KR20200082663A - 광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로, 화소 회로의 구동 방법, 및 유기 발광 표시 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 지문 센싱 기능을 내재한 화소 회로에 관한 것으로, 상기 화소 회로는 구동 트랜지스터에 의해 제어되는 구동 전류로 화상을 표시하는 자발광 소자; 및 상기 자발광 소자에서 출사되어 사용자의 지문을 통해 반사된 광을 수광하여 광전류로 변환하는 수광소자; 를 포함하고, 상기 구동 트랜지스터는 상기 수광소자의 출력 전압을 상기 화소 회로의 출력 라인에 전달하는 버퍼(buffer)로서 기능하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로, 광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로의 구동 방법 및 광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
화상 표시 장치는 노트북 컴퓨터, 태블릿 피시(tablet PC), 스마트폰(smart phone), 개인 휴대용 정보 단말기(Personal Digital Assistant), 현금 자동 입출금기(Automated Teller Machine), 검색 안내 시스템 등과 같은 컴퓨터 기반 시스템(computer based system)에서 사용되고 있다. 이들 시스템에는 통상적으로 개인 사생활과 관련된 개인정보는 물론 영업정보나 영업기밀과 같이 비밀을 요하는 많은 데이터가 저장되어 있기 때문에, 이들 데이터를 보호하기 위해서는 보안을 강화해야 할 필요성이 있다.
이를 위해 손가락의 지문을 이용하여 시스템의 등록이나 인증을 수행함으로써 보안성을 강화할 수 있는 지문 인식 소자를 포함한 화상 표시 장치에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.
일반적으로 지문 센싱 회로를 갖는 화상 표시 장치는 광학 센싱 방식 또는 정전 용량 방식으로 지문을 인식한다.
광학 센싱 방식으로 지문을 인식하는 화상 표시 장치는 표시 패널에 지문 센서로써 수광 소자를 포함한 지문 인식회로가 구비된다. 상기 수광 소자는 표시 패널로부터 출사되어 지문에 의해 반사된 광을 센싱하여 광전류를 생성한다. 이때, 수광 소자(PD)로부터 발생되는 광전류의 양은 광을 반사시킨 물체가 지문의 융선(Ridge)인지 또는 골(Valley)인지에 따라 가변되고, 지문 인식회로는 광전류의 변화량을 통하여 지문의 형태를 인식한다.
광학 센싱 방식으로 지문을 인식하기 위해서는 500PPI 이상의 해상도를 가지는 지문 인식회로가 필요하다. 하지만, 화상 표시 장치의 화소 회로가 차지한 면적으로 인하여 지문 센싱 회로가 500PPI 이상의 해상도를 가지도록 만드는 것에 어려움이 있었다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 화소 회로에 하나의 수광 소자를 추가하고, 광학 지문 센싱 회로와 화소 회로가 구동 트랜지스터 또는 문턱 전압(Vth) 보상 트랜지스터를 공유하도록 함으로써, 표시 패널내 집적할 회로의 면적을 줄일 수 있는 지문 센싱 기능을 내재한 화소 회로를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
본 발명은 전술한 기술적 과제를 해결하기 위하여 다음과 같은 특징을 가진다.
본 발명은, 지문 센싱 회로와 소자를 공유하는 화소 회로로서, 상기 화소 회로는 트랜지스터에 의해 화상을 표시하는 자발광 소자; 및 상기 자발광 소자에서 출사되어 사용자의 지문을 통해 반사된 광을 수광하여 전기신호로 변환하는 수광소자; 를 포함하고, 상기 화소 회로는 상기 수광소자를 통해 생성된 출력 신호를 상기 화소 회로의 출력라인을 통해 읽어내는 것을 특징으로 한다.
상기 화소 회로가 지문 센싱 회로와 공유하는 소자는 구동 트랜지스터, 보상 트랜지스터, 또는 스위치 트랜지스터 중에서 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 한다.
상기 구동 트랜지스터는, 상기 자발광 소자를 구동하고, 상기 수광소자의 출력 전압을 상기 화소 회로의 출력 라인에 전달하는 버퍼(buffer)로서 기능하는 것을 특징으로 한다.
상기 보상 트랜지스터는 상기 구동 트랜지스터의 문턱전압(VTH), 이동도, 또는 VDD전압 중 적어도 어느 하나를 보상하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 회로는, 제 1 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터, 상기 보상 트랜지스터로 기능하는 제 3 트랜지스터, 제 4 트랜지스터, 제 5 트랜지스터 및 제 6 트랜지스터를 포함하고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 2 단자는 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 게이트 단자는 n 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 2 단자는 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 게이트 단자는 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 2 단자는 수광소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 2 단자는 접지되고, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 센싱 라인에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 2 단자는 출력 라인에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인에 연결되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 회로는, 제 7 트랜지스터, 제 8 트랜지스터, 제 9 트랜지스터, 제 10 트랜지스터, 캐패시터를 더 포함하고, 상기 제 7 트랜지스터의 제 1 단자는 초기화라인에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 게이트 단자는 n-1 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 제 1 단자는 초기화라인에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 자발광 소자의 아노드(anode) 단자에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n-1 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 게이트 단자는 에미션(emission)라인에 연결되고, 상기 제 10 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 10 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 자발광 소자의 아노드 단자에 연결되고, 상기 제 10 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 에미션 라인에 연결되고, 상기 캐패시터의 제 1 단자는 상기 전원에 연결되고, 상기 캐패시터의 제 2 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 자발광 소자의 캐소드 단자 및 상기 수광 소자의 아노드 단자는 접지되는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명은, 상기 n-1 번째 스캔라인의 n-1 번째 스캔신호 및 상기 초기화라인으로부터의 초기화 신호에 기초하여, 상기 제 7 트랜지스터 및 상기 제 8 트랜지스터는 이전 프레임의 데이터를 리셋하고, 상기 n 번째 스캔라인의 n 번째 스캔신호에 기초하여, 상기 제 1 트랜지스터는 상기 제 1 노드에 데이터 신호를 인가하고, 상기 제 3 트랜지스터는 상기 제 2 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)을 보상하고, 상기 제 1 센싱 라인의 제 1 센싱 신호 및 상기 수광 소자에 의한 전류에 기초하여, 상기 제 4 트랜지스터는 상기 제 3 노드에 전압을 인가하고, 상기 제 2 트랜지스터의 소스 팔로워(Source Follower) 동작에 의하여 상기 제 3 노드에 인가된 전압을 상기 제 1 노드에 전달하고, 상기 제 2 센싱 라인의 제 2 센싱 신호에 기초하여, 상기 제 6 트랜지스터는 상기 제 1 노드의 전압을 출력 라인으로 출력하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 수광 소자는, 상기 자발광 소자에서 출력된 빛을 수신하여 전류를 생성하고, 상기 제 1 센싱 라인의 제 1 센싱 신호 및 상기 생성된 전류에 기초하여 상기 제 3 노드에 전압을 인가하고, 상기 제 2 트랜지스터의 소스 팔로워 동작에 의하여 상기 제 3 노드에 인가된 전압을 상기 제 1 노드에 전달하고, 상기 제 2 센싱 라인의 제 2 센싱 신호에 기초하여, 상기 제 6 트랜지스터는 상기 제 1 노드의 전압을 출력 라인으로 출력하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 자발광 소자의 수명 보상 기능이 있는 화소 회로로서, 상기 화소 회로는 구동 트랜지스터에 의해 제어되는 구동 전류로 화상을 표시하는 자발광 소자; 및 상기 자발광 소자에서 출사된 광을 수광하여 광전류로 변환하는 수광소자; 를 포함하고, 상기 구동 트랜지스터는 상기 수광소자의 출력 전압을 상기 화소 회로의 출력 라인에 전달하는 버퍼(buffer)로서 기능하며, 상기 화소 회로는 상기 출력 라인으로 출력된 전압을 아날로그 신호에서 디지털 신호로 변환하고, 상기 디지털 신호를 자발광 소자의 밝기 데이터와 대조하고, 상기 대조 결과에 기초하여 상기 자발광 소자의 수명을 획득하고, 상기 대조 결과에 기초하여 상기 구동 트랜지스터에 인가할 전압을 보상하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 회로는, 제 1 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터, 상기 보상 트랜지스터로 기능하는 제 3 트랜지스터, 제 4 트랜지스터, 제 5 트랜지스터, 제 6 트랜지스터, 제 1 캐패시터 및 제 2 캐패시터를 포함하고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 2 단자는 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 게이트 단자는 n 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 1 단자는 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 2 단자는 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 게이트 단자는 제 4 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 4 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 단자는 n-1 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 2 단자는 수광 소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 2 단자는 접지되고, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 센싱 라인에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 2 단자는 출력 라인에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인에 연결되고, 상기 제 1 캐패시터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 캐패시터의 제 2 단자는 상기 제 4 노드에 연결되고, 상기 제 2 캐패시터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 2 캐패시터의 제 2 단자는 접지되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 회로는, 제 7 트랜지스터, 제 8 트랜지스터, 제 9 트랜지스터를 더 포함하고, 상기 제 7 트랜지스터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n-1 번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 전원에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 에미션(emission)라인에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 자발광 소자의 아노드 단자에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 에미션 라인에 연결되고, 상기 자발광 소자의 캐소드 단자 및 상기 수광 소자의 아노드 단자는 접지되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 회로는, 제 1 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터, 제 3 트랜지스터, 제 4 트랜지스터, 및 제 5 트랜지스터를 포함하고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 2 단자는 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 게이트 단자는 n번째 스캔라인에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 1 단자는 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 2 단자는 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 2 단자는 수광 소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 2 단자는 접지되고, 상기 제 4 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 센싱 라인에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 2 단자는 출력 라인에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인에 연결되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 회로는, 제 6 트랜지스터, 캐패시터를 더 포함하고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 게이트 단자는 에미션(emission)라인에 연결되고, 상기 캐패시터의 제 1 단자는 상기 전원에 연결되고, 상기 캐패시터의 제 2 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 자발광 소자의 아노드 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 자발광 소자의 캐소드 단자는 접지되고, 상기 수광 소자의 아노드 단자는 접지되는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 화소 회로에 하나의 수광 소자를 추가하고, 광학 지문 센싱 회로와 화소 회로가 구동 트랜지스터 또는 문턱 전압(Vth) 보상 트랜지스터를 공유하도록 함으로써, 지문 센싱 기능을 내재한 화소 회로를 제공하여 표시 패널내 집적할 회로의 면적을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은, 수광 소자가 측광한 광량에 기초하여 화소 회로가 자발광 소자에 인가하는 전압을 보상함으로써, 사용 시간에 따른 자발광 소자의 휘도 감소를 방지하고 자발광 소자의 수명을 연장시키는 효과가 있다.
도 1은 종래의 화소 회로 및 지문 센싱 회로를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로의 지문 인식 방법을 나타낸 흐름도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로의 수명 보상 기능을 설명하기 위한 흐름도.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면.
도 10는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로의 지문 인식 방법을 나타낸 흐름도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로의 수명 보상 기능을 설명하기 위한 흐름도.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면.
도 10는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면.
개시된 실시예의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명이 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것일 뿐이다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 개시된 실시예에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 명세서에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 관련 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
본 명세서에서의 단수의 표현은 문맥상 명백하게 단수인 것으로 특정하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 또한 복수의 표현은 문맥상 명백하게 복수인 것으로 특정하지 않는 한, 단수의 표현을 포함한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다.
또한, 명세서에서 사용되는 "부"라는 용어는 소프트웨어 또는 하드웨어 구성요소를 의미하며, "부"는 어떤 역할들을 수행한다. 그렇지만 "부"는 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. "부"는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 예로서 "부"는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라이버들, 펌웨어, 마이크로 코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조들, 테이블들, 어레이들 및 변수들을 포함한다. 구성요소들과 "부"들 안에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 "부"들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 "부"들로 더 분리될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면 "부"는 프로세서 및 메모리로 구현될 수 있다. 용어 "프로세서" 는 범용 프로세서, 중앙 처리 장치 (CPU), 마이크로프로세서, 디지털 신호 프로세서 (DSP), 제어기, 마이크로제어기, 상태 머신 등을 포함하도록 넓게 해석되어야 한다. 몇몇 환경에서는, "프로세서" 는 주문형 반도체 (ASIC), 프로그램가능 로직 디바이스 (PLD), 필드 프로그램가능 게이트 어레이 (FPGA) 등을 지칭할 수도 있다. 용어 "프로세서" 는, 예를 들어, DSP 와 마이크로프로세서의 조합, 복수의 마이크로프로세서들의 조합, DSP 코어와 결합한 하나 이상의 마이크로프로세서들의 조합, 또는 임의의 다른 그러한 구성들의 조합과 같은 처리 디바이스들의 조합을 지칭할 수도 있다.
용어 "메모리"는 전자 정보를 저장 가능한 임의의 전자 컴포넌트를 포함하도록 넓게 해석되어야 한다. 용어 메모리는 임의 액세스 메모리 (RAM), 판독-전용 메모리 (ROM), 비-휘발성 임의 액세스 메모리 (NVRAM), 프로그램가능 판독-전용 메모리 (PROM), 소거-프로그램가능 판독 전용 메모리 (EPROM), 전기적으로 소거가능 PROM (EEPROM), 플래쉬 메모리, 자기 또는 광학 데이터 저장장치, 레지스터들 등과 같은 프로세서-판독가능 매체의 다양한 유형들을 지칭할 수도 있다. 프로세서가 메모리로부터 정보를 판독하고/하거나 메모리에 정보를 기록할 수 있다면 메모리는 프로세서와 전자 통신 상태에 있다고 불린다. 프로세서에 집적된 메모리는 프로세서와 전자 통신 상태에 있다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략한다.
광학 센싱 방식으로 지문을 인식하기 위해서는 500PPI 이상의 해상도를 가지는 지문 인식회로가 필요하다. 도 1을 참조하면, 기존의 자발광 소자 표시 장치는 지문 센싱 회로(110) 및 화소 회로(120)를 각각 포함하고 있다. 하지만, 자발광 소자 표시 장치의 화소 회로(120)가 차지한 면적으로 인하여 지문 센싱 회로(110)가 500PPI 이상의 해상도를 가지도록 만드는 것에 어려움이 있었다.
상기 자발광 소자에는 OLED, QD-LED(quantum dot-LED), Micro-LED 등이 포함될 수 있다.
실시예 1
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로(200)는 광학 지문 센싱 회로와 트랜지스터를 공유할 수 있다. 구체적으로 상기 화소 회로(200)는 광학 지문 센싱 회로와 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터(M4, 212) 및 상기 제2 트랜지스터의 문턱 전압(Vth), 이동도, 또는 VDD전압 중 적어도 어느 하나를 보상하는 보상 트랜지스터로 기능하는 제 3 트랜지스터(M2, 213)를 공유할 수 있다. 광학 지문 센싱 회로와 화소 회로는 구동 트랜지스터 및 보상 트랜지스터를 공유하여, 소자의 개수를 줄이고 표시 패널내에 집적할 회로의 면적을 줄일 수 있다.
광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로(200)는, 제 1 트랜지스터(M3, 211), 제 2 트랜지스터(M4, 212), 제 3 트랜지스터(M2, 213), 제 4 트랜지스터(M8, 214), 제 5 트랜지스터(M9, 215) 및 제 6 트랜지스터(M10, 216)를 포함할 수 있다.
제 1 트랜지스터(211), 제 2 트랜지스터(212), 제 3 트랜지스터(213), 제 4 트랜지스터(214), 제 5 트랜지스터(215) 및 제 6 트랜지스터(216)는 제 1 단자, 제 2 단자 및 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제 1 단자 또는 제 2 단자는 소스 단자 또는 드레인 단자일 수 있다. 제 1 트랜지스터(211), 제 2 트랜지스터(212), 제 3 트랜지스터(213), 제 4 트랜지스터(214), 제 5 트랜지스터(215) 및 제 6 트랜지스터(216)는 게이트 단자의 신호에 따라 턴온(Turn-ON)되거나 턴오프(Turn-OFF)될 수 있다.
제 1 트랜지스터(211)의 제 1 단자는 데이터(Data)라인에 연결되고, 제 1 트랜지스터(211)의 제 2 단자는 제 1 노드(221)에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터(211)의 게이트 단자는 n 번째 스캔라인(Scan(n))에 연결된다.
제 2 트랜지스터(212)의 제 1 단자는 제 1 노드(221)에 연결되고, 제 2 트랜지스터(212)의 제 2 단자는 제 2 노드(222)에 연결되고, 제 2 트랜지스터(212)의 게이트 단자는 제 3 노드(223)에 연결된다.
제 3 트랜지스터(213)의 제 1 단자는 제 3 노드(223)에 연결되고, 제 3 트랜지스터(213)의 제 2 단자는 제 2 노드(222)에 연결되고, 제 3 트랜지스터(213)의 게이트 단자는 상기 n 번째 스캔라인(Scan(n))에 연결된다.
제 4 트랜지스터(214)의 제 1 단자는 제 3 노드(223)에 연결되고, 제 4 트랜지스터(214)의 제 2 단자는 수광 소자(PD)의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 제 4 트랜지스터(214)의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인(Sen)에 연결된다.
수광 소자(PD)는 자발광 소자로부터 출사되어 사용자의 지문을 통해 반사된 광을 광전류로 변환한다. 상기 수광 소자(PD)는 예를 들어 포토다이오드 일 수 있다. 이때, 수광 소자(PD)로부터 발생되는 광전류의 양은 광을 반사시킨 물체가 지문의 융선(Ridge)인지 또는 골(Valley)인지에 따라 가변된다. 여기서, 골로부터 반사된 광에 의한 제 1 광전류는 융선으로부터 반사된 광에 의한 제2 광전류보다 클 수 있다. 하지만 이에 한정되는 것은 아니며 제 1 광전류는 제 2 광전류보다 작거나 같을 수 있다.
제 5 트랜지스터(215)의 제 1 단자는 제 2 노드(222)에 연결되고, 제 5 트랜지스터(215)의 제 2 단자는 접지되고, 제 5 트랜지스터(215)의 게이트 단자는 제 1 센싱 라인(Sen)에 연결된다.
제 6 트랜지스터(216)의 제 1 단자는 제 1 노드(221)에 연결되고, 제 6 트랜지스터(216)의 제 2 단자는 출력 라인(OUT)에 연결되고, 제 6 트랜지스터(216)의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인(Sen2)에 연결된다.
또한, 화소 회로(200)는 제 7 트랜지스터(M1), 제 8 트랜지스터(M7), 제 9 트랜지스터(M5), 제 10 트랜지스터(M6), 캐패시터(CST), 및 자발광 소자를 더 포함할 수 있다.
제 7 트랜지스터(M1)의 제 1 단자는 초기화라인(Initial)에 연결되고, 제 7 트랜지스터(M1)의 제 2 단자는 제 3 노드(223)에 연결되고, 제 7 트랜지스터(M1)의 게이트 단자는 n-1 번째 스캔라인(Scan(n-1))에 연결될 수 있다.
제 8 트랜지스터(M7)의 제 1 단자는 초기화라인(Initial)에 연결되고, 제 8 트랜지스터(M7)의 제 2 단자는 자발광 소자의 아노드(anode) 단자에 연결되고, 제 8 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n-1 번째 스캔라인(Scan(n-1))에 연결될 수 있다.
제 9 트랜지스터(M5)의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 제 9 트랜지스터(M5)의 제 2 단자는 제 1 노드(221)에 연결되고, 제 9 트랜지스터(M5)의 게이트 단자는 에미션(emission)라인(EM)에 연결될 수 있다.
제 10 트랜지스터(M6)의 제 1 단자는 제 2 노드(222)에 연결되고, 제 10 트랜지스터(M6)의 제 2 단자는 자발광 소자의 아노드 단자에 연결되고, 제 10 트랜지스터(M6)의 게이트 단자는 에미션 라인(EM)에 연결될 수 있다.
캐패시터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 캐패시터의 제 2 단자는 제 3 노드(223)에 연결될 수 있다. 캐패시터는 스토리지 캐패시터일 수 있다. 캐패시터는 제 2 단자에 인가된 수광 소자의 전류에 따른 전압과 전원(VDD)에 인가된 전압 간의 차전압을 일정하게 유지할 수 있다.
자발광 소자의 캐소드 단자 및 수광 소자의 아노드 단자는 접지될 수 있다.
도 1을 다시 참조하면, 종래 기술의 지문 센싱 회로(110)는 7개의 트랜지스터와 2개의 캐패시터를 포함한다. 또한 종래 기술의 화소 회로(120)는 7개의 트랜지스터와 1개의 캐패시터를 포함한다. 즉, 종래 기술에 따른 지문 센싱 회로(110) 및 화소 회로(120)는 총 14개의 트랜지스터와 3개의 캐패시터를 포함할 수 있다. 하지만 도 2 에 따른 본 발명의 일 실시예에 따르면 10개의 트랜지스터와 1개의 캐패시터를 포함한다. 회로를 구성하는 소자의 수가 감소됨으로써, 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로는 고해상도로 화면을 표시할 수 있으면서도, 지문 인식을 정확하게 할 수 있다.
자발광 소자는 제 10 트랜지스터(M6)의 턴온에 의해 유입되는 데이터 전류에 따라 발광한다. 이를 위해, 자발광 소자는 애노드 단자와과 캐소드 단자 사이에 형성된 유기 발광셀을 포함한다. 여기서, 유기 발광셀은 정공 수송층/유기 발광층/전자 수송층의 구조, 또는 정공 주입층/정공 수송층/유기 발광층/전자 수송층/전자 주입층의 구조를 가지도록 형성될 수 있다. 또한, 유기 발광셀에는 유기발광층의 발광 효율 및/또는 수명 등을 향상시키기 위한 기능층이 추가로 형성될 수 있다.
화소 회로(200)는 초기화라인(Initial)으로부터 초기화 신호를 수신할 수 있다. 화소 회로는 데이터 라인(Data)으로부터 데이터 신호를 획득할 수 있다. 화소 회로는 에미션(emission) 라인으로부터 에미션 신호를 수신할 수 있다. 화소 회로는 n 번째 스캔 라인으로부터 n번째 스캔 신호를 수신할 수 있다. 화소 회로는 n-1번째 스캔 라인으로부터 n-1번째 스캔 신호를 수신할 수 있다. n은 양의 정수 일 수 있다. n은 화소 회로에서 표시될 영상의 프레임을 나타낼 수 있다. 예를들어 n번째 스캔 신호는 n번째 프레임에 대한 스캔 신호일 수 있다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 n 번째 스캔 신호, n-1번째 스캔 신호, 초기화 신호, 데이터 신호 및 에미션 신호 중 적어도 하나를 조작하여, 자발광 소자를 발광시킬 수 있다. 시스템은 프로세서 또는 메모리를 포함할 수 있으며, 프로세서는 메모리에 포함된 명령어 또는 데이터에 따라 n 번째 스캔 신호, n-1번째 스캔 신호, 초기화 신호, 데이터 신호 및 에미션 신호 중 적어도 하나를 조작할 수 있다. 아래에서는 화소 회로의 지문 인식 방법에 대하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로의 지문 인식 방법을 나타낸 흐름도이다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 n 번째 스캔 신호, n-1번째 스캔 신호, 초기화 신호, 데이터 신호, 에미션 신호, 제 1 센싱 신호, 및 제 2 센싱 신호 중 적어도 하나를 조작하여 도 3 의 310 내지 350 단계를 수행할 수 있다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 이전 프레임 데이터를 리셋하는 단계(310)를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 데이터 신호 및 n번째 스캔 신호 중 적어도 하나에 기초하여 제 2 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)을 보상하고, 데이터 신호를 인가하는 단계(320)를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 수광 소자에 의한 전류에 기초하여 제 2 트랜지스터의 게이트 단자 전압 변화시키는 단계(330)를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 소스 팔로워 동작을 통해서 제 2 트랜지스터의 게이트 단자 전압을 제 2 트랜지스터의 제 1 단자에 전달하는 단계(340)를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 제 2 트랜지스터의 제 1 단자의 전압을 출력 라인으로 출력하는 단계(350)를 수행할 수 있다.
도 3 의 각 단계에 대해서는 도 4 내지 도 7과함께 보다 자세히 설명한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도이다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 초기화 페이즈를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 이전 프레임 데이터를 리셋하는 단계(310)를 수행할 수 있다. 단계(310)에서 제 7 트랜지스터 및 제 8 트랜지스터(410)가 동작할 수 있다. 시스템은 화소 회로(200)에 n-1 번째 스캔신호 및 초기화 신호 중 적어도 하나를 전송할 수 있다. 화소 회로(200)는 n-1 번째 스캔라인(Scan(n-1))으로부터 n-1 번째 스캔신호를 수신할 수 있다. 화소 회로(200)는 초기화라인(Initial)으로부터 초기화 신호를 수신할 수 있다. n-1 번째 스캔신호 및 초기화 신호에 기초하여, 제 7 트랜지스터(M1) 및 상기 제 8 트랜지스터(M7)는 이전 프레임의 데이터를 리셋할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도이다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 문턱 전압 보상 페이즈를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 제 2 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)을 보상하고, 데이터 신호를 인가하는 단계(320)를 수행할 수 있다. 단계(320)에서 제 1 트랜지스터(510, M3) 및 제 3 트랜지스터(520, M2)가 동작할 수 있다. 시스템은 화소 회로(200)에 n 번째 스캔신호 및 데이터 신호 중 적어도 하나를 전송할 수 있다. 화소 회로(200)는 n 번째 스캔라인(Scan(n))으로부터 n 번째 스캔신호를 수신할 수 있다. 화소 회로(200)는 데이터라인(Data)으로부터 데이터 신호를 수신할 수 있다. n 번째 스캔신호에 기초하여, 제 1 트랜지스터(510)는 제 1 노드(221)에 데이터 신호를 인가할 수 있다. n 번째 스캔신호에 기초하여, 제 3 트랜지스터(520)는 제 2 트랜지스터(M4)의 문턱 전압(Vth)을 보상할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도이다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 인테그레이션 페이즈(integration phase)를 수행할 수 있다. 인테그레이션 페이즈는 수광 소자에 의한 전류에 기초하여 제 2 트랜지스터의 게이트 단자 전압을 변화시키는 단계(330)를 포함할 수 있다. 인테그레이션 페이즈는 소스 팔로워 동작을 통해서 제 2 트랜지스터의 게이트 단자 전압을 제 2 트랜지스터의 제 1 단자에 전달하는 단계(340)를 포함할 수 있다.
단계(330)에서 제 4 트랜지스터(610)가 동작할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 화소 회로(200)에 제 1 센싱 신호를 전송할 수 있다. 화소 회로(200)는 제 1 센싱 라인(Sen)으로부터 제 1 센싱 신호를 수신할 수 있다. 수광 소자(PD)는 수신한 광량에 따라 전류를 생성할 수 있다. 제 1 센싱 신호 및 수광 소자(PD)에 의한 전류에 기초하여, 제 4 트랜지스터(610)는 제 3 노드(630)에 전압을 인가할 수 있다.
단계(340)에서 제 2 트랜지스터(620)가 동작할 수 있다. 제 2 트랜지스터(620)의 소스 팔로워(Source Follower) 동작에 의하여 제 3 노드(630)에 인가된 전압은 상기 제 1 노드(640)에 전달될 수 있다. 이때, 지문에 의해 반사된 빛을 수광한 수광 소자가 생성하는 광전류는 수 프레임 동안 integration 된다. 구체적으로 제 4 트랜지스터(610)가 동작하여 상기 수광 소자가 변환환 광전류를 전압으로 변환하여 제 3 노드(630)에 인가하고, 상기 제 2 트랜지스터(620)가 동작하여 하여 상기 제 3 노드(630)의 전압을 제 1 노드(610)에 전달한다. 즉, 상기 제 2 트랜지스터(620)는 소스 팔로워, 즉 버퍼로 기능한다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 회로도이다.
화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 센스 페이즈(sense phase)를 수행할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 제 2 트랜지스터의 제 1 단자의 전압을 출력 라인으로 출력하는 단계(350)를 수행할 수 있다. 단계(350)에서 제 6 트랜지스터(710)가 동작할 수 있다. 시스템은 화소 회로(200)에 제 2 센싱 신호를 전송할 수 있다. 화소 회로(200)는 제 2 센싱 라인(Sen2)으로부터 제 2 센싱 신호를 수신할 수 있다. 제 2 센싱 신호에 기초하여, 제 6 트랜지스터(710)는 제 1 노드(720)의 전압을 출력 라인(0UT)으로 출력할 수 있다. 시스템은 화소 회로(200)의 출력을 데이터로서 수신할 수 있다. 또한, 시스템은 복수의 화소 회로들로부터 수신한 데이터에 기초하여 지문 인식을 할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로의 수명 보상 기능을 설명하기 위한 흐름도이다.
아래에서는 도 2의 화소 회로(200)와 함께 도 8을 설명한다.
본 발명의 화소 회로는 수광 소자(PD) 및 자발광 소자를 포함할 수 있다. 자발광 소자는 사용 시간이 늘어남에 따라 휘도가 서서히 줄어드는 문제점이 발생할 수 있다. 화소 회로(200)를 포함하는 시스템은 수광 소자(PD) 및 자발광 소자를 이용하여 화소 회로의 수명 보상 기능을 수행할 수 있다.
자발광 소자가 빛을 내면, 수광 소자(PD)는 자발광 소자의 빛을 수신할 수 있다. 시스템은 수광 소자(PD)가 수신한 빛의 양에 기초하여 자발광 소자의 광량을 측정할 수 있다. 시스템은 측정된 광량에 기초하여 화소 회로에 인가하는 전압을 보상할 수 있다. 전압이 보상되므로 화소 회로의 자발광 소자는 사용 시간에 따른 휘도의 감소를 줄일 수 있다.
이하에서, 화소 회로의 수명 보상 기능을 보다 자세히 설명한다.
화소 회로를 포함하는 시스템은 자발광 소자의 수명 보상 기능을 수행할 것을 결정하는 단계(810)를 수행할 수 있다. 시스템은 화소 회로 및 광학 지문 센싱 회로를 동작시키는 단계(820)를 수행할 수 있다. 시스템은 신호 검출 및 아날로그-디지털 변환하는 단계(830)를 수행할 수 있다. 시스템은 변환 결과를 보정하여 자발광 소자의 밝기 데이터와 대조하는 단계(840)를 수행할 수 있다. 시스템은 자발광 소자의 수명 값을 저장하는 단계(850)를 수행할 수 있다. 시스템은 보상된 자발광 소자의 데이터를 입력하는 단계(860)를 수행할 수 있다.
시스템이 자발광 소자의 수명 보상 기능을 수행할 것을 결정한 경우, 시스템은 화소 회로 및 광학 지문 센싱 회로를 동작시키는 단계(820)를 수행할 수 있다. 여기서 화소 회로는 자발광 소자가 빛을 내게 하는 회로를 의미한다. 또한, 광학 지문 센싱 회로는 수광 소자가 빛을 수신하기 위한 회로를 의미한다. 본 발명의 일 실시예에 따르면 화소 회로 및 광학 지문 센싱 회로는 적어도 하나의 트랜지스터 또는 캐패시터를 공유할 수 있다. 하지만 이에 한정되는 것은 아니다. 적어도 하나의 트랜지스터 또는 캐패시터를 공유하지 않는 화소 회로 및 광학 지문 센싱 회로를 포함하는 시스템은 도 8의 단계에 따른 수명 보상 기능을 수행할 수 있음은 관련 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 수 있다.
시스템은 화소 회로의 자발광 소자가 빛을 내도록 제어할 수 있다. 수광 소자(PD)는 자발광 소자에서 출력된 빛을 수신하여 전류를 생성할 수 있다. 제 1 센싱 라인(Sen)의 제 1 센싱 신호 및 생성된 전류에 기초하여, 제 4 트랜지스터(214)는 제 3 노드(223)에 전압을 인가할 수 있다. 제 2 트랜지스터(212)의 소스 팔로워 동작에 의하여 제 3 노드(223)에 인가된 전압은 제 1 노드(221)에 전달될 수 있다. 제 2 센싱 라인(Sen2)의 제 2 센싱 신호에 기초하여, 제 6 트랜지스터(216)는 제 1 노드(221)의 전압을 출력 라인(OUT)으로 출력할 수 있다. 시스템은 출력된 신호를 수신할 수 있다.
시스템은 신호 검출 및 아날로그-디지털 변환하는 단계(830)를 수행할 수 있다. 상기 수신된 신호는 전압 또는 전류 값을 가질 것이므로, 시스템은 상기 수신된 신호를 아날로그에서 디지털로 변환할 수 있다.
시스템은 변환 결과를 보정하여 자발광 소자의 밝기 데이터와 대조하는 단계(840)를 수행할 수 있다. 시스템은 디지털로 변환된 신호를 보정할 수 있다. 시스템은 보정된 신호를 이미 저장된 밝기 데이터와 대조할 수 있다. 이미 저장된 밝기 데이터는 이전 보상 기능의 수행에서 저장된 데이터 일 수 있다. 또는 정상 동작 화소 회로의 밝기 데이터일 수 있다.
시스템은 자발광 소자의 수명 값을 저장하는 단계(850)를 수행할 수 있다. 자발광 소자의 수명 값은 자발광 소자의 광량이 임계 광량으로 줄어들기까지 남은 시간을 나타낼 수 있다. 시스템은 자발광 소자의 사용시간에 따른 광량의 변화에 대한 데이터를 가지고 있을 수 있다. 시스템은 현재 자발광 소자의 광량에 기초하여 예측 수명을 획득할 수 있다. 또한 시스템은 자발광 소자의 예측 수명을 메모리에 저장할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면 시스템은 보상된 자발광 소자의 데이터를 입력하는 단계(860)를 수행할 수 있다. 예를 들어 시스템은 화소 회로(200)에 데이터 신호를 전송할 수 있다. 데이터 신호는 소정의 전압을 가질 수 있다. 화소 회로(200)는 데이터라인으로부터 데이터 신호를 수신할 수 있다. 시스템은 자발광 소자의 광량을 보상하기 위하여 데이터 신호의 전압의 크기를 줄이거나 늘일 수 있다. 화소 회로는 변화된 데이터 신호에 기초하여 자발광 소자에 인가될 전류 또는 전압의 크기를 늘릴 수 있다. 자발광 소자는 인가된 전류 또는 전압에 기초하여 최적의 휘도를 유지할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면 시스템은 단계(840)의 대조 결과 또는 단계(850)의 수명 값 중 적어도 하나에 기초하여 화소 회로(220)에 인가할 전압을 보상할 수 있다. 시스템은 데이터 신호, 초기화 신호 및 전원(VDD) 중 적어도 하나의 신호의 전압 값을 보상할 수 있다. 보상은 전압 값을 늘리거나 줄이는 것을 의미할 수 있다. 시스템은 화소 회로(200)에 인가할 전압을 보상하여 자발광 소자의 휘도를 시간이 지나더라도 일정하게 유지할 수 있다.
실시예 2
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면이다.
광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로(900)는 내부보상을 이용한 디스플레이 패널 내 화소 회로의 트렌지스터를 공유하여 광학 방식 지문 센싱이 가능한 구조를 구현한 것이다. 붉은 색으로 표시된 부분이 광학 방식 지문 센싱을 위해 추가된 구성들일 수 있다.
광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로(900)는, 제 1 트랜지스터(911, T1), 제 2 트랜지스터(912, T4), 제 3 트랜지스터(913, T5), 제 4 트랜지스터(914, T7), 제 5 트랜지스터(915, T9), 제 6 트랜지스터(916, T8), 제 1 캐패시터(C1) 및 제 2 캐패시터(C2)를 포함할 수 있다.
제 1 트랜지스터(911)의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 제 1 트랜지스터(911)의 제 2 단자는 제 1 노드(921)에 연결되고, 제 1 트랜지스터(911)의 게이트 단자는 n 번째 스캔라인(Scan(n))에 연결될 수 있다.
제 2 트랜지스터(912)의 제 1 단자는 제 2 노드(922)에 연결되고, 제 2 트랜지스터(912)의 제 2 단자는 제 3 노드(923)에 연결되고, 제 2 트랜지스터(912)의 게이트 단자는 제 4 노드(924)에 연결될 수 있다.
제 3 트랜지스터(913)의 제 1 단자는 제 4 노드(924)에 연결되고, 제 3 트랜지스터(913)의 제 2 단자는 제 3 노드(923)에 연결되고, 제 3 트랜지스터(913)의 게이트 단자는 n-1 번째 스캔라인(Scan(n-1))에 연결될 수 있다.
제 4 트랜지스터(914)의 제 1 단자는 제 1 노드(921)에 연결되고, 제 4 트랜지스터(914)의 제 2 단자는 수광 소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 제 4 트랜지스터(914)의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인(Sen)에 연결될 수 있다.
제 5 트랜지스터(915)의 제 1 단자는 제 3 노드(923)에 연결되고, 제 5 트랜지스터(915)의 제 2 단자는 접지되고, 제 5 트랜지스터(915)의 게이트 단자는 제 1 센싱 라인(Sen)에 연결될 수 있다.
제 6 트랜지스터(916)의 제 1 단자는 제 2 노드(922)에 연결되고, 제 6 트랜지스터(916)의 제 2 단자는 출력 라인(OUT)에 연결되고, 제 6 트랜지스터(916)의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인(Sen2)에 연결될 수 있다.
제 1 캐패시터(C1)의 제 1 단자는 제 1 노드(921)에 연결되고, 제 1 캐패시터(C1)의 제 2 단자는 제 4 노드(924)에 연결될 수 있다.
제 2 캐패시터(C2)의 제 1 단자는 제 1 노드(921)에 연결되고, 제 2 캐패시터(C2)의 제 2 단자는 접지될 수 있다.
화소 회로(900)는 제 7 트랜지스터(T2), 제 8 트랜지스터(T3), 제 9 트랜지스터(T6) 및 자발광 소자를 더 포함할 수 있다.
제 7 트랜지스터(T2)의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 제 7 트랜지스터(T2)의 제 2 단자는 제 1 노드(921)에 연결되고, 제 7 트랜지스터(T2)의 게이트 단자는 상기 n-1 번째 스캔라인(Scan(n-1))에 연결될 수 있다.
제 8 트랜지스터(T3)의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 제 8 트랜지스터(T3)의 제 2 단자는 제 2 노드(922)에 연결되고, 제 8 트랜지스터(T3)의 게이트 단자는 제 1 에미션(emission) 라인(EM1)에 연결될 수 있다.
제 9 트랜지스터(T6)의 제 1 단자는 제 3 노드(923)에 연결되고, 제 9 트랜지스터(T6)의 제 2 단자는 자발광 소자의 아노드 단자에 연결되고, 제 9 트랜지스터(T6)의 게이트 단자는 제 2 에미션 라인(EM2)에 연결될 수 있다.
자발광 소자의 캐소드 단자 및 수광 소자(PD)의 아노드 단자는 접지될 수 있다.
화소 회로(900)는 9개의 트랜지스터와 2개의 캐패시터를 사용한다. 화소 회로(900)는 적은 수의 소자를 이용한 광학 지문 센신 회로를 포함한 화소 회로이므로, 화소 회로(900)는 고해상도로 화면을 표시할 수 있으면서도, 지문 인식을 정확하게 할 수 있다.
실시예 3
도 10는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 회로를 나타낸 도면이다.
광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로(1000)는 대형 TV 패널에서 사용중인 외부보상을 이용한 디스플레이 패널 내 화소 회로의 트렌지스터를 공유하여 광학 방식 지문 센싱이 가능한 구조를 구현한 것이다. 제 3 트랜지스터(1013, M4), 제 4 트랜지스터(1014, M5), 제 5 트랜지스터(1015, M6) 및 수광 소자(PD)가 광학 방식 지문 센싱을 위해 추가된 구성들일 수 있다. 모바일 패널에 화소 회로(1000)를 집적할 경우, 트렌지스터 수와 신호수 감소로 인해 면적이 최소화 될 수 있다.
광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로(1000)는, 제 1 트랜지스터(1011, M1), 제 2 트랜지스터(1012, M2), 제 3 트랜지스터(1013, M4), 제 4 트랜지스터(1014, M5), 제 5 트랜지스터(1015, M6)를 포함할 수 있다.
제 1 트랜지스터(1011)의 제 1 단자는 데이터라인(Data)에 연결되고, 제 1 트랜지스터(1011)의 제 2 단자는 제 1 노드(1021)에 연결되고, 제 1 트랜지스터(1011)의 게이트 단자는 n번째 스캔라인(Scan(n))에 연결될 수 있다.
제 2 트랜지스터(1012)의 제 1 단자는 제 2 노드(1022)에 연결되고, 제 2 트랜지스터(1012)의 제 2 단자는 제 3 노드(1023)에 연결되고, 제 2 트랜지스터(1012)의 게이트 단자는 제 1 노드(1021)에 연결될 수 있다.
제 3 트랜지스터(1013)의 제 1 단자는 제 1 노드(1021)에 연결되고, 제 3 트랜지스터(1013)의 제 2 단자는 수광 소자(PD)의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 제 3 트랜지스터(1013)의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인(Sen)에 연결될 수 있다.
제 4 트랜지스터(1014)의 제 1 단자는 제 3 노드(1023)에 연결되고, 제 4 트랜지스터(1014)의 제 2 단자는 접지되고, 제 4 트랜지스터(1014)의 게이트 단자는 제 1 센싱 라인(Sen)에 연결될 수 있다.
제 5 트랜지스터(1015)의 제 1 단자는 제 2 노드(1022)에 연결되고, 제 5 트랜지스터(1015)의 제 2 단자는 출력 라인(OUT)에 연결되고, 제 5 트랜지스터(1015)의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인(Sen2)에 연결될 수 있다.
화소 회로(1000)는 제 6 트랜지스터(M3), 캐패시터(CST) 및 자발광 소자를 더 포함하고,
제 6 트랜지스터(M3)의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 제 6 트랜지스터(M3)의 제 2 단자는 제 2 노드(1022)에 연결되고, 제 6 트랜지스터(M3)의 게이트 단자는 에미션(emission)라인(EM)에 연결될 수 있다.
캐패시터(CST)의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 캐패시터(CST)의 제 2 단자는 제 1 노드(1021)에 연결될 수 있다.
자발광 소자의 아노드 단자는 제 3 노드(1023)에 연결되고, 자발광 소자의 캐소드 단자는 접지될 수 있다. 수광 소자(PD)의 아노드 단자는 접지될 수 있다.
화소 회로(1000)는 6개의 트랜지스터와 1개의 캐패시터를 사용한다. 화소 회로(1000)는 적은 수의 소자를 이용한 광학 지문 센신 회로를 포함한 화소 회로이므로, 화소 회로(1000)는 고해상도로 화면을 표시할 수 있으면서도, 지문 인식을 정확하게 할 수 있다.
이제까지 다양한 실시예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
한편, 상술한 본 발명의 실시예들은 컴퓨터에서 실행될 수 있는 프로그램으로 작성가능하고, 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 이용하여 상기 프로그램을 동작시키는 범용 디지털 컴퓨터에서 구현될 수 있다. 상기 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체는 마그네틱 저장매체(예를 들면, 롬, 플로피 디스크, 하드디스크 등), 광학적 판독 매체(예를 들면, 시디롬, 디브이디 등)와 같은 저장매체를 포함한다.
200: 화소 회로
211: 제 1 트랜지스터
212: 제 2 트랜지스터
213: 제 3 트랜지스터
214: 제 4 트랜지스터
215: 제 5 트랜지스터
216: 제 6 트랜지스터
221: 제 1 노드
222: 제 2 노드
223: 제 3 노드
211: 제 1 트랜지스터
212: 제 2 트랜지스터
213: 제 3 트랜지스터
214: 제 4 트랜지스터
215: 제 5 트랜지스터
216: 제 6 트랜지스터
221: 제 1 노드
222: 제 2 노드
223: 제 3 노드
Claims (13)
- 지문 센싱 회로와 소자를 공유하는 화소 회로로서,
상기 화소 회로는 트랜지스터에 의해 화상을 표시하는 자발광 소자; 및
상기 자발광 소자에서 출사되어 사용자의 지문을 통해 반사된 광을 수광하여 전기신호로 변환하는 수광소자; 를 포함하고,
상기 화소 회로는 상기 수광소자를 통해 생성된 출력 신호를 상기 화소 회로의 출력라인을 통해 읽어내는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제1항에 있어서,
상기 화소 회로가 지문 센싱 회로와 공유하는 소자는
구동 트랜지스터, 보상 트랜지스터, 또는 스위치 트랜지스터 중에서 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제2항에 있어서,
상기 구동 트랜지스터는, 상기 자발광 소자를 구동하고, 상기 수광소자의 출력 전압을 상기 화소 회로의 출력 라인에 전달하는 버퍼(buffer)로서 기능하는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제2항에 있어서,
상기 보상 트랜지스터는 상기 구동 트랜지스터의 문턱전압(VTH), 이동도, 또는 VDD전압 중 적어도 어느 하나를 보상하는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제2항에 있어서,
상기 화소 회로는,
제 1 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터, 상기 보상 트랜지스터로 기능하는 제 3 트랜지스터, 제 4 트랜지스터, 제 5 트랜지스터 및 제 6 트랜지스터를 포함하고,
상기 제 1 트랜지스터의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 2 단자는 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 게이트 단자는 n 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 2 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 2 단자는 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 게이트 단자는 제 3 노드에 연결되고,
상기 제 3 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 4 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 2 단자는 수광소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인에 연결되고,
상기 제 5 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 2 단자는 접지되고, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 센싱 라인에 연결되고,
상기 제 6 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 2 단자는 출력 라인에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인에 연결되는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제 5 항에 있어서,
상기 화소 회로는,
제 7 트랜지스터, 제 8 트랜지스터, 제 9 트랜지스터, 제 10 트랜지스터, 캐패시터를 더 포함하고,
상기 제 7 트랜지스터의 제 1 단자는 초기화라인에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 게이트 단자는 n-1 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 8 트랜지스터의 제 1 단자는 초기화라인에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 자발광 소자의 아노드(anode) 단자에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n-1 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 9 트랜지스터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 게이트 단자는 에미션(emission)라인에 연결되고,
상기 제 10 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 10 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 자발광 소자의 아노드 단자에 연결되고, 상기 제 10 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 에미션 라인에 연결되고,
상기 캐패시터의 제 1 단자는 상기 전원에 연결되고, 상기 캐패시터의 제 2 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고,
상기 자발광 소자의 캐소드 단자 및 상기 수광 소자의 아노드 단자는 접지되는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제 6 항에 있어서,
상기 n-1 번째 스캔라인의 n-1 번째 스캔신호 및 상기 초기화라인으로부터의 초기화 신호에 기초하여, 상기 제 7 트랜지스터 및 상기 제 8 트랜지스터는 이전 프레임의 데이터를 리셋하고,
상기 n 번째 스캔라인의 n 번째 스캔신호에 기초하여, 상기 제 1 트랜지스터는 상기 제 1 노드에 데이터 신호를 인가하고, 상기 제 3 트랜지스터는 상기 제 2 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)을 보상하고,
상기 제 1 센싱 라인의 제 1 센싱 신호 및 상기 수광 소자에 의한 전류에 기초하여, 상기 제 4 트랜지스터는 상기 제 3 노드에 전압을 인가하고,
상기 제 2 트랜지스터의 소스 팔로워(Source Follower) 동작에 의하여 상기 제 3 노드에 인가된 전압을 상기 제 1 노드에 전달하고,
상기 제 2 센싱 라인의 제 2 센싱 신호에 기초하여, 상기 제 6 트랜지스터는 상기 제 1 노드의 전압을 출력 라인으로 출력하는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제 7 항에 있어서,
상기 수광 소자는 상기 자발광 소자에서 출력된 빛을 수신하여 전류를 생성하고,
상기 제 1 센싱 라인의 제 1 센싱 신호 및 상기 생성된 전류에 기초하여 상기 제 3 노드에 전압을 인가하고,
상기 제 2 트랜지스터의 소스 팔로워 동작에 의하여 상기 제 3 노드에 인가된 전압을 상기 제 1 노드에 전달하고,
상기 제 2 센싱 라인의 제 2 센싱 신호에 기초하여, 상기 제 6 트랜지스터는 상기 제 1 노드의 전압을 출력 라인으로 출력하는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제2항에 있어서,
상기 화소 회로는,
제 1 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터, 상기 보상 트랜지스터로 기능하는 제 3 트랜지스터, 제 4 트랜지스터, 제 5 트랜지스터, 제 6 트랜지스터, 제 1 캐패시터 및 제 2 캐패시터를 포함하고,
상기 제 1 트랜지스터의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 2 단자는 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 게이트 단자는 n 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 2 트랜지스터의 제 1 단자는 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 2 단자는 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 게이트 단자는 제 4 노드에 연결되고,
상기 제 3 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 4 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 단자는 n-1 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 4 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 2 단자는 수광 소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인에 연결되고,
상기 제 5 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 2 단자는 접지되고, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 센싱 라인에 연결되고,
상기 제 6 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 2 단자는 출력 라인에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인에 연결되고,
상기 제 1 캐패시터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 캐패시터의 제 2 단자는 상기 제 4 노드에 연결되고,
상기 제 2 캐패시터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 2 캐패시터의 제 2 단자는 접지되는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제 9 항에 있어서,
상기 화소 회로는,
제 7 트랜지스터, 제 8 트랜지스터, 제 9 트랜지스터를 더 포함하고,
상기 제 7 트랜지스터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 7 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 n-1 번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 8 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 전원에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 8 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 에미션(emission)라인에 연결되고,
상기 제 9 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 자발광 소자의 아노드 단자에 연결되고, 상기 제 9 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 에미션 라인에 연결되고,
상기 자발광 소자의 캐소드 단자 및 상기 수광 소자의 아노드 단자는 접지되는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제2항에 있어서,
상기 화소 회로는,
제 1 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터로 기능하는 제 2 트랜지스터, 제 3 트랜지스터, 제 4 트랜지스터, 및 제 5 트랜지스터를 포함하고,
상기 제 1 트랜지스터의 제 1 단자는 데이터라인에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 제 2 단자는 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 1 트랜지스터의 게이트 단자는 n번째 스캔라인에 연결되고,
상기 제 2 트랜지스터의 제 1 단자는 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 제 2 단자는 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고,
상기 제 3 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 제 2 단자는 수광 소자의 캐소드(Cathode) 단자에 연결되고, 상기 제 3 트랜지스터의 게이트 단자는 제 1 센싱(sensing) 라인에 연결되고,
상기 제 4 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 제 4 트랜지스터의 제 2 단자는 접지되고, 상기 제 4 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 제 1 센싱 라인에 연결되고,
상기 제 5 트랜지스터의 제 1 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 제 2 단자는 출력 라인에 연결되고, 상기 제 5 트랜지스터의 게이트 단자는 제 2 센싱 라인에 연결되는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 제11항에 있어서,
상기 화소 회로는,
제 6 트랜지스터, 캐패시터를 더 포함하고,
상기 제 6 트랜지스터의 제 1 단자는 전원(VDD)에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 제 2 단자는 상기 제 2 노드에 연결되고, 상기 제 6 트랜지스터의 게이트 단자는 에미션(emission)라인에 연결되고,
상기 캐패시터의 제 1 단자는 상기 전원에 연결되고, 상기 캐패시터의 제 2 단자는 상기 제 1 노드에 연결되고,
상기 자발광 소자의 아노드 단자는 상기 제 3 노드에 연결되고, 상기 자발광 소자의 캐소드 단자는 접지되고,
상기 수광 소자의 아노드 단자는 접지되는 것을 특징으로 하는 화소 회로. - 자발광 소자의 수명 보상 기능이 있는 화소 회로로서,
상기 화소 회로는 구동 트랜지스터에 의해 제어되는 구동 전류로 화상을 표시하는 자발광 소자; 및
상기 자발광 소자에서 출사된 광을 수광하여 광전류로 변환하는 수광소자; 를 포함하고,
상기 구동 트랜지스터는 상기 수광소자의 출력 전압을 상기 화소 회로의 출력 라인에 전달하는 버퍼(buffer)로서 기능하며,
상기 화소 회로는 상기 출력 라인으로 출력된 전압을 아날로그 신호에서 디지털 신호로 변환하고, 상기 디지털 신호를 자발광 소자의 밝기 데이터와 대조하고, 상기 대조 결과에 기초하여 상기 자발광 소자의 수명을 획득하고, 상기 대조 결과에 기초하여 상기 구동 트랜지스터에 인가할 전압을 보상하는 것을 특징으로 하는 화소 회로.
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