KR20220126873A - Portable nondestructive inspection apparatus based on nonlinear solitary wave - Google Patents

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KR20220126873A
KR20220126873A KR1020210031110A KR20210031110A KR20220126873A KR 20220126873 A KR20220126873 A KR 20220126873A KR 1020210031110 A KR1020210031110 A KR 1020210031110A KR 20210031110 A KR20210031110 A KR 20210031110A KR 20220126873 A KR20220126873 A KR 20220126873A
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Abstract

The present invention relates to a portable non-destructive inspection device based on nonlinear isolated waves, comprising: a plurality of spherical particles arranged in a line in contact with each other; sensor particles arranged in a line with the spherical particles to form a particle chain; a guide tube formed in a cylindrical shape forming a guide space including the particle chain, and having protruding holes through which a part of the particle constituting the particle chain protrudes from the front end and the rear end; and an oscillation part fixed to the guide tube, and applying an impact to the constituent particles located at a last end. Accordingly, the portable non-destructive inspection device is easy to carry and can perform non-destructive inspection in various postures.

Description

비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치{PORTABLE NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS BASED ON NONLINEAR SOLITARY WAVE}PORTABLE NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS BASED ON NONLINEAR SOLITARY WAVE

본 발명은 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 사용 자세에 관계없이 비선형 고립파를 안정적으로 생성할 수 있는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, and more particularly, to a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device capable of stably generating a non-linear isolated wave regardless of a posture of use.

비파괴검사장치의 한 종류로서 비선형 고립파를 이용하는 검사장치가 있다.As a type of non-destructive testing device, there is an inspection device using non-linear isolated waves.

비선형 고립파 기반 비파괴검사장치는 다수 개의 구형 입자로 이루어진 체인 구조를 주요 구성으로 한다. 이러한 체인 구조를 통해서는 비선형 고립파가 안정적으로 전파되고 검사시편에서 반사되는 반사파는 매질의 기계적 물성에 따라 민감하게 변하기 때문에 정확한 검사 결과를 얻을 수 있다.The non-linear isolated wave-based non-destructive testing device has a chain structure composed of a number of spherical particles as its main component. Through this chain structure, the nonlinear isolated wave propagates stably, and the reflected wave reflected from the test specimen is sensitively changed according to the mechanical properties of the medium, so accurate test results can be obtained.

종래의 일반적인 비선형 고립파 기반 비파괴검사장치는 도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 내부에 상하로 연장되는 공간을 갖는 수직한 가이드(10), 상기 가이드(10) 내에서 상하로 배치되는 다수 개의 구형 입자(2), 최상단의 구형 입자에 충격을 가하는 가진 입자(1), 및 구형 입자(2) 사이에 배치되는 센서(3) 등을 포함하여 이루어진다.As shown in FIG. 1, a conventional general nonlinear isolated wave-based non-destructive testing device includes a vertical guide 10 having a space extending up and down therein, and a plurality of spherical shapes disposed up and down in the guide 10. The particle 2, the excitation particle 1 that applies an impact to the uppermost spherical particle, and a sensor 3 disposed between the spherical particles 2 and the like are included.

이러한 종래의 비파괴검사장치는 가진 입자(1)를 최상단 구형 입자(2) 위로 낙하시켜 구형 입자(10)의 체인에서 비선형 고립파가 발생하도록 하고, 최하단 구형 입자까지 전달된 비선형 고립파가 검사시편(4)에 전달된 후 검사시편(4)에서 반사된 반사파를 센서(3)에서 측정하여, 검사시편(4)에 대한 검사를 진행할 수 있다.In this conventional non-destructive testing device, the excitation particle 1 is dropped onto the uppermost spherical particle 2 to generate a nonlinear isolated wave in the chain of spherical particles 10, and the nonlinear isolated wave transmitted to the lowermost spherical particle is transmitted to the test specimen. After being transmitted to (4), the reflected wave reflected from the test specimen (4) is measured by the sensor (3), and the inspection of the test specimen (4) can be performed.

그런데 상기한 것과 같은 구조를 가지는 종래의 비파괴검사장치에 의해서는 검사시편(4)의 상부에 가이드(10)를 세운 상태로 검사를 진행할 수 밖에 없기 때문에 검사를 수행할 수 있는 대상에 한계가 있고, 구형 입자(10)의 체인을 유지하는 가이드(10)의 구조에 의해 휴대가 쉽지 않은 단점이 있다.However, by the conventional non-destructive testing apparatus having the structure as described above, there is a limit to the objects that can be tested because the test has to be carried out with the guide 10 standing on the upper part of the test specimen 4, and , there is a disadvantage in that it is not easy to carry by the structure of the guide 10 to maintain the chain of the spherical particles (10).

WOWO 20091000642009100064 A2A2

따라서, 본 발명의 목적은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 휴대가 용이하고 다양한 자세로 비파괴검사를 진행하는 것이 가능한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device that is easy to carry and capable of performing non-destructive testing in various postures as to solve such conventional problems.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 위에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved by the present invention is not limited to the above-mentioned problems, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 서로 접하는 상태에서 일렬로 배치되는 다수 개의 구형 입자; 상기 구형 입자와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인을 이루는 센서 입자; 상기 입자 체인을 포함하는 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 선단과 후단에서 상기 입자 체인을 이루는 구성 입자의 일부분이 돌출되도록 하는 돌출구를 구비하는 가이드관; 및 상기 가이드관에 고정되며, 최후단에 위치한 상기 구성 입자에 충격을 가하는 가진부;를 포함하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 의해 달성된다.The above object, according to the present invention, a plurality of spherical particles arranged in a line in contact with each other; sensor particles arranged in a line with the spherical particles to form a particle chain; a guide tube having a cylindrical shape forming a guide space including the particle chain and having a protrusion through which a portion of the constituent particles constituting the particle chain protrudes from a front end and a rear end; and an excitation unit fixed to the guide tube and applying an impact to the constituent particles located at the rearmost end.

상기 가이드 공간의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에는 상기 구성 입자들을 서로 밀착시키는 사전 압축부재가 구비될 수 있다.A pre-compression member for adhering the constituent particles to each other may be provided at at least one of the front end and the rear end of the guide space.

상기 사전 압축부재가 상기 구성 입자들을 밀착시키는 힘은 조절 가능하게 형성될 수 있다.The force of the pre-compression member to adhere the constituent particles may be adjustable.

상기 가이드관은, 상기 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지는 가이드관 본체, 및 상기 가이드관 본체의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 결합하며 상기 돌출구를 구비하는 마개를 포함하고, 상기 사전 압축부재는 상기 가이드관 본체의 말단과 상기 마개 사이에 개재되며, 상기 마개는 상기 가이드관 본체에 나사 결합할 수 있다.The guide tube includes a guide tube body having a cylindrical shape forming the guide space, and a stopper coupled to at least one of a front end and a rear end of the guide tube body and having the protrusion, the pre-compression member is Interposed between the end of the guide tube body and the stopper, the stopper may be screw-coupled to the guide tube body.

상기 가이드관의 벽체에는 슬릿이 구비될 수 있다.A slit may be provided on the wall of the guide tube.

상기 센서 입자는, 원통형으로 이루어지며 센서가 구비된 센싱부, 및 상기 센싱부의 양단부에 형성되며 반구형으로 이루어지는 접촉부를 포함할 수 있다.The sensor particles may include a sensing unit having a cylindrical shape and provided with a sensor, and contact units formed at both ends of the sensing unit and having a hemispherical shape.

상기 센서 입자는, 2개가 서로 이격되어 배치될 수 있다.Two of the sensor particles may be disposed to be spaced apart from each other.

상기 센서 입자는, 상기 가이드 공간의 최선단에 배치될 수 있다.The sensor particles may be disposed at the frontmost end of the guide space.

상기 가진부는, 상기 가이드관의 후단에 고정되는 가진 입자 가이드관, 상기 가진 입자 가이드관 내에서 상기 가이드관 최후단의 상기 구성 입자에 인접하여 배치되는 가진 입자, 및 상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 발진시키는 발진부를 포함할 수 있다.The vibrating unit includes a vibrating particle guide tube fixed to the rear end of the guide tube, vibrating particles disposed adjacent to the constituent particles at the last end of the guide tube in the excitation particle guide tube, and moving the excitation particle in the direction of the guide tube. It may include an oscillation unit that oscillates.

상기 발진부는, 상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 밀어내는 스프링, 선단부가 상기 가진 입자에 연결되고 후단부에 제1 자석을 구비하는 연결대, 및 제2 자석을 구비하고 상기 제1 자석에 대해 이동 가능하게 형성되는 트리거부를 포함할 수 있다.The oscillation unit includes a spring for pushing the excitation particle in the direction of the guide tube, a connecting rod having a front end connected to the excitation particle and a rear end having a first magnet, and a second magnet and moving with respect to the first magnet It may include a trigger part that is possible.

상기 트리거부는, 상기 가이드관의 외측면에 고정되는 손잡이, 상기 가이드관과 나란한 방향으로 이동 가능하도록 상기 손잡이에 고정되는 것으로서, 선단부에 트리거가 구비되고 후단부에 상기 제2 자석이 구비된 트리거대, 및 상기 트리거를 상기 트리거대의 선단부 방향으로 가압하는 트리거용 스프링을 포함할 수 있다.The trigger unit, a handle fixed to the outer surface of the guide tube, is fixed to the handle so as to be movable in a direction parallel to the guide tube, a tree having a trigger provided at the front end and the second magnet at the rear end It may include a giant, and a trigger spring for pressing the trigger in the direction of the tip of the trigger bar.

상기 제1 자석과 상기 제2 자석은 자력이 상기 구성 입자에 미치지 않는 거리만큼 상기 구성 입자로부터 이격되어 배치될 수 있다.The first magnet and the second magnet may be disposed to be spaced apart from the constituent particles by a distance where the magnetic force does not reach the constituent particles.

상기 제2 자석은 전자석 또는 다수 개의 영구자석으로 이루어져 자력이 조절될 수 있다.The second magnet may be composed of an electromagnet or a plurality of permanent magnets so that magnetic force can be adjusted.

상기 구성 입자 중 최선단에 위치하는 것은 선단이 평평하게 형성될 수 있다.Among the constituent particles, the one located at the most tip may have a flat tip.

상기 센서 입자와 연결되는 진단부를 더 포함할 수 있다.It may further include a diagnostic unit connected to the sensor particle.

상기 진단부는, 검사 대상의 상태별로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터가 저장된 데이터부, 상기 데이터부에 저장된 데이터를 학습하는 학습부, 상기 학습부에서 도출된 진단 모델이 저장된 진단 모델 저장부, 및 상기 진단 모델을 기반으로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터를 분석하는 분석부를 포함할 수 있다.The diagnosis unit may include a data unit storing data obtained from the sensor particles for each state of a test subject, a learning unit learning the data stored in the data unit, a diagnosis model storage unit storing a diagnosis model derived from the learning unit, and the diagnosis It may include an analysis unit that analyzes the data obtained from the sensor particles based on the model.

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치는 휴대하고 다니면서 실험실이 아닌 다양한 산업 현장에서 비파괴검사를 진행하는 것이 가능하고, 검사 대상의 놓여진 위치나 각도에 관계없이 비파괴검사를 진행할 수 있다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention can carry out non-destructive testing in various industrial sites other than laboratories while carrying it, and can perform non-destructive testing regardless of the location or angle of the test target.

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치가 사전 압축부재를 더 구비하거나 센서 입자가 센싱부와 접촉부를 구비하는 경우 등에는 본 발명에 의한 비파괴검사장치의 오작동 가능성을 줄여 비파괴검사의 정확성을 높여줄 수 있다.When the non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device according to the present invention further includes a pre-compression member or the sensor particle has a sensing unit and a contact unit, the possibility of malfunction of the non-destructive inspection device according to the present invention is reduced to improve the accuracy of non-destructive inspection. can elevate

가진 입자를 발진시키는 발진부의 구성적 특징은 본 발명에 의한 비파괴검사장치의 사용을 용이하게 한다.The structural feature of the oscillation unit that oscillates the excited particles facilitates the use of the non-destructive testing device according to the present invention.

도 1은 종래의 비선형 고립파 기반 비파괴검사장치에 관한 설명도,
도 2는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치의 사시도,
도 3은 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치의 단면도,
도 4는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 사전 압축부재에 관한 설명도,
도 5 및 도 6는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 센서 입자에 관한 설명도,
도 7은 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 가진부에 관한 설명도,
도 8은 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 구성 입자 중 최선단에 위치하는 것의 선단이 평평하게 형성되는 경우에 관한 설명도,
도 9는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 진단부에 관한 설명도이다.
1 is an explanatory diagram of a conventional non-linear isolated wave-based non-destructive inspection device;
2 is a perspective view of a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention;
3 is a cross-sectional view of a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention;
4 is an explanatory view of a pre-compression member constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device according to the present invention;
5 and 6 are explanatory views of sensor particles constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device according to the present invention;
7 is an explanatory view of an excitation unit constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device according to the present invention;
8 is an explanatory view of a case in which the tip of the one located at the foremost among the constituent particles constituting the non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device according to the present invention is formed flat;
9 is an explanatory diagram of a diagnostic unit constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing apparatus according to the present invention.

이하에서는 본 발명의 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참고하여 자세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 2에는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)의 사시도가 도시되어 있고, 도 3에는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)의 단면도가 도시되어 있다.2 is a perspective view of a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 according to the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 according to the present invention.

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는 다수 개의 구형 입자(10), 센서 입자(20), 가이드관(30) 및 가진부(40)를 포함하여 이루어지며, 전체적인 형상이 총(gun) 형상으로 이루어진다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device 1 according to the present invention is made including a plurality of spherical particles 10, a sensor particle 20, a guide tube 30 and an excitation part 40, and the overall shape is It is made in the shape of a gun.

다수 개의 구형 입자(10)는 서로 접하는 상태에서 일렬로 배치된다. 각 구형 입자(10)는 예를 들어, 스테인리스강과 같은 금속 재질로 이루어질 수 있다.A plurality of spherical particles 10 are arranged in a line in contact with each other. Each spherical particle 10 may be made of, for example, a metal material such as stainless steel.

센서 입자(20)는 구형 입자(10)와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인(C)을 이룬다. 센서 입자(20)는 1개 또는 2개가 형성될 수 있으며, 구형 입자(10)들 사이 또는 입자 체인(C)의 단부에 배치될 수 있다.The sensor particles 20 are arranged in line with the spherical particles 10 to form a particle chain (C). One or two sensor particles 20 may be formed, and may be disposed between the spherical particles 10 or at the ends of the particle chains C.

입자 체인(C)을 이루는 구형 입자(10)와 센서 입자(20)는 서로 접하는 상태로 위치하여 비선형 고립파를 전파시킬 수 있다. 비선형 고립파가 센서 입자(20)를 지나면서 파의 특성이 변화되지 않도록 센서 입자(20)는 질량, 구형 입자(10)에 대한 접촉부의 형상 및 재질 등이 최대한 구형 입자(10)와 동일하게 형성되는 것이 바람직하다.The spherical particle 10 and the sensor particle 20 constituting the particle chain C may be positioned in contact with each other to propagate a nonlinear isolated wave. As the nonlinear isolated wave passes through the sensor particle 20 , the sensor particle 20 has the same mass, shape and material as the spherical particle 10 as much as possible so that the wave characteristics do not change. It is preferable to form

입자 체인(C)을 이루는 구형 입자(10)와 센서 입자(20)는 '구성 입자(P)'라고 부르기로 한다.The spherical particles 10 and the sensor particles 20 constituting the particle chain C will be referred to as 'constituting particles (P)'.

가이드관(30)은 전체적인 형상이 긴 실린더형으로 이루어지는 것으로서, 내부에 길이방향을 따라 연장되는 가이드 공간(S)을 포함하여 가이드 공간(S) 내에 구형 입자(10)와 센서 입자(20)의 입자 체인(C)이 위치하게 된다. 가이드 공간(S)의 직경은 구성 입자(P)의 직경보다 약간 크게 형성될 수 있다.The guide tube 30 has a long cylindrical shape as a whole, and includes a guide space S extending along the longitudinal direction therein. The particle chain (C) is located. The diameter of the guide space (S) may be formed slightly larger than the diameter of the constituent particles (P).

가이드관(30)의 선단과 후단에는 가이드 공간(S)의 직경보다 작은 직경을 갖는 돌출구(31)가 구비될 수 있다. 이러한 돌출구(31)를 통해 입자 체인(C) 최선단과 최후단의 구성 입자(P)는 가이드 공간(S) 내에 위치하면서도 일부분이 외부로 돌출될 수 있다. 이에 따라, 최선단의 구성 입자(P)는 검사 대상(2)과 접할 수 있고, 최후단의 구성 입자(P)는 가이드관(30) 외부로부터 충격을 전달받을 수 있다.A protrusion 31 having a diameter smaller than the diameter of the guide space S may be provided at the front and rear ends of the guide tube 30 . Through these protrusions 31, the particles P of the leading end and the rear end of the particle chain C may be partially protruded to the outside while being located in the guide space S. Accordingly, the constituent particles (P) of the leading end may be in contact with the inspection object (2), and the constituent particles (P) of the rear end may receive an impact from the outside of the guide tube (30).

가진부(40)는 가이드관(30)의 외측면에 고정되며, 최후단에 위치하는 구성 입자(P)에 충격을 가하는 역할을 한다. 즉, 가진부(40)가 가하는 충격에 의해 입자 체인(C)에는 비선형 고립파가 발생할 수 있다.The excitation part 40 is fixed to the outer surface of the guide tube 30, and serves to apply an impact to the constituent particles P located at the rearmost end. That is, a nonlinear isolated wave may be generated in the particle chain C by the impact applied by the excitation unit 40 .

이러한 본 발명의 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는, 가이드관(30) 선단부를 통해 일부분이 돌출된 구성 입자(P)가 검사 대상(2) 표면과 접촉한 상태에서 최후단의 구성 입자(P)에 가진부(40)로 충격을 가하여 입자 체인(C)을 통해 비선형 고립파를 검사 대상(2)으로 전달함으로써 비파괴검사를 진행할 수 있다. 보다 구체적으로, 입자 체인(C)을 이루는 센서 입자(20)에서 검사 대상(2)으로의 입사 고립파와 검사 대상(2)으로부터의 반사 고립파를 측정하여 비교함으로써 검사 대상(2)의 상태를 파악할 수 있다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device (1) of the present invention is the configuration of the last end in a state in which the constituent particles (P) partly protruding through the tip of the guide tube (30) are in contact with the surface of the inspection object (2) Non-destructive testing can be performed by applying an impact to the particle P with the excitation part 40 and transmitting the nonlinear isolated wave to the inspection target 2 through the particle chain C. More specifically, the state of the inspection object 2 is determined by measuring and comparing the isolated wave incident to the inspection object 2 from the sensor particle 20 constituting the particle chain C and the isolated isolated wave reflected from the inspection object 2 . can figure out

본 발명의 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는, 입자 체인(C)이 가이드관(30) 내에서 일렬로 배치되는 상태가 유지되면서도 최선단과 최후단의 일부분은 가이드관(30) 외부로 돌출될 수 있어, 가이드관(30) 외부에 위치하는 가진부(40)로부터 가해진 충격을 가이드관(30) 외부에 위치하는 검사 대상(2)에 가해주는 것이 가능하다. 그리고 입자 체인(C)의 배치 상태는 가이드관(30)이 어느 자세로 놓여있는지에 관계없이 유지될 수 있다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 of the present invention maintains the state in which the particle chain C is arranged in a line in the guide tube 30, while the leading and rearmost portions are outside the guide tube 30 It is possible to protrude into the guide tube 30, it is possible to apply the impact applied from the vibrating portion 40 located outside the guide tube 30 to the inspection target (2) located outside the guide tube (30). And the arrangement state of the particle chain (C) can be maintained regardless of which posture the guide tube 30 is placed.

이에 따라, 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)를 휴대하고 다니면서 실험실이 아닌 다양한 산업 현장에서 비파괴검사를 진행하는 것이 가능하고, 검사 대상(2)의 놓여진 위치나 각도에 관계없이 비파괴검사를 진행할 수 있다.Accordingly, it is possible to carry out the non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device (1) according to the present invention while carrying out the non-destructive testing in various industrial sites, not in the laboratory, and the position or angle of the inspection target (2) is related to Non-destructive testing can be performed without

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는 사전 압축부재(50)를 더 구비할 수 있다. 도 4에는 사전 압축부재(50)에 관한 설명도가 도시되어 있다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device 1 according to the present invention may further include a pre-compression member 50 . 4 is an explanatory view of the pre-compression member 50 is shown.

사전 압축부재(50)는 가이드관(30) 내의 가이드 공간(S)의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 배치되어 구성 입자(P)들을 서로 밀착시키는 역할을 한다.The pre-compression member 50 is disposed at at least one of the front end and the rear end of the guide space (S) in the guide tube (30) and serves to bring the constituent particles (P) into close contact with each other.

가이드관(30)의 자세에 따라 입자 체인(C)의 구성 입자(P)들 사이의 밀착력은 약해질 수 있는데, 사전 압축부재(50)는 어느 일단부에 위치하는 구성 입자(P)를 반대 방향 단부로 가압함으로써 구성 입자(P)들이 항상 밀착된 상태를 유지할 수 있도록 하고, 결과적으로 입자 체인(C)을 통해 비선형 고립파가 원활하게 전달될 수 있도록 한다.Depending on the posture of the guide tube 30, the adhesion between the constituent particles P of the particle chain C may be weakened, and the pre-compression member 50 opposes the constituent particles P located at any one end. By pressing toward the directional end, the constituent particles P can always remain in close contact, and as a result, the nonlinear isolated wave can be smoothly transmitted through the particle chain C.

이에 따라, 본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)는 검사 자세에 관계없이 정확한 검사 결과를 얻는 것이 가능하다.Accordingly, the non-destructive inspection apparatus 1 according to the present invention can obtain accurate inspection results regardless of the inspection posture.

사전 압축부재(50)는 예를 들어, 고무나 실리콘 등과 같은 연질 재료로 이루어져 가이드 공간(S)의 최단부 내벽과 구성 입자(P) 사이에 개재될 수 있다. 사전 압축부재(50)에 의해 최단부에 위치하는 구성 입자(P)가 가진부(40)나 검사 대상(2)과 접하는 것이 방해되지 않도록, 사전 압축부재(50)는 구성 입자(P)의 일부분이 통과할 수 있는 링형으로 이루어질 수 있다.The pre-compression member 50 may be made of, for example, a soft material such as rubber or silicone and interposed between the innermost inner wall of the guide space S and the constituent particles P. The pre-compression member 50 prevents the constituent particles P located at the shortest part by the pre-compression member 50 from coming into contact with the excitation part 40 or the inspection object 2, It may be formed in the form of a ring through which a part can pass.

사전 압축부재(50)가 구성 입자(P)들을 밀착시키는 힘은 조절 가능하게 형성될 수 있다.The force of the pre-compression member 50 to adhere the constituent particles P may be adjustable.

구성 입자(P)들 사이의 밀착력이 너무 크거나 작은 경우에는 비선형 고립파의 전파에 영향을 미칠 수 있는데, 사전 압축부재(50)로 구성 입자(P)들 사이의 밀착력을 적당하게 조절하여 비선형 고립파가 입자 체인(C)을 통해 원활하게 전달되도록 할 수 있다.If the adhesion between the constituent particles (P) is too large or too small, it may affect the propagation of the nonlinear isolated wave. It is possible to ensure that the isolated wave is smoothly transmitted through the particle chain (C).

사전 압축부재(50)는 예를 들어, 가이드관(30)을 가이드관 본체(310)와 마개(320)로 형성하고 가이드관 본체(310)와 마개(320) 사이에 사전 압축부재(50)를 개재하는 방법을 통해 구성 입자(P)들 사이의 밀착력을 조절할 수 있도록 형성된다. The pre-compression member 50, for example, forms the guide tube 30 with the guide tube body 310 and the stopper 320, and the pre-compression member 50 between the guide tube body 310 and the stopper 320. It is formed so as to control the adhesion between the constituent particles (P) through a method interposed therebetween.

보다 구체적으로, 가이드관 본체(310)는 가이드 공간(S)을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 마개(320)는 가이드관 본체(310)의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 결합하고 돌출구(31)를 구비한다. 도 4에서는 예시적으로, 마개(320)가 가이드관 본체(310)의 선단과 후단에 모두 형성되어 있는 경우가 도시되어 있다.More specifically, the guide tube body 310 is formed in a cylindrical shape to form the guide space (S), and the stopper 320 is coupled to at least one of the front end and the rear end of the guide tube body 310, and the protrusion 31 ) is provided. In FIG. 4 by way of example, the case in which the stopper 320 is formed at both the front end and the rear end of the guide tube body 310 is illustrated.

마개(320)는 가이드관 본체(310)의 단부를 감쌀 수 있는 짧은 원통형으로 형성되고, 가이드관 본체(310)의 단부 외주면과 마개(320)의 내주면에는 나사산이 형성되어 가이드관 본체(310)와 마개(320)는 서로 나사 결합할 수 있다.The stopper 320 is formed in a short cylindrical shape that can wrap the end of the guide tube body 310, and a thread is formed on the outer peripheral surface of the end of the guide tube body 310 and the inner peripheral surface of the stopper 320, the guide tube body 310. And the stopper 320 may be screwed to each other.

그리고 사전 압축부재(50)는 가이드관 본체(310)의 말단과 마개(320) 사이에 개재되어, 마개(320)가 가이드관 본체(310)와 결합하는 길이에 따라 사전 압축부재(50)가 구성 입자(P)를 가압하는 힘이 달라지면서 구성 입자(P)들 사이의 밀착력이 조절된다.And the pre-compression member 50 is interposed between the end of the guide tube body 310 and the stopper 320, depending on the length at which the stopper 320 is coupled to the guide tube body 310, the pre-compression member 50 is As the force for pressing the constituent particles (P) is changed, the adhesion between the constituent particles (P) is adjusted.

서로 나사 결합하는 가이드관 본체(310)와 마개(320)는, 마개(320)를 회전시키는 것에 의해 결합 길이를 쉽게 조절하여, 결과적으로 구성 입자(P)들 사이의 밀착력을 쉽게 조절할 수 있다.The guide tube body 310 and the stopper 320 screwed to each other can easily adjust the coupling length by rotating the stopper 320, and consequently, the adhesion between the constituent particles P can be easily adjusted.

가이드관(30)의 후단부에는 최후단의 구성 입자(P)에 충격을 가하기 위한 가진부(40)가 위치하므로, 가이드관 본체(310)에 나사 결합하는 마개(320)는 가이드관 본체(310)의 선단부 방향에 위치하는 것이 바람직하다.At the rear end of the guide tube 30, the excitation portion 40 for applying an impact to the particles P at the rear end is located, so the stopper 320 screwed to the guide tube body 310 is the guide tube body ( 310) is preferably located in the direction of the tip.

가이드관 본체(310)의 선단과 후단 모두에 마개(320)가 구비되는 경우, 후단의 마개(320)는 연질 재료로 이루어져 사전 압축부재(50)의 역할을 겸할 수 있다.When the stopper 320 is provided at both the front end and the rear end of the guide tube body 310 , the stopper 320 at the rear end is made of a soft material and can serve as the pre-compression member 50 .

센서 입자(20)는 센싱부(210)와 접촉부(220)를 포함하여 이루어질 수 있다. 도 5에는 이러한 센서 입자(20)에 관한 설명도가 도시되어 있다.The sensor particle 20 may include a sensing unit 210 and a contact unit 220 . 5 is an explanatory diagram of the sensor particle 20 is shown.

센싱부(210)는 짧은 원통형으로 이루어지며 내부에 센서가 구비된다. 센서는 예를 들어, 압전 센서일 수 있으며, 압전 센서의 압전물질(211)은 센싱부(210)의 길이방향 중간부에 센싱부(210)의 길이방향과 수직을 이루도록 배치될 수 있다.The sensing unit 210 has a short cylindrical shape and a sensor is provided therein. The sensor may be, for example, a piezoelectric sensor, and the piezoelectric material 211 of the piezoelectric sensor may be disposed in the middle portion of the sensing unit 210 in the longitudinal direction so as to be perpendicular to the longitudinal direction of the sensing unit 210 .

접촉부(220)는 센싱부(210)의 양단부에 접합되며 일측 표면만이 곡면으로 이루어지는 반구형과 유사한 형상으로 이루어진다. 센싱부(210)는 양단부에서 삽입홈을 구비하여, 삽입홈 내에 접촉부(220)가 삽입 고정될 수 있다.The contact part 220 is joined to both ends of the sensing part 210 and has a shape similar to a hemispherical shape in which only one surface is curved. The sensing unit 210 has insertion grooves at both ends, so that the contact unit 220 may be inserted and fixed in the insertion groove.

기존의 비선형 고립파를 이용한 비파괴검사장치에서는 센서 입자가 구형으로 형성되어 쉽게 구를 수 있었고, 이로 인해 센서 입자의 자세에 따라 센서 입자 내의 압전물질과 비선형 고립파 전파방향 사이의 각도가 달라져 센싱 결과가 부정확해지는 문제가 있었다.In the existing non-destructive testing device using non-linear isolated waves, the sensor particles were formed in a spherical shape and could be easily rolled. As a result, the angle between the piezoelectric material in the sensor particles and the propagation direction of the non-linear isolated wave changes depending on the posture of the sensor particles, resulting in sensing results. There was a problem with the inaccuracy.

그런데 본 발명에서 센서 입자(20)는 짧은 원통형으로 형성되는 센싱부(210)에 의해 가이드관(30) 내에서 구르지 않고, 따라서 센서 입자(20)의 압전물질(211)이 비선형 고립파의 전파방향과 항상 수직을 이루게 되므로 정확한 센싱 결과를 얻는 것이 가능하다. 그리고 이는 휴대용으로 이루어져 다양한 위치와 각도로 사용될 수 있는 본 발명의 비파괴검사장치(1)에 있어 특히 유효하다.However, in the present invention, the sensor particle 20 does not roll in the guide tube 30 by the sensing unit 210 formed in a short cylindrical shape, and thus the piezoelectric material 211 of the sensor particle 20 is propagated by the nonlinear isolated wave. Since it is always perpendicular to the direction, it is possible to obtain accurate sensing results. And this is particularly effective in the non-destructive testing apparatus 1 of the present invention, which is portable and can be used in various positions and angles.

입자 체인(C)을 통해 전파되는 비선형 고립파가 센서 입자(20) 부분에서 분산되거나 반사되지 않도록 센서 입자(20)는 구형 입자(10)와 동일한 진동 특성을 갖는 것이 바람직하다. 이를 위해, 센서 입자(20)는 구형 입자(10)와 동일한 질량과 접촉강성을 가지도록 형성된다. 구형 입자(10)와 접촉하는 접촉부(220)는 구형 입자(10)와 동일한 곡률 및 물성을 가지도록 형성되어 구형 입자(10)와 동일한 접촉 강성을 가질 수 있다.The sensor particle 20 preferably has the same vibration characteristics as the spherical particle 10 so that the nonlinear isolated wave propagating through the particle chain C is not dispersed or reflected in the part of the sensor particle 20 . To this end, the sensor particle 20 is formed to have the same mass and contact stiffness as the spherical particle 10 . The contact portion 220 in contact with the spherical particle 10 may be formed to have the same curvature and physical properties as the spherical particle 10 , and thus may have the same contact rigidity as the spherical particle 10 .

압전물질(211)은 센싱부(210)에 의해 보호될 수 있도록 센싱부(210) 본체의 직경보다 작은 직경으로 형성되는 것이 바람직하다.The piezoelectric material 211 is preferably formed with a diameter smaller than the diameter of the sensing unit 210 body to be protected by the sensing unit 210 .

센서 입자(20)의 압전물질(211)은 신호선(W)을 통해 외부의 전압계(3)와 연결되어 압전물질(211)에서 발생한 전압이 측정될 수 있다.The piezoelectric material 211 of the sensor particle 20 is connected to the external voltmeter 3 through the signal line W, so that the voltage generated from the piezoelectric material 211 can be measured.

센서 입자(20)와 외부 전압계(3)를 신호선(W)으로 연결할 수 있도록 가이드관(30)의 벽체에는 슬릿(미도시)이 형성될 수 있다. 슬릿은 예를 들어, 가이드관(30)의 길이방향을 따라 길게 형성될 수 있다.A slit (not shown) may be formed on the wall of the guide tube 30 to connect the sensor particle 20 and the external voltmeter 3 with the signal line W. The slit may be formed to be elongated in the longitudinal direction of the guide tube 30 , for example.

가이드관(30)의 슬릿은 커버(70)에 의해 폐쇄될 수 있다. 이에 따라, 슬릿을 통해 가이드관(30) 내부로 이물질이 유입됨으로써 검사의 결과에 영향을 미치는 것을 최소화할 수 있다. 커버(70)는 단면이 180도가 넘는 호형으로 이루어져 가이드관(30)의 외측면에 끼움 고정될 수 있다. 커버(70)는 가이드관(30) 내부의 상태를 확인할 수 있도록 투명한 재질로 이루어질 수 있다.The slit of the guide tube 30 may be closed by the cover 70 . Accordingly, it is possible to minimize the influx of foreign substances into the guide tube 30 through the slit, thereby affecting the test result. The cover 70 may be fitted and fixed to the outer surface of the guide tube 30 because the cross-section is formed in an arc shape of more than 180 degrees. The cover 70 may be made of a transparent material so that the inside of the guide tube 30 can be checked.

신호선(W)은 가이드관(30)과 커버(70)의 틈 사이를 통해 외부 전압계(3)와 연결될 수 있다.The signal line W may be connected to the external voltmeter 3 through a gap between the guide tube 30 and the cover 70 .

센서 입자(20)는 도 6의 (a)에 도시되어 있는 바와 같이, 2개가 서로 이격되어 배치될 수 있다. 이 경우, 본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)에 이상이 있는지를 확인하여 검사의 정확성을 높일 수 있다.As shown in (a) of FIG. 6, the sensor particles 20 may be disposed to be spaced apart from each other. In this case, it is possible to increase the accuracy of the inspection by checking whether there is an abnormality in the non-destructive inspection apparatus 1 according to the present invention.

즉, 비선형 고립파의 감쇠는 입자 체인(C)의 상태에 따라 크게 달라지게 되는데, 서로 이격된 센서 입자(20)를 통해 비선형 고립파의 진폭을 비교하여 비선형 고립파의 감쇠를 확인함으로써 입자 체인(C)의 상태를 알 수 있고, 입자 체인(C)의 상태에 따라 비파괴검사장치(1)의 이상 유무를 확인할 수 있다.That is, the attenuation of the nonlinear isolated wave varies greatly depending on the state of the particle chain C. By comparing the amplitude of the nonlinear isolated wave through the sensor particles 20 spaced apart from each other, the attenuation of the nonlinear isolated wave is confirmed. The state of (C) can be known, and the presence or absence of an abnormality in the non-destructive inspection device 1 can be checked according to the state of the particle chain (C).

그리고 두 센서 입자(20)의 신호를 비교하여 비선형 고립파의 방향을 확인함으로써 입자 체인(C) 내의 이물질 등에 의한 불필요한 간섭신호를 검사 대상(2)의 판단을 위한 데이터에서 배제할 수 있다.And by comparing the signals of the two sensor particles 20 and confirming the direction of the nonlinear isolated wave, unnecessary interference signals caused by foreign substances in the particle chain C can be excluded from the data for the determination of the inspection object 2 .

또한, 두 센서 입자(20)의 신호를 비교하여 센서 입자(20) 자체의 이상을 검출하는 것도 가능하다.In addition, it is also possible to detect an abnormality of the sensor particle 20 itself by comparing the signals of the two sensor particles 20 .

센서 입자(20)는 도 6의 (b)에 도시되어 있는 바와 같이, 가이드 공간(S)의 최선단에 배치될 수 있다. 이러한 센서 입자(20)는 검사 대상(2)과 접촉하므로 센서 입자(20)와 검사 대상(2)의 접촉력을 측정할 수 있고, 측정된 접촉력 관련 신호는 검사 대상(2)의 상태를 분석하는 데에 추가적인 데이터로 사용될 수 있다.The sensor particles 20 may be disposed at the leading end of the guide space (S), as shown in (b) of FIG. Since these sensor particles 20 are in contact with the inspection object 2, the contact force between the sensor particles 20 and the inspection object 2 can be measured, and the measured contact force-related signal is used to analyze the state of the inspection object 2 It can be used as additional data for

도 7에는 가진부(40) 부분의 단면도가 도시되어 있다.7 is a cross-sectional view of the excitation part 40 is shown.

가진부(40)는 가진 입자 가이드관(410), 가진 입자(420) 및 발진부(430)를 포함하여 이루어진다.The excitation unit 40 includes an excitation particle guide tube 410 , an excitation particle 420 and an oscillation unit 430 .

가진 입자 가이드관(410)은 가이드관(30)의 후단에 가이드관(30)을 감싸면서 고정된다. 가진 입자 가이드관(410)은 가이드관(30)의 연장 방향을 따라 연장된다.The excitation particle guide tube 410 is fixed while surrounding the guide tube 30 at the rear end of the guide tube 30 . The excitation particle guide tube 410 extends along the extension direction of the guide tube 30 .

가진 입자(420)는 가진 입자 가이드관(410) 내에서 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)에 인접하여 배치된다. 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P) 일부분은 돌출구(31)를 통해 가이드관(30) 외부로 돌출되므로 가진 입자(420)와 접할 수 있다. 가진 입자(420)의 무게는 구성 입자(P)의 무게보다 작거나 같을 수 있다. 가진 입자(420)의 직경은 가진 입자 가이드관(410)의 내경에 맞추어 형성됨으로써 가진 입자(420)가 가진 입자 가이드관(410)을 따라 일직선으로 이동할 수 있다.Excitation particles 420 are disposed adjacent to the constituent particles (P) of the last end of the guide tube (30) in the particle guide tube (410). A portion of the particles (P) at the rear end of the guide tube 30 protrudes to the outside of the guide tube 30 through the protrusion 31 , so it can come into contact with the particles 420 . The weight of the exciting particles 420 may be less than or equal to the weight of the constituent particles P. The diameter of the particle 420 with the particle 420 is formed to match the inner diameter of the particle guide tube 410, so that the particle guide tube 410 with the particle 420 can move in a straight line.

발진부(430)는 가진 입자(420)를 가이드관(30) 방향으로 발진시키는 역할을 한다. 발진부(430)에 의해 발진된 가진 입자(420)는 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)에 충격을 가하여, 가이드관(30) 내의 입자 체인(C)을 따라 비선형 고립파가 전파되도록 한다.The oscillation unit 430 serves to oscillate the excitation particles 420 in the guide tube 30 direction. The excitation particle 420 oscillated by the oscillation unit 430 applies an impact to the constituent particles P of the last end of the guide tube 30 , and the nonlinear isolated wave propagates along the particle chain C in the guide tube 30 . make it possible

발진부(430)는 보다 구체적으로, 스프링(431), 연결대(432) 및 트리거부(433)를 구비한다.More specifically, the oscillation unit 430 includes a spring 431 , a connecting rod 432 , and a trigger unit 433 .

스프링(431)은 압축 스프링으로서, 가진 입자 가이드관(410) 내에서 가진 입자(420)의 후방으로 배치되어 가진 입자(420)를 가이드관(30) 방향으로 밀어내는 역할을 한다. 스프링(431)은 가진 입자(420)를 밀어낼 수는 있지만 가진 입자(420)와 접합되지 않아 가진 입자(420)를 당길 수는 없다.The spring 431 is a compression spring and serves to push the particles 420 in the guide tube 30 direction, which is disposed behind the particles 420 with the particles in the guide tube 410 . The spring 431 can push the excited particle 420, but it cannot pull the excited particle 420 because it is not bonded to the excited particle 420 .

연결대(432)는 가진 입자 가이드관(410) 내부에 배치되는 막대 형상의 부재로서, 선단부가 가진 입자(420)에 연결되고 후단부가 가진 입자 가이드관(410)의 후단부 외측으로 돌출된다. 연결대(432)의 후단부에는 제1 자석(432a)이 구비된다.The connecting rod 432 is a rod-shaped member disposed inside the particle guide tube 410 with a front end, and is connected to the particle 420 with the front end and protrudes outside the rear end of the particle guide tube 410 with the rear end. A first magnet 432a is provided at the rear end of the connecting rod 432 .

연결대(432)는 스프링(431)을 관통하여 배치될 수 있으며, 가진 입자 가이드관(410)의 후단부에는 스프링(431)을 지지해주는 스프링 지지대(434)가 위치한다. 스프링(431)의 후단은 스프링 지지대(434)에 연결된다. 연결대(432)는 스프링 지지대(434)를 관통하여 후단부가 가진 입자(420) 가이드관(410)의 외측으로 돌출될 수 있다.The connecting rod 432 may be disposed through the spring 431 , and a spring support 434 supporting the spring 431 is located at the rear end of the excitation particle guide tube 410 . The rear end of the spring 431 is connected to the spring support 434 . The connecting rod 432 may protrude to the outside of the particle 420 guide tube 410 with the rear end through the spring support 434 .

트리거부(433)는 제1 자석(432a)과의 사이에서 인력이 발생하는 제2 자석(M)을 구비하며, 제1 자석(432a)에 대해 이동 가능하게 형성된다.The trigger part 433 is provided with a second magnet M that generates an attractive force between the first magnet 432a and is formed to be movable with respect to the first magnet 432a.

이러한 발진부(430)는 다음과 같이 동작할 수 있다. The oscillator 430 may operate as follows.

평소에 발진부(430)는 도 6의 (a)에 도시되어 있는 바와 같이, 스프링(431)이 완전히 이완된 상태에서 연결대(432)의 후단부와 트리거부(433)가 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)에 의해 접촉하는 상태로 위치한다. 이때, 가진 입자(420)는 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 접촉하되 구성 입자(P)를 가압하지 않는 상태로 위치한다.Normally, the oscillation unit 430 is a first magnet 432a with the rear end of the connecting rod 432 and the trigger unit 433 in a state where the spring 431 is fully relaxed, as shown in FIG. 6( a ). and the second magnet (M) in contact with each other. At this time, the excitation particle 420 is positioned in a state that is in contact with the constituent particles (P) of the last end of the guide tube (30) but does not press the constituent particles (P).

트리거부(433)를 가진 입자 가이드관(410)의 후단부 방향으로 이동시키면, 이동 거리가 크지 않을 때에는 도 6의 (b)에 도시되어 있는 바와 같이 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)의 인력에 의해 연결대(432)와 가진 입자(420)가 함께 이동하고 스프링(431)은 압축된다. 연결대(432)와 함께 이동한 가진 입자(420)는 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 떨어지게 된다.When moving in the direction of the rear end of the particle guide tube 410 having the trigger part 433, when the moving distance is not large, as shown in FIG. 6 (b), the first magnet 432a and the second magnet ( The particles 420 with the connecting rod 432 move together by the attractive force of M) and the spring 431 is compressed. The excitation particles 420 moved together with the connecting rod 432 are separated from the constituent particles P of the last end of the guide tube 30 .

트리거부(433)를 더 이동시키면 도 6의 (c)에 도시되어 있는 바와 같이, 압축되는 스프링(431)의 탄성력이 제1 자석(432a)과 제2 자석(M) 사이의 인력보다 커지게 되어 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)이 떨어지게 되고, 스프링(431)의 탄성력에 의해 가진 입자(420)가 가진 입자 가이드관(410)의 선단부 방향으로 빠르게 이동하여 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)에 충격을 가하게 된다.When the trigger part 433 is moved further, as shown in (c) of FIG. 6 , the elastic force of the compressed spring 431 becomes greater than the attractive force between the first magnet 432a and the second magnet M. The first magnet 432a and the second magnet M fall apart, and the particles 420 with the elastic force of the spring 431 move rapidly in the direction of the tip of the particle guide tube 410 with the guide tube 30 ) to apply an impact to the constituent particles (P) of the last stage.

가진 입자(420)가 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 접촉할 때 스프링(431)은 완전히 이완된 상태를 가지고 가진 입자(420)는 스프링(431)에 접합되지 않기 때문에, 가진 입자(420)가 발진되어 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 충돌하면서 발생하는 비선형 고립파에 대해서는 가진 입자(420)의 관성력만이 영향을 미칠 수 있으며 스프링(431)의 탄성력이 영향을 미치지는 못한다.When the particle 420 with the particle 420 comes into contact with the particle P at the end of the guide tube 30, the spring 431 has a fully relaxed state, and the particle 420 with the particle 420 is not bonded to the spring 431, Only the inertial force of the excitation particle 420 can affect the nonlinear isolated wave generated when the excitation particle 420 is oscillated and collides with the constituent particle P at the rear end of the guide tube 30 , and the spring 431 Elasticity has no effect.

가진 입자(420)가 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 충돌하여 비선형 고립파가 발생한 후 스프링(431)의 진동에 의해 가진 입자(420)가 진동하여 다시 미소한 비선형 고립파가 발생할 수 있지만, 1차적으로 발생한 비선형 고립파와 그 후의 미소 비선형 고립파의 시간차는 1차적으로 발생한 비선형 고립파와 그 반사파의 시간차에 비하여 확연히 크기 때문에 스프링(431)의 진동에 의한 미소 비선형 고립파와 반사파는 구분될 수 있다. 또는 2개의 센서 입자(20)를 통해 미소 비선형 고립파의 방향을 파악함으로써 미소 비선형 고립파와 반대 방향으로 이동하는 반사파와 구분할 수 있다.After the excitation particle 420 collides with the constituent particles P at the rear end of the guide tube 30 to generate a nonlinear isolated wave, the excitation particle 420 vibrates by the vibration of the spring 431 and again a minute nonlinear isolated wave. However, since the time difference between the firstly generated nonlinear isolated wave and the subsequent minute nonlinear isolated wave is significantly larger than the time difference between the firstly generated nonlinear isolated wave and its reflected wave, the minute nonlinear isolated wave and the reflected wave caused by the vibration of the spring 431 can be distinguished. Alternatively, by identifying the direction of the small nonlinear isolated wave through the two sensor particles 20 , it can be distinguished from the small nonlinear isolated wave and the reflected wave moving in the opposite direction.

가진 입자(420)의 무게가 구성 입자(P)보다 큰 경우, 가진 입자(420)가 가지는 과도한 관성력에 의해 가진 입자(420)와 구성 입자(P)의 충돌시 구성 입자(P)에 여러 번의 충격이 가해져 복수의 비선형 고립파가 생성될 수 있으므로, 가진 입자(420)의 무게는 구성 입자(P)의 무게보다 작거나 같은 것이 바람직하다.When the weight of the excitation particle 420 is greater than the constituent particle P, the excitation particle 420 has an excessive inertia force that causes the excitation particle 420 to collide with the constituent particle P several times. Since a plurality of nonlinear isolated waves may be generated by applying an impact, the weight of the excitation particle 420 is preferably less than or equal to the weight of the constituent particles P.

트리거부(433)는 보다 구체적으로, 손잡이(433a), 트리거대(433b) 및 트리거용 스프링(433c)을 포함하여 이루어질 수 있다.The trigger part 433 may include, more specifically, a handle 433a, a trigger stand 433b, and a spring 433c for a trigger.

손잡이(433a)는 가이드관(30)의 길이방향 중간부에서 외측면에 고정되는 것으로서, 가이드관(30)과 교차하는 방향으로 돌출 형성된다.The handle 433a is fixed to the outer surface in the longitudinal middle portion of the guide tube 30 , and is formed to protrude in a direction crossing the guide tube 30 .

트리거대(433b)는 가이드관(30)과 나란한 방향으로 이동 가능하도록 손잡이(433a)에 고정되는 것으로서, 선단부에 트리거(T)가 구비되고 후단부에 제2 자석(M)이 구비된다. 즉, 트리거대(433b)는 손잡이(433a)를 관통하며 트리거(T)와 제2 자석(M)을 연결하는 형태로 이루어질 수 있다.The trigger stand (433b) is fixed to the handle (433a) so as to be movable in a direction parallel to the guide tube (30), a trigger (T) is provided at the front end and a second magnet (M) is provided at the rear end. That is, the trigger stand (433b) passes through the handle (433a) and may be formed in the form of connecting the trigger (T) and the second magnet (M).

트리거용 스프링(433c)은 압축 스프링으로서, 트리거(T)와 손잡이(433a) 사이에 배치되어 트리거(T)를 트리거대(433b)의 선단부 방향으로 가압한다.The trigger spring 433c is a compression spring, which is disposed between the trigger T and the handle 433a to press the trigger T in the direction of the tip of the trigger stand 433b.

트리거부(433)는 평소에는 트리거용 스프링(433c)에 의해 가이드관(30)의 선단부 방향으로 가압되어, 제2 자석(M)이 제1 자석(432a)과 밀착된다. 그리고 손잡이(433a)를 잡고 손가락으로 트리거(T)를 누르면 트리거용 스프링(433c)이 압축되면서 트리거부(433)가 가이드관(30)의 후단부 방향으로 이동하게 되고, 트리거부(433)의 후단부에 구비된 제2 자석(M)을 따라 제1 자석(432a)을 구비하는 연결대(432)가 함께 이동하게 된다.The trigger part 433 is normally pressed in the direction of the tip end of the guide tube 30 by the trigger spring 433c, so that the second magnet M is in close contact with the first magnet 432a. And when the trigger (T) is pressed with a finger while holding the handle (433a), the trigger spring (433c) is compressed and the trigger part (433) moves in the direction of the rear end of the guide tube (30), and the trigger part (433) The connecting rod 432 including the first magnet 432a moves along with the second magnet M provided at the rear end.

이러한 트리거부(433)는 본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)를 한 손으로도 용이하게 동작시킬 수 있도록 해준다. 이에 따라, 좁은 곳이나 높은 곳에 위치하는 검사 대상(2)에 대해 비파괴검사를 용이하게 진행할 수 있다.This trigger unit 433 allows the non-destructive inspection device 1 according to the present invention to be easily operated with one hand. Accordingly, it is possible to easily proceed with the non-destructive inspection for the inspection object (2) located in a narrow place or high place.

발진부(430)를 구성하는 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)은 자력이 구성 입자(P)에 미치지 않는 거리만큼 구성 입자(P)로부터 이격되어 배치되는 것이 바람직하다. 이를 위해, 최후단의 구성 입자(P)에 맞닿는 가진 입자(420)와 제1 자석(432a)을 연결하는 연결대(432)는 충분히 긴 길이로 형성될 수 있다.It is preferable that the first magnet 432a and the second magnet M constituting the oscillation unit 430 are spaced apart from the constituent particles P by a distance where the magnetic force does not reach the constituent particles P. To this end, the connecting rod 432 connecting the excitation particle 420 and the first magnet 432a in contact with the constituent particles P of the last end may be formed to have a sufficiently long length.

이 경우, 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)의 자력이 입자 체인(C)의 운동에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.In this case, it is possible to prevent the magnetic force of the first magnet 432a and the second magnet M from affecting the motion of the particle chain C.

제2 자석(M)은 전자석 또는 다수 개의 영구자석으로 이루어져 자력이 조절될 수 있다.The second magnet M is composed of an electromagnet or a plurality of permanent magnets so that the magnetic force can be adjusted.

이 경우, 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)이 서로 떨어지는 순간의 스프링(431)이 압축된 정도가 조절되어 스프링(431)이 가진 입자(420)를 이동시키는 탄성력이 조절될 수 있으므로, 결과적으로 가진 입자(420)가 구성 입자(P)에 가진하는 에너지량이 조절될 수 있다.In this case, the degree of compression of the spring 431 at the moment when the first magnet 432a and the second magnet M are separated from each other is adjusted so that the elastic force of the spring 431 to move the particles 420 can be adjusted. Therefore, as a result, the amount of energy that the excited particles 420 excite to the constituent particles P can be adjusted.

도 8에 도시되어 있는 바와 같이, 입자 체인(C)을 이루는 구성 입자(P) 중 최선단에 위치하는 것은 선단이 평평하게 형성될 수 있다. 이러한 구성 입자(P)를 구비하는 본 발명의 비파괴검사장치(1)는 검사 대상(2)의 표면이 무른 재질인 경우에 사용될 수 있다.As shown in FIG. 8 , the tip of the constituent particles P constituting the particle chain C may be formed with a flat tip. The non-destructive inspection apparatus 1 of the present invention having such constituent particles P can be used when the surface of the inspection object 2 is made of a soft material.

본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)는 입자 체인(C) 최선단의 구성 입자(P)가 검사 대상(2)에 충돌한 후 검사 대상(2)으로부터의 반사파를 측정하는 방법으로 비파괴검사를 진행하는데, 검사 대상(2)이 무른 재질로 이루어지는 경우에는 검사 대상(2)에 대한 구성 입자(P)의 충돌로 인해 검사 대상(2)이 변형될 수 있고, 이러한 변형에 의해 반사파의 특성이 달라질 수 있다.The non-destructive inspection apparatus 1 according to the present invention performs a non-destructive inspection by measuring the reflected wave from the inspection object 2 after the constituent particles P at the front end of the particle chain C collide with the inspection object 2 . In the process, when the inspection object 2 is made of a soft material, the inspection object 2 may be deformed due to the collision of the constituent particles P with the inspection object 2, and by this deformation, the characteristics of the reflected wave may vary.

최선단 구성 입자(P)의 선단을 평평하게 형성하면, 구성 입자(P)와 검사 대상(2)의 충돌시 점접촉 하는 것이 아니라 면접촉을 하기 때문에 구성 입자(P)에서 가하는 하중이 집중되어 검사 대상(2)이 변형되는 것을 방지할 수 있다.When the tip of the leading-most constituent particle (P) is formed flat, the load applied from the constituent particle (P) is concentrated because the constituent particle (P) and the inspection object (2) make surface contact rather than point contact when they collide. It is possible to prevent the inspection object 2 from being deformed.

본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)는 진단부(60)를 더 포함할 수 있다. 도 9에는 진단부(60)에 관한 설명도가 도시되어 있다.The non-destructive testing apparatus 1 according to the present invention may further include a diagnostic unit 60 . 9 is an explanatory diagram of the diagnostic unit 60 .

진단부(60)는 센서 입자(20)와 연결되어 센서 입자(20)로부터 얻어진 데이터를 분석함으로써 검사 대상(2)의 상태를 판단하는 역할을 한다.The diagnostic unit 60 is connected to the sensor particle 20 and serves to determine the state of the test subject 2 by analyzing data obtained from the sensor particle 20 .

진단부(60)에서는 예를 들어, 입사파와 반사파의 진폭비, 입사파와 반사파의 시간차 등의 특성을 추출하여 검사 대상(2)의 상태를 판단할 수 있다.The diagnosis unit 60 may determine the state of the examination object 2 by extracting characteristics such as, for example, an amplitude ratio between the incident wave and the reflected wave, and a time difference between the incident wave and the reflected wave.

진단부(60)는 예를 들어, 컴퓨터, 스마트폰 또는 태블릿 등일 수 있으며, 센서 입자(20)와 연결된 전압계(3)로부터 무선통신을 통해 센서 입자(20)의 데이터를 전송받을 수 있다. 전압계(3)는 센서 입자(20)의 아날로그 전압신호를 디지털 신호로 변환하여 진단부(60)에 전송할 수 있다.The diagnostic unit 60 may be, for example, a computer, a smartphone, or a tablet, and may receive data of the sensor particle 20 through wireless communication from the voltmeter 3 connected to the sensor particle 20 . The voltmeter 3 may convert the analog voltage signal of the sensor particle 20 into a digital signal and transmit it to the diagnostic unit 60 .

진단부(60)는 데이터부(610), 학습부(620), 진단 모델 저장부(630) 및 분석부(640)를 포함할 수 있다.The diagnosis unit 60 may include a data unit 610 , a learning unit 620 , a diagnosis model storage unit 630 , and an analysis unit 640 .

데이터부(610)에는 검사 대상(2)의 상태별로 센서 입자(20)에서 얻어진 데이터가 저장된다. 즉, 데이터부(610)에는 검사 대상(2)의 구조, 재질, 파손 정도 등에 따른 입사파와 반사파에 관련된 수많은 데이터가 저장된다.The data unit 610 stores data obtained from the sensor particles 20 for each state of the inspection object 2 . That is, the data unit 610 stores numerous data related to the incident wave and the reflected wave according to the structure, material, degree of damage, and the like of the inspection object 2 .

학습부(620)에서는 인공지능 알고리즘을 이용하여 데이터부(610)에 저장되어 있는 데이터를 학습한다. 학습을 통해 검사 대상(2)의 파손 정도 등 별로 입사파와 반사파의 특징을 추출할 수 있다.The learning unit 620 learns the data stored in the data unit 610 using an artificial intelligence algorithm. Through learning, it is possible to extract the characteristics of the incident wave and the reflected wave according to the degree of damage of the inspection object 2 .

데이터를 학습하기 위한 알고리즘으로는 예를 들어, ANN(Artificial Neural Network), SVM(Support Vector Machine), RNN(Recurrent Neural Network) 또는 CNN(Convolutional Neural Network) 등이 사용될 수 있다.As an algorithm for learning data, for example, an artificial neural network (ANN), a support vector machine (SVM), a recurrent neural network (RNN), or a convolutional neural network (CNN) may be used.

진단 모델 저장부(630)에서는 학습부(620)에서 학습을 통해 도출된 진단 모델이 저장된다. 진단 모델에는 검사 대상(2)의 파손 정도 등 별로 입사파와 반사파의 특징이 나타나있다.The diagnosis model storage unit 630 stores a diagnosis model derived through learning in the learning unit 620 . In the diagnostic model, the characteristics of the incident wave and the reflected wave are shown according to the degree of damage of the test object 2 .

분석부(640)에서는 진달 모델을 기반으로 센서 입자(20)에서 얻어지는 새로운 데이터를 분석하여 검사 대상(2)의 상태를 파악한다. 즉, 새로운 데이터의 특징이 진단 모델의 어느 특징과 대응되는지 찾아냄으로써 검사 대상(2)의 상태를 파악할 수 있다.The analysis unit 640 analyzes new data obtained from the sensor particles 20 based on the diaphragm model to determine the state of the test subject 2 . That is, the state of the test subject 2 can be grasped by finding which feature of the diagnostic model corresponds to which feature of the new data.

본 발명의 권리범위는 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니라 첨부된 특허청구범위 내에서 다양한 형태의 실시예로 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 변형 가능한 다양한 범위까지 본 발명의 청구범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.The scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, but may be implemented in various forms within the scope of the appended claims. Without departing from the gist of the present invention claimed in the claims, it is considered to be within the scope of the claims of the present invention to the extent that various modifications can be made by anyone skilled in the art to which the invention pertains.

1 : 비파괴검사장치
10 : 구형 입자 20 : 센서 입자
30 : 가이드관 31 : 돌출구
40 : 가진부 50 : 사전 압축부재
60 : 진단부
210 : 센싱부 220 : 접촉부
310 : 가이드관 본체 320 : 마개
410 : 가진 입자 가이드관 420 : 가진 입자
430 : 발진부 431 : 스프링
432 : 연결대 432a : 제1 자석
433 : 트리거부 433a : 손잡이
433b : 트리거대 433c : 트리거용 스프링
610 : 데이터부 620 : 학습부
630 : 진단 모델 저장부 640 : 분석부
C : 입자 체인 M : 제2 자석
P : 구성 입자 S : 가이드 공간
T : 트리거
1: Non-destructive testing device
10: spherical particle 20: sensor particle
30: guide tube 31: protrusion
40: excitation part 50: pre-compression member
60: diagnostic unit
210: sensing unit 220: contact unit
310: guide tube body 320: stopper
410: Excitation particle guide tube 420: Excitation particle
430: oscillation unit 431: spring
432: connecting rod 432a: first magnet
433: trigger part 433a: handle
433b: trigger stand 433c: trigger spring
610: data unit 620: learning unit
630: diagnostic model storage unit 640: analysis unit
C: particle chain M: second magnet
P : constituent particles S : guide space
T: trigger

Claims (16)

서로 접하는 상태에서 일렬로 배치되는 다수 개의 구형 입자;
상기 구형 입자와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인을 이루는 센서 입자;
상기 입자 체인을 포함하는 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 선단과 후단에서 상기 입자 체인을 이루는 구성 입자의 일부분이 돌출되도록 하는 돌출구를 구비하는 가이드관; 및
상기 가이드관에 고정되며, 최후단에 위치한 상기 구성 입자에 충격을 가하는 가진부;를 포함하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
A plurality of spherical particles arranged in a line in contact with each other;
sensor particles arranged in a line with the spherical particles to form a particle chain;
a guide tube having a cylindrical shape forming a guide space including the particle chain and having a protrusion through which a portion of the constituent particles constituting the particle chain protrudes from a front end and a rear end; and
A non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device including a; fixed to the guide tube, and an excitation unit for applying an impact to the constituent particles located at the rearmost end.
제1항에 있어서,
상기 가이드 공간의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에는 상기 구성 입자들을 서로 밀착시키는 사전 압축부재가 구비되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
The method of claim 1,
A non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that a pre-compression member for adhering the constituent particles to each other is provided at at least one of the front end and the rear end of the guide space.
제2항에 있어서,
상기 사전 압축부재가 상기 구성 입자들을 밀착시키는 힘은 조절 가능하게 형성되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
3. The method of claim 2,
The non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that the pre-compression member is formed to be able to adjust the force for adhering the constituent particles.
제3항에 있어서,
상기 가이드관은,
상기 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지는 가이드관 본체, 및
상기 가이드관 본체의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 결합하며 상기 돌출구를 구비하는 마개를 포함하고,
상기 사전 압축부재는 상기 가이드관 본체의 말단과 상기 마개 사이에 개재되며,
상기 마개는 상기 가이드관 본체에 나사 결합하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
4. The method of claim 3,
The guide tube is
A guide tube body formed in a cylindrical shape forming the guide space, and
and a stopper coupled to at least one of a front end and a rear end of the guide tube body and having the protrusion,
The pre-compression member is interposed between the end of the guide tube body and the stopper,
The stopper is a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that screwed to the guide tube body.
제1항에 있어서,
상기 가이드관의 벽체에는 슬릿이 구비된 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
A non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that a slit is provided on the wall of the guide tube.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자는,
원통형으로 이루어지며 센서가 구비된 센싱부, 및
상기 센싱부의 양단부에 형성되며 반구형으로 이루어지는 접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The sensor particles are
A sensing unit having a cylindrical shape and provided with a sensor, and
A non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing apparatus formed at both ends of the sensing unit and comprising a hemispherical contact unit.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자는, 2개가 서로 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The sensor particle, a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that the two are spaced apart from each other.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자는, 상기 가이드 공간의 최선단에 배치되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The sensor particle is a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that it is disposed at the front end of the guide space.
제1항에 있어서,
상기 가진부는,
상기 가이드관의 후단에 고정되는 가진 입자 가이드관,
상기 가진 입자 가이드관 내에서 상기 가이드관 최후단의 상기 구성 입자에 인접하여 배치되는 가진 입자, 및
상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 발진시키는 발진부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The excitation part,
An excitation particle guide tube fixed to the rear end of the guide tube,
Exciting particles disposed adjacent to the constituent particles at the last end of the guide tube in the excitation particle guide tube, and
Non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device comprising an oscillation unit for oscillating the excitation particle in the direction of the guide tube.
제9항에 있어서,
상기 발진부는,
상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 밀어내는 스프링,
선단부가 상기 가진 입자에 연결되고 후단부에 제1 자석을 구비하는 연결대, 및
제2 자석을 구비하고 상기 제1 자석에 대해 이동 가능하게 형성되는 트리거부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
10. The method of claim 9,
The oscillation unit,
a spring that pushes the excited particles in the direction of the guide tube,
A connecting rod having a front end connected to the vibrating particle and having a first magnet at the rear end, and
Non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device comprising a second magnet and a trigger portion formed to be movable with respect to the first magnet.
제10항에 있어서,
상기 트리거부는,
상기 가이드관의 외측면에 고정되는 손잡이,
상기 가이드관과 나란한 방향으로 이동 가능하도록 상기 손잡이에 고정되는 것으로서, 선단부에 트리거가 구비되고 후단부에 상기 제2 자석이 구비된 트리거대, 및
상기 트리거를 상기 트리거대의 선단부 방향으로 가압하는 트리거용 스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
11. The method of claim 10,
The trigger unit,
A handle fixed to the outer surface of the guide tube,
A trigger stand fixed to the handle so as to be movable in a direction parallel to the guide tube, the trigger being provided at the front end and the second magnet at the rear end, and
Non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device comprising a trigger spring for pressing the trigger in the direction of the tip of the trigger stand.
제10항에 있어서,
상기 제1 자석과 상기 제2 자석은 자력이 상기 구성 입자에 미치지 않는 거리만큼 상기 구성 입자로부터 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
11. The method of claim 10,
The first magnet and the second magnet are non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing apparatus, characterized in that the magnetic force is arranged to be spaced apart from the constituent particles by a distance that does not reach the constituent particles.
제10항에 있어서,
상기 제2 자석은 전자석 또는 다수 개의 영구자석으로 이루어져 자력이 조절되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
11. The method of claim 10,
The second magnet is composed of an electromagnet or a plurality of permanent magnets, and the magnetic force is controlled.
제1항에 있어서,
상기 구성 입자 중 최선단에 위치하는 것은 선단이 평평하게 형성된 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that the one located at the most tip among the constituent particles is formed with a flat tip.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자와 연결되는 진단부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
Non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that it further comprises a diagnostic unit connected to the sensor particle.
제15항에 있어서,
상기 진단부는,
검사 대상의 상태별로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터가 저장된 데이터부,
상기 데이터부에 저장된 데이터를 학습하는 학습부,
상기 학습부에서 도출된 진단 모델이 저장된 진단 모델 저장부, 및
상기 진단 모델을 기반으로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터를 분석하는 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
16. The method of claim 15,
The diagnostic unit,
A data unit storing data obtained from the sensor particles for each state of the inspection object;
a learning unit for learning the data stored in the data unit;
a diagnostic model storage unit storing the diagnostic model derived from the learning unit; and
and an analysis unit for analyzing the data obtained from the sensor particles based on the diagnostic model.
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