KR20210112245A - Proximity detection sensor arrangements, devices, and method - Google Patents
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Abstract
Description
우선권 출원에 대한 상호 참조Cross-Reference to Priority Application
본 출원은 그 전문이 본 명세서에 참조로 포함된 2020년 3월 3일자로 출원된 발명의 명칭이 "근접도 검출 센서 배열, 장치 및 방법"인 PCT/CN2020/077623의 이익과 우선권을 주장한다.This application claims the benefit and priority of PCT/CN2020/077623 entitled "Proximity Detection Sensor Array, Apparatus and Method", filed March 3, 2020, which is incorporated herein by reference in its entirety. .
스마트폰과 같은 일부 개인용 전자 장치는 사용자의 근접도를 검출(그리고, 예를 들어 "수면" 상태에서 "준비" 상태로 전환하는 것으로 반응)하도록 구성된 센서를 포함할 수 있다. 이러한 센서 중 일부는 용량성 센서로, 용량성 결합을 사용하여 센서 주변 물질의 유전 상수 변화를 검출한다.Some personal electronic devices, such as smartphones, may include sensors configured to detect a user's proximity (and respond, for example, by transitioning from a "sleep" state to a "ready" state). Some of these sensors are capacitive sensors, which use capacitive coupling to detect changes in the dielectric constant of the material around the sensor.
실시예는 첨부 도면과 함께 다음의 상세한 설명에 의해 쉽게 이해될 것이다. 이 설명을 용이하게 하기 위해, 같은 참조 번호는 같은 구조적 요소를 나타낸다. 실시예는 첨부 도면의 도면에서 제한이 아닌 예로서 예시된다.
도 1은 다양한 실시예에 따른 센서 배열을 포함하는 전자 장치의 일부의 측단면도이다.
도 2는 다양한 실시예에 따라 도 1의 센서 배열을 사용하는 예시적인 근접도 검출 시스템의 블록도이다.
도 3a 및 도 3b는 다양한 실시예에 따른 기준선 업데이트 및 근접도 검출 방법의 흐름도이다.
도 4a 및 도 4b는 다양한 실시예에 따른 도 1의 센서 배열의 예에서 층의 평면도이다.
도 5a 및 도 5b는 다양한 실시예에 따른 도 1의 센서 배열의 다른 예에서 층의 평면도이다.
도 6은 본 명세서에 개시된 임의의 실시예에 따른 센서 배열을 포함하고/하거나 근접도 검출 방법을 수행할 수 있는 예시적인 전자 장치의 블록도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Embodiments will be readily understood by the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings. To facilitate this description, like reference numbers refer to like structural elements. Embodiments are illustrated by way of example and not limitation in the drawings of the accompanying drawings.
1 is a side cross-sectional view of a portion of an electronic device including a sensor arrangement according to various embodiments of the present disclosure;
2 is a block diagram of an exemplary proximity detection system using the sensor arrangement of FIG. 1 in accordance with various embodiments.
3A and 3B are flowcharts of a baseline update and proximity detection method according to various embodiments of the present disclosure;
4A and 4B are top views of layers in an example of the sensor arrangement of FIG. 1 in accordance with various embodiments.
5A and 5B are top views of layers in another example of the sensor arrangement of FIG. 1 in accordance with various embodiments.
6 is a block diagram of an exemplary electronic device that may include a sensor arrangement and/or may perform a proximity detection method according to any embodiment disclosed herein.
본 명세서에는 근접도 검출 센서 배열뿐만 아니라 관련 방법 및 장치가 개시된다. 일부 실시예에서, 전자 장치의 센서 배열은 근접 패드 및 제1 기준 패드를 포함하는 제1 회로 층, 및 제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하는 제2 회로 층을 포함할 수 있다. 제1 회로 층은 제2 회로 층과 전자 장치의 사용자-대면 표면 사이에 있을 수 있고, 제1 기준 패드는 제2 기준 패드에 전기적으로 결합될 수 있고, 제1 기준 패드는 온도 패드와 사용자-대면 표면 사이에 있을 수 있다.Disclosed herein are proximity detection sensor arrangements as well as related methods and apparatus. In some embodiments, a sensor arrangement of an electronic device may include a first circuit layer including a proximity pad and a first reference pad, and a second circuit layer including a second reference pad and a thermal pad. The first circuit layer may be between the second circuit layer and the user-facing surface of the electronic device, the first reference pad may be electrically coupled to the second reference pad, and the first reference pad may be electrically coupled to the thermal pad and the user-facing surface of the electronic device. It may be between facing surfaces.
다음의 상세한 설명에서, 상세한 설명의 일부를 형성하는 첨부 도면을 참조하며, 도면에서 같은 참조번호는 전체에 걸쳐 같은 부분을 나타내며, 실시될 수 있는 실시예가 예시로서 도시되어 있다. 다른 실시예가 이용될 수 있고, 본 개시내용의 범위를 벗어나지 않고 구조적 또는 논리적 변경이 이루어질 수 있음을 이해하여야 한다. 따라서, 다음의 상세한 설명은 제한적인 의미로 받아 들여서는 안된다.DETAILED DESCRIPTION In the following detailed description, reference is made to the accompanying drawings, which form a part hereof, in which like reference numerals refer to like parts throughout, and embodiments in which they may be practiced are shown by way of illustration. It is to be understood that other embodiments may be utilized and structural or logical changes may be made without departing from the scope of the present disclosure. Accordingly, the following detailed description should not be taken in a limiting sense.
청구된 주제를 이해하는 데 가장 도움이 되는 방식으로, 다양한 동작이 다수의 개별 행위 또는 동작으로 차례로 설명될 수 있다. 그러나, 설명의 순서는 이러한 동작이 반드시 순서에 의존한다는 것을 의미하는 것으로 해석되어서는 안된다. 특히, 이러한 동작은 표시 순서대로 수행되지 않을 수 있다. 설명된 동작은 설명된 실시예와 다른 순서로 수행될 수 있다. 다양한 추가 동작이 수행될 수 있고/있거나 설명된 동작은 추가적인 실시예에서 생략될 수 있다.In a manner that is most helpful in understanding the claimed subject matter, various acts may be described as multiple separate acts or acts in turn. However, the order of description should not be construed to imply that such operations are necessarily order dependent. In particular, these operations may not be performed in a display order. The described operations may be performed in a different order than the described embodiments. Various additional operations may be performed and/or described operations may be omitted in additional embodiments.
본 개시내용의 목적 상, "A 및/또는 B"라는 문구는 (A), (B) 또는 (A 및 B)를 의미한다. 본 개시내용의 목적 상, "A, B 및/또는 C"라는 문구는 (A), (B), (C), (A 및 B), (A 및 C), (B 및 C) 또는 (A, B 및 C)를 의미한다. "A 또는 B"라는 문구는 (A), (B) 또는 (A 및 B)를 의미한다. 도면이 반드시 축척에 따르는 것은 아니다. 많은 도면이 평탄한 벽과 직각 모서리를 갖는 직선 구조를 나타내지만 이는 단순히 예시의 용이성을 위한 것이며 이러한 기술을 사용하여 형성된 실제 장치는 둥근 모서리, 표면 거칠기 및 다른 특징을 나타낸다.For the purposes of this disclosure, the phrase “A and/or B” means (A), (B) or (A and B). For the purposes of this disclosure, the phrase “A, B and/or C” means (A), (B), (C), (A and B), (A and C), (B and C) or ( A, B and C). The phrase “A or B” means (A), (B) or (A and B). The drawings are not necessarily to scale. Although many of the drawings show a straight structure with flat walls and right-angled corners, this is merely for ease of illustration and actual devices formed using these techniques exhibit rounded corners, surface roughness, and other features.
설명은 "실시예에서" 또는 "실시예들에서"라는 문구를 사용하며, 이들 각각은 동일하거나 상이한 실시예 중 하나 이상을 지칭할 수 있다. 또한, 본 개시내용의 실시예와 관련하여 사용되는 용어 "포함하는", "함유하는", "갖는" 등은 동의어이다. 차원의 범위를 설명하는 데 사용되는 경우 "X와 Y 사이"라는 문구는 X와 Y를 포함하는 범위를 나타낸다. 편의상, "도 4"라는 문구는 도 4a 및 도 4b의 도면 모음을 지칭하기 위해 사용될 수 있고, "도 5"라는 문구는 도 5a 및 도 5b의 도면 모음을 지칭하기 위해 사용될 수 있다.The description uses the phrases “in an embodiment” or “in embodiments,” each of which may refer to one or more of the same or different embodiments. Also, the terms “comprising,” “containing,” “having,” and the like, used in connection with embodiments of the present disclosure are synonymous. When used to describe a range of dimensions, the phrase "between X and Y" refers to a range that includes X and Y. For convenience, the phrase “ FIG. 4 ” may be used to refer to the drawing collection of FIGS. 4A and 4B , and the phrase “ FIG. 5” may be used to refer to the drawing collection of FIGS. 5A and 5B .
도 1은 다양한 실시예에 따른 센서 배열(100)을 포함하는 전자 장치(115)의 일부의 측단면도이다. 전자 장치(115)는 웨어러블 장치 또는 핸드헬드 장치와 같은 임의의 적절한 장치일 수 있다. 일부 실시예에서, 전자 장치(115)는 예를 들어, 헤드폰 또는 한 쌍의 헤드폰(예를 들어, 헤드폰 사이에 스트랩이 있거나 없음), 한 쌍의 안경 또는 손목 밴드를 포함할 수 있다.1 is a cross-sectional side view of a portion of an
센서 배열(100)은 종래의 전자 장치에 비해 전자 장치(115)에서 근접도 검출 성능을 개선하기 위해 근접도 및 온도 감지 능력을 포함할 수 있다. 특히, 센서 배열(100)은 근접도 센서(103) 및 온도 센서(107)를 포함할 수 있다. 근접도 센서(103)는 근접 패드(102) 및 기준 패드(106)를 포함할 수 있으며, 근접 패드(102)는 기준 패드(106)와 전자 장치(115)의 사용자-대면 표면(105) 사이에 있다. 근접도 센서(103)는 용량성 근접도 센서일 수 있으며, 근접 패드(102) 및 기준 패드(106)는 용량성 판으로서 기능하고; 근접도 센서(103)의 순간 정전용량은 근접 패드(102)에 근접한 물질(예를 들어, 공기 및/또는 사용자의 신체)의 유전체 조성을 반영할 수 있으며, 따라서 근접도 센서(103)의 순간 정전용량의 변화는 사용자가 전자 장치(115)에 근접했는지 여부를 검출하는 데 사용될 수 있다. 특히, 도 4 및 도 5를 참조하여 아래에서 설명되는 바와 같이, 근접도 센서(103)의 순간 정전용량은 근접도 기준선과 비교될 수 있고, 임계값을 초과하는 근접도 기준선으로부터의 근접도 센서(103)의 순간 정전용량의 편차는 사용자가 전자 장치(115)에 근접한지 또는 더 이상 근접하지 않는지의 결정을 초래할 수 있다.The
앞서 설명한 바와 같이, 센서 배열(100)은 또한 온도 센서(107)를 포함할 수 있다. 온도 센서(107)는 온도 패드(108) 및 기준 패드(104)를 포함할 수 있다. 근접도 센서(103)와 같이, 온도 센서(107)는 또한 커패시터(용량성 판 역할을 하는 온도 패드(108) 및 기준 패드(104)를 구비)일 수 있지만, 사용자-대면 표면(105)에 관하여 온도 센서(107)의 배향은 근접도 센서(103)의 배향과 다르고; 즉, 온도 센서(107)에서, 기준 패드(104)는 온도 패드(108)와 사용자-대면 표면(105) 사이에 있을 수 있다. 따라서, 기준 패드(104)는 사용자-대면 표면(105)에 근접한 유전체 조성의 변화로부터 온도 패드(108)를 "차폐"하도록 작용할 수 있다. 일부 실시예에서, 기준 패드(104) 및 기준 패드(106)는 함께 전기적으로 결합(예를 들어, 단락)될 수 있고, 이러한 일부 실시예에서, 기준 패드(104) 및 기준 패드(106)는 전자 장치(115)의 접지에 결합될 수 있다.As previously described, the
일부 실시예에서, 센서 배열(100)의 요소는 인쇄 회로(예를 들어, 가요성 인쇄 회로)의 상이한 층 사이에 분포될 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 근접 패드(102) 및 기준 패드(104)는 단일의 공통 인쇄 회로 층(110)에 포함될 수 있는 반면, 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 상이한 공통 인쇄 회로 층(112)에 포함될 수 있다. 인쇄 회로 층(110)은 인쇄 회로 층(112)과 사용자-대면 표면(105) 사이에 있을 수 있고, 일부 실시예에서, 인쇄 회로 층(110)은 인쇄 회로 층(112)에 인접할 수 있다(센서 배열(100)이 단지 2개의 인쇄 회로의 층만을 요구할 수 있게 함). 인쇄 회로 층 사이의 센서 배열(100)의 요소의 다른 분포가 사용될 수 있고; 일부 실시예에서, 센서 배열(100)의 요소는 3개 이하의 인쇄 회로 층에 걸쳐 분포될 수 있다. 인쇄 회로 층에서, 근접 패드(102), 기준 패드(104), 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 하나 이상의 유전체 재료에 의해 서로 이격된 각각 서로 이격된 전도성 재료(예를 들어, 구리 또는 다른 금속)의 영역에 의해 구현될 수 있다. 근접 패드(102), 기준 패드(104), 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 임의의 원하는 형상을 가질 수 있으며, 이들의 다수의 예는 도 4 및 도 5를 참조하여 아래에서 설명된다.In some embodiments, elements of
센서 배열(100)은 사용자가 전자 장치(115)에 근접한지 여부를 결정하기 위해 근접도 센서(103) 및 온도 센서(107)의 정전용량을 측정하고 이용하도록 구성된 회로에 통신적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 도 2는 다양한 실시예에 따른, 도 1의 센서 배열(100) 및 제어기(120)를 포함하는 예시적인 근접도 검출 시스템(150)의 블록도이다. 일부 실시예에서, 근접도 검출 시스템(150)은 전자 장치(115)에 포함될 수 있는 반면, 다른 실시예에서, 제어기(120)는 전자 장치(115)와 분리될 수 있다(예를 들어, 전자 장치(115)와 무선 통신 상태).The
사용자가 센서 배열(100)에 근접한지 여부를 결정하기 위해, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량(예를 들어, 근접도 센서(103)의 정전용량을 나타내거나 이와 관련된 근접도 센서(103)로부터 출력된 신호)를 수신할 수 있고 그 정전용량을 기준선 값(예를 들어, 제어기(120)의 메모리에 저장됨)과 비교할 수 있다. 근접도 센서(103)의 정전용량이 임계값보다 큰 양만큼 근접도 기준선 값으로부터 벗어나면, 사용자가 센서 배열(100)에 근접하거나 근접하지 않다는 결정이 이루어질 수 있다. 예를 들어, 근접도 센서(103)의 정전용량이 "높음" 임계값보다 큰 양만큼 근접도 기준선 값보다 큰 경우, 제어기(120)는 사용자가 센서 배열(100)에 근접해 있음을 결정할 수 있다(예를 들어, 표시기를 생성함). 근접도 센서(103)의 정전용량이 "낮음" 임계값보다 큰 양만큼 근접도 기준선 값보다 작은 경우, 제어기(120)는 사용자가 센서 배열(100)에 근접해 있지 않음을 결정할 수 있다(예를 들어, 표시기를 생성함). 이 특정 예는 단순히 예시적이며, 제어기(120)는 임의의 원하는 임계값 분석(예를 들어, 히스테리시스 임계값 등을 포함) 또는 다른 분석을 구현할 수 있다.To determine whether a user is proximate to
전자 장치(115)를 사용하는 동안, 센서 배열(100)의 온도 변화는 근접도 센서(103)의 순간 정전용량에 영향을 미칠 수 있다. 예를 들어, 사용자가 전자 장치(115)의 사용자-대면 표면(105)에 근접할 때, 사용자로부터의 체열은 센서 배열(100)의 온도를 증가시킬 수 있고 근접도 센서(103)의 정전용량의 증가를 초래할 수 있다. 그 다음, 사용자가 사용자-대면 표면(105)으로부터 멀어지게 이동할 때(예를 들어, 전자 장치(115)가 헤드폰을 포함하고 사용자가 헤드폰을 제거할 때), 국소 유전체 조성의 이러한 변화는 근접도 센서(103)의 정전용량의 감소를 초래할 수 있지만, 이러한 감소는 센서 배열(100)의 온도 증가에 의해 초래되는 정전용량 증가보다 작을 수 있다. 센서 배열(100)의 후속 냉각 및 근접도 센서(103)의 정전용량의 결과적인 감소는 비교적 느리게 발생할 수 있다. 따라서, 온도의 영향을 해결하지 않으면, 제어기(120)는 센서 배열(100)이 충분히 냉각될 때까지 더 이상 전자 장치(115)에 근접하지 않는 사용자(예를 들어, 헤드폰을 제거함)를 "오인(miss)"할 수 있다.While using the
센서 배열(100)에서, 온도 센서(107)의 배향(온도 패드(108)와 사용자-대면 표면(105) 사이의 기준 패드(104) 포함)은 온도 센서(107)의 정전용량이 근접도 센서(103)와 비교하여 사용자-대면 표면(105)에서의 유전체 조성에 상대적으로 덜 민감할 수 있고, 따라서 온도 센서(107)의 정전용량은 사용자의 근접도에 대해 상대적으로 불가지적일 수 있음을 의미할 수 있다. 그러나, 온도 센서(107)는 근접도 센서(103)와 동일한 온도 환경에 있을 수 있고, 따라서 센서 배열(100)의 온도의 함수로서 정전용량의 유사한 변화를 경험할 수 있다. 결과적으로, 제어기(120)는 온도 센서(107)의 정전용량(예를 들어, 온도 센서(107)의 정전용량을 나타내거나 이와 관련되는 온도 센서(107)로부터 출력된 신호)을 센서 배열(100)의 온도의 표시기로서 이용하여 근접도 센서(103)의 정전용량에 대한 온도 관련 효과를 보상할 수 있다.In the
제어기(120)는 사용자의 근접도를 정확하게 검출하도록 제어기(120)의 능력을 개선하기 위해 다수의 방식 중 임의의 방식으로 온도 센서(107)로부터의 데이터를 이용할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, 온도 센서(107)의 출력의 변화는 근접도 검출 임계값 분석에 사용되는 근접도 기준선의 조절을 트리거하는 데 사용될 수 있다. 도 3a 및 도 3b는 근접도 검출을 위해 제어기(120)에 의해 구현될 수 있는 방법(200 및 250)의 흐름도이다. 방법(200 및 250)의 동작이 본 명세서에 개시된 센서 배열(100)의 특정 실시예를 참조하여 예시될 수 있지만, 방법(200 및 250)은 임의의 적절한 센서 배열과 함께 사용될 수 있다. 동작은 도 3a 및 도 3b에서 각각 한 번씩 그리고 특정 순서로 예시되지만, 동작은 필요에 따라 재정렬 및/또는 반복될 수 있다. 일부 실시예에서, 제어기(120)는 방법(200 및 250)을 병렬로 수행할 수 있다.Controller 120 may use data from
도 3a의 방법(200)으로 시작하여, 202에서, 현재 온도 값은 기준선 온도 값으로 저장될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 온도 센서(107)의 정전용량 판독값을 기준선 온도 값으로 저장할 수 있다.Starting with
204에서, 현재 온도 값(202 이후 변화되었을 수 있음)이 온도 임계값보다 큰 양만큼 기준선 온도 값으로부터 벗어나는지 여부가 결정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 온도 센서(107)의 정전용량의 업데이트된 판독값을 수신할 수 있고, 이를 기준선 온도 값과 비교하여 차이가 연관된 임계치를 초과하는 지 여부를 결정할 수 있다. 204에서 사용되는 온도 임계값은 예를 들어 절대량(예를 들어, 특정한 고정된 온도 도수에 대응) 또는 백분율 양일 수 있다. 또한, 단수형 문구 "온도 임계값"의 사용은 단순히 경제적 예시를 위한 것이며, 204에서 수행된 비교는 여러 임계값(예를 들어, 기준선 온도 값을 초과하는 온도 증가에 대한 "높음" 임계값 및 기준선 온도 값 아래로의 온도 감소에 대한 상이한 "낮음" 임계값)을 포함할 수 있다. 204에서 현재 온도가 온도 임계값보다 큰 양만큼 기준선 온도 값에서 벗어나지 않는다고 결정되면, 방법은 204로 돌아가서 새로운 현재 온도 값과의 비교를 반복할 수 있다. 일부 실시예에서, 현재 온도 값의 이러한 검사는 구성 가능한 기간(예를 들어, 더 낮은 전력 소비를 원할 때 덜 빈번한 검사)으로 주기적으로 발생할 수 있다.At 204 , it may be determined whether the current temperature value (which may have changed since 202 ) deviates from the baseline temperature value by an amount greater than a temperature threshold. For example, the controller 120 may receive an updated reading of the capacitance of the
204에서 현재 온도가 온도 임계값보다 큰 양만큼 기준선 온도 값에서 벗어나는 것으로 결정되면, 방법(200)은 206으로 진행할 수 있으며, 여기서 사용자 근접도 상태가 사용자가 이전에 근접한 상태로 결정되었는지(예를 들어, 상태 변수 user_prox_state의 값이 1과 동일함) 또는 사용자가 이전에 근접하지 않은 상태로 결정되었는지(예를 들어, 상태 변수 user_prox_state의 값이 0과 동일함) 중 어느 쪽을 나타내는지 여부가 결정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 사용자가 가장 최근의 평가에서 센서 배열(100)에 근접한 것으로 결정되었는지 아닌지 여부를 결정하기 위해 메모리에 상태 변수 또는 다른 저장된 표시자를 읽을 수 있다.If at 204 it is determined that the current temperature deviates from the baseline temperature value by an amount greater than the temperature threshold, then the
206에서 사용자가 근접한 것으로 이전에 결정되었다고 결정되면, 방법(200)은 208로 진행할 수 있으며, 여기서 근접도 기준선은 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 사용자가 근접한지 아닌지 여부를 결정하기 위해 사용된 근접도 센서 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 추가 분석을 위한 새로운 기준선을 생성하기 위해 해당 판독값으로부터 미리 결정된 근접도 센서 정전용량 임계값을 차감할 수 있다. 미리 결정된 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다. 그 다음, 방법(200)은 202로 진행하고 다시 시작할 수 있다.If it is determined at 206 that the user was previously determined to be proximate, then the
206으로 돌아가서, 206에서 사용자가 근접하지 않은 것으로 이전에 결정된 것으로 결정되면, 방법(200)은 214로 진행하고, 여기서, 근접도 기준선이 현재 근접도 센서 정전용량 값과 동일하게 설정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 그 판독값을 추가 분석을 위한 새로운 기준선으로 저장할 수 있다. 그 다음, 방법(200)은 202로 진행하고 다시 시작할 수 있다.Returning to 206 , if it is determined at 206 that the user was previously determined not to be in proximity, the
도 3b의 방법(250)으로 넘어가서, 216에서, 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 근접도 기준선(도 3a의 방법(200)을 통해 설정됨)을 뺀 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부가 결정될 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 도 3a의 방법(200)에 의해 생성된 근접도 기준선을 해당 판독값에서 차감할 수 있고; 그 다음, 제어기(120)는 결과 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부를 결정할 수 있다(랜덤 변동으로 인한 검출 상태의 급격한 변화를 피하기 위해 사용됨). 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다.Proceeding to
216에서 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 근접도 기준선을 뺀 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰 것으로 결정되면, 방법(250)은 218로 진행할 수 있고 사용자 근접도 상태는 사용자가 근접한 것으로 결정되었음을 반영할 수 있다(예를 들어, 제어기(120)는 상태 변수 user_prox_state의 값을 1로 변화시킬 수 있다. 그 다음, 방법(250)은 218로 돌아가서 다시 시작할 수 있다.If it is determined at 216 that the current proximity sensor capacitance value minus the proximity baseline is greater than a higher proximity sensor capacitance threshold, then the
216에서 현재 근접도 센서 정전용량 값에서 근접도 기준선을 뺀 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 크지 않은 것으로 결정되면, 방법(250)은 220로 진행할 수 있고 사용자 근접도 상태는 사용자가 근접하지 않은 것으로 결정되었음을 반영할 수 있다(예를 들어, 제어기(120)는 상태 변수 user_prox_state의 값을 0으로 변화시킬 수 있다.If it is determined at 216 that the current proximity sensor capacitance value minus the proximity baseline is not greater than a higher proximity sensor capacitance threshold, then the
그 다음, 방법(250)은 근접도 기준선(도 3a의 방법(200)을 통해 설정됨)에서 현재 근접도 센서 정전용량 값을 뺀 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값 이상인지 여부가 결정될 수 있는 210으로 진행할 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 근접도 기준선으로부터 해당 판독값을 차감할 수 있으며; 그 다음, 제어기(120)는 결과 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값 이상인지 여부를 결정할 수 있다(랜덤 변동으로 인한 검출 상태의 급격한 변화를 피하기 위해 사용됨). 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다.The
210에서 근접도 기준선에서 현재 근접도 센서 정전용량 값을 뺀 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 이상이 아니라고 결정되면, 방법(250)은 216으로 진행하고 다시 시작할 수 있다. 210에서 근접도 기준선에서 현재 근접도 센서 정전용량 값을 뺀 값이 더 낮은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 이상이라고 결정되면, 방법 250은 222로 진행할 수 있고 근접도 기준선은 현재 근접도 센서 정전용량 값과 동일하도록 업데이트될 수 있다. 그 후 방법(250)은 216으로 진행하고 다시 시작할 수 있다.If it is determined at 210 that the proximity baseline minus the current proximity sensor capacitance value is not greater than a lower proximity sensor capacitance threshold, the
그 다음, 방법(200)은 (214에서 결정된) 근접도 기준선을 뺀 현재 근접도 센서 정전용량 값(214 이후 변화될 수 있음)이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부가 결정될 수 있는 216으로 진행할 수 있다. 예를 들어, 제어기(120)는 근접도 센서(103)의 정전용량의 판독값을 수신할 수 있고, 214에서 생성된 근접도 기준선을 해당 판독값에서 차감할 수 있고; 그 다음, 제어기(120)는 결과 값이 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값보다 큰지 여부를 결정할 수 있다(랜덤 변동으로 인한 검출 상태의 급격한 변화를 피하기 위해 사용됨). 더 높은 근접도 센서 정전용량 임계값은 제어기(120)의 메모리에 저장될 수 있고, 시스템(150)의 교정 동안 경험적으로 결정될 수 있다.The
앞서 설명한 바와 같이, 센서 배열(100)의 근접 패드(102), 기준 패드(104), 기준 패드(106) 및 온도 패드(108)는 임의의 원하는 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 4a 및 도 4b는 다양한 실시예에 따른, 도 1의 센서 배열(100)의 예에서의 각각 인쇄 회로 층(110 및 112)의 평면도이다. 도 4의 실시예에서, 센서 배열(100)은 타원형 링과 같은 형태의 풋프린트를 갖고; 이러한 실시예는 특히 헤드폰에서(예를 들어, 링 형상의 풋프린트가 귀와 일치하도록 크기 설정될 수 있는 경우) 또는 한 쌍의 안경에서(예를 들어, 링 형상의 풋프린트가 눈 주변 영역에 일치하도록 크기 설정될 수 있는 경우) 사용하기에 특히 적합할 수 있다. 근접 패드(102)는 인쇄 회로 층(110)에서 타원형 링 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있으며, 기준 패드(104)는 근접 패드(102)의 부분 사이의 쐐기로서 성형된다. 인쇄 회로 층(112)에서, 기준 패드(106)는 타원형 링 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있으며, 유전체 재료(114)는 기준 패드(106)의 부분 사이에 대체로 쐐기 형태로 형성되고 온도 패드(108)는 유전체 재료(114)의 쐐기 내에 배치된다. 온도 패드(108)는 전체적으로 기준 패드(104)의 그림자 내에 있을 수 있다. 도 4 및 도 5의 도면에서, 인쇄 회로 층을 공유하는 전도성 요소는 적절한 경우 (예를 들어, 근접 패드(102) 및 기준 패드(104)를 단락시키지 않도록) 적어도 작은 양의 개재 유전체 재료에 의해 서로 분리될 수 있다.As previously described, the
도 5a 및 도 5b는 다양한 실시예에 따른, 도 1의 센서 배열(100)의 다른 예에서의 각각 인쇄 회로 층(110 및 112)의 평면도이다. 도 5의 실시예에서, 센서 배열(100)은 대체로 직사각형인 풋프린트를 갖고; 이러한 실시예는 손목 밴드, 가슴 스트랩, 패치 또는 의복에 사용하기에 특히 적합할 수 있다. 인쇄 회로 층(110)에서, 근접 패드는 직사각형 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있고, 그 자체가 직사각형 형상을 가질 수 있는 반면, 기준 패드(104)는 더 작은 직사각형 형상을 가질 수 있다. 인쇄 회로 층(112)에서, 기준 패드(106)는 직사각형 풋프린트의 많은 부분을 차지할 수 있고 유전체 재료(114)의 직사각형 부분 옆에 있을 수 있으며; 온도 패드(108)는 유전체 재료(114)의 직사각형 내에 배치될 수 있다. 도 4의 실시예에서와 같이는 도 5의 온도 패드(108)는 완전히 기준 패드(104)의 그림자 내에 있을 수 있다.5A and 5B are top views of printed circuit layers 110 and 112, respectively, in another example of the
본 명세서에 개시된 센서 배열(100)은 임의의 적절한 전자 구성요소에 포함될 수 있다. 예를 들어, 도 6은 본 명세서에 개시된 임의의 실시예에 따른 센서 배열을 포함하고/하거나 근접도 검출 방법을 수행할 수 있는 예시적인 전자 장치(1800)의 블록도이다. 다수의 구성요소가 전자 장치(1800)에 포함되는 것으로 도 6에 예시되어 있지만, 이들 구성요소 중 어느 하나 이상은 응용에 적합하게 생략되거나 복제될 수 있다. 일부 실시예에서, 전자 장치(1800)에 포함된 구성요소 중 일부 또는 전부는 하나 이상의 마더보드에 부착될 수 있다. 일부 실시예에서, 이들 구성요소의 일부 또는 전부는 단일 SoC(system-on-a-chip) 다이 상에 제조된다.The
또한, 다양한 실시예에서, 전자 장치(1800)는 도 6에 예시되어 있는 구성요소 중 하나 이상을 포함하지 않을 수 있지만, 전자 장치(1800)는 하나 이상의 구성요소에 결합하기 위한 인터페이스 회로를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1800)는 디스플레이 장치(1806)를 포함하지 않고, 디스플레이 장치(1806)가 결합될 수 있는 디스플레이 장치 인터페이스 회로(예를 들어, 커넥터 및 드라이버 회로)를 포함할 수 있다. 다른 예들의 집단에서, 전자 장치(1800)는 오디오 입력 장치(1824) 또는 오디오 출력 장치(1808)를 포함하지 않고, 오디오 입력 장치(1824) 또는 오디오 출력 장치(1808)가 결합될 수 있는 오디오 입력 또는 출력 장치 인터페이스 회로(예를 들어, 커넥터 및 지원 회로)를 포함할 수 있다.Further, in various embodiments, the
전자 장치(1800)는 처리 장치(1802)(예를 들어, 하나 이상의 처리 장치)를 포함할 수 있다. 본 명세서에서 사용될 때, "처리 장치" 또는 "프로세서"라는 용어는 레지스터 및/또는 메모리로부터의 전자 데이터를 처리하여 전자 데이터를 레지스터 및/또는 메모리에 저장될 수 있는 다른 전자 데이터로 변환하는 임의의 장치 또는 장치의 부분을 지칭할 수 있다. 일부 실시예에서, 처리 장치(1802)는 본 명세서에 개시된 근접도 검출 방법의 일부 또는 전부를 수행하도록 구성될 수 있다. 처리 장치(1802)는 하나 이상의 디지털 신호 프로세서(DSP), 주문형 집적 회로(ASIC), 중앙 처리 유닛(CPU), 그래픽 처리 유닛(GPU), 암호화 프로세서(하드웨어 내에서 암호화 알고리즘을 실행하는 특수 프로세서), 서버 프로세서 또는 임의의 다른 적절한 처리 장치를 포함할 수 있다. 전자 장치(1800)는 메모리(1804)를 포함할 수 있으며, 메모리(1804)는 그 자체가 휘발성 메모리(예를 들어, DRAM(dynamic random access memory)), 비휘발성 메모리(예를 들어, ROM(read-only memory)), 플래시 메모리, 솔리드 스테이트 메모리 및/또는 하드 드라이브와 같은 하나 이상의 메모리 장치를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 메모리(1804)는 처리 장치(1802)와 다이를 공유하는 메모리를 포함할 수 있다. 이 메모리는 캐시 메모리로 사용될 수 있으며 eDRAM(embedded dynamic random access memory) 또는 STT-MRAM(spin transfer torque magnetic random access memory)를 포함할 수 있다.The
일부 실시예에서, 전자 장치(1800)는 통신 칩(1812)(예를 들어, 하나 이상의 통신 칩)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 통신 칩(1812)은 전자 장치(1800)와의 데이터 전송을 위한 무선 통신을 관리하도록 구성될 수 있다. 용어 "무선" 및 그 파생어는 비고체 매체를 통해 변조된 전자기 방사선의 사용을 통해 데이터를 통신할 수 있는 회로, 장치, 시스템, 방법, 기술, 통신 채널 등을 설명하는 데 사용될 수 있다. 이 용어는 일부 실시예에서는 그렇지 않을 수 있지만 연관된 장치가 어떤 배선도 포함하지 않는다는 것을 의미하지는 않는다.In some embodiments, the
통신 칩(1812)은 Wi-Fi(IEEE 802.11 제품군), IEEE 802.16 표준(예를 들어, IEEE 802.16-2005 수정), LTE(Long-Term Evolution) 프로젝트와 모든 수정, 업데이트 및/또는 개정(예를 들어, 어드밴스드 LTE 프로젝트, UMB(ultra mobile broadband) 프로젝트("3GPP2"라고도 지칭됨) 등)을 비롯한 IEEE(Institute for Electrical and Electronic Engineers) 표준을 포함하지만 이에 제한되지 않는 다수의 무선 표준 또는 프로토콜 중 임의의 것을 구현할 수 있다. IEEE 802.16 호환 광대역 무선 액세스(BWA) 네트워크는 일반적으로 IEEE 802.16 표준에 대한 적합성 및 상호 운용성 시험을 통과한 제품에 대한 인증 마크인 Worldwide Interoperability for Microwave Access을 나타내는 약어인 WiMAX 네트워크라 지칭된다. 통신 칩(1812)은 GSM(Global System for Mobile Communication), GPRS(General Packet Radio Service), UMTS(Universal Mobile Telecommunications System), HSPA(High Speed Packet Access), E-HSPA(Evolved HSPA) 또는 LTE 네트워크에 따라 동작할 수 있다. 통신 칩(1812)은 EDGE(Enhanced Data for GSM Evolution), GERAN(GSM EDGE Radio Access Network), UTRAN(Universal Terrestrial Radio Access Network) 또는 E-UTRAN(Evolved UTRAN)에 따라 동작할 수 있다. 통신 칩(1812)은 CDMA(Code Division Multiple Access), TDMA(Time Division Multiple Access), DECT(Digital Enhanced Cordless Telecommunications), EV-DO(Evolution-Data Optimized) 및 그 파생물뿐만 아니라, 3G, 4G, 5G 또는 그 이상으로 지정된 임의의 다른 무선 프로토콜에 따라 동작할 수 있다. 통신 칩(1812)은 다른 실시예에서 다른 무선 프로토콜에 따라 동작할 수 있다. 전자 장치(1800)는 무선 통신을 용이하게 하고/하거나 다른 무선 통신(예컨대, AM 또는 FM 라디오 송신)을 수신하기 위한 안테나(1822)를 포함할 수 있다.The
일부 실시예에서, 통신 칩(1812)은 전기, 광학 또는 임의의 다른 적절한 통신 프로토콜(예를 들어, 이더넷)과 같은 유선 통신을 관리할 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 통신 칩(1812)은 다수의 통신 칩을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 통신 칩(1812)은 Wi-Fi 또는 Bluetooth와 같은 단거리 무선 통신 전용일 수 있고, 제2 통신 칩(1812)은 GPS(global positioning system), EDGE, GPRS, CDMA, WiMAX, LTE, EV-DO 등과 같은 장거리 무선 통신 전용일 수 있다. 일부 실시예에서, 제1 통신 칩(1812)은 무선 통신 전용일 수 있고, 제2 통신 칩(1812)은 유선 통신 전용일 수 있다.In some embodiments, the
전자 장치(1800)는 배터리/전력 회로(1814)를 포함할 수 있다. 배터리/전력 회로(1814)는 하나 이상의 에너지 저장 장치(예를 들어, 배터리 또는 커패시터) 및/또는 전자 장치(1800)의 구성요소를 전자 장치(1800)와 분리된 에너지 소스(예를 들어, AC 라인 전원)에 결합하기 위한 회로를 포함할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 디스플레이 장치(1806)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 디스플레이 장치(1806)는 헤드 업 디스플레이, 컴퓨터 모니터, 프로젝터, 터치스크린 디스플레이, 액정 디스플레이(LCD), 발광 다이오드 디스플레이 또는 평판 패널 디스플레이와 같은 임의의 시각적 표시기를 포함할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 오디오 출력 장치(1808)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 오디오 출력 장치(1808)는 스피커, 헤드셋 또는 이어버드와 같은 가청 표시기를 생성하는 임의의 장치를 포함할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 오디오 입력 장치(1824)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 오디오 입력 장치(1824)는 마이크로폰, 마이크로폰 어레이 또는 디지털 악기(예를 들어, 악기 디지털 인터페이스(MIDI) 출력을 갖는 악기)와 같은 사운드를 나타내는 신호를 생성하는 임의의 장치를 포함할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 GPS 장치(1818)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. GPS 장치(1818)는 위성 기반 시스템과 통신할 수 있고 본 기술 분야에 알려진 바와 같이 전자 장치(1800)의 위치를 수신할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 다른 출력 장치(1810)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 다른 출력 장치(1810)의 예는 오디오 코덱, 비디오 코덱, 프린터, 다른 장치에 정보를 제공하기 위한 유선 또는 무선 송신기 또는 추가적인 저장 장치를 포함할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 다른 입력 장치(1820)(또는 앞서 설명한 바와 같이 대응하는 인터페이스 회로)를 포함할 수 있다. 다른 입력 장치(1820)의 예는 가속도계, 자이로스코프, 나침반, 이미지 캡처 장치, 키보드, 커서 제어 장치, 예컨대, 마우스, 스타일러스, 터치패드, 바코드 리더, Quick Response( QR) 코드 리더, 임의의 센서 또는 RFID(무선 주파수 식별) 리더를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 다른 입력 장치(1820)는 본 명세서에 개시된 임의의 센서 배열(100)을 포함할 수 있다.The
전자 장치(1800)는 핸드헬드 또는 모바일 전자 장치(예를 들어, 휴대폰, 스마트폰, 모바일 인터넷 장치, 음악 플레이어, 태블릿 컴퓨터, 랩톱 컴퓨터, 넷북 컴퓨터, 울트라북 컴퓨터, PDA(personal digital assistant), 울트라 모바일 개인용 컴퓨터 등), 데스크탑 전자 장치, 서버 장치 또는 다른 네트워크 컴퓨팅 구성요소, 프린터, 스캐너, 모니터, 셋톱 박스, 엔터테인먼트 제어 유닛, 차량 제어 유닛, 디지털 카메라, 디지털 비디오 레코더 또는 웨어러블 전자 장치 같은 임의의 원하는 폼 팩터를 가질 수 있다. 일부 실시예에서, 전자 장치(1800)는 데이터를 처리하는 임의의 다른 전자 장치일 수 있다.
다음 단락은 본 명세서에 개시된 실시예의 다양한 예를 제공한다.The following paragraphs provide various examples of embodiments disclosed herein.
예 1은 센서 배열을 포함하는 전자 장치이고, 이는 근접 패드 및 제1 기준 패드를 포함하는 제1 회로 층, 및 제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하는 제2 회로 층을 포함하고, 제1 회로 층은 제2 회로 층과 전자 장치의 사용자-대면 표면 사이에 있고, 제1 기준 패드는 제2 기준 패드에 전기적으로 결합되고, 제1 기준 패드는 온도 패드와 사용자-대면 표면 사이에 있다.Example 1 is an electronic device comprising a sensor arrangement, comprising a first circuit layer comprising a proximity pad and a first reference pad, and a second circuit layer comprising a second reference pad and a thermal pad, the first circuit The layer is between the second circuit layer and the user-facing surface of the electronic device, the first reference pad electrically coupled to the second reference pad, and the first reference pad between the thermal pad and the user-facing surface.
예 2는 예 1의 주제를 포함하고, 제1 기준 패드 및 제2 기준 패드가 접지에 전기적으로 결합되는 것을 추가로 명시한다.Example 2 includes the subject matter of Example 1, and further specifies that the first reference pad and the second reference pad are electrically coupled to ground.
예 3은 예 1 및 2 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 웨어러블 전자 장치임을 추가로 명시한다.Example 3 includes the subject matter of any one of Examples 1 and 2, and further specifies that the electronic device is a wearable electronic device.
예 4는 예 1 내지 3 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 헤드폰을 포함하고 센서 배열이 헤드폰에 포함됨을 추가로 명시한다.Example 4 includes the subject matter of any one of Examples 1-3, further specifying that the electronic device includes a headphone and the sensor arrangement is included in the headphone.
예 5는 예 1 내지 4 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제1 회로 층 및 제2 회로 층이 가요성 인쇄 회로 층임을 추가로 명시한다.Example 5 includes the subject matter of any one of Examples 1-4, further specifying that the first circuit layer and the second circuit layer are flexible printed circuit layers.
예 6은 예 1 내지 5 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 가요성 인쇄 회로를 포함함을 추가로 명시한다.Example 6 includes the subject matter of any one of Examples 1-5, and further specifies that the sensor arrangement includes the flexible printed circuit.
예 7은 예 1 내지 6 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 근접 패드 및 제2 기준 패드가 함께 용량성 근접도 센서의 일부임을 추가로 명시한다.Example 7 includes the subject matter of any one of Examples 1-6, further specifying that the proximity pad and the second fiducial pad together are part of a capacitive proximity sensor.
예 8은 예 1 내지 7 중 어느 하나의 주제를 포함하고,Example 8 includes the subject matter of any one of Examples 1-7;
센서 배열에 전기적으로 결합된 제어기를 더 포함한다.Further comprising a controller electrically coupled to the sensor arrangement.
예 9는 예 8의 주제를 포함하고, 또한 제어기가 센서 배열에 의해 생성된 신호에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 나타내는 신호를 생성하는 것을 추가로 명시한다.Example 9 includes the subject matter of Example 8, and further specifies that the controller generates a signal indicating whether the user has been proximate to the electronic device based on the signal generated by the sensor arrangement.
예 10은 예 8 및 9 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 근접 패드를 사용하여 근접도 정전용량 값을 생성하는 것이고 센서 배열이 온도 패드를 사용하여 온도 정전용량 값을 생성하는 것임을 추가로 명시한다.Example 10 includes the subject matter of any one of Examples 8 and 9, and adds that the sensor arrangement is to generate a proximity capacitance value using the proximity pad and the sensor arrangement is to generate a temperature capacitance value using the temperature pad specified as
예 11은 예 10의 주제를 포함하고, 제어기가 온도 정전용량 값에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 데 사용되는 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하도록 추가로 명시한다.Example 11 includes the subject matter of Example 10, further specifying that the controller adjust the baseline proximity capacitance value used to determine whether the user has been proximate to the electronic device based on the temperature capacitance value.
예 12는 예 11의 주제를 포함하고, 온도 정전용량 값에 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 온도 정전용량 값의 변화에 응답하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것을 포함함을 추가로 명시한다.Example 12 includes the subject matter of Example 11, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based on the temperature capacitance value comprises adjusting the baseline proximity capacitance value in response to a change in the temperature capacitance value further specify.
예 13은 예 11 및 12 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 사용자가 전자 장치에 근접한 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 13 includes the subject matter of any one of Examples 11 and 12, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value approximates the baseline proximity capacitance value from the proximity capacitance value when the user is indicated to be proximate to the electronic device. It further specifies that it includes setting equal to the value minus the capacitance threshold.
예 14는 예 13의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은 사용자가 전자 장치에 근접하지 않은 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 14 includes the subject matter of Example 13, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises setting the baseline proximity capacitance value equal to the proximity capacitance value when the user is indicated not to be in proximity to the electronic device. It further specifies what is included.
예 15는 센서 배열을 포함하는 전자 장치이고, 이는 근접 패드, 제1 기준 패드, 제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하고, 근접 패드는 전자 장치의 사용자-대면 표면과 제2 기준 패드 사이에 있고, 제1 기준 패드는 사용자-대면 표면과 온도 패드 사이에 있고, 센서 배열은 4개 미만의 회로 층에 포함된다.Example 15 is an electronic device comprising a sensor arrangement, comprising a proximity pad, a first reference pad, a second reference pad and a temperature pad, wherein the proximity pad is between a user-facing surface of the electronic device and the second reference pad; , the first reference pad is between the user-facing surface and the temperature pad, and the sensor array is contained in less than four circuit layers.
예 16은 예 15의 주제를 포함하고, 근접 패드 및 제1 기준 패드가 단일 회로 층에 포함되는 것을 추가로 명시한다.Example 16 includes the subject matter of Example 15, and further specifies that the proximity pad and the first reference pad are included in a single circuit layer.
예 17은 예 15 및 16 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제2 기준 패드 및 온도 패드가 단일 회로 층에 포함되는 것을 추가로 명시한다.Example 17 includes the subject matter of any one of Examples 15 and 16, and further specifies that the second reference pad and the temperature pad are included in a single circuit layer.
예 18은 예 15 내지 17 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제1 기준 패드 및 제2 기준 패드가 전기적으로 결합되는 것을 추가로 명시한다.Example 18 includes the subject matter of any one of Examples 15-17, and further specifies that the first fiducial pad and the second fiducial pad are electrically coupled.
예 19는 예 15 내지 18 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 제1 기준 패드 및 제2 기준 패드가 접지에 전기적으로 결합되는 것을 추가로 명시한다.Example 19 includes the subject matter of any one of Examples 15-18, and further specifies that the first reference pad and the second reference pad are electrically coupled to ground.
예 20은 예 15 내지 19 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 웨어러블 전자 장치임을 추가로 명시한다.Example 20 includes the subject matter of any one of Examples 15-19, and further specifies that the electronic device is a wearable electronic device.
예 21은 예 15 내지 20 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 전자 장치가 헤드폰을 포함하고 센서 배열이 헤드폰에 포함됨을 추가로 명시한다.Example 21 includes the subject matter of any one of Examples 15-20, further specifying that the electronic device includes a headphone and the sensor arrangement is included in the headphone.
예 22는 예 15 내지 20 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 가요성 인쇄 회로를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 22 includes the subject matter of any one of Examples 15-20, and further specifies that the sensor arrangement comprises a flexible printed circuit.
예 23은 예 15 내지 22 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 근접 패드 및 제2 기준 패드가 함께 용량성 근접도 센서의 일부임을 추가로 명시한다.Example 23 includes the subject matter of any one of Examples 15-22, and further specifies that the proximity pad and the second reference pad together are part of a capacitive proximity sensor.
예 24는 예 15 내지 23 중 어느 하나의 주제를 포함하고,Example 24 includes the subject matter of any one of Examples 15-23,
센서 배열에 전기적으로 결합된 제어기를 더 포함한다.Further comprising a controller electrically coupled to the sensor arrangement.
예 25는 예 24의 주제를 포함하고, 또한 제어기가 센서 배열에 의해 생성된 신호에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 나타내는 신호를 생성하는 것을 추가로 명시한다.Example 25 includes the subject matter of Example 24, and further specifies that the controller generates a signal indicating whether the user has been proximate to the electronic device based on the signal generated by the sensor arrangement.
예 26은 예 24 및 25 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 센서 배열이 근접 패드를 사용하여 근접도 정전용량 값을 생성하는 것이고 센서 배열이 온도 패드를 사용하여 온도 정전용량 값을 생성하는 것임을 추가로 명시한다.Example 26 includes the subject matter of any one of Examples 24 and 25, and adds that the sensor arrangement is to generate a proximity capacitance value using the proximity pad and the sensor arrangement is to generate a temperature capacitance value using the temperature pad specified as
예 27은 예 26의 주제를 포함하고, 제어기가 온도 정전용량 값에 기초하여 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 데 사용되는 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하도록 추가로 명시한다.Example 27 includes the subject matter of Example 26, further specifying that the controller adjust the baseline proximity capacitance value used to determine whether the user has been proximate to the electronic device based on the temperature capacitance value.
예 28은 예 27의 주제를 포함하고, 온도 정전용량 값에 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 온도 정전용량 값의 변화에 응답하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것을 포함함을 추가로 명시한다.Example 28 includes the subject matter of Example 27, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based on the temperature capacitance value comprises adjusting the baseline proximity capacitance value in response to a change in the temperature capacitance value further specify.
예 29는 예 27 및 28 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것이 사용자가 전자 장치에 근접한 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 29 includes the subject matter of any one of Examples 27 and 28, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value approximates the baseline proximity capacitance value from the proximity capacitance value when the user is indicated to be proximate to the electronic device. It further specifies that it includes setting equal to the value minus the capacitance threshold.
예 30은 예 29의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 것은 사용자가 전자 장치에 근접하지 않은 것으로 표시될 때 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 것을 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 30 includes the subject matter of Example 29, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises setting the baseline proximity capacitance value equal to the proximity capacitance value when the user is indicated not to be proximate to the electronic device. It further specifies what is included.
예 31은 전자 장치에 대한 근접도 검출 방법이며, 온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계; 및 사용자가 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 단계를 포함하고, 사용자가 전자 장치에 근접한지 여부를 결정하는 단계는 근접도 정전용량 값 및 기준선 근접도 정전용량 값에 적어도 부분적으로 기초하여 임계값 비교를 수행하는 단계를 포함한다.Example 31 is a method of detecting proximity for an electronic device, comprising: adjusting a baseline proximity capacitance value based at least in part on temperature data; and determining whether the user is proximate to the electronic device, wherein determining whether the user is proximate to the electronic device comprises a threshold value based at least in part on the proximity capacitance value and the baseline proximity capacitance value performing the comparison.
예 32는 예 31의 주제를 포함하고, 온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계가 온도 변화를 식별하는 단계; 및 온도 변화를 식별하는 단계에 응답하여, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 32 includes the subject matter of Example 31, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based at least in part on the temperature data comprises: identifying a temperature change; and in response to identifying the temperature change, adjusting the baseline proximity capacitance value.
예 33은 예 31 및 32 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계가 사용자가 현재 전자 장치에 근접하고 있는지 여부의 표시기에 적어도 부분적으로 기초하는 것을 추가로 명시한다.Example 33 includes the subject matter of any one of Examples 31 and 32, and further specifies that adjusting the baseline proximity capacitance value is based at least in part on the indicator of whether the user is currently proximate to the electronic device. .
예 34는 예 33의 주제를 포함하며, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계는 표시기가 사용자가 현재 전자 장치에 근접해 있음을 나타내는 경우, 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값에서 근접도 정전용량 임계값을 뺀 값과 동일하게 설정하는 단계를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 34 includes the subject matter of Example 33, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value comprises: if the indicator indicates that the user is currently in proximity to the electronic device, the baseline proximity capacitance value is approximated from the proximity capacitance value. It further specifies that also includes the step of setting equal to the value minus the capacitance threshold.
예 35는 예 33 및 34 중 어느 하나의 주제를 포함하고, 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계가 표시기가 사용자가 현재 전자 장치에 근접해 있지 않음을 나타내는 경우, 기준선 근접도 정전용량 값을 근접도 정전용량 값과 동일하게 설정하는 단계를 포함하는 것을 추가로 명시한다.Example 35 includes the subject matter of any one of Examples 33 and 34, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value closes the baseline proximity capacitance value when the indicator indicates that the user is not currently in proximity to the electronic device. It is further specified that also includes the step of setting equal to the capacitance value.
Claims (20)
센서 배열을 포함하고, 상기 센서 배열은
근접 패드 및 제1 기준 패드를 포함하는 제1 회로 층, 및
제2 기준 패드 및 온도 패드를 포함하는 제2 회로 층을 포함하고,
상기 제1 회로 층은 상기 제2 회로 층과 상기 전자 장치의 사용자-대면 표면 사이에 있고, 상기 제1 기준 패드는 상기 제2 기준 패드에 전기적으로 결합되고, 상기 제1 기준 패드는 상기 온도 패드와 사용자-대면 표면 사이에 있는, 전자 장치.is an electronic device,
a sensor arrangement, wherein the sensor arrangement comprises:
a first circuit layer comprising a proximity pad and a first reference pad, and
a second circuit layer comprising a second reference pad and a thermal pad;
the first circuit layer is between the second circuit layer and a user-facing surface of the electronic device, the first reference pad electrically coupled to the second reference pad, the first reference pad being the thermal pad and the user-facing surface, the electronic device.
센서 배열을 포함하고, 상기 센서 배열은
근접 패드,
제1 기준 패드,
제2 기준 패드, 및
온도 패드를 포함하고,
상기 근접 패드는 상기 전자 장치의 사용자-대면 표면과 상기 제2 기준 패드 사이에 있고, 상기 제1 기준 패드는 상기 사용자-대면 표면과 상기 온도 패드 사이에 있고, 상기 센서 배열은 4개 미만의 회로 층에 포함되는, 전자 장치.is an electronic device,
a sensor arrangement, wherein the sensor arrangement comprises:
proximity pad,
a first reference pad;
a second reference pad, and
comprising a temperature pad;
wherein the proximity pad is between a user-facing surface of the electronic device and the second reference pad, the first reference pad is between the user-facing surface and the temperature pad, and the sensor arrangement is less than four circuits. An electronic device contained in a layer.
상기 센서 배열에 전기적으로 결합된 제어기를 더 포함하는, 전자 장치.9. The method of claim 8,
and a controller electrically coupled to the sensor arrangement.
온도 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계; 및
사용자가 상기 전자 장치에 근접했는지 여부를 결정하는 단계를 포함하고, 상기 사용자가 상기 전자 장치에 근접한지 여부를 결정하는 단계는 근접도 정전용량 값 및 상기 기준선 근접도 정전용량 값에 적어도 부분적으로 기초하여 임계값 비교를 수행하는 단계를 포함하는, 방법.A method for detecting proximity to an electronic device,
adjusting the baseline proximity capacitance value based at least in part on the temperature data; and
determining whether a user is proximate to the electronic device, wherein determining whether the user is proximate to the electronic device is based at least in part on a proximity capacitance value and the baseline proximity capacitance value to perform a threshold comparison.
온도 변화를 식별하는 단계; 및
상기 온도 변화를 식별하는 단계에 응답하여, 상기 기준선 근접도 정전용량 값을 조절하는 단계를 포함하는, 방법.19. The method of claim 18, wherein adjusting the baseline proximity capacitance value based at least in part on temperature data comprises:
identifying a temperature change; and
in response to identifying the temperature change, adjusting the baseline proximity capacitance value.
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