KR102489421B1 - Portable nondestructive inspection apparatus based on nonlinear solitary wave - Google Patents

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Abstract

본 발명은 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 관한 것으로서, 서로 접하는 상태에서 일렬로 배치되는 다수 개의 구형 입자; 상기 구형 입자와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인을 이루는 센서 입자; 상기 입자 체인을 포함하는 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 선단과 후단에서 상기 입자 체인을 이루는 구성 입자의 일부분이 돌출되도록 하는 돌출구를 구비하는 가이드관; 및 상기 가이드관에 고정되며, 최후단에 위치한 상기 구성 입자에 충격을 가하는 가진부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 따라, 휴대가 용이하고 다양한 자세로 비파괴검사를 진행하는 것이 가능하다.
The present invention relates to a portable non-destructive testing device based on nonlinear isolated waves, comprising: a plurality of spherical particles disposed in a line in contact with each other; sensor particles arranged in a line with the spherical particles to form a particle chain; a guide pipe formed in a cylindrical shape forming a guide space including the particle chain and having protruding holes through which a part of the constituent particles constituting the particle chain protrudes at front and rear ends; and a vibrating unit that is fixed to the guide tube and applies an impact to the constituting particles located at the last end.
Accordingly, it is easy to carry and it is possible to perform non-destructive testing in various postures.

Figure R1020210031110
Figure R1020210031110

Description

비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치{PORTABLE NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS BASED ON NONLINEAR SOLITARY WAVE}Portable non-destructive testing device based on nonlinear isolated wave {PORTABLE NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS BASED ON NONLINEAR SOLITARY WAVE}

본 발명은 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 사용 자세에 관계없이 비선형 고립파를 안정적으로 생성할 수 있는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a portable non-destructive testing device based on a nonlinear isolated wave, and more particularly, to a portable non-destructive testing device based on a nonlinear isolated wave capable of stably generating a nonlinear isolated wave regardless of a user posture.

비파괴검사장치의 한 종류로서 비선형 고립파를 이용하는 검사장치가 있다.As one type of non-destructive inspection device, there is an inspection device using a nonlinear isolated wave.

비선형 고립파 기반 비파괴검사장치는 다수 개의 구형 입자로 이루어진 체인 구조를 주요 구성으로 한다. 이러한 체인 구조를 통해서는 비선형 고립파가 안정적으로 전파되고 검사시편에서 반사되는 반사파는 매질의 기계적 물성에 따라 민감하게 변하기 때문에 정확한 검사 결과를 얻을 수 있다.A non-linear isolated wave-based non-destructive inspection device has a chain structure composed of a large number of spherical particles as a main component. Through this chain structure, nonlinear isolated waves are stably propagated, and accurate test results can be obtained because the reflected waves that are reflected from the test specimen are sensitively changed according to the mechanical properties of the medium.

종래의 일반적인 비선형 고립파 기반 비파괴검사장치는 도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 내부에 상하로 연장되는 공간을 갖는 수직한 가이드(10), 상기 가이드(10) 내에서 상하로 배치되는 다수 개의 구형 입자(2), 최상단의 구형 입자에 충격을 가하는 가진 입자(1), 및 구형 입자(2) 사이에 배치되는 센서(3) 등을 포함하여 이루어진다.As shown in FIG. 1, a conventional general nonlinear isolated wave-based non-destructive testing device includes a vertical guide 10 having a space extending vertically inside the guide 10, and a plurality of spheres arranged vertically in the guide 10. Particles 2, excitation particles 1 that apply impact to the uppermost spherical particles, and sensors 3 disposed between the spherical particles 2, and the like.

이러한 종래의 비파괴검사장치는 가진 입자(1)를 최상단 구형 입자(2) 위로 낙하시켜 구형 입자(10)의 체인에서 비선형 고립파가 발생하도록 하고, 최하단 구형 입자까지 전달된 비선형 고립파가 검사시편(4)에 전달된 후 검사시편(4)에서 반사된 반사파를 센서(3)에서 측정하여, 검사시편(4)에 대한 검사를 진행할 수 있다.In such a conventional non-destructive testing device, a nonlinear isolated wave is generated in a chain of spherical particles 10 by dropping excitation particles 1 onto the uppermost spherical particle 2, and the nonlinear isolated wave transmitted to the lowermost spherical particle After being transmitted to (4), the sensor 3 measures the reflected wave reflected from the inspection specimen 4, and the inspection of the inspection specimen 4 can be performed.

그런데 상기한 것과 같은 구조를 가지는 종래의 비파괴검사장치에 의해서는 검사시편(4)의 상부에 가이드(10)를 세운 상태로 검사를 진행할 수 밖에 없기 때문에 검사를 수행할 수 있는 대상에 한계가 있고, 구형 입자(10)의 체인을 유지하는 가이드(10)의 구조에 의해 휴대가 쉽지 않은 단점이 있다.However, since the conventional non-destructive testing device having the same structure as described above has no choice but to proceed with the test with the guide 10 standing on top of the test specimen 4, there is a limit to what can be inspected. , There is a disadvantage that is not easy to carry due to the structure of the guide 10 for maintaining the chain of spherical particles (10).

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따라서, 본 발명의 목적은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 휴대가 용이하고 다양한 자세로 비파괴검사를 진행하는 것이 가능한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to solve such conventional problems, and to provide a portable non-destructive testing device based on nonlinear isolated waves that is easy to carry and capable of conducting non-destructive testing in various postures.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 위에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved by the present invention is not limited to the above-mentioned problem, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 서로 접하는 상태에서 일렬로 배치되는 다수 개의 구형 입자; 상기 구형 입자와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인을 이루는 센서 입자; 상기 입자 체인을 포함하는 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 선단과 후단에서 상기 입자 체인을 이루는 구성 입자의 일부분이 돌출되도록 하는 돌출구를 구비하는 가이드관; 및 상기 가이드관에 고정되며, 최후단에 위치한 상기 구성 입자에 충격을 가하는 가진부;를 포함하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치에 의해 달성된다.The above object, according to the present invention, a plurality of spherical particles arranged in a line in contact with each other; sensor particles arranged in a line with the spherical particles to form a particle chain; a guide pipe formed in a cylindrical shape forming a guide space including the particle chain and having protruding holes through which a part of the constituent particles constituting the particle chain protrudes at front and rear ends; and an excitation unit fixed to the guide tube and applying an impact to the component particles located at the last end.

상기 가이드 공간의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에는 상기 구성 입자들을 서로 밀착시키는 사전 압축부재가 구비될 수 있다.At least one of the front and rear ends of the guide space may be provided with a pre-compression member for bringing the constituent particles into close contact with each other.

상기 사전 압축부재가 상기 구성 입자들을 밀착시키는 힘은 조절 가능하게 형성될 수 있다.A force that the pre-compression member brings the constituent particles into close contact with may be formed to be adjustable.

상기 가이드관은, 상기 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지는 가이드관 본체, 및 상기 가이드관 본체의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 결합하며 상기 돌출구를 구비하는 마개를 포함하고, 상기 사전 압축부재는 상기 가이드관 본체의 말단과 상기 마개 사이에 개재되며, 상기 마개는 상기 가이드관 본체에 나사 결합할 수 있다.The guide tube includes a guide tube body formed in a cylindrical shape forming the guide space, and a stopper coupled to at least one of a front end and a rear end of the guide tube body and having the protrusion, and the pre-compression member It is interposed between an end of the guide tube body and the stopper, and the stopper may be screwed to the guide tube body.

상기 가이드관의 벽체에는 슬릿이 구비될 수 있다.A slit may be provided on the wall of the guide tube.

상기 센서 입자는, 원통형으로 이루어지며 센서가 구비된 센싱부, 및 상기 센싱부의 양단부에 형성되며 반구형으로 이루어지는 접촉부를 포함할 수 있다.The sensor particle may include a sensing unit having a cylindrical shape and equipped with a sensor, and a contact unit formed at both ends of the sensing unit and having a hemispherical shape.

상기 센서 입자는, 2개가 서로 이격되어 배치될 수 있다.The sensor particles, two may be disposed spaced apart from each other.

상기 센서 입자는, 상기 가이드 공간의 최선단에 배치될 수 있다.The sensor particle may be disposed at the front end of the guide space.

상기 가진부는, 상기 가이드관의 후단에 고정되는 가진 입자 가이드관, 상기 가진 입자 가이드관 내에서 상기 가이드관 최후단의 상기 구성 입자에 인접하여 배치되는 가진 입자, 및 상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 발진시키는 발진부를 포함할 수 있다.The excitation unit includes a particle guide tube fixed to the rear end of the guide tube, an excitation particle disposed adjacent to the constituent particles at the end of the guide tube in the excitation particle guide tube, and the excitation particle in the direction of the guide tube. It may include an oscillation unit that oscillates to.

상기 발진부는, 상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 밀어내는 스프링, 선단부가 상기 가진 입자에 연결되고 후단부에 제1 자석을 구비하는 연결대, 및 제2 자석을 구비하고 상기 제1 자석에 대해 이동 가능하게 형성되는 트리거부를 포함할 수 있다.The oscillating unit is provided with a spring for pushing the excitable particle in the direction of the guide tube, a linking table having a front end connected to the excitation particle and having a first magnet at a rear end, and a second magnet and moving relative to the first magnet. It may include a trigger part formed to be possible.

상기 트리거부는, 상기 가이드관의 외측면에 고정되는 손잡이, 상기 가이드관과 나란한 방향으로 이동 가능하도록 상기 손잡이에 고정되는 것으로서, 선단부에 트리거가 구비되고 후단부에 상기 제2 자석이 구비된 트리거대, 및 상기 트리거를 상기 트리거대의 선단부 방향으로 가압하는 트리거용 스프링을 포함할 수 있다.The trigger unit is fixed to the handle so as to be movable in a direction parallel to the handle fixed to the outer surface of the guide tube and the guide tube, and the trigger is provided at the front end and the tree equipped with the second magnet at the rear end. It may include a large spring for pressing the trigger toward the front end of the trigger bar.

상기 제1 자석과 상기 제2 자석은 자력이 상기 구성 입자에 미치지 않는 거리만큼 상기 구성 입자로부터 이격되어 배치될 수 있다.The first magnet and the second magnet may be spaced apart from the constituent particles by a distance at which magnetic force does not reach the constituent particles.

상기 제2 자석은 전자석 또는 다수 개의 영구자석으로 이루어져 자력이 조절될 수 있다.The second magnet may be composed of an electromagnet or a plurality of permanent magnets, and the magnetic force may be adjusted.

상기 구성 입자 중 최선단에 위치하는 것은 선단이 평평하게 형성될 수 있다.The front end of the particle positioned at the front end of the constituent particles may be formed flat.

상기 센서 입자와 연결되는 진단부를 더 포함할 수 있다.A diagnostic unit connected to the sensor particle may be further included.

상기 진단부는, 검사 대상의 상태별로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터가 저장된 데이터부, 상기 데이터부에 저장된 데이터를 학습하는 학습부, 상기 학습부에서 도출된 진단 모델이 저장된 진단 모델 저장부, 및 상기 진단 모델을 기반으로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터를 분석하는 분석부를 포함할 수 있다.The diagnosis unit includes a data unit storing data obtained from the sensor particles for each state of the test target, a learning unit learning the data stored in the data unit, a diagnostic model storage unit storing a diagnostic model derived from the learning unit, and the diagnosis unit. It may include an analysis unit that analyzes the data obtained from the sensor particle based on the model.

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치는 휴대하고 다니면서 실험실이 아닌 다양한 산업 현장에서 비파괴검사를 진행하는 것이 가능하고, 검사 대상의 놓여진 위치나 각도에 관계없이 비파괴검사를 진행할 수 있다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention can be carried around and carry out non-destructive testing at various industrial sites other than laboratories, and can perform non-destructive testing regardless of the position or angle of the test subject.

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치가 사전 압축부재를 더 구비하거나 센서 입자가 센싱부와 접촉부를 구비하는 경우 등에는 본 발명에 의한 비파괴검사장치의 오작동 가능성을 줄여 비파괴검사의 정확성을 높여줄 수 있다.When the non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention further includes a pre-compression member or the sensor particle has a sensing part and a contact part, the possibility of malfunction of the non-destructive testing device according to the present invention is reduced to improve the accuracy of non-destructive testing. can elevate

가진 입자를 발진시키는 발진부의 구성적 특징은 본 발명에 의한 비파괴검사장치의 사용을 용이하게 한다.The structural characteristics of the oscillation unit for oscillating excited particles facilitate the use of the non-destructive testing device according to the present invention.

도 1은 종래의 비선형 고립파 기반 비파괴검사장치에 관한 설명도,
도 2는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치의 사시도,
도 3은 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치의 단면도,
도 4는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 사전 압축부재에 관한 설명도,
도 5 및 도 6는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 센서 입자에 관한 설명도,
도 7은 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 가진부에 관한 설명도,
도 8은 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 구성 입자 중 최선단에 위치하는 것의 선단이 평평하게 형성되는 경우에 관한 설명도,
도 9는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치를 구성하는 진단부에 관한 설명도이다.
1 is an explanatory diagram of a conventional non-linear isolated wave-based non-destructive testing device;
2 is a perspective view of a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention;
3 is a cross-sectional view of a portable non-destructive testing device based on nonlinear isolated waves according to the present invention;
4 is an explanatory diagram of a pre-compression member constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention;
5 and 6 are explanatory diagrams of sensor particles constituting the portable non-destructive testing device based on nonlinear isolated waves according to the present invention;
7 is an explanatory diagram of an excitation unit constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention;
8 is an explanatory diagram of a case in which the tip of a particle located at the foremost end of the constituent particles constituting a portable non-destructive testing device based on nonlinear isolated waves according to the present invention is formed flat;
9 is an explanatory diagram of a diagnosis unit constituting a non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device according to the present invention.

이하에서는 본 발명의 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참고하여 자세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 2에는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)의 사시도가 도시되어 있고, 도 3에는 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)의 단면도가 도시되어 있다.2 is a perspective view of a portable non-destructive testing device 1 based on nonlinear isolated waves according to the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a portable non-destructive testing device 1 based on nonlinear isolated waves according to the present invention.

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는 다수 개의 구형 입자(10), 센서 입자(20), 가이드관(30) 및 가진부(40)를 포함하여 이루어지며, 전체적인 형상이 총(gun) 형상으로 이루어진다.The nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 according to the present invention includes a plurality of spherical particles 10, sensor particles 20, a guide tube 30, and a vibrating unit 40, and has an overall shape It is made in the shape of a gun.

다수 개의 구형 입자(10)는 서로 접하는 상태에서 일렬로 배치된다. 각 구형 입자(10)는 예를 들어, 스테인리스강과 같은 금속 재질로 이루어질 수 있다.A plurality of spherical particles 10 are arranged in a line in contact with each other. Each spherical particle 10 may be made of a metal material such as, for example, stainless steel.

센서 입자(20)는 구형 입자(10)와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인(C)을 이룬다. 센서 입자(20)는 1개 또는 2개가 형성될 수 있으며, 구형 입자(10)들 사이 또는 입자 체인(C)의 단부에 배치될 수 있다.The sensor particles 20 are arranged in a line with the spherical particles 10 to form a particle chain (C). One or two sensor particles 20 may be formed, and may be disposed between the spherical particles 10 or at the end of the particle chain C.

입자 체인(C)을 이루는 구형 입자(10)와 센서 입자(20)는 서로 접하는 상태로 위치하여 비선형 고립파를 전파시킬 수 있다. 비선형 고립파가 센서 입자(20)를 지나면서 파의 특성이 변화되지 않도록 센서 입자(20)는 질량, 구형 입자(10)에 대한 접촉부의 형상 및 재질 등이 최대한 구형 입자(10)와 동일하게 형성되는 것이 바람직하다.The spherical particles 10 and the sensor particles 20 constituting the particle chain C may be placed in contact with each other to propagate a nonlinear isolated wave. As the nonlinear isolated wave passes through the sensor particle 20, the sensor particle 20 has the same mass, shape and material of the contact portion with respect to the spherical particle 10 as much as possible with the spherical particle 10 so that the characteristics of the wave do not change. It is desirable to form

입자 체인(C)을 이루는 구형 입자(10)와 센서 입자(20)는 '구성 입자(P)'라고 부르기로 한다.The spherical particles 10 and sensor particles 20 constituting the particle chain C will be referred to as 'constituent particles P'.

가이드관(30)은 전체적인 형상이 긴 실린더형으로 이루어지는 것으로서, 내부에 길이방향을 따라 연장되는 가이드 공간(S)을 포함하여 가이드 공간(S) 내에 구형 입자(10)와 센서 입자(20)의 입자 체인(C)이 위치하게 된다. 가이드 공간(S)의 직경은 구성 입자(P)의 직경보다 약간 크게 형성될 수 있다.The guide tube 30 is made of a long cylindrical shape, and includes a guide space S extending along the longitudinal direction therein, including the spherical particles 10 and the sensor particles 20 in the guide space S. A particle chain (C) is positioned. The diameter of the guide space (S) may be formed slightly larger than the diameter of the constituent particles (P).

가이드관(30)의 선단과 후단에는 가이드 공간(S)의 직경보다 작은 직경을 갖는 돌출구(31)가 구비될 수 있다. 이러한 돌출구(31)를 통해 입자 체인(C) 최선단과 최후단의 구성 입자(P)는 가이드 공간(S) 내에 위치하면서도 일부분이 외부로 돌출될 수 있다. 이에 따라, 최선단의 구성 입자(P)는 검사 대상(2)과 접할 수 있고, 최후단의 구성 입자(P)는 가이드관(30) 외부로부터 충격을 전달받을 수 있다.Protrusions 31 having a smaller diameter than the diameter of the guide space S may be provided at the front and rear ends of the guide tube 30 . Through these protrusions 31, the particles P at the foremost and last ends of the particle chain C may protrude partially to the outside while being positioned within the guide space S. Accordingly, the foremost constituting particle P may come into contact with the inspection target 2, and the last constituting particle P may receive an impact from the outside of the guide tube 30.

가진부(40)는 가이드관(30)의 외측면에 고정되며, 최후단에 위치하는 구성 입자(P)에 충격을 가하는 역할을 한다. 즉, 가진부(40)가 가하는 충격에 의해 입자 체인(C)에는 비선형 고립파가 발생할 수 있다.The vibrating part 40 is fixed to the outer surface of the guide tube 30 and serves to apply an impact to the constituent particles P located at the last end. That is, a nonlinear isolated wave may be generated in the particle chain (C) by the impact applied by the excitation unit 40 .

이러한 본 발명의 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는, 가이드관(30) 선단부를 통해 일부분이 돌출된 구성 입자(P)가 검사 대상(2) 표면과 접촉한 상태에서 최후단의 구성 입자(P)에 가진부(40)로 충격을 가하여 입자 체인(C)을 통해 비선형 고립파를 검사 대상(2)으로 전달함으로써 비파괴검사를 진행할 수 있다. 보다 구체적으로, 입자 체인(C)을 이루는 센서 입자(20)에서 검사 대상(2)으로의 입사 고립파와 검사 대상(2)으로부터의 반사 고립파를 측정하여 비교함으로써 검사 대상(2)의 상태를 파악할 수 있다.The nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 of the present invention is the last configuration in a state in which the component particles P, a part of which protrudes through the front end of the guide tube 30, are in contact with the surface of the test target 2 Non-destructive testing can be performed by applying an impact to the particle P with the excitation unit 40 and transmitting the nonlinear isolated wave to the test target 2 through the particle chain C. More specifically, by measuring and comparing the incident isolated wave from the sensor particle 20 constituting the particle chain C to the test target 2 and the reflected isolated wave from the test target 2, the state of the test target 2 can be determined. can figure it out

본 발명의 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는, 입자 체인(C)이 가이드관(30) 내에서 일렬로 배치되는 상태가 유지되면서도 최선단과 최후단의 일부분은 가이드관(30) 외부로 돌출될 수 있어, 가이드관(30) 외부에 위치하는 가진부(40)로부터 가해진 충격을 가이드관(30) 외부에 위치하는 검사 대상(2)에 가해주는 것이 가능하다. 그리고 입자 체인(C)의 배치 상태는 가이드관(30)이 어느 자세로 놓여있는지에 관계없이 유지될 수 있다.In the non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 of the present invention, while the state in which the particle chains C are arranged in a row within the guide tube 30 is maintained, the foremost and last parts are outside the guide tube 30 It can protrude into, it is possible to apply the impact applied from the excitation unit 40 located outside the guide tube 30 to the inspection target 2 located outside the guide tube 30. And the arrangement state of the particle chain (C) can be maintained regardless of which position the guide tube (30) is placed.

이에 따라, 본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)를 휴대하고 다니면서 실험실이 아닌 다양한 산업 현장에서 비파괴검사를 진행하는 것이 가능하고, 검사 대상(2)의 놓여진 위치나 각도에 관계없이 비파괴검사를 진행할 수 있다.Accordingly, it is possible to conduct non-destructive testing in various industrial sites other than a laboratory while carrying the non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 according to the present invention, and it is related to the position or angle of the inspection target 2 Non-destructive testing can be performed without

본 발명에 의한 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치(1)는 사전 압축부재(50)를 더 구비할 수 있다. 도 4에는 사전 압축부재(50)에 관한 설명도가 도시되어 있다.The non-linear isolated wave-based portable non-destructive testing device 1 according to the present invention may further include a pre-compression member 50. 4 shows an explanatory view of the pre-compression member 50.

사전 압축부재(50)는 가이드관(30) 내의 가이드 공간(S)의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 배치되어 구성 입자(P)들을 서로 밀착시키는 역할을 한다.The pre-compression member 50 is disposed at at least one of the front and rear ends of the guide space S in the guide tube 30 to serve to bring the constituent particles P into close contact with each other.

가이드관(30)의 자세에 따라 입자 체인(C)의 구성 입자(P)들 사이의 밀착력은 약해질 수 있는데, 사전 압축부재(50)는 어느 일단부에 위치하는 구성 입자(P)를 반대 방향 단부로 가압함으로써 구성 입자(P)들이 항상 밀착된 상태를 유지할 수 있도록 하고, 결과적으로 입자 체인(C)을 통해 비선형 고립파가 원활하게 전달될 수 있도록 한다.Depending on the posture of the guide tube 30, the adhesion between the constituent particles P of the particle chain C may be weakened, and the pre-compression member 50 opposes the constituent particles P located at one end. By pressing with the direction end, the component particles (P) can always maintain a close contact state, and as a result, the nonlinear isolated wave can be smoothly transmitted through the particle chain (C).

이에 따라, 본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)는 검사 자세에 관계없이 정확한 검사 결과를 얻는 것이 가능하다.Accordingly, the non-destructive inspection apparatus 1 according to the present invention can obtain accurate inspection results regardless of the inspection posture.

사전 압축부재(50)는 예를 들어, 고무나 실리콘 등과 같은 연질 재료로 이루어져 가이드 공간(S)의 최단부 내벽과 구성 입자(P) 사이에 개재될 수 있다. 사전 압축부재(50)에 의해 최단부에 위치하는 구성 입자(P)가 가진부(40)나 검사 대상(2)과 접하는 것이 방해되지 않도록, 사전 압축부재(50)는 구성 입자(P)의 일부분이 통과할 수 있는 링형으로 이루어질 수 있다.The pre-compression member 50 may be made of, for example, a soft material such as rubber or silicon and may be interposed between the innermost inner wall of the guide space S and the constituent particles P. The pre-compression member 50 is composed of the constituent particles P so that the constituent particles P located at the most end are not prevented from contacting the excitation part 40 or the inspection target 2 by the pre-compression member 50. It may be made of a ring shape through which a part can pass.

사전 압축부재(50)가 구성 입자(P)들을 밀착시키는 힘은 조절 가능하게 형성될 수 있다.The force that the pre-compression member 50 brings into close contact with the constituent particles P may be formed to be adjustable.

구성 입자(P)들 사이의 밀착력이 너무 크거나 작은 경우에는 비선형 고립파의 전파에 영향을 미칠 수 있는데, 사전 압축부재(50)로 구성 입자(P)들 사이의 밀착력을 적당하게 조절하여 비선형 고립파가 입자 체인(C)을 통해 원활하게 전달되도록 할 수 있다.If the adhesion between the constituent particles (P) is too large or too small, it may affect the propagation of the nonlinear isolated wave. The isolated wave can be smoothly transmitted through the particle chain (C).

사전 압축부재(50)는 예를 들어, 가이드관(30)을 가이드관 본체(310)와 마개(320)로 형성하고 가이드관 본체(310)와 마개(320) 사이에 사전 압축부재(50)를 개재하는 방법을 통해 구성 입자(P)들 사이의 밀착력을 조절할 수 있도록 형성된다. The pre-compression member 50, for example, forms the guide tube 30 with the guide tube body 310 and the stopper 320, and the pre-compression member 50 between the guide tube body 310 and the stopper 320 It is formed so as to be able to adjust the adhesion between the constituent particles (P) through a method intervening.

보다 구체적으로, 가이드관 본체(310)는 가이드 공간(S)을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 마개(320)는 가이드관 본체(310)의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 결합하고 돌출구(31)를 구비한다. 도 4에서는 예시적으로, 마개(320)가 가이드관 본체(310)의 선단과 후단에 모두 형성되어 있는 경우가 도시되어 있다.More specifically, the guide tube body 310 is made of a cylindrical shape forming a guide space (S), the stopper 320 is coupled to at least one of the front and rear ends of the guide tube body 310, and the protrusion 31 ) is provided. In FIG. 4 , a case in which the stopper 320 is formed at both the front end and the rear end of the guide tube body 310 is illustrated.

마개(320)는 가이드관 본체(310)의 단부를 감쌀 수 있는 짧은 원통형으로 형성되고, 가이드관 본체(310)의 단부 외주면과 마개(320)의 내주면에는 나사산이 형성되어 가이드관 본체(310)와 마개(320)는 서로 나사 결합할 수 있다.The stopper 320 is formed in a short cylindrical shape capable of covering the end of the guide tube body 310, and a screw thread is formed on the outer circumferential surface of the end of the guide tube body 310 and the inner circumferential surface of the stopper 320, so that the guide tube body 310 And the stopper 320 may be screwed together.

그리고 사전 압축부재(50)는 가이드관 본체(310)의 말단과 마개(320) 사이에 개재되어, 마개(320)가 가이드관 본체(310)와 결합하는 길이에 따라 사전 압축부재(50)가 구성 입자(P)를 가압하는 힘이 달라지면서 구성 입자(P)들 사이의 밀착력이 조절된다.In addition, the pre-compression member 50 is interposed between the end of the guide tube body 310 and the stopper 320, and the pre-compression member 50 is disposed along the length of the stopper 320 coupled with the guide tube body 310. As the force for pressing the constituent particles P is changed, the adhesion between the constituent particles P is adjusted.

서로 나사 결합하는 가이드관 본체(310)와 마개(320)는, 마개(320)를 회전시키는 것에 의해 결합 길이를 쉽게 조절하여, 결과적으로 구성 입자(P)들 사이의 밀착력을 쉽게 조절할 수 있다.The guide tube body 310 and the stopper 320 screwed together can easily adjust the coupling length by rotating the stopper 320, and as a result, the adhesion between the constituent particles P can be easily adjusted.

가이드관(30)의 후단부에는 최후단의 구성 입자(P)에 충격을 가하기 위한 가진부(40)가 위치하므로, 가이드관 본체(310)에 나사 결합하는 마개(320)는 가이드관 본체(310)의 선단부 방향에 위치하는 것이 바람직하다.Since the excitation part 40 for applying an impact to the final constituent particles P is located at the rear end of the guide tube 30, the stopper 320 screwed to the guide tube body 310 is the guide tube body ( 310) is preferably located in the direction of the front end.

가이드관 본체(310)의 선단과 후단 모두에 마개(320)가 구비되는 경우, 후단의 마개(320)는 연질 재료로 이루어져 사전 압축부재(50)의 역할을 겸할 수 있다.When the stopper 320 is provided at both the front and rear ends of the guide tube body 310, the stopper 320 at the rear end is made of a soft material and may serve as the pre-compression member 50.

센서 입자(20)는 센싱부(210)와 접촉부(220)를 포함하여 이루어질 수 있다. 도 5에는 이러한 센서 입자(20)에 관한 설명도가 도시되어 있다.The sensor particle 20 may include a sensing unit 210 and a contact unit 220 . 5 shows an explanatory view of such a sensor particle 20.

센싱부(210)는 짧은 원통형으로 이루어지며 내부에 센서가 구비된다. 센서는 예를 들어, 압전 센서일 수 있으며, 압전 센서의 압전물질(211)은 센싱부(210)의 길이방향 중간부에 센싱부(210)의 길이방향과 수직을 이루도록 배치될 수 있다.The sensing unit 210 has a short cylindrical shape and has a sensor inside. The sensor may be, for example, a piezoelectric sensor, and the piezoelectric material 211 of the piezoelectric sensor may be disposed at a middle portion of the sensing unit 210 in the longitudinal direction perpendicular to the longitudinal direction of the sensing unit 210 .

접촉부(220)는 센싱부(210)의 양단부에 접합되며 일측 표면만이 곡면으로 이루어지는 반구형과 유사한 형상으로 이루어진다. 센싱부(210)는 양단부에서 삽입홈을 구비하여, 삽입홈 내에 접촉부(220)가 삽입 고정될 수 있다.The contact part 220 is bonded to both ends of the sensing part 210 and has a shape similar to a hemispherical shape in which only one surface is a curved surface. The sensing unit 210 has insertion grooves at both ends, and the contact portion 220 may be inserted and fixed into the insertion groove.

기존의 비선형 고립파를 이용한 비파괴검사장치에서는 센서 입자가 구형으로 형성되어 쉽게 구를 수 있었고, 이로 인해 센서 입자의 자세에 따라 센서 입자 내의 압전물질과 비선형 고립파 전파방향 사이의 각도가 달라져 센싱 결과가 부정확해지는 문제가 있었다.In the existing non-destructive testing device using nonlinear isolated waves, the sensor particles were formed in a spherical shape and could be easily rolled. As a result, the angle between the piezoelectric material in the sensor particle and the propagation direction of the nonlinear isolated wave changed according to the position of the sensor particle, resulting in sensing results. There was a problem with inaccuracies.

그런데 본 발명에서 센서 입자(20)는 짧은 원통형으로 형성되는 센싱부(210)에 의해 가이드관(30) 내에서 구르지 않고, 따라서 센서 입자(20)의 압전물질(211)이 비선형 고립파의 전파방향과 항상 수직을 이루게 되므로 정확한 센싱 결과를 얻는 것이 가능하다. 그리고 이는 휴대용으로 이루어져 다양한 위치와 각도로 사용될 수 있는 본 발명의 비파괴검사장치(1)에 있어 특히 유효하다.However, in the present invention, the sensor particle 20 does not roll in the guide tube 30 by the sensing unit 210 formed in a short cylindrical shape, and therefore the piezoelectric material 211 of the sensor particle 20 propagates a nonlinear isolated wave. Since it is always perpendicular to the direction, it is possible to obtain accurate sensing results. And this is particularly effective for the non-destructive testing device 1 of the present invention, which is portable and can be used at various positions and angles.

입자 체인(C)을 통해 전파되는 비선형 고립파가 센서 입자(20) 부분에서 분산되거나 반사되지 않도록 센서 입자(20)는 구형 입자(10)와 동일한 진동 특성을 갖는 것이 바람직하다. 이를 위해, 센서 입자(20)는 구형 입자(10)와 동일한 질량과 접촉강성을 가지도록 형성된다. 구형 입자(10)와 접촉하는 접촉부(220)는 구형 입자(10)와 동일한 곡률 및 물성을 가지도록 형성되어 구형 입자(10)와 동일한 접촉 강성을 가질 수 있다.The sensor particle 20 preferably has the same vibration characteristics as the spherical particle 10 so that the nonlinear isolated wave propagating through the particle chain C is not dispersed or reflected in the sensor particle 20 portion. To this end, the sensor particles 20 are formed to have the same mass and contact stiffness as those of the spherical particles 10 . The contact portion 220 contacting the spherical particle 10 may be formed to have the same curvature and physical properties as the spherical particle 10 and may have the same contact stiffness as the spherical particle 10 .

압전물질(211)은 센싱부(210)에 의해 보호될 수 있도록 센싱부(210) 본체의 직경보다 작은 직경으로 형성되는 것이 바람직하다.The piezoelectric material 211 is preferably formed with a smaller diameter than the diameter of the main body of the sensing unit 210 so as to be protected by the sensing unit 210 .

센서 입자(20)의 압전물질(211)은 신호선(W)을 통해 외부의 전압계(3)와 연결되어 압전물질(211)에서 발생한 전압이 측정될 수 있다.The piezoelectric material 211 of the sensor particle 20 is connected to the external voltmeter 3 through the signal line W, so that the voltage generated in the piezoelectric material 211 can be measured.

센서 입자(20)와 외부 전압계(3)를 신호선(W)으로 연결할 수 있도록 가이드관(30)의 벽체에는 슬릿(미도시)이 형성될 수 있다. 슬릿은 예를 들어, 가이드관(30)의 길이방향을 따라 길게 형성될 수 있다.A slit (not shown) may be formed in the wall of the guide tube 30 so that the sensor particle 20 and the external voltmeter 3 can be connected through the signal line W. The slit may be formed long along the longitudinal direction of the guide pipe 30, for example.

가이드관(30)의 슬릿은 커버(70)에 의해 폐쇄될 수 있다. 이에 따라, 슬릿을 통해 가이드관(30) 내부로 이물질이 유입됨으로써 검사의 결과에 영향을 미치는 것을 최소화할 수 있다. 커버(70)는 단면이 180도가 넘는 호형으로 이루어져 가이드관(30)의 외측면에 끼움 고정될 수 있다. 커버(70)는 가이드관(30) 내부의 상태를 확인할 수 있도록 투명한 재질로 이루어질 수 있다.The slit of the guide tube 30 may be closed by the cover 70. Accordingly, it is possible to minimize the influence on the result of the inspection by introducing foreign matter into the guide tube 30 through the slit. The cover 70 may be formed in an arc shape with a cross section of more than 180 degrees and be fitted and fixed to the outer surface of the guide tube 30 . The cover 70 may be made of a transparent material so that the inner state of the guide tube 30 can be checked.

신호선(W)은 가이드관(30)과 커버(70)의 틈 사이를 통해 외부 전압계(3)와 연결될 수 있다.The signal line (W) may be connected to the external voltmeter (3) through a gap between the guide tube (30) and the cover (70).

센서 입자(20)는 도 6의 (a)에 도시되어 있는 바와 같이, 2개가 서로 이격되어 배치될 수 있다. 이 경우, 본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)에 이상이 있는지를 확인하여 검사의 정확성을 높일 수 있다.As shown in (a) of FIG. 6, the sensor particle 20 may be disposed with two spaced apart from each other. In this case, it is possible to increase the accuracy of the inspection by checking whether there is an abnormality in the non-destructive inspection apparatus 1 according to the present invention.

즉, 비선형 고립파의 감쇠는 입자 체인(C)의 상태에 따라 크게 달라지게 되는데, 서로 이격된 센서 입자(20)를 통해 비선형 고립파의 진폭을 비교하여 비선형 고립파의 감쇠를 확인함으로써 입자 체인(C)의 상태를 알 수 있고, 입자 체인(C)의 상태에 따라 비파괴검사장치(1)의 이상 유무를 확인할 수 있다.That is, the attenuation of the nonlinear isolated wave varies greatly depending on the state of the particle chain (C). By comparing the amplitude of the nonlinear isolated wave through the sensor particles 20 spaced apart from each other, the attenuation of the nonlinear isolated wave is confirmed. The state of (C) can be known, and the presence or absence of abnormalities in the non-destructive testing device 1 can be confirmed according to the state of the particle chain (C).

그리고 두 센서 입자(20)의 신호를 비교하여 비선형 고립파의 방향을 확인함으로써 입자 체인(C) 내의 이물질 등에 의한 불필요한 간섭신호를 검사 대상(2)의 판단을 위한 데이터에서 배제할 수 있다.In addition, by comparing the signals of the two sensor particles 20 and confirming the direction of the nonlinear isolated wave, unnecessary interference signals caused by foreign substances in the particle chain C can be excluded from the data for determining the object 2 to be inspected.

또한, 두 센서 입자(20)의 신호를 비교하여 센서 입자(20) 자체의 이상을 검출하는 것도 가능하다.In addition, it is also possible to detect an abnormality of the sensor particle 20 itself by comparing the signals of the two sensor particles 20 .

센서 입자(20)는 도 6의 (b)에 도시되어 있는 바와 같이, 가이드 공간(S)의 최선단에 배치될 수 있다. 이러한 센서 입자(20)는 검사 대상(2)과 접촉하므로 센서 입자(20)와 검사 대상(2)의 접촉력을 측정할 수 있고, 측정된 접촉력 관련 신호는 검사 대상(2)의 상태를 분석하는 데에 추가적인 데이터로 사용될 수 있다.As shown in (b) of FIG. 6, the sensor particle 20 may be disposed at the front end of the guide space (S). Since these sensor particles 20 are in contact with the test target 2, the contact force between the sensor particle 20 and the test target 2 can be measured, and the measured contact force-related signal analyzes the state of the test target 2. can be used as additional data.

도 7에는 가진부(40) 부분의 단면도가 도시되어 있다.7 is a cross-sectional view of the excitation part 40 is shown.

가진부(40)는 가진 입자 가이드관(410), 가진 입자(420) 및 발진부(430)를 포함하여 이루어진다.The excitation unit 40 includes an excitation particle guide tube 410, an excitation particle 420, and an oscillation unit 430.

가진 입자 가이드관(410)은 가이드관(30)의 후단에 가이드관(30)을 감싸면서 고정된다. 가진 입자 가이드관(410)은 가이드관(30)의 연장 방향을 따라 연장된다.The excitation particle guide tube 410 is fixed to the rear end of the guide tube 30 while surrounding the guide tube 30. The excitation particle guide tube 410 extends along the extension direction of the guide tube 30 .

가진 입자(420)는 가진 입자 가이드관(410) 내에서 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)에 인접하여 배치된다. 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P) 일부분은 돌출구(31)를 통해 가이드관(30) 외부로 돌출되므로 가진 입자(420)와 접할 수 있다. 가진 입자(420)의 무게는 구성 입자(P)의 무게보다 작거나 같을 수 있다. 가진 입자(420)의 직경은 가진 입자 가이드관(410)의 내경에 맞추어 형성됨으로써 가진 입자(420)가 가진 입자 가이드관(410)을 따라 일직선으로 이동할 수 있다.The excitable particle 420 is disposed adjacent to the constituting particle P at the last end of the guide tube 30 within the excitation particle guide tube 410 . A part of the particle P at the end of the guide tube 30 protrudes out of the guide tube 30 through the protruding hole 31, so that it can come into contact with the particle 420. The weight of the excitation particle 420 may be less than or equal to the weight of the component particle P. The diameter of the excitable particle 420 is formed according to the inner diameter of the exciter particle guide tube 410, so that the exciter particle 420 can move in a straight line along the particle guide tube 410.

발진부(430)는 가진 입자(420)를 가이드관(30) 방향으로 발진시키는 역할을 한다. 발진부(430)에 의해 발진된 가진 입자(420)는 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)에 충격을 가하여, 가이드관(30) 내의 입자 체인(C)을 따라 비선형 고립파가 전파되도록 한다.The oscillator 430 serves to oscillate the excitation particles 420 in the direction of the guide tube 30 . The excitation particle 420 oscillated by the oscillation unit 430 applies an impact to the particle P at the end of the guide tube 30, and a nonlinear isolated wave propagates along the particle chain C in the guide tube 30 Let it be.

발진부(430)는 보다 구체적으로, 스프링(431), 연결대(432) 및 트리거부(433)를 구비한다.More specifically, the oscillating unit 430 includes a spring 431 , a connection table 432 and a trigger unit 433 .

스프링(431)은 압축 스프링으로서, 가진 입자 가이드관(410) 내에서 가진 입자(420)의 후방으로 배치되어 가진 입자(420)를 가이드관(30) 방향으로 밀어내는 역할을 한다. 스프링(431)은 가진 입자(420)를 밀어낼 수는 있지만 가진 입자(420)와 접합되지 않아 가진 입자(420)를 당길 수는 없다.The spring 431 is a compression spring, and serves to push the particle 420 toward the guide tube 30 by being disposed behind the particle 420 in the guide tube 410 of the particle guide. The spring 431 can push the excitation particle 420, but cannot pull the excitation particle 420 because it is not bonded to the excitation particle 420.

연결대(432)는 가진 입자 가이드관(410) 내부에 배치되는 막대 형상의 부재로서, 선단부가 가진 입자(420)에 연결되고 후단부가 가진 입자 가이드관(410)의 후단부 외측으로 돌출된다. 연결대(432)의 후단부에는 제1 자석(432a)이 구비된다.The connecting rod 432 is a rod-shaped member disposed inside the particle guide tube 410, and the front end is connected to the particle 420 and the rear end protrudes outward from the rear end of the particle guide tube 410. A first magnet 432a is provided at the rear end of the connecting rod 432 .

연결대(432)는 스프링(431)을 관통하여 배치될 수 있으며, 가진 입자 가이드관(410)의 후단부에는 스프링(431)을 지지해주는 스프링 지지대(434)가 위치한다. 스프링(431)의 후단은 스프링 지지대(434)에 연결된다. 연결대(432)는 스프링 지지대(434)를 관통하여 후단부가 가진 입자(420) 가이드관(410)의 외측으로 돌출될 수 있다.The connecting rod 432 may be disposed through the spring 431, and a spring support 434 supporting the spring 431 is located at the rear end of the particle guide pipe 410. The rear end of the spring 431 is connected to the spring support 434. The connector 432 may protrude outward from the particle 420 guide tube 410 having a rear end through the spring support 434 .

트리거부(433)는 제1 자석(432a)과의 사이에서 인력이 발생하는 제2 자석(M)을 구비하며, 제1 자석(432a)에 대해 이동 가능하게 형성된다.The trigger unit 433 includes a second magnet M generating an attractive force with the first magnet 432a, and is formed to be movable relative to the first magnet 432a.

이러한 발진부(430)는 다음과 같이 동작할 수 있다. The oscillator 430 may operate as follows.

평소에 발진부(430)는 도 6의 (a)에 도시되어 있는 바와 같이, 스프링(431)이 완전히 이완된 상태에서 연결대(432)의 후단부와 트리거부(433)가 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)에 의해 접촉하는 상태로 위치한다. 이때, 가진 입자(420)는 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 접촉하되 구성 입자(P)를 가압하지 않는 상태로 위치한다.Normally, as shown in (a) of FIG. 6, the oscillating unit 430, in a state in which the spring 431 is completely relaxed, the rear end of the connecting rod 432 and the trigger unit 433 are connected to the first magnet 432a. And is located in a state of contact by the second magnet (M). At this time, the excitation particle 420 contacts the last constituent particle P of the guide tube 30, but is positioned in a state in which the constituent particle P is not pressed.

트리거부(433)를 가진 입자 가이드관(410)의 후단부 방향으로 이동시키면, 이동 거리가 크지 않을 때에는 도 6의 (b)에 도시되어 있는 바와 같이 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)의 인력에 의해 연결대(432)와 가진 입자(420)가 함께 이동하고 스프링(431)은 압축된다. 연결대(432)와 함께 이동한 가진 입자(420)는 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 떨어지게 된다.When moving toward the rear end of the particle guide pipe 410 having the trigger part 433, when the moving distance is not large, as shown in (b) of FIG. 6, the first magnet 432a and the second magnet ( By the attraction of M), the connecting rod 432 and the particles 420 are moved together, and the spring 431 is compressed. The particles 420 moving together with the connecting rod 432 are separated from the particle P at the end of the guide tube 30.

트리거부(433)를 더 이동시키면 도 6의 (c)에 도시되어 있는 바와 같이, 압축되는 스프링(431)의 탄성력이 제1 자석(432a)과 제2 자석(M) 사이의 인력보다 커지게 되어 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)이 떨어지게 되고, 스프링(431)의 탄성력에 의해 가진 입자(420)가 가진 입자 가이드관(410)의 선단부 방향으로 빠르게 이동하여 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)에 충격을 가하게 된다.When the trigger unit 433 is moved further, as shown in (c) of FIG. 6, the elastic force of the compressed spring 431 becomes greater than the attractive force between the first magnet 432a and the second magnet M. So the first magnet 432a and the second magnet M are separated, and the particles 420 with the elastic force of the spring 431 move quickly toward the front end of the guide tube 410 with the guide tube 30 ) impact is applied to the final constituent particle (P).

가진 입자(420)가 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 접촉할 때 스프링(431)은 완전히 이완된 상태를 가지고 가진 입자(420)는 스프링(431)에 접합되지 않기 때문에, 가진 입자(420)가 발진되어 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 충돌하면서 발생하는 비선형 고립파에 대해서는 가진 입자(420)의 관성력만이 영향을 미칠 수 있으며 스프링(431)의 탄성력이 영향을 미치지는 못한다.When the particle with excitation 420 contacts the particle P at the end of the guide tube 30, the spring 431 is in a completely relaxed state and the particle with excitation 420 is not bonded to the spring 431, Only the inertial force of the excitation particle 420 can have an effect on the nonlinear isolated wave generated when the excited particle 420 is oscillated and collides with the particle P at the end of the guide tube 30, and the spring 431 Elasticity has no effect.

가진 입자(420)가 가이드관(30) 최후단의 구성 입자(P)와 충돌하여 비선형 고립파가 발생한 후 스프링(431)의 진동에 의해 가진 입자(420)가 진동하여 다시 미소한 비선형 고립파가 발생할 수 있지만, 1차적으로 발생한 비선형 고립파와 그 후의 미소 비선형 고립파의 시간차는 1차적으로 발생한 비선형 고립파와 그 반사파의 시간차에 비하여 확연히 크기 때문에 스프링(431)의 진동에 의한 미소 비선형 고립파와 반사파는 구분될 수 있다. 또는 2개의 센서 입자(20)를 통해 미소 비선형 고립파의 방향을 파악함으로써 미소 비선형 고립파와 반대 방향으로 이동하는 반사파와 구분할 수 있다.After the excitation particle 420 collides with the particle P at the last end of the guide tube 30 to generate a nonlinear isolated wave, the vibration of the spring 431 causes the excitation particle 420 to vibrate, resulting in a minute nonlinear isolated wave. may occur, but since the time difference between the firstly generated nonlinear isolated wave and the subsequent minute nonlinear isolated wave is significantly greater than the time difference between the firstly generated nonlinear isolated wave and its reflected wave, the minute nonlinear isolated wave and the reflected wave caused by the vibration of the spring 431 can be distinguished. Alternatively, by grasping the direction of the minute nonlinear isolated wave through the two sensor particles 20, it is possible to distinguish the minute nonlinear isolated wave from the reflected wave moving in the opposite direction.

가진 입자(420)의 무게가 구성 입자(P)보다 큰 경우, 가진 입자(420)가 가지는 과도한 관성력에 의해 가진 입자(420)와 구성 입자(P)의 충돌시 구성 입자(P)에 여러 번의 충격이 가해져 복수의 비선형 고립파가 생성될 수 있으므로, 가진 입자(420)의 무게는 구성 입자(P)의 무게보다 작거나 같은 것이 바람직하다.When the weight of the excitable particle 420 is greater than the component particle P, the particle 420 and the component particle P collide with each other several times due to the excessive inertial force of the exciter particle 420. Since an impact may be applied to generate a plurality of nonlinear isolated waves, the weight of the excitation particle 420 is preferably smaller than or equal to the weight of the component particle P.

트리거부(433)는 보다 구체적으로, 손잡이(433a), 트리거대(433b) 및 트리거용 스프링(433c)을 포함하여 이루어질 수 있다.More specifically, the trigger unit 433 may include a handle 433a, a trigger stand 433b, and a trigger spring 433c.

손잡이(433a)는 가이드관(30)의 길이방향 중간부에서 외측면에 고정되는 것으로서, 가이드관(30)과 교차하는 방향으로 돌출 형성된다.The handle 433a is fixed to the outer surface of the guide tube 30 in the middle in the longitudinal direction and protrudes in a direction crossing the guide tube 30 .

트리거대(433b)는 가이드관(30)과 나란한 방향으로 이동 가능하도록 손잡이(433a)에 고정되는 것으로서, 선단부에 트리거(T)가 구비되고 후단부에 제2 자석(M)이 구비된다. 즉, 트리거대(433b)는 손잡이(433a)를 관통하며 트리거(T)와 제2 자석(M)을 연결하는 형태로 이루어질 수 있다.The trigger stand 433b is fixed to the handle 433a so as to be movable in a direction parallel to the guide tube 30, and a trigger T is provided at the front end and a second magnet M is provided at the rear end. That is, the trigger rod 433b may pass through the handle 433a and connect the trigger T and the second magnet M.

트리거용 스프링(433c)은 압축 스프링으로서, 트리거(T)와 손잡이(433a) 사이에 배치되어 트리거(T)를 트리거대(433b)의 선단부 방향으로 가압한다.The trigger spring 433c is a compression spring and is disposed between the trigger T and the handle 433a to press the trigger T toward the front end of the trigger rod 433b.

트리거부(433)는 평소에는 트리거용 스프링(433c)에 의해 가이드관(30)의 선단부 방향으로 가압되어, 제2 자석(M)이 제1 자석(432a)과 밀착된다. 그리고 손잡이(433a)를 잡고 손가락으로 트리거(T)를 누르면 트리거용 스프링(433c)이 압축되면서 트리거부(433)가 가이드관(30)의 후단부 방향으로 이동하게 되고, 트리거부(433)의 후단부에 구비된 제2 자석(M)을 따라 제1 자석(432a)을 구비하는 연결대(432)가 함께 이동하게 된다.The trigger part 433 is normally pressed toward the front end of the guide tube 30 by the trigger spring 433c, so that the second magnet M is in close contact with the first magnet 432a. And when you hold the handle 433a and press the trigger T with your finger, the trigger spring 433c is compressed and the trigger part 433 moves toward the rear end of the guide pipe 30, and the trigger part 433 The connecting rod 432 having the first magnet 432a moves together along the second magnet M provided at the rear end.

이러한 트리거부(433)는 본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)를 한 손으로도 용이하게 동작시킬 수 있도록 해준다. 이에 따라, 좁은 곳이나 높은 곳에 위치하는 검사 대상(2)에 대해 비파괴검사를 용이하게 진행할 수 있다.This trigger unit 433 allows the non-destructive testing device 1 according to the present invention to be easily operated with one hand. Accordingly, non-destructive testing can be easily performed on the inspection target 2 located in a narrow place or a high place.

발진부(430)를 구성하는 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)은 자력이 구성 입자(P)에 미치지 않는 거리만큼 구성 입자(P)로부터 이격되어 배치되는 것이 바람직하다. 이를 위해, 최후단의 구성 입자(P)에 맞닿는 가진 입자(420)와 제1 자석(432a)을 연결하는 연결대(432)는 충분히 긴 길이로 형성될 수 있다.It is preferable that the first magnet 432a and the second magnet M constituting the oscillating unit 430 be spaced apart from the constituent particles P by a distance at which magnetic force does not reach the constituent particles P. To this end, the connecting rod 432 connecting the first magnet 432a and the excitation particle 420 contacting the last component particle P may be formed with a sufficiently long length.

이 경우, 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)의 자력이 입자 체인(C)의 운동에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.In this case, it is possible to prevent the magnetic force of the first magnet 432a and the second magnet M from affecting the movement of the particle chain C.

제2 자석(M)은 전자석 또는 다수 개의 영구자석으로 이루어져 자력이 조절될 수 있다.The second magnet (M) is composed of an electromagnet or a plurality of permanent magnets can be adjusted in magnetic force.

이 경우, 제1 자석(432a)과 제2 자석(M)이 서로 떨어지는 순간의 스프링(431)이 압축된 정도가 조절되어 스프링(431)이 가진 입자(420)를 이동시키는 탄성력이 조절될 수 있으므로, 결과적으로 가진 입자(420)가 구성 입자(P)에 가진하는 에너지량이 조절될 수 있다.In this case, the degree of compression of the spring 431 at the moment when the first magnet 432a and the second magnet M are separated from each other is adjusted so that the elastic force of the spring 431 for moving the particles 420 can be adjusted. Therefore, as a result, the amount of energy that the excitation particle 420 excites to the component particle P can be adjusted.

도 8에 도시되어 있는 바와 같이, 입자 체인(C)을 이루는 구성 입자(P) 중 최선단에 위치하는 것은 선단이 평평하게 형성될 수 있다. 이러한 구성 입자(P)를 구비하는 본 발명의 비파괴검사장치(1)는 검사 대상(2)의 표면이 무른 재질인 경우에 사용될 수 있다.As shown in FIG. 8, the front end of the particle chain (C), which is located at the front end among the constituent particles (P), may be formed flat. The non-destructive inspection device 1 of the present invention having such constituent particles P may be used when the surface of the inspection target 2 is made of a soft material.

본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)는 입자 체인(C) 최선단의 구성 입자(P)가 검사 대상(2)에 충돌한 후 검사 대상(2)으로부터의 반사파를 측정하는 방법으로 비파괴검사를 진행하는데, 검사 대상(2)이 무른 재질로 이루어지는 경우에는 검사 대상(2)에 대한 구성 입자(P)의 충돌로 인해 검사 대상(2)이 변형될 수 있고, 이러한 변형에 의해 반사파의 특성이 달라질 수 있다.The non-destructive testing device 1 according to the present invention performs non-destructive testing by measuring the reflected wave from the test target 2 after the particle chain P at the foremost end of the particle chain C collides with the test target 2. In progress, when the inspection target 2 is made of a soft material, the inspection target 2 may be deformed due to the collision of the constituent particles P with the inspection target 2, and the characteristic of the reflected wave is changed by this deformation. It can vary.

최선단 구성 입자(P)의 선단을 평평하게 형성하면, 구성 입자(P)와 검사 대상(2)의 충돌시 점접촉 하는 것이 아니라 면접촉을 하기 때문에 구성 입자(P)에서 가하는 하중이 집중되어 검사 대상(2)이 변형되는 것을 방지할 수 있다.If the front end of the foremost constituent particle P is formed flat, the load applied from the constituent particle P is concentrated because the constituent particle P and the inspection object 2 make surface contact rather than point contact when colliding. It is possible to prevent the inspection target 2 from being deformed.

본 발명에 의한 비파괴검사장치(1)는 진단부(60)를 더 포함할 수 있다. 도 9에는 진단부(60)에 관한 설명도가 도시되어 있다.The non-destructive testing device 1 according to the present invention may further include a diagnosis unit 60 . 9 shows an explanatory view of the diagnosis unit 60.

진단부(60)는 센서 입자(20)와 연결되어 센서 입자(20)로부터 얻어진 데이터를 분석함으로써 검사 대상(2)의 상태를 판단하는 역할을 한다.The diagnostic unit 60 is connected to the sensor particle 20 and serves to determine the state of the test target 2 by analyzing data obtained from the sensor particle 20 .

진단부(60)에서는 예를 들어, 입사파와 반사파의 진폭비, 입사파와 반사파의 시간차 등의 특성을 추출하여 검사 대상(2)의 상태를 판단할 수 있다.The diagnosis unit 60 may determine the state of the test target 2 by extracting characteristics such as, for example, an amplitude ratio between an incident wave and a reflected wave and a time difference between the incident wave and the reflected wave.

진단부(60)는 예를 들어, 컴퓨터, 스마트폰 또는 태블릿 등일 수 있으며, 센서 입자(20)와 연결된 전압계(3)로부터 무선통신을 통해 센서 입자(20)의 데이터를 전송받을 수 있다. 전압계(3)는 센서 입자(20)의 아날로그 전압신호를 디지털 신호로 변환하여 진단부(60)에 전송할 수 있다.The diagnosis unit 60 may be, for example, a computer, a smartphone or a tablet, and may receive data of the sensor particle 20 from the voltmeter 3 connected to the sensor particle 20 through wireless communication. The voltmeter 3 may convert the analog voltage signal of the sensor particle 20 into a digital signal and transmit it to the diagnosis unit 60 .

진단부(60)는 데이터부(610), 학습부(620), 진단 모델 저장부(630) 및 분석부(640)를 포함할 수 있다.The diagnosis unit 60 may include a data unit 610 , a learning unit 620 , a diagnosis model storage unit 630 and an analysis unit 640 .

데이터부(610)에는 검사 대상(2)의 상태별로 센서 입자(20)에서 얻어진 데이터가 저장된다. 즉, 데이터부(610)에는 검사 대상(2)의 구조, 재질, 파손 정도 등에 따른 입사파와 반사파에 관련된 수많은 데이터가 저장된다.The data unit 610 stores data obtained from the sensor particles 20 for each state of the inspection target 2 . That is, the data unit 610 stores a lot of data related to the incident wave and the reflected wave according to the structure, material, degree of damage, etc. of the inspection target 2 .

학습부(620)에서는 인공지능 알고리즘을 이용하여 데이터부(610)에 저장되어 있는 데이터를 학습한다. 학습을 통해 검사 대상(2)의 파손 정도 등 별로 입사파와 반사파의 특징을 추출할 수 있다.The learning unit 620 learns data stored in the data unit 610 using an artificial intelligence algorithm. Through learning, characteristics of the incident wave and the reflected wave may be extracted for each degree of damage of the inspection target 2 .

데이터를 학습하기 위한 알고리즘으로는 예를 들어, ANN(Artificial Neural Network), SVM(Support Vector Machine), RNN(Recurrent Neural Network) 또는 CNN(Convolutional Neural Network) 등이 사용될 수 있다.As an algorithm for learning data, for example, an Artificial Neural Network (ANN), a Support Vector Machine (SVM), a Recurrent Neural Network (RNN), or a Convolutional Neural Network (CNN) may be used.

진단 모델 저장부(630)에서는 학습부(620)에서 학습을 통해 도출된 진단 모델이 저장된다. 진단 모델에는 검사 대상(2)의 파손 정도 등 별로 입사파와 반사파의 특징이 나타나있다.The diagnosis model derived through learning in the learning unit 620 is stored in the diagnostic model storage unit 630 . In the diagnostic model, the characteristics of the incident wave and the reflected wave are shown for each degree of damage of the inspection target 2 .

분석부(640)에서는 진달 모델을 기반으로 센서 입자(20)에서 얻어지는 새로운 데이터를 분석하여 검사 대상(2)의 상태를 파악한다. 즉, 새로운 데이터의 특징이 진단 모델의 어느 특징과 대응되는지 찾아냄으로써 검사 대상(2)의 상태를 파악할 수 있다.The analysis unit 640 analyzes new data obtained from the sensor particle 20 based on the Jindal model to determine the state of the test target 2 . That is, the state of the test target 2 can be grasped by finding which feature of the diagnostic model corresponds to the feature of the new data.

본 발명의 권리범위는 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니라 첨부된 특허청구범위 내에서 다양한 형태의 실시예로 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 변형 가능한 다양한 범위까지 본 발명의 청구범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.The scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, but may be implemented in various forms of embodiments within the scope of the appended claims. Anyone with ordinary knowledge in the art to which the invention pertains without departing from the subject matter of the invention claimed in the claims is considered to be within the scope of the claims of the present invention to various extents that can be modified.

1 : 비파괴검사장치
10 : 구형 입자 20 : 센서 입자
30 : 가이드관 31 : 돌출구
40 : 가진부 50 : 사전 압축부재
60 : 진단부
210 : 센싱부 220 : 접촉부
310 : 가이드관 본체 320 : 마개
410 : 가진 입자 가이드관 420 : 가진 입자
430 : 발진부 431 : 스프링
432 : 연결대 432a : 제1 자석
433 : 트리거부 433a : 손잡이
433b : 트리거대 433c : 트리거용 스프링
610 : 데이터부 620 : 학습부
630 : 진단 모델 저장부 640 : 분석부
C : 입자 체인 M : 제2 자석
P : 구성 입자 S : 가이드 공간
T : 트리거
1: Non-destructive testing device
10: spherical particle 20: sensor particle
30: guide tube 31: protrusion
40: excitation part 50: pre-compression member
60: diagnosis unit
210: sensing unit 220: contact unit
310: guide tube body 320: stopper
410: excitation particle guide tube 420: excitation particle
430: oscillation part 431: spring
432: connecting rod 432a: first magnet
433: trigger part 433a: handle
433b: trigger stand 433c: trigger spring
610: data unit 620: learning unit
630: diagnostic model storage unit 640: analysis unit
C: particle chain M: second magnet
P: constituent particles S: guide space
T: trigger

Claims (16)

서로 접하는 상태에서 일렬로 배치되는 다수 개의 구형 입자;
상기 구형 입자와 함께 일렬로 배치되어 입자 체인을 이루는 센서 입자;
상기 입자 체인을 포함하는 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지며, 선단과 후단에서 상기 입자 체인을 이루는 구성 입자의 일부분이 돌출되도록 하는 돌출구를 구비하는 가이드관; 및
상기 가이드관에 고정되며, 최후단에 위치한 상기 구성 입자에 충격을 가하는 가진부;를 포함하고,
상기 가진부는,
상기 가이드관의 후단에 고정되는 가진 입자 가이드관,
상기 가진 입자 가이드관 내에서 상기 가이드관 최후단의 상기 구성 입자에 인접하여 배치되는 가진 입자, 및
상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 발진시키는 발진부를 포함하며,
상기 발진부는,
상기 가진 입자를 상기 가이드관 방향으로 밀어내는 스프링,
선단부가 상기 가진 입자에 연결되고 후단부에 제1 자석을 구비하는 연결대, 및
제2 자석을 구비하고 상기 제1 자석에 대해 이동 가능하게 형성되는 트리거부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
A plurality of spherical particles arranged in a line in contact with each other;
sensor particles arranged in a line with the spherical particles to form a particle chain;
a guide tube formed in a cylindrical shape forming a guide space including the particle chain, and having protruding holes through which a part of the particle constituting the particle chain protrudes from the front end and the rear end; and
A vibrating unit fixed to the guide tube and applying an impact to the constituent particles located at the last end; includes,
The part with the
A particle guide tube with excitation fixed to the rear end of the guide tube;
A particle with excitation disposed adjacent to the constituent particles at the end of the guide tube in the particle guide tube with excitation; and
An oscillation unit for oscillating the excited particles in the direction of the guide tube;
The oscillation part,
A spring for pushing the excitable particles in the direction of the guide tube;
A connecting rod having a front end connected to the excitation particle and having a first magnet at the rear end, and
A nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device comprising a second magnet and a trigger portion formed to be movable with respect to the first magnet.
제1항에 있어서,
상기 가이드 공간의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에는 상기 구성 입자들을 서로 밀착시키는 사전 압축부재가 구비되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
Nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that at least one of the front and rear ends of the guide space is provided with a pre-compression member for bringing the constituent particles into close contact with each other.
제2항에 있어서,
상기 사전 압축부재가 상기 구성 입자들을 밀착시키는 힘은 조절 가능하게 형성되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 2,
The nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that the force of the pre-compression member to bring the constituent particles into close contact is formed to be adjustable.
제3항에 있어서,
상기 가이드관은,
상기 가이드 공간을 형성하는 실린더형으로 이루어지는 가이드관 본체, 및
상기 가이드관 본체의 선단과 후단 중 적어도 어느 한 곳에 결합하며 상기 돌출구를 구비하는 마개를 포함하고,
상기 사전 압축부재는 상기 가이드관 본체의 말단과 상기 마개 사이에 개재되며,
상기 마개는 상기 가이드관 본체에 나사 결합하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 3,
The guide pipe,
A guide tube body formed in a cylindrical shape forming the guide space, and
A stopper coupled to at least one of the front and rear ends of the guide tube body and having the protrusion,
The pre-compression member is interposed between the end of the guide tube body and the stopper,
The stopper is a nonlinear isolated wave-based portable non-destructive inspection device, characterized in that screwed to the guide tube body.
제1항에 있어서,
상기 가이드관의 벽체에는 슬릿이 구비된 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
Nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that the wall of the guide tube is provided with a slit.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자는,
원통형으로 이루어지며 센서가 구비된 센싱부, 및
상기 센싱부의 양단부에 형성되며 반구형으로 이루어지는 접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The sensor particle,
A sensing unit having a cylindrical shape and equipped with a sensor, and
Nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that it comprises a contact portion formed at both ends of the sensing portion and formed in a hemispherical shape.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자는, 2개가 서로 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The sensor particles are non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device, characterized in that the two are disposed spaced apart from each other.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자는, 상기 가이드 공간의 최선단에 배치되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The sensor particle is a non-linear isolated wave-based portable non-destructive inspection device, characterized in that disposed at the front end of the guide space.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 트리거부는,
상기 가이드관의 외측면에 고정되는 손잡이,
상기 가이드관과 나란한 방향으로 이동 가능하도록 상기 손잡이에 고정되는 것으로서, 선단부에 트리거가 구비되고 후단부에 상기 제2 자석이 구비된 트리거대, 및
상기 트리거를 상기 트리거대의 선단부 방향으로 가압하는 트리거용 스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The trigger part,
A handle fixed to the outer surface of the guide tube;
A trigger stand fixed to the handle so as to be movable in a direction parallel to the guide tube, having a trigger at the front end and having the second magnet at the rear end, and
Nonlinear isolated wave-based portable non-destructive inspection device, characterized in that it comprises a trigger spring for pressing the trigger in the direction of the front end of the trigger bar.
제1항에 있어서,
상기 제1 자석과 상기 제2 자석은 자력이 상기 구성 입자에 미치지 않는 거리만큼 상기 구성 입자로부터 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The first magnet and the second magnet are nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing apparatus, characterized in that disposed apart from the constituent particles by a distance at which magnetic force does not reach the constituent particles.
제1항에 있어서,
상기 제2 자석은 전자석 또는 다수 개의 영구자석으로 이루어져 자력이 조절되는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The second magnet is a nonlinear isolated wave-based portable non-destructive inspection device, characterized in that the magnetic force is adjusted by consisting of an electromagnet or a plurality of permanent magnets.
제1항에 있어서,
상기 구성 입자 중 최선단에 위치하는 것은 선단이 평평하게 형성된 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
The nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that the front end of the constituent particles is formed flat.
제1항에 있어서,
상기 센서 입자와 연결되는 진단부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 1,
Nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device further comprising a diagnosis unit connected to the sensor particle.
제15항에 있어서,
상기 진단부는,
검사 대상의 상태별로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터가 저장된 데이터부,
상기 데이터부에 저장된 데이터를 학습하는 학습부,
상기 학습부에서 도출된 진단 모델이 저장된 진단 모델 저장부, 및
상기 진단 모델을 기반으로 상기 센서 입자에서 얻어진 데이터를 분석하는 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 고립파 기반 휴대용 비파괴검사장치.
According to claim 15,
The diagnosis unit,
A data unit storing data obtained from the sensor particles for each state of the inspection target;
a learning unit for learning the data stored in the data unit;
A diagnostic model storage unit in which the diagnostic model derived from the learning unit is stored; and
Nonlinear isolated wave-based portable non-destructive testing device, characterized in that it comprises an analysis unit for analyzing the data obtained from the sensor particle based on the diagnostic model.
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