KR20210112737A - Die transfer module and die bonding apparatus including the same - Google Patents

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Abstract

A die bonding apparatus is disclosed. The die bonding apparatus includes: a die transfer module for picking up and transferring a die; and a die bonding module for bonding the die, transferred by the die transfer module, onto a substrate. The die transfer module includes: a non-contact picker for picking up the die in a non-contact manner so as not to contact the front surface of the die; a flipper receiving the die picked up by the non-contact picker and inverting the die such that the front surface of the die faces downward; a non-contact die stage for supporting the inverted die in a non-contact manner; and an alignment unit for aligning the die on the non-contact die stage to a predetermined position. The die bonding module picks up the die position-aligned on the non-contact die stage and bonds the die onto the substrate. The present invention can reduce failures caused by contamination of the die during the die bonding process.

Description

다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치{DIE TRANSFER MODULE AND DIE BONDING APPARATUS INCLUDING THE SAME}Die transfer module and die bonding device including same

본 발명의 실시예들은 다이 이송 모듈과 이를 포함하는 다이 본딩 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 반도체 장치의 제조 공정에서 다이싱 공정에 의해 개별화된 다이들을 픽업하여 이송하기 위한 다이 이송 모듈과, 상기 다이 이송 모듈에 의해 이송된 다이를 인쇄회로기판, 리드 프레임, 반도체 웨이퍼 등의 기판 상에 본딩하기 위한 다이 본딩 장치에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to a die transfer module and a die bonding apparatus including the same. More specifically, a die transfer module for picking up and transferring individual dies by a dicing process in a semiconductor device manufacturing process, and a die transferred by the die transfer module to a printed circuit board, lead frame, semiconductor wafer, etc. It relates to a die bonding apparatus for bonding on a substrate of

일반적으로 반도체 소자들은 일련의 제조 공정들을 반복적으로 수행함으로써 반도체 기판으로서 사용되는 실리콘 웨이퍼 상에 형성될 수 있다. 상기 반도체 소자들이 형성된 웨이퍼는 다이싱 공정을 통해 복수의 다이들로 개별화될 수 있으며, 상기 다이싱 공정을 통해 개별화된 다이들은 다이 본딩 공정을 통해 리드 프레임, 인쇄회로기판, 반도체 웨이퍼와 같은 기판 상에 본딩될 수 있다.In general, semiconductor devices may be formed on a silicon wafer used as a semiconductor substrate by repeatedly performing a series of manufacturing processes. The wafer on which the semiconductor devices are formed may be individualized into a plurality of dies through a dicing process, and the individual dies through the dicing process are formed on a substrate such as a lead frame, a printed circuit board, and a semiconductor wafer through a die bonding process. can be bonded to

상기 다이 본딩 공정을 수행하기 위한 장치는 상기 다이들로 분할된 웨이퍼로부터 상기 다이들을 픽업하여 이송하기 위한 다이 이송 모듈과 상기 이송된 다이를 기판 상에 본딩하기 위한 다이 본딩 모듈을 포함할 수 있다. 상기 다이 이송 모듈은, 상기 웨이퍼를 지지하는 스테이지 유닛과, 상기 스테이지 유닛에 지지된 웨이퍼로부터 선택적으로 다이를 분리시키기 위한 다이 이젝터와, 상기 웨이퍼로부터 상기 다이를 픽업하여 이송하기 위한 피커와, 상기 이송된 다이를 지지하기 위한 다이 스테이지 등을 포함할 수 있으며, 상기 다이 본딩 모듈은, 상기 기판을 지지하기 위한 기판 스테이지와, 상기 다이 스테이지 상의 다이를 픽업하여 상기 기판 상에 본딩하기 위한 본딩 헤드를 포함할 수 있다.The apparatus for performing the die bonding process may include a die transfer module for picking up and transferring the dies from the wafer divided into the dies, and a die bonding module for bonding the transferred die onto a substrate. The die transfer module includes a stage unit for supporting the wafer, a die ejector for selectively separating a die from a wafer supported by the stage unit, a picker for picking up and transferring the die from the wafer, and the transfer; and a die stage for supporting the die, wherein the die bonding module includes a substrate stage for supporting the substrate, and a bonding head for picking up a die on the die stage and bonding the die on the substrate can do.

최근 반도체 소자들의 집적도가 증가함에 따라 상기 다이 상의 패드 피치가 점차 감소되고 있으며, 이에 따라 상기 다이 본딩 공정에서 상기 기판 상에 본딩되는 상기 다이의 전면 부위 오염이 해결되어야 할 과제로서 부각되고 있다. 특히, 적층형 반도체 소자의 제조를 위한 TSV(Through Silicon Via) 본딩 공정의 경우 상기 다이의 전면 상에는 복수의 전극 패드들이 배치될 수 있으며, 상기 피커에 의해 상기 웨이퍼로부터 픽업되는 과정에서 접촉에 의한 오염 문제가 발생될 수 있다.Recently, as the degree of integration of semiconductor devices increases, the pad pitch on the die is gradually reduced. Accordingly, contamination of the front surface of the die bonded to the substrate in the die bonding process is highlighted as a problem to be solved. In particular, in the case of a TSV (Through Silicon Via) bonding process for manufacturing a stacked semiconductor device, a plurality of electrode pads may be disposed on the front surface of the die, and a contamination problem due to contact in the process of being picked up from the wafer by the picker may occur.

대한민국 공개특허공보 제10-2019-0034858호 (공개일자 2019년 04월 03일)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2019-0034858 (published on April 03, 2019)

본 발명의 실시예들은 다이의 픽업 및 이송 과정에서 상기 다이의 오염을 방지할 수 있는 다이 이송 모듈과 이를 포함하는 다이 본딩 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.It is an object of the present invention to provide a die transfer module capable of preventing contamination of the die during pickup and transfer of the die, and a die bonding apparatus including the same.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 다이 이송 모듈은, 다이의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이를 비접촉 방식으로 픽업하기 위한 비접촉 피커와, 상기 비접촉 피커에 의해 픽업된 다이를 전달받고 상기 다이의 전면이 아래를 향하도록 상기 다이를 반전시키기 위한 플리퍼와, 상기 반전된 다이를 비접촉 방식으로 지지하기 위한 비접촉 다이 스테이지와, 상기 비접촉 다이 스테이지 상의 상기 다이를 기 설정된 위치에 정렬하기 위한 정렬 유닛을 포함할 수 있다.A die transfer module according to an aspect of the present invention for achieving the above object includes a non-contact picker for picking up the die in a non-contact manner so as not to come into contact with the front surface of the die, and receives the die picked up by the non-contact picker and the a flipper for inverting the die so that the front side of the die faces down, a non-contact die stage for supporting the inverted die in a non-contact manner, and an alignment unit for aligning the die on the non-contact die stage to a predetermined position may include.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 비접촉 피커는, 초음파 진동을 이용하여 상기 다이를 밀어내는 척력을 제공하는 초음파 진동 유닛과, 상기 다이가 비접촉 상태로 유지되도록 진공압을 이용하여 상기 다이에 흡인력을 제공하는 진공 척을 포함할 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the non-contact picker includes an ultrasonic vibration unit that provides a repulsive force to push the die using ultrasonic vibration, and a vacuum pressure to the die so that the die is maintained in a non-contact state. It may include a vacuum chuck that provides a suction force.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 초음파 진동 유닛은, 상기 초음파 진동을 발생시키기 위한 초음파 발진기와, 상기 초음파 진동을 전달하기 위한 혼과, 상기 혼의 단부에 연결되며 상기 초음파 진동에 의해 진동하는 진동판을 포함할 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the ultrasonic vibration unit includes an ultrasonic oscillator for generating the ultrasonic vibration, a horn for transmitting the ultrasonic vibration, and is connected to an end of the horn and vibrates by the ultrasonic vibration It may include a diaphragm.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 진공 척은, 상기 진동판을 감싸도록 구성되고 상기 다이의 전면과 마주하는 하부면을 가질 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the vacuum chuck is configured to surround the diaphragm and may have a lower surface facing the front surface of the die.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 진동판은 사각 플레이트 형태를 갖고, 상기 진공 척은 상기 진동판을 감싸는 사각 링 형태를 가질 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the diaphragm may have a square plate shape, and the vacuum chuck may have a square ring shape surrounding the diaphragm.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 진공 척은, 상기 다이의 전면과 마주하는 하부면과, 상기 진공압을 제공하기 위한 진공홀들과, 상기 다이의 전면과 상기 하부면 사이에 에어를 공급하기 위한 에어홀들을 포함할 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the vacuum chuck may include a lower surface facing the front surface of the die, vacuum holes for providing the vacuum pressure, and air between the front surface and the lower surface of the die. It may include air holes for supplying.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 비접촉 다이 스테이지는, 초음파 진동을 이용하여 상기 다이를 부상시키기 위한 척력을 제공하는 초음파 진동 유닛과, 상기 다이가 부상된 상태로 유지되도록 진공압을 이용하여 상기 다이에 흡인력을 제공하는 진공 스테이지를 포함할 수 있다. According to some embodiments of the present invention, the non-contact die stage includes an ultrasonic vibration unit that provides a repulsive force for floating the die using ultrasonic vibration, and a vacuum pressure so that the die is maintained in a floating state. It may include a vacuum stage that provides a suction force to the die.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 비접촉 다이 스테이지의 상기 초음파 진동 유닛은, 상기 초음파 진동을 발생시키기 위한 초음파 발진기와, 상기 초음파 진동을 전달하기 위한 혼과, 상기 혼의 단부에 연결되며 상기 초음파 진동에 의해 진동하는 진동판을 포함할 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the ultrasonic vibration unit of the non-contact die stage includes an ultrasonic oscillator for generating the ultrasonic vibration, a horn for transmitting the ultrasonic vibration, and an end of the horn connected to the ultrasonic wave It may include a diaphragm vibrating by vibration.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 진공 스테이지는, 상기 진동판이 배치되는 개구와, 상기 다이의 전면과 마주하는 상부면을 가질 수 있다.According to some embodiments of the present disclosure, the vacuum stage may have an opening in which the diaphragm is disposed, and an upper surface facing the front surface of the die.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 진공 스테이지는, 상기 개구를 감싸도록 링 형태로 배치되는 진공홀들을 가질 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the vacuum stage may have vacuum holes arranged in a ring shape to surround the opening.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 진공 스테이지는, 상기 진공홀들 사이에 배치되며 상기 다이의 전면과 상기 상부면 사이에 에어를 공급하기 위한 에어홀들을 가질 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the vacuum stage is disposed between the vacuum holes and may have air holes for supplying air between the front surface and the upper surface of the die.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 다이 이송 모듈은, 상기 플리퍼를 상기 비접촉 다이 스테이지를 향하여 이동시키는 플리퍼 구동부를 더 포함할 수 있다.According to some embodiments of the present disclosure, the die transfer module may further include a flipper driving unit that moves the flipper toward the non-contact die stage.

본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 상기 정렬 유닛은, 상기 비접촉 다이 스테이지 상의 상기 다이의 측면들과 마주하도록 배치되는 정렬 부재들과, 상기 다이의 크기에 따라 상기 정렬 부재들의 위치를 조절하기 위한 위치 조절부들을 포함할 수 있다.According to some embodiments of the present invention, the alignment unit includes alignment members disposed to face sides of the die on the non-contact die stage, and for adjusting positions of the alignment members according to the size of the die. It may include position adjusters.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 다이 본딩 장치는, 다이를 픽업하여 이송하기 위한 다이 이송 모듈과, 상기 다이 이송 모듈에 의해 이송된 상기 다이를 기판 상에 본딩하기 위한 다이 본딩 모듈을 포함할 수 있으며, 상기 다이 이송 모듈은, 상기 다이의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이를 비접촉 방식으로 픽업하기 위한 비접촉 피커와, 상기 비접촉 피커에 의해 픽업된 다이를 전달받고 상기 다이의 전면이 아래를 향하도록 상기 다이를 반전시키기 위한 플리퍼와, 상기 반전된 다이를 비접촉 방식으로 지지하기 위한 비접촉 다이 스테이지와, 상기 비접촉 다이 스테이지 상의 상기 다이를 기 설정된 위치에 정렬하기 위한 정렬 유닛를 포함하고, 상기 다이 본딩 모듈은 상기 비접촉 다이 스테이지 상에서 위치 정렬된 상기 다이를 픽업하여 상기 기판 상에 본딩할 수 있다.A die bonding apparatus according to another aspect of the present invention for achieving the above object includes a die transfer module for picking up and transferring a die, and a die bonding module for bonding the die transferred by the die transfer module onto a substrate may include, wherein the die transfer module receives a non-contact picker for picking up the die in a non-contact manner so as not to contact the front surface of the die, and receives the die picked up by the non-contact picker, and the front surface of the die is lower a flipper for inverting the die to face A bonding module may pick up the aligned die on the non-contact die stage and bond it onto the substrate.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 다이는 상기 비접촉 피커에 의해 픽업되어 이송될 수 있으며, 상기 플리퍼에 의해 반전된 후 상기 비접촉 다이 스테이지 상에 놓여질 수 있고, 상기 비접촉 다이 스테이지 상에서 상기 정렬 유닛에 의해 정렬될 수 있다. 상기와 같이 다이의 픽업 및 이송 과정에서 상기 다이의 전면 부위에 대한 접촉이 방지될 수 있으며, 이에 따라 접촉에 의한 오염이 충분히 방지될 수 있고, 아울러 다이 본딩 공정에서 다이 오염에 의한 불량이 크게 감소될 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, the die may be picked up and transported by the non-contact picker, inverted by the flipper, and then placed on the non-contact die stage, on the non-contact die stage may be aligned by the alignment unit. As described above, contact with the front portion of the die can be prevented during the pickup and transfer of the die, and thus contamination due to contact can be sufficiently prevented, and defects due to die contamination in the die bonding process are greatly reduced. can be

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다이 이송 모듈과 이를 포함하는 다이 본딩 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 다이 이송 모듈을 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 3은 도 2에 도시된 비접촉 피커의 일 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 진공 척의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 저면도이다.
도 5는 도 2에 도시된 비접촉 다이 스테이지의 일 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 6은 도 5에 도시된 진공 스테이지의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 7은 도 2에 도시된 정렬 유닛의 일 예를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.1 is a schematic configuration diagram for explaining a die transfer module and a die bonding apparatus including the same according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram for explaining the die transfer module shown in FIG. 1 .
3 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the non-contact picker shown in FIG.
FIG. 4 is a schematic bottom view for explaining another example of the vacuum chuck shown in FIG. 3 .
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the non-contact die stage shown in FIG. 2 .
6 is a schematic plan view for explaining another example of the vacuum stage shown in FIG. 5 .
7 is a schematic plan view for explaining an example of the alignment unit shown in FIG.

이하, 본 발명의 실시예들은 첨부 도면들을 참조하여 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention should not be construed as being limited to the embodiments described below and may be embodied in various other forms. The following examples are provided to sufficiently convey the scope of the present invention to those skilled in the art, rather than to enable the present invention to be fully completed.

본 발명의 실시예들에서 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들이 이들 사이에 개재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결되는 것으로 설명되는 경우 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.In embodiments of the present invention, when an element is described as being disposed or connected to another element, the element may be directly disposed or connected to the other element, and other elements may be interposed therebetween. could be Alternatively, where one element is described as being directly disposed on or connected to another element, there cannot be another element between them. Although the terms first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and/or portions, the items are not limited by these terms. will not

본 발명의 실시예들에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.The terminology used in the embodiments of the present invention is only used for the purpose of describing specific embodiments, and is not intended to limit the present invention. In addition, unless otherwise limited, all terms including technical and scientific terms have the same meaning as understood by one of ordinary skill in the art of the present invention. The above terms, such as those defined in conventional dictionaries, shall be interpreted as having meanings consistent with their meanings in the context of the relevant art and description of the present invention, ideally or excessively outwardly intuitive, unless clearly defined. will not be interpreted.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화는 충분히 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차를 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 요소들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상은 요소들의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.Embodiments of the present invention are described with reference to schematic diagrams of ideal embodiments of the present invention. Accordingly, changes from the shapes of the diagrams, eg, changes in manufacturing methods and/or tolerances, are those that can be fully expected. Accordingly, the embodiments of the present invention are not to be described as being limited to the specific shapes of the areas described as diagrams, but rather to include deviations in the shapes, and the elements described in the drawings are entirely schematic and their shapes It is not intended to describe the precise shape of the elements, nor is it intended to limit the scope of the invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다이 이송 모듈과 이를 포함하는 다이 본딩 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이며, 도 2는 도 1에 도시된 다이 이송 모듈을 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram for explaining a die transport module and a die bonding apparatus including the same according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram for explaining the die transport module shown in FIG. 1 am.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 다이 본딩 장치(10)는 반도체 장치의 제조 공정에서 다이싱 공정에 의해 개별화된 다이들(22)을 픽업하여 리드 프레임, 인쇄회로기판, 반도체 웨이퍼 등의 기판(30) 상에 본딩하기 위하여 사용될 수 있다. 상기 다이 본딩 장치(10)는 다이(22)를 픽업하여 이송하기 위한 다이 이송 모듈(100)과, 상기 다이 이송 모듈(100)에 의해 이송된 다이(22)를 상기 기판(30) 상에 본딩하기 위한 다이 본딩 모듈(700)을 포함할 수 있다. 일 예로서, 상기 다이 이송 모듈(100)은 다이싱 공정에 의해 개별화된 복수의 다이들(22)을 포함하는 웨이퍼(20)로부터 다이(22)를 픽업하여 이송할 수 있다.1 and 2 , a die bonding apparatus 10 according to an exemplary embodiment of the present invention picks up individual dies 22 by a dicing process in a semiconductor device manufacturing process to form a lead frame and a printed circuit. It may be used for bonding on a substrate 30 such as a substrate or a semiconductor wafer. The die bonding apparatus 10 includes a die transfer module 100 for picking up and transferring the die 22 , and bonding the die 22 transferred by the die transfer module 100 onto the substrate 30 . It may include a die bonding module 700 for As an example, the die transfer module 100 may pick up and transfer the die 22 from the wafer 20 including a plurality of individual dies 22 by a dicing process.

상기 웨이퍼(20)는 상기 다이들(22)이 다이싱 테이프(24) 상에 부착된 상태로 제공될 수 있다. 특히, 상기 다이들(22)의 전면이 위를 향하도록 상기 다이들(22)의 후면이 상기 다이싱 테이프(24) 상에 부착될 수 있으며, 상기 다이싱 테이프(24)는 대략 원형 링 형태를 갖는 마운트 프레임(26)에 장착될 수 있다.The wafer 20 may be provided with the dies 22 attached to the dicing tape 24 . In particular, the rear surfaces of the dies 22 may be attached to the dicing tape 24 so that the front surfaces of the dies 22 face upward, and the dicing tape 24 has a substantially circular ring shape. It can be mounted on the mount frame 26 having a.

상기 다이 이송 모듈(100)은 상기 웨이퍼(20)를 지지하는 웨이퍼 스테이지(110)와, 상기 다이싱 테이프(24) 아래에 배치되며 상기 다이(22)를 상기 다이싱 테이프(24)로부터 분리시키는 다이 이젝터(200)와, 상기 다이(22)의 전면 부위 오염을 방지하기 위하여 상기 다이(22)의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이(22)를 비접촉 방식으로 픽업하기 위한 비접촉 피커(300)와, 상기 비접촉 피커(300)에 의해 픽업된 다이(22)를 전달받고 상기 다이(22)의 전면이 아래를 향하고 상기 다이(22)의 후면이 위를 향하도록 상기 다이(22)를 반전시키는 플리퍼(400; flipper)와, 상기 반전된 다이(22)를 비접촉 방식으로 지지하기 위한 비접촉 다이 스테이지(500)와, 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상의 상기 다이(22)를 기 설정된 위치에 정렬하기 위한 정렬 유닛(600)을 포함할 수 있다.The die transfer module 100 includes a wafer stage 110 supporting the wafer 20 , and is disposed under the dicing tape 24 to separate the die 22 from the dicing tape 24 . A die ejector 200 and a non-contact picker 300 for picking up the die 22 in a non-contact manner so as not to come into contact with the front surface of the die 22 in order to prevent contamination of the front surface of the die 22; A flipper that receives the die 22 picked up by the non-contact picker 300 and inverts the die 22 so that the front side of the die 22 faces down and the back side of the die 22 faces up; 400; flipper), a non-contact die stage 500 for supporting the inverted die 22 in a non-contact manner, and an alignment for aligning the die 22 on the non-contact die stage 500 to a predetermined position It may include a unit 600 .

도 2를 참조하면, 상기 웨이퍼 스테이지(110) 상에는 상기 다이싱 테이프(24)를 지지하기 위한 서포트 링(112)이 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 서포트 링(112)은 상기 다이들(22)과 상기 마운트 프레임(26) 사이에서 상기 다이싱 테이프(24)를 지지할 수 있다. 또한, 상기 웨이퍼 스테이지(110) 상에는 상기 마운트 프레임(26)을 파지하기 위한 클램프들(114)이 배치될 수 있다. 상기 클램프들(114)은 클램프 구동부(미도시)에 의해 하방으로 이동될 수 있으며, 이에 의해 상기 다이들(22)의 픽업이 용이하도록 상기 다이싱 테이프(24)가 충분히 확장될 수 있다.Referring to FIG. 2 , a support ring 112 for supporting the dicing tape 24 may be disposed on the wafer stage 110 . For example, the support ring 112 may support the dicing tape 24 between the dies 22 and the mount frame 26 . In addition, clamps 114 for gripping the mount frame 26 may be disposed on the wafer stage 110 . The clamps 114 may be moved downward by a clamp driver (not shown), whereby the dicing tape 24 may be sufficiently expanded to facilitate pickup of the dies 22 .

상기 웨이퍼 스테이지(110) 상에 지지된 상기 다이싱 테이프(24)의 아래에는 상기 다이들(22)을 상기 다이싱 테이프(24)로부터 분리시키기 위한 다이 이젝터(200)가 배치될 수 있다. 일 예로서, 상기 다이 이젝터(200)는 이젝터 핀들을(미도시)을 이용하여 픽업하고자 하는 다이(22)를 상승시킴으로써 상기 다이(22)를 상기 다이싱 테이프(24)로부터 분리시킬 수 있으며, 상기 다이(22)가 상승된 후 상기 비접촉 피커(300)가 하강하여 상기 다이(22)를 비접촉 방식으로 지지할 수 있다. 상기 다이(22)가 상기 비접촉 피커(300)에 의해 지지된 후 상기 이젝터 핀들이 하강할 수 있으며, 이에 의해 상기 다이(22)가 상기 다이싱 테이프(24)로부터 완전히 분리될 수 있다.A die ejector 200 for separating the dies 22 from the dicing tape 24 may be disposed under the dicing tape 24 supported on the wafer stage 110 . As an example, the die ejector 200 may separate the die 22 from the dicing tape 24 by raising the die 22 to be picked up using ejector pins (not shown), After the die 22 is raised, the non-contact picker 300 may be lowered to support the die 22 in a non-contact manner. After the die 22 is supported by the non-contact picker 300 , the ejector pins may be lowered, whereby the die 22 may be completely separated from the dicing tape 24 .

상기 비접촉 피커(300)는 피커 구동부(302)에 의해 수직 및 수평 방향으로 이동될 수 있으며, 상기 비접촉 피커(300)에 의해 픽업 및 이송된 상기 다이(22)는 상기 플리퍼(400)에 전달될 수 있다.The non-contact picker 300 may be moved in vertical and horizontal directions by a picker driver 302 , and the die 22 picked up and transported by the non-contact picker 300 is transferred to the flipper 400 . can

상기 플리퍼(400)는 상기 다이(22)의 후면을 진공 흡착하기 위한 진공 핸드(410)와, 상기 진공 핸드(410)를 회전시키기 위한 회전 구동부(420)와, 상기 진공 핸드(410)를 상기 비접촉 다이 스테이지(500)를 향하여 이동시키기 위한 플리퍼 구동부(430)를 포함할 수 있다. 상기 비접촉 피커(300)에 의해 픽업된 상기 다이(22)는 상기 진공 핸드(410) 상에 놓여질 수 있으며, 상기 진공 핸드(410)에 의해 반전 및 이동된 후 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에 놓여질 수 있다. 도시되지는 않았으나, 상기 진공 핸드(410)는 상기 다이(22)의 후면을 진공 흡착하기 위한 진공홀들(미도시)을 구비할 수 있으며, 상기 플리퍼 구동부(430)는 상기 다이(22)의 전달을 위해 상기 진공 핸드(410)를 수직 및 수평 방향으로 이동시킬 수 있다.The flipper 400 includes a vacuum hand 410 for vacuum adsorbing the rear surface of the die 22 , a rotation driving unit 420 for rotating the vacuum hand 410 , and a vacuum hand 410 for rotating the vacuum hand 410 . A flipper driver 430 for moving the non-contact die stage 500 may be included. The die 22 picked up by the non-contact picker 300 may be placed on the vacuum hand 410 , and after being inverted and moved by the vacuum hand 410 , it is placed on the non-contact die stage 500 . can be placed Although not shown, the vacuum hand 410 may include vacuum holes (not shown) for vacuum adsorbing the rear surface of the die 22 , and the flipper driver 430 may For delivery, the vacuum hand 410 may be moved in vertical and horizontal directions.

상기 다이 본딩 모듈(700)은 상기 기판(30)을 지지하기 위한 기판 스테이지(710)와, 상기 비접촉 다이 스테이지(500)로부터 상기 다이(22)를 픽업하여 상기 기판(30) 상에 본딩하기 위한 본딩 헤드(720)와, 상기 다이(22)의 픽업 및 본딩을 위해 상기 본딩 헤드(720)를 수직 및 수평 방향으로 이동시키기 위한 헤드 구동부(미도시)를 포함할 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 본딩 헤드(720)는 상기 반전된 상태로 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에 놓여진 상기 다이(22)의 후면을 진공 흡착하기 위한 본딩 툴(미도시)을 구비할 수 있으며, 상기 본딩 툴은 상기 다이(22)의 후면을 진공 흡착하기 위한 진공홀들(미도시)을 구비할 수 있다. The die bonding module 700 includes a substrate stage 710 for supporting the substrate 30 , and a method for picking up the die 22 from the non-contact die stage 500 and bonding the die 22 onto the substrate 30 . It may include a bonding head 720 and a head driving unit (not shown) for moving the bonding head 720 in vertical and horizontal directions for pickup and bonding of the die 22 . Although not shown in detail, the bonding head 720 may include a bonding tool (not shown) for vacuum adsorbing the back surface of the die 22 placed on the non-contact die stage 500 in the inverted state. In addition, the bonding tool may include vacuum holes (not shown) for vacuum adsorbing the rear surface of the die 22 .

상술한 바와 같이 상기 비접촉 피커(300)는 상기 다이(22)의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이(22)를 픽업하고, 상기 플리퍼(400)는 상기 다이(22)의 후면을 진공 흡착하여 상기 다이(22)를 반전시키며, 상기 비접촉 다이 스테이지(500)는 상기 다이(22)의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이(22)를 지지할 수 있다. 따라서, 상기 다이(22)의 픽업 및 이송 과정에서 상기 다이(22)의 전면 오염이 충분히 방지될 수 있으며, 이에 따라 오염에 의한 본딩 불량을 충분히 감소시킬 수 있다.As described above, the non-contact picker 300 picks up the die 22 so as not to come into contact with the front surface of the die 22 , and the flipper 400 vacuum-sucks the back surface of the die 22 to remove the die 22 . Inverting (22), the non-contact die stage 500 may support the die 22 so as not to contact the front surface of the die 22 . Accordingly, contamination of the front surface of the die 22 can be sufficiently prevented in the process of picking up and transferring the die 22 , and thus, bonding defects caused by the contamination can be sufficiently reduced.

도 3은 도 2에 도시된 비접촉 피커의 일 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.3 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the non-contact picker shown in FIG.

도 3을 참조하면, 상기 비접촉 피커(300)는, 초음파 진동을 이용하여 상기 다이(22)를 밀어내는 척력을 제공하는 초음파 진동 유닛(310)과, 상기 다이(22)가 비접촉 상태로 유지되도록 진공압을 이용하여 상기 다이(22)에 흡인력을 제공하는 진공 척(320)을 포함할 수 있다. 상기 초음파 진동 유닛(310)은 초음파 진동의 주기적인 공기 압축 효과를 이용하여 상기 다이(22)를 밀어내는 척력을 제공할 수 있다. 상기 다이(22)는 상기 초음파 진동 유닛(310)에 의해 제공되는 상기 척력과 상기 진공 척(320)에 의해 제공되는 상기 흡인력에 의해 상기 초음파 진동 유닛(310) 및 상기 진공 척(320)으로부터 소정 간격 이격된 상태로 유지될 수 있다.Referring to FIG. 3 , the non-contact picker 300 includes an ultrasonic vibration unit 310 that provides a repulsive force to push the die 22 using ultrasonic vibration, and the die 22 is maintained in a non-contact state. It may include a vacuum chuck 320 that provides a suction force to the die 22 using vacuum pressure. The ultrasonic vibration unit 310 may provide a repulsive force for pushing the die 22 by using the periodic air compression effect of the ultrasonic vibration. The die 22 is predetermined from the ultrasonic vibration unit 310 and the vacuum chuck 320 by the repulsive force provided by the ultrasonic vibration unit 310 and the suction force provided by the vacuum chuck 320 . It can be kept spaced apart.

일 예로서, 상기 초음파 진동 유닛(310)은, 상기 초음파 진동을 발생시키기 위한 초음파 발진기(312)와, 상기 초음파 진동을 증폭하여 전달하기 위한 혼(314)과, 상기 혼(314)과 연결되며 상기 초음파 진동에 의해 진동하는 진동판(316)을 포함할 수 있다. 일 예로서, 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 초음파 발진기(312)는 한 쌍의 압전 소자들을 포함할 수 있으며, 초음파 진동 발생을 위해 상기 압전 소자들에 교번 전압이 인가될 수 있다. 상기 혼(314)은 초음파 진동의 증폭을 위해 대략 원추형으로 구성될 수 있으며, 상기 혼(314)의 단부에 상기 진동판(316)이 장착될 수 있다.As an example, the ultrasonic vibration unit 310 is connected to an ultrasonic oscillator 312 for generating the ultrasonic vibration, a horn 314 for amplifying and transmitting the ultrasonic vibration, and the horn 314, It may include a diaphragm 316 vibrating by the ultrasonic vibration. As an example, although not shown in detail, the ultrasonic oscillator 312 may include a pair of piezoelectric elements, and an alternating voltage may be applied to the piezoelectric elements to generate ultrasonic vibrations. The horn 314 may have a substantially conical shape for amplification of ultrasonic vibrations, and the diaphragm 316 may be mounted at an end of the horn 314 .

상기 진동판(316)의 하부면과 상기 진공 척(320)의 하부면은 상기 다이(22)의 전면과 마주하도록 배치될 수 있다. 일 예로서, 상기 진동판(316)은 사각 플레이트 형태를 갖고, 상기 진공 척(320)은 상기 진동판(316)을 감싸는 사각 링 형태를 가질 수 있다. 상기 진공 척(320)은 상기 진공압을 제공하기 위한 진공홀들(322)을 가질 수 있으며, 상기 진공홀들(322)은 진공 이젝터 또는 진공 펌프 등과 같은 진공 소스에 연결될 수 있다.A lower surface of the diaphragm 316 and a lower surface of the vacuum chuck 320 may be disposed to face the front surface of the die 22 . As an example, the diaphragm 316 may have a rectangular plate shape, and the vacuum chuck 320 may have a rectangular ring shape surrounding the diaphragm 316 . The vacuum chuck 320 may have vacuum holes 322 for providing the vacuum pressure, and the vacuum holes 322 may be connected to a vacuum source such as a vacuum ejector or a vacuum pump.

도 4는 도 3에 도시된 진공 척의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 저면도이다.FIG. 4 is a schematic bottom view for explaining another example of the vacuum chuck shown in FIG. 3 .

도 4를 참조하면, 상기 진공 척(320)은 상기 다이(22)의 전면과 상기 진공 척(320)의 하부면 사이에 에어를 공급하기 위한 에어홀들(324)을 구비할 수 있다. 도시되지는 않았으나, 상기 에어홀들(324)은 상기 에어를 공급하기 위한 에어 소스(미도시)와 연결될 수 있으며, 상기 에어홀들(324)로부터 공급된 에어는 상기 진공홀들(322)에 의해 흡입될 수 있다. 특히, 상기 에어홀들(324)과 상기 진공홀들(322) 사이의 에어 흐름에 의해 음압이 형성될 수 있으며, 상기 음압에 의해 상기 다이(22)를 유지하기 위한 흡인력이 상기 다이(22)에 인가될 수 있다. 일 예로서, 상기 에어홀들(324)은 상기 진공홀들(322) 사이에 배치될 수 있다. 그러나, 상기 에어홀들(324)과 상기 진공홀들(322)의 배치는 다양하게 변경 가능하므로 이에 의해 본 발명의 범위가 제한되지는 않을 것이다.Referring to FIG. 4 , the vacuum chuck 320 may include air holes 324 for supplying air between the front surface of the die 22 and the lower surface of the vacuum chuck 320 . Although not shown, the air holes 324 may be connected to an air source (not shown) for supplying the air, and the air supplied from the air holes 324 is supplied to the vacuum holes 322 . can be inhaled by In particular, a negative pressure may be formed by the air flow between the air holes 324 and the vacuum holes 322 , and the suction force for holding the die 22 by the negative pressure is the die 22 . may be authorized for As an example, the air holes 324 may be disposed between the vacuum holes 322 . However, since the arrangement of the air holes 324 and the vacuum holes 322 can be variously changed, the scope of the present invention will not be limited thereby.

도 5는 도 2에 도시된 비접촉 다이 스테이지의 일 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.FIG. 5 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the non-contact die stage shown in FIG. 2 .

도 5를 참조하면, 상기 비접촉 다이 스테이지(500)는, 초음파 진동을 이용하여 상기 다이(22)를 부상시키기 위한 척력을 제공하는 초음파 진동 유닛(510)과, 상기 다이(22)가 부상된 상태로 유지되도록 진공압을 이용하여 상기 다이(22)에 흡인력을 제공하는 진공 스테이지(520)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5 , the non-contact die stage 500 includes an ultrasonic vibration unit 510 that provides a repulsive force for floating the die 22 using ultrasonic vibration, and a state in which the die 22 is floated. It may include a vacuum stage 520 that provides a suction force to the die 22 by using a vacuum pressure so as to be maintained at the .

일 예로서, 상기 초음파 진동 유닛(510)은, 상기 초음파 진동을 발생시키기 위한 초음파 발진기(512)와, 상기 초음파 진동을 증폭하여 전달하기 위한 혼(514)과, 상기 혼(514)의 단부에 연결되며 상기 초음파 진동에 의해 진동하는 진동판(516)을 포함할 수 있다. 상기 진공 스테이지(520)는 상기 진동판(516)이 배치되는 개구(522)를 가질 수 있으며, 상기 다이(22)의 전면이 상기 진동판(516)과 상기 진공 스테이지(520)의 상부면과 마주하도록 놓여질 수 있다. 일 예로서, 상기 진동판(516)은 사각 플레이트 형태를 가질 수 있으며, 상기 개구(522) 또한 사각 형태를 가질 수 있다. 또한, 상기 진공 스테이지(520)는 상기 개구(522)를 감싸도록 사각 링 형태로 배치되는 진공홀들(524)을 구비할 수 있다.As an example, the ultrasonic vibration unit 510 includes an ultrasonic oscillator 512 for generating the ultrasonic vibration, a horn 514 for amplifying and transmitting the ultrasonic vibration, and an end of the horn 514 . It may include a diaphragm 516 that is connected and vibrates by the ultrasonic vibration. The vacuum stage 520 may have an opening 522 in which the diaphragm 516 is disposed, such that the front surface of the die 22 faces the diaphragm 516 and upper surfaces of the vacuum stage 520 . can be placed As an example, the diaphragm 516 may have a rectangular plate shape, and the opening 522 may also have a rectangular shape. Also, the vacuum stage 520 may include vacuum holes 524 arranged in a rectangular ring shape to surround the opening 522 .

도 6은 도 5에 도시된 진공 스테이지의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.6 is a schematic plan view for explaining another example of the vacuum stage shown in FIG. 5 .

도 6을 참조하면, 상기 진공 스테이지(520)는 상기 다이(22)의 전면과 상기 진공 스테이지(520)의 상부면 사이에 에어를 공급하기 위한 에어홀들(526)을 구비할 수 있다. 도시되지는 않았으나, 상기 에어홀들(526)은 상기 에어를 공급하기 위한 에어 소스(미도시)와 연결될 수 있으며, 상기 에어홀들(526)로부터 공급된 에어는 상기 진공홀들(524)에 의해 흡입될 수 있다. 특히, 상기 에어홀들(526)과 상기 진공홀들(524) 사이의 에어 흐름에 의해 음압이 형성될 수 있으며, 상기 음압에 의해 상기 다이(22)를 부상된 상태로 유지하기 위한 흡인력이 상기 다이(22)에 인가될 수 있다. 일 예로서, 상기 에어홀들(526)은 상기 진공홀들(524) 사이에 배치될 수 있다. 그러나, 상기 에어홀들(526)과 상기 진공홀들(524)의 배치는 다양하게 변경 가능하므로 이에 의해 본 발명의 범위가 제한되지는 않을 것이다.Referring to FIG. 6 , the vacuum stage 520 may include air holes 526 for supplying air between the front surface of the die 22 and the upper surface of the vacuum stage 520 . Although not shown, the air holes 526 may be connected to an air source (not shown) for supplying the air, and the air supplied from the air holes 526 is applied to the vacuum holes 524 . can be inhaled by In particular, a negative pressure may be formed by the air flow between the air holes 526 and the vacuum holes 524, and the suction force for maintaining the die 22 in a floating state by the negative pressure is the may be applied to the die 22 . As an example, the air holes 526 may be disposed between the vacuum holes 524 . However, since the arrangement of the air holes 526 and the vacuum holes 524 can be variously changed, the scope of the present invention will not be limited thereby.

다시 도 1을 참조하면, 상기 정렬 유닛(600)은 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에서 상기 다이(22)를 기 설정된 위치에 정렬하기 위해 사용될 수 있다. 예를 들면, 상기 정렬 유닛(600)은 상기 진동판(516)의 중심과 상기 다이(22)의 중심이 서로 대응하도록 그리고 상기 다이(22)가 놓여진 방향이 기 설정된 방향과 일치하도록 상기 다이(22)를 정렬할 수 있다.Referring back to FIG. 1 , the alignment unit 600 may be used to align the die 22 to a preset position on the non-contact die stage 500 . For example, the alignment unit 600 may set the die 22 so that the center of the diaphragm 516 and the center of the die 22 correspond to each other and the direction in which the die 22 is placed coincides with a preset direction. ) can be sorted.

도 7은 도 2에 도시된 정렬 유닛의 일 예를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.7 is a schematic plan view for explaining an example of the alignment unit shown in FIG.

도 7을 참조하면, 상기 정렬 유닛(600)은, 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상의 상기 다이(22)의 측면들과 마주하도록 배치되는 정렬 부재들(610)과, 상기 다이(22)의 크기에 따라 상기 정렬 부재들(610)의 위치를 조절하기 위한 위치 조절부들(620)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7 , the alignment unit 600 includes alignment members 610 disposed to face side surfaces of the die 22 on the non-contact die stage 500 , and the size of the die 22 . Accordingly, it may include position adjusting units 620 for adjusting the positions of the alignment members 610 .

일 예로서, 상기 정렬 부재들(610)은 상기 다이(22)의 측면들과 각각 마주하도록 배치될 수 있으며, 상기 위치 조절부들(620)은 상기 정렬 부재들(610)을 상기 비접촉 다이 스테이지(500)의 중심을 향하여 또는 상기 비접촉 다이 스테이지(500)의 중심으로부터 멀어지는 방향으로 상기 정렬 부재들(610)을 이동시킬 수 있다. 일 예로서, 상기 위치 조절부들(620)은 리니어 모터 또는 공압 실린더 등을 이용하여 구성될 수 있다.As an example, the alignment members 610 may be disposed to face side surfaces of the die 22 , respectively, and the position adjustment units 620 may move the alignment members 610 to the non-contact die stage ( ). The alignment members 610 may be moved toward the center of the non-contact die stage 500 or away from the center of the non-contact die stage 500 . As an example, the position adjusting units 620 may be configured using a linear motor or a pneumatic cylinder.

한편, 상기 초음파 진동 유닛(510)은 주기적인 공기 압축 효과를 통해 상기 다이(22)의 부상을 위한 척력 뿐만 아니라 상기 다이(22)의 전면에 평행한 방향 즉 수평 방향으로 상기 다이(22)에 지지력을 제공할 수 있으므로 상기 다이(22)의 오정렬 정도가 크지 않은 경우 상기 초음파 진동에 의해 자동으로 상기 다이(22)의 정렬이 이루어질 수 있다. 아울러, 상기 진공홀들(524)에 의해 제공되는 흡인력에 의해 상기 다이(22)의 각도 정렬 또한 소정 범위 내에서 자동으로 이루어질 수 있다.On the other hand, the ultrasonic vibration unit 510 provides a repulsive force for floating of the die 22 through a periodic air compression effect as well as a direction parallel to the front surface of the die 22 , that is, in a horizontal direction to the die 22 . Since it is possible to provide a supporting force, when the degree of misalignment of the die 22 is not large, the die 22 may be automatically aligned by the ultrasonic vibration. In addition, the angular alignment of the die 22 may also be automatically performed within a predetermined range by the suction force provided by the vacuum holes 524 .

따라서, 상기 정렬 부재들(610)은 상기 다이(22)의 측면들에 밀착될 필요가 없으며, 상기 다이(22)와 상기 정렬 부재들(610) 사이의 접촉에 의한 오염이 감소될 수 있다. 즉, 서로 마주하는 정렬 부재들(610) 사이의 간격은 상기 다이(22)의 폭보다 넓게 구성될 수 있다. 예를 들면, 도시된 바와 같이 X축 방향으로 상기 정렬 부재들(610) 사이의 간격은 X축 방향으로 상기 다이(22)의 폭보다 넓을 수 있으며, Y축 방향으로 상기 정렬 부재들(610) 사이의 간격은 Y축 방향으로 상기 다이(22)의 폭보다 넓을 수 있다. 일 예로서, 상기 다이(22)의 측면들과 상기 정렬 부재들(610) 사이의 간격은 약 1mm 이내로 설정될 수 있다.Accordingly, the alignment members 610 do not need to be in close contact with the side surfaces of the die 22 , and contamination due to contact between the die 22 and the alignment members 610 may be reduced. That is, the spacing between the aligning members 610 facing each other may be wider than the width of the die 22 . For example, as shown, a distance between the alignment members 610 in the X-axis direction may be wider than the width of the die 22 in the X-axis direction, and the alignment members 610 in the Y-axis direction. A gap therebetween may be wider than the width of the die 22 in the Y-axis direction. As an example, a distance between the side surfaces of the die 22 and the alignment members 610 may be set within about 1 mm.

상기 정렬 부재들(610)은 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에 놓여진 다이(22)의 오정렬 정도가 상대적으로 큰 경우 상기 다이(22)를 상기 비접촉 다이 스테이지(500)의 중심을 향하여 상기 다이(22)를 밀어줄 수 있으며, 상기 비접촉 다이 스테이지(500)의 중심 방향으로 이동된 다이(22)는 상기 초음파 진동에 의해 수평 방향으로 제공되는 지지력에 의해 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에서 정렬될 수 있다.The alignment members 610 move the die 22 toward the center of the non-contact die stage 500 when the degree of misalignment of the die 22 placed on the non-contact die stage 500 is relatively large. 22), and the die 22 moved in the center direction of the non-contact die stage 500 may be aligned on the non-contact die stage 500 by the supporting force provided in the horizontal direction by the ultrasonic vibration. have.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 다이(22)는 상기 비접촉 피커(300)에 의해 픽업되어 이송될 수 있으며, 상기 플리퍼(400)에 의해 반전된 후 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에 놓여질 수 있고, 상기 비접촉 다이 스테이지(500) 상에서 상기 정렬 유닛(600)에 의해 정렬될 수 있다. 상기와 같이 다이(22)의 픽업 및 이송 과정에서 상기 다이(22)의 전면 부위에 대한 접촉이 방지될 수 있으며, 이에 따라 접촉에 의한 오염이 충분히 방지될 수 있고, 아울러 다이 본딩 공정에서 다이(22) 오염에 의한 불량이 크게 감소될 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, the die 22 may be picked up and transported by the non-contact picker 300 , and after being inverted by the flipper 400 , the non-contact die stage 500 . ), and may be aligned by the alignment unit 600 on the non-contact die stage 500 . As described above, in the process of picking up and transferring the die 22, contact with the front portion of the die 22 can be prevented, and accordingly, contamination due to contact can be sufficiently prevented, and in addition, in the die bonding process, the die ( 22) Defects due to contamination can be greatly reduced.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to the preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art can variously modify and change the present invention within the scope without departing from the spirit and scope of the present invention as set forth in the following claims. You will understand that there is

10 : 다이 본딩 장치 20 : 웨이퍼
22 : 다이 24 : 다이싱 테이프
30 : 기판 100 : 다이 이송 모듈
110 : 웨이퍼 스테이지 200 : 다이 이젝터
300 : 비접촉 피커 302 : 피커 구동부
310 : 초음파 진동 유닛 312 : 초음파 발진기
314 : 혼 316 : 진동판
320 : 진공 척 322 : 진공홀
324 : 에어홀 400 : 플리퍼
410 : 진공 핸드 420 : 회전 구동부
430 : 플리퍼 구동부 500 : 비접촉 다이 스테이지
510 : 초음파 진동 유닛 512 : 초음파 발진기
514 : 혼 516 : 진동판
520 : 진공 스테이지 522 : 개구
524 : 진공홀 526 : 에어홀
600 : 정렬 유닛 610 : 정렬 부재
620 : 위치 조절부 700 : 다이 본딩 모듈
710 : 기판 스테이지 720 : 본딩 헤드10: die bonding device 20: wafer
22: die 24: dicing tape
30: substrate 100: die transfer module
110: wafer stage 200: die ejector
300: non-contact picker 302: picker driving unit
310: ultrasonic vibration unit 312: ultrasonic oscillator
314: horn 316: diaphragm
320: vacuum chuck 322: vacuum hole
324: air hole 400: flipper
410: vacuum hand 420: rotation drive unit
430: flipper driving unit 500: non-contact die stage
510: ultrasonic vibration unit 512: ultrasonic oscillator
514: horn 516: diaphragm
520: vacuum stage 522: opening
524: vacuum hole 526: air hole
600: alignment unit 610: alignment member
620: position control unit 700: die bonding module
710: substrate stage 720: bonding head

Claims (14)

다이의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이를 비접촉 방식으로 픽업하기 위한 비접촉 피커;
상기 비접촉 피커에 의해 픽업된 다이를 전달받고 상기 다이의 전면이 아래를 향하도록 상기 다이를 반전시키기 위한 플리퍼;
상기 반전된 다이를 비접촉 방식으로 지지하기 위한 비접촉 다이 스테이지; 및
상기 비접촉 다이 스테이지 상의 상기 다이를 기 설정된 위치에 정렬하기 위한 정렬 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.a non-contact picker for picking up the die in a non-contact manner so as not to contact the front side of the die;
a flipper for receiving the die picked up by the non-contact picker and for inverting the die with the front side of the die facing down;
a contactless die stage for supporting the inverted die in a contactless manner; and
and an alignment unit for aligning the die on the non-contact die stage to a preset position. 제1항에 있어서, 상기 비접촉 피커는,
초음파 진동을 이용하여 상기 다이를 밀어내는 척력을 제공하는 초음파 진동 유닛과,
상기 다이가 비접촉 상태로 유지되도록 진공압을 이용하여 상기 다이에 흡인력을 제공하는 진공 척을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.According to claim 1, wherein the non-contact picker,
an ultrasonic vibration unit for providing a repulsive force for pushing the die by using ultrasonic vibration;
and a vacuum chuck for providing a suction force to the die using a vacuum pressure so that the die is maintained in a non-contact state. 제2항에 있어서, 상기 초음파 진동 유닛은,
상기 초음파 진동을 발생시키기 위한 초음파 발진기와,
상기 초음파 진동을 전달하기 위한 혼과,
상기 혼의 단부에 연결되며 상기 초음파 진동에 의해 진동하는 진동판을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.According to claim 2, wherein the ultrasonic vibration unit,
an ultrasonic oscillator for generating the ultrasonic vibration;
a horn for transmitting the ultrasonic vibration;
and a diaphragm connected to an end of the horn and vibrating by the ultrasonic vibration. 제3항에 있어서, 상기 진공 척은,
상기 진동판을 감싸도록 구성되고 상기 다이의 전면과 마주하는 하부면을 갖는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.According to claim 3, wherein the vacuum chuck,
A die transfer module configured to surround the diaphragm and having a lower surface facing the front surface of the die. 제3항에 있어서, 상기 진동판은 사각 플레이트 형태를 갖고,
상기 진공 척은 상기 진동판을 감싸는 사각 링 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.The method of claim 3, wherein the diaphragm has a square plate shape,
The vacuum chuck is a die transfer module, characterized in that it has a rectangular ring shape surrounding the diaphragm. 제2항에 있어서, 상기 진공 척은,
상기 다이의 전면과 마주하는 하부면과,
상기 진공압을 제공하기 위한 진공홀들과,
상기 다이의 전면과 상기 하부면 사이에 에어를 공급하기 위한 에어홀들을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.According to claim 2, wherein the vacuum chuck,
a lower surface facing the front of the die;
vacuum holes for providing the vacuum pressure;
and air holes for supplying air between the front surface and the lower surface of the die. 제1항에 있어서, 상기 비접촉 다이 스테이지는,
초음파 진동을 이용하여 상기 다이를 부상시키기 위한 척력을 제공하는 초음파 진동 유닛과,
상기 다이가 부상된 상태로 유지되도록 진공압을 이용하여 상기 다이에 흡인력을 제공하는 진공 스테이지를 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.The method of claim 1 , wherein the non-contact die stage comprises:
an ultrasonic vibration unit for providing a repulsive force for levitating the die using ultrasonic vibration;
and a vacuum stage for providing a suction force to the die using a vacuum pressure so that the die is maintained in a floating state. 제7항에 있어서, 상기 초음파 진동 유닛은,
상기 초음파 진동을 발생시키기 위한 초음파 발진기와,
상기 초음파 진동을 전달하기 위한 혼과,
상기 혼의 단부에 연결되며 상기 초음파 진동에 의해 진동하는 진동판을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.The method of claim 7, wherein the ultrasonic vibration unit,
an ultrasonic oscillator for generating the ultrasonic vibration;
a horn for transmitting the ultrasonic vibration;
and a diaphragm connected to an end of the horn and vibrating by the ultrasonic vibration. 제8항에 있어서, 상기 진공 스테이지는,
상기 진동판이 배치되는 개구와,
상기 다이의 전면과 마주하는 상부면을 갖는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.According to claim 8, wherein the vacuum stage,
an opening in which the diaphragm is disposed;
A die transfer module, characterized in that it has an upper surface facing the front surface of the die. 제9항에 있어서, 상기 진공 스테이지는,
상기 개구를 감싸도록 링 형태로 배치되는 진공홀들을 갖는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.10. The method of claim 9, wherein the vacuum stage,
The die transfer module, characterized in that it has vacuum holes arranged in a ring shape so as to surround the opening. 제10항에 있어서, 상기 진공 스테이지는,
상기 진공홀들 사이에 배치되며 상기 다이의 전면과 상기 상부면 사이에 에어를 공급하기 위한 에어홀들을 갖는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.11. The method of claim 10, wherein the vacuum stage,
Die transfer module, which is disposed between the vacuum holes and has air holes for supplying air between the front surface and the upper surface of the die. 제1항에 있어서, 상기 플리퍼를 상기 비접촉 다이 스테이지를 향하여 이동시키는 플리퍼 구동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.The die transfer module according to claim 1, further comprising a flipper driving unit for moving the flipper toward the non-contact die stage. 제1항에 있어서, 상기 정렬 유닛은,
상기 비접촉 다이 스테이지 상의 상기 다이의 측면들과 마주하도록 배치되는 정렬 부재들과,
상기 다이의 크기에 따라 상기 정렬 부재들의 위치를 조절하기 위한 위치 조절부들을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이송 모듈.According to claim 1, wherein the alignment unit,
alignment members disposed to face sides of the die on the non-contact die stage;
and position adjusting units for adjusting positions of the alignment members according to the size of the die. 다이를 픽업하여 이송하기 위한 다이 이송 모듈; 및
상기 다이 이송 모듈에 의해 이송된 상기 다이를 기판 상에 본딩하기 위한 다이 본딩 모듈을 포함하되,
상기 다이 이송 모듈은,
상기 다이의 전면과 접촉되지 않도록 상기 다이를 비접촉 방식으로 픽업하기 위한 비접촉 피커와, 상기 비접촉 피커에 의해 픽업된 다이를 전달받고 상기 다이의 전면이 아래를 향하도록 상기 다이를 반전시키기 위한 플리퍼와, 상기 반전된 다이를 비접촉 방식으로 지지하기 위한 비접촉 다이 스테이지와, 상기 비접촉 다이 스테이지 상의 상기 다이를 기 설정된 위치에 정렬하기 위한 정렬 유닛를 포함하고,
상기 다이 본딩 모듈은 상기 비접촉 다이 스테이지 상에서 위치 정렬된 상기 다이를 픽업하여 상기 기판 상에 본딩하는 것을 특징으로 하는 다이 본딩 장치.a die transfer module for picking up and transferring the die; and
a die bonding module for bonding the die transferred by the die transfer module onto a substrate;
The die transfer module,
a non-contact picker for picking up the die in a non-contact manner so as not to contact the front side of the die; a flipper for receiving the die picked up by the non-contact picker and inverting the die so that the front side of the die faces down; a non-contact die stage for supporting the inverted die in a non-contact manner; and an alignment unit for aligning the die on the non-contact die stage to a predetermined position;
and the die bonding module picks up the aligned die on the non-contact die stage and bonds the die onto the substrate.
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