KR20220034057A - 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치 및 그 방법 - Google Patents

금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치 및 그 방법 Download PDF

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알렉산더 로에슈트
올리비에르 펜시스
울리히 좀머스
빈센트 하우젠
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에스엠에스 그룹 게엠베하
드르베르 엥떼르나씨오날 에스.아.
드르베르 엥떼르나씨오날 에스.아.
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Abstract

본 발명은 금속 제품(1)의 야금 생산 동안 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하기 위한 장치(10) 및 그 방법에 관한 것이다. 상기 장치(1)는 하나의 하우징(11); 및 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)으로 구성되는 적어도 하나의 측정 장치(16);를 포함한다. 송신 유닛(17)에 의해서는 전자기장이 생성되어 금속 제품(1) 상으로 지향되며, 그렇게 하여 금속 제품(1)의 재료 내에서 물리적 상호작용이 유도되되, 그에 뒤이어 수신 유닛(18)에 의해 상기 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분이 수신된다. 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)으로 구성되는 측정 장치(16)의 적어도 하나의 컴포넌트는, 결과적으로 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)에 대해 금속 제품(1)으로부터의 기결정된 이격 간격을 설정하거나 목표한 바대로 변경하기 하기 위해, 하우징(11) 내지 이 하우징 내에서 이동되는 금속 제품(1)에 상대적으로 이동될 수 있다.

Description

금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치 및 그 방법
본 발명은 청구항 제1항의 전제부에 따른, 금속 제품의 야금 생산 동안 금속 제품의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하기 위한 장치, 그리고 청구항 제26항의 전제부에 따른 상응하는 방법에 관한 것이다.
종래 기술에 따라서, 금속 제품들의 제조 동안, 예컨대 품질 보증을 목적으로 금속 제품들의 특성들 역시 검출되고 점검되는 점은 공지되어 있다. 이런 목적을 위해, 금속 제품의 특성들의 비접촉 및 비파괴 측정을 보장하는 측정 장치들이 사용된다. 최소한 높은 온도가 그 내에서 우세하게 존재하는 노 장치(furnace device) 등과 관련하여, 상기 측정 장치들은 일반적으로 노(furnace)의 하우징의 바깥쪽에 배치된다. 이 경우, 측정 장치의 컴포넌트들이 간단히 금속 제품의 바로 근처에 배치될 수 없고, 그에 추가로 측정 장치의 컴포넌트들이 노 또는 금속 제품의 높은 온도를 통해 손상을 입지 않도록 하기 위해, 상응하는 온도 관리를 이용한 상기 컴포넌트들을 위한 복잡한 냉각이 요구된다는 문제점이 나타난다.
WO 2019/228692 A1호로부터는, 전자기 방사선의 사용을 통해 금속 제품의 오스테나이트 함량을 실시간으로 측정하는 점이 공지되어 있다. 이런 목적을 위해, 교류 전압을 공급받는 2개의 코일이 사용되며, 이들 코일 사이를 통과하여 금속 제품이 이동된다. 두 코일 중 일측 코일은 금속 제품 상으로 전자기 방사선을 방출하며, 금속 제품을 관통하는 전자기 방사선의 결과로 초래되는 파형 패턴(wave pattern)은 각각 타측 코일에 의해 수신된다. 두 코일 간의 이격 간격은 정해진 값으로 설정되며, -한 번 설정된- 상기 이격 간격의 변경은 제공되지 않는다.
종래 기술에 따라서, 금속 제품의 야금 생산 동안 금속 제품의 특성들의 비접촉 및 비파괴 측정은 X선 회절의 원리에 따라서도 수행될 수 있다. 이는, 예컨대 금속 제품의 미세구조(microstructure)가 X선 소스 및 X선 검출기의 사용을 통해 검출되는 것인 WO 2017/202904 A1호로부터 공지되어 있되, X선 소스 및 X선 검출기는 각각 능동적으로 냉각되는 수용 챔버 내에 배치되어 있다. 점검할 금속 제품은 X선 소스와 X선 검출기 사이를 스쳐 이동되되, 이 경우 단점은 X선 소스와 X선 검출기 간의 상호 간에 상대적인 이격 간격 또는 금속 제품까지 상기 두 측정 컴포넌트의 이격 간격이 변경될 수 없다는 점에 있다. WO 2017/202904 A1호에 따른 기술의 경우, 바람직하지 못한 방식으로, 한편에서의 X선 소스 및 X선 검출기와 다른 한편에서의 금속 제품 간의 이격 간격이 비교적 크고 설비 기술과 관련하여 상대적으로 더 적은 값으로 조정될 수 없다는 문제가 나타난다.
JP 56062917 A호로부터는 마찬가지로 X선 회절의 원리에 따른 금속 제품의 재료 특성들의 측정이 공지되어 있다. 이 경우, 금속 제품이 템퍼링 내지 "담금질(quenching)"을 위해 통과하는 곳인 노 장치는 측정 장치를 구비하며, 이 측정 장치에 의해서는, 결과적으로 구체적으로 금속 제품의 오스테나이트 함량을 측정하기 위해, X선이 금속 제품 상으로 지향된다. 이런 측정 장치는 노 장치의 하우징의 바깥쪽에, 그리고 이 경우 하우징의 수축부 내지 협폭 통로 내에 고정되게 배치되며, 그럼으로써 결과적으로 금속 제품까지 측정 장치의 이격 간격은 감소되게 된다. 노 장치의 하우징의 전술한 협폭 통로의 기하구조를 통해, 금속 제품까지 측정 장치의 이격 간격은 고정되게 기설정되어 변경될 수 없다.
따라서, 본 발명의 과제는, 전술한 종래 기술에 비해 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 검출을 최적화하고 상대적으로 더 높은 가변성으로 가능하게 하는데 이용되는, 금속 제품의 소재 특성들을 비접촉 및 비파괴 방식으로 측정하기 위한 기술을 제공하는 것에 있다.
상기 과제는 청구항 제1항의 특징들을 갖는 장치를 통해, 그리고 청구항 제26항의 특징들을 갖는 방법을 통해 해결된다. 본 발명의 바람직한 개선예들은 종속 청구항들에 정의되어 있다.
본 발명은 금속 제품의 야금 생산 동안 금속 제품의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하기 위한 장치를 제공한다. 상기 장치는, 금속 제품이 그를 통과하여 이동될 수 있는 곳인 하나의 하우징; 및 송신 유닛과 수신 유닛으로 구성되는 적어도 하나의 측정 장치;를 포함하며, 최소한 송신 유닛에 의해 전자기장이 생성되어 금속 제품 상으로 지향되며, 그렇게 하여 금속 제품의 재료 내에서 물리적 상호작용이 유도된다. 상기 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분은 수신 유닛에 의해 수신될 수 있다. 하우징의 벽부 내에는 제1 개구부 및 제2 개구부가 형성되어 있다. 이 경우, 측정 장치의 전술한 송신 유닛은 제1 개구부에 할당되며, 그럼으로써 송신 유닛에 의해 생성된 전자기장 및/또는 그 대응하는 자계선들은 제1 개구부의 측에서 금속 제품 상에 부딪치게 된다. 또한, 측정 장치의 수신 유닛은 제2 개구부에 할당되며, 그럼으로써 금속 제품의 재료 내에서 유도되는 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분은 제2 개구부의 측에서 수신 유닛에 의해 수신되거나 검출될 수 있게 된다. 본 발명에 따른 장치는 특히 하우징의 바깥쪽에 제공되는 적어도 하나의 조정 장치를 포함하며, 이 조정 장치에 의해서는, 결과적으로 송신 유닛 및/또는 수신 유닛으로 구성되는 측정 장치의 적어도 하나의 컴포넌트에 대해, 다시 말하면 송신 유닛 및/또는 수신 유닛에 대해 하우징의 안쪽에서 이동되는 금속 제품으로부터 기결정된 이격 간격을 설정하거나, 또는 목표한 바대로 변경하기 위해, 측정 장치의 상기 적어도 하나의 컴포넌트가 하우징의 하나의 개구부의 영역에서, 또는 그에 인접하여, 그리고 하우징의 벽부에 상대적으로, 또는 하우징의 안쪽에서 안내되는 금속 제품에 상대적으로 이동될 수 있다.
동일한 방식으로, 본 발명은 금속 제품의 야금 생산 동안 금속 제품의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하기 위한 방법도 제공한다. 상기 방법의 경우, 금속 제품은 본원 장치의 하우징을 통과하여 이동되되, 상기 본원 장치는 청구항 제1항 내지 제25항 중 어느 한 항에 따른 장치일 수 있다. 어쨌든, 본 발명에 따른 방법의 경우, 하나의 송신 유닛 및 하나의 수신 유닛으로 구성되는 적어도 하나의 측정 장치가 사용되되, 최소한 송신 유닛에 의해 전자기장이 생성되어 금속 제품 상으로 지향되며, 그럼으로써 금속 제품의 재료 내에서는 물리적 상호작용이 유도되거나 야기되게 된다. 그에 뒤이어, 상기 물리적 상호 작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분은 수신 유닛에 의해 수신된다. 본 발명에 따른 방법은, 결과적으로 송신 유닛 및/또는 수신 유닛으로 구성되는 측정 장치의 적어도 하나의 컴포넌트에 대해 금속 제품으로부터 기결정된 이격 간격을 설정하거나, 또는 목표한 바대로 변경하기 위해, 측정 장치의 상기 컴포넌트가 하우징 내지 이 하우징 내에서 이동되는 금속 제품에 상대적으로, 그리고 하우징의 개구부의 영역에서, 또는 그에 인접하여 이동되는 것을 특징으로 한다.
"금속 제품의 야금 생산"이란 특징과 관련하여, 여기서 주지할 사항은, 본 발명의 의미에서 노 장치 내에서 또는 그에 의해 수행되고 예컨대 금속 제품의 템퍼링 내지 풀림(annealing)을 목적으로 하는 금속 제품의 열처리 역시도 상기 특징에 속한다는 점이다. 그에 상응하게, 금속 제품이 그를 통과하여 이동되거나 안내되는 곳인 하우징은 열처리를 위한 노의 부분일 수 있다.
그에 보완하여, 또는 그 대안으로, 본 발명에 따라서, 금속 제품이 그를 통과하여 이동되거나 안내되는 곳인 하우징은 금속 제품을 코팅하기 위한 설비의 부분일 수 있다.
또한, 여기서 별도로 주지할 사항은, 자체 특성들이 본 발명에 따른 장치에 의해 검출될 수 있는 것인 금속 제품이 그 자체로서 상기 장치의 부분은 아니라는 점이다. 오히려, 본원 장치의 하우징은, 금속 제품이 야금 생산 동안 이동 방향으로 하우징을 통과하여 이동되고 안내되기 위해 적합하고 그렇게 구성된다.
따라서, 금속 제품의 전술한 열처리와 관련하여, 본 발명에 따른 장치 및 상응하는 방법을 위해, 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉 검출은, 특히 금속 제품이 예컨대 열처리를 위한 노 내에서 비교적 높은 온도에 노출되고, 그리고/또는 그 자체가 여전히 비교적 높은 온도를 보유할 때에도 수행될 수 있다.
본 발명은, 측정 장치의 적어도 하나의 컴포넌트, 즉 송신 유닛 또는 수신 유닛, 또는 측정 장치의 상기 두 컴포넌트 모두, 즉 송신 유닛 및 수신 유닛이 금속 제품이 그를 통과하여 안내되는 곳인 하우징의 벽부에 상대적으로 이동되거나 조정될 수 있다는 주요 지식을 기초로 한다. 상기 이동을 통해, 송신 유닛 및 수신 유닛의 상호 간에 상대적인 이격 간격, 및/또는 그와 동시에 하우징의 안쪽에서 안내되는 금속 제품까지 송신 유닛 및/또는 수신 유닛의 이격 간격은, 예컨대 "온라인"으로도, 또는 금속 제품의 소재 특성들의 진행되는 측정 동안, 그리고/또는 금속 제품의 야금 생산 동안, 목표한 바대로 설정되거나 변경될 수 있다.
한편에서의 측정 장치의 컴포넌트들, 즉 송신 유닛 및/또는 수신 유닛과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 기결정된 이격 간격과 관련하여, 여기서 주지해야 할 사항은, 상기 이격 간격이 예컨대 100㎜일 수 있다는 점이다. 본 발명에 의해서는, 상기 이격 간격은 최대한 작고 바람직하게는 50㎜ 미만이고, 추가로 바람직하게는 30㎜ 미만이며, 추가로 바람직하게는 20㎜ 미만이며, 추가로 바람직하게는 약 10㎜일 수 있는 값을 취할 수 있는 점이 달성될 수 있다. 이와 관련하여, 역시 주지할 사항은, 기결정된 이격 간격이 송신 유닛 및/또는 수신 유닛의 디자인 내지 치수에도 매칭되어 있다는 점이다. 예컨대 금속 제품까지 수신 유닛의 이격 간격은 수신 유닛의 치수 내지 크기에 따라서도 결정된다. 이는 동일한 방식으로 송신 유닛에도 적용된다. 어쨌든 한편에서의 송신 유닛 및/또는 수신 유닛과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 기결정된 이격 간격은, 그에 따라 제품 안정성과 관련한 각각의 설정값들이 고려되는 방식으로 설정된다.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 측정 장치의 컴포넌트들의 이동을 위한 조정 장치들은 각각 높은 반응 속도 및 높은 제어 속도를 보유할 수 있다. 이를 고려하면서, 한편에서의 송신 유닛 및/또는 수신 유닛과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 기결정된 이격 간격은 10㎜ 미만의 값으로도 설정될 수 있다. 이에 대한 세부 사항들은 하기에서 재차 별도로 설명된다.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 하우징은 제1 개구부 및/또는 제2 개구부의 영역에서 협폭 통로를 포함한다. 측정 장치의 하나의 컴포넌트, 즉 송신 유닛 및/또는 수신 유닛이 하우징의 상기 개구부들의 영역에서 또는 그 안쪽에서, 또는 그에 인접하여 금속 제품의 방향으로 이동되고, 이는 그 다음 동일한 방식으로 협폭 통로에도 해당함으로써, 전술한 협폭 통로 덕분에 한편에서의 송신 유닛 및/또는 수신 유닛과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 결과로 초래되는 이격 간격은 추가로 감소된다.
측정 장치의 하나의 컴포넌트(= 송신 유닛 및/또는 수신 유닛)와 금속 제품 간의 "기결정된 이격 간격"이란 특징과 관련하여, 여기서 별도로 주지해야 할 사항은, 상기 이격 간격이 본 발명의 의미에서 각각 송신 유닛에 의해 예컨대 파(wave)가 생성되어 금속 제품 상으로 지향되게 하는데 이용되는 물리적 원리에 매칭되어 선택된다는 점이다. 달리 표현하면, 한편에서의 송신 유닛/수신 유닛과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 상기 기결정된 이격 간격은 각각 송신 유닛에 의해 생성되는 전자기장(예: X선 방사선 또는 레이저 방사선)의 유형에, 또는 송신 유닛을 통해 생성되어 금속 제품에 작용하는 자계에 매칭된다. 일반적으로, 상기 기결정된 이격 간격은 최대한 작게 선택되고 전술한 예시의 값들 중 하나를 취할 수 있다.
하우징의 벽부에 상대적인 송신 유닛 및/또는 수신 유닛의 이동은 바람직하게는 병진 이동 방식으로 수행되며, 예컨대 특히 금속 제품이 그를 통과하여 이동되거나 안내되는 곳인 하우징의 바깥쪽에 배치되어 송신 유닛 내지 수신 유닛과 적합하게 작동 연결되어 있는 적어도 하나의 조정 장치가 이용되면서 수행된다. 상기 조정 장치는 텔레스코프(telescope) 유형으로 형성될 수 있으며, 그럼으로써 간단한 수단들에 의해 이들 수단과 연결된 송신 유닛 내지 수신 유닛을 위해 하우징 안쪽으로의, 또는 하우징에서 바깥쪽으로의 이동을 위한 큰 조정 경로가 달성되게 된다. 또한, 상기 텔레스코프 유형의 조정 장치는, 오직 적은 장착 공간만을 필요로 한다는 장점을 갖는다.
측정 장치의 컴포넌트들의 전술한 이동성과 관련한 또 다른 장점은, 그에 따라 송신 유닛 및/또는 수신 유닛, 바람직하게는 상기 두 유닛 모두를 함께 본원 장치의 하우징에서 바깥쪽으로 이동시키고 그에 뒤이어 하우징으로부터 이격시키고, 그리고/또는 탈거할 수 있다는 점에 있다. 이로써, 그 다음 측정 장치의 상기 컴포넌트들을 위해 가능한 보정 작업 및/또는 유지보수 작업이 간소화된다.
금속 제품의 야금 생산 동안 금속 제품의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하는 원리는, 송신 유닛에 의해 금속 제품 상으로 지향되는 전자기장이 생성된다는 점에서 기인한다. 달리 표현하면, 금속 제품은, 송신 유닛에 상대적으로, 금속 제품이 송신 유닛에 의해 생성된 전자기장의 자계선들의 영향 영역 내에 위치되는 방식으로 배치되고 이동된다. 이를 기반으로, 그 다음, 금속 제품의 재료 내에서 전술한 물리적 상호작용이 야기되고 유도된다.
전술한 물리적 상호작용은 본 발명에 따라서 하기의 기술적 관점들에서 기인할 수 있다.
- 금속 제품의 재료를 통해 전자기 방사선, 특히 X선 방사선을 통과시키되("투과 내지 통과 원리"), 금속 제품을 통과하는 방사선(바람직하게는 X선 방사선)의 부분은 금속 제품의 특성들에 의해 영향을 받으며;
- 금속 제품의 재료 상에서, 그리고/또는 그 표면 상에서 전자기 방사선, 특히 레이저 방사선을 반사시키되("반사 원리"), 방사선(바람직하게는 레이저 방사선)의 반사된 부분은 금속 제품의 특성들에 의해 영향을 받으며;
- 송신 유닛에 의해 생성된 전자기장을 통해, 그에 상응하게 특히 강과 같은 자화 가능한 금속으로 구성되는 금속 제품을 자화시키되, 수신 유닛에 의해 검출될 수 있는 잔류 자계 강도 및/또는 그 기울기(gradient)는 금속 제품의 특성들에 의해 영향을 받으며;
- 금속 제품의 재료 내로, 송신 유닛에 의해 생성된 전자기장을 통해 방출되는, 특히 레이저 방사선의 형태인 전자기 방사선을 유입시키되, 그 결과로 금속 제품의 재료 내에서 국소적 초음파 장(local ultrasonic field)이 생성되고, 이런 초음파 장은 수신 유닛에 의해, 예컨대 마찬가지로 금속 제품 상으로 지향되는 레이저 방사선을 기반으로 측정되거나 검출될 수 있다.
원칙적으로, 송신 유닛에 의해 생성된 전자기장에서 출발하는 방사선과 관련하여, 주지할 사항은, 상기 방사선이 금속 제품의 적어도 하나의 특성을 검출할 수 있게 하는데 이용되는 전자기 방사선의 모든 형태일 수 있으며, 예컨대 -이미 전술한 것처럼- X선 방사선 또는 레이저 방사선, 또는 그 대안으로 마이크로파 또는 적외선 또는 가시 범위의 파장을 갖는 방사선일 수 있다.
앞서 설명한 것처럼 송신 유닛에 의해 생성될 수 있는 전자기 방사선과 관련하여, 송신 유닛과 수신 유닛이 금속 제품의 각각 서로 반대되는 측들에 배치되어 있는 경우, 자명한 사실로서, 송신 유닛에 의해 생성된 파, 바람직하게는 X선 방사선은 금속 제품을 통과하고, 그 다음 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 파형 패턴은 금속 제품의 반대되는 측에서 수신 유닛에 의해 수신된다.
송신 유닛과 수신 유닛이 각각 금속 제품의 동일한 측에 배치되어 있는 경우, 송신 유닛에 의해 생성된 방사선, 바람직하게는 레이저 방사선은 금속 제품의 표면 상에서 반사되고, 그에 뒤이어 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 파형 패턴, 예컨대 레이저 방사선의 파형 패턴은 수신 유닛에 의해 수신된다. 또한, 이런 경우, 하우징의 제1 및 제2 개구부는 하나의 공통 개구부로 통합될 수도 있다. 이는, 이런 경우 송신 유닛과 수신 유닛이 그 상에 배치되어 있는 곳인 하우징의 면 상에, 측정 장치의 상기 컴포넌트들을 위해 그에 상응하게 충분히 큰 하나의 공통 개구부가 형성되어 있는 것을 의미한다.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 송신 유닛과 수신 유닛은 IMPOC 측정 헤드의 부분일 수 있다. IMPOC 측정 원리(IMPOC = "Impulse-Magnetic-Process-Online-Controller": 임펄스 자기 프로세스 온라인 컨트롤러)는, 예컨대 강재 스트립(steel strip)이 활전 코일(live coil)들에 의해 정기적인 간격으로 순간 자화되고 국소적으로 생성된 자화의 잔류 자계 강도 또는 이를 토대로 계산되는 기울기는 자계 센서의 형태인 수신 유닛에 의해 측정된다는 점에서 기인한다. 구체적으로, 잔류 자계 강도의 측정된 값 또는 계산된 기울기에는, 상관관계를 통해, 분석되는 금속 제품의 섹션의 기계적 강도가 할당되며, 상기 기계적 강도는 특히 각각의 금속 제품의 재료의 인장 강도 및 항복 강도를 포함한다. 달리 표현하면, 금속 제품의 결과로 초래되거나 잔존하는 자기 특성들은 수신 유닛을 통해 측정된다(잔류 자기 또는 히스테리시스 곡선).
IMPOC 방법의 경우, 잔류 자계 강도는 [A/㎡]의 단위로 측정된다.
IMPOC 측정 원리는 자화 가능한 강종들로 제한되며, 대응하는 측정 장치들은 시중에서 구입할 수 있다.
IMPOC 측정 헤드와 관련하여, 보완적으로 주지할 사항은, 이 경우 송신 유닛이 자화 코일의 형태로 형성되고 수신 유닛은 자계 센서의 형태로 형성된다는 점이다. 상기 IMPOC 측정 헤드가 금속 제품의 일측에 배치되어 있는 경우, 설명한 것처럼 자화 코일과 자계 센서가 상기 측정 헤드 내에 통합되는 점과 관련하여, 자명한 사실로서, 이 경우 -일반적으로 명확히 표현하면- 송신 유닛과 수신 유닛이 금속 제품의 동일한 측에 배치된다. 그에 보완적으로 주지할 사항은, IMPOC 측정 방법의 경우, 일반적으로 바람직하게는 동일하게 구성되어 분석할 금속 제품의 서로 반대되는 측들에 배치되어 있는 2개의 측정 헤드가 사용된다는 점이다. 본 발명의 의미에서, 상기 두 측정 헤드는 각각 측정 장치로서 해석될 수 있다.
본 발명의 바람직한 개선예에 따라서, 송신 유닛 및 수신 유닛이 할당되어 있는 개구부들을 포함하는 하우징의 구성과 관련하여, 송신 유닛 및/또는 수신 유닛이 자신들에 각각 할당된 개구부들을 통과하여 하우징 안쪽으로 이동되거나, 또는 하우징에서 바깥쪽으로 이동되는 방식으로, 송신 유닛 및/또는 수신 유닛의 이동은 이들 유닛과 연결된 조정 장치에 의해 수행될 수 있다. 이로써, 앞서 이미 설명한 것처럼, 한편에서의 송신 유닛 및/또는 수신 유닛과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 이격 간격은 기결정된 값으로 설정되거나 목표한 바대로 변경된다. 측정 장치의 송신 유닛 및/또는 수신 유닛이 이들 유닛과 연결된 조정 장치에 의해 하우징 안쪽으로 이동되는 경우, 그 결과 바람직하게는 금속 제품까지 측정 장치의 상기 컴포넌트(들)의 매우 작은 이격 간격이 달성될 수 있다.
본 발명의 바람직한 개선예에 따라서, 송신 유닛 및/또는 수신 유닛을 각각 작동 연결하여 설명한 것처럼 본원 장치의 하우징에 상대적으로 측정 장치의 상기 컴포넌트들의 이동을 실현하는데 이용되는 조정 장치는 하우징의 바깥쪽에 배치된다. 상기 조정 장치를 위한 큰 조정 경로는 견고한 방식으로 상기 조정 장치의 텔레스코프 유형의 구성을 통해 달성된다. 또한, 그 대안으로, 하우징의 안쪽에서도 송신 유닛 및/또는 수신 유닛의 이동을 위해 적어도 하나의 조정 장치를 제공할 수도 있다.
하우징이 금속 제품의 열처리를 위한 노(furnace)인 경우, 상기 하우징 내에는 일반적으로 높은 온도를 가지면서 하우징의 주변환경에 대해 밀폐되어 있는 특정의 가스 분위기가 포함되어 있다. 이런 목적을 위해, 본 발명의 바람직한 개선예에 따라서, 외부 환경에 대한 하우징의 내부 공간부의 밀폐를 보장하고 그와 동시에 송신 유닛에 의해 생성되는 전자기 방사선의 파와 관련하여 투과성인 차폐부들이 제공된다. 예컨대 상기 차폐부들은 창(window)일 수 있다. 어쨌든, 이와 관련하여 주지할 사항은, 차폐부들 내지 창들이 전자기장의 방사선파(radiation wave)와 관련하여, 그리고/또는 앞서 설명한 물리적 상호작용의 잔존하고 그리고/또는 결과로 초래되는 부분과 관련하여, 필요한 전술한 투과성을 보유한다는 점이다. 그에 따라, 하우징의 내부 공간부에 대해 반대하여 위치되는 상기 차폐부들 내지 창들의 외면 상에 각각 송신 유닛뿐만 아니라 수신 유닛도 배치할 수 있다.
본원 장치의 하우징이 열처리를 위한 노의 부분일 수 있는 가능성과 관련하여, 여기서 주지할 사항은, 상기 노 내에 포함되어 있을 수 있는 가스들, 예컨대 수소, 질소 또는 연소 가스에서부터 위험 가능성이 개시된다는 점이다. 그에 상응하게, 이런 관점에서, 주변환경에 대해, 하우징의 벽부 내에 형성되어 있는 제1 및 제2 개구부의 효과적인 밀폐가 중요하다.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 하우징의 개구부들의 영역에서 외부 환경에 대해 하우징의 내부 공간부의 밀폐를 달성하는데 이용되는 전술한 차폐부들은, 이들 차폐부에 의해 열 방사선의 감소 역시도 달성되는 방식으로 마련된다. 이는, 하우징의 안쪽에서 비교적 높은 온도가 상기 차폐부들 또는 창들을 통해 적합하게 감소되고, 그 결과 측정 장치의 하나의 컴포넌트, 즉 송신 유닛 또는 수신 유닛이 그 상에 배치되는 곳인 상기 차폐부들 또는 창들의 반대되는 측에는 감소된 온도가 우세하게 존재한다는 것을 의미한다.
앞서 설명한 것처럼, 하우징의 제1 및 제2 개구부의 영역에 각각 주변환경에 대해 하우징의 안쪽에 우세하게 존재하는 분위기 내지 가스 조성의 밀폐 외에도 열적 열 방사선의 감소 역시도 달성하는데 이용되는 특히 창의 형태인 차폐부들이 제공된다. 금속 제품으로부터 최대한 작은 이격 간격과 관련하여 송신 유닛 및/또는 수신 유닛의 훨씬 더 적합한 이동성을 달성하기 위해, 본 발명의 바람직한 개선예에 따라서, 차폐부는 특히 탄성 변형될 수 있는 실링 장치와 연결되며, 실링 장치는 제1 또는 제2 개구부의 테두리부들에 의해 고정되고 그렇게 하여 주변환경에 대해 하우징의 내부 공간부가 밀폐된다.
바로 위에 언급한 실링 장치는 적합한 조정 수단들과 연결된다. 이로써, 실링 장치와 연결된 차폐부(예컨대 창의 형태)와 함께 실링 장치를 하우징의 안쪽으로 이동시킬 수 있거나, 또는 하우징에서 바깥쪽으로 이동시킬 수 있다. 목적에 적합한 방식으로, 상기 조정 수단들은 텔레스코프 유형으로 형성되며, 그럼으로써 간단하면서도 특히 공간을 절약하는 방식으로 큰 조정 경로가 달성되게 된다.
제1 개구부 및 제2 개구부의 테두리부들 상에 장착되는, 예컨대 하우징 안쪽으로 이동되어 있는 실링 장치의 경우, 그에 매칭되어, 또는 동일한 정도로, 할당된 송신 유닛/수신 유닛 역시도, 결과적으로 금속 제품으로부터 최대한 작은 이격 간격을 달성하고 금속 제품으로부터 기결정된 이격 간격을 설정하거나 목표한 바대로 변경하기 위해, 마찬가지로 하우징의 안쪽으로 이동될 수 있다.
전술한, 특히 유연한 실링 장치는 변형 가능한 벨로우즈의 형태로 형성될 수 있다.
전술한, 특히 유연한 실링 장치의 경우, 윤곽 형성부(contouring)가 제공될 수 있으며, 그럼으로써 실링 장치는 횡단면과 관련하여 원형으로, 라운딩된 형태로, 타원형으로, 직사각형으로, 또는 정사각형으로 형성되게 되거나, 또는 이들 형태의 조합 형태를 보유하게 된다.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 특히 유연한 실링 장치는, 하우징의 내부 공간부로 향해 있는 자체 단부면 상에, 및/또는 실링 장치의 측면 섹션들은 각각 전자기 및/또는 열 방사선에 대한 보호층 및/또는 절연부를 구비할 수 있다. 이로써, 상기 실링 장치가 설명한 것처럼 하우징의 제1 또는 제2 개구부의 테두리부들 상에 고정되고 그에 따라 매우 높은 온도가 그 내에서 우세하게 존재할 수 있는 곳인 하우징의 내부 공간부에 바로 가깝게 배치된다고 할 때, 상기 실링 장치는 좀 더 덜 민감하고 상대적으로 더 긴 유효 수명을 보유한다는 장점이 달성된다. 이는, 필요한 부분만 약간 수정하여, 실링 장치가 노출될 수 있는 전자기 방사선과 관련하여서도 적용된다.
측정 장치의 주요 구성부품들, 요컨대 송신 유닛 및 수신 유닛은, 특히 너무 높은 온도의 작용에 대해 보호되어야 하는 민감한 컴포넌트들이다. 이런 이유에서, 상기 컴포넌트들은 일반적으로 높은 온도가 그 내에서 우세하게 존재하는 하우징의 안쪽에 직접적으로 배치되거나 그 내로 삽입되지 않으며, -그 대신 송신 유닛 및 수신 유닛은, 항상, 앞서 설명한 것처럼 열 방사선도 감소시키는, 예컨대 창의 형태인 차폐부들을 통해 하우징의 내부 공간부로부터 분리되어 있다.
높은 온도에 대한 추가 보호를 위해, 본 발명의 바람직한 개선예에 따라서, 적어도 하나의 냉각 장치가 제공될 수 있다. 상기 냉각 장치는, 하우징의 제1 또는 제2 개구부의 영역에 제공되는 차폐부들 또는 창들, 및/또는 측정 장치의 컴포넌트들(송신 유닛 및/또는 수신 유닛), 및/또는 실링 장치를 냉각하기 위해 이용된다. 이런 목적을 위해, 냉각 장치들은, 하우징의 벽부 내에 특히 제1 창 및/또는 제2 창에 인접하여 형성되어 있으면서 특히 액체의 형태인 냉각 유체에 의해 관류되는 냉각 라인들 및/또는 캐비티들을 포함할 수 있다. 그에 보완하여, 또는 그 대안으로, 냉각 장치의 냉각 라인들 및/또는 캐비티들은 실링 장치의 재료 내에 제공될 수 있고, 그리고/또는 특히 코일 튜브(coiled tube)의 형태인 냉각 라인들이 측정 장치의 적어도 하나의 컴포넌트(송신 유닛 및/또는 수신 유닛) 상에 제공될 수 있다.
또한, 본 발명의 실제 사용 동안, 바람직하게는 창의 형태인 차폐부들은 그 어떤 형태이든 분진, 오염물 등으로부터 자유로운 상태인 점이 중요하다. 이런 목적을 위해, 본 발명의 바람직한 개선예에 따라서, 차폐부들 또는 창들 상으로 퍼지 가스(purge gas)를 배출하는 적어도 하나의 퍼지 가스 장치(purge gas device)가 제공된다. 퍼지 가스의 배출은 퍼지 가스 장치의 적합한 노즐들을 통해 수행될 수 있으며, 이들 노즐은 차폐부들 내지 창들의 외면 상에, 그리고/또는 그들의 내면 상에, 즉 하우징의 내부 공간부 내에 배치된다. 따라서, 차폐부들 내지 창들의 표면은 본 발명에 따른 장치의 사용 동안, 또는 본 발명에 따른 방법의 수행 동안 퍼지 가스를 배출하는 것을 통해 바람직하게는 영구적으로 "분출 세척(blow clear)"된다. 그 결과, 상기 차폐부들 또는 창들의 표면은 실질적으로 분진 또는 다른 오염물의 형태인 침착물(deposit)로부터 자유로운 상태로 유지된다.
그에 보완하여, 여기서 주지할 사항은, 차폐부들 또는 창들의 외면 상으로 퍼지 가스의 배출이 상기 차폐부들 또는 창들의 냉각에도 기여할 수 있다는 점이다.
본 발명에 의해 검출되는 금속 제품의 적어도 하나의 특성과 관련하여, 여기서 주지할 사항은, 금속 제품의 특성이 하기 변수들일 수 있다는 점이다.
- 미세구조(microstructure),
- 상 분율(phase fraction),
- 재결정화도(recrystallization degree),
- 입도(grain size),
- 조직(texture),
- 극점도(pole figure),
- 방위분포함수(orientation distribution function),
- 산화층 및/또는
- 금속 제품의 기계적 특성값.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 각각 하나의 송신 유닛과 수신 유닛을 포함하는 복수의 측정 장치 역시도 사용될 수 있다. 이런 경우, 하우징의 벽부 내에는, 각각의 측정 장치의 개별 송신 유닛/수신 유닛들이 할당되어 있는 그에 상응하게 큰 개구부들 또는 복수의 개구부가 형성될 수 있다.
본 발명의 바람직한 개선예에서, 하우징의 벽부 내에 형성되어 있으면서 측정 장치의 각각의 컴포넌트들이 할당되어 있는 개구부들은 효율적인 절연 재료를 구비할 수 있다. 이와 동일한 사항은, 하우징의 벽부에서 제1 및/또는 제2 개구부의 영역에 형성될 수 있는 협폭 통로에도 적용된다. 어쨌든, 상기 절연 재료를 통해, 각각의 개구부의 테두리부들에 의해 고정될 수 있는 실링 장치 상에, 그리고/또는 앞서 설명한 것처럼 상기 개구부의 영역에, 또는 그에 인접하여, 하우징의 벽부에 상대적으로 이동될 수 있는 측정 장치의 하나의 컴포넌트(송신 유닛 및/또는 수신 유닛) 상에 상대적으로 더 적은 열 방사선이 작용한다는 장점이 달성된다.
본 발명의 사용은 특히 금속 제품의 열 처리 동안, 다시 말해 금속 제품이 자체 열 처리의 과정에서 통과하는 곳인 노 장치와 결부되는 금속 제품의 열 처리 동안 적합하다. 이와 관련하여, 그 다음, 본 발명에 의해, "온라인"으로, 또는 실시간으로 금속 제품의 적어도 하나의 특성을 검출할 수 있다. 또한, 이런 과정에서, 금속 제품의 적어도 하나의 특성에 대한 측정값을 기반으로 바람직하게는 피제어 시스템(controlled system)을 이용하여 상기 금속 제품의 제조 공정에 영향을 미칠 수도 있다.
하기에서 본 발명의 바람직한 실시예들은 개략적으로 간소화된 도면을 기반으로 상세하게 기술된다.
도 1 ~ 4는 본 발명에 따른 장치의 하우징에 대해 가능한 실시형태들을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 장치의 하우징의 종단면도이다.
도 6은 도 2의 도면의 확대된 부분 종단면도이다.
도 7은 본 발명에 따른 장치의 하우징의 벽부 상에, 또는 이를 위해 이용되는 실링 장치 상에 고정되어 있는 차폐부를 절단하여 도시한 단면도이다.
도 8은 도 7의 차폐부를 절단하여 도시한 단면도이다.
도 9 ~ 12는 각각 도 2에 따른 하우징을 포함하는 또 다른 실시형태들에 따르는 본 발명에 따른 장치를 절단하여 도시한 종단면도이다.
도 13은 또 다른 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 하우징을 도시한 사시도이다.
도 14는 또 다른 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 하우징을 도시한 사시도이다.
도 15는 또 다른 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 간소화된 측면도이다.
도 16은 대응하는 측정 장치의 컴포넌트들이 하우징의 동일한 측에 배치되어 있는 것인 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 하우징을 절단하여 도시한 단면도이다.
도 17 ~ 19는 또 다른 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 상이한 상세도들이다.
도 20은 도 19에 대한 일 변형예에 따르는 본 발명에 따른 장치의 하우징을 절단하여 도시한 횡단면도이다.
도 21 ~ 24는 또 다른 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 상이한 상세도들이다.
도 25는 또 다른 일 실시형태에 따르는 본 발명에 따른 장치의 하우징을 절단하여 도시한 종단면도이다.
하기에서는, 도 1 ~ 25를 참조하여, 본 발명에 따른 장치(10) 및 상응하는 방법의 바람직한 실시형태들이, 그에 따라 금속 제품(1)의 야금 생산 동안 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성을 검출하기 위해, 도시되고 설명된다. 도면에서 동일한 특징들에는 각각 동일한 도면부호들이 부여된다. 여기서 별도로 주지할 사항은, 도면이 오직 간소화되어서만, 그리고 특히 축척 없이 도시되어 있다는 점이다.
본 발명에 따른 장치(10)는 내부 공간부(11i)를 구비한 하우징(11)을 포함한다. 예컨대 냉간 또는 열간 압연 스트립의 형태인 금속 제품(1)은 하우징(11)의 내부 공간부(11i)를 통과하여 안내될 수 있다. 금속 제품(1)이 하우징(11)을 통과하여 안내되는 이동 방향은 도면에서 각각 도면부호 "B"로 표시되어 있고 화살표 또는 상응하는 심볼을 통해 식별된다.
장치(10)의 하우징(11)의 벽부(12) 내에는 적어도 하나의 제1 개구부(13) 및 하나의 제2 개구부(14)가 형성되어 있다. 이런 두 개구부(13, 14)가 하우징(11)의 동일한 측에 형성되어 있는 경우, 상기 개구부(13, 14)들은 경우에 따라 하나의 공통 개구부(G)로도 통합될 수 있으며, 이는 하기에서 여전히 별도로 설명된다(도 23, 도 24 참조).
장치(10)의 하우징(11)의 개구부(13, 14)들의 영역에는, 예컨대 창들의 형태로 형성되어 있는 차폐부(20)들이 각각 배치된다. 여기서 제한을 생각하지 않으면서, 상기 차폐부들은 하기에서 항상 "창"(20)으로서만 지칭된다. 이런 창(20)들은, 그에 따라 주변환경(U)에 대해 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 밀폐를 달성하기 위해, 본 발명에 따른 밀폐 개념의 부분이다.
도 1의 실시형태에는, 본 발명에 따른 장치의 하우징(11)을 절단한 종단면도가 도시되어 있다. 이와 관련하여, 알 수 있는 것처럼, 금속 제품(1)은 이동 방향(B)을 따라서 하우징(11)을 통과하여 이동된다(도 1의 도면에서는 상부에서부터 하방으로). 하우징(11)의 주변 영역 내지 그 외면은 도면부호 "U"자를 통해 상징적으로 표시되어 있다. 이와 관련하여, 제1 창(13)과 제2 창(14)은 금속 제품(1)의 서로 반대되는 측들에서 하우징의 벽부(12) 내에 형성되어 있다. 이와 관련하여, 창(20)들은 직접적으로 각각의 개구부(13, 14)의 테두리부들 상에, 또는 상기 개구부들의 안쪽에 고정되되, 간소화를 위해, 그리고 보다 더 나은 도해를 이유로 제2 개구부(14)를 위한 창(20)은 도 1에 도시되어 있지 않다.
도 2 ~ 4에 따른 실시형태들은, 이와 관련하여 하우징(11)이 제1 및 제2 개구부(13, 14)의 영역에서 협폭 통로(19)를 포함하는 점을 통해 도 1의 실시형태와 구별된다. 그 밖의 점에서는, 도 2 ~ 4에 따른 실시형태들은 오직 협폭 통로(19)의 기하구조를 통해서만 서로 구분되며, 그런 까닭에 반복 설명을 피하기 위해 도 1에 대한 설명이 참조된다.
장치(10)는, 하나의 송신 유닛(17) 및 하나의 수신 유닛(18)으로 구성되는 적어도 하나의 측정 장치(16)(도 5 참조)를 포함한다.
측정 장치(16)의 컴포넌트들, 즉 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)은 각각 조정 장치(15a)와 작동 연결되어 있다. 각각의 조정 장치(15a)의 작동 동안, 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)은 하우징의 벽부(12)에 상대적으로 이동될 수 있다.
이제, 본 발명에 따른 장치(10)의 하우징(11)을 절단한 종단면도가 도시되어 있는 도 5를 참조하여, 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18) 각각에 대한 추가 세부사항들, 그리고 하우징(11)의 벽부(12)에 상대적인 상기 유닛들의 가능한 이동과 관련한 기능 메커니즘이 설명된다.
도 5의 실시형태의 경우, 금속 제품(1)은 하우징(11)을 통과하여 이동 방향(B)으로, 요컨대 도 5의 도면 평면에서는 상부에서부터 하방으로 이동될 수 있다. 제1 개구부(13)와 제2 개구부(14)는 하우징의 벽부(12) 내에 금속 제품(1)의 서로 반대되는 측들에 위치되는 방식으로 형성되어 있다.
하우징(11)의 벽부(12) 내에 형성되어 있는 두 개구부(13, 14)와 관련하여, 자명한 사실로서, 송신 유닛(17)은 제1 개구부(13)에 할당되어 있고, 수신 유닛(18)은 제2 개구부(14)에 할당되어 있다.
그에 상응하게, 송신 유닛(17)은 제1 개구부(13)를 통과하여, 또는 그에 인접하여 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동될 수 있거나(도 5의 도면 평면에서는 우측에서 좌측으로), 또는 그 반대 방향으로, 요컨대 내부 공간부(11i)에서부터 바깥쪽을 향하는 방향으로(도 5의 도면 평면에서는 좌측에서 우측으로) 이동될 수 있다. 이미 전술한 것처럼, 송신 유닛(17)은 조정 장치(15a)와 작동 연결되어 있으며, 이런 조정 장치는 여기서는 도 5에 도시된 도면의 경우 송신 유닛(17)의 외부 단부면 상에 장착되고 바람직하게는 텔레스코프 유형으로 형성된다. 따라서, 조정 장치(15a)의 작동을 통해, 송신 유닛(17)은 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 또는 하우징(11)에서 바깥쪽으로 이동될 수 있다.
동일한 방식으로, 수신 유닛(18)은 자신의 외부 단부면 상에서 마찬가지로 특히 텔레스코프 유형으로 형성된 조정 장치(15a)와 연결된다. 상기 조정 장치(15a)의 작동 동안, 수신 유닛(18)은 제2 개구부(14)를 통과하여, 또는 그에 인접하여 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 또는 그 반대 방향으로, 요컨대 하우징(11)에서부터 바깥쪽을 향해 이동될 수 있다.
제1 개구부(13) 및 제2 개구부(14)의 테두리부들 상에는 각각 실링 장치(23)들이 고정되며, 이들 실링 장치는 각각 탄성 변형 가능한 재료로 형성되어 있다. 예컨대 상기 실링 장치(23)들은 이른바 벨로우즈로 형성될 수 있다. 하기에서의 기재를 위해, 상기 실링 장치(23)는, 여기서 제한을 생각하지 않으면서, 오직 간단히 "벨로우즈"로서만 지칭된다.
각각의 개구부(13, 14)들의 테두리부들 상에 각각의 벨로우즈(23)의 고정의 결과로, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)는 상기 개구부(13, 14)들의 위치에서 자체 외부 주변환경에 대해 벨로우즈(23)들을 통해 밀폐된다.
각각의 벨로우즈(23)는 각각 벨로우즈(23)의 종방향 연장부를 따라서(즉, 도 5의 도면 평면에서 각각 수평으로) 뻗어 있는 지지 구조부(33)를 구비한다. 상기 지지 구조부(33)를 통해, 벨로우즈(23)는 자체 측면 변형과 관련하여 특히 벨로우즈(23)가 예컨대 도 5의 도면에 도시된 것과 같은 정도로 하우징의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동될 때 안정화된다. 이와 관련하여, 주지할 사항은, 도 5 및 도 6의 도면들에서 벨로우즈(23)들을 위한 상기 지지 구조부(33)들은 간소화를 위해 오직 상징적으로만 수평 라인들을 통해 도시되어 있다는 점이다.
도 6에는, 도 5의 도면의 부분 종단면도가 도시되어 있고 그 추가 세부사항들이 설명된다. 제1 개구부(13) 또는 제2 개구부(14) 상에서 부품들의 배치의 대칭성과 관련하여, 도 6에는, 간소화를 위해 하우징(11)의 하나의 측면만이 도시되어 있다. 도 6의 도면은 제1 개구부(13) 및 제2 개구부(14)에 동일한 방식으로 적용되며, 이는 도 6에 도시된 측정 장치(16)의 컴포넌트가 도면부호 "17" 또는 "18"로 표시되어 있는 것을 통해서도 표현되는데, 그 이유는 상기 컴포넌트가 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)이기 때문이다.
벨로우즈(23)의 외부 단부면은, 벨로우즈(23)의 바람직하게는 병진 조정, 요컨대 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 또는 그 반대 방향으로, 즉 하우징(11)에서 바깥쪽으로의 조정을 가능하게 하는데 이용되는 조정 수단(32)들과 연결된다. 이와 관련하여 주지할 사항은, 각각의 벨로우즈(23)의 이동 또는 조정이 상기 벨로우즈와 연결된 조정 수단(32)들을 통해 조정 장치(15a)로부터 독립적으로, 또는 측정 장치(16)의 컴포넌트(송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18))의 이동으로부터 독립적으로 수행될 수 있다는 점이다.
도 5 또는 도 6의 실시형태의 경우, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)로 향해 있는, 개별 벨로우즈(23)들의 단부면 상에 각각 하나의 창(20)이 통합되어 있다. 따라서, 벨로우즈(23)를 조정할 때, 그 내에 통합된 창(20)은 동시에 함께 이동된다. 따라서, 창(20)들은, 도 5 또는 도 6의 실시형태에 따라서, 금속 제품(1)으로부터 자체의 각각의 이격이 대응하는 벨로우즈(23)의 각각의 포지셔닝에 따라 결정되는 "이동 창(moving window)"이다.
앞서 이미 설명한 것처럼, 송신 유닛(17)은 제1 개구부(13)에 할당되어 있고, 수신 유닛(18)은 제2 개구부(14)에 할당되어 있다. 그 결과로, 송신 유닛(17)은, 예컨대 할당된 조정 장치(15a)의 작동에 의해 제1 개구부(13)를 통과하여 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동될 수 있다. 송신 유닛(17)의 상기 이동과 동기화되는 방식으로, 자명한 사실로서, 먼저 금속 제품(1)의 우측에 있는 벨로우즈(23)이면서, 제1 개구부(13)의 테두리부들 상에 고정되어 있고 그렇게 하여 송신 유닛(17)의 외주연을 따라서 송신 유닛(17)을 에워싸는 상기 벨로우즈(23) 역시도 조정 수단(32)들의 작동을 통해 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있다. 금속 제품(1)의 우측에서 벨로우즈(23) 및 송신 유닛(17) 모두를 위한 상기 위치들은 도 5에 각각 연속선(continuous line)들을 통해 도시되어 있다.
송신 유닛(17)과 동일한 방식으로, 도 5의 도면에서, 수신 유닛(18) 역시도, 요컨대 수신 유닛과 연결된 조정 장치(15a)의 작동을 통해, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동된다. 이에 수반하여, 먼저, 또는 최소한 동시에, 금속 제품(1)의 좌측에 배치되어 수신 유닛(18)의 외주연을 따라서 수신 유닛(18)을 에워싸는 벨로우즈(23)는 자신과 연결된 조정 수단(32)들의 작동을 통해 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있다. 금속 제품(1)의 좌측에서 벨로우즈(23) 및 수신 유닛(18) 모두를 위한 상기 위치들은 도 5에 마찬가지로 각각 연속선들을 통해 도시되어 있다.
도 5의 도면에서 송신 유닛(17)뿐만 아니라 수신 유닛(18) 역시도 각각 연속선들로 도시되어 있는 위치들은 예컨대 측정 장치(16)의 상기 두 컴포넌트가 금속 제품(1)으로 최대한 가깝게 이동되어 있는 상기 두 컴포넌트의 작동 위치에 상응한다. 달리 표현하면, 한편에서의 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)과 다른 한편에서의 스트립형 금속 제품(1) 간의 상기 위치들에서, 그에 따라 최대한 작은 값, 예컨대 약 10㎜의 값을 취하는 기결정된 이격 간격이 설정된다.
도 5의 도면에 따른 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)의 포지셔닝은, 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트들이 직접적으로 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 아래쪽에 배치되는 것이 아니라, 상기 컴포넌트들과 금속 제품(10) 사이에 항상 내부에 통합된 창(20)을 구비하여 할당된 벨로우즈(23)의 단부면이 위치한다는 점을 설명하는 것이다.
도 5 또는 도 6의 실시형태에서 이동 방향(B)을 따라서 장치(10)의 하우징(11)을 통과하여 안내되는 금속 제품(1)은 스트립형 재료일 수 있으며, 예컨대 냉간 압연 스트립 또는 열간 압연 스트립일 수 있다. 이를 고려하면서 주지할 사항은, 도 5에서 측정 장치(16)의 컴포넌트들의 이동이 각각 횡방향으로, 다시 말해 스트립형 금속 제품(1)의 표면에 대해 직각인 방향으로 수행된다는 점이다. 상기 이동 방향은 도 5에서 도면부호 "T"로 표시되어 있는 양방향 화살표를 통해 상징적으로 도시되어 있다.
여기서 별도로 주지할 사항은, 각각 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)과 작동 연결되어 있는 두 조정 장치(15a)가 상호 간에 독립적으로 작동될 수 있다는 점이다. 그 결과로, 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트(17, 18)들은, 상호 간에 독립적으로, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 또는 하우징(11)에서 바깥쪽으로 이동되도록 하기 위해, 횡방향(T)으로 이동될 수 있다.
도 5의 도면에서는, 각각의 파선들을 통해, 측정 장치(16)의 컴포넌트들, 즉 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)에 대해서뿐만 아니라 할당된 벨로우즈(23)들에 대해서도, 이들 부재가 제1 개구부(13) 또는 제2 개구부(14)에서 바깥쪽으로 이동되어 있는 위치들이 예시되어 있다. 벨로우즈(23)들과 관련하여, 도 5에서 한편으로 연속선들을 통해, 그리고 다른 한편으로는 파선들을 통해 도시되어 있는 상기 이동은, 상기 벨로우즈(23)들이 탄성 변형 가능한 재료로 형성되는 것을 통해 가능해진다.
도 6에는, 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)이, 각각 할당된 조정 장치(15a)의 작동을 통해 횡방향(T)으로 내부 공간부(11a)에서 바깥쪽으로 이동되어 있는 위치에 도시되어 있다. 이와 관련하여, 동일한 방식으로, 벨로우즈(23)는 바깥쪽을 향해 이동되어 있으며, 그럼으로써 벨로우즈(23)의 단부면 내에 통합된 창은 그 밖에도 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)의 내부 단부면에 인접하여 위치되게 된다.
하우징(11) 상에는, 두 개구부(13, 14)에 인접하여 각각 하나의 폐쇄 장치(26)가 장착되며, 이 폐쇄 장치는 할당된 용기(27) 내에 수용되고 그 내에서 변위 가능하게 안내된다. 측정 장치(16)의 컴포넌트들(= 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18))이 각각 도 6의 위치에 위치되는 경우, 폐쇄 장치(26)에 의해, 도 6에 도시된 것처럼, 개구부(13, 14)들의 폐쇄가 달성될 수 있고 그에 따라 주변환경(U)에 대해 하우징(11)의 내부 공간부의 밀폐가 달성될 수 있다. 그 결과로, 예컨대 수리 및/또는 유지보수를 목적으로, 그리고/또는 금속 제품(1)의 제조를 위한 실제 라인 내에서 가공되거나 처리되지 않는 외부 시료들의 보정 또는 측정을 수행하기 위해, 예컨대 개구부(13, 14)로부터 벨로우즈(23)를 분해할 수 있고, 그 다음 추가로 하우징(11)으로부터 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)을 탈거할 수 있다. 이를 위해, 하기에서 여전히 별도로 설명되는 도 15 역시도 참조된다.
도 6의 도면에 따르면, 벨로우즈(23)의 재료 내에는, 내부 공간부(11i)로 향해 있는 벨로우즈의 단부면 상에, 그리고 바람직하게는 창(20)에 인접하여 냉각 라인(30)들이 통합될 수 있다. 바람직하게는 냉각액의 형태인 냉각 유체가 상기 냉각 라인(30)들을 통과하여 안내됨으로써, 벨로우즈(23)의 단부면이 적합하게 냉각된다. 각각의 벨로우즈(23)의 단부면들 상에서의 상기 냉각은 우선 벨로우즈 내에 통합된 창(20)을 냉각하며, 그리고 그에 따라 창의 반대되는 측에 위치하는 측정 장치(16)의 컴포넌트(즉, 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18))에 작용하는 열 방사선으로 인한 열 부하가 감소되게 할 수도 있다.
송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)을 위한 열 부하의 추가 감소는, 이를 위해, 측정 장치(16)의 상응하는 컴포넌트를 냉각시키기 위한 냉각제, 바람직하게는 냉각액이 그를 통해 안내되는 곳인 각각 하나의 냉각 장치(24)가 제공되는 것을 통해 달성될 수 있다. 도 5 또는 도 6의 도면에서, 상기 냉각 장치(24)는, 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)의 외주면 상에 장착되는 코일 튜브(25)의 형태로 형성될 수 있다.
냉각을 위한 또 다른 조치들은 하기에서 도 7 및 도 8에서 설명된다.
도 7에는, 하우징(11)의 벽부(12) 상에, 또는 벨로우즈(23) 상에 고정될 수 있는 창(20)을 절단한 단면도가 (종단면도로 또는 횡단면도로) 도시되어 있다. 하우징(11)의 벽부(12) 내에는, 또는 벨로우즈(23)의 재료 내에는, 냉각 유체, 바람직하게는 냉각액이 그를 통해 안내되는 곳인 냉각 라인(30)들 및/또는 캐비티(30)들이 형성된다. 이로써, 벽부(12) 또는 벨로우즈(23)의 재료가 적어도 직접적으로 창(20)에 인접되어 냉각됨으로써 상기 창(20)에 대한 온도 부하 및 상기 창의 온도 자체가 감소되게 되는 점이 달성된다.
도 8에는, 창(20)을 절단한 단면이 도시되어 있으며, 상기 창(20)을 형성하는 이중 벽 구조가 설명되어 있다. 달리 표현하면, 상기 창은, 서로 이격되어 있으면서 자신들 사이에 하나의 캐비티(22)를 내포하는 적어도 2개의 표면 부재(surface element)로 구성된다. 상기 캐비티(22)를 통해서는 냉각 유체, 바람직하게는 냉각 기체가 안내되며, 그럼으로써 창(20)의 추가 냉각이 달성되게 되고, 그에 따라, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)에서부터 창(20)을 통과하여 바깥쪽에 도달하는 열 방사선의 감소 역시도 달성되게 된다.
또한, 장치(10)는 노즐들을 구비한 퍼지 가스 장치도 포함하며, 노즐들에서부터는 퍼지 가스가 창(20)의 표면 상으로 배출될 수 있다. 이는 도 7에 각각 도면부호 "F"로 표시되어 있는 2개의 화살표를 통해 상징적으로 예시되어 있다. 퍼지 가스 장치의 노즐들은 하우징(11)의 내부 공간부(11i) 내에, 그리고/또는 하우징(11)의 외면 상에, 바람직하게는 제1 개구부(13) 또는 제2 개구부(14)에 인접하여 배치될 수 있다.
도 5 및 도 6에서의 도면에 따라 횡방향(T)으로 측정 장치(16)의 컴포넌트들의 이동을 가능하게 하는 근거가 되는 기능 메커니즘과 관련하여, 자명한 사실로서, 상기 기능 메커니즘은 도 1 ~ 4에 도시되어 있는 하우징 형태들 중 하나를 위한 각각의 개구부(13, 14)들의 영역에 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)의 할당된 배치에 의해 가능하다. 예컨대 도 2 ~ 4 중 하나와 관련하여, 강조해야 할 사항은, 도 5 및 도 6의 도면에 따르는 측정 장치(16)의 컴포넌트들의 배치가 특히 두 개구부(13, 14)가 그 상에 형성되는 곳인 하우징(11)의 협폭 통로(19)의 영역에서도 가능하다는 점이다.
본 발명은 도 5를 참조하여 하기와 같이 기능한다.
금속 제품(1)은 야금 생산 동안 이동 방향(B)을 따라서 장치(10)의 하우징(11)을 통과하여 안내된다.
장치(10)의 작동 위치에서, 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18), 그리고 이와 동기화되어 할당된 벨로우즈(23)들 역시도, 도 5에서 각각 연속선들을 통해 도시되고 앞서 이미 설명한 것처럼, 각각 횡방향(T)으로 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동된다. 이와 관련하여, 내부에 통합된 창(20)들을 구비한 벨로우즈(23)들은 금속 제품(1)에 최대한 가깝게 이동되며, 그럼으로써 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은 금속 제품(1)으로부터 기결정되고 마찬가지로 최대한 작은 이격 간격, 예컨대 약 10㎜의 이격 간격에 배치될 수 있게 된다.
송신 유닛(17)은 설비 공학 측면에서 자신에 의해 예컨대 X선 방사선의 형태인 전자기장이 생성되는 방식으로 형성된다. 도 5에서 도면부호 S로 표시된, 결과로 초래되는 전자기 방사선은, 송신 유닛(17)에서부터 우선 할당된 벨로우즈(23)의 창(20)을 통과하고 그에 뒤이어 금속 제품(1)을 통과한다. 도 1에서는, 금속 제품(1)을 통과한 이후 금속 제품의 다른 측에 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되며, 그 다음 수신 유닛(18)을 에워싸는 벨로우즈(23)의 창(2)을 통과한 이후에는 수신 유닛(18)에 의해 수신되는 파형 패턴이 도면부호 S'로 표시되어 있다.
장치(10)의 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 도 5의 도면에 따라 금속 제품(1)의 서로 반대되는 측들에 배치되어 있는 경우, 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성의 본 발명에 따른 검출은 예컨대 X선 방사선의 경우 투과 또는 조사 원리(transmission or irradiation principle)에 기인할 수 있다.
또한, 대안의 실시형태에 따라서, 도 5의 컴포넌트(17, 18)들은 각각 IMPOC 측정 헤드들일 수 있다. 이는 동일한 방식으로 하기에서 재차 설명되는 도 9 ~ 15, 도 19 및 도 24에 따른 실시형태들에도 적용된다.
여기서 재차 주지할 사항은, 각각의 벨로우즈(23)들 내에 통합되는 창(20)들이 전자기 방사선, 바람직하게는 X선 방사선 또는 레이저 방사선의 파들과 관련하여, 또는 송신 유닛에 의해 생성되는 전자기장의 자계선들과 관련하여 투과성이라는 점이다.
수신 유닛(18)은 신호 기술적으로 (미도시된) 평가 유닛과 연결된다. 이 경우, 상기 평가 유닛에 의해서는, 예컨대 수신 유닛(18)에 의해 수신되거나 검출된 투과되는 X선 방사선의 파형 패턴의 형태인 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분이 적합하게 평가되며, 그리고 이를 기반으로 금속 제품(1)에 대한 적어도 하나의 특성 또는 소재 매개변수가 결정된다.
본 발명은, 금속 제품(1)의 야금 생산 동안에도 측정 장치(16)의 컴포넌트들(= 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18))과 금속 제품(1) 간의 이격 간격이 횡방향(T)으로 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)의 이동을 통해 기결정된 이격 간격으로 설정되거나 달성될 수 있는 것을 특징으로 한다. 예컨대 이는 금속 제품(1)의 변경되는 두께에 매칭되어 수행될 수 있다.
여기서 주지할 사항은, 경우에 따라 지지 구조부(33)들의 사용을 통해 안정화되는 벨로우즈(23)들이 이용되면서 하우징(11)의 개구부(13, 14)들에 인접하여 측정 장치의 컴포넌트(17, 18)들을 이동시킬 수 있는데 이용되는, 도 5와 관련하여 설명한 기능 메커니즘이 본 발명에 따른 장치(10)의 다른 실시형태들에서도 사용될 수 있다는 점이다.
하기에서는, 장치(10)의 또 다른 특징들 및 실시형태들이 설명된다.
장치(10)는, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽에 배치되어 있는 보호 슬라이딩 장치(28)(도 5 및 도 6 참조)를 포함한다. 이런 보호 슬라이딩 장치(28)는 안전 기능을 충족하며, 그리고 금속 제품이 이동 방향(B)으로 하우징(11)을 통과하여 안내될 때 개구부(13, 14)들, 및/또는 측정 장치(16)의 컴포넌트들, 및/또는 벨로우즈(23)들로부터 금속 제품(1)의 충분한 이격을 보장한다. 예컨대 보호 슬라이딩 장치(28)에 의해서는, 금속 제품(1)이 하우징(11)의 측면 벽부들 중 하나의 측면 벽부의 방향으로 가능한 측면 이동의 결과로 각각의 벨로우즈(23)들 및 이들 내에 통합된 창(20)들의 단부면들과 접촉할 수 있는 점이 방지된다. 그에 상응하게, 금속 제품(1)을 통한, 벨로우즈(23)들 및 이들 안쪽에 배치되는 측정 장치(16)의 컴포넌트들의 가능한 손상은 보호 슬라이딩 장치(28) 때문에 방지될 수 있다.
도 13의 실시형태는, 보호 슬라이딩 장치가 각각 가이드 롤러들을 포함하고, 이들 가이드 롤러는 회전 가능하게 장착되어 금속 제품(1)과 접촉할 수 있으며, 이런 접촉 동안 금속 제품(1)은 이동 방향(B)으로 하우징(11)을 통과하여 안내되는 것을 설명하고 있다. 가이드 롤러(28)들과 금속 제품(1) 간의 상기 구름 접촉(rolling contact)을 통해, 하우징(1)의 내부 공간부(11i)의 안쪽에서 금속 제품(1)을 위한 정의된 안내가 달성되되, 측면 쪽으로 금속 제품(1)의 가능한 편향은 보다 적게 있을 수도 있는 정도에서부터 전혀 가능하지 않게 된다. 그에 따라, 앞서 이미 설명한 것처럼, 금속 제품(1)이 의도하지 않게 벨로우즈(23)들의 단부면들과 접촉하여 상기 벨로우즈들 또는 이들 안쪽에 배치되는 측정 장치(16)의 컴포넌트들을 손상시키는 점은 방지될 수 있다.
도 14에는, 도 2에 따른 하우징(11)의 형태와 결부되는 보호 슬라이딩 장치의 가이드 롤러(28)들과 관련한 또 다른 변형예가 도시되어 있다. 도 14에 따른 실시형태의 경우, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은, 도 5에 따른 기능 메커니즘에 따라서, 하우징(11)의 서로 대향하는 측면들 내에 형성되어 있는 개구부(13, 14)들 내에 배치될 수 있다.
도 14에 따른 변형예의 경우, 2개의 가이드 롤러(28z)는, 결과적으로 금속 제품(1)과 접촉하여 경우에 따라 금속 제품(1) 상으로 압력 힘을 가하기 위해, 하우징(11)의 대향하는 벽부의 방향으로 바람직하게는 병진 이동될 수 있다. 도 14의 도면에서, 상기 이동 가능한 가이드 롤러(28z)들은 금속 제품(1)의 우측에 배치되어 있다. 이런 이동 가능한 가이드 롤러(28z)들은, 금속 제품의 반대되는 측에(도 14에서는 좌측에) 배치되어 있는 2개의 추가 가이드 롤러(28)보다 상호 간에 더 작은 이격 간격을 갖는다. 이제 이동 가능한 가이드 롤러(28z)들이, 도 14의 도면 평면과 관련하여, 우측에서 좌측으로 이동되는 경우, 그에 따라, 스트립형 금속 제품(1)이 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽에서 한편에서의 이동 가능한 가이드 롤러(28z)들과 금속 제품(1)의 다른 측에 배치되는 다른 한편에서의 두 가이드 롤러(28) 사이에서 정의된 방식으로 안내되는 점이 달성되며, 그럼으로써 벨로우즈(23)와의 의도되지 않은 접촉에 의해 측면 쪽으로 금속 제품(1)의 편향 위험은 존재하지 않게 된다. 또한, 스트립형 금속 제품(1) 쪽으로 이동 가능한 가이드 롤러(28z)들의 목표되는 압착은, 금속 제품(1) 상으로 압력 힘이 가해지게 하며, 그 다음에 상기 압력 힘은 금속 제품(1)의 종방향 연장부 내에서 인장력을 야기한다. 이런 방식으로, 결과적으로 벨로우즈(23)들 또는 그 안쪽에 배치되는 측정 장치(16)의 컴포넌트들의 가능한 손상 역시도 배제하기 위해, 스트립형 금속 제품(1)의 가능한 "슬래그 발생(slagging)"은 방지될 수 있다.
설명한 것처럼 이동 가능하고 회전 가능하게 장착된 2개의 가이드 롤러(28z)가 스트립형 금속 제품(1) 쪽으로 압착되는 것인 도 14에 따른 보호 슬라이딩 장치에 의해서는, 금속 제품(1)이 하우징의 내부 공간부(11i)의 안쪽에서 최소한 개구부(13, 14)들에 인접하는 영역에서 목표한 바대로 안내되는 점이 달성된다. 그에 상응하게, 그 다음, 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18)에 할당되어 있는 벨로우즈(23)의 단부면 및 그에 따른 측정 장치(16)의 대응하는 컴포넌트(17, 18) 역시도 금속 제품(1)에 훨씬 더 가깝게, 예컨대 10㎜ 미만의 이격 간격으로 배치될 수 있는데, 그 이유는 금속 제품(1)의 목표되는 안내의 결과로 측면에서의 "슬래그 발생" 위험 및 그에 따른 벨로우즈(23)들 및 이들 안쪽에 배치되는 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들의 손상 위험이 존재하지 않기 때문이다.
도 14와 관련하여, 보완적으로 주지해야 할 사항은, 여기서는 간소화된 도해를 목적으로, 그리고 여기에 도시된 수직 방향으로 하우징(11)의 존재하는 축 대칭으로 인해, 벨로우즈(23)가 하우징(11)의 일측 면 상에만, 그리고 하우징에 의해 에워싸인 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18) 없이 도시되어 있다는 점이다. 또한, 도 14에서는, 내부 공간부(11i)로 향해 있는 벨로우즈의 단부면이 그 내부에 통합되어 있는 창과 함께 금속 제품(1) 상에 직접적으로 인접하여 포지셔닝되는 방식으로 벨로우즈(23)가 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있는 점을 알 수 있다. 또한, 이동 가능한 두 가이드 롤러(28z) 사이의 이격 간격은, 벨로우즈(23)가 금속 제품(1)에 바로 근처에 포지셔닝될 때, 상기 가이드 롤러(28z)들 사이에서 상기 벨로우즈(23)가 공간을 갖는 정도로 선택되어 있는 점도 확인된다.
도 15에는, 측정 장치(16)의 컴포넌트들, 다시 말해 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)이 두 개구부(13, 14)에 인접하여, 도 5의 기능 메커니즘에서와 동일한 방식으로 배치될 수 있는 것인 장치(10)의 일 실시형태가 간소화된 측면도로 도시되어 있다.
도 15에서부터는, 장치(10)가 파지 장치(H) 역시도 포함하고, 이 파지 장치 상에는 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)이 함께 장착되어 있는 점을 알 수 있다. 따라서, 파지 장치(H)는, 예를 들어, 그리고 도 15의 도면에 따라서 C자 형태로 형성되어 있는 프레임 장치를 형성한다. 상기 파지 장치(H)에 의해서는 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은 종방향(L)으로 스트립형 금속 제품(1)의 표면에 대해 평행하게 이동 가능하게 조정될 수 있다. 이는, 구체적으로, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 앞서 횡방향으로 하우징(11)의 내부 공간부(11i)에서부터 충분히 멀리 이동되어 있다면(도 6 참조), 상기 두 유닛은 그에 뒤이어 파지 장치(H)에 의해 종방향(L)으로 하우징(11)으로부터 탈거되며, 즉 멀리 이동되고 그에 따라 "라인에서 외로 이동"될 수 있다는 것을 의미한다.
송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 바로 위에서 설명한 것처럼 파지 장치(H)에 의해 종방향(L)으로의 이동을 통해 하우징(11)으로부터 충분히 멀리 탈거되어 있다면, 상기 컴포넌트(17, 18)들을 포함한 측정 장치(16)를, 다른 측정을 위해, 예컨대 장치(10)의 컴포넌트(17, 18)들의 보정을 목적으로, 보정되거나 조정된 시험체를 측정하기 위해 사용할 수 있다. 그에 보완하여, 또는 그 대안으로, 본 발명을 위해, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 설명한 것처럼 파지 장치(H)에 의한 종방향으로의 이동을 통해 하우징(11)으로부터 탈거된 이후, 장치(10)의 컴포넌트(17, 18)들을 위해 유지보수 및/또는 수리 작업을 수행할 수 있다.
도 9 ~ 12에는, 본 발명에 따른 장치(10)에 대한 또 다른 실시형태들이 요컨대 각각 하우징(11)을 절단한 종단면도로 도시되어 있다. 상기 실시형태들에 대한 공통점은, 이를 위해 하우징(11)이 개구부(13, 14)들의 영역에 협폭 통로(19)를 포함하는 도 2에 따른 하우징 유형이 사용된다는 점에 있다. 또한, 여기서, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 이들과 각각 연결된 하나의 조정 장치(15a)에 의해 하우징(11)에 상대적으로 이동될 수 있는 횡방향은 도 5에서와 동일한 방식으로 각각 도면부호 "T"로 표시된 화살표를 통해 예시되어 있다.
도 9에 따른 실시형태의 경우, 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)은 도 5에서와 동일한 기능 메커니즘에 따라 하우징(11)의 벽부(12) 내에 형성된 개구부(13, 14)들의 영역에 이동 가능하게 장착될 수 있으며, 하우징의 내부 공간부(11i)의 밀폐는 벨로우즈(23)들이 이용되면서 달성된다.
또한, 도 9의 도면은, 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들이 하우징(11)의 내부 공간부에서 바깥쪽으로 충분히 멀리 이동되어 있다면, 두 개구부(13, 14)가 각각 여기서는 각각 파선을 통해서만 상징적으로 도시된 폐쇄 장치(26)를 통해 폐쇄될 수 있는 점을 설명하고 있다. 이는, 상기 폐쇄 장치(26)가 도시되어 있고 이미 설명한 도 6에서와 동일한 방식으로 수행될 수 있다.
도 10의 실시형태의 경우, 내부 공간부(11i)의 밀폐를 위해 벨로우즈들이 사용되지 않는다. 이는, 창(20)이 직접적으로 하우징(11) 상에 제1 개구부(13) 및 제2 개구부(14)에 인접하여 고정되고 이런 점에서 내부 공간부(11i)의 밀폐가 보장되어 있기 때문에 사용되지 않는다. 또한, 도 10의 도면은, 하우징 상에 장착된 창(20)에 직접적으로 인접하여 하우징(11)을 냉각하기 위해, 하우징(11) 내에 두 개구부(13, 14)에 인접하여 각각 냉각 채널(25)들이 형성되어 있는 점도 설명하고 있다.
도 9 및 도 10에 따른 실시형태들의 경우, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은, 각각 하우징(12)의 내부 공간부(11i)에서부터뿐만 아니라 상기 유닛들에 할당된 개구부(13, 14)들에서부터도 바깥쪽으로 이동되어 있는 위치에 파선들을 통해 도시되어 있다-그 다음 상기 위치에서 출발하여, 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트들은, 도 9 ~ 12에 간소화를 위해 도시되어 있지 않은 파지 장치(H)(도 15 참조)에 의해 설명한 방식으로 종방향(L)으로 하우징(11)의 이격 방향으로 이동될 수 있다.
도 11 및 도 12의 실시형태들의 경우, 창(20)들은, 도 10의 실시형태의 경우와 동일한 방식으로, 직접적으로 하우징(11) 상에, 그리고 개구부(13, 14)들에 인접하여 장착된다. 이런 점에서, 본 실시형태들의 경우에서도, 주변환경(U)에 대해 내부 공간부(11i)의 밀폐를 달성하기 위해, 벨로우즈의 사용을 필요로 하지 않는다.
이 경우, 도 1 ~ 15에 따른 모든 전술한 실시형태의 공통점은, 측정 장치(16)의 컴포넌트들, 즉 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)이 금속 제품(1)의 각각 서로 반대되는 측들에 배치되어 있다는 점이다. 그 결과로, 본 발명의 상기 실시형태들의 경우, 송신 유닛(18)에 의해 생성되는, 예컨대 전자기 방사선, 바람직하게는 X선 방사선의 파들은 각각 금속 제품(1)을 통과하며, 이는 언급한 도면들에서 각각 도면부호 S로 표시된 점선에 의해 상징적으로 도시되어 있다. 그 다음, 언급한 도면들에서 각각 도면부호 S'로 표시된 점선에 의해 상징적으로 도시되어 있는 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 파형 패턴은 금속 제품(1)의 반대되는 측에서 수신 유닛(18)에 의해 수신된다.
도 17 ~ 25에는, 또 다른 본 발명에 따른 실시형태들이 도시되어 있다. 이와 관련하여, 하우징(11)에 상대적인 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들의 이동성과 관련하여 하우징(11)의 내부 공간부(11i)를 위한 실링 개념은 마찬가지로 내부에 통합된 창(20)들을 구비한 벨로우즈(23)들이 이용되면서 실현되며, 상기 벨로우즈(23)들은 -이미 도 5에 대해 설명한 것과 동일한 방식으로- 개구부(13, 14)들의 테두리부들 상에 고정된다. 도 17 ~ 25에 따른 실시형태들의 모든 벨로우즈(23)는 조정 수단들과 연결되어 있으며, 이들 조정 수단에 의해서는 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 그리고 그 반대 방향으로도, 즉 하우징(11)에서 바깥쪽으로 상기 벨로우즈(23)들의 이동이 가능하다. 간소화를 위해, 상기 조정 수단들은 도 17 ~ 25에는 도시되어 있지 않다. 예컨대 상기 벨로우즈(23)들의 이동 역시도 상호 간에 독립적이며, 그리고 특히 측정 장치(16)의 할당된 컴포넌트(17, 18)들이 각각 장치(10)의 하우징(11)의 바깥쪽에 위치되는 경우에 가능하다.
도 17 및 도 18에 따른 실시형태들의 경우, 장치(10)는 각각 하나의 하우징(11)을 포함하며, 이 하우징의 경우 두 개구부(13, 14)는, 스트립형 금속 제품(1)의 표면과 동일 평면에 배치되어 있는 벽부(12) 내에 서로 나란히 형성되어 있다. 이와 관련하여, 도 17 및 도 18에 따른 사시도들에서, 금속 제품(1)의 스트립형 형성이 확인될 뿐만 아니라, 스트립형 금속 제품(1)이 상기 실시형태들의 하우징(11)을 통과하여 이동되는 이동 방향(B) 역시도 도시되어 있다.
도 19의 도면에는, 도 17의 하우징(11)의 횡단면도가 도시되어 있다. 바로 위에 설명한 것처럼, 이와 관련하여 제1 개구부(13) 및 제2 개구부(14)는 하우징(11)의 동일한 벽부 내에 서로 나란히 형성되며, 송신 유닛(17)은 제1 개구부(13)에 할당되어 있고, 수신 유닛(18)은 제2 개구부에 할당되어 있다.
이전의 실시형태들의 경우와 동일한 방식으로, 도 19의 실시형태의 경우, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은 각각 조정 장치들과 작동 연결되어 있되, 상기 조정 장치들은 도면부호 "15b"로 표시되어 있고 이미 설명한 것처럼 상호 간에 독립적으로 작동될 수 있다. 간소화된 도해를 목적으로, 도 19에는 수신 장치(18)를 위한 조정 장치는 도시되어 있지 않다.
금속 제품(1)의 스트립형 형성과 관련하여, 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)은 이들과 연결된 조정 장치(15b)의 작동 시 종방향(L)으로, 즉, 스트립형 금속 제품(1)의 표면에 대해 평행하게 이동되며, 그리고 그렇게 하여 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동될 수 있거나, 또는 하우징(11)에서 바깥쪽으로 이동될 수 있다.
도 19의 도면과 관련하여, 하기의 추가 양태들이 주지된다.
- 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은 예시로서, 그리고 상호 간에 비교하여 다양한 작동 위치들에 도시되어 있다. 송신 유닛(17)은 제1 개구부(13)에 인접하여, 그리고 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 바깥쪽에 위치되는 반면, 수신 유닛(18)은 종방향(L)으로 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있다.
- 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)에 각각 할당되어 있으면서 이들 유닛을 에워싸는 벨로우즈(23)들의 측면 영역들 내에는, 도 5의 경우에 이미 설명한 것과 동일한 방식으로, 각각 창(20)들이 통합되어 있다.
- 두 개구부(13, 14)에 인접하여, -이미 도 6에 대해 설명한 것과 동일한 방식으로- 하우징(11) 상에는 폐쇄 장치(26)들이 장착된다. 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들이 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 바깥쪽에 배치되어 있는 경우, 개구부(13, 14)는 할당된 폐쇄 장치(26)를 통해 폐쇄될 수 있다. 이는, 도 19에서, 제1 개구부(13)의 경우에 해당한다.
- 도 19에서 제2 개구부(14)에 할당된 폐쇄 장치(26)의 경우에 해당하는 것처럼, 제1 개구부(13)에 할당되어 있는 폐쇄 장치(26)가 자체의 개방 위치로 전이(transfer)되는 경우, 송신 유닛(17)은 조정 장치(15b)의 작동을 통해 종방향(L)으로 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 예컨대 수신 유닛(18)도 도시되어 있는 위치로 이동될 수 있다. 이와 관련하여, 자명한 사실로서, 송신 유닛(17)을 에워싸는 벨로우즈(23)는 송신 유닛(17)과 동기화되어 이동되거나, 또는 미리 하우징(11)의 안쪽으로 이동되어 있다.
- 수신 유닛(18) 및 도 19에 도시된 위치와 관련하여서도, 자명한 사실로서, 할당된 벨로우즈(23)는 수신 유닛(18)과 동기화되어 이동되거나, 또는 미리 이동되어 있다.
- 송신 유닛(17) 역시도 종방향(L)으로의 이동을 통해 도 19에서 수신 유닛(18)이 도시되어 있는 위치로 전이된 경우, 측정 장치(16)의 상기 두 컴포넌트(17, 18)는 각각 스트립형 금속 제품(1)의 서로 반대되는 측들에 배치되며, 여기서 대응하는 벨로우즈(23)들 내에 통합된 창(20)들은 각각 스트립형 금속 제품(1)으로 향해 있다. 그에 상응하게, 그 다음 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성이, 이미 도 5에 대해 설명한 것과 동일한 방식으로, 투과 내지 조사 원리에 따라서 검출될 수 있다.
- 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)이, 수신 유닛(18)에 대해 도시된 위치에 상응하는 것처럼, 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동된 후에, 결과적으로 금속 제품(1)으로부터의 이격 간격을 목표한 바대로 변경하고 기결정된 값으로 설정하기 위해, 조정 장치(15b)의 상응하는 작동을 통해 횡방향(T)으로도 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)을 이동시킬 수 있다.
- 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)에 할당되어 있는 조정 장치(15b)들은, -도 15의 실시형태에서 조정 장치(15a)와 동일한 방식으로- 파지 장치(L) 상에 고정된다. 이는, 도 19에 간소화를 위해, 단지 송신 유닛(17)과 연결된 조정 장치(15a)에 대해서만 도시되어 있다. 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 각각 하우징(11)의 바깥쪽에 위치되고 하우징(11)의 개구부(13, 14)들로부터 충분히 멀리 이격되어 있는 경우, 다른 위치에서 예컨대 보정 측정 및/또는 유지보수 또는 수리 작업을 수행하기 위해, 파지 장치(H)의 작동에 의해 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 예컨대 횡방향(T)으로 하우징(11)으로부터 탈거되는 점이 달성될 수 있다.
- 마지막으로, 스트립형 금속 제품(1)에 대한 이동 방향(B)은 도 19의 도면의 경우 도면 평면의 안쪽으로 연장된다.
도 20의 실시형태는, 도 17의 실시형태와 유사하지만, 이와 관련하여 제1 개구부(13) 및 제2 개구부(14)가 하우징의 동일한 벽부(12) 내에 형성되는 것이 아니라, 하우징의 서로 대향하는 벽부(12)들 내에 형성되어 있는 차이점을 갖는 하우징(11)을 포함한다. 도 20의 실시형태에서도 송신 유닛(17)이 제1 개구부(13)에 할당되어 있고 수신 유닛(18)은 제2 개구부(14)에 할당되어 있다는 조건에서, 이와 관련하여 종방향(L)에서 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로, 또는 그 반대 방향으로, 즉 하우징(11)에서 바깥쪽으로 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들의 이동뿐만 아니라, 폐쇄 장치(26)들을 이용한 내부 공간부(11i)의 폐쇄 역시도 가능하게 하는데 이용되는 기능 메커니즘은 도 19의 기능 메커니즘에 상응하며, 그럼으로써 반복 설명을 피하기 위해 도 19에 대한 설명이 참조되어야 한다. 그에 보완하여 주지할 사항은, 도 20의 도면에서는 간소화된 도해를 목적으로 도 15의 실시형태의 경우와 동일한 방식으로 형성될 수 있는 조정 장치(15b) 및 파지 장치(L)가 도시되어 있지 않다는 점이다.
도 20에 따른 실시형태는, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 도 20의 도면에 따라서 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있다면, 상기 두 유닛이 스트립형 금속 제품(1)의 동일한 측에 배치되는 것을 특징으로 한다. 그에 상응하게, 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성의 검출은, 반사 원리에 따라서, 송신 유닛(17)에 의해 생성된 전자기 방사선(S)의 파들이 벨로우즈(23)의 창(20)을 통과하여 금속 제품(1) 상으로 지향되고, 그 다음 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 파형 패턴(S')이 수신 유닛(18)에 의해 수신됨으로써 수행된다. 그 밖의 점에서, 도 20의 실시형태의 경우, 스트립형 금속 제품(1)에 대한 이동 방향(B)은 도 19의 이동 방향에 상응하고 도면 평면의 안쪽으로 연장된다.
도 21의 실시형태는, 제1 및 제2 개구부(13, 14)가 동일한 벽부(12) 내에 형성되어 있는 것인 하우징(11)을 포함한다. 이런 하우징(11)은, 도 21의 측면도의 경우 금속 제품(1)의 이동 방향에 대해 화살표(B)를 통해 상징적으로 도시되어 있는 것처럼, 스트립형 금속 제품(1)이 수직으로 그를 통과하여 안내되는 방식으로 마련되어 있다.
도 22에는, 도 21의 하우징(11)이 종단면도로 도시되어 있다.
도 21 및 도 22에 따른 실시형태의 경우, 마찬가지로, 송신 유닛(17)이 제1 개구부(13)에 할당되어 있고 수신 유닛(18)은 제2 개구부(14)에 할당되어 있는 원리가 추구된다. 개구부(13, 14)들의 영역에서 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트(17, 18)들의 이동, 및 벨로우즈(23)들의 이동을 위한 기능 메커니즘은 동일한 방식으로 도 19의 실시형태에 상응하며, 그런 까닭에 반복 설명을 피하기 위해 도 19에 대한 설명이 참조된다.
도 22의 도면에는, 각각 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)이 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있는 위치에서 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)이 도시되어 있다. 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은, 각각 할당된(그리고 여기서는 도시되지 않은) 조정 장치들의 작동을 통해 각각 횡방향(T)으로 이동됨으로써 상기 위치에 도달한다. 도 22는, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 상기 위치들에서 각각 스트립형 금속 제품(1)의 동일한 측에 배치되어 있는 점을 설명하고 있다. 그에 상응하게, 장치(1) 및 대응하는 측정 장치(16)의 작동 중에 스트립형 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성의 검출은 도 20에 따른 실시형태에서와 동일한 방식으로 반사 원리에 따라서 수행된다.
그에 보완하여, 도 22에 대해 주지할 사항은, 이와 관련하여 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)을 위해 하나의 공통 조정 장치(15b)가 제공될 수 있고, 그 다음 상기 조정 장치에 의해 횡방향으로 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트(17, 18)들의 이동이 실현된다는 점이다.
도 23의 실시형태는, 이와 관련하여 두 개구부(13, 14)가 하우징(11)의 동일한 벽부(12) 내에 서로 별도로 겹쳐서 형성되어 있는 것이 아니라, 그 대신 하나의 공통 개구부(G)에서 통합되는 방식으로 변경이 이루어진, 도 21 또는 도 22에 따른 실시형태에 대한 변형예에 상응한다. 이는, 하우징(11)이 절단된 횡단면도가 도시되어 있는 도 23의 도면에서 알 수 있다.
도 23의 도면에서, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은 각각 횡방향(T)으로 하우징의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동되어 있을 때의 위치에 도시되어 있다. 이와 관련하여, 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들은 도 20에서와 동일한 방식으로 스트립형 금속 제품(1)의 동일한 측에 배치됨으로써, 측정 장치(16)의 작동 중에 스트립형 금속 제품의 적어도 하나의 특성이 반사 원리에 따라서 검출되는 점을 알 수 있다.
도 23의 실시형태의 경우, 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)가 하우징(11)의 공통 개구부(G)를 통과하여 이동될 수 있는 점이 고려되면서, 상기 이동의 실현을 위해 목적에 적합하게는 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)이 작동 연결되어 있는 단 하나의 (도 23에는 미도시된) 조정 장치만이 사용된다.
도 23의 실시형태의 경우, 바람직하게는 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)을 위해 하나의 공통 벨로우즈(23)가 제공되며, 상기 벨로우즈(23)는 개구부(G)의 테두리부들 상에 고정되고 할당된 조정 유닛에 의해 하우징(11)의 개구부(G)에 상대적으로, 그리고 횡방향(T)으로 이동된다. 스트립형 금속 제품(1)으로 향해 있는 상기 공통 벨로우즈(23)의 단부면 상에는, 도 22에서와 동일한 방식으로, (미도시된) 창이 통합되어 있되, 이런 창은 설명한 것처럼 반사 원리에 따라서 금속 제품(1)의 측정을 가능하게 하기 위해 전자기 방사선의 파들과 관련하여 투과성이다.
도 24에 따른 실시형태는, 이와 관련하여 제1 및 제2 개구부가 하나의 공통 개구부(G)로 통합되어 있도록 하우징(11)의 벽부(12) 내에 형성되는 방식으로 변경이 이루어진, 도 19의 실시형태에 대한 변형예이다. 도 23과 유사하게, 도 24의 실시형태의 경우, 목적에 적합하게는 공통 개구부(G)의 테두리부들 상에 고정되어 있는 단 하나의 벨로우즈(23)만이 제공되고 조정 장치도 단 하나만이 제공되며, 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)은 각각 상기 조정 장치와 작동 연결되어 상기 조정 장치의 작동 시 종방향(L)으로 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 안쪽으로 이동된다.
도 19에서와 동일한 방식으로, 도 24의 도면에는, 마찬가지로, 컴포넌트들이 각각 스트립형 금속 제품(1)의 서로 반대되는 측들에 배치되어 있을 때 각각의 작동 위치에서 하우징(11) 및 컴포넌트(17, 18)들을 절단한 횡단면이 도시되어 있다. 또한, 도 24는, 벨로우즈(23)의 측면 영역들 내에, 도 19에서와 동일한 방식으로 송신 유닛(17) 및 수신 유닛에 할당되는 2개의 창(20)이 통합되어 있는 점을 설명하고 있다. 이는 투과 또는 조사 원리에 따라서 스트립형 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성의 검출을 가능하게 한다.
도 23 및 도 24에 따른 실시형태들은, 예컨대 도 19의 실시형태와 동일한 방식으로, 폐쇄 장치(26)들을 구비하며, 이들 폐쇄 장치는 각각 하우징(11) 상에서 공통 개구부(G)의 영역에 장착되어 있다. 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 하우징(11)의 바깥쪽에 위치되는 경우, 하우징의 내부 공간부(11i)는, 앞서 예컨대 도 19 또는 도 6에 대해 이미 설명한 것처럼, 상기 폐쇄 장치(26)에 의해 폐쇄될 수 있다.
마지막으로, 도 25에는, 본 발명에 따른 장치(10)의 또 다른 실시형태가, 요컨대 여기서는 상기 장치(10)의 하우징(11)을 절단한 종단면도로 도시되어 있다. 상기 실시형태와 관련하여 강조되는 사항은, 이와 관련하여, 측정 장치(16)의 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 하나의 통합된 측정 헤드로 통합되어 있다는 점이다.
도 25에 따른 실시형태의 경우, 하나의 공통 측정 헤드 내에 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)의 언급한 통합의 결과로, 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트들은 스트립형 재료(1)의 동일한 측에 배치되게 된다. 그에 상응하게, 스트립형 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 검출은 반사 원리에 따라서 수행된다.
도 25에 따른 실시형태는, 특히 송신 유닛(17)에 의해 생성되어 금속 제품(1)의 표면 상으로 지향되는 레이저 방사선의 사용을 위해 적합하되, 그 다음 상기 레이저 방사선의 반사된 부분은 수신 유닛(18)에 의해 수신된다. 이와 동일한 사항은, 도 22 및 도 23에 따른 실시형태들에도 적용된다.
도 25의 실시형태와 관련하여, 그에 보완하여 주지할 사항은, 여기서 도시된 측정 헤드가 대안적으로 IMPOC 측정 헤드일 수도 있다는 점이다. IMPOC 측정 방법에 대한 세부사항들은 앞서 이미 설명하였다.
도 20 ~ 25에 따른 실시형태들의 경우, 그에 보완하여 주지해야 하는 사항은, 이와 관련하여, 도 15 또는 도 19의 실시형태와 유사하게, 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)이 그 상에 장착되어 있는 곳인 (미도시된) 파지 장치 역시도 제공될 수 있다. 상기 파지 장치에 의해서는, 측정 장치(16)의 해당 컴포넌트(17, 18)들이 내부 공간부(11i)에서 바깥쪽으로 이동되어 그에 상응하게 하우징(11)의 바깥쪽에 위치된 이후, 하우징(11)으로부터 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)을 탈거하거나 이격 방향으로 이동시킬 수 있다. 가능한 보정 측정의 수행과 관련하여, 반복 설명을 피하기 위해 도 15에 대한 설명이 참조되어야 한다.
본 발명에 따른 장치(10)의 모든 전술한 실시형태와 관련하여, 자명한 사실로서, 여기서도, 도 7 및 도 8과 관련하여 도시되고 설명된 냉각 조치들 및/또는 퍼지 가스 장치 역시도 사용될 수 있다. 이에 수반되어 예컨대 하우징의 벽부(12)들; 및/또는 벨로우즈(23)들; 및/또는 벨로우즈(23)들 내에 각각 통합될 수 있는 창(20)들;의 매칭이 달성된다는 점은 그 자체로 자명하며 그리고 추가 설명을 필요로 하지 않는다.
동일한 방식으로 자명한 사실로서, 본 발명에 따른 장치(10)의 모든 전술한 실시형태의 경우, 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들을 위한 이동을 실현하는데 이용되는 여기서 사용되는 조정 장치(15a, 15b)들은 각각 예컨대 도 5에 대해 설명된 것처럼 텔레스코프 유형으로 형성될 수 있다.
본 발명에 따른 장치(10)의 모든 전술한 실시형태와 관련하여, 주지할 사항은, 이와 관련하여 송신 유닛(17)에 의해, 금속 제품(1) 상으로 지향되고 금속 제품의 재료 내에서는 초음파를 생성하는 레이저 방사선(S)이 생성되는 방식으로 상기 송신 유닛(17)이 형성될 수 있다는 점이다. 금속 제품(1)의 재료 내에서 상기 국소적 초음파 장은 마찬가지로 레이저 방사선에 의해 검출될 수 있다. 이는, 상기 목적을 위해, 이 경우 수신 유닛(18) 역시도, 금속 제품(1)의 재료 내에서 생성된 초음파의 측정을 목적으로 금속 제품 상으로 지향되는 레이저 방사선을 생성하도록 형성된다는 것을 의미한다.
본 발명에 따른 장치(10)의 전술한 실시형태들 및 본 발명에 따른 상기 장치에 의해 수행되는 방법은 하기의 추가 특징들을 보유할 수 있다.
- 하우징(11)의 벽부(12)는 적어도 부분 영역에서, 또는 전체에서 이중 벽으로 형성될 수 있다. 이는 주변환경에 대한 하우징(11)의 내부 공간부(11i)의 절연을 개선하고 이와 동시에 내부 공간부(11i)에서부터 가스의 가능한 누출의 위험 또는 새는 점을 감소시킨다. 이로써 개선되어, 동일한 방식으로, 공기가 주변환경에서부터 하우징의 내부 공간부(11i)의 안쪽에 도달하는 점도 방지될 수 있다.
- 신호 장치가 제공되되, 상기 신호 장치에 의해서는 스트립형 금속 제품(1)의 손상, 예컨대 파열("strip break")이 금속 제품이 하우징(11)을 통과하여 이송될 때 검출될 수 있다. 이런 경우에, 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)은, 경우에 따라 각각 할당된 벨로우즈(23)들과 함께, 측정 장치(16)의 상기 컴포넌트(17, 18)들의 손상을 방지하기 위해, 즉시 하우징(11)의 내부 공간부(11i)에서 바깥쪽으로 이동된다. 송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)이 하우징(1)의 바깥쪽에 위치되는 이후, 내부 공간부(11i)는 자체 개구부(13, 14, G)들과 함께 폐쇄 장치(26)에 의해 폐쇄될 수 있다.
- 신호 장치가 제공되되, 상기 신호 장치에 의해서는 금속 제품(1)의 가능한 "슬래그 발생", 다시 말해 측면 쪽으로의 허용되지 않는 이동이 금속 제품이 하우징(11)을 통과하여 이송될 때 검출될 수 있다. 이런 경우에, 신호 장치는 도 14에 따른 이동 가능한 가이드 롤러(28z)들의 작동을 야기할 수 있으며, 그 다음 상기 가이드 롤러들은, 설명한 것처럼 최소한 하우징(11)의 창(13, 14)들; 및 그에 인접하여 이동 가능하게 안내되는 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들;의 영역에서 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)을 스쳐 통과하는 방식으로 금속 제품(1)의 정확하게 정의된 안내를 달성하기 위해, 스트립형 금속 제품(1) 쪽에 도 14에서 설명한 것처럼 압착된다.
- 측정 장치의 컴포넌트(17, 18)들을 위한 보정 측정은, (미도시된) 시험체가 금속 제품(1)의 2가지 배치(batch) 사이에 고정되고 그 다음 금속 제품의 생산 배치(production batch)와 동일한 방식으로 하우징(11)을 통과하여 이송되는 것을 통해서도 달성될 수 있다. 예컨대 상기 시험체는 선행하는 금속 제품 및 추후 이용되는 금속 제품의 단부들과 용접될 수 있으며, 그럼으로써 본 발명에 따른 온라인 측정 모드 동안 주목할 만한 지연은 발생하지 않게 된다. 어쨌든 그 다음 상기 시험체는 정상적인 금속 제품(1)과 동일한 방식으로 하우징(11)을 통과하여 이송될 때 송신 유닛(17) 및 수신 유닛(18)을 스쳐 통과하는 방식으로 안내되며, 이는 그 다음 상기 보정 측정을 가능하게 한다.
- 금속 제품(1)의 스트립 프로파일을 위한 검출 장치가 특히 하우징(11)의 개구부(13, 14, G)들에, 그리고 하우징 내에서 이동 가능하게 안내되는 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들에 인접하여 제공된다. 이와 동시에 조정 장치(15a, 15b)들은 각각 높은 반응 또는 제어 속도로 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛의 이동을 가능하게 하는데 이용되는 고속 작동 실린더(high-speed operating cylinder)로서 형성된다. 동일한 방식으로, 벨로우즈(23)들을 위한 조정 수단들도, 이들 조정 수단에 의해, 매우 짧은 시간에, 또는 높은 반응 속도로 상기 조정 수단들과 연결된 벨로우즈(23)들의 이동이 가능한 방식으로 형성될 수 있다. 전술한 검출 장치는 신호 기술적으로 조정 장치들 또는 고속 작동 실린더와, 그리고 동일하게 벨로우즈들을 위한 조정 수단들과 연결되어 있다. 그 결과로, 금속 제품(1)이 측면 쪽으로, 다시 말해 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들의 방향으로 계획과 다르게 이동한다면, 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)은 매우 빠르게 금속 제품(1)으로부터 이격 방향으로 이동될 수 있다. 그 결과, 그에 따라 상기 컴포넌트(17, 18)들의 손상은 방지될 수 있다. 그 다음, 목적에 적합하게, 각각의 벨로우즈(23)들은 자신들에 할당된 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들과 동기화되어, 또는 그들과 동시에 금속 제품으로부터 이격 방향으로 이동된다. 본 발명의 상기 실시형태의 경우, 한편에서의 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)과 다른 한편에서의 금속 제품 간의 이격 간격을 10㎜ 미만의 값(< 10㎜)으로 설정할 수 있다.
1: 금속 제품
10: 장치
11: 하우징
11i: (하우징(11)의) 내부 공간부
12: 벽부
13: 제1 개구부
14: 제2 개구부
15a: 조정 장치
15b: 조정 장치
16: 측정 장치
17: (측정 장치(16)의 컴포넌트로서의) 송신 유닛
18: (측정 장치(16)의 컴포넌트로서의) 수신 유닛
19: (하우징(11)의) 협폭 통로
20: 차폐부(예: 창의 형태)
21: (차폐부 또는 창(20)의) 개별 층 내지 겹(ply)
22: 캐비티
23: 변형 가능한 실링 장치(예: 벨로우즈의 형태)
24: 냉각 장치
25: 코일 튜브 또는 냉각 채널
26: 폐쇄 장치
27: (폐쇄 장치(26)용) 용기
28: 보호 슬라이딩 장치(예: 회전 가능하게 장착된 가이드 롤러의 형태)
30: 냉각 라인 또는 캐비티
32: (변형 가능한 실링 장치(23)용) 조정 수단
33: (변형 가능한 실링 장치(23)용) 지지 구조부
B: (금속 제품(1)을 위한) 이동 방향
F: 퍼지 가스가 창(20) 상으로 지향되는 방향
G: (하우징(11)의 벽부(12) 내에서의) 공통 개구부
H: 파지 장치
K: 냉각 유체
L: (측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)의) 종방향 이동
S: 송신 유닛(17)에 의해 송출되는 신호
S': 수신 유닛(18)에 의해 수신되는 신호
T: (측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)의) 횡방향 이동
U: (하우징(11)의) 주변환경

Claims (39)

  1. 금속 제품(1)의 야금 생산 동안 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하기 위한 장치(10)로서, 상기 장치는
    금속 제품(1)이 그를 통과하여 이동될 수 있는 곳인 하나의 하우징(11); 및
    송신 유닛(17)과 수신 유닛(18)으로 구성되는 적어도 하나의 측정 장치;를 포함하며, 최소한 송신 유닛(17)에 의해서는 전자기장이 생성되어 금속 제품(1) 상으로 지향되며, 그렇게 하여 금속 제품(1)의 재료 내에서 물리적 상호작용이 유도되되, 상기 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분은 수신 유닛(18)에 의해 수신되는,
    상기 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치에 있어서,
    상기 하우징(11)의 벽부(12) 내에는 제1 개구부(13) 및 제2 개구부(14)가 형성되어 있고, 상기 송신 유닛(17)은 상기 제1 개구부(13)에 할당되며, 그럼으로써 상기 송신 유닛(17)에 의해 생성된 전자기장은 상기 제1 개구부(13)의 측에서 상기 금속 제품(1) 상에 부딪치며, 상기 수신 유닛(18)은 상기 제2 개구부(14)에 할당되며, 그럼으로써 상기 금속 제품(1)의 재료 내에서 유도되는 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분은 상기 제2 개구부(14)의 측에서 상기 수신 유닛(18)에 의해 수신되며, 그리고
    특히 상기 하우징(11)의 바깥쪽에는 적어도 하나의 조정 장치(15a, 15b)가 제공되며, 상기 조정 장치에 의해서는, 결과적으로 상기 송신 유닛(17) 및/또는 수신 유닛(18)으로 구성되는 상기 측정 장치(16)의 적어도 하나의 컴포넌트(17, 18)에 대해 상기 하우징(11)의 안쪽에서 이동되는 상기 금속 제품(1)으로부터 기결정된 이격 간격을 설정하거나, 또는 목표한 바대로 변경하기 위해, 상기 측정 장치의 상기 적어도 하나의 컴포넌트(17, 18)가 상기 하우징(11)의 벽부(12)에 상대적으로, 그리고 상기 하우징(11)의 하나의 개구부(13, 14)의 영역에서, 또는 그에 인접하여 이동될 수 있는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  2. 제1항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 스트립형 재료로 형성되되, 상기 조정 장치(15a, 15b)는, 그에 따라 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛(18)이 각각 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 직각인 횡방향(T)으로, 그리고/또는 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 평행한 종방향(L)으로 이동 가능하게 조정될 수 있는 방식으로 배치되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 스트립형 재료로 형성되고, 상기 하우징(11)의 바깥쪽에는 파지 장치(H)가 제공되되, 상기 파지 장치 상에는 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛(18)이 장착되며, 상기 파지 장치(H)는 상기 금속 제품(1)에 상대적으로 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 평행한 종방향(L)으로 이동 가능하게 조정될 수 있는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징(11)은 상기 제1 개구부(13) 및/또는 제2 개구부(14)의 영역에 협폭 통로(19)를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징(11)은 상기 금속 제품(1)을 열처리하기 위한 노의 부분이고, 그리고/또는 상기 금속 제품(1)을 코팅하기 위한 설비의 부분인 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 개구부(13) 및 상기 제2 개구부(14)의 영역에는, 전자기 방사선 또는 대응하는 물리적 작용의 파들과 관련하여 투과성인, 특히 창의 형태인 각각 하나의 차폐부(20)가 제공되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  7. 제6항에 있어서, 상기 차폐부(20)는, 그에 따라 상기 하우징(11)의 내부 공간부(11i)에서부터 상기 개구부(13, 14)들을 통과하는 열 방사선이 상기 하우징의 주변환경(U)에서는 감소되는 방식으로 마련되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서, 상기 차폐부(20)들은 각각 상기 제1 개구부(13) 및 상기 제2 개구부(14)의 안쪽에 고정되고 그렇게 하여 주변환경(U)에 대해 상기 하우징(11)의 내부 공간부(11i)를 폐쇄하는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  9. 제6항 또는 제7항에 있어서, 상기 차폐부(20)는 특히 탄성 변형될 수 있는 실링 장치(23)와 연결되되, 상기 실링 장치(23)는 상기 제1 또는 제2 개구부(13, 14)의 테두리부들과 고정되고 그렇게 하여 상기 하우징(11)의 내부 공간부(11i)는 주변환경(U)에 대해 밀폐되며, 바람직하게는 상기 실링 장치(23)는 변형 가능한 벨로우즈의 형태로 형성되며, 추가로 바람직하게는 상기 벨로우즈는 횡단면과 관련하여 원형으로, 라운딩된 형태로, 타원형으로, 직사각형으로, 정사각형으로, 또는 이들 형태의 조합 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  10. 제9항에 있어서, 상기 실링 장치(23)의 적어도 하나의 단부면 및/또는 측면 섹션은 전자기 및/또는 열 방사선에 대한 보호층을 구비하는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  11. 제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 실링 장치(23)가 작동 연결되어 있는 조정 수단(32)들이 제공되되, 상기 조정 수단(32)들의 작동 시 상기 실링 장치(23)와 연결된 상기 차폐부(20)는 상기 하우징(11)의 안쪽으로, 또는 상기 하우징(11)에서 바깥쪽으로 이동될 수 있으며, 바람직하게는 상기 조정 수단(32)들은 텔레스코프 유형으로 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  12. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 실링 장치(23)를 위해, 상기 실링 장치의 종방향 연장부를 따라서, 그 종방향으로 상기 실링 장치(23)의 안정화를 보장하는 지지 수단(33)들이 제공되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  13. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 조정 장치(15a, 15b)는, 자신과 연결되는, 상기 측정 장치의 컴포넌트(17, 18)가 상기 하우징(11)의 안쪽으로 이동될 수 있는 방식으로 형성되며, 바람직하게는 상기 조정 장치(15a, 15b)는 텔레스코프 유형으로 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  14. 제6항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 차폐부들 내지 창(20)들, 및/또는 상기 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들 및/또는 상기 실링 장치(23)를 냉각할 수 있고, 그리고/또는 이들에 퍼지 가스를 공급할 수 있는데 이용되는 적어도 하나의 냉각 장치(24) 및/또는 적어도 하나의 퍼지 가스 장치(F)가 제공되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  15. 제14항에 있어서, 상기 냉각 장치(24)는, 상기 하우징(11)의 벽부(12) 내에, 또는 상기 실링 장치(23)의 재료 내에 형성되어 있는 적어도 하나의 냉각 라인(30) 또는 하나의 캐비티를 포함하며, 바람직하게는 상기 냉각 장치(24)는, 상기 측정 장치(16)의 하나의 컴포넌트(17, 18) 상에 장착되는 하나의 코일 튜브(25)를 포함하며, 추가로 바람직하게는 상기 퍼지 가스 장치(F)는 하나의 차폐부(20)에, 그리고/또는 상기 측정 장치(16)의 하나의 컴포넌트(17, 18)에 인접하여 장착되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  16. 제6항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 차폐부들 내지 창(20)들은 다층으로 형성되고, 상기 차폐부들 내지 창(20)들의 개별 층(21)들 사이에 하나의 캐비티(K)가 형성되되, 상기 캐비티(K)는 특히 냉각 기체의 형태인 냉각 유체에 의해 관류되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  17. 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 개구부(13)와 상기 제2 개구부(14)는 각각 상기 하우징(11)의 벽부(12)의 서로 반대되는 면들 내에 형성되며, 그리고 그에 상응하게 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)은 상기 하우징(11) 내에서 이동되는 상기 금속 제품(1)의 서로 반대되는 측들에 배치되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  18. 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 개구부(13)와 상기 제2 개구부(14)는 각각 상기 하우징(11)의 벽부(12)의 동일한 면 상에 형성되며, 그리고 그에 상응하게 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)은 상기 하우징(11) 내에서 이동되는 상기 금속 제품(1)의 동일한 측에 배치되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  19. 제18항에 있어서, 상기 제1 개구부(13)와 상기 제2 개구부(14)는, 상기 하우징(11)의 벽부(12) 내에서 하나의 공통 개구부(G)를 형성하는 방식으로 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  20. 제1항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 개구부(13) 및/또는 상기 제2 개구부(14)의 영역 내에 각각 하나의 폐쇄 장치(26)가 제공되되, 상기 측정 장치(16)의 할당된 컴포넌트(17, 18)가 상기 하우징(11)의 바깥쪽에, 그리고 그에 따라 상기 제1 또는 제2 개구부(14)의 바깥쪽에 위치될 때, 상기 제1 개구부(13) 및/또는 상기 제2 개구부(14)는 상기 폐쇄 장치(26)에 의해 폐쇄될 수 있는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  21. 제1항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징(11)의 내부 공간부(11i) 내에는 보호 슬라이딩 장치(28)들이 제공되되, 상기 보호 슬라이딩 장치들에 의해서는, 상기 제1 개구부(13) 및/또는 상기 제2 개구부(14)로부터, 그리고/또는 상기 측정 장치(16)의 컴포넌트(17, 18)들로부터, 그리고/또는 상기 실링 장치(23)로부터, 상기 하우징(11)의 내부 공간부(11i) 내에서 안내되는 상기 금속 제품(1)의 이격이 보장되며, 바람직하게는 상기 보호 슬라이딩 장치(28)들은 각각 프로파일 몸체들의 형태로, 특히 원형 프로파일들의 형태로 형성되며, 추가로 바람직하게는 상기 보호 슬라이딩 장치(28)들은 각각 회전 가능하게 장착되는 가이드 롤러들의 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  22. 제21항에 있어서, 상기 보호 슬라이딩 장치들은 회전 가능하게 장착된 적어도 하나의 가이드 롤러(28z)의 형태로 형성되되, 상기 가이드 롤러는, 결과적으로 상기 금속 제품(1)과 접촉하기 위해, 또는 상기 금속 제품(1) 상에 압력 힘을 가하기 위해, 상기 하우징(11)의 안쪽에서 병진 이동될 수 있으며, 바람직하게는 상기 보호 슬라이딩 장치들은 회전 가능하게 장착되는 한 쌍의 가이드 롤러(28z)로 형성되고, 상기 가이드 롤러들은 상기 금속 제품(1)의 일측에서 상기 하우징(11)의 벽부(12)의 제1 또는 제2 개구부(13, 14)에 인접하여 배치되며, 회전 가능하게 장착된 상기 가이드 롤러(28z)들 상호 간에 상대적인 이격 간격은, 상기 금속 제품(1)의 반대되는 측에 배치되어 있는 2개의 추가 보호 슬라이딩 장치(28) 간의 이격 간격과 다른 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  23. 제1항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 송신 유닛(17)은, 자체에 의해 생성된 전자기장이 전자기 방사선(S), 바람직하게는 X선 방사선을 방출하는 방식으로 형성되며, 상기 수신 유닛(18)은, 상기 금속 제품(1)의 재료와의 물리적 상호작용을 기반으로 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 X선 방사선(S')을 수신하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  24. 제1항 내지 제23항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 송신 유닛(17)은, 자체에 의해 레이저빔(S)이 방출되는 방식으로 형성되며, 상기 수신 유닛(18)은 상기 금속 제품(1)의 재료 내에서 상기 송신 유닛(17)에 의해 생성된 레이저빔을 통해 유도되는 물리적 상호작용을 수신하거나 검출하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  25. 제1항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 송신 유닛(17)과 상기 수신 유닛(18)은 IMPOC 측정 헤드의 구성부품이되, 상기 송신 유닛(17)은 자화 코일의 형태로 형성되고, 상기 수신 유닛(18)은 자계 센서의 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 장치(10).
  26. 금속 제품(1)의 야금 생산 동안 금속 제품(1)의 적어도 하나의 특성을 비접촉 방식으로 검출하기 위한 방법으로서, 금속 제품(1)은 특히 제1항 내지 제25항 중 어느 한 항에 따른 장치(10)의 하우징(11)을 통과하여 이동되고, 하나의 송신 유닛(17) 및 하나의 수신 유닛(18)으로 구성되는 적어도 하나의 측정 장치(16)가 이용되되, 최소한 송신 유닛(17)에 의해 전자기장이 생성되어 금속 제품(1) 상으로 지향되며, 그렇게 하여 금속 제품(1)의 재료 내에서는 물리적 상호작용이 유도되되, 그에 뒤이어 상기 물리적 상호작용의 잔존하고, 그리고/또는 결과로 초래되는 부분이 수신 유닛(18)에 의해 수신되는, 상기 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법에 있어서,
    결과적으로 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛(18)으로 구성되는 상기 측정 장치(16)의 적어도 하나의 컴포넌트(17, 18)에 대해 상기 금속 제품(1)으로부터 기결정된 이격 간격을 설정하거나 목표한 바대로 변경하기 위해, 상기 측정 장치(16)의 상기 적어도 하나의 컴포넌트는 상기 하우징(11)에, 또는 이 하우징 내에서 이동되는 상기 금속 제품(1)에 상대적으로, 그리고 상기 하우징(11)의 하나의 개구부(13, 14)의 영역에서, 또는 그에 인접하여 이동되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  27. 제26항에 있어서, 상기 측정 장치(16)의 적어도 하나의 컴포넌트(17, 18) 또는 두 컴포넌트(17, 18)는 조정 장치(15a, 15b)에 의해 상기 하우징(11)의 안쪽으로, 또는 상기 하우징(11)에서 바깥쪽으로 이동되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  28. 제26항 또는 제27항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 스트립형 재료로 형성되며, 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛(18)의 이동은 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 직각인 횡방향(T)으로 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  29. 제28항에 있어서, 횡방향(T)으로 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛(18)의 이동을 통해, 상기 하우징(11)의 안쪽에서 상기 금속 제품(1)의 변경된 위치, 및/또는 상기 측정 장치(16)의 적어도 하나의 컴포넌트(17, 18)와 상기 금속 제품(1) 간의 변경된 이격 간격이 보상되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  30. 제26항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 스트립형 재료로 형성되고, 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)이 그 상에 배치되는 곳인 파지 장치(H)가 제공되되, 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)의 이동은, 상기 파지 장치(H)가 상기 금속 제품(1)에 상대적으로 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 평행한 종방향(L)으로 조정되는 것을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  31. 제26항 또는 제27항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 스트립형 재료로 형성되며, 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛(18)의 이동은 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 평행한 종방향(L)으로 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  32. 제26항, 제27항 또는 제31항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 스트립형 재료로 형성되고, 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)이 그 상에 배치되는 곳인 파지 장치(H)가 제공되되, 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)의 이동은, 상기 파지 장치(H)가 상기 금속 제품(1)에 상대적으로 상기 스트립형 재료(1)의 표면에 대해 직각인 횡방향(T)으로 조정되는 것을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  33. 제30항 또는 제32항에 있어서, 상기 파지 장치(H)의 이동을 통해 상기 송신 유닛(17) 및/또는 상기 수신 유닛은 상기 하우징(11)으로부터 탈거되며, 그에 뒤이어 상기 측정 장치(16)의 적어도 하나의 컴포넌트(17, 18)를 위해 보정 및/또는 유지보수 작업이 수행되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  34. 제26항 내지 제33항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징(11)의 벽부(12) 내에는 상기 송신 유닛(17) 및 상기 수신 유닛(18)에 인접하여 각각 개구부(13, 14)들이 형성되며, 상기 개구부(13, 14)들의 영역에서 상기 송신 유닛(17) 또는 수신 유닛(18); 및/또는 특히 상기 제1 개구부(13) 및 상기 제2 개구부(14)의 영역에 제공되어 전자기장의 방사선파들 또는 그 자계선들과 관련하여 투과성인 창들의 형태인 차폐부(20)들;은 국소적으로 냉각되고, 그리고/또는 퍼지 가스(F)를 공급받는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  35. 제26항 내지 제34항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 송신 유닛(17)에 의해 생성된 전자기장에 의해서는, 대응하는 파들을 갖는, 바람직하게는 X선 방사선 또는 레이저 방사선의 형태인 전자기 방사선(S)이 방출되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  36. 제26항 내지 제34항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 금속 제품(1)의 재료는, 상기 송신 유닛(17)에 의해 생성된 전자기장을 통해 자화되며, 상기 수신 유닛(18)은, 잔류 자계 강도(A/㎡)의 기울기를 측정하기 위해, 자계 센서로서 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  37. 제26항 내지 제36항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 금속 제품(1)은 상기 하우징(11)을 통과하여 이송될 때 열처리되고, 그리고/또는 코팅되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  38. 제26항 내지 제37항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 금속 제품(1)의 특성은, 미세구조, 상 분율, 재결정화도, 입도, 조직, 극점도, 방위분포함수, 산화층 및/또는 기계적 특성값으로 형성된 군에서 선택되는 적어도 하나의 변수인 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
  39. 제26항 내지 제38항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법과 관련하여 제1항 내지 제25항 중 어느 한 항에 따르는 장치가 사용되는 것을 특징으로 하는 금속 제품의 적어도 하나의 특성의 비접촉식 검출 방법.
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Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL86504C (nl) * 1953-08-28 1957-10-15 Stamicarbon Werkwijze en inrichting voor het meten van de röntgenstralenabsorptie en het bewerken van kool.
JPS5938287B2 (ja) * 1979-10-29 1984-09-14 川崎製鉄株式会社 複合組織鋼板の連続焼鈍方法および装置
US5654977A (en) * 1995-02-02 1997-08-05 Teledyne Industries Inc. Method and apparatus for real time defect inspection of metal at elevated temperature
US6068539A (en) * 1998-03-10 2000-05-30 Lam Research Corporation Wafer polishing device with movable window
DE19962184A1 (de) * 1999-12-22 2001-07-19 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur in situ-Ermittlung des Umwandlungsgrads einer nichtmagnetischen Phase in eine ferromagnetische Phase eines metallischen Werkstücks
JP3618724B2 (ja) * 2002-03-25 2005-02-09 アンリツ産機システム株式会社 Ｘ線異物検出装置
DE102008008829B4 (de) * 2007-02-14 2008-11-20 Technische Universität Dresden Verfahren und Vorrichtung zur Registrierung von Realstruktur-Informationen in massiven Kristallkörpern mittels Röntgenstrahlung
CN102128841B (zh) * 2010-01-13 2015-04-08 东南大学 一种太赫兹成像系统的探测装置
WO2013021794A1 (en) * 2011-08-05 2013-02-14 Canon Kabushiki Kaisha Radiation generating apparatus and radiation imaging apparatus
DE102013225579A1 (de) * 2013-05-22 2014-11-27 Sms Siemag Ag Vorrichtung und Verfahren zur Steuerung und/oder Regelung eines Glüh- oder Wärmebehandlungsofens einer Metallmaterial bearbeitenden Fertigungsstraße
CN104470178A (zh) * 2013-09-18 2015-03-25 清华大学 X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备
CN105832353B (zh) * 2015-01-30 2020-11-06 佳能株式会社 放射线摄像系统
DE102015108060A1 (de) * 2015-05-21 2016-11-24 Ims Messsysteme Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung eines Gefüges eines Bands oder Blechs aus Metall
DE102016222644A1 (de) * 2016-03-14 2017-09-28 Sms Group Gmbh Verfahren zum Walzen und/oder zur Wärmebehandlung eines metallischen Produkts
DE102017208576A1 (de) * 2016-05-25 2017-11-30 Sms Group Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Ermitteln einer Mikrostruktur eines Metallprodukts sowie metallurgische Anlage
JP2018115859A (ja) * 2017-01-16 2018-07-26 住友電気工業株式会社 Ｘ線分析用セル、ｘ線分析用容器、ｘ線分析用装置およびｘ線分析方法
JP6432645B1 (ja) * 2017-06-28 2018-12-05 Ｊｆｅスチール株式会社 焼鈍炉中の鋼板の磁気変態率測定方法および磁気変態率測定装置、連続焼鈍プロセス、連続溶融亜鉛めっきプロセス
BE1025588A9 (fr) 2018-06-01 2019-04-29 Centre De Recherches Metallurgiques Asbl Centrum Voor Res In De Metallurgie Vzw Dispositif de mesure en ligne du pourcentage d'austénite dans les aciers

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