브가 전기적으로 접속되는지 여부를 검사하는 처리를 말한다.A contact check means that an analog signal is output from the measuring device through the probe while the probe connected to the external terminal of the measuring device is brought into contact with the measuring object, and the measuring object and the probe are electrically connected by measuring the voltage detected by the probe at this time. refers to the process of checking whether or not
컨택트 체크의 기능을 갖는 측정 장치는 측정 장치 내의 회로로부터 외부 단자로의 아날로그 신호의 출력을 제어하는 아날로그 스위치를 갖는다. 아날로그 스위치는 아날로그 신호의 전달을 제어하는 부품이다(특허문헌 1 참조).A measuring device having a function of contact check has an analog switch that controls an output of an analog signal from a circuit in the measuring device to an external terminal. An analog switch is a component that controls transmission of an analog signal (see Patent Document 1).
본원 발명자들은 새로운 측정 장치의 개발에 임하여, 온/오프의 전환 시간이 짧고 수 백 mA 이상의 대전류를 흘리는 것이 가능한 아날로그 스위치가 필요하다고 생각했다.The inventors of the present application thought that an analog switch capable of passing a large current of several hundred mA or more with a short on/off switching time was necessary when developing a new measuring device.
종래에, LCR 미터나 커패시턴스 미터 등의 측정 장치는 리드 릴레이 등의 릴레이나 복수의 트랜지스터를 하나의 반도체 기판에 집적한 집적회로로 이루어지는 아날로그 스위치를 채용한다. 그러나, 일반적인 릴레이는 대전류를 흘리는 것이 가능하지만 온/오프의 전환시간이 길다는 과제가 있다. 한편, 일반적인 집적회로로 이루어지는 아날로그 스위치는 온/오프의 전환시간은 짧지만, 대전류를 흘릴 수 없다고 하는 과제가 있다.Conventionally, a measuring device such as an LCR meter or a capacitance meter employs a relay such as a reed relay or an analog switch made of an integrated circuit in which a plurality of transistors are integrated on a single semiconductor substrate. However, general relays can pass large currents, but there is a problem in that the on/off switching time is long. On the other hand, an analog switch made of a general integrated circuit has a problem that it cannot flow a large current, although the on/off switching time is short.
이에, 본원 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해서 트랜지스터 등의 디스크리트 부품(discrete part)을 이용하여 새로운 아날로그 스위치를 설계하는 것을 검토했다.Accordingly, the inventors of the present application studied designing a new analog switch using discrete parts such as transistors in order to solve the above problems.
도 4는 본원 발명자들이 본원에 앞서 검토한 아날로그 스위치의 회로 구성을 도시하는 도면이다.Fig. 4 is a diagram showing the circuit configuration of an analog switch that the inventors of the present application have studied prior to this application.
도 4에 도시하는 아날로그 스위치(90)는 측정 장치 내에서 신호원(95)의 출력 단자와 측정 장치의 외부 단자 사이에 접속된다. 아날로그 스위치(90)는 스위치로서의 주 기능을 실현하기 위한 트랜지스터(Mx1, Mx2)로서 디스크리트 부품의 파워 트랜지스터를 채용함과 동시에, 트랜지스터(Mx1, Mx2)의 게이트 전극에 정 전류원(91)을 접속하고, 정 전류원(91)을 제어 신호(CNT)에 의해 온/오프 시킴으로써 트랜지스터(Mx1, Mx2)의 온/오프를 제어한다. 이에 의하면, 릴레이에 비해서 온/오프의 전환시간이 짧고, 또한 수 백mA의 대전류를 흘리는 것이 가능한 아날로그 스위치를 실현할 수 있다.An
그러나, 도 4에 도시하는 아날로그 스위치(90)에는 이하에 나타내는 과제가 있는 것이 발명자들의 검토에 의해 명백해졌다. 아날로그 스위치(90)에서 트랜지스터(Mx1, Mx2)를 오프 시키는 경우, 제어 신호(CNT)에 의해 정 전류원(91)을 오프 시킨다. 이때, 트랜지스터(Mx1)와 트랜지스터(Mx2)가 공통으로 접속되는 노드(Nx)와 네거티브 측의 전원 전압(예컨대, -12 V)이 공급되는 전원 라인(Vccn) 사이에 접속되는 트랜지스터(M3x)가 온 되기 때문에, 노드(Nx)에 전원 라인(Vccn)으로부터 전류가 흘러 들어가고, 노드(Nx)에 네거티브의 전압이 발생된다. 그 결과, 측정 장치의 외부 단자(P)에 측정 대상물이 접속되는 경우, 그 측정 대상물에 정상적으로 네거티브 전압이 인가되어 측정 대상물이 손상될 우려가 있다.However, it became clear by the inventors' examination that the
본 발명은 상술한 과제를 감안하여 이루어진 것으로, 접속 대상물의 손상을 방지하면서 보다 짧은 온/오프 시간으로 대전류를 흘리는 것이 가능한 아날로그 스위치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an analog switch capable of flowing a large current in a shorter on/off time while preventing damage to a connection object.
본 발명의 대표적인 실시형태에 따른 전자 회로는 제1 주 전극과 제2 주 전극과 제어 전극을 각각 갖는 제1 트랜지스터 및 제2 트랜지스터와, 상기 제1 트랜지스터의 제어 전극과 상기 제2 트랜지스터의 제어 전극이 접속되는 제1 노드와 포지티브의 전원 전압이 공급되는 제1 전원 라인 사이에 접속되고, 상기 제1 전원 라인 측으로부터 상기 제1 노드 측으로 전류를 출력하는 제1 정 전류원((constant current source)과, 상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 주 전극과 상기 제2 트랜지스터의 상기 제1 주 전극이 접속되는 제2 노드와 상기 제1 노드 사이에 접속되고, 상기 제1 노드와 상기 제2 노드 사이에 흐르는 전류에 따라서 전압을 발생시키는 전압 발생 회로와, 상기 제2 노드와 네거티브의 전원 전압이 공급되는 제2 전원 라인 사이에 접속되고, 상기 제2 노드 측으로부터 상기 제2 전원 라인 측으로 전류를 출력하는 제2 정 전류원과, 상기 제어 신호에 따라서 상기 제1 정 전류원 및 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 한다.An electronic circuit according to a representative embodiment of the present invention includes a first transistor and a second transistor each having a first main electrode, a second main electrode, and a control electrode, and a control electrode of the first transistor and a control electrode of the second transistor. A first constant current source connected between the connected first node and a first power line to which a positive power supply voltage is supplied, and outputting current from the first power line side to the first node side; and , connected between a second node to which the first main electrode of the first transistor and the first main electrode of the second transistor are connected and the first node, and flowing between the first node and the second node A voltage generator circuit that generates a voltage according to current, and is connected between the second node and a second power supply line to which a negative power supply voltage is supplied, and outputs current from the second node side to the second power line side. It is characterized in that it comprises two constant current sources, and a control unit that switches between outputting and cutting off the current by the first constant current source and the second constant current source according to the control signal.
본 발명에 따른 전자 회로에 의하면, 접속 대상물의 손상을 방지하면서 보다 짧은 온/오프 시간으로 대전류를 흘리는 것이 가능한 아날로그 스위치를 제공하는 것이 가능해진다.According to the electronic circuit according to the present invention, it becomes possible to provide an analog switch capable of flowing a large current in a shorter on/off time while preventing damage to a connection object.
도 1은 실시형태 1에 따른 측정 장치의 구성을 도시하는 도면이다.
도 2는 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치의 회로 구성을 도시하는 도면이다.
도 3은 실시형태 2에 따른 아날로그 스위치의 회로 구성을 도시하는 도면이다.
도 4는 본원 발명자들이 본원에 앞서 검토한 아날로그 스위치의 회로 구성을 도시하는 도면이다.1 is a diagram showing the configuration of a measuring device according to
Fig. 2 is a diagram showing the circuit configuration of an analog switch according to
Fig. 3 is a diagram showing the circuit configuration of an analog switch according to
Fig. 4 is a diagram showing the circuit configuration of an analog switch that the inventors of the present application have studied prior to this application.
1. 실시형태의 개요1. Overview of Embodiments
우선, 본원에서 개시되는 발명의 대표적인 실시형태에 대해서 개요를 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 일례로서 발명의 구성요소에 대응하는 도면 상의 참조부호를 괄호를 붙여서 기재한다.First, an overview of representative embodiments of the invention disclosed herein will be described. In addition, in the following description, as an example, reference numerals on the drawings corresponding to the components of the invention are described in parentheses.
[1] 본 발명의 대표적인 실시형태에 따른 전자 회로(10, 10A)는 제1 주 전극(소스 전극)과 제2 주 전극(드레인 전극)과 제어 전극(게이트 전극)을 각각 갖는 제1 트랜지스터(Q1) 및 제2 트랜지스터(Q2)와, 상기 제1 트랜지스터의 제어 전극과 상기 제2 트랜지스터의 제어 전극이 접속되는 제1 노드(N1)와 포지티브의 전원 전압(+12 V)이 공급되는 제1 전원 라인(Vccp) 사이에 접속되고, 상기 제1 전원 라인 측으로부터 상기 제1 노드 측으로 전류를 출력하는 제1 정 전류원(11)과, 상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 주 전극과 상기 제2 트랜지스터의 상기 제1 주 전극이 접속되는 제2 노드(N2)와 상기 제1 노드 사이에 접속되고, 상기 제1 노드와 상기 제2 노드 사이에 흐르는 전류에 따라서 전압을 발생시키는 전압 발생 회로(15)와, 상기 제2 노드와 네거티브의 전원 전압(-12V)이 공급되는 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속되고, 상기 제2 노드 측으로부터 상기 제2 전원 라인 측으로 전류를 출력하는 제2 정 전류원(12)과, 제어 신호(CNT1)에 따라서 상기 제1 정 전류원 및 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제어부(13, 14, 16)를 구비하는 것을 특징으로 한다.[1]
[2] 상기 [1]에 기재한 전자 회로(10A)에서, 상기 제1 정 전류원은 콜렉터 전극이 상기 제1 노드에 접속된 PNP 트랜지스터(Q1)와, 상기 PNP 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제1 저항(R1)과, 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제2 저항(R2)을 포함하며, 상기 제2 정 전류원은 콜렉터 전극이 상기 제2 노드에 접속된 NPN 트랜지스터(Q2)와, 상기 NPN 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제3 저항(R3)과, 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제4 저항(R4)을 포함하며, 상기 제어부는 상기 제어 신호에 따라서 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극 사이의 도통과 비도통을 전환하는 제어 회로(16)를 포함할 수 있다.[2] In the
[3] 상기 [2]에 기재한 전자 회로(10A)에서, 상기 제어 회로(16)는 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극 사이에 접속되고, 상기 제어 신호에 따라서 온/오프가 전환되는 스위치(SWa)와, 상기 스위치의 일단과 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극 사이에 접속된 제5 저항(R5)과, 상기 스위치의 타단과 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극 사이에 접속된 제6 저항(R6)을 포함할 수 있다.[3] In the
[4] 상기 [3]에 기재한 전자 회로(10A)에서, 상기 제어 회로(16)는 상기 제5 저항과 병렬로 접속된 제1 용량(C5) 및 상기 제6 저항과 병렬로 접속된 제2 용량(C6)을 더 포함할 수 있다.[4] In the
[5] 상기 [1]에 기재한 전자 회로(10)에서, 상기 제어부는 상기 제1 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제1 제어 회로(13)와, 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제2 제어 회로(14)를 구비하며, 상기 제1 정 전류원은 콜렉터 전극이 상기 제1 노드에 접속된 PNP 트랜지스터(Q1)와, 상기 PNP 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제1 저항(R1)과, 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제2 저항(R2)을 포함하며, 상기 제2 정 전류원은 콜렉터 전극이 상기 제2 노드에 접속된 NPN 트랜지스터(Q2)와, 상기 NPN 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제3 저항(R3)과, 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제4 저항(R4)을 포함하며, 상기 제1 제어 회로는 상기 제어 신호에 따라서 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극의 전압을 상기 포지티브의 전원 전압보다 낮춤으로써 상기 제1 정 전류원에 의한 전류의 출력을 가능하게 하고, 상기 제2 제어 회로는 상기 제어 신호에 따라서 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극의 전압을 상기 네거티브의 전원 전압보다 높임으로써 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력을 가능하게 할 수 있다.[5] In the
[6] 상기 [5]에 기재한 전자 회로(10)에서, 상기 제1 제어 회로(13)는 일단이 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극에 접속된 제5 저항(R5)과, 소스 전극이 상기 포지티브의 전원 전압보다 낮은 전위에 접속되고 드레인 전극이 상기 제5 저항의 타단에 접속되고, 게이트 전극에 상기 제어 신호가 입력되는 N채널형 제1 전계 효과 트랜지스터(M3)를 포함하며, 상기 제2 제어 회로(14)는 일단이 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극에 접속된 제6 저항(R6)과, 일단이 상기 제 6 저항의 타단에 접속되고, 타단이 상기 제2 전원 라인에 접속된 제7 저항(R7)과, 소스 전극이 상기 네거티브의 전원 전압보다 높은 전위(그라운드 전위)에 접속되고 드레인 전극이 상기 제 7 저항의 일단에 접속된 P채널형 제2 전계 효과 트랜지스터(M4)와, 일단이 상기 제2 전계 효과 트랜지스터의 게이트 전극에 접속되고 타단이 상기 제2 전원 라인에 접속된 제8 저항(R8)과, 소스 전극이 상기 제어 신호의 하이 레벨에 상당하는 전위에 접속되고 드레인 전극이 상기 제8 저항의 일단에 접속되고 게이트 전극에 상기 제어 신호가 입력되는 P채널형 제3 전계 효과 트랜지스터(M5)를 포함할 수 있다.[6] In the
[7] 상기 [5] 또는 [6]에 기재한 전자 회로(10)에서, 상기 제1 제어 회로에는 상기 제어 신호로서 2값 신호인 제1 신호(CNT1)가 입력되고, 상기 제2 제어 회로에는 상기 제어 신호로서 2값 신호인 제2 신호(CNT1a)가 입력되며, 상기 제2 신호의 위상은 상기 제1 신호의 위상 보다 진상(lead)일 수 있다.[7] In the
[8] 본 발명의 대표적인 실시형태에 따른 측정 장치(100)는 측정 대상물(20)의 전기적 특성을 측정하기 위한 측정 장치이며, 적어도 하나의 상기 [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재한 전자 회로(10, 10A)와, 상기 측정 대상물을 접속하기 위한 복수의 외부 단자(HP, HC, LP, LC)와, 내부 회로(1~3, Rp1, Rp2 등)를 구비하고, 상기 전자 회로의 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터는 상기 내부 회로와 적어도 하나의 상기 외부 단자 사이에 접속되는 것을 특징으로 한다.[8] The
2. 실시형태의 구체예2. Specific examples of embodiments
이하, 본 발명의 실시형태의 구체예에 대해서 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에서, 각 실시형태에서 공통된 구성요소에는 동일한 참조 부호를 부여하고, 반복되는 설명을 생략한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the specific example of embodiment of this invention is described with reference to drawings. Incidentally, in the following description, the same reference numerals are assigned to components common to each embodiment, and repeated explanations are omitted.
<실시형태 1><
도 1은 실시형태 1에 따른 측정 장치(100)의 구성을 도시하는 도면이다. 도 1에 도시하는 측정 장치(100)는 측정 대상물(DUT)(20)의 전기적 특성을 측정하는 기기이다. 측정 장치(100)로서, 4단자법에 의한 임피던스의 측정이 가능한 LCR 미터나 커패시턴스 미터 등을 예시할 수 있다. 본 실시형태에서는, 측정 장치(100)가 LCR 미터인 경우를 예로 들어서 설명한다.1 is a diagram showing the configuration of a
도 1에 도시하는 바와 같이, 측정 장치(100)는 신호 생성 회로(1), 전압 검출 회로(2), 전류 검출 회로(3), A/D 변환회로(4, 5), 데이터 처리 제어부(6), 기억부(7), 조작부(8), 및 출력부(9)를 구비한다. 또한, 측정 장치(100)는 복수의 외부 단자(HC, HP, LC, LP)와 복수의 스위치(SW1~SW4)를 구비한다.As shown in FIG. 1, the measuring
외부 단자(HC, HP, LP, LC)는 측정 대상물(20)을 접속하기 위한 단자이다. 예컨대, 하이 측 단자로서의 외부 단자(HC, HP)에는 측정 대상물(20)의 한쪽의 단자가 공통으로 접속되고, 로우 측 단자로서의 외부 단자(LP, LC)에는 측정 대상물(20)의 다른 쪽의 단자가 공통으로 접속된다.The external terminals HC, HP, LP, and LC are terminals for connecting the
스위치(SW1~SW4)는 각 외부 단자(HC, HP, LP, LC)와 신호 생성 회로(1) 및 전류 검출 회로(3) 등의 측정 장치(100)의 내부 회로 사이에 설치되고, 각 외부 단자(HC, HP, LC, LP)와 내부 회로 사이의 전기적인 접속과 차단을 전환하는 전자 회로이다. 스위치(SW1~SW4)의 상세한 내용에 대해서는 후술한다.The switches (SW1 to SW4) are installed between each external terminal (HC, HP, LP, LC) and the internal circuit of the measuring
측정 장치(100)는 예컨대 외부 단자(HC, HP)와 외부 단자(LP, LC) 사이에 접속된 측정 대상물(20)에 대해서 외부 단자(HC)로부터 교류 신호 등을 인가하고, 그때의 외부 단자(HP)와 외부 단자(LP) 사이에 발생되는 전압과, 외부 단자(HC)로부터 측정 대상물(20)을 통해서 외부 단자(LC)에 흐르는 전류를 각각 측정하고, 측정한 전압 및 전류에 기초하여 측정 대상물(20)의 전기적 특성(임피던스)을 측정한다.The measuring
신호 생성 회로(1)는 측정 대상물(20)의 임피던스를 측정하기 위해서 측정 대상물(20)에 인가하는 교류 신호(예컨대, 정현파 교류 신호)를 생성하는 회로이다. 신호 생성 회로(1)의 교류 신호를 출력하기 위한 출력 단자는 스위치(SW1)를 통해서 외부 단자(HC)에 접속된다.The
전압 검출 회로(2)는 외부 단자(HP)와 외부 단자(LP)에 각각 접속되고, 외부 단자(HP)와 외부 단자(LP) 사이의 전압을 검출하는 회로이다. 전압 검출 회로(2)는 예컨대 연산 증폭기를 가지며, 검출한 외부 단자(HP)와 외부 단자(LP) 사이의 전압을 연산 증폭기에 의해 증폭하여 전압 신호로서 출력한다.The
A/D 변환회로(4)는 전압 검출 회로(2)로부터 출력된 전압 신호를 소정의 샘플링 주기(예컨대, 신호 생성 회로(1)로부터 출력되는 교류 신호의 주기에 대해서 충분히 짧은 주기)로 샘플링함으로써, 전압 신호를 디지털 신호로 변환하여 전압 데이터로서 출력한다.The A/
전류 검출 회로(3)는 외부 단자(LC)와 스위치(SW4)를 통해서 접속되고, 측정 대상물(20)에 흐르는 전류를 검출하는 회로이다. 전류 검출 회로(3)는 예컨대 신호 생성 회로(1)로부터 측정 대상물(20)에 교류 신호를 인가했을 때에 측정 대상물(20)에 흐르는 전류를 외부 단자(LC)를 통해서 입력하고, 입력한 전류를 전압으로 변환하여 전류 신호로서 출력한다.The
A/D 변환회로(5)는 A/D 변환회로(4)와 마찬가지로 전류 검출 회로(3)로부터 출력된 전류 신호를 소정의 샘플링 주기로 샘플링함으로써, 전류 신호를 디지털 신호로 변환하여 전류 데이터로서 출력한다.Like the A/
조작부(8)는 사용자가 측정 장치(100)를 조작하기 위한 입력 인터페이스이다. 조작부(8)로는 각종 버튼이나 터치 패널 등을 예시할 수 있다. 예컨대, 사용자가 조작부(8)를 조작함으로써, 측정 대상물(20)을 측정하기 위한 각종 측정 조건 등을 측정 장치(100)에 설정함과 동시에, 측정의 실행 및 정지를 측정 장치(100)에 지시할 수 있다.The
기억부(7)는 측정 장치(100)로서의 기능을 실현하기 위한 각종 프로그램, 임피던스를 측정하기 위한 연산에 이용되는 각종 파라미터, 및 측정 결과 등의 데이터를 기억하기 위한 기능부이다. 기억부(7)는 예컨대 ROM나 RAM, 플래시 메모리 등의 공지된 기억 장치에 의해 실현된다.The
데이터 처리 제어부(6)는 측정 장치(100) 내의 각 기능부를 통괄적으로 제어하는 기능부이다. 데이터 처리 제어부(6)는 예컨대 CPU 등의 프로세서를 포함하여 구성된다. 데이터 처리 제어부(6)는 예컨대 후술하는 포지티브의 전원 전압(+12V)보다 낮은 전원 전압이 공급되는 내부 전원 라인(Vdd)(예컨대, 3.3V)과 그라운드 전위(GND)(=0V) 사이에 접속되고, 내부 전원 라인(Vdd)으로부터의 급전에 의해 동작 가능하게 된다.The
데이터 처리 제어부(6)는 예컨대 기억부(7)에 기억되는 프로그램에 따라 각종 연산을 실행함으로써 측정 장치(100) 내의 각 기능부를 제어한다. 또한, 데이터 처리 제어부(6)는 제어 신호(CNT1~CNT4)를 출력함으로써 스위치(SW1~SW4)의 온/오프를 전환한다.The data
여기서, 제어 신호(CNT1~CNT4)는 2값 신호이다. 예컨대, 제어 신호(CNT1)의 하이 레벨은 내부 전원 라인(Vdd)의 전원 전압(3.3V)이고, 제어 신호(CNT1)의 로우 레벨은 그라운드 전위(0V)이다.Here, the control signals CNT1 to CNT4 are binary signals. For example, the high level of the control signal CNT1 is the power supply voltage (3.3V) of the internal power line Vdd, and the low level of the control signal CNT1 is the ground potential (0V).
또한, 데이터 처리 제어부(6)는 A/D 변환회로(4, 5)로부터 출력된 전압 데이터 및 전류 데이터를 입력하고, 입력한 전압 데이터 및 전류 데이터에 기초하여 각 데이터 처리를 실행함으로써 측정 대상물(20)의 전기적 특성(임피던스)을 측정하고, 측정 결과를 기억부(7)에 기억한다. 또한, 데이터 처리 제어부(6)는 입력된 전압 데이터에 기초하여 외부 단자(HC, HP, LC, LP)와 측정 대상물(20)의 전기적인 접속 여부를 확인하기 위한 컨택트 체크를 행한다. 컨택트 체크의 상세한 내용에 대해서는 후술한다.In addition, the data
출력부(9)는 측정 장치(100)에서의 측정 조건이나 측정 결과 등의 각종 정보를 출력하기 위한 기능부이다. 출력부(9)는 예컨대 LCD(Liquid Crystal Display)나 유기 EL를 구비한 표시장치이다. 또한, 출력부(9)는 조작부(8)로서의 일부 기능을 실현하는 터치 패널을 구비한 표시장치일 수 있다. 또한, 출력부(9)는 측정 결과 등의 데이터를 유선 또는 무선에 의해 외부에 출력하는 통신 회로 등을 포함할 수 있다.The
다음에, 스위치(SW1~SW4)에 대해서 설명한다. 스위치(SW1)는 신호 생성 회로(1)의 출력 단자와 외부 단자(HC) 사이에 접속된다. 스위치(SW2)는 측정 장치(100)의 포지티브 측의 전원 전압(예컨대, +12V)이 공급되는 제1 전원 라인(Vccp)과 외부 단자(HP) 사이에 저항(Rp1)과 직렬로 접속된다. 스위치(SW3)는 측정 장치(100)의 제1 전원 라인(Vccp)과 외부 단자(LP) 사이에 저항(Rp2)과 직렬로 접속된다. 스위치(SW4)는 전류 검출 회로(3)의 입력 단자와 외부 단자(LC) 사이에 접속된다.Next, the switches SW1 to SW4 will be described. The switch SW1 is connected between the output terminal of the
상술한 바와 같이, 스위치(SW1~SW4)는 각 외부 단자(HC, HP, LP, LC)와 측정 장치(100)의 내부 회로 사이의 도통과 비도통을 전환한다. 스위치(SW1~SW4)는 예컨대 측정 대상물(20)의 전기적 특성의 측정 시나 컨택트 체크 시에 온/오프가 제어된다. 예컨대, 각 스위치(SW1~SW4)의 온/오프의 전환은 데이터 처리 제어부(6)로부터 출력되는, 각 스위치(SW1~SW4)에 각각 대응한 제어 신호(CNT1~CNT4)에 의해 제어된다.As described above, the switches SW1 to SW4 switch between conduction and non-conduction between the respective external terminals HC, HP, LP, and LC and the internal circuit of the measuring
측정 대상물(20)의 임피던스를 측정하는 경우, 데이터 처리 제어부(6)는 제어 신호(CNT1~CNT4)에 의해 예컨대 스위치(SW1, SW4)를 온 시키고, 스위치(SW2, SW3)를 오프 시킨다. 이 상태에서, 데이터 처리 제어부(6)는 신호 생성 회로(1)로부터 교류 신호 등을 출력시키고, 측정 대상물(20)의 양단의 전압과 측정 대상물(20)에 흐르는 전류를 검출함으로써 측정 대상물(20)의 임피던스를 측정한다. 또한, 측정 대상물(20)의 임피던스의 측정을 정지하는 경우에는, 데이터 처리 제어부(6)는 제어 신호(CNT1~CNT4)에 의해 예컨대 각 스위치(SW1~SW4)를 오프 시킨다.When measuring the impedance of the
측정 대상물(20)의 한쪽의 단자 측(하이 측)의 컨택트 체크를 행하는 경우, 데이터 처리 제어부(6)는 제어 신호(CNT1~CNT4)에 의해 스위치(SW1, SW2)를 온 시키고, 스위치(SW3, SW4)를 오프 시킨다. 이 상태에서, 데이터 처리 제어부(6)는 제1 전원 라인(Vccp)으로부터 저항(Rp1), 스위치(SW2), 외부 단자(HP, HC), 및 스위치(SW1)를 통해서 신호 생성 회로(1)의 출력 단자에 전류를 흘렸을 때의 외부 단자(HP)의 전압 크기에 기초하여 측정 대상물(20)의 한쪽의 단자와 외부 단자(HP, HC)가 전기적으로 접속되는지 여부를 판정한다.When performing a contact check on one terminal side (high side) of the
또한, 측정 대상물(20)의 다른 쪽의 단자 측(로우 측)의 컨택트 체크를 행하는 경우, 데이터 처리 제어부(6)는 제어 신호(CNT1~CNT4)에 의해 스위치(SW1, SW2)를 오프 시키고, 스위치(SW3, SW4)를 온 시킨다. 이 상태에서, 데이터 처리 제어부(6)는 제1 전원 라인(Vccp)으로부터 저항(Rp2), 스위치(SW3), 외부 단자(LP, LC), 및 스위치(SW4)를 통해서 전류 검출 회로(3)의 입력 단자에 전류를 흘렸을 때의 외부 단자(LP)의 전압 크기에 기초하여 측정 대상물(20)의 다른 쪽의 단자와 외부 단자(LP, LC)가 전기적으로 접속되는지 여부를 판정한다.Further, when performing a contact check on the other terminal side (low side) of the
스위치(SW1~SW4)는 예컨대 아날로그 신호의 전달을 제어하는 아날로그 스위치이다. 이하, 스위치(SW1)로서의 아날로그 스위치의 구체적인 회로 구성에 대해서 설명한다.The switches SW1 to SW4 are, for example, analog switches that control transmission of analog signals. Hereinafter, a specific circuit configuration of the analog switch as the switch SW1 will be described.
도 2는 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치(10)의 회로 구성을 도시하는 도면이다.Fig. 2 is a diagram showing the circuit configuration of the
도 2에 도시하는 아날로그 스위치(10)는 측정 장치(100)에서의 스위치(SW1~SW4)로서 적용할 수 있다. 본 실시형태에서는, 스위치(SW1)가 도 2에 도시하는 아날로그 스위치(10)에 의해 실현되고, 다른 스위치(SW2~SW4)가 공지된 집적회로 등에 의해 구성된 아날로그 스위치에 의해 실현되는 것으로서 설명한다.The
도 2에 도시하는 아날로그 스위치(10)(스위치(SW1))는 제1 트랜지스터(M1) 및 제2 트랜지스터(M2)와, 제1 정 전류원(11)과, 제2 정 전류원(12)과, 전압 발생 회로(15)와, 제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14)를 갖는다.The analog switch 10 (switch SW1) shown in FIG. 2 includes a first transistor M1 and a second transistor M2, a first constant
아날로그 스위치(10)를 구성하는 이들 회로는 예컨대 트랜지스터나 저항 등의 디스크리트 부품을 프린트 기판 상에 납땜에 의해 고정하고, 프린트 기판의 표면 또는 내부에 형성된 금속으로 이루어지는 배선 패턴이나 리드 선 등에 의해 각 디스크리트 부품을 서로 접속함으로써 실현된다.In these circuits constituting the
제1 트랜지스터(M1) 및 제2 트랜지스터(M2)는 예컨대 수 백mA 이상의 전류를 흘릴 수 있는 파워 트랜지스터이다. 제1 트랜지스터(M1) 및 제2 트랜지스터(M2)로는, 바이폴라 트랜지스터, 전계 효과 트랜지스터, IGBT 등을 예시할 수 있다. 본 실시형태에서는, 제1 트랜지스터(M1) 및 제2 트랜지스터(M2)가 N채널형 MOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor)인 경우를 예로 들어서 설명한다.The first transistor M1 and the second transistor M2 are power transistors capable of passing a current of several hundred mA or more, for example. As the first transistor M1 and the second transistor M2, a bipolar transistor, a field effect transistor, an IGBT, or the like can be exemplified. In the present embodiment, a case in which the first transistor M1 and the second transistor M2 are N-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) will be described as an example.
제1 트랜지스터(M1) 및 제2 트랜지스터(M2)는 제1 주 전극으로서의 소스 전극과, 제2 주 전극으로서의 드레인 전극과, 제어 전극으로서의 게이트 전극을 각각 갖는다.The first transistor M1 and the second transistor M2 each have a source electrode as a first main electrode, a drain electrode as a second main electrode, and a gate electrode as a control electrode.
제1 트랜지스터(M1)와 제2 트랜지스터(M2)는 신호 생성 회로(1)의 출력 단자와 외부 단자(HC) 사이에 직렬로 접속된다. 구체적으로는, 제1 트랜지스터(M1)의 드레인 전극이 신호 생성 회로(1)의 출력 단자에 접속되고, 제1 트랜지스터(M1)의 소스 전극이 제2 트랜지스터(M2)의 소스 전극에 접속되고, 제2 트랜지스터(M2)의 드레인 전극이 외부 단자(HC)에 접속된다. 또한, 제1 트랜지스터의 게이트 전극과 제2 트랜지스터의 게이트 전극이 공통으로 접속된다.The first transistor M1 and the second transistor M2 are connected in series between the output terminal of the
제1 정 전류원(11)은 제1 트랜지스터(M1)의 게이트 전극과 제2 트랜지스터(M2)의 게이트 전극이 공통으로 접속되는 제1 노드(N1)와 포지티브의 전원 전압(예컨대, +12V)이 공급되는 제1 전원 라인(Vccp) 사이에 접속되고, 제1 전원 라인(Vccp) 측으로부터 제1 노드(N1) 측으로 전류를 출력하는 회로이다.The first constant
제1 정 전류원(11)은 예컨대 트랜지스터(Q1), 저항(R1), 및 저항(R2)을 포함한다. 트랜지스터(Q1)는 예컨대 PNP 트랜지스터이다. 트랜지스터(Q1)의 콜렉터 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 저항(R1)은 트랜지스터(Q1)의 에미터 전극과 제1 전원 라인(Vccp) 사이에 접속된다. 저항(R2)은 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극과 제1 전원 라인(Vccp) 사이에 접속된다.The first constant
제2 정 전류원(12)은 제1 트랜지스터(M1)의 소스 전극과 제2 트랜지스터(M2)의 소스 전극이 접속되는 제2 노드(N2)와 네거티브의 전원 전압(예컨대, -12V)이 공급되는 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속되고, 제2 노드(N2) 측으로부터 제2 전원 라인(Vccn) 측으로 전류를 출력하는 회로이다. 예컨대, 제2 정 전류원(12)은 제1 정 전류원(11)과 동일한 크기의 전류를 흘리도록 설계된다.The second constant
제2 정 전류원(12)은 예컨대 트랜지스터(Q2), 저항(R3), 및 저항(R4)을 포함한다. 트랜지스터(Q2)는 예컨대 NPN 트랜지스터이다. 트랜지스터(Q2)의 콜렉터 전극은 제2 노드(N2)에 접속된다. 저항(R3)은 트랜지스터(Q2)의 에미터 전극과 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속된다. 저항(R4)은 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극과 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속된다.The second constant
아울러, 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)의 회로 구성은 도 2에 예시된 것에 한정되지 않으며, 다양한 회로 구성을 채용할 수 있다.In addition, the circuit configurations of the first constant
제1 제어 회로(13)와 제2 제어 회로(14)는 제어 신호(CNT1)에 따라서 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제어부로서 기능한다. 즉, 제1 제어 회로(13)는 제1 정 전류원(11)에 의한 전류의 출력과 차단을 제어하는 회로이며, 제2 제어 회로(14)는 제2 정 전류원(12)에 의한 전류의 출력과 차단을 제어하는 회로이다.The
제1 제어 회로(13)는 제어 신호(CNT1)에 따라서 제1 정 전류원(11)을 구성하는 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극의 전압을 제1 전원 라인(Vccp)의 전원 전압(+12V)보다 낮춤으로써 제1 정 전류원(11)을 활성화(기동)시키고, 제1 정 전류원(11)으로부터의 전류의 출력을 가능하게 한다.The
구체적으로는, 제1 제어 회로(13)는 저항(R5)과 트랜지스터(M3)를 포함한다. 저항(R5)의 일단은 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극에 접속된다. 트랜지스터(M3)는 예컨대 N채널형 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)이다. 트랜지스터(M3)의 소스 전극은 제1 전원 라인(Vccp)의 전압보다 낮은 전위(예컨대, 그라운드 전위(GND)(=0V))에 접속된다. 트랜지스터(M3)의 드레인 전극은 저항(R5)의 타단에 접속된다. 트랜지스터(M3)의 게이트 전극에는 제어 신호(CNT1)가 입력된다.Specifically, the
제2 제어 회로(14)는 제어 신호(CNT1)에 따라서 제2 정 전류원(12)을 구성하는 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극의 전압을 제2 전원 라인(Vccn)의 전원 전압(-12V)보다 높임으로써 제2 정 전류원(12)에 의한 전류의 출력을 가능하게 한다.The
구체적으로는, 제2 제어 회로(14)는 저항(R6, R7, R8)과 트랜지스터(M4, M5)를 포함한다. 저항(R6)의 일단은 제2 정 전류원(12)을 구성하는 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극에 접속된다. 저항(R7)의 일단은 저항(R6)의 타단에 접속되고, 저항(R7)의 타단은 제2 전원 라인(Vccn)에 접속된다.Specifically, the
트랜지스터(M4, M5)는 예컨대 P채널형 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)이다. 트랜지스터(M4)의 소스 전극은 제2 전원 라인의 전원 전압(-12V)보다 높은 전위(예컨대, 그라운드 전위(GND))에 접속된다. 트랜지스터(M4)의 드레인 전극은 저항(R7)의 일단에 접속된다. 저항(R8)의 일단은 트랜지스터(M4)의 게이트 전극에 접속되고, 저항(R8)의 타단은 제2 전원 라인(Vccn)에 접속된다.The transistors M4 and M5 are, for example, P-channel type field effect transistors (MOSFETs). The source electrode of the transistor M4 is connected to a potential higher than the power supply voltage (-12V) of the second power line (eg, ground potential GND). The drain electrode of transistor M4 is connected to one end of resistor R7. One end of the resistor R8 is connected to the gate electrode of the transistor M4, and the other end of the resistor R8 is connected to the second power line Vccn.
트랜지스터(M5)의 소스 전극은 제어 신호(CNT1)의 하이 레벨에 상당하는 전위, 즉 내부 전원 라인(Vdd)(+3.3V)에 접속된다. 트랜지스터(M5)의 드레인 전극은 저항(R8)의 일단에 접속된다. 트랜지스터(M5)의 게이트 전극에는 제어 신호(CNT1)가 입력된다.The source electrode of the transistor M5 is connected to a potential corresponding to the high level of the control signal CNT1, that is, to the internal power supply line Vdd (+3.3V). The drain electrode of the transistor M5 is connected to one end of the resistor R8. The control signal CNT1 is input to the gate electrode of the transistor M5.
여기서, 스위치(SW1)로서의 아날로그 스위치(10)의 동작에 대해서 설명한다.Here, the operation of the
먼저, 제어 신호(CNT1)가 로우 레벨(0V)인 경우를 고려한다.First, consider the case where the control signal CNT1 is at a low level (0V).
이 경우, 제1 제어 회로(13)는 제1 정 전류원(11)을 전류 출력이 불능인 불활성 상태(전류 차단 상태)로 한다. 구체적으로는, 제어 신호(CNT1)가 로우 레벨인 경우, 제1 제어 회로(13)의 트랜지스터(M3)가 오프 된다. 이에 의해, 제1 정 전류원(11)의 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극이 저항(R2)에 의해 제1 전원 라인(Vccp)의 전압(+12V)으로 풀업 되므로 트랜지스터(Q1)가 오프 되고, 제1 정 전류원(11)으로부터의 전류의 출력이 정지된다.In this case, the
또한, 제어 신호(CNT1)가 로우 레벨인 경우, 제2 제어 회로(14)는 제2 정 전류원(12)을 전류 출력이 불능인 불활성 상태로 한다. 구체적으로는, 제어 신호(CNT1)가 로우 레벨인 경우, 제2 제어 회로(14)의 트랜지스터(M5)가 온 된다. 이에 의해, 트랜지스터(M4)의 게이트 전극이 내부 전원 라인(Vdd)의 전원 전압(=3.3V) 부근까지 상승되므로 트랜지스터(M4)가 오프 된다. 이에 의해, 제1 정 전류원(11)의 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극이 저항(R6, R7)에 의해 제2 전원 라인(Vccn)의 전압(-12V)으로 풀다운 되므로 트랜지스터(Q2)가 오프 되고, 제2 정 전류원(12)으로부터의 전류의 출력이 정지된다.Also, when the control signal CNT1 is at a low level, the
상술한 바와 같이, 제어 신호(CNT1)가 로우 레벨인 경우, 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)으로부터의 전류 출력이 정지된다. 이에 의해, 전압 발생 회로(15)(제너 다이오드(ZD) 및 저항(R8))에 의해 트랜지스터(M1, M2)의 게이트ㆍ소스간 전압이 0V가 되므로 트랜지스터(M1, M2)가 오프 된다. 그 결과, 신호 생성 회로(1)의 출력 단자와 외부 단자(HC) 사이가 비도통 상태가 된다. 이때, 상술한 바와 같이 제1 정 전류원(11) 뿐만 아니라 제2 정 전류원(12)도 정지되므로, 제2 노드(N2)에 네거티브의 전압이 발생되는 일은 없다.As described above, when the control signal CNT1 is at a low level, current output from the first constant
다음에, 제어 신호(CNT1)가 하이 레벨(3.3V)인 경우를 고려한다. 이 경우, 제1 제어 회로(13)는 제1 정 전류원(11)을 전류 출력이 가능한 활성 상태로 한다. 구체적으로는, 제어 신호(CNT1)가 하이 레벨인 경우, 제1 제어 회로(13)의 트랜지스터(M3)가 온 된다. 이에 의해, 제1 전원 라인(Vccp)의 전원 전압(+12V)과 그라운드 전위(0V) 사이에 저항(R5) 및 저항(R2)이 접속되게 되므로, 제1 정 전류원(11)의 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극에는 저항(R5)과 저항(R2)의 분압비에 따른 전압이 인가된다. 그 결과, 트랜지스터(Q1)가 온 되고, 제1 정 전류원(11)으로부터 전류가 출력된다.Next, consider the case where the control signal CNT1 is at a high level (3.3V). In this case, the
또한, 제어 신호(CNT1)가 하이 레벨(3.3V)인 경우, 제2 제어 회로(14)는 제2 정 전류원(12)을 전류 출력이 가능한 활성상태로 한다. 구체적으로는, 제어 신호(CNT1)가 하이 레벨인 경우, 제2 제어 회로(14)의 트랜지스터(M5)가 오프 된다. 이에 의해, 트랜지스터(M4)의 게이트 전극이 제2 전원 라인(Vccn)의 전원 전압(-12V)으로 풀다운 되므로 트랜지스터(M4)가 온 된다. 이에 의해, 그라운드 전위(0V)와 제2 전원 라인(Vccn)의 전원 전압(-12V) 사이에 저항(R7) 및 저항(R6)이 접속되게 되므로, 제2 정 전류원(12)의 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극에는 저항(R7)과 저항(R6)의 분압비에 따른 전압이 인가된다. 그 결과, 트랜지스터(Q2)가 온 되고, 제2 정 전류원(12)으로부터 전류가 출력된다.Also, when the control signal CNT1 has a high level (3.3V), the
제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)으로부터 전류가 출력되는 경우, 제1 정 전류원(11)으로부터 출력된 전류는 주로 전압 발생 회로(15)로서의 제너 다이오드(ZD) 및 저항(R8)을 경유하여 제2 정 전류원(12)에 흘러 들어간다. 이에 의해, 전압 발생 회로(15)는 트랜지스터(M1, M2)의 게이트ㆍ소스 간에 트랜지스터(M1, M2)의 임계값 전압보다 큰 전압을 발생시킨다. 그 결과, 트랜지스터(M1, M2)가 온 되고, 외부 단자(HC)와 신호 생성 회로(1)의 출력 단자가 도통 상태가 된다. 이때, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 전류가 동일하면, 제2 노드(N2)의 전압은 포지티브 측의 전원 전압(+12V)과 네거티브 측의 전원 전압(-12V)의 중간 전압(예컨대, 0V)이 된다.When current is output from the first constant
이상으로, 실시형태 1에 따른 측정 장치(100)가 구비하는 스위치(SW1)로서의 아날로그 스위치(전자 회로)(10)는 트랜지스터(M1, M2)와, 트랜지스터(M1)의 제어 전극(게이트 전극)과 트랜지스터(M2)의 제어 전극이 접속되는 제1 노드(N1)와 포지티브의 전원 전압(예컨대, +12V)이 공급되는 제1 전원 라인(Vccp) 사이에 접속되고, 제1 전원 라인(Vccp) 측으로부터 제1 노드(N1) 측으로 전류를 출력하는 제1 정 전류원(11)과, 트랜지스터(M1)의 제1 주 전극(소스 전극)과 트랜지스터(M2)의 제1 주 전극이 접속되는 제2 노드(N2)와 제1 노드(N1) 사이에 접속되고 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 흐르는 전류에 따라서 전압을 발생시키는 전압 발생 회로(15)와, 제2 노드(N2)와 네거티브의 전원 전압(예컨대, -12V)이 공급되는 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속되고 제2 노드(N2) 측으로부터 제2 전원 라인(Vccn) 측으로 전류를 출력하는 제2 정 전류원(12)과, 제어 신호(CNT1)에 따라서 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제어부로서의 제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14)를 구비한다.As described above, the analog switch (electronic circuit) 10 as the switch SW1 included in the
상기 구성을 갖는 아날로그 스위치(10)에 의하면, 상술한 바와 같이, 제어 신호(CNT1)에 의해 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)을 활성상태로 함으로써 트랜지스터(M1, M2)를 온 시킬 수 있다. 여기서, 트랜지스터(M1, M2)에 파워 트랜지스터를 채용함으로써, 트랜지스터(M1, M2)에 수 백mA 이상의 대전류를 흘리는 것이 가능해짐과 동시에, 릴레이에 비해서 온/오프의 전환시간을 짧게 할 수 있다.According to the
또한, 상기 구성을 갖는 아날로그 스위치(10)에 의하면, 제어 신호(CNT1)에 의해 트랜지스터(M1, M2)를 오프 시킬 때, 상술한 바와 같이, 제1 정 전류원(11) 뿐만 아니라 제2 정 전류원(12)도 불활성 상태(전류 차단 상태)가 되므로 제2 노드(N2)에 네거티브의 전압이 발생되는 일은 없다. 이에 의하면, 아날로그 스위치(10)(스위치(SW1))가 오프 되는 기간에서, 측정 대상물(20)에 대해서 외부 단자(HC)를 통해서 네거티브의 전압이 정상적으로 계속 인가되는 일이 없으므로 측정 대상물(20)의 손상을 방지할 수 있다.In addition, according to the
따라서, 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치(10)에 의하면, 접속 대상물로서의 측정 대상물(20)의 손상을 방지하면서, 보다 짧은 온/오프 시간으로 대전류를 흘리게 하는 것이 가능해진다.Therefore, according to the
또한, 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치(10)에서, 제1 정 전류원(11)은 콜렉터 전극이 제1 노드(N1)에 접속된 트랜지스터(Q1)(PNP 트랜지스터)와, 트랜지스터(Q1)의 에미터 전극과 제1 전원 라인(Vccp)(+12V) 사이에 접속된 저항(R1)과, 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극과 제1 전원 라인(Vccp) 사이에 접속된 저항(R2)을 포함한다. 또한, 제2 정 전류원(12)은 콜렉터 전극이 제2 노드(N2)에 접속된 트랜지스터(Q2)(NPN 트랜지스터)와, 트랜지스터(Q2)의 에미터 전극과 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속된 저항(R3)과, 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극과 제2 전원 라인(Vccn) 사이에 접속된 저항(R4)을 포함한다. 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)으로서 상기 회로 구성을 채용함으로써, 전류의 출력과 차단을 전환 가능한 정 전류원을 용이하게 실현할 수 있다.Further, in the
또한, 상기 실시형태에서, 제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14)가 하나의 제어 신호(CNT1)에 따라서 동작되는 경우를 예시했으나, 이에 한정되지 않는다. 제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14)는 서로 다른 제어 신호에 기초하여 동작될 수 있다. 이하, 상세하게 설명한다.Also, in the above embodiment, the case where the
제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14)는 그것들을 구성하는 트랜지스터의 수나 종류가 다르다. 그렇기 때문에, 제어 신호(CNT1)에 따라서 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)의 활성 상태/불활성 상태가 전환되는 타이밍이 다르고, 그 전환 타이밍의 어긋남이 허용될 수 없는 경우가 있다.The
예컨대, 제2 제어 회로(14)는 일반적으로 N채널형 MOSFET보다 응답 속도가 늦는 P채널형 MOSFET가 트랜지스터(M4, M5)에 이용될 뿐만 아니라, 제2 정 전류원(12)의 활성 상태/불활성 상태를 전환하기 위해서 2개의 트랜지스터(M4, M5)의 온/오프를 전환하지 않으면 안 되기 때문에, 하나의 N채널형 MOSFET(트랜지스터(M3))에 의해 제1 정 전류원(11)의 활성 상태/불활성 상태를 전환하는 제1 제어 회로(13)에 비해서 응답 속도가 늦어질 가능성이 있다.For example, in the
제2 제어 회로(14)의 응답 속도가 제1 제어 회로(13)의 응답 속도보다 늦는 경우, 제2 노드(N2)의 전압이 이하와 같이 변화되는 것으로 고려된다.When the response speed of the
예컨대, 트랜지스터(M1, M2)를 온 시킬 때, 제1 정 전류원(11)이 제2 정 전류원(12)보다 빨리 기동된다. 그렇기 때문에, 순간적으로 제2 노드(N2)의 전압이 중간 전압(예컨대, 0V)보다 높은 전압이 되고, 그후, 제2 정 전류원(12)의 기동에 따라서 제2 노드(N2)의 전압이 중간 전압으로 정착된다.For example, when turning on the transistors M1 and M2, the first constant
한편, 트랜지스터(M1, M2)를 오프 시킬 때, 제1 정 전류원(11)이 제2 정 전류원(12)보다 먼저 정지된다. 그렇기 때문에, 순간적으로 제2 노드(N2)의 전압이 중간 전압(예컨대, 0V)보다 낮은 전압이 되고, 그후, 제2 정 전류원(12)의 정지에 따라서 제2 노드(N2)의 전압이 중간 전압으로 정착된다.Meanwhile, when turning off the transistors M1 and M2, the first constant
이와 같이, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 활성 상태/불활성 상태의 전환 타이밍이 어긋나면, 순간적으로 제2 노드(N2)의 전압이 변동될 가능성이 있다.In this way, if the switching timings of the active/inactive states of the first constant
이에, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 활성 상태/불활성 상태의 전환 타이밍의 어긋남을 감소시키기 위해 제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14)를 제어하는 제어 신호를 서로 다른 신호로 하는 것이 바람직하다.Therefore, in order to reduce the shift timing between the active/inactive state of the first constant
예컨대, 제1 제어 회로(13)에는 제어 신호로서 2값 신호인 제어 신호(CNT1)(제1 신호)가 입력되고, 제2 제어 회로(14)에는 제어 신호로서 2값 신호인 제어 신호(CNT1a)(제2 신호)가 입력되며, 제어 신호(CNT1a)의 위상은 제어 신호(CNT1)의 위상보다 진상(lead)인 것이 바람직하다. 즉, 제2 제어 회로(14)를 제어하기 위한 제어 신호(CNT1a)는 제어 신호(CNT1)보다 먼저 하이 레벨이 되고 제어 신호(CNT1)보다 먼저 로우 레벨이 되는 신호인 것이 바람직하다. 이에 의하면, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 활성 상태/불활성 상태의 전환 타이밍의 어긋남을 감소시키는 것이 가능해진다.For example, the control signal CNT1 (first signal), which is a binary signal, is input to the
<실시형태 2><
도 3은 실시형태 2에 따른 아날로그 스위치(10A)의 회로 구성을 도시하는 도면이다.Fig. 3 is a diagram showing the circuit configuration of the
도 3에 도시하는 아날로그 스위치(10A)는 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치(10)와 마찬가지로 측정 장치(100) 내의 스위치(SW1)로서 이용할 수 있다.The
실시형태 2에 따른 아날로그 스위치(10A)는 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)을 2개의 제어 회로가 아니라 하나의 제어 회로에 의해 제어하는 점에서 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치(10)와 다르며, 그 외의 점에서는 실시형태 1에 따른 아날로그 스위치(10)와 동일하다.The
구체적으로는, 도 3에 도시하는 바와 같이, 아날로그 스위치(10A)는 제1 제어 회로(13) 및 제2 제어 회로(14) 대신에 제어 회로(16)를 갖는다. 제어 회로(16)는 제어 신호(CNT1)에 따라서 트랜지스터(Q1)(PNP 트랜지스터)의 베이스 전극과 트랜지스터(Q2)(NPN 트랜지스터)의 베이스 전극 사이의 도통 및 비도통을 전환한다.Specifically, as shown in FIG. 3 , the
제어 회로(16)는 예컨대 스위치(SWa)와 저항(R5, R6)을 갖는다. 스위치(SWa)는 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극과 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극 사이에 접속되고, 제어 신호(CNT1)에 따라서 온/오프가 전환되는 소자이다. 예컨대, 제어 신호(CNT1)가 하이 레벨(3.3V)인 경우에는 스위치(SWa)가 온 되고, 제어 신호(CNT1)가 로우 레벨(0V)인 경우에는 스위치(SWa)가 오프 된다. 스위치(SWa)로서, 예컨대, 일반적인 집적회로로 이루어지는 아날로그 스위치나 릴레이 등을 이용할 수 있다.The
저항(R5)은 스위치(SWa)의 일단과 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극 사이에 접속된다. 저항(R6)은 스위치(SWa)의 타단과 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극 사이에 접속된다.A resistor R5 is connected between one end of the switch SWa and the base electrode of the transistor Q1. Resistor R6 is connected between the other end of switch SWa and the base electrode of transistor Q2.
제어 신호(CNT1)가 로우 레벨(0V)인 경우, 제어 회로(16)에서 스위치(SWa)가 오프 상태가 되므로, 저항(R5)의 스위치(SWa) 측의 단자와 저항(R6)의 스위치(SWa) 측의 단자가 모두 개방 상태가 된다. 이에 의해, 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극이 저항(R2)에 의해 제1 전원 라인(Vccp)으로 풀업 되므로 트랜지스터(Q1)가 오프 된다. 또한, 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극이 저항(R4)에 의해 제2 전원 라인(Vccn)으로 풀다운 되므로 트랜지스터(Q2)가 오프 된다. 그 결과, 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)이 불활성 상태(전류 차단 상태)가 되어, 트랜지스터(M1, M2)가 오프 된다.When the control signal CNT1 is at a low level (0V), the switch SWa in the
한편, 제어 신호(CNT1)가 하이 레벨(3.3V)인 경우, 제어 회로(16)에서 스위치(SWa)가 온 상태가 되므로, 저항(R5)과 저항(R6)이 스위치(SWa)를 통해서 접속된다. 이에 의해, 제1 전원 라인(Vccp)(+12V)으로부터 저항(R2), 저항(R5), 스위치(SWa), 저항(R6), 및 저항(R4)을 경유하여 제2 전원 라인(Vccn)(-12V)으로 전류가 흐른다. 이에 의해, 트랜지스터(Q1, Q2)의 베이스ㆍ에미터 간에 전압이 각각 발생되고, 트랜지스터(Q1, Q2)가 모두 온 된다. 그 결과, 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)이 활성 상태가 되어, 트랜지스터(M1, M2)가 온 된다.On the other hand, when the control signal CNT1 is at a high level (3.3V), the switch SWa in the
또한, 도 3에 도시하는 바와 같이, 저항(R5)과 병렬로 용량(C5)을 접속하고, 저항(R6)과 병렬로 용량(C6)을 접속할 수 있다. 이에 의하면, 스위치(SWa)를 온 시킨 직후, 용량(C5) 및 용량(C6)을 경유하여 전류가 흐르므로, 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)을 보다 신속하게 기동시킬 수 있고, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12) 사이의 기동의 타이밍의 어긋남을 보다 감소시키는 것이 가능해진다.Further, as shown in Fig. 3, the capacitor C5 can be connected in parallel with the resistor R5, and the capacitor C6 can be connected in parallel with the resistor R6. According to this, immediately after the switch SWa is turned on, current flows through the capacitance C5 and C6, so that the first constant
이상으로, 실시형태 2에 따른 아날로그 스위치(10A)에 의하면, 실시형태 1에 따른 스위치(SW1)와 마찬가지로, 측정 대상물(20)의 손상을 방지하면서 보다 짧은 온/오프 시간으로 대전류를 흘리는 것이 가능해진다.As described above, according to the
또한, 실시형태 2에 따른 아날로그 스위치(10A)는 제어 신호(CNT1)에 따라서 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극과 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극 사이의 도통과 비도통을 전환하는 하나의 제어 회로(16)에 의해 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 활성 상태/불활성 상태의 전환을 행하므로, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12) 사이의 활성 상태/불활성 상태의 전환 타이밍의 어긋남을 보다 감소시키는 것이 가능해진다.In addition, the
구체적으로, 제어 회로(16)는 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극과 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극 사이에 접속되고 제어 신호(CNT1)에 따라서 온/오프가 전환되는 스위치(SWa)와, 스위치(SWa)의 일단과 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극 사이에 접속된 저항(R5)과, 스위치(SWa)의 타단과 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극 사이에 접속된 저항(R6)을 갖는다.Specifically, the
이에 의하면, 스위치(SWa)가 온 된 경우에는, 제1 정 전류원(11)을 구성하는 트랜지스터(Q1)의 베이스ㆍ에미터 사이와 제2 정 전류원(12)을 구성하는 트랜지스터(Q2)의 베이스ㆍ에미터 사이에 대략 동시에 전압을 발생시킬 수 있으므로, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 기동 타이밍의 어긋남을 보다 감소시킬 수 있다. 한편, 스위치(SWa)가 오프 된 경우에 신속하게 트랜지스터(Q1)의 베이스 전극이 제1 전원 라인(Vccp)으로 풀업 됨과 동시에 트랜지스터(Q2)의 베이스 전극이 제2 전원 라인(Vccn)으로 풀다운 되므로, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 정지 타이밍의 어긋남을 보다 감소시킬 수 있다.According to this, when the switch SWa is turned on, between the base and the emitter of the transistor Q1 constituting the first constant
또한, 저항(R5, R6)과 병렬로 용량(C5, C6)을 접속함으로써, 상술한 바와 같이, 제1 정 전류원(11)과 제2 정 전류원(12)의 기동 타이밍의 어긋남을 더 감소시킬 수 있다.In addition, by connecting the capacitors C5 and C6 in parallel with the resistors R5 and R6, as described above, the shift in starting timing between the first constant
하나의 제어 회로(16)에 의해 제1 정 전류원(11) 및 제2 정 전류원(12)의 동작을 제어하므로, 아날로그 스위치(10A)의 회로 규모를 감소시킬 수 있다. 이에 의해, 측정 장치(100)의 제조비를 억제하는 것이 가능해진다.Since the operations of the first constant
<실시형태의 확장><Expansion of Embodiments>
이상으로, 본원 발명자들에 의해 이루어진 발명을 실시형태에 기초하여 구체적으로 설명했으나, 본 발명은 그것에 한정되는 것이 아니며, 그 요지를 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 변경 가능한 것은 말할 필요도 없다.In the above, the invention made by the present inventors has been specifically described based on the embodiments, but the present invention is not limited thereto, and it goes without saying that various changes can be made without departing from the gist thereof.
예컨대, 상기 실시형태에 따른 아날로그 스위치(10, 10A)는 LCR 미터 등의 측정 장치 뿐만 아니라, 다양한 전기 기기 등에 탑재할 수 있다.For example, the analog switches 10 and 10A according to the above embodiment can be mounted on various electrical devices as well as measuring devices such as LCR meters.
또한, 상기 실시형태에서는, 스위치(SW1)가 아날로그 스위치(10, 10A)에 의해 실현되는 경우를 예시했으나, 이에 한정되지 않으며, 스위치(SW1) 이외의 스위치(SW2~SW4)도 아날로그 스위치(10, 10A)에 의해 실현될 수 있다.Further, in the above embodiment, the case where the switch SW1 is realized by the analog switches 10 and 10A has been exemplified, but it is not limited to this, and the switches SW2 to SW4 other than the switch SW1 are also
또한, 상술한 스위치(SW1~SW4)는 측정 장치(100)가 구비하는 아날로그 스위치 중 일부를 대표적으로 나타낸 것이며, 측정 장치(100)가 스위치(SW1~SW4) 이외의 아날로그 스위치를 구비할 수 있다. 이 경우, 스위치(SW1~SW4) 이외의 아날로그 스위치는 아날로그 스위치(10, 10A)와 동일한 회로 구성을 가질 수 있다.In addition, the above-described switches SW1 to SW4 represent some of the analog switches included in the
또한, 도 2 및 도 3에 도시한 회로 구성은 일례이며, 아날로그 스위치로서의 기본 동작을 행할 수 있으면, 상술한 회로 구성에 다양한 회로 소자를 적절히 추가할 수 있다.Note that the circuit configurations shown in Figs. 2 and 3 are examples, and various circuit elements can be appropriately added to the circuit configuration described above if the basic operation as an analog switch can be performed.
또한, 트랜지스터(M1, M2)로서 N채널형 MOSFET를 이용하는 경우를 예시했으나, P채널형 MOSFET를 이용할 수도 있다.Further, although the case of using N-channel type MOSFETs as the transistors M1 and M2 has been exemplified, P-channel type MOSFETs can also be used.
또한, 상기 실시형태에서는, 아날로그 스위치(10, 10A)가 디스크리트 부품에 의해 실현되는 경우를 예시했으나, 이에 한정되지 않으며, 아날로그 스위치로서 요구되는 사양이나 용도에 따라서 일부 또는 전부가 집적회로에 의해 실현될 수 있다.In addition, in the above embodiment, a case in which the analog switches 10 and 10A are realized by discrete components has been exemplified, but it is not limited to this, and some or all of them are realized by integrated circuits according to specifications and uses required as analog switches. It can be.
1 : 신호 생성 회로 2 : 전압 검출 회로
3 : 전류 검출 회로, 4, 5 : A/D 변환회로
6 : 데이터 처리 제어부, 7 : 기억부
8 : 조작부 9 : 출력부
10, 10A : 아날로그 스위치 11 : 제1 정 전류원
12 : 제2 정 전류원 13 : 제1 제어 회로
14 : 제2 제어 회로 15 : 전압 발생 회로
16 : 제어 회로 20 : 측정 대상물
100 : 측정 장치 HC, HP, LC, LP : 외부 단자
SW1~SW4, SWa : 스위치 CNT1~CNT4 : 제어 신호
Vccp : 제1 전원 라인 Vccn : 제2 전원 라인
Vdd : 내부 전원 라인 Q1 : 트랜지스터(PNP 트랜지스터)
Q2 : 트랜지스터(PNP 트랜지스터)
M1, M2, M3 : 트랜지스터(N채널형 MOSFET)
M4, M5 : 트랜지스터(P채널형 MOSFET)
R1~R8 : 저항 C5, C6…용량1: signal generating circuit 2: voltage detection circuit
3: current detection circuit, 4, 5: A/D conversion circuit
6: data processing control unit, 7: storage unit
8: control unit 9: output unit
10, 10A: analog switch 11: first constant current source
12: second constant current source 13: first control circuit
14: second control circuit 15: voltage generating circuit
16: control circuit 20: measurement target
100: measuring device HC, HP, LC, LP: external terminal
SW1~SW4, SWa : Switch CNT1~CNT4 : Control signal
Vccp: 1st power line Vccn: 2nd power line
Vdd: internal power line Q1: transistor (PNP transistor)
Q2: Transistor (PNP transistor)
M1, M2, M3: Transistor (N-channel type MOSFET)
M4, M5: Transistor (P-channel type MOSFET)
R1~R8: Resistance C5, C6… Volume
Claims (8)
상기 제1 트랜지스터의 제어 전극과 상기 제2 트랜지스터의 제어 전극이 접속되는 제1 노드와 포지티브의 전원 전압이 공급되는 제1 전원 라인 사이에 접속되고, 상기 제1 전원 라인 측으로부터 상기 제1 노드 측으로 전류를 출력하는 제1 정 전류원((constant current source)과,
상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 주 전극과 상기 제2 트랜지스터의 상기 제1 주 전극이 접속되는 제2 노드와 상기 제1 노드 사이에 접속되고, 상기 제1 노드와 상기 제2 노드 사이에 흐르는 전류에 따라서 전압을 발생시키는 전압 발생 회로와,
상기 제2 노드와 네거티브의 전원 전압이 공급되는 제2 전원 라인 사이에 접속되고, 상기 제2 노드 측으로부터 상기 제2 전원 라인 측으로 전류를 출력하는 제2 정 전류원과,
제어 신호에 따라서 상기 제1 정 전류원 및 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제어부를 구비하는, 전자 회로.a first transistor and a second transistor each having a first main electrode, a second main electrode, and a control electrode;
It is connected between a first node to which the control electrode of the first transistor and the control electrode of the second transistor are connected and a first power line to which a positive power supply voltage is supplied, from the side of the first power line to the side of the first node. A first constant current source that outputs current;
A current connected between a second node to which the first main electrode of the first transistor and the first main electrode of the second transistor are connected and the first node, and flowing between the first node and the second node a voltage generating circuit for generating a voltage according to;
a second constant current source connected between the second node and a second power supply line to which a negative power supply voltage is supplied, and outputting a current from the second node side to the second power line side;
and a control unit for switching output and cut-off of current by the first constant current source and the second constant current source according to a control signal.
상기 제1 정 전류원은 콜렉터 전극이 상기 제1 노드에 접속된 PNP 트랜지스터와, 상기 PNP 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제1 저항과, 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제2 저항을 포함하며,
상기 제2 정 전류원은 콜렉터 전극이 상기 제2 노드에 접속된 NPN 트랜지스터와, 상기 NPN 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제3 저항과, 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제4 저항을 포함하며,
상기 제어부는 상기 제어 신호에 따라서 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극 사이의 도통과 비도통을 전환하는 제어 회로를 포함하는, 전자 회로.According to claim 1,
The first constant current source includes a PNP transistor having a collector electrode connected to the first node, a first resistor connected between an emitter electrode of the PNP transistor and the first power line, a base electrode of the PNP transistor and the first power supply line. A second resistor connected between the first power lines,
The second constant current source includes an NPN transistor having a collector electrode connected to the second node, a third resistor connected between an emitter electrode of the NPN transistor and the second power line, a base electrode of the NPN transistor, and the A fourth resistor connected between the second power lines,
The electronic circuit of claim 1 , wherein the control unit includes a control circuit for switching between conduction and non-conduction between a base electrode of the PNP transistor and a base electrode of the NPN transistor according to the control signal.
상기 제어 회로는,
상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극 사이에 접속되고, 상기 제어 신호에 따라서 온/오프가 전환되는 스위치와,
상기 스위치의 일단과 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극 사이에 접속된 제5 저항과,
상기 스위치의 타단과 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극 사이에 접속된 제6 저항을 포함하는, 전자 회로.According to claim 2,
The control circuit,
a switch connected between the base electrode of the PNP transistor and the base electrode of the NPN transistor and turned on/off according to the control signal;
A fifth resistor connected between one end of the switch and the base electrode of the PNP transistor;
And a sixth resistor connected between the other end of the switch and the base electrode of the NPN transistor.
상기 제어 회로는,
상기 제5 저항과 병렬로 접속된 제1 용량과,
상기 제6 저항과 병렬로 접속된 제2 용량을 더 포함하는, 전자 회로.According to claim 3,
The control circuit,
a first capacitance connected in parallel with the fifth resistor;
and a second capacitance connected in parallel with the sixth resistor.
상기 제어부는,
상기 제1 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제1 제어 회로와 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력과 차단을 전환하는 제2 제어 회로를 구비하며,
상기 제1 정 전류원은 PNP 트랜지스터와, 상기 PNP 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제1 저항과, 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제1 전원 라인 사이에 접속된 제2 저항을 포함하며,
상기 제2 정 전류원은 NPN 트랜지스터와, 상기 NPN 트랜지스터의 에미터 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제3 저항과, 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극과 상기 제2 전원 라인 사이에 접속된 제4 저항을 포함하며,
상기 제1 제어 회로는 상기 제어 신호에 따라서 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극의 전압을 상기 포지티브의 전원 전압보다 낮춤으로써 상기 제1 정 전류원에 의한 전류의 출력을 가능하게 하고,
상기 제2 제어 회로는 상기 제어 신호에 따라서 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극의 전압을 상기 네거티브의 전원 전압보다 높임으로써 상기 제2 정 전류원에 의한 전류의 출력을 가능하게 하는, 전자 회로.According to claim 1,
The control unit,
A first control circuit for switching output and interruption of current by the first constant current source and a second control circuit for switching output and interruption of current by the second constant current source,
The first constant current source includes a PNP transistor, a first resistor connected between the emitter electrode of the PNP transistor and the first power line, and a second resistor connected between the base electrode of the PNP transistor and the first power line. including resistance,
The second constant current source includes an NPN transistor, a third resistor connected between the emitter electrode of the NPN transistor and the second power line, and a fourth resistance connected between the base electrode of the NPN transistor and the second power line. including resistance,
the first control circuit enables output of current by the first constant current source by lowering the voltage of the base electrode of the PNP transistor from the positive power supply voltage according to the control signal;
wherein the second control circuit enables output of current by the second constant current source by raising a voltage of a base electrode of the NPN transistor higher than the negative power supply voltage according to the control signal.
상기 제1 제어 회로는,
일단이 상기 PNP 트랜지스터의 베이스 전극에 접속된 제5 저항과,
소스 전극이 상기 포지티브의 전원 전압보다 낮은 전위에 접속되고, 드레인 전극이 상기 제5 저항의 타단에 접속되고, 게이트 전극에 상기 제어 신호가 입력되는 N채널형 제1 전계 효과 트랜지스터를 포함하며,
상기 제2 제어 회로는,
일단이 상기 NPN 트랜지스터의 베이스 전극에 접속된 제6 저항과,
일단이 상기 제6 저항의 타단에 접속되고, 타단이 상기 제2 전원 라인에 접속된 제7 저항과,
소스 전극이 상기 네거티브의 전원 전압보다 높은 전위에 접속되고, 드레인 전극이 상기 제 7 저항의 일단에 접속된 P채널형 제2 전계 효과 트랜지스터와,
일단이 상기 제2 전계 효과 트랜지스터의 게이트 전극에 접속되고, 타단이 상기 제2 전원 라인에 접속된 제8 저항과,
소스 전극이 상기 제어 신호의 하이 레벨에 상당하는 전위에 접속되고, 드레인 전극이 상기 제8 저항의 일단에 접속되고, 게이트 전극에 상기 제어 신호가 입력되는 P채널형 제3 전계 효과 트랜지스터를 포함하는, 전자 회로.According to claim 5,
The first control circuit,
A fifth resistor having one end connected to the base electrode of the PNP transistor;
An N-channel type first field effect transistor having a source electrode connected to a potential lower than the positive power supply voltage, a drain electrode connected to the other end of the fifth resistor, and a gate electrode receiving the control signal,
The second control circuit,
A sixth resistor having one end connected to the base electrode of the NPN transistor;
A seventh resistor having one end connected to the other end of the sixth resistor and the other end connected to the second power line;
a P-channel second field effect transistor having a source electrode connected to a potential higher than the negative power supply voltage and a drain electrode connected to one end of the seventh resistor;
An eighth resistor having one end connected to the gate electrode of the second field effect transistor and the other end connected to the second power line;
A third P-channel type field effect transistor having a source electrode connected to a potential corresponding to a high level of the control signal, a drain electrode connected to one end of the eighth resistor, and a gate electrode receiving the control signal. , electronic circuits.
상기 제1 제어 회로에는 상기 제어 신호로서 2값 신호인 제1 신호가 입력되고,
상기 제2 제어 회로에는 상기 제어 신호로서 2값 신호인 제2 신호가 입력되고,
상기 제2 신호의 위상은 상기 제1 신호의 위상 보다 진상(lead)인 것을 특징으로 하는, 전자 회로.According to claim 5 or 6,
A first signal, which is a binary signal, is input as the control signal to the first control circuit;
A second signal, which is a binary signal, is input as the control signal to the second control circuit;
The electronic circuit, characterized in that the phase of the second signal is a lead than the phase of the first signal.
적어도 하나의 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재한 전자 회로와,
상기 측정 대상물을 접속하기 위한 복수의 외부 단자와,
내부 회로를 구비하고,
상기 전자 회로의 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터는 상기 내부 회로와 적어도 하나의 상기 외부 단자 사이에 접속된, 측정 장치.As a measuring device for measuring the electrical properties of a measurement object,
At least one electronic circuit according to any one of claims 1 to 7;
a plurality of external terminals for connecting the measurement object;
Equipped with an internal circuit,
wherein the first transistor and the second transistor of the electronic circuit are connected between the internal circuit and at least one of the external terminals.
Applications Claiming Priority (2)
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---|---|---|---|---|
JPS61187125A (en) | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Hitachi Ltd | Method for orientating magnetic field of magnetic disk |
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS61187125A (en) | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Hitachi Ltd | Method for orientating magnetic field of magnetic disk |
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