KR20210108083A - Apparatus for cleaning of smear using plasma - Google Patents

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KR20210108083A
KR20210108083A KR1020200022859A KR20200022859A KR20210108083A KR 20210108083 A KR20210108083 A KR 20210108083A KR 1020200022859 A KR1020200022859 A KR 1020200022859A KR 20200022859 A KR20200022859 A KR 20200022859A KR 20210108083 A KR20210108083 A KR 20210108083A
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최기철
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Abstract

The present invention relates to a desmear cleaning apparatus using plasma, which comprises: a base plate installed on the inner bottom surface of a chamber of a plasma cleaning facility; an anode electrode plate fixed to the upper surface of the base plate to be spaced apart by a bracket and connected to a power supply means; a cathode electrode plate supported and fixed by a support stand erected in an insulating state at the four corners of the anode electrode plate and connected to the power supply means; a plurality of first and second electrode rods having one end fitted to the anode electrode plate, having the other end fitted to the cathode electrode plate, disposed to allow the two electrode plates to be alternately and electrically connected to each other through an insulating member, having the hollow inner part to allow coolant or thermal medium to flow therethrough, and installed at a certain distance from each other to input and output an object to be treated; and connection pipes connecting the ends of the first and second electrode rods to the same poles, respectively. Accordingly, occurrence of cracks in a portion where the electrode rod and the electrode plate are connected is eliminated, maintenance is facilitated due to ease in replacing parts, and temperature uniformity and uniformity of an applied current are maintained inside the chamber, thereby providing an advantage of significantly increasing processing quality by plasma.

Description

디스미어 플라즈마 크리닝 장치{APPARATUS FOR CLEANING OF SMEAR USING PLASMA}Desmear plasma cleaning apparatus {APPARATUS FOR CLEANING OF SMEAR USING PLASMA}

본 발명은 디스미어 플라즈마 크리닝 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 인쇄회로기판의 초미세 패턴화에 따른 인쇄회로기판 홀 제조시 부가적으로 발생하는 유기질 불순물, 수분 및 각종 이물질들인 스미어를 효율적으로 제거하여 홀의 비등방성 에칭특성을 향상시킴은 물론 구조가 간단하여 교체가 용이한 형태의 디스미어 플라즈마 크리닝 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a desmear plasma cleaning apparatus, and more particularly, efficiently removes smears, which are organic impurities, moisture and various foreign substances, which are additionally generated during the manufacture of printed circuit board holes according to ultra-fine patterning of printed circuit boards. It relates to a desmear plasma cleaning device of a type that not only improves the anisotropic etching characteristics of the hole, but also has a simple structure and is easy to replace.

최근 국내외에서 인쇄회로기판(PRINTED CIRCUIT BOARD)(이하 'PCB'라 함) 제조기술의 급진전에 힘입어 초고다층 PCB 수요가 늘어나고 있고, 이에 따라 PCB 제조업체별로 생산품목이 빌드업, CSP(CHIP SIZE PACKAGING), 멀티칩모듈, 다층연성PCB 등으로 특화되어 가고 있다.Recently, the demand for ultra-high multi-layer PCBs is increasing thanks to the rapid development of printed circuit board (PRINTED CIRCUIT BOARD) (hereinafter referred to as 'PCB') manufacturing technology at home and abroad. ), multi-chip modules, and multi-layer flexible PCBs.

이러한 PCB(연성PCB, 강성PCB, 하이브리드PCB 등도 포함) 제조기술의 발달과 동시에 PCB홀인 마이크로 비아홀(MICRO VIA HOLE)을 요구하는 PCB의 수요가 급증하고 있는데, 상기 홀을 제조할 때에 그 홀 내부의 유기불순물, 잔존 수분 및 잔사(SMEAR:스미어) 등을 홀 도금전에 처리하기 위한 기술은 PCB의 최종 품질에 큰 영향을 미치는데도 불구하고 현재 매우 낙후되어 있는 실정이다.Simultaneously with the development of such PCB (including flexible PCB, rigid PCB, hybrid PCB, etc.) manufacturing technology, the demand for a PCB that requires a micro-via hole, which is a PCB hole, is rapidly increasing. The technology for treating organic impurities, residual moisture, and residues (SMEAR: smear) before hole plating has a great influence on the final quality of the PCB, but is currently very outdated.

PCB의 홀 세정을 위한 전통적인 방식으로 화학약품을 사용하는 습식설비가 있으나 이는 장비가 거대하고 습식 사용에 따른 경제적 환경적 문제점이 있음은 물론 공정진행을 위한 정확한 제어 및 초미세 가공이 불가능하다는 단점이 있다.There is a wet facility that uses chemicals as a traditional method for cleaning PCB holes, but this has the disadvantage that the equipment is huge and there are economic and environmental problems due to wet use, as well as the fact that accurate control and ultra-fine processing for the process are impossible. have.

최근에는 환경친화적이면서 경제적이고 스미어(잔사) 제거 능력이 우수하고 PCB 홀의 미세화로 경박단소화를 거듭하고 있는 실정에 적합한 플라즈마를 이용한 PCB 홀 세정기술이 활성화되고 있다.Recently, a PCB hole cleaning technology using plasma has been activated, which is environmentally friendly and economical, has excellent smear (residue) removal ability, and is suitable for the situation where PCB holes are becoming lighter and thinner due to miniaturization of PCB holes.

도 1의 (a),(b)는 그러한 세정설비를 개략적으로 예시한 것으로, 플라즈마 처리가 가능한 챔버(12)를 갖는 본체(10)가 마련되고, 이 챔버(12) 내부에는 다수의 전극(14)이 마련되어 처리대상물, 즉 PCB(20)를 상기 전극(14) 사이에 위치시킨 후 이 전극(14)에 전압을 인가하여 챔버(12) 내부의 반응가스를 이용하여 플라즈마를 발생시키고 발생된 플라즈마를 이용하여 PCB 홀을 세정하도록 된 것이다.1 (a) and (b) schematically illustrate such a cleaning facility, a main body 10 having a chamber 12 capable of plasma processing is provided, and a plurality of electrodes ( 14) is provided and the processing object, that is, the PCB 20, is placed between the electrodes 14, and then a voltage is applied to the electrode 14 to generate plasma using the reaction gas inside the chamber 12, and the generated plasma is generated. It is designed to clean the PCB hole using plasma.

그런데, 이러한 세정설비에 사용되는 전극(14)은 사각막대형상의 것으로 도 2의 도시와 같이, 캐소드전극판(CATHODE ELECTRODE PLATE)(30)과 애노드전극판(ANODE ELECTRODE PLATE)(40) 사이에 일정간격을 두고, 이를테면 제1열은 캐소드전극판(30)과는 절연된 상태로 애노드전극판(40)과만 연결되고, 제2열은 애노드전극판(40)과는 절연된 상태로 캐소드전극판(40)과만 연결되며, 제3열은 제1열과 동일하게 배열되되 그 중 어느 하나의 전극(미도시)이 상기 제1열 중 어느 하나의 전극(14)과 연결되고, 제4열은 제2열과 동일하게 배열되되 그 중 어느 하나의 전극(미도시)이 상기 제2열 중 어느 하나의 전극과 연결되는 형태로 다열 배열되었으며, 이때 각 전극과 캐소드전극판(30) 혹은 애노드전극판(40) 간의 연결은 용접방식, 특히 알루미늄 용접에 의해 이루어졌다.By the way, the electrode 14 used in this cleaning facility is in the shape of a square bar, and as shown in FIG. 2 , between the cathode electrode plate 30 and the anode electrode plate 40 . At a certain interval, for example, the first column is insulated from the cathode electrode plate 30 and is connected only to the anode electrode plate 40 , and the second column is the cathode electrode in a state insulated from the anode electrode plate 40 . It is connected only to the plate 40, and the third column is arranged in the same manner as in the first column, but any one of the electrodes (not shown) is connected to any one of the electrodes 14 in the first column, and the fourth column is It is arranged in the same manner as in the second column, but one electrode (not shown) is arranged in multiple rows in a form connected to any one electrode in the second column, and in this case, each electrode and the cathode electrode plate 30 or the anode electrode plate The connection between (40) was made by a welding method, in particular, aluminum welding.

따라서, 고온처리되는 설비의 특성상 용접부(50)의 크랙발생이 쉽고, 이와 같은 크랙에 의한 전극의 불량 발생시 불량된 전극을 교체하기 위해서는 용접부(50)를 해체하여야 하는데 이 작업이 매우 어려워 교체가 용이치 않은 단점을 가진다.Therefore, it is easy to crack the welding part 50 due to the characteristics of the high-temperature processing facility, and in order to replace the defective electrode, the welding part 50 must be dismantled, which is very difficult to replace. It has an inconsequential drawback.

뿐만 아니라, 용접부(50)를 통한 전류밀도의 불균일로 인해 플라즈마 처리밀도가 균일하지 못하고, 이는 지그(60)에 수납된 처리대상물의 처리품위를 떨어뜨리는 요인으로 작용하게 된다.In addition, the plasma processing density is not uniform due to the non-uniformity of the current density through the welding part 50 , which acts as a factor of lowering the processing quality of the processing object accommodated in the jig 60 .

본 발명은 상술한 바와 같은 종래 기술이 갖는 제반 문제점을 감안하여 이를 해결하고자 창출한 것으로, PCB 홀의 처리품위를 높이기 위해 사용되는 플라즈마 세정설비의 전극 구조를 개선하여 설치조립 및 부분 교체가 용이하고, 전류의 균일한 인가가 가능하여 플라즈마 처리밀도를 균일하게 유지시킴으로써 PCB 홀 내부에 잔존하는 유기질 불순물, 수순 및 각종 이물질들인 스미어의 세정, 에칭 등의 처리품위를 급격히 향상시킬 수 있도록 한 디스미어 플라즈마 크리닝 장치를 제공한다.The present invention was created in consideration of the various problems of the prior art as described above and was created to improve the electrode structure of the plasma cleaning facility used to increase the processing quality of the PCB hole, so that installation and assembly and partial replacement are easy, Desmear plasma cleaning that enables the uniform application of current and maintains the plasma processing density uniformly to rapidly improve the processing quality such as cleaning and etching of smear, which are organic impurities, procedures, and various foreign substances remaining inside the PCB hole provide the device.

본 발명은 상기한 기술적 과제를 달성하기 위하여, 플라즈마 세정설비의 챔버 내부 바닥면에 설치된 베이스플레이트와; 상기 베이스플레이트의 상면에 브라켓에 의해 이격되게 고정되고 전원공급수단과 연결된 애노드전극판과; 상기 애노드전극판의 네모서리에 절연상태로 입설된 지지대에 의해 지지고정되고 전원공급수단과 연결된 캐소드전극판과; 일단은 상기 애노드전극판에 피팅되고 타단은 상기 캐소드전극판에 피팅되되 절연부재를 통해 두개의 전극판을 서로 교차 통전되게 배설되고 내부는 냉각수 혹은 열매체가 관류되도록 중공되며 피처리물이 인출입되게 서로 일정간격을 갖고 이격설치된 다수의 제1,2전극봉과; 상기 제1,2전극봉의 단부를 같은 극끼리 연결하는 연결관을 포함하는 디스미어 플라즈마 크리닝 장치를 포함한다.The present invention, in order to achieve the above technical problem, a base plate installed on the inner bottom surface of the chamber of the plasma cleaning facility; an anode electrode plate fixed to the upper surface of the base plate to be spaced apart by a bracket and connected to a power supply means; a cathode electrode plate supported and fixed by a support stand erected in an insulating state at the four corners of the anode electrode plate and connected to a power supply means; One end is fitted to the anode electrode plate and the other end is fitted to the cathode electrode plate, and the two electrode plates are arranged to be energized with each other through an insulating member. a plurality of first and second electrodes spaced apart from each other and spaced apart from each other; and a desmear plasma cleaning device including a connecting pipe connecting the ends of the first and second electrodes to the same poles.

본 발명에 따른 디스미어 플라즈마 크리닝 장치는 전극봉과 전극판이 연결되는 부위에서의 플라즈마 에칭에 의한 크랙 발생이 없어지고, 부분 교체가 쉬워 유지관리가 용이함은 물론 챔버 내부에서의 온도 균일성, 인가전류의 균일성을 유지하므로 플라즈마에 의한 처리품위가 급격히 향상되는 효과를 갖는다.The desmear plasma cleaning apparatus according to the present invention eliminates cracks caused by plasma etching in the region where the electrode and the electrode plate are connected, and is easy to replace and maintain, as well as temperature uniformity in the chamber, and Since the uniformity is maintained, the quality of treatment by plasma is rapidly improved.

도 1은 일반적인 플라즈마 세정장치를 보인 예시도이다.
도 2는 종래 기술에 따른 디스미어 플라즈마 크리닝 장치의 예시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 디스미어 플라즈마 크리닝 장치의 설치상태를 보인 정면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 디스미어 플라즈마 크리닝 장치의 하측 요부사시도이다.
도 5는 본 발명에 따른 디스미어 플라즈마 크리닝 장치의 상측 요부사시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 디스미어 플라즈마 크리닝 장치의 배열예를 보인 예시도이다.
1 is an exemplary view showing a general plasma cleaning apparatus.
2 is an exemplary diagram of a desmear plasma cleaning apparatus according to the prior art.
Figure 3 is a front view showing the installation state of the desmear plasma cleaning apparatus according to the present invention.
4 is a lower perspective view of the desmear plasma cleaning apparatus according to the present invention.
5 is an upper perspective view of the desmear plasma cleaning apparatus according to the present invention.
6 is an exemplary view showing an arrangement example of the desmear plasma cleaning apparatus according to the present invention.

이하 설명되는 본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고, 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에서 상세하게 설명하고자 한다.The present invention described below can apply various transformations and can have various embodiments, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description.

그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and it should be understood to include all modifications, equivalents and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, but one or more other features It should be understood that this does not preclude the existence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

또한 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 구분하여 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Also, terms such as first, second, etc. may be used to distinguish and describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

또한 본 출원에서 적어도 2개의 상이한 실시예들이 각각 기재되어 있을 경우, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 별다른 기재가 없더라도 각 실시예들은 구성요소의 전부 또는 일부를 상호 병합 및 혼용하여 사용할 수 있다.In addition, when at least two different embodiments are described in the present application, all or part of the components may be used by merging and mixing with each other even if there is no particular description within the scope not departing from the technical spirit of the present invention. .

도 3은 본 발명에 따른 전극 조립체의 설치상태를 보인 정면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 전극 조립체의 하측 요부사시도이며, 도 5는 본 발명에 따른 전극 조립체의 상측 요부사시도이다.3 is a front view showing an installation state of the electrode assembly according to the present invention, FIG. 4 is a lower perspective view of the electrode assembly according to the present invention, and FIG. 5 is a main upper perspective view of the electrode assembly according to the present invention.

도 3 내지 도 5에서와 같이, 본 발명 전극 조립체는 플라즈마를 발생시키기 위한 다수의 전극이 봉형상으로 형성된다.3 to 5 , in the electrode assembly of the present invention, a plurality of electrodes for generating plasma are formed in a rod shape.

즉, 상기 전극은 애노드전극판(100)에 연결되는 제1전극봉(110)과, 캐소드전극판(200)에 연결되는 제2전극봉(210)으로 구별된다.That is, the electrode is divided into a first electrode 110 connected to the anode electrode plate 100 and a second electrode electrode 210 connected to the cathode electrode plate 200 .

이때, 이들 제1,2전극봉(110,210)은 피팅(FITTING), 즉 끼워맞추기 형태로 각각 애노드전극판(100)과 캐소드전극판(200)에 각각 연결된다.At this time, these first and second electrodes 110 and 210 are respectively connected to the anode electrode plate 100 and the cathode electrode plate 200 in the form of FITTING, that is, fitting.

상기 피팅구조는 도 4의 확대도시된 바에서와 같이, 애노드전극판(100)의 일부가 천공되고, 이 천공된 부위에 전기도전성이 우수한 부시(BUSH)(120)가 끼워지며, 이 부시(120)에는 제1전극봉(110)이 끼워져 조립되는 형태를 갖는다.In the fitting structure, as shown in the enlarged view of FIG. 4 , a part of the anode electrode plate 100 is perforated, and a bush 120 having excellent electrical conductivity is inserted into the perforated portion, and the bush ( The first electrode 110 is inserted into the 120 and has a form in which it is assembled.

물론, 이러한 구조는 캐소드전극판(200)에서도 동일하게 이루어진다.Of course, this structure is the same in the cathode electrode plate 200 .

뿐만 아니라, 상기 제1,2전극봉(110,120)은 내부가 비어 있는 중공형태로 형성되고, 이 중공부를 통해 냉각수가 관류될 수 있도록 구성된다.In addition, the first and second electrodes 110 and 120 are formed in a hollow shape with an empty interior, and are configured so that cooling water can flow through the hollow portion.

공급되는 냉각수는 처리대상물의 특성에 따라 달리 설정될 수 있으나 대략 20~90℃의 온도분포를 가짐이 바람직하며, 반드시 냉각수일 필요는 없고 냉각에 용이한 열매체면 되고, 이러한 냉각수 혹은 열매체를 사용함으로써 전원공급수단이 가 해야할 에너지를 절감시키거나 혹은 온도제어가 용이하게 된다.The supplied cooling water may be set differently depending on the characteristics of the object to be treated, but it is preferable to have a temperature distribution of about 20 to 90° C. Energy to be applied by the power supply means is reduced or temperature control is facilitated.

이를 위해, 상기 제1,2전극봉(110,210)의 상단 및 하단은 애노드전극판(100) 및 캐소드전극판(200)를 관통한 다음 연결관(300)에 의해 연결된다.To this end, the upper and lower ends of the first and second electrodes 110 and 210 pass through the anode electrode plate 100 and the cathode electrode plate 200 , and then are connected by a connector 300 .

이때, 상기 연결관(300)은 유니언결합되게 설치됨이 바람직하며, 제1전극봉(110)은 제1전극봉(110)들 끼리, 제2전극봉(210)은 제2전극봉(210)들 끼리만 서로 연결하여 연통시키게 된다.At this time, it is preferable that the connection pipe 300 is installed to be union-coupled, and the first electrode 110 is connected only between the first electrodes 110 , and the second electrode 210 connects only the second electrodes 210 with each other. to connect it.

따라서, 도시상 최전면에 배열된 것으로 설명된 제1열에서는 상기 연결관(300)이 수평방향으로 제1전극봉(110)들을 연결하고 있고(제2,3,4,5,n열 모두 동일), 각 행들사이에서는 한 행을 건너 동일한 전극판에 연결된 전극봉들끼리 연결하도록 상기 연결관(300)이 수직방향으로 연결설치된다.Accordingly, in the first column, which is described as being arranged on the front side of the figure, the connecting tube 300 connects the first electrode rods 110 in the horizontal direction (the second, third, fourth, fifth, and n columns are all the same) ), the connecting pipe 300 is vertically connected to each other so that the electrodes connected to the same electrode plate are connected to each other across one row.

그리고, 상기 애노드전극판(100)과 캐소드전극판(200)은 기존과 같이 모두 판상의 전극으로서 상부에는 캐소드가 하부에는 애노드가 각각 전원공급수단과 소켓으로 연결설치된다.In addition, the anode electrode plate 100 and the cathode electrode plate 200 are both plate-shaped electrodes, as in the prior art, with a cathode on the upper part and an anode on the lower part connected to a power supply means and a socket, respectively.

또한, 상기 제1,2전극봉(110,210)은 다열 다행으로 배열되는데 이를테면, 최전면 제1열은 제1전극봉(110)들이 배열되고 제2열은 제2전극봉(210)들로 배열되며 제3열은 제1전극봉(110), 제4열은 제2전극봉(210)으로 배열되는 형태를 가지면서 제n열까지 배열된다.In addition, the first and second electrodes 110 and 210 are arranged in multiple rows, for example, the first electrode 110 is arranged in the frontmost row, the first electrode 110 is arranged in the second row, and the second electrode 210 is arranged in a third row. The column is arranged up to the nth column while the first electrode 110 and the fourth column are arranged as the second electrode 210 .

따라서, 각 행들(제1행부터 제n행까지)은 제1전극봉(110)과 제2전극봉(210)이 교대로 교차되면서 배열되게 된다.Accordingly, each row (from the first row to the n-th row) is arranged with the first electrode 110 and the second electrode 210 alternately crossed.

한편, 상기 제1,2전극봉(110,210)들 각각의 사이에는 절연부재(410)가 설치되는데 상기 절연부재(410)는 대략 'ㅗ'형상을 갖고 애노드전극판(100) 및 캐소드전극판(200)의 표면에 부착설치되는 형태로 구비된다.On the other hand, an insulating member 410 is installed between each of the first and second electrode rods 110 and 210. The insulating member 410 has an approximately 'ㅗ' shape and has an anode electrode plate 100 and a cathode electrode plate 200. ) is provided in the form of being attached to the surface of the

이 절연부재(410)는 절연성이 우수한 테프론 소재로 형성됨이 특히 바람직하며, 피처리물(PCB)이 수납되는 지그(JIG)(400)가 안착지지되는 부재이다.The insulating member 410 is particularly preferably made of a Teflon material having excellent insulation, and is a member on which a jig (JIG) 400 in which the PCB is accommodated is seated and supported.

즉, 상기 지그(400)는 통전되지 않아야 하므로 각 전극봉(110,210)으로부터 절연되어야 하는데 이를 실현시키기 위해 절연부재(410)가 도입된 것이다.That is, since the jig 400 should not be energized, it should be insulated from the respective electrode rods 110 and 210 . In order to realize this, the insulating member 410 is introduced.

이때, 상기 지그(400)는 상기 절연부재(410)의 돌출된 상단에 그 상,하단면에 형성된 요입부가 끼워진 채 슬라이딩되면서 인출입되는 형태로 구비된다.At this time, the jig 400 is provided in a form in which the protruding upper end of the insulating member 410 slides in and out while the concave portions formed on the upper and lower end surfaces thereof are fitted.

그리고, 상기 애노드전극판(100)과 캐소드전극판(200)은 그 네 모서리에 구비된 지지대(500)에 의해 연결지지되게 설치된다.In addition, the anode electrode plate 100 and the cathode electrode plate 200 are installed to be connected and supported by the supports 500 provided at the four corners.

이를 위해, 상기 지지대(500)의 각 전극판 연결부위도 절연되어야 하는데 이때에도 상술한 테프론 소재의 절연부재(510)가 사용됨이 바람직하다.To this end, each electrode plate connection portion of the support 500 must also be insulated. Even in this case, the insulating member 510 made of Teflon material is preferably used.

아울러, 상기 애노드전극판(100)은 베이스플레이트(600)에 고정되는데 그 고정구조는 애노드전극판(100)의 하단면과 베이스플레이트(600)의 상단면을 연결하는 'ㄱ' 내지 'ㄴ' 혹은 'ㅗ'형상의 브라켓(620)에 의해 연결 고정된다.In addition, the anode electrode plate 100 is fixed to the base plate 600 and the fixing structure is 'a' to 'b' connecting the lower surface of the anode electrode plate 100 and the upper surface of the base plate 600 . Alternatively, it is connected and fixed by the 'ㅗ'-shaped bracket 620 .

이때에도, 애노드전극판(100)으로부터 상기 베이스플레이트(600)의 일부를 절연시켜야 하는데 이를 위해 상기 베이스플레이트(600)의 일부는 상기 절연부재(410,510)과 동일한 소재의 절연부재(610)를 통해 사각띠 형태로 절연됨이 바람직하다.Even at this time, it is necessary to insulate a part of the base plate 600 from the anode electrode plate 100. To this end, a part of the base plate 600 is made of the same material as the insulating members 410 and 510 through the insulating member 610. It is preferable to insulate in the form of a square band.

나아가, 도 6은 본 발명에 따른 전극봉의 배열예를 보인 예시도로서, 어느 하나의 전극봉을 중심으로 그 전,후,좌,우가 다른 극을 갖는 전극봉으로 교차배열, 즉 둘러싸이는 형태인 도 6의 (a)에서와 같이 배열될 수도 있고, 상술하였던 바와 같이 열과 행을 따라 서로 다른 극이 교차 배열된 도 6의 (b)와 같은 형태를 가질 수도 있다.Further, FIG. 6 is an exemplary view showing an example of the arrangement of the electrode according to the present invention, in which the front, rear, left, and right sides of any one electrode are cross-arranged, that is, surrounded by electrode rods having different poles. It may be arranged as in (a), or as described above, it may have a form as in (b) of FIG. 6 in which different poles are cross-arranged along columns and rows.

이러한 구성으로 이루어진 본 발명의 작동관계는 다음과 같다.The operational relationship of the present invention having such a configuration is as follows.

먼저, 처리대상물을 각 지그(400)에 장착한 상태에서 상기 지그(400)를 제1,2전극봉(110,210) 사이의 공간으로 밀어 넣는다.First, the jig 400 is pushed into the space between the first and second electrodes 110 and 210 in a state in which the object to be treated is mounted on each jig 400 .

이렇게 하여 처리대상물을 수납하게 되면, 작업자는 도어를 닫아 챔버(도 1의 '12')를 밀폐시킨다.When the object to be treated is received in this way, the operator closes the door to seal the chamber ('12' in FIG. 1).

이후, 전원공급수단을 통해 전원을 공급하게 되면 이와 소켓으로 연결된 애노드전극판(100) 및 캐소드전극판(200)에는 각각 양극과 음극이 인가된다.Thereafter, when power is supplied through the power supply means, the anode and the cathode are respectively applied to the anode electrode plate 100 and the cathode electrode plate 200 connected to the socket.

이때, 각 전극판에 일단이 연결된 제1전극봉(110)과 제2전극봉(210) 사이에서는 방전이 일어나면서 챔버(12) 내부에 장입되어 있던 공기, 아르곤, 질소, CF4, 산소 등의 반응가스를 해리시켜 플라즈마를 발생시키게 된다.At this time, a discharge occurs between the first electrode 110 and the second electrode 210, one end of which is connected to each electrode plate, and a reactive gas such as air, argon, nitrogen, CF4, oxygen, etc. charged in the chamber 12 dissociates to generate plasma.

발생된 플라즈마는 각 지그(400)에 실장되어 있는 피처리물의 표면에 조사되고, 이 과정을 통해 피처리물, 예컨대 PCB의 홀(HOLE)에 잔류되어 있던 스미어가 세정 제거되게 되며, 또한 PCB의 표면이 세정됨과 동시에 필요부위가 에칭처리되게The generated plasma is irradiated to the surface of the target object mounted on each jig 400, and through this process, the smear remaining in the target object, for example, a hole (HOLE) of the PCB, is cleaned and removed, and also As the surface is cleaned, the necessary parts are etched at the same time.

된다.do.

플라즈마 처리가 완료되면 전원을 오프시킨 상태에서 도어를 개방하고, 각 지그(400)를 챔버(12)로부터 인출하게 되면 목적하는 바를 달성하게 된다.When the plasma treatment is completed, the door is opened in a state in which the power is turned off, and each jig 400 is drawn out from the chamber 12 to achieve the desired purpose.

그런데, 만약 전극봉중 어느 하나가 손상되게 되면 사용하는 해당 전극봉의 피팅고정된 상태를 해제하기만 하면 해당 전극봉을 손쉽게 교체할 수 있게 된다.However, if any one of the electrodes is damaged, it is possible to easily replace the corresponding electrode by simply releasing the fixed state of the fitting of the corresponding electrode being used.

즉, 교체하고자 하는 전극봉의 상단 및 하단에 유니언 결합된 연결관(300)을 해체한 후 애노드전극판(100) 및 캐소드전극판(200)에 각각 끼워 결합되어 있는 교체대상 전극봉을 빼내기만 하면 손쉬운 전극봉의 교체가 가능하게 된다.That is, after dismantling the connection tube 300 that is union-coupled to the upper and lower ends of the electrode to be replaced, the anode electrode plate 100 and the cathode electrode plate 200, respectively, are inserted into each of the electrodes to be replaced. It becomes possible to replace the electrode rod.

뿐만 아니라, 플라즈마 처리시 제1,2전극봉(110,210)의 중공부를 통해서는 냉각수 혹은 열매체가 처리대상물의 특성에 대응되는 온도를 유지한 채 관류되기 때문에 챔버(12) 내부에서의 온도 균일을 단시간에 달성할 수 있게 되고, 이는 플라즈마의 처리온도를 균일하게 유지하게 되므로 대상물의 처리품위를 극대화시킬 수 있게 된다.In addition, since the cooling water or heating medium flows through the hollow portions of the first and second electrodes 110 and 210 during plasma treatment while maintaining the temperature corresponding to the characteristics of the object to be treated, uniform temperature within the chamber 12 is achieved in a short time. This can be achieved, and since the treatment temperature of the plasma is maintained uniformly, the processing quality of the object can be maximized.

나아가, 제1,2전극봉(110,210)은 용접 고정이 아닌 피팅방식의 고정구조를 갖추고 있으므로 용접전류의 특성이 균일하게되고, 피팅부위에서의 크랙발생이 없어지게 되어 그 사용수명이 연장된다.Furthermore, since the first and second electrodes 110 and 210 have a fixing structure of a fitting type rather than a welding fixing, the characteristics of the welding current are uniform, and cracks in the fitting portion are eliminated, thereby extending the service life.

이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 전극봉과 전극판이 연결되는 부위에서의 플라즈마 에칭에 의한 크랙 발생이 없어지고, 부분 교체가 쉬워 유지관리가 용이함은 물론 챔버 내부에서의 온도 균일성, 인가전류의 균일성을 유지하므로 플라즈마에 의한 처리품위가 급격히 향상되는 장점을 제공한다.As described in detail above, cracks caused by plasma etching are eliminated at the portion where the electrode and the electrode plate are connected, and parts are easily replaced, which facilitates maintenance as well as temperature uniformity and uniformity of applied current inside the chamber. It provides the advantage of rapidly improving the processing quality by plasma.

한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.On the other hand, the embodiments disclosed in the drawings are merely presented as specific examples to aid understanding, and are not intended to limit the scope of the present invention. It will be apparent to those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains that other modifications based on the technical spirit of the present invention can be implemented in addition to the embodiments disclosed herein.

100 : 애노드전극판 110 : 제1전극봉
120 : 부시 200 : 캐소드전극판
210 : 제2전극봉 300 : 연결관
400 : 지그 410,510,610 : 절연부재
500 : 지지대 600 : 베이스플레이트
100: anode electrode plate 110: first electrode
120: bush 200: cathode electrode plate
210: second electrode 300: connector
400: jig 410,510,610: insulating member
500: support 600: base plate

Claims (2)

플라즈마 세정설비의 챔버 내부 바닥면에 설치된 베이스플레이트와;
상기 베이스플레이트의 상면에 브라켓에 의해 이격되게 고정되고 전원공급수단과 연결된 애노드전극판과;
상기 애노드전극판의 네모서리에 절연상태로 입설된 지지대에 의해 지지고정되고 전원공급수단과 연결된 캐소드전극판과;
일단은 상기 애노드전극판에 피팅되고 타단은 상기 캐소드전극판에 피팅되되 절연부재를 통해 두개의 전극판을 교차 통전되게 배설되고 내부는 냉각수 혹은 열매체가 관류되도록 중공되며 피처리물이 인출입되게 간격을 두고 설치된 다수의 제
1,2전극봉과;
상기 제1,2전극봉의 단부를 같은 극끼리 연결하는 연결관을 포함하고,
상기 제1,2전극봉은 열과 행을 따라 교차 배열되며, 부시가 개재된 상태로 상기 애노드전극판 및 캐소드전극판에 피팅되는 디스미어 플라즈마 크리닝 장치.
a base plate installed on the inner bottom surface of the chamber of the plasma cleaning facility;
an anode electrode plate fixed to the upper surface of the base plate to be spaced apart by a bracket and connected to a power supply means;
a cathode electrode plate supported and fixed by a support stand erected in an insulating state at the four corners of the anode electrode plate and connected to a power supply means;
One end is fitted to the anode electrode plate and the other end is fitted to the cathode electrode plate, and the two electrode plates are disposed to be energized through an insulating member. A number of products installed with
1 and 2 electrodes;
and a connecting pipe connecting the ends of the first and second electrodes to the same poles,
The first and second electrodes are cross-arranged along columns and rows, and a desmear plasma cleaning apparatus fitted to the anode electrode plate and the cathode electrode plate with a bush interposed therebetween.
제1항에 있어서,
상기 베이스플레이트는 그 일부에 사각띠형상의 절연부재가 삽입되어 4변을 절연시키는 디스미어 플라즈마 크리닝 장치.
According to claim 1,
The base plate is a desmear plasma cleaning device for insulating four sides by inserting a rectangular band-shaped insulating member in a portion thereof.
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