KR20210117456A - Foreign material detecting device and method for camera module using contrast - Google Patents

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Abstract

Disclosed are a device and a method for detecting a foreign material utilizing contrast. According to one embodiment of the present invention, the device for detecting a foreign material is to detect a foreign material of a camera module. The device includes: an image acquisition unit for acquiring and averaging input images photographed using the camera module; a contrast image generation unit for generating a contrast image by performing a contrast stretching operation on the average image; an image processing unit for emphasizing foreign materials by applying a predetermined image processing algorithm to the contrast image; and an output unit for outputting the image passed through the image processing unit through a display.

Description

컨트라스트를 활용한 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법{Foreign material detecting device and method for camera module using contrast}Foreign material detecting device and method for camera module using contrast

본 발명은 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 컨트라스트(contrast)를 활용하여 카메라 모듈의 이물을 검출하는 장치 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus and method for detecting a foreign material in a camera module, and more particularly, to an apparatus and method for detecting a foreign material in a camera module using contrast.

카메라 모듈에 대한 이물 검사 시 종래에는 눈으로 확인하는 방법을 사용하였다. 하지만, 이 경우 불량의 원인에 대하여 파악하지 못하여 생산성 효율을 저하시키고, 이로 인한 제품의 파기에 관한 문제점을 안고 있었다. When inspecting a foreign material for a camera module, conventionally, a method of visually checking was used. However, in this case, the cause of the defect could not be grasped, thereby lowering the productivity efficiency, and thus there was a problem regarding the destruction of the product.

시스템화가 진행되면서 이물을 검출하는 다양한 방법에 대하여 소개되어 이물에 대한 검출이 진행되고, 문제점을 파악한 후 클리닝하고 카메라 모듈을 재조립할 수 있는 공정을 적용함으로써 생산성을 높일 수 있게 되었다. As systemization progresses, various methods of detecting foreign substances are introduced, and the detection of foreign substances is carried out, and the productivity can be increased by identifying the problems and then cleaning and reassembling the camera module.

하지만, 투영성 및 약성의 이물기준에 대한 검출력 문제는 지속적으로 야기되고 있다. 투영성은 이물이 있음에도 빛이 투과하여 정상 결과처럼 보이는 문제이다. 투과되는 이물이 부착된 경우 또는 해상도의 크기가 늘어남에 따라 이물이 분산되어 보이지 않게 되는 현상을 말한다. 약성은 콘트라스트를 진행하였을 경우 농도에 대한 기준 중 하나(강성/약성 중 하나)로, 농도의 차이가 작은 경우를 나타낸다. However, the problem of detection power with respect to projection and weak foreign body standards is constantly being raised. Projectability is a problem in which light transmits even in the presence of foreign objects and looks like a normal result. It refers to a phenomenon in which a foreign material is dispersed and becomes invisible when a penetrating foreign material is attached or as the size of the resolution increases. Weakness is one of the criteria for concentration (one of stiffness/weakness) when contrast is performed, and indicates a case where the difference in concentration is small.

카메라 모듈에서 해상도의 증가, 렌즈의 화각에 대한 크기가 증가함에 따라 이물의 확장에 대한 검출 기준이 변경되어야 함에도 그대로 유지되어 전술한 것과 같은 문제성이 있음에도 이물이 검출되지 못하여 신뢰성 있는 결과를 제공하지 못하는 문제점이 있다. As the resolution increases in the camera module and the size of the lens increases, the detection standard for the expansion of the foreign material is maintained even though the detection standard for the expansion of the foreign material is changed. There is a problem.

기존 방법의 경우, 백색광 데이터를 이용하여 화면의 픽셀값에 대하여 휘도/색채 데이터를 검사하여 이물부착 여부를 판단하여 특성에 따라 불량제품의 원인을 규명하지만, 센싱부에 이물이 붙었을 경우 회색에 가까운 조도 값을 가지게 된다는 특성에 대해서는 이물의 농도 진하기에 따라 구분하는 특성을 판단하기 어렵다. 또한 이물 불량의 경우 불량 근거의 데이터 축적 및 환산범위의 오차에 따라서 이물 검사에 대한 실패에 따른 양산 과정의 유출 가능성을 배제할 수 없으므로 정확한 양/불에 대한 결과의 경우 특성에 따른 불량 유형 분석 결과가 주어져야 하지만 양산 공정에 적용하기는 쉽지 않다. 또한, 고휘도, 저휘도의 강조 알고리즘과 관련해서 카메라 모듈의 경우 렌즈의 곡면에 따라 많은 데이터가 밀집 되면서 어두워지는 현상과 같은 위치의 데이터에 대한 기준으로 고휘도, 저휘도의 편차가 심하여 운용이 어려운 점이 있다.In the case of the existing method, the cause of the defective product is identified according to the characteristics by examining the luminance/color data on the pixel value of the screen using the white light data to determine whether a foreign object is attached, but if a foreign material is attached to the sensing part, it is grayed out. It is difficult to judge the characteristic of having a close illuminance value according to the concentration of foreign substances. Also, in the case of a foreign material defect, the possibility of leakage of the mass production process due to the failure of the foreign material inspection cannot be excluded depending on the error in the data accumulation and conversion range of the defect basis. should be given, but it is not easy to apply to the mass production process. In addition, with respect to the algorithm for highlighting high and low luminance, in the case of the camera module, it is difficult to operate due to the severe deviation of high and low luminance as a reference for data at the same location as a phenomenon in which a lot of data is concentrated depending on the curved surface of the lens and darkens. have.

한국공개특허 제10-2005-0117424호 (2005.12.14. 공개) - 디지털 카메라 모듈의 이물질 검출 장치 및 방법Korean Patent Application Laid-Open No. 10-2005-0117424 (published on Dec. 14, 2005) - Apparatus and method for detecting foreign substances in a digital camera module

본 발명은 컨트라스트를 활용하여 이물 불량에 대한 기준을 명시하고, 출력결과에 대한 영상 판단의 기준과 평가된 기준의 육안 판정 비교 분석에 대해 신뢰성 있는 결과를 도출해 낼 수 있는 컨트라스트를 활용한 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다. The present invention uses contrast to specify criteria for foreign material defects and to derive reliable results for visual judgment comparison analysis between the image judgment criteria for the output results and the evaluated criteria of the camera module using the contrast An object of the present invention is to provide an apparatus and method for detecting a foreign material.

본 발명은 이물에 의한 수율 저하의 원인에 대해 확정적인 결과 데이터를 출력해 줌으로써 관리자의 문제 파악이 빨라져 개선 효과가 상승하는 컨트라스트를 활용한 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide an apparatus and method for detecting a foreign material in a camera module using a contrast that improves the improvement effect by quickly identifying a problem by an administrator by outputting definitive result data for a cause of a decrease in yield due to a foreign material.

본 발명의 이외의 목적들은 하기의 설명을 통해 쉽게 이해될 수 있을 것이다.Objects other than the present invention will be easily understood through the following description.

본 발명의 일 측면에 따르면, 카메라 모듈의 이물을 검출하는 이물 검출 장치로서, 상기 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득하고 평균화하는 이미지 획득부; 평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성하는 컨트라스트 이미지 생성부; 상기 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물을 부각시키는 이미지 처리부; 및 상기 이미지 처리부를 거친 이미지를 디스플레이를 통해 출력하는 출력부를 포함하는 이물 검출 장치가 제공된다. According to an aspect of the present invention, there is provided a foreign material detection apparatus for detecting a foreign material in a camera module, comprising: an image obtaining unit for obtaining and averaging an input image photographed using the camera module; a contrast image generator configured to generate a contrast image by performing a contrast stretching operation on the average image; an image processing unit for emphasizing foreign objects by applying a predetermined image processing algorithm to the contrast image; and an output unit for outputting the image passed through the image processing unit through a display.

상기 컨트라스트 이미지 생성부는 상기 평균 이미지의 밝기값 중 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 절대 최소값과 절대 최대값 사이의 최대 범위로 밝기값 변경하여 컨트라스트를 확장시켜 상기 컨트라스트 이미지를 생성할 수 있다.The contrast image generating unit may generate the contrast image by extending the contrast by changing the effective range between the minimum value and the maximum value among the brightness values of the average image to the maximum range between the absolute minimum value and the absolute maximum value.

상기 컨트라스트 이미지 생성부는 상기 최소값과 상기 최대값의 편차량에 대한 기울기를 이용하여 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행할 수 있다.The contrast image generator may perform a contrast stretching operation by using a gradient of a deviation amount between the minimum value and the maximum value.

상기 컨트라스트 이미지의 각 픽셀의 변경된 밝기값 P는 하기 수학식과 같이 계산될 수 있다.The changed brightness value P of each pixel of the contrast image may be calculated as follows.

Figure pat00001
Figure pat00001

여기서, Y는 상기 평균 이미지의 해당 픽셀의 RGB 채널의 픽셀값으로

Figure pat00002
이고, 가중치
Figure pat00003
이며, 기울기
Figure pat00004
이다. Here, Y is the pixel value of the RGB channel of the corresponding pixel of the average image.
Figure pat00002
and weight
Figure pat00003
and the slope
Figure pat00004
am.

상기 이미지 처리부는 상기 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할하고, 상기 조각 이미지별로 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하여 상기 조각 이미지마다 개별화된 이진화 처리를 수행하는 이진화 처리 모듈을 포함할 수 있다.The image processing unit may include a binarization processing module that divides the contrast image into a preset number of fragment images, analyzes the shape of a range of brightness values of pixels for each fragment image, and performs individualized binarization processing for each fragment image. have.

상기 이진화 처리 모듈은 상기 조각 이미지마다 밝기값에 대한 히스토그램을 구하고, 상기 히스토그램에서 빈도의 상승과 하락이 변화되는 지점 중에서 최소값을 기준으로 해당 조각 이미지에 대한 임계값을 설정하며, 상기 임계값보다 낮은 빈도량에 대해서는 배제 처리할 수 있다.The binarization processing module obtains a histogram of the brightness value for each fragment image, and sets a threshold value for the fragment image based on the minimum value among points where the increase and decrease of the frequency in the histogram change, and is lower than the threshold value. The frequency can be excluded.

상기 이미지 처리부는 모폴로지 침식 연산을 통해 이진화 처리된 상기 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거하는 노이즈 제거 모듈을 더 포함할 수 있다.The image processing unit may further include a noise removal module for removing noise from the contrast image that has been binarized through a morphological erosion operation.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 이물 검출 장치에서 수행되는 카메라 모듈의 이물을 검출하는 방법으로서, 상기 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득하고 평균화하는 단계; 평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계; 상기 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물을 부각시키는 단계; 및 상기 이미지 처리부를 거친 이미지를 디스플레이를 통해 출력하는 단계를 포함하는 이물 검출 방법이 제공된다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method for detecting a foreign material in a camera module performed in a foreign material detection apparatus, the method comprising: acquiring and averaging input images photographed using the camera module; generating a contrast image by performing a contrast stretching operation on the average image; emphasizing foreign objects by applying a predetermined image processing algorithm to the contrast image; and outputting the image passed through the image processing unit through a display.

상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계는 상기 평균 이미지의 밝기값 중 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 절대 최소값과 절대 최대값 사이의 최대 범위로 밝기값 변경하여 컨트라스트를 확장시켜 상기 컨트라스트 이미지를 생성할 수 있다.In the step of generating the contrast image, the contrast image can be created by changing the effective range between the minimum value and the maximum value among the brightness values of the average image to the maximum range between the absolute minimum value and the absolute maximum value to extend the contrast. have.

상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계는 상기 최소값과 상기 최대값의 편차량에 대한 기울기를 이용하여 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행할 수 있다.In the generating of the contrast image, a contrast stretching operation may be performed using a gradient of a deviation amount between the minimum value and the maximum value.

상기 이물 부각 단계는, 상기 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할하는 단계와; 상기 조각 이미지별로 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하여 상기 조각 이미지마다 개별화된 이진화 처리를 수행하는 단계를 포함할 수 있다.The step of embossing the foreign material may include: dividing the contrast image into a preset number of fragment images; and performing individualized binarization for each of the fragment images by analyzing the range shape of the brightness values of pixels for each fragment image.

상기 이물 부각 단계는, 모폴로지 침식 연산을 통해 이진화 처리된 상기 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.The step of reducing the foreign object may further include removing noise from the contrast image that has been binarized through a morphological erosion operation.

전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.Other aspects, features and advantages other than those described above will become apparent from the following drawings, claims, and detailed description of the invention.

본 발명의 실시예에 따르면, 컨트라스트를 활용하여 이물 불량에 대한 기준을 명시하고, 출력결과에 대한 영상 판단의 기준과 평가된 기준의 육안 판정 비교 분석에 대해 신뢰성 있는 결과를 도출해 낼 수 있는 효과가 있다.According to an embodiment of the present invention, the effect of deriving a reliable result for the visual judgment comparison analysis of the image judgment standard for the output result and the evaluated standard is the effect of specifying the criteria for the foreign material defect by using the contrast have.

또한, 이물에 의한 수율 저하의 원인에 대해 확정적인 결과 데이터를 출력해 줌으로써 관리자의 문제 파악이 빨라져 개선 효과가 상승하는 효과도 있다. In addition, by outputting the definitive result data for the cause of the decrease in yield due to foreign substances, the problem of the manager is quickly identified and the improvement effect is increased.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 장치의 구성도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 방법의 순서도,
도 3은 이물 검출 과정에 따른 이미지들(입력 이미지, 평균 이미지, 컨트라스트 이미지, 출력 이미지)을 나타낸 도면,
도 4는 이진화 처리 과정을 위한 이미지 분할 및 히스토그램을 나타낸 도면,
도 5는 제1 히스토그램에서의 이진화 처리 과정을 설명하기 위한 도면,
도 6은 모폴로지 연산 과정을 나타낸 도면.
1 is a block diagram of a foreign object detection apparatus using contrast according to an embodiment of the present invention;
2 is a flowchart of a foreign material detection method using contrast according to an embodiment of the present invention;
3 is a view showing images (input image, average image, contrast image, output image) according to the foreign material detection process;
4 is a view showing image segmentation and histogram for the binarization process;
5 is a view for explaining a binarization process in the first histogram;
6 is a diagram illustrating a morphology calculation process.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Since the present invention can have various changes and can have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and it should be understood to include all modifications, equivalents and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. When a component is referred to as being “connected” or “connected” to another component, it is understood that the other component may be directly connected or connected to the other component, but other components may exist in between. it should be On the other hand, when it is said that a certain element is "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that no other element is present in the middle.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used herein are used only to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In this specification, terms such as "comprises" or "have" are intended to designate that the features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification exist, but one or more other features It should be understood that this does not preclude the existence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

또한, 각 도면을 참조하여 설명하는 실시예의 구성 요소가 해당 실시예에만 제한적으로 적용되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 사상이 유지되는 범위 내에서 다른 실시예에 포함되도록 구현될 수 있으며, 또한 별도의 설명이 생략될지라도 복수의 실시예가 통합된 하나의 실시예로 다시 구현될 수도 있음은 당연하다.In addition, the components of the embodiment described with reference to each drawing are not limitedly applied only to the embodiment, and may be implemented to be included in other embodiments within the scope of maintaining the technical spirit of the present invention, and also Even if the description is omitted, it is natural that a plurality of embodiments may be re-implemented as a single integrated embodiment.

또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일하거나 관련된 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 본 명세서에 첨부된 도면에서는 구성요소의 구분을 돕고자 색상이 부여되어 있다. 하지만, 동일 구성요소라 할지라도 사시도와 단면도에서는 그 색상이 달라질 수 있다. 그리고 다른 구성요소라 할지라도 동일 혹은 유사한 색상이 부여될 수도 있다.In addition, in the description with reference to the accompanying drawings, the same components regardless of the reference numerals are given the same or related reference numerals, and the overlapping description thereof will be omitted. In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. In the drawings attached to this specification, colors are given to help distinguish the components. However, even the same component may have different colors in the perspective view and the cross-sectional view. In addition, the same or similar color may be assigned to different components.

또한, 명세서에 기재된 "…부", "…유닛", "…모듈", "…기" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.In addition, terms such as “…unit”, “…unit”, “…module”, “…group”, etc. described in the specification mean a unit that processes at least one function or operation, which is hardware or software or hardware and software. It can be implemented by combining

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 장치의 구성도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 방법의 순서도이며, 도 3은 이물 검출 과정에 따른 이미지들(입력 이미지, 평균 이미지, 컨트라스트 이미지, 출력 이미지)을 나타낸 도면이고, 도 4는 이진화 처리 과정을 위한 이미지 분할 및 히스토그램을 나타낸 도면이며, 도 5는 제1 히스토그램에서의 이진화 처리 과정을 설명하기 위한 도면이고, 도 6은 모폴로지 연산 과정을 나타낸 도면이다. 1 is a block diagram of a foreign material detection apparatus using contrast according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart of a foreign material detection method using contrast according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is foreign material detection It is a view showing images (input image, average image, contrast image, output image) according to the process, Fig. 4 is a view showing image segmentation and histogram for the binarization process, and Fig. 5 is the binarization process in the first histogram It is a diagram for explaining a process, and FIG. 6 is a diagram illustrating a morphology calculation process.

본 발명의 일 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 장치 및 방법은 검사 대상이 되는 카메라 모듈에서 획득한 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱을 통해 이물이 상대적으로 부각되도록 하여 시각적으로 출력함으로써 카메라 모듈에 대한 이물이 누락되지 않고, 관리자 입장에서는 판단이 모호한 이물 불량에 대한 보다 명시적이고 신뢰성 있는 평가 기준을 제공할 수 있는 것을 특징으로 한다. The foreign object detection apparatus and method using contrast according to an embodiment of the present invention is visually output to the camera module by making the foreign object stand out relatively through predetermined image processing for an image acquired from a camera module to be inspected. It is characterized in that foreign matter is not omitted, and a more explicit and reliable evaluation standard for foreign matter defect, which is ambiguous for the manager, can be provided.

도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 장치(100)는 이미지 획득부(110), 컨트라스트 이미지 생성부(120), 이미지 처리부(130), 출력부(140)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1 , the apparatus 100 for detecting a foreign object using contrast according to the present embodiment includes an image acquisition unit 110 , a contrast image generation unit 120 , an image processing unit 130 , and an output unit 140 . can do.

이미지 획득부(110)는 검사 대상이 되는 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득한다(단계 S200). 이를 위해 카메라 모듈을 이용하여 백색간지(혹은 광원) 및/또는 흑색간지를 촬영한 이미지를 입력 이미지로 획득할 수 있다. 백색간지를 촬영한 입력 이미지의 경우 흑색이물이 용이하게 검출될 수 있고, 흑색간지를 촬영한 입력 이미지의 경우 백색이물이 용이하게 검출될 수 있다. The image acquisition unit 110 acquires an input image photographed using a camera module to be inspected (step S200). For this, an image obtained by photographing a white swab (or a light source) and/or a black swab may be acquired as an input image by using the camera module. In the case of an input image obtained by photographing a white interleaf, a black foreign material may be easily detected, and in the case of an input image obtained by photographing a black interleaf, a white foreign material may be easily detected.

본 실시예에서는 이물 확인을 위해 카메라 모듈에 대한 신뢰성 있는 평가 기준을 제공하고자 한다. 신뢰성 있는 평가 기준을 제공하기 위해서는 동일한 환경일 것이 조건으로 요구되는 바, 이미지 획득부(110)에서 획득하는 입력 이미지에 포함된 미리 설정된 수량의 이미지 프레임을 평균화한 평균 이미지를 생성할 수 있다(단계 S210). In this embodiment, it is intended to provide a reliable evaluation standard for the camera module to check the foreign material. Since the same environment is required as a condition to provide reliable evaluation criteria, an average image obtained by averaging a preset number of image frames included in the input image acquired by the image acquisition unit 110 may be generated (step S210).

카메라 모듈로 특정 시점을 촬영할 경우 그 전후로 다수의 이미지 프레임이 동시에 획득될 수 있는 바, 입력 이미지는 연속된 혹은 일정 간격을 가지는 소정 수량의 이미지 프레임으로 구성될 수 있다. 평균 이미지를 생성하기 위한 이미지 프레임의 수량은 필요에 따라 가변 설정될 수 있다. When a specific viewpoint is photographed with the camera module, a plurality of image frames may be simultaneously acquired before and after that, and the input image may consist of a predetermined number of image frames that are continuous or have a predetermined interval. The number of image frames for generating the average image may be variably set as needed.

평균 이미지는 복수의 이미지 프레임에 대하여 각 좌표에서의 픽셀값(예를 들어, RGB 값)을 평균화함으로써 생성될 수 있다. 즉, 제1 이미지 프레임의 (x1, y1) 좌표의 픽셀값 p_1(x1,y1)에서부터 제n 이미지 프레임의 (x1, y1) 좌표의 픽셀값 p_n(x1,y1)을 평균한 평균 픽셀값을 평균 이미지의 (x1, y1) 좌표의 픽셀값(p_avg(x1,y1))으로 설정할 수 있다. The average image may be generated by averaging pixel values (eg, RGB values) at each coordinate for a plurality of image frames. That is, the average pixel value obtained by averaging the pixel values p_1(x1, y1) of the (x1, y1) coordinates of the first image frame to the pixel values p_n(x1, y1) of the (x1, y1) coordinates of the nth image frame It can be set as the pixel value (p_avg(x1, y1)) of the (x1, y1) coordinates of the average image.

컨트라스트 이미지 생성부(120)는 평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭(contrast stretching) 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성한다(단계 S220). The contrast image generator 120 generates a contrast image by performing a contrast stretching operation on the average image (step S220).

컨트라스트 스트레칭은 평균 이미지의 밝기값 중에서 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 이미지가 표현할 수 있는 절대 최소값(예컨대, 0)과 절대 최대값(예컨대, 255) 사이의 최대 범위로 밝기값을 변경하여 컨트라스트를 확장하는 1차 튜닝 과정이다. 이를 위해 최대값과 최소값의 편차량에 대한 기울기를 이용할 수 있다. In contrast stretching, the effective range between the minimum value and the maximum value among the brightness values of the average image is changed to the maximum range between the absolute minimum value (eg 0) and the absolute maximum value (eg 255) in which the image can express the contrast by changing the brightness value. This is the first tuning process that extends To this end, a slope for the amount of deviation between the maximum value and the minimum value may be used.

평균 이미지에 속하는 모든 픽셀의 밝기값 중 최소값을 Min, 최대값을 Max로 가정하고, 최대값과 최소값의 편차량에 대한 기울기 a와 가중치 W를 하기 수학식 1 및 수학식 2와 같이 구한다. Assuming that the minimum value among the brightness values of all pixels belonging to the average image is Min and the maximum value is Max, the slope a and the weight W for the amount of deviation between the maximum value and the minimum value are obtained as in Equations 1 and 2 below.

Figure pat00005
Figure pat00005

Figure pat00006
Figure pat00006

컨트라스트 이미지의 각 픽셀의 변경된 밝기값 P는 하기 수학식 3 및 4와 같이 계산될 수 있다. The changed brightness value P of each pixel of the contrast image may be calculated as in Equations 3 and 4 below.

Figure pat00007
Figure pat00007

Y는 평균 이미지의 해당 픽셀의 RGB 채널의 픽셀값(픽셀데이터)을 의미한다. Y means the pixel value (pixel data) of the RGB channel of the corresponding pixel of the average image.

Figure pat00008
Figure pat00008

P는 튜닝된 픽셀 밝기값이며, 계산된 P가 255보다 큰 경우에는 255로, 0보다 작은 경우에는 0으로 변경할 수 있다. P is the tuned pixel brightness value, and can be changed to 255 when the calculated P is greater than 255, and to 0 when the calculated P is less than 0.

컨트라스트 이미지 생성부(120)에 의해 각 픽셀의 밝기값이 튜닝됨으로써 평균 이미지보다 큰 컨트라스트를 갖는 컨트라스트 이미지가 생성될 수 있다. By tuning the brightness value of each pixel by the contrast image generator 120 , a contrast image having a greater contrast than the average image may be generated.

이미지 처리부(130)는 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물이 보다 명시적으로 부각되도록 할 수 있다. The image processing unit 130 may apply a predetermined image processing algorithm to the contrast image to make the foreign material stand out more explicitly.

이미지 처리부(130)는 이진화 처리 모듈(131)을 포함할 수 있다. The image processing unit 130 may include a binarization processing module 131 .

이진화 처리 모듈(131)은 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할할 수 있다(단계 S230). 도 3을 참조하면, 컨트라스트 이미지(300)가 6개의 조각 이미지(ROI_1~ROI_6)로 분할된 예시가 도시되어 있다. 각 조각 이미지(ROI_n)는 동일한 크기 및 형상을 가질 수 있다. The binarization processing module 131 may divide the contrast image into a preset number of fragment images (step S230). Referring to FIG. 3 , an example in which the contrast image 300 is divided into six slice images ROI_1 to ROI_6 is illustrated. Each slice image ROI_n may have the same size and shape.

이진화 처리 모듈(131)은 분할된 각 조각 이미지(ROI_n)마다의 특성, 즉 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하고 각 조각 이미지(ROI_n)마다 개별화된 이진화 기준을 설정하여 이진화 처리를 수행할 수 있다. The binarization processing module 131 analyzes the characteristics of each segmented fragment image (ROI_n), that is, the shape of the range of brightness values of pixels, and sets an individualized binarization standard for each fragment image (ROI_n) to perform binarization processing. have.

일례로, 이진화 처리 모듈(131)은 분할된 각 조각 이미지(ROI_n)에 대해 히스토그램 조건부 계산을 수행한다(단계 S240). As an example, the binarization processing module 131 performs a histogram conditional calculation on each segmented fragment image ROI_n (step S240).

도 4를 참조하면, 각 조각 이미지(ROI_n)에 대해 픽셀의 밝기값에 대한 히스토그램(H_1~H_6)을 구할 수 있다. 각 히스토그램(H_n)에서 X축은 픽셀의 밝기값이고, Y축은 밝기값의 빈도를 나타낸다. Referring to FIG. 4 , histograms H_1 to H_6 of the pixel brightness values for each slice image ROI_n may be obtained. In each histogram (H_n), the X-axis represents the brightness value of a pixel, and the Y-axis represents the frequency of the brightness value.

히스토그램에서 빈도가 상승과 하락이 변화되는 지점 중 최소값을 기준으로 해당 조각 이미지에 대한 임계값을 설정한다. 이 임계값은 컨트라스트 이미지에서 하위 데이터에 대한 이진화를 위한 기준이 된다. Set the threshold value for the corresponding fragment image based on the minimum value among the points where the frequency changes between rising and falling in the histogram. This threshold is a criterion for binarization of sub data in the contrast image.

도 5에는 제1 조각 이미지(ROI_1)에 대한 히스토그램이 도시되어 있다. 5 shows a histogram of the first slice image ROI_1.

히스토그램에서 값의 빈도가 가장 많은 값을 M_1, 2번째로 많은 값을 M_2라 할 때, M_1과 M_2 사이에서 상승과 하락이 변화되는 지점 중 최소 빈도를 가지는 값을 Mid로 설정할 수 있다. M_1 <= Mid && Mid <= M_2 혹은 M_2 <= Mid && Mid <= M_1 일 수 있다. In the histogram, assuming that the value with the most frequency is M_1 and the second most frequent value is M_2, the value having the minimum frequency among points where the rise and fall between M_1 and M_2 changes can be set as Mid. M_1 <= Mid && Mid <= M_2 or M_2 <= Mid && Mid <= M_1.

Mid를 임계값으로 하고, 해당 조각 이미지에서 Mid보다 낮은 값을 가지는 빈도량에 대해서는 배제 처리(삭제 처리)를 할 수 있다. 도 5에서 Mid의 빈도량(F_Mid)보다 작은 빈도수를 가지는 픽셀값들(M_3보다 작거나 M_4보다 큰 픽셀값들)에 대해서는 노이즈로 판단하고 그 데이터를 무시할 수 있다. With Mid as a threshold value, exclusion processing (deletion processing) can be performed for the frequency with a value lower than Mid in the corresponding fragment image. In FIG. 5 , pixel values (pixel values smaller than M_3 or larger than M_4) having a frequency smaller than the frequency amount F_Mid of Mid may be determined as noise and the data may be ignored.

그리고 히스토그램에서 Mid의 좌측편에 속하는 픽셀들에 대해서는 그 밝기값을 0(zero)으로 변경시킬 수 있다. In addition, the brightness value of pixels belonging to the left side of Mid in the histogram can be changed to 0 (zero).

조각 이미지(ROI_n)의 밝기 분포에 따라 Mid가 다르게 설정될 수 있으며, 조각 이미지별로 보다 정교한 이진화 처리가 가능해질 수 있다. Mid may be set differently according to the brightness distribution of the fragment image ROI_n, and more sophisticated binarization processing may be possible for each fragment image.

또한, 이미지 처리부(130)는 노이즈 제거 모듈(133)을 더 포함할 수 있다.Also, the image processing unit 130 may further include a noise removing module 133 .

노이즈 제거 모듈(133)은 모폴로지(Morphology) 연산을 통해 이진화 처리된 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거할 수 있다(단계 S250). The noise removal module 133 may remove noise from the binarized contrast image through a morphology operation (step S250).

본 실시예에서 모폴로지 연산으로는 3 x 3 배열의 침식 연산(Erosion)이 적용될 수 있다. In the present embodiment, an erosion operation of a 3 x 3 array may be applied as a morphology operation.

도 6을 참조하면, 제1 픽셀(P1)의 경우 제1 픽셀(P1)을 중심으로 하는 3 x 3 배열의 제1 입력 이미지 범위를 설정한다. 그리고 가운데 십(+)자 모양으로 1이 설정된 3 x 3 침식 마스크를 적용시킨다. 제1 입력 이미지 범위에서 3 x 3 침식 마스크에서 1에 해당하는 픽셀값 중 1개 이상이 불일치하므로, 1의 값을 가지는 제1 픽셀(P1)이 출력 픽셀값이 0으로 변경된다. Referring to FIG. 6 , in the case of the first pixel P1 , a first input image range of a 3×3 array centered on the first pixel P1 is set. And apply a 3 x 3 erosion mask with 1 set in the center of the ten (+) shape. Since one or more pixel values corresponding to 1 in the 3 x 3 erosion mask in the first input image range do not match, the output pixel value of the first pixel P1 having a value of 1 is changed to 0.

제2 픽셀(P2)의 경우 제2 픽셀(P2)을 중심으로 하는 3 x 3 배열의 제2 입력 이미지 범위를 설정한다. 그리고 동일한 3 x 3 침식 마스크를 적용시킨다. 제1 입력 이미지 범위에서 3 x 3 침식 마스크에서 1에 해당하는 픽셀값이 모두 동일하므로, 1의 값을 가지는 제2 픽셀(P2)은 출력 픽셀값이 그대로 1을 유지하게 된다. In the case of the second pixel P2 , a range of a second input image of a 3×3 array centered on the second pixel P2 is set. Then apply the same 3 x 3 erosion mask. Since all pixel values corresponding to 1 in the 3 x 3 erosion mask in the first input image range are the same, the output pixel value of the second pixel P2 having a value of 1 is maintained as it is.

이러한 모폴로지 연산을 통해 이진화된 컨트라스트 이미지에서 노이즈(특히, 이물 주변부 노이즈)를 제거할 수 있다. Through this morphological operation, noise (especially, noise around foreign objects) can be removed from the binarized contrast image.

출력부(140)는 이진화 처리 및 노이즈 제거가 완료된 컨트라스트 이미지를 디스플레이를 통해 출력한다(단계 S260). 디스플레이를 통해 출력된 이미지에는 이물에 해당하는 부분만이 부각되어 표시됨으로써, 관리자가 용이하게 이물의 존부 및 특성(크기, 위치)을 확인할 수 있게 된다. The output unit 140 outputs the contrast image on which the binarization process and noise removal have been completed through the display (step S260). In the image output through the display, only the portion corresponding to the foreign material is highlighted and displayed, so that the administrator can easily check the existence and characteristics (size, location) of the foreign material.

본 실시예예 따르면, 이물 불량에 대한 기준이 모호한 경우 선정 기준을 명시할 수 있는 결과물을 제공할 수 있고, 출력 결과에 대한 영상 판단의 기준과 평가 기준의 육안 판정 비교 분석에 대한 신뢰성 있는 결과를 제공해 줄 수 있다. According to this embodiment, it is possible to provide a result that can specify the selection criterion when the criterion for defective foreign matter is ambiguous, and provides a reliable result for the visual judgment comparison analysis of the image judgment criterion and the evaluation criterion for the output result. can give

또한, 이물에 의한 수율 저하의 원인에 대하여 확정적인 결과 데이터를 출력해 줌으로써 관리자의 문제 파악이 빨라져 생산공정의 개선효과가 상승할 수 있다. In addition, by outputting the definitive result data for the cause of the decrease in yield due to foreign substances, the problem of the manager can be quickly identified and the improvement effect of the production process can be increased.

그리고 해상도 증가 및 렌즈 화각의 크기 증가에 따른 이물 확장에 대한 검출 기준의 변경에 대해서도 빠른 결과를 획득할 수 있다. In addition, it is possible to obtain fast results even with respect to the change of the detection standard for the expansion of the foreign material according to the increase in resolution and the increase in the size of the lens angle of view.

전술한 이물 검출 방법은, 컴퓨터에 의해 실행되는 애플리케이션이나 프로그램 모듈과 같은 컴퓨터에 의해 실행가능한 명령어를 포함하는 기록매체의 형태로도 구현될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있는 임의의 가용 매체일 수 있고, 휘발성 및 비휘발성 매체, 분리형 및 비분리형 매체를 모두 포함한다. 또한, 컴퓨터 판독 가능 매체는 컴퓨터 저장 매체를 포함할 수 있다. 컴퓨터 저장 매체는 컴퓨터 판독 가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈 또는 기타 데이터와 같은 정보의 저장을 위한 임의의 방법 또는 기술로 구현된 휘발성 및 비휘발성, 분리형 및 비분리형 매체를 모두 포함한다. The above-described foreign material detection method may also be implemented in the form of a recording medium including instructions executable by a computer, such as an application or program module executed by a computer. Computer-readable media can be any available media that can be accessed by a computer and includes both volatile and nonvolatile media, removable and non-removable media. In addition, computer-readable media may include computer storage media. Computer storage media includes both volatile and nonvolatile, removable and non-removable media implemented in any method or technology for storage of information such as computer readable instructions, data structures, program modules or other data.

전술한 이물 검출 방법은, 단말기에 기본적으로 설치된 애플리케이션(이는 단말기에 기본적으로 탑재된 플랫폼이나 운영체제 등에 포함된 프로그램을 포함할 수 있음)에 의해 실행될 수 있고, 사용자가 애플리케이션 스토어 서버, 애플리케이션 또는 해당 서비스와 관련된 웹 서버 등의 애플리케이션 제공 서버를 통해 마스터 단말기에 직접 설치한 애플리케이션(즉, 프로그램)에 의해 실행될 수도 있다. 이러한 의미에서, 전술한 이물 검출 방법은 단말기에 기본적으로 설치되거나 사용자에 의해 직접 설치된 애플리케이션(즉, 프로그램)으로 구현되고 단말기 등의 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 기록될 수 있다. The above-described foreign object detection method may be executed by an application basically installed in the terminal (which may include a program included in a platform or operating system basically mounted in the terminal), and a user may use an application store server, an application, or a corresponding service. It may be executed by an application (ie, a program) installed directly on the master terminal through an application providing server such as a web server related to the . In this sense, the above-described foreign material detection method may be implemented as an application (ie, a program) installed by default in a terminal or directly installed by a user, and may be recorded in a computer-readable recording medium such as a terminal.

상기에서는 본 발명의 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to the embodiments of the present invention, those of ordinary skill in the art can variously modify and change the present invention within the scope without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below. You will understand that it can be done.

100: 이물 검출 장치 110: 이미지 획득부
120: 컨트라스트 이미지 생성부 130: 이미지 처리부
131: 이진화 처리 모듈 133: 노이즈 제거 모듈
140: 출력부
100: foreign material detection device 110: image acquisition unit
120: contrast image generating unit 130: image processing unit
131: binarization processing module 133: noise removal module
140: output unit

Claims (12)

카메라 모듈의 이물을 검출하는 이물 검출 장치로서,
상기 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득하고 평균화하는 이미지 획득부;
평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성하는 컨트라스트 이미지 생성부;
상기 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물을 부각시키는 이미지 처리부; 및
상기 이미지 처리부를 거친 이미지를 디스플레이를 통해 출력하는 출력부를 포함하는 이물 검출 장치.
A foreign material detection device for detecting a foreign material in a camera module, comprising:
an image acquisition unit for acquiring and averaging input images photographed using the camera module;
a contrast image generator configured to generate a contrast image by performing a contrast stretching operation on the average image;
an image processing unit for emphasizing foreign objects by applying a predetermined image processing algorithm to the contrast image; and
and an output unit for outputting the image passed through the image processing unit through a display.
제1항에 있어서,
상기 컨트라스트 이미지 생성부는 상기 평균 이미지의 밝기값 중 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 절대 최소값과 절대 최대값 사이의 최대 범위로 밝기값 변경하여 컨트라스트를 확장시켜 상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 이물 검출 장치.
According to claim 1,
The contrast image generating unit expands the contrast by changing the effective range between the minimum and maximum values among the brightness values of the average image to the maximum range between the absolute minimum and absolute maximum values to generate the contrast image. foreign object detection device.
제2항에 있어서,
상기 컨트라스트 이미지 생성부는 상기 최소값과 상기 최대값의 편차량에 대한 기울기를 이용하여 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 이물 검출 장치.
3. The method of claim 2,
The contrast image generator is configured to perform a contrast stretching operation by using a gradient of a deviation amount between the minimum value and the maximum value.
제3항에 있어서,
상기 컨트라스트 이미지의 각 픽셀의 변경된 밝기값 P는 하기 수학식과 같이 계산되는 것을 특징으로 하는 이물 검출 장치,
Figure pat00009

여기서, Y는 상기 평균 이미지의 해당 픽셀의 RGB 채널의 픽셀값으로
Figure pat00010
이고,
가중치
Figure pat00011
이며,
기울기
Figure pat00012
임.
4. The method of claim 3,
The changed brightness value P of each pixel of the contrast image is a foreign material detection device, characterized in that it is calculated as follows;
Figure pat00009

Here, Y is the pixel value of the RGB channel of the corresponding pixel of the average image.
Figure pat00010
ego,
weight
Figure pat00011
is,
inclination
Figure pat00012
Lim.
제1항에 있어서,
상기 이미지 처리부는 상기 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할하고, 상기 조각 이미지별로 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하여 상기 조각 이미지마다 개별화된 이진화 처리를 수행하는 이진화 처리 모듈을 포함하는 이물 검출 장치.
According to claim 1,
The image processing unit includes a binarization processing module that divides the contrast image into a preset number of fragment images, analyzes the shape of a range of brightness values of pixels for each fragment image, and performs individualized binarization for each fragment image. detection device.
제5항에 있어서,
상기 이진화 처리 모듈은 상기 조각 이미지마다 밝기값에 대한 히스토그램을 구하고, 상기 히스토그램에서 빈도의 상승과 하락이 변화되는 지점 중에서 최소값을 기준으로 해당 조각 이미지에 대한 임계값을 설정하며, 상기 임계값보다 낮은 빈도량에 대해서는 배제 처리하는 것을 특징으로 하는 이물 검출 장치.
6. The method of claim 5,
The binarization processing module obtains a histogram of the brightness value for each fragment image, and sets a threshold value for the fragment image based on the minimum value among points where the increase and decrease of the frequency in the histogram change, and is lower than the threshold value. A foreign material detection device characterized in that the frequency amount is excluded.
제5항에 있어서,
상기 이미지 처리부는 모폴로지 침식 연산을 통해 이진화 처리된 상기 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거하는 노이즈 제거 모듈을 더 포함하는 이물 검출 장치.
6. The method of claim 5,
The image processing unit further comprises a noise removal module for removing noise from the contrast image that has been binarized through a morphological erosion operation.
이물 검출 장치에서 수행되는 카메라 모듈의 이물을 검출하는 방법으로서,
상기 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득하고 평균화하는 단계;
평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계;
상기 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물을 부각시키는 단계; 및
상기 이미지 처리부를 거친 이미지를 디스플레이를 통해 출력하는 단계를 포함하는 이물 검출 방법.
A method of detecting a foreign material in a camera module performed in a foreign material detection apparatus, the method comprising:
acquiring and averaging input images photographed using the camera module;
generating a contrast image by performing a contrast stretching operation on the average image;
emphasizing foreign objects by applying a predetermined image processing algorithm to the contrast image; and
and outputting the image passed through the image processing unit through a display.
제8항에 있어서,
상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계는 상기 평균 이미지의 밝기값 중 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 절대 최소값과 절대 최대값 사이의 최대 범위로 밝기값 변경하여 컨트라스트를 확장시켜 상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 이물 검출 방법.
9. The method of claim 8,
In the step of generating the contrast image, the effective range between the minimum value and the maximum value among the brightness values of the average image is changed to the maximum range between the absolute minimum value and the absolute maximum value to expand the contrast to generate the contrast image A foreign material detection method characterized in that.
제9항에 있어서,
상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계는 상기 최소값과 상기 최대값의 편차량에 대한 기울기를 이용하여 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 이물 검출 방법.
10. The method of claim 9,
The generating of the contrast image comprises performing a contrast stretching operation by using a gradient of a deviation amount between the minimum value and the maximum value.
제8항에 있어서,
상기 이물 부각 단계는,
상기 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할하는 단계와;
상기 조각 이미지별로 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하여 상기 조각 이미지마다 개별화된 이진화 처리를 수행하는 단계를 포함하는 이물 검출 방법.
9. The method of claim 8,
The foreign material relief step is,
dividing the contrast image into a preset number of fragment images;
and performing individualized binarization for each of the fragment images by analyzing the range shape of the brightness values of pixels for each fragment image.
제11항에 있어서,
상기 이물 부각 단계는, 모폴로지 침식 연산을 통해 이진화 처리된 상기 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함하는 이물 검출 방법.
12. The method of claim 11,
The step of reducing the foreign material further includes removing noise from the contrast image that has been binarized through a morphological erosion operation.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050117424A (en) 2004-06-10 2005-12-14 주식회사 팬택앤큐리텔 Apparatus and method for detecting foreign material in digital camera module
KR20060058532A (en) * 2004-11-25 2006-05-30 주식회사 에이디피엔지니어링 Method of detecting the picture defect of flat display panel using stretching technique and recording medium
JP2007263852A (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Dainippon Printing Co Ltd Apparatus, method and processing program for detecting defect
KR20130124659A (en) * 2012-05-07 2013-11-15 순천대학교 산학협력단 System for detaching object and the method thereof
KR20140044395A (en) * 2011-09-26 2014-04-14 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 Defect observation method and defect observation device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050117424A (en) 2004-06-10 2005-12-14 주식회사 팬택앤큐리텔 Apparatus and method for detecting foreign material in digital camera module
KR20060058532A (en) * 2004-11-25 2006-05-30 주식회사 에이디피엔지니어링 Method of detecting the picture defect of flat display panel using stretching technique and recording medium
JP2007263852A (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Dainippon Printing Co Ltd Apparatus, method and processing program for detecting defect
KR20140044395A (en) * 2011-09-26 2014-04-14 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 Defect observation method and defect observation device
KR20130124659A (en) * 2012-05-07 2013-11-15 순천대학교 산학협력단 System for detaching object and the method thereof

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Extraction and Analysis of Concrete Surface Cracks Using Improved Image Processing Technique", Korea Institute of Intelligent Information Systems, 2007.05.* *

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