KR20220027358A - 광학 보상 장치 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템 - Google Patents

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Abstract

광학 보상 장치가 제공된다. 광학 보상 장치는 영상을 표시하는 표시 패널의 기준 지점 및 상기 기준 지점으로부터 이격된 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터를 생성하는 계측부, 상기 표시 패널의 전면을 촬영하여 촬영 이미지를 생성하는 카메라부, 및 상기 기준 지점의 계측 데이터, 상기 기준 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터, 상기 주변 지점의 계측 데이터, 및 상기 주변 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 스케일링 값을 산출하고, 상기 주변 지점의 스케일링 값과 상기 기준 지점의 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하는 보상부를 포함한다.

Description

광학 보상 장치 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템{OPTICAL COMPENSATION DEVICE AND OPTICAL COMPENSATION SYSTEM INCLUDING THE SAME}
본 발명은 표시 패널의 광학 보상 데이터를 생성하는 광학 보상 장치 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템에 관한 것이다.
표시 장치의 복수의 화소의 휘도는 균일하지 않을 수 있다. 예를 들어, 표시 장치의 휘도 균일도는 화소들 간의 구동 트랜지스터의 전기적 특성의 편차, 화소들 간의 구동 전압의 편차, 및 화소들 간의 발광 소자의 열화 편차에 의하여 악화될 수 있다.
광학 보상 장치는 카메라를 이용하여 표시 장치의 휘도를 보상할 수 있다. 카메라의 촬영 이미지는 비네팅(Vignetting) 현상에 의해 불균일한 휘도를 가질 수 있고, 광학 보상 장치는 표시 장치의 일부 영역에 대하여 휘도를 과도하게 보상할 수 있다. 이 경우, 표시 장치의 휘도 균일도가 개선되지 않을 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 카메라부의 비네팅(Vignetting) 현상을 방지하여 카메라부의 특성에 의한 왜곡을 제거하고, 표시 패널이 균일한 휘도를 갖지 못하는 경우에도 보상 데이터를 통해 표시 패널의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있는 광학 보상 장치 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템을 제공하고자 하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예의 광학 보상 장치는 영상을 표시하는 표시 패널의 기준 지점 및 상기 기준 지점으로부터 이격된 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터를 생성하는 계측부, 상기 표시 패널의 전면을 촬영하여 촬영 이미지를 생성하는 카메라부, 및 상기 기준 지점의 계측 데이터, 상기 기준 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터, 상기 주변 지점의 계측 데이터, 및 상기 주변 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 스케일링 값을 산출하고, 상기 주변 지점의 스케일링 값과 상기 기준 지점의 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하는 보상부를 포함한다.
상기 보상부는 상기 주변 지점의 촬영 데이터 및 상기 주변 지점의 계측 데이터의 비와 상기 기준 지점의 계측 데이터 및 상기 기준 지점의 촬영 데이터의 비를 곱하여 상기 스케일링 값을 산출할 수 있다.
상기 보상부는 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 상기 주변 지점의 스케일링 값을 곱하여 상기 주변 지점의 보상 데이터를 산출할 수 있다.
상기 보상부는 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 동일한 상기 기준 지점의 보상 데이터를 생성할 수 있다.
상기 보상부는 상기 기준 지점의 보상 데이터와 상기 주변 지점의 보상 데이터를 기초로 보간법을 수행하여, 상기 기준 지점과 상기 주변 지점 사이의 특정 지점의 보상 데이터를 생성할 수 있다.
상기 기준 지점의 계측 데이터와 상기 주변 지점의 계측 데이터가 동일하고, 상기 기준 지점의 촬영 데이터가 상기 주변 지점의 촬영 데이터보다 큰 경우, 상기 주변 지점의 보상 데이터는 상기 기준 지점의 보상 데이터보다 작을 수 있다.
상기 기준 지점의 계측 데이터가 상기 주변 지점의 계측 데이터보다 크고, 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 상기 주변 지점의 촬영 데이터가 동일한 경우, 상기 주변 지점의 보상 데이터는 상기 기준 지점의 보상 데이터보다 클 수 있다.
상기 계측부는 상기 표시 패널의 기준 지점 또는 상기 표시 패널의 적어도 하나의 주변 지점에 직접 접촉하여 상기 기준 지점 또는 상기 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정할 수 있다.
상기 보상부는 상기 카메라부의 촬영 이미지를 전처리하여 상기 기준 지점 및 상기 적어도 하나의 주변 지점 각각에 대응되는 촬영 데이터를 생성하는 전처리 모듈, 상기 스케일링 값을 산출하는 스케일링 모듈, 및 상기 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성 모듈을 포함할 수 있다.
상기 전처리 모듈은 상기 표시 패널의 복수의 화소 및 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 얼라인먼트하고, 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 필터링하여 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 상기 표시 패널의 복수의 화소 각각에 매칭시킬 수 있다.
상기 전처리 모듈은 가우시안 필터를 사용하여 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 필터링할 수 있다.
상기 계측부는 상기 표시 패널에서 표시된 적색 영상, 녹색 영상, 및 청색 영상 각각의 휘도를 측정하여 상기 적색 영상, 상기 녹색 영상, 및 상기 청색 영상 각각의 계측 데이터를 생성할 수 있다.
상기 계측부는 상기 표시 패널에서 표시된 백색 영상의 휘도를 측정하여 상기 백색 영상의 계측 데이터를 생성할 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예의 광학 보상 시스템은 영상을 표시하는 표시 패널을 포함하는 표시 장치, 및 상기 표시 장치의 영상을 기초로 보상 데이터를 생성하는 광학 보상 장치를 포함하고, 상기 광학 보상 장치는 상기 표시 패널의 기준 지점 및 상기 기준 지점으로부터 이격된 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터를 생성하는 계측부, 상기 표시 패널의 전면을 촬영하여 촬영 이미지를 생성하는 카메라부, 및 상기 기준 지점의 계측 데이터, 상기 기준 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터, 상기 주변 지점의 계측 데이터, 및 상기 주변 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 스케일링 값을 산출하고, 상기 주변 지점의 스케일링 값과 상기 기준 지점의 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하는 보상부를 포함한다.
상기 보상부는 상기 주변 지점의 촬영 데이터 및 상기 주변 지점의 계측 데이터의 비와 상기 기준 지점의 계측 데이터 및 상기 기준 지점의 촬영 데이터의 비를 곱하여 상기 스케일링 값을 산출할 수 있다.
상기 보상부는 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 상기 주변 지점의 스케일링 값을 곱하여 상기 주변 지점의 보상 데이터를 산출할 수 있다.
상기 표시 장치는 상기 표시 패널의 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부, 상기 표시 패널의 게이트 라인에 게이트 신호를 공급하는 게이트 구동부, 상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 제어부, 및 상기 보상 데이터를 저장하고 상기 타이밍 제어부에 공급하는 메모리를 더 포함할 수 있다.
상기 보상부는 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하여 상기 메모리에 공급할 수 있다.
상기 타이밍 제어부는 상기 메모리로부터 상기 주변 지점의 보상 데이터를 수신하고, 상기 보상 데이터 및 상기 데이터 구동부의 동작 타이밍을 제어하는 데이터 제어 신호를 상기 데이터 구동부에 공급할 수 있다.
상기 데이터 구동부는 상기 주변 지점의 보상 데이터를 기초로 상기 데이터 전압을 생성할 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
실시예들에 따른 광학 보상 장치 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템에 의하면, 기준 지점의 계측 데이터, 기준 지점의 촬영 데이터, 주변 지점의 계측 데이터, 및 주변 지점의 촬영 데이터를 반영한 스케일링 값 및 보상 데이터를 생성함으로써, 카메라부의 비네팅 현상을 방지하여 카메라부의 특성에 의한 왜곡을 제거할 수 있다. 또한, 광학 보상 장치 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템은 표시 패널이 균일한 휘도를 갖지 못하는 경우, 보상 데이터를 통해 표시 패널의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다.
실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템을 나타내는 블록도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 계측부의 계측 데이터 생성 과정을 나타내는 도면이다.
도 3은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 카메라부의 촬영 이미지 생성 과정을 나타내는 도면이다.
도 4는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 보상부를 나타내는 블록도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 광학 보상 과정의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 광학 보상 과정의 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 광학 보상 과정을 나타내는 순서도이다.
도 8은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 도 7에 도시된 계측 데이터의 생성 과정을 나타내는 순서도이다.
도 9는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 도 7에 도시된 촬영 데이터의 생성 과정을 나타내는 순서도이다.
도 10은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 도 7에 도시된 보상 데이터의 생성 과정을 나타내는 순서도이다.
도 11은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템의 색 좌표 특성을 나타내는 그래프이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 구체적인 실시예들에 대해 설명한다.
도 1은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템을 나타내는 블록도이고, 도 2는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 계측부의 계측 데이터 생성 과정을 나타내는 도면이다. 도 3은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 카메라부의 촬영 이미지 생성 과정을 나타내는 도면이고, 도 4는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 보상부를 나타내는 블록도이다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 광학 보상 시스템은 광학 보상 장치(100) 및 표시 장치(200)를 포함할 수 있다.
*광학 보상 장치(100)는 표시 장치(200)의 영상을 기초로 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있고, 보상 데이터(DATA)를 표시 장치(200)의 메모리(270)에 제공할 수 있다.
광학 보상 장치(100)는 계측부(110), 카메라부(120) 및 보상부(130)를 포함할 수 있다.
계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도 또는 색도를 측정할 수 있고, 측정된 휘도 또는 색도를 기초로 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점에 직접 접촉하여 특정 지점의 휘도를 측정할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 따라서, 계측부(110)는 표시 패널(210)의 복수의 지점의 휘도를 측정함으로써, 표시 패널(210)의 영역 별 휘도를 측정할 수 있다.
계측부(110)는 기준 지점(RP)의 휘도를 측정하여 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 계측부(110)는 적어도 하나의 주변 지점(TP)의 휘도를 측정하여 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 계측부(110)는 계측이 필요한 제1 주변 지점(TP1) 및 제2 주변 지점(TP2) 각각을 직접 접촉하여 제1 및 제2 주변 지점(TP1, TP2)의 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 기준 지점(RP)은 표시 패널(210)의 중앙부에 해당하고, 제1 주변 지점(TP1)은 표시 패널(210)의 우측 가장자리에 해당하며, 제2 주변 지점(TP2)은 표시 패널(210)의 우측 하부 모서리에 해당할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 계측부(110)는 휘도 측정이 필요한 복수의 주변 지점(TP)의 휘도를 측정할 수 있다. 광학 보상 시스템은 측정된 주변 지점(TP)의 개수가 증가할수록 표시 패널(210)의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다. 계측부(110)는 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD), 제1 및 제2 주변 지점(TP1, TP2)의 계측 데이터(MD)를 보상부(130)에 제공할 수 있다.
예를 들어, 계측부(110)는 표시 장치(200)가 제조된 후 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도를 측정할 수 있다. 이 경우, 계측부(110)는 사용자의 지정에 따라 필요한 시점에 표시 패널(210)의 휘도를 측정할 수 있고, 광학 보상 장치(100)는 해당 시점 마다 새로운 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다.
다른 예를 들어, 계측부(110)는 표시 장치(200)의 제조 과정에서 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD)를 저장할 수 있다. 광학 보상 장치(100)는 저장된 계측 데이터(MD)를 필요한 시점에 수신하여, 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다.
카메라부(120)는 표시 패널(210)의 전면(Full Surface)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있다. 카메라부(120)는 표시 패널(210)의 복수의 화소(SP)의 휘도 정보를 갖는 촬영 이미지(PI)를 생성하여 보상부(130)에 제공할 수 있다. 따라서, 촬영 이미지(PI)는 기준 지점(RP), 제1 및 제2 주변 지점(TP1, TP2)의 휘도 정보를 가질 수 있다.
촬영 이미지(PI)는 비네팅(Vignetting) 현상에 의해 불균일한 휘도를 가질 있다. 비네팅(Vignetting) 현상은 카메라부(120)의 특성에 의해 촬영 이미지(PI)의 외곽부의 휘도가 왜곡되어 발생할 수 있다. 예를 들어, 카메라부(120)의 광량은 카메라부(120)의 렌즈의 외곽부로 갈수록 감소할 수 있다. 이 경우, 카메라부(120)의 촬영 이미지(PI)는 표시 패널(210)의 실제 휘도와 상이할 수 있다. 표시 패널(210)의 전면(Full Surface)이 균일한 휘도를 갖는 경우, 촬영 이미지(PI)의 외곽부의 휘도는 촬영 이미지(PI)의 중심부의 휘도 보다 낮을 수 있다.
보상부(130)는 전처리 모듈(131), 스케일링 모듈(132) 및 보상 데이터 생성 모듈(133)을 포함할 수 있다.
전처리 모듈(131)은 카메라부(120)의 촬영 이미지(PI)를 수신하여 촬영 이미지(PI)를 전처리할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 전처리 과정에서 촬영 이미지(PI)의 명암 대비도를 개선하고 촬영 이미지(PI)의 노이즈를 제거하여 촬영 이미지(PI)의 휘도를 보정할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)를 전처리하여 기준 지점(RP) 및 적어도 하나의 주변 지점(TP) 각각에 대응되는 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다.
전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소 및 표시 패널(210)의 복수의 화소를 얼라인먼트할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소를 필터링하여 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소를 표시 패널(210)의 복수의 화소 각각에 매칭시킬 수 있다. 전처리 모듈(131)은 가우시안 필터(Gaussian Filter)를 사용하여 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소를 필터링할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 전처리 모듈(131)은 가우시안 필터를 사용하여 촬영 이미지(PI)를 4×4 화소 단위로 필터링할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)의 4×4 화소들(4 by 4 pixels)을 표시 패널(210)의 복수의 화소 각각에 매칭시킬 수 있다. 전처리 모듈(131)은 필터링된 화소 값을 기초로 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다.
전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI) 중 기준 지점(RP)에 대응되는 복수의 화소를 전처리하여 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI) 중 제1 주변 지점(TP1)에 대응되는 복수의 화소를 전처리하여 제1 주변 지점(TP1)의 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI) 중 제2 주변 지점(TP2)에 대응되는 복수의 화소를 전처리하여 제2 주변 지점(TP2)의 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다.
스케일링 모듈(132)은 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD), 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID), 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD), 및 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID)를 기초로 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)을 산출할 수 있다. 스케일링 모듈(132)은 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID) 및 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD)의 비와 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD) 및 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)의 비를 곱하여 스케일링 값(SV)을 산출할 수 있다.
예를 들어, 스케일링 모듈(132)은 하기의 수학식 1을 이용하여 제1 주변 지점(TP1)의 스케일링 값(SV1)을 산출할 수 있다.
Figure pat00001
여기에서, "SV1"은 제1 주변 지점(TP1)의 스케일링 값, "ID1"은 제1 주변 지점(TP1)의 촬영 데이터, "MD1"은 제1 주변 지점(TP1)의 계측 데이터, "MD0"는 기준 지점(RP)의 계측 데이터, "ID0"는 기준 지점(RP)의 촬영 데이터를 의미한다. 따라서, 스케일링 모듈(132)은 제1 주변 지점(TP1)의 촬영 데이터(ID1) 및 제1 주변 지점(TP1)의 계측 데이터(MD1)의 비와 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD0) 및 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)의 비를 곱하여 제1 주변 지점(TP1)의 스케일링 값(SV1)을 산출할 수 있다.
예를 들어, 스케일링 모듈(132)은 하기의 수학식 2를 이용하여 제2 주변 지점(TP2)의 스케일링 값(SV2)을 산출할 수 있다.
Figure pat00002
여기에서, "SV2"는 제2 주변 지점(TP2)의 스케일링 값, "ID2"는 제2 주변 지점(TP2)의 촬영 데이터, "MD2"는 제2 주변 지점(TP2)의 계측 데이터, "MD0"는 기준 지점(RP)의 계측 데이터, "ID0"는 기준 지점(RP)의 촬영 데이터를 의미한다. 따라서, 스케일링 모듈(132)은 제2 주변 지점(TP2)의 촬영 데이터(ID2) 및 제2 주변 지점(TP2)의 계측 데이터(MD2)의 비와 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD0) 및 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)의 비를 곱하여 제2 주변 지점(TP2)의 스케일링 값(SV2)을 산출할 수 있다.
보상 데이터 생성 모듈(133)은 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)과 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)를 기초로 주변 지점(TP)의 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다. 보상 데이터 생성 모듈(133)은 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)와 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)을 곱하여 주변 지점(TP)의 보상 데이터(DATA)를 산출할 수 있다.
예를 들어, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 하기의 수학식 3을 이용하여 제1 주변 지점(TP1)의 보상 데이터(DATA1)를 산출할 수 있다.
Figure pat00003
여기에서, "DATA1"은 제1 주변 지점(TP1)의 보상 데이터, "ID0"는 기준 지점(RP)의 촬영 데이터, "SV1"은 제1 주변 지점(TP1)의 스케일링 값을 의미한다. 따라서, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)와 제1 주변 지점(TP1)의 스케일링 값(SV1)을 곱하여 제1 주변 지점(TP1)의 보상 데이터(DATA1)를 산출할 수 있다.
예를 들어, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 하기의 수학식 4를 이용하여 제2 주변 지점(TP2)의 보상 데이터(DATA2)를 산출할 수 있다.
Figure pat00004
여기에서, "DATA2"는 제2 주변 지점(TP2)의 보상 데이터, "ID0"는 기준 지점(RP)의 촬영 데이터, "SV2"는 제2 주변 지점(TP2)의 스케일링 값을 의미한다. 따라서, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)와 제2 주변 지점(TP2)의 스케일링 값(SV2)을 곱하여 제2 주변 지점(TP2)의 보상 데이터(DATA2)를 산출할 수 있다.
스케일링 모듈(132)은 기준 지점(RP)의 스케일링 값(SV0)으로 1을 설정할 수 있다. 따라서, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)와 동일한 기준 지점(RP)의 보상 데이터(DATA0)를 산출할 수 있다.
예를 들어, 스케일링 모듈(132) 및 보상 데이터 생성 모듈(133)은 하기의 표 1과 같은 기준 지점(RP), 제1 및 제2 주변 지점(TP1, TP2) 각각의 스케일링 값(SV) 및 보상 데이터(DATA)를 산출할 수 있다.
계측 데이터
(MD)		 촬영 데이터
(ID)		 스케일링 값
(SV)		 보상 데이터
(DATA)
기준 지점(RP) 100 100 1 100
제1 주변 지점(TP1) 100 90 0.9 90
제2 주변 지점(TP2) 90 100 1.11 111
표 1에서, 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD0)와 제1 주변 지점(TP1)의 계측 데이터(MD1)가 동일하고, 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)가 제1 주변 지점(TP1)의 촬영 데이터(ID1)보다 큰 경우, 제1 주변 지점(TP1)의 보상 데이터(DATA1)는 기준 지점(RP)의 보상 데이터(DATA0)보다 작을 수 있다. 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD0)가 제2 주변 지점(TP2)의 계측 데이터(MD2)보다 크고, 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID0)와 제2 주변 지점(TP2)의 촬영 데이터(ID2)가 동일한 경우, 제2 주변 지점(TP2)의 보상 데이터(DATA2)는 기준 지점(RP)의 보상 데이터(DATA0)보다 클 수 있다보상부(130)는 생성된 기준 지점(RP)의 보상 데이터(DATA0), 제1 주변 지점(TP1)의 보상 데이터(DATA1), 및 제2 주변 지점(TP2)의 보상 데이터(DATA2)를 표시 장치(200)의 메모리(270)에 제공할 수 있다.보상부(130)는 기준 지점(RP)의 보상 데이터(DATA0)와 제1 주변 지점(TP1)의 보상 데이터(DATA1)를 기초로 보간법을 수행하여, 기준 지점(RP)과 제1 주변 지점(TP1) 사이의 특정 지점의 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다. 보상부(130)는 기준 지점(RP)의 보상 데이터(DATA0)와 제2 주변 지점(TP2)의 보상 데이터(DATA2)를 기초로 보간법을 수행하여, 기준 지점(RP)과 제2 주변 지점(TP2) 사이의 특정 지점의 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다.
*따라서, 보상부(130)는 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD), 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID), 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD), 및 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID)를 반영한 스케일링 값(SV) 및 보상 데이터(DATA)를 생성함으로써, 카메라부(120)의 비네팅(Vignetting) 현상을 방지하여 카메라부(120)의 특성에 의한 왜곡을 제거할 수 있다. 또한, 보상부(130)는 표시 패널(210)이 균일한 휘도를 갖지 못하는 경우, 보상 데이터(DATA)를 통해 표시 패널(210)의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다.
표시 장치(200)는 동영상이나 정지 영상을 표시하는 장치로서, 모바일 폰(Mobile Phone), 스마트 폰(Smart Phone), 태블릿 PC(Tablet Personal Computer), 및 스마트 워치(Smart Watch), 워치 폰(Watch Phone), 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 네비게이션, UMPC(Ultra Mobile PC) 등과 같은 휴대용 전자 기기뿐만 아니라, 텔레비전, 노트북, 모니터, 광고판, 사물 인터넷(Internet of Things, IOT) 등의 다양한 제품의 표시 화면으로 사용될 수 있다.
표시 장치(200)는 유기 발광 다이오드를 이용하는 유기 발광 표시 장치, 양자점 발광층을 포함하는 양자점 발광 표시 장치, 무기 발광 다이오드를 포함하는 무기 발광 표시 장치, 및 초소형 발광 다이오드를 포함하는 초소형 발광 표시 장치일 수 있다.
표시 장치(200)는 표시 패널(210), 타이밍 제어부(220), 데이터 구동부(230), 전압 공급부(240), 게이트 구동부(250), 발광 제어 구동부(260), 및 메모리(270)를 포함한다.
표시 패널(210)은 복수의 화소(SP)가 형성되어 영상을 표시하는 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)의 주변 영역인 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 표시 영역(DA)은 복수의 화소(SP), 복수의 화소(SP)에 접속되는 게이트 라인들(GL), 발광 제어 라인들(EML), 데이터 라인들(DL), 및 구동 전압 라인들(VDDL)을 포함할 수 있다. 게이트 라인들(GL)과 발광 제어 라인들(EML)은 제1 방향(또는 수평 방향)으로 나란하게 형성되고, 데이터 라인들(DL)과 구동 전압 라인(VDDL)은 제1 방향과 교차하는 제2 방향(수직 방향)으로 나란하게 형성될 수 있다.
복수의 화소(SP) 각각은 구동 트랜지스터, 적어도 하나의 스위칭 트랜지스터, 발광 소자, 및 적어도 하나의 커패시터를 포함할 수 있다. 스위칭 트랜지스터는 게이트 라인(GL)으로부터 게이트 신호가 인가되는 경우 턴-온될 수 있고, 데이터 라인(DL)의 데이터 전압은 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 인가될 수 있다. 구동 트랜지스터는 게이트 전극에 인가된 데이터 전압에 따라 발광 소자에 구동 전류를 공급할 수 있고, 발광 소자는 구동 전류의 크기에 따라 소정의 휘도를 갖는 광을 방출할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자는 유기 발광 다이오드, 무기 발광 다이오드, 또는 초소형 발광 다이오드일 수 있다. 커패시터는 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 인가된 데이터 전압을 일정하게 유지할 수 있다.
비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 바깥쪽에서부터 표시 패널(210)의 가장자리까지의 영역으로 정의될 수 있다.
타이밍 제어부(220)는 메모리(270)로부터 보상 데이터(DATA)를 수신할 수 있고, 회로 보드(미도시)로부터 타이밍 신호들을 입력 받을 수 있다. 타이밍 제어부(220)는 타이밍 신호들을 기초로 데이터 구동부(230)의 동작 타이밍을 제어하는 데이터 제어 신호(DCS)를 생성하고, 게이트 구동부(250)의 동작 타이밍을 제어하는 게이트 제어 신호(GCS)를 생성하며, 발광 제어 구동부(260)의 동작 타이밍을 제어하는 발광 제어 신호(ECS)를 생성할 수 있다. 타이밍 제어부(220)는 보상 데이터(DATA)와 데이터 제어 신호(DCS)를 데이터 구동부(230)에 공급할 수 있다. 타이밍 제어부(220)는 게이트 제어 신호(GCS)를 게이트 구동부(250)에 공급하고, 발광 제어 신호(ECS)를 발광 제어 구동부(260)에 공급할 수 있다.
데이터 구동부(230)는 보상 데이터(DATA)를 데이터 전압으로 변환하여 팬 아웃 라인들을 통해 데이터 라인들(DL)에 공급할 수 있다. 게이트 구동부(250)의 게이트 신호들은 데이터 전압이 공급될 복수의 화소(SP)를 선택할 수 있고, 데이터 구동부(230)는 선택된 복수의 화소(SP)에 데이터 전압을 공급할 수 있다.
전원 공급부(240)는 구동 전압을 생성하여 구동 전압 라인(VDDL)에 공급할 수 있다. 전원 공급부(240)는 공통 전압을 생성하여 복수의 화소(SP) 각각의 발광 소자의 캐소드 전극에 공급할 수 있다. 예를 들어, 구동 전압은 발광 소자의 구동을 위한 고전위 전압일 수 있으며, 공통 전압은 발광 소자의 구동을 위한 저전위 전압일 수 있다.
게이트 구동부(250)는 게이트 제어 신호(GCS)를 기초로 게이트 신호들을 생성하고, 게이트 신호들을 게이트 라인들(GL)에 순차적으로 출력할 수 있다. 게이트 구동부(250)는 복수의 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다. 게이트 구동부(250)의 박막 트랜지스터들은 복수의 화소(SP)의 박막 트랜지스터들과 동일 층에 형성될 수 있다. 예를 들어, 게이트 구동부(250)는 표시 영역(DA)의 일 측, 예를 들어 좌측의 비표시 영역(NDA)에 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 다른 예를 들어, 게이트 구동부(250)는 표시 영역(DA)의 양 측, 예를 들어, 좌측과 우측의 비표시 영역(NDA)에 형성될 수 있다.
발광 제어 구동부(260)는 발광 제어 신호(ECS)에 따라 발광 제어 신호들을 생성하고, 발광 제어 신호들을 발광 제어 라인들(EML)에 순차적으로 출력할 수 있다.
메모리(270)는 광학 보상 장치(100)로부터 보상 데이터(DATA)를 수신하여 저장할 수 있다. 메모리(270)는 보상 데이터(DATA)를 타이밍 제어부(220)에 공급할 수 있다.
도 5는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 광학 보상 과정의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 표시 패널(210)은 제1 내지 제3 화소들(SP1, SP2, SP3)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 화소들(SP1)은 제1 색의 광 또는 적색 광을 방출할 수 있고, 제2 화소들(SP2)은 제2 색의 광 또는 녹색 광을 방출할 수 있으며, 제3 화소들(SP3)은 제3 색의 광 또는 청색 광을 방출할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
표시 패널(210)의 제1 화소들(SP1)이 제1 색의 광을 방출하는 경우, 계측부(110)는 제1 색 영상의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD_R)를 생성할 수 있다. 카메라부(120)는 제1 색의 영상을 표시하는 표시 패널(210)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있고, 전처리 모듈(131)은 제1 색의 촬영 이미지(PI)를 기초로 제1 색의 촬영 데이터(ID_R)을 생성할 수 있다. 스케일링 모듈(132)은 제1 색의 스케일링 값(SV_R)을 산출할 수 있고, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 제1 색의 보상 데이터(DATA_R)를 산출할 수 있다. 따라서, 보상부(130)는 제1 색의 보상 데이터(DATA_R)를 메모리(270)에 제공할 수 있다.
표시 패널(210)의 제2 화소들(SP2)이 제2 색의 광을 방출하는 경우, 계측부(110)는 제2 색 영상의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD_G)를 생성할 수 있다. 카메라부(120)는 제2 색의 영상을 표시하는 표시 패널(210)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있고, 전처리 모듈(131)은 제2 색의 촬영 이미지(PI)를 기초로 제2 색의 촬영 데이터(ID_G)을 생성할 수 있다. 스케일링 모듈(132)은 제2 색의 스케일링 값(SV_G)을 산출할 수 있고, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 제2 색의 보상 데이터(DATA_G)를 산출할 수 있다. 따라서, 보상부(130)는 제2 색의 보상 데이터(DATA_G)를 메모리(270)에 제공할 수 있다.
표시 패널(210)의 제3 화소들(SP3)이 제3 색의 광을 방출하는 경우, 계측부(110)는 제3 색 영상의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD_B)를 생성할 수 있다. 카메라부(120)는 제3 색의 영상을 표시하는 표시 패널(210)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있고, 전처리 모듈(131)은 제3 색의 촬영 이미지(PI)를 기초로 제3 색의 촬영 데이터(ID_B)을 생성할 수 있다. 스케일링 모듈(132)은 제3 색의 스케일링 값(SV_B)을 산출할 수 있고, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 제3 색의 보상 데이터(DATA_B)를 산출할 수 있다. 따라서, 보상부(130)는 제3 색의 보상 데이터(DATA_B)를 메모리(270)에 제공할 수 있다.
따라서, 광학 보상 장치(100)는 표시 패널(210)의 제1 색의 영상, 제2 색의 영상, 및 제3 색의 영상 각각을 기초로 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있고, 표시 패널(210)의 제1 색의 영상, 제2 색의 영상, 및 제3 색의 영상의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다.
도 6은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 광학 보상 과정의 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 표시 패널(210)은 제1 내지 제3 화소들(SP1, SP2, SP3)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 화소들(SP1)은 제1 색의 광 또는 적색 광을 방출할 수 있고, 제2 화소들(SP2)은 제2 색의 광 또는 녹색 광을 방출할 수 있으며, 제3 화소들(SP3)은 제3 색의 광 또는 청색 광을 방출할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
표시 패널(210)의 제1 내지 제3 화소들(SP1, SP2, SP3)이 광을 방출하는 경우, 표시 패널(210)은 백색 광을 방출할 수 있다. 계측부(110)는 백색 광의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 카메라부(120)는 백색의 영상을 표시하는 표시 패널(210)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있고, 전처리 모듈(131)은 백색의 촬영 이미지(PI)를 기초로 백색의 촬영 데이터(ID)을 생성할 수 있다. 스케일링 모듈(132)은 백색의 스케일링 값(SV)을 산출할 수 있고, 보상 데이터 생성 모듈(133)은 백색의 보상 데이터(DATA)를 산출할 수 있다. 따라서, 보상부(130)는 백색의 보상 데이터(DATA)를 메모리(270)에 제공할 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 광학 보상 과정을 나타내는 순서도이다.
도 7을 참조하면, 계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다(단계 S110). 계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도 또는 색도를 측정할 수 있고, 측정된 휘도 또는 색도를 기초로 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다.
카메라부(120)는 표시 패널(210)의 전면(Full Surface)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 카메라부(120)의 촬영 이미지(PI)를 수신하여 촬영 이미지(PI)를 전처리할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)를 전처리하여 기준 지점(RP) 및 적어도 하나의 주변 지점(TP) 각각에 대응되는 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다(단계 S200).
스케일링 모듈(132)은 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD), 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID), 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD), 및 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID)를 기초로 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)을 산출할 수 있다. 보상 데이터 생성 모듈(133)은 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)과 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)를 기초로 주변 지점(TP)의 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다(단계 S300).
보상부(130)는 생성된 보상 데이터(DATA)를 표시 장치(200)의 메모리(270)에 제공할 수 있다. 타이밍 제어부(220)는 메모리(270)로부터 보상 데이터(DATA)를 수신할 수 있고, 회로 보드(미도시)로부터 타이밍 신호들을 입력 받을 수 있다. 데이터 구동부(230)는 타이밍 제어부(220)로부터 보상 데이터(DATA)를 수신하여 데이터 전압을 생성할 수 있다(단계 S400).
데이터 구동부(230)는 데이터 전압을 데이터 라인들(DL)에 공급할 수 있다. 게이트 구동부(250)의 게이트 신호들은 데이터 전압이 공급될 복수의 화소(SP)를 선택할 수 있고, 데이터 구동부(230)는 선택된 복수의 화소(SP)에 데이터 전압을 공급할 수 있다.
도 8은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 도 7에 도시된 계측 데이터의 생성 과정을 나타내는 순서도이다.
도 8을 참조하면, 계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점의 휘도 또는 색도를 측정할 수 있고, 측정된 휘도 또는 색도를 기초로 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 계측부(110)는 표시 패널(210)의 특정 지점에 직접 접촉하여 특정 지점의 휘도를 측정할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
계측부(110)는 기준 지점(RP)의 휘도를 측정하여 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD0)를 생성할 수 있다(단계 S110).
계측부(110)는 적어도 하나의 주변 지점(TP)의 휘도를 측정하여 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD)를 생성할 수 있다(단계 S120). 예를 들어, 계측부(110)는 제1 주변 지점(TP1)의 휘도를 측정하여 제1 주변 지점(TP1)의 계측 데이터(MD1)를 생성할 수 있고, 제2 주변 지점(TP2)의 휘도를 측정하여 제2 주변 지점(TP2)의 계측 데이터(MD2)를 생성할 수 있다.
도 9는 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 도 7에 도시된 촬영 데이터의 생성 과정을 나타내는 순서도이다.
도 9를 참조하면, 카메라부(120)는 표시 패널(210)의 전면(Full Surface)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있다(단계 S210).
전처리 모듈(131)은 카메라부(120)의 촬영 이미지(PI)를 수신하여 촬영 이미지(PI)를 전처리할 수 있다. 전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소 및 표시 패널(210)의 복수의 화소를 얼라인먼트할 수 있다(단계 S220).
전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소를 필터링할 수 있다(단계 S230). 예를 들어, 전처리 모듈(131)은 가우시안 필터(Gaussian Filter)를 사용하여 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소를 필터링할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
전처리 모듈(131)은 촬영 이미지(PI)의 복수의 화소를 표시 패널(210)의 복수의 화소 각각에 매칭하여 촬영 데이터(ID)를 생성할 수 있다(단계 S240).
도 10은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템에서, 도 7에 도시된 보상 데이터의 생성 과정을 나타내는 순서도이다.
도 10을 참조하면, 스케일링 모듈(132)은 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD), 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID), 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD), 및 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID)를 기초로 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)을 산출할 수 있다. 스케일링 모듈(132)은 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID) 및 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD)의 비와 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD) 및 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)의 비를 곱하여 스케일링 값(SV)을 산출할 수 있다(단계 S310).
보상 데이터 생성 모듈(133)은 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)과 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)를 기초로 주변 지점(TP)의 보상 데이터(DATA)를 생성할 수 있다. 보상 데이터 생성 모듈(133)은 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID)와 주변 지점(TP)의 스케일링 값(SV)을 곱하여 주변 지점(TP)의 보상 데이터(DATA)를 산출할 수 있다(단계 S320).
도 11은 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템의 색 좌표 특성을 나타내는 그래프이다. 예를 들어, 도 11은 광학 보상을 수행하지 않은 제1 표시 장치(OCD1), 카메라부를 이용하여 광학 보상을 수행한 제2 표시 장치(OCD2), 및 도 1 내지 도 4에 도시된 광학 보상 장치(100)를 이용하여 광학 보상을 수행한 제3 표시 장치(OCD3)의 색 좌표(Δu'v')를 나타낸다.
도 11을 참조하면, 제1 표시 장치(OCD1)는 0.0137의 색 좌표(Δu'v')를 가질 수 있고, 제2 표시 장치(OCD2)는 0.0066의 색 좌표(Δu'v')를 가질 수 있으며, 제3 표시 장치(OCD3)는 0.0044의 색 좌표(Δu'v')를 가질 수 있다. 여기에서, 색 좌표(Δu'v')는 표시 패널(210)의 두 지점 간의 색 편차의 최대값을 의미한다. 표시 장치의 색 좌표(Δu'v')가 낮을수록 표시 장치의 휘도 균일도가 향상될 수 있다.
예를 들어, 제1 표시 장치(OCD1)는 별도의 광학 보상을 수행하지 않으므로, 제2 및 제3 표시 장치(OCD1, OCD2)보다 높은 색 좌표(Δu'v')를 가질 수 있다. 제2 표시 장치(OCD2)는 카메라부를 이용하여 광학 보상을 수행할 수 있으나, 카메라부의 비네팅(Vignetting) 현상에 의하여 제3 표시 장치(OCD3)보다 높은 색 좌표(Δu'v')를 가질 수 있다.
따라서, 광학 보상 장치(100) 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템은 기준 지점(RP)의 계측 데이터(MD), 기준 지점(RP)의 촬영 데이터(ID), 주변 지점(TP)의 계측 데이터(MD), 및 주변 지점(TP)의 촬영 데이터(ID)를 반영한 스케일링 값(SV) 및 보상 데이터(DATA)를 생성함으로써, 카메라부(120)의 비네팅(Vignetting) 현상을 방지하여 카메라부(120)의 특성에 의한 왜곡을 제거할 수 있다. 또한, 광학 보상 장치(100) 및 이를 포함하는 광학 보상 시스템은 표시 패널(210)이 균일한 휘도를 갖지 못하는 경우, 보상 데이터(DATA)를 통해 표시 패널(210)의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
100: 광학 보상 장치
110: 계측부 120: 카메라부
130: 보상부 131: 전처리 모듈
132: 스케일링 모듈 133: 보상 데이터 생성 모듈
200: 표시 장치 210: 표시 패널
220: 타이밍 제어부 230: 데이터 구동부
240: 전압 공급부 250: 게이트 구동부
260: 발광 제어 구동부 270: 메모리

Claims (20)

  1. 영상을 표시하는 표시 패널의 기준 지점 및 상기 기준 지점으로부터 이격된 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터를 생성하는 계측부;
    상기 표시 패널의 전면을 촬영하여 촬영 이미지를 생성하는 카메라부; 및
    상기 기준 지점의 계측 데이터, 상기 기준 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터, 상기 주변 지점의 계측 데이터, 및 상기 주변 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 스케일링 값을 산출하고, 상기 주변 지점의 스케일링 값과 상기 기준 지점의 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하는 보상부를 포함하는 광학 보상 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 주변 지점의 촬영 데이터 및 상기 주변 지점의 계측 데이터의 비와 상기 기준 지점의 계측 데이터 및 상기 기준 지점의 촬영 데이터의 비를 곱하여 상기 스케일링 값을 산출하는 광학 보상 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 상기 주변 지점의 스케일링 값을 곱하여 상기 주변 지점의 보상 데이터를 산출하는 광학 보상 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 동일한 상기 기준 지점의 보상 데이터를 생성하는 광학 보상 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 기준 지점의 보상 데이터와 상기 주변 지점의 보상 데이터를 기초로 보간법을 수행하여, 상기 기준 지점과 상기 주변 지점 사이의 특정 지점의 보상 데이터를 생성하는 광학 보상 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 기준 지점의 계측 데이터와 상기 주변 지점의 계측 데이터가 동일하고, 상기 기준 지점의 촬영 데이터가 상기 주변 지점의 촬영 데이터보다 큰 경우, 상기 주변 지점의 보상 데이터는 상기 기준 지점의 보상 데이터보다 작은 광학 보상 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 기준 지점의 계측 데이터가 상기 주변 지점의 계측 데이터보다 크고, 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 상기 주변 지점의 촬영 데이터가 동일한 경우, 상기 주변 지점의 보상 데이터는 상기 기준 지점의 보상 데이터보다 큰 광학 보상 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 계측부는 상기 표시 패널의 기준 지점 또는 상기 표시 패널의 적어도 하나의 주변 지점에 직접 접촉하여 상기 기준 지점 또는 상기 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정하는 광학 보상 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 보상부는,
    상기 카메라부의 촬영 이미지를 전처리하여 상기 기준 지점 및 상기 적어도 하나의 주변 지점 각각에 대응되는 촬영 데이터를 생성하는 전처리 모듈;
    상기 스케일링 값을 산출하는 스케일링 모듈; 및
    상기 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성 모듈을 포함하는 광학 보상 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 전처리 모듈은 상기 표시 패널의 복수의 화소 및 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 얼라인먼트하고, 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 필터링하여 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 상기 표시 패널의 복수의 화소 각각에 매칭시키는 광학 보상 장치.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 전처리 모듈은 가우시안 필터를 사용하여 상기 촬영 이미지의 복수의 화소를 필터링하는 광학 보상 장치.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 계측부는 상기 표시 패널에서 표시된 적색 영상, 녹색 영상, 및 청색 영상 각각의 휘도를 측정하여 상기 적색 영상, 상기 녹색 영상, 및 상기 청색 영상 각각의 계측 데이터를 생성하는 광학 보상 장치.
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 계측부는 상기 표시 패널에서 표시된 백색 영상의 휘도를 측정하여 상기 백색 영상의 계측 데이터를 생성하는 광학 보상 장치.
  14. 영상을 표시하는 표시 패널을 포함하는 표시 장치; 및
    상기 표시 장치의 영상을 기초로 보상 데이터를 생성하는 광학 보상 장치를 포함하고,
    상기 광학 보상 장치는,
    상기 표시 패널의 기준 지점 및 상기 기준 지점으로부터 이격된 적어도 하나의 주변 지점의 휘도를 측정하여 계측 데이터를 생성하는 계측부;
    상기 표시 패널의 전면을 촬영하여 촬영 이미지를 생성하는 카메라부; 및
    상기 기준 지점의 계측 데이터, 상기 기준 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터, 상기 주변 지점의 계측 데이터, 및 상기 주변 지점의 촬영 이미지를 기초로 생성된 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 스케일링 값을 산출하고, 상기 주변 지점의 스케일링 값과 상기 기준 지점의 촬영 데이터를 기초로 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하는 보상부를 포함하는 광학 보상 시스템.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 주변 지점의 촬영 데이터 및 상기 주변 지점의 계측 데이터의 비와 상기 기준 지점의 계측 데이터 및 상기 기준 지점의 촬영 데이터의 비를 곱하여 상기 스케일링 값을 산출하는 광학 보상 시스템.
  16. 제14 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 기준 지점의 촬영 데이터와 상기 주변 지점의 스케일링 값을 곱하여 상기 주변 지점의 보상 데이터를 산출하는 광학 보상 시스템.
  17. 제14 항에 있어서,
    상기 표시 장치는,
    상기 표시 패널의 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부;
    상기 표시 패널의 게이트 라인에 게이트 신호를 공급하는 게이트 구동부;
    상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 제어부; 및
    상기 보상 데이터를 저장하고 상기 타이밍 제어부에 공급하는 메모리를 더 포함하는 광학 보상 시스템.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 보상부는 상기 주변 지점의 보상 데이터를 생성하여 상기 메모리에 공급하는 광학 보상 시스템.
  19. 제17 항에 있어서,
    상기 타이밍 제어부는 상기 메모리로부터 상기 주변 지점의 보상 데이터를 수신하고, 상기 보상 데이터 및 상기 데이터 구동부의 동작 타이밍을 제어하는 데이터 제어 신호를 상기 데이터 구동부에 공급하는 광학 보상 시스템.
  20. 제17 항에 있어서,
    상기 데이터 구동부는 상기 주변 지점의 보상 데이터를 기초로 상기 데이터 전압을 생성하는 광학 보상 시스템.
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