KR20210055480A - Driver integrated circuit and display device including the same - Google Patents

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KR20210055480A
KR20210055480A KR1020190141982A KR20190141982A KR20210055480A KR 20210055480 A KR20210055480 A KR 20210055480A KR 1020190141982 A KR1020190141982 A KR 1020190141982A KR 20190141982 A KR20190141982 A KR 20190141982A KR 20210055480 A KR20210055480 A KR 20210055480A
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Abstract

A driver integrated circuit of the present invention comprises: a DAC unit which includes a plurality of DAC-AMPs and senses a sensing current of a pixel input to a sensing line, and in which in a first mode, a plurality of DAC-AMPs generate image data voltages, respectively, to supply data voltages to data lines to which pixels are connected, and in a second mode, each of the DAC-AMPs operates in a configuration for current sensing to supply a sensing data voltage to any one of pixels; and a switching unit respectively connecting the DAC-AMPs to the data lines in the first mode, and connecting any one of the DAC-AMPs to any one of the data lines in the second mode. Accordingly, by controlling the DACs for supplying a data voltage to operate as a current integrator, a comparator, a feedback DAC, and a DAC for generating a reference voltage for measuring a sensing current, it is possible to perform a current sensing function without a separate current sensing unit. Accordingly, since components such as a current integrator amplifier (CI-AMP) and an ADC for configuring the current sensing unit can be deleted, the size of a source driver IC (SD-IC) can be significantly reduced.

Description

드라이버 집적회로와 그를 포함한 표시장치{DRIVER INTEGRATED CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}DRIVER INTEGRATED CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}

본 발명은 드라이버 집적회로와 그를 포함한 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a driver integrated circuit and a display device including the same.

유기발광 표시장치는 OLED를 각각 포함한 픽셀들을 게이트전극과 소스전극 사이에 걸리는 전압에 따라 OLED에 흐르는 구동전류를 제어하는 구동 소자 즉, 구동 TFT(Thin Film Transistor)를 포함한다. OLED와 구동 TFT는 온도나 열화에 의해 그 전기적 특성이 변할 수 있으며, 전기적 특성이 픽셀들마다 달라지면 동일 비디오데이터에 대해 픽셀들 간 휘도가 달라지므로 원하는 화상 구현이 어렵다.The organic light emitting display device includes a driving element, that is, a driving TFT (Thin Film Transistor), that controls a driving current flowing through the OLED according to a voltage applied between a gate electrode and a source electrode of pixels each including OLED. The electrical characteristics of the OLED and the driving TFT may change due to temperature or deterioration, and if the electrical characteristics are different for each pixel, the luminance between the pixels for the same video data is different, making it difficult to realize a desired image.

OLED 또는 구동 TFT에 대한 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 기술 중 외부 보상 기술이 알려져 있다. 외부 보상 기술은 OLED나 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 센싱하고, 그 센싱 결과를 기초로 디지털 비디오 데이터를 변조하는 것이다. 외부 보상 기술을 구현하기 위해서는 픽셀들의 전류를 센싱하기 위한 전류 센싱부가 필요하다. 통상적으로 전류 센싱부는 전류 적분기와 아날로그-디지털 변환기(Analog to Digital Converter, 이하, ADC라 함)로 구성되어, 소스 드라이버 집적회로(Source Driver Integrated Circuit, 이하 SD-IC라 함)에 내장된다.Among technologies for compensating for changes in electrical characteristics for OLEDs or driving TFTs, external compensation technologies are known. The external compensation technology senses changes in the electrical characteristics of OLEDs or driving TFTs, and modulates digital video data based on the sensing results. In order to implement the external compensation technology, a current sensing unit for sensing currents of pixels is required. Typically, the current sensing unit is composed of a current integrator and an analog-to-digital converter (hereinafter referred to as ADC), and is embedded in a source driver integrated circuit (hereinafter referred to as SD-IC).

전류 센싱부 기능이 추가되면 SD-IC 내에 전류 적분기 및 ADC를 추가로 설계해야 함으로 SD-IC의 사이즈가 증가하는 문제점이 있다. 이에, 전류 센싱 기능은 유지하면서 SD-IC의 사이즈의 증가를 최소화하기 위한 연구가 계속되고 있다. When the current sensing unit function is added, there is a problem in that the size of the SD-IC increases as a current integrator and ADC must be additionally designed in the SD-IC. Accordingly, research to minimize the increase in the size of the SD-IC while maintaining the current sensing function is being continued.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 전류 센싱 기능을 위한 ADC 등의 개수 증가로 인해 드라이버 IC의 칩 사이즈가 증가되는 것을 최소화할 수 있는 드라이버 집적회로와 그를 포함한 표시장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention for solving the problems of the above-described background technology is to provide a driver integrated circuit and a display device including the same, which can minimize an increase in the chip size of a driver IC due to an increase in the number of ADCs for a current sensing function. The purpose.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명의 드라이버 집적회로는, 복수의 DAC-AMP를 포함하고, 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP가 각각 영상 데이터전압을 생성하여 픽셀이 연결된 데이터라인들에 각각 데이터전압을 공급하고, 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP가 각각 전류 센싱을 위한 구성으로 동작하여 상기 픽셀 중 어느 하나에 센싱용 데이터전압을 공급하고 센싱라인으로 입력되는 상기 픽셀의 센싱전류를 센싱하는 복수의 DAC-AMP를 포함하는 DAC부; 및 상기 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP를 상기 데이터라인들에 각각 연결하고, 상기 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP 중 어느 하나를 상기 데이터라인들 중 어느 하나와 연결하는 스위칭부;를 포함한다.As a means for solving the above-described problems, the driver integrated circuit of the present invention includes a plurality of DAC-AMPs, and in a first mode, the plurality of DAC-AMPs respectively generate an image data voltage to each data line to which a pixel is connected. When supplying a voltage and in the second mode, the plurality of DAC-AMPs each operate as a configuration for current sensing, supplying a sensing data voltage to any one of the pixels, and sensing the sensing current of the pixel input to a sensing line. A DAC unit including a plurality of DAC-AMPs; And a switching unit for connecting the plurality of DAC-AMPs to the data lines in the first mode, and connecting any one of the plurality of DAC-AMPs to any one of the data lines in the second mode. Includes.

상기 복수의 DAC-AMP는, 상기 제2모드 시 전류 적분기로 동작하는 DAC-AMP, 비교기로 동작하는 DAC-AMP, 상기 비교기에 전압을 피드백하는 피드백 DAC를 포함할 수 있다.The plurality of DAC-AMPs may include a DAC-AMP that operates as a current integrator in the second mode, a DAC-AMP that operates as a comparator, and a feedback DAC that feeds a voltage back to the comparator.

상기 적분기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류가 입력되는 반전 입력단, 기준전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값이 출력되는 출력단을 포함하고, 상기 비반전 입력단과 상기 출력단 사이에 연결되는 적분 캐패시터; 및 상기 적분 캐패시터에 병렬로 연결되는 초기화 스위치;를 포함할 수 있다.The DAC-AMP operating as the integrator includes an inverting input terminal to which the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a reference voltage, and an output terminal to output an integral value of the sensing current, and between the non-inverting input terminal and the output terminal An integrating capacitor connected; And an initialization switch connected in parallel to the integrating capacitor.

상기 적분기로 동작하는 DAC-AMP의 출력단에 연결되어 상기 센싱전류의 적분값을 저장 및 출력하는 샘플링 앤 홀드부를 더 포함할 수 있다.It may further include a sampling and hold unit connected to the output terminal of the DAC-AMP operating as the integrator to store and output the integral value of the sensing current.

상기 비교기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류의 적분값이 입력되는 반전 입력단, 피드백 전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압의 비교값을 출력하는 출력단을 포함하고, 상기 출력단에 연결되어 상기 비교기의 출력값에 따른 디지털 데이터를 출력하는 로직부; 를 포함할 수 있다.The DAC-AMP operating as the comparator includes an inverting input terminal to which the integrated value of the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a feedback voltage, and an output terminal for outputting a comparison value of the integrated value of the sensing current and the feedback voltage. And a logic unit connected to the output terminal to output digital data according to an output value of the comparator; It may include.

상기 피드백 DAC는, 상기 로직부와 상기 비교기의 상기 비반전 입력단 사이에 연결되어 상기 로직부에서 출력된 상기 디지털 데이터를 아날로그 전압으로 변환하여 상기 피드백 전압을 인가할 수 있다.The feedback DAC may be connected between the logic unit and the non-inverting input terminal of the comparator to convert the digital data output from the logic unit into an analog voltage to apply the feedback voltage.

상기 로직부는, 상기 비교기의 출력값이 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압이 동일한 것으로 출력된 경우 상기 디지털 데이터를 상기 센싱전류의 센싱 데이터로 출력할 수 있다.When the output value of the comparator is the same as the integral value of the sensing current and the feedback voltage, the logic unit may output the digital data as sensing data of the sensing current.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명의 표시장치는, 다수의 픽셀들과 상기 픽셀들에 연결된 데이터 라인 및 센싱 라인이 구비된 표시패널; 및 상기 데이터 라인에 영상 데이터전압을 공급하는 복수의 DAC-AMP를 포함하는 소스 드라이버 IC를 포함하고, 상기 소스 드라이버 IC는, 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP는 상기 데이터라인에 상기 영상 데이터전압을 인가하고, 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP는 각각 전류 센싱을 위한 구성으로 동작하여 상기 픽셀 중 어느 하나에 센싱용 데이터전압을 공급하고 센싱라인으로 입력되는 상기 픽셀의 센싱전류를 센싱한다.According to the above-described problem solving means, the display device of the present invention includes: a display panel including a plurality of pixels and data lines and sensing lines connected to the pixels; And a source driver IC including a plurality of DAC-AMPs for supplying an image data voltage to the data line, wherein the source driver IC comprises: in a first mode, the plurality of DAC-AMPs provide the image data to the data line. When a voltage is applied and in the second mode, each of the plurality of DAC-AMPs operates as a configuration for current sensing, supplying a sensing data voltage to any one of the pixels, and sensing the sensing current of the pixel input through a sensing line. do.

상기 소스 드라이버 IC는, 상기 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP를 상기 데이터라인들에 각각 연결하고, 상기 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP 중 어느 하나를 상기 데이터라인들 중 어느 하나와 연결하는 스위칭부를 포함할 수 있다.In the first mode, the source driver IC connects the plurality of DAC-AMPs to the data lines, respectively, and in the second mode, the source driver IC connects any one of the plurality of DAC-AMPs to any one of the data lines. It may include a switching unit to connect.

상기 제2모드 시 상기 소스 드라이버 IC의 동작을 제어하여, 상기 센싱용 데이터전압에 따른 상기 픽셀의 센싱전류의 센싱 데이터를 입력받는 타이밍 제어부를 더 포함할 수 있다.In the second mode, the source driver IC may further include a timing controller for receiving sensing data of the sensing current of the pixel according to the sensing data voltage.

상기 복수의 DAC-AMP는, 상기 제2모드 시 전류 적분기로 동작하는 DAC-AMP, 비교기로 동작하는 DAC-AMP, 상기 비교기에 전압을 피드백하는 피드백 DAC를 포함할 수 있다.The plurality of DAC-AMPs may include a DAC-AMP that operates as a current integrator in the second mode, a DAC-AMP that operates as a comparator, and a feedback DAC that feeds a voltage back to the comparator.

상기 적분기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류가 입력되는 반전 입력단, 기준전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값이 출력되는 출력단을 포함하고, 상기 비반전 입력단과 상기 출력단 사이에 연결되는 적분 캐패시터; 및 상기 적분 캐패시터에 병렬로 연결되는 초기화 스위치; 및 상기 적분기로 동작하는 DAC-AMP의 출력단에 연결되어 상기 센싱전류의 적분값을 저장 및 출력하는 샘플링 앤 홀드부;를 포함할 수 있다.The DAC-AMP operating as the integrator includes an inverting input terminal to which the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a reference voltage, and an output terminal to output an integral value of the sensing current, and between the non-inverting input terminal and the output terminal An integrating capacitor connected; And an initialization switch connected in parallel to the integrating capacitor. And a sampling and holding unit connected to the output terminal of the DAC-AMP operating as the integrator to store and output an integral value of the sensing current.

상기 비교기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류의 적분값이 입력되는 반전 입력단, 피드백 전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압의 비교값을 출력하는 출력단을 포함하고, 상기 출력단에 연결되어 상기 비교기의 출력값에 따른 디지털 데이터를 출력하는 로직부;를 포함할 수 있다.The DAC-AMP operating as the comparator includes an inverting input terminal to which the integrated value of the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a feedback voltage, and an output terminal for outputting a comparison value of the integrated value of the sensing current and the feedback voltage. And a logic unit connected to the output terminal to output digital data according to an output value of the comparator.

상기 피드백 DAC는, 상기 로직부와 상기 비교기의 상기 비반전 입력단 사이에 연결되어 상기 로직부에서 출력된 상기 디지털 데이터를 아날로그 전압으로 변환하여 상기 비교기에 상기 피드백 전압을 인가할 수 있다.The feedback DAC may be connected between the logic unit and the non-inverting input terminal of the comparator to convert the digital data output from the logic unit into an analog voltage to apply the feedback voltage to the comparator.

상기 로직부는, 상기 비교기의 출력값이 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압이 동일한 것으로 출력된 경우 상기 디지털 데이터를 상기 센싱전류의 센싱 데이터로 출력할 수 있다.When the output value of the comparator is the same as the integral value of the sensing current and the feedback voltage, the logic unit may output the digital data as sensing data of the sensing current.

본 발명의 드라이브 IC 및 그를 포함하는 표시장치는, 데이터전압을 공급하는 DAC들을 각각 전류 적분기, 비교기, 피드백 DAC 및 센싱전류 측정을 위한 기준전압 생성용 DAC로 동작하도록 제어함으로써 별도의 전류 센싱부를 구비하지 않고도 전류센싱 기능을 수행할 수 있다. 이에, 전류 센싱부를 구성하기 위한 전류 적분기 앰프(CI-AMP)와 ADC 등의 구성을 삭제할 수 있으므로 소스 드라이버 IC(SD-IC)의 사이즈를 현저히 감소시킬 수 있다.The drive IC of the present invention and a display device including the same are provided with a separate current sensing unit by controlling the DACs supplying the data voltage to operate as a current integrator, a comparator, a feedback DAC, and a DAC for generating a reference voltage for measuring a sensing current, respectively. Current sensing function can be performed without the need. Accordingly, since the configuration of the current integrator amplifier (CI-AMP) and ADC for configuring the current sensing unit can be eliminated, the size of the source driver IC (SD-IC) can be significantly reduced.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 개략적인 블럭도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 드라이버 IC와 픽셀 어레이의 개략적인 구성 예를 보여주는 도면이다.
도 3은 도 2의 픽셀 어레이의 상세 구성을 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 드라이버 IC의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC와 픽셀 어레이의 구성을 상세히 보여주는 도면이다.
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 제1동작 모드 시 회로 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 도 7의 제1동작 모드 시 스위치 제어를 위한 제어 파형도를 보여주는 도면이다.
도 9는 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 제2동작 모드 시 회로 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 9의 제2동작 모드 시 스위치 제어를 위한 제어 파형도를 보여주는 도면이다.
도 11은 도 9의 제2동작 모드 시 등가회로를 도시한 도면이다.
도 12는 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 제2동작 모드 시 동작 흐름을 보여주는 도면이다.
1 is a schematic block diagram of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
2 is a diagram showing a schematic configuration example of a driver IC and a pixel array according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram showing a detailed configuration of the pixel array of FIG. 2.
4 is a diagram for explaining the configuration of a driver IC according to the first embodiment of the present invention.
5 is a diagram for explaining the configuration of a driver IC according to a second embodiment of the present invention.
6 is a diagram showing in detail the configuration of a driver IC and a pixel array according to a second embodiment of the present invention.
7 is a diagram for explaining the operation of a circuit in a first operation mode of a driver IC according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a diagram illustrating a control waveform diagram for controlling a switch in the first operation mode of FIG. 7.
9 is a diagram for explaining circuit operation in a second operation mode of a driver IC according to a second embodiment of the present invention.
10 is a diagram illustrating a control waveform diagram for controlling a switch in a second operation mode of FIG. 9.
11 is a diagram illustrating an equivalent circuit in the second operation mode of FIG. 9.
12 is a diagram illustrating an operation flow of a driver IC in a second operation mode according to the second embodiment of the present invention.

본 명세서의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 명세서는 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 명세서의 개시가 완전하도록 하며, 본 명세서가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 명세서는 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Advantages and features of the present specification, and a method of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail together with the accompanying drawings. However, the present specification is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, only the present embodiments are intended to complete the disclosure of the present specification, and common knowledge in the technical field to which the present specification pertains. It is provided to completely inform the scope of the invention to those who have, and this specification is only defined by the scope of the claims.

본 명세서의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 명세서가 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 ' ~ 만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. The shape, size, ratio, angle, number, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present specification are exemplary, and the present specification is not limited to the illustrated matters. The same reference numerals refer to the same elements throughout the specification. When'include','have','consists of' and the like mentioned in the present specification are used, other parts may be added unless'only' is used. In the case of expressing the constituent elements in the singular, it includes the case of including the plural unless specifically stated otherwise.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the constituent elements, it is interpreted as including an error range even if there is no explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, ' ~ 상에', ' ~ 상부에', ' ~ 하부에', ' ~ 옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다. In the case of a description of the positional relationship, for example, if the positional relationship of the two parts is described as'on the top','on the top of the ~','the bottom of the','the next to the', etc.,'right' Or, unless'direct' is used, one or more other parts may be located between the two parts.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용될 수 있으나, 이 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 명세서의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.First, second, etc. may be used to describe various elements, but these elements are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another component. Therefore, the first component mentioned below may be a second component within the technical idea of the present specification.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 실질적으로 동일 구성 요소를 지칭한다.The same reference numerals refer to substantially the same constituent elements throughout the specification.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서의 실시예를 상세히 설명한다. 이하의 설명에서, 본 명세서와 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present specification will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, when it is determined that a detailed description of a known function or configuration related to the present specification may unnecessarily obscure the subject matter of the present specification, the detailed description thereof will be omitted.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 개략적인 블럭도이다.1 is a schematic block diagram of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 표시장치는, 다수의 픽셀이 형성된 표시패널(10), 스캔 구동부(13), 데이터 구동부(12) 및 타이밍 제어부(11) 등을 포함한다.Referring to FIG. 1, a display device includes a display panel 10 in which a plurality of pixels are formed, a scan driver 13, a data driver 12, a timing controller 11, and the like.

표시패널(10)에는 다수의 데이터라인들(14A), 다수의 센싱라인들(14B) 및 다수의 스캔 라인들(15)이 배치된다. 다수의 데이터라인들(14A), 다수의 센싱라인들(14B) 및 다수의 스캔 라인들(15)의 교차 영역에는 픽셀들(PXL)이 배치된다. 픽셀들(PXL)은 빛을 발광하는 유기발광소자(이하 OLED)와 이를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(이하 구동 TFT) 등을 각각 포함한다.A plurality of data lines 14A, a plurality of sensing lines 14B, and a plurality of scan lines 15 are disposed on the display panel 10. Pixels PXL are disposed in an intersection area of the plurality of data lines 14A, the plurality of sensing lines 14B, and the plurality of scan lines 15. Each of the pixels PXL includes an organic light-emitting device (hereinafter, referred to as OLED) that emits light, and a driving transistor (hereinafter, referred to as a driving TFT) for driving the same.

타이밍 제어부(11)는 영상 처리부로부터 데이터 인에이블 신호(DE) 또는 수직 동기신호, 수평 동기신호 및 클럭신호 등을 포함하는 구동신호와 더불어 데이터신호(DATA)를 공급받는다. 타이밍 제어부(11)는 구동신호에 기초하여 스캔 구동부(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호(GDC)와 데이터 구동부(12)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DDC)를 출력한다.The timing controller 11 receives a data enable signal DE or a driving signal including a vertical synchronization signal, a horizontal synchronization signal, a clock signal, and the like from the image processing unit and a data signal DATA. The timing controller 11 includes a gate timing control signal GDC for controlling the operation timing of the scan driver 13 and a data timing control signal DDC for controlling the operation timing of the data driver 12 based on the driving signal. Prints.

스캔 구동부(13)는 타이밍 제어부(11)로부터 공급된 게이트 타이밍 제어신호(GDC)에 응답하여 스캔신호를 출력한다. 스캔 구동부(13)는 스캔라인들(15)을 통해 스캔하이전압과 스캔로우전압으로 이루어진 스캔신호를 출력한다. 스캔 구동부(13)는 IC(Integrated Circuit) 형태로 형성되거나 표시패널(10)에 게이트인패널(Gate In Panel) 방식으로 형성될 수 있다.The scan driver 13 outputs a scan signal in response to the gate timing control signal GDC supplied from the timing controller 11. The scan driver 13 outputs a scan signal consisting of a scan high voltage and a scan low voltage through the scan lines 15. The scan driver 13 may be formed in the form of an integrated circuit (IC) or may be formed on the display panel 10 in a gate-in panel method.

데이터 구동부(12)는 타이밍 제어부(11)로부터 공급된 데이터 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 감마 기준전압을 기반으로 디지털 형태의 데이터신호(DATA)를 아날로그 형태의 데이터전압으로 변환한다.The data driver 12 converts the digital data signal DATA into an analog data voltage based on the gamma reference voltage in response to the data timing control signal DDC supplied from the timing controller 11.

픽셀들(PXL)에 포함된 OLED나 구동 TFT와 같은 소자는 구동 시간에 비례하여 열화되고 특성(예를 들면 문턱전압)이 저하될 수 있다. 이를 보상하기 위해, 데이터 구동부(12)는 픽셀들(PXL) 중 적어도 하나의 픽셀에 포함된 소자의 특성을 센싱하고 센싱된 센싱 데이터(SD)를 타이밍 제어부(11)로 피드백한다. 타이밍 제어부(11)는 데이터 구동부(12)로부터 피드백된 센싱 데이터(SD)에 기초하여 픽셀(P)에 기입할 데이터신호(DATA)를 보정할 수 있다. 픽셀에 포함된 소자를 센싱하는 회로는 데이터 구동부(12)가 아닌 별도의 센싱 회로로 구현될 수 있다. 그러나 이하에서는 센싱 회로가 데이터 구동부(12)의 내부에 포함된 것을 일례로 설명한다.An element such as an OLED or a driving TFT included in the pixels PXL may deteriorate in proportion to the driving time, and characteristics (eg, a threshold voltage) may be deteriorated. To compensate for this, the data driver 12 senses a characteristic of a device included in at least one of the pixels PXL and feeds back the sensed sensing data SD to the timing controller 11. The timing controller 11 may correct the data signal DATA to be written to the pixel P based on the sensing data SD fed back from the data driver 12. A circuit for sensing an element included in a pixel may be implemented as a separate sensing circuit other than the data driver 12. However, hereinafter, the sensing circuit included in the data driver 12 will be described as an example.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 구동부와 픽셀 어레이의 개략적인 구성 예를 보여주는 도면이다.2 is a diagram illustrating a schematic configuration example of a data driver and a pixel array according to an embodiment of the present invention.

데이터 구동부(12)는 적어도 하나 이상의 소스 드라이버 IC(SD-IC)를 포함한다. 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 각 데이터라인(14A)에 연결된 다수의 디지털-아날로그 컨버터들(121)(이하, DAC)과, 센싱 채널을 통해 각 센싱라인(14B)에 연결된 다수의 전류 센싱부들(122)을 구비한다.The data driver 12 includes at least one source driver IC (SD-IC). The source driver IC (SD-IC) senses a plurality of digital-analog converters 121 (hereinafter referred to as DACs) connected to each data line 14A, and a plurality of currents connected to each sensing line 14B through a sensing channel. It is provided with the chords 122.

소스 드라이버 IC(SD-IC)는 타이밍 콘트롤러(11)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터를 DAC들(121)을 통해 픽셀 어레이로 출력한다. DAC는 화상 표시 동작 시 타이밍 콘트롤러(11)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 화상 표시용 데이터전압으로 변환하여 데이터라인들(14A)에 공급할 수 있다. DAC는 외부 보상 동작 시 일정 레벨의 외부 보상용 데이터전압을 생성하여 데이터라인들(14A)에 공급할 수 있다.The source driver IC (SD-IC) outputs digital video data input from the timing controller 11 to the pixel array through the DACs 121. During the image display operation, the DAC converts digital video data RGB input from the timing controller 11 into a data voltage for image display and supplies it to the data lines 14A. During the external compensation operation, the DAC may generate an external compensation data voltage of a predetermined level and supply it to the data lines 14A.

전류 센싱부(122)는 센싱 라인(14B)을 통해 입력되는 픽셀 전류를 감지하고 감지결과를 아날로그-디지털 컨버터들(이하, ADC)를 통해 디지털 센싱값(SD)을 변환하여 출력한다. 전류 센싱부(122)는 전류 적분기와 비교기로 동작할 수 있는 증폭기(Amplifier)를 이용하여 픽셀 전류를 감지할 수 있다.The current sensing unit 122 senses a pixel current input through the sensing line 14B, and converts a digital sensing value SD through analog-to-digital converters (hereinafter, ADC) and outputs the sensing result. The current sensing unit 122 may sense the pixel current using a current integrator and an amplifier capable of operating as a comparator.

도 3은 도 2의 픽셀 어레이의 상세 구성을 보여주는 도면이다.3 is a diagram showing a detailed configuration of the pixel array of FIG. 2.

도 3을 참조하면, 각 픽셀(P)은 데이터라인들(14A) 중 어느 하나에, 센싱라인들(14B) 중 어느 하나에, 제1 게이트라인들(15A) 중 어느 하나에, 그리고 제2 게이트라인들(15B) 중 어느 하나에 접속될 수 있다. 픽셀 어레이를 구성하는 픽셀들(P)은 적색을 표시하기 위한 적색(R) 픽셀, 녹색을 표시하기 위한 녹색(G) 픽셀, 청색을 표시하기 위한 청색(B) 픽셀, 및 백색을 표시하기 위한 백색(W) 픽셀을 포함한다. 적색(R) 픽셀, 녹색(G) 픽셀, 청색(B) 픽셀, 및 백색(W) 픽셀을 포함한 4개의 픽셀들이 하나의 픽셀 유닛(UPXL)을 구성할 수 있다. 다만 픽셀 유닛(UPXL)의 구성은 이에 한정되지 않는다.Referring to FIG. 3, each pixel P is on any one of the data lines 14A, on any of the sensing lines 14B, on any of the first gate lines 15A, and the second It may be connected to any one of the gate lines 15B. The pixels P constituting the pixel array are a red (R) pixel for displaying red, a green (G) pixel for displaying green, a blue (B) pixel for displaying blue, and a white pixel. Includes white (W) pixels. Four pixels including a red (R) pixel, a green (G) pixel, a blue (B) pixel, and a white (W) pixel may constitute one pixel unit UPXL. However, the configuration of the pixel unit UPXL is not limited thereto.

동일한 픽셀 유닛(UPXL)을 구성하는 픽셀들(P)은 하나의 센싱라인(14B)을 공유할 수 있다. 다만, 도시되어 있지 않지만 동일한 픽셀 유닛(UPXL)을 구성하는 픽셀들(P)이 서로 다른 센싱라인들에 독립적으로 연결될 수도 있다.The pixels P constituting the same pixel unit UPXL may share one sensing line 14B. However, although not shown, the pixels P constituting the same pixel unit UPXL may be independently connected to different sensing lines.

픽셀(P) 각각은 도시하지 않은 전원생성부로부터 고전위 구동전압(EVDD)과 저전위 구동전압(EVSS)을 공급받는다.Each of the pixels P receives a high-potential driving voltage EVDD and a low-potential driving voltage EVSS from a power generation unit (not shown).

본 발명의 픽셀(P)은 OLED, 구동 TFT(DT), 스토리지 커패시터(Cst), 제1 스위치 TFT(ST1), 및 제2 스위치 TFT(ST2)를 구비할 수 있다. TFT들은 P 타입으로 구현되거나 또는, N 타입으로 구현되거나 또는, P 타입과 N 타입이 혼용된 하이브리드 타입으로 구현될 수 있다. 또한, TFT의 반도체층은, 아몰포스 실리콘 또는, 폴리 실리콘 또는, 산화물을 포함할 수 있다.The pixel P of the present invention may include an OLED, a driving TFT (DT), a storage capacitor (Cst), a first switch TFT (ST1), and a second switch TFT (ST2). The TFTs may be implemented as a P type, an N type, or a hybrid type in which a P type and an N type are mixed. Further, the semiconductor layer of the TFT may contain amorphous silicon, polysilicon, or oxide.

OLED는 소스노드(Ns)에 접속된 애노드전극과, 저전위 구동전압(EVSS)의 입력단에 접속된 캐소드전극과, 애노드 전극과 캐소드전극 사이에 위치하는 유기화합물층을 포함한다. 유기 화합물층은 정공주입층(Hole Injection layer, HIL), 정공수송층(Hole transport layer, HTL), 발광층(Emission layer, EML), 전자수송층(Electron transport layer, ETL) 및 전자주입층(Electron Injection layer, EIL)을 포함할 수 있다.The OLED includes an anode electrode connected to a source node Ns, a cathode electrode connected to an input terminal of a low potential driving voltage EVSS, and an organic compound layer positioned between the anode electrode and the cathode electrode. The organic compound layer includes a hole injection layer (HIL), a hole transport layer (HTL), an emission layer (EML), an electron transport layer (ETL), and an electron injection layer. EIL).

구동 TFT(DT)는 게이트-소스 간 전압(이하, Vgs라 함)에 따라 OLED에 입력되는 구동 TFT(DT)의 소스-드레인 간 전류(이하, Ids라 함)의 크기를 제어한다. 구동 TFT(DT)는 게이트노드(Ng)에 접속된 게이트전극, 고전위 구동전압(EVDD)의 입력단에 접속된 드레인전극, 및 소스노드(Ns)에 접속된 소스전극을 구비한다. 스토리지 커패시터(Cst)는 게이트노드(Ng)와 소스노드(Ns) 사이에 접속되어 구동 TFT(DT)의 Vgs를 일정 기간 동안 유지시킨다.The driving TFT DT controls the magnitude of the source-drain current (hereinafter referred to as Ids) of the driving TFT DT input to the OLED according to the gate-source voltage (hereinafter referred to as Vgs). The driving TFT DT includes a gate electrode connected to the gate node Ng, a drain electrode connected to the input terminal of the high potential driving voltage EVDD, and a source electrode connected to the source node Ns. The storage capacitor Cst is connected between the gate node Ng and the source node Ns to maintain Vgs of the driving TFT DT for a predetermined period.

제1 스위치 TFT(ST1)는 스캔 제어신호(SCAN)에 따라 데이터라인(14A)과 게이트노드(Ng) 간의 전기적 접속을 스위칭한다. 제1 스위치 TFT(ST1)는 제1 게이트라인(15A)에 접속된 게이트전극, 데이터라인(14A)에 접속된 드레인전극, 및 게이트노드(Ng)에 접속된 소스전극을 구비한다. 제2 스위치 TFT(ST2)는 센싱 제어신호(SEN)에 따라 소스노드(Ns)와 센싱 라인(14B) 간의 전기적 접속을 스위칭한다. 제2 스위치 TFT(ST2)는 제2 게이트라인(15B)에 접속된 게이트전극, 센싱 라인(14B)에 접속된 드레인전극, 및 소스노드(Ns)에 접속된 소스전극을 구비한다.The first switch TFT ST1 switches the electrical connection between the data line 14A and the gate node Ng according to the scan control signal SCAN. The first switch TFT ST1 includes a gate electrode connected to the first gate line 15A, a drain electrode connected to the data line 14A, and a source electrode connected to the gate node Ng. The second switch TFT ST2 switches electrical connection between the source node Ns and the sensing line 14B according to the sensing control signal SEN. The second switch TFT ST2 includes a gate electrode connected to the second gate line 15B, a drain electrode connected to the sensing line 14B, and a source electrode connected to the source node Ns.

이러한 픽셀 어레이를 갖는 본 발명의 표시장치에서 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 각 데이터라인(14A)에 연결된 다수의 디지털-아날로그 컨버터들(121)(이하, DAC)를 통해 데이터전압을 공급한다. 또한, 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 센싱 채널을 통해 각 센싱라인(14B)으로부터 입력되는 센싱전류를 감지하여 센싱 데이터(SD)를 타이밍 제어부(11)에 제공할 수 있다.In the display device of the present invention having such a pixel array, the source driver IC (SD-IC) supplies a data voltage through a plurality of digital-analog converters 121 (hereinafter, DAC) connected to each data line 14A. . Also, the source driver IC SD-IC may sense a sensing current input from each sensing line 14B through a sensing channel and provide sensing data SD to the timing controller 11.

도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 소스 드라이버 IC(SD-IC)의 구성을 설명하기 위한 도면이다.4 is a diagram for explaining the configuration of a source driver IC (SD-IC) according to the first embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 픽셀 유닛(UPXL)에 포함된 각 픽셀(P)에 데이터전압을 공급하는 DAC들을 포함한다. DAC는 각 픽셀(P) 마다 구비되어, 적색(R) 픽셀에 대응되는 DAC(R), 백색(W) 픽셀에 대응되는 DAC(W), 녹색(G) 픽셀에 대응되는 DAC(G), 청색(B) 픽셀에 대응되는 DAC(B)를 포함한다. 각 DAC들은 디지털 영상데이터에 따른 아날로그 데이터전압을 생성하여 해당 픽셀(P)들의 데이터라인들(14A)에 인가한다.Referring to FIG. 4, the source driver IC SD-IC includes DACs that supply a data voltage to each pixel P included in the pixel unit UPXL. The DAC is provided for each pixel (P), a DAC (R) corresponding to a red (R) pixel, a DAC (W) corresponding to a white (W) pixel, a DAC (G) corresponding to a green (G) pixel, It includes a DAC (B) corresponding to the blue (B) pixel. Each of the DACs generates an analog data voltage according to digital image data and applies it to the data lines 14A of the corresponding pixels P.

동일한 픽셀 유닛(UPXL)을 구성하는 픽셀들(P)은 하나의 센싱라인(14B)을 공유한다. 이에, 적색(R) 픽셀, 백색(W) 픽셀, 녹색(G) 픽셀 및 청색(B) 픽셀이 연결된 센싱라인(14B)이 전류 센싱부(122)과 연결된다. The pixels P constituting the same pixel unit UPXL share one sensing line 14B. Accordingly, a sensing line 14B to which a red (R) pixel, a white (W) pixel, a green (G) pixel, and a blue (B) pixel is connected is connected to the current sensing unit 122.

전류 센싱부(122)는 전류 적분기 앰프(CI-AMP)와, 적분 커패시터(CFB)와, 리셋 스위치(RST)를 포함한다. 전류 적분기 앰프(CI-AMP)는 센싱라인(14B)과 연결되는 반전 입력단자(-), 기준전압(Vpre)이 인가되는 비반전 입력단자(+), 적분값이 출력되는 출력 단자를 포함한다. 적분 커패시터(CFB)는 전류 적분기 앰프(CI-AMP)의 반전 입력단자(-)와 출력 단자 사이에 접속되어 픽셀 전류를 축적한다. 리셋 스위치(RST)는 전류 적분기 앰프(CI-AMP)의 반전 입력단자(-)와 출력 단자 사이에서 적분 커패시터(CFB)와 병렬로 접속된다. 전류 적분기 앰프(CI-AMP)의 출력 단자에는 샘플링 스위치(SAM)와 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)와 홀딩 스위치(HOLD)를 포함한다. 샘플링 스위치(SAM)가 턴 온 되면 전류 적분기 앰프(CI-AMP)의 출력이 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)에 저장된다. 홀딩 스위치(HOLD)가 턴온 되면 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)에 저장된 센싱 전압이 ADC에 인가된다.The current sensing unit 122 includes a current integrator amplifier CI-AMP, an integrating capacitor CFB, and a reset switch RST. The current integrator amplifier CI-AMP includes an inverting input terminal (-) connected to the sensing line 14B, a non-inverting input terminal (+) to which a reference voltage Vpre is applied, and an output terminal for outputting an integral value. . The integrating capacitor CFB is connected between the inverting input terminal (-) and the output terminal of the current integrator amplifier CI-AMP to accumulate pixel current. The reset switch RST is connected in parallel with the integrating capacitor CFB between the inverting input terminal (-) and the output terminal of the current integrator amplifier CI-AMP. The output terminal of the current integrator amplifier (CI-AMP) includes a sampling switch (SAM), a sample and hold capacitor (CSH), and a holding switch (HOLD). When the sampling switch (SAM) is turned on, the output of the current integrator amplifier (CI-AMP) is stored in the sample and hold capacitor (CSH). When the holding switch HOLD is turned on, the sensing voltage stored in the sample and hold capacitor CSH is applied to the ADC.

이러한 구성으로 전류 센싱부(122)는 센싱 채널을 통해 입력되는 픽셀 전류를 감지하고 감지결과를 ADC를 통해 디지털 센싱값(SD)을 변환하여 출력할 수 있다.With this configuration, the current sensing unit 122 may sense a pixel current input through a sensing channel, and convert a digital sensing value SD through an ADC and output the sensing result.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 데이터전압을 공급하는 DAC들과 픽셀의 전류를 센싱하기 위한 전류 센싱부(122)을 포함한다. 전류 센싱부(122)는 전류 적분기 앰프(CI-AMP)와 ADC 등을 포함하고 있어 넓은 설계 면적을 필요로 한다. 이에, 본 발명의 제2실시예는 별도의 전류 센싱부(122)을 포함하지 않고, 데이터전압을 공급하는 DAC들을 이용하여 전류 센싱부의 기능을 수행할 수 있는 소스 드라이버 IC(SD-IC)의 구성을 제안한다.As described above, the source driver IC (SD-IC) according to the first embodiment of the present invention includes DACs supplying a data voltage and a current sensing unit 122 for sensing a current of a pixel. The current sensing unit 122 includes a current integrator amplifier (CI-AMP) and an ADC, and thus requires a large design area. Accordingly, the second embodiment of the present invention includes a source driver IC (SD-IC) that does not include a separate current sensing unit 122 and can perform the function of the current sensing unit using DACs that supply a data voltage. Suggest a configuration.

도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 구성을 설명하기 위한 도면이다.5 is a diagram for explaining the configuration of a driver IC according to a second embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 제1모드 시 각 픽셀(P)이 연결된 데이터라인(14A)에 데이터전압을 공급하고, 제2모드 시 전류 센싱부의 구성으로 동작하는 복수의 DAC들을 포함하는 DAC부(123)와, 제1모드 및 제2모드에서 선택된 픽셀에 따라 DAC들과 데이터라인들(14A) 간의 연결을 제어하는 스위칭부(500)를 포함한다. 여기서, 제1모드는 영상 데이터를 표시하는 표시모드이고, 제2모드는 픽셀의 전류를 센싱하는 센싱모드일 수 있다.Referring to FIG. 5, a source driver IC (SD-IC) supplies a data voltage to the data line 14A to which each pixel P is connected in the first mode, and operates as a current sensing unit in the second mode. And a DAC unit 123 including the DACs of and a switching unit 500 for controlling connection between the DACs and the data lines 14A according to a pixel selected in the first mode and the second mode. Here, the first mode may be a display mode for displaying image data, and the second mode may be a sensing mode for sensing a current of a pixel.

DAC부(123)는 적색(R) 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DACr, 백색(W) 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DACw, 녹색(G) 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DACg, 청색(B) 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DACb를 포함한다. 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 아날로그 전압을 생성하는 DAC Amp의 기능뿐 아니라, 전류 적분기, 혹은, 비교기로 동작할 수 있다. 이에, 본 발명의 제2실시예는 소스 드라이버 IC(SD-IC)의 동작 모드에 따라 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)들을 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DAC Amp로 이용하거나, 전류 적분기, 비교기로 동작시켜 전류 센싱부의 기능을 수행하도록 한다.The DAC unit 123 includes a DACr supplying a data voltage to a red (R) pixel, a DACw supplying a data voltage to a white (W) pixel, a DACg supplying a data voltage to a green (G) pixel, and a blue (B) pixel. It includes a DACb that supplies a data voltage to the device. DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) that supply data voltages to pixels can function as a current integrator or comparator, as well as a function of a DAC Amp that generates an analog voltage. Accordingly, the second embodiment of the present invention uses DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) as a DAC Amp supplying a data voltage to a pixel according to an operation mode of a source driver IC (SD-IC), or a current integrator, It operates as a comparator to perform the function of the current sensing unit.

제1모드 시 DAC부(123)의 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 디지털 영상 데이터를 아날로그 영상 전압으로 변환하여 해당 데이터라인(14A)으로 출력한다.In the first mode, each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) of the DAC unit 123 converts digital image data into an analog image voltage and outputs it to the corresponding data line 14A.

제2모드 시 DAC부(123)의 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 전류 센싱부의 기능을 수행하기 위한 구성으로서의 기능을 수행한다. 예컨대, 각각의 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)들은 기준 데이터 전압을 생성하는 DAC, 전류 적분기, 비교기, 피드백 ADC의 기능을 수행할 수 있다. 구체적으로는, DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)들 중, DACb는 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압을 생성하는 DAC, DACr은 전류 적분기, DACw는 비교기, DACg는 피드백 ADC의 기능을 수행할 수 있다. 여기서, 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)가 수행하는 기능들은 상술한 설명에 한정되지 않고, 설계방법에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 전류 적분기, 비교기, 피드백 ADC의 기능을 수행하는 각 DAC(DACr, DACw, DACg)는 소스 드라이버 IC(SD-IC) 내에 함께 구비된 샘플 앤 홀드부(515) 및 로직부(550)와 연결되어 전류 센싱부로 동작한다.In the second mode, the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) of the DAC unit 123 function as a component for performing the function of the current sensing unit. For example, each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) may function as a DAC, a current integrator, a comparator, and a feedback ADC that generate a reference data voltage. Specifically, among DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb), DACb is a DAC that generates a reference data voltage for current sensing, DACr is a current integrator, DACw is a comparator, and DACg is a feedback ADC. have. Here, functions performed by each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) are not limited to the above description and may be variously changed according to a design method. Each DAC (DACr, DACw, DACg) performing the functions of a current integrator, comparator, and feedback ADC is connected to a sample and hold unit 515 and a logic unit 550 provided together in a source driver IC (SD-IC). Acts as a current sensing unit.

스위칭부(500)는 제1모드 시 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)와 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, , 14Ag, 14Ab)을 연결하는 제1모드 스위치들(M1)과 제2모드 시 센싱 대상 픽셀을 선택하는 제2모드 스위치들(M2)을 포함한다. 제2모드 스위치들(M2)는 기준 데이터 전압을 공급하는 DACb에 센싱 대상 픽셀의 데이터라인(14A)을 연결할 수 있다. In the first mode, the switching unit 500 includes first mode switches M1 and a second mode connecting each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) and corresponding data lines 14Ar, 14Aw,, 14Ag, and 14Ab. And second mode switches M2 for selecting a pixel to be sensed. The second mode switches M2 may connect the data line 14A of the sensing target pixel to the DACb supplying the reference data voltage.

소스 드라이버 IC(SD-IC)가 제1모드로 동작하면 제1모드 스위치들(M1)이 턴온되어 DAC부(123)의 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)와 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, , 14Ag, 14Ab)이 연결한다. 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, , 14Ag, 14Ab)에 연결된 각 픽셀(R, W, G, B)에 데이터전압을 인가할 수 있다.When the source driver IC SD-IC operates in the first mode, the first mode switches M1 are turned on, and each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) of the DAC unit 123 and the corresponding data line 14Ar, are turned on. 14Aw,, 14Ag, 14Ab) connect. Each DAC (DACr, DACw, DACg, DACb) may apply a data voltage to each of the pixels R, W, G, and B connected to the corresponding data lines 14Ar, 14Aw,, 14Ag, and 14Ab.

소스 드라이버 IC(SD-IC)가 제2모드로 동작하면 제1모드 스위치들(M1)은 오프되고, 제2모드 스위치들(M2) 중 선택된 어느 하나가 턴온된다. 제2모드 스위치(M2)가 턴온되면, 기준 데이터 전압을 공급하는 DAC와 선택된 픽셀의 데이터라인(14A)이 연결된다. 나머지 DACr, DACw, DACg는 각각 전류 센싱부의 구성으로 동작한다. When the source driver IC SD-IC operates in the second mode, the first mode switches M1 are turned off, and any one of the second mode switches M2 is turned on. When the second mode switch M2 is turned on, the DAC supplying the reference data voltage and the data line 14A of the selected pixel are connected. The remaining DACr, DACw, and DACg each operate as a configuration of a current sensing unit.

제2모드 동작 시 DAC부(123)의 등가회로를 참조하면, DAC부(123)의 DAC(DACr, DACw, DACg)들은 각각 전류 적분기(510), 비교기(520), 피드백 DAC(530) 및 센싱을 위한 기준전압을 출력하는 전압생성 DAC(540)로 동작한다. 여기서, DAC부(123)는 전류 적분기(510)의 출력을 샘플링하여 출력하기 위한 샘플 앤 홀드부(515)와, 비교기(520)의 출력을 피드백 DAC(530)를 통해 피드백하고 센싱 데이터를 출력하는 로직부(550)를 더 포함한다.Referring to the equivalent circuit of the DAC unit 123 in the second mode operation, the DACs (DACr, DACw, and DACg) of the DAC unit 123 are respectively a current integrator 510, a comparator 520, a feedback DAC 530, and It operates as a voltage generation DAC 540 that outputs a reference voltage for sensing. Here, the DAC unit 123 feeds back the sample and hold unit 515 for sampling and outputting the output of the current integrator 510 and the output of the comparator 520 through the feedback DAC 530 and outputs sensing data. It further includes a logic unit 550 to perform.

도 5의 등가회로는 제2모드 시 DAC들의 구성을 예시한 것이다.The equivalent circuit of FIG. 5 illustrates the configuration of DACs in the second mode.

청색(B) 픽셀에 데이터 전압을 공급하는 DACb는 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압 출력용 DAC로 동작한다. DACr은 전류 적분기(510)로 동작하고, DACw는 비교기(520)로 동작하며, DACg는 피드백 DAC(530)로 동작할 수 있다. The DACb that supplies the data voltage to the blue (B) pixel operates as a DAC for outputting a reference data voltage for current sensing. DACr operates as a current integrator 510, DACw operates as a comparator 520, and DACg operates as a feedback DAC 530.

전류 적분기(510)로 동작하는 DACr의 반전 입력단자(-)에는 센싱라인(14B)과 연결되고, 비반전 입력단자(+)에는 기준전압(Vpre)이 인가된다. DACr의 반전 입력단자(-)와 출력 단자 사이에는 적분 커패시터(CFB)가 센싱라인(14B)을 통해 입력되는 픽셀의 센싱전류를 축적한다. DACr의 반전 입력단자(-)와 출력 단자 사이에는 리셋 스위치(RST)가 적분 커패시터(CFB)와 병렬로 접속된다. DACr의 출력 단자에는 샘플링 스위치(SAM)와 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)와 홀딩 스위치(HOLD)를 포함하는 샘플 앤 홀드부(515)가 연결된다.The inverting input terminal (-) of the DACr operating as the current integrator 510 is connected to the sensing line 14B, and the reference voltage Vpre is applied to the non-inverting input terminal (+). An integrating capacitor CFB accumulates a sensing current of a pixel input through the sensing line 14B between the inverting input terminal (-) of the DACr and the output terminal. A reset switch RST is connected in parallel with the integrating capacitor CFB between the inverting input terminal (-) of the DACr and the output terminal. A sample and hold unit 515 including a sampling switch SAM, a sample and hold capacitor CSH, and a holding switch HOLD is connected to the output terminal of the DACr.

비교기(520)로 동작하는 DACw는 반전 입력단자(-)로 입력되는 샘플 앤 홀드부(515)의 센싱전압과 비반전 입력단자(+)의 입력 전압을 비교하여 비교결과를 출력한다. 비교기(520)로 동작하는 DACw의 출력단에는 로직부(550)와 로직부(550)의 출력결과를 아날로그 전압값으로 변환하여 DACw의 비반전 입력단자(+)로 피드백하는 피드백 DAC(530)가 연결된다.The DACw operating as the comparator 520 compares the sensing voltage of the sample-and-hold unit 515 input through the inverting input terminal (-) with the input voltage of the non-inverting input terminal (+) and outputs a comparison result. A feedback DAC 530 that converts the output results of the logic unit 550 and the logic unit 550 into analog voltage values and feeds them back to the non-inverting input terminal (+) of the DACw is provided at the output terminal of the DACw operating as the comparator 520. Connected.

로직부(550)는 비교기(520)의 비교 결과에 응답하여 최상위 비트(MSB)에서부터 차례대로 디지털 출력 비트값을 결정한다. 로직부(550)에서 출력된 디지털 출력 비트값은 피드백 DAC(530)에서 전압값으로 변환되어 비교기(520)로 동작하는 DACw의 입력단자(+)에 피드백 된다.The logic unit 550 sequentially determines a digital output bit value from the most significant bit (MSB) in response to the comparison result of the comparator 520. The digital output bit value output from the logic unit 550 is converted into a voltage value by the feedback DAC 530 and fed back to the input terminal (+) of the DACw operating as the comparator 520.

로직부(550)는 1단계에서 로직부(550)의 비트를 카운팅하기 위한 변수(c)를 "1" 로 세팅하고, 로직부(550)를 "0"으로 초기화한 후, 2단계에서 로직부(550)의 I비트에 "1"을 할당한다. 이에 로직부(550)에는 1000…000이 설정된다. 이후, 3단계에서 피드백 DAC(530)가 로직부(550)의 값을 디지털-아날로그 변환하여 비교기(520)의 비반전 입력단자(+)에 기준전압으로 입력한다.The logic unit 550 sets the variable c for counting the bits of the logic unit 550 to "1" in step 1, initializes the logic unit 550 to "0", and then initializes the logic unit 550 to "0". "1" is allocated to the I bit of the sub 550. Therefore, the logic unit 550 has 1000... 000 is set. Thereafter, in step 3, the feedback DAC 530 converts the value of the logic unit 550 digital-to-analog and inputs it as a reference voltage to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 520.

비교기(520)는 샘플 앤 홀드부(515)에서 입력되는 센싱전압과 피드백 DAC(530)에서 입력되는 기준전압을 비교한다. 비교 결과, 센싱전압이 기준전압보다 작으면 로직부(550)의 I비트는 "0"으로 클리어 되어 로직부(550)에 0000…000이 설정된다. 반면에, 상기 과정에서 센싱전압이 기준전압보다 크거나 같다면 로직부(550)의 값은 그대로 유지되고, 바로 다음 단계로서 로직부(550)의 비트를 카운팅하기 위한 변수(c)와 로직부(550)의 크기를 나타내는 변수(N)와 비교하게 된다. 비교 결과, 변수(c)가 로직부(550)의 크기를 나타내는 변수(N) 보다 작으면 상기 2단계로 피드백하고, 상기 변수(c)가 변수(N)와 같거나 그보다 크다면 상기 비교동작을 종료하게 된다. 이와 같이, 비교기(520)는 샘플 앤 홀드부(515)에서 입력되는 센싱전압이 로직부(550)의 값보다 크거나 같을 경우에 "1"의 값을, 작을 경우에 "0"의 값을 출력한다. 상기의 과정을 N번째 비트까지 반복 수행한 후의 로직부(550)에 최종 저장된 값이 샘플 앤 홀드부(515)에서 입력되는 센싱전압의 디지털 데이터로 결정될 수 있다.The comparator 520 compares the sensing voltage input from the sample and hold unit 515 with the reference voltage input from the feedback DAC 530. As a result of the comparison, if the sensing voltage is less than the reference voltage, the I bit of the logic unit 550 is cleared to "0" and the logic unit 550 displays 0000... 000 is set. On the other hand, if the sensing voltage is greater than or equal to the reference voltage in the above process, the value of the logic unit 550 is maintained as it is, and as a next step, the variable c and the logic unit for counting the bits of the logic unit 550 It is compared with the variable (N) representing the size of (550). As a result of the comparison, if the variable (c) is smaller than the variable (N) representing the size of the logic unit 550, feedback is performed to the second step, and if the variable (c) is equal to or greater than the variable (N), the comparison operation Will end. As such, the comparator 520 sets a value of “1” when the sensing voltage input from the sample and hold unit 515 is greater than or equal to the value of the logic unit 550, and a value of “0” when the sensing voltage is smaller than the value of the logic unit 550. Print it out. A value finally stored in the logic unit 550 after repeating the above process up to the N-th bit may be determined as digital data of the sensing voltage input from the sample and hold unit 515.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예는 데이터전압을 공급하는 DAC들을 각각 전류 적분기, 비교기, 피드백 DAC 및 센싱전류 측정을 위한 기준전압 생성용 DAC로 동작하도록 제어함으로써 별도의 전류 센싱부를 구비하지 않고도 전류센싱 기능을 수행할 수 있다. 이에, 전류 센싱부를 구성하기 위한 전류 적분기 앰프(CI-AMP)와 ADC 등의 구성을 삭제할 수 있으므로 소스 드라이버 IC(SD-IC)의 사이즈를 현저히 감소시킬 수 있다.As described above, in the second embodiment of the present invention, a separate current sensing unit is provided by controlling the DACs supplying the data voltage to operate as a current integrator, a comparator, a feedback DAC, and a DAC for generating a reference voltage for measuring a sensing current. Current sensing function can be performed without the need. Accordingly, since the configuration of the current integrator amplifier (CI-AMP) and ADC for configuring the current sensing unit can be eliminated, the size of the source driver IC (SD-IC) can be significantly reduced.

도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC와 픽셀 어레이의 구성을 상세히 보여주는 도면이다.6 is a diagram showing in detail the configuration of a driver IC and a pixel array according to a second embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 소스 드라이버 IC(SD-IC)는 제1모드 시 각 픽셀(P)이 연결된 데이터라인(14A)에 데이터전압을 공급하고, 제2모드 시 전류 센싱부의 구성으로 동작하는 DAC들을 포함하는 DAC부(123)와, 제1모드 및 제2모드에 따라 각 DAC와 데이터라인들(14A) 및 센싱라인(14B) 간의 연결을 제어하는 스위칭부(500)를 포함한다. 여기서, 제1모드는 영상 데이터를 표시하는 표시모드이고, 제2모드는 픽셀의 전류를 센싱하는 센싱모드일 수 있다.Referring to FIG. 6, a source driver IC (SD-IC) supplies a data voltage to a data line 14A to which each pixel P is connected in a first mode, and a DAC operates as a configuration of a current sensing unit in a second mode. And a DAC unit 123 including them, and a switching unit 500 for controlling a connection between each DAC and the data lines 14A and the sensing line 14B according to the first mode and the second mode. Here, the first mode may be a display mode for displaying image data, and the second mode may be a sensing mode for sensing a current of a pixel.

DAC부(123)의 DACr은 전류 적분기, DACw는 비교기, DACg는 피드백 ADC, DACb는 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압을 생성하는 DAC의 기능을 수행할 수 있다.The DACr of the DAC unit 123 may function as a current integrator, DACw as a comparator, DACg as a feedback ADC, and DACb as a DAC for generating a reference data voltage for current sensing.

전류 적분기로 동작하는 DACr의 반전 입력단자(-)에는 센싱라인(14B)과 연결되고, 비반전 입력단자(+)에는 기준전압(Vpre)이 인가된다. DACr의 반전 입력단자(-)와 출력 단자 사이에는 적분 커패시터(CFB)가 제2스위치(SW2)와 함께 연결된다. 적분 커패시터(CFB)에는 리셋 스위치(RST)인 제1스위치(SW1)가 병렬로 접속된다. DACr의 출력 단자에는 제3스위치(SW3)와 제4스위치(SW4)를 통해 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)가 연결된다. 전류 적분기에서 출력된 센싱전압은 제5스위치(SW5)를 통해 비교기 기능을 수행하는 DACw의 반전단자(-)로 입력된다. The inverting input terminal (-) of the DACr that operates as a current integrator is connected to the sensing line 14B, and a reference voltage (Vpre) is applied to the non-inverting input terminal (+). An integrating capacitor CFB is connected together with the second switch SW2 between the inverting input terminal (-) of the DACr and the output terminal. A first switch SW1, which is a reset switch RST, is connected in parallel to the integrating capacitor CFB. The sample and hold capacitor CSH is connected to the output terminal of the DACr through the third switch SW3 and the fourth switch SW4. The sensing voltage output from the current integrator is input to the inverting terminal (-) of DACw that performs a comparator function through the fifth switch SW5.

비교기로 동작하는 DACw는 반전 입력단자(-)로 입력되는 샘플 앤 홀드부(515)의 센싱전압과 비반전 입력단자(+) 입력되는 피드백 전압을 비교하여 비교결과를 출력한다. DACw의 출력단자와 반전 입력단자(-) 사이에는 리셋을 위한 제6스위치(SW6)가 연결된다. DACw의 비반전 입력단자(+)에는 기준전압과의 연결을 제어하는 제7스위치(SW7)가 연결된다. DACw의 출력단자에는 로직부(550)와의 연결을 제어하는 제8스위치(SW8)가 연결된다.The DACw, which operates as a comparator, compares the sensing voltage of the sample-and-hold unit 515 input to the inverting input terminal (-) with the feedback voltage input to the non-inverting input terminal (+) and outputs a comparison result. A sixth switch SW6 for reset is connected between the output terminal of the DACw and the inverting input terminal (-). A seventh switch SW7 for controlling connection to the reference voltage is connected to the non-inverting input terminal (+) of the DACw. The eighth switch SW8 for controlling the connection to the logic unit 550 is connected to the output terminal of the DACw.

로직부(550)의 출력단에는 로직부(550)에서 출력된 디지털 출력결과를 아날로그 전압값으로 변환하여 DACw의 비반전 입력단자(+)로 피드백하는 DACg가 연결된다. 로직부(550)와 피드백 DACg 사이에는 제10스위치(SW10)이 연결되고 피드백 DACg와 DACw의 비반전 입력단자(+) 사이에는 제9스위치(SW9)가 연결된다.A DACg that converts the digital output result output from the logic unit 550 into an analog voltage value and feeds it back to the non-inverting input terminal (+) of the DACw is connected to the output terminal of the logic unit 550. The tenth switch SW10 is connected between the logic unit 550 and the feedback DACg, and the ninth switch SW9 is connected between the feedback DACg and the non-inverting input terminal (+) of the DACw.

이상과 같이 전류 적분기, 비교기, 피드백 ADC의 기능을 수행하는 각 DAC(DACr, DACw, DACg)는 소스 드라이버 IC(SD-IC) 내에 함께 구비된 샘플 앤 홀드부(515) 및 로직부(550)와 연결되어 전류 센싱부로 동작한다. As described above, each of the DACs (DACr, DACw, and DACg) performing the functions of a current integrator, comparator, and feedback ADC is a sample and hold unit 515 and a logic unit 550 provided together in a source driver IC (SD-IC). It is connected to and acts as a current sensing unit.

스위칭부(500)의 제1모드 스위치들(M1)은 제1모드 동작 시 모두 턴온되어 DAC부(123)의 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)와 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, 14Ag, 14Ab)이 연결한다. 이에, 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, 14Ag, 14Ab)에 연결된 각 픽셀(R, W, G, B)에 데이터전압을 인가할 수 있다.The first mode switches M1 of the switching unit 500 are all turned on during the first mode operation, and each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) of the DAC unit 123 and the corresponding data lines 14Ar, 14Aw, and 14Ag are turned on. , 14Ab) connects. Accordingly, each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) may apply a data voltage to each of the pixels R, W, G, and B connected to the corresponding data lines 14Ar, 14Aw, 14Ag, and 14Ab.

제2모드 스위치들(M2)은 제2모드 동작 시 어느 하나가 턴온된다. 제2모드 스위치(M2)가 턴온되면, 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압을 생성하는 DACb와 선택된 픽셀의 데이터라인(14A)이 연결된다. 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압을 입력받은 픽셀은 입력된 데이터전압의 전위에 따라 센싱라인(14B)으로 전류를 출력하게 된다. 픽셀에서 출력된 전류는 센싱라인(14B)을 통해 전류 적분기로 동작하는 DACr의 반전 입력단자(-)에 입력되어 센싱데이터가 출력될 수 있다.Any one of the second mode switches M2 is turned on during the second mode operation. When the second mode switch M2 is turned on, the DACb generating the reference data voltage for current sensing and the data line 14A of the selected pixel are connected. A pixel receiving a reference data voltage for current sensing outputs a current to the sensing line 14B according to the potential of the input data voltage. The current output from the pixel is input to the inverting input terminal (-) of the DACr operating as a current integrator through the sensing line 14B, so that sensing data may be output.

도 7 및 도 8을 참조하여 제1동작 모드 시 회로 동작을 설명한다.The circuit operation in the first operation mode will be described with reference to FIGS. 7 and 8.

도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 제1동작 모드 시 회로 동작을 설명하기 위한 도면이고, 도 8은 도 7의 제1동작 모드 시 스위치 제어를 위한 제어 파형도를 보여주는 도면이다.FIG. 7 is a diagram for explaining circuit operation in a first operation mode of a driver IC according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a view showing a control waveform diagram for switch control in the first operation mode of FIG. 7 to be.

제1모드는 영상 데이터를 표시하는 표시모드로서, 스위칭부(500)에 제1모드 선택신호가 입력되면, 제1모드 스위치들(M1)은 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)와 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, 14Ag, 14Ab)이 연결되도록 턴온 된다. 제1스위치(SW1), 제3스위치(SW3), 제6스위치(SW6), 제7스위치(SW7)도 턴온된다. 이에, 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, 14Ag, 14Ab)에 연결된 각 픽셀(R, W, G, B)에 데이터전압을 인가할 수 있다.The first mode is a display mode for displaying image data, and when a first mode selection signal is input to the switching unit 500, the first mode switches M1 correspond to each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb). The data lines 14Ar, 14Aw, 14Ag, and 14Ab are turned on to be connected. The first switch SW1, the third switch SW3, the sixth switch SW6, and the seventh switch SW7 are also turned on. Accordingly, each of the DACs (DACr, DACw, DACg, and DACb) may apply a data voltage to each of the pixels R, W, G, and B connected to the corresponding data lines 14Ar, 14Aw, 14Ag, and 14Ab.

제1모드에서, 제1스위치(SW1)는 턴온되고, 제2스위치(SW2)는 오프되고, 제3스위치(SW3)는 턴온되고, 제4스위치(SW4)는 오프되고, 제5스위치(SW5)는 오프되고, 제6스위치(SW6)는 턴온되고, 제7스위치(SW7)는 턴온되고, 제8스위치(SW8)는 오프되고, 제9스위치(SW9)는 오프되고, 제10스위치(SW10)는 오프된다.In the first mode, the first switch SW1 is turned on, the second switch SW2 is turned off, the third switch SW3 is turned on, the fourth switch SW4 is turned off, and the fifth switch SW5 is turned on. ) Is turned off, the sixth switch SW6 is turned on, the seventh switch SW7 is turned on, the eighth switch SW8 is turned off, the ninth switch SW9 is turned off, and the tenth switch SW10 is turned off. ) Is off.

DACr의 입력단과 출력단을 연결하는 초기화 스위치인 제1스위치(SW1)가 턴온되어 DACr는 이득이 1인 유닛 게인 버퍼로 동작한다. 적분 캐패시터(CFB)를 연결하는 제2스위치(SW2)와 샘플 앤 홀드 캐패시터(CFB)를 연결하는 제4스위치(SW4) 및 출력단을 비교기로 동작하는 DACw와 연결하는 제5스위치(SW5)는 오프된다. 이에, DACr로 입력된 적색(R) 픽셀 데이터(DATA(R))는 DACr을 통해 전압데이터로 출력되고, 그 출력은 제3스위치(SW3)를 통해 적색(R) 픽셀이 연결된 데이터라인(14A)으로 출력된다. The first switch SW1, which is an initialization switch connecting the input terminal and the output terminal of the DACr, is turned on, so that the DACr operates as a unit gain buffer having a gain of 1. The second switch SW2 connecting the integrating capacitor CFB, the fourth switch SW4 connecting the sample-and-hold capacitor CFB, and the fifth switch SW5 connecting the output terminal to the DACw acting as a comparator are off. do. Accordingly, the red (R) pixel data DATA (R) input to the DACr is output as voltage data through the DACr, and the output is the data line 14A to which the red (R) pixel is connected through the third switch SW3. ) Is displayed.

DACw의 입력단과 출력단을 연결하는 초기화 스위치인 제6스위치(SW6)가 턴온되어 DACw는 이득이 1인 유닛 게인 버퍼로 동작한다. DACw의 출력단과 로직부(550)를 연결하는 제8스위치(SW8), 피드백 라인을 연결하는 제9스위치(SW9)는 모두 오프되고,비반전 입력단자(+)에 기준전압을 연결하는 제7스위치(SW7)는 턴온된다. 이에, DACw로 입력된 백색(W) 픽셀 데이터(DATA(W))는 DACw를 통해 전압데이터로 출력되고, 그 출력은 백색(W) 픽셀이 연결된 데이터라인(14A)으로 출력된다. The sixth switch SW6, which is an initialization switch connecting the input terminal and the output terminal of the DACw, is turned on, so that the DACw operates as a unit gain buffer having a gain of 1. The eighth switch SW8 connecting the output terminal of the DACw and the logic unit 550 and the ninth switch SW9 connecting the feedback line are all turned off, and the seventh switch connecting the reference voltage to the non-inverting input terminal (+) The switch SW7 is turned on. Accordingly, the white (W) pixel data DATA(W) input to the DACw is output as voltage data through the DACw, and the output thereof is output to the data line 14A to which the white (W) pixel is connected.

DACg는 입력된 녹색(G) 픽셀 데이터(DATA(G))를 전압데이터로 출력되고, 그 출력은 백색(G) 픽셀이 연결된 데이터라인(14A)으로 출력된다. The DACg outputs the input green (G) pixel data DATA(G) as voltage data, and the output is output to the data line 14A to which the white (G) pixel is connected.

DACb는 청색(B) 픽셀 데이터(DATA(B))를 전압데이터로 출력되고, 그 출력은 청색(B) 픽셀이 연결된 데이터라인(14A)으로 출력된다. The DACb outputs the blue (B) pixel data DATA(B) as voltage data, and the output is output to the data line 14A to which the blue (B) pixel is connected.

이상과 같이, 제1모드 동작 시 각 DAC(DACr, DACw, DACg, DACb)는 해당 데이터라인(14Ar, 14Aw, 14Ag, 14Ab)에 연결된 각 픽셀(R, W, G, B)에 데이터전압을 인가할 수 있다.As described above, in the first mode operation, each DAC (DACr, DACw, DACg, DACb) applies a data voltage to each pixel (R, W, G, B) connected to the corresponding data line (14Ar, 14Aw, 14Ag, 14Ab). Can be approved.

도 9 내지 도 12를 참조하여 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 제2동작 모드 시 제2동작 모드 시 회로 구성을 설명한다. A circuit configuration in the second operation mode in the second operation mode of the driver IC according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 9 to 12.

도 9는 소스 드라이버 IC(SD-IC)의 제2동작 모드 시 회로 동작을 도시한 것이고, 도 10은 제2동작 모드 시 스위치 제어를 위한 제어 파형도를 보여주는 도면이다.9 is a diagram illustrating a circuit operation of a source driver IC (SD-IC) in a second operation mode, and FIG. 10 is a diagram showing a control waveform diagram for switch control in a second operation mode.

도 9 및 도 10을 참조하면, 제2모드는 픽셀의 전류를 센싱하는 센싱모드로서, 스위칭부(500)에 제2모드 선택신호가 입력되면, 제1모드 스위치들(M1)은 DACb와 연결된 스위치 외엔 모두 오프된다. 제2모드 스위치들(M2)은 전류 센싱이 선택된 어느 하나가 턴온된다. 제2모드 스위치(M2)가 턴온되면, 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압을 생성하는 DACb와 선택된 픽셀의 데이터라인(14A)이 연결된다. 9 and 10, the second mode is a sensing mode for sensing a current of a pixel. When a second mode selection signal is input to the switching unit 500, the first mode switches M1 are connected to the DACb. Everything except the switch is off. Any one of the second mode switches M2 from which current sensing is selected is turned on. When the second mode switch M2 is turned on, the DACb generating the reference data voltage for current sensing and the data line 14A of the selected pixel are connected.

제2모드는 전류 적분 기간과 샘플링 및 ADC 동작 기간을 포함할 수 있다. 제2모드에서 제1스위치(SW1)는 오프된 상태로 유지되고, 제2스위치(SW2)는 턴온 상태로 유지된다. 제3스위치(SW3)는 전류 적분 기간에서 턴온되고 샘플링 및 ADC 동작 기간에서 오프된다. 제4스위치(SW4)는 턴온 상태로 유지된다. 제5스위치(SW5)는 전류 적분 기간에서 오프되고 샘플링 및 ADC 동작 기간에서 턴온된다. 제6스위치(SW6)는 및 제7스위치(SW7)는 오프된 상태로 유지된다. 제8스위치(SW8), 제9스위치(SW9), 제10스위치(SW10)는 전류 적분 기간에서 오프되고 샘플링 및 ADC 동작 기간에서 턴온된다. The second mode may include a current integration period and a sampling and ADC operation period. In the second mode, the first switch SW1 is maintained in an off state, and the second switch SW2 is maintained in a turned-on state. The third switch SW3 is turned on in the current integration period and turned off in the sampling and ADC operation period. The fourth switch SW4 is maintained in a turned-on state. The fifth switch SW5 is turned off during the current integration period and turned on during the sampling and ADC operation period. The sixth switch SW6 and the seventh switch SW7 are maintained in an off state. The eighth switch SW8, the ninth switch SW9, and the tenth switch SW10 are turned off in the current integration period and turned on in the sampling and ADC operation periods.

제2모드에서, DACr은 전류 적분기(510), DACw는 비교기(520), DACg는 피드백 ADC(530), DACb는 전류 센싱을 위한 기준 데이터전압을 생성하는 전압생성 DAC(540)의 기능을 수행한다.In the second mode, DACr is a current integrator 510, DACw is a comparator 520, DACg is a feedback ADC 530, and DACb is a voltage generation DAC 540 that generates a reference data voltage for current sensing. do.

제1단계(①)에 전압생성 DAC(540)의 DACb는 전류 센싱을 위한 기준 데이터(DATA_S)를 아날로그 데이터전압으로 변환하여 출력한다. 전압생성 DAC(540)에서 출력된 데이터전압은 제2모드 스위치(M2)가 턴온된 적색(R) 픽셀에 인가된다. 적색(R) 픽셀은 데이터전압을 인가 받아 구동되고, 센싱 제어신호(SEN) 입력에 따라 센싱라인(14B)에 센싱전류를 인가한다.In the first step (①), the DACb of the voltage generating DAC 540 converts the reference data DATA_S for current sensing into an analog data voltage and outputs it. The data voltage output from the voltage generation DAC 540 is applied to the red (R) pixel on which the second mode switch M2 is turned on. The red (R) pixel is driven by receiving a data voltage, and a sensing current is applied to the sensing line 14B according to the sensing control signal SEN.

제2단계(②)에 전류 적분기(510)는 센싱라인(14B)으로 유입되는 센싱전류를 적분하여 센상전압을 출력한다. 전류 적분기(510)는 제2모드의 전류 적분 기간 동안 센싱전류를 적분한다. 이에, 전류 적분기(510)의 동작과 관련 없는 제5 내지 제10 스위치(SW5~SW10)는 전류 적분 기간 동안 오프 상태로 유지된다. In the second step (②), the current integrator 510 integrates the sensing current flowing into the sensing line 14B and outputs a sensing voltage. The current integrator 510 integrates the sensing current during the current integration period in the second mode. Accordingly, the fifth to tenth switches SW5 to SW10 that are not related to the operation of the current integrator 510 are maintained in an off state during the current integration period.

전류 적분기(510)에서 리셋 스위치인 제1스위치(SW1)는 오프된 상태로 유지되고, 제2스위치(SW2)는 턴온 상태로 유지되어 DACr에 피드백 커패시터(CFB)가 연결된다. 제3스위치(SW3) 및 제4스위치(SW4)는 전류 적분 기간에 턴온되어 샘플 앤 홀드 캐패시터(CSH)를 DACr의 출력단에 연결한다. 이에, 전류 적분기(510)의 DACr은 센싱라인(14B)으로 유입되는 센싱전류를 반전 입력단(-)으로 입력받아 센싱전압을 출력하고, 출력된 센싱전압은 샘플 앤 홀드 캐패시터(CSH)에 저장된다.In the current integrator 510, the first switch SW1, which is a reset switch, is maintained in an off state, and the second switch SW2 is maintained in a turned-on state, so that the feedback capacitor CFB is connected to the DACr. The third switch SW3 and the fourth switch SW4 are turned on during the current integration period to connect the sample and hold capacitor CSH to the output terminal of the DACr. Accordingly, the DACr of the current integrator 510 receives the sensing current flowing into the sensing line 14B through the inverting input terminal (-) and outputs a sensing voltage, and the output sensing voltage is stored in the sample and hold capacitor (CSH). .

제3단계(③)에 적분기(510)의 샘플 앤 홀드 캐패시터(CSH)에 저장된 센싱전압이 비교기(520)로 유입된다. 비교기(520)의 DACw에서 출력된 비교값은 로직부(550) 및 피드백 DAC(530)를 통해 비교기(520)로 피드백된다. 이에, 전류 적분기(510)를 연결하는 제3 스위치(SW3)는 오프된다. 제4스위치(SW4) 및 제5스위치(SW5)는 턴온 상태로 유지되어 적분기(510)의 샘플 앤 홀드 캐패시터(CSH)와 비교기(520)의 DACw를 연결한다.In the third step (③), the sensing voltage stored in the sample and hold capacitor CSH of the integrator 510 is introduced into the comparator 520. The comparison value output from the DACw of the comparator 520 is fed back to the comparator 520 through the logic unit 550 and the feedback DAC 530. Accordingly, the third switch SW3 connecting the current integrator 510 is turned off. The fourth switch SW4 and the fifth switch SW5 are maintained in a turned-on state to connect the sample and hold capacitor CSH of the integrator 510 and the DACw of the comparator 520.

비교기(520)에서 초기화 스위치인 제6스위치(SW6) 및 제7스위치(SW7)는 오프된 상태로 유지된다. 제8스위치(SW8)는 턴온되어 DACw의 출력단에 로직부(550)를 연결하고, 로직부(550)의 출력과 DACw의 비반전 입력단(+) 사이에는 제9스위치(SW9) 및 제10스위치(SW10)가 턴온되어 피드백 ADC(530)가 연결된다. 이에, 비교기(520)의 DACw는 반전 입력단(-)으로 센싱전압을 입력받고 비반전 입력단(+)으로 비교결과를 피드백 받아 비교결과를 출력한다. In the comparator 520, the sixth switch SW6 and the seventh switch SW7, which are initialization switches, are maintained in an off state. The eighth switch SW8 is turned on to connect the logic unit 550 to the output terminal of the DACw, and between the output of the logic unit 550 and the non-inverting input terminal (+) of the DACw, the ninth switch SW9 and the tenth switch (SW10) is turned on and the feedback ADC 530 is connected. Accordingly, the DACw of the comparator 520 receives the sensing voltage through the inverting input terminal (-) and feedback the comparison result through the non-inverting input terminal (+), and outputs the comparison result.

로직부(550)는 비교기(520)의 비교결과를 디지털값으로 출력하고 피드백 ADC(530)는 디지털값으로 출력되는 비교결과를 아날로그 전압으로 변환하여 비반전 입력단(+)으로 피드백한다. The logic unit 550 outputs the comparison result of the comparator 520 as a digital value, and the feedback ADC 530 converts the comparison result output as a digital value into an analog voltage and feeds it back to the non-inverting input terminal (+).

제4단계(④)는 비교기(520)의 반전 입력단(-)으로 입력된 센싱전압과 비반전 입력단(+)으로 피드백된 출력단 전압이 동일한 것으로 판단된 경우 로직부(550)에서 센싱전압의 디지털값을 출력한다.In the fourth step (④), when it is determined that the sensing voltage input to the inverting input terminal (-) of the comparator 520 and the output terminal voltage fed back to the non-inverting input terminal (+) are the same, the logic unit 550 displays the digital sensing voltage. Print the value.

도 11은 도 9의 제2동작 모드 시 등가회로를 도시한 도면이다.11 is a diagram illustrating an equivalent circuit in the second operation mode of FIG. 9.

도 11을 참조하면, 제2동작 모드 시 전류센싱 데이터를 출력하기 위해, DACr은 전류 적분기(510), DACw는 비교기(520), DACg는 피드백 ADC(530)의 기능을 수행할 수 있다.Referring to FIG. 11, in order to output current sensing data in the second operation mode, DACr may function as a current integrator 510, DACw may function as a comparator 520, and DACg may function as a feedback ADC 530.

전류 적분기(510)는 반전 입력단자(-)에는 센싱라인(14B)과 연결되고, 비반전 입력단자(+)에는 기준전압(Vpre)이 인가되는 DACr과, DACr의 반전 입력단자(-)와 출력 단자 사이에 연결된 적분 커패시터(CFB), 적분 커패시터(CFB)와 병렬로 접속된 리셋 스위치(RST)를 포함한다. The current integrator 510 is connected to the sensing line 14B to the inverting input terminal (-), and the DACr to which the reference voltage (Vpre) is applied to the non-inverting input terminal (+), and the inverting input terminal (-) of the DACr. It includes an integrating capacitor CFB connected between the output terminals, and a reset switch RST connected in parallel with the integrating capacitor CFB.

전류 적분기(510)의 리셋 스위치(RST)가 턴온되면 DACr의 입력단(+, -) 및 출력단이 모두 동일한 전압으로 초기화 된다. 리셋 스위치(RST)가 오프되면 DACr은 전류 적분기로 동작한다. 이에, DACr의 반전 입력단자(-)에 유입되는 센싱전류에 의해 적분 커패시터(CFB)의 양단 전위차는 센싱 시간이 경과 할수록, 즉 축적되는 센싱전류(IPXL)가 증가할수록 커진다. 그런데, 앰프(AMP)의 특성상 반전 입력단자(-) 및 비 반전입력단자(+)는 가상 접지(Virtual Ground)를 통해 쇼트되어 서로 간 전위차가 0이므로, 반전 입력단자(-)의 전위는 적분 커패시터(CFB)의 전위차 증가에 상관없이 적분기 기준전압(VREF)으로 유지된다. 그 대신, 적분 커패시터(CFB)의 양단 전위차에 대응하여 DACr의 출력단의 전위가 낮아진다. 이러한 원리로 전류 적분기(510)는 센싱라인(14B)으로 입력되는 센싱전류에 따라 센싱전압을 출력한다.When the reset switch RST of the current integrator 510 is turned on, both the input terminals (+, -) and the output terminals of the DACr are initialized to the same voltage. When the reset switch RST is turned off, the DACr operates as a current integrator. Accordingly, the potential difference between both ends of the integrating capacitor CFB due to the sensing current flowing into the inverting input terminal (-) of the DACr increases as the sensing time elapses, that is, as the accumulated sensing current IPXL increases. However, due to the characteristics of the amplifier (AMP), the inverting input terminal (-) and the non-inverting input terminal (+) are shorted through a virtual ground and the potential difference between them is 0, so the potential of the inverting input terminal (-) is integrated. The integrator reference voltage VREF is maintained regardless of an increase in the potential difference of the capacitor CFB. Instead, the potential at the output terminal of the DACr is lowered in response to the potential difference between both ends of the integrating capacitor CFB. With this principle, the current integrator 510 outputs a sensing voltage according to the sensing current input to the sensing line 14B.

전류 적분기(510)의 출력단에는 샘플 앤 홀드부(515)가 연결된다. 샘플 앤 홀드부(515)는 샘플링 스위치(SAM)와 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)와 홀딩 스위치(HOLD)를 포함하는 샘플 앤 홀드부(515)가 연결된다. 샘플링 스위치(SAM)가 턴 온 되면 전류 적분기(510)에서 출력된 센싱전압이 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)에 저장된다. 홀딩 스위치(HOLD)가 턴온 되면 샘플 앤 홀드 커패시터(CSH)에 저장된 센싱 전압이 비교기(520)에 인가된다.A sample and hold unit 515 is connected to the output terminal of the current integrator 510. The sample and hold unit 515 is connected to a sample and hold unit 515 including a sampling switch SAM, a sample and hold capacitor CSH, and a holding switch HOLD. When the sampling switch SAM is turned on, the sensing voltage output from the current integrator 510 is stored in the sample and hold capacitor CSH. When the holding switch HOLD is turned on, the sensing voltage stored in the sample and hold capacitor CSH is applied to the comparator 520.

비교기(520)는 반전 입력단자(-)로 입력된 센싱 전압과 비반전 입력단자(+) 입력된 피드백 전압을 비교하여 비교결과를 출력하는 DACw를 포함한다. DACw는 반전 입력단자(-)로 입력되는 샘플 앤 홀드부(515)의 센싱전압과 비반전 입력단자(+) 입력되는 피드백 전압을 비교한다. DACw의 출력은 로직부(550) 및 피드백 DAC(530)을 통해 DACw의 비반전 입력단자(+)로 피드백된다.The comparator 520 includes a DACw that compares the sensing voltage input through the inverting input terminal (-) and the feedback voltage inputted through the non-inverting input terminal (+) and outputs a comparison result. The DACw compares the sensing voltage of the sample-and-hold unit 515 input to the inverting input terminal (-) and the feedback voltage input to the non-inverting input terminal (+). The output of the DACw is fed back to the non-inverting input terminal (+) of the DACw through the logic unit 550 and the feedback DAC 530.

비교기(520)로 동작하는 DACw는 반전 입력단자(-)로 입력되는 샘플 앤 홀드부(515)의 센싱전압과 비반전 입력단자(+)의 입력 전압을 비교하여 비교결과를 출력한다. 비교기(520)로 동작하는 DACw의 출력단에는 로직부(550)와 로직부(550)의 출력결과를 아날로그 전압값으로 변환하여 DACw의 비반전 입력단자(+)로 피드백하는 피드백 DAC(530)가 연결된다. The DACw operating as the comparator 520 compares the sensing voltage of the sample-and-hold unit 515 input through the inverting input terminal (-) with the input voltage of the non-inverting input terminal (+) and outputs a comparison result. A feedback DAC 530 that converts the output results of the logic unit 550 and the logic unit 550 into analog voltage values and feeds them back to the non-inverting input terminal (+) of the DACw is provided at the output terminal of the DACw operating as the comparator 520. Connected.

로직부(550)는 비교기(520)의 비교 결과에 응답하여 최상위 비트(MSB)에서부터 차례대로 디지털 출력 비트값을 결정한다. 로직부(550)에서 출력된 디지털 출력 비트값은 피드백 DAC(530)에서 전압값으로 변환되어 비교기(520)의 비반전 입력단자(+)에 입력된다. The logic unit 550 sequentially determines a digital output bit value from the most significant bit (MSB) in response to the comparison result of the comparator 520. The digital output bit value output from the logic unit 550 is converted into a voltage value by the feedback DAC 530 and is input to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 520.

로직부(550)는 1단계에서 로직부(550)의 비트를 카운팅하기 위한 변수(c)를 "1" 로 세팅하고, 로직부(550)를 "0"으로 초기화한 후, 2단계에서 로직부(550)의 I비트에 "1"을 할당한다. 이에 로직부(550)에는 1000…000이 설정된다. 이후, 3단계에서 피드백 DAC(530)가 로직부(550)의 값을 아날로그 전압으로 변환하여 비교기(520)의 비반전 입력단자(+)에 입력한다.The logic unit 550 sets the variable c for counting the bits of the logic unit 550 to "1" in step 1, initializes the logic unit 550 to "0", and then initializes the logic unit 550 to "0". "1" is allocated to the I bit of the sub 550. Therefore, the logic unit 550 has 1000... 000 is set. Thereafter, in step 3, the feedback DAC 530 converts the value of the logic unit 550 into an analog voltage and inputs it to the non-inverting input terminal (+) of the comparator 520.

비교기(520)는 샘플 앤 홀드부(515)에서 입력되는 센싱전압과 피드백 DAC(530)에서 입력되는 피드백 전압을 비교한다. 비교 결과, 센싱전압이 피드백 전압보다 작으면 로직부(550)의 I비트는 "0"으로 클리어 되어 로직부(550)에 0000…000이 설정된다. 반면에, 상기 과정에서 센싱전압이 기준전압보다 크거나 같다면 로직부(550)의 값은 그대로 유지되고, 바로 다음 단계로서 로직부(550)의 비트를 카운팅하기 위한 변수(c)와 로직부(550)의 크기를 나타내는 변수(N)와 비교하게 된다. 비교 결과, 변수(c)가 로직부(550)의 크기를 나타내는 변수(N) 보다 작으면 상기 2단계로 피드백하고, 상기 변수(c)가 변수(N)와 같거나 그보다 크다면 상기 비교동작을 종료하게 된다. 이와 같이, 비교기(520)는 샘플 앤 홀드부(515)에서 입력되는 센싱전압이 로직부(550)의 값보다 크거나 같을 경우에 "1"의 값을, 작을 경우에 "0"의 값을 출력한다. The comparator 520 compares the sensing voltage input from the sample and hold unit 515 with the feedback voltage input from the feedback DAC 530. As a result of the comparison, if the sensing voltage is less than the feedback voltage, the I bit of the logic unit 550 is cleared to "0" and the logic unit 550 displays 0000... 000 is set. On the other hand, if the sensing voltage is greater than or equal to the reference voltage in the above process, the value of the logic unit 550 is maintained as it is, and as a next step, the variable c and the logic unit for counting the bits of the logic unit 550 It is compared with the variable (N) representing the size of (550). As a result of the comparison, if the variable (c) is smaller than the variable (N) representing the size of the logic unit 550, feedback is performed to the second step, and if the variable (c) is equal to or greater than the variable (N), the comparison operation Will end. As such, the comparator 520 sets a value of “1” when the sensing voltage input from the sample and hold unit 515 is greater than or equal to the value of the logic unit 550, and a value of “0” when the sensing voltage is smaller than the value of the logic unit 550. Print it out.

상기의 과정을 N번째 비트까지 반복 수행한 후의 로직부(550)에 최종 저장된 값이 샘플 앤 홀드부(515)에서 입력되는 센싱전압의 디지털 데이터(DATA)로 출력된다.The value finally stored in the logic unit 550 after repeating the above process up to the N-th bit is output as digital data of the sensing voltage input from the sample and hold unit 515.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예는 데이터전압을 공급하는 DAC들을 각각 전류 적분기, 비교기, 피드백 DAC 및 센싱전류 측정을 위한 기준전압 생성용 DAC로 동작하도록 제어함으로써 별도의 전류 센싱부를 구비하지 않고도 전류센싱 기능을 수행할 수 있다. As described above, in the second embodiment of the present invention, a separate current sensing unit is provided by controlling the DACs supplying the data voltage to operate as a current integrator, a comparator, a feedback DAC, and a DAC for generating a reference voltage for measuring a sensing current. Current sensing function can be performed without the need.

도 12는 본 발명의 제2실시예에 따른 드라이버 IC의 제2동작 모드 시 동작 흐름을 보여주는 도면이다. 12 is a diagram illustrating an operation flow of a driver IC in a second operation mode according to the second embodiment of the present invention.

제1단계(①)에 전압생성 DAC(540)는 전류 센싱을 위한 기준 데이터를 아날로그 데이터전압으로 변환하여 출력한다. 데이터전압을 입력받은 픽셀은 입력 데이터전압에 따른 센싱전류를 센싱라인에 인가한다.In the first step (①), the voltage generating DAC 540 converts reference data for current sensing into an analog data voltage and outputs it. The pixel receiving the data voltage applies a sensing current according to the input data voltage to the sensing line.

제2단계(②)에 전류 적분기(510)는 센싱라인(14B)으로 유입되는 센싱전류를 적분하여 센싱전압을 출력한다. In the second step (②), the current integrator 510 integrates the sensing current flowing into the sensing line 14B and outputs a sensing voltage.

제3단계(③)에 적분기(510)의 센싱전압을 입력받는 비교기(520)와 비교기(520)의 비교결과를 디지털값으로 출력하는 로직부(550), 로직부(550)의 출력을 비교기(520)로 피드백하는 피드백 DAC(530)를 이용하여 센싱전압을 디지털 데이터로 변환한다.In the third step (③), the comparator 520 that receives the sensing voltage of the integrator 510 and the comparison result of the comparator 520 are output as digital values, and the output of the logic unit 550 is a comparator. The sensing voltage is converted into digital data using the feedback DAC 530 that feeds back to 520.

제4단계(④)에 비교기(520)의 반전 입력단(-)으로 입력된 센싱전압과 비반전 입력단(+)으로 피드백된 출력단 전압이 동일한 것으로 판단된 경우 로직부(550)에서 센싱전압의 디지털값을 출력한다.In the fourth step (④), if the sensing voltage input to the inverting input terminal (-) of the comparator 520 and the output terminal voltage fed back to the non-inverting input terminal (+) are determined to be the same, the digital sensing voltage of the logic unit 550 Print the value.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the technical configuration of the present invention described above is in other specific forms without changing the technical spirit or essential features of the present invention by those skilled in the art. It will be appreciated that it can be implemented. Therefore, the embodiments described above are illustrative in all respects and should be understood as non-limiting. In addition, the scope of the present invention is indicated by the claims to be described later rather than the detailed description. In addition, all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention.

10: 표시패널 11: 타이밍 제어부
12: 데이터 구동부 13: 스캔 구동부
14A: 데이터라인 14B: 센싱라인
123: DAC부 500: 스위칭부
510: 전류 적분기 515: 샘플 앤 홀드부
520: 비교기 530: 피드백 DAC
540: 센싱전압 출력 DAC 550: 로직부
10: display panel 11: timing control unit
12: data driving unit 13: scan driving unit
14A: data line 14B: sensing line
123: DAC unit 500: switching unit
510: current integrator 515: sample and hold unit
520: comparator 530: feedback DAC
540: sensing voltage output DAC 550: logic unit

Claims (15)

복수의 DAC-AMP를 포함하고, 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP가 각각 영상 데이터전압을 생성하여 픽셀이 연결된 데이터라인들에 각각 데이터전압을 공급하고, 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP가 각각 전류 센싱을 위한 구성으로 동작하여 상기 픽셀 중 어느 하나의 픽셀에 센싱용 데이터전압을 공급하고 센싱라인으로 입력되는 상기 어느 하나의 픽셀의 센싱전류를 센싱하는 복수의 DAC-AMP를 포함하는 DAC부; 및
상기 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP를 상기 데이터라인들에 각각 연결하고, 상기 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP 중 어느 하나를 상기 데이터라인들 중 어느 하나와 연결하는 스위칭부;
를 포함하는 드라이버 집적회로.
A plurality of DAC-AMPs are included, and in a first mode, the plurality of DAC-AMPs respectively generate an image data voltage to supply data voltages to data lines connected to a pixel, and in a second mode, the plurality of DAC-AMPs Each AMP operates in a configuration for current sensing, supplies a sensing data voltage to any one of the pixels, and includes a plurality of DAC-AMPs for sensing a sensing current of any one pixel input through a sensing line. DAC unit; And
A switching unit connecting the plurality of DAC-AMPs to the data lines in the first mode, and connecting any one of the plurality of DAC-AMPs to any one of the data lines in the second mode;
Driver integrated circuit comprising a.
제1항에 있어서,
상기 복수의 DAC-AMP는, 상기 제2모드 시 전류 적분기로 동작하는 DAC-AMP, 비교기로 동작하는 DAC-AMP, 상기 비교기에 전압을 피드백하는 피드백 DAC를 포함하는 드라이버 집적회로.
The method of claim 1,
The plurality of DAC-AMPs include a DAC-AMP that operates as a current integrator in the second mode, a DAC-AMP that operates as a comparator, and a feedback DAC that feeds a voltage back to the comparator.
제2항에 있어서,
상기 전류 적분기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류가 입력되는 반전 입력단, 기준전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값이 출력되는 출력단을 포함하고,
상기 비반전 입력단과 상기 출력단 사이에 연결되는 적분 캐패시터; 및
상기 적분 캐패시터에 병렬로 연결되는 초기화 스위치;
를 포함하는 드라이버 집적회로.
The method of claim 2,
The DAC-AMP operating as the current integrator includes an inverting input terminal to which the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a reference voltage, and an output terminal to output an integral value of the sensing current,
An integrating capacitor connected between the non-inverting input terminal and the output terminal; And
An initialization switch connected in parallel to the integrating capacitor;
Driver integrated circuit comprising a.
제3항에 있어서,
상기 적분기로 동작하는 DAC-AMP의 출력단에 연결되어 상기 센싱전류의 적분값을 저장 및 출력하는 샘플링 앤 홀드부를 더 포함하는 드라이버 집적회로.
The method of claim 3,
A driver integrated circuit further comprising a sampling and hold unit connected to the output terminal of the DAC-AMP operating as the integrator to store and output an integral value of the sensing current.
제2항에 있어서,
상기 비교기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류의 적분값이 입력되는 반전 입력단, 피드백 전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압의 비교값을 출력하는 출력단을 포함하고,
상기 출력단에 연결되어 상기 비교기의 출력값에 따른 디지털 데이터를 출력하는 로직부;
를 포함하는 드라이버 집적회로.
The method of claim 2,
The DAC-AMP operating as the comparator includes an inverting input terminal to which the integrated value of the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a feedback voltage, and an output terminal for outputting a comparison value of the integrated value of the sensing current and the feedback voltage. ,
A logic unit connected to the output terminal to output digital data according to an output value of the comparator;
Driver integrated circuit comprising a.
제5항에 있어서,
상기 피드백 DAC는,
상기 로직부와 상기 비교기의 상기 비반전 입력단 사이에 연결되어 상기 로직부에서 출력된 상기 디지털 데이터를 아날로그 전압으로 변환하여 상기 피드백 전압을 인가하는 드라이버 집적회로.
The method of claim 5,
The feedback DAC,
A driver integrated circuit connected between the logic unit and the non-inverting input terminal of the comparator to convert the digital data output from the logic unit into an analog voltage to apply the feedback voltage.
제6항에 있어서,
상기 로직부는,
상기 비교기의 출력값이 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압이 동일한 것으로 출력된 경우 상기 디지털 데이터를 상기 센싱전류의 센싱 데이터로 출력하는 드라이버 집적회로.
The method of claim 6,
The logic unit,
When the output value of the comparator is the same as the integral value of the sensing current and the feedback voltage, the driver integrated circuit outputs the digital data as sensing data of the sensing current.
다수의 픽셀들과 상기 픽셀들에 연결된 데이터 라인 및 센싱 라인이 구비된 표시패널; 및
상기 데이터 라인에 영상 데이터전압을 공급하는 복수의 DAC-AMP를 포함하는 소스 드라이버 IC를 포함하고,
상기 소스 드라이버 IC는,
제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP는 상기 데이터라인에 상기 영상 데이터전압을 인가하고, 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP는 각각 전류 센싱을 위한 구성으로 동작하여 상기 픽셀들 중 어느 하나의 픽셀에 센싱용 데이터전압을 공급하고 센싱라인으로 입력되는 상기 어느 하나의 픽셀의 센싱전류를 센싱하는 표시장치.
A display panel including a plurality of pixels and data lines and sensing lines connected to the pixels; And
And a source driver IC including a plurality of DAC-AMPs supplying an image data voltage to the data line,
The source driver IC,
In the first mode, the plurality of DAC-AMPs apply the image data voltage to the data line, and in the second mode, each of the plurality of DAC-AMPs operates in a configuration for current sensing. A display device that supplies a sensing data voltage to a pixel and senses a sensing current of any one pixel input through a sensing line.
제8항에 있어서,
상기 소스 드라이버 IC는,
상기 제1모드 시 상기 복수의 DAC-AMP를 상기 데이터라인들에 각각 연결하고, 상기 제2모드 시 상기 복수의 DAC-AMP 중 어느 하나를 상기 데이터라인들 중 어느 하나와 연결하는 스위칭부를 포함하는 표시장치.
The method of claim 8,
The source driver IC,
And a switching unit for connecting the plurality of DAC-AMPs to each of the data lines in the first mode, and connecting any one of the plurality of DAC-AMPs to any one of the data lines in the second mode. Display device.
제8항에 있어서,
상기 제2모드 시 상기 소스 드라이버 IC의 동작을 제어하여, 상기 센싱용 데이터전압에 따른 상기 픽셀의 센싱전류의 센싱 데이터를 입력받는 타이밍 제어부를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 8,
The display device further comprises a timing controller for controlling an operation of the source driver IC in the second mode to receive sensing data of the sensing current of the pixel according to the sensing data voltage.
제8항에 있어서,
상기 복수의 DAC-AMP는, 상기 제2모드 시 전류 적분기로 동작하는 DAC-AMP, 비교기로 동작하는 DAC-AMP, 상기 비교기에 전압을 피드백하는 피드백 DAC를 포함하는 표시장치.
The method of claim 8,
The plurality of DAC-AMPs include a DAC-AMP that operates as a current integrator in the second mode, a DAC-AMP that operates as a comparator, and a feedback DAC that feeds a voltage back to the comparator.
제11항에 있어서,
상기 전류 적분기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류가 입력되는 반전 입력단, 기준전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값이 출력되는 출력단을 포함하고,
상기 비반전 입력단과 상기 출력단 사이에 연결되는 적분 캐패시터; 및
상기 적분 캐패시터에 병렬로 연결되는 초기화 스위치; 및
상기 적분기로 동작하는 DAC-AMP의 출력단에 연결되어 상기 센싱전류의 적분값을 저장 및 출력하는 샘플링 앤 홀드부;
를 포함하는 표시장치.
The method of claim 11,
The DAC-AMP operating as the current integrator includes an inverting input terminal to which the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a reference voltage, and an output terminal to output an integral value of the sensing current,
An integrating capacitor connected between the non-inverting input terminal and the output terminal; And
An initialization switch connected in parallel to the integrating capacitor; And
A sampling and holding unit connected to an output terminal of the DAC-AMP operating as the integrator to store and output an integral value of the sensing current;
Display device comprising a.
제11항에 있어서,
상기 비교기로 동작하는 DAC-AMP는 상기 센싱전류의 적분값이 입력되는 반전 입력단, 피드백 전압에 연결되는 비반전 입력단 및 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압의 비교값을 출력하는 출력단을 포함하고,
상기 출력단에 연결되어 상기 비교기의 출력값에 따른 디지털 데이터를 출력하는 로직부;
를 포함하는 표시장치.
The method of claim 11,
The DAC-AMP operating as the comparator includes an inverting input terminal to which the integrated value of the sensing current is input, a non-inverting input terminal connected to a feedback voltage, and an output terminal for outputting a comparison value of the integrated value of the sensing current and the feedback voltage. ,
A logic unit connected to the output terminal to output digital data according to an output value of the comparator;
Display device comprising a.
제13항에 있어서,
상기 피드백 DAC는,
상기 로직부와 상기 비교기의 상기 비반전 입력단 사이에 연결되어 상기 로직부에서 출력된 상기 디지털 데이터를 아날로그 전압으로 변환하여 상기 비교기에 상기 피드백 전압을 인가하는 표시장치.
The method of claim 13,
The feedback DAC,
A display device connected between the logic unit and the non-inverting input terminal of the comparator to convert the digital data output from the logic unit into an analog voltage to apply the feedback voltage to the comparator.
제6항에 있어서,
상기 로직부는,
상기 비교기의 출력값이 상기 센싱전류의 적분값과 상기 피드백 전압이 동일한 것으로 출력된 경우 상기 디지털 데이터를 상기 센싱전류의 센싱 데이터로 출력하는 표시장치.
The method of claim 6,
The logic unit,
When the output value of the comparator is the same as the integral value of the sensing current and the feedback voltage, the display device outputs the digital data as sensing data of the sensing current.
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