KR20150014717A - Image stain detection method for camera module defect determination - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 카메라 모듈을 통해 취득한 이미지에 표시된 스테인을 검출할 수 있는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an image stain detection method for determining a camera module defect, and more particularly, to an image stain detection method for a camera module defect determination capable of detecting a stain displayed on an image acquired through a camera module.
일반적으로, 카메라 모듈은 렌즈를 포함한 광학계에 의해 결상된 영상 광을 광전 변화 소자에 의해 전기신호로 광전 변환한 후, 광전 변환된 영상 신호에 소정의 영상 처리를 실시하여, 이미지나 동영상을 출력하는 장치를 말한다.2. Description of the Related Art Generally, a camera module performs photoelectric conversion of an image light formed by an optical system including a lens into an electric signal by a photoelectric conversion element, performs predetermined image processing on the photoelectric-converted image signal, Device.
이러한 카메라 모듈의 컬러 필터에 이물질이 부착되면, 이물질이 부착된 부위로 통과하는 빛의 양이 줄어들게 되어, 촬상된 이미지 상에서 번져지는 것처럼 보이는 스테인(stain)으로 표시된다. When a foreign substance is adhered to the color filter of such a camera module, the amount of light passing through the foreign matter adhered portion is reduced and displayed as a stain appearing to spread on the captured image.
이때, 카메라 모듈에 의해 촬상된 이미지에 스테인이 표시되면, 육안으로 판단하여 검출해야 하기 때문에, 스테인 검출에 어려움이 있었다.At this time, if a stain is displayed on an image picked up by the camera module, the stain detection is difficult because it must be determined visually and detected.
따라서, 영상 처리된 이미지를 소정의 규격을 가지며 분할되는 픽셀 단위로 축소하여, 상기 이미지에 표시된 스테인을 용이하게 검출하도록 하는 것이 중요하다.Therefore, it is important to reduce the image-processed image in units of pixels divided by a predetermined standard so that the stain displayed on the image can be easily detected.
본 발명과 관련된 선행 문헌으로는 대한민국 공개특허 제10-2005-0117424호(공개일 : 2005.12.14)가 있으며, 상기 선행문헌에는 디지털 카메라 모듈의 이물질 검출 장치 및 방법에 대한 기술이 개시된다.
A prior art related to the present invention is Korean Patent Laid-Open No. 10-2005-0117424 (published on December 12, 2005), and the prior art discloses an apparatus and a method for detecting a foreign object in a digital camera module.
본 발명의 목적은, 취득한 이미지에 표시된 스테인 검출을 통해 카메라 모듈의 필터에 대한 결함을 판단할 수 있는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법을 제공함에 있다.
An object of the present invention is to provide an image stain detection method for camera module defect determination capable of determining a defect with respect to a filter of a camera module through stain detection indicated in an acquired image.
본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법은 검사용 이미지를 일정 스케일로 축소하여 스테인(stain) 검출용 이미지를 생성하는 이미지 축소 단계와 상기 생성된 스테인 검출용 이미지의 각 픽셀의 실제 휘도값을 주변 픽셀의 휘도 값으로부터 예상한 예상 휘도값과 비교하는 휘도 차 검출 단계 및 상기 비교 결과에 따라 스테인으로 판단되는 픽셀을 다른 픽셀들과 구분하여 표시하는 스테인 표시 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.An image stain detecting method for determining a camera module defect according to the present invention includes an image reducing step of reducing an inspection image to a predetermined scale to generate an image for stain detection and an actual luminance of each pixel of the generated image for stain detection A luminance difference detection step of comparing the luminance value of the pixel with the expected luminance value estimated from the luminance value of the surrounding pixels and a stain display step of displaying the pixel judged to be stain differently from other pixels according to the comparison result .
여기서, 상기 검사용 이미지를 서로 중첩되지 않는 n*m 픽셀을 가지는 분할 이미지로 나누고, 상기 각 분할 이미지의 평균 휘도값을 상기 스테인 검출용 이미지의 휘도값으로 사용한다.Here, the inspection image is divided into divided images having n * m pixels that do not overlap each other, and an average luminance value of each divided image is used as a luminance value of the image for stain detection.
그리고, 상기 평균 휘도값은 상기 각 분할 이미지의 일부 픽셀값들을 이용하여 평균값을 계산한다.The average luminance value is calculated by using a part of pixel values of each divided image.
또한, 상기 휘도차 검출 단계의 상기 예상 휘도값은 검사 대상 픽셀의 좌우 픽셀의 평균값을 사용한다.Also, the predicted luminance value of the luminance difference detection step uses the average value of the left and right pixels of the inspection target pixel.
이때, 상기 휘도차 검출 단계의 예상 휘도값은 검사 대상 픽셀 직전 2개의 픽셀 또는 직후 2개의 픽셀의 휘도값으로부터 선형적으로 예측된 값을 사용한다.At this time, the predicted luminance value of the luminance difference detection step uses a linearly predicted value from the luminance values of two pixels immediately before the pixel to be inspected or two pixels immediately after the pixel to be inspected.
한편, 상기 휘도차 검출 단계의 상기 예상 휘도값은 검사 대상 픽셀의 상하 픽셀의 평균값을 사용한다.Meanwhile, the expected luminance value of the luminance difference detection step uses an average value of upper and lower pixels of a pixel to be inspected.
여기서, 상기 휘도차 검출 단계의 상기 예상 휘도값은 검사 대상 픽셀 직상 2개의 픽셀 또는 직하 2개의 픽셀의 휘도값으로부터 선형적으로 예측된 값을 사용한다.Here, the predicted luminance value of the luminance difference detection step uses a linearly predicted value from the luminance values of two pixels immediately above or two directly below the pixel to be inspected.
그리고, 상기 스테인 표시 단계는 상기 실제 휘도값이 예상 휘도값보다 작고, 그 차가 기설정된 임계값 보다 큰 경우에만 스테인으로 판단한다.The stain display step determines that the actual luminance value is stain only when the actual luminance value is smaller than the expected luminance value and the difference is greater than a predetermined threshold value.
본 발명은, 취득한 이미지를 일정 스케일로 축소하여 스테인(stain)의 표시 여부를 판단함으로써, 용이하게 상기 이미지에 표시된 스테인을 검출할 수 있는 효과를 갖는다.The present invention has an effect that the stain displayed on the image can be easily detected by determining whether to display the stain by reducing the acquired image to a predetermined scale.
그에 따라, 본 발명은 취득한 이미지에 표시된 스테인 검출을 통해 카메라 모듈의 필터에 대한 결함을 판단할 수 있는 효과를 갖는다.Accordingly, the present invention has the effect of determining the defect for the filter of the camera module through the stain detection shown in the acquired image.
또한, 본 발명은 스테인 표시 여부 판단 시 상기 이미지를 축소함으로써, 상기 스테인 검출에 따른 노이즈 발생을 줄일 수 있는 효과를 갖는다.
Further, the present invention has the effect of reducing the occurrence of noise due to the stain detection by reducing the image when it is judged that the image is stained.
도 1 은 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법을 단계적으로 보여주는 도면이다.
도 2 는 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법을 개략적으로 보여주는 흐름도이다.
도 3 은 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법에 대한 이미지 축소를 보여주는 도면이다.
도 4 는 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법의 예상 휘도값 계산에 따른 분할 구역을 보여주는 도면이다.
도 5 는 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법의 스테인 표시를 보여주는 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a view showing a step of an image stain detection method for determining a camera module defect according to the present invention; FIG.
2 is a flowchart schematically showing an image stain detection method for determining a camera module defect according to the present invention.
3 is a diagram showing an image reduction for an image stain detection method for determining a camera module defect according to the present invention.
4 is a view showing a divided area according to an expected brightness value calculation of the image stain detecting method for determining a camera module defect according to the present invention.
5 is a view showing a stain display of an image stain detection method for determining a camera module defect according to the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 상세히 설명하기로 한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것을 달성하는 방법은 첨부된 도면과 함께 상세하게 후술 되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving it will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings.
그러나, 본 발명은 이하에 개시되는 실시 예들에 의해 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.It should be understood, however, that the present invention is not limited to the embodiments disclosed herein but may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims.
또한, 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기술 등이 본 발명의 요지를 흐리게 할 수 있다고 판단되는 경우 그에 관한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail.
도 1 은 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법을 단계적으로 보여주는 도면이고, 도 2 는 본 발명에 따른 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법을 개략적으로 보여주는 흐름도이다.FIG. 1 is a view showing a step of an image stain detection method for determining a camera module defect according to the present invention, and FIG. 2 is a flowchart schematically showing an image stain detection method for determining a camera module defect according to the present invention.
도 1과 도 2에 도시된 바와 같이, 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법을 설명하면 다음과 같다.
As shown in FIGS. 1 and 2, an image stain detection method for determining a camera module defect will be described below.
이미지 축소 단계Image reduction step
검사용 이미지를 일정 스케일로 축소하여 스테인(stain) 검출용 이미지를 생성한다(S100).The inspection image is reduced to a predetermined scale to generate an image for stain detection (S100).
바람직하게는, 상기 스테인 검출용 이미지는 상기 검사용 이미지를 1/16으로 축소한다.Preferably, the image for stain detection reduces the inspection image by 1/16.
즉, 상기 스테인 검출용 이미지는 소정의 크기를 가지는 스테인(1) 검출 시, 상기 검사용 이미지를 축소함에 따라 상기 검사용 이미지의 명암 대비가 커지므로 효과적으로 상기 스테인(1)을 검출할 수 있다.That is, when detecting the stain (1) having a predetermined size, the stain detection image can effectively detect the stain (1) because the contrast for the inspection image becomes large as the inspection image is reduced.
이는, 상기 검사용 이미지를 과도하게 축소하는 경우, 상기 스테인(1)의 크기가 검출하기 어려울 정도로 작아지기 때문에, 1/8~1/16으로 축소하는 것이 상기 스테인(1) 검출에 용이하나, 바람직하게는 1/16으로 축소하는 것이 효과적일 수 있다.This is because, when the inspection image is excessively reduced, the size of the
여기서, 상기 스테인 검출용 이미지는 상기 검사용 이미지를 서로 중첩되지 않는 n*m 픽셀을 가지는 분할 이미지로 나누어 생성한다.Here, the image for stain detection is generated by dividing the inspection image into divided images having n * m pixels that do not overlap each other.
예를 들어, 상기 검사용 이미지가 160*160의 픽셀로 이루어졌다고 가정하면, 상기 복수의 픽셀 중 하나의 단위 픽셀은 1/16으로 축소되었기 때문에 16*16의 픽셀로 생성된다.For example, assuming that the inspection image is composed of 160 * 160 pixels, one unit pixel of the plurality of pixels is reduced to 1/16, and thus 16 * 16 pixels are generated.
이때, 상기 단위 픽셀에 대한 평균 휘도값은 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 단위 픽셀 상에서 하나의 선택 픽셀(10)을 기준으로 하여 상하좌우로 하나의 픽셀만큼 띄워진 8*8 평균 픽셀(20)들에 대한 평균 휘도값을 통해 계산된다.As shown in FIG. 3, the average luminance value for the unit pixels is an 8 * 8 average pixel 20 (see FIG. 3) in which one pixel is horizontally and vertically shifted by one pixel on the unit pixel ) ≪ / RTI >
여기서, 상기 평균 휘도값은 검사용 이미지를 1/16로 축소하여 생성된 10*10의 픽셀을 가진 스테인 검출용 이미지의 단위 픽셀에 대한 휘도값으로 사용한다.Here, the average luminance value is used as a luminance value for a unit pixel of an image for stain detection having 10 * 10 pixels generated by reducing the inspection image to 1/16.
한편, 상기 스테인 검출용 이미지의 단위 픽셀에 대한 가로 길이는 사용자에 의해 지정이 가능하며, 상기 스테인 검출용 이미지에 표시된 스테인의 길이보다 충분히 길어야 한다.
Meanwhile, the horizontal length of the unit pixel of the image for stain detection can be specified by the user, and it should be sufficiently longer than the length of the stain displayed on the image for stain detection.
휘도 차 검출 단계The luminance difference detection step
전술된 이미지 축소 단계(S100)를 통해 생성된 스테인 검출용 이미지의 각 픽셀의 실제 휘도값을 주변 픽셀의 휘도값으로부터 예상한 예상 휘도값과 비교하여 휘도 차를 검출한다(S200).The luminance difference is detected by comparing the actual luminance value of each pixel of the image for stain detection generated through the image reduction step (S100) with the expected luminance value estimated from the luminance value of the surrounding pixels (S200).
여기서, 상기 예상 휘도값은 검사 대상 픽셀의 좌우 픽셀 평균값을 사용하여 산출된다.Here, the predicted brightness value is calculated using the left and right pixel average values of the pixels to be inspected.
상기 예상 휘도값은 검사 대상 픽셀 직전 2개의 픽셀 또는 직후 2개의 픽셀의 휘도값으로부터 선형적으로 예측된 값을 사용한다.The predicted luminance value uses a linearly predicted value from the luminance values of two pixels immediately before or after the pixel to be inspected.
즉, 상기 예상 휘도값은 스테인 검출용 이미지의 단위 픽셀을 3개의 영역으로 나누어 서로 다른 방식으로 산출한다.That is, the predicted luminance value is calculated by dividing the unit pixels of the image for stain detection into three regions and using different methods.
도 4에 도시된 바와 같이, 제1구역(100)에 대한 상기 예상 휘도 값(P(l))은 하기와 같이 계산된다.4, the expected brightness value P (l) for the
P(I) = ML - ABS(MR - ML)- thresholdP (I) = ML - ABS (MR - ML) - threshold
여기서, ML은 스테인 검출용 이미지의 단위 픽셀의 첫번째 오른쪽 관심 영역을 의미하고, MR은 스테인 검출용 이미지의 단위 픽셀의 두번째 오른쪽 관심 영역을 의미하며, threshold는 임계값으로써 기설정되어 오차 범위를 형성한다.Here, ML denotes the first right interest area of the unit pixel of the image for stain detection, MR denotes the second right interest area of the unit pixel of the image for stain detection, and threshold is preset as a threshold value to form an error range do.
즉, 상기 예상 휘도값은 선형적으로 예측된 값을 사용하여 산출되는데, 검사 대상 픽셀 직후 2개의 픽셀의 휘도값을 통해 선형적으로 늘어나는 관계를 확인하여 유추함으로써, 산출될 수 있다.That is, the predicted brightness value is calculated using a linearly predicted value, and can be calculated by confirming and deducing a linearly extending relationship through the luminance values of two pixels immediately after the pixel to be inspected.
예를 들어, 검사 대상 픽셀 직후 2개의 픽셀의 휘도값이 각각 10, 11이라 가정하면, 상기 대상 픽셀의 대한 예상 휘도값은 9로 유추하여 산출하는 것이다.
For example, assuming that the luminance values of two pixels immediately after the pixel to be inspected are 10 and 11, respectively, the predicted luminance value of the target pixel is estimated to be 9.
한편, 제2구역(200)에 대한 상기 예상 휘도 값(P(l))은 하기와 같이 계산된다.On the other hand, the expected brightness value P (l) for the
P(I) ={ ML(x,y) + MR(x,y) }/2P (I) = {ML (x, y) + MR (x, y)} / 2
이는, 제1구역(100)에 대한 예상 휘도 값을 계산하는 것과 마찬가지로 선형적으로 예측된 값을 사용하여 산출되는데, 검사 대상 픽셀 직전 또는 직후의 픽셀의 휘도값의 평균을 계산하여 유추할 수 있다.
This is calculated using a linearly predicted value as in the case of calculating the expected luminance value for the
그리고, 제3구역(300)에 대한 상기 예상 휘도 값(P(l))은 하기와 같이 계산된다.Then, the expected brightness value P (l) for the
P(I) = MR - ABS(ML - MR)- thresholdP (I) = MR - ABS (ML - MR) - threshold
이때, 상기 예상 휘도값은 선형적으로 예측된 값을 사용하여 산출되는데, 검사 대상 픽셀 직전 2개의 픽셀의 휘도값을 통해 선형적으로 줄어드는 관계를 확인하여 유추함으로써, 산출될 수 있다.At this time, the predicted luminance value is calculated using a linearly predicted value, and can be calculated by confirming and deducing a linearly decreasing relationship through the luminance values of two pixels immediately before the pixel to be inspected.
예를 들어, 검사 대상 픽셀 직전 2개의 픽셀의 휘도값이 각각 12, 11이라 가정하면, 상기 대상 픽셀의 대한 예상 휘도값은 10으로 유추하여 산출하는 것이다.
For example, assuming that the luminance values of two pixels immediately before the pixel to be inspected are 12 and 11, respectively, the predicted luminance value of the target pixel is estimated to be 10.
여기서, 제1구역(100), 제2구역(200) 및 제3구역(300)에서 평균값을 사용하여 산출된 실제 휘도값과 예상 휘도값의 차이는 다음과 같이 계산한다.Here, the difference between the actual luminance value and the expected luminance value calculated using the average value in the
diff(I) = MAX[ 0, (P(I) - I(x,y) )]diff (I) = MAX [0, (P (I) - I (x, y))]
여기서, 상기 차이에 대한 최대값이 음수일 경우 예상 휘도값이 실제 휘도값보다 더 큰 것이므로, 스테인(1)이 주변보다 어둡기 때문에 0으로 치환하여 무시한다.Here, if the maximum value of the difference is negative, the expected luminance value is larger than the actual luminance value. Therefore, since the
한편, 휘도차 검출 단계(S200)에서의 예상 휘도값은 전술된 직전 2개의 픽셀 또는 직후2개의 픽셀의 휘도 값으로 예측될 수 있으나, 검사 대상 픽셀에 대하여 직상 2개의 픽셀 또는 직하 2개의 픽셀의 휘도값으로부터 예측될 수도 있다.
On the other hand, the predicted luminance value in the luminance difference detection step S200 can be predicted by the luminance values of the immediately preceding two pixels or immediately after the two pixels, May be predicted from the luminance value.
스테인 표시 단계Stain display step
전술된 휘도 차 검출 단계(S200)의 비교 결과에 따라 스테인(1)으로 판단되는 픽셀을 다른 픽셀들과 구분하여 표시한다(S300).In step S300, a pixel determined to be
즉, 스테인 검출용 이미지에서 평균 휘도값으로 생성된 실제 휘도값이 휘도 차 검출 단계(S200)를 통해 산출된 예상 휘도값보다 작고, 그 차이가 기설정된 임계값 보다 큰 경우에만 스테인(1)으로 판단하는 것이다.That is, only when the actual luminance value generated with the average luminance value in the image for stain detection is smaller than the estimated luminance value calculated through the luminance difference detection step S200 and the difference is larger than the predetermined threshold value, It is judgment.
이는, 도 5에 도시된 바와 같이 상기 실제 휘도값이 상기 예상 휘도값보다 작고, 그 차이가 상기 기설정된 임계값 보다 크면, 백색으로 치환되기 때문에 스테인(1)으로 판단하는 것이다.5, if the actual luminance value is smaller than the expected luminance value and the difference is larger than the preset threshold value, it is determined as stain (1) because it is replaced with white.
결과적으로, 스테인 검출용 이미지의 픽셀 전 영역에 대하여 상기 스테인(10)을 검출 여부를 판단함으로써, 용이하게 상기 스테인 검출용 이미지에 표시된 상기 스테인(1) 표시 여부를 분석할 수 있다.
As a result, whether or not the stain (1) displayed on the image for stain detection can be easily analyzed can be easily determined by determining whether the stain (10) is detected with respect to all the pixels of the image for stain detection.
본 발명은, 취득한 이미지를 일정 스케일로 축소하여 스테인(stain)의 표시 여부를 판단함으로써, 용이하게 상기 이미지에 표시된 스테인을 검출할 수 있는 효과를 갖는다.The present invention has an effect that the stain displayed on the image can be easily detected by determining whether to display the stain by reducing the acquired image to a predetermined scale.
그에 따라, 본 발명은 취득한 이미지에 표시된 스테인 검출을 통해 카메라 모듈의 필터에 대한 결함을 판단할 수 있는 효과를 갖는다.Accordingly, the present invention has the effect of determining the defect for the filter of the camera module through the stain detection shown in the acquired image.
또한, 본 발명은 스테인 표시 여부 판단 시 상기 이미지를 축소함으로써, 상기 스테인 검출에 따른 노이즈 발생을 줄일 수 있는 효과를 갖는다.
Further, the present invention has the effect of reducing the occurrence of noise due to the stain detection by reducing the image when it is judged that the image is stained.
이상의 본 발명은 도면에 도시된 실시 예(들)를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형이 이루어질 수 있으며, 상기 설명된 실시예(들)의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해여야 할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is evident that many modifications may be made thereto, It will be understood that all or some of the elements (s) may be optionally constructed in combination. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.
1 : 스테인 10 : 선택 픽셀
20 : 평균 픽셀 100 : 1구역
200 : 2구역 300 : 3구역1: stain 10: selected pixel
20: average pixel 100: 1 zone
200: 2 Area 300: 3 Area
Claims (8)
상기 생성된 스테인 검출용 이미지의 각 픽셀의 실제 휘도값을 주변 픽셀의 휘도 값으로부터 예상한 예상 휘도값과 비교하는 휘도 차 검출 단계; 및
상기 비교 결과에 따라 스테인으로 판단되는 픽셀을 다른 픽셀들과 구분하여 표시하는 스테인 표시 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
An image reducing step of reducing an inspection image to a predetermined scale to generate an image for stain detection;
A luminance difference detection step of comparing an actual luminance value of each pixel of the generated image for stain detection with an expected luminance value estimated from luminance values of surrounding pixels; And
And a stain display step of displaying a pixel judged to be stained differently from other pixels according to the comparison result.
상기 이미지 축소 단계는,
상기 검사용 이미지를 서로 중첩되지 않는 n*m 픽셀을 가지는 분할 이미지로 나누고,
상기 각 분할 이미지의 평균 휘도값을 상기 스테인 검출용 이미지의 휘도값으로 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
The method according to claim 1,
The image reduction step may include:
Dividing the inspection image into a split image having n * m pixels that do not overlap each other,
Wherein an average luminance value of each of the divided images is used as a luminance value of the image for stain detection.
상기 평균 휘도값은,
상기 각 분할 이미지의 일부 픽셀값들을 이용하여 평균값을 계산하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
3. The method of claim 2,
The average luminance value is calculated by:
And calculating an average value by using some pixel values of the divided images.
상기 휘도차 검출 단계의 상기 예상 휘도값은,
검사 대상 픽셀의 좌우 픽셀의 평균값을 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the predicted brightness value of the brightness difference detection step includes:
Wherein the average value of the left and right pixels of the pixel to be inspected is used.
상기 휘도차 검출 단계의 예상 휘도값은,
검사 대상 픽셀 직전 2개의 픽셀 또는 직후 2개의 픽셀의 휘도값으로부터 선형적으로 예측된 값을 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
The method according to claim 1,
The predicted luminance value of the luminance difference detection step
Wherein a linearly predicted value is used from the luminance values of two pixels immediately before or two pixels immediately before the pixel to be inspected.
상기 휘도차 검출 단계의 상기 예상 휘도값은,
검사 대상 픽셀의 좌우 픽셀의 평균값을 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the predicted brightness value of the brightness difference detection step includes:
Wherein the average value of the left and right pixels of the pixel to be inspected is used.
상기 휘도차 검출 단계의 상기 예상 휘도값은,
검사 대상 픽셀 직상 2개의 픽셀 또는 직하 2개의 픽셀의 휘도값으로부터 선형적으로 예측된 값을 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the predicted brightness value of the brightness difference detection step includes:
Wherein a linearly predicted value is used from the luminance values of two pixels immediately above the pixel to be inspected or two pixels directly below the object to be inspected.
상기 스테인 표시 단계는,
상기 실제 휘도값이 예상 휘도값보다 작고, 그 차가 기설정된 임계값 보다 큰 경우에만 스테인으로 판단하는 것을 특징으로 하는 카메라 모듈 결함 판정용 이미지 스테인 검출 방법.The method according to claim 1,
The stain display step may include:
And determining that the stain is true only when the actual luminance value is smaller than the expected luminance value and the difference is greater than a predetermined threshold value.
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