KR20220085067A - 화소 휘도 결정 방법 및 이를 채용한 표시 장치 - Google Patents

화소 휘도 결정 방법 및 이를 채용한 표시 장치 Download PDF

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Abstract

화소 휘도 결정 방법은 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 경계 화소를 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 경계 화소의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소의 디밍 휘도를 결정한다. 이 때, 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 서브 스무딩 기준 라인 단위로 스무딩 레이트를 산출하고, 스무딩 레이트에 기초하여 서브 스무딩 기준 라인에 상응하는 경계 화소의 휘도 디밍을 수행한다.

Description

화소 휘도 결정 방법 및 이를 채용한 표시 장치{METHOD OF DETERMINING PIXEL LUMINANCE AND DISPLAY DEVICE EMPLOYING THE SAME}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 표시 패널 내 표시 영역과 비표시 영역(예를 들어, 트렌치 영역, 홀 영역, 모서리 영역 등) 사이의 경계 근처에 위치하는 경계 화소에 대해 휘도 디밍을 수행하는 화소 휘도 결정 방법 및 이를 채용한 표시 장치에 관한 것이다.
최근, 전자 기기의 디자인적 요소가 강조됨에 따라 표시 장치에 포함된 표시 패널이 표시 영역과 비표시 영역을 다양한 형태로 포함하고 있다. 예를 들어, 표시 영역의 모서리(corner) 영역이 곡선 처리됨에 따라 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일 수 있고, 표시 영역이 광학 모듈(예를 들어, 카메라 모듈, 센서 모듈 등)의 동작을 위한 광이 투과하는 홀(hole) 영역 또는 트렌치(trench) 영역을 포함함에 따라 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일 수 있다. 하지만, 표시 패널에 포함된 화소들이 다각형 형상(예를 들어, 사각형 형상)을 갖는 것이 일반적이기 때문에, 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일지라도 상기 화소들에 의해 단차가 발생할 수 있고, 그에 따라, 사용자가 해당 단차를 인지함에 따른 표시 품질 저하가 발생할 수 있다.
본 발명의 일 목적은 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 복수의 곡률을 가지는 곡선인 경우에도 화소들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지할 수 있는 화소 휘도 결정 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 화소 휘도 결정 방법을 채용한 표시 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 화소 휘도 결정 방법은 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩(smoothing) 기준 라인을 결정하는 단계, 상기 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 상기 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하는 단계, 상기 경계 화소를 상기 스무딩 기준 라인을 중심으로 상기 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 상기 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하는 단계, 상기 경계 화소의 전체 면적에 대한 상기 제1 화소 영역의 면적의 비(ratio)에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하는 단계, 및 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 경계 화소의 디밍(dimming) 휘도를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 이 때, 화소 휘도 결정 방법은 상기 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 상기 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 상기 서브 스무딩 기준 라인 단위로 상기 스무딩 레이트를 산출하고, 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 서브 스무딩 기준 라인에 상응하는 상기 경계 화소의 휘도 디밍을 수행할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 서브 스무딩 기준 라인 각각은 서로 다른 크기의 원의 원주의 일부일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도는 상기 경계 화소의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 계산될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 각각의 디밍 휘도는 상기 서브 화소들 각각의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 계산될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 하부에 배치되는 광학 모듈을 위한 트렌치(trench) 영역 또는 홀(hole) 영역일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 비표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 모서리(corner) 영역일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소 휘도 결정 방법은 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에만 배치된 대상 서브 화소를 검출하는 단계 및 상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소 휘도 결정 방법은 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에서 면적이 우세한 대상 서브 화소를 검출하는 단계 및 상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 표시 패널 및 상기 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로를 포함할 수 있다. 이 때, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 표시 영역과 상기 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 상기 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 상기 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 상기 경계 화소를 상기 스무딩 기준 라인을 중심으로 상기 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 상기 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 상기 경계 화소의 전체 면적에 대한 상기 제1 화소 영역의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 경계 화소의 디밍 휘도를 결정하고, 이미지 데이터에 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도를 반영하기 위한 휘도 보상을 수행할 수 있다. 이 때, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 상기 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 상기 서브 스무딩 기준 라인 단위로 상기 스무딩 레이트를 산출하고, 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 서브 스무딩 기준 라인에 상응하는 상기 경계 화소의 휘도 디밍을 수행할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 서브 스무딩 기준 라인 각각은 서로 다른 크기의 원의 원주의 일부일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 각각의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 상기 서브 화소들 각각의 휘도를 계산할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 하부에 배치되는 광학 모듈을 위한 트렌치(trench) 영역 또는 홀(hole) 영역일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 비표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 모서리(corner) 영역일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에만 배치된 대상 서브 화소를 검출하고, 상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킬 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에서 면적이 우세한 대상 서브 화소를 검출하고, 상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킬 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 화소 휘도 결정 방법은 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단할 수 있다. 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인을 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하여 경계 화소의 디밍 휘도를 결정함으로써, 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 복수의 곡률을 가지는 곡선인 경우에도 화소들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지할 수 있다. 그 결과, 사용자가 해당 단차를 인지함에 따른 표시 품질 저하가 방지될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 상기 화소 휘도 결정 방법을 채용함으로써, 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 복수의 곡률을 가지는 곡선인 경우에도 화소들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지하여 사용자에게 고품질의 이미지를 제공할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 화소 휘도 결정 방법을 나타내는 순서도이다.
도 2a 및 도 2b는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 적용되는 표시 패널을 나타내는 도면들이다.
도 3 및 도 4는 도 1의 화소 휘도 결정 방법을 설명하기 위한 도면들이다.
도 5는 도 1의 화소 휘도 결정 방법에 의해 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 개선된 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우 화소 휘도 결정 방법이 적용되는 표시 패널을 나타내는 도면이다.
도 8은 도 1의 화소 휘도 결정 방법에 의해 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 개선된 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 10a 및 도 10b는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 12는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 14는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 15는 도 14의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면 상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 사용하고 동일한 구성 요소에 대해서 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 화소 휘도 결정 방법을 나타내는 순서도이고, 도 2a 및 도 2b는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 적용되는 표시 패널을 나타내는 도면들이며, 도 3 및 도 4는 도 1의 화소 휘도 결정 방법을 설명하기 위한 도면들이고, 도 5는 도 1의 화소 휘도 결정 방법에 의해 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 개선된 일 예를 나타내는 도면이다. 도 6은 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 7은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 경우 화소 휘도 결정 방법이 적용되는 표시 패널을 나타내는 도면이며, 도 8은 도 1의 화소 휘도 결정 방법에 의해 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 개선된 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 1 내지 도 8을 참조하면, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 표시 패널에서 표시 영역(즉, DISPLAY REGION으로 표시)과 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시) 사이의 스무딩 기준 라인(SRL)을 결정(S110)하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)를 결정(S120)하며, 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단(S130)할 수 있다. 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지지 않는 경우, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 경계 화소(BP)를 스무딩 기준 라인(SRL)을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분(S140)하고, 경계 화소(BP)의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역(FPR)의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출(S150)하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소(BP)의 디밍 휘도를 결정(S160)할 수 있다. 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 경우, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할(S131)하고, 경계 화소(BP)를 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분(S141)하고, 경계 화소(BP)의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역(FPR)의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출(S150)하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소(BP)의 디밍 휘도를 결정(S160)할 수 있다.
구체적으로, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인(SRL)을 결정(S110)하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)를 결정(S120)할 수 있다. 일반적으로, 표시 패널은 표시 영역과 비표시 영역을 다양한 형태로 포함하고 있다. 예를 들어, 도 2a에 도시된 바와 같이, 표시 패널의 모서리 영역(즉, RC로 표시)이 곡선 처리됨에 따라 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일 수 있고, 표시 영역이 광학 모듈의 동작을 위한 광이 투과하는 홀 영역(즉, HL로 표시) 또는 트렌치 영역(즉, TR로 표시)을 포함함에 따라 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일 수 있다. 하지만, 표시 패널에 포함된 화소들이 다각형 형상을 갖는 것이 일반적이기 때문에, 도 2b에 도시된 바와 같이, 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일지라도 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)들에 의해 단차가 발생하고, 그에 따라, 사용자가 해당 단차를 인지함에 따른 표시 품질 저하가 발생할 수 있다. 다시 말하면, 사용자가 스무딩 기준 라인(SRL)을 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계로 인지해야 하는데, 경계 화소(BP)들의 제2 화소 영역(SPR)들이 발광하기 때문에, 경계 화소(BP)들의 제2 화소 영역(SPR)들에 기인한 단차들을 인지하는 것이다. 이에, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 대해 휘도 디밍을 수행함으로써 사용자로 하여금 스무딩 기준 라인(SRL)을 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계로 인지하도록 할 수 있다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단(S130)하고, 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지지 않는 경우, 경계 화소(BP)를 스무딩 기준 라인(SRL)을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분(S140)할 수 있다. 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 직선이거나 또는 다양한 형태(예를 들어, 복수의 곡률을 가지는 형태)의 곡선인 경우에도 모두 적용될 수 있다. 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단할 수 있다. 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지지 않는 경우, 화소 휘도 결정 방법은 추가적인 스무딩 기준 라인(SRL)의 분할을 하지 않고, 경계 화소(BP)를 스무딩 기준 라인(SRL)을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분할 수 있다. 일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 스무딩 기준 라인(SRL)은 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시)을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선일 수 있다. 이 경우, 비표시 영역은 오목한 형태를 가지고, 표시 영역은 볼록한 형태를 가질 수 있다. 예를 들어, 비표시 영역은 표시 패널의 모서리 영역(RC)일 수 있다. 다른 실시예에서, 스무딩 기준 라인(SRL)은 표시 영역(즉, DISPLAY REGION으로 표시)을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선일 수 있다. 이 경우, 비표시 영역은 볼록한 형태를 가지고, 표시 영역은 오목한 형태를 가질 수 있다. 예를 들어, 비표시 영역은 표시 패널의 하부에 배치되는 광학 모듈을 위한 트렌치 영역(TR) 또는 홀 영역(HL)일 수 있다. 다만, 본 명세서에서는 설명의 편의를 위해 스무딩 기준 라인(SRL)을 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시)을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선으로 가정하여 설명하기로 한다. 구체적으로, 도 3에 도시된 바와 같이, 표시 패널은 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)들, 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가지 않으면서 표시 영역에 위치하는 내측 비경계 화소(IP)들 및 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가지 않으면서 비표시 영역에 위치하는 외측 비경계 화소(OP)들을 포함할 수 있다. 이에, 도 4에 도시된 바와 같이, 경계 화소(BP)는 스무딩 기준 라인(SRL)을 중심으로 표시 영역(즉, DISPLAY REGION으로 표시)으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시)으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분될 수 있다. 한편, 외측 비경계 화소(OP)들은 표시 패널 상에 존재하지 않거나 또는 내측 비경계 화소(IP)들과 경계 화소(BP)들이 발광할 때 비발광(예를 들어, 스무딩 레이트가 0임)할 수 있다.
이후, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 경계 화소(BP)의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역(FPR)의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출(S150)할 수 있다. 예를 들어, 경계 화소(BP)의 전체 면적과 제1 화소 영역(FPR)의 면적이 동일한 경우(즉, 내측 비경계 화소(IP)에 해당함)에는 스무딩 레이트가 1일 수 있다. 반면에, 경계 화소(BP)의 전체 면적과 제2 화소 영역(SPR)의 면적이 동일한 경우(즉, 외측 비경계 화소(OP)에 해당함)에는 스무딩 레이트가 0일 수 있다. 따라서, 경계 화소(BP)에 적용될 스무딩 레이트는 0보다 크고 1보다 작은 값을 가질 수 있다. 예를 들어, 스무딩 기준 라인(SRL)이 소정의 원의 원주의 일부이고, 상기 원의 중심의 좌표가 (0, 0)이며, 상기 원의 반지름이 R이고, 경계 화소(BP)가 도 4에 도시된 정사각형 형상을 가지며, 도 4에 도시된 정사각형 형상의 가로와 세로의 길이가 1이고, 도 4에 도시된 정사각형 형상의 제1 꼭지점(즉, 왼쪽 아래에 위치한 꼭지점)의 좌표가 (x, y)이며, 도 4에 도시된 정사각형 형상의 제2 꼭지점(즉, 오른쪽 아래에 위치한 꼭지점)의 좌표가 (x+1, y)이고, 도 4에 도시된 정사각형 형상의 제3 꼭지점(즉, 왼쪽 위에 위치한 꼭지점)의 좌표가 (x, y+1)이며, 도 4에 도시된 정사각형 형상의 제4 꼭지점(즉, 오른쪽 위에 위치한 꼭지점)의 좌표가 (x+1, y+1)인 경우, 경계 화소(BP)에 적용될 스무딩 레이트는 아래 [수식 1]과 [수식 2]로 계산될 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서 경계 화소(BP)에 적용될 스무딩 레이트의 계산이 이에 한정되지는 않는다.
[수식 1]
Figure pat00001
(단, SR은 x≤y인 경우의 스무딩 레이트를 의미함)
[수식 2]
Figure pat00002
(단, SR은 x>y인 경우의 스무딩 레이트를 의미함)
다음, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소(BP)의 디밍 휘도를 결정(S150)할 수 있다. 일 실시예에서, 경계 화소(BP)의 디밍 휘도는 경계 화소(BP)의 휘도에 스무딩 레이트를 곱하여 계산될 수 있다. 예를 들어, 경계 화소(BP)의 휘도가 A인 경우, 경계 화소(BP)의 디밍 휘도는 A*SR일 수 있다. 다른 예를 들어, 내측 비경계 화소(IP)의 휘도가 B인 경우, 내측 비경계 화소(IP)의 디밍 휘도는 B*1=B일 수 있다. 또 다른 예를 들어, 외측 비경계 화소(OP)의 휘도가 C인 경우, 외측 비경계 화소(OP)의 디밍 휘도는 C*0=0일 수 있다. 나아가, 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 각각의 디밍 휘도는 서브 화소들(R, G, B) 각각의 휘도에 스무딩 레이트를 곱하여 계산될 수 있다. 예를 들어, 경계 화소(BP)에 포함된 적색 서브 화소(R)의 휘도가 A1인 경우, 경계 화소(BP)에 포함된 적색 서브 화소(R)의 디밍 휘도는 A1*SR일 수 있다. 예를 들어, 경계 화소(BP)에 포함된 녹색 서브 화소(G)의 휘도가 A2인 경우, 경계 화소(BP)에 포함된 녹색 서브 화소(G)의 디밍 휘도는 A2*SR일 수 있다. 예를 들어, 경계 화소(BP)에 포함된 청색 서브 화소(B)의 휘도가 A3인 경우, 경계 화소(BP)에 포함된 청색 서브 화소(B)의 디밍 휘도는 A3*SR일 수 있다. 그 결과, 도 5에 도시된 바와 같이, 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 개선(즉, IMP로 표시)될 수 있다. 즉, 종래의 경계(즉, ST로 표시)는 사용자에 의해 단차가 시인될 수 있는 반면에, 도 1의 화소 휘도 결정 방법에 의해 개선된 경계(즉, NST로 표시)는 사용자에 의해 단차가 시인되지 않거나 또는 시인되는 것이 최소화(또는 감소)될 수 있다.
이와 같이, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 표시 패널에서 표시 영역(즉, DISPLAY REGION으로 표시)과 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시) 사이의 스무딩 기준 라인(SRL)을 결정하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)를 결정하며, 경계 화소(BP)를 스무딩 기준 라인(SRL)을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분하고, 경계 화소(BP)의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역(FPR)의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소(BP)의 디밍 휘도를 결정(즉, 경계 화소(BP)의 휘도에 스무딩 레이트를 곱해 경계 화소(BP)의 디밍 휘도를 계산)함으로써, 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선인 경우에도 화소들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지할 수 있다. 그 결과, 사용자가 해당 단차를 인지함에 따른 표시 품질 저하가 방지될 수 있다. 한편, 상기에서는 도 1의 화소 휘도 결정 방법을 스무딩 기준 라인(SRL)이 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시)을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선인 것으로 가정하여 설명하였으나, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)의 특정 형태에 한정되어 적용되는 것이 아니다. 즉, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 직선이거나 또는 다양한 형태(예를 들어, 복수의 곡률을 가지는 형태)의 곡선인 경우에도 모두 적용될 수 있다. 이하 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 형태의 곡선인 경우를 도 6 내지 도 8을 참조하여 설명한다.
도 1, 도 6 내지 도 8을 참조하면, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단(S130)하고, 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 경우, 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할(S131)하며, 경계 화소(BP)를 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분(S141)할 수 있다. 구체적으로, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 직선이거나 또는 다양한 형태(예를 들어, 복수의 곡률을 가지는 형태)의 곡선인 경우에도 모두 적용될 수 있다. 경계 화소의 보다 정밀한 휘도 디밍을 수행하기 위해, 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단할 수 있다. 즉, 스무딩 기준 라인(SRL)은 복수의 곡률을 가질 수 있다. 이 경우, 스무딩 기준 라인(SRL)은 서로 다른 반경을 가진 복수의 원들의 연결로 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 도 6에 도시된 바와 같이, 스무딩 기준 라인(SRL)은 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 구성될 수 있다. 예를 들어, 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)은 표시 패널의 모서리 영역(RC)의 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계일 수 있다. 다른 예를 들어, 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)은 트렌치 영역(TR)의 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계일 수 있다. 각각의 서브 스무딩 기준 라인은 다른 서브 스무딩 기준 라인들과 다른 반경을 가진 복수의 원의 원주의 일부일 수 있다. 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 N(단, N은 2이상의 자연수)개의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 곡률에 따른 N개의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할할 수 있다. 도 6에서는 3개의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)이 예시되었으므로, 이 경우 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 곡률에 따른 제1 서브 스무딩 기준 라인, 제2 서브 스무딩 기준 라인 및 제3 서브 스무딩 기준 라인으로 분할할 수 있다. 제1 서브 스무딩 기준 라인의 원호1은 반경이 255 화소길이이고, 제2 서브 스무딩 기준 라인의 원호2는 반경이 37 화소길이이고, 제3 서브 스무딩 기준 라인의 원호3은 반경이 230 화소길이일 수 있다. 여기서 반경의 단위인 화소길이는 화소 하나의 직경을 의미할 수 있다. 즉, 도6의 스무딩 기준 라인(SRL)은 반경이 255 화소길이인 원호1, 반경이 37 화소길이인 원호2, 반경이 230 화소길이인 원호3이 연결되어 있는 형태의 곡선일 수 있다. 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 경계 화소(BP)를 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분할 수 있다. 예컨대, 도 6의 스무딩 기준 라인(SRL)의 경우, 경계 화소들은 3개의 제1 화소 영역(FPR)과 3개의 제2 화소 영역(SPR)으로 구분될 수 있다. 이와 같이 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할함으로써, 서브 스무딩 기준 라인 단위로 화소 휘도 디밍을 수행할 수 있다. 복수의 곡률을 가지는 스무딩 라인의 다른 예시로서, 도 7을 참조하면, 표시 패널은 각각의 서브 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소(BP)들, 각각의 서브 스무딩 기준 라인이 지나가지 않으면서 표시 영역에 위치하는 내측 비경계 화소(IP)들 및 각각의 서브 스무딩 기준 라인이 지나가지 않으면서 비표시 영역에 위치하는 외측 비경계 화소(OP)들을 포함할 수 있다. 이에, 도 7에 도시된 바와 같이, 경계 화소(BP)는 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역(즉, DISPLAY REGION으로 표시)으로 향하는 제1 화소 영역(FPR)과 비표시 영역(즉, NON-DISPLAY REGION으로 표시)으로 향하는 제2 화소 영역(SPR)으로 구분될 수 있다. 한편, 외측 비경계 화소(OP)들은 표시 패널 상에 존재하지 않거나 또는 내측 비경계 화소(IP)들과 경계 화소(BP)들이 발광할 때 비발광(예를 들어, 스무딩 레이트가 0임)할 수 있다.
이후, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 각각의 서브 스무딩 라인을 지나가는 경계 화소(BP)의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역(FPR)의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출(S150)하고, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소(BP)의 디밍 휘도를 결정(S150)할 수 있다. 그 결과, 도 8에 도시된 바와 같이, 각각의 서브 스무딩 라인들의 조합으로, 표시 영역과 비표시 영역 사이의 복수의 곡률을 가지는 경계가 개선(즉, IMP로 표시)될 수 있다. 즉, 종래의 복수의 곡률을 가지는 경계(즉, ST로 표시)는 사용자에 의해 단차가 시인될 수 있는 반면에, 도 1의 화소 휘도 결정 방법에 의해 개선된 복수의 곡률을 가지는 경계(즉, NST로 표시)는 사용자에 의해 단차가 시인되지 않거나 또는 시인되는 것이 최소화(또는 감소)될 수 있다. 다만, 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 경우 스무딩 레이트 산출 및 경계 화소의 디밍 휘도 결정이 각각의 서브 스무딩 기준 라인 단위로 수행된다는 점을 제외하고는, 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지지 않는 경우의 스무딩 레이트 산출 및 경계 화소의 디밍 휘도 결정 방법과 실질적으로 동일하므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 9는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 일 예를 나타내는 순서도이고, 도 10a 및 도 10b는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 9 내지 도 10b를 참조하면, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 제2 화소 영역(SPR)에만 배치된 대상 서브 화소를 검출(S210)하고, 제2 화소 영역(SPR)에만 배치된 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소(S220)시킬 수 있다. 예를 들어, 도 10a 및 도 10b에 도시된 바와 같이, 표시 패널에 포함된 서브 화소들(R, G, B)이 다이아몬드 구조로 배치될 수 있다. 이 경우, 하나의 화소가 적색 서브 화소(R)과 녹색 서브 화소(G) 또는 청색 서브 화소(B)와 녹색 서브 화소(G)를 포함할 수 있다. 이 때, 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에서 특정 서브 화소가 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측(즉, 비표시 영역으로 향하는 방향)에 위치할 수 있다. 예를 들어, 도 10a에서는 경계 화소(BP)들에서 녹색 서브 화소(G)들이 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에 줄지어 위치하기 때문에, 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 녹색이 강하게 인지되는 문제가 발생(즉, GD로 표시)할 수 있다. 다른 예를 들어, 도 10b에서는 경계 화소(BP)들에서 적색 서브 화소(R)들이 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에 줄지어 위치하기 때문에, 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 적색이 강하게 인지되는 문제가 발생(즉, RD로 표시)할 수 있다. 이에, 도 10a에 도시된 상황에서는, 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 녹색 서브 화소(G)에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킴으로써, 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 녹색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다. 마찬가지로, 도 10b에 도시된 상황에서는, 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 적색 서브 화소(R)에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킴으로써, 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 적색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다. 이와 같이, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 제2 화소 영역(SPR)에만 배치된 대상 서브 화소에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 방식으로 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 특정 색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다. 한편, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 경우에도, 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 제2 화소 영역(SPR)에만 배치된 대상 서브 화소에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 방식으로 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 특정 색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다.
도 11은 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 다른 예를 나타내는 순서도이고, 도 12는 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 대상 서브 화소에 적용될 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 11 및 도 12를 참조하면, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 제2 화소 영역(SPR)에서 면적이 우세한 대상 서브 화소를 검출(S310)하고, 제2 화소 영역(SPR)에서 면적이 우세한 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소(S320)시킬 수 있다. 예를 들어, 도 12에 도시된 바와 같이, 표시 패널에 포함된 서브 화소들(R, G, B)이 RGB 스트라이프 구조로 배치될 수 있다. 이 경우, 하나의 화소가 특정 방향으로 나란히 배치된 적색 서브 화소(R), 녹색 서브 화소(G) 및 청색 서브 화소(B)를 포함할 수 있다. 이 때, 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에서 특정 서브 화소가 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측(즉, 비표시 영역으로 향하는 방향)에서 면적이 우세할 수 있다. 예를 들어, 도 9에서는 청색 서브 화소(B)가 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 면적이 우세하기 때문에, 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 청색이 강하게 인지되는 문제가 발생할 수 있다. 이에, 도 12에 도시된 상황에서는, 도 1의 화소 휘도 결정 방법이 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 청색 서브 화소(B)에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킴으로써, 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 청색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다. 이와 같이, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 제2 화소 영역(SPR)에서 면적이 우세한 대상 서브 화소에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 방식으로 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 특정 색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다. 한편, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인(SRL)이 복수의 곡률을 가지는 경우에도, 스무딩 기준 라인(SRL)을 각각의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 각각의 서브 스무딩 라인을 지나가는 경계 화소(BP)에 포함된 서브 화소들(R, G, B) 중에서 제2 화소 영역(SPR)에서 면적이 우세한 대상 서브 화소에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 방식으로 복수의 곡률을 가지는 스무딩 기준 라인(SRL)의 외측에서 특정 색이 강하게 인지되는 문제를 해소할 수 있다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 13을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(120) 및 표시 패널 구동 회로(140)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치일 수 있으나 그에 한정되지는 않는다.
표시 패널(120)은 복수의 화소(111)들을 포함할 수 있다. 이 때, 상기 화소(111)들 각각은 적색 서브 화소, 녹색 서브 화소 및 청색 서브 화소 중에서 적어도 2이상을 포함할 수 있다. 한편, 표시 패널(120)은 표시 영역과 비표시 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 비표시 영역은 표시 패널의 곡선 처리된 모서리 영역일 수 있다. 이 경우, 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일 수 있다. 다른 예를 들어, 비표시 영역은 광학 모듈의 동작을 위한 광이 투과하는 홀 영역 또는 트렌치 영역일 수 있다. 이 경우, 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 곡선일 수 있다. 표시 패널 구동 회로(140)는 표시 패널(120)을 구동할 수 있다. 이를 위해, 표시 패널 구동 회로(140)는 스캔 드라이버, 데이터 드라이버 및 타이밍 컨트롤러를 포함할 수 있다. 표시 패널(120)은 스캔 라인들을 통해 스캔 드라이버에 연결되고, 데이터 라인들을 통해 데이터 드라이버에 연결될 수 있다. 스캔 드라이버는 스캔 라인들을 통해 표시 패널(120)에 스캔 신호(SS)를 제공할 수 있다. 즉, 스캔 드라이버는 화소(111)들에 스캔 신호(SS)를 제공할 수 있다. 데이터 드라이버는 데이터 라인들을 통해 표시 패널(120)에 데이터 신호(DS)(또는 데이터 전압)를 제공할 수 있다. 즉, 데이터 드라이버는 화소(111)들에 데이터 신호(DS)를 제공할 수 있다. 타이밍 컨트롤러는 복수의 제어 신호들을 생성하여 스캔 드라이버와 데이터 드라이버에 제공함으로써 스캔 드라이버와 데이터 드라이버를 제어할 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러는 외부 구성 요소(예를 들어, 그래픽 처리 유닛(graphic processing unit; GPU) 등)로부터 입력되는 이미지 데이터(DATA)에 대해 소정의 프로세싱(예를 들어, 열화 보상 등)을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(100)가 유기 발광 표시 장치인 경우 표시 패널 구동 회로(140)는 발광 제어 드라이버를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 표시 패널(120)은 발광 제어 라인들을 통해 발광 제어 드라이버에 연결되고, 발광 제어 드라이버는 발광 제어 라인들을 통해 표시 패널(120)에 발광 제어 신호를 제공할 수 있다. 즉, 발광 제어 드라이버는 화소(111)들에 발광 제어 신호를 제공할 수 있다.
일 실시예에서, 표시 패널 구동 회로(140)는 표시 패널(120)에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단할 수 있다. 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지지 않는 경우, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 경계 화소를 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 경계 화소의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소의 디밍 휘도를 결정하고, 이미지 데이터(DATA)에 경계 화소의 디밍 휘도를 반영하기 위한 휘도 보상을 수행할 수 있다. 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 도 1의 화소 휘도 결정 방법은 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 경계 화소를 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 이미지 데이터(DATA)에 경계 화소의 디밍 휘도를 반영하기 위한 휘도 보상을 수행할 수 있다. 이 때, 표시 패널 구동 회로(140)는 경계 화소의 휘도에 스무딩 레이트를 곱하여 경계 화소의 디밍 휘도를 계산할 수 있다. 또한, 표시 패널 구동 회로(140)는 경계 화소에 포함된 서브 화소들 각각의 휘도에 스무딩 레이트를 곱하여 서브 화소들 각각의 휘도를 계산할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 패널 구동 회로(140)는 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 제2 화소 영역에만 배치된 대상 서브 화소를 검출하고, 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킬 수 있다. 실시예에 따라, 표시 패널 구동 회로(140)는 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 제2 화소 영역에서 면적이 우세한 대상 서브 화소를 검출하고, 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시킬 수 있다. 다만, 이에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
이와 같이, 표시 장치(100)는 표시 패널(120)에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 표시 영역에 포함된 화소(111)들 중에서 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 경계 화소를 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 경계 화소의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소의 디밍 휘도를 결정(즉, 경계 화소의 휘도에 스무딩 레이트를 곱해 경계 화소의 디밍 휘도를 계산)함으로써, 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 복수의 곡률을 가지는 곡선인 경우에도 화소(111)들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지할 수 있다. 그 결과, 표시 장치(100)는 표시 패널(120)에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 복수의 곡률을 가지는 곡선인 경우에도 화소(111)들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지하고, 그에 따라, 사용자가 해당 단차를 인지하지 못하도록 하여 사용자에게 고품질의 이미지를 제공할 수 있다.
도 14는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이고, 도 15는 도 14의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
도 14 및 도 15를 참조하면, 전자 기기(1000)는 프로세서(1010), 메모리 장치(1020), 스토리지 장치(1030), 입출력 장치(1040), 파워 서플라이(1050) 및 표시 장치(1060)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 도 13의 표시 장치(100)일 수 있다. 또한, 전자 기기(1000)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 도 15에 도시된 바와 같이, 전자 기기(1000)는 스마트폰으로 구현될 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 전자 기기(1000)가 그에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 전자 기기(1000)는 휴대폰, 비디오폰, 스마트 패드(smart pad), 스마트 워치(smart watch), 태블릿(tablet) PC, 차량용 네비게이션, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이(head mounted display; HMD) 장치 등으로 구현될 수도 있다.
프로세서(1010)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 유닛(central processing unit), 어플리케이션 프로세서(application processor) 등일 수 있다. 프로세서(1010)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통해 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 주변 구성 요소 상호 연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다. 메모리 장치(1020)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(1020)는 이피롬(Erasable Programmable Read-Only Memory; EPROM) 장치, 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory; EEPROM) 장치, 플래시 메모리 장치(flash memory device), 피램(Phase Change Random Access Memory; PRAM) 장치, 알램(Resistance Random Access Memory; RRAM) 장치, 엔에프지엠(Nano Floating Gate Memory; NFGM) 장치, 폴리머램(Polymer Random Access Memory; PoRAM) 장치, 엠램(Magnetic Random Access Memory; MRAM), 에프램(Ferroelectric Random Access Memory; FRAM) 장치 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 디램(Dynamic Random Access Memory; DRAM) 장치, 에스램(Static Random Access Memory; SRAM) 장치, 모바일 DRAM 장치 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 스토리지 장치(1030)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(1040)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 파워 서플라이(1050)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다. 표시 장치(1060)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다.
표시 장치(1060)는 전자 기기(1000)의 시각적 정보에 해당하는 이미지를 표시할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치일 수 있으나 그에 한정되지는 않는다. 실시예에 따라, 표시 장치(1060)가 입출력 장치(1040)에 포함될 수도 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 경계가 복수의 곡률을 가지는 곡선인 경우에도 화소들에 의해 단차가 발생하는 것을 방지하고, 그에 따라, 사용자가 해당 단차를 인지하지 못하도록 하여 사용자에게 고품질의 이미지를 제공할 수 있다. 이를 위해, 표시 장치(1060)는 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 표시 패널 및 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 패널 구동 회로는 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는지 여부를 판단하고, 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 경계 화소를 각각의 서브 스무딩 기준 라인을 중심으로 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 경계 화소의 전체 면적에 대한 제1 화소 영역의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 스무딩 레이트에 기초하여 경계 화소의 디밍 휘도를 결정(즉, 경계 화소의 휘도에 스무딩 레이트를 곱해 경계 화소의 디밍 휘도를 계산)하고, 이미지 데이터에 경계 화소의 디밍 휘도를 반영하기 위한 휘도 보상을 수행할 수 있다. 다만, 이에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 휴대폰, 스마트폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션 시스템, 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이 장치, MP3 플레이어 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
OP: 외측 비경계 화소 IP: 내측 비경계 화소
BP: 경계 화소 SRL: 스무딩 기준 라인
FPR: 제1 화소 영역 SPR: 제2 화소 영역
R: 적색 서브 화소 G: 녹색 서브 화소
B: 청색 서브 화소 100: 표시 장치
111: 화소 120: 표시 패널
140: 표시 패널 구동 회로 1000: 전자 기기

Claims (20)

  1. 표시 패널에서 표시 영역과 비표시 영역 사이의 스무딩(smoothing) 기준 라인을 결정하는 단계;
    상기 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 상기 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하는 단계;
    상기 경계 화소를 상기 스무딩 기준 라인을 중심으로 상기 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 상기 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하는 단계;
    상기 경계 화소의 전체 면적에 대한 상기 제1 화소 영역의 면적의 비(ratio)에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하는 단계; 및
    상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 경계 화소의 디밍(dimming) 휘도를 결정하는 단계를 포함하고,
    상기 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 상기 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 상기 서브 스무딩 기준 라인 단위로 상기 스무딩 레이트를 산출하고, 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 서브 스무딩 기준 라인에 상응하는 상기 경계 화소의 휘도 디밍을 수행하는 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 복수의 서브 스무딩 기준 라인 각각은 서로 다른 크기의 원의 원주의 일부인 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도는 상기 경계 화소의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 계산되는 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 각각의 디밍 휘도는 상기 서브 화소들 각각의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 계산되는 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선인 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 하부에 배치되는 광학 모듈을 위한 트렌치(trench) 영역 또는 홀(hole) 영역인 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 비표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선인 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 모서리(corner) 영역인 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에만 배치된 대상 서브 화소를 검출하는 단계; 및
    상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에서 면적이 우세한 대상 서브 화소를 검출하는 단계; 및
    상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화소 휘도 결정 방법.
  11. 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 표시 패널; 및
    상기 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로를 포함하고,
    상기 표시 패널 구동 회로는 상기 표시 영역과 상기 비표시 영역 사이의 스무딩 기준 라인을 결정하고, 상기 표시 영역에 포함된 화소들 중에서 상기 스무딩 기준 라인이 지나가는 경계 화소를 결정하며, 상기 경계 화소를 상기 스무딩 기준 라인을 중심으로 상기 표시 영역으로 향하는 제1 화소 영역과 상기 비표시 영역으로 향하는 제2 화소 영역으로 구분하고, 상기 경계 화소의 전체 면적에 대한 상기 제1 화소 영역의 면적의 비에 해당하는 스무딩 레이트를 산출하며, 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 경계 화소의 디밍 휘도를 결정하고, 이미지 데이터에 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도를 반영하기 위한 휘도 보상을 수행하고,
    상기 표시 패널 구동 회로는 상기 스무딩 기준 라인이 복수의 곡률을 가지는 경우, 상기 스무딩 기준 라인을 각각의 곡률에 따른 복수의 서브 스무딩 기준 라인으로 분할하고, 상기 서브 스무딩 기준 라인 단위로 상기 스무딩 레이트를 산출하고, 상기 스무딩 레이트에 기초하여 상기 서브 스무딩 기준 라인에 상응하는 상기 경계 화소의 휘도 디밍을 수행하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 복수의 서브 스무딩 기준 라인 각각은 서로 다른 크기의 원의 원주의 일부인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제 11 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 상기 경계 화소의 상기 디밍 휘도를 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 각각의 휘도에 상기 스무딩 레이트를 곱하여 상기 서브 화소들 각각의 휘도를 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제 11 항에 있어서, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 제 15 항에 있어서, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 하부에 배치되는 광학 모듈을 위한 트렌치(trench) 영역 또는 홀(hole) 영역인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  17. 제 11 항에 있어서, 상기 스무딩 기준 라인은 상기 비표시 영역을 향하여 볼록하게 휘어진 곡선인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 제 17 항에 있어서, 상기 비표시 영역은 상기 표시 패널의 모서리(corner) 영역인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  19. 제 11 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에만 배치된 대상 서브 화소를 검출하고, 상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  20. 제 11 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동 회로는 상기 경계 화소에 포함된 서브 화소들 중에서 상기 제2 화소 영역에서 면적이 우세한 대상 서브 화소를 검출하고, 상기 대상 서브 화소의 휘도에 곱해질 상기 스무딩 레이트를 추가적으로 감소시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
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