KR20220132291A - Inspecting device for screen of electric device - Google Patents
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 claims abstract 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 15
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
- G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8822—Dark field detection
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8835—Adjustable illumination, e.g. software adjustable screen
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Abstract
Description
본 발명은 전자 기기의 스크린 검사 장치에 관한 것으로서, 특히 서로 상이한 방향에서 상이한 촬영 각도를 지닌 복수의 카메라들을 이용하며 그 촬영 각도도 가변시킴으로써, 전자 기기의 스크린의 불량을 보다 정확하게 검사할 수 있는 전자 기기의 스크린 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a screen inspection apparatus for an electronic device, and more particularly, by using a plurality of cameras having different photographing angles in different directions and varying the photographing angles, an electronic device capable of more accurately inspecting screen defects of electronic devices. It relates to a device screen inspection device.
IT 산업이 발전함에 따라 스마트폰(smart phone)이나 태블릿 PC(tablet pc) 등의 휴대용 전자제품과 LCD 모니터, TV 등 가전제품 등의 사용이 증가함에 따라 다양한 종류와 크기에 따른 디스플레이에 관한 연구도 활발히 진행되고 있다.With the development of the IT industry, as the use of portable electronic products such as smart phones and tablet PCs and home appliances such as LCD monitors and TVs increases, research on displays according to various types and sizes is being actively pursued.
이러한 디스플레이 표면에 이물이나 얼룩이 포함된 경우 백라이트 모듈(backlight module)에서 발생되는 빛이 왜곡되기 때문에 상품화 단계까지 진행되어 사용자가 이용하게 되면 디스플레이 화면이 흐릿해지거나 번지는 현상을 가진 휘도 불균일성(brightness non-uniformity)이 나타나게 되어 상품성이 떨어지고 사용자의 불편함을 느끼는 결과를 초래함과 동시에 수리하는 방법도 없으므로 제조 공정에서 디스플레이 표면의 품질 검사 작업이 중요하다. 따라서, 출고 전 디스플레이 표면의 얼룩(mura)을 확실하게 확인하는 작업을 수행해야 한다.If foreign substances or stains are included on the display surface, since the light generated from the backlight module is distorted, it progresses to the commercialization stage and when the user uses it, the display screen becomes blurry or blurs. -uniformity) appears, resulting in poor product quality and inconvenience to users, and at the same time there is no repair method, so it is important to inspect the quality of the display surface in the manufacturing process. Therefore, it is necessary to reliably check the mura of the display surface before leaving the factory.
이때, 얼룩은 제조 공정 간 먼지나 이물, 검사자의 부주의로 인한 스크래치, 지문 등 많은 이유에 의해 생길 수가 있다. 현재까지는 이러한 얼룩들을 직접 육안으로 디스플레이 필름의 얼룩을 검사하여 불량을 판별하였으나, 육안으로 검사하게 되면 사람마다 완벽하게 똑같은 기준이 없을 뿐만 아니라 인건비와 시간이 많이 걸리는 단점이 있다.In this case, stains may occur due to many reasons, such as dust or foreign substances during the manufacturing process, scratches due to carelessness of the inspector, fingerprints, and the like. Until now, defects were determined by directly inspecting the stains on the display film with the naked eye.
이러한 단점을 극복하기 위해 이미지 프로세싱을 이용하여 자동으로 얼룩을 검출하는 머신 비전 시스템의 중요성이 점점 증가하고 있다. 머신 비전 시스템이란 이러한 디스플레이 표면을 자동으로 검사하는 시스템으로서, 사람이 아닌 컴퓨터로 검사하려는 생산 제품의 영상을 촬영하여 컴퓨터로 가져오는 영상 획득 단계, 소프트웨어를 활용하여 입력된 영상에 필요한 처리를 수행하는 영상 처리 단계 및 영상 처리 결과를 바탕으로 검사 대상 제품이 불량이 있는지 판별하는 영상 해석 단계를 통해 디스플레이 표면을 자동으로 검사한다. To overcome these shortcomings, the importance of machine vision systems that automatically detect spots using image processing is increasing. A machine vision system is a system that automatically inspects the display surface. It is a system that takes an image of the product to be inspected with a computer rather than a person and takes the image of the product to be inspected and brings it to the computer. The display surface is automatically inspected through the image analysis stage, which determines whether the product to be inspected has defects based on the image processing stage and the image processing result.
종래의 검사장치는 라인스캔 카메라나 영역카메라(area camera)를 이용하여 이물을 검사하거나 인쇄불량 혹은 치수 등을 검사하였으나, 제품의 전체적인 불량을 검사하는 데는 부족하였다.Conventional inspection apparatuses use a line scan camera or an area camera to inspect foreign substances or inspect print defects or dimensions, but it is insufficient to inspect the overall defects of the product.
본 발명은 서로 상이한 방향에서 상이한 촬영 각도를 지닌 복수의 카메라들을 이용하며 그 촬영 각도도 가변시킴으로써, 전자 기기의 스크린의 불량을 보다 정확하게 검사할 수 있는 전자 기기의 스크린 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a screen inspection apparatus for an electronic device capable of more accurately inspecting a screen defect of an electronic device by using a plurality of cameras having different shooting angles in different directions and varying the shooting angles. do.
본 발명인 전자 기기의 스크린 검사 장치는 수용 공간을 구비하는 암막 케이스와, 암막 케이스의 수용 공간에 장착되며, 복수의 촬영 각도들로 수용 공간 내의 촬영 영역에 위치된 전자 기기를 촬영하는 복수의 카메라들을 구비하는 영상 촬영부와, 영상 촬영부로부터 영상 데이터를 수신하고 수신된 영상 데이터를 처리하여 전자 기기의 불량 상태를 판단하는 데이터 프로세서를 포함하고, 영상 촬영부는 전자 기기가 발광 동작을 수행하는 중에 촬영 동작을 수행하며, 영상 촬영부는 전자 기기의 스크린에 대하여 수직인 촬영 각도도 전자 기기의 스크린을 촬영하는 제 1 카메라와, 전자 기기의 스크린의 네방향 중에서 적어도 한 방향 이상에서 경사지게 전자 기기의 스크린을 촬영하는 제 2 카메라를 포함하여 구성된다.A screen inspection apparatus for an electronic device according to the present invention includes a blackout case having an accommodating space, a plurality of cameras mounted in the accommodating space of the blackout case, and photographing an electronic device positioned in a photographing area in the accommodating space at a plurality of shooting angles. and a data processor for receiving image data from the image capturing unit and processing the received image data to determine a defective state of the electronic device, wherein the image capturing unit captures images while the electronic device performs a light-emitting operation The operation is performed, and the image capturing unit tilts the screen of the electronic device in at least one direction from among the first camera for photographing the screen of the electronic device at a shooting angle perpendicular to the screen of the electronic device, and at least one of the four directions of the screen of the electronic device. It is configured to include a second camera for taking pictures.
또한, 스크린 검사 장치는 복수의 카메라들 중의 적어도 하나 이상을 이동시켜 촬영 각도를 가변하는 각도 조절부를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the screen inspection apparatus includes an angle adjusting unit for changing a photographing angle by moving at least one of the plurality of cameras.
또한, 각도 조절부는 카메라와 촬영 영역 간의 간격을 일정하게 유지시키면서 카메라를 이동시키는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the angle adjusting unit moves the camera while maintaining a constant distance between the camera and the photographing area.
또한, 각도 조절부는 데이터 프로세서에 의해 제어되거나 수동으로 제어되는 것이 바람직하다.In addition, the angle adjusting unit is preferably controlled by a data processor or controlled manually.
또한, 데이터 프로세서는 전자 기기의 종류나 크기에 따른 촬영 각도 정보를 이용하여 각도 조절부를 제어하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the data processor controls the angle adjusting unit using photographing angle information according to the type or size of the electronic device.
본 발명은 전자 기기의 자체 발광 동작 중에 전자 기기의 스크린에 대해서 수직으로 및 경사지게 영상을 촬영함으로써 스크린 에지 부근의 불량뿐만 아니라 발광 시의 불량 등도 확인할 수 있으며, 촬영 각도고 가변하여 다양한 각도에서의 촬영을 이용하여 전자 기기의 불량을 판단할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, by taking an image vertically and obliquely with respect to the screen of the electronic device during the self-luminous operation of the electronic device, not only defects near the edge of the screen but also defects in light emission can be checked, and the shooting angle is variable and shooting at various angles There is an effect that can determine the defect of the electronic device using the
도 1은 본 발명에 따른 전자 기기의 스크린 검사 장치의 카메라들의 배치 구조이다.
도 2는 본 발명에 따른 전자 기기의 스크린 검사 장치의 구성도이다.1 is an arrangement structure of cameras of a screen inspection apparatus of an electronic device according to the present invention.
2 is a block diagram of a screen inspection apparatus for an electronic device according to the present invention.
이하에서, 본 발명은 실시예와 도면을 통하여 상세하게 설명된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.Hereinafter, the present invention will be described in detail through examples and drawings. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and it should be understood that various modifications, equivalents, and/or alternatives of the embodiments of the present invention are included. In connection with the description of the drawings, like reference numerals may be used for like components.
본 문서에서, "가진다", "가질 수 있다", "포함한다", 또는 "포함할 수 있다" 등의 표현은 해당 특징(예: 수치, 기능, 동작, 또는 부품 등의 구성요소)의 존재를 가리키며, 추가적인 특징의 존재를 배제하지 않는다.In this document, expressions such as "have", "may have", "includes", or "may include" refer to the presence of a corresponding characteristic (eg, a numerical value, function, operation, or component such as a part). and does not exclude the presence of additional features.
본 문서에서, "A 또는 B", "A 또는/및 B 중 적어도 하나", 또는 "A 또는/및 B 중 하나 또는 그 이상" 등의 표현은 함께 나열된 항목들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. 예를 들면, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", 또는 "A 또는 B 중 적어도 하나"는, (1) 적어도 하나의 A를 포함, (2) 적어도 하나의 B를 포함, 또는 (3) 적어도 하나의 A 및 적어도 하나의 B 모두를 포함하는 경우를 모두 지칭할 수 있다.In this document, expressions such as “A or B”, “at least one of A or/and B”, or “one or more of A or/and B” may include all possible combinations of the items listed together. . For example, "A or B", "at least one of A and B", or "at least one of A or B" means (1) includes at least one A, (2) includes at least one B; Or (3) it may refer to all cases including both at least one A and at least one B.
본 문서에서 사용된 "제1", "제2", "첫째", 또는 "둘째" 등의 표현들은 다양한 구성요소들을, 순서 및/또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 예를 들면, 제1 사용자 기기와 제2 사용자 기기는, 순서 또는 중요도와 무관하게, 서로 다른 사용자 기기를 나타낼 수 있다. 예를 들면, 본 문서에 기재된 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 바꾸어 명명될 수 있다.Expressions such as "first", "second", "first", or "second" used in this document may modify various elements, regardless of order and/or importance, and may modify one element to another. It is used only to distinguish it from the components, and does not limit the components. For example, the first user equipment and the second user equipment may represent different user equipment regardless of order or importance. For example, without departing from the scope of rights described in this document, a first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be renamed as a first component.
어떤 구성요소(예: 제1 구성요소)가 다른 구성요소(예: 제2 구성요소)에 "(기능적으로 또는 통신적으로) 연결되어((operatively or communicatively) coupled with/to)" 있다거나 "접속되어(connected to)" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나, 다른 구성요소(예: 제3 구성요소)를 통하여 연결될 수 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소(예: 제1 구성요소)가 다른 구성요소(예: 제2 구성요소)에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 다른 구성요소(예: 제3 구성요소)가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있다.A component (eg, a first component) is "coupled with/to (operatively or communicatively)" to another component (eg, a second component) When referring to "connected to", it should be understood that the certain element may be directly connected to the other element or may be connected through another element (eg, a third element). On the other hand, when it is said that a component (eg, a first component) is "directly connected" or "directly connected" to another component (eg, a second component), the component and the It may be understood that other components (eg, a third component) do not exist between other components.
본 문서에서 사용된 표현 "~하도록 구성된(또는 설정된)(configured to)"은 상황에 따라, 예를 들면, "~에 적합한(suitable for)", "~하는 능력을 가지는(having the capacity to)", "~하도록 설계된(designed to)", "~하도록 변경된(adapted to)", "~하도록 만들어진(made to)", 또는 "~를 할 수 있는(capable of)"과 바꾸어 사용될 수 있다. 용어 "~하도록 구성(또는 설정)된"은 하드웨어적으로 "특별히 설계된(specifically designed to)"것만을 반드시 의미하지 않을 수 있다. 대신, 어떤 상황에서는, "~하도록 구성된 장치"라는 표현은, 그 장치가 다른 장치 또는 부품들과 함께 "~할 수 있는" 것을 의미할 수 있다. 예를 들면, 문구 "A, B, 및 C를 수행하도록 구성(또는 설정)된 프로세서"는 해당 동작을 수행하기 위한 전용 프로세서(예: 임베디드 프로세서), 또는 메모리 장치에 저장된 하나 이상의 소프트웨어 프로그램들을 실행함으로써, 해당 동작들을 수행할 수 있는 범용 프로세서(generic-purpose processor)(예: CPU 또는 application processor)를 의미할 수 있다.The expression "configured to (or configured to)" as used in this document, depending on the context, for example, "suitable for", "having the capacity to" It can be used interchangeably with "," "designed to", "adapted to", "made to", or "capable of". The term "configured (or set up to)" may not necessarily mean only "specifically designed to" in hardware. Instead, in some circumstances, the expression “a device configured to” may mean that the device is “capable of” with other devices or parts. For example, the phrase "a processor configured (or configured to perform) A, B, and C" executes a dedicated processor (eg, an embedded processor), or one or more software programs stored in a memory device, to perform the corresponding operations. By doing so, it may mean a generic-purpose processor (eg, a CPU or an application processor) capable of performing corresponding operations.
본 문서에서 사용된 용어들은 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 다른 실시 예의 범위를 한정하려는 의도가 아닐 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 용어들은 본 문서에 기재된 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가질 수 있다. 본 문서에 사용된 용어들 중 일반적인 사전에 정의된 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 동일 또는 유사한 의미로 해석될 수 있으며, 본 문서에서 명백하게 정의되지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. 경우에 따라서, 본 문서에서 정의된 용어일지라도 본 문서의 실시 예들을 배제하도록 해석될 수 없다.Terms used in this document are only used to describe specific embodiments, and may not be intended to limit the scope of other embodiments. The singular expression may include the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. Terms used herein, including technical or scientific terms, may have the same meanings as commonly understood by one of ordinary skill in the art described in this document. Among the terms used in this document, terms defined in a general dictionary may be interpreted with the same or similar meaning as the meaning in the context of the related art, and unless explicitly defined in this document, have an ideal or excessively formal meaning. not interpreted In some cases, even terms defined in this document cannot be construed to exclude embodiments of this document.
도 1은 본 발명에 따른 전자 기기의 스크린 검사 장치의 카메라들의 배치 구조이다.1 is an arrangement structure of cameras of a screen inspection apparatus of an electronic device according to the present invention.
스크린 검사 장치는 외부의 광 유입이 차단된 암막 케이스(미도시) 내에 발광 동작 중인 전자 기기(20)의 스크린을 촬영하는 다수의 카메라들(C, L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2)을 포함하는 영상 촬영부를 구비한다. 암막 케이스는 수용 공간과, 수용 공간 내로 전자 기기(20)의 투입 및 인출을 위한 투입구를 구비하며, 전자 기기(20)가 안착되어 투입구를 통하여 수용 공간 내부로 이송되는 컨베어 벨트인 지지면(G)이 위치된다. The screen inspection apparatus includes a plurality of cameras (C, L1, L2, R1, R2, T1, T2, T1, T2, B1, B2) is provided with an image capturing unit. The blackout case has an accommodating space and an inlet for inserting and withdrawing the
컨베어 장치에 의해서 영상 촬영부의 촬영 영역(P)에 전자 기기(20)의 스크린이 배치된다. 본 발명에서 전자 기기(20)는 적어도 일측면에 디스플레이용 스크린이 형성된 기기로서, 예를 들면, 휴대폰, 스마트폰, 테블릿 PC 등을 포함한다.The screen of the
영상 촬영부는 전자 기기(20)의 스크린이 촬영 영역(P)에 위치되고, 전자 기기(20)의 스크린이 발광 동작을 수행하는 중에 지지면(G)의 상측에 위치되어 복수의 촬영 각도들로 전자 기기(20)의 스크린을 촬영한다. 영상 촬영부는 전자 기기(20)의 스크린의 상측에서 지지면(G)에 대하여 수직인 촬영 각도 90°로 촬영하는 카메라(C)와, 전자 기기(20)의 스크린의 네방향(예를 들면, 동서남북 등) 각각에서 지지면(G)에 대하여 제1각도 및 제2각도로 스크린을 각각 촬영하는, 즉 스크린을 경사지게 촬영하는 카메라(L1, L2), 카메라(R1, R2), 카메라(T1, T2) 및 카메라(B1, B2)를 포함한다. 각 방향에서, 카메라(L1, R1, T1, B1) 각각은 고각인 촬영 각도 범위(30°~75°) 내의 촬영 각도(제1각도)로 스크린을 촬영하며, 카메라(L2, R2, T2, B2) 각각은 저각인 촬영 각도 범위(15°~60°) 내의 촬영 각도(제2각도)로 스크린을 촬영한다. 다른 실시예로, 각 방향에서, 고각 및 저각 이외의 다른 촬영 각도로 스크린을 촬영하는 카메라들이 추가적으로 구비될 수 있다.The image capturing unit is positioned above the support surface G while the screen of the
영상 촬영부에 포함되는 카메라(C, L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2)는 촬영 영역(P)(또는 촬영 영역(P)의 중심)으로부터 동일한 간격만큼 이격되어 암막 케이스의 수용 공간에 장착된다. 또한, 도 1에 도시된 바와 같은 촬영 각도의 가변을 위해, 촬영 영역(P)의 네방향 각각에 장착되는 카메라(L1, R1, T1, B1) 각각은 촬영 영역(P)(또는 촬영 영역(P)의 중심)으로부터의 간격을 유지하면서 제 1 이동 경로(S1)를 따라서 이동 가능하며, 카메라(L2, R2, T2, B2) 각각은 촬영 영역(P)의 중심으로부터의 간격을 유지하면서 제 2 이동 경로(S2)를 따라서 이동 가능하다.The cameras (C, L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2) included in the image capturing unit are spaced apart from the photographing area P (or the center of the photographing area P) by the same distance, and the blackout case installed in the receiving space of In addition, in order to vary the shooting angle as shown in FIG. 1, each of the cameras L1, R1, T1, B1 mounted in each of the four directions of the shooting area P is a shooting area P (or a shooting area ( It is movable along the first movement path S1 while maintaining the distance from the center of P), and each of the cameras L2, R2, T2, B2 maintains the distance from the center of the photographing area P while maintaining the 2 It is possible to move along the movement path S2.
도 2는 본 발명에 따른 전자 기기의 스크린 검사 장치의 구성도이다.2 is a block diagram of a screen inspection apparatus for an electronic device according to the present invention.
스크린 검사 장치는 전자 기기(20)의 스크린에 대한 불량 상태 여부(예를 들면, 정상, 불량 등)을 표시하는 표시부(1)와, 작업자로부터의 입력(예를 들면, 검사 시작/종료, 영상 촬영부의 촬영 각도의 가변 입력 , 검사될 전자 기기의 크기나 종류 등)을 획득하여 데이터 프로세서(9)에 인가하는 입력부(3)와, 복수의 카메라(C, L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2)를 포함하여 촬영된 영상 데이터를 데이터 프로세서(9)로 전송하는 영상 촬영부와, 영상 촬영부 및 데이터 프로세서(9) 사이를 전기적으로 연결하며 영상 촬영부로부터의 영상 데이터를 데이터 프로세서(9)에 인가하는 접속부(5)와, 영상 촬영부 중에서 적어도 하나 이상의 카메라의 촬영 각도를 조절하는 각도 조절부(7)와, 상술된 구성요소들(표시부(1), 입력부(3), 각도 조절부(7), 영상 촬영부 등)을 제어하여 영상 촬영부로부터 전송되는 영상 데이터를 분석하여 전자 기기(20)의 스크린에 대한 불량 상태를 확인하여 불량 여부를 결정하여 표시부(1)에 표시하는 데이터 프로세서(9) 등을 포함하여 구성된다. 다만, 전원부(미도시), 표시부(1), 입력부(3) 및 접속부(5) 등은 본 발명이 속하는 기술 분야에 대한 통상의 기술자에게 당연히 인식되는 기술에 불과하여, 그 상세한 설명이 생략된다. The screen inspection apparatus includes a
영상 촬영부는 데이터 프로세서(9)의 제어에 의해 영상 촬영 동작을 수행할 수도 있고, 컨베어 장치가 전자 기기(20)를 이송하여 촬영 영역(P)에 위치시킨 후 영상 촬영부로 영상 촬영 제어 명령을 인가함에 의해 영상 촬영 동작을 수행할 수도 있다. 도 1에서와 같이, 카메라(L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2)는 전자 기기(20)(전자 기기(20)의 스크린)를 비스듬한 경사인 촬영 각도로 촬영함으로써, 가장자리가 라운드 형태인 스크린에서의 불량 상태(예를 들면, 이물, 얼룩, 스크린의 색상 불량 또는 색상 얼룩 등)을 확인할 수 있도록 하는 영상 데이터를 데이터 프로세서(9)에 인가할 수 있다.The image capturing unit may perform an image capturing operation under the control of the
각도 조절부(7)는 데이터 프로세서(9)의 제어에 의해 또는 작업자의 수동 제어에 의해 영상 촬영부의 카메라의 촬영 각도를 조절하되, 각 카메라와 촬영 영역(촬영 영역의 중심) 간의 간격을 일정하게 유지하면서 카메라를 이동시켜서 촬영 각도를 가변하는 구성에 해당된다. 각도 조절부(7)는 예를 들면, 제 1 또는 제 2 이동 경로(S1, S2)를 제공하는 가이드부와, 카메라를 강제적으로 가이드부를 따라서 이동시키는 동력부(예를 들면, 모터 등) 등으로 구성될 수 있다. The
데이터 프로세서(9)는 영상 촬영부로부터 영상 데이터를 획득하는 과정과, 획득된 영상 데이터를 처리 분석하여 불량 상태 여부를 판단하는 과정 등을 수행하는 프로세서(예를 들면, CPU, MCU, MICROPROCESSOR 등)와, 영상 촬영부로부터의 영상 데이터, 각도 조절부(7)의 제어를 위한 각도 설정 데이터 등을 저장하는 저장 공간(예를 들면, 메모리 등) 등을 포함하여 구성된다.The
각도 설정 데이터는 전자 기기(20)의 종류나 크기에 따른 카메라의 촬영 각도를 포함하는 카메라의 촬영 각도 정보 등을 포함할 수 있으며, 데이터 프로세서(9)는 각도 설정 데이터에 따라 각도 조절부(7)를 제어하여 영상 촬영부의 적어도 하나 이상의 카메라의 촬영 각도를 조절한다.The angle setting data may include photographing angle information of the camera including the photographing angle of the camera according to the type or size of the
데이터 프로세서(9)가 수행하는 영상 데이터의 획득 과정이 설명된다. 영상 촬영부는 전자 기기(20)의 스크린이 촬영 영역에 위치되며, 전자 기기(20)가 발광 동작을 수행하는 동안에 촬영 동작을 수행한다. 전자 기기(20)는 암막 케이스 내에 위치되므로 독립적으로 또는 데이터 프로세서(9)의 제어에 의해서 발광 동작을 수행해야 하며, 이 발광 동작은 스크린(또는 스크린 패널)에 전원을 인가하고 예를 들면, 빛의 삼원색인 빨강, 녹색, 파랑과 White, Gray 및 기설정된 패턴에 따른 색상을 순차적으로 점등 발광하며, 이러한 순차적 점등 시에 영상 촬영부가 촬영 동작을 수행한다. 즉, 영상 촬영부는 전자 기기(20)의 자체 발광 상태의 영상을 획득하며, 다른 조명 장치가 필요하지 않다.An image data acquisition process performed by the
영상 촬영부는 촬영된 영상 데이터를 접속부(5)를 통하여 데이터 프로세서(9)에 인가한다.The image capturing unit applies the captured image data to the
데이터 프로세서(9)는 영상 데이터를 수신하되, 카메라(C)로부터의 영상 데이터에 포함된 영상(이미지)의 색상, 채도, 명도를 분리하고, 분리된 색상, 채도, 명도를 재조합하고 영상 처리하여 불균일한 영역(예를 들면, 얼룩, 색상 얼룩)이 있는지, 즉 불량 상태가 있는지를 판단하다. 만약 불균일한 영역이 있으면, 데이터 프로세서(9)는 전자 기기(20)의 스크린 상에 불량이 있는 것으로 판단하여 표시부(1)에 불량 상태를 표시한다. 그렇지 않으면, 데이터 프로세서(9)는 정상(양품)으로 판단하고 표시부(1)에 정상(양품) 상태를 표시한다. 다만, 이러한 영상 처리 및 판단 과정은 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 널리 알려진 기술에 해당되어, 그 상세한 설명이 생략된다.The
카메라((L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2) 각각으로부터의 영상 데이터에 포함된 영상은 카메라(C)에서의 영상 데이터에 포함된 영상(휨이 없음)과 달리 휘어져 있는 상태이므로, 데이터 프로세서(9)는 영상 데이터에 포함된 영상에 대한 휨 펴기(warping) 처리를 우선 수행하고, 이후에, 영상(이미지)의 색상, 채도, 명도를 분리하고, 분리된 색상, 채도, 명도를 재조합하고 영상 처리하여 불균일한 영역(예를 들면, 얼룩)이 있는지, 즉 불량 상태가 있는지를 판단하다. 만약 불균일한 영역이 있으면, 데이터 프로세서(9)는 전자 기기(20)의 스크린 상에 불량이 있는 것으로 판단한다. 그렇지 않으면, 데이터 프로세서(9)는 정상(양품)으로 판단한다The image included in the image data from each of the cameras ((L1, L2, R1, R2, T1, T2, B1, B2) is curved, unlike the image (without warping) included in the image data from the camera C. Therefore, the
본 발명인 스크린 검사 장치는 전자 기기(20)의 자체 발광 동작 중에 전자 기기(20)의 스크린에 대해서 수직으로 및 경사지게 영상을 촬영함으로써 스크린 에지 부근의 불량뿐만 아니라 발광 시의 불량 등도 확인할 수 있다. The screen inspection apparatus according to the present invention can check not only defects in the vicinity of the screen edge but also defects in light emission, etc.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형의 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.As described above, the present invention is not limited to the specific preferred embodiments described above, and anyone with ordinary skill in the art to which the invention pertains can use various methods without departing from the gist of the invention as claimed in the claims. It goes without saying that modifications are possible, and such modifications are intended to be within the scope of the claims.
1: 표시부
3: 입력부
5: 접속부
7: 각도 조절부
9: 데이터 프로세서1: display unit 3: input unit
5: Connection part 7: Angle adjustment part
9: Data Processor
Claims (5)
암막 케이스의 수용 공간에 장착되며, 복수의 촬영 각도들로 수용 공간 내의 촬영 영역에 위치된 전자 기기를 촬영하는 복수의 카메라들을 구비하는 영상 촬영부와;
영상 촬영부로부터 영상 데이터를 수신하고 수신된 영상 데이터를 처리하여 전자 기기의 불량 상태를 판단하는 데이터 프로세서를 포함하고,
영상 촬영부는 전자 기기가 발광 동작을 수행하는 중에 촬영 동작을 수행하며,
영상 촬영부는 전자 기기의 스크린에 대하여 수직인 촬영 각도도 전자 기기의 스크린을 촬영하는 제 1 카메라와, 전자 기기의 스크린의 네방향 중에서 적어도 한 방향 이상에서 경사지게 전자 기기의 스크린을 촬영하는 제 2 카메라를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자 기기의 스크린 검사 장치.a blackout case having an accommodation space;
an image photographing unit mounted in the accommodation space of the blackout case and including a plurality of cameras for photographing electronic devices positioned in photographing areas within the accommodation space at a plurality of photographing angles;
A data processor for receiving image data from the image capturing unit and processing the received image data to determine a defective state of the electronic device,
The image capturing unit performs a photographing operation while the electronic device performs a light-emitting operation,
The image capturing unit includes a first camera for photographing the screen of the electronic device at a photographing angle perpendicular to the screen of the electronic device, and a second camera for photographing the screen of the electronic device inclined in at least one direction among four directions of the screen of the electronic device. Screen inspection apparatus of an electronic device, characterized in that it comprises a.
스크린 검사 장치는 복수의 카메라들 중의 적어도 하나 이상을 이동시켜 촬영 각도를 가변하는 각도 조절부를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자 기기의 스크린 검사 장치.The method of claim 1,
The screen inspection apparatus of an electronic device, characterized in that it comprises an angle adjusting unit for changing the photographing angle by moving at least one of the plurality of cameras.
각도 조절부는 카메라와 촬영 영역 간의 간격을 일정하게 유지시키면서 카메라를 이동시키는 것을 특징으로 하는 전자 기기의 스크린 검사 장치.3. The method of claim 2,
The angle adjusting unit moves the camera while maintaining a constant distance between the camera and the photographing area.
각도 조절부는 데이터 프로세서에 의해 제어되거나 수동으로 제어되는 것을 특징으로 하는 전자 기기의 스크린 검사 장치.The method of claim 1,
The angle adjusting unit is controlled by a data processor or manually controlled.
데이터 프로세서는 전자 기기의 종류나 크기에 따른 촬영 각도 정보를 이용하여 각도 조절부를 제어하는 것을 특징으로 하는 전자 기기의 스크린 검사 장치.5. The method of claim 4,
The data processor controls the angle adjusting unit using photographing angle information according to the type or size of the electronic device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210037413A KR20220132291A (en) | 2021-03-23 | 2021-03-23 | Inspecting device for screen of electric device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020210037413A KR20220132291A (en) | 2021-03-23 | 2021-03-23 | Inspecting device for screen of electric device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR20220132291A true KR20220132291A (en) | 2022-09-30 |
Family
ID=83451324
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR20220132291A (en) |
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