KR20210112245A - Proximity detection sensor arrangements, devices, and method - Google Patents

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KR20210112245A
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시앙지 우
시엔-치에 리우
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아날로그 디바이시즈 인터내셔널 언리미티드 컴퍼니
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Abstract

Disclosed are a proximity detection sensor arrangement and a method and device thereof. According to some embodiments, the sensor arrangement of an electronic device comprises: a first circuit layer including a proximity pad and a first reference pad; and a second circuit layer including a second reference pad and a temperature pad. The first circuit layer may be between the second circuit layer and a user-facing surface of the electronic device, and the first reference pad may be electronically coupled to the second reference pad, and the first reference pad may be between the temperature pad and the user-facing surface.

Description

근접도 검출 센서 배열, 장치 및 방법 {PROXIMITY DETECTION SENSOR ARRANGEMENTS, DEVICES, AND METHOD}Proximity detection sensor arrangement, device and method {PROXIMITY DETECTION SENSOR ARRANGEMENTS, DEVICES, AND METHOD}

우선권 출원에 대한 상호 참조Cross-Reference to Priority Application

본 출원은 그 전문이 본 명세서에 참조로 포함된 2020년 3월 3일자로 출원된 발명의 명칭이 "근접도 검출 센서 배열, 장치 및 방법"인 PCT/CN2020/077623의 이익과 우선권을 주장한다.This application claims the benefit and priority of PCT/CN2020/077623 entitled "Proximity Detection Sensor Array, Apparatus and Method", filed March 3, 2020, which is incorporated herein by reference in its entirety. .

스마트폰과 같은 일부 개인용 전자 장치는 사용자의 근접도를 검출(그리고, 예를 들어 "수면" 상태에서 "준비" 상태로 전환하는 것으로 반응)하도록 구성된 센서를 포함할 수 있다. 이러한 센서 중 일부는 용량성 센서로, 용량성 결합을 사용하여 센서 주변 물질의 유전 상수 변화를 검출한다.Some personal electronic devices, such as smartphones, may include sensors configured to detect a user's proximity (and respond, for example, by transitioning from a "sleep" state to a "ready" state). Some of these sensors are capacitive sensors, which use capacitive coupling to detect changes in the dielectric constant of the material around the sensor.

실시예는 첨부 도면과 함께 다음의 상세한 설명에 의해 쉽게 이해될 것이다. 이 설명을 용이하게 하기 위해, 같은 참조 번호는 같은 구조적 요소를 나타낸다. 실시예는 첨부 도면의 도면에서 제한이 아닌 예로서 예시된다.
도 1은 다양한 실시예에 따른 센서 배열을 포함하는 전자 장치의 일부의 측단면도이다.
도 2는 다양한 실시예에 따라 도 1의 센서 배열을 사용하는 예시적인 근접도 검출 시스템의 블록도이다.
도 3a 및 도 3b는 다양한 실시예에 따른 기준선 업데이트 및 근접도 검출 방법의 흐름도이다.
도 4a 및 도 4b는 다양한 실시예에 따른 도 1의 센서 배열의 예에서 층의 평면도이다.
도 5a 및 도 5b는 다양한 실시예에 따른 도 1의 센서 배열의 다른 예에서 층의 평면도이다.
도 6은 본 명세서에 개시된 임의의 실시예에 따른 센서 배열을 포함하고/하거나 근접도 검출 방법을 수행할 수 있는 예시적인 전자 장치의 블록도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Embodiments will be readily understood by the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings. To facilitate this description, like reference numbers refer to like structural elements. Embodiments are illustrated by way of example and not limitation in the drawings of the accompanying drawings.
1 is a side cross-sectional view of a portion of an electronic device including a sensor arrangement according to various embodiments of the present disclosure;
2 is a block diagram of an exemplary proximity detection system using the sensor arrangement of FIG. 1 in accordance with various embodiments.
3A and 3B are flowcharts of a baseline update and proximity detection method according to various embodiments of the present disclosure;
4A and 4B are top views of layers in an example of the sensor arrangement of FIG. 1 in accordance with various embodiments.
5A and 5B are top views of layers in another example of the sensor arrangement of FIG. 1 in accordance with various embodiments.
6 is a block diagram of an exemplary electronic device that may include a sensor arrangement and/or may perform a proximity detection method according to any embodiment disclosed herein.

본 명세서에는 근접도 검출 센서 배열뿐만 아니라 관련 방법 및 장치가 개시된다. 일부 실시예에서, 전자 장치의 센서 배열은 근접 패드 및 제1 기준 패드를 포함하는 제1 회로 층, 및 제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하는 제2 회로 층을 포함할 수 있다. 제1 회로 층은 제2 회로 층과 전자 장치의 사용자-대면 표면 사이에 있을 수 있고, 제1 기준 패드는 제2 기준 패드에 전기적으로 결합될 수 있고, 제1 기준 패드는 온도 패드와 사용자-대면 표면 사이에 있을 수 있다.Disclosed herein are proximity detection sensor arrangements as well as related methods and apparatus. In some embodiments, a sensor arrangement of an electronic device may include a first circuit layer including a proximity pad and a first reference pad, and a second circuit layer including a second reference pad and a thermal pad. The first circuit layer may be between the second circuit layer and the user-facing surface of the electronic device, the first reference pad may be electrically coupled to the second reference pad, and the first reference pad may be electrically coupled to the thermal pad and the user-facing surface of the electronic device. It may be between facing surfaces.

다음의 상세한 설명에서, 상세한 설명의 일부를 형성하는 첨부 도면을 참조하며, 도면에서 같은 참조번호는 전체에 걸쳐 같은 부분을 나타내며, 실시될 수 있는 실시예가 예시로서 도시되어 있다. 다른 실시예가 이용될 수 있고, 본 개시내용의 범위를 벗어나지 않고 구조적 또는 논리적 변경이 이루어질 수 있음을 이해하여야 한다. 따라서, 다음의 상세한 설명은 제한적인 의미로 받아 들여서는 안된다.DETAILED DESCRIPTION In the following detailed description, reference is made to the accompanying drawings, which form a part hereof, in which like reference numerals refer to like parts throughout, and embodiments in which they may be practiced are shown by way of illustration. It is to be understood that other embodiments may be utilized and structural or logical changes may be made without departing from the scope of the present disclosure. Accordingly, the following detailed description should not be taken in a limiting sense.

청구된 주제를 이해하는 데 가장 도움이 되는 방식으로, 다양한 동작이 다수의 개별 행위 또는 동작으로 차례로 설명될 수 있다. 그러나, 설명의 순서는 이러한 동작이 반드시 순서에 의존한다는 것을 의미하는 것으로 해석되어서는 안된다. 특히, 이러한 동작은 표시 순서대로 수행되지 않을 수 있다. 설명된 동작은 설명된 실시예와 다른 순서로 수행될 수 있다. 다양한 추가 동작이 수행될 수 있고/있거나 설명된 동작은 추가적인 실시예에서 생략될 수 있다.In a manner that is most helpful in understanding the claimed subject matter, various acts may be described as multiple separate acts or acts in turn. However, the order of description should not be construed to imply that such operations are necessarily order dependent. In particular, these operations may not be performed in a display order. The described operations may be performed in a different order than the described embodiments. Various additional operations may be performed and/or described operations may be omitted in additional embodiments.

본 개시내용의 목적 상, "A 및/또는 B"라는 문구는 (A), (B) 또는 (A 및 B)를 의미한다. 본 개시내용의 목적 상, "A, B 및/또는 C"라는 문구는 (A), (B), (C), (A 및 B), (A 및 C), (B 및 C) 또는 (A, B 및 C)를 의미한다. "A 또는 B"라는 문구는 (A), (B) 또는 (A 및 B)를 의미한다. 도면이 반드시 축척에 따르는 것은 아니다. 많은 도면이 평탄한 벽과 직각 모서리를 갖는 직선 구조를 나타내지만 이는 단순히 예시의 용이성을 위한 것이며 이러한 기술을 사용하여 형성된 실제 장치는 둥근 모서리, 표면 거칠기 및 다른 특징을 나타낸다.For the purposes of this disclosure, the phrase “A and/or B” means (A), (B) or (A and B). For the purposes of this disclosure, the phrase “A, B and/or C” means (A), (B), (C), (A and B), (A and C), (B and C) or ( A, B and C). The phrase “A or B” means (A), (B) or (A and B). The drawings are not necessarily to scale. Although many of the drawings show a straight structure with flat walls and right-angled corners, this is merely for ease of illustration and actual devices formed using these techniques exhibit rounded corners, surface roughness, and other features.

설명은 "실시예에서" 또는 "실시예들에서"라는 문구를 사용하며, 이들 각각은 동일하거나 상이한 실시예 중 하나 이상을 지칭할 수 있다. 또한, 본 개시내용의 실시예와 관련하여 사용되는 용어 "포함하는", "함유하는", "갖는" 등은 동의어이다. 차원의 범위를 설명하는 데 사용되는 경우 "X와 Y 사이"라는 문구는 X와 Y를 포함하는 범위를 나타낸다. 편의상, "도 4"라는 문구는 도 4a 및 도 4b의 도면 모음을 지칭하기 위해 사용될 수 있고, "도 5"라는 문구는 도 5a 및 도 5b의 도면 모음을 지칭하기 위해 사용될 수 있다.The description uses the phrases “in an embodiment” or “in embodiments,” each of which may refer to one or more of the same or different embodiments. Also, the terms “comprising,” “containing,” “having,” and the like, used in connection with embodiments of the present disclosure are synonymous. When used to describe a range of dimensions, the phrase "between X and Y" refers to a range that includes X and Y. For convenience, the phrase “ FIG. 4 ” may be used to refer to the drawing collection of FIGS. 4A and 4B , and the phrase “ FIG. 5” may be used to refer to the drawing collection of FIGS. 5A and 5B .

도 1은 다양한 실시예에 따른 센서 배열(100)을 포함하는 전자 장치(115)의 일부의 측단면도이다. 전자 장치(115)는 웨어러블 장치 또는 핸드헬드 장치와 같은 임의의 적절한 장치일 수 있다. 일부 실시예에서, 전자 장치(115)는 예를 들어, 헤드폰 또는 한 쌍의 헤드폰(예를 들어, 헤드폰 사이에 스트랩이 있거나 없음), 한 쌍의 안경 또는 손목 밴드를 포함할 수 있다.1 is a cross-sectional side view of a portion of an electronic device 115 including a sensor arrangement 100 according to various embodiments. Electronic device 115 may be any suitable device, such as a wearable device or a handheld device. In some embodiments, the electronic device 115 may include, for example, a headphone or a pair of headphones (eg, with or without a strap between the headphones), a pair of glasses or a wristband.

센서 배열(100)은 종래의 전자 장치에 비해 전자 장치(115)에서 근접도 검출 성능을 개선하기 위해 근접도 및 온도 감지 능력을 포함할 수 있다. 특히, 센서 배열(100)은 근접도 센서(103) 및 온도 센서(107)를 포함할 수 있다. 근접도 센서(103)는 근접 패드(102) 및 기준 패드(106)를 포함할 수 있으며, 근접 패드(102)는 기준 패드(106)와 전자 장치(115)의 사용자-대면 표면(105) 사이에 있다. 근접도 센서(103)는 용량성 근접도 센서일 수 있으며, 근접 패드(102) 및 기준 패드(106)는 용량성 판으로서 기능하고; 근접도 센서(103)의 순간 정전용량은 근접 패드(102)에 근접한 물질(예를 들어, 공기 및/또는 사용자의 신체)의 유전체 조성을 반영할 수 있으며, 따라서 근접도 센서(103)의 순간 정전용량의 변화는 사용자가 전자 장치(115)에 근접했는지 여부를 검출하는 데 사용될 수 있다. 특히, 도 4 및 도 5를 참조하여 아래에서 설명되는 바와 같이, 근접도 센서(103)의 순간 정전용량은 근접도 기준선과 비교될 수 있고, 임계값을 초과하는 근접도 기준선으로부터의 근접도 센서(103)의 순간 정전용량의 편차는 사용자가 전자 장치(115)에 근접한지 또는 더 이상 근접하지 않는지의 결정을 초래할 수 있다.The sensor arrangement 100 may include proximity and temperature sensing capabilities to improve proximity detection performance in the electronic device 115 compared to a conventional electronic device. In particular, the sensor arrangement 100 may include a proximity sensor 103 and a temperature sensor 107 . The proximity sensor 103 may include a proximity pad 102 and a fiducial pad 106 , the proximity pad 102 being between the fiducial pad 106 and the user-facing surface 105 of the electronic device 115 . is in Proximity sensor 103 may be a capacitive proximity sensor, wherein proximity pad 102 and reference pad 106 function as capacitive plates; The instantaneous capacitance of the proximity sensor 103 may reflect the dielectric composition of the material (eg, air and/or the user's body) proximate to the proximity pad 102 , and thus the instantaneous capacitance of the proximity sensor 103 . The change in capacity may be used to detect whether the user is in proximity to the electronic device 115 . In particular, as described below with reference to FIGS. 4 and 5 , the instantaneous capacitance of the proximity sensor 103 may be compared to a proximity baseline, and the proximity sensor from a proximity baseline exceeding a threshold value. Variations in the instantaneous capacitance of 103 may result in a determination of whether the user is close to or no longer in proximity to the electronic device 115 .

앞서 설명한 바와 같이, 센서 배열(100)은 또한 온도 센서(107)를 포함할 수 있다. 온도 센서(107)는 온도 패드(108) 및 기준 패드(104)를 포함할 수 있다. 근접도 센서(103)와 같이, 온도 센서(107)는 또한 커패시터(용량성 판 역할을 하는 온도 패드(108) 및 기준 패드(104)를 구비)일 수 있지만, 사용자-대면 표면(105)에 관하여 온도 센서(107)의 배향은 근접도 센서(103)의 배향과 다르고; 즉, 온도 센서(107)에서, 기준 패드(104)는 온도 패드(108)와 사용자-대면 표면(105) 사이에 있을 수 있다. 따라서, 기준 패드(104)는 사용자-대면 표면(105)에 근접한 유전체 조성의 변화로부터 온도 패드(108)를 "차폐"하도록 작용할 수 있다. 일부 실시예에서, 기준 패드(104) 및 기준 패드(106)는 함께 전기적으로 결합(예를 들어, 단락)될 수 있고, 이러한 일부 실시예에서, 기준 패드(104) 및 기준 패드(106)는 전자 장치(115)의 접지에 결합될 수 있다.As previously described, the sensor arrangement 100 may also include a temperature sensor 107 . The temperature sensor 107 may include a temperature pad 108 and a reference pad 104 . Like proximity sensor 103 , temperature sensor 107 may also be a capacitor (with temperature pad 108 and reference pad 104 serving as a capacitive plate), but on a user-facing surface 105 . with respect to the orientation of the temperature sensor 107 is different from the orientation of the proximity sensor 103; That is, in the temperature sensor 107 , the reference pad 104 may be between the temperature pad 108 and the user-facing surface 105 . Accordingly, the reference pad 104 may act to “shield” the thermal pad 108 from changes in dielectric composition proximate the user-facing surface 105 . In some embodiments, the fiducial pad 104 and the fiducial pad 106 may be electrically coupled (eg, shorted) together, and in some such embodiments, the fiducial pad 104 and the fiducial pad 106 are It may be coupled to the ground of the electronic device 115 .

일부 실시예에서, 센서 배열(100)의 요소는 인쇄 회로(예를 들어, 가요성 인쇄 회로)의 상이한 층 사이에 분포될 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 근접 패드(102) 및 기준 패드(104)는 단일의 공통 인쇄 회로 층(110)에 포함될 수 있는 반면, 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 상이한 공통 인쇄 회로 층(112)에 포함될 수 있다. 인쇄 회로 층(110)은 인쇄 회로 층(112)과 사용자-대면 표면(105) 사이에 있을 수 있고, 일부 실시예에서, 인쇄 회로 층(110)은 인쇄 회로 층(112)에 인접할 수 있다(센서 배열(100)이 단지 2개의 인쇄 회로의 층만을 요구할 수 있게 함). 인쇄 회로 층 사이의 센서 배열(100)의 요소의 다른 분포가 사용될 수 있고; 일부 실시예에서, 센서 배열(100)의 요소는 3개 이하의 인쇄 회로 층에 걸쳐 분포될 수 있다. 인쇄 회로 층에서, 근접 패드(102), 기준 패드(104), 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 하나 이상의 유전체 재료에 의해 서로 이격된 각각 서로 이격된 전도성 재료(예를 들어, 구리 또는 다른 금속)의 영역에 의해 구현될 수 있다. 근접 패드(102), 기준 패드(104), 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 임의의 원하는 형상을 가질 수 있으며, 이들의 다수의 예는 도 4 및 도 5를 참조하여 아래에서 설명된다.In some embodiments, elements of sensor arrangement 100 may be distributed between different layers of printed circuitry (eg, flexible printed circuitry). For example, as shown in FIG. 1 , proximity pad 102 and reference pad 104 may be included in a single common printed circuit layer 110 , while reference pad 106 and thermal pad 108 . ) may be included in different common printed circuit layers 112 . The printed circuit layer 110 may be between the printed circuit layer 112 and the user-facing surface 105 , and in some embodiments, the printed circuit layer 110 may be adjacent the printed circuit layer 112 . (allowing the sensor arrangement 100 to require only two layers of printed circuitry). Other distributions of the elements of the sensor arrangement 100 between the printed circuit layers may be used; In some embodiments, the elements of sensor arrangement 100 may be distributed over no more than three printed circuit layers. In the printed circuit layer, proximity pad 102 , reference pad 104 , reference pad 106 , and thermal pad 108 are each spaced apart conductive material (eg, copper) spaced from each other by one or more dielectric materials. or other metals). Proximity pad 102 , fiducial pad 104 , fiducial pad 106 and thermal pad 108 may have any desired shape, many examples of which are described below with reference to FIGS. 4 and 5 . do.

센서 배열(100)은 사용자가 전자 장치(115)에 근접한지 여부를 결정하기 위해 근접도 센서(103) 및 온도 센서(107)의 정전용량을 측정하고 이용하도록 구성된 회로에 통신적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 도 2는 다양한 실시예에 따른, 도 1의 센서 배열(100) 및 제어기(120)를 포함하는 예시적인 근접도 검출 시스템(150)의 블록도이다. 일부 실시예에서, 근접도 검출 시스템(150)은 전자 장치(115)에 포함될 수 있는 반면, 다른 실시예에서, 제어기(120)는 전자 장치(115)와 분리될 수 있다(예를 들어, 전자 장치(115)와 무선 통신 상태).The sensor arrangement 100 may be communicatively coupled to circuitry configured to measure and use the capacitance of the proximity sensor 103 and the temperature sensor 107 to determine whether a user is in proximity to the electronic device 115 . have. For example, FIG. 2 is a block diagram of an exemplary proximity detection system 150 including the sensor arrangement 100 and controller 120 of FIG. 1 , in accordance with various embodiments. In some embodiments, proximity detection system 150 may be included in electronic device 115 , while in other embodiments controller 120 may be separate from electronic device 115 (eg, electronic device 115 and wireless communication state).

사용자가 센서 배열(100)에 근접한지 여부를 결정하기 위해, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량(예를 들어, 근접도 센서(103)의 정전용량을 나타내거나 이와 관련된 근접도 센서(103)로부터 출력된 신호)를 수신할 수 있고 그 정전용량을 기준선 값(예를 들어, 제어기(120)의 메모리에 저장됨)과 비교할 수 있다. 근접도 센서(103)의 정전용량이 임계값보다 큰 양만큼 근접도 기준선 값으로부터 벗어나면, 사용자가 센서 배열(100)에 근접하거나 근접하지 않다는 결정이 이루어질 수 있다. 예를 들어, 근접도 센서(103)의 정전용량이 "높음" 임계값보다 큰 양만큼 근접도 기준선 값보다 큰 경우, 제어기(120)는 사용자가 센서 배열(100)에 근접해 있음을 결정할 수 있다(예를 들어, 표시기를 생성함). 근접도 센서(103)의 정전용량이 "낮음" 임계값보다 큰 양만큼 근접도 기준선 값보다 작은 경우, 제어기(120)는 사용자가 센서 배열(100)에 근접해 있지 않음을 결정할 수 있다(예를 들어, 표시기를 생성함). 이 특정 예는 단순히 예시적이며, 제어기(120)는 임의의 원하는 임계값 분석(예를 들어, 히스테리시스 임계값 등을 포함) 또는 다른 분석을 구현할 수 있다.To determine whether a user is proximate to sensor arrangement 100 , controller 120 may indicate a capacitance of proximity sensor 103 (eg, a capacitance of proximity sensor 103 , or a proximity associated therewith). It can also receive the signal output from the sensor 103 ) and compare its capacitance to a baseline value (eg, stored in the memory of the controller 120 ). If the capacitance of the proximity sensor 103 deviates from the proximity baseline value by an amount greater than the threshold, a determination may be made that the user is proximate or not proximate to the sensor arrangement 100 . For example, if the capacitance of the proximity sensor 103 is greater than a proximity baseline value by an amount greater than a “high” threshold, the controller 120 may determine that the user is in proximity to the sensor array 100 . (for example, to create an indicator). If the capacitance of the proximity sensor 103 is less than the proximity baseline value by an amount greater than the “low” threshold, the controller 120 may determine that the user is not in proximity to the sensor array 100 (eg, For example, to create an indicator). This particular example is merely illustrative, and controller 120 may implement any desired threshold analysis (eg, including hysteresis thresholds, etc.) or other analysis.

전자 장치(115)를 사용하는 동안, 센서 배열(100)의 온도 변화는 근접도 센서(103)의 순간 정전용량에 영향을 미칠 수 있다. 예를 들어, 사용자가 전자 장치(115)의 사용자-대면 표면(105)에 근접할 때, 사용자로부터의 체열은 센서 배열(100)의 온도를 증가시킬 수 있고 근접도 센서(103)의 정전용량의 증가를 초래할 수 있다. 그 다음, 사용자가 사용자-대면 표면(105)으로부터 멀어지게 이동할 때(예를 들어, 전자 장치(115)가 헤드폰을 포함하고 사용자가 헤드폰을 제거할 때), 국소 유전체 조성의 이러한 변화는 근접도 센서(103)의 정전용량의 감소를 초래할 수 있지만, 이러한 감소는 센서 배열(100)의 온도 증가에 의해 초래되는 정전용량 증가보다 작을 수 있다. 센서 배열(100)의 후속 냉각 및 근접도 센서(103)의 정전용량의 결과적인 감소는 비교적 느리게 발생할 수 있다. 따라서, 온도의 영향을 해결하지 않으면, 제어기(120)는 센서 배열(100)이 충분히 냉각될 때까지 더 이상 전자 장치(115)에 근접하지 않는 사용자(예를 들어, 헤드폰을 제거함)를 "오인(miss)"할 수 있다.While using the electronic device 115 , a change in temperature of the sensor array 100 may affect the instantaneous capacitance of the proximity sensor 103 . For example, when the user is proximate to the user-facing surface 105 of the electronic device 115 , body heat from the user may increase the temperature of the sensor array 100 and the capacitance of the proximity sensor 103 . may lead to an increase in Then, as the user moves away from the user-facing surface 105 (eg, when the electronic device 115 includes a headphone and the user removes the headphone), this change in local dielectric composition changes with proximity. Although this may result in a decrease in the capacitance of the sensor 103 , this decrease may be less than the increase in capacitance caused by an increase in the temperature of the sensor arrangement 100 . Subsequent cooling of the sensor arrangement 100 and the resulting decrease in the capacitance of the proximity sensor 103 may occur relatively slowly. Thus, unless the effect of temperature is addressed, the controller 120 "mistakes" a user (eg, removes headphones) who is no longer in proximity to the electronic device 115 until the sensor array 100 is sufficiently cooled. You can "miss".

센서 배열(100)에서, 온도 센서(107)의 배향(온도 패드(108)와 사용자-대면 표면(105) 사이의 기준 패드(104) 포함)은 온도 센서(107)의 정전용량이 근접도 센서(103)와 비교하여 사용자-대면 표면(105)에서의 유전체 조성에 상대적으로 덜 민감할 수 있고, 따라서 온도 센서(107)의 정전용량은 사용자의 근접도에 대해 상대적으로 불가지적일 수 있음을 의미할 수 있다. 그러나, 온도 센서(107)는 근접도 센서(103)와 동일한 온도 환경에 있을 수 있고, 따라서 센서 배열(100)의 온도의 함수로서 정전용량의 유사한 변화를 경험할 수 있다. 결과적으로, 제어기(120)는 온도 센서(107)의 정전용량(예를 들어, 온도 센서(107)의 정전용량을 나타내거나 이와 관련되는 온도 센서(107)로부터 출력된 신호)을 센서 배열(100)의 온도의 표시기로서 이용하여 근접도 센서(103)의 정전용량에 대한 온도 관련 효과를 보상할 수 있다.In the sensor arrangement 100 , the orientation of the temperature sensor 107 (including the reference pad 104 between the temperature pad 108 and the user-facing surface 105 ) is such that the capacitance of the temperature sensor 107 is the proximity sensor. (103) may be relatively less sensitive to the dielectric composition at the user-facing surface 105, and thus the capacitance of the temperature sensor 107 may be relatively insensitive to the proximity of the user. can mean However, the temperature sensor 107 may be in the same temperature environment as the proximity sensor 103 , and thus may experience a similar change in capacitance as a function of the temperature of the sensor arrangement 100 . As a result, the controller 120 converts the capacitance of the temperature sensor 107 (eg, a signal output from the temperature sensor 107 indicative of or related to the capacitance of the temperature sensor 107 ) to the sensor arrangement 100 . ) can be used as an indicator of the temperature to compensate for the temperature-related effect on the capacitance of the proximity sensor 103 .

제어기(120)는 사용자의 근접도를 정확하게 검출하도록 제어기(120)의 능력을 개선하기 위해 다수의 방식 중 임의의 방식으로 온도 센서(107)로부터의 데이터를 이용할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, 온도 센서(107)의 출력의 변화는 근접도 검출 임계값 분석에 사용되는 근접도 기준선의 조절을 트리거하는 데 사용될 수 있다. 도 3a 및 도 3b는 근접도 검출을 위해 제어기(120)에 의해 구현될 수 있는 방법(200 및 250)의 흐름도이다. 방법(200 및 250)의 동작이 본 명세서에 개시된 센서 배열(100)의 특정 실시예를 참조하여 예시될 수 있지만, 방법(200 및 250)은 임의의 적절한 센서 배열과 함께 사용될 수 있다. 동작은 도 3a 및 도 3b에서 각각 한 번씩 그리고 특정 순서로 예시되지만, 동작은 필요에 따라 재정렬 및/또는 반복될 수 있다. 일부 실시예에서, 제어기(120)는 방법(200 및 250)을 병렬로 수행할 수 있다.Controller 120 may use data from temperature sensor 107 in any of a number of ways to improve the ability of controller 120 to accurately detect a user's proximity. For example, in some embodiments, a change in the output of the temperature sensor 107 may be used to trigger an adjustment of the proximity baseline used in the proximity detection threshold analysis. 3A and 3B are flow diagrams of methods 200 and 250 that may be implemented by the controller 120 for proximity detection. Although operation of methods 200 and 250 may be illustrated with reference to specific embodiments of sensor arrangement 100 disclosed herein, methods 200 and 250 may be used with any suitable sensor arrangement. Although the operations are illustrated in FIGS. 3A and 3B , respectively, once and in a specific order, the operations may be rearranged and/or repeated as needed. In some embodiments, controller 120 may perform methods 200 and 250 in parallel.

도 3a의 방법(200)으로 시작하여, 202에서, 현재 온도 값은 기준선 온도 값으로 저장될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 온도 센서(107)의 정전용량 판독값을 기준선 온도 값으로 저장할 수 있다.Starting with method 200 of FIG. 3A , at 202 , a current temperature value may be stored as a baseline temperature value. For example, the controller 120 may store the capacitance reading of the temperature sensor 107 as a baseline temperature value.

204에서, 현재 온도 값(202 이후 변화되었을 수 있음)이 온도 임계값보다 큰 양만큼 기준선 온도 값으로부터 벗어나는지 여부가 결정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 온도 센서(107)의 정전용량의 업데이트된 판독값을 수신할 수 있고, 이를 기준선 온도 값과 비교하여 차이가 연관된 임계치를 초과하는 지 여부를 결정할 수 있다. 204에서 사용되는 온도 임계값은 예를 들어 절대량(예를 들어, 특정한 고정된 온도 도수에 대응) 또는 백분율 양일 수 있다. 또한, 단수형 문구 "온도 임계값"의 사용은 단순히 경제적 예시를 위한 것이며, 204에서 수행된 비교는 여러 임계값(예를 들어, 기준선 온도 값을 초과하는 온도 증가에 대한 "높음" 임계값 및 기준선 온도 값 아래로의 온도 감소에 대한 상이한 "낮음" 임계값)을 포함할 수 있다. 204에서 현재 온도가 온도 임계값보다 큰 양만큼 기준선 온도 값에서 벗어나지 않는다고 결정되면, 방법은 204로 돌아가서 새로운 현재 온도 값과의 비교를 반복할 수 있다. 일부 실시예에서, 현재 온도 값의 이러한 검사는 구성 가능한 기간(예를 들어, 더 낮은 전력 소비를 원할 때 덜 빈번한 검사)으로 주기적으로 발생할 수 있다.At 204 , it may be determined whether the current temperature value (which may have changed since 202 ) deviates from the baseline temperature value by an amount greater than a temperature threshold. For example, the controller 120 may receive an updated reading of the capacitance of the temperature sensor 107 and compare it to a baseline temperature value to determine whether the difference exceeds an associated threshold. The temperature threshold used at 204 may be, for example, an absolute quantity (eg, corresponding to a particular fixed temperature frequency) or a percentage quantity. Also, the use of the singular phrase “temperature threshold” is merely for economic illustration, and the comparison performed at 204 can be compared to multiple thresholds (eg, a “high” threshold and baseline for temperature increases above a baseline temperature value). different “low” thresholds for temperature decrease below the temperature value). If it is determined at 204 that the current temperature does not deviate from the baseline temperature value by an amount greater than the temperature threshold, the method may return to 204 and repeat the comparison with the new current temperature value. In some embodiments, this check of the current temperature value may occur periodically at a configurable period (eg, less frequent check when lower power consumption is desired).

204에서 현재 온도가 온도 임계값보다 큰 양만큼 기준선 온도 값에서 벗어나는 것으로 결정되면, 방법(200)은 206으로 진행할 수 있으며, 여기서 사용자 근접도 상태가 사용자가 이전에 근접한 상태로 결정되었는지(예를 들어, 상태 변수 user_prox_state의 값이 1과 동일함) 또는 사용자가 이전에 근접하지 않은 상태로 결정되었는지(예를 들어, 상태 변수 user_prox_state의 값이 0과 동일함) 중 어느 쪽을 나타내는지 여부가 결정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 사용자가 가장 최근의 평가에서 센서 배열(100)에 근접한 것으로 결정되었는지 아닌지 여부를 결정하기 위해 메모리에 상태 변수 또는 다른 저장된 표시자를 읽을 수 있다.If at 204 it is determined that the current temperature deviates from the baseline temperature value by an amount greater than the temperature threshold, then the method 200 may proceed to 206 , where the user proximity status has been determined as to whether the user was previously in proximity (e.g., For example, whether the value of the state variable user_prox_state is equal to 1) or whether the user was previously determined to be in a non-proximity state (e.g., the value of the state variable user_prox_state equals 0) is to be determined. can For example, the controller 120 may read a state variable or other stored indicator in memory to determine whether or not the user was determined to be proximate to the sensor array 100 in the most recent evaluation.

206에서 사용자가 근접한 것으로 이전에 결정되었다고 결정되면, 방법(200)은 208로 진행할 수 있으며, 여기서 근접도 기준선은 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 사용자가 근접한지 아닌지 여부를 결정하기 위해 사용된 근접도 센서 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 추가 분석을 위한 새로운 기준선을 생성하기 위해 해당 판독값으로부터 미리 결정된 근접도 센서 정전용량 임계값을 차감할 수 있다. 미리 결정된 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다. 그 다음, 방법(200)은 202로 진행하고 다시 시작할 수 있다.If it is determined at 206 that the user was previously determined to be proximate, then the method 200 may proceed to 208 , where the proximity baseline is the proximity used to determine whether or not the user is proximate at the current proximity sensor capacitance value. It may also be set equal to a value obtained by subtracting the sensor capacitance threshold. For example, the controller 120 may receive a reading of the capacitance of the proximity sensor 103 and a predetermined proximity sensor capacitance threshold from that reading to generate a new baseline for further analysis. can be deducted. The predetermined proximity sensor capacitance threshold may be stored in the memory of the controller 120 and may be determined empirically during calibration of the system 150 . The method 200 may then proceed to 202 and begin again.

206으로 돌아가서, 206에서 사용자가 근접하지 않은 것으로 이전에 결정된 것으로 결정되면, 방법(200)은 214로 진행하고, 여기서, 근접도 기준선이 현재 근접도 센서 정전용량 값과 동일하게 설정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 그 판독값을 추가 분석을 위한 새로운 기준선으로 저장할 수 있다. 그 다음, 방법(200)은 202로 진행하고 다시 시작할 수 있다.Returning to 206 , if it is determined at 206 that the user was previously determined not to be in proximity, the method 200 proceeds to 214 , where the proximity baseline may be set equal to the current proximity sensor capacitance value. For example, the controller 120 may receive a reading of the capacitance of the proximity sensor 103 and store the reading as a new baseline for further analysis. The method 200 may then proceed to 202 and begin again.

도 3b의 방법(250)으로 넘어가서, 216에서, 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 근접도 기준선(도 3a의 방법(200)을 통해 설정됨)을 뺀 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부가 결정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 도 3a의 방법(200)에 의해 생성된 근접도 기준선을 해당 판독값에서 차감할 수 있고; 그 다음, 제어기(120)는 결과 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부를 결정할 수 있다(랜덤 변동으로 인한 검출 상태의 급격한 변화를 피하기 위해 사용됨). 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다.Proceeding to method 250 of FIG. 3B , at 216 , the proximity sensor capacitance threshold at which the current proximity sensor capacitance value minus the proximity baseline (established via method 200 of FIG. 3A ) is higher. It may be determined whether it is greater than a value. For example, controller 120 may receive a reading of the capacitance of proximity sensor 103 , and may subtract a proximity baseline generated by method 200 of FIG. 3A from that reading and ; The controller 120 may then determine whether the resulting value is greater than a higher proximity sensor capacitance threshold (used to avoid abrupt changes in detection state due to random fluctuations). The higher proximity sensor capacitance threshold may be stored in the memory of the controller 120 and may be determined empirically during calibration of the system 150 .

216에서 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 근접도 기준선을 뺀 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰 것으로 결정되면, 방법(250)은 218로 진행할 수 있고 사용자 근접도 상태는 사용자가 근접한 것으로 결정되었음을 반영할 수 있다(예를 들어, 제어기(120)는 상태 변수 user_prox_state의 값을 1로 변화시킬 수 있다. 그 다음, 방법(250)은 218로 돌아가서 다시 시작할 수 있다.If it is determined at 216 that the current proximity sensor capacitance value minus the proximity baseline is greater than a higher proximity sensor capacitance threshold, then the method 250 may proceed to 218 and the user proximity state determines that the user is in proximity. (eg, the controller 120 may change the value of the state variable user_prox_state to 1. The method 250 may then return to 218 and start again.

216에서 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 근접도 기준선을 뺀 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 크지 않은 것으로 결정되면, 방법(250)은 220로 진행할 수 있고 사용자 근접도 상태는 사용자가 근접하지 않은 것으로 결정되었음을 반영할 수 있다(예를 들어, 제어기(120)는 상태 변수 user_prox_state의 값을 0으로 변화시킬 수 있다.If it is determined at 216 that the current proximity sensor capacitance value minus the proximity baseline is not greater than a higher proximity sensor capacitance threshold, then the method 250 may proceed to 220 and the user proximity status is determined by the user. It may reflect that it is determined not to be close (eg, the controller 120 may change the value of the state variable user_prox_state to 0).

그 다음, 방법(250)은 근접도 기준선(도 3a의 방법(200)을 통해 설정됨)에서 현재 근접도 센서 정전용량 값을 뺀 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값 이상인지 여부가 결정될 수 있는 210으로 진행할 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 근접도 기준선으로부터 해당 판독값을 차감할 수 있으며; 그 다음, 제어기(120)는 결과 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값 이상인지 여부를 결정할 수 있다(랜덤 변동으로 인한 검출 상태의 급격한 변화를 피하기 위해 사용됨). 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다.The method 250 then determines whether the proximity baseline (established via method 200 in FIG. 3A ) minus the current proximity sensor capacitance value is greater than or equal to a lower proximity sensor capacitance threshold. You can proceed to 210 where you can. For example, controller 120 may receive a reading of the capacitance of proximity sensor 103 , and may subtract that reading from a proximity baseline; The controller 120 may then determine whether the resulting value is above a lower proximity sensor capacitance threshold (used to avoid abrupt changes in detection state due to random fluctuations). The lower proximity sensor capacitance threshold may be stored in the memory of the controller 120 and may be determined empirically during calibration of the system 150 .

210에서 근접도 기준선에서 현재 근접도 센서 정전용량 값을 뺀 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 이상이 아니라고 결정되면, 방법(250)은 216으로 진행하고 다시 시작할 수 있다. 210에서 근접도 기준선에서 현재 근접도 센서 정전용량 값을 뺀 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 이상이라고 결정되면, 방법 250은 222로 진행할 수 있고 근접도 기준선은 현재 근접도 센서 정전용량 값과 동일하도록 업데이트될 수 있다. 그 후 방법(250)은 216으로 진행하고 다시 시작할 수 있다.If it is determined at 210 that the proximity baseline minus the current proximity sensor capacitance value is not greater than a lower proximity sensor capacitance threshold, the method 250 may proceed to 216 and resume. If it is determined at 210 that the proximity baseline minus the current proximity sensor capacitance value is greater than a lower proximity sensor capacitance threshold, then the method 250 may proceed to 222 , where the proximity baseline is the current proximity sensor capacitance It can be updated to be equal to the value. The method 250 may then proceed to 216 and begin again.

그 다음, 방법(200)은 (214에서 결정된) 근접도 기준선을 뺀 현재 근접도 센서 정전용량 값(214 이후 변화될 수 있음)이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부가 결정될 수 있는 216으로 진행할 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 214에서 생성된 근접도 기준선을 해당 판독값에서 차감할 수 있고; 그 다음, 제어기(120)는 결과 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부를 결정할 수 있다(랜덤 변동으로 인한 검출 상태의 급격한 변화를 피하기 위해 사용됨). 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다.The method 200 may then determine whether the current proximity sensor capacitance value (which may change after 214) minus the proximity baseline (determined at 214) is greater than a higher proximity sensor capacitance threshold. You can proceed to 216. For example, controller 120 may receive a reading of the capacitance of proximity sensor 103 , and may subtract a proximity baseline generated at 214 from that reading; The controller 120 may then determine whether the resulting value is greater than a higher proximity sensor capacitance threshold (used to avoid abrupt changes in detection state due to random fluctuations). The higher proximity sensor capacitance threshold may be stored in the memory of the controller 120 and may be determined empirically during calibration of the system 150 .

앞서 설명한 바와 같이, 센서 배열(100)의 근접 패드(102), 기준 패드(104), 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 임의의 원하는 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 4a 및 도 4b는 다양한 실시예에 따른, 도 1의 센서 배열(100)의 예에서의 각각 인쇄 회로 층(110 및 112)의 평면도이다. 도 4의 실시예에서, 센서 배열(100)은 타원형 링과 같은 형태의 풋프린트를 갖고; 이러한 실시예는 특히 헤드폰에서(예를 들어, 링 형상의 풋프린트가 귀와 일치하도록 크기 설정될 수 있는 경우) 또는 한 쌍의 안경에서(예를 들어, 링 형상의 풋프린트가 눈 주변 영역에 일치하도록 크기 설정될 수 있는 경우) 사용하기에 특히 적합할 수 있다. 근접 패드(102)는 인쇄 회로 층(110)에서 타원형 링 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있으며, 기준 패드(104)는 근접 패드(102)의 부분 사이의 쐐기로서 성형된다. 인쇄 회로 층(112)에서, 기준 패드(106)는 타원형 링 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있으며, 유전체 재료(114)는 기준 패드(106)의 부분 사이에 대체로 쐐기 형태로 형성되고 온도 패드(108)는 유전체 재료(114)의 쐐기 내에 배치된다. 온도 패드(108)는 전체적으로 기준 패드(104)의 그림자 내에 있을 수 있다. 도 4 및 도 5의 도면에서, 인쇄 회로 층을 공유하는 전도성 요소는 적절한 경우 (예를 들어, 근접 패드(102) 및 기준 패드(104)를 단락시키지 않도록) 적어도 작은 양의 개재 유전체 재료에 의해 서로 분리될 수 있다.As previously described, the proximity pad 102 , the reference pad 104 , the reference pad 106 , and the thermal pad 108 of the sensor arrangement 100 may have any desired shape. For example, FIGS. 4A and 4B are top views of printed circuit layers 110 and 112 , respectively, in the example sensor arrangement 100 of FIG. 1 , in accordance with various embodiments. 4 , the sensor arrangement 100 has a footprint shaped like an elliptical ring; This embodiment is particularly useful in headphones (eg, where the ring-shaped footprint can be sized to match the ear) or in a pair of glasses (eg, where the ring-shaped footprint matches the area around the eye). may be particularly suitable for use). Proximity pad 102 may occupy a large portion of the elliptical ring footprint in printed circuit layer 110 , with reference pad 104 shaped as a wedge between portions of proximity pad 102 . In the printed circuit layer 112 , the reference pad 106 may occupy a large portion of the elliptical ring footprint, and the dielectric material 114 is formed in a generally wedge shape between portions of the reference pad 106 and a thermal pad ( 108 is disposed within a wedge of dielectric material 114 . The temperature pad 108 may be entirely within the shadow of the reference pad 104 . 4 and 5 , the conductive elements sharing the printed circuit layer are formed by at least a small amount of intervening dielectric material where appropriate (eg, to avoid shorting the proximity pad 102 and the reference pad 104 ). can be separated from each other.

도 5a 및 도 5b는 다양한 실시예에 따른, 도 1의 센서 배열(100)의 다른 예에서의 각각 인쇄 회로 층(110 및 112)의 평면도이다. 도 5의 실시예에서, 센서 배열(100)은 대체로 직사각형인 풋프린트를 갖고; 이러한 실시예는 손목 밴드, 가슴 스트랩, 패치 또는 의복에 사용하기에 특히 적합할 수 있다. 인쇄 회로 층(110)에서, 근접 패드는 직사각형 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있고, 그 자체가 직사각형 형상을 가질 수 있는 반면, 기준 패드(104)는 더 작은 직사각형 형상을 가질 수 있다. 인쇄 회로 층(112)에서, 기준 패드(106)는 직사각형 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있고 유전체 재료(114)의 직사각형 부분 옆에 있을 수 있으며; 온도 패드(108)는 유전체 재료(114)의 직사각형 내에 배치될 수 있다. 도 4의 실시예에서와 같이는 도 5의 온도 패드(108)는 완전히 기준 패드(104)의 그림자 내에 있을 수 있다.5A and 5B are top views of printed circuit layers 110 and 112, respectively, in another example of the sensor arrangement 100 of FIG. 1 , in accordance with various embodiments. 5, the sensor arrangement 100 has a generally rectangular footprint; Such embodiments may be particularly suitable for use on wristbands, chest straps, patches, or garments. In the printed circuit layer 110 , the proximity pad may occupy a large portion of a rectangular footprint and may itself have a rectangular shape, whereas the reference pad 104 may have a smaller rectangular shape. In the printed circuit layer 112 , the reference pad 106 may occupy a large portion of the rectangular footprint and may be next to the rectangular portion of the dielectric material 114 ; The thermal pad 108 may be disposed within a rectangle of the dielectric material 114 . As in the embodiment of FIG. 4 , the temperature pad 108 of FIG. 5 may be completely within the shadow of the reference pad 104 .

본 명세서에 개시된 센서 배열(100)은 임의의 적절한 전자 구성요소에 포함될 수 있다. 예를 들어, 도 6은 본 명세서에 개시된 임의의 실시예에 따른 센서 배열을 포함하고/하거나 근접도 검출 방법을 수행할 수 있는 예시적인 전자 장치(1800)의 블록도이다. 다수의 구성요소가 전자 장치(1800)에 포함되는 것으로 도 6에 예시되어 있지만, 이들 구성요소 중 어느 하나 이상은 응용에 적합하게 생략되거나 복제될 수 있다. 일부 실시예에서, 전자 장치(1800)에 포함된 구성요소 중 일부 또는 전부는 하나 이상의 마더보드에 부착될 수 있다. 일부 실시예에서, 이들 구성요소의 일부 또는 전부는 단일 SoC(system-on-a-chip) 다이 상에 제조된다.The sensor arrangement 100 disclosed herein may be incorporated into any suitable electronic component. For example, FIG. 6 is a block diagram of an exemplary electronic device 1800 that may include a sensor arrangement and/or may perform a proximity detection method according to any embodiment disclosed herein. Although a number of components are illustrated in FIG. 6 as being included in the electronic device 1800, any one or more of these components may be omitted or duplicated as appropriate for the application. In some embodiments, some or all of the components included in the electronic device 1800 may be attached to one or more motherboards. In some embodiments, some or all of these components are fabricated on a single system-on-a-chip (SoC) die.

또한, 다양한 실시예에서, 전자 장치(1800)는 도 6에 예시되어 있는 구성요소 중 하나 이상을 포함하지 않을 수 있지만, 전자 장치(1800)는 하나 이상의 구성요소에 결합하기 위한 인터페이스 회로를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1800)는 디스플레이 장치(1806)를 포함하지 않고, 디스플레이 장치(1806)가 결합될 수 있는 디스플레이 장치 인터페이스 회로(예를 들어, 커넥터 및 드라이버 회로)를 포함할 수 있다. 다른 예들의 집단에서, 전자 장치(1800)는 오디오 입력 장치(1824) 또는 오디오 출력 장치(1808)를 포함하지 않고, 오디오 입력 장치(1824) 또는 오디오 출력 장치(1808)가 결합될 수 있는 오디오 입력 또는 출력 장치 인터페이스 회로(예를 들어, 커넥터 및 지원 회로)를 포함할 수 있다.Further, in various embodiments, the electronic device 1800 may not include one or more of the components illustrated in FIG. 6 , but the electronic device 1800 may include interface circuitry for coupling to one or more components. can For example, the electronic device 1800 may not include the display device 1806 , but may include a display device interface circuit (eg, a connector and a driver circuit) to which the display device 1806 may be coupled. In another group of examples, the electronic device 1800 does not include an audio input device 1824 or an audio output device 1808 , and an audio input to which the audio input device 1824 or the audio output device 1808 may be coupled. or output device interface circuitry (eg, connectors and support circuitry).

전자 장치(1800)는 처리 장치(1802)(예를 들어, 하나 이상의 처리 장치)를 포함할 수 있다. 본 명세서에서 사용될 때, "처리 장치" 또는 "프로세서"라는 용어는 레지스터 및/또는 메모리로부터의 전자 데이터를 처리하여 전자 데이터를 레지스터 및/또는 메모리에 저장될 수 있는 다른 전자 데이터로 변환하는 임의의 장치 또는 장치의 부분을 지칭할 수 있다. 일부 실시예에서, 처리 장치(1802)는 본 명세서에 개시된 근접도 검출 방법의 일부 또는 전부를 수행하도록 구성될 수 있다. 처리 장치(1802)는 하나 이상의 디지털 신호 프로세서(DSP), 주문형 집적 회로(ASIC), 중앙 처리 유닛(CPU), 그래픽 처리 유닛(GPU), 암호화 프로세서(하드웨어 내에서 암호화 알고리즘을 실행하는 특수 프로세서), 서버 프로세서 또는 임의의 다른 적절한 처리 장치를 포함할 수 있다. 전자 장치(1800)는 메모리(1804)를 포함할 수 있으며, 메모리(1804)는 그 자체가 휘발성 메모리(예를 들어, DRAM(dynamic random access memory)), 비휘발성 메모리(예를 들어, ROM(read-only memory)), 플래시 메모리, 솔리드 스테이트 메모리 및/또는 하드 드라이브와 같은 하나 이상의 메모리 장치를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 메모리(1804)는 처리 장치(1802)와 다이를 공유하는 메모리를 포함할 수 있다. 이 메모리는 캐시 메모리로 사용될 수 있으며 eDRAM(embedded dynamic random access memory) 또는 STT-MRAM(spin transfer torque magnetic random access memory)를 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include a processing device 1802 (eg, one or more processing devices). As used herein, the term "processing device" or "processor" refers to any device that processes electronic data from registers and/or memory to convert electronic data into other electronic data that may be stored in registers and/or memory. may refer to a device or part of a device. In some embodiments, the processing device 1802 may be configured to perform some or all of the proximity detection methods disclosed herein. The processing unit 1802 may include one or more digital signal processors (DSPs), application specific integrated circuits (ASICs), central processing units (CPUs), graphics processing units (GPUs), cryptographic processors (special processors that execute cryptographic algorithms in hardware). , a server processor, or any other suitable processing device. The electronic device 1800 may include a memory 1804, which itself is a volatile memory (eg, dynamic random access memory (DRAM)), a non-volatile memory (eg, ROM (eg, ROM) read-only memory), flash memory, solid state memory and/or one or more memory devices such as hard drives. In some embodiments, memory 1804 may include a memory that shares a die with processing device 1802 . This memory may be used as a cache memory and may include an embedded dynamic random access memory (eDRAM) or a spin transfer torque magnetic random access memory (STT-MRAM).

일부 실시예에서, 전자 장치(1800)는 통신 칩(1812)(예를 들어, 하나 이상의 통신 칩)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 통신 칩(1812)은 전자 장치(1800)와의 데이터 전송을 위한 무선 통신을 관리하도록 구성될 수 있다. 용어 "무선" 및 그 파생어는 비고체 매체를 통해 변조된 전자기 방사선의 사용을 통해 데이터를 통신할 수 있는 회로, 장치, 시스템, 방법, 기술, 통신 채널 등을 설명하는 데 사용될 수 있다. 이 용어는 일부 실시예에서는 그렇지 않을 수 있지만 연관된 장치가 어떤 배선도 포함하지 않는다는 것을 의미하지는 않는다.In some embodiments, the electronic device 1800 may include a communication chip 1812 (eg, one or more communication chips). For example, the communication chip 1812 may be configured to manage wireless communication for data transmission with the electronic device 1800 . The term “wireless” and its derivatives may be used to describe circuits, devices, systems, methods, techniques, communication channels, etc. that are capable of communicating data through the use of modulated electromagnetic radiation through a non-solid medium. This term does not mean that the associated device does not include any wiring, although this may not be the case in some embodiments.

통신 칩(1812)은 Wi-Fi(IEEE 802.11 제품군), IEEE 802.16 표준(예를 들어, IEEE 802.16-2005 수정), LTE(Long-Term Evolution) 프로젝트와 모든 수정, 업데이트 및/또는 개정(예를 들어, 어드밴스드 LTE 프로젝트, UMB(ultra mobile broadband) 프로젝트("3GPP2"라고도 지칭됨) 등)을 비롯한 IEEE(Institute for Electrical and Electronic Engineers) 표준을 포함하지만 이에 제한되지 않는 다수의 무선 표준 또는 프로토콜 중 임의의 것을 구현할 수 있다. IEEE 802.16 호환 광대역 무선 액세스(BWA) 네트워크는 일반적으로 IEEE 802.16 표준에 대한 적합성 및 상호 운용성 시험을 통과한 제품에 대한 인증 마크인 Worldwide Interoperability for Microwave Access을 나타내는 약어인 WiMAX 네트워크라 지칭된다. 통신 칩(1812)은 GSM(Global System for Mobile Communication), GPRS(General Packet Radio Service), UMTS(Universal Mobile Telecommunications System), HSPA(High Speed Packet Access), E-HSPA(Evolved HSPA) 또는 LTE 네트워크에 따라 동작할 수 있다. 통신 칩(1812)은 EDGE(Enhanced Data for GSM Evolution), GERAN(GSM EDGE Radio Access Network), UTRAN(Universal Terrestrial Radio Access Network) 또는 E-UTRAN(Evolved UTRAN)에 따라 동작할 수 있다. 통신 칩(1812)은 CDMA(Code Division Multiple Access), TDMA(Time Division Multiple Access), DECT(Digital Enhanced Cordless Telecommunications), EV-DO(Evolution-Data Optimized) 및 그 파생물뿐만 아니라, 3G, 4G, 5G 또는 그 이상으로 지정된 임의의 다른 무선 프로토콜에 따라 동작할 수 있다. 통신 칩(1812)은 다른 실시예에서 다른 무선 프로토콜에 따라 동작할 수 있다. 전자 장치(1800)는 무선 통신을 용이하게 하고/하거나 다른 무선 통신(예컨대, AM 또는 FM 라디오 송신)을 수신하기 위한 안테나(1822)를 포함할 수 있다.The communication chip 1812 includes Wi-Fi (IEEE 802.11 family), IEEE 802.16 standards (eg, IEEE 802.16-2005 modifications), Long-Term Evolution (LTE) projects and all modifications, updates and/or revisions (eg, Any of a number of wireless standards or protocols including, but not limited to, the Institute for Electrical and Electronic Engineers (IEEE) standards, including, for example, the Advanced LTE project, the ultra mobile broadband (UMB) project (also referred to as "3GPP2"), etc.) of can be implemented. An IEEE 802.16 compliant broadband radio access (BWA) network is commonly referred to as a WiMAX network, an acronym for Worldwide Interoperability for Microwave Access, a certification mark for products that have passed conformance and interoperability tests against the IEEE 802.16 standard. The communication chip 1812 is for Global System for Mobile Communication (GSM), General Packet Radio Service (GPRS), Universal Mobile Telecommunications System (UMTS), High Speed Packet Access (HSPA), Evolved HSPA (E-HSPA) or LTE networks. can operate accordingly. The communication chip 1812 may operate according to Enhanced Data for GSM Evolution (EDGE), GSM EDGE Radio Access Network (GERAN), Universal Terrestrial Radio Access Network (UTRAN), or Evolved UTRAN (E-UTRAN). The communication chip 1812 includes Code Division Multiple Access (CDMA), Time Division Multiple Access (TDMA), Digital Enhanced Cordless Telecommunications (DECT), Evolution-Data Optimized (EV-DO) and derivatives thereof, as well as 3G, 4G, 5G Or more, it may operate according to any other wireless protocol specified. The communication chip 1812 may operate according to other wireless protocols in other embodiments. The electronic device 1800 may include an antenna 1822 for facilitating wireless communications and/or for receiving other wireless communications (eg, AM or FM radio transmissions).

일부 실시예에서, 통신 칩(1812)은 전기, 광학 또는 임의의 다른 적절한 통신 프로토콜(예를 들어, 이더넷)과 같은 유선 통신을 관리할 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 통신 칩(1812)은 다수의 통신 칩을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 통신 칩(1812)은 Wi-Fi 또는 Bluetooth와 같은 단거리 무선 통신 전용일 수 있고, 제2 통신 칩(1812)은 GPS(global positioning system), EDGE, GPRS, CDMA, WiMAX, LTE, EV-DO 등과 같은 장거리 무선 통신 전용일 수 있다. 일부 실시예에서, 제1 통신 칩(1812)은 무선 통신 전용일 수 있고, 제2 통신 칩(1812)은 유선 통신 전용일 수 있다.In some embodiments, the communications chip 1812 may manage wired communications, such as electrical, optical, or any other suitable communications protocol (eg, Ethernet). As described above, the communication chip 1812 may include multiple communication chips. For example, the first communication chip 1812 may be dedicated to short-range wireless communication such as Wi-Fi or Bluetooth, and the second communication chip 1812 may be a global positioning system (GPS), EDGE, GPRS, CDMA, WiMAX, It may be dedicated to long-distance wireless communication such as LTE, EV-DO, and the like. In some embodiments, the first communication chip 1812 may be dedicated to wireless communication, and the second communication chip 1812 may be dedicated to wired communication.

전자 장치(1800)는 배터리/전력 회로(1814)를 포함할 수 있다. 배터리/전력 회로(1814)는 하나 이상의 에너지 저장 장치(예를 들어, 배터리 또는 커패시터) 및/또는 전자 장치(1800)의 구성요소를 전자 장치(1800)와 분리된 에너지 소스(예를 들어, AC 라인 전원)에 결합하기 위한 회로를 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include a battery/power circuit 1814 . The battery/power circuit 1814 may provide one or more energy storage devices (eg, batteries or capacitors) and/or components of the electronic device 1800 to a separate energy source (eg, AC) from the electronic device 1800 . line power supply).

전자 장치(1800)는 디스플레이 장치(1806)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 디스플레이 장치(1806)는 헤드 업 디스플레이, 컴퓨터 모니터, 프로젝터, 터치스크린 디스플레이, 액정 디스플레이(LCD), 발광 다이오드 디스플레이 또는 평판 패널 디스플레이와 같은 임의의 시각적 표시기를 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include a display device 1806 (or a corresponding interface circuit as described above). Display device 1806 may include any visual indicator, such as a head-up display, computer monitor, projector, touchscreen display, liquid crystal display (LCD), light emitting diode display, or flat panel display.

전자 장치(1800)는 오디오 출력 장치(1808)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 오디오 출력 장치(1808)는 스피커, 헤드셋 또는 이어버드와 같은 가청 표시기를 생성하는 임의의 장치를 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include an audio output device 1808 (or a corresponding interface circuit as described above). Audio output device 1808 may include any device that produces an audible indicator, such as a speaker, headset, or earbuds.

전자 장치(1800)는 오디오 입력 장치(1824)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 오디오 입력 장치(1824)는 마이크로폰, 마이크로폰 어레이 또는 디지털 악기(예를 들어, 악기 디지털 인터페이스(MIDI) 출력을 갖는 악기)와 같은 사운드를 나타내는 신호를 생성하는 임의의 장치를 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include an audio input device 1824 (or corresponding interface circuitry as described above). Audio input device 1824 may include any device that generates a signal representative of sound, such as a microphone, microphone array, or digital instrument (eg, an instrument having an instrument digital interface (MIDI) output).

전자 장치(1800)는 GPS 장치(1818)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. GPS 장치(1818)는 위성 기반 시스템과 통신할 수 있고 본 기술 분야에 알려진 바와 같이 전자 장치(1800)의 위치를 수신할 수 있다.The electronic device 1800 may include a GPS device 1818 (or corresponding interface circuitry as described above). The GPS device 1818 may communicate with a satellite based system and may receive the location of the electronic device 1800 as is known in the art.

전자 장치(1800)는 다른 출력 장치(1810)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 다른 출력 장치(1810)의 예는 오디오 코덱, 비디오 코덱, 프린터, 다른 장치에 정보를 제공하기 위한 유선 또는 무선 송신기 또는 추가적인 저장 장치를 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include another output device 1810 (or a corresponding interface circuit as described above). Examples of other output devices 1810 may include audio codecs, video codecs, printers, wired or wireless transmitters for providing information to other devices, or additional storage devices.

전자 장치(1800)는 다른 입력 장치(1820)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 다른 입력 장치(1820)의 예는 가속도계, 자이로스코프, 나침반, 이미지 캡처 장치, 키보드, 커서 제어 장치, 예컨대, 마우스, 스타일러스, 터치패드, 바코드 리더, Quick Response( QR) 코드 리더, 임의의 센서 또는 RFID(무선 주파수 식별) 리더를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 다른 입력 장치(1820)는 본 명세서에 개시된 임의의 센서 배열(100)을 포함할 수 있다.The electronic device 1800 may include another input device 1820 (or a corresponding interface circuit as described above). Examples of other input devices 1820 include an accelerometer, gyroscope, compass, image capture device, keyboard, cursor control device, such as a mouse, stylus, touchpad, barcode reader, Quick Response (QR) code reader, any sensor or It may include a radio frequency identification (RFID) reader. In some embodiments, other input devices 1820 may include any of the sensor arrangements 100 disclosed herein.

전자 장치(1800)는 핸드헬드 또는 모바일 전자 장치(예를 들어, 휴대폰, 스마트폰, 모바일 인터넷 장치, 음악 플레이어, 태블릿 컴퓨터, 랩톱 컴퓨터, 넷북 컴퓨터, 울트라북 컴퓨터, PDA(personal digital assistant), 울트라 모바일 개인용 컴퓨터 등), 데스크탑 전자 장치, 서버 장치 또는 다른 네트워크 컴퓨팅 구성요소, 프린터, 스캐너, 모니터, 셋톱 박스, 엔터테인먼트 제어 유닛, 차량 제어 유닛, 디지털 카메라, 디지털 비디오 레코더 또는 웨어러블 전자 장치 같은 임의의 원하는 폼 팩터를 가질 수 있다. 일부 실시예에서, 전자 장치(1800)는 데이터를 처리하는 임의의 다른 전자 장치일 수 있다.Electronic device 1800 may be a handheld or mobile electronic device (eg, a cell phone, smartphone, mobile Internet device, music player, tablet computer, laptop computer, netbook computer, ultrabook computer, personal digital assistant (PDA), ultra mobile personal computer, etc.), desktop electronic device, server device or other network computing component, printer, scanner, monitor, set-top box, entertainment control unit, vehicle control unit, digital camera, digital video recorder or wearable electronic device. It can have a form factor. In some embodiments, the electronic device 1800 may be any other electronic device that processes data.

다음 단락은 본 명세서에 개시된 실시예의 다양한 예를 제공한다.The following paragraphs provide various examples of embodiments disclosed herein.

예 1은 센서 배열을 포함하는 전자 장치이고, 이는 근접 패드 및 제1 기준 패드를 포함하는 제1 회로 층, 및 제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하는 제2 회로 층을 포함하고, 제1 회로 층은 제2 회로 층과 전자 장치의 사용자-대면 표면 사이에 있고, 제1 기준 패드는 제2 기준 패드에 전기적으로 결합되고, 제1 기준 패드는 온도 패드와 사용자-대면 표면 사이에 있다.Example 1 is an electronic device comprising a sensor arrangement, comprising a first circuit layer comprising a proximity pad and a first reference pad, and a second circuit layer comprising a second reference pad and a thermal pad, the first circuit The layer is between the second circuit layer and the user-facing surface of the electronic device, the first reference pad electrically coupled to the second reference pad, and the first reference pad between the thermal pad and the user-facing surface.

예 2는 예 1의 주제를 포함하고, 제1 기준 패드 및 제2 기준 패드가 접지에 전기적으로 결합되는 것을 추가로 명시한다.Example 2 includes the subject matter of Example 1, and further specifies that the first reference pad and the second reference pad are electrically coupled to ground.

예 3은 예 1 및 2 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 웨어러블 전자 장치임을 추가로 명시한다.Example 3 includes the subject matter of any one of Examples 1 and 2, and further specifies that the electronic device is a wearable electronic device.

예 4는 예 1 내지 3 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 헤드폰을 포함하고 센서 배열이 헤드폰에 포함됨을 추가로 명시한다.Example 4 includes the subject matter of any one of Examples 1-3, further specifying that the electronic device includes a headphone and the sensor arrangement is included in the headphone.

예 5는 예 1 내지 4 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제1 회로 층 및 제2 회로 층이 가요성 인쇄 회로 층임을 추가로 명시한다.Example 5 includes the subject matter of any one of Examples 1-4, further specifying that the first circuit layer and the second circuit layer are flexible printed circuit layers.

예 6은 예 1 내지 5 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 가요성 인쇄 회로를 포함함을 추가로 명시한다.Example 6 includes the subject matter of any one of Examples 1-5, and further specifies that the sensor arrangement includes the flexible printed circuit.

예 7은 예 1 내지 6 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 근접 패드 및 제2 기준 패드가 함께 용량성 근접도 센서의 일부임을 추가로 명시한다.Example 7 includes the subject matter of any one of Examples 1-6, further specifying that the proximity pad and the second fiducial pad together are part of a capacitive proximity sensor.

예 8은 예 1 내지 7 중 어느 하나의 주제를 포함하고,Example 8 includes the subject matter of any one of Examples 1-7;

센서 배열에 전기적으로 결합된 제어기를 더 포함한다.Further comprising a controller electrically coupled to the sensor arrangement.

예 9는 예 8의 주제를 포함하고, 또한 제어기가 센서 배열에 의해 생성된 신호에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 나타내는 신호를 생성하는 것을 추가로 명시한다.Example 9 includes the subject matter of Example 8, and further specifies that the controller generates a signal indicating whether the user has been proximate to the electronic device based on the signal generated by the sensor arrangement.

예 10은 예 8 및 9 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 근접 패드를 사용하여 근접도 정전용량 값을 생성하는 것이고 센서 배열이 온도 패드를 사용하여 온도 정전용량 값을 생성하는 것임을 추가로 명시한다.Example 10 includes the subject matter of any one of Examples 8 and 9, and adds that the sensor arrangement is to generate a proximity capacitance value using the proximity pad and the sensor arrangement is to generate a temperature capacitance value using the temperature pad specified as

예 11은 예 10의 주제를 포함하고, 제어기가 온도 정전용량 값에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 데 사용되는 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하도록 추가로 명시한다.Example 11 includes the subject matter of Example 10, further specifying that the controller adjust the baseline proximity capacitance value used to determine whether the user has been proximate to the electronic device based on the temperature capacitance value.

예 12는 예 11의 주제를 포함하고, 온도 정전용량 값에 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 온도 정전용량 값의 변화에 응답하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것을 포함함을 추가로 명시한다.Example 12 includes the subject matter of Example 11, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based on the temperature capacitance value comprises adjusting the baseline proximity capacitance value in response to a change in the temperature capacitance value further specify.

예 13은 예 11 및 12 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 사용자가 전자 장치에 근접한 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 13 includes the subject matter of any one of Examples 11 and 12, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value approximates the baseline proximity capacitance value from the proximity capacitance value when the user is indicated to be proximate to the electronic device. It further specifies that it includes setting equal to the value minus the capacitance threshold.

예 14는 예 13의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은 사용자가 전자 장치에 근접하지 않은 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 14 includes the subject matter of Example 13, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises setting the baseline proximity capacitance value equal to the proximity capacitance value when the user is indicated not to be in proximity to the electronic device. It further specifies what is included.

예 15는 센서 배열을 포함하는 전자 장치이고, 이는 근접 패드, 제1 기준 패드, 제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하고, 근접 패드는 전자 장치의 사용자-대면 표면과 제2 기준 패드 사이에 있고, 제1 기준 패드는 사용자-대면 표면과 온도 패드 사이에 있고, 센서 배열은 4개 미만의 회로 층에 포함된다.Example 15 is an electronic device comprising a sensor arrangement, comprising a proximity pad, a first reference pad, a second reference pad and a temperature pad, wherein the proximity pad is between a user-facing surface of the electronic device and the second reference pad; , the first reference pad is between the user-facing surface and the temperature pad, and the sensor array is contained in less than four circuit layers.

예 16은 예 15의 주제를 포함하고, 근접 패드 및 제1 기준 패드가 단일 회로 층에 포함되는 것을 추가로 명시한다.Example 16 includes the subject matter of Example 15, and further specifies that the proximity pad and the first reference pad are included in a single circuit layer.

예 17은 예 15 및 16 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제2 기준 패드 및 온도 패드가 단일 회로 층에 포함되는 것을 추가로 명시한다.Example 17 includes the subject matter of any one of Examples 15 and 16, and further specifies that the second reference pad and the temperature pad are included in a single circuit layer.

예 18은 예 15 내지 17 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제1 기준 패드 및 제2 기준 패드가 전기적으로 결합되는 것을 추가로 명시한다.Example 18 includes the subject matter of any one of Examples 15-17, and further specifies that the first fiducial pad and the second fiducial pad are electrically coupled.

예 19는 예 15 내지 18 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제1 기준 패드 및 제2 기준 패드가 접지에 전기적으로 결합되는 것을 추가로 명시한다.Example 19 includes the subject matter of any one of Examples 15-18, and further specifies that the first reference pad and the second reference pad are electrically coupled to ground.

예 20은 예 15 내지 19 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 웨어러블 전자 장치임을 추가로 명시한다.Example 20 includes the subject matter of any one of Examples 15-19, and further specifies that the electronic device is a wearable electronic device.

예 21은 예 15 내지 20 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 헤드폰을 포함하고 센서 배열이 헤드폰에 포함됨을 추가로 명시한다.Example 21 includes the subject matter of any one of Examples 15-20, further specifying that the electronic device includes a headphone and the sensor arrangement is included in the headphone.

예 22는 예 15 내지 20 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 가요성 인쇄 회로를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 22 includes the subject matter of any one of Examples 15-20, and further specifies that the sensor arrangement comprises a flexible printed circuit.

예 23은 예 15 내지 22 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 근접 패드 및 제2 기준 패드가 함께 용량성 근접도 센서의 일부임을 추가로 명시한다.Example 23 includes the subject matter of any one of Examples 15-22, and further specifies that the proximity pad and the second reference pad together are part of a capacitive proximity sensor.

예 24는 예 15 내지 23 중 어느 하나의 주제를 포함하고,Example 24 includes the subject matter of any one of Examples 15-23,

센서 배열에 전기적으로 결합된 제어기를 더 포함한다.Further comprising a controller electrically coupled to the sensor arrangement.

예 25는 예 24의 주제를 포함하고, 또한 제어기가 센서 배열에 의해 생성된 신호에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 나타내는 신호를 생성하는 것을 추가로 명시한다.Example 25 includes the subject matter of Example 24, and further specifies that the controller generates a signal indicating whether the user has been proximate to the electronic device based on the signal generated by the sensor arrangement.

예 26은 예 24 및 25 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 근접 패드를 사용하여 근접도 정전용량 값을 생성하는 것이고 센서 배열이 온도 패드를 사용하여 온도 정전용량 값을 생성하는 것임을 추가로 명시한다.Example 26 includes the subject matter of any one of Examples 24 and 25, and adds that the sensor arrangement is to generate a proximity capacitance value using the proximity pad and the sensor arrangement is to generate a temperature capacitance value using the temperature pad specified as

예 27은 예 26의 주제를 포함하고, 제어기가 온도 정전용량 값에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 데 사용되는 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하도록 추가로 명시한다.Example 27 includes the subject matter of Example 26, further specifying that the controller adjust the baseline proximity capacitance value used to determine whether the user has been proximate to the electronic device based on the temperature capacitance value.

예 28은 예 27의 주제를 포함하고, 온도 정전용량 값에 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 온도 정전용량 값의 변화에 응답하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것을 포함함을 추가로 명시한다.Example 28 includes the subject matter of Example 27, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based on the temperature capacitance value comprises adjusting the baseline proximity capacitance value in response to a change in the temperature capacitance value further specify.

예 29는 예 27 및 28 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 사용자가 전자 장치에 근접한 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 29 includes the subject matter of any one of Examples 27 and 28, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value approximates the baseline proximity capacitance value from the proximity capacitance value when the user is indicated to be proximate to the electronic device. It further specifies that it includes setting equal to the value minus the capacitance threshold.

예 30은 예 29의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은 사용자가 전자 장치에 근접하지 않은 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 30 includes the subject matter of Example 29, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises setting the baseline proximity capacitance value equal to the proximity capacitance value when the user is indicated not to be proximate to the electronic device. It further specifies what is included.

예 31은 전자 장치에 대한 근접도 검출 방법이며, 온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계; 및 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 단계를 포함하고, 사용자가 전자 장치에 근접한지 여부를 결정하는 단계는 근접도 정전용량 값 및 기준선 근접도 정전용량 값에 적어도 부분적으로 기초하여 임계값 비교를 수행하는 단계를 포함한다.Example 31 is a method of detecting proximity for an electronic device, comprising: adjusting a baseline proximity capacitance value based at least in part on temperature data; and determining whether the user is proximate to the electronic device, wherein determining whether the user is proximate to the electronic device comprises a threshold value based at least in part on the proximity capacitance value and the baseline proximity capacitance value performing the comparison.

예 32는 예 31의 주제를 포함하고, 온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계가 온도 변화를 식별하는 단계; 및 온도 변화를 식별하는 단계에 응답하여, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 32 includes the subject matter of Example 31, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based at least in part on the temperature data comprises: identifying a temperature change; and in response to identifying the temperature change, adjusting the baseline proximity capacitance value.

예 33은 예 31 및 32 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계가 사용자가 현재 전자 장치에 근접하고 있는지 여부의 표시기에 적어도 부분적으로 기초하는 것을 추가로 명시한다.Example 33 includes the subject matter of any one of Examples 31 and 32, and further specifies that adjusting the baseline proximity capacitance value is based at least in part on the indicator of whether the user is currently proximate to the electronic device. .

예 34는 예 33의 주제를 포함하며, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계는 표시기가 사용자가 현재 전자 장치에 근접해 있음을 나타내는 경우, 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 단계를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 34 includes the subject matter of Example 33, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises: if the indicator indicates that the user is currently in proximity to the electronic device, the baseline proximity capacitance value is approximated from the proximity capacitance value. It further specifies that also includes the step of setting equal to the value minus the capacitance threshold.

예 35는 예 33 및 34 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계가 표시기가 사용자가 현재 전자 장치에 근접해 있지 않음을 나타내는 경우, 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 단계를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 35 includes the subject matter of any one of Examples 33 and 34, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value closes the baseline proximity capacitance value when the indicator indicates that the user is not currently in proximity to the electronic device. It is further specified that also includes the step of setting equal to the capacitance value.

Claims (20)

전자 장치이며,
센서 배열을 포함하고, 상기 센서 배열은
근접 패드 및 제1 기준 패드를 포함하는 제1 회로 층, 및
제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하는 제2 회로 층을 포함하고,
상기 제1 회로 층은 상기 제2 회로 층과 상기 전자 장치의 사용자-대면 표면 사이에 있고, 상기 제1 기준 패드는 상기 제2 기준 패드에 전기적으로 결합되고, 상기 제1 기준 패드는 상기 온도 패드와 사용자-대면 표면 사이에 있는, 전자 장치.
is an electronic device,
a sensor arrangement, wherein the sensor arrangement comprises:
a first circuit layer comprising a proximity pad and a first reference pad, and
a second circuit layer comprising a second reference pad and a thermal pad;
the first circuit layer is between the second circuit layer and a user-facing surface of the electronic device, the first reference pad electrically coupled to the second reference pad, the first reference pad being the thermal pad and the user-facing surface, the electronic device.
청구항 1에 있어서, 상기 제1 기준 패드 및 상기 제2 기준 패드는 접지에 전기적으로 결합되는, 전자 장치.The electronic device of claim 1 , wherein the first reference pad and the second reference pad are electrically coupled to ground. 청구항 1에 있어서, 상기 전자 장치는 웨어러블 전자 장치인, 전자 장치.The electronic device of claim 1 , wherein the electronic device is a wearable electronic device. 청구항 1에 있어서, 상기 전자 장치는 헤드폰을 포함하고, 상기 센서 배열은 헤드폰에 포함되는, 전자 장치.The electronic device of claim 1 , wherein the electronic device comprises a headphone, and the sensor arrangement comprises a headphone. 청구항 1에 있어서, 상기 제1 회로 층 및 상기 제2 회로 층은 가요성 인쇄 회로 층인, 전자 장치.The electronic device of claim 1 , wherein the first circuit layer and the second circuit layer are flexible printed circuit layers. 청구항 1에 있어서, 상기 센서 배열은 가요성 인쇄 회로를 포함하는, 전자 장치.The electronic device of claim 1 , wherein the sensor arrangement comprises a flexible printed circuit. 청구항 1에 있어서, 상기 근접 패드 및 상기 제2 기준 패드는 함께 용량성 근접도 센서의 일부인, 전자 장치.The electronic device of claim 1 , wherein the proximity pad and the second reference pad together are part of a capacitive proximity sensor. 전자 장치이며,
센서 배열을 포함하고, 상기 센서 배열은
근접 패드,
제1 기준 패드,
제2 기준 패드, 및
온도 패드를 포함하고,
상기 근접 패드는 상기 전자 장치의 사용자-대면 표면과 상기 제2 기준 패드 사이에 있고, 상기 제1 기준 패드는 상기 사용자-대면 표면과 상기 온도 패드 사이에 있고, 상기 센서 배열은 4개 미만의 회로 층에 포함되는, 전자 장치.
is an electronic device,
a sensor arrangement, wherein the sensor arrangement comprises:
proximity pad,
a first reference pad;
a second reference pad, and
comprising a temperature pad;
wherein the proximity pad is between a user-facing surface of the electronic device and the second reference pad, the first reference pad is between the user-facing surface and the temperature pad, and the sensor arrangement is less than four circuits. An electronic device contained in a layer.
청구항 8에 있어서, 상기 근접 패드 및 상기 제1 기준 패드는 단일 회로 층에 포함되는, 장치.The apparatus of claim 8 , wherein the proximity pad and the first reference pad are included in a single circuit layer. 청구항 8에 있어서, 상기 제2 기준 패드 및 상기 온도 패드는 단일 회로 층에 포함되는, 장치.The apparatus of claim 8 , wherein the second reference pad and the thermal pad are included in a single circuit layer. 청구항 8에 있어서,
상기 센서 배열에 전기적으로 결합된 제어기를 더 포함하는, 전자 장치.
9. The method of claim 8,
and a controller electrically coupled to the sensor arrangement.
청구항 11에 있어서, 상기 제어기는 상기 센서 배열에 의해 생성된 신호에 기초하여 사용자가 상기 전자 장치에 근접했는지 여부를 나타내는 신호를 생성하는 것인, 전자 장치.The electronic device of claim 11 , wherein the controller generates a signal indicating whether a user is close to the electronic device based on a signal generated by the sensor arrangement. 청구항 11에 있어서, 상기 센서 배열은 상기 근접 패드를 사용하여 근접도 정전용량 값을 생성하는 것이고 상기 센서 배열은 상기 온도 패드를 사용하여 온도 정전용량 값을 생성하는 것인, 전자 장치.The electronic device of claim 11 , wherein the sensor arrangement generates a proximity capacitance value using the proximity pad and the sensor arrangement generates a temperature capacitance value using the temperature pad. 청구항 13에 있어서, 상기 제어기는 상기 온도 정전용량 값에 기초하여 사용자가 상기 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 데 사용되는 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는, 전자 장치.The electronic device of claim 13 , wherein the controller adjusts a baseline proximity capacitance value used to determine whether a user has been proximate to the electronic device based on the temperature capacitance value. 청구항 14에 있어서, 상기 온도 정전용량 값에 기초하여 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은 상기 온도 정전용량 값의 변화에 응답하여 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것을 포함하는, 전자 장치.The electronic device of claim 14 , wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based on the temperature capacitance value comprises adjusting the baseline proximity capacitance value in response to a change in the temperature capacitance value. . 청구항 14에 있어서, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은, 사용자가 상기 전자 장치에 근접한 것으로 표시될 때, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 상기 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는, 전자 장치.15. The method of claim 14, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises, when a user is indicated to be proximate to the electronic device, the baseline proximity capacitance value from the proximity capacitance value to a proximity capacitance threshold. and setting equal to a value minus . 청구항 16에 있어서, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은, 사용자가 상기 전자 장치에 근접하지 않는 것으로 표시될 때, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 상기 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는, 전자 장치.The method of claim 16 , wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises: setting the baseline proximity capacitance value equal to the proximity capacitance value when the user is indicated not to be close to the electronic device An electronic device comprising: 전자 장치에 대한 근접도 검출 방법이며,
온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계; 및
사용자가 상기 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 단계를 포함하고, 상기 사용자가 상기 전자 장치에 근접한지 여부를 결정하는 단계는 근접도 정전용량 값 및 상기 기준선 근접도 정전용량 값에 적어도 부분적으로 기초하여 임계값 비교를 수행하는 단계를 포함하는, 방법.
A method for detecting proximity to an electronic device,
adjusting the baseline proximity capacitance value based at least in part on the temperature data; and
determining whether a user is proximate to the electronic device, wherein determining whether the user is proximate to the electronic device is based at least in part on a proximity capacitance value and the baseline proximity capacitance value to perform a threshold comparison.
청구항 18에 있어서, 온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계는
온도 변화를 식별하는 단계; 및
상기 온도 변화를 식별하는 단계에 응답하여, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계를 포함하는, 방법.
19. The method of claim 18, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based at least in part on temperature data comprises:
identifying a temperature change; and
in response to identifying the temperature change, adjusting the baseline proximity capacitance value.
청구항 18에 있어서, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계는 사용자가 현재 상기 전자 장치에 근접한 상태인지 여부에 대한 표시기에 적어도 부분적으로 기초하는, 방법.The method of claim 18 , wherein adjusting the baseline proximity capacitance value is based, at least in part, on an indicator of whether a user is currently in proximity to the electronic device.
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