KR20220068185A - Apparatus of deforgging - Google Patents
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Abstract
Description
본 개시는 김서림 제거 장치에 관한 것이다.The present disclosure relates to a defogging device.
실내 외의 온도차가 큰 경우, 유리창에 김 서림이 발생할 수 있다. 수분을 포함하는 공기가 상대적으로 낮은 온도의 유리창에 접촉하여 이슬점에 도달하는 경우, 김서림(또는 결로)이 발생할 수 있다. 유리창 또는 고글 등에 김 서림이 발생하는 경우, 김 서림이 시야를 방해하여 불투명하게 보일 수 있다. 특히, 차량의 경우, 김 서림은 운전자의 시야를 방해하여 안전운전에 큰 영향을 미치는 요인이 될 수 있다.If the temperature difference between indoors and outdoors is large, fogging may occur on the windows. When air containing moisture reaches the dew point by contacting a relatively low temperature glass window, fogging (or condensation) may occur. If fogging occurs on a glass window or goggles, the fogging may obstruct the view and appear opaque. In particular, in the case of a vehicle, fogging may obstruct the driver's field of vision and may be a factor that greatly affects safe driving.
차량 유리에 김서림이 발생하는 경우, 운전자가 에어컨을 동작시키거나 창문을 열어 실내 공기를 환기시켜 김 서림을 제거한다. 그러나 이와 같은 방법은 김 서림을 제거하기 위한 소요시간이 길며, 김 서림 현상이 완전히 제거되기 전까지 운전자는 시야가 불투명한 상태에서 운전을 하게 되어 안전사고 발생 위험이 매우 높다.If fogging occurs on the vehicle glass, the driver operates the air conditioner or opens a window to ventilate the indoor air to remove the fog. However, this method takes a long time to remove the fogging, and the driver drives in an opaque state until the fogging phenomenon is completely removed, so the risk of a safety accident is very high.
김서림 센서(또는 결로 센서)는 공기 중 수분이 응결되어 물방울이 맺힌 상태 또는 물방울이 맺히기 직전의 상태를 감지하기 위한 센서를 말한다. 상용되는 김서림 센서는 보통 흡습성 팽윤 성질이 있는 고분자와 전도성 입자 복합체를 감습 물질로 이용한다. 흡습성 팽윤 성질이 있는 고분자는 공기 중 습도가 높아질수록 수분을 흡수하여 팽윤한다. 고분자의 팽윤에 따라 전도성 입자 사이의 접촉이 끊어지게 되면서 전기 저항이 급격하게 증가한다. 김서림 센서는 전기 저항의 급격한 변화를 이용하여 김서림 현상의 발생 여부를 판단한다. 저항을 확인하기 위해, 김서림 센서에 직류 또는 특정 주파수의 일정한 전압이 인가된다.The fogging sensor (or condensation sensor) refers to a sensor for detecting a state in which water droplets are condensed in the air or a state just before the water droplets form. Commercially available fogging sensors usually use a polymer and conductive particle composite with hygroscopic swelling properties as a moisture-reducing material. Polymers with hygroscopic swelling properties absorb moisture and swell as the humidity in the air increases. As the polymer swells, the contact between the conductive particles is cut, and the electrical resistance increases rapidly. The fogging sensor determines whether fogging occurs by using a sudden change in electrical resistance. To check the resistance, direct current or a constant voltage of a specific frequency is applied to the fogging sensor.
서로 다른 김서림 센서들은 동일한 습도에서 다른 결과값들을 가질 수 있다. 특히 흡습성 고분자를 이용한 김서림 센서는 감습막 제조시의 분산 밀도, 분산 균일도, 공정 환경 등에 민감하기 때문에 각각의 작은 변화로 저항 특성(전기 전도도 특성)이 달라질 수 있다. 따라서 교정 과정 혹은 분류를 거치지 않은 센서들을 특정 습도 스위칭을 목적으로 사용할 때, 스위칭 동작의 시점에 차이가 날 수 있다.Different fogging sensors may have different results at the same humidity. In particular, since the fogging sensor using a hygroscopic polymer is sensitive to dispersion density, dispersion uniformity, process environment, etc. when manufacturing a moisture-sensitive film, resistance characteristics (electrical conductivity characteristics) may vary with each small change. Therefore, when sensors that have not been calibrated or classified are used for a specific humidity switching purpose, the timing of the switching operation may be different.
해결하고자 하는 과제는 향상된 신뢰도를 갖는 김서림 제거 장치를 제공하는 것에 있다. An object to be solved is to provide a defogging device having improved reliability.
다만, 해결하고자 하는 과제는 상기 개시에 한정되지 않는다.However, the problem to be solved is not limited to the above disclosure.
일 측면에 있어서, 베이스 필름; 상기 베이스 필름 상에 제공되는 김서림 센서; 상기 베이스 필름 상에 제공되는 발열부; 및 프로세서;를 포함하되, 김서림 센서는, 제1 전극, 상기 제1 전극으로부터 이격되는 제2 전극, 및 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 제공되는 감습막을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이의 제1 임피던스의 크기 및 제2 임피던스의 크기의 비율인 임피던스 크기 비를 획득하며, 상기 임피던스 크기 비에 기초하여 상기 발열부를 제어하는 김서림 제거 장치가 제공될 수 있다.In one aspect, the base film; a fogging sensor provided on the base film; a heating part provided on the base film; and a processor, wherein the fogging sensor includes a first electrode, a second electrode spaced apart from the first electrode, and a moisture-sensitive film provided between the first electrode and the second electrode, the processor comprising: A defogging device may be provided that obtains an impedance magnitude ratio that is a ratio of the magnitude of the first impedance and the magnitude of the second impedance between the first electrode and the second electrode, and controls the heating unit based on the impedance magnitude ratio have.
상기 김서림 센서 및 상기 발열부는 상기 베이스 필름 상에서 서로 이격될 수 있다.The fogging sensor and the heating part may be spaced apart from each other on the base film.
상기 김서림 센서는 상기 발열부 상에 제공될 수 있다.The fogging sensor may be provided on the heating unit.
상기 프로세서는, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 제1 주파수의 전기적 신호를 인가하여 상기 제1 임피던스의 크기를 측정하고, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 상기 제1 주파수보다 높은 제2 주파수의 전기적 신호를 인가하여 상기 제2 임피던스의 크기를 측정할 수 있다.The processor is configured to apply an electrical signal of a first frequency between the first electrode and the second electrode to measure the magnitude of the first impedance, and to measure the magnitude of the first impedance between the first electrode and the second electrode. The magnitude of the second impedance may be measured by applying an electrical signal of a high second frequency.
상기 임피던스 크기 비는 아래의 식에 의해 결정되고,The impedance magnitude ratio is determined by the following equation,
임피던스 크기 비= Impedance magnitude ratio =
상기 프로세서는, 상기 임피던스 크기 비가 1보다 큰 경우, 상기 김서림 센서에 김서림이 생성된 상태로 판단하고, 상기 임피던스 크기 비가 1 이하인 경우, 김서림 센서에 김서림이 생성되지 않은 상태로 판단할 수 있다.When the impedance magnitude ratio is greater than 1, the processor determines that the fogging is generated in the fogging sensor, and when the impedance magnitude ratio is 1 or less, it can be determined that the fogging is not generated in the fogging sensor.
상기 제1 주파수는 1 킬로헤르츠(kHz)일 수 있다.The first frequency may be 1 kilohertz (kHz).
상기 감습막은: 고분자 막; 및 상기 고분자 막 내에 제공되는 복수의 전도성 입자들;을 포함할 수 있다.The moisture-sensitive film includes: a polymer film; and a plurality of conductive particles provided in the polymer film.
상기 고분자 막은 수 팽윤성 고분자 물질을 포함할 수 있다.The polymer membrane may include a water-swellable polymer material.
상기 감습막은 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 상으로 연장될 수 있다.The moisture-sensitive layer may extend over the first electrode and the second electrode.
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 상기 베이스 필름과 상기 감습막 사이에 제공될 수 있다.The first electrode and the second electrode may be provided between the base film and the moisture-sensitive film.
상기 제1 전극은 상기 감습막 및 상기 베이스 필름 사이에 배치되고, 상기 제2 전극은 상기 감습막에 대해 상기 제1 전극의 반대편에 배치될 수 있다.The first electrode may be disposed between the moisture-sensitive layer and the base film, and the second electrode may be disposed opposite the first electrode with respect to the moisture-sensitive layer.
본 개시는 향상된 신뢰도를 갖는 김서림 제거 장치를 제공할 수 있다.The present disclosure may provide a defogging device with improved reliability.
다만, 발명의 효과는 상기 개시에 한정되지 않는다.However, the effect of the invention is not limited to the above disclosure.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 김서림 제거 장치의 사시도이다.
도 2는 제1 방향을 따르는 도 1의 김서림 제거 장치의 측면도이다.
도 3은 도 1의 김서림 제거 장치의 김서림 센서의 사시도이다.
도 4는 도 3의 분해 사시도이다.
도 5은 도 3의 B-B'선을 따르는 단면도이다.
도 6은 상대 습도가 낮은 경우의 감습막의 상태를 설명하기 위한 감습막의 확대도이다.
도 7은 상대 습도가 높은 경우의 감습막의 상태를 설명하기 위한 감습막의 확대도이다.
도 8은 예시적인 실시예에 따른 김서림 제거 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 9는 도 8의 김서림 감지 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 10은 상대 습도에 따른 서로 다른 한 쌍의 김서림 센서들을 이용하여 측정된 임피던스 크기 비의 관계 그래프이다.
도 11은 예시적인 실시예에 따른 김서림 센서의 분해 사시도이다.
도 12는 예시적인 실시예에 따른 김서림 센서의 사시도이다.
도 13은 도 12의 분해 사시도이다.
도 14는 도 12의 B-B'선을 따르는 단면도이다.
도 15는 예시적인 실시예에 따른 김서림 제거 장치의 개념도이다.
도 16은 제1 방향을 따르는 도 15의 김서림 제거 장치의 측면도이다. 1 is a perspective view of a defogging device according to an exemplary embodiment;
FIG. 2 is a side view of the defogging device of FIG. 1 taken along a first direction;
3 is a perspective view of a fogging sensor of the defogging device of FIG. 1 .
4 is an exploded perspective view of FIG. 3 ;
5 is a cross-sectional view taken along line B-B' of FIG. 3 .
6 is an enlarged view of the moisture-sensitive film for explaining the state of the moisture-sensitive film when the relative humidity is low.
7 is an enlarged view of the moisture-sensitive film for explaining the state of the moisture-sensitive film when the relative humidity is high.
Fig. 8 is a flow chart for explaining a method of de-fogging according to an exemplary embodiment.
9 is a flowchart for explaining the fog detection method of FIG. 8 .
10 is a graph showing a relationship between impedance magnitude ratios measured using a pair of different fogging sensors according to relative humidity.
11 is an exploded perspective view of a fogging sensor according to an exemplary embodiment.
12 is a perspective view of a fogging sensor according to an exemplary embodiment.
13 is an exploded perspective view of FIG. 12 ;
14 is a cross-sectional view taken along line B-B' of FIG. 12 .
Fig. 15 is a conceptual diagram of a defogging device according to an exemplary embodiment.
FIG. 16 is a side view of the defogging device of FIG. 15 taken along a first direction;
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대해 상세히 설명하기로 한다. 이하의 도면들에서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 지칭하며, 도면상에서 각 구성요소의 크기는 설명의 명료성과 편의상 과장되어 있을 수 있다. 한편, 이하에 설명되는 실시예는 단지 예시적인 것에 불과하며, 이러한 실시예들로부터 다양한 변형이 가능하다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following drawings, the same reference numerals refer to the same components, and the size of each component in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of description. Meanwhile, the embodiments described below are merely exemplary, and various modifications are possible from these embodiments.
이하에서, "상"이라고 기재된 것은 접촉하여 바로 위에 있는 것뿐만 아니라 비접촉으로 위에 있는 것도 포함할 수 있다.Hereinafter, what is referred to as "on" may include those directly over in contact as well as over non-contact.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. Also, when a part "includes" a component, it means that other components may be further included, rather than excluding other components, unless otherwise stated.
또한, 명세서에 기재된 “...부” 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미한다.In addition, terms such as “…unit” described in the specification mean a unit that processes at least one function or operation.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 김서림 제거 장치의 사시도이다. 도 2는 제1 방향을 따르는 도 1의 김서림 제거 장치의 측면도이다. 도 3은 도 1의 김서림 제거 장치의 김서림 센서의 사시도이다. 도 4는 도 3의 분해 사시도이다. 도 5은 도 3의 B-B'선을 따르는 단면도이다. 도 6은 상대 습도가 낮은 경우의 감습막의 상태를 설명하기 위한 감습막의 확대도이다. 도 7은 상대 습도가 높은 경우의 감습막의 상태를 설명하기 위한 감습막의 확대도이다. 1 is a perspective view of a defogging device according to an exemplary embodiment; FIG. 2 is a side view of the defogging device of FIG. 1 taken along a first direction; 3 is a perspective view of a fogging sensor of the defogging device of FIG. 1 . 4 is an exploded perspective view of FIG. 3 ; 5 is a cross-sectional view taken along line B-B' of FIG. 3 . 6 is an enlarged view of the moisture-sensitive film for explaining the state of the moisture-sensitive film when the relative humidity is low. 7 is an enlarged view of the moisture-sensitive film for explaining the state of the moisture-sensitive film when the relative humidity is high.
도 1 내지 도 7을 참조하면, 김서림 제거 장치(1)가 제공될 수 있다. 김서림 제거 장치(1)는 베이스 필름(100), 발열부(200), 김서림 센서(300), 및 제어부(400)를 포함할 수 있다. 베이스 필름(100)은 투명하고 유연할 수 있다. 예를 들어, 베이스 필름(100)은 투명 유연 고분자 또는 유연 글래스를 포함할 수 있다. 투명 유연 고분자는, 예를 들어, CPI (Colorless Poly Imide), PET, PC, PI, PES, PEI, PEN, PAI, 및 PEEK 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.1 to 7 , a
발열부(200)는 베이스 필름(100) 상에 제공될 수 있다. 발열부(200)는 상부 전극(211), 하부 전극(212), 발열 필름(220), 및 보호 필름(230)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상부 전극(211) 및 하부 전극(212)은 금속 메쉬, 액체 금속, 금속, 전도성 산화물(예를 들어, ITO, AZO, IZO, ZTO) 박막, 산화물-금속-산화물 다층전극(예를 들어, ITO-Ag-ITO, IZO-Ag-IZO), 금속나노소재(예를 들어, 은 나노와이어(Ag Nanowires), 은 나노파티클(Ag Nanoparticles), 금 나노와이어(Au Nanowires), 금 나노파티클(Au Nanoparticles), 구리 나노와이어(Cu Nanowires), 구리 나노파티클(Cu Nanoparticles)), 카본 나노소재(예를 들어, 그래핀, 카본나노튜브, rGO), 및 전도성 고분자(예를 들어, PEDOT:PSS, PANI) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The
상부 전극(211) 및 하부 전극(212)은 제어부(400)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제어부(400)로부터 상부 전극(211) 및 하부 전극(212)에 전기적 신호가 인가되면, 발열 필름(220)은 열을 방출할 수 있다. 예를 들어, 발열 필름(220)은 금속 및 세라믹의 조합, 금속 메시, 금속 박막, 및 금속 와이어들 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 발열 필름(220)의 면적은 김서림 제거 장치(1)가 제공되는 대상에 따라 결정될 수 있다.The
발열 필름(220) 상에 보호 필름(230)이 제공될 수 있다. 보호 필름(230)은 외부 요인에 의해 발열 필름(220)이 손상되는 것을 방지하고, 발열 필름(220)을 절연시킬 수 있다. 보호 필름(230)은 절연 물질을 포함할 수 있다. A
김서림 센서(300)는 베이스 필름(100) 상에 제공될 수 있다. 김서림 센서(300)는 베이스 필름(100) 상에서 발열 필름(220)과 이격되어 배치될 수 있다. 김서림 센서(300)는 제1 전극(311), 제2 전극(312), 감습막(320), 및 제어부(400)를 포함할 수 있다. The
제1 전극(311) 및 제2 전극(312)은 베이스 필름(100) 상에 제공될 수 있다. 제1 전극(311) 및 제2 전극(312)은 서로 이격될 수 있다. 제1 전극(311) 및 제2 전극(312)의 각각은 제1 방향(DR1)으로 연장하는 제1 부분(P1) 및 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)으로 연장하는 제2 부분들(P2)을 포함할 수 있다. 제1 전극(311)의 제2 부분들(P2)과 제2 전극(312)의 제2 부분들(P2)은 각각 제1 전극(311)의 제1 부분(P1) 및 제2 전극(312)의 제1 부분(P1)으로부터 서로 마주하는 방향들로 연장할 수 있다. 제1 전극(311)의 제2 부분들(P2)과 제2 전극(312)의 제2 부분들(P2)은 제1 방향(DR1)을 따라 교대로 배열될 수 있다. 제1 전극(311) 및 제2 전극(312)은, 예를 들어, 금속 메쉬, 액체 금속, 금속, 전도성 산화물(예를 들어, ITO, AZO, IZO, ZTO) 박막, 산화물-금속-산화물 다층전극(예를 들어, ITO-Ag-ITO, IZO-Ag-IZO), 금속나노소재(예를 들어, 은 나노와이어(Ag Nanowires), 은 나노파티클(Ag Nanoparticles), 금 나노와이어(Au Nanowires), 금 나노파티클(Au Nanoparticles), 구리 나노와이어(Cu Nanowires), 구리 나노파티클(Cu Nanoparticles)), 카본 나노소재(예를 들어, 그래핀, 카본나노튜브, rGO), 및 전도성 고분자(예를 들어, PEDOT:PSS, PANI) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The
감습막(320)은 제1 전극(311) 및 제2 전극(312) 상에 제공될 수 있다. 감습막(320)은 제1 전극(311) 및 제2 전극(312)을 덮고, 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이에 제공될 수 있다. 감습막(320)은 고분자 막 및 고분자 막 내에 분산된 전도성 입자들을 포함할 수 있다. 고분자 막은 그 주위의 습도가 높으면 팽윤할 수 있다. 일 예에서, 고분자 막은 가교 구조를 가지는 수 팽윤성 고분자를 포함할 수 있다. 수 팽윤성 고분자는 특정한 기체 및/또는 액체 상의 물질을 흡착하여 팽윤될 수 있다. 예를 들어, 수 팽윤성 고분자는 폴리비닐알콜(Polyvinyl Alcohol, PVA)을 포함할 수 있다. 전도성 입자들 각각은 입자 형상, 나노 와이어 형상, 또는 나노 튜브 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 전도성 입자들은 산화물전도체 입자, 금속나노소재, 카본 나노소재, 전도성 고분자 입자, 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다. 예를 들어, 산화물 전도체 입자는 AZO, ZTO, 및/또는 IZO을 포함할 수 있다. 예를 들어, 금속 나노 소재는 Au, Ag, 및/또는 Cu를 포함하는 나노파티클 및/또는 나노와이어를 포함할 수 있다. 예를 들어, 카본 나노 소재는 그래파이트, 그래핀, rGO, 카본나노튜브, 카본블랙, 및/또는 아세틸렌블랙을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전도성 고분자 입자는 PANI, 및/또는 PEDOT:PSS를 포함할 수 있다.The moisture
도 6을 참조하면, 김서림 센서(300) 주위의 상대 습도가 상대적으로 낮은 경우(예를 들어, 상대 습도가 80% RH 이하인 경우), 고분자 막(321)은 제1 상태를 가질 수 있다. 제1 상태는 고분자 막(321)이 팽윤되지 않은 상태는 미세하게 팽윤되거나 실질적으로 팽윤되지 않은 상태를 지칭한다. 제1 상태를 갖는 고분자 막(321) 내의 전도성 입자들(322)은 상대적으로 큰 밀도를 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 상태를 갖는 고분자 막(321) 내의 전도성 입자들(322)의 밀도는 퍼콜레이션 임계(Percolation Threshold) 이상일 수 있다. 퍼콜레이션 임계는 감습막(320)의 전기적 성질이 급격히 바뀌는 때의 전도성 입자들(322)의 밀도를 지칭할 수 있다. 제1 상태를 갖는 고분자 막(321) 내의 전도성 입자들(322)은 서로 접하여, 상대적으로 많은 전도성 통로들을 형성할 수 있다. 이에 따라 감습막(320)이 상대적으로 작은 임피던스 크기를 가질 수 있다. Referring to FIG. 6 , when the relative humidity around the
도 7을 참조하면, 김서림 센서(300) 주위의 상대 습도가 상대적으로 높은 경우(예를 들어, 상대 습도가 80% RH 초과인 경우), 고분자 막(321)은 제1 상태와 다른 제2 상태를 가질 수 있다. 제2 상태는 고분자 막(321)이 제1 상태에 비해 팽윤된 상태일 수 있다. 제2 상태를 갖는 고분자 막(321) 내의 전도성 입자들(322)은 상대적으로 작은 밀도로 분포될 수 있다. 예를 들어, 제2 상태를 갖는 고분자 막(321) 내의 전도성 입자들(322)의 밀도는 퍼콜레이션 임계보다 작을 수 있다. 제2 상태를 갖는 고분자 막(321) 내의 전도성 입자들(322)은 상대적으로 적은 전도성 통로들을 형성할 수 있다. 전도성 통로를 형성하지 않는 전도성 입자들(322)은 서로 이격되어 커패시턴스 성분을 만들 수 있다. 감습막(320)이 상대적으로 큰 임피던스 크기를 가질 수 있다. 감습막(320)의 임피던스 크기는 상대 습도에 따라 급격하게 변할 수 있다. 예를 들어, 김서림 센서(300) 주위의 상대 습도가 약 80 % RH 이하인 경우, 감습막(320)의 임피던스 크기는 약 1 킬로옴(kohm)이고, 김서림 센서(300) 주위의 상대 습도가 약 85 % RH 이상인 경우, 감습막(320)의 임피던스 크기는 약 10 킬로옴(kohm) 내지 1 메가옴(Mohm)일 수 있다. 감습막(320)의 임피던스 크기는 김서림 센서(300) 주위의 상대 습도에 따라 로그적(logarithmically)으로 변할 수 있다. Referring to FIG. 7 , when the relative humidity around the
제어부(400)는 저장 요소(420) 및 프로세서(410)를 포함할 수 있다. 저장 요소(420)는 프로세서(410)의 작동에 필요한 데이터를 저장할 수 있다. 예를 들어, 저장 요소(420)는 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다. The
프로세서(410)는 상부 전극(211), 하부 전극(212), 제1 전극(311), 및 제2 전극(312)에 전기적으로 연결될 수 있다. 프로세서(410)는 상부 전극(211), 하부 전극(212), 제1 전극(311), 및 제2 전극(312)에 전기적 신호를 인가할 수 있다. 예를 들어, 전기적 신호는 교류 전압 신호일 수 있다. 프로세서(410)는 제1 전극(311)과 제2 전극(312)에 인가되는 전기적 신호의 주파수에 따른 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 임피던스의 크기를 측정할 수 있다. 프로세서(410)는 임피던스 크기 값을 저장 요소(420)에 저장할 수 있다. 프로세서(410)는 서로 다른 한 쌍의 임피던스 크기 값들의 비율인 임피던스 크기 비를 계산할 수 있다. 임피던스 크기 비에 관해선 도 6을 참조하여 자세히 설명된다. 프로세서(410)는 임피던스 크기 비에 기초하여 김서림 상태를 판단할 수 있다. 김서림 상태는 김서림의 생성 상태를 지칭할 수 있다. 예를 들어, 김서림 상태는 김서림이 생성되지 않은 상태 및 김서림이 생성된 상태를 포함할 수 있다. 임피던스 크기 비와 김서림 상태의 관계 데이터는 저장 요소(420)에 미리 저장될 수 있다. 예를 들어, 임피던스 크기 비가 1 이하인 경우, 김서림이 생성되지 않은 상태일 수 있고, 임피던스 크기 비가 1 초과인 경우, 김서림이 생성된 상태일 수 있다. 프로세서(410)는 김서림 상태에 기초하여 제어 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(410)가 김서림 센서(300)에 김서림이 생성된 상태로 판단한 경우, 프로세서(410)는 발열 필름(220)이 열을 방출하도록 온(On) 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(410)가 김서림 센서(300)에 김서림이 생성되지 않은 상태로 판단한 경우, 프로세서(410)는 발열 필름(220)이 열을 방출하지 않도록 오프(Off) 신호를 생성할 수 있다. 즉, 발열부(200)는 김서림 센서(300)에 김서림이 생성되는지 여부에 따라 구동될 수 있다. The
감습막(320)은 제조상의 문제로 인해 완전히 동일한 특성을 갖도록 제조되기 어렵다. 다시 말해, 동일한 특성을 갖도록 제조된 감습막들이라도 실제로 그 특성들은 차이를 가진다. 김서림 센서(300)가 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 임피던스 크기에만 기초하여 상대 습도를 결정하는 경우, 감습막(320)의 특성에 따라 생성되는 제어 신호가 달라질 수 있다. 예를 들어, 동일한 습도 환경 속에 서로 다른 김서림 센서들이 놓여져 있을 때, 어떤 김서림 센서들은 온(On) 신호를 생성하고 다른 어떤 김서림 센서들은 오프(Off) 신호를 생성할 수 있다. 즉, 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 임피던스 크기에만 기초하여 상대 습도를 결정하는 경우, 김서림 센서(300)의 신뢰도가 낮을 수 있다. It is difficult to manufacture the moisture-
본 개시의 김서림 센서(300)는 제1 전극(311)과 제2 전극(312)에 인가되는 전기적 신호의 주파수에 따른 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 임피던스들의 크기 비율에 기초하여 김서림 상태를 결정할 수 있다. 임피던스들의 크기 비율은 감습막의 특성에 영향을 적게 받을 수 있다. 동일한 습도 환경에 놓여진 서로 다른 김서림 센서들(300)은 실질적으로 동일한 제어 신호들을 생성할 수 있다. 이에 따라 김서림 센서(300)의 신뢰도가 개선될 수 있다. The
본 개시의 김서림 제거 장치(1)는 높은 신뢰도를 갖는 김서림 센서(300)를 이용하므로, 정확한 시기에 작동될 수 있다. 따라서, 신뢰도가 높은 김서림 제거 장치(1)가 제공될 수 있다.Since the
도 8은 예시적인 실시예에 따른 김서림 제거 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 9는 도 8의 김서림 감지 방법을 설명하기 위한 순서도이다.Fig. 8 is a flow chart for explaining a method of de-fogging according to an exemplary embodiment. 9 is a flowchart for explaining the fog detection method of FIG. 8 .
도 3 및 도 8을 참조하면, 김서림 센서(300)의 김서림이 감지될 수 있다(S100). 김서림 감지 방법은 도 9를 참조하여 설명된다. 프로세서(410)는 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 제1 임피던스의 크기 및 제2 임피던스의 크기를 측정할 수 있다.(S110) 제1 임피던스는 제1 전극(311)과 제2 전극(312)에 제1 주파수의 전기적 신호가 인가된 때의 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 임피던스일 수 있다. 제2 임피던스는 제1 전극(311)과 제2 전극(312)에 제1 주파수와 다른 제2 주파수의 전기적 신호가 인가된 때의 제1 전극(311)과 제2 전극(312) 사이의 임피던스일 수 있다. 예를 들어, 제1 주파수는 제2 주파수보다 낮을 수 있다. 예를 들어, 제1 주파수는 약 1 킬로헤르츠(kHz)일 수 있다. 제1 주파수와 제2 주파수의 파형은 필요에 따라 결정될 수 있다. 예를 들어, 제1 주파수와 제2 주파수의 파형은 정현파, 펄스, 삼각파, 또는 사각파일 수 있다. 프로세서(410)는 제1 임피던스의 크기 값 및 제2 임피던스의 크기 값을 저장 요소(420)에 저장할 수 있다.3 and 8, the fogging of the
프로세서(410)는 제1 임피던스의 크기와 제2 임피던스의 크기의 비율인 임피던스 크기 비를 획득할 수 있다.(S120) 예를 들어, 임피던스 크기 비는 아래의 식으로 결정될 수 있다. The
임피던스 크기 비= Impedance magnitude ratio =
프로세서(410)는 임피던스 크기 비에 기초하여 김서림 상태를 판단할 수 있다.(S130) 김서림 상태는 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 것과 실질적으로 동일할 수 있다. 예를 들어, 임피던스 크기 비와 김서림 상태의 관계 데이터를 이용하여 김서림 상태를 결정할 수 있다. 임피던스 크기 비와 김서림 상태의 관계 데이터는 저장 요소(420)에 미리 저장될 수 있다.The
프로세서(410)는 김서림 상태에 기초하여 제어 신호를 생성할 수 있다(S140). The
도 8을 다시 참조하면, 프로세서(410)가 김서림 센서(300)에 김서림이 생성되었다고 판단한 경우, 온(On) 신호를 생성하여 발열부(200)에 전송할 수 있다. 이에 따라, 발열 필름(220)은 열을 방출할 수 있다(S200). Referring back to FIG. 8 , when the
프로세서(410)는 김서림 센서(300)에서 김서림이 제거되었는지 감지할 수 있다(S300). 김서림이 제거되었는지 여부는 김서림 생성을 감지하는 것과 실질적으로 동일한 과정에 의해 판단될 수 있다. The
프로세서(410)는 김서림 센서(300)에서 김서림이 제거되었다고 판단한 경우, 발열 필름(220)이 열을 방출하지 않도록 오프(Off) 신호를 생성할 수 있다(S400).When it is determined that the fogging is removed by the
김서림은 상대 습도가 90 %RH 이상인 때 생성될 수 있다. 본 개시의 김서림 센서(300)는 동일한 습도 환경에서 실질적으로 동일한 임피던스 크기 비를 이용하여 김서림이 생성된 때를 판단하여 온(On)/오프(Off) 신호를 생성할 수 있다. 따라서, 본 개시는 신뢰도 높은 김서림 제거 방법을 제공할 수 있다.Fog can form when the relative humidity is above 90 %RH. The
도 10은 상대 습도에 따른 서로 다른 한 쌍의 김서림 센서들을 이용하여 측정된 임피던스 크기 비의 관계 그래프이다.10 is a graph illustrating a relationship between impedance magnitude ratios measured using a pair of different fogging sensors according to relative humidity.
도 10을 참조하면, 상대 습도에 따른 한 쌍의 김서림 센서들을 이용하여 측정된 임피던스 크기 비가 도시되었다. 한 쌍의 김서림 센서들의 각각은 도 3에 도시된 김서림 센서(300)와 실질적으로 동일하였다. 한 쌍의 김서림 센서들의 상대 습도에 따른 임피던스 크기 비는 실질적으로 동일하거나 작은 편차를 가졌다. Referring to FIG. 10 , an impedance magnitude ratio measured using a pair of fogging sensors according to relative humidity is shown. Each of the pair of fog sensors was substantially the same as the
도 11은 예시적인 실시예에 따른 김서림 센서의 분해 사시도이다. 설명의 간결함을 위해, 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 것과 실질적으로 동일한 내용은 설명되지 않을 수 있다.11 is an exploded perspective view of a fogging sensor according to an exemplary embodiment. For brevity of description, contents substantially the same as those described with reference to FIGS. 1 to 7 may not be described.
도 11을 참조하면, 베이스 필름(100) 상에 김서림 센서(301)가 제공될 수 있다. 김서림 센서(301)는 도 3을 참조하여 설명되는 김서림 센서(301) 대신 김서림 제거 장치(1)에 이용될 수 있다. 김서림 센서(301)는 제3 전극(313), 제4 전극(314), 감습막(320), 및 제어부(400)를 포함할 수 있다. 베이스 필름(100), 감습막(320), 및 제어부(400)는 각각 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 베이스 필름(100), 감습막(320), 및 제어부(400)와 실질적으로 동일할 수 있다. Referring to FIG. 11 , a
제3 전극(313) 및 제4 전극(314)은 베이스 필름(100) 상에 제공될 수 있다. 제3 전극(313) 및 제4 전극(314)은 서로 이격될 수 있다. 예를 들어, 제3 전극(313) 및 제4 전극(314)은 금속, 전도성 폴리머, 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다. 제3 전극(313) 및 제4 전극(314)은 제1 방향(DR1)으로 연장할 수 있다. 제3 전극(313) 및 제4 전극(314)은 제2 방향(DR2)을 따라 서로 마주할 수 있다.The
본 개시는 제3 전극(313)과 제4 전극(314)에 인가되는 전기적 신호의 주파수에 따른 제3 전극(313)과 제4 전극(314) 사이의 임피던스들의 크기 비율에 기초하여 김서림 상태를 결정할 수 있다. 임피던스들의 크기 비율은 감습막의 특성에 영향을 적게 받을 수 있다. 동일한 습도 환경에 놓여진 서로 다른 김서림 센서들(301)은 실질적으로 동일한 제어 신호들을 생성할 수 있다. 이에 따라, 김서림 센서(301)의 신뢰도가 개선될 수 있다. 결과적으로, 본 개시는 신뢰도 높은 김서림 제거 장치(1)를 제공할 수 있다.The present disclosure provides a fogging state based on a ratio of impedances between the
도 12는 예시적인 실시예에 따른 김서림 센서의 사시도이다. 도 13은 도 12의 분해 사시도이다. 도 14는 도 12의 B-B'선을 따르는 단면도이다. 설명의 간결함을 위해, 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 것과 실질적으로 동일한 내용은 설명되지 않을 수 있다. 12 is a perspective view of a fogging sensor according to an exemplary embodiment. 13 is an exploded perspective view of FIG. 12 ; 14 is a cross-sectional view taken along line B-B' of FIG. 12 . For brevity of description, contents substantially the same as those described with reference to FIGS. 1 to 7 may not be described.
도 12 내지 도 14를 참조하면, 베이스 필름(100) 상에 김서림 센서(302)가 제공될 수 있다. 김서림 센서(302)는 도 3을 참조하여 설명되는 김서림 센서(302) 대신 김서림 제거 장치(1)에 이용될 수 있다. 김서림 센서(302)는 제5 전극(315), 제6 전극(316), 감습막(320), 및 제어부(400)를 포함할 수 있다. 베이스 필름(100), 감습막(320), 및 제어부(400)는 각각 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 베이스 필름(100), 감습막(320), 및 제어부(400)와 실질적으로 동일할 수 있다. 12 to 14 , a
제5 전극(315) 및 제6 전극(316)은 베이스 필름(100) 상에 제공될 수 있다. 제5 전극(315) 및 제6 전극(316)은 감습막(320)을 사이에 두고 서로 이격될 수 있다. 예를 들어, 제5 전극(315) 및 제6 전극(316)은 제3 방향(DR3)을 따라 서로 마주할 수 있다. 제5 전극(315) 및 제6 전극(316)은 각각 감습막(320)의 바닥면 및 상면을 덮을 수 있다. 예를 들어, 제5 전극(315) 및 제6 전극(316)은 금속, 카본, 전도성 폴리머, 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다. The
본 개시는 제5 전극(315)과 제6 전극(316)에 인가되는 전기적 신호의 주파수에 따른 제5 전극(315)과 제6 전극(316) 사이의 임피던스들의 크기 비율에 기초하여 김서림 상태를 결정할 수 있다. 임피던스들의 크기 비율은 감습막의 특성에 영향을 적게 받을 수 있다. 동일한 습도 환경에 놓여진 서로 다른 김서림 센서들(302)은 실질적으로 동일한 제어 신호들을 생성할 수 있다. 이에 따라 김서림 센서(302)의 신뢰도가 개선될 수 있다. 결과적으로, 본 개시는 신뢰도 높은 김서림 제거 장치(1)를 제공할 수 있다.The present disclosure provides a fogging state based on a ratio of impedances between the
도 15는 예시적인 실시예에 따른 김서림 제거 장치의 개념도이다. 도 16은 제1 방향을 따르는 도 15의 김서림 제거 장치의 측면도이다. 설명의 간결함을 위해, 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 것과 실질적으로 동일한 내용은 설명되지 않을 수 있다.Fig. 15 is a conceptual diagram of a defogging device according to an exemplary embodiment. FIG. 16 is a side view of the defogging device of FIG. 15 taken along a first direction; For brevity of description, contents substantially the same as those described with reference to FIGS. 1 to 7 may not be described.
도 15 및 도 16을 참조하면, 김서림 제거 장치(2)가 제공될 수 있다. 김서림 제거 장치(1)는 베이스 필름(100), 발열부(200), 김서림 센서(300), 및 제어부(400)를 포함할 수 있다. 김서림 센서(300)의 위치에 관한 것을 제외하면, 김서림 제거 장치(2)는 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 김서림 제거 장치(2)와 실질적으로 동일할 수 있다.15 and 16 , a
김서림 센서(300)는 발열 필름(220) 상에 제공될 수 있다. 이에 따라, 김서림 센서(300)는 발열 필름(220)에 의해 베이스 필름(100)으로부터 이격될 수 있다. 김서림 제거 장치(2)가 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 김서림 센서(300)를 포함하는 것으로 도시되었으나, 이는 한정적인 것이 아니다. 다른 예에서, 김서림 제거 장치(2)는 도 11을 참조하여 설명된 김서림 센서(301) 또는 도 12 내지 도 14를 참조하여 설명된 김서림 센서(302)를 포함할 수 있다.The
본 개시는 높은 신뢰도를 갖는 김서림 제거 장치(2)를 제공할 수 있다.The present disclosure can provide a
본 발명의 기술적 사상의 실시예들에 대한 이상의 설명은 본 발명의 기술적 사상의 설명을 위한 예시를 제공한다. 따라서 본 발명의 기술적 사상은 이상의 실시예들에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 상기 실시예들을 조합하여 실시하는 등 여러 가지 많은 수정 및 변경이 가능함은 명백하다.The above description of embodiments of the technical idea of the present invention provides an example for the description of the technical idea of the present invention. Therefore, the technical spirit of the present invention is not limited to the above embodiments, and within the technical spirit of the present invention, a person skilled in the art may perform various modifications and changes such as combining the above embodiments. It is clear that this is possible.
1, 2: 김서림 제거 장치
100: 베이스 필름
200: 발열부
300, 301, 302: 김서림 센서
400: 제어부1, 2: Defogger 100: Base film
200:
400: control unit
Claims (11)
상기 베이스 필름 상에 제공되는 김서림 센서;
상기 베이스 필름 상에 제공되는 발열부; 및
프로세서;를 포함하되,
김서림 센서는, 제1 전극, 상기 제1 전극으로부터 이격되는 제2 전극, 및 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 제공되는 감습막을 포함하고,
상기 프로세서는, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이의 제1 임피던스의 크기 및 제2 임피던스의 크기의 비율인 임피던스 크기 비를 획득하며, 상기 임피던스 크기 비에 기초하여 상기 발열부를 제어하는 김서림 제거 장치.base film;
a fogging sensor provided on the base film;
a heating part provided on the base film; and
processor; including;
The fogging sensor includes a first electrode, a second electrode spaced apart from the first electrode, and a moisture-sensitive film provided between the first electrode and the second electrode,
The processor obtains an impedance magnitude ratio that is a ratio of a magnitude of a first impedance and a magnitude of a second impedance between the first electrode and the second electrode, and controls the heat generating unit based on the impedance magnitude ratio Device.
상기 김서림 센서 및 상기 발열부는 상기 베이스 필름 상에서 서로 이격되는 김서림 제거 장치.The method of claim 1,
The fogging sensor and the heat generating unit are spaced apart from each other on the base film is a defogging device.
상기 김서림 센서는 상기 발열부 상에 제공되는 김서림 제거 장치.The method of claim 1,
The fogging sensor is a defogging device provided on the heating part.
상기 프로세서는, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 제1 주파수의 전기적 신호를 인가하여 상기 제1 임피던스의 크기를 측정하고, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 상기 제1 주파수보다 높은 제2 주파수의 전기적 신호를 인가하여 상기 제2 임피던스의 크기를 측정하는 김서림 제거 장치.The method of claim 1,
The processor is configured to apply an electrical signal of a first frequency between the first electrode and the second electrode to measure the magnitude of the first impedance, and to measure the magnitude of the first impedance between the first electrode and the second electrode. A defogging device for measuring the magnitude of the second impedance by applying an electrical signal of a high second frequency.
상기 임피던스 크기 비는 아래의 식에 의해 결정되고,
임피던스 크기 비=
상기 프로세서는, 상기 임피던스 크기 비가 1보다 큰 경우, 상기 김서림 센서에 김서림이 생성된 상태로 판단하고, 상기 임피던스 크기 비가 1 이하인 경우, 김서림 센서에 김서림이 생성되지 않은 상태로 판단하는 김서림 제거 장치.5. The method of claim 4,
The impedance magnitude ratio is determined by the following equation,
Impedance magnitude ratio =
The processor, when the impedance magnitude ratio is greater than 1, determines that the fogging is generated in the fogging sensor, and when the impedance magnitude ratio is 1 or less, the defogging device for determining that the fogging is not generated in the fogging sensor.
상기 제1 주파수는 1 킬로헤르츠(kHz)인 김서림 제거 장치.5. The method of claim 4,
The first frequency is 1 kilohertz (kHz) of the defogging device.
상기 감습막은:
고분자 막; 및
상기 고분자 막 내에 제공되는 복수의 전도성 입자들;을 포함하는 김서림 제거 장치.The method of claim 1,
The moisture barrier is:
polymer membrane; and
A defogging device comprising a; a plurality of conductive particles provided in the polymer film.
상기 고분자 막은 수 팽윤성 고분자 물질을 포함하는 김서림 제거 장치.8. The method of claim 7,
The polymer film is a defogging device comprising a water-swellable polymer material.
상기 감습막은 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 상으로 연장되는 김서림 제거 장치.The method of claim 1,
The moisture-sensitive film extends over the first electrode and the second electrode.
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 상기 베이스 필름과 상기 감습막 사이에 제공되는 김서림 제거 장치.10. The method of claim 9,
The first electrode and the second electrode are defogger provided between the base film and the moisture-sensitive film.
상기 제1 전극은 상기 감습막 및 상기 베이스 필름 사이에 배치되고,
상기 제2 전극은 상기 감습막에 대해 상기 제1 전극의 반대편에 배치되는 김서림 제거 장치.
The method of claim 1,
The first electrode is disposed between the moisture-sensitive film and the base film,
and the second electrode is disposed opposite to the first electrode with respect to the moisture-sensitive film.
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KR1020200154051 | 2020-11-17 | ||
KR20200154051 | 2020-11-17 |
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