KR20220144664A - Droplet information measuring apparatus and substrate treating system including the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 액적 정보 측정 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 기판 인쇄 설비에 적용될 수 있는 액적 정보 측정 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring droplet information and a substrate processing system having the same. More particularly, it relates to an apparatus for measuring droplet information applicable to a substrate printing facility and a substrate processing system having the same.
LCD 패널, PDP 패널, LED 패널 등의 디스플레이 장치를 제조하기 위해 투명 기판 상에 인쇄 공정(예를 들어, RGB 패터닝(RGB Patterning))을 수행하는 경우, 잉크젯 헤드 유닛(Inkjet Head Unit)을 구비하는 인쇄 장비가 사용될 수 있다.When performing a printing process (eg, RGB patterning) on a transparent substrate to manufacture a display device such as an LCD panel, PDP panel, LED panel, etc., having an inkjet head unit (Inkjet Head Unit) Printing equipment may be used.
잉크젯 헤드(Inkjet Head)의 노즐(Nozzle)에서 토출되는 액적(Droplet)의 속도 및 부피 등을 측정하는 경우, PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer) 방식의 계측기를 이용하면 드롭 와쳐(Drop Water)를 이용할 때보다 측정 시간을 단축시킬 수 있다.When measuring the speed and volume of droplets discharged from the nozzle of the inkjet head, using a PDPA (Phase Doppler Particle Analyzer) type measuring instrument is better than using Drop Water. The measurement time can be shortened.
그러나, PDPA 방식의 계측기는 잉크젯 헤드에서 토출된 액적이 프린지(Fringe) 영역을 통과할 때 장비 자체 검출기(Detector)에 포함된 윈도우(Window)(또는 렌즈(Lens))를 확인하여 액적이 프린지 영역을 통과했는지 또는 통과하지 않았는지의 유무만을 확인할 수 있을 뿐, 액적이 토출되는 위치를 확인할 수 없다.However, when the droplet ejected from the inkjet head passes through the fringe area, the PDPA-type measuring instrument checks the window (or lens) included in the detector itself, so that the droplet falls into the fringe area. It is only possible to check whether or not it has passed through or not, but it is not possible to check the location where the droplet is discharged.
본 발명에서 해결하고자 하는 과제는, PDPA 검사 장치에서 프린지 위치에 해당하는 지점을 확인하기 위해 노즐 뷰 카메라(Nozzle View Camera)를 설치하는 액적 정보 측정 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a droplet information measuring device for installing a nozzle view camera to check a point corresponding to a fringe position in a PDPA inspection device, and a substrate processing system having the same.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 액적 정보 측정 장치의 일 면(Aspect)은, 제1 광을 생성 및 출력하는 제1 발광 모듈; 상기 제1 광과 교차하는 제2 광을 생성 및 출력하는 제2 발광 모듈; 상기 제1 광과 상기 제2 광의 교차 영역을 통과하는 액적을 감지하는 검출 모듈; 상기 액적을 토출하는 노즐을 측정하는 이미지 획득 모듈; 및 상기 액적을 감지하여 얻은 정보 및/또는 상기 노즐을 측정하여 얻은 정보를 기초로 상기 액적에 대한 정보를 생성하는 제어 모듈을 포함한다.One side (Aspect) of the drop information measuring apparatus of the present invention for achieving the above object, a first light emitting module for generating and outputting a first light; a second light emitting module generating and outputting a second light intersecting the first light; a detection module for detecting a droplet passing through an intersection region of the first light and the second light; an image acquisition module for measuring a nozzle for discharging the droplet; and a control module that generates information about the droplet based on information obtained by detecting the droplet and/or information obtained by measuring the nozzle.
상기 이미지 획득 모듈 및 상기 검출 모듈은 서로 다른 시간에 작동할 수 있다.The image acquisition module and the detection module may operate at different times.
상기 이미지 획득 모듈은 상기 노즐을 통해 상기 액적이 토출되기 전 또는 그 후에 작동할 수 있다.The image acquisition module may operate before or after the droplet is ejected through the nozzle.
상기 이미지 획득 모듈은 상기 노즐을 측정할 때 상기 노즐의 하부로 이동하며, 상기 노즐을 측정한 후 상기 노즐의 하부를 제외한 나머지 영역으로 이동할 수 있다.The image acquisition module may move to a lower portion of the nozzle when measuring the nozzle, and may move to a region other than the lower portion of the nozzle after measuring the nozzle.
상기 이미지 획득 모듈은 작동하지 않을 때 캡에 의해 커버될 수 있다.The image acquisition module may be covered by a cap when not in operation.
상기 캡은 테프론, 쿼츠 및 유리 중 적어도 하나의 재질을 포함할 수 있다.The cap may include at least one of Teflon, quartz, and glass.
상기 액적 정보 측정 장치는, 상기 액적과 관련된 미스트를 흡입하는 진공 흡입 장치; 및 상기 이미지 획득 모듈을 세정하는 클리닝 시스템 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.The droplet information measuring device includes: a vacuum suction device for sucking the mist associated with the droplet; and a cleaning system for cleaning the image acquisition module.
상기 진공 흡입 장치 및/또는 상기 클리닝 시스템은 상기 이미지 획득 모듈이 작동하지 않을 때 작동할 수 있다.The vacuum suction device and/or the cleaning system may operate when the image acquisition module is not operating.
상기 제어 모듈은 상기 액적에 대한 정보로 상기 액적의 속도, 상기 액적의 부피, 및 상기 액적이 토출되는 위치를 생성할 수 있다.The control module may generate a velocity of the droplet, a volume of the droplet, and a position at which the droplet is discharged as information about the droplet.
또한, 상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 기판 처리 시스템의 일 면은, 기판 상에 토출되는 액적에 대한 정보를 생성하는 액적 정보 측정 장치; 및 상기 액적을 이용하여 상기 기판을 인쇄하는 기판 인쇄 장치를 포함하며, 상기 액적 정보 측정 장치는, 제1 광을 생성 및 출력하는 제1 발광 모듈; 상기 제1 광과 교차하는 제2 광을 생성 및 출력하는 제2 발광 모듈; 상기 제1 광과 상기 제2 광의 교차 영역을 통과하는 상기 액적을 감지하는 검출 모듈; 상기 액적을 토출하는 노즐을 측정하는 이미지 획득 모듈; 및 상기 액적을 감지하여 얻은 정보 및/또는 상기 노즐을 측정하여 얻은 정보를 기초로 상기 액적에 대한 정보를 생성하는 제어 모듈을 포함한다.In addition, one aspect of the substrate processing system of the present invention for achieving the above object, the droplet information measuring device for generating information on the droplets discharged on the substrate; and a substrate printing apparatus for printing the substrate using the droplet, wherein the droplet information measuring apparatus includes: a first light emitting module for generating and outputting first light; a second light emitting module generating and outputting a second light intersecting the first light; a detection module configured to detect the droplet passing through an intersection region of the first light and the second light; an image acquisition module for measuring a nozzle for discharging the droplet; and a control module that generates information about the droplet based on information obtained by detecting the droplet and/or information obtained by measuring the nozzle.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.The details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템의 내부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 구성하는 기판 인쇄 장치의 내부 구조를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 구성하는 기판 인쇄 장치의 내부 구조를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 구성하는 액적 정보 측정 장치의 내부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5는 도 4에 도시된 액적 정보 측정 장치를 구성하는 제1 발광 모듈 및 제2 발광 모듈의 배치 구조를 설명하기 위한 예시도이다.
도 6은 도 4에 도시된 액적 정보 측정 장치를 구성하는 검출 모듈의 역할을 설명하기 위한 예시도이다.
도 7은 도 4에 도시된 액적 정보 측정 장치를 구성하는 카메라 모듈의 역할을 설명하기 위한 예시도이다.1 is a diagram schematically illustrating an internal configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view schematically illustrating an internal structure of a substrate printing apparatus constituting a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
3 is a plan view schematically illustrating an internal structure of a substrate printing apparatus constituting a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
4 is a diagram schematically illustrating an internal configuration of an apparatus for measuring droplet information constituting a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an exemplary view for explaining an arrangement structure of a first light emitting module and a second light emitting module constituting the droplet information measuring apparatus shown in FIG. 4 .
FIG. 6 is an exemplary diagram for explaining the role of a detection module constituting the drop information measuring apparatus shown in FIG. 4 .
FIG. 7 is an exemplary view for explaining the role of a camera module constituting the drop information measuring apparatus shown in FIG. 4 .
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Advantages and features of the present invention, and a method of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments published below, but may be implemented in various different forms, and only these embodiments allow the publication of the present invention to be complete, and common knowledge in the technical field to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the possessor of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "위(on)" 또는 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 또는 층의 바로 위뿐만 아니라 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 소자가 "직접 위(directly on)" 또는 "바로 위"로 지칭되는 것은 중간에 다른 소자 또는 층을 개재하지 않은 것을 나타낸다.Reference to an element or layer “on” or “on” another element or layer includes not only directly on the other element or layer, but also with intervening other layers or other elements. include all On the other hand, reference to an element "directly on" or "directly on" indicates that no intervening element or layer is interposed.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)" 또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.Spatially relative terms "below", "beneath", "lower", "above", "upper", etc. It can be used to easily describe a correlation between an element or components and other elements or components. The spatially relative terms should be understood as terms including different orientations of the device during use or operation in addition to the orientation shown in the drawings. For example, when an element shown in the figures is turned over, an element described as "beneath" or "beneath" another element may be placed "above" the other element. Accordingly, the exemplary term “below” may include both directions below and above. The device may also be oriented in other orientations, and thus spatially relative terms may be interpreted according to orientation.
비록 제1, 제2 등이 다양한 소자, 구성요소 및/또는 섹션들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 소자, 구성요소 및/또는 섹션들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 소자, 구성요소 또는 섹션들을 다른 소자, 구성요소 또는 섹션들과 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 소자, 제1 구성요소 또는 제1 섹션은 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 소자, 제2 구성요소 또는 제2 섹션일 수도 있음은 물론이다.Although first, second, etc. are used to describe various elements, components, and/or sections, it should be understood that these elements, components, and/or sections are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one element, component, or sections from another. Accordingly, it goes without saying that the first element, the first element, or the first section mentioned below may be the second element, the second element, or the second section within the spirit of the present invention.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of describing the embodiments and is not intended to limit the present invention. In this specification, the singular also includes the plural, unless specifically stated otherwise in the phrase. As used herein, “comprises” and/or “comprising” refers to the presence of one or more other components, steps, operations and/or elements mentioned. or addition is not excluded.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used herein may be used with the meaning commonly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. In addition, terms defined in a commonly used dictionary are not to be interpreted ideally or excessively unless clearly defined in particular.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어 도면 부호에 상관없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. A description will be omitted.
본 발명은 PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer) 방식의 검사 장치에서 액적(Droplet)이 토출되는 위치를 확인하기 위해 노즐 뷰 카메라(Nozzle View Camera)를 설치하는 액적 정보 측정 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템에 관한 것이다. 이하에서는 도면 등을 참조하여 본 발명을 자세하게 설명하기로 한다.The present invention relates to an apparatus for measuring droplet information in which a nozzle view camera is installed in order to check a position at which a droplet is discharged in a PDPA (Phase Doppler Particle Analyzer) type inspection apparatus, and a substrate processing system having the same. it's about Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to drawings and the like.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템의 내부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a diagram schematically illustrating an internal configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
도 1에 따르면, 기판 처리 시스템(100)은 기판 인쇄 장치(110) 및 액적 정보 측정 장치(120)를 포함하여 구성될 수 있다.Referring to FIG. 1 , the
기판 인쇄 장치(110)는 디스플레이 장치에 이용되는 기판을 인쇄하는 것이다. 이러한 기판 인쇄 장치(110)는 예를 들어, 순환계 잉크젯 시스템을 이용하여 기판 상에 잉크 등을 토출하는 인쇄 장비로 구현될 수 있다.The
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 구성하는 기판 인쇄 장치의 내부 구조를 개략적으로 도시한 사시도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 구성하는 기판 인쇄 장치의 내부 구조를 개략적으로 도시한 평면도이다.2 is a perspective view schematically illustrating an internal structure of a substrate printing apparatus constituting a substrate processing system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a printed circuit board constituting the substrate processing system according to an embodiment of the present invention. It is a plan view schematically showing the internal structure of the device.
기판 인쇄 장치(110)는 순환계 잉크젯 시스템을 이용하여 기판을 인쇄하는 경우, 예를 들어 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 베이스 부재(210), 기판 지지 유닛(220), 갠트리 유닛(Gantry Unit; 230), 갠트리 이동 유닛(240), 잉크젯 헤드 유닛(Inkjet Head Unit; 250), 잉크젯 헤드 이동 유닛(260) 및 잉크 공급 유닛(270)을 포함하여 구성될 수 있다.When the
베이스 부재(210)는 기판 인쇄 장치(110)의 몸체를 구성하는 것이다. 기판 지지 유닛(220)은 이러한 베이스 부재(210)의 상부에 설치될 수 있다.The
기판 지지 유닛(220)은 기판(S)이 인쇄 처리되는 동안, 기판(S)을 지지하는 것이다. 이러한 기판 지지 유닛(220)은 지지판(221), 회전 구동 부재(222) 및 직선 구동 부재(223)를 포함하여 구성될 수 있다.The
지지판(221)은 기판(S)이 안착될 수 있도록 제공되는 것이다. 회전 구동 부재(222)는 이러한 지지판(221)의 하부에 설치될 수 있다.The
회전 구동 부재(222)는 지지판(221)을 회전시키는 것이다. 이러한 회전 구동 부재(222)는 지지판(221)의 길이 방향(제1 방향(10)) 또는 지지판(221)의 폭 방향(제2 방향(20))에 대해 수직 방향(제3 방향(30))으로 형성되는 회전 중심축을 이용하여 지지판(221)을 회전시킬 수 있다.The
지지판(221)이 회전 구동 부재(222)에 의해 회전하게 되면, 기판(S)도 지지판(221)을 따라 회전할 수 있다. 예를 들어, 잉크 액적(Ink Droplet)이 도포될 기판(S) 상에 형성된 셀의 장변 방향이 제1 방향(10)을 향하는 경우, 회전 구동 부재(222)는 셀의 장변 방향이 제2 방향(20)을 향하도록 기판(S)을 회전시킬 수 있다.When the
직선 구동 부재(223)는 지지판(221)을 직선 이동시키는 것이다. 이러한 직선 구동 부재(223)는 지지판(221)을 제2 방향(20)으로 직선 이동시킬 수 있다. 직선 구동 부재(223)는 가이드 부재(224) 및 슬라이더(225)를 포함하여 구성될 수 있다.The
가이드 부재(224)는 지지판(221)의 이동 경로를 가이드하는 것이다. 이러한 가이드 부재(224)는 베이스 부재(210)의 상부 중심에서 제2 방향(20)을 길이 방향으로 하여 연장 형성될 수 있다.The
슬라이더(225)는 가이드 부재(224)를 따라 직선 이동하는 것이다. 슬라이더(225)는 이를 위해 리니어 모터(미도시)를 내장할 수 있다. 한편, 회전 구동 부재(222)는 슬라이더(225)의 상부에 설치될 수 있다.The
갠트리 유닛(230)은 잉크젯 헤드 유닛(250)을 지지하는 것이다. 이러한 갠트리 유닛(230)은 기판 지지 유닛(220)의 상부에 설치될 수 있다. 갠트리 유닛(230)은 가이드 부재(224)의 길이 방향에 대해 수직 방향(제1 방향(10))을 길이 방향으로 하여 설치될 수 있다.The
갠트리 이동 유닛(240)은 갠트리 유닛(230)을 제2 방향(20)으로 직선 이동시키는 것이다. 이러한 갠트리 이동 유닛(240)은 갠트리 유닛(230)의 내부에 설치될 수 있으며, 제1 이동 모듈(241) 및 제2 이동 모듈(242)을 포함하여 구성될 수 있다.The
제1 이동 모듈(241)은 갠트리 유닛(230) 내에서 일 단부에 제공될 수 있다. 이러한 제1 이동 모듈(241)은 베이스 부재(210)의 상부 일측에 설치되는 제1 가이드 레일(281)을 따라 슬라이딩 이동할 수 있다.The first moving
제2 이동 모듈(242)은 갠트리 유닛(230) 내에서 타 단부에 제공될 수 있다. 이러한 제2 이동 모듈(242)은 베이스 부재(210)의 상부 타측에 설치되는 제2 가이드 레일(282)을 따라 슬라이딩 이동할 수 있다.The second moving
잉크젯 헤드 유닛(250)은 기판(S) 상에 액적(Droplet) 형태로 잉크를 토출하는 것이다. 이러한 잉크젯 헤드 유닛(250)은 갠트리 유닛(230)의 측면에 설치되며, 갠트리 유닛(230)에 의해 지지될 수 있다.The
잉크젯 헤드 유닛(250)은 잉크젯 헤드 이동 유닛(260)에 의해 갠트리 유닛(230)의 길이 방향(제1 방향(10))으로 직선 이동할 수 있다. 그러나 본 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다. 잉크젯 헤드 유닛(250)은 갠트리 유닛(230)의 높이 방향(제3 방향(30))으로 직선 이동하는 것도 가능하다. 이 경우, 잉크젯 헤드 유닛(250)은 잉크젯 헤드 이동 유닛(260) 상에서 이동할 수 있다. 한편, 잉크젯 헤드 유닛(250)은 잉크젯 헤드 이동 유닛(260)에 대해 제3 방향(30)에 나란한 축을 중심으로 회전하는 것도 가능하다.The
잉크젯 헤드 유닛(250)은 갠트리 유닛(230)에 적어도 하나 설치될 수 있다. 잉크젯 헤드 유닛(250)은 예를 들어, 제1 헤드 모듈(251), 제2 헤드 모듈(252) 및 제3 헤드 모듈(253)을 포함하여 갠트리 유닛(230)에 세 개 설치될 수 있다. 잉크젯 헤드 유닛(250)은 이와 같이 복수 개 설치되는 경우, 갠트리 유닛(230)의 길이 방향(제1 방향(10))을 따라 순차적으로 배치될 수 있다.At least one
제1 헤드 모듈(251), 제2 헤드 모듈(252) 및 제3 헤드 모듈(253)은 노즐(미도시) 및 노즐 플레이트(미도시)를 각각 포함하여 구성될 수 있다. 노즐은 잉크 액적을 토출하는 것으로서, 노즐 플레이트 상에 설치될 수 있다. 노즐은 각각의 헤드 모듈(251, 252, 253)에 복수 개(예를 들어, 128개, 256개 등) 제공될 수 있다.The
잉크젯 헤드 유닛(250)은 노즐의 개수에 대응하는 수만큼의 압전 소자를 포함할 수 있다. 이때, 각각의 노즐의 잉크 액적 토출량은 압전 소자에 인가되는 전압의 제어에 의해 각기 독립적으로 조절될 수 있다.The
잉크젯 헤드 이동 유닛(260)은 잉크젯 헤드 유닛(250)을 직선 이동시키는 것이다. 이러한 잉크젯 헤드 이동 유닛(260)은 잉크젯 헤드 유닛(250)의 개수에 대응하여 기판 인쇄 장치(110) 내에 제공될 수 있다. 이 경우, 복수 개의 잉크젯 헤드 유닛(250)은 개별적으로 이동될 수 있다.The inkjet
한편, 잉크젯 헤드 이동 유닛(260)은 기판 인쇄 장치(110) 내에 단일 개 제공될 수도 있다. 이 경우, 복수 개의 잉크젯 헤드 유닛(250)은 개별적으로 이동되지 않고, 동시에 이동될 수 있다.Meanwhile, a single inkjet
잉크 공급 유닛(270)은 잉크젯 헤드 유닛(250)에 잉크를 공급하는 것이다. 이러한 잉크 공급 유닛(270)은 잉크 저장 탱크(271) 및 압력 조절 모듈(272)을 포함하여 구성될 수 있다.The
잉크 저장 탱크(271)는 잉크를 저장하는 것이다. 이러한 잉크 저장 탱크(271)는 갠트리 유닛(230)의 측면에 결합되어 설치될 수 있다.The
압력 조절 모듈(272)은 잉크 저장 탱크(271)의 내부 압력을 조절하는 것이다. 잉크 저장 탱크(271)는 압력 조절 모듈(272)에 의해 제공되는 압력을 토대로 적정량의 잉크를 잉크젯 헤드 유닛(250)로 공급할 수 있다.The
다시 도 1을 참조하여 설명한다.It will be described again with reference to FIG. 1 .
액적 정보 측정 장치(120)는 잉크젯 헤드 유닛(250)에 의해 기판(S) 상에 토출되는 액적에 대한 정보를 측정하는 것이다. 본 실시예에서 액적 정보 측정 장치(120)는 액적의 속도, 부피 등을 측정할 수 있으며, 이에 더하여 액적이 토출되는 위치(즉, 노즐에 대한 좌표 정보)도 측정할 수 있다. 액적 정보 측정 장치(120)는 예를 들어, 노즐 뷰 카메라(Nozzle View Camera)를 갖춘 PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer) 방식의 검사 장치(계측기)로 구현될 수 있다.The droplet
잉크젯 프린팅 기술(Inkjet Printing Technology)는 현재 산업에 떠오르는 주요 기술 중 하나로, 특히 진공 증착 방식의 생산 개념을 뛰어넘어 상온/대기중 생산이 가능한 고부가가치 디스플레이 산업에 있어서 중요한 핵심 기술로 자리잡고 있다.Inkjet Printing Technology (Inkjet Printing Technology) is one of the major technologies emerging in the industry. In particular, it is positioned as an important core technology in the high value-added display industry that can be produced at room temperature/atmospheric temperature beyond the vacuum deposition method production concept.
하지만, 진공 증착 공정 방식과는 다르게 잉크젯 헤드의 노즐에서 토출되는 극미량의 액적을 제어하는 기술에 있어서 액적의 속도, 토출량 등을 계측하는 계측기의 개발 또한 활발히 이뤄지고 있다.However, unlike the vacuum deposition process method, in a technology for controlling a very small amount of droplets discharged from a nozzle of an inkjet head, a measuring instrument for measuring the speed and discharge amount of the droplets is being actively developed.
주요 계측기인 드롭 와쳐(Drop Watcher)의 경우, 초고속 카메라를 통하여 액적의 드랍에 대한 이미징, 이를 바탕으로 액적의 속도, 각도, 부피 등을 계산한다. 하지만, 이 측정기의 경우 계측간 과도한 소요 시간으로 인하여 계측되어지지 않은 노즐 및 헤드의 노즐 막힘 현상을 유도하며, 특히 대량 양산 시 사용하는 다량의 헤드에 대해 각각 계측하여 노즐의 특성을 평가하는 데 있어서 제한 사항이 많다.In the case of the Drop Watcher, a major instrument, the image of the drop is imaged through a high-speed camera, and the velocity, angle, and volume of the drop are calculated based on this. However, in the case of this measuring instrument, it induces nozzle clogging of unmeasured nozzles and heads due to excessive time required between measurements. There are many limitations.
계측기의 측정 시간을 극복하고자, 레이저(Laser)를 이용하여 실시간으로 계측이 진행되는 PDPA 방식의 계측기를 활용하고 있다. PDPA 장치는 두 개의 레이저가 교차하며 보강 간섭을 이루고, 프린지(Fringe)라는 영역을 형성한다. 헤드의 노즐에서 토출된 액적이 프린지 영역을 통과하게 되면, 디텍터(Detector)에서 이를 감지 후 전기적 신호로 변환하여 액적의 속도 및 부피를 빠르게 측정한다.In order to overcome the measurement time of the measuring instrument, a PDPA type measuring instrument that uses a laser to measure in real time is used. In a PDPA device, two lasers intersect to form constructive interference, forming a region called a fringe. When the droplet discharged from the nozzle of the head passes through the fringe area, the detector detects it and converts it into an electrical signal to quickly measure the speed and volume of the droplet.
PDPA 장치는 드롭 와쳐 장치보다 10배 이상 빠른 계측 속도를 가지고 있지만, 단순히 빠른 계측 속도만으로는 양산 장비에 적용하기에는 한계가 있다. 가장 큰 문제점으로 계측 좌표 획득에 대한 이슈가 있다.Although the PDPA device has a measurement speed that is more than 10 times faster than the drop watcher device, there is a limit to applying it to mass production equipment simply with the high measurement speed. As the biggest problem, there is an issue in obtaining measurement coordinates.
잉크젯 헤드의 노즐 사이즈는 약 30㎛의 직경을 가지고 있으며, 토출되는 액적의 직경 또한 유사하다. 수십 ㎛ 직경의 액적이 PDPA의 프린지 영역을 통과하여 계측이 되는 과정에서, 액적이 토출되는 노즐 표면과 프린지의 수직 얼라인(Align)이 맞지 않으며, 프린지 영역(예를 들어, 100㎛ 이하)을 벗어나게 되면 계측이 되지 않는다. 더불어, 강력한 에너지(예를 들어, 500mW 이하)를 수반하는 레이저를 육안으로 직접 얼라인하는 방법 또한 바람직하지 못하다.The nozzle size of the inkjet head has a diameter of about 30 μm, and the diameter of the ejected droplets is also similar. In the process where a droplet with a diameter of several tens of μm passes through the fringe area of the PDPA and is measured, the nozzle surface from which the droplet is ejected and the vertical alignment of the fringe do not match, and the fringe area (for example, 100 μm or less) If it is out of range, it will not be counted. In addition, a method of directly aligning a laser with strong energy (eg, 500 mW or less) with the naked eye is also undesirable.
따라서, 현재의 하드웨어 상으로는 얼라인 이슈가 항상 존재하며, 특히 허공에 있는 약 30㎛의 다수 개의 노즐의 위치를 프린지의 위치와 정확히 얼라인하는 것은 많은 시간을 필요로 한다. 또한, 노즐의 좌표를 획득하기 위해 장시간 레이저 빔을 헤드의 노즐 표면부에 조사했을 때, 노즐의 막힘 및 열손상 등 헤드의 토출 특성에 악영향을 미친다. 이와 같은 이유로 빠른 시간 내에 각 노즐의 위치를 파악하지 못하면 PDPA의 활용도는 낮아질 수밖에 없다.Accordingly, there is always an alignment issue on current hardware, and in particular, it takes a lot of time to precisely align the positions of a plurality of nozzles of about 30 μm in the air with the positions of the fringes. In addition, when a laser beam is irradiated to the nozzle surface of the head for a long period of time to obtain the coordinates of the nozzle, it adversely affects the discharge characteristics of the head, such as clogging of the nozzle and thermal damage. For this reason, if the position of each nozzle is not identified within a short time, the utilization of PDPA will inevitably decrease.
본 실시예에서 액적 정보 측정 장치(120)는 레이저 센서를 이용하여 액적의 속도, 부피 등을 측정할 수 있으며, 카메라 센서를 이용하여 액적이 토출되는 위치(즉, 노즐의 좌표 정보) 등을 측정할 수 있다.In the present embodiment, the droplet
직접적으로 레이저를 노즐 표면부에 조사하지 않고 노즐의 위치를 카메라를 통해 실시간으로 확인하고 좌표화하여 시스템을 제어한다면, 수 분 이내로 얼라인 시간을 줄일 수 있다. 또한, 단순히 프린지를 관찰할 목적이 아닌, 프린지 위치의 수직 방향에 해당하는 노즐을 찾는 것에 목적이 있으므로, 기존의 방법보다 더욱 효율적으로 빠르게 좌표 관리를 할 수 있다는 장점이 있다.If the laser is not directly irradiated onto the nozzle surface, but the position of the nozzle is checked in real time through a camera and coordinated to control the system, the alignment time can be reduced within a few minutes. In addition, since the purpose is not to simply observe the fringe, but to find a nozzle corresponding to the vertical direction of the position of the fringe, there is an advantage that coordinates can be managed more efficiently and quickly than the existing method.
더불어, 카메라를 사용하지 않을 때에는 오염의 방지를 위해 카메라를 이동하여 상부로부터 떨어지는 액적에 대한 오염을 미연에 방지할 수 있는 장점 또한 가지고 있어, 기존의 PDPA 계측기의 잉크젯 프린팅 기술 분야에 활용함에 있어 중요한 역할을 할 수 있을 것으로 판단된다.In addition, when the camera is not in use, it has the advantage of preventing contamination of droplets falling from the top by moving the camera to prevent contamination. considered to play a role.
이하에서는 도면 등을 참조하여 액적 정보 측정 장치(120)에 대하여 자세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, the drop
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 시스템을 구성하는 액적 정보 측정 장치의 내부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.4 is a diagram schematically illustrating an internal configuration of an apparatus for measuring droplet information constituting a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
도 4에 따르면, 액적 정보 측정 장치(120)는 제1 발광 모듈(310a), 제2 발광 모듈(310b), 검출 모듈(Detecting Module; 320), 이미지 획득 모듈(330) 및 제어 모듈(340)을 포함하여 구성될 수 있다.According to FIG. 4 , the droplet
제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 광을 생성하여 출력하는 것이다. 본 실시예에서, 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 레이저 광을 생성하여 출력할 수 있다. 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 예를 들어, 레이저 센서로 구현될 수 있다.The first
제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 출력된 광(410a, 410b)이 서로 교차되도록 광을 출력할 수 있다. 이 경우, 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이 상호 마주보는 방향으로 소정 각도(θ1, θ2) 틸트될 수 있다. 그러나, 본 실시예에서 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)의 자세가 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 나란하게 배치되는 것도 가능하다.The first
한편, 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)은 나란하게 배치되어 있다가, 각각 광(410a, 410b)을 출력할 때 상호 마주보는 방향으로 소정 각도 틸트되는 것도 가능하다. 도 5는 도 4에 도시된 액적 정보 측정 장치를 구성하는 제1 발광 모듈 및 제2 발광 모듈의 배치 구조를 설명하기 위한 예시도이다.Meanwhile, it is also possible that the first
검출 모듈(320)은 잉크젯 헤드 유닛(250)에 의해 토출되는 액적을 감지하는 것이다. 제1 발광 모듈(310a) 및 제2 발광 모듈(310b)에 의해 출력되는 광(410a, 410b)이 교차하면, 도 6에 도시된 바와 같이 보강 간섭이 발생하며 프린지 영역(420)을 형성한다. 검출 모듈(320)은 액적이 잉크젯 헤드 유닛(250)으로부터 토출된 후 이러한 프린지 영역(420)을 통과할 때, 액적을 감지할 수 있다. 도 6은 도 4에 도시된 액적 정보 측정 장치를 구성하는 검출 모듈의 역할을 설명하기 위한 예시도이다.The
이미지 획득 모듈(330)은 액적이 토출되는 위치 즉, 노즐의 좌표 정보를 측정하는 것이다. 이미지 획득 모듈(330)은 예를 들어, 카메라 센서(Nozzle View Camera)로 구현될 수 있다.The
액적 정보 측정 장치(120)는 PDPA 검사 장치로 구현될 수 있다. 이러한 PDPA 검사 장치가 Nozzle View Camera를 구비한다면, 초기 Fringe 영역에 대하여 Nozzle View Camera를 통해 좌표를 쉽고 빠르게 계측 타겟이 되는 Nozzle의 좌표를 획득할 수 있다.The drop
이미지 획득 모듈(330)은 잉크젯 헤드 유닛(250)에 구비되는 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보를 측정하기 위해, 도 7에 도시된 바와 같이 액적(520)이 토출되기 전 또는 그 후에 노즐(510a, 510b, …, 510n) 하부로 이동하여 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보를 측정할 수 있다. 도 7은 도 4에 도시된 액적 정보 측정 장치를 구성하는 카메라 모듈의 역할을 설명하기 위한 예시도이다.The
이미지 획득 모듈(330)은 노즐(510a, 510b, …, 510n)을 통해 토출되는 액적(520)에 의해 오염되지 않도록, 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보를 측정한 후에는 외부 방향으로 이동할 수 있다.The
이미지 획득 모듈(330)이 사용되지 않을 때(예를 들어, 검출 모듈(320)이 프린지 영역(420)을 통과하는 액적을 계측하고 있을 때), 이미지 획득 모듈(330)은 위치 이동을 하여 액적 토출에 따른 오염을 최소화할 수 있으며, 상황에 따라서 오염 방지 캡(Cap) 또는 진공(Vacuum) 흡입 장치, 및 클리닝 시스템(Cleaning System)이 적용될 수 있다.When the
이미지 획득 모듈(330)은 기본적으로 Jetting 상태를 불필요로 하며 직관적으로 노즐을 찾아가서 좌표를 획득하는 시스템이다. 따라서 이미지 획득 모듈(330)이 사용되지 않을 때에는(즉, 계측 중일 때에는) 오염 방지 Cap 또는 Vacuum 흡입 장치가 있는 자리로 들어가서 Camera의 오염을 방지할 수 있다.The
오염 방지 Cap의 재질은 적용 분야에 따라 달라질 수 있다. 오염 방지 Cap은 예를 들어, 내화학성이 강한 테프론, 또는 투명도가 확보되는 쿼츠, 유리 등을 그 재질로 할 수 있다.The material of the anti-pollution cap may vary depending on the application field. The anti-pollution cap may be made of, for example, Teflon, which has strong chemical resistance, or quartz, glass, or the like, which ensures transparency.
Vacuum 흡입 장치는 Ink Jetting에 대하여 미연에 오염을 방지하고자 발생하는 Mist를 흡입하는 장치이다. 그리고, Cleaning System은 장비 내부로 들어가서 작업자가 랜 클리닝을 하는 것을 대신하여, Cleaning 용액 분사 또는 안경 닦기처럼 오염된 렌즈를 세정하는 장치(악세서리)이다.Vacuum suction device is a device that sucks mist generated to prevent contamination in advance for ink jetting. In addition, the Cleaning System is a device (accessory) that cleans the contaminated lens, such as spraying a cleaning solution or wiping glasses, instead of the operator performing LAN cleaning inside the equipment.
다시 도 4를 참조하여 설명한다.It will be described again with reference to FIG. 4 .
제어 모듈(340)은 잉크젯 헤드 유닛(250)에 의해 토출되는 액적에 대한 정보를 산출하는 것이다. 제어 모듈(340)은 액적에 대한 정보로 액적의 속도, 액적의 부피, 액적이 토출되는 위치(노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보) 등을 산출할 수 있다.The
제어 모듈(340)은 검출 모듈(320)에 의해 감지된 정보를 기초로 액적에 대한 정보를 산출할 수 있다. 구체적으로, 제어 모듈(340)은 검출 모듈(320)에 의해 프린지 영역(420)을 통과하는 액적이 감지되고, 이 감지 정보가 전기적 신호로 변환된 후 입력되면, 입력된 정보를 기초로 액적의 속도와 부피 등을 산출할 수 있다.The
제어 모듈(340)은 이미지 획득 모듈(330)에 의해 측정된 정보를 기초로 액적에 대한 정보를 산출할 수 있다. 구체적으로, 제어 모듈(340)은 이미지 획득 모듈(330)에 의해 잉크젯 헤드 유닛(250)의 노즐(510a, 510b, …, 510n)이 촬영되고, 이 촬영 정보가 전기적 신호로 변환된 후 입력되면, 입력된 정보를 기초로 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보를 산출할 수 있다.The
본 실시예에서는 이미지 획득 모듈(330)이 잉크젯 헤드 유닛(250)의 노즐(510a, 510b, …, 510n)을 촬영한 후, 검출 모듈(320)이 프린지 영역(420)을 통과하는 액적을 감지할 수 있다. 이에 따라, 제어 모듈(340)은 먼저 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보를 산출하고, 이후 액적의 속도와 부피 등을 산출할 수 있다.In the present embodiment, after the
그러나 본 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다. 제어 모듈(340)은 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보 산출 및 액적의 속도와 부피 산출을 동시에 수행하거나, 액적의 속도와 부피 산출을 노즐(510a, 510b, …, 510n)의 좌표 정보 산출보다 먼저 수행하는 것도 가능하다.However, the present embodiment is not limited thereto. The
이상 도 4 내지 도 7을 참조하여 액적 정보 측정 장치(120)에 대하여 설명하였다. 액적 정보 측정 장치(120)는 PDPA 검사 장치에서 Fringe 위치에 해당하는 지점을 확인하기 위해 Nozzle View Camera를 설치하고, Fringe 좌표에 해당하는 지점에 대하여 Camera의 좌표를 획득한다. PDPA에서 조사되는 Laser를 활용하여 감각에 따른 계측 위치 확보 방식이 아닌, Laser 조사 없이 장착된 Camera의 실시간 Image Viewer를 통해 쉽고 빠르게 계측 타겟이 되는 Nozzle의 좌표를 확인할 수 있다.The drop
액적 정보 측정 장치(120)가 이미지 획득 모듈(330)을 구비하지 않는다면 즉, 액적 정보 측정 장치(120)가 제1 발광 모듈(310a), 제2 발광 모듈(310b), 검출 모듈(320) 및 제어 모듈(340)을 포함하여 구성되면, Jetting 중인 노즐 아래에 Laser 교차 지점인 Fringe가 위치할 수 있도록 Jetting을 지속적으로 하면서 PDPA의 위치를 수정하여 노즐의 좌표를 획득해야 한다.If the droplet
반면, 액적 정보 측정 장치(120)가 이미지 획득 모듈(330)을 구비한다면 즉, 액적 정보 측정 장치(120)가 제1 발광 모듈(310a), 제2 발광 모듈(310b), 검출 모듈(320), 이미지 획득 모듈(330) 및 제어 모듈(340)을 포함하여 구성되면, Jetting을 하지 않아도, Nozzle View Camera를 활용하여 Nozzle의 위치를 찾고, 해당 부분의 좌표를 획득하여, PDPA에서 발광 및 Laser가 교차, Fringe가 형성되는 지점을 오염 및 재료의 손실 없이 좌표 획득이 가능하다.On the other hand, if the droplet
액적 정보 측정 장치(120)는 잉크젯 설비를 검사하는 공정이나 장비에 적용될 수 있다. 그러나 본 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 액적 정보 측정 장치(120)는 모든 용액 공정 기반의 장비(예를 들어, Spray, Inkjet, EHD 등)에 제한 없이 활용될 수 있다. 또한, 액적 정보 측정 장치(120)의 계측 범위는 프린터 헤드의 종류에 제한이 없다.The droplet
이상 도 1 내지 도 7을 참조하여 액적 정보 측정 장치(120) 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템(100)에 대하여 설명하였다. 액적 정보 측정 장치(120)는 PDPA 검사 장치의 노즐 뷰 카메라를 이용한 노즐 좌표 획득 시스템이다. 액적 정보 측정 장치(120)는 노즐 뷰 카메라를 이용하여 잉크젯 헤드 유닛(250)에서 PDPA 계측이 가능한 노즐의 좌표를 쉽고 빠르게 획득할 수 있다. 액적 정보 측정 장치(120) 및 기판 처리 시스템(100)은 디스플레이 장치를 제조하는 설비, 예를 들어 QD CF Inkjet 등 잉크젯 헤드를 이용하는 설비에 적용될 수 있다.The droplet
이상과 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although the embodiments of the present invention have been described with reference to the above and the accompanying drawings, those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can practice the present invention in other specific forms without changing its technical spirit or essential features. You will understand that there is Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive.
100: 기판 처리 시스템
110: 기판 인쇄 장치
120: 액적 정보 측정 장치
210: 베이스 부재
220: 기판 지지 유닛
230: 갠트리 유닛
240: 갠트리 이동 유닛
250: 잉크젯 헤드 유닛
260: 잉크젯 헤드 이동 유닛
270: 잉크 공급 유닛
310a: 제1 발광 모듈
310b: 제2 발광 모듈
320: 검출 모듈
330: 이미지 획득 모듈
340: 제어 모듈
410a, 410b: 출력광
420: 프린지 영역
510a, 510b, …, 510n: 노즐
520: 액적100: substrate processing system 110: substrate printing apparatus
120: drop information measuring device 210: base member
220: substrate support unit 230: gantry unit
240: gantry moving unit 250: inkjet head unit
260: inkjet head moving unit 270: ink supply unit
310a: first
320: detection module 330: image acquisition module
340:
420:
520: droplet
Claims (10)
상기 제1 광과 교차하는 제2 광을 생성 및 출력하는 제2 발광 모듈;
상기 제1 광과 상기 제2 광의 교차 영역을 통과하는 액적을 감지하는 검출 모듈;
상기 액적을 토출하는 노즐을 측정하는 이미지 획득 모듈; 및
상기 액적을 감지하여 얻은 정보 및/또는 상기 노즐을 측정하여 얻은 정보를 기초로 상기 액적에 대한 정보를 생성하는 제어 모듈을 포함하는 액적 정보 측정 장치.a first light emitting module for generating and outputting a first light;
a second light emitting module generating and outputting a second light intersecting the first light;
a detection module for detecting a droplet passing through an intersection region of the first light and the second light;
an image acquisition module for measuring a nozzle for discharging the droplet; and
and a control module configured to generate information about the droplet based on information obtained by detecting the droplet and/or information obtained by measuring the nozzle.
상기 이미지 획득 모듈 및 상기 검출 모듈은 서로 다른 시간에 작동하는 액적 정보 측정 장치.The method of claim 1,
The image acquisition module and the detection module operate at different times.
상기 이미지 획득 모듈은 상기 노즐을 통해 상기 액적이 토출되기 전 또는 그 후에 작동하는 액적 정보 측정 장치.3. The method of claim 2,
The image acquisition module operates before or after the droplet is discharged through the nozzle.
상기 이미지 획득 모듈은 상기 노즐을 측정할 때 상기 노즐의 하부로 이동하며, 상기 노즐을 측정한 후 상기 노즐의 하부를 제외한 나머지 영역으로 이동하는 액적 정보 측정 장치.The method of claim 1,
The image acquisition module moves to the lower part of the nozzle when measuring the nozzle, and moves to the remaining area except for the lower part of the nozzle after measuring the nozzle.
상기 이미지 획득 모듈은 작동하지 않을 때 캡에 의해 커버되는 액적 정보 측정 장치.The method of claim 1,
and the image acquisition module is covered by a cap when not in operation.
상기 캡은 테프론, 쿼츠 및 유리 중 적어도 하나의 재질을 포함하는 액적 정보 측정 장치.6. The method of claim 5,
The cap is a droplet information measuring device comprising at least one of Teflon, quartz, and glass.
상기 액적과 관련된 미스트를 흡입하는 진공 흡입 장치; 및
상기 이미지 획득 모듈을 세정하는 클리닝 시스템 중 적어도 하나를 더 포함하는 액적 정보 측정 장치.The method of claim 1,
a vacuum suction device for sucking the mist associated with the droplet; and
The drop information measuring apparatus further comprising at least one of a cleaning system for cleaning the image acquisition module.
상기 진공 흡입 장치 및/또는 상기 클리닝 시스템은 상기 이미지 획득 모듈이 작동하지 않을 때 작동하는 액적 정보 측정 장치.8. The method of claim 7,
The vacuum suction device and/or the cleaning system operate when the image acquisition module is not operating.
상기 제어 모듈은 상기 액적에 대한 정보로 상기 액적의 속도, 상기 액적의 부피, 및 상기 액적이 토출되는 위치를 생성하는 액적 정보 측정 장치.The method of claim 1,
The control module is a droplet information measuring device for generating the velocity of the droplet, the volume of the droplet, and a position at which the droplet is discharged as information about the droplet.
상기 액적을 이용하여 상기 기판을 인쇄하는 기판 인쇄 장치를 포함하며,
상기 액적 정보 측정 장치는,
제1 광을 생성 및 출력하는 제1 발광 모듈;
상기 제1 광과 교차하는 제2 광을 생성 및 출력하는 제2 발광 모듈;
상기 제1 광과 상기 제2 광의 교차 영역을 통과하는 상기 액적을 감지하는 검출 모듈;
상기 액적을 토출하는 노즐을 측정하는 이미지 획득 모듈; 및
상기 액적을 감지하여 얻은 정보 및/또는 상기 노즐을 측정하여 얻은 정보를 기초로 상기 액적에 대한 정보를 생성하는 제어 모듈을 포함하는 기판 처리 시스템.a droplet information measuring device for generating information on droplets ejected onto the substrate; and
A substrate printing apparatus for printing the substrate using the droplet,
The drop information measuring device,
a first light emitting module for generating and outputting a first light;
a second light emitting module generating and outputting a second light intersecting the first light;
a detection module configured to detect the droplet passing through an intersection region of the first light and the second light;
an image acquisition module for measuring a nozzle for discharging the droplet; and
and a control module configured to generate information about the droplet based on information obtained by detecting the droplet and/or information obtained by measuring the nozzle.
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KR20200143836A (en) | 2019-06-17 | 2020-12-28 | 세메스 주식회사 | Droplet discharge measurement apparatus |
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