KR20220017173A

KR20220017173A - 보호 계전기 시험 시스템 및 방법

Info

Publication number: KR20220017173A
Application number: KR1020200097340A
Authority: KR
Inventors: 박진우; 김정운; 손동선
Original assignee: 한국전력공사
Priority date: 2020-08-04
Filing date: 2020-08-04
Publication date: 2022-02-11
Also published as: KR20220159927A; KR102487382B1; KR102487383B1; KR20220160517A; KR102469366B1

Abstract

보호 계전기 동작을 통신신호로 입력받아 접점출력으로 바꿔주는 보호 계전기 시험 시스템이 개시된다. 상기 보호 계전기 시험 시스템은, 다수의 보호 계전기에 시험 전원을 인가하는 시험 장치, 및 다수의 상기 보호 계전기의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 모니터링 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

보호 계전기 시험 시스템 및 방법{System and Method for testing protection relay}

본 발명은 보호 계전기 특성 시험 기술에 관한 것으로서, 보호 계전기의 특성시험을 위해 각 보호계전기별 접속 프로그램을 사용하여 보호요소마다 정정을 변경하던 방식을 보호 계전기 동작을 통신신호로 입력받아 접점출력으로 바꿔주는 보호 계전기 시험 시스템 및 방법에 대한 것이다.

현재 보호배전반 개체시험은 ① AC(Alternating Current), DC(Direct Current) 시퀀스 시험과, ② 보호계전기 특성시험 두가지로 나눌 수 있다. 이 중 보호 계전기 특성시험이 60%~70%정도 시간이 소요되고 있어 특성시험의 비중이 크다.

특히, 보호 계전기 특성시험을 위해서는 시험 전 해당 보호 계전기 접속프로그램 설치 및 사용방법 숙지가 필요하다는 문제점이 있다. 대표적으로 154kV 송전선로 보호반을 제작/납품하는 제작사가 제작사별 접속 프로그램의 사용방법을 배워야 시험이 가능하다는 문제점이 있다.

154kV 보호 계전기의 특성 시험 절차를 보면 다음과 같다.

시험요소 도면확인 → 접속 프로그램에서 보호요소 선택 후 정정변경 → 보호 계전기에 전압, 전류 인가 → 보호 계전기 동작 및 출력접점 동작 → 전압, 전류 인가장치에서 출력동작 감지

또한, 보호계전기의 전압별, 보호방식별 및 제작년도별 보호계전기가 상이하여 접속프로그램은 제작사 수보다 더 많은 실정이다. 또한, 보호계전기 특성시험을 위해 시험요소에 맞는 요소가 동작하도록 셋팅변경 작업이 필요한다.

또한, 셋팅 변경 작업이 제작사에 따라 다른데 시간이 가장 많이 소요되는 계전기는 약 2~3분 정도 소요된다. 일반적으로 154kV 송전선로 보호계전기 시험시 보호요소가 60~80개로 정정변경에 120분이 소요됨을 알 수 있고 이는 매우 비율적임을 알 수 있다.

부연하면, 제작사별 및 설비별 보호계전기 시험방법이 상이하여 시험에 많은 숙련도가 요구되는 문제점이 있다. 또한, 보호 계전기의 특성시험을 위해 셋팅변경에 많은 시간(보호 계전기 1대당 정정변경에 약 1~2시간 소요)이 소요되며 시험요소 변경이 번거로워 효율적인 시험방법이 필요하다는 문제점이 있다.

1. 한국등록특허번호 제10-1266834호(등록일자: 2013년05월16일)

본 발명은 위 배경기술에 따른 문제점을 해소하기 위해 제안된 것으로서, 보호 계전기의 특성시험을 위해 각 보호계전기별 접속 프로그램을 사용하여 보호요소마다 정정을 변경하던 방식을 보호 계전기 동작을 통신신호로 입력받아 접점출력으로 바꿔주는 보호 계전기 시험 시스템 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

또한, 본 발명은 하나의 장치로 다양한 보호계전기 시험을 손쉽게 수행할 수 있는 보호 계전기 시험 시스템 및 방법을 제공하는데 다른 목적이 있다.

또한, 본 발명은 정정 변경없이 특성시험이 가능하여 시험시간을 단축할 수 있는 보호 계전기 시험 시스템 및 방법을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.

본 발명은 위에서 제시된 과제를 달성하기 위해, 보호 계전기 동작을 통신신호로 입력받아 접점출력으로 바꿔주는 보호 계전기 시험 시스템을 제공한다.

상기 보호 계전기 시험 시스템은,

다수의 보호 계전기에 시험 전원을 인가하는 시험 장치; 및

다수의 상기 보호 계전기의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 모니터링 장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 모니터링 장치는, 다수의 상기 보호 계전기와 통신 연결되는 입력부; 특성시험을 위해 상기 동작신호를 선택된 각 접점으로 연결시키도록 동작 처리를 수행하는 동작 처리 신호를 생성하는 처리부; 및 상기 동작 처리 신호에 따라 상기 동작신호를 접점 출력으로 바꿔주는 출력부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 동작신호와 상기 각 접점은 룩업 테이블 형식으로 미리 맵핑되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 모니터링 장치는, 상기 동작 처리 신호를 투입 상태 또는 개방 상태로 표시하는 표시부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 표시부는 LED(Light Emitting Diode) 램프인 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 출력부는 상기 각 접점에 대응하는 다수의 보조 계전기를 포함하는 것을 특징으로 한다.

다른 한편으로, 본 발명의 다른 일실시예는, 다수의 보호 계전기에 시험 전원을 인가하는 시험 장치; 및 다수의 상기 보호 계전기의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 모니터링 장치;를 포함하며, 상기 모니터링 장치는, 다수의 상기 보호 계전기와 통신 연결되는 입력부; 특성시험을 위해 상기 동작신호를 선택된 각 접점으로 연결시키도록 동작 처리를 수행하는 동작 처리 신호를 생성하는 처리부; 및 상기 동작 처리 신호에 따라 상기 동작신호를 접점 출력으로 바꿔주는 출력부;를 포함하며, 상기 출력부는 상기 각 접점에 대응하는 하나의 보조 계전기를 이용하여 상기 접점 출력을 바꿔주는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템을 제공한다.

또한, 상기 동작 처리는 하나의 상기 보조 계전기를 이용하여 미리 설정되는 지연 시간을 가지고 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이때, 상기 지연시간은 1초인 것을 특징으로 한다.

또 다른 한편으로, 본 발명의 또 다른 일실시예는, (a) 시험 장치가 다수의 보호 계전기에 시험 전원을 인가하는 단계; 및 (b) 모니터링 장치가 다수의 상기 보호 계전기의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 방법을 제공한다.

본 발명에 따르면, 전력 설비별 보호 계전기 필수시험 항목을 사전에 검토 및 절차화하여 규격화된 시험수행이 가능하며, 이를 통해 시험누락 등 인적실수의 개연성이 제거될 수 있다.

또한, 본 발명의 다른 효과로서는 보호 계전기의 특성시험 매크로와 함께 사용하면 원터치로 특성시험 수행이 가능하다는 점을 들 수 있다.

또한, 본 발명의 또 다른 효과로서는 발전단 및 중요계통 보호 계전기 오/부동작시 사회적 이슈 및 매우 큰 손실 발생되는 중요한 설비에 대해 오/부동작의 개연성을 낮춰 재무적 손실발생을 억제할 수 있다는 점을 들 수 있다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기 시험 시스템의 구성 블럭도이다.
도 2는 도 1에 도시된 모니터링 장치의 세부 구성 블럭도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기의 특성 시험에 대한 개념도이다.
도 4는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 자동 보호 요소 변경을 보여주는 개념도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기의 출력 접점에 대한 개념도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 출력 화면예시이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기 시험 과정을 보여주는 흐름도이다.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 도면에서 표시된 구성요소의 크기 및 상대적인 크기는 설명의 명료성을 위해 과장된 것일 수 있다.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭하며, “및/또는”은 언급된 아이템들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시 예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 “포함한다” 및/또는 “구성된다”는 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.

비록 제1, 제2 등의 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 대해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소와 구별하기 위하여 사용되는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기 시험 시스템 및 방법을 상세하게 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기 시험 시스템(100)의 구성 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 보호 계전기 시험 시스템(100)은, 보호 계전기(110), 시험 장치(120), 모니터링 장치(130), 관리 장치(140) 등을 포함하여 구성될 수 있다.

보호 계전기(110)는 보호해야 할 전력설비에 고장발생시 자동으로 고장을 검출하고 차단기를 개방하여 전력 설비를 보호하는 기능을 수행한다. 부연하면, 각종 부하의 고장을 감지하고, 차단기에 차단신호를 보내는 장치이다. 송배전 선로 및/또는 기타 전력 계통의 구성요소를 항상 감시하여 고장 발생시나 계통 운전에 이상이 있을 때, 즉시 이를 검출하고 동작하여 고장부분을 분리시켜 전력 공급이 원활히 이루어지도록 한다.

또한, 전력 설비의 손상을 최소한 억제시키는 전기기기이다. 이를 위해 보호 계전기(110)에는 전압 센서(미도시), 전류 센서(미도시), 마이콤(미도시) 등이 구성될 수 있다. 보호 계전기는 차단기(미도시)에 연결될 수 있으며, 이를 포함하여 구성될 수도 있다. 보호 계전기에 대해서는 널리 공지되어 있음으로 더 이상의 설명은 생략하기로 한다.

또한, 보호 계전기(110)는 거리 계전기, 과여자 계전기, 동기 계전기, 저전압 계전기, 역전력 계전기, 계자상실 계전기, 불평형 계전기, 역상전압 계전기, 순시 과전류 계전기, 한시 과전류 계전기, 과여자 계전기, 전압 평형 계전기, 방향성 과전류 계전기, 동기 탈조 방지 계전기, 비율 차동 계전기 등이 될 수 있다.

도 1에서는 이해의 편의를 위해 보호 계전기(110)를 하나로 도시하였으나, 종류가 다른 여러개의 보호 계전기가 될 수 있다.

시험 장치(120)는 보호 계전기(110)에 시험 전원(즉, 시험 전압, 시험 전류)를 발생시켜 인가하는 기능을 수행한다. 이를 위해, 인버터, 컨버터, 스위칭 소자 등이 구성될 수 있다. 물론, 시험 장치(120)는 상시 전원에 연결되어 전원을 공급받을 수도 있고, 자체 배터리 팩을 구비할 수도 있다.

시험 장치(120)는 사용자의 입력 명령을 받아 시험 전원을 생성하여 보호 계전기(110)에 인가할 수도 있고, 미리 프로그래밍된 스케쥴 정보에 따라 시험 전원을 생성하여 보호 계전기(110)에 인가할 수도 있다.

모니터링 장치(130)는 시험 장치(120)와 시험 순서를 일치시켜 미리 약속된 절차를 시행하는 기능을 수행한다. 부연하면, 첫 번째는 보호 계전기(110)의 특성 시험을 위해 불필요한 정정 변경없이 시험을 수행할 수 있는 보호 계전기(110)의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 기능을 수행하는 것이다. 두 번째는 보호 계전기(110)의 동작시험을 사전에 시험할 수 있는 차단기와 같이 투입/개방과 상태표시 기능을 포함할 수 있다.

관리 장치(140)는 모니터링 장치(130)와 연결되어 모니터링 장치(130)를 관리하는 기능을 수행한다. 따라서, 관리 장치(140)는 스마트폰, 노트 패드, 노트북, PC(Personal Compute) 등이 될 수 있다. 관리 장치(140)와 모니터링 장치(130)의 연결은 유선 통신 또는 무선 통신이 될 수 있다. 유선 통신은 RS232, RS485, 모드 버스, CC-Link 통신, 이더넷 통신 등이 될 수 있으며, 무선 통신은 IrDA(Infrared Data) 통신, 무선 랜(Local Area Network), 블루투쓰, LiFi(Light Fidelity), WiFi(Wireless Fidelity), NFC(Near Field Control) 등을 들 수 있다. 관리 장치(140)에는 프로그램, 데이터, 소프트웨어 등이 구성될 수 있다.

도 2는 도 1에 도시된 모니터링 장치(130)의 세부 구성 블럭도이다. 도 2를 참조하면, 모니터링 장치(130)는, 입력부(210), 처리부(220), 출력부(230), 표시부(240) 등을 포함하여 구성될 수 있다.

입력부(210)는 보호 계전기(110)와 모니터링 장치(130)를 연결하는 기능으로 광 또는 LAN 케이블을 사용하여 연결하는 기능을 수행한다. 이를 위해 모뎀, 랜카드 등이 구성될 수 있다.

처리부(220)는 보호 계전기의 보호요소별 동작신호를 특성시험의 선택된 접점으로 동작될 수 있도록 연결시키는 기능을 수행한다. 이를 위해, 룩업 테이블이 구성되어 맵핑을 실행한다. 물론, 룩업 테이블에는 보호요소별 동작 신호와 각 접점을 맵핑하고 있다. 따라서, 접점별로 어떤 신호가 각 출력 접점에 할당되어 있는지 시험자가 확인하며 시험할 수 있게 된다.

출력부(230)는 보호 계전기(110)로부터 받은 동작신호(즉 통신신호)를 접점 출력으로 바꿔주는 출력기능을 수행한다. 접점수는 약 10~20개 정도를 만들어 각 접점마다 보호요소별 동작신호를 맵핑할 수 있는 기능이다. 또한 한 개의 접점으로 자동시험을 수행할 때 재시험 등 보호요소를 이전 맵핑된 상태로 변경을 원하면 좌우 선택에 의한 접점에 보호요소를 바꿀 수 있는 기능도 구비되어 있다.

표시부(240)는 보호요소의 투입/개방 상태를 표시하는 기능을 수행한다. 즉, 시험자가 육안으로 보호요소의 현재 상태를 확인할 수 있게 정보를 표시하는 기능을 수행한다. 이를 위해 표시부(240)는 LED 램프로 간단하게 표시할 수 있으나, 이외에도 LCD(Liquid Crystal Display), LED(Light Emitting Diode) 디스플레이, OLED(Organic LED) 디스플레이, 터치 스크린, 플렉시블 디스플레이 등이 될 수 있다.

도 2에 도시된 처리부(220) 및 출력부(230)는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 소프트웨어 및/또는 하드웨어로 구현될 수 있다. 하드웨어 구현에 있어, 상술한 기능을 수행하기 위해 디자인된 ASIC(application specific integrated circuit), DSP(digital signal processing), PLD(programmable logic device), FPGA(field programmable gate array), 프로세서, 마이크로프로세서, 다른 전자 유닛 또는 이들의 조합으로 구현될 수 있다. 소프트웨어 구현에 있어, 소프트웨어 구성 컴포넌트(요소), 객체 지향 소프트웨어 구성 컴포넌트, 클래스 구성 컴포넌트 및 작업 구성 컴포넌트, 프로세스, 기능, 속성, 절차, 서브 루틴, 프로그램 코드의 세그먼트, 드라이버, 펌웨어, 마이크로 코드, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조, 테이블, 배열 및 변수를 포함할 수 있다. 소프트웨어, 데이터 등은 메모리에 저장될 수 있고, 프로세서에 의해 실행된다. 메모리나 프로세서는 당업자에게 잘 알려진 다양한 수단을 채용할 수 있다.

또한, 모니터링 장치(130)는 수동으로 단기 투입/개방할 수 있는 기능과 보호 계전기의 차단 실패 개시용(BFI:Breaker. Failure Initiate) 출력접점을 입력받아 상태를 표시할 수 있는 기능을 위해, 버튼, 스위치 등이 구성될 수 있다.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기의 특성 시험에 대한 개념도이다. 도 3을 참조하면, 시험 장치(120)에서 시험 전원(즉, 시험 전압, 시험 전류)를 생성하여 보호 계전기(110)에 인가하면, 보호 계전기(110)에서는 보호요소(301)를 생성한다. 보호요소는 보호 계전기(110)에 구성되는 센서가 동작하는 동작값을 나타낸다.

예를 들면, 과전류가 발생하는 경우, 보호 계전기(110)는 "87A,87B,87C"라는 동작신호를 생성하고, 이를 모니터링 장치(130)로 전송한다. 여기서, A,B,C는 상을 나타낸다. 모니터링 장치(130)의 입력부(210)가 동작신호(87A,87B,87C...)를 전송받으면, 처리부(220)에서 동작 처리 신호를 생성한다. 즉, 동작 처리 신호는 해당 보호 계전기(110)가 동작되고 있음을 나타내는 것으로 보조 계전기(D01,D02,D03)를 투입 또는 개방함으로써 시험 장치(120)에 알려주는 역할을 하는 것이다.

출력부(230)는 병렬로 배치되는 다수의 보조 계전기(D01,D02,D03)를 포함한다. 다수의 보조 계전기(D01,D02,D03)는 시험 장치(120)의 입력 단자에 연결되며, 해당 보조 계전기(예를 들면 D01)가 동작하여 개방 상태가 되면, 시험 장치(120)는 해당 보호 계전기가 정상 동작됨으로 더이상 시험 전원을 인가하지 않게 된다.

부연하면, 각 보호요소에 매칭되도록 각 보조 계전기가 구성된다. 따라서, 해당 보호요소가 발생하면, 해당 보조 계전기가 투입 또는 개방된다.

보조 계전기(D01,D02,D03)와 시험 장치(120)의 연결은 유선 통신이 가능하나, 무선도 가능하다. 부연하면, 보조 계전기(D01,D02,D03)의 투입 또는 개방 상태를 무선 신호로 전환하여 출력부(230)에서 시험 장치(120)로 제공할 수 있다.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 요소 변경을 보여주는 개념도이다. 도 4를 참조하면, 과전류가 발생하는 경우, 보호 계전기(110)는 먼저 "87A"이라는 동작신호를 생성하고, 이를 모니터링 장치(130)로 전송한다. 모니터링 장치(130)의 입력부(210)가 동작신호(87A)를 전송받으면, 처리부(220)에서 동작 처리 신호를 생성한다. 즉, 동작 처리 신호는 해당 보호 계전기(110)가 동작되고 있음을 나타내는 것으로 보조 계전기(D01)를 투입 또는 개방함으로써 시험 장치(120)에 알려주는 역할을 한다. 이때, 미리 프로그래밍에 의해 하나의 보조 계전기(D01)만이 동작하도록 설정한다.

따라서, 동작 처리 신호(D01)가 생성된 이후, 순차적으로 입력부(210)가 87B를 수신하면, 처리부(220)는 이를 동작 처리 신호(D01)로 처리한다. 물론, 이를 지연 타이머를 온하여 지연 시간을 갖는다. 지연 시간은 약 1초가 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니다.

물론, 이러한 자동 보호 요소 변경이 이루어지더라도, 사용자가 선택적으로 87A 또는 87B 또는 87C의 보호요소 시험을 수행할 수도 있다. 이 경우, 출력부(230)에는 다수의 보조 계전기가 설치된다.

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기의 출력 접점에 대한 개념도이다. 도 5를 참조하면, 출력 접점은 투입 상태(510)와 개방 상태(520)가 된다.

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 출력 화면예시이다. 도 6을 참조하면, 화면상에 버스 차단기(BUS Circuit Breaker) 및 센터 차단기가 표시된다.

도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 보호 계전기 시험 과정을 보여주는 흐름도이다. 도 7을 참조하면, 먼저 시험 장치(120)에서 보호 계전기(110)로 시험전원인가가 발생한다(단계 S710).

이후, 보호 계전기(110)에서 보호요소의 생성에 따른 보호 요소 동작 신호를 생성한다(단계 S720).

이후, 모니터링 장치(130)의 입력부(210)에서 보호 요소 동작 신호를 수신하고, 모니터링 장치(130)의 처리부(220)가 동작 처리 신호를 생성한다(단계 S730,S740).

이후, 처리부(220)가 보조 계전기를 투입 또는 개방하면, 시험 장치(120)는 시험 전원을 중지한다(단계 S750).

또한, 여기에 개시된 실시형태들과 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은, 마이크로프로세서, 프로세서, CPU(Central Processing Unit) 등과 같은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 (명령) 코드, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다.

상기 매체에 기록되는 프로그램 (명령) 코드는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프 등과 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD, 블루레이 등과 같은 광기록 매체(optical media) 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 (명령) 코드를 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 반도체 기억 소자가 포함될 수 있다.

여기서, 프로그램 (명령) 코드의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.

100: 보호 계전기 시험 시스템
110: 보호 계전기
120: 시험 장치
130: 모니터링 장치
140: 관리 장치

Claims

다수의 보호 계전기(110)에 시험 전원을 인가하는 시험 장치(120); 및
다수의 상기 보호 계전기(110)의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 모니터링 장치(130);
를 포함하는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 모니터링 장치(130)는,
다수의 상기 보호 계전기(110)와 통신 연결되는 입력부(210);
특성시험을 위해 상기 동작신호를 선택된 각 접점으로 연결시키도록 동작 처리를 수행하는 동작 처리 신호를 생성하는 처리부(220); 및
상기 동작 처리 신호에 따라 상기 동작신호를 접점 출력으로 바꿔주는 출력부(230);를 포함하는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 2 항에 있어서,
상기 동작신호와 상기 각 접점은 룩업 테이블 형식으로 미리 맵핑되는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 2 항에 있어서,
상기 동작 처리 신호를 투입 상태 또는 개방 상태로 표시하는 표시부(240);를 포함하는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 4 항에 있어서,
상기 표시부(240)는 LED(Light Emitting Diode) 램프인 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 2 항에 있어서,
상기 출력부(230)는 상기 각 접점에 대응하는 다수의 보조 계전기(D01,D02,DO3)를 포함하는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
다수의 보호 계전기(110)에 시험 전원을 인가하는 시험 장치(120); 및
다수의 상기 보호 계전기(110)의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 모니터링 장치(130);를 포함하며,
상기 모니터링 장치(130)는,
다수의 상기 보호 계전기(110)와 통신 연결되는 입력부(210);
특성시험을 위해 상기 동작신호를 선택된 각 접점으로 연결시키도록 동작 처리를 수행하는 동작 처리 신호를 생성하는 처리부(220); 및
상기 동작 처리 신호에 따라 상기 동작신호를 접점 출력으로 바꿔주는 출력부(230);를 포함하며,
상기 출력부(230)는 상기 각 접점에 대응하는 하나의 보조 계전기(D01)를 이용하여 상기 접점 출력을 바꿔주는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 7 항에 있어서,
상기 동작 처리는 하나의 상기 보조 계전기(DO1)를 이용하여 미리 설정되는 지연 시간을 가지고 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
제 8 항에 있어서,
상기 지연 시간은 1초인 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 시스템.
(a) 시험 장치(120)가 다수의 보호 계전기(110)에 시험 전원을 인가하는 단계; 및
(b) 모니터링 장치(130)가 다수의 상기 보호 계전기(110)의 동작신호를 접점 출력으로 변환하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 보호 계전기 시험 방법.