KR20220056277A - Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras - Google Patents

Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras Download PDF

Info

Publication number
KR20220056277A
KR20220056277A KR1020200140134A KR20200140134A KR20220056277A KR 20220056277 A KR20220056277 A KR 20220056277A KR 1020200140134 A KR1020200140134 A KR 1020200140134A KR 20200140134 A KR20200140134 A KR 20200140134A KR 20220056277 A KR20220056277 A KR 20220056277A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
vision
inspection jig
jig
camera units
Prior art date
Application number
KR1020200140134A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102439941B1 (en
Inventor
고국원
이지연
안용주
Original Assignee
선문대학교 산학협력단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 선문대학교 산학협력단 filed Critical 선문대학교 산학협력단
Priority to KR1020200140134A priority Critical patent/KR102439941B1/en
Publication of KR20220056277A publication Critical patent/KR20220056277A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102439941B1 publication Critical patent/KR102439941B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/52—Combining or merging partially overlapping images to an overall image
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8867—Grading and classifying of flaws using sequentially two or more inspection runs, e.g. coarse and fine, or detecting then analysing
    • G01N2021/887—Grading and classifying of flaws using sequentially two or more inspection runs, e.g. coarse and fine, or detecting then analysing the measurements made in two or more directions, angles, positions
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
  • Two-Way Televisions, Distribution Of Moving Picture Or The Like (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

The present invention relates to a vision inspection device including a plurality of cameras. The present invention provides a vision inspection device comprising: a plurality of camera parts fixed to a support; a switch part connected to the plurality of camera parts; a vision processing part for obtaining the visual image of an object to be inspected from the plurality of camera parts through the switch part; a control part for controlling the vision processing part; and an inspection jig arranged to mount and support the object to be inspected at an interval below the camera parts. A plurality of markers are arranged at intervals on a frame part of the inspection jig. The control part calculates the position of the object to be inspected based on the positional coordinate values of the markers included in the visual image obtained by each of the plurality of camera parts and uses the same to determine whether there is a defect. Therefore, provided is a vision inspection device, wherein the vision inspection of an object to be inspected can be performed using a plurality of camera parts.

Description

복수의 카메라부가 구비된 비전 검사 장치{Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras}Vision inspection apparatus having a plurality of cameras

본 발명은 복수의 카메라부가 구비된 비전 검사 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a vision inspection apparatus having a plurality of camera units.

비전 검사 장치는 검사 대상물을 촬영하고 획득한 이미지를 분석하여 검사 대상물의 외관에 불량이 있는지 여부를 판단하는 것이다.The vision inspection apparatus determines whether there is a defect in the appearance of the inspection object by photographing the inspection object and analyzing the acquired image.

이러한 비전 검사 장치는 고정된 상태의 1대로 검사를 수행하는 경우, 검사 대상물의 검사 면적이 크게 되면, 영상을 획득하는 카메라 렌즈의 초점 심도를 벗어나는 부분에서 초점이 정확하게 되지 못하는 문제가 발생할 수 있다. When the inspection is performed with one fixed state of the vision inspection apparatus, if the inspection area of the inspection object is large, a problem may occur in that the focus may not be accurately focused at a part out of the focal depth of a camera lens for acquiring an image.

초점이 맞지 않은 상태에서 검사를 수행하면, 정확한 검사가 될 수 없고, 검사 대상물의 형상 왜곡 정도가 심화될 수 있다. If the inspection is performed in an out-of-focus state, an accurate inspection may not be performed, and the degree of shape distortion of the inspection object may intensify.

이에 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로서, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 복수의 카메라부를 통해 검사 대상물의 비전 검사를 수행할 수 있도록 한 비전 검사 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, the present invention was invented to solve the problems described above, and an object of the present invention is to provide a vision inspection apparatus capable of performing a vision inspection of an object to be inspected through a plurality of camera units.

본 발명의 과제를 해결하기 위한 해결 수단은, 지지대에 고정되는 복수의 카메라부; 상기 복수의 카메라부와 접속되는 스위치부; 상기 스위치부를 통해 상기 복수의 카메라부로부터 검사 대상물의 영상 이미지를 획득하는 비전 처리부; 상기 비전 처리부를 제어하는 제어부; 상기 카메라부의 하부에 간격을 두고 검사 대상물이 안치되어 지지되도록 마련되는 검사 지그를 포함하고,Solving means for solving the problems of the present invention, a plurality of camera units fixed to the support; a switch unit connected to the plurality of camera units; a vision processing unit configured to acquire an image image of an object to be inspected from the plurality of camera units through the switch unit; a control unit controlling the vision processing unit; Including an inspection jig provided so that the inspection object is placed and supported at a gap in the lower part of the camera unit,

상기 검사 지그의 프레임부에는 간격을 두고 복수의 마커가 구비되며, 상기 복수의 카메라부에 의해 각각 획득되는 영상 이미지에 포함되는 상기 마커의 위치 좌표 값을 토대로 상기 제어부에서 검사 대상물의 위치를 산출하여 불량 여부 판별시 사용하는 비전 검사 장치가 제공될 수 있다. The frame portion of the inspection jig is provided with a plurality of markers at intervals, and the control unit calculates the position of the inspection object based on the coordinate values of the positions of the markers included in the image images respectively acquired by the plurality of camera units. A vision inspection device used when determining whether there is a defect may be provided.

이와 같이 본 발명은 복수의 고정된 카메라부를 통해 검사 대상물을 촬영하여 영상 이미지를 획득하고, 비전 처리부에서는 이러한 영상 이미지를 통합하여 하나의 단일 이미지화한 다음, 미리 저장된 검사 대상물의 검사 이미지와 비교하여 불량 여부를 판별할 수 있다. As described above, the present invention acquires an image image by photographing an inspection object through a plurality of fixed camera units, and the vision processing unit integrates these image images to form a single image, and then compares the image with the inspection image of the inspection object stored in advance. It can be determined whether

본 발명은 검사 대상물이 안치되는 검사 지그의 프레임부에 간격을 두고 복수의 마커가 마련되고, 마커들의 위치 좌표값을 통해 제어부에서 영상 이미지 포함된 마커의 위치 좌표 값을 통해 보다 정확산 검사 대상물의 가장 자리 위치를 파악하여 검사를 수행하므로, 보다 정확한 검사가 이루어질 수 있고, 검사 대상물의 면적이 커지더라도 신속하고 정확하게 비전 검사를 수행할 수 있다. In the present invention, a plurality of markers are provided at intervals in the frame portion of the inspection jig on which the inspection object is placed, and the control unit through the position coordinate values of the markers more accurately calculate the position coordinate values of the markers included in the image image. Since the inspection is performed by identifying the position of the edge, a more accurate inspection can be made, and a vision inspection can be performed quickly and accurately even if the area of the inspection object is large.

본 발명의 검사 지그는 작업 테이블상에 형성된 가이드 돌기에 의해 y축 방향으로의 위치가 자동적으로 정렬되고, 작업자가 x축 방향으로 검사 지그를 자유롭게 셋팅하더라도 바이스에 의해 간편하게 고정할 수 있다. The inspection jig of the present invention is automatically aligned in the y-axis direction by the guide protrusion formed on the work table, and even if the operator freely sets the inspection jig in the x-axis direction, it can be easily fixed by a vise.

도 1은 본 발명의 비전 검사 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 비전 검사 장치의 구성도이다.
도 3은 본 발명의 검사 지그의 설치 구조를 나타낸 개략적인 평면도이다.
도 4는 본 발명의 검사 지그가 작업 테이블상에 고정된 모습을 나타낸 측면도이다.
도 5는 도 3의 정면도이다.
도 6은 본 발명의 검사 지그에 구비되는 마커의 배열 상태를 나타낸 개략도이다.1 is a perspective view of a vision inspection apparatus of the present invention.
2 is a block diagram of a vision inspection apparatus of the present invention.
Figure 3 is a schematic plan view showing the installation structure of the inspection jig of the present invention.
Figure 4 is a side view showing a state that the inspection jig of the present invention is fixed on the work table.
FIG. 5 is a front view of FIG. 3 ;
6 is a schematic view showing the arrangement state of the markers provided in the inspection jig of the present invention.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용을 첨부된 예시 도면에 의거 상세하게 설명한다. Hereinafter, specific contents for carrying out the present invention will be described in detail based on the accompanying exemplary drawings.

도 1은 본 발명의 비전 검사 장치의 사시도, 도 2는 본 발명의 비전 검사 장치의 제어 과정을 설명하기 위한 구성도이다. 1 is a perspective view of a vision inspection apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a configuration diagram for explaining a control process of the vision inspection apparatus of the present invention.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 비전 검사 장치(1)는 지지대(10)의 상부에 마련되는 복수의 카메라부(20)를 포함할 수 있다. 1 and 2 , the vision inspection apparatus 1 of the present invention may include a plurality of camera units 20 provided on the support 10 .

본 발명의 실시 예에 있어서, 복수의 카메라부(20)는 제1 카메라부(20a)와 제2 카메라부(20b)로 구성된 것으로 설명한다. 그러나, 이에 한정되지 않고 더 많은 카메라부를 마련할 수 있다. In an embodiment of the present invention, the plurality of camera units 20 will be described as being composed of a first camera unit 20a and a second camera unit 20b. However, the present invention is not limited thereto, and more camera units may be provided.

또한, 검사 대상물(2)을 검사하기 위해 하부에 고정시키는 검사 지그(100)가 마련될 수 있다. In addition, an inspection jig 100 for fixing the inspection object 2 to the lower portion to inspect it may be provided.

본 발명의 실시 예에 있어서, 검사 대상물(2)은 2차 전지용 대면적 극판 등일 수 있다. In an embodiment of the present invention, the inspection object 2 may be a large-area electrode plate for a secondary battery or the like.

복수의 카메라부(20)는 검사 대상물(2)을 동시에 촬영하여 각각 영상 이미지를 획득하고, 획득된 영상 이미지는 스위치부(30)를 경유하여 비전 처리부(40)에 저장되고, 비전 처리부(40)에서는 미리 입력된 검사 대상물(2)의 이미지와 비교하여 검사 대상물(2)의 불량 여부를 판별할 수 있다. The plurality of camera units 20 simultaneously photograph the inspection object 2 to obtain respective image images, and the obtained image images are stored in the vision processing unit 40 via the switch unit 30 , and the vision processing unit 40 ), it is possible to determine whether the inspection object (2) is defective by comparing it with the image of the inspection object (2) input in advance.

스위치부(30)는 복수의 카메라부(20)에서 촬영한 영상 이미지를 비전 처리부(40)에 각각 제공해줄 수 있도록 비전 처리부(40)와 접속될 수 있고, 복수의 카메라부(20)에서의 영상 신호를 스위칭하여 비전 처리부(40)에 통합해서 보내줄 수 있다. The switch unit 30 may be connected to the vision processing unit 40 so as to provide each of the video images captured by the plurality of camera units 20 to the vision processing unit 40 , and The image signal may be switched and transmitted to the vision processing unit 40 in an integrated manner.

이런 경우에는 복수의 카메라부(20)를 지지대(10)로부터 이동 가능하게 구비하거나 또는 카메라부(20)는 지지대(10)에 고정된 상태에서 검사 지그(100)를 이동 가능하게 구비할 수 있다. In this case, the plurality of camera units 20 may be movably provided from the support 10 , or the camera unit 20 may be provided with the inspection jig 100 movably in a state fixed to the support 10 . .

복수의 카메라부(20)를 지지대(10)에서 이동할 때에는 예를 들어 구동 모터, 구동 모터에 의해 회전하는 볼 스크류, 볼 스크류상에서 직선 왕복 이동하고 카메라부(20)가 결합된 이동 부재로 구성될 수 있다.When moving the plurality of camera units 20 on the support 10, for example, a driving motor, a ball screw rotated by the driving motor, linearly reciprocating on the ball screw, and the camera unit 20 may be composed of a coupled moving member. can

또한, 검사 지그(100)를 이동시키는 경우에는 작업 테이블(200)을 이동되게 구성하여 구현할 수 있다. 예를 들어 작업 테이블(200)의 하부에 마련되는 다리부(210)를 LM 가이드 구조로 직선 이동이 가능하게 할 수 있다. In addition, when the inspection jig 100 is moved, it can be implemented by configuring the work table 200 to be moved. For example, the leg portion 210 provided at the lower portion of the work table 200 may be linearly moved in the LM guide structure.

따라서, 만일 복수의 카메라부(20)중 일부가 고장 또는 오류가 발생하는 경우에는 스위치부(30)에서 고장난 해당 카메라부(20)와의 스위칭 상태를 차단하고, 나머지 정상적인 카메라부(20)만으로 검사 대상물(2)의 비전 검사를 수행할 수 있다. Therefore, if some of the plurality of camera units 20 are broken or an error occurs, the switch unit 30 cuts off the switching state with the malfunctioning camera unit 20 , and only the remaining normal camera units 20 are inspected. A vision inspection of the object 2 may be performed.

비전 처리부(40)는 제어부(50)에 의해 제어될 수 있고, 제어부(50)는 제어 프로그램에 의해 카메라부(20)에 의해 촬영된 영상 이미지의 처리, 검사 작업 수행 및 데이터 연산 작업을 수행하고, 검사 작업 수행 결과를 모니터를 통해 출력하는 출력 장치를 제어하고, 작업자가 비전 검사를 위해 필요한 제반 사항을 입력하는 입력 장치를 제어하는 등의 비전 검사 장치 전반에 걸친 제어를 담당할 수 있다. The vision processing unit 40 may be controlled by the control unit 50, and the control unit 50 processes the video image captured by the camera unit 20 by a control program, performs an inspection operation, and performs a data operation operation. , control the output device that outputs the results of the inspection work through the monitor, and control the input device for inputting all items necessary for the vision inspection by the operator, etc.

지지대(10)는 바닥면으로부터 소정의 높이로 세워지는 수직 지지대(11)와, 수직 지지대(11)의 사이에 연결되는 수평 지지대(12)로 이루어질 수 있다. The support 10 may include a vertical support 11 erected at a predetermined height from the floor, and a horizontal support 12 connected between the vertical support 11 .

수직 지지대(11)의 저면에는 카메라부(20)의 이동시 진동을 흡수하여 방지 기능이 발휘되도록 하는 방진 부재가 구비될 수 있다. An anti-vibration member may be provided on the bottom surface of the vertical support 11 to absorb vibrations when the camera unit 20 is moved to exhibit an anti-vibration function.

방진 부재는 진동을 흡수할 수 있는 고무재로 이루어지거나, 또는 방진용 마운트의 내부에 스프링이 갖추어지고, 방진용 마운트는 수직 지지대(11)의 하중을 지탱하면서 내장된 스프링에 의해 진동을 흡수할 수 있다. The vibration-proof member is made of a rubber material that can absorb vibration, or a spring is provided inside the vibration-proof mount, and the vibration-proof mount supports the load of the vertical support 11 and absorbs vibration by the built-in spring. can

물론, 수직 지지대(11)는 카메라부(20)의 이동시 흔들리는 경우가 발생하지 않도록 고정된 상태를 확실하게 유지할 수 있다. Of course, the vertical support 11 can reliably maintain a fixed state so that the camera unit 20 is not shaken when moving.

제 카메라부(20a)와 제2 카메라부(20b)로 구성되는 카메라부(20)는 높이 조절 부재(22)에 의해 높이 조절이 가능하도록 구비될 수 있다.The camera unit 20 including the second camera unit 20a and the second camera unit 20b may be provided so that the height can be adjusted by the height adjusting member 22 .

따라서, 카메라부(20)는 검사 지그(100)상의 검사 대상물과의 초점 거리를 조절할 수 있다. Accordingly, the camera unit 20 may adjust the focal length of the inspection object on the inspection jig 100 .

카메라부(20)는 높이 조절 부재(22)와 결합되고, 높이 조절 부재(22)는 연결 부재(24)와 볼트 또는 나사와 같은 체결 부재를 통해 분리 가능하게 체결될 수 있다. The camera unit 20 is coupled to the height adjustment member 22 , and the height adjustment member 22 may be detachably fastened to the connection member 24 through a fastening member such as a bolt or screw.

연결 부재(24)는 지지대(10)의 수평 지지대(12)에 고정되는 고정 브래킷(26)과 결합되어 고정된 상태를 유지할 수 있다. The connection member 24 may be coupled to the fixing bracket 26 fixed to the horizontal support 12 of the support 10 to maintain a fixed state.

연결 부재(24)를 기준으로, 높이 조절 부재(22)의 결합 위치를 수직 방향으로 조절함으로써 높이가 가변되고, 그에 따라 카메라부(20)의 설치 위치가 가변될 수 있다. By adjusting the coupling position of the height adjustment member 22 in the vertical direction with respect to the connection member 24 , the height is changed, and accordingly, the installation position of the camera unit 20 may be changed.

높이 조절부재(22)에는 복수의 체결공(22a)이 형성되고, 체결 부재를 통해 연결 부재(24)와 체결될 수 있다. A plurality of fastening holes 22a are formed in the height adjusting member 22 and may be fastened to the connecting member 24 through the fastening member.

또한, 연결 부재(24)의 상부에는 조절 노브(24a)가 마련될 수 있다. 조절 노브(24a)를 회전시키면, 연결 부재(24)는 고정 부재(26)로부터 승강될 수 있다. In addition, an adjustment knob 24a may be provided at an upper portion of the connection member 24 . When the adjustment knob 24a is rotated, the connecting member 24 can be lifted from the fixing member 26 .

검사 지그(100)는 검사 대상물(2)을 안치하여 지지되게 하고, 카메라부(20)를 통해 영상을 촬영하여 검사를 수행할 수 있다. The inspection jig 100 may place and support the inspection object 2 , and may perform the inspection by photographing an image through the camera unit 20 .

검사 지그(100)의 프레임부(110)에는 간격을 두고 복수의 마커(120)가 마련될 수 있다. A plurality of markers 120 may be provided on the frame portion 110 of the inspection jig 100 at intervals.

도 5를 참조하면, 검사 지그(100)의 프레임부(110) 안쪽에는 검사 대상물(2)을 안치할 수 있는 삽입홈이 형성될 수 있다. 또한, 검사 지그(100)는 삽입홈 대신에 삽입공을 형성할 수 있다. Referring to FIG. 5 , an insertion groove in which an inspection object 2 can be placed may be formed inside the frame part 110 of the inspection jig 100 . In addition, the inspection jig 100 may form an insertion hole instead of the insertion groove.

마커(120)는 식별이 용이하도록 다양한 형태로 이루어질 수 있고, 검사 지그(100)의 프레임부(110)에 나사와 같이 착탈 가능하게 체결될 수 있다. The marker 120 may be formed in various forms for easy identification, and may be detachably fastened to the frame portion 110 of the inspection jig 100 like a screw.

도 3은 본 발명의 검사 지그(100)의 설치 구조를 나타낸 개략적인 평면도, 도 4는 본 발명의 검사 지그가 작업 테이블상에 고정된 모습을 나타낸 측면도, 도 5는 도 3의 정면도이다. Figure 3 is a schematic plan view showing the installation structure of the inspection jig 100 of the present invention, Figure 4 is a side view showing the state in which the inspection jig of the present invention is fixed on the work table, Figure 5 is a front view of Figure 3.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 검사 지그(100)는 작업 테이블(200)위에 안치될 수 있고, 작업 테이블(200)상에는 검사 지그(100)의 일 측면과 대면되면서 정지시키는 가이드 돌기(210)가 형성되고, 타측에는 검사 지그(100)를 고정시키기 위한 바이스(220)가 하나 이상 구비될 수 있다. 3 to 5, the inspection jig 100 may be placed on the work table 200, and on the work table 200, a guide protrusion 210 that stops while facing one side of the inspection jig 100. is formed, and one or more vise 220 for fixing the inspection jig 100 may be provided on the other side.

바이스(220)는 작업 테이블(200)상에 고정되는 고정 부재(221)와, 고정 부재(221)로부터 이동가능하게 나사결합되는 가압 부재(222)로 이루어질 수 있다.The vise 220 may include a fixing member 221 fixed on the work table 200 and a pressing member 222 movably screwed from the fixing member 221 .

바이스(220)는 가압 부재(222)를 회전시켜서 검사 지그(100)의 측면을 가압하여 고정시킬 수 있다. The vise 220 may rotate the pressing member 222 to press and fix the side of the inspection jig 100 .

가압 부재(222)는 고정 부재(221)로부터 회전하면서 입출 동작을 하고, 그에 따라 검사 지그(100)의 크기가 달라지더라도 관계없이 지지해줄 수 있다. The pressing member 222 rotates from the fixing member 221 to move in and out, and accordingly, even if the size of the inspection jig 100 is changed, it can support it regardless.

따라서, 본 발명의 검사 지그(100)는 작업 테이블(200)상의 가이드 돌기(210)에 대면한 상태에서, 작업자가 x축 방향으로 자유롭게 안치하더라도 바이스(220)에 의해 고정시킬 수 있다. Therefore, the inspection jig 100 of the present invention can be fixed by the vise 220 even if the operator freely sits in the x-axis direction in a state facing the guide protrusion 210 on the work table 200 .

검사 지그(100)는 작업 테이블(200)상에 형성된 가이드 돌기(210)에 의해 y축 방향으로의 셋팅 위치가 자동적으로 설정될 수 있다. 또한, 검사 지그(100)는 x축 방향으로 임의의 위치에 놓더라도 바이스(220ㅇ)에 의해 고정할 수 있다. The inspection jig 100 may be automatically set to a setting position in the y-axis direction by the guide protrusion 210 formed on the work table 200 . In addition, the inspection jig 100 may be fixed by a vise 220 o even if it is placed at an arbitrary position in the x-axis direction.

검사 지그(100)를 고정시키는 바이스(220) 구조에 한정되지 않고, 다른 구조 즉, 실린더 등으로 회동 가능한 클램프로 이루어져서 검사 지그(100)의 프레임부(110)의 상면을 가압하여 고정시킬 수 있다. It is not limited to the structure of the vise 220 for fixing the inspection jig 100, and it can be fixed by pressing the upper surface of the frame part 110 of the inspection jig 100 by having another structure, that is, a clamp rotatable with a cylinder, etc. .

도 4를 참조하면, 작업 테이블(200)의 하부에는 다리부(202)이 마련될 수 있다, 4, the lower portion of the work table 200 may be provided with a leg portion 202,

도 5를 참조하면, 복수의 카메라부(20)는 검사 대상물(2)을 각각의 촬영 영역으로 촬영할 수 있다. Referring to FIG. 5 , the plurality of camera units 20 may photograph the inspection object 2 in each photographing area.

예를 들어, 복수의 카메라부(20)중 제1 카메라부(20a)는 제1 영역(A1)을 촬영하고, 제2 카메라부(20b)는 제2 영역(A2)을 동시에 촬영한 다음, 마커(120)를 기준으로 검사 대상물의 좌측과 우측의 위치 값을 산출한다. For example, among the plurality of camera units 20 , the first camera unit 20a photographs the first area A1 , and the second camera unit 20b simultaneously photographs the second area A2 , Position values of the left and right sides of the test object are calculated based on the marker 120 .

마커(120)는 1열(도 5에서의 세로 방향)에 2개씩 4열의 마커가 구비될 수 있다. 즉, 1열에는 제1 마커(121a)와 제2 마커(121b), 2열에는 제3 마커(122a)와 제4 마커(122b), 3열에는 제5 마커(123a)와 제6 마커(123b), 4열에는 제7 마커(124a)와 제8 마커(124b)로 이루어질 수 있다. The marker 120 may be provided with 4 rows of markers, 2 each in one row (in the vertical direction in FIG. 5 ). That is, the first marker 121a and the second marker 121b in column 1, the third marker 122a and the fourth marker 122b in the second column, and the fifth marker 123a and the sixth marker in the third column ( 123b), the fourth column may include a seventh marker 124a and an eighth marker 124b.

각 마커들에 대한 좌표값은 제어부(50)에 미리 설정될 수 있다. Coordinate values for each of the markers may be preset in the controller 50 .

본 발명은 카메라부(20)에 의해 n개의 영상 이미지를 획득하는 경우, n+1열의 마커가 마련될 수 있다. 1열인 경우, 2개의 마커가 검사 지그(100)의 프레임부(110) 상부 및 하부에 각각 구비될 수 있다. In the present invention, when n video images are acquired by the camera unit 20, markers in n+1 columns may be provided. In the case of one row, two markers may be respectively provided on the upper part and the lower part of the frame part 110 of the inspection jig 100 .

획득한 영상 이미지의 갯수보다 1열이 더 많게 마커(120)를 구비함으로써, 하기 검사 방법에 의한 수행시 검사 대상물의 검사 작업이 정확하게 이루어질 수 있다. By having one column more markers 120 than the number of acquired image images, an inspection task of an inspection object can be accurately performed when performing the inspection method described below.

또한, 비전 처리부(40)에서는 제1 카메라부(20a)와 제2 카메라부(20b)로부터 획득한 검사 대상물에 대한 각각의 영상 이미지를 하나의 이미지로 통합할 수 있다. Also, the vision processing unit 40 may combine the respective image images of the inspection object obtained from the first camera unit 20a and the second camera unit 20b into one image.

이러한 하나의 통합된 이미지를 통해 비전 처리부(40)에서는 미리 저장된 검사 대상물(2)의 이미지와 비교하여 불량 여부를 판별할 수 있다. Through this single integrated image, the vision processing unit 40 may determine whether there is a defect by comparing the image with the pre-stored image of the inspection object 2 .

여기서, 제1 카메라부(20a)와 제2 카메라부(20b)에서 촬영한 각각의 영상 이미지를 생성하는 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은 서로 중첩된 중첩 영역(B)을 형성할 수 있지만, 비전 처리부(40)에서 하나의 단일 이미지로 통합할 수 있으므로 모든 영역의 이미지를 획득할 수 있다. Here, the first area A1 and the second area A2 that generate respective video images captured by the first camera unit 20a and the second camera unit 20b form an overlapping area B that overlaps each other. However, since the vision processing unit 40 can combine them into one single image, images of all areas can be obtained.

더욱이, 본 발명은 마커(120)의 좌표값을 통해 위치를 검사 대상물(2)의 가장 자리 위치를 파악하기 때문에, 중첩 영역(B)에서는 제1 영역(A1)에 포함된 마커(120)인 제3 마커(122a)와 제4 마커(122b)에 의한 위치와 제2 영역(A2)에 포함된 제5 마커(123a)와 제 6 마커(123b)에 의한 위치를 통해 검사 대상물(2)의 동일한 지점에 대한 좌표값을 산출하므로, 제어부(50)에서는 이러한 동일 지점에 대한 좌표 값을 비교하여 보다 정확한 검사 대상물(2)의 가장 자리 위치를 파악할 수 있다. Moreover, in the present invention, since the position of the edge of the inspection object 2 is determined through the coordinate value of the marker 120, in the overlapping area B, the marker 120 included in the first area A1 is Through the positions of the third markers 122a and the fourth markers 122b and the positions of the fifth and sixth markers 123a and 123b included in the second area A2, the Since the coordinate values for the same point are calculated, the control unit 50 can compare the coordinate values for the same point to more accurately determine the edge position of the inspection object 2 .

또한, 본 발명은 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)에 포함된 마커(120)를 통해 검사 대상물(2)의 가장 자리 위치를 제어부(50)에서 산출할 수 있다. In addition, according to the present invention, the control unit 50 may calculate the edge position of the object 2 through the marker 120 included in the first area A1 and the second area A2 .

다시 말해서, 제어부(50)에서는 마커(120)는 미리 위치 좌표 값을 알고 있기 때문에, 이러한 마커(120)의 위치 좌표 값을 토대로 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)에 포함된 마커(120)를 기준으로 검사 대상물의 위치 값을 산출해낼 수 있다. In other words, since the control unit 50 knows the position coordinate values of the marker 120 in advance, the markers included in the first area A1 and the second area A2 based on the position coordinate values of the marker 120 . Based on (120), the position value of the inspection object may be calculated.

따라서, 이러한 마커(120)를 기준으로 복수의 영상 이미지를 조합하여 하나의 단일 이미지로 생성함으로써 검사 대상물의 검사시 1개의 검사 대상물로 정확하게 표현될 수 있기 때문에, 검사를 수행하는 작업자의 검사 대상물 인식률을 높여 작업성을 향상시키고, 불량 여부를 보다 정확하게 판별해낼 수 있다. Therefore, by combining a plurality of image images based on the marker 120 and generating one single image, the inspection object recognition rate of the operator performing the inspection can be accurately expressed as one inspection object when the inspection object is inspected. It is possible to improve workability by increasing

또한, 본 발명은 검사 지그(100)의 프레임부(110)에 구비된 마커(120)를 토대로 위치 좌표 값과 복수의 카메라부(20)에 의한 영상 이미지를 조합하여 판별하므로, 검사 대상물(2)의 면적이 커지더라도 쉽게 불량 여부를 판별할 수 있다. In addition, since the present invention determines by combining the position coordinate value and the video image by the plurality of camera units 20 based on the marker 120 provided in the frame unit 110 of the inspection jig 100, the inspection object 2 ), even if the area is large, it is easy to determine whether there is a defect or not.

1.. 비전 검사 장치 2... 검사 대상물
10... 지지대 11... 수직 지지대
12... 수평 지지대 14... 가이드 레일
20... 카메라부 22... 높이 조절 부재
22a... 체결공 24... 연결 부재
24a... 조절 노브 26... 고정 부재
30... 스위치부 40... 비전 처리부
50... 제어부
100... 검사 지그 110... 프레임부
120... 마커 121a... 제1 마커
121b... 제2 마커 122a... 제3 마커
122b... 제4 마커 123a... 제5 마커
123b... 제6 마커 124a... 제7 마커
124b... 제8 마커 200... 작업 테이블
202... 다리부 210... 가이드 돌기
220... 바이스 221... 고정 부재
222... 가압 부재
A1... 제1 영역 A2... 제2 영역
B... 중첩 영역1. Vision inspection device 2. Inspection object
10... support 11... vertical support
12... horizontal support 14... guide rail
20... Camera unit 22... Height adjustment member
22a... fastener 24... connection member
24a... Adjustment knob 26... Fixing member
30... switch unit 40... vision processing unit
50... control
100... Inspection jig 110... Frame part
120... Marker 121a... First Marker
121b... second marker 122a... third marker
122b... Fourth marker 123a... Fifth marker
123b... 6th marker 124a... 7th marker
124b... Eighth Marker 200... Working Table
202... Leg 210... Guide projection
220... vise 221... fastening member
222... pressure element
A1... first area A2... second area
B... overlapping area

Claims (5)

지지대에 고정되는 복수의 카메라부;
상기 복수의 카메라부와 접속되는 스위치부;
상기 스위치부를 통해 상기 복수의 카메라부로부터 검사 대상물의 영상 이미지를 획득하는 비전 처리부;
상기 비전 처리부를 제어하는 제어부;
상기 카메라부의 하부에 간격을 두고 검사 대상물이 안치되어 지지되도록 마련되는 검사 지그;
를 포함하고,
상기 검사 지그의 프레임부에는 간격을 두고 복수의 마커가 구비되며,
상기 복수의 카메라부에 의해 각각 획득되는 영상 이미지에 포함되는 상기 마커의 위치 좌표 값을 토대로 상기 제어부에서 검사 대상물의 위치를 산출하여 불량 여부 판별시 사용하는 비전 검사 장치.
A plurality of camera units fixed to the support;
a switch unit connected to the plurality of camera units;
a vision processing unit configured to acquire an image image of an object to be inspected from the plurality of camera units through the switch unit;
a control unit controlling the vision processing unit;
an inspection jig provided so that an inspection object is placed and supported at a gap in the lower portion of the camera unit;
including,
The frame portion of the inspection jig is provided with a plurality of markers at intervals,
A vision inspection apparatus used when determining whether a defect is by calculating the position of the inspection object in the control unit based on the position coordinate values of the markers included in the video images respectively acquired by the plurality of camera units.
 제1 항에 있어서,
상기 지지대는 바닥면으로부터 소정의 높이로 세워지는 수직 지지대와, 수직 지지대의 사이에 연결되는 수평 지지대로 이루어지고,
상기 수직 지지대의 저면에는 진동을 흡수할 수 있는 방진 부재가 마련되는 비전 검사 장치.
According to claim 1,
The support consists of a vertical support erected at a predetermined height from the floor, and a horizontal support connected between the vertical support,
A vision inspection device provided with a vibration-proof member capable of absorbing vibrations on a bottom surface of the vertical support.
 제1 항에 있어서,
상기 검사 지그는,
프레임부, 상기 프레임부에 간격을 두고 각기 다른 형태로 복수 마련되는 마커로 이루어지고,
상기 마커의 위치 좌표값은 상기 비전 처리부에 미리 설정되어서 상기 검사 대상물의 위치를 파악하는 비전 검사 장치.
According to claim 1,
The inspection jig,
It consists of a frame portion and a plurality of markers provided in different shapes at intervals in the frame portion,
The position coordinate value of the marker is preset in the vision processing unit to determine the position of the inspection object.
 제1 항에 있어서,
상기 검사 지그는 작업 테이블에 마련되고,
상기 작업 테이블에는 검사 지그의 일측을 지지해주는 가이드 돌기가 형성되며,
상기 검사 지그의 타측에는 검사 지그를 고정해주기 위한 바이스가 마련되고,
상기 바이스는 상기 검사 지그의 크기에 따라 가변적으로 검사 지그를 고정하기 위해 상기 작업 테이블에 고정되는 고정 부재, 상기 고정 부재를 관통하여 이동 가능하게 나사결합되는 비전 검사 장치. According to claim 1,
The inspection jig is provided on a work table,
A guide protrusion for supporting one side of the inspection jig is formed on the work table,
A vice for fixing the inspection jig is provided on the other side of the inspection jig,
The vice is a fixing member fixed to the work table in order to variably fix the inspection jig according to the size of the inspection jig, and a vision inspection apparatus screwed to move through the fixing member. 제1 항에 있어서,
상기 복수의 카메라부는 동시에 검사 대상물을 촬영하여 각각 촬영 영역이 형성되고, 상기 촬영 영역은 서로 중첩되는 중첩 영역이 형성되며,
상기 중첩 영역에서는 상기 각 촬영 영역에 포함되는 마커에 의한 검사 대상물의 동일 지점에 대한 위치 좌표값을 산출하고,
상기 제어부에서 상기 동일 지점에 대한 위치 좌표 값을 비교하여 검사 대상물의 해당 위치를 파악하는 비전 검사 장치. According to claim 1,
The plurality of camera units simultaneously photograph the object to be inspected to form a photographing area, and the photographing area forms an overlapping area overlapping each other,
In the overlapping area, a position coordinate value for the same point of the inspection object is calculated by a marker included in each imaging area,
A vision inspection apparatus for determining a corresponding position of an object to be inspected by comparing position coordinate values for the same point in the control unit.
KR1020200140134A 2020-10-27 2020-10-27 Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras KR102439941B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200140134A KR102439941B1 (en) 2020-10-27 2020-10-27 Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200140134A KR102439941B1 (en) 2020-10-27 2020-10-27 Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220056277A true KR20220056277A (en) 2022-05-06
KR102439941B1 KR102439941B1 (en) 2022-09-06

Family

ID=81584740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200140134A KR102439941B1 (en) 2020-10-27 2020-10-27 Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102439941B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102486283B1 (en) * 2022-07-21 2023-01-09 주흘이엔지 주식회사 Image processing system for editing shooting image for making 3d image

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5158388B2 (en) * 2008-06-02 2013-03-06 株式会社島津製作所 Liquid crystal array inspection apparatus and imaging range correction method
WO2014136211A1 (en) * 2013-03-05 2014-09-12 富士機械製造株式会社 Component-mounting machine
KR101658123B1 (en) * 2016-07-08 2016-10-04 주식회사 엠오티 panel test device having pre-alignment unit for panel test
JP2017516095A (en) * 2014-05-05 2017-06-15 アルコア インコーポレイテッド Welding measuring device and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5158388B2 (en) * 2008-06-02 2013-03-06 株式会社島津製作所 Liquid crystal array inspection apparatus and imaging range correction method
WO2014136211A1 (en) * 2013-03-05 2014-09-12 富士機械製造株式会社 Component-mounting machine
JP2017516095A (en) * 2014-05-05 2017-06-15 アルコア インコーポレイテッド Welding measuring device and method
KR101658123B1 (en) * 2016-07-08 2016-10-04 주식회사 엠오티 panel test device having pre-alignment unit for panel test

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102486283B1 (en) * 2022-07-21 2023-01-09 주흘이엔지 주식회사 Image processing system for editing shooting image for making 3d image

Also Published As

Publication number Publication date
KR102439941B1 (en) 2022-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106525622B (en) Hardness testing device and hardness testing method
KR102439941B1 (en) Vision Insprction Apparatus with Multiple Cameras
KR102259825B1 (en) Focus adjustment method and device therefor
KR101591939B1 (en) Shake the camera module test equipment
KR101763199B1 (en) Observation equipment for fine object
JP2002264294A (en) Screen printing equipment and method of setting screen plate
JP3226093U (en) PCB metallographic specimen operation system
KR102506492B1 (en) Moving Type Vision Inspection Apparatus and Inspection Method
KR20220044741A (en) Wafer appearance inspection apparatus and method
JP2022068593A (en) Specification method of substrate support area and device
KR101612326B1 (en) Camera module test apparatus and camera module test method using the same
KR20130066941A (en) Apparatus for reviewing and repairing defect of lcd tft patterned glass
KR101677001B1 (en) Measuring apparatus
JPH10258382A (en) Focal position regulating method and its correcting method in laser beam machine and laser beam machine
JP3839122B2 (en) Imaging unit for laser processing machine
JPH11178014A (en) Adjustment device and check device for liquid crystal projector optical module
JP7074742B2 (en) Wire electrode vertical alignment device and method
JP4757595B2 (en) Mounting component inspection equipment
JP6771238B1 (en) Laser processing equipment
WO2022069425A3 (en) Device for calibrating a spatial position of a center of an entrance pupil of a camera, calibrating method therefor and system for determining the relative position of centers of entrance pupils of at least two cameras, which are mounted on a common support frame, relative to each other and determination method therefor
KR102543758B1 (en) Laser Machining System And Its Method Using Laser Beam Alignment Cooperative Control Method
CN218469798U (en) Rotation test equipment of two modules of taking photograph
JP6945244B2 (en) Laser processing equipment
JPH10258372A (en) Product inspecting method in laser beam machine, machining program correcting method and laser beam machine
KR100856091B1 (en) Apparatus for assessment of wafer lens by using image of the wafer lens

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant