KR20200088118A - 광학 디바이스 - Google Patents

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KR20200088118A
KR20200088118A KR1020190004706A KR20190004706A KR20200088118A KR 20200088118 A KR20200088118 A KR 20200088118A KR 1020190004706 A KR1020190004706 A KR 1020190004706A KR 20190004706 A KR20190004706 A KR 20190004706A KR 20200088118 A KR20200088118 A KR 20200088118A
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주식회사 엘지화학
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Abstract

본 출원은 투과율 가변이 가능하고, 고온 다습한 환경에 장시간 노출되는 경우에 발생될 수 있는 변색 등의 외관 불량이 개선된 광학 디바이스에 관한 것이다.

Description

광학 디바이스{Optical Device}
본 출원은 광학 디바이스에 관한 것이다.
액정 화합물을 이용하여 투과율을 가변 할 수 있도록 설계된 광학 디바이스는 다양하게 알려져 있다.
예를 들면, 호스트 물질(host material)과 이색성 염료 게스트(dichroic dye guest)의 혼합물을 적용한 소위 G-H셀(Guest-host cell)을 사용한 투과율 가변 장치가 알려져 있고, 상기 장치에서 호스트 물질로 주로 액정 화합물이 사용된다.
이러한 투과율 가변 장치는 선글라스나 안경 등의 아이웨어(eyewear), 건물 외벽 또는 차량의 선루프 등을 포함한 다양한 용도에 적용되고 있다.
0001)한국 공개특허 제 10-2017-0122552호
본 출원의 목적은 광학 디바이스를 제공하는 것이다. 구체적으로 고온 다습한 환경에 장시간 노출되는 경우에 발생될 수 있는 변색 등의 외관 불량이 개선된 광학 디바이스를 제공하는 것이다.
본 출원은 광학 디바이스에 관한 것이다. 이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 출원의 광학 디바이스를 설명하되, 첨부된 도면은 예시적인 것으로, 본 출원의 광학 디바이스가 첨부된 도면에 제한되는 것은 아니다.
도 1은 본 출원의 예시적인 광학 디바이스의 단면도이다. 도 1에 나타난 바와 같이, 본 출원의 예시적인 광학 디바이스(100)은 대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽기판(30); 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 위치하는 액정 소자(10)와 편광자(20); 및 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에서 상기 액정소자와 편광자를 봉지하는 접착 필름(40)을 포함한다. 한편, 상기 제 1 및 제 2의 표현이 외곽기판의 선후 내지는 상하 관계를 규정하는 것은 아니다.
하나의 예로서, 상기 광학 디바이스를 구성하는 접착 필름은 수분 함량이 0.7 % 이하이다. 다른 예로, 접착 필름의 수분 함량은 약 0.65 % 이하, 0.60 % 이하, 0.55% 이하, 0.50% 이하 또는 약 0.45 % 이하일 수 있다.
상기 접착 필름의 수분 함량은 특별히 제한되지 않으나, 한국 공개특허 제 10-2017-0122552호에 개시된 봐와 같은 방법으로 측정할 수 있다. 구체적으로 실시예에 개시된 방식에 따라서 측정할 수 있다.
광학 디바이스를 구성하는 접착 필름의 수분 함량이 0.7% 이하의 경우, 광학 디바이스가 고온 다습한 환경에 장시간 노출되더라도 접착 필름에 의해 봉지되는 액정 소자는 수분에 의한 변색을 방지할 수 있다. 또한, 접착 필름에 의해 봉지되는 편광자는 수분에 의한 변색을 방지할 수 있다. 따라서 상기 범위의 수분을 함유하는 접착 필름을 포함하는 광학 디바이스는 고온 다습한 환경에 대한 내구성이 향상될 수 있다.
하나의 예로서, 상기 대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판으로는, 예를 들면, 각각 독립적으로 무기 기판 또는 플라스틱 기판이 사용될 수 있다.
상기 무기 기판으로는 특별히 제한되지 않고 공지의 무기 기판을 이용할 수 있다. 일예로 무기 기판으로는 광투과성이 우수한 유리 기판을 이용할 수 있다. 상기 유기 기판으로는 일예로, 소다라임 유리 기판, 일반 강화 유리 기판, 붕규산 유리 기판 또는 무알칼리 유리 기판 등이 사용될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
상기 플라스틱 기판으로는 TAC(triacetyl cellulose) 또는 DAC(diacetyl cellulose) 등과 같은 셀룰로오스 필름; 노르보르넨 유도체 등의 COP(cyclo olefin copolymer) 필름; PAR(Polyacrylate) 또는 PMMA(poly(methyl methacrylate) 등의 아크릴 필름; PC(polycarbonate) 필름; PE(polyethylene) 또는 PP(polypropylene) 등의 폴리올레핀 필름; PVA(polyvinyl alcohol) 필름; PI(polyimide) 필름; PSF(polysulfone) 필름, PPS(polyphenylsulfone) 필름 또는 PES(polyethersulfone) 필름 등의 설폰계 필름; PEEK(polyetheretherketon) 필름; PEI(polyetherimide) 필름; PEN(polyethylenenaphthatlate) 필름 또는 PET(polyethyleneterephtalate) 필름 등의 폴리에스테르계 필름; 또는 불소 수지 필름 등이 사용될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
제 1 및 제 2 외곽 기판에는 필요에 따라서 금; 은; 또는 이산화 규소 또는 일산화 규소 등의 규소 화합물의 코팅층이나, 반사 방지층 등의 기능층이 존재할 수도 있다.
상기와 같은 제 1 및 제 2 외곽 기판의 두께는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 각각 약 0.3 mm 이상일 수 있다. 다른 예시에서 상기 두께는 약 0.5 mm 이상, 1 mm 이상, 1.5 mm 이상 또는 약 2 mm 이상일 수 있고, 약 10 mm 이하, 9 mm 이하, 8 mm 이하, 7 mm 이하, 6 mm 이하, 5 mm 이하, 4 mm 이하 또는 약 3 mm 이하일 수도 있다.
하나의 예로서 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판은 평편(flat)한 기판이거나 혹은 곡면 형상을 가지는 기판일 수 있다. 예를 들면, 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판은 동시에 평편한 기판이거나, 동시에 곡면 형상을 가지거나, 혹은 어느 하나는 평편한 기판이고 다른 하나는 곡면 형상의 기판일 수 있다.
또한, 상기에서 동시에 곡면 형상을 가지는 경우에는 각각의 곡률 또는 곡률 반경은 동일하거나 상이할 수 있다.
본 명세서에서 곡률 또는 곡률 반경은 업계에서 공지된 방식으로 측정할 수 있으며, 예를 들면, 2D Profile Laser Sensor (레이저 센서), Chromatic confocal line sensor (공초점 센서) 또는 3D Measuring Confocal Microscopy 등의 비접촉식 장비를 이용하여 측정할 수 있다. 이러한 장비를 사용하여 곡률 또는 곡률 반경을 측정하는 방식은 공지이다.
또한, 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판과 관련해서 예를 들어, 표면과 이면에서의 곡률 또는 곡률 반경이 다른 경우에는 각각 마주보는 면의 곡률 또는 곡률 반경, 즉 제 1 외곽 기판의 경우 제 2 외곽 기판과 대향하는 면의 곡률 또는 곡률 반경과, 제 2 외곽 기판의 경우 제 1 외곽 기판과 대향하는 면의 곡률 또는 곡률 반경이 기준이 될 수 있다. 또한, 해당 면에서의 곡률 또는 곡률 반경이 일정하지 않고, 상이한 부분이 존재하는 경우에는 가장 큰 곡률 또는 곡률 반경이 기준이 되거나, 가장 작은 곡률 또는 곡률 반경이 기준일 될 수 있고, 또는 평균 곡률 또는 평균 곡률 반경이 기준이 될 수 있다.
상기 제 1 및 제 2 외곽 기판은 양자가 곡률 또는 곡률 반경의 차이가 약 10% 이내, 9% 이내, 8% 이내, 7% 이내, 6% 이내, 5% 이내, 4% 이내, 3% 이내, 2% 이내 또는 약 1% 이내일 수 있다. 상기 곡률 또는 곡률 반경의 차이는 큰 곡률 또는 곡률 반경을 CL이라고 하고, 작은 곡률 또는 곡률 반경을 CS라고 할 때에 100×(CL-CS)/CS로 계산되는 수치이다. 또한, 상기 곡률 또는 곡률 반경의 차이의 하한은 특별히 제한되지 않는다. 제 1 및 제 2 외곽 기판의 곡률 또는 곡률 반경의 차이는 동일할 수 있기 때문에, 상기 곡률 또는 곡률 반경의 차이는 약 0 % 이상이거나, 약 0 % 초과일 수 있다.
상기와 같은 곡률 또는 곡률 반경의 제어는 본 출원의 광학 디바이스와 같이 액정소자 및/또는 후술하는 편광자가 접착 필름으로 접착되는 구조에 있어서 유용하다. 즉 곡률 또는 곡률 반경이 10% 초과하는 경우에는 후술하는 접착 필름으로 외곽 기판과 액정소자 및/또는 편광자를 접착하는 경우, 합착한 외곽 기판이 합착력 저하로 벌어지는 문제가 발생될 수 있다. 그러나 10% 이내로 제어하는 경우, 합착한 외곽 기판이 합착력 저하로 인해 벌어지는 문제를 효율적으로 방지할 수 있다.
제 1 및 제 2 외곽 기판은 양자의 곡률이 동일 부호일 수 있다. 다시 말하면, 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판은 모두 동일한 방향으로 굴곡되어 있을 수 있다. 즉, 상기 경우는 제 1 외곽 기판의 곡률 중심과 제 2 외곽 기판의 곡률 중심이 모두 제 1 및 제 2 외곽 기판의 상부 및 하부 중에서 같은 부분에 존재하는 경우이다.
제 1 및 제 2 외곽 기판이 동일한 방향으로 굴곡되어 있는 경우, 제 1 및 제 2 외곽 기판을 접착 필름으로 보다 효율적으로 접착 시킬 수 있으며, 접착 후 제 1 및 제 2 외곽기판과 액정소자 및/또는 편광자의 합착력 저하를 보다 효율 적으로 방지할 수 있다.
제 1 및 제 2 외곽 기판의 각각의 곡률 또는 곡률 반경의 구체적인 범위는 특별히 제한되지 않는다. 일 예시에서 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판은 각각 곡률 반경이 약 100R 이상, 200R 이상, 300R 이상, 400R 이상, 500R 이상, 600R 이상, 700R 이상, 800R 이상 또는 약 900R 이상이거나, 약 10,000R 이하, 9,000R 이하, 8,000R 이하, 7,000R 이하, 6,000R 이하, 5,000R 이하, 4,000R 이하, 3,000R 이하, 2,000R 이하, 1,900R 이하, 1,800R 이하, 1,700R 이하, 1,600R 이하, 1,500R 이하, 1,400R 이하, 1,300R 이하, 1,200R 이하, 1,100R 이하 또는 약 1,050R 이하일 수 있다. 상기에서 R은 반지름이 1 mm인 원의 휘어진 정도를 의미한다. 따라서, 상기에서 예를 들어, 100R은 반지름이 100mm인 원의 휘어진 정도 또는 그러한 원에 대한 곡률 반경이다.
제 1 및 제 2 외곽 기판은 상기 범위에서 동일하거나 상이한 곡률 반경을 가질 수 있다. 일 예시에서 제 1 및 제 2 외곽 기판의 곡률이 서로 다른 경우에, 그 중에서 곡률이 큰 기판의 곡률 반경이 상기 범위 내일 수 있다.
일 예시에서 제 1 및 제 2 외곽 기판의 곡률이 서로 다른 경우에는 그 중에서 곡률이 큰 기판이 광학 디바이스의 사용 시에 보다 중력 방향으로 배치되는 기판일 수 있다.
제 1 및 제 2 기판의 곡률 또는 곡률 반경을 위와 같이 제어하게 되면, 후술하는 접착 필름에 의한 합착력이 떨어지게 되어도 복원력과 중력의 합인 알짜힘이 작용하여 벌어짐을 막아줄 수 있다.
하나의 예로서, 대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 액정 소자와 편광자가 위치한다.
상기 액정 소자는 적어도 액정 화합물을 포함하는 액정층을 포함할 수 있다. 일예에서 상기 액정층은 소위 게스트 호스트 액정층으로서, 액정 화합물과 이색성 염료 게스트를 포함하는 액정층일 수 있다.
상기 액정층은 소위 게스트 호스트 효과를 이용한 액정층으로서, 상기 액정 화합물(이하, 액정 호스트라 칭할 수 있다)의 배향 방향에 따라 상기 이색성 염료 게스트가 정렬되는 액정층이다.
상기 배향은 광축의 배향을 의미하며, 상기 광축은 예를 들어 액정 화합물이 막대(rod)형인 경우에는 그 장축 방향을 의미할 수 있고, 원반(discotic) 형태인 경우에는 상기 원반 평면의 법선 방향을 의미할 수 있다. 한편, 임의의 배향 상태에서 서로 광축 방향이 다른 복수의 액정 화합물들을 포함하는 경우에 광축은 평균 광축으로 정의될 수 있다. 이 경우 평균 광축은 상기 액정 화합물들의 광축의 백터합을 의미할 수 있다. 배향 방향은 후술하는 에너지의 인가에 의해 조절 될 수 있다.
액정층에 사용되는 액정 호스트의 종류는 특별히 제한되지 않고, 게스트 호스트 효과의 구현을 위해 적용되는 일반적인 종류의 액정 화합물이 사용될 수 있다.
예를 들면, 상기 액정 호스트로는 스멕틱 액정 화합물, 네마틱 액정 화합물 또는 콜레스테릭 액정 화합물이 사용될 수 있다. 일반적으로는 네마틱 액정 화합물이 사용될 수 있다. 용어 네마틱 액정 화합물은 액정 분자의 위치에 대한 규칙성은 없지만, 모두 분자축 방향으로 질서를 가지고 배열할 수 있는 액정 화합물을 의미하고, 이러한 액정 화합물은 막대(rod) 형태이거나 원반(discotic) 형태일 수 있다.
이러한 네마틱 액정 화합물은 예를 들면, 약 40℃ 이상, 50℃ 이상, 60℃ 이상, 70℃ 이상, 80℃ 이상, 90℃ 이상, 100℃ 이상 또는 약 110℃ 이상의 등명점(clearing point)를 가지거나, 상기 범위의 상전이점, 즉 네마틱상에서 등방상으로의 상전이점을 가지는 것이 선택될 수 있다. 일 예시에서 상기 등명점 또는 상전이점은 약 160℃ 이하, 150℃ 이하 또는 약 140℃ 이하일 수 있다.
상기 액정 화합물은 유전율 이방성이 음수 또는 양수일 수 있다. 상기 유전율 이방성의 절대값은 목적을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 예를 들면, 상기 유전율 이방성은 약 3 초과 또는 약 7 초과이거나, 약 -2 미만 또는 약 -3 미만일 수 있다.
액정 화합물은 또한 약 0.01 이상 또는 약 0.04 이상의 광학 이방성(△n)을 가질 수 있다. 액정 화합물의 광학 이방성은 다른 예시에서 약 0.3 이하 또는 약 0.27 이하일 수 있다.
게스트 호스트 액정층의 액정 호스트로 사용될 수 있는 액정 화합물은 본 기술 분야의 전문가들에게 공지되어 있으며, 그들로부터 자유롭게 선택될 수 있다.
액정층은 상기 액정 호스트와 함께 이색성 염료 게스트를 포함한다. 용어 염료는 가시광 영역, 예를 들면 380 nm 내지 780 nm 파장 범위 내에서 적어도 일부 또는 전체 범위 내의 광을 집중적으로 흡수 및/또는 변형시킬 수 있는 물질을 의미할 수 있고, 용어 이색성 염료 게스트는 상기 가시광 영역의 적어도 일부 또는 전체 범위에서 광 흡수가 가능한 물질을 의미할 수 있다.
이색성 염료 게스트로는, 예를 들면 액정 호스트의 배향 상태에 따라 정렬될 수 있는 특성을 가지는 것으로 알려진 공지의 염료를 선택하여 사용할 수 있다. 일 구체예로 이색성 염료 게스트로는 아조 염료 또는 안트라퀴논 염료 등을 사용할 수 있고, 넓은 파장 범위에서의 광 흡수를 달성하기 위해서 액정층은 1종 또는 2종 이상의 염료를 포함할 수도 있다.
이색성 염료 게스트의 이색비(dichroic ratio)는 이색성 염료 게스트의 사용 목적을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 예를 들어, 상기 이색성 염료 게스트는 이색비가 약 5 이상 내지 약 20 이하일 수 있다. 용어 이색비는, 예를 들어 p형 염료인 경우, 염료의 장축 방향에 평행한 편광의 흡수를 상기 장축 방향에 수직하는 방향에 평행한 편광의 흡수로 나눈 값을 의미할 수 있다. 이색성 염료 게스트는 가시광 영역의 파장 범위 내, 예를 들면 약 380 nm 내지 약 780 nm, 또는 약 400 nm 내지 약 700 nm의 파장 범위 내에서 적어도 어느 한 파장, 일부 범위의 파장 또는 전 범위의 파장에서 상기 이색비를 가질 수 있다.
액정층 내에서의 이색성 염료 게스트의 함량은 이색성 염료 게스트의 사용 목적을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 예를 들어, 액정 호스트와 이색성 염료 게스트의 합계 중량을 기준으로 상기 이색성 염료 게스트의 함량은 약 0.1 중량% 내지 약 10 중량% 범위 내에서 선택될 수 있다. 이색성 염료 게스트의 비율은 후술하는 액정 소자의 투과율과 액정 호스트에 대한 이색성 염료 게스트의 용해도 등을 고려하여 변경할 수 있다.
액정층은 상기 액정 호스트와 이색성 염료 게스트를 기본적으로 포함하고, 필요한 경우에 다른 임의의 첨가제를 공지의 형태에 따라 추가로 포함할 수 있다. 첨가제의 예로는 키랄 도펀트 또는 안정화제 등이 예시될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
상기 액정 소자(10)는 대향 배치되어 있는 2개의 기재층과 상기 2개의 기재층 사이에 존재하는 상기 액정층을 포함할 수 있다. 또한 상기 액정 소자는 상기 2개의 기재층 사이에서 상기 2개의 기재층의 간격을 유지하는 스페이서 및/또는 대향 배치된 2개의 기재층의 간격이 유지된 상태로 상기 기재층을 부착시키고 있는 실런트를 추가로 포함할 수 있다. 상기 스페이서 및/또는 실러트로는, 특별히 제한 없이 공지의 소재가 사용될 수 있다.
기재층으로는 예를 들면, 유리 등으로 되는 무기 필름 또는 플라스틱 필름이 사용될 수 있다. 플라스틱 필름으로는 PEN(polyethylene-naphthalate), PI(polyimide), COP(cyclo-olefin polymer), TAC(tri-acetyl-cellulose), PET(polyethyleneterephtalate) 또는 PC(polycarbonate) 필름 등이 사용될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다. 기재층에는 필요에 따라서 금; 은; 또는 이산화 규소 또는 일산화 규소 등의 규소 화합물의 코팅층이나, 반사 방지층 등의 기능층이 존재할 수도 있다.
하나의 예로서, 상기 기재층은 두께가 약 10 ㎛ 내지 약 1,000 ㎛ 일 수 있다. 다른 예로, 상기 기재층은 두께가 각각 약 20 ㎛ 이상, 40 ㎛ 이상, 60 ㎛ 이상, 80 ㎛ 이상, 100 ㎛ 이상, 120 ㎛ 이상, 140 ㎛ 이상, 160 ㎛ 이상 또는 약 180 ㎛ 이상일 수 있으며, 약 900 ㎛ 이하, 800 ㎛ 이하, 700 ㎛ 이하, 600 ㎛ 이하, 500 ㎛ 이하 또는 약 400 ㎛ 이하일 수 있다. 기재층의 두께가 상기 범위를 만족하는 경우, 기재층을 포함하는 액정 소자가 곡면 기판인 외곽 기판과 합착하여 광학 디바이스를 제조할 때, 주름 등의 외관 불량이 감소될 수 있다.
상기 액정 소자(10)는 도전층 및/또는 배향막을 추가로 포함할 수 있다.
상기 도전층은 기재층 상에 각각 형성될 수 있다. 또한 상기 도전층은 액정층을 향하는 면상에 형성될 수 있다. 기재층의 면상에 존재하는 도전층은 액정층에 전압을 인가하기 위한 구성으로 특별한 제한 없이 공지의 도전층이 적용될 수 있다. 도전층으로는, 예를 들면, 전도성 고분자, 전도성 금속, 전도성 나노와이어 또는 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 금속 산화물 등이 적용될 수 있다. 본 출원에서 적용될 수 있는 도전층의 예는 상기에 제한되지 않으며, 이 분야에서 액정 소자에 적용될 수 있는 것으로 알려진 모든 종류의 도전층이 사용될 수 있다.
상기 배향막은 기재층의 면상에 존재할 수 있다. 예를 들면, 기재층의 일면에 우선 도전층이 형성되고 그 상부에 배향막이 형성될 수 있다.
상기 배향막은 액정층에 포함되는 액정 호스트의 배향을 제어하기 위한 구성이고, 특별한 제한 없이 공지의 배향막을 적용할 수 있다. 업계에서 공지된 배향막으로는, 러빙 배향막이나 광배향막 등이 있고, 본 출원에서 사용될 수 있는 배향막은 상기 공지의 배향막이고, 이는 특별히 제한되지 않는다.
전술한 광축의 배향을 달성하기 위해서 상기 배향막의 배향 방향이 제어될 수 있다. 예를 들면, 대향 배치되어 있는 기재층의 일면에 형성된 2개의 배향막의 배향 방향은 서로 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내의 각도, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내의 각도, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내의 각도 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 평행할 수 있다. 다른 예시에서 상기 2개의 배향막의 배향 방향은 약 80도 내지 약 100도의 범위 내의 각도, 약 83도 내지 약 97도의 범위 내의 각도, 약 85도 내지 약 95도의 범위 내의 각도 또는 약 87도 내지 약 92도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 수직일 수 있다.
이와 같은 배향 방향에 따라서 액정층의 광축의 방향이 결정되기 때문에, 상기 배향 방향은 액정층의 광축의 방향을 확인하여 알 수 있다. 액정층의 광축이 어떤 방향으로 형성되어 있는 것인지를 확인하는 방식은 공지이다. 예를 들면, 액정층의 광축의 방향은 광축 방향을 알고 있는 다른 편광판을 이용하여 측정할 수 있으며, 이는 공지의 측정 기기, 예를 들면, Jasco사의 P-2000 등의 polarimeter를 사용하여 측정할 수 있다.
상기와 같은 구성을 가지는 액정 소자의 형태는 특별히 제한되지 않고, 광학 디바이스의 적용 용도에 따라서 정해질 수 있으며, 일반적으로는 필름 또는 시트 형태이다.
상기 액정 소자(10)는 적어도 2개 이상의 광축의 배향 상태, 예를 들면, 제 1 및 제 2 배향 상태의 사이를 스위칭할 수 있다. 상기와 같은 액정 소자에서 배향 상태는 에너지의 인가, 예를 들면 전압의 인가에 의해 변경할 수 있다. 즉 상기 액정 소자는 전압의 인가가 없는 상태에서 상기 제 1 및 제 2 배향 상태 중에서 어느 한 배향 상태를 가지고 있다가 전압이 인가되면 다른 배향 상태로 스위칭 될 수 있다. 한편, 액정 소자의 배향 상태에 따라 투과율이 조절 될 수 있다. 일예로 제 1 또는 제 2 배향 상태 중 어느 한 배향 상태에서 차단 모드가 구현되고, 다른 배향 상태에서 투과 모드가 구현될 수 있다.
상기 투과 모드는 액정 소자가 상대적으로 높은 투과율을 나타내는 상태이고, 차단 모드는 액정 소자가 상대적으로 낮은 투과율을 나타내는 상태이다.
일 예시에서 상기 액정 소자는 상기 투과 모드에서의 투과율이 약 20%, 25%, 30% 이상, 35% 이상, 40% 이상, 45% 이상 또는 약 50% 이상일 수 있다. 또한, 상기 액정 소자는 상기 차단 모드에서의 투과율이 약 20% 미만, 15% 미만 또는 약 10% 미만일 수 있다.
상기 투과 모드에서의 투과율은 수치가 높을수록 유리하고, 차단 모드에서의 투과율은 낮을수록 유리하기 때문에 각각의 상한과 하한은 특별히 제한되지 않는다. 일 예시에서 상기 투과 모드에서의 투과율의 상한은 약 100%, 95%, 90%, 85%, 80%, 75%, 70%, 65% 또는 약 60%일 수 있다. 상기 차단 모드에서의 투과율의 하한은 약 0%, 1%, 2%, 3%, 4%, 5%, 6%, 7%, 8%, 9% 또는 약 10%일 수 있다.
상기 투과율은 직진광 투과율일 수 있다. 용어 직진광 투과율은 소정 방향으로 액정 소자를 입사한 광 대비 상기 입사 방향과 동일한 방향으로 상기 액정 소자를 투과한 광(직진광)의 비율일 수 있다. 일 예시에서 상기 투과율은 상기 액정 소자의 표면 법선과 평행한 방향으로 입사한 광에 대하여 측정한 결과(법선광 투과율)일 수 있다.
본 출원의 액정 소자에서 투과율이 조절되는 광은, UV-A 영역의 자외선, 가시광 또는 근적외선일 수 있다. 일반적으로 사용되는 정의에 따르면, UV-A 영역의 자외선은 320 nm 내지 380 nm의 범위 내의 파장을 가지는 방사선을 의미하는 것으로 사용되고, 가시광은 380 nm 내지 780 nm의 범위 내의 파장을 가지는 방사선을 의미하는 것으로 사용되며, 근적외선은 780 nm 내지 2000 nm의 범위 내의 파장을 가지는 방사선을 의미하는 것으로 사용된다.
필요한 경우에 액정 소자는 상기 투과 모드 및 차단 모드 외에 다른 모드도 구현할 수 있도록 설계될 수 있다. 예를 들면, 상기 투과 모드 및 차단 모드의 투과율 사이에서 임의의 투과율을 나타낼 수 있는 제 3의 모드도 구현될 수 있도록 설계될 수 있다.
하나의 예로서, 대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 액정소자와 함께 편광자가 위치한다.
상기 편광자로는, 예를 들면, 흡수형 선형 편광자, 즉 일방향으로 형성된 광흡수축과 그와는 대략 수직하게 형성된 광투과축을 가지는 편광자를 사용할 수 있다.
상기 편광자는, 상기 액정 소자의 제 1 배향 상태에서 상기 차단 상태가 구현된다고 가정하는 경우에 상기 제 1 배향 상태의 평균 광축(광축의 벡터함)과 상기 편광자의 광흡수축이 이루는 각도가 약 80도 내지 약 100도 또는 약 85도 내지 약 95도를 이루거나, 대략 수직이 되도록 광학 디바이스에 배치되어 있거나, 혹은 35도 내지 약 55도 또는 약 40도 내지 약 50도가 되거나 대략 45도가 되도록 광학 디바이스에 배치되어 있을 수 있다.
배향막의 배향 방향을 기준으로 할 때에, 전술한 것과 같이 대향 배치된 액정 소자의 2개의 기재층의 각 면상에 형성된 배향막의 배향 방향이 서로 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내의 각도, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내의 각도, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내의 각도 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 평행한 경우에 상기 2개의 배향막 중에서 어느 하나의 배향막의 배향 방향과 상기 편광자의 광흡수축이 이루는 각도가 약 80도 내지 약 100도 또는 약 85도 내지 약 95도를 이루거나, 대략 수직이 될 수 있다.
다른 예시에서 상기 2개의 배향막의 배향 방향이 약 80도 내지 약 100도의 범위 내의 각도, 약 83도 내지 약 97도의 범위 내의 각도, 약 85도 내지 약 95도의 범위의 각도 내 또는 약 87도 내지 약 92도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 수직인 경우에는 2장의 배향막 중에서 상기 편광자에 보다 가깝게 배치된 배향막의 배향 방향과 상기 편광자의 광흡수축이 이루는 각도가 약 80도 내지 약 100도 또는 약 85도 내지 약 95도를 이루거나, 대략 수직이 될 수 있다.
본 출원의 광학 디바이스에서 적용될 수 있는 상기 편광자의 종류는 특별히 제한되지 않는다. 예를 들면, 편광자로는 연신 편광자 또는 코팅형 편광자일 수 있다. 상기 연신 편광자로는 요오드계 또는 염료계 PVA(poly(vinyl alcohol)) 편광자가 예시될 수 있으나 이에 제한되는 것은 아니다. 또한, 상기 코팅형 편광자는 열방성(Theromotropic) 액정 또는 이용해성(Lyotoropic) 액정 편광자가 예시될 수 있으나 이에 제한되는 것은 아니다.
상기와 같은 연신 평광자 또는 코팅형 편광자를 이용하는 경우, 후술하는 바와 같이 편광자의 수분 함량을 1% 이하로 만족시키는데 유리할 수 있다.
상기 편광자는 수분 함량이 약 1% 이하 일 수 있다. 다른예로 약 0.9% 이하, 0.8% 이하, 0.7% 이하 또는 약 0.6% 이하 일 수 있으며, 하한은 특별히 제한되지 않으나 약 0% 이상 또는 약 0% 초과 일 수 있다.
상기 편광자의 수분 함량은 실시예에 기재된 접착 필름의 수분 함량 측정 방법에서 접착 필름 대신 편광자를 이용한 것을 제외하고는 동일한 방법으로 측정할 수 있다.
편광자가 고온 다습한 환경에서 노출되는 경우 변색될 수 있다. 일예로 PVA(poly(vinyl alcohol)) 편광자는 고온 다습한 환경에서 수분에 의해 암갈색으로 변색될 수 있다. 이와 같은 경우에는 변색에 의한 광학 디바이스의 외관 불량이 발생될 수 있다.
편광자의 수분 함량이 약 1% 이하의 범위에 해당되는 경우, 상기 편광자를 포함하는 광학 디바이스가 고온 다습한 환경에 장시간 노출되더라도 수분에 의해 편광자가 변색되는 것을 개선할 수 있다. 따라서 고온 다습환 환경에 따른 광학 디바이스의 외관 불량을 보다 감소시킬 수 있다.
편광자의 수분 함량을 약 1% 이하로 조절하는 방법은 예를 들어 건조한 환경에서 보관하는 방법이 이용될 수 있다. 상기 건조한 환경에서 보관하는 방법은 편광자를 상온 및 약 20% 이하의 상대습도에서 습기 제거방(dry keeper room)에 1일 내지 5일 동안 보관함으로써 편광자의 수분 함량을 약 1% 이하로 조절할 수 있다.
한편, 상기 편광자는 두께가 약 1㎛ 내지 약 200㎛일 수 있다. 다른 예로, 상기 편광자는 두께가 약 10㎛ 이상, 20㎛ 이상, 30㎛ 이상 또는 약 100㎛ 이상 일 수 있으며, 약 190㎛ 이하, 180㎛ 이하, 170㎛ 이하 또는 약 150㎛ 이하일 수 있다. 상기와 같은 범위내의 편광자를 이용하는 경우, 전술한 건조한 환경에서 보관하는 방법으로 편광자의 수분 함량을 약 1% 이하로 조절하는데 보다 유리할 수 있다.
본 출원의 광학 디바이스는 상기와 같은 액정 소자와 편광자를 각각 하나씩만 포함할 수 있다. 따라서, 상기 광학 디바이스는 오직 하나의 상기 액정 소자만을 포함하고, 오직 하나의 편광자만을 포함할 수 있다.
본 출원의 광학 디바이스는 접착 필름을 포함한다. 일예로 접착 필름은 도 1에 나타난 바와 같이 외곽 기판과 액정 소자의 사이, 액정 소자와 편광자의 사이 및 편광자와 외곽 기판의 사이에 존재할 수 있고, 상기 액정소자 또는 편광자의 측면, 적절하게는 모든 측면에 존재할 수 있다.
상기 접착 필름은, 상기 외곽 기판과 액정 소자, 액정 소자와 편광자 및 편광자와 외곽 기판을 서로 접착시키면서, 상기 액정 소자와 편광자를 봉지화하고 있을 수 있다. 본 출원에서 용어 봉지(또는 캡슐화(encapsulation))는 접착 필름으로 액정 소자 및/또는 편광자의 전면을 피복하는 것을 의미할 수 있다. 예를 들면, 목적하는 구조에 따라서 외곽 기판, 액정 소자, 편광자 및 접착 필름을 적층한 후에 진공 상태에서 압착하는 방식으로 상기 구조를 구현할 수 있다.
상기 접착 필름으로는 특별히 제한 없이 공지의 소재가 사용될 수 있고, 예를 들면, 공지의 열가소성 폴리우레탄 접착 필름, EVA(Ethylene Vinyl Acetate) 접착 필름, 폴리아마이드 접착 필름, 폴리에스테르 접착 필름, 폴리비닐부티랄 (PVB: Polyvinyl butyral) 접착필름, 폴리올레핀 접착 필름 또는 열가소성 전분(TPS: Thermoplastic Starch) 중에서 선택될 수 있다.
상기와 같은 접착 필름의 두께는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 약 200 μm 내지 약 600μm 정도의 범위 내일 수 있다. 상기에서 접착 필름의 두께는 상기 외곽 기판과 액정 소자의 사이의 접착 필름의 두께, 예를 들면 상기 양자간의 간격; 액정 소자와 편광자의 사이의 접착 필름의 두께, 예를 들면 상기 양자간의 간격; 및 편광자와 외곽 기판의 사이의 접착 필름의 두께, 예를 들면 상기 양자간의 간격일 수 있다.
광학 디바이스는 상기 구성 외에도 필요한 임의 구성을 추가로 포함할 수 있고, 예를 들면, 버퍼층, 위상차층, 광학 보상층, 반사 방지층 또는 하드코팅층 등의 공지의 구성을 적절한 위치에 포함할 수 있다.
본 출원은 또한, 광학 디바이스의 제조 방법에 관한 것이다. 본 출원의 광학 디바이스의 제조 방법에 사용되는 외곽 기판, 액정소자, 편광자 및 접착 필름은 전술한 외곽 기판, 액정소자, 편광자 및 접착 필름을 이용할 수 있다.
본 출원에 따른 광학 디바이스의 제조 방법은 수분 함량이 0.7% 이하가 되도록 전처리된 접착 필름을 매개로, 제 1 외곽 기판과 액정 소자, 액정 소자와 편광자, 및 편광자와 제 2 외곽 기판을 접착시키는 단계를 포함한다.
하나의 예로서, 수분 함량이 0.7 % 이하가 되도록 접착 필름을 전처리하는 방법은 특별히 제한되지 않고 공지의 방법에 의할 수 있다. 일예로 접착 필름을 건조한 환경에서 장시간 보관하는 방법으로 접착 필름의 수분 함량을 상기 범위 내로 조절 할 수 있다. 일 구체예로 20% 이하의 상대습도에서 약 1시간 이상 보관함으로써 접착 필름의 수분 함량을 0.7% 이하로 조절 할 수 있다. 상기에서 20% 이하의 상대 습도는 예를 들면, 약 20% 이하, 15 % 이하, 10 % 이하, 5 % 이하 또는 약 1% 이하의 상대 습도일 수 있으며, 하한은 특별히 제한되지 않으나, 약 0% 이상 또는 약 0% 초과의 상대 습도일 수 있다. 한편 상기에서 1시간 이상이란 약 1시간, 6시간, 12시간, 18시간, 24시간, 30시간 또는 약 36시간을 의미할 수 있으며, 상한은 특별히 제한되지 않으나 약 300 시간, 250 시간, 200 시간, 150 시간 또는 약 100 시간을 의미할 수 있다.
상기와 같은 조건에서 접착 필름을 전처리하는 경우, 접착 필름의 수분 함량이 0.7%를 만족시키는데 유리하다.
하나의 예로서 상기 접착 필름을 이용하여 제 1 외곽 기판과 액정소자, 액정 소자와 편광자 및 편광자와 제 2 외곽 기판을 접착 시키는 방법은 특별히 제한되지 않고, 오토클레이브 공정을 통하여 접착 시킬 수 있다. 상기 오토클레이브 공정은 외곽 기판의 사이에 목적하는 봉지화 구조에 따라서 접착 필름, 액정소자 및 편광자를 배치하고, 가열/가압에 의해 수행할 수 있다.
구체적으로, 외곽기판, 접착 필름, 액정소자, 접착 필름, 편광자, 접착 필름 및 외곽 기판을 상기 순서로 배치하고, 액정소자와 편광자의 측면에도 접착 필름을 배치한 적층체를 오토클레이브 공정으로 가열/가압 처리하여 광학 디바이스를 제조 할 수 있다.
상기 오토클레이브 공정의 조건은 특별히 제한이 없고, 예를 들면, 적용된 접착 필름의 종류에 따라 적절한 온도 및 압력 하에서 수행할 수 있다. 통상의 오토클레이트 공정의 온도는 약 80°C 이상, 90°C 이상 또는 약 100°C 이상이며, 압력은 2기압 이상이나, 이에 제한되는 것은 아니다. 상기 공정 온도의 상한은 약 200°C 이하, 190°C 이하, 180°C 이하 또는 약 170°C 이하 정도일 수 있고, 공정 압력의 상한은 약 10기압 이하, 9기압 이하, 8기압 이하, 7기압 이하 또는 약 6기압 이하 정도일 수 있다.
상기와 같은 제조 방법으로 제조되는 광학 디바이스는 고온 다습한 환경에 장시간 노출되더라도 접착 필름의 수분 함량이 낮아서, 접착 필름으로 봉지된 액정 소자와 편광자는 수분에 의한 변색을 방지하는데 유리하다. 따라서 상기 광학 디바이스는 내구성이 향상될 수 있다.
상기와 같은 광학 디바이스는 다양한 용도로 사용될 수 있으며, 예를 들면, 선글라스나 AR(Argumented Reality) 또는 VR(Virtual Reality)용 아이웨어(eyewear) 등의 아이웨어류, 건물의 외벽이나 차량용 선루프 등에 사용될 수 있다.
본 출원은 투과율 가변이 가능하고, 고온 다습한 환경에 장시간 노출되는 경우에 발생될 수 있는 변색 등의 외관 불량이 개선된 광학 디바이스를 제공할 수 있다.
도 1은 본 출원의 예시적인 광학 디바이스를 보여주는 단면도이다.
이하 실시예를 통하여 본 출원을 구체적으로 설명하지만, 본 출원의 범위가 하기 실시예에 의해 제한되는 것은 아니다.
접착 필름의 수분 함량 측정
실시예 및 비교예의 액정 소자 제조에 이용되는 접착 필름에 대해서, MASS (Moisture Analyzer for Solid Sample) 장비(LG화학 custom 제품)를 사용하여 수분 함량을 분석하였다. 측정 조건은 100mL/min 의 유속으로 측정 공간 내에 헬름 가스(He 가스)을 흘려주어 환경을 통제하였고, 상온에서 약 50 ℃까지 환기(vent) 시키며 공기 중에 남아있는 수분을 제거하였다. 이후 접착 필름의 온도를 50℃에서부터 200 ℃까지 30분동안 일정하게 상승시키며 접착 필름 내부 수분 함량을 측정하였다.
분석 장비(MASS)에 대한 검량(Calibration)은 Na2WO4·2H2O(표준품, 습도 함습량 1%)를 30 mg 내지 700 mg 구간에 검량선(calibration curve)를 만들어 확인하였다. 상기 표준 품의 수분 함량 검량선(calibration curve)은 R2 값이 0.9999 임을 확인하여 분석 장비(MASS)에 대한 신뢰도를 확인하였다. 하기 [표 1]은 표준품 함량에 따른 수분 함량을 나타낸다.
표준품 함량
(mg)		 수분함량
(μg)
49.4 536.4
107.2 1090.9
708.7 7022.2
외관 불량 평가 방법
실시예 및 비교예에서 제조된 광학 디바이스를 고온 장기 내구성 테스트(100℃의 온도에서 약 168 시간 유지)에 적용하고, 상온에서 24시간 이상 방치한 후 Lab 색차계를 이용하여 광학 디바이스의 외관 불량을 평가하였다. 구체적으로 Knoica Minolta 사의 Hunter Lab Vista 장비를 이용하여 광학 디바이스의 고온 장기 내구성 테스트 전의 L1 *, a1 *, b1 *와 고온 장기 내구성 테스트 후의 L2 *, a2 *, b2 *를 측정하고, 하기 수식 1에 따라 색차(△E*)을 계산하여 광학 디바이스의 외관 불량을 평가하였다.
[수식 1]
Figure pat00001
[외관 불량 평가 기준]
색차(△E*)가 1.5 미만인 경우: ○ (외관 불량이 육안으로 관찰되지 않음)
색차(△E*)가 1.5 이상인 경우: × (외관 불량이 육안으로 관찰됨)
실시예 1
액정 소자
제 1 및 제 2 기재층으로 폴리카보네이트 필름(300 μm, Keiwa 사)을 사용하였으며, 제 1 기재층 및 제 2 기재층 상에 각각 ITO(indium-tin-oxide)를 200 nm 두께로 증착하여 도전층을 형성하였다. 상기 도전층 상에 수평 배향막(SE-7492, Nissan chemical 사)을 100 nm 내지 300 nm 두께로 코팅 및 경화하여 제 1 및 제 2 배향막을 형성하였다.
제 1 배향막의 외주에 실란트를 도포하고, 상기 실란트의 내부 영역에 액정(MDA 14-4145, Merck사제)을 도포하고, 제 2 배향막을 합지하여 액정 소자를 제조하였다. 제조된 액정 소자의 면적은 600 mm×300 mm이고, 셀 갭은 12 ㎛이다.
접착 필름
열가소성 폴리우레탄 접착필름(두께: 약 380μm, 제조사: Argotec사, 제품명: ArgoFlex)을 상대습도 약 0.5% 의 환경에서 약 24시간 동안 보관 하여 수분 함량을 낮추는 전처리를 하였다. 상기와 같이 전치리 후의 접착 필름의 수분 함량은 약 0.05 % 였다.
광학 디바이스
제 1 외곽 기판, 상기 접착 필름, 상기 액정 소자, 상기 접착 필름, 편광자, 상기 접착 필름 및 제 2 외곽 기판을 상기 순서로 적층하고, 상기 액정 소자의 모든 측면에도 상기 접착 필름을 배치하여 적층체를 제조하였다.(제 1 외곽 기판에 비해서 제 2 외곽 기판이 중력 방향으로 배치)
상기 제 1 및 제 2 외곽 기판으로는 두께가 약 3mm 정도인 유리 기판을 사용하였으며, 곡률 반경이 약 2,470R인 기판(제 1 외곽 기판)과 곡률 반경이 약 2,400R인 기판(제 2 외곽 기판)을 사용하였다.
상기 편광자은 두께가 약 95 μm 정도인 PVA(polyvinylalcohol)계 편광자(LG Chem, RC40)를 사용하였다. 구체적으로 상기 PVA(polyvinylalcohol)계 편광자를 두께가 약 95μm가 되도록 제작하고, 이를 상대습도 약 0.5% 환경에서 약 24시간 동안 건조하였다. 상기와 같이 처리된 편광자는 수분 함량이 약 0.43%였다.
상기 적층체를 약 110℃의 온도 및 2기압 정도의 압력으로 오토클레이브 (Autoclave) 공정을 수행하여 광학 디바이스를 제조하였다.
실시예 2
액정소자
실시예 1과 동일하게 액정 소자를 제조 하였다.
접착 필름
열가소성 폴리우레탄 접착필름(두께: 약 380μm, 제조사: Argotec사, 제품명: ArgoFlex)을 상대습도 약 0.5% 의 환경에서 약 1시간 동안 보관 하여 수분 함량을 낮추는 전처리를 하였다. 상기와 같이 전치리 후의 접착 필름의 수분 함량은 약 0.62 % 였다.
광학 디바이스
실시예 1과 동일하게 광학 디바이스를 제조하였다.
비교예
액정소자
실시예1과 동일하게 액정소자를 제조 하였다.
접착 필름
열가소성 폴리우레탄 접착필름(두께: 약 380μm, 제조사: Argotec사, 제품명: ArgoFlex)을 실시예와 같은 전처리를 하지 않고 이용하였다. 상기 접착 필름의 수분 함량은 약 1.34 % 였다.
광학 디바이스
실시예1과 동일하게 광학 디바이스를 제조하였다.
상기 실시예 및 비교예에 대한 평가 결과를 하기 표 2에 정리하여 기재하였다.
실시예 1 실시예 2 비교예
접착 필름의 수분 함량(%) 0.05 0.62 1.34
외관 불량 평가 ○ ○ ×
색차(△E*) 0.97 1.22 2.17
상기 표 2에 나타난 바와 같이, 수분 함량이 0.05 %인 접착 필름을 이용하여 제조된 실시예 1의 광학 디바이스는 고온 장기 내구성 테스트에 따른 외관 불량 평가 결과 색차(△E*)가 약 0.97로 나타났으며, 변색에 따른 광학 디바이스의 외관 불량이 육안으로 관찰되지 않았다. 또한, 수분 함량이 0.62%인 접착 필름을 이용하여 제조된 실시예 2의 광학 디바이스도 고온 장기 내구성 테스트에 따른 외관 불량 평가 결과 색차(△E*)가 약 1.22로 나타났으며, 변색에 따른 광학 디바이스의 외관 불량이 육안으로 관찰되지 않았다.
이와 대조적으로 수분 함량이 1.34 %인 접착 필름을 이용하여 제조된 비교예의 광학 디바이스는 고온 장기 내구성 테스트에 따른 외관 불량 평가 결과 색차(△E*)가 약 2.17 나타났으며, 변색에 따른 광학 디바이스의 외관 불량이 육안으로 관찰되었다.
10: 액정 소자
20: 편광자
30: 외곽 기판
40: 접착 필름

Claims (11)

  1. 대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판;
    상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 위치하는 액정 소자와 편광자; 및
    상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에서 상기 액정소자와 편광자를 봉지하는 접착 필름을 포함하고,
    상기 접착 필름은 수분 함량이 0.7 % 이하인 광학 디바이스.
  2. 제 1 항에 있어서, 제 1 및 제 2 외곽 기판은 유리 기판인 광학 디바이스.
  3. 제 1 항에 있어서, 액정 소자는 액정 호스트와 이색성 염료 게스트를 포함하고, 제 1 배향 상태와 제 2 배향 상태의 사이를 스위칭 할 수 있는 액정층을 가지는 광학 디바이스.
  4. 제 1 항에 있어서, 편광자는 연신 편광자 또는 코팅형 편광자인 광학 디바이스.
  5. 제 4 항에 있어서, 연신 편광자는 요오드계 또는 염료계 PVA(poly(vinyl alcohol)) 편광자인 광학 디바이스.
  6. 제 4 항에 있어서, 코팅형 편광자는 열방성(Thermotropic) 액정 또는 이용해성(Lyotropic) 액정 편광자인 광학 디바이스.
  7. 제 1 항에 있어서, 편광자는 수분 함량이 1% 이하인 광학 디바이스.
  8. 제 1 항에 있어서, 접착 필름은 열가소성 폴리우레탄 접착 필름, EVA(Ethylene Vinyl Acetate) 접착 필름, 폴리아마이드 접착 필름, 폴리에스테르 접착 필름, 폴리비닐부티랄 (PVB: Polyvinyl butyral) 접착필름, 폴리올레핀 접착 필름 또는 열가소성 전분(TPS: Thermoplastic Starch)인 광학 디바이스.
  9. 제 1 항에 있어서, 접착 필름은 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이, 액정 소자와 편광자 사이 및 제 2 외곽 기판과 편광자 사이에 위치하는 광학 디바이스.
  10. 수분 함량이 0.7% 이하가 되도록 전처리된 접착 필름을 매개로, 제 1 외곽 기판과 액정 소자, 액정 소자와 편광자, 및 편광자와 제 2 외곽 기판을 접착시키는 단계를 포함하는 광학 디바이스의 제조 방법.
  11. 제 10 항에 있어서, 접착 필름의 전처리는 상대습도 20% 이하에서 1시간 이상 보관하여 수행하는 광학 디바이스의 제조방법.
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