KR20200089173A - The Apparatus And The Method For Determining Defect Of Unit Cell - Google Patents

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KR20200089173A
KR20200089173A KR1020190005921A KR20190005921A KR20200089173A KR 20200089173 A KR20200089173 A KR 20200089173A KR 1020190005921 A KR1020190005921 A KR 1020190005921A KR 20190005921 A KR20190005921 A KR 20190005921A KR 20200089173 A KR20200089173 A KR 20200089173A
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원종현
권영태
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주식회사 엘지화학
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Abstract

A unit cell defect determination apparatus according to an embodiment of the present invention for solving the above problem includes: a vision sensor for obtaining an image by photographing a unit cell; a region of interest (ROI) setting unit for setting an ROI in a region between an upper portion of an electrode tab and an electrode of the unit cell in the image; an electrode tab lower portion detection unit detecting an electrode tab lower portion in the ROI; and a defect determination unit determining whether the unit cell is defective depending on the detection of the electrode tab lower portion in the ROI.

Description

유닛 셀 불량 판단 장치 및 방법{The Apparatus And The Method For Determining Defect Of Unit Cell}Unit Apparatus And The Method For Determining Defect Of Unit Cell

본 발명은 유닛 셀 불량 판단 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 전극 탭의 위치가 반전된 유닛 셀을 미리 검출하여, 시간 및 비용을 절약할 수 있는 유닛 셀 불량 판단 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for determining a unit cell defect, and more particularly, to an apparatus and method for determining a unit cell defect that can detect a unit cell with an inverted position of an electrode tab in advance and save time and money. .

일반적으로, 이차 전지의 종류로는 니켈 카드뮴 전지, 니켈 수소 전지, 리튬 이온 전지 및 리튬 이온 폴리머 전지 등이 있다. 이러한 이차 전지는 디지털 카메라, P-DVD, MP3P, 휴대폰, PDA, Portable Game Device, Power Tool 및 E-bike 등의 소형 제품뿐만 아니라, 전기 자동차나 하이브리드 자동차와 같은 고출력이 요구되는 대형 제품과 잉여 발전 전력이나 신재생 에너지를 저장하는 전력 저장 장치와 백업용 전력 저장 장치에도 적용되어 사용되고 있다.In general, types of secondary batteries include nickel cadmium batteries, nickel hydrogen batteries, lithium ion batteries, and lithium ion polymer batteries. These secondary batteries are not only small-sized products such as digital cameras, P-DVDs, MP3Ps, cell phones, PDAs, portable game devices, power tools, and e-bikes, but also large-sized products that require high output such as electric vehicles or hybrid vehicles and surplus power generation. It is also applied to power storage devices that store power or renewable energy and power storage devices for backup.

이러한 이차 전지를 제조하기 위해, 먼저 전극 활물질 슬러리를 양극 집전체 및 음극 집전체에 도포하여 양극과 음극을 제조하고, 이를 분리막(Separator)의 양 측에 적층함으로써 형성된 유닛 셀(Unit Cell)을 이용하여 소정 형상의 전극 조립체(Electrode Assembly)를 형성한다. 그리고 전지 케이스에 전극 조립체를 수납하고 전해액 주입 후 실링한다. 이 때, 전극 조립체의 구조에 따라, 젤리-롤형(권취형), 스택형(적층형) 및 스택/폴딩형 등으로 구분된다. To manufacture such a secondary battery, first, an electrode active material slurry is applied to a positive electrode current collector and a negative electrode current collector to produce a positive electrode and a negative electrode, and a unit cell formed by laminating them on both sides of a separator is used. By doing so, an electrode assembly having a predetermined shape is formed. Then, the electrode assembly is stored in the battery case, and the electrolyte is injected and sealed. At this time, according to the structure of the electrode assembly, it is divided into a jelly-roll type (winding type), a stack type (stacked type) and a stack/folding type.

젤리-롤형 전극조립체는, 금속의 전극 집전체에 전극 활물질 등을 코팅하고 건조 및 프레싱한 후, 분리막을 음극과 양극 사이에 개재하고 권취하여 제조된다. 스택형 전극조립체는 다수의 양극 및 음극들을 순차적으로 적층한 구조이며, 스택/폴딩형 전극 조립체는 유닛 셀을 긴 길이의 연속적인 분리막 필름 상에 일렬로 부착하여 형성된 웹(Web)을 폴딩한 구조이다.The jelly-roll electrode assembly is prepared by coating an electrode active material or the like on a metal electrode current collector, drying and pressing, and then winding the separator through an anode and a cathode. The stacked electrode assembly is a structure in which a plurality of anodes and cathodes are sequentially stacked, and the stacked/folded electrode assembly is a structure in which a web formed by attaching unit cells in a row on a continuous separator film of a long length is folded. to be.

한편, 전극 조립체에 적층되는 전극이 복수로 형성되면, 전극 탭도 복수로 형성된다. 따라서, 양극 탭은 양극 탭끼리, 음극 탭은 음극 탭끼리 서로 접촉시켜 연결한다. 이를 위해, 복수의 양극 탭들은 서로 동일한 위치에 형성되고, 복수의 음극 탭들도 서로 동일한 위치에 형성되어야 한다. 만약 전극 탭의 위치가 반전된 유닛 셀이 배열된다면, 전극 조립체의 불량이 발생한다. 그런데 종래에는 전극 조립체의 제조를 모두 완료한 후, 전압을 인가하여 테스트를 수행할 때 불량 여부를 알 수 있어, 불량이 발생하면 완성된 전극 조립체를 폐기해야 하므로, 시간 및 비용이 과도하게 소모되는 문제가 있었다.Meanwhile, when a plurality of electrodes stacked on the electrode assembly is formed, a plurality of electrode tabs are also formed. Therefore, the positive electrode tabs are connected to each other by the positive electrode tabs and the negative electrode tabs are contacted with each other. To this end, the plurality of positive electrode tabs are formed at the same position with each other, and the plurality of negative electrode tabs must also be formed at the same position with each other. If the unit cells in which the positions of the electrode tabs are reversed are arranged, a defective electrode assembly occurs. However, in the related art, after completing the manufacture of the electrode assembly, it is possible to know whether or not the defect occurs when performing a test by applying a voltage, and when a defect occurs, the completed electrode assembly must be discarded, so that time and cost are excessively consumed. There was a problem.

한국공개공보 제2008-0010005호Korea Publication No. 2008-0010005

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 전극 탭의 위치가 반전된 유닛 셀을 미리 검출하여, 시간 및 비용을 절약할 수 있는 유닛 셀 불량 판단 장치 및 방법을 제공하는 것이다.The problem to be solved by the present invention is to provide a unit cell defect determination apparatus and method capable of saving time and cost by previously detecting a unit cell in which the position of the electrode tab is inverted.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치는 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하는 비전 센서; 상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역에 ROI(Region Of Interest, 관심 영역)를 설정하는 ROI 설정부; 상기 ROI에서 전극 탭 하부를 검출하는 전극 탭 하부 검출부; 및 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 상기 유닛 셀의 불량 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함한다.An apparatus for determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention for solving the above problems includes a vision sensor that acquires an image by photographing a unit cell; An ROI setting unit for setting a region of interest (ROI) in an area between the electrode of the unit cell and the top of the electrode tab in the image; An electrode tab lower detection unit configured to detect a lower electrode tab in the ROI; And a defect determining unit determining whether the unit cell is defective according to whether the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI.

또한, 상기 ROI 설정부는, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되지 않았을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 상기 ROI로 설정할 수 있다.In addition, the ROI setting unit may set an area between the electrode tab upper portion and the electrode that would not be connected to the electrode if the unit cells were normally arranged as the ROI.

또한, 상기 불량 판단부는, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 불량으로 판단할 수 있다.In addition, if the electrode tab lower detection unit does not detect the electrode tab lower portion in the ROI, it is determined as normal, and if the electrode tap lower detection unit detects the electrode tab lower portion in the ROI, it is determined as defective. can do.

또한, 상기 ROI 설정부는, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되었을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 상기 ROI로 설정할 수 있다.In addition, the ROI setting unit may set an area between the electrode tab top and the electrode to be connected to the electrode as the ROI if the unit cells are normally arranged.

또한, 상기 불량 판단부는, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 불량으로 판단할 수 있다.In addition, if the electrode tab lower detection unit detects the electrode tab lower portion in the ROI, it is determined as normal, and if the electrode tab lower detection unit does not detect the electrode tab lower portion in the ROI, it is determined as defective. can do.

또한, 상기 전극 탭 하부 검출부는, 상기 ROI에서의 색상 또는 아웃라인을 통해 상기 전극 탭 하부를 검출할 수 있다.In addition, the electrode tab lower detection unit may detect the lower electrode tab through a color or outline in the ROI.

또한, 상기 ROI 설정부는, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되지 않았을 제1 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 제1 ROI로 설정하고, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되었을 제2 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 제2 ROI로 설정할 수 있다.In addition, the ROI setting unit, if the unit cells were normally arranged, set the first electrode tab that would not be connected to the electrode and the area between the electrodes as the first ROI, and the unit cells were normally arranged. In this case, an area between the upper portion of the second electrode tab to be connected to the electrode and the electrode may be set as a second ROI.

또한, 상기 불량 판단부는, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 제1 ROI에서 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 상기 제2 ROI에서 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 제1 ROI에서 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하고, 상기 제2 ROI에서 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 불량으로 판단할 수 있다.In addition, if the failure determining unit detects the lower portion of the first electrode tab in the first ROI, and the lower portion of the second electrode tab is detected in the second ROI, it is determined as normal. If the lower portion of the electrode tab detects the lower portion of the first electrode tab in the first ROI and the lower portion of the second electrode tab is not detected in the second ROI, it may be determined as defective.

또한, 상기 불량 판단부는, 상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 제1 ROI에서도 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하고, 상기 제2 ROI에서도 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하거나, 상기 제1 ROI에서도 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 상기 제2 ROI에서도 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하지 못하면 모두 불량으로 판단할 수 있다.In addition, the defect determination unit, the electrode tab lower detection unit detects the lower portion of the first electrode tab even in the first ROI, detects the lower portion of the second electrode tab in the second ROI, or the first ROI in the first If the lower portion of the first electrode tab is not detected and the lower portion of the second electrode tab is not detected in the second ROI, it may be determined that all of them are defective.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 방법은 비전 센서가 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하는 단계; 상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역에 ROI(Region Of Interest, 관심 영역)를 설정하는 단계; 상기 ROI에서 전극 탭 하부를 검출하는 단계; 및 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 상기 유닛 셀의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.A method of determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention for solving the above problems includes: a vision sensor capturing an unit cell to obtain an image; Setting an ROI (Region Of Interest) in the region between the electrode of the unit cell and the top of the electrode tab in the image; Detecting an electrode tab bottom portion in the ROI; And determining whether the unit cell is defective according to whether the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI.

또한, 상기 ROI를 설정하는 단계에 있어서, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되지 않았을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역이 상기 ROI로 설정될 수 있다.In addition, in the step of setting the ROI, an area between the electrode tab upper portion and the electrode that would not be connected to the electrode if the unit cells were normally arranged may be set as the ROI.

또한, 상기 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서, 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되지 않으면, 정상으로 판단하고, 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되면, 불량으로 판단할 수 있다.In addition, in the determining of the defect, if the lower portion of the electrode tab is not detected in the ROI, it is determined as normal, and when the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI, it may be determined as defective.

또한, 상기 ROI를 설정하는 단계에 있어서, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되었을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역이 상기 ROI로 설정될 수 있다.In addition, in the step of setting the ROI, if the unit cells are normally arranged, an area between the electrode tab upper part to be connected to the electrode and the electrode may be set as the ROI.

또한, 상기 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서, 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되면, 정상으로 판단하고, 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되지 않으면, 불량으로 판단할 수 있다.In the determining of the defect, if the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI, it is determined as normal, and if the lower portion of the electrode tab is not detected in the ROI, it may be determined as defective.

본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Other specific matters of the present invention are included in the detailed description and drawings.

본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.According to embodiments of the present invention has at least the following effects.

유닛 셀을 비전 센서로 촬영하고, 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 유닛 셀의 불량 여부를 판단하므로, 전극 조립체의 제조를 완료하기 전에 전극 탭의 위치가 반전된 유닛 셀을 미리 검출하여, 시간 및 비용을 절약할 수 있다.Since the unit cell is photographed with a vision sensor and it is determined whether the unit cell is defective according to whether the lower portion of the electrode tab is detected, the unit cell in which the position of the electrode tab is inverted is previously detected, and time and You can save money.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.The effects according to the present invention are not limited by the contents exemplified above, and more various effects are included in the present specification.

도 1은 웹에 배열되는 유닛 셀이 풀셀인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.
도 2는 웹에 배열되는 유닛 셀이 바이셀인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.
도 3은 웹에 바이셀이 정상으로 배열된 형태를 나타내는 평면도이다.
도 4는 웹에 전극 탭이 반전된 바이셀이 포함되어 배열된 형태를 나타내는 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 방법의 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치의 블록도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치가, 정상으로 배열된 유닛 셀에서 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역을 ROI로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치가, 불량으로 배열된 유닛 셀에서 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역을 ROI로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치가, 정상으로 배열된 유닛 셀에서 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역을 ROI로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치가, 불량으로 배열된 유닛 셀에서 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역을 ROI로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치가, 정상으로 배열된 유닛 셀에서 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역을 ROI로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.
도 12는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치가, 불량으로 배열된 유닛 셀에서 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역을 ROI로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.1 is a schematic diagram showing an arrangement form when a unit cell arranged on a web is a full cell.
2 is a schematic view showing an arrangement form when a unit cell arranged on a web is a bicell.
3 is a plan view showing a form in which bicells are normally arranged on a web.
4 is a plan view showing a form in which a bicell having an inverted electrode tab is arranged on a web.
5 is a flowchart of a method for determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention.
6 is a block diagram of an apparatus for determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention.
7 is a schematic diagram showing a state in which a unit cell defect determination apparatus according to an embodiment of the present invention sets an area between an electrode and an upper portion of an electrode tab as a ROI in a normally arranged unit cell.
8 is a schematic view showing a state in which a unit cell defect determination apparatus according to an embodiment of the present invention sets an area between an electrode and an upper portion of an electrode tab in a unit cell arranged as defective as an ROI.
9 is a schematic view showing a state in which a unit cell defect determination apparatus according to another embodiment of the present invention sets an area between an electrode and an upper portion of an electrode tab as a ROI in a normally arranged unit cell.
10 is a schematic view showing a state in which a unit cell defect determination apparatus according to another embodiment of the present invention sets an area between an electrode and an upper portion of an electrode tab as a ROI in a unit cell arranged as a defect.
11 is a schematic view showing a state in which a unit cell defect determination apparatus according to another embodiment of the present invention sets an area between an electrode and an upper portion of an electrode tab as a ROI in a normally arranged unit cell.
12 is a schematic diagram showing a state in which a unit cell defect determination apparatus according to another embodiment of the present invention sets an area between an electrode and an upper portion of an electrode tab in a unit cell arranged as defective as an ROI.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them will be clarified with reference to embodiments described below in detail together with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, and only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the art to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the person having the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. The same reference numerals refer to the same components throughout the specification.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used as meanings commonly understood by those skilled in the art to which the present invention pertains. In addition, terms defined in the commonly used dictionary are not ideally or excessively interpreted unless specifically defined.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for describing the embodiments and is not intended to limit the present invention. In the present specification, the singular form also includes the plural form unless otherwise specified in the phrase. As used herein, “comprises” and/or “comprising” does not exclude the presence or addition of one or more other components other than the components mentioned.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 웹(1)에 배열되는 유닛 셀이 풀셀(Full-Cell, 12)인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.1 is a schematic diagram showing an arrangement form when a unit cell arranged in the web 1 is a full cell (12).

젤리-롤형 전극 조립체는 원통형 전지에는 적합하지만, 각형 또는 파우치형 전지에 적용할 때 전극 활물질의 박리 문제, 낮은 공간 활용성 등의 단점이 있다. 반면에, 스택형 전극조립체는 각형의 형태를 얻기가 용이한 장점이 있지만, 제조과정이 번잡하고 충격이 가해졌을 때 전극이 밀려서 단락이 유발되는 단점이 있다. 스택/폴딩형 전극 조립체는 이러한 문제점을 해결하기 위하여 상기 젤리-롤형과 스택형을 혼합한 형태로서, 유닛 셀을 긴 길이의 연속적인 분리막 필름(11) 상에 일렬로 부착하여 형성된 웹(Web, 1)을 폴딩한 전극 조립체이다.The jelly-roll electrode assembly is suitable for a cylindrical battery, but has disadvantages such as a problem of peeling of an electrode active material and low space utilization when applied to a prismatic or pouch type battery. On the other hand, the stacked electrode assembly has the advantage of being easy to obtain a rectangular shape, but has a disadvantage in that the manufacturing process is complicated and the electrode is pushed when a shock is applied, causing a short circuit. In order to solve this problem, the stack/folding electrode assembly is a mixture of the jelly-roll type and the stack type, and a web formed by attaching unit cells in a row on a continuous separator film 11 of long length (Web, 1) is a folded electrode assembly.

웹(1)은 유닛 셀을 분리막 필름(11) 상에 일렬로 부착하여 형성되고, 이러한 유닛 셀은 풀셀(Full-Cell, 12)과 바이셀(Bi-Cell, 13, 도 2에 도시됨)이 있다. 풀셀(12)은 셀의 최외부 양측에 각각 양극과 음극이 위치하는 셀이다. 이러한 풀셀(12)의 가장 기본적인 구조로서, 양극/분리막/음극 또는 양극/분리막/음극/분리막/양극/분리막/음극 등이 있다.The web 1 is formed by attaching unit cells in series on the separator film 11, and these unit cells are shown in full-cell (12) and bi-cell (Bi-Cell, 13, shown in FIG. 2). There is this. The full cell 12 is a cell in which positive and negative electrodes are located on both outermost sides of the cell. As the most basic structure of the full cell 12, there are an anode/separator/cathode or an anode/separator/cathode/separator/anode/separator/cathode.

도 1에 도시된 바와 같이, 복수의 풀셀(12)이 분리막 필름(11) 상에 부착되어 있고, 제1 풀셀(121)에서 시작하여 웹(1)을 순차적으로 폴딩함으로써 스택/폴딩형 전극 조립체를 형성할 수 있다. 이 때, 제1 풀셀(121)과 제2 풀셀(122)은 적어도 하나의 풀셀(12)에 대응되는 폭 간격만큼 이격된 거리에 위치한다. 따라서 웹(1)을 폴딩하면, 제1 풀셀(121)의 외면이 분리막 필름(11)으로 포위된 후, 제1 풀셀(121)의 하부 전극 즉, 음극이 제2 풀셀(122)의 상부 전극 즉, 양극에 접한다.As illustrated in FIG. 1, a plurality of pull cells 12 are attached on the separator film 11, and stack/folding electrode assemblies are stacked by sequentially folding the web 1 starting from the first full cell 121. Can form. At this time, the first full cell 121 and the second full cell 122 are located at a distance spaced apart by a width interval corresponding to at least one full cell 12. Therefore, when the web 1 is folded, after the outer surface of the first full cell 121 is surrounded by the separator film 11, the lower electrode of the first full cell 121, that is, the negative electrode is the upper electrode of the second full cell 122. That is, it is in contact with the anode.

폴딩에 의한 순차적인 적층 과정에서 분리막 필름(11)의 폴딩 길이가 점차 증가하므로, 제2 풀셀(122) 이후의 풀셀(12)들 사이의 간격도 폴딩 방향으로 점차 증가하며 배치된다.Since the folding length of the separator film 11 gradually increases in the sequential lamination process by folding, the spacing between the full cells 12 after the second full cell 122 is also gradually increased and arranged in the folding direction.

또한, 이러한 풀셀(12)들은 폴딩시 적층된 계면에서 양극과 음극이 상호 대면하여야 한다. 따라서 제1 풀셀(121)과 제2 풀셀(122)은 동일한 전극이 상방을 향하고, 제2 풀셀(122) 이후에는 순차적으로 다른 전극이 상방을 향하는 배열 형태로 분리막 필름(11) 상에 배치되는 것이 바람직하다. 예를 들어 도 1에 도시된 바와 같이, 제1 풀셀(121)은 양극이 상방을 향하면, 제2 및 제4 풀셀(122, 124)도 양극이 상방을 향하고, 제3 및 제5 풀셀(123, 125)은 음극이 상방을 향할 수 있다. 그 이후로는 양극과 음극이 각각 교대로 상방을 향하도록 풀셀(12)이 배치될 수 있다.In addition, these full cells 12 must face the anode and the cathode at the stacked interface when folded. Therefore, the first full cell 121 and the second full cell 122 are disposed on the separator film 11 in the form of an array in which the same electrode faces upward and the second full cell 122 sequentially faces another electrode. It is preferred. For example, as illustrated in FIG. 1, in the first full cell 121, when the positive electrode faces upward, the second and fourth full cells 122 and 124 also face the positive electrode, and the third and fifth full cells 123 , 125), the cathode may face upward. Thereafter, the full cell 12 may be disposed such that the positive electrode and the negative electrode are alternately upward.

도 2는 웹(1a)에 배열되는 유닛 셀이 바이셀(Bi-Cell, 13)인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.FIG. 2 is a schematic diagram showing an arrangement form when the unit cells arranged on the web 1a are bi-cells 13.

바이셀(13)은 셀의 최외부 양측에 동일한 극성의 전극이 위치하는 셀이다. 이러한 바이셀(13)의 가장 기본적인 구조로서, 양극/분리막/음극/분리막/양극 구조의 A형 바이셀 또는 음극/분리막/양극/분리막/음극 구조의 C형 바이셀 등이 있다. 즉, 최외부 양측에 양극이 위치하는 셀을 A형 바이셀이라 하고, 양측에 음극이 위치하는 셀을 C형 바이셀이라 한다.The bicell 13 is a cell in which electrodes of the same polarity are located on both outermost sides of the cell. As the most basic structure of such a bicell 13, there is an anode/separator/cathode/separator/anode structured A-type bicell or a cathode/separator/anode/separator/cathode structured C-type bicell. That is, a cell in which an anode is located on both outermost sides is called an A-type bicell, and a cell in which a cathode is located on both sides is called a C-type bicell.

도 2에 도시된 바와 같이, 복수의 바이셀(13)이 분리막 필름(11) 상에 부착되어 있고, 제1 바이셀(131)에서 시작하여 웹(1a)을 순차적으로 폴딩함으로써 스택/폴딩형 전극 조립체를 형성할 수 있다. 이 때, 제1 바이셀(131)과 제2 바이셀(132)은 적어도 하나의 바이셀(13)에 대응되는 폭 간격만큼 이격된 거리에 위치한다. 따라서 웹(1a)을 폴딩하면, 제1 바이셀(131)의 외면이 분리막 필름(11)으로 포위된 후, 제1 바이셀(131)의 하부 전극, 즉 음극이 제2 바이셀(132)의 상부 전극, 즉 양극에 접한다.As illustrated in FIG. 2, a plurality of bicells 13 are attached on the separator film 11 and stack/folded by sequentially folding the web 1a starting from the first bicell 131. An electrode assembly can be formed. At this time, the first bi-cell 131 and the second bi-cell 132 are located at a distance separated by a width interval corresponding to at least one bi-cell 13. Therefore, when the web 1a is folded, after the outer surface of the first bicell 131 is surrounded by the separator film 11, the lower electrode of the first bicell 131, that is, the negative electrode is the second bicell 132. It is in contact with the upper electrode, that is, the anode.

폴딩에 의한 순차적인 적층 과정에서 분리막 필름(11)의 폴딩 길이가 점차 증가하므로, 제2 바이셀(132) 이후의 바이셀(13)들 사이의 간격도 폴딩 방향으로 점차 증가하며 배치된다.Since the folding length of the separator film 11 gradually increases in the sequential lamination process by folding, the spacing between the bicells 13 after the second bicell 132 is also gradually increased and arranged in the folding direction.

또한, 이러한 바이셀(13)들은 폴딩시 적층된 계면에서 양극과 음극이 상호 대면하여야 한다. 따라서 제1 바이셀(131)과 제2 바이셀(132)은 서로 다른 종류의 셀이고, 제2 바이셀(132) 이후의 셀들은 동일 타입의 셀이 두 개 단위로 교번하며 분리막 필름(11) 상에 배치되는 것이 바람직하다. 예를 들어 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 바이셀(131)이 C형 바이셀이면, 제2 및 제3 바이셀(132, 133)은 A형 바이셀이고, 제4 및 제5 바이셀(134, 135)은 C형 바이셀이며, 그 이후로는 동일한 타입의 셀이 두 개 단위로 교번하며 배치될 수 있다.In addition, these bi-cells 13 must face the anode and the cathode at the stacked interface during folding. Therefore, the first bi-cell 131 and the second bi-cell 132 are different types of cells, and the cells after the second bi-cell 132 alternately have the same type of cells in two units and the separator film 11 ). For example, as shown in FIG. 2, if the first bicell 131 is a C-type bicell, the second and third bicells 132 and 133 are A-type bicells, and the fourth and fifth bicells The cells 134 and 135 are C-type bicells, and thereafter, cells of the same type may be alternately arranged in two units.

도 3은 웹(1a)에 바이셀(13)이 정상으로 배열된 형태를 나타내는 평면도이다.3 is a plan view showing a form in which the bicells 13 are normally arranged on the web 1a.

웹(1a)을 폴딩하여 스택/폴딩형 전극 조립체를 제조하면, 양극 탭(151)은 양극 탭(151)끼리, 음극 탭(152)은 음극 탭(152)끼리 서로 접촉시켜 연결한다. 이를 위해, 전극 조립체에서 복수의 양극 탭(151)들은 서로 동일한 위치에 형성되고, 복수의 음극 탭(152)들도 서로 동일한 위치에 형성되어야 한다. 따라서, 도 3에 도시된 바와 같이, 웹(1a)에서 제2 및 제4 바이셀(132, 134)은 양극 탭(151)이 우측에 형성되고, 음극 탭(152)이 좌측에 형성되지만, 제3 및 제5 바이셀(133, 135)은 양극 탭(151)이 좌측에 형성되고, 음극 탭(152)이 우측에 형성된다. 이와 같이, 웹(1a)이 폴딩되면서 유닛 셀들의 상하면이 연속적으로 반전되므로, 서로 나란히 배열된 같은 A형 또는 C형의 바이셀끼리는 전극 탭(15)이 서로 반대 위치에 형성된다.When a stack/folding electrode assembly is manufactured by folding the web 1a, the positive electrode tabs 151 are connected to the positive electrode tabs 151, and the negative electrode tabs 152 are connected to each other by contacting the negative electrode tabs 152. To this end, in the electrode assembly, the plurality of anode tabs 151 are formed at the same position with each other, and the plurality of cathode tabs 152 must also be formed at the same position with each other. Accordingly, as shown in FIG. 3, in the web 1a, the second and fourth bicells 132 and 134 have the positive electrode tab 151 formed on the right side and the negative electrode tab 152 formed on the left side, In the third and fifth bi-cells 133 and 135, an anode tab 151 is formed on the left side, and a cathode tab 152 is formed on the right side. In this way, as the web 1a is folded, the upper and lower surfaces of the unit cells are continuously inverted, so that the electrode tabs 15 are formed at opposite positions between bi-cells of the same type A or type C arranged side by side.

도 4는 웹(1b)에 전극 탭(15)이 반전된 바이셀(13)이 포함되어 배열된 형태를 나타내는 평면도이다.FIG. 4 is a plan view showing the arrangement in which the bicell 13 in which the electrode tab 15 is inverted is included in the web 1b.

한편, 유닛 셀들을 분리막 필름(11)에 순차적으로 배열하기 위해, 동일한 종류의 유닛 셀들끼리는 동일한 매거진(미도시)에 수납된다. 그런데, 유닛 셀들이 매거진으로부터 배출되는 순서가 맞지 않거나, 매거진의 개폐 타이밍이 맞지 않는 등 에러가 발생하면, 웹(1b)에 전극 탭(15)의 위치가 반전된 유닛 셀이 배열 될 수도 있다.On the other hand, in order to sequentially arrange the unit cells in the separator film 11, the same type of unit cells are stored in the same magazine (not shown). However, if an error occurs, such as the order in which the unit cells are discharged from the magazine or the timing of opening and closing the magazine is not correct, the unit cell in which the position of the electrode tab 15 is reversed may be arranged on the web 1b.

예를 들어, 제4 바이셀(134)은 제5 바이셀(135)과 달리, 양극 탭(151)이 우측에 형성되고, 음극 탭(152)이 좌측에 형성되어야 한다. 그러나 도 4에 도시된 바와 같이, 제4 바이셀(134)이 제5 바이셀(135)과 같이, 양극 탭(151)이 좌측에 형성되고, 음극 탭(152)이 우측에 형성될 수도 있다. 이러한 경우에 제조가 완료된 스택/폴딩형 전극 조립체는 불량이 발생한다. 그러나, 종래에는 이러한 스택/폴딩형 전극 조립체의 제조를 모두 완료한 후, 전압을 인가하여 테스트를 수행하여야, 불량 여부를 알 수 있으므로, 시간 및 비용이 과도하게 소모되는 문제가 있었다.For example, in the fourth bicell 134, unlike the fifth bicell 135, the positive electrode tab 151 is formed on the right side and the negative electrode tab 152 is formed on the left side. However, as shown in FIG. 4, the fourth bi-cell 134 may be formed on the left side, and the cathode tab 152 may be formed on the right side, like the fifth bi-cell 135. . In this case, the stack/folding electrode assembly, which has been manufactured, is defective. However, in the related art, after completing the manufacture of such a stack/folding electrode assembly, a test must be performed by applying a voltage, so it is possible to know whether it is defective, and thus there is a problem that time and cost are excessively consumed.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 방법의 흐름도이다.5 is a flowchart of a method for determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 전극 조립체의 제조를 완료하기 전에, 전극 탭(15)의 위치가 반전된 유닛 셀을 미리 검출하여, 시간 및 비용을 절약할 수 있다. 이를 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 방법은 비전 센서(21)가 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하는 단계; 상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 ROI(3. 도 7에 도시됨)를 설정하는 단계; 상기 ROI(3)에서 전극 탭 하부를 검출하는 단계; 및 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 상기 유닛 셀의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다. 그리고 상기 ROI(3)를 설정하는 단계에 있어서, 상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극(14)과 연결되지 않았을 상기 전극 탭 상부(153)와, 상기 전극(14) 사이의 영역이 상기 ROI(3)로 설정되고, 상기 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서, 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부가 검출되지 않으면, 정상으로 판단하고, 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부가 검출되면, 불량으로 판단한다.According to an embodiment of the present invention, before completing the manufacturing of the electrode assembly, it is possible to save time and cost by detecting in advance the unit cell in which the position of the electrode tab 15 is reversed. To this end, a method of determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention includes the steps of obtaining a video by the vision sensor 21 photographing a unit cell; Setting an ROI (shown in FIG. 7) in an area between the electrode 14 and the electrode tab top 153 of the unit cell in the image; Detecting a lower portion of the electrode tab in the ROI 3; And determining whether the unit cell is defective according to whether the bottom of the electrode tab is detected in the ROI 3. And in the step of setting the ROI (3), the area between the electrode tab top 153 and the electrode 14, which would not be connected to the electrode 14, if the unit cells were normally arranged is the It is set to ROI (3), in the step of determining whether the defect, if the lower portion of the electrode tab is not detected in the ROI (3), it is determined as normal, the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI (3) If it is, it is judged as defective.

이하, 도 5에 도시된 흐름도의 각 단계에 대한 내용을 도 6 내지 도 12와 함께 설명한다.Hereinafter, contents of each step of the flowchart shown in FIG. 5 will be described together with FIGS. 6 to 12.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)의 블록도이다.6 is a block diagram of a unit cell defect determination apparatus 2 according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)는 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하는 비전 센서(21); 상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 ROI(3)를 설정하는 ROI 설정부(222); 상기 ROI(3)에서 전극 탭 하부를 검출하는 전극 탭 하부 검출부(223); 및 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 상기 유닛 셀의 불량 여부를 판단하는 불량 판단부(224)를 포함한다. 여기서 ROI 설정부(222)는, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 전극 탭 상부(153)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정하고, 불량 판단부(224)는, 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 불량으로 판단한다.The unit cell defect determination apparatus 2 according to an embodiment of the present invention includes a vision sensor 21 that captures a unit cell and acquires an image; An ROI setting unit 222 for setting an ROI 3 in an area between the electrode 14 of the unit cell and the upper portion of the electrode tab 153 in the image; An electrode tab lower detection unit 223 for detecting a lower electrode tab in the ROI 3; And a defect determination unit 224 that determines whether the unit cell is defective according to whether or not the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI 3. Here, the ROI setting unit 222 sets the region between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14, which would not be connected to the electrode 14, to the ROI 3 if the unit cells were normally arranged, and is defective. The determination unit 224, if the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the lower electrode tab in the ROI 3, determines that it is normal, and the electrode tab lower detection unit 223 is the ROI (3) When the lower portion of the electrode tab is detected, it is determined as defective.

구체적으로 설명하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)는 도 6에 도시된 바와 같이, 비전 센서(21), 제어부(22), 디스플레이부(23) 및 알람부(24)를 포함한다. 그리고, 이들 구성요소들은 버스(미도시)를 통해 상호간에 연결되어 통신할 수 있다. 제어부(22)에 포함된 모든 구성요소들은 적어도 하나의 인터페이스 또는 어댑터를 통해 버스에 접속되거나, 직접 버스에 연결될 수 있다. 또한, 버스는 상기 기술한 구성요소 외에 다른 서브 시스템들과 연결될 수도 있다. 버스는 메모리 버스, 메모리 컨트롤러, 주변 버스(Peripheral Bus), 로컬 버스를 포함한다.Specifically, the unit cell defect determination apparatus 2 according to an embodiment of the present invention, as shown in Figure 6, the vision sensor 21, the control unit 22, the display unit 23 and the alarm unit ( 24). In addition, these components may be connected to and communicate with each other through a bus (not shown). All components included in the control unit 22 may be connected to the bus through at least one interface or adapter, or may be directly connected to the bus. In addition, the bus may be connected to other subsystems in addition to the components described above. The bus includes a memory bus, a memory controller, a peripheral bus, and a local bus.

비전 센서(21)는 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득한다. 이러한 비전 센서(21)는 일반적으로 CCD(Charge Coupled Device, 전하결합소자)나 CMOS 이미지 센서 등의 촬상 소자가 포함된다. 비전 센서(21)는 본 발명을 실시하기 위해 새롭게 설치될 수도 있으나, 유닛 셀의 간격을 측정하기 위해 기존에 설치된 비전 센서(21)를 이용할 수도 있는 등 다양한 비전 센서(21)를 사용할 수 있다. 만약 기존에 설치된 비전 센서(21)를 이용한다면, 새롭게 비전 센서(21)를 설치할 필요가 없으므로, 비용을 더욱 절감할 수 있다.The vision sensor 21 acquires an image by photographing a unit cell. The vision sensor 21 generally includes an imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device) or a CMOS image sensor. The vision sensor 21 may be newly installed to implement the present invention, but various vision sensors 21 may be used, for example, an existing installed vision sensor 21 may be used to measure the space between unit cells. If the existing vision sensor 21 is used, it is not necessary to newly install the vision sensor 21, and thus the cost can be further reduced.

비전 센서(21)가 촬영하는 유닛 셀은 풀셀(12)일 수도 있고 바이셀(13)일 수도 있다. 그리고, 비전 센서(21)가 바이셀(13)을 촬영한다면, 바이셀(13)은 A형 바이셀일 수도 있고 C형 바이셀일 수도 있다. 또는, 양극 탭(151)이 우측에 형성되고, 음극 탭(152)이 좌측에 형성되는 바이셀(13)일 수도 있으나, 양극 탭(151)이 좌측에 형성되고, 음극 탭(152)이 우측에 형성되는 바이셀(13)일 수도 있다. 즉, 비전 센서(21)는 제한되지 않고 다양한 유닛 셀을 촬영할 수 있다. 이하, 비전 센서(21)가 제4 바이셀(134)을 촬영하여 영상을 획득하는 것으로 설명한다. 다만, 이는 설명의 편의를 위함이며, 권리범위를 제한하기 위함이 아니다.The unit cell photographed by the vision sensor 21 may be a full cell 12 or a bicell 13. And, if the vision sensor 21 photographs the bicell 13, the bicell 13 may be an A-type bicell or a C-type bicell. Alternatively, the anode tab 151 may be formed on the right side, and the cathode tab 152 may be a bicell 13 formed on the left side, but the anode tab 151 may be formed on the left side, and the cathode tab 152 may be formed on the right side. It may be a bi-cell 13 formed in. That is, the vision sensor 21 is not limited and can capture various unit cells. Hereinafter, it will be described that the vision sensor 21 acquires an image by photographing the fourth bicell 134. However, this is for convenience of explanation and not for limiting the scope of rights.

제어부(22)는 비전 센서(21)가 획득한 영상 신호를 수신하고, 상기 영상 신호로부터 전극(14)의 불량 여부를 판단한다. 제어부(22)는 아웃라인 추출부(221), ROI 설정부(222), 전극 탭 하부 검출부(223) 및 불량 판단부(224)를 포함한다. 이러한 제어부(22)로는 CPU(Central Processing Unit), MCU(Micro Controller Unit) 또는 DSP(Digital Signal Processor) 등을 사용하는 것이 바람직하나, 이에 제한되지 않고 다양한 논리 연산 프로세서가 사용될 수 있다.The control unit 22 receives the image signal acquired by the vision sensor 21 and determines whether the electrode 14 is defective from the image signal. The control unit 22 includes an outline extraction unit 221, an ROI setting unit 222, an electrode tab lower detection unit 223 and a defect determination unit 224. It is preferable to use a central processing unit (CPU), a micro controller unit (MCU), or a digital signal processor (DSP) as the control unit 22, but is not limited thereto, and various logical operation processors may be used.

아웃라인 추출부(221)는 비전 센서(21)로부터 수신된 영상으로부터 전극(14) 및 전극 탭(15)의 아웃라인을 추출한다. 아웃라인을 추출하기 위해서는 상기 이미지의 픽셀에 대한 엣지 정보를 추출하며, 이를 위해 일반적으로 사용되는 그라디언트 공식을 사용할 수 있다. 상기 추출한 엣지 정보를 통해 전극(14) 및 전극 탭(15)의 아웃라인이 드러난다.The outline extraction unit 221 extracts the outline of the electrode 14 and the electrode tab 15 from the image received from the vision sensor 21. In order to extract the outline, edge information for pixels of the image is extracted, and a commonly used gradient formula can be used for this. The outline of the electrode 14 and the electrode tab 15 is revealed through the extracted edge information.

ROI 설정부(222)는 상기 영상 상에서 ROI(3)를 설정한다. ROI(Region Of Interest, 3)란, 사용자의 관심 영역을 말한다. ROI 설정부(222)는 상기 추출된 아웃라인을 통해, 상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극(14) 및 전극 탭(15)을 인지하고, 전극 탭 상부(153)와 전극(14) 사이의 영역에 ROI(3)를 설정한다. 특히, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 전극 탭 상부(153)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정하는 것이 바람직하다. 이러한 ROI(3)는 사각형의 형상으로 설정될 수도 있으나, 추후에 전극 탭 하부 검출부(223)가 ROI(3) 상에서 전극 탭 하부를 용이하게 검출할 수 있다면, 이에 제한되지 않고 원형 또는 오각형 등 다양한 형상으로 설정될 수 있다. ROI(3)는 OSD 시스템을 이용하여 영상 상에서 표시되어 사용자가 디스플레이부(23)를 통해 확인할 수도 있으나, 이에 제한되지 않고 영상 상에서는 표시되지 않을 수도 있다. 여기서 OSD(On Screen Display)란, 모니터와 같은 디스플레이 장치에서 사용자에게 각종 정보를, 화면상에 디스플레이 되는 영상과는 별도로 직접 표시하는 기능을 말한다. 일반적으로 OSD는 디스플레이 장치 자체의 설정, 예를 들면 밝기, RGB 조정, 상하좌우 크기, 위치 조정 등을 위한 창을 표시한다.The ROI setting unit 222 sets the ROI 3 on the image. ROI (Region Of Interest, 3) refers to the user's area of interest. The ROI setting unit 222 recognizes the electrode 14 and the electrode tab 15 of the unit cell in the image through the extracted outline, and an area between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 ROI(3) is set. In particular, according to an embodiment of the present invention, if the unit cells were normally arranged, the region between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 that would not be connected to the electrode 14 and the electrode 14 were set to ROI 3. It is preferred. The ROI 3 may be set in a quadrangular shape, but if the electrode tab lower detection unit 223 can easily detect the electrode tab lower on the ROI 3 later, it is not limited thereto, and various shapes such as a circular or pentagonal shape may be used. It can be set to a shape. The ROI 3 is displayed on the image using the OSD system, but the user may check it through the display unit 23, but is not limited thereto and may not be displayed on the image. Here, On-Screen Display (OSD) refers to a function of directly displaying various information to a user on a display device such as a monitor, separately from an image displayed on the screen. In general, the OSD displays a window for setting the display device itself, for example, brightness, RGB adjustment, vertical and horizontal size, and position adjustment.

전극 탭 하부 검출부(223)는 상기 ROI(3)에서 전극 탭 하부를 검출한다. 이 때, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 전극 탭 하부 검출부(223)는 상기 ROI(3)에서의 색상을 통해 전극 탭 하부를 검출할 수 있다. 만약 전극 탭 하부가 존재한다면, ROI(3) 상에서 전극 탭 하부가 가지는 특유의 금속색이 나타난다. 그러나, 전극 탭 하부가 존재하지 않는다면, ROI(3) 상에서 폴리머로 제조된 분리막 필름(11)이 가지는 무광택의 색상이 나타난다. 또는, 전극 탭 하부 검출부(223)는 아웃라인을 통해 상기 전극 탭 하부를 검출할 수도 있다. 만약 전극 탭 하부가 존재한다면, 전극 탭 상부(153)와 전극(14)이 전극 탭 하부를 통해 서로 일체로 연결되므로, ROI(3) 상에서 전극 탭 상부(153)와 전극(14)을 분리하는 아웃라인이 표시되지 않는다. 다만, 분리막 필름(11)과 구분되는 전극 탭 하부의 아웃라인 자체가 표시된다. 그러나, 전극 탭 하부가 존재하지 않는다면, ROI(3) 상에서 전극 탭 상부(153)와 전극(14)을 분리하는 아웃라인이 표시된다. 다만, 분리막 필름(11)과 구분되는 전극 탭 하부의 아웃라인이 표시되지 않는다.The electrode tab lower detection unit 223 detects the electrode tab lower portion in the ROI 3. At this time, according to an embodiment of the present invention, the electrode tab lower detection unit 223 may detect the lower electrode tab through the color in the ROI 3. If the lower portion of the electrode tab is present, a characteristic metal color of the lower portion of the electrode tab appears on the ROI 3. However, if the bottom of the electrode tab is not present, the matte color of the separator film 11 made of a polymer on the ROI 3 appears. Alternatively, the electrode tab lower detection unit 223 may detect the lower electrode tab through an outline. If the electrode tab lower portion is present, the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 are integrally connected to each other through the electrode tab lower portion, so that the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 are separated on the ROI 3. The outline is not displayed. However, the outline itself under the electrode tab separated from the separator film 11 is displayed. However, if the bottom of the electrode tab does not exist, the outline separating the electrode tab top 153 and the electrode 14 on the ROI 3 is displayed. However, the outline under the electrode tab that is separated from the separator film 11 is not displayed.

불량 판단부(224)는 상기 ROI(3)에서 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 불량 여부를 판단한다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, ROI(3) 상에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 상기 전극 탭 하부가 존재하지 않을 때 정상이다. 따라서, 불량 판단부(224)는 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 불량으로 판단한다.The defect determining unit 224 determines whether the defect is defective according to whether the bottom of the electrode tab is detected in the ROI 3. According to an embodiment of the present invention, it is normal when the lower portion of the electrode tab does not exist in the region between the electrode 14 and the upper electrode tab 153 on the ROI 3. Therefore, the failure determining unit 224 determines that if the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the electrode tab lower portion in the ROI 3, it is determined as normal, and the electrode tab lower detection unit 223 determines the ROI 3 If it detects the lower portion of the electrode tab at ), it is determined as defective.

본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)는 상기 영상의 신호를 수신하여 디스플레이하는 디스플레이부(23)를 더 포함할 수 있다. 이러한 디스플레이부(23)는 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Liquid Crystal Display), CRT(Cathode Ray Tube), PDP(Plasma Display Panel) 등 다양한 방식이 사용될 수 있다. 그리고 디스플레이부(23)는 비디오 인터페이스를 통하여 버스에 연결되고, 디스플레이부(23)와 버스 간의 데이터 전송은 그래픽 컨트롤러에 의해 제어될 수 있다.The unit cell defect determining apparatus 2 according to an embodiment of the present invention may further include a display unit 23 for receiving and displaying the image signal. The display unit 23 may use various methods such as a liquid crystal display (LCD), an organic liquid crystal display (OLED), a cathode ray tube (CRT), and a plasma display panel (PDP). In addition, the display unit 23 is connected to the bus through a video interface, and data transmission between the display unit 23 and the bus can be controlled by a graphic controller.

또한, 유닛 셀 불량 판단 장치(2)는, 불량 판단부(224)가 유닛 셀이 불량이라고 판단하면, 알람을 발생시키는 알람부(24)를 더 포함할 수도 있다. 알람을 발생시킬 때에는, 램프의 점등 또는 경고음 등 청각적 또는 시각적으로 알람이 발생하여 사용자가 직관적으로 알 수 있도록 하는 것이 바람직하다.In addition, the unit cell failure determination apparatus 2 may further include an alarm unit 24 that generates an alarm when the failure determination unit 224 determines that the unit cell is defective. When generating an alarm, it is desirable to make the user intuitively aware by generating an audible or visual alarm such as a lamp lighting or warning sound.

지금까지 기술한 유닛 셀 불량 판단 장치(2)의 각 구성요소들은 메모리 상의 소정 영역에서 수행되는 태스크, 클래스, 서브 루틴, 프로세스, 오브젝트, 실행 쓰레드, 프로그램과 같은 소프트웨어(software)나, FPGA(field-programmable gate array)나 ASIC(application-specific integrated circuit)과 같은 하드웨어(hardware)로 구현될 수 있으며, 또한 상기 소프트웨어 및 하드웨어의 조합으로 이루어질 수도 있다. 상기 구성요소들은 컴퓨터로 판독 가능한 저장 매체에 포함되어 있을 수도 있고, 복수의 컴퓨터에 그 일부가 분산되어 분포될 수도 있다.Each component of the unit cell defect determination apparatus 2 described so far is a software, such as a task, class, subroutine, process, object, execution thread, or program, or FPGA (field) performed in a predetermined area in memory. It may be implemented with hardware such as a -programmable gate array (ASIC) or an application-specific integrated circuit (ASIC), and may also be made of a combination of the above software and hardware. The components may be included in a computer-readable storage medium, or a part of the computer may be distributed and distributed.

또한, 각 블록은 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실행예들에서는 블록들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능하다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 블록들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 그 블록들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.Also, each block may represent a module, segment, or portion of code that includes one or more executable instructions for executing the specified logical function(s). It is also possible that in some alternative implementations, the functions mentioned in the blocks occur out of sequence. For example, two blocks shown in succession may in fact be executed substantially simultaneously, and it is also possible that the blocks are sometimes executed in reverse order according to a corresponding function.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)가, 정상으로 배열된 유닛 셀에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.7 is a unit cell failure determining apparatus 2 according to an embodiment of the present invention, in the unit cell arranged normally, the area between the electrode 14 and the electrode tab top 153 is set as the ROI 3 It is a schematic diagram showing the appearance.

상기 기술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따르면, ROI(3) 상에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 상기 전극 탭 하부가 존재하지 않을 때 정상이다. 만약 정상으로 배열되는 유닛 셀의 최상단에 위치한 전극(14)의 전극 탭(15)이 좌측에 형성된다면, 영상 상에서 좌측에 형성된 전극 탭 상부(153)와 전극(14)은 서로 좌측에 형성된 전극 탭 하부를 통해 일체로 연결되나, 우측에 형성된 전극 탭 상부(153)와 전극(14)은 서로 연결되지 않는다. 예를 들어, 제4 바이셀(134)은 음극이 최상단에 위치한 C형 바이셀이며, 만약 정상으로 배열된다면, 양극 탭(151)이 우측에 형성되고, 음극 탭(152)이 좌측에 형성된다. 따라서, 도 7에 도시된 바와 같이, 우측에 형성된 양극 탭 상부(1511)와 음극은 서로 연결되지 않으므로, 음극과 우측에 형성된 양극 탭 상부(1511) 사이의 영역에 양극 탭 하부가 존재하지 않는다.As described above, according to an embodiment of the present invention, it is normal when the lower portion of the electrode tab does not exist in the region between the electrode 14 and the upper electrode tab 153 on the ROI 3. If the electrode tab 15 of the electrode 14 located at the top of the unit cell arranged normally is formed on the left side, the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 formed on the left side of the image are electrode tabs formed on the left side of each other. Although integrally connected through the lower portion, the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 formed on the right side are not connected to each other. For example, the fourth bi-cell 134 is a C-type bicell with the cathode positioned at the top, and if arranged normally, the anode tab 151 is formed on the right side and the cathode tab 152 is formed on the left side. . Therefore, as illustrated in FIG. 7, since the anode tab upper portion 1511 and the cathode formed on the right side are not connected to each other, the anode tab bottom portion does not exist in the region between the cathode and the anode tab top portion 1511 formed on the right side.

본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 방법을 수행하기 위해, 먼저 비전 센서(21)가 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하면(S501), 아웃라인 추출부(221)가 상기 영상을 통해서 아웃라인을 추출한다(S502). 그 후 ROI 설정부(222)가, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 전극 탭 상부(153)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정한다(S503). 예를 들어 제4 바이셀(134)의 영상 상에서, ROI 설정부(222)는 도 7에 도시된 바와 같이, 음극과 우측에 형성된 양극 탭 상부(1511) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정한다.In order to perform the method for determining a unit cell defect according to an embodiment of the present invention, first, when the vision sensor 21 acquires an image by photographing the unit cell (S501), the outline extracting unit 221 through the image The outline is extracted (S502). Thereafter, the ROI setting unit 222 sets the region between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 that would not be connected to the electrode 14 to the ROI 3 if the unit cells were normally arranged ( S503). For example, on the image of the fourth bicell 134, the ROI setting unit 222 sets the region between the cathode and the anode tab top 1511 formed on the right side as the ROI 3, as shown in FIG. 7. do.

유닛 셀이 정상으로 배열된다면, 상기 ROI(3)에서는 전극 탭 하부가 존재하지 않는다. 따라서, 전극 탭 하부 검출부(223)는, 상기 ROI(3)에서 전극 탭 하부를 검출하지 못하고(S504), 불량 판단부(224)는 유닛 셀을 정상으로 판단한다(S505).If the unit cells are arranged normally, there is no bottom of the electrode tab in the ROI 3. Therefore, the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the electrode tab lower portion in the ROI 3 (S504), and the defect determination unit 224 determines the unit cell as normal (S505).

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)가, 불량으로 배열된 유닛 셀에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153a) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.8 is a unit cell failure determining apparatus 2 according to an embodiment of the present invention, in the unit cell arranged as defective, the region between the electrode 14 and the electrode tab upper portion 153a is set as the ROI 3 It is a schematic diagram showing the appearance.

만약 전극 탭(15a)이 반전된 유닛 셀이 불량으로 배열된다면, 상기 ROI(3)에서는 전극 탭 하부가 존재한다. 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 전극 탭 상부(153a)와, 전극(14)이 서로 연결되기 때문이다. 예를 들어, 제4 바이셀(134a)이 전극 탭(15a)의 위치가 반전되어 불량으로 배열된다면, 도 8에 도시된 바와 같이, 우측에 형성된 음극 탭 상부(1521a)와 음극이 서로 우측에 형성된 음극 탭 하부(1522a)를 통해 일체로 연결되므로, 음극과 우측에 형성된 음극 탭 상부(1521a) 사이의 영역에 음극 탭 하부(1522a)가 존재한다(이하, 불량으로 배열된 제4 바이셀(134a)의 전극 탭(15a) 및 하위 구성에 대해서는 도면에서 'a'를 붙인 도면 부호를 사용한다).If the unit cells in which the electrode tabs 15a are inverted are arranged as defective, the electrode tab bottom portion is present in the ROI 3. This is because the electrode tab upper portion 153a that would not be connected to the electrode 14 and the electrode 14 were connected to each other if the unit cells were normally arranged. For example, if the position of the electrode tab 15a of the fourth bicell 134a is reversed and arranged as defective, as shown in FIG. 8, the cathode tab upper portion 1521a and the cathode formed on the right side are located on the right side of each other. Since it is integrally connected through the formed negative tab lower portion 1522a, a negative tab lower portion 1522a is present in a region between the negative electrode and the upper negative electrode tab 1521a formed on the right side (hereinafter, the fourth bicell arranged as defective ( For the electrode tab 15a and sub-configuration of 134a), reference numerals denoted by'a' are used in the drawings).

상기 기술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따르면, ROI 설정부(222)가, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 전극 탭 상부(153a)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정한다(S503).As described above, according to an embodiment of the present invention, the ROI setting unit 222, the electrode tab upper portion 153a and the electrode 14 that would not be connected to the electrode 14 if the unit cells were normally arranged, and the electrode 14 ) Is set to the ROI 3 (S503).

유닛 셀이 불량으로 배열된다면, 상기 ROI(3)에서는 전극 탭 하부가 존재한다. 따라서, 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하고(S504), 불량 판단부(224)는 상기 유닛 셀을 불량으로 판단한다(S505).If the unit cells are arranged as defective, there is a lower electrode tab in the ROI 3. Accordingly, the electrode tab lower detection unit 223 detects the electrode tab lower portion in the ROI 3 (S504), and the defect determination unit 224 determines the unit cell as defective (S505).

지금까지 제4 바이셀(134)을 예시로 설명하였으나, 만약 정상으로 배열된 유닛 셀의 최상단에 위치한 전극(14)의 전극 탭(15)이 우측에 형성된다면, 영상 상에서 우측에 형성된 전극 탭 상부(153)와 전극(14)은 서로 우측에 형성된 전극 탭 하부를 통해 일체로 연결되나, 좌측에 형성된 전극 탭 상부(153)와 전극(14)은 서로 연결되지 않는다. 이 때에는, ROI 설정부(222)가 전극(14)과 좌측에 형성된 전극 탭 상부(153) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정할 수도 있다. 즉, 제한되지 않고 제1 내지 제5 바이셀(131 내지 135) 또는 제1 내지 제5 풀셀(121 내지 125) 등 다양한 유닛 셀을 대상으로 본 발명의 실시예들을 사용할 수 있다.The fourth bi-cell 134 has been described as an example so far, but if the electrode tab 15 of the electrode 14 positioned at the top of the normally arranged unit cell is formed on the right side, the upper electrode tab formed on the right side in the image 153 and the electrode 14 are integrally connected through the lower electrode tab formed on the right side of each other, but the upper electrode tab 153 and the electrode 14 formed on the left side are not connected to each other. In this case, the ROI setting unit 222 may set the region between the electrode 14 and the electrode tab upper portion 153 formed on the left side as the ROI 3. That is, without limitation, embodiments of the present invention may be used for various unit cells, such as the first to fifth bicells 131 to 135 or the first to fifth full cells 121 to 125.

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)가, 정상으로 배열된 유닛 셀에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역을 ROI(3a)로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.9 is a unit cell failure determining apparatus 2 according to another embodiment of the present invention, in the unit cell arranged normally, the region between the electrode 14 and the electrode tab top 153 is set to ROI 3a. It is a schematic diagram showing the appearance.

상기 기술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따르면, ROI(3) 상에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 상기 전극 탭 하부가 존재하지 않을 때 정상이다. 따라서, ROI 설정부(222)가, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 전극 탭 상부(153)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3)로 설정한다. 그리고, 불량 판단부(224)는 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 ROI(3)에서 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 ROI(3)에서 전극 탭 하부를 검출하면, 불량으로 판단한다.As described above, according to an embodiment of the present invention, it is normal when the lower portion of the electrode tab does not exist in the region between the electrode 14 and the upper electrode tab 153 on the ROI 3. Accordingly, the ROI setting unit 222 sets the region between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 that would not be connected to the electrode 14 to the ROI 3 if the unit cells were normally arranged. Then, the failure determining unit 224, if the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the lower electrode tab in the ROI (3), it is determined as normal, the electrode tap lower detection unit 223 is in the ROI (3) When the lower part of the electrode tab is detected, it is determined as defective.

그러나, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 상기 전극 탭 하부가 존재할 때 정상이다. 따라서, ROI 설정부(222)는, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 전극 탭 상부(153)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3a)로 설정한다. 그리고, 불량 판단부(224)는, 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3a)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 정상으로 판단하고, 상기 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3a)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 불량으로 판단한다.However, according to another embodiment of the present invention, it is normal when the lower electrode tab is present in the region between the electrode 14 and the upper electrode tab 153. Therefore, the ROI setting unit 222 sets the area between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 to be connected to the electrode 14 and the electrode 14 if the unit cells are normally arranged as the ROI 3a. In addition, when the electrode tap lower detection unit 223 detects the lower portion of the electrode tab in the ROI 3a, the defect determination unit 224 determines that it is normal, and the electrode tab lower detection unit 223 determines the ROI ( If the lower portion of the electrode tab is not detected in 3a), it is determined as defective.

구체적으로, 비전 센서(21)가 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하면(S501), 아웃라인 추출부(221)가 상기 영상을 통해서 아웃라인을 추출한다(S502). 그 후 ROI 설정부(222)가, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 전극 탭 상부(153)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3a)로 설정한다(S503). 예를 들어 제4 바이셀(134)의 영상 상에서, ROI 설정부(222)는 도 9에 도시된 바와 같이, 음극과 좌측에 형성된 음극 탭 상부(1521) 사이의 영역을 ROI(3a)로 설정한다.Specifically, when the vision sensor 21 acquires an image by photographing the unit cell (S501), the outline extraction unit 221 extracts the outline through the image (S502). Thereafter, the ROI setting unit 222 sets the area between the electrode tab upper portion 153 and the electrode 14 to be connected to the electrode 14 and the electrode 14 if the unit cells are normally arranged (S503). ). For example, on the image of the fourth bicell 134, the ROI setting unit 222 sets the region between the cathode and the cathode tab top 1521 formed on the left side as ROI 3a, as shown in FIG. 9. do.

유닛 셀이 정상으로 배열된다면, 상기 ROI(3a)에서는 전극 탭 하부가 존재한다. 따라서, 전극 탭 하부 검출부(223)는, 상기 ROI(3a)에서 전극 탭 하부를 검출하고(S504), 불량 판단부(224)는 유닛 셀을 정상으로 판단한다(S505).If the unit cells are arranged normally, the bottom of the electrode tab is present in the ROI 3a. Therefore, the electrode tab lower detection unit 223 detects the electrode tab lower portion in the ROI 3a (S504), and the defect determination unit 224 determines the unit cell as normal (S505).

도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)가, 불량으로 배열된 유닛 셀에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153a) 사이의 영역을 ROI(3a)로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.10 is a unit cell failure determining apparatus 2 according to another embodiment of the present invention, in the unit cell arranged as defective, the region between the electrode 14 and the electrode tab upper portion 153a is set to ROI 3a. It is a schematic diagram showing the appearance.

만약 전극 탭(15a)이 반전된 유닛 셀이 불량으로 배열된다면, 상기 ROI(3a)에서는 전극 탭 하부가 존재하지 않는다. 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 전극 탭 상부(153a)와, 전극(14)이 서로 연결되지 않기 때문이다. 예를 들어, 제4 바이셀(134a)이 전극 탭(15a)의 위치가 반전되어 불량으로 배열된다면, 도 10에 도시된 바와 같이, 좌측에 형성된 양극 탭 상부(1511a)와 음극이 서로 연결되지 않으므로, 음극과 좌측에 형성된 양극 탭 상부(1511a) 사이의 영역에 양극 탭 하부가 존재하지 않는다.If the unit cells in which the electrode tabs 15a are inverted are arranged as defective, the lower portion of the electrode tabs does not exist in the ROI 3a. This is because the electrode tab upper portion 153a that would be connected to the electrode 14 and the electrode 14 are not connected to each other if the unit cells are normally arranged. For example, if the position of the electrode tab 15a of the fourth bicell 134a is reversed and arranged as defective, as illustrated in FIG. 10, the anode tab top 1511a formed on the left side and the cathode are not connected to each other. Therefore, the lower portion of the positive electrode tab does not exist in the region between the negative electrode and the upper portion of the positive electrode tab 1511a formed on the left side.

상기 기술한 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, ROI 설정부(222)가, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 전극 탭 상부(153a)와, 전극(14) 사이의 영역을 ROI(3a)로 설정한다(S503).As described above, according to another embodiment of the present invention, the ROI setting unit 222, the electrode tab upper portion 153a and the electrode 14 that would have been connected to the electrode 14 if the unit cells were normally arranged, and the electrode 14 The region between is set as the ROI 3a (S503).

유닛 셀이 불량으로 배열된다면, 상기 ROI(3a)에서는 전극 탭 하부가 존재하지 않는다. 따라서, 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 ROI(3a)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하고(S504), 불량 판단부(224)는 상기 유닛 셀을 불량으로 판단한다(S505).If the unit cells are arranged as defective, there is no bottom of the electrode tab in the ROI 3a. Therefore, the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the electrode tab lower portion in the ROI 3a (S504), and the defect determination unit 224 determines the unit cell as defective (S505).

도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)가, 정상으로 배열된 유닛 셀에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역을 ROI(3b, 3c)로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.11 shows the area between the electrode 14 and the electrode tab top 153 in the unit cell in which the unit cell defect determination apparatus 2 according to another embodiment of the present invention is normally arranged, ROIs 3b and 3c. It is a schematic diagram showing the state set by.

본 발명의 일 실시예 및 다른 실시예에 따르면, ROI(3)를 하나만 설정하였다. 따라서, 하나의 전극(14)과 하나의 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 전극 탭 하부의 존재 여부에 따라 정상 또는 불량으로 판단하였다.According to one embodiment and another embodiment of the present invention, only one ROI 3 is set. Therefore, it was judged as normal or defective according to the existence of the lower portion of the electrode tab in the region between the one electrode 14 and the upper portion of the electrode tab 153.

그러나 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 제1 ROI(3b) 상에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 상기 전극 탭 하부가 존재하지 않고, 제2 ROI(3c) 상에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153) 사이의 영역에 상기 전극 탭 하부가 존재할 때 정상이다. 따라서, ROI 설정부(222)는, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 제1 전극 탭 상부와, 전극(14) 사이의 영역을 제1 ROI(3b)로 설정하고, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 제2 전극 탭 상부와, 전극(14) 사이의 영역을 제2 ROI(3c)로 설정한다. 불량 판단부(224)는, 전극 탭 하부 검출부(223)가 제1 ROI(3b)에서 제1 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 제2 ROI(3c)에서 제2 전극 탭 하부를 검출하면, 정상으로 판단한다. 그리고, 전극 탭 하부 검출부(223)가 제1 ROI(3b)에서 제1 전극 탭 하부를 검출하고, 제2 ROI(3c)에서 제2 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 불량으로 판단한다.However, according to another embodiment of the present invention, the lower portion of the electrode tab is not present in the region between the electrode 14 and the upper electrode tab 153 on the first ROI 3b, and the electrode is disposed on the second ROI 3c. It is normal when the lower portion of the electrode tab is present in the region between 14 and the upper portion of the electrode tab 153. Accordingly, the ROI setting unit 222 sets the region between the electrode tab 14 and the top of the first electrode tab that would not be connected to the electrode 14 if the unit cells were normally arranged, as the first ROI 3b. , If the unit cells were normally arranged, the area between the upper part of the second electrode tab that would be connected to the electrode 14 and the electrode 14 is set as the second ROI 3c. When the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the lower portion of the first electrode tab in the first ROI 3b, and the defect determination unit 224 detects the lower portion of the second electrode tab in the second ROI 3c, it is normal. Judging by. Then, if the electrode tab lower detection unit 223 detects the first electrode tab lower portion in the first ROI 3b and the second ROI 3c does not detect the lower portion of the second electrode tab, it is determined as defective.

구체적으로, 비전 센서(21)가 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하면(S501), 아웃라인 추출부(221)가 상기 영상을 통해서 아웃라인을 추출한다(S502). 그 후 ROI 설정부(222)가, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 제1 전극 탭 상부와, 전극(14) 사이의 영역을 제1 ROI(3b)로 설정하고, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 제2 전극 탭 상부와, 전극(14) 사이의 영역을 제2 ROI(3c)로 설정한다(S503). 예를 들어 제4 바이셀(134)의 영상 상에서, ROI 설정부(222)는 도 11에 도시된 바와 같이, 전극(14)과 우측에 형성된 양극 탭 상부(1511) 사이의 영역을 제1 ROI(3b)로 설정하고, 전극(14)과 좌측에 형성된 음극 탭 상부(1521) 사이의 영역을 제2 ROI(3c)로 설정한다.Specifically, when the vision sensor 21 acquires an image by photographing the unit cell (S501), the outline extraction unit 221 extracts the outline through the image (S502). Thereafter, the ROI setting unit 222 sets the area between the electrode tab top and the electrode 14, which would not be connected to the electrode 14, to the first ROI 3b if the unit cells were normally arranged. , If the unit cells were normally arranged, the area between the upper part of the second electrode tab and the electrode 14 to be connected to the electrode 14 is set to the second ROI 3c (S503). For example, on the image of the fourth bicell 134, the ROI setting unit 222, as shown in Figure 11, the first ROI between the region between the electrode 14 and the anode tab top 1511 formed on the right side. Set to (3b), the region between the electrode 14 and the cathode tab upper portion 1521 formed on the left side is set to the second ROI 3c.

유닛 셀이 정상으로 배열된다면, 상기 제1 ROI(3b) 에서는 전극 탭 하부가 존재하지 않고, 상기 제2 ROI(3c) 에서는 전극 탭 하부가 존재한다. 따라서, 전극 탭 하부 검출부(223)는, 상기 제1 ROI(3b)에서 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 상기 제2 ROI(3c)에서 상기 전극 탭 하부를 검출한다(S504). 그리고 불량 판단부(224)는 유닛 셀을 정상으로 판단한다(S505).If the unit cells are normally arranged, the electrode tab bottom portion does not exist in the first ROI 3b, and the electrode tab bottom portion exists in the second ROI 3c. Therefore, the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the lower electrode tab in the first ROI 3b, but detects the lower electrode tab in the second ROI 3c (S504). Then, the failure determining unit 224 determines the unit cell as normal (S505).

도 12는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 유닛 셀 불량 판단 장치(2)가, 불량으로 배열된 유닛 셀에서 전극(14)과 전극 탭 상부(153a) 사이의 영역을 ROI(3b, 3c)로 설정한 모습을 나타낸 개략도이다.FIG. 12 shows the area between the electrode 14 and the electrode tab upper part 153a in the unit cell in which the unit cell defect determination apparatus 2 according to another embodiment of the present invention is arranged as defective (ROIs 3b, 3c). It is a schematic diagram showing the state set by.

만약 전극 탭(15a)이 반전된 유닛 셀이 불량으로 배열된다면, 상기 제1 ROI(3b)에서는 전극 탭 하부가 존재하고, 상기 제2 ROI(3c)에서는 전극 탭 하부가 존재하지 않는다. 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되지 않았을 제1 전극 탭 상부와, 전극(14)이 서로 연결되고, 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 전극(14)과 연결되었을 제2 전극 탭 상부와, 전극(14)이 서로 연결되지 않기 때문이다. 예를 들어, 제4 바이셀(134a)이 전극 탭(15a)의 위치가 반전되어 불량으로 배열된다면, 도 12에 도시된 바와 같이, 우측에 형성된 음극 탭 상부(1521a)와 음극이 서로 연결되므로, 음극과 우측에 형성된 음극 탭 상부(1521a) 사이의 영역에 음극 탭 하부(1522a)가 존재하고, 좌측에 형성된 양극 탭 상부(1511a)와 음극이 서로 연결되지 않으므로, 음극과 좌측에 형성된 양극 탭 상부(1511a) 사이의 영역에 양극 탭 하부가 존재하지 않는다. 따라서, 전극 탭 하부 검출부(223)는, 상기 제1 ROI(3b)에서 전극 탭 하부를 검출하고, 상기 제2 ROI(3c)에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못한다(S504). 그리고 불량 판단부(224)는 유닛 셀을 불량으로 판단한다(S505).If the unit cells in which the electrode tabs 15a are inverted are arranged as defective, an electrode tab lower portion exists in the first ROI 3b, and an electrode tab lower portion does not exist in the second ROI 3c. If the unit cell is normally arranged, the first electrode tab that is not connected to the electrode 14 and the electrode 14 are connected to each other, and if the unit cell is normally arranged, the second electrode to be connected to the electrode 14 This is because the upper tab and the electrode 14 are not connected to each other. For example, if the position of the electrode tab 15a of the fourth bicell 134a is reversed and arranged as defective, as shown in FIG. 12, the cathode tab top 1521a formed on the right side and the cathode are connected to each other. , The negative electrode tab lower portion 1522a is present in the region between the negative electrode and the upper portion of the negative electrode tab 1521a formed on the right side, and since the upper portion of the positive electrode tab 1511a and the negative electrode formed on the left side are not connected to each other, the negative electrode tab and the positive electrode tab formed on the left side There is no anode tab bottom in the region between the top 1511a. Therefore, the electrode tab lower detection unit 223 does not detect the electrode tab lower portion in the first ROI 3b, and does not detect the electrode tab lower portion in the second ROI 3c (S504). Then, the defect determination unit 224 determines the unit cell as defective (S505).

한편, 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 제1 ROI(3b)에서도 제1 전극 탭 하부를 검출하고, 상기 제2 ROI(3c)에서도 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하는 경우가 있다. 이러한 경우에는, 전극 탭 하부 검출부(223)에 에러가 발생하였거나, 실제로 유닛 셀의 최상단의 전극(14)에 제1 전극 탭과 제2 전극 탭이 모두 형성된 것이다. 따라서 이러한 경우, 상기 불량 판단부(224)는 불량으로 판단하는 것이 바람직하다.On the other hand, the electrode tab lower detection unit 223 may also detect the lower portion of the first electrode tab in the first ROI 3b, and may also detect the lower portion of the second electrode tab in the second ROI 3c. In this case, an error has occurred in the lower portion of the electrode tab detection unit 223, or both the first electrode tab and the second electrode tab are actually formed on the uppermost electrode 14 of the unit cell. Therefore, in this case, it is preferable that the defect determination unit 224 determines as defective.

마찬가지로, 전극 탭 하부 검출부(223)가 상기 제1 ROI(3b)에서도 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 상기 제2 ROI(3c)에서도 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하지 못하는 경우도 있다. 이러한 경우에도, 전극 탭 하부 검출부(223)에서 에러가 발생하였거나, 실제로 유닛 셀의 최상단의 전극(14)에 제1 전극 탭과 제2 전극 탭이 모두 형성되지 않은 것이다. 따라서 이러한 경우에도, 상기 불량 판단부(224)는 불량으로 판단하는 것이 바람직하다.Similarly, the electrode tab lower detection unit 223 may not detect the lower portion of the first electrode tab in the first ROI 3b, and may not detect the lower portion of the second electrode tab in the second ROI 3c. . Even in this case, an error has occurred in the lower portion of the electrode tab detection unit 223, or both the first electrode tab and the second electrode tab are not actually formed on the uppermost electrode 14 of the unit cell. Therefore, even in this case, it is preferable that the defect determination unit 224 determines as defective.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 다양한 실시 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains will appreciate that the present invention may be implemented in other specific forms without changing its technical spirit or essential features. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the above detailed description, and various embodiments derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be interpreted to be included in the scope of the present invention.

1: 웹 2: 유닛 셀 불량 판단 장치
3: ROI 11: 분리막 필름
12: 풀셀 13: 바이셀
14: 전극 15: 전극 탭
21: 비전 센서 22: 제어부
23: 디스플레이부 24: 알람부
134: 제4 바이셀 151: 양극 탭
152: 음극 탭 153: 전극 탭 상부
154: 전극 탭 하부 221: 아웃라인 추출부
222: ROI 설정부 223: 전극 탭 하부 검출부
224: 불량 판단부 1511: 양극 탭 상부
1521: 음극 탭 상부 1522: 음극 탭 하부1: Web 2: Unit cell failure determination device
3: ROI 11: separator film
12: full cell 13: bicell
14: electrode 15: electrode tab
21: vision sensor 22: control
23: display unit 24: alarm unit
134: fourth bi-cell 151: anode tab
152: cathode tab 153: electrode tab top
154: lower electrode tab 221: outline extraction unit
222: ROI setting unit 223: electrode tab lower detection unit
224: defect determination unit 1511: positive tab top
1521: cathode tab top 1522: cathode tab bottom

Claims (14)

유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하는 비전 센서;
상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역에 ROI(Region Of Interest, 관심 영역)를 설정하는 ROI 설정부;
상기 ROI에서 전극 탭 하부를 검출하는 전극 탭 하부 검출부; 및
상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 상기 유닛 셀의 불량 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함하는 유닛 셀 불량 판단 장치.A vision sensor that acquires an image by photographing a unit cell;
An ROI setting unit for setting a region of interest (ROI) in an area between the electrode of the unit cell and the top of the electrode tab in the image;
An electrode tab lower detection unit configured to detect a lower electrode tab in the ROI; And
And a defect determination unit configured to determine whether the unit cell is defective according to whether the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI. 제1항에 있어서,
상기 ROI 설정부는,
상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되지 않았을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 상기 ROI로 설정하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.According to claim 1,
The ROI setting unit,
If the unit cells are arranged normally, the unit cell failure determination apparatus for setting the region between the electrode tab top and the electrode, which would not be connected to the electrode, as the ROI. 제2항에 있어서,
상기 불량 판단부는,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 정상으로 판단하고,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 불량으로 판단하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.According to claim 2,
The defect determination unit,
If the lower portion of the electrode tab does not detect the lower portion of the electrode tab in the ROI, it is determined as normal,
When the lower portion of the electrode tab detects the lower portion of the electrode tab in the ROI, it is determined to be defective, a unit cell defect determination device. 제1항에 있어서,
상기 ROI 설정부는,
상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되었을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 상기 ROI로 설정하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.According to claim 1,
The ROI setting unit,
If the unit cells are normally arranged, the area between the upper electrode tab and the electrode to be connected to the electrode and the electrode is set to the ROI, the unit cell defect determination device. 제4항에 있어서,
상기 불량 판단부는,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하면, 정상으로 판단하고,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 불량으로 판단하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.According to claim 4,
The defect determination unit,
When the lower portion of the electrode tab detects the lower portion of the electrode tab in the ROI, it is determined as normal,
If the lower portion of the electrode tab does not detect the lower portion of the electrode tab in the ROI, the unit cell defect determination apparatus determines as defective. 제1항에 있어서,
상기 전극 탭 하부 검출부는,
상기 ROI에서의 색상 또는 아웃라인을 통해 상기 전극 탭 하부를 검출하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.According to claim 1,
The electrode tab lower detection unit,
A unit cell defect determination device for detecting the lower portion of the electrode tab through a color or outline in the ROI. 제1항에 있어서,
상기 ROI 설정부는,
상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되지 않았을 제1 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 제1 ROI로 설정하고,
상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되었을 제2 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역을 제2 ROI로 설정하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.According to claim 1,
The ROI setting unit,
If the unit cells are normally arranged, an upper portion of the first electrode tab that is not connected to the electrode and an area between the electrodes are set as a first ROI,
If the unit cells are normally arranged, the upper part of the second electrode tab to be connected to the electrode, and the area between the electrodes is set to a second ROI. 제7항에 있어서,
상기 불량 판단부는,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 제1 ROI에서 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 상기 제2 ROI에서 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하면, 정상으로 판단하고,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 제1 ROI에서 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하고, 상기 제2 ROI에서 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하지 못하면, 불량으로 판단하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.The method of claim 7,
The defect determination unit,
If the lower portion of the electrode tab does not detect the lower portion of the first electrode tab in the first ROI, and the lower portion of the second electrode tab is detected in the second ROI, it is determined as normal,
If the electrode tab lower detection unit detects the lower portion of the first electrode tab in the first ROI, and does not detect the lower portion of the second electrode tab in the second ROI, the unit cell defect determination apparatus. 제8항에 있어서,
상기 불량 판단부는,
상기 전극 탭 하부 검출부가 상기 제1 ROI에서도 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하고, 상기 제2 ROI에서도 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하거나,
상기 제1 ROI에서도 상기 제1 전극 탭 하부를 검출하지 못하고, 상기 제2 ROI에서도 상기 제2 전극 탭 하부를 검출하지 못하면 모두 불량으로 판단하는, 유닛 셀 불량 판단 장치.The method of claim 8,
The defect determination unit,
The lower portion of the electrode tab detects the lower portion of the first electrode tab in the first ROI, and also detects the lower portion of the second electrode tab in the second ROI,
If the first ROI does not detect the lower portion of the first electrode tab, and the second ROI does not detect the lower portion of the second electrode tab, it is determined that all of them are defective. 비전 센서가 유닛 셀을 촬영하여 영상을 획득하는 단계;
상기 영상에서 상기 유닛 셀의 전극과 전극 탭 상부 사이의 영역에 ROI(Region Of Interest, 관심 영역)를 설정하는 단계;
상기 ROI에서 전극 탭 하부를 검출하는 단계; 및
상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부의 검출 여부에 따라 상기 유닛 셀의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는 유닛 셀 불량 판단 방법.A vision sensor photographing a unit cell to obtain an image;
Setting an ROI (Region Of Interest) in the region between the electrode of the unit cell and the top of the electrode tab in the image;
Detecting an electrode tab bottom portion in the ROI; And
And determining whether the unit cell is defective according to whether the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI. 제10항에 있어서,
상기 ROI를 설정하는 단계에 있어서,
상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되지 않았을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역이 상기 ROI로 설정되는 유닛 셀 불량 판단 방법.The method of claim 10,
In the step of setting the ROI,
A method of determining a unit cell defect in which an area between the electrode tab upper portion and the electrode that is not connected to the electrode is set to the ROI if the unit cell is normally arranged. 제11항에 있어서,
상기 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서,
상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되지 않으면, 정상으로 판단하고,
상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되면, 불량으로 판단하는, 유닛 셀 불량 판단 방법.The method of claim 11,
In the step of determining whether the defect,
If the lower portion of the electrode tab is not detected in the ROI, it is determined as normal,
When the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI, it is determined as a defect, a method for determining a unit cell defect. 제10항에 있어서,
상기 ROI를 설정하는 단계에 있어서,
상기 유닛 셀이 정상으로 배열되었더라면 상기 전극과 연결되었을 상기 전극 탭 상부와, 상기 전극 사이의 영역이 상기 ROI로 설정되는 유닛 셀 불량 판단 방법.The method of claim 10,
In the step of setting the ROI,
If the unit cells are normally arranged, a method of determining a unit cell defect in which an area between the electrode tab upper part and the electrode to be connected to the electrode is set as the ROI. 제13항에 있어서,
상기 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서,
상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되면, 정상으로 판단하고,
상기 ROI에서 상기 전극 탭 하부가 검출되지 않으면, 불량으로 판단하는, 유닛 셀 불량 판단 방법.
The method of claim 13,
In the step of determining whether the defect,
When the lower portion of the electrode tab is detected in the ROI, it is determined as normal,
If the lower portion of the electrode tab is not detected in the ROI, it is determined as a defect, and a unit cell defect determination method.
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KR20080010005A (en) 2006-07-25 2008-01-30 엘지전자 주식회사 Apparatus for aligning lithium polymer secondary batteries unit cell

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