KR20220015630A - Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system - Google Patents

Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system Download PDF

Info

Publication number
KR20220015630A
KR20220015630A KR1020200095872A KR20200095872A KR20220015630A KR 20220015630 A KR20220015630 A KR 20220015630A KR 1020200095872 A KR1020200095872 A KR 1020200095872A KR 20200095872 A KR20200095872 A KR 20200095872A KR 20220015630 A KR20220015630 A KR 20220015630A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gas
plasma
hole
distribution
space
Prior art date
Application number
KR1020200095872A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
최대규
Original Assignee
(주) 엔피홀딩스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 엔피홀딩스 filed Critical (주) 엔피홀딩스
Priority to KR1020200095872A priority Critical patent/KR20220015630A/en
Publication of KR20220015630A publication Critical patent/KR20220015630A/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3244Gas supply means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3266Magnetic control means
    • H01J37/32669Particular magnets or magnet arrangements for controlling the discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/32Processing objects by plasma generation
    • H01J2237/33Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
    • H01J2237/332Coating
    • H01J2237/3321CVD [Chemical Vapor Deposition]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/32Processing objects by plasma generation
    • H01J2237/33Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
    • H01J2237/334Etching
    • H01J2237/3341Reactive etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/32Processing objects by plasma generation
    • H01J2237/33Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
    • H01J2237/335Cleaning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

The present invention relates to a gas distribution device and a gas distribution method and a plasma reaction device and a substrate processing system that controls a flow of gas to improve a plasma generation efficiency. The plasma reaction device may comprise: a reaction main body wherein a gas inlet part is formed on one side, a gas outlet part is formed on the other side, and an annular loop space is formed therein; and a gas distribution device that double-distributes the gas introduced through the gas inlet part to the annular loop space.

Description

가스 분배 장치와 가스 분배 방법과 플라즈마 반응 장치 및 기판 처리 시스템{Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system}Gas distribution apparatus, gas distribution method, plasma reaction apparatus, and substrate processing system TECHNICAL FIELD

본 발명은 가스 분배 장치와 가스 분배 방법과 플라즈마 반응 장치 및 기판 처리 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 가스의 흐름을 능동적으로 제어하여 플라즈마 발생 효율을 향상시킬 수 있게 하는 가스 분배 장치와 가스 분배 방법과 플라즈마 반응 장치 및 기판 처리 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a gas distribution apparatus, a gas distribution method, a plasma reaction apparatus, and a substrate processing system, and more particularly, to a gas distribution apparatus and a gas distribution method for improving plasma generation efficiency by actively controlling a gas flow and a plasma reaction apparatus and a substrate processing system.

플라즈마 방전은 이온, 자유 래디컬, 원자, 분자를 포함하는 활성 가스를 발생하기 위한 가스 여기에 사용되고 있다. 활성 가스는 다양한 분야에서 널리 사용되고 있으며 대표적으로 반도체 제조 공정 예들 들어, 식각, 증착, 세정, 에싱 등 다양하게 사용되고 있다.Plasma discharge is used for gas excitation to generate active gases containing ions, free radicals, atoms, and molecules. Active gas is widely used in various fields and is typically used in various ways such as semiconductor manufacturing processes, such as etching, deposition, cleaning, and ashing.

최근, 반도체 장치의 제조를 위한 웨이퍼나 LCD 글라스 기판은 더욱 대형화 되어 가고 있다. 그러므로 플라즈마 이온 에너지에 대한 제어 능력이 높고, 대면적의 처리 능력을 갖는 확장성이 용이한 플라즈마 소스가 요구되고 있다.In recent years, wafers and LCD glass substrates for manufacturing semiconductor devices are becoming larger. Therefore, there is a demand for a plasma source with high controllability for plasma ion energy and an easily expandable plasma source having a large-area processing capability.

이러한, 플라즈마를 이용한 반도체 제조 공정에서 원격 플라즈마의 사용은 매우 유용한 것으로 알려져 있다.It is known that the use of remote plasma in a semiconductor manufacturing process using plasma is very useful.

예를 들어, 공정 챔버의 세정이나 포토레지스트 스트림을 위한 에싱 공정에서 유용하게 사용되고 있다. 그런데 피처리 기판의 대형화에 따라 공정 챔버의 볼륨도 증가되고 있어서 고밀도의 활성 가스를 충분히 원격으로 공급할 수 있는 플라즈마 소스가 요구되고 있다.For example, it is useful in cleaning process chambers or ashing processes for photoresist streams. However, the volume of the process chamber is also increasing as the size of the target substrate increases, so a plasma source capable of remotely supplying a high-density active gas sufficiently is required.

한편, 원격 플라즈마 반응기(또는 원격 플라즈마 발생기라 칭함)는 변압기 결합 플라즈마 소스(transformer coupled plasma source)를 사용한 것과 유도 결합 플라즈마 소스(inductively coupled plasma source)를 사용한 것이 있다. 변압기 결합 플라즈마 소스를 사용한 원격 플라즈마 반응기는 토로이달 구조의 반응기 몸체에 일차 권선 코일을 갖는 마그네틱 코어가 장착된 구조를 갖는다. 유도 결합 플라즈마 소스를 사용한 원격 플라즈마 반응기는 중공형 튜브 구조의 반응기 몸체에 유도 결합 안테나가 장착된 구조를 갖는다.On the other hand, a remote plasma reactor (or referred to as a remote plasma generator) is one using a transformer coupled plasma source (transformer coupled plasma source) and one using an inductively coupled plasma source (inductively coupled plasma source). A remote plasma reactor using a transformer coupled plasma source has a structure in which a magnetic core having a primary winding coil is mounted on a reactor body of a toroidal structure. A remote plasma reactor using an inductively coupled plasma source has a structure in which an inductively coupled antenna is mounted on a reactor body of a hollow tube structure.

예컨대, 플라즈마 반응기로 주입된 가스가 전기적인 힘에 의하여 가스 형태의 물질을 이온, 자유 라디칼, 원자, 분자를 포함하는 플라즈마 형태로 만들고 이러한 플라즈마는 일정 거리만큼 떨어진 곳에서 식각, 증착, 세정 등 다양한 목적으로 사용되고 있다. For example, the gas injected into the plasma reactor makes a gaseous material into a plasma form including ions, free radicals, atoms, and molecules by electrical force, and this plasma is etched, deposited, cleaned, etc. is used for this purpose.

이러한 종래의 플라즈마 반응 장치는 환형 루프 공간 내의 상기 가스를 여기시켜서 플라즈마를 발생시킬 수 있도록 반응 본체를 둘러싸는 형태로 설치되고, 일차 권선을 갖는 마그네틱 코어를 포함할 수 있다.Such a conventional plasma reaction apparatus is installed in a form surrounding the reaction body to generate plasma by exciting the gas in the annular loop space, and may include a magnetic core having a primary winding.

이러한 종래의 플라즈마 반응 장치는 환형 루프 공간으로 가스가 유입될 때, 가스 유입부를 통해 유입된 가스가 환형 루프 공간의 좌측 루프 공간과 우측 루프 공간, 즉 2갈레로 분배되어 양쪽 공간에서 플라즈마 방전이 이루어질 수 있다.In this conventional plasma reactor, when gas is introduced into the annular loop space, the gas introduced through the gas inlet is divided into the left and right loop spaces of the annular loop space, that is, two gallons to generate plasma discharge in both spaces. can

그러나, 이러한 종래의 플라즈마 반응 장치는, 가스가 환형 루프 공간의 좌측 루프 공간과 우측 루프 공간으로 분배될 때, 가스의 흐름이 양쪽으로 불균일하게 분배되면서 양쪽 플라즈마 방전의 차이로 인하여 좌우의 전기적인 특성 편차, 플라즈마 압력 편차, 온도 편차 등이 발생되고, 이로 인하여 플라즈마 발생 효율이 크게 떨어지는 등 많은 문제점들이 있었다.However, in this conventional plasma reactor, when gas is distributed to the left and right loop spaces of the annular loop space, the flow of gas is non-uniformly distributed to both sides, and the left and right electrical characteristics due to the difference in plasma discharge Deviation, plasma pressure deviation, temperature deviation, etc. are generated, which causes many problems, such as greatly lowering plasma generation efficiency.

본 발명은 상기와 같은 문제점들을 포함하여 여러 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 가스의 흐름을 능동적으로 제어하여 와류를 형성함으로써 가스가 환형 루프 공간의 좌측 루프 공간과 우측 루프 공간으로 균일하게 분배할 수 있게 하는 가스 분배 장치와 가스 분배 방법과 플라즈마 반응 장치 및 기판 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. 그러나 이러한 과제는 예시적인 것으로, 이에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.The present invention is to solve various problems including the above problems, by actively controlling the flow of gas to form a vortex so that the gas can be uniformly distributed to the left and right roof spaces of the annular roof space An object of the present invention is to provide a gas distribution apparatus, a gas distribution method, a plasma reaction apparatus, and a substrate processing system. However, these problems are exemplary, and the scope of the present invention is not limited thereto.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 사상에 따른 플라즈마 반응 장치는, 일측에 가스 유입부가 형성되고, 타측에 가스 배출부가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체; 및 상기 가스 유입부를 통해 유입된 가스를 상기 환형 루프 공간으로 이중 분배하는 가스 분배 장치;를 포함할 수 있다.Plasma reaction apparatus according to the spirit of the present invention for solving the above problems, a reaction body in which a gas inlet is formed on one side, a gas outlet is formed on the other side, and an annular loop space is formed therein; and a gas distribution device for double-distributing the gas introduced through the gas inlet to the annular roof space.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 가스 분배 장치는, 일측에 가스 유입홀이 형성되고, 내부에 분배 공간이 형성되는 분배 몸체; 상기 분배 몸체의 일측에 설치되고, 상기 가스 유입홀로 유입된 상기 가스를 1차 분배하는 제 1 가스 분배 블록; 및 상기 제 1 가스 분배 블록과 이격되도록 상기 분배 몸체의 타측에 설치되고, 1차 분배된 상기 가스를 2차로 재분배하는 제 2 가스 분배 블록;을 포함할 수 있다.In addition, according to the present invention, the gas distribution device, a distribution body having a gas inlet hole formed on one side and a distribution space formed therein; a first gas distribution block installed on one side of the distribution body and primarily distributing the gas introduced into the gas inlet hole; and a second gas distribution block installed on the other side of the distribution body to be spaced apart from the first gas distribution block and redistributing the firstly distributed gas to the second.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 1 가스 분배 블록은, 적어도 일부분에 동일한 직경의 복수개의 천공구가 동일한 간격으로 배치될 수 있다.In addition, according to the present invention, the first gas distribution block, a plurality of perforations having the same diameter in at least a portion may be arranged at equal intervals.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 2 가스 분배 블록은, 적어도 일부분에 제 1 직경을 갖는 적어도 하나의 제 1 가스홀이 형성되고, 타부분에 상기 제 1 직경 보다 작은 제 2 직경을 갖는 적어도 하나의 제 2 가스홀이 형성될 수 있다.In addition, according to the present invention, in the second gas distribution block, at least one first gas hole having a first diameter is formed in at least one part, and at least one having a second diameter smaller than the first diameter in the other part. of the second gas hole may be formed.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 1 가스홀은, 소정의 각도로 지향 분사되도록 지향성 홀로 형성될 수 있다.Also, according to the present invention, the first gas hole may be formed as a directional hole so as to be directed injection at a predetermined angle.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 2 가스홀은, 연직 방향으로 분사되도록 연직 방향 홀로 형성될 수 있다.Also, according to the present invention, the second gas hole may be formed in a vertical direction so as to be injected in the vertical direction.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 1 가스홀은 복수개가 서로 이격되어 적어도 하나의 직선의 배치 라인 또는 적어도 하나의 곡선의 배치 라인을 이루도록 적어도 일렬 배치될 수 있다.Also, according to the present invention, a plurality of the first gas holes may be arranged at least in one line to form at least one straight arrangement line or at least one curved arrangement line by being spaced apart from each other.

또한, 본 발명에 따르면, 직선의 상기 배치 라인 또는 곡선의 상기 배치 라인은, 상기 환형 루프 공간을 위에서 보았을 때, 좌측 루프 공간과 대응되는 부분에서 시작해서 우측 루프 공간과 대응되는 부분으로 종료될 수 있도록 좌우 대칭적 또는 대각선 대칭적으로 형성될 수 있다.Further, according to the present invention, the arrangement line of the straight line or the arrangement line of the curved line may start at a portion corresponding to the left roof space and end at a portion corresponding to the right roof space when the annular roof space is viewed from above. It may be formed symmetrically left-right or diagonally symmetrically.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 반응 본체의 적어도 일부분을 둘러싸는 형상으로 형성되고, 상기 환형 루프 공간 내의 상기 가스를 여기시켜서 플라즈마를 발생시킬 수 있도록 일차 권선을 갖는 마그네틱 코어;를 더 포함할 수 있다.In addition, according to the present invention, a magnetic core formed in a shape surrounding at least a portion of the reaction body and having a primary winding to generate plasma by exciting the gas in the annular loop space may be further included. .

한편, 상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 사상에 따른 가스 분배 장치는, 내부에 플라즈마 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체에 가스를 공급하되, 이중 분배 구조를 이용하여 상기 환형 루프 공간의 좌우측으로 균일하게 가스를 분배할 수 있다.On the other hand, the gas distribution device according to the spirit of the present invention for solving the above problems, but supplies a gas to the reaction body in which the plasma annular loop space is formed therein, using a double distribution structure to the left and right of the annular loop space uniformly gas can be distributed.

또한, 본 발명에 따르면, 일측에 가스 유입홀이 형성되고, 내부에 분배 공간이 형성되는 분배 몸체; 상기 분배 몸체의 일측에 설치되고, 상기 반응 본체로 유입된 상기 가스를 1차 분배하는 제 1 가스 분배 블록; 및 상기 제 1 가스 분배 블록과 이격되도록 상기 분배 몸체의 타측에 설치되고, 1차 분배된 상기 가스를 2차로 재분배하는 제 2 가스 분배 블록;을 포함할 수 있다.In addition, according to the present invention, the gas inlet hole is formed on one side, the distribution body in which the distribution space is formed; a first gas distribution block installed on one side of the distribution body and primarily distributing the gas introduced into the reaction body; and a second gas distribution block installed on the other side of the distribution body to be spaced apart from the first gas distribution block and redistributing the firstly distributed gas to the second.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 1 가스 분배 블록은, 적어도 일부분에 동일한 직경의 복수개의 천공구가 동일한 간격으로 배치될 수 있다.In addition, according to the present invention, the first gas distribution block, a plurality of perforations having the same diameter in at least a portion may be arranged at equal intervals.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 2 가스 분배 블록은, 적어도 일부분에 제 1 직경을 갖는 적어도 하나의 제 1 가스홀이 형성되고, 타부분에 상기 제 1 직경 보다 작은 제 2 직경을 갖는 적어도 하나의 제 2 가스홀이 형성될 수 있다.In addition, according to the present invention, in the second gas distribution block, at least one first gas hole having a first diameter is formed in at least one part, and at least one having a second diameter smaller than the first diameter in the other part. of the second gas hole may be formed.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 1 가스홀은, 소정의 각도로 지향 분사되도록 지향성 홀로 형성될 수 있다.Also, according to the present invention, the first gas hole may be formed as a directional hole so as to be directed injection at a predetermined angle.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 제 2 가스홀은, 연직 방향으로 분사되도록 연직 방향 홀로 형성될 수 있다.Also, according to the present invention, the second gas hole may be formed in a vertical direction so as to be injected in the vertical direction.

한편, 상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 사상에 따른 기판 처리 시스템은, 기판을 처리할 수 있는 처리 공간이 형성되는 공정 챔버; 상기 공정 챔버로 플라즈마 가스를 공급하는 플라즈마 반응 장치; 상기 플라즈마 반응 장치에 설치되고, 플라즈마 소스 가스를 공급하는 가스 공급 라인; 및 제 1 모드시, 플라즈마 소스 가스를 상기 가스 공급 라인 또는 상기 플라즈마 반응 장치를 우회(바이 패스)하여 상기 공정 챔버로 공급될 수 있도록 제어할 수 있고, 제 2 모드시, 상기 다운스트림 가스가 상기 플라즈마 반응 장치를 우회(바이 패스)하여 상기 공정 챔버로 공급될 수 있도록 상기 가스 공급 라인과 상기 공정 챔버 사이에 설치되는 바이 패스 라인;을 포함할 수 있다.On the other hand, a substrate processing system according to an aspect of the present invention for solving the above problems, a process chamber in which a processing space capable of processing a substrate is formed; a plasma reaction device supplying a plasma gas to the process chamber; a gas supply line installed in the plasma reactor and supplying a plasma source gas; and in the first mode, it is possible to control the plasma source gas to be supplied to the process chamber by bypassing (bypassing) the gas supply line or the plasma reaction device, and in the second mode, the downstream gas is supplied to the and a bypass line installed between the gas supply line and the process chamber so as to bypass (bypass) the plasma reactor and be supplied to the process chamber.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 플라즈마 반응 장치는, 일측에 가스 유입부가 형성되고, 타측에 가스 배출부가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체; 및 상기 가스 유입부를 통해 유입된 가스를 상기 환형 루프 공간으로 이중 분배하는 가스 분배 장치;를 포함할 수 있다.In addition, according to the present invention, the plasma reaction apparatus, a reaction body having a gas inlet portion formed on one side, a gas exhaust portion formed on the other side, and an annular loop space formed therein; and a gas distribution device for double-distributing the gas introduced through the gas inlet to the annular roof space.

한편, 상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 사상에 따른 플라즈마 반응 장치의 가스 분배 방법은, 일측에 가스 유입부가 형성되고, 타측에 가스 배출부가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체 및 상기 가스 유입부에 설치되고, 가스를 상기 환형 루프 공간으로 분배하는 가스 분배 장치를 포함하는 플라즈마 반응 장치의 가스 분배 방법에 있어서, (a) 동일한 직경의 복수개의 천공구를 이용하여 상기 가스를 균일한 압력으로 1차 분배하는 단계; 및 (b) 1차 분배된 상기 가스가 편향성을 가지고 와류를 형성하여 상기 환형 루프 공간의 좌측 루프 공간 및 우측 루프 공간으로 균등하게 분배될 수 있도록 직경 또는 각도가 서로 다른 가스홀들을 이용하여 상기 가스를 불균일한 압력으로 편향되게 2차 분배하는 단계;를 포함할 수 있다.On the other hand, in the gas distribution method of the plasma reaction apparatus according to the spirit of the present invention for solving the above problems, a reaction body in which a gas inlet is formed on one side, a gas outlet is formed on the other side, and an annular loop space is formed therein; In the gas distribution method of a plasma reaction apparatus including a gas distribution device installed in the gas inlet and distributing gas to the annular loop space, (a) uniformly distributing the gas using a plurality of perforations having the same diameter First dispensing at one pressure; and (b) using gas holes having different diameters or angles so that the firstly distributed gas forms a vortex with deflection and is equally distributed to the left and right roof spaces of the annular roof space. It may include; a step of distributing the secondary to be biased with non-uniform pressure.

상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 분배 장치와 가스 분배 방법과 플라즈마 반응 장치 및 기판 처리 시스템에 따르면, 가스의 흐름을 능동적으로 제어하여 와류를 형성함으로써 가스가 환형 루프 공간의 좌측 루프 공간과 우측 루프 공간으로 균일하게 분배할 수 있고, 이를 통해서, 플라즈마 방전의 차이로 인하여 좌우의 전기적인 특성 편차 현상, 플라즈마 압력 편차 현상, 온도 편차 현상 등을 방지하여 플라즈마 발생 효율을 극대화할 수 있는 효과를 갖는 것이다. 물론 이러한 효과에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.According to the gas distribution apparatus, the gas distribution method, the plasma reaction apparatus, and the substrate processing system according to an embodiment of the present invention made as described above, the gas flows to the left side of the annular loop space by actively controlling the flow of the gas to form a vortex. It can be evenly distributed between the roof space and the right roof space, and through this, the plasma generation efficiency can be maximized by preventing the left and right electrical characteristic deviation phenomenon, plasma pressure deviation phenomenon, and temperature deviation phenomenon due to the difference in plasma discharge. to have an effect. Of course, the scope of the present invention is not limited by these effects.

도 1은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 플라즈마 반응 장치를 나타내는 정단면도이다.
도 2는 도 1의 플라즈마 반응 장치를 나타내는 측단면도이다.
도 3은 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 1 가스 분배 블록의 일례를 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 2 가스 분배 블록의 일례를 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 2 가스 분배 블록의 다른 일례를 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 2 가스 분배 블록의 또 다른 일례를 나타내는 평면도이다.
도 7은 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 2 가스 분배 블록의 또 다른 일례를 나타내는 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 기판 처리 시스템을 나타내는 개념도이다.
도 9는 본 발명의 일부 실시예들에 따른 플라즈마 반응 장치(100)의 가스 분배 방법을 나타내는 순서도이다.
1 is a front cross-sectional view showing a plasma reaction apparatus according to some embodiments of the present invention.
FIG. 2 is a side cross-sectional view illustrating the plasma reaction apparatus of FIG. 1 .
3 is a plan view illustrating an example of a first gas distribution block of the plasma reactor of FIG. 1 .
4 is a plan view illustrating an example of a second gas distribution block of the plasma reactor of FIG. 1 .
FIG. 5 is a plan view illustrating another example of a second gas distribution block of the plasma reactor of FIG. 1 .
6 is a plan view illustrating another example of a second gas distribution block of the plasma reactor of FIG. 1 .
7 is a plan view illustrating another example of a second gas distribution block of the plasma reactor of FIG. 1 .
8 is a conceptual diagram illustrating a substrate processing system according to some exemplary embodiments.
9 is a flowchart illustrating a gas distribution method of the plasma reaction apparatus 100 according to some embodiments of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 여러 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, several preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려 이들 실시예들은 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 당업자에게 본 발명의 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다. 또한, 도면에서 각 층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장된 것이다.Examples of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those of ordinary skill in the art, and the following examples may be modified in various other forms, and the scope of the present invention is as follows It is not limited to an Example. Rather, these embodiments are provided so as to more fully and complete the present disclosure, and to fully convey the spirit of the present invention to those skilled in the art. In addition, in the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated for convenience and clarity of description.

도 1은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 플라즈마 반응 장치(100)를 나타내는 단면도이고, 도 2는 도 1의 플라즈마 반응 장치(100)를 나타내는 측단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a plasma reaction apparatus 100 according to some embodiments of the present invention, and FIG. 2 is a side cross-sectional view illustrating the plasma reaction apparatus 100 of FIG. 1 .

먼저, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일부 실시예들에 따른 플라즈마 반응 장치(100)는, 크게 반응 본체(10)와, 가스 분배 장치(20) 및 마그네틱 코어(30)를 포함할 수 있다. First, as shown in FIGS. 1 and 2 , the plasma reaction apparatus 100 according to some embodiments of the present invention is largely a reaction body 10 , a gas distribution apparatus 20 and a magnetic core 30 . may include

예컨대, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 반응 본체(10)는, 일측(상부)에 가스 유입부(10a)가 형성되고, 타측(하부)에 가스 배출부(10b)가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간(B)이 형성되는 전체적으로 고리 형상인 통형 구조체로서, 상기 반응 본체(10)는, 토로이달 형태, 즉 변압기 결합 형태의 리모트 플라즈마 발생 장치(RPG, remote plasma generator)에 적용될 수 있다.For example, as shown in FIGS. 1 and 2, the reaction body 10 has a gas inlet portion 10a formed on one side (upper side) and a gas outlet portion 10b formed on the other side (lower side). An annular loop space (B) is formed therein as a tubular structure having an overall annular shape, and the reaction body 10 can be applied to a toroidal type, that is, a remote plasma generator (RPG) of a transformer-coupled type. have.

그러나, 이러한, 상기 반응 본체(10)는, 도면에 반드시 국한되지 않는 것으로서, 일체형으로 제작될 수 있는 것은 물론이고, 복수개의 블록들이 서로 접착되거나 조립되어 이루어질 수 있으며, 쿼츠나 절연 표면 처리된 알루미늄 블록 등 다양한 형태 및 재질로 제작될 수 있다.However, the reaction body 10 is not necessarily limited to the drawings, and may be manufactured integrally, as well as a plurality of blocks may be adhered to or assembled with each other, and quartz or insulating surface-treated aluminum It can be manufactured in various shapes and materials such as blocks.

따라서, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 가스(G)가 상기 가스 유입부(10a)를 통해 상기 반응 본체(10)의 내부로 유입되고, 상기 환형 루프 공간(B)의 좌측 루프 공간(B1)과 우측 루프 공간(B2)으로 분배되어 각각 플라즈마 상태로 여기될 수 있고, 이러한 플라즈마는 상기 반응 본체(10)의 상기 가스 배출부(10b)를 통해서 외부로 배출될 수 있다.Accordingly, as shown in FIG. 1 , the gas G is introduced into the reaction body 10 through the gas inlet 10a, and the left loop space B1 of the annular roof space B is ) and the right roof space B2, respectively, may be excited into a plasma state, and this plasma may be discharged to the outside through the gas discharge unit 10b of the reaction body 10 .

또한, 예컨대, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 가스 분배 장치(20)는, 상기 가스(G)가 상기 반응 본체(10)의 내부로 유입되기 이전에 가스의 흐름을 유도할 수 있는 것으로서, 상기 가스 유입부(10a)에 설치되어 가스(G)를 상기 환형 루프 공간(B)으로 분배하는 장치일 수 있다.In addition, for example, as shown in FIGS. 1 and 2 , the gas distribution device 20 may induce a flow of gas before the gas G is introduced into the interior of the reaction body 10 . As such, it may be a device installed in the gas inlet 10a to distribute the gas G to the annular roof space B.

더욱 구체적으로 예를 들면, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 가스 분배 장치(20)는, 일측에 가스 유입홀(21a)이 형성되고, 내부에 분배 공간(A)이 형성되는 분배 몸체(21)와, 상기 분배 몸체(21)의 일측에 설치되고, 상기 가스 유입홀(21a)로 유입된 상기 가스(G)를 1차 분배하는 제 1 가스 분배 블록(22-1) 및 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)과 이격되도록 상기 분배 몸체(21)의 타측에 설치되고, 1차 분배된 상기 가스(G)를 2차로 재분배하는 제 2 가스 분배 블록(22-2)을 포함할 수 있다.More specifically, for example, as shown in FIGS. 1 and 2 , the gas distribution device 20 includes a gas inlet hole 21a formed on one side and a distribution space A formed therein. a body 21, a first gas distribution block 22-1 installed on one side of the distribution body 21 and primarily distributing the gas G introduced into the gas inlet hole 21a, and the A second gas distribution block 22-2 installed on the other side of the distribution body 21 to be spaced apart from the first gas distribution block 22-1 and redistributing the firstly distributed gas (G) to a second may include

따라서, 상기 가스(G)는 상기 반응 본체(10)의 내부로 유입되기 이전에 상기 분배 몸체(21)의 내부로 유입되어 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1) 및 상기 제 2 가스 분배 블록(22-2)을 통과하면서 상기 가스(G)의 흐름이 능동적으로 제어될 수 있다.Accordingly, the gas G is introduced into the distribution body 21 before being introduced into the reaction body 10 to the first gas distribution block 22-1 and the second gas distribution block. While passing through (22-2), the flow of the gas (G) may be actively controlled.

도 3는 도 1의 플라즈마 반응 장치(100)의 제 1 가스 분배 블록(22-1)의 일례를 나타내는 평면도이다.3 is a plan view illustrating an example of the first gas distribution block 22-1 of the plasma reaction apparatus 100 of FIG. 1 .

더욱 구체적으로 예를 들면, 도 1 및 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)은, 상기 가스 유입홀(21a)로 유입된 상기 가스(G)가 균일한 압력으로 1차 분배될 수 있도록 적어도 일부분에 동일한 직경(D)의 복수개의 천공구(H)가 동일한 간격(S)으로 배치될 수 있다.More specifically, for example, as shown in FIGS. 1 and 3 , in the first gas distribution block 22-1, the gas G introduced into the gas inlet hole 21a has a uniform pressure. A plurality of drilling spheres (H) having the same diameter (D) in at least a portion may be arranged at the same interval (S) so as to be distributed as a first.

따라서, 상기 가스(G)는 상기 가스 유입홀(21a)의 위치나 최초 가스의 흐름 형태나 압력 등과는 상관없이, 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)에서 동일한 직경(D)의 동일한 간격(S)으로 배치되는 복수개의 천공구(H)들을 통과하면서 전후좌우 방향으로의 압력 편차를 줄임으로써 균일한 압력으로 상기 분배 공간(A)의 내부에서 1차로 분배될 수 있다.Accordingly, the gas G has the same diameter D in the first gas distribution block 22-1 regardless of the position of the gas inlet hole 21a or the flow shape or pressure of the initial gas. By reducing the pressure deviation in the front, back, left, and right directions while passing through the plurality of perforations (H) arranged as (S), a uniform pressure can be primarily distributed in the interior of the distribution space (A).

그러므로, 이러한 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)을 통과한 상기 가스(G)는 균일한 압력으로 분배되어 이하에서 보다 상세하게 설명될 상기 제 2 가스 분배 블록(22-2)에 도달될 수 있다.Therefore, the gas G that has passed through the first gas distribution block 22-1 is distributed at a uniform pressure to reach the second gas distribution block 22-2, which will be described in more detail below. can

도 4는 도 1의 플라즈마 반응 장치(100)의 제 2 가스 분배 블록(22-2)의 일례를 나타내는 평면도이다.4 is a plan view illustrating an example of the second gas distribution block 22 - 2 of the plasma reaction apparatus 100 of FIG. 1 .

예컨대, 도 1 및 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 가스 분배 블록(22-2)은, 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)을 통과한 상기 가스(G)가 편향성을 가지고 상기 환형 루프 공간(B)으로 재분배될 수 있도록 적어도 일부분에 제 1 직경(D1)을 갖는 적어도 하나의 제 1 가스홀(H1)이 제 1 간격(S1)으로 형성되고, 타부분에 상기 제 1 직경(D1) 보다 작은 제 2 직경(D2)을 갖는 적어도 하나의 제 2 가스홀(H2)이 제 2 간격(S2)으로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제 1 간격(S1)과 상기 제 2 간격(S2)은 동일하거나 또는 서로 다르게 형성될 수 있다.For example, as shown in FIGS. 1 and 4 , in the second gas distribution block 22-2, the gas G having passed through the first gas distribution block 22-1 has a deflection. At least one first gas hole (H1) having a first diameter (D1) in at least a portion to be redistributed to the annular roof space (B) is formed at a first interval (S1), and the first diameter in the other portion At least one second gas hole H2 having a second diameter D2 smaller than (D1) may be formed at a second interval S2. Here, the first interval S1 and the second interval S2 may be the same or different from each other.

더욱 구체적으로 예를 들면, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 가스홀(H1)은, 복수개가 상기 제 1 간격(S1)으로 서로 이격되어 1개의 직선의 배치 라인(L1)을 이루도록 배치될 수 있다.More specifically, for example, as shown in FIG. 3 , a plurality of the first gas holes H1 are spaced apart from each other by the first interval S1 to form a single straight arrangement line L1 . can be

여기서, 도 4에 도시된 바와 같이, 이러한 직선의 상기 배치 라인(L1)은, 상기 환형 루프 공간(B)을 위에서 보았을 때, 좌측 루프 공간(B1)과 대응되는 부분에서 시작해서 우측 루프 공간(B2)과 대응되는 부분으로 종료될 수 있도록 좌우 대칭적으로 형성될 수 있다.Here, as shown in FIG. 4, the arrangement line L1 of such a straight line starts at a portion corresponding to the left roof space B1 when the annular roof space B is viewed from above, and is then formed in the right roof space ( B2) and may be formed symmetrically left and right so that it can end with a corresponding part.

또한, 예컨대, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 가스홀(H1)은 연직 방향의 홀로 형성할 수도 있으나, 소정의 각도(K)를 지향하여 분사되도록 지향성 홀로 형성할 수 있다. 이는 가스(G)가 반응 몸체(10)의 내주면을 충돌하도록 지향 분사하여 반응 몸체(10)의 중심을 향하는 도 2의 와류 패턴(도 2의 곡선 화살표 방향)을 형성함으로써 환형 루프 공간(B)의 좌측 루프 공간(B1)과 우측 루프 공간(B2)으로 균일하게 확산되는 효과를 기대할 수 있다.Also, for example, as shown in FIG. 2 , the first gas hole H1 may be formed as a hole in a vertical direction, but may be formed as a directional hole to be sprayed at a predetermined angle K. This is by direct injection of the gas G so as to collide with the inner circumferential surface of the reaction body 10 to form the vortex pattern of FIG. The effect of uniformly spreading into the left loop space B1 and the right loop space B2 of the can be expected.

반면, 상기 제 2 가스홀(H2)는 연직 방향의 홀로 형성할 수 있다. 이는 가스(G)가 연직 방향(도 2의 연직 화살표 방향)으로 분사되어 상기 제 2 가스홀(H2)를 통해 분사된 가스(G)의 메인 스트림의 흐름을 더욱 가속시켜 메인 스트림에 의해 형성되는 와류 패턴을 더욱 뚜렷하게 나타낼 수 있다.On the other hand, the second gas hole H2 may be formed as a hole in a vertical direction. This is formed by the main stream by further accelerating the flow of the main stream of the gas G is injected in the vertical direction (vertical arrow direction in FIG. 2 ) and injected through the second gas hole H2. The vortex pattern can be displayed more clearly.

예컨대, 상기 제 2 가스홀(H2)은 이러한 메인 스트림의 와류 패턴을 더욱 촉진시킬 수 있도록 배치될 수 있는 것으로서, 상기 제 1 가스홀(H1)의 근처에 편중되게 배치되는 등 다양한 형태로 다양한 위치에 배치될 수 있다.For example, the second gas hole H2 may be disposed to further promote the vortex pattern of the main stream, and may have various positions in various forms, such as being biased in the vicinity of the first gas hole H1 . can be placed in

따라서, 균일한 압력으로 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)을 통과한 상기 가스(G)가 상기 제 2 가스 분배 블록(22-2)에 의해 편향성을 가지고 상기 환형 루프 공간(B)으로 재분배될 수 있고, 이러한 편향성은 상기 환형 루프 공간(B)에서 상하방향으로의 와류를 형성할 수 있으며, 이러한 상하 방향으로 회전되는 제어 가능한 와류를 통해서 상기 가스(G)의 방향성을 능동적으로 제어함으로써, 상기 가스(G)를 상기 환형 루프 공간(B)의 상기 좌측 루프 공간(B1)과 상기 우측 루프 공간(B2)으로 균등한 분배를 기대할 수 있다.Accordingly, the gas G having passed through the first gas distribution block 22-1 with a uniform pressure is deflected by the second gas distribution block 22-2 into the annular loop space B. can be redistributed, and this deflection can form a vertical vortex in the annular loop space B, and by actively controlling the directionality of the gas G through this vertically rotated controllable vortex , it can be expected to evenly distribute the gas G to the left roof space B1 and the right roof space B2 of the annular roof space B.

그러므로, 상기 가스(G)의 흐름을 능동적으로 제어하여 상하 방향으로의 와류를 적극적으로 형성함으로써 상기 가스(G)가 상기 환형 루프 공간(B)의 좌측 루프 공간(B1)과 우측 루프 공간(B2)으로 균일하게 분배할 수 있고, 이를 통해서, 플라즈마 방전의 차이로 인하여 좌우의 전기적인 특성 편차 현상, 플라즈마 압력 편차 현상, 온도 편차 현상 등을 방지하여 플라즈마 발생 효율을 극대화할 수 있다.Therefore, by actively controlling the flow of the gas G to actively form a vortex in the vertical direction, the gas G is transferred to the left loop space B1 and the right loop space B2 of the annular roof space B. ), and through this, the plasma generation efficiency can be maximized by preventing the left and right electrical characteristic deviation phenomenon, plasma pressure deviation phenomenon, and temperature deviation phenomenon due to the difference in plasma discharge.

그러나, 이러한 상기 제 2 가스 분배 블록(22-2)은, 도면에 반드시 국한되지 않는 것으로서, 매우 다양한 형상이나 종류의 상기 제 1 가스홀(H1)들과 상기 제 2 가스홀(H1)들이 다양한 형태로 배치되어 적용될 수 있다.However, the second gas distribution block 22 - 2 is not necessarily limited to the drawings, and the first gas holes H1 and the second gas holes H1 of a wide variety of shapes and types are various. It can be arranged and applied in the form.

도 5는 도 1의 플라즈마 반응 장치(100)의 제 2 가스 분배 블록(22-3)의 다른 일례를 나타내는 평면도이다.5 is a plan view illustrating another example of the second gas distribution block 22 - 3 of the plasma reaction apparatus 100 of FIG. 1 .

도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 가스 분배 블록(22-3)의 제 1 가스홀(H1)은, 복수개가 상기 제 1 간격(S1)으로 서로 이격되어 2개의 직선의 배치 라인(L1)을 이루도록 배치될 수 있다.As shown in FIG. 5 , a plurality of first gas holes H1 of the second gas distribution block 22 - 3 are spaced apart from each other by the first interval S1 , and are arranged in two straight lines L1 . ) can be arranged to achieve

여기서, 도 5에 도시된 바와 같이, 이러한 직선의 상기 배치 라인(L1) 중 하나는, 상기 환형 루프 공간(B)을 위에서 보았을 때, 좌측 루프 공간(B1)과 대응되는 부분에서 시작해서 중간 부분으로 종료되고, 다른 하나는, 우측 루프 공간(B2)과 대응되는 부분에서 시작해서 중간 부분으로 종료될 수 있도록 대각선 대칭적으로 형성될 수 있다.Here, as shown in FIG. 5 , one of the arrangement lines L1 of such a straight line starts from a portion corresponding to the left roof space B1 when the annular roof space B is viewed from above and starts at the middle portion. , and the other one may be formed diagonally symmetrically so as to start from a portion corresponding to the right roof space B2 and end with an intermediate portion.

따라서, 균일한 압력으로 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)을 통과한 상기 가스(G)가 상기 제 2 가스 분배 블록(22-3)에 의해 편향성을 가지고 상기 환형 루프 공간(B)으로 재분배될 수 있고, 이러한 편향성은 상기 환형 루프 공간(B)에서 상하방향으로의 좌측 와류 및 우측 와류를 각각 형성할 수 있으며, 이러한 상하 방향으로 회전되는 제어 가능한 좌측 와류 및 우측 와류를 통해서 상기 가스(G)의 방향성을 능동적으로 제어함으로써, 상기 가스(G)를 상기 환형 루프 공간(B)의 상기 좌측 루프 공간(B1)과 상기 우측 루프 공간(B2)으로 균등한 분배를 기대할 수 있다.Accordingly, the gas G having passed through the first gas distribution block 22-1 with a uniform pressure is deflected by the second gas distribution block 22-3 into the annular loop space B. can be redistributed, and this deflection can form a left vortex and a right vortex in the vertical direction in the annular loop space B, respectively, and through these controllable left vortex and right vortex rotated in the vertical direction, the gas ( By actively controlling the directionality of G), an even distribution of the gas G to the left roof space B1 and the right roof space B2 of the annular roof space B can be expected.

도 6은 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 2 가스 분배 블록(22-4)의 또 다른 일례를 나타내는 평면도이다.FIG. 6 is a plan view illustrating another example of the second gas distribution block 22-4 of the plasma reactor of FIG. 1 .

도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 가스 분배 블록(22-4)의 제 1 가스홀(H1)은, 복수개가 상기 제 1 간격(S1)으로 서로 이격되어 1개의 곡선의 배치 라인(L2)을 이루도록 배치될 수 있다.As shown in FIG. 6 , a plurality of first gas holes H1 of the second gas distribution block 22 - 4 are spaced apart from each other by the first interval S1 to form one curved arrangement line L2 . ) can be arranged to achieve

여기서, 도 6에 도시된 바와 같이, 이러한 곡선의 상기 배치 라인(L2)은, 상기 환형 루프 공간(B)을 위에서 보았을 때, 좌측 루프 공간(B1)과 대응되는 부분에서 시작해서 우측 루프 공간(B2)과 대응되는 부분에서 종료될 수 있도록 좌우 대칭적으로 형성될 수 있다.Here, as shown in FIG. 6 , the arrangement line L2 of this curve starts from a portion corresponding to the left roof space B1 when the annular roof space B is viewed from above, and the right roof space ( B2) and may be formed symmetrically left and right so that it can end at the corresponding part.

따라서, 균일한 압력으로 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)을 통과한 상기 가스(G)가 상기 제 2 가스 분배 블록(22-4)에 의해 편향성을 가지고 상기 환형 루프 공간(B)으로 재분배될 수 있고, 이러한 편향성은 상기 환형 루프 공간(B)에서 상하방향으로의 와류를 각각 형성할 수 있으며, 이러한 상하 방향으로 회전되는 제어 가능한 와류를 통해서 상기 가스(G)의 방향성을 능동적으로 제어함으로써, 상기 가스(G)를 상기 환형 루프 공간(B)의 상기 좌측 루프 공간(B1)과 상기 우측 루프 공간(B2)으로 균등한 분배를 기대할 수 있다.Accordingly, the gas G having passed through the first gas distribution block 22-1 with a uniform pressure is deflected by the second gas distribution block 22-4 into the annular loop space B. can be redistributed, and this deflection can form a vertical vortex in the annular loop space B, respectively, and actively control the directionality of the gas G through a controllable vortex that rotates in the vertical direction By doing so, it is possible to expect an even distribution of the gas G to the left roof space B1 and the right roof space B2 of the annular roof space B.

도 7은 도 1의 플라즈마 반응 장치의 제 2 가스 분배 블록(22-5)의 또 다른 일례를 나타내는 평면도이다.FIG. 7 is a plan view illustrating another example of the second gas distribution block 22-5 of the plasma reactor of FIG. 1 .

도 7에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 가스 분배 블록(22-5)의 제 1 가스홀(H1)은, 복수개가 상기 제 1 간격(S1)으로 서로 이격되어 2개의 곡선의 배치 라인(L2)을 이루도록 배치될 수 있다.As shown in FIG. 7 , a plurality of first gas holes H1 of the second gas distribution block 22 - 5 are spaced apart from each other by the first interval S1 to form two curved arrangement lines L2 . ) can be arranged to achieve

여기서, 도 7에 도시된 바와 같이, 이러한 곡선의 상기 배치 라인(L2) 중 하나는, 상기 환형 루프 공간(B)을 위에서 보았을 때, 좌측 루프 공간(B1)과 대응되는 부분에서 시작해서 중간 부분으로 종료되고, 다른 하나는, 우측 루프 공간(B2)과 대응되는 부분에서 시작해서 중간 부분으로 종료될 수 있도록 대각선 대칭적으로 형성될 수 있다.Here, as shown in FIG. 7 , one of the arrangement lines L2 of such a curve starts at a portion corresponding to the left roof space B1 when the annular roof space B is viewed from above, and starts at the middle portion. , and the other one may be formed diagonally symmetrically so as to start from a portion corresponding to the right roof space B2 and end with an intermediate portion.

따라서, 균일한 압력으로 상기 제 1 가스 분배 블록(22-1)을 통과한 상기 가스(G)가 상기 제 2 가스 분배 블록(22-5)에 의해 편향성을 가지고 상기 환형 루프 공간(B)으로 재분배될 수 있고, 이러한 편향성은 상기 환형 루프 공간(B)에서 상하방향으로의 좌측 와류 및 우측 와류를 각각 형성할 수 있으며, 이러한 상하 방향으로 회전되는 제어 가능한 좌측 와류 및 우측 와류를 통해서 상기 가스(G)의 방향성을 능동적으로 제어함으로써, 상기 가스(G)를 상기 환형 루프 공간(B)의 상기 좌측 루프 공간(B1)과 상기 우측 루프 공간(B2)으로 균등한 분래를 기대할 수 있다.Accordingly, the gas G having passed through the first gas distribution block 22-1 with a uniform pressure is deflected by the second gas distribution block 22-5 into the annular loop space B. can be redistributed, and this deflection can form a left vortex and a right vortex in the vertical direction in the annular loop space B, respectively, and through these controllable left vortex and right vortex rotated in the vertical direction, the gas ( By actively controlling the directionality of G), equal distribution of the gas G into the left roof space B1 and the right roof space B2 of the annular roof space B can be expected.

또한, 예컨대, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 마그네틱 코어(30)는, 상기 반응 본체(10)의 적어도 일부분을 둘러싸는 형상으로 형성되고, 상기 환형 루프 공간(B) 내의 상기 가스(G)를 여기시켜서 플라즈마를 발생시킬 수 있도록 일차 권선을 갖는 자성체를 포함할 수 있다.In addition, for example, as shown in FIG. 1 , the magnetic core 30 is formed in a shape surrounding at least a portion of the reaction body 10 , and the gas G in the annular loop space B It may include a magnetic material having a primary winding to excite the plasma to generate plasma.

도 8은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 기판 처리 시스템(1000)을 나타내는 개념도이다.8 is a conceptual diagram illustrating a substrate processing system 1000 according to some exemplary embodiments.

도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일부 실시예들에 따른 기판 처리 시스템(1000)은, 기판(W)을 처리할 수 있는 처리 공간이 형성되는 공정 챔버(C)와, 상기 공정 챔버(C)로 플라즈마 가스를 공급하는 플라즈마 반응 장치(100)와, 상기 플라즈마 반응 장치(100)에 설치되고, 플라즈마 소스 가스(Gas 1)를 공급하는 가스 공급 라인(L1)과, 제 1 모드시, 플라즈마 소스 가스를 상기 가스 공급 라인 또는 상기 플라즈마 반응 장치를 우회(바이 패스)하여 상기 공정 챔버로 공급될 수 있도록 제어할 수 있고, 제 2 모드시, 상기 다운스트림 가스(Gas 2)가 상기 플라즈마 반응 장치(100)를 우회(바이 패스)하여 상기 공정 챔버(C)로 공급될 수 있도록 상기 가스 공급 라인(L1)과 상기 공정 챔버(C) 사이에 설치되는 바이 패스 라인(L2)을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 8 , the substrate processing system 1000 according to some embodiments of the present disclosure includes a process chamber C in which a processing space capable of processing a substrate W is formed, and the process chamber ( C) a plasma reaction apparatus 100 for supplying plasma gas, a gas supply line L1 installed in the plasma reaction apparatus 100 and supplying a plasma source gas (Gas 1), in the first mode, It is possible to control plasma source gas to be supplied to the process chamber by bypassing (bypassing) the gas supply line or the plasma reaction device, and in the second mode, the downstream gas (Gas 2 ) is the plasma reaction A bypass line L2 installed between the gas supply line L1 and the process chamber C to bypass (bypass) the apparatus 100 and be supplied to the process chamber C may be included. have.

따라서, 본 발명의 기판 처리 시스템(1000)은 밸브 스위칭 제어를 통해 공정 챔버측으로의 가스 공급을 제어할 수 있는 것으로서, 예컨대, 제 1 모드에서, 플라즈마 가스 소스(Gas 1)는 제 1 밸브 스위치(SV1)를 on 상태, 제 2 밸브 스위치(SV2)를 off 상태로 제어하여 플라즈마 반응 장치(100)를 바이패스시켜서 가스 공급을 제어할 수 있다.Accordingly, the substrate processing system 1000 of the present invention can control the gas supply to the process chamber side through the valve switching control. For example, in the first mode, the plasma gas source Gas 1 is connected to the first valve switch ( By controlling the SV1 to be on and the second valve switch SV2 to be turned off, the plasma reaction apparatus 100 may be bypassed to control gas supply.

또한, 상기 다운스트림 가스(Gas 2)는 제 1 밸브 스위치(SV1)를 off 상태, 제 2 밸브 스위치(SV2)를 on 상태로 제어하여 가스 공급을 제어할 수 있다.In addition, the downstream gas Gas 2 may control the gas supply by controlling the first valve switch SV1 to be turned off and the second valve switch SV2 to be turned on.

여기서, 플라즈마 가스 소스(Gas 1)는 O2, N2, Ar, NF3, He 가스일 수 있고, 다운 스트림 가스 소스(Gas 2)는 NF3, CF4, CHF3, C2F6, C2HF5, C3F8, C4F8, XeF2, Cl2, ClF3, H2, NH3일 수 있다.Here, the plasma gas source (Gas 1) may be O 2 , N 2 , Ar, NF 3 , He gas, and the downstream gas source (Gas 2) is NF 3 , CF 4 , CHF 3 , C 2 F 6 , C 2 HF 5 , C 3 F 8 , C 4 F 8 , XeF 2 , Cl 2 , ClF 3 , H 2 , NH 3 .

또한, 예컨대, 상기 플라즈마 반응 장치(100)는, 도 1 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 일측에 가스 유입부(10a)가 형성되고, 타측에 가스 배출부(10b)가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체(10) 및 상기 가스 유입부를 통해 유입된 가스를 상기 환형 루프 공간으로 이중 분배하는 가스 분배 장치(20)를 포함할 수 있다.In addition, for example, as shown in FIGS. 1 to 7 , in the plasma reaction apparatus 100 , a gas inlet 10a is formed on one side and a gas outlet 10b is formed on the other side, and the inside It may include a reaction body 10 in which the annular loop space is formed, and a gas distribution device 20 for double-distributing the gas introduced through the gas inlet to the annular loop space.

도 9는 본 발명의 일부 실시예들에 따른 플라즈마 반응 장치(100)의 가스 분배 방법을 나타내는 순서도이다.9 is a flowchart illustrating a gas distribution method of the plasma reaction apparatus 100 according to some embodiments of the present invention.

도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 기술적 사상을 반영하는 본 발명의 일부 실시예들에 따른 플라즈마 반응 장치(100)의 가스 분배 방법은, 일측에 가스 유입부(10a)가 형성되고, 타측에 가스 배출부(10b)가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간(B)이 형성되는 반응 본체(10) 및 상기 가스 유입부(10a)에 설치되고, 가스(G)를 상기 환형 루프 공간(B)으로 분배하는 가스 분배 장치(20)를 포함하는 플라즈마 반응 장치(100)의 가스 분배 방법에 있어서, (a) 동일한 직경의 복수개의 천공구(H)를 이용하여 상기 가스(G)를 균일한 압력으로 1차 분배하는 단계 및 (b) 1차 분배된 상기 가스(G)가 편향성을 가지고 와류를 형성하여 상기 환형 루프 공간(B)의 좌측 루프 공간(B1) 및 우측 루프 공간(B2)으로 균등하게 분배될 수 있도록 직경 또는 각도가 서로 다른 가스홀(H1)(H2)들을 이용하여 상기 가스(G)를 불균일한 압력으로 편향되게 2차 분배하는 단계를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 9 , in the gas distribution method of the plasma reaction apparatus 100 according to some embodiments of the present invention reflecting the technical spirit of the present invention, a gas inlet 10a is formed on one side, and the other side A gas outlet 10b is formed in the reaction body 10 having an annular loop space B formed therein, and installed in the gas inlet 10a, and gas G is introduced into the annular loop space B In the gas distribution method of the plasma reaction apparatus 100 including the gas distribution apparatus 20 for distributing the The first distribution by pressure and (b) the first distribution of the gas G has a deflection and forms a vortex into the left loop space B1 and the right loop space B2 of the annular roof space B The method may include the step of distributing the gas (G) biasedly to a non-uniform pressure secondary by using the gas holes (H1) and (H2) having different diameters or angles to be evenly distributed.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, which are merely exemplary, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be determined by the technical spirit of the appended claims.

10: 반응 본체
10a: 가스 유입부
10b: 가스 배출부
G: 가스
A: 분배 공간
B: 환형 루프 공간
B1: 좌측 루프 공간
B2: 우측 루프 공간
20: 가스 분배 장치
21: 분배 몸체
21a: 가스 유입홀
22-1: 제 1 가스 분배 블록
22-2, 22-3, 22-4, 22-5: 제 2 가스 분배 블록
30: 마그네틱 코어
D: 직경
D1: 제 1 직경
D2: 제 2 직경
H: 천공구
H1: 제 1 가스홀
H2: 제 2 가스홀
S: 간격
S1: 제 1 간격
S2: 제 2 간격
L1, L2: 배치 라인
W: 기판
C: 공정 챔버
L-1: 가스 공급 라인
L-2: 바이 패스 라인
100: 플라즈마 반응 장치
1000: 기판 처리 시스템
10: reaction body
10a: gas inlet
10b: gas outlet
G: gas
A: distribution space
B: annular loop space
B1: left loop space
B2: Right roof space
20: gas distribution device
21: dispensing body
21a: gas inlet hole
22-1: first gas distribution block
22-2, 22-3, 22-4, 22-5: second gas distribution block
30: magnetic core
D: diameter
D1: first diameter
D2: second diameter
H: punch ball
H1: first gas hole
H2: second gas hole
S: thickness
S1: first interval
S2: second interval
L1, L2: batch line
W: substrate
C: process chamber
L-1: gas supply line
L-2: Bypass line
100: plasma reaction device
1000: substrate processing system

Claims (18)

일측에 가스 유입부가 형성되고, 타측에 가스 배출부가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체; 및
상기 가스 유입부를 통해 유입된 가스를 상기 환형 루프 공간으로 이중 분배하는 가스 분배 장치;를 포함하는, 플라즈마 반응 장치.
a reaction body having a gas inlet portion formed on one side, a gas outlet portion formed on the other side, and an annular loop space formed therein; and
A plasma reaction apparatus including a; a gas distribution device for double-distributing the gas introduced through the gas inlet to the annular loop space.
제 1 항에 있어서,
상기 가스 분배 장치는,
일측에 가스 유입홀이 형성되고, 내부에 분배 공간이 형성되는 분배 몸체;
상기 분배 몸체의 일측에 설치되고, 상기 가스 유입홀로 유입된 상기 가스를 1차 분배하는 제 1 가스 분배 블록; 및
상기 제 1 가스 분배 블록과 이격되도록 상기 분배 몸체의 타측에 설치되고, 1차 분배된 상기 가스를 2차로 재분배하는 제 2 가스 분배 블록;
을 포함하는, 플라즈마 반응 장치.
The method of claim 1,
The gas distribution device,
a distribution body having a gas inlet hole formed on one side and a distribution space formed therein;
a first gas distribution block installed on one side of the distribution body and primarily distributing the gas introduced into the gas inlet hole; and
a second gas distribution block installed on the other side of the distribution body so as to be spaced apart from the first gas distribution block and redistributing the firstly distributed second gas;
Containing, plasma reaction device.
제 2 항에 있어서,
상기 제 1 가스 분배 블록은,
적어도 일부분에 동일한 직경의 복수개의 천공구가 동일한 간격으로 배치되는, 플라즈마 반응 장치.
3. The method of claim 2,
The first gas distribution block,
A plurality of perforations having the same diameter are disposed at equal intervals in at least a portion of the plasma reactor.
제 2 항에 있어서,
상기 제 2 가스 분배 블록은,
적어도 일부분에 제 1 직경을 갖는 적어도 하나의 제 1 가스홀이 형성되고, 타부분에 상기 제 1 직경 보다 작은 제 2 직경을 갖는 적어도 하나의 제 2 가스홀이 형성되는, 플라즈마 반응 장치.
3. The method of claim 2,
The second gas distribution block,
At least one first gas hole having a first diameter is formed in at least one portion, and at least one second gas hole having a second diameter smaller than the first diameter is formed in the other portion.
제 4 항에 있어서,
상기 제 1 가스홀은,
소정의 각도로 지향 분사되도록 지향성 홀로 형성되는 것인 플라즈마 반응 장치.
5. The method of claim 4,
The first gas hole,
Plasma reaction apparatus that is formed with a directional hole so as to be directed injection at a predetermined angle.
제 4 항에 있어서,
상기 제 2 가스홀은,
연직 방향으로 분사되도록 연직 방향 홀로 형성되는 것인 플라즈마 반응 장치.
5. The method of claim 4,
The second gas hole,
Plasma reaction device that is formed in a vertical direction hole so as to be sprayed in the vertical direction.
제 4 항에 있어서,
상기 제 1 가스홀은 복수개가 서로 이격되어 적어도 하나의 직선의 배치 라인 또는 적어도 하나의 곡선의 배치 라인을 이루도록 적어도 일렬 배치되는, 플라즈마 반응 장치.
5. The method of claim 4,
A plurality of the first gas holes are spaced apart from each other and arranged at least in one line to form at least one linear arrangement line or at least one curved arrangement line.
제 7 항에 있어서,
직선의 상기 배치 라인 또는 곡선의 상기 배치 라인은,
상기 환형 루프 공간을 위에서 보았을 때, 좌측 루프 공간과 대응되는 부분에서 시작해서 우측 루프 공간과 대응되는 부분으로 종료될 수 있도록 좌우 대칭적 또는 대각선 대칭적으로 형성되는, 플라즈마 반응 장치.
8. The method of claim 7,
The arrangement line of a straight line or the arrangement line of a curve is,
When the annular roof space is viewed from above, the plasma reactor is formed symmetrically or diagonally so as to start at a portion corresponding to the left roof space and end at a portion corresponding to the right roof space.
제 1 항에 있어서,
상기 반응 본체의 적어도 일부분을 둘러싸는 형상으로 형성되고, 상기 환형 루프 공간 내의 상기 가스를 여기시켜서 플라즈마를 발생시킬 수 있도록 일차 권선을 갖는 마그네틱 코어;
를 더 포함하는, 플라즈마 반응 장치.
The method of claim 1,
a magnetic core formed in a shape surrounding at least a portion of the reaction body and having a primary winding configured to generate a plasma by exciting the gas in the annular loop space;
Further comprising a, plasma reaction device.
내부에 플라즈마 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체에 가스를 공급하되, 이중 분배 구조를 이용하여 상기 환형 루프 공간의 좌우측으로 균일하게 가스를 분배하는, 가스 분배 장치.A gas distribution device for supplying a gas to a reaction body having a plasma annular loop space formed therein, and uniformly distributing the gas to left and right sides of the annular loop space using a dual distribution structure. 제 10 항에 있어서,
일측에 가스 유입홀이 형성되고, 내부에 분배 공간이 형성되는 분배 몸체;
상기 분배 몸체의 일측에 설치되고, 상기 반응 본체로 유입된 상기 가스를 1차 분배하는 제 1 가스 분배 블록; 및
상기 제 1 가스 분배 블록과 이격되도록 상기 분배 몸체의 타측에 설치되고, 1차 분배된 상기 가스를 2차로 재분배하는 제 2 가스 분배 블록;
을 포함하는, 가스 분배 장치.
11. The method of claim 10,
a distribution body having a gas inlet hole formed on one side and a distribution space formed therein;
a first gas distribution block installed on one side of the distribution body and primarily distributing the gas introduced into the reaction body; and
a second gas distribution block installed on the other side of the distribution body so as to be spaced apart from the first gas distribution block and redistributing the firstly distributed second gas;
A gas distribution device comprising a.
제 11 항에 있어서,
상기 제 1 가스 분배 블록은,
적어도 일부분에 동일한 직경의 복수개의 천공구가 동일한 간격으로 배치되는, 가스 분배 장치.
12. The method of claim 11,
The first gas distribution block,
A gas distribution device, wherein a plurality of perforations of the same diameter are disposed at equal intervals in at least a portion thereof.
제 11 항에 있어서,
상기 제 2 가스 분배 블록은,
적어도 일부분에 제 1 직경을 갖는 적어도 하나의 제 1 가스홀이 형성되고, 타부분에 상기 제 1 직경 보다 작은 제 2 직경을 갖는 적어도 하나의 제 2 가스홀이 형성되는, 가스 분배 장치.
12. The method of claim 11,
The second gas distribution block,
At least one first gas hole having a first diameter is formed in at least one portion, and at least one second gas hole having a second diameter smaller than the first diameter is formed in the other portion.
제 13 항에 있어서,
상기 제 1 가스홀은,
소정의 각도로 지향 분사되도록 지향성 홀로 형성되는, 가스 분배 장치.
14. The method of claim 13,
The first gas hole,
A gas distribution device, which is formed into a directional hole for directed injection at an angle.
제 13 항에 있어서,
상기 제 2 가스홀은,
연직 방향으로 분사되도록 연직 방향 홀로 형성되는 것인 가스 분배 장치.
14. The method of claim 13,
The second gas hole,
A gas distribution device that is formed in a vertical direction hole so as to be sprayed in the vertical direction.
기판을 처리할 수 있는 처리 공간이 형성되는 공정 챔버;
상기 공정 챔버로 플라즈마 가스를 공급하는 플라즈마 반응 장치;
상기 플라즈마 반응 장치에 설치되고, 플라즈마 소스 가스를 공급하는 가스 공급 라인; 및
제 1 모드시, 플라즈마 소스 가스를 상기 가스 공급 라인 또는 상기 플라즈마 반응 장치를 우회(바이 패스)하여 상기 공정 챔버로 공급될 수 있도록 제어할 수 있고, 제 2 모드시, 상기 다운스트림 가스가 상기 플라즈마 반응 장치를 우회(바이 패스)하여 상기 공정 챔버로 공급될 수 있도록 상기 가스 공급 라인과 상기 공정 챔버 사이에 설치되는 바이 패스 라인;
을 포함하는, 기판 처리 시스템.
a process chamber in which a processing space capable of processing a substrate is formed;
a plasma reaction device supplying a plasma gas to the process chamber;
a gas supply line installed in the plasma reactor and supplying a plasma source gas; and
In the first mode, the plasma source gas may be controlled to be supplied to the process chamber by bypassing (bypassing) the gas supply line or the plasma reactor, and in the second mode, the downstream gas may be supplied to the plasma a bypass line installed between the gas supply line and the process chamber so as to bypass (bypass) the reactor and be supplied to the process chamber;
A substrate processing system comprising:
제 16 항에 있어서,
상기 플라즈마 반응 장치는,
일측에 가스 유입부가 형성되고, 타측에 가스 배출부가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체; 및
상기 가스 유입부를 통해 유입된 가스를 상기 환형 루프 공간으로 이중 분배하는 가스 분배 장치;
를 포함하는 기판 처리 시스템.
17. The method of claim 16,
The plasma reaction device,
a reaction body having a gas inlet portion formed on one side, a gas outlet portion formed on the other side, and an annular loop space formed therein; and
a gas distribution device for double-distributing the gas introduced through the gas inlet to the annular roof space;
A substrate processing system comprising a.
일측에 가스 유입부가 형성되고, 타측에 가스 배출부가 형성되며, 내부에 환형 루프 공간이 형성되는 반응 본체 및 상기 가스 유입부에 설치되고, 가스를 상기 환형 루프 공간으로 분배하는 가스 분배 장치를 포함하는 플라즈마 반응 장치의 가스 분배 방법에 있어서,
(a) 동일한 직경의 복수개의 천공구를 이용하여 상기 가스를 균일한 압력으로 1차 분배하는 단계; 및
(b) 1차 분배된 상기 가스가 편향성을 가지고 와류를 형성하여 상기 환형 루프 공간의 좌측 루프 공간 및 우측 루프 공간으로 균등하게 분배될 수 있도록 직경 또는 각도가 서로 다른 가스홀들을 이용하여 상기 가스를 불균일한 압력으로 편향되게 2차 분배하는 단계;
를 포함하는, 플라즈마 반응 장치의 가스 분배 방법.
A gas inlet portion is formed on one side, a gas outlet portion is formed on the other side, a reaction body having an annular loop space formed therein, and a gas distribution device installed in the gas inlet portion and distributing gas to the annular loop space A method for distributing gas in a plasma reaction apparatus, the method comprising:
(a) first distributing the gas at a uniform pressure using a plurality of perforations having the same diameter; and
(b) gas holes having different diameters or angles so that the firstly distributed gas forms a vortex with deflection so that it can be equally distributed to the left and right roof spaces of the annular roof space Secondary dispensing biased with non-uniform pressure;
Including, a gas distribution method of a plasma reaction device.
KR1020200095872A 2020-07-31 2020-07-31 Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system KR20220015630A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200095872A KR20220015630A (en) 2020-07-31 2020-07-31 Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200095872A KR20220015630A (en) 2020-07-31 2020-07-31 Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20220015630A true KR20220015630A (en) 2022-02-08

Family

ID=80252600

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200095872A KR20220015630A (en) 2020-07-31 2020-07-31 Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20220015630A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4388020B2 (en) Semiconductor plasma processing apparatus and method
US7666479B2 (en) Apparatus and method of gas injection sequencing
TWI647731B (en) Apparatus and method for etching a substrate
TWI650815B (en) Semiconductor processing system having multiple plasma configuration members
CN102473634B (en) Plasma treatment device and plasma treatment method
KR101061630B1 (en) Gas supply device, substrate processing apparatus and substrate processing method
KR101903751B1 (en) Methods for etch of sin films
EP1230665B1 (en) Plasma processing system with dynamic gas distribution control
CN101414537B (en) Tunable multi-zone gas injection system
JP4550507B2 (en) Plasma processing equipment
US6417111B2 (en) Plasma processing apparatus
KR20160062689A (en) Gas injection method for uniformly processing a semiconductor substrate in a semiconductor substrate processing apparatus
CN101241829A (en) Switched uniformity control
KR20090056475A (en) Plasma processing apparatus
US20070227659A1 (en) Plasma etching apparatus
KR100655445B1 (en) Apparatus and method for treating plasma, and facility for manufacturing semiconductor devices
KR20070041220A (en) Plasma treatment apparatus
KR20210044303A (en) Atomic layer treatment process using metastable activated radical species
KR20220015630A (en) Gas distributing apparatus, gas distributing method, plasma reaction apparatus and substrate processing system
KR102652014B1 (en) Apparatus for treating substrate
JP4963694B2 (en) Plasma processing equipment
US11244837B2 (en) Process gas supply apparatus and wafer treatment system including the same
KR101048193B1 (en) Etching Gas Control System
KR20060026321A (en) Plasma processing apparatus and control method thereof
KR20150104923A (en) Method of manufacturing a thin film