KR20200141243A - Jig for testing cellular phone - Google Patents

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KR20200141243A KR1020190067996A KR20190067996A KR20200141243A KR 20200141243 A KR20200141243 A KR 20200141243A KR 1020190067996 A KR1020190067996 A KR 1020190067996A KR 20190067996 A KR20190067996 A KR 20190067996A KR 20200141243 A KR20200141243 A KR 20200141243A
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Abstract

The present invention relates to a jig for testing a mobile phone, which comprises: a base plate (10); a pin base block (20) placed on one side of the base plate (10) to have a plurality of first and second contact points placed on a lower side at regular intervals; a reinforcing block (30) placed on an external side of the pin base block (20) to be connected to a plurality of support posts (22); a plurality of guide shafts (40) placed between the pin base block (20) and the reinforcing block (30) to guide the movement of the pin base block (20); a cam block (50) connected to a connection post (42) vertically placed in the center of the pin base block (20); and a speed controller (60) placed at an interval from the cam block (50) to control the speed of the connection post (42). The jig for testing a mobile phone is able to reduce damages to a main board of the mobile phone in case of a test.

Description

핸드폰 테스트용 지그{Jig for testing cellular phone}Jig for testing cellular phone

본 발명은 핸드폰 테스트용 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 핸드폰의 성능을 테스트하기 위한 핸드폰 테스트용 지그에 관한 것이다.The present invention relates to a mobile phone test jig, and more particularly, to a mobile phone test jig for testing the performance of the mobile phone.

일반적으로 핸드폰을 조립하는 생산라인에서는 완성된 핸드폰을 제품으로 출하하기 전에 정상적으로 모든 기능이 작동되는지 성능테스트를 수행하고 있다. 이와같은 성능 테스트의 품목으로는 키 패드가 정상적으로 동작되는지를 테스트하는 기계적인 테스트와, 핸드폰에 내장된 각 부품이 정상적으로 전기적으로 접속되어 제 기능을 수행하는지를 테스트하여 검증하는 기능적인 테스트와, 소모되는 전류를 테스트하는 소모전류 테스트와, 송수신에 의한 통화 테스트 및 핸드폰으로 주파수 테스트 등이 있다. 이와 같은 다양한 테스트를 수행하여 합격된 핸드폰만 제품으로 출하하게 된다.In general, a production line that assembles a mobile phone performs a performance test to ensure that all functions operate normally before shipping a completed mobile phone as a product. Items for such a performance test include a mechanical test that tests whether the keypad is operating normally, a functional test that tests and verifies that each part built into the mobile phone is normally electrically connected to perform its function, and the consumed There are a current consumption test that tests the current, a call test by sending and receiving, and a frequency test with a mobile phone. Only mobile phones that have passed through various tests such as these are shipped as products.

종래의 성능 테스트는 주로 핸드폰의 요소에 구비된 커넥터나 단자에 수작업이나 자동으로 접촉(결합)함으로써 테스트를 수행하고 있다. 그러나, 현재까지 핸드폰 접촉단자에 단계적으로 자동으로 접촉하는 핸드폰용 지그는 공지된 바 없고, 탄성장치를 적용한 테스트 소켓이 일예로 공지되어 있다. 이와 같은 테스트 소켓은 한국등록특허공보 제10-1900171호(특허문헌 1)에 공개되어 있다.Conventional performance tests are mainly performed by manually or automatically contacting (coupled) a connector or terminal provided in an element of a mobile phone. However, until now, there is no known jig for a mobile phone that automatically contacts a mobile phone contact terminal in stages, and a test socket to which an elastic device is applied is known as an example. Such a test socket is disclosed in Korean Registered Patent Publication No. 10-1900171 (Patent Document 1).

특허문헌 1의 무선주파수 테스트 소켓은 RF 테스트 베이스; 상기 RF 테스트 베이스 내에 고정되며, 금속편 및 상기 금속편 하측 양단에 설치된 제1 접점과 제2 접점을 포함하는 연결장치; 상기 RF 테스트 베이스내에 고정되고, 제1 테스트 장치와 연결되는 제1 탄성장치 및 제2 테스트 장치와 연결되는 제2 탄성장치를 포함하며, 이중 상기 제1 탄성장치는 상기 연결장치의 제1 접점과 탄성 연결되고, 상기 제2 탄성장치는 상기 연결장치의 제2 접점과 탄성 연결되며, 테스트 진행시, 상기 제1 탄성장치와 상기 제1 접점은 연결되되 상기 제2 탄성장치와 상기 제2 접점의 연결은 차단되는 상태 또는 제2 탄성장치와 상기 제2 접점은 연결되되 상기 제1 탄성장치와 상기 제1 접점의 연결은 차단되는 상태로 구성된다.The RF test socket of Patent Document 1 is an RF test base; A connection device fixed in the RF test base and including a metal piece and a first contact point and a second contact point installed at both ends of the lower side of the metal piece; And a first elastic device fixed in the RF test base and connected to the first test device and a second elastic device connected to the second test device, wherein the first elastic device comprises a first contact point of the connection device Is elastically connected, the second elastic device is elastically connected to the second contact point of the connecting device, and when a test is in progress, the first elastic device and the first contact point are connected, and the second elastic device is connected to the second contact point. The connection is blocked or the second elastic device and the second contact are connected, but the connection between the first elastic device and the first contact is blocked.

상기 특허문헌 1은 제1 및 제2 탄성장치를 적용하여 제1 및 제2 접점과 접촉시 탄력적으로 접촉하므로써 메인보드의 불량을 일부 줄일 수는 있지만, 장기적으로 사용시 일정한 압력을 유지할 수 없으므로 접촉시 불량이 발생되는 문제점을 내포하고 있다.The patent document 1 can reduce some of the defects of the main board by applying the first and second elastic devices to elastically contact the first and second contacts, but it cannot maintain a constant pressure during long-term use. It has a problem that a defect occurs.

또한, 상기 특허문헌 1은 별도의 속도 조절장치를 구비하고 있지 않으므로 접점 위치가 상이한 다양한 종류의 핸드폰에 적용할 수 없는 문제점도 내포하고 있다.In addition, since Patent Document 1 does not include a separate speed control device, there is also a problem that cannot be applied to various types of mobile phones having different contact positions.

1): 한국등록특허공보 제10-1900171호1): Korean Registered Patent Publication No. 10-1900171

본 발명의 목적은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, BtoB 및 RF 테스트시 핸드폰 메인보드의 손상을 줄일 수 있는 핸드폰 테스트용 지그를 제공함에 있다.An object of the present invention is to solve the above-described problems, and to provide a jig for a cell phone test capable of reducing damage to a cell phone main board during BtoB and RF tests.

본 발명의 다른 목적은 다양한 종류의 핸드폰의 모델에 따라 핸드폰의 접촉(접점) 위치를 변경하여 핸드폰의 성능 테스트를 수행할 수 있는 핸드폰 테스트용 지그를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a mobile phone test jig capable of performing a performance test of a mobile phone by changing a contact (contact) position of a mobile phone according to various types of mobile phone models.

본 발명의 또 다른 목적은 핸드폰 테스트시, 단계적으로 핸드폰에 접점을 속도 조절하면서 가압할 수 있는 핸드폰 테스트용 지그를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a jig for testing a mobile phone that can pressurize while controlling the speed of a contact point to the mobile phone step by step when testing a mobile phone.

본 발명의 핸드폰 테스트용 지그는, 베이스 플레이와; 상기 베이스 플레이트의 일측에 배치되고, 하부에 간격을 두고 배치된 복수개의 제1 및 제2 접점을 갖는 핀 베이스 블럭과; 상기 핀 베이스 블럭의 외측에 배치되고, 복수개의 지지 포스트와 연결된 보강 블럭과; 상기 핀 베이스 블럭과 보강 블럭의 사이에 배치되고, 핀 베이스 블럭의 이동을 안내하는 복수개의 가이드 샤프트와; 상기 핀 베이스 블럭의 중앙에 수직으로 배치된 연결 포스트과 연결된 캠 블럭과; 상기 캠 블럭과 간격을 두고 배치되고, 연결 포스트의 속도를 조절하는 스피드 컨트롤러;로 구성되는 점에 있다.The cell phone test jig of the present invention includes a base play; A pin base block disposed on one side of the base plate and having a plurality of first and second contact points disposed at an interval therebetween; A reinforcing block disposed outside the pin base block and connected to a plurality of support posts; A plurality of guide shafts disposed between the pin base block and the reinforcing block and guiding movement of the pin base block; A cam block connected to a connection post vertically disposed at the center of the pin base block; It is arranged at a distance from the cam block, the speed controller for adjusting the speed of the connection post; it is composed of a point.

본 발명의 핸드폰 테스트용 지그는 핸드폰의 성능을 시험하기 위하여 복수개의 제1 및 제2 접점이 핸드폰과 접촉시 캠블럭을 이용하여 단계적으로 속도를 조절하면서 접촉(컨택)하게 되므로 접촉으로 인한 불량을 줄일 수 있고, 이로 인해 핸드폰 메인 보드의 손상을 줄여 원가절감을 할 수 있는 이점이 있다.In order to test the performance of the mobile phone, the jig for testing a mobile phone of the present invention makes contact (contact) while adjusting the speed step by step using a cam block when a plurality of first and second contacts contact the mobile phone to test the performance of the mobile phone. It can be reduced, and this has the advantage of reducing costs by reducing damage to the mobile phone main board.

도 1은 본 발명에 적용된 핸드폰용 지그를 개략적으로 나타낸 사시도,
도 2는 도 1의 배면을 나타낸 사시도,
도 3은 도 1의 상부를 나타낸 상면도,
도 4는 도 1의 정면을 나타낸 단면도,
도 5 및 도 6은 본 발명의 요부인 캠 블럭의 동작관계를 각각 나타낸 단면도. 1 is a perspective view schematically showing a jig for a mobile phone applied to the present invention,
Figure 2 is a perspective view showing the rear of Figure 1,
Figure 3 is a top view showing the upper portion of Figure 1;
Figure 4 is a cross-sectional view showing the front of Figure 1;
5 and 6 are cross-sectional views each showing an operation relationship of a cam block that is an essential part of the present invention.

이하, 본 발명의 핸드폰 테스트용 지그의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of a jig for testing a mobile phone of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 핸드폰 테스트용 지그(100)는 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 베이스 플레이트(10)와, 핀 베이스 블럭(20)과, 보강 블럭(30)과, 복수개의 가이드 샤프트(40)와, 캠 블럭(50) 및 스피트 컨트롤러(60)로 크게 구성된다.As shown in Figs. 1 to 4, the jig 100 for testing a mobile phone of the present invention includes a base plate 10, a pin base block 20, a reinforcing block 30, and a plurality of guide shafts 40. ), and a cam block 50 and a speed controller 60.

상기 베이스 플레이트(10)는 직사각형 형태로 구성되고, 아크릴과 같은 투명판으로 이루어지게 된다.The base plate 10 is formed in a rectangular shape, and is made of a transparent plate such as acrylic.

상기 핀 베이스 블럭(20)은 도 1 및 도 4에 도시된 바와 같이, 베이스 플레이트(10)의 일측에 배치되고, 하부에는 간격을 두고 복수개의 제1 및 제2 접점(12,14)이 형성된다. 그리고, 상기 제1 및 제2 접점(12,14)은 도전성 금속편으로 구성된다. 상기 제1 접점(12)은 BtoB(Board to Board)를 테스트하기 위한 접점이고, 상기 제2 접점(14)은 RF(Radio Frequency)를 테스트하기 위한 접점이다. 또한, 상기 제1 및 제2 접점(12,14)은 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 각각 핸드폰(H)의 메인보드(도시되지 않음)에 배치된 접촉부(도시되지 않음)와 접촉(컨택) 되게 된다.The pin base block 20 is disposed on one side of the base plate 10, as shown in FIGS. 1 and 4, and a plurality of first and second contact points 12 and 14 are formed in the lower portion at intervals. do. In addition, the first and second contacts 12 and 14 are formed of conductive metal pieces. The first contact point 12 is a contact point for testing a Board to Board (BtoB), and the second contact point 14 is a contact point for testing a radio frequency (RF). In addition, the first and second contact points 12 and 14 are in contact with a contact portion (not shown) disposed on the main board (not shown) of the mobile phone H, as shown in FIGS. 5 and 6. (Contact) will be.

상기 핀 베이스 블럭(20)의 후면에는 도 2에 도시된 바와 같이, 실린더(55)가 배치되고, 상기 실린더(55)의 일측에는 제1 피팅부(72)와 제2 피팅부(74)가 간격을 두고 배치된다. 그리고, 상기 제1 피팅부(72)에는 에어가 공급되고, 상기 제2 피팅부(74)는 후술하는 스피드 컨트롤러(60)의 제1 연결 배관(66)이 연결된다.As shown in FIG. 2, a cylinder 55 is disposed on the rear surface of the pin base block 20, and a first fitting portion 72 and a second fitting portion 74 are disposed on one side of the cylinder 55. They are placed at intervals. In addition, air is supplied to the first fitting part 72, and the first connection pipe 66 of the speed controller 60 to be described later is connected to the second fitting part 74.

상기 보강 블럭(30)은 도 1 및 도 4에 도시된 바와 같이, 핀 베이스 블럭(20)의 외측에 배치되고, 복수개의 지지 포스트(22)와 연결된다. 상기 보강 블럭(30)은 중앙이 개방된 사각형이나 직육면체 형태이고, 그 모서리에 4개의 지지 포스트(22)가 수직으로 연결된다.The reinforcing block 30 is disposed outside the pin base block 20 and is connected to a plurality of support posts 22 as shown in FIGS. 1 and 4. The reinforcing block 30 has a square or rectangular parallelepiped shape with an open center, and four support posts 22 are vertically connected to the corners.

상기 복수개의 가이드 샤프트(40)는 도 1에 도시된 바와 같이, 핀 베이스 블럭(20)과 보강 블럭(30)의 사이에 배치되고, 핀 베이스 블럭(20)의 이동을 안내하는 역할을 수행하게 된다. 여기서, 상기 복수개의 가이드 샤프트(40)는 안정되게 4개를 적용하게 되지만, 사용자의 요구에 따라 2개를 적용할 수도 있다. 또한, 상기 복수개의 가이드 샤프트(40)는 각각 보강 블럭(30)의 상,하부에 부시(45)를 각각 개재하여 상호 연결되게 구성된다.The plurality of guide shafts 40 are disposed between the pin base block 20 and the reinforcing block 30, as shown in FIG. 1, and serve to guide the movement of the pin base block 20. do. Here, four guide shafts 40 are stably applied, but two may be applied according to a user's request. In addition, the plurality of guide shafts 40 are configured to be interconnected with each other via bushes 45 at the upper and lower portions of the reinforcing blocks 30, respectively.

상기 부시(45)는 상,하 운동을 수행하는 핀 베이스 블럭(20)과 연결 포스트(42)의 위치 결정 및 흔들림을 방지하는 역할을 수행하게 된다. 또한, 상기 부시(45)는 핀 베이스 블럭(20)과 보강 블럭(30)의 충격을 완화시킴은 물론 제1 및 제2 접점(12,14)이 핸드폰(H)의 접촉부(도시되지 않음)와 접촉(컨택)시, 충격을 완화시키는 역할도 수행하게 된다.The bush 45 serves to position and prevent shaking of the pin base block 20 and the connection post 42 for performing an up and down motion. In addition, the bush 45 mitigates the impact of the pin base block 20 and the reinforcing block 30, as well as the first and second contact points 12 and 14 of the mobile phone H (not shown). When in contact with (contact), it also plays a role of mitigating the impact.

상기 캠 블럭(50)은 도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 핀 베이스 블럭(20)의 중앙에 수직으로 배치된 연결 포스트(42)과 연결된다. 상기 연결 포스트(42)는 베어링(44)을 개재하여 캠 블럭(50)에 연결되며, 연결 포스트(42)의 상,하 방향(Y 방향) 이동에 따라 캠 블럭(50)이 좌,우 방향(X 방향)로 이동되게 구성된다. 상기 연결 포스트(42)는 실린더(55)의 동작에 따라 상,하 방향(Y 방향)으로 이동함에 의해 승,하강하게 구성된다. 여기서, 캠 블럭(50)의 좌,우 방향 이동은 X방향에 대한 전,후진 이동으로 이해하기 바란다.The cam block 50 is connected to a connection post 42 disposed vertically in the center of the pin base block 20, as shown in FIGS. 4 to 6. The connection post 42 is connected to the cam block 50 via a bearing 44, and the cam block 50 moves in the left and right directions according to the movement of the connection post 42 in the up and down directions (Y direction). It is configured to be moved in (X direction). The connection post 42 is configured to rise and fall by moving in the up and down directions (Y direction) according to the operation of the cylinder 55. Here, the movement of the cam block 50 in the left and right directions is understood as a forward and backward movement in the X direction.

상기 캠 블럭(50)은 일측에는 캠 블럭을 지지하기 위한 지지 블럭(52)이 연결되고, 상기 지지 블럭(52)의 하부에는 연결 블럭(54)이 배치되며, 상기 연결 블럭(54)의 측면에는 간격을 두고 제1 및 제2 스토퍼(56,58)가 배치된다. 상기 연결 블럭(54)의 일측에는 연결블럭(54)을 지지하는 연결 캡(75)이 연결된다. 그리고, 상기 제2 스토퍼(58)에는 캠 블럭(50)의 이동을 규제하기 위한 나사캡(59)이 연결된다.A support block 52 for supporting the cam block is connected to one side of the cam block 50, and a connection block 54 is disposed under the support block 52, and a side surface of the connection block 54 The first and second stoppers 56 and 58 are disposed at intervals. A connection cap 75 supporting the connection block 54 is connected to one side of the connection block 54. In addition, a screw cap 59 for restricting the movement of the cam block 50 is connected to the second stopper 58.

상기 스피드 컨트롤러(60)는 상기 캠 블럭(50)과 간격을 두고 배치되고, 연결 포스트(42)의 속도를 조절하는 역할을 수행하게 된다. 그리고, 상기 스피드 컨트롤러(60)는 노브(62)와, 상기 노브(62)의 하부에 배치되며 눈금이 형성된 눈금 게이지(64)와, 상기 눈금 게이지(64)의 하부에 간격을 두고 배치되는 제1 및 제2 연결배관(66,68)을 포함하게 된다. 그리고, 상기 제1 연결배관(66)은 일측이 실린더(55)의 제2 피팅부(74)와 연결되고, 타측이 제2 연결배관(68)에 연결되게 구성된다.The speed controller 60 is disposed to be spaced apart from the cam block 50, and serves to adjust the speed of the connection post 42. In addition, the speed controller 60 includes a knob 62, a scale gauge 64 disposed under the knob 62 and formed with a scale, and a first device disposed at an interval under the scale gauge 64. The first and second connection pipes 66 and 68 are included. In addition, the first connection pipe 66 is configured such that one side is connected to the second fitting portion 74 of the cylinder 55 and the other side is connected to the second connection pipe 68.

상기 스피드 컨트롤러(60)는 실린더(55)의 전진시 배출되는 공기가 제2 피팅부(74)를 통하여 배출되고, 배출되는 공기가 스피드 컨트롤러(60)의 제1 및 제2 연결 배관(66,68)을 통하여 배출되므로 배출되는 공기량을 스피드 컨트롤러(60)에서 노브(62)를 조작함에 의해 조정하게 된다. 이와 같이, 스피드 컨트롤러(60)의 노브(62)를 조정함에 의해 실린더(55)의 로드(도시되지 않음)의 속도가 조절하게 되므로 이에 의해 연결 포스트(42)의 속도를 조절할 수 있게 된다.In the speed controller 60, air discharged when the cylinder 55 is advanced is discharged through the second fitting part 74, and the discharged air is discharged from the first and second connection pipes 66 of the speed controller 60, Since it is discharged through 68), the amount of discharged air is adjusted by operating the knob 62 in the speed controller 60. In this way, since the speed of the rod (not shown) of the cylinder 55 is adjusted by adjusting the knob 62 of the speed controller 60, the speed of the connection post 42 can be adjusted thereby.

상기와 같이 구성된 본 발명의 핸드폰 테스트용 지그의 동작 과정에 대하여 설명하기로 한다.A description will be made of the operation process of the jig for testing a mobile phone of the present invention configured as described above.

먼저, 본 발명의 핸드폰 테스트용 지그(100)는 도 5에 도시된 바와 같이, 핀 베이스 블럭(20)의 후면에 배치된 실린더(55)를 일 방향으로 동작시키게 되면 핀 베이스 블럭(20)이 가이드 샤프트(40)를 따라서 상부 방향으로 이동하여 보강 블럭(30)측으로 이동하게 된다. 그리고, 상기 가이드 샤프트(40)에는 부시(45)가 개재되어 있으므로 핀 베이스 블럭(20)과 보강 블럭(30)의 접촉을 탄력적으로 완화시켜주는 역할을 수행하게 된다. 또한, 핀 베이스 블럭(20)의 중앙에 수직으로 배치된 연결 포스트(42)가 승강하면서 베어링(44)이 캠 블럭(50)의 내측에 형성된 장홀(85)의 좌측으로 이동하면서 캠 블럭(50)을 후진시키게 된다. 여기서, 상기 캠 블럭(50)이 후진된 상태가 초기 상태이고, 캠 블럭(50)이 후진된 상태는 핸드폰(H)와 접촉을 하지 않은 상태를 의미한다.First, the mobile phone test jig 100 of the present invention, as shown in Figure 5, when the cylinder 55 disposed on the rear surface of the pin base block 20 is operated in one direction, the pin base block 20 It moves upward along the guide shaft 40 and moves toward the reinforcing block 30. In addition, since the guide shaft 40 has the bush 45 interposed therebetween, it serves to elastically relieve the contact between the pin base block 20 and the reinforcing block 30. In addition, as the connection post 42 vertically disposed in the center of the pin base block 20 rises and falls, the bearing 44 moves to the left of the long hole 85 formed inside the cam block 50, and the cam block 50 ) Is reversed. Here, a state in which the cam block 50 is retracted is an initial state, and a state in which the cam block 50 is retracted means a state in which the mobile phone H is not in contact.

이와 같은 초기 상태에서, 핸드폰(H)의 테스트를 위하여 실린더(55)를 반대 방향으로 동작시키게 되면 도 6에 도시된 바와 같이, 핀 베이스 블럭(20)이 가이드 샤프트(40)를 따라서 하부 방향으로 이동하여 베이스 플레이트(10)측으로 이동하게 된다. 이때, 핀 베이스 블럭(20)의 중앙에 수직으로 배치된 연결 포스트(42)가 하강하면서 베어링(44)이 캠 블럭(50)의 내측에 형성된 장홀(85)의 우측으로 이동하면서 캠 블럭(50)을 전진시키게 된다. 그리고, 캠 블럭(50)이 계속 이동하여 전진을 완료하게 되면, 핀 베이스 블럭(20)의 하부에 배치된 제1 및 제2 접점(12,14)이 핸드폰(H)에 배치된 접촉부(도시되지 않음)와 컨택을 수행하게 된다. 여기서, 캠 블럭(50)이 전진된 상태가 컨택상태이고, 이때 도시되지 않은 별도의 장치에 의해 핸드폰(H)의 BtoB(Board to Board)와 RF(Radio Frequency)를 테스트를 수행하게 된다.In such an initial state, when the cylinder 55 is operated in the opposite direction for the test of the mobile phone H, as shown in FIG. 6, the pin base block 20 moves downward along the guide shaft 40. It moves to the base plate 10 side. At this time, while the connection post 42 vertically disposed in the center of the pin base block 20 descends, the bearing 44 moves to the right of the long hole 85 formed inside the cam block 50, and the cam block 50 ) Is advanced. And, when the cam block 50 continues to move to complete the advancement, the first and second contact points 12 and 14 disposed under the pin base block 20 are contact portions disposed on the mobile phone H (shown Does not work). Here, the state in which the cam block 50 is advanced is the contact state, and at this time, a board to board (BtoB) and a radio frequency (RF) of the mobile phone H are tested by a separate device (not shown).

한편, 사용자가 스피드 컨트롤러(60)의 노브(62)를 조절하게 되면 실린더(55)의 속도가 조절할 수 있게 된다. 상기 노브(62)로 눈금 게이지(64)의 소정 수치로 설정하게 되면, 실린더(55)의 제2 피팅부(74)와 연결된 스피드 컨트롤러(60)의 제1 연결배관(66)으로 배출되는 공기양을 조절함에 의해 실린더(55)의 속도를 조절하게 된다. 따라서, 실린더(55)의 속도는 캠 블럭(50)에 배치된 연결 포스트(42)의 동작 속도를 제어할 수 있게 되므로 핀 베이스 블럭(20)의 하부에 배치된 제1 및 제2 접점(12,14)의 접촉 속도를 조절하여 핸드폰(H)의 접촉부(도시되지 않음)와 충격을 완화시킬 수 있다.On the other hand, when the user adjusts the knob 62 of the speed controller 60, the speed of the cylinder 55 can be adjusted. When the knob 62 is set to a predetermined value of the scale gauge 64, air discharged to the first connection pipe 66 of the speed controller 60 connected to the second fitting portion 74 of the cylinder 55 By adjusting the amount, the speed of the cylinder 55 is adjusted. Accordingly, since the speed of the cylinder 55 can control the operating speed of the connection post 42 disposed on the cam block 50, the first and second contact points 12 disposed under the pin base block 20 It is possible to alleviate the impact with the contact portion (not shown) of the mobile phone H by adjusting the contact speed of ,14).

상기 테스트가 완료되면, 실린더(55)를 동작시켜 다시 원위치로 이동하게 된다(즉, 도 6의 상태에서 도 5의 상태로 이동하게 된다).When the test is completed, the cylinder 55 is operated to move back to its original position (that is, it moves from the state of FIG. 6 to the state of FIG. 5).

이와 같이, 본 발명의 핸드폰 테스트용 지그는 캠 블럭을 이용하여 핸드폰의 테스트를 용이하게 수행할 수 있는 이점이 있다. 또한, 본 발명의 핸드폰 테스트용 지그는 스피드 컨트롤러를 이용하여 캠 블럭을 단계적으로 속도를 조절하면서 컨택을 수행할 수 있으므로 핸드폰 테스트시 발생되는 불량을 줄일 수 있는 이점이 있다.As described above, the mobile phone test jig of the present invention has the advantage of being able to easily test the mobile phone using the cam block. In addition, since the jig for testing a mobile phone of the present invention can perform contact while adjusting the speed of the cam block step by step using a speed controller, there is an advantage of reducing defects that occur when testing a mobile phone.

본 발명의 핸드폰 테스트용 지그는 다양한 종류의 핸드폰의 성능 검사를 수행하는 핸드폰 자동화 설비나 핸드폰 제조 공정 분야에 널리 적용할 수 있다.The mobile phone test jig of the present invention can be widely applied to a mobile phone automation facility or mobile phone manufacturing process field that performs performance tests of various types of mobile phones.

10: 베이스 플레이트 20: 핀 베이스 블럭
22: 지지 포스트 30: 보강 블럭
40: 가이드 샤프트 42: 연결 포스트
45: 부시 50: 캠 블럭
52: 지지 블럭 60: 스피드 컨트롤러
100: 핸드폰용 지그
10: base plate 20: pin base block
22: support post 30: reinforcing block
40: guide shaft 42: connection post
45: bush 50: cam block
52: support block 60: speed controller
100: mobile phone jig

Claims (6)

베이스 플레이트(10)와;
상기 베이스 플레이트(10)의 일측에 배치되고, 하부에 간격을 두고 배치된 복수개의 제1 및 제2 접점을 갖는 핀 베이스 블럭(20)과;
상기 핀 베이스 블럭(20)의 외측에 배치되고, 복수개의 지지 포스트(22)와 연결된 보강 블럭(30)과;
상기 핀 베이스 블럭(20)과 보강 블럭(30)의 사이에 배치되고, 핀 베이스 블럭(20)의 이동을 안내하는 복수개의 가이드 샤프트(40)와;
상기 핀 베이스 블럭(20)의 중앙에 수직으로 배치된 연결 포스트(42)과 연결된 캠 블럭(50)과;
상기 캠 블럭(50)과 간격을 두고 배치되고, 연결 포스트(42)의 속도를 조절하는 스피드 컨트롤러(60)를 포함하는 것을 특징으로 하는 핸드폰 테스트용 지그.
A base plate 10;
A pin base block (20) disposed on one side of the base plate (10) and having a plurality of first and second contact points disposed at intervals under the base plate (10);
A reinforcing block 30 disposed outside the pin base block 20 and connected to a plurality of support posts 22;
A plurality of guide shafts (40) disposed between the pin base block (20) and the reinforcing block (30) and guiding the movement of the pin base block (20);
A cam block 50 connected to a connection post 42 disposed vertically at the center of the pin base block 20;
A jig for cell phone testing, characterized in that it comprises a speed controller (60) arranged at a distance from the cam block (50) and adjusting the speed of the connection post (42).
 제1항에 있어서,
상기 핀 베이스 블럭(20)의 복수개의 제1 및 제2 접점은 도전성 금속편으로 BtoB(Board to Board)와 RF(Radio Frequency)를 테스트하기 위한 접점인 것을 특징으로 하는 핸드폰 테스트용 지그.
The method of claim 1,
The plurality of first and second contact points of the pin base block 20 are a contact point for testing a board to board (BtoB) and a radio frequency (RF) with a conductive metal piece.
 제1항에 있어서,
상기 복수개의 가이드 샤프트(40)는 각각 보강 블럭(30)에 부시(45)를 각각 개재하여 상호 연결되는 것을 특징으로 하는 핸드폰 테스트용 지그.
The method of claim 1,
The plurality of guide shafts (40) is a cell phone test jig, characterized in that interconnected through each of the reinforcing block (30) through a bush (45).
 제1항에 있어서,
상기 캠 블럭(50)은 일측에 캠 블럭을 지지하기 위한 지지 블럭(52)이 배치되고, 상기 지지 블럭(52)의 하부에는 연결 블럭(54)이 배치되며, 상기 연결 블럭(54)의 측면에는 간격을 두고 제1 및 제2 스토퍼(56,58)가 배치되는 것을 특징으로 하는 핸드폰 테스트용 지그.
The method of claim 1,
A support block 52 for supporting the cam block is disposed on one side of the cam block 50, a connection block 54 is disposed under the support block 52, and a side surface of the connection block 54 A jig for cell phone testing, characterized in that the first and second stoppers (56, 58) are arranged at intervals.
 제1항에 있어서,
상기 캠 블럭(50)과 연결된 연결 포스트(42)는 베어링(44)을 개재하여 캠 블럭(50)에 연결되며, 연결 포스트(42)의 상,하 방향(Y 방향) 이동에 따라 캠 블럭(50)이 좌,우 방향(X 방향)으로 이동되는 것을 특징으로 하는 핸드폰 테스트용 지그.
The method of claim 1,
The connection post 42 connected to the cam block 50 is connected to the cam block 50 via a bearing 44, and the cam block ( 50) is a mobile phone test jig, characterized in that it moves in the left and right directions (X direction).
 제1항에 있어서,
상기 스피드 컨트롤러(60)는 노브(62)와, 상기 노브(62)의 하부에 배치되며 눈금이 형성된 눈금 게이지(64)와, 상기 눈금 게이지(64)의 하부에 간격을 두고 배치되는 제1 및 제2 연결배관(66,68)을 포함하고,
상기 제1 연결배관(66)의 일측은 실린더(55)의 제2 피팅부(74)에 연결되고 제1 연결배관(66)의 타측은 제2 연결배관(68)에 연결되는 것을 특징으로 하는 핸드폰 테스트용 지그.The method of claim 1,
The speed controller 60 includes a knob 62, a scale gauge 64 disposed below the knob 62 and having a scale, and a first and a first and Including a second connection pipe (66,68),
One side of the first connection pipe 66 is connected to the second fitting portion 74 of the cylinder 55, and the other side of the first connection pipe 66 is connected to the second connection pipe 68. Cell phone test jig.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230041859A (en) * 2021-09-17 2023-03-27 디플러스(주) Circuit board aligning apparatus for product test socket
WO2024060331A1 (en) * 2022-09-21 2024-03-28 江西艾普若科技有限责任公司 Test device for production of smartphones, and use method therefor

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100768914B1 (en) * 2006-03-17 2007-10-23 양 전자시스템 주식회사 Probe test apparatus
KR101758472B1 (en) * 2015-11-26 2017-07-20 메이드테크(주) Multi-Jig for smart phone
KR101820452B1 (en) * 2016-09-13 2018-02-21 주식회사 메카텍시스템즈 Camera module automatic test socket
KR101850937B1 (en) * 2016-09-08 2018-05-08 주식회사 메카텍시스템즈 Camera module automatic test socket
KR101857619B1 (en) * 2016-09-20 2018-06-28 임진수 A contactor system for display panel test
KR101900171B1 (en) 2014-04-30 2018-09-18 지티이 코포레이션 Radio frequency test socket and radio frequency test cable

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100768914B1 (en) * 2006-03-17 2007-10-23 양 전자시스템 주식회사 Probe test apparatus
KR101900171B1 (en) 2014-04-30 2018-09-18 지티이 코포레이션 Radio frequency test socket and radio frequency test cable
KR101758472B1 (en) * 2015-11-26 2017-07-20 메이드테크(주) Multi-Jig for smart phone
KR101850937B1 (en) * 2016-09-08 2018-05-08 주식회사 메카텍시스템즈 Camera module automatic test socket
KR101820452B1 (en) * 2016-09-13 2018-02-21 주식회사 메카텍시스템즈 Camera module automatic test socket
KR101857619B1 (en) * 2016-09-20 2018-06-28 임진수 A contactor system for display panel test

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230041859A (en) * 2021-09-17 2023-03-27 디플러스(주) Circuit board aligning apparatus for product test socket
WO2024060331A1 (en) * 2022-09-21 2024-03-28 江西艾普若科技有限责任公司 Test device for production of smartphones, and use method therefor

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