CN108762598B - 电磁触控检测方法及相关装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电磁触控检测方法及相关装置，通过控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流。由于该检测电流包括：有机发光二极管的感应电流和该有机发光二极管在点亮时的驱动电流，该感应电流为有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与磁场的磁感应强度相关的电流，从而可以根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流确定出电磁触控的位置，从而使有机发光显示面板既可以实现电磁触控功能又可以实现显示功能，进而可以使结构简单、简化制备工艺以及降低成本。

Description

电磁触控检测方法及相关装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种电磁触控检测方法、电磁触控检测装置、显示装置、计算机可读存储介质及计算机设备。
背景技术
随着显示技术的飞速发展，触摸屏(Touch Panel)已经逐渐遍及人们的生活中。与仅能提供显示功能的传统显示器相比较，使用触摸屏的显示器能够使用户与显示器之间进行信息交互，因此，触摸屏可以完全或者至少部分取代常用的输入装置，使得现有的显示器不仅能够显示还能触摸控制。常见的触摸屏分为电阻式触摸屏、电容式触摸屏及电磁式触摸屏等。其中，现有的电磁式触摸屏，一般是利用特定电磁笔发射磁场，使电磁式触控屏上的电磁感应线圈产生磁场变化，产生微弱电流，从而根据产生的微弱电流计算得到触控位置。然而，目前采用电磁式触摸屏的显示器通常采用外挂的方式将电磁式触摸屏设置在显示面板上，这样导致增加额外的制备工艺以及产生成本较高的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种电磁触控检测方法、电磁触控检测装置、显示装置、计算机可读存储介质及计算机设备，用以解决现有技术中采用触摸屏的显示器增加额外的制备工艺以及产生成本较高的问题。
因此，本发明实施例提供了一种电磁触控检测方法，包括：
控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流；其中，所述检测电流包括：所述有机发光二极管的感应电流和其在点亮时的驱动电流，所述感应电流为所述有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与所述磁场的磁感应强度相关的电流；
根据各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流，确定电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述确定电磁触控的位置，具体包括：
根据各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流，确定各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流之间的电流变化量；
针对每一所述有机发光二极管，在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，在所述确定电磁触控的位置之后，还包括：
根据确定出的电磁触控的位置，确定待显示图像的数据信号；
根据确定出的数据信号，控制所述有机发光显示面板进行显示。
在具体实施时，在本发明实施例中，在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置的同时，还包括：
根据所述电流变化量确定所述有机发光二极管感应到的磁场的磁感应强度的强弱；其中，所述电流变化量越大，所述磁感应强度越强；
所述确定待显示图像的数据信号，具体包括：
根据确定出的电磁触控的位置和所述磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述磁场发射装置包括电磁笔；所述根据确定出的电磁触控的位置和所述磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号，具体包括：
根据确定出的电磁触控的位置确定所述电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的所述磁场的磁感应强度的强弱，确定电磁笔的笔迹的粗细；
根据确定出的所述电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。
在具体实施时，在本发明实施例中，在控制一行有机发光二极管点亮时，向该行有机发光二极管的阴极施加正向导通电压，且向该行中各有机发光二极管的阳极分别施加对应的数据信号的电压，以及向其余行有机发光二极管的阴极施加反向截止电压。
相应地，本发明实施例还提供了一种电磁触控检测装置，包括：
驱动单元，用于控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮；
检测单元，用于实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流；其中，所述检测电流包括：所述有机发光二极管的感应电流和其在点亮时的驱动电流，所述感应电流为所述有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与所述磁场的磁感应强度相关的电流；
第一处理单元，用于根据各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流，确定电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述第一处理单元具体用于根据各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流，确定各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流之间的电流变化量；针对每一所述有机发光二极管，在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述电磁触控检测装置还包括：第二处理单元，用于根据确定出的电磁触控的位置，确定待显示图像的数据信号；
所述驱动单元还用于根据确定出的数据信号，控制所述有机发光显示面板进行显示。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述第一处理单元还用于在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置的同时，根据所述电流变化量确定所述有机发光二极管感应到的磁场的磁感应强度的强弱；其中，所述电流变化量越大，所述磁感应强度越强；
所述第二处理单元还用于根据确定出的电磁触控的位置和所述磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述第二处理单元具体用于根据确定出的电磁触控的位置确定所述电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的所述磁场的磁感应强度的强弱，确定电磁笔的笔迹的粗细；根据确定出的所述电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。
相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括：磁场发射装置、有机发光显示面板以及本发明实施例提供的电磁触控检测装置。
在具体实施时，在本发明实施例中，所述磁场发射装置包括电磁笔。
相应地，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的电磁触控检测方法的步骤。
相应地，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现本发明实施例提供的电磁触控检测方法的步骤。
本发明有益效果如下：
本发明实施例提供的电磁触控检测方法、电磁触控检测装置、显示装置、计算机可读存储介质及计算机设备，通过控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流。由于该检测电流包括：有机发光二极管的感应电流和该有机发光二极管在点亮时的驱动电流，该感应电流为有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与磁场的磁感应强度相关的电流，从而可以根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流确定出电磁触控的位置，从而使有机发光显示面板既可以实现电磁触控功能又可以实现显示功能，进而可以使结构简单、简化制备工艺以及降低成本。
附图说明
图1为本发明实施例提供的有机发光显示面板的俯视结构示意图；
图2为本发明实施例提供的有机发光显示面板的剖视结构示意图；
图3a为极化子对的能级示意图之一；
图3b为极化子对的能级示意图之二；
图4为电流相对变化量与不同磁感应强度的关系曲线图；
图5为本发明实施例提供的电磁触控检测方法的流程图；
图6为本发明实施例提供的电磁触控检测装置的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的电磁触控检测方法、电磁触控检测装置、显示装置、计算机可读存储介质及计算机设备的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。另外，附图中各层薄膜厚度、大小以及形状均不反映显示面板的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。
如图1和图2所示，有机发光显示面板可以包括：衬底基板100、位于衬底基板100上呈阵列排列的多个像素单元110，沿像素单元110的行方向延伸的栅线G_m(m为大于或等于1且小于或等于M的整数，M为有机发光显示面板中栅线的总数，图1以M＝4为例)，以及沿像素单元110的列方向延伸的数据线D_n(n为大于或等于1且小于或等于N的整数，N为有机发光显示面板中数据线的总数，图1以N＝6为例)。各像素单元110可以包括：多个子像素111。每个子像素111可以包括：有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode,OLED)。一行OLED的阴极与一条栅线G_m连接，1列OLED的阳极与一条数据线D_n连接，不同列OLED连接不同的数据线。优选地，本实施例提供的有机发光显示面板为被动式有机发光显示面板。当然，在具体实施时，也可以采用主动式有机发光显示面板，在此不作限定。
在具体实施时，如图2所示，OLED可以包括：依次设置于衬底基板100上的阳极1111、发光层1112以及阴极1113。进一步地，OLED还可以包括：位于阳极背离衬底基板一侧的空穴注入层，位于空穴注入层和发光层之间的空穴传输层，位于发光层与阴极之间的电子注入层。具体地，阳极的材料可以包括ITO。空穴注入层的材料可以包括CuPc，且其膜层厚度可以为15nm。空穴传输层的材料可以包括NPB，且其膜层厚度可以为60nm。发光层的材料可以包括：有机电致发光材料，例如Alq3，且其膜层厚度可以为80nm。电子注入层的材料可以包括LiF，且其膜层厚度可以为1nm。阴极的材料可以包括Al，且其膜层厚度可以为120nm。
在具体实施时，当给OLED的阳极和阴极分别施加电压时，使阳极和阴极之间形成电压差，则空穴和电子会进入有机电致发光材料中以进行复合形成极化子对，该极化子对具有单重态极化子对S和三重态极化子对T。三重态极化子对T又可分为T1、T0、T-1三种状态。其中，单重态极化子对S比三重态极化子对T具有更强的离子性，使得单重态极化子对S更容易解离为自由电荷并对驱动OLED发光的驱动电流产生贡献。当OLED所处环境中没有磁场(即磁感应强度B＝0)时，单重态极化子对S和三重态极化子对T的能级简并(即T1、T0、T-1能级重合)，如图3a所示，使得单重态极化子对S可以通过系间窜越向三重态极化子对T发生转化。而OLED所处环境中具有磁场(即磁感应强度B≠0)时，三重态极化子对T会发生塞曼分裂作用而生成T1、T0和T-1三个亚态，如图3b所示，在T1、T0和T-1三个亚态中，只有T0和单重态极化子对S的能量相接近，而T1和T-1相对于T0态引入了一个塞曼能，相当于在三重态的三个亚态之间引入了一个能级势垒，这样导致极化子对从S态向T1和T-1两个亚态的转化被抑制。并且，该能级势垒随磁感应强度的增大而增大。因此，与B＝0的情况相比，在B≠0时，单重态极化子对S向三重态极化子对T的系间窜越在有磁场的情况下变弱，从而导致单重态极化子对S向三重态极化子对T的转化受到抑制，导致单重态极化子对S的浓度增加，使得由单重态极化子对S分解的电子和空穴数目增多，从而使流经OLED的电流增大。因此，当OLED结构固定，并对OLED两电极施加的电压恒定，则电流变化量越大，磁感应强度越大。在具体实施时，磁感应强度B与电流变化量ΔI之间的对应关系可以通过检测设备进行检测得到，该检测结果可以如图4所示，图4代表OLED两电极之间的电压差为4V时，电流相对变化量
Figure BDA0001715548610000071
与不同磁感应强度的关系曲线图。在图4中，横坐标代表磁场的磁感应强度B，其正负代表磁场方向，纵坐标代表电流相对变化量
Figure BDA0001715548610000072
其中，I0代表OLED在点亮时的驱动电流。通过图4可以看出，
Figure BDA0001715548610000073
越大，对应的B越大，即ΔI越大，对应的B越大。
基于此，本发明实施例提供了一种电磁触控检测方法，如图5所示，可以包括如下步骤：
S501、控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流；其中，检测电流包括：有机发光二极管的感应电流和其在点亮时的驱动电流，感应电流为有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与磁场的磁感应强度相关的电流；
S502、根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流，确定电磁触控的位置。
本发明实施例提供的电磁触控检测方法，通过控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流。由于该检测电流包括：有机发光二极管的感应电流和该有机发光二极管在点亮时的驱动电流，该感应电流为有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与磁场的磁感应强度相关的电流，从而可以根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流确定出电磁触控的位置，从而使有机发光显示面板既可以实现电磁触控功能又可以实现显示功能，进而可以使结构简单、简化制备工艺以及降低成本。
在具体实施时，在本发明实施例中，在控制一行有机发光二极管点亮时，向该行有机发光二极管的阴极施加正向导通电压，且向该行中各有机发光二极管的阳极分别施加对应的数据信号的电压，以及向其余行有机发光二极管的阴极施加反向截止电压。具体地，结合图1所示，在控制第一行有机发光二极管点亮时，对栅线G_1加载正向导通电压，对栅线G_2～G_4加载反向截止电压，以使第一行有机发光二极管的阴极施加正向导通电压，第二至第四行有机发光二极管的阴极施加反向截止电压；并且，向数据线D_1～D_6分别加载对应的数据信号，以使第一行中各有机发光二极管的阳极分别施加对应的数据信号的电压，从而使第一行中各有机发光二极管点亮。同理，在控制第二行有机发光二极管点亮时，对栅线G_2加载正向导通电压，对栅线G_1、G_3、G_4加载反向截止电压，以使第二行有机发光二极管的阴极施加正向导通电压，第一、第三以及第四行有机发光二极管的阴极施加反向截止电压；并且，向数据线D_1～D_6分别加载对应的数据信号，以使第二行中各有机发光二极管的阳极分别施加对应的数据信号的电压，从而使第二行中各有机发光二极管点亮。同理，可以使第三与第四行中各有机发光二极管点亮，在此不作赘述。
在具体实施时，在本发明实施例中，各有机发光二极管的驱动电流可以是预先存储的。或者，各有机发光二极管的驱动电流也可以是采用如下方法得到的：根据分别加载于点亮的各OLED两电极的电压；由于加载于OLED两电极的电压是可以确定的，因此根据确定出的加载于OLED两电极的电压可以确定出OLED在点亮时的驱动电流。这样将确定出的驱动电流进行存储，以用于和获取到的检测电流进行对比以确定电磁触控的位置。
由于OLED在磁场作用下，流经其的电流会增加，在具体实施时，在本发明实施例中，确定电磁触控的位置，具体可以包括：
根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流，确定各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流之间的电流变化量；
针对每一有机发光二极管，在有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置。由于工艺制备和损耗等原因，使得有机发光二极管在点亮时的驱动电流不能完全不变，因此有机发光二极管在点亮时的驱动电流的变化量在误差允许范围之内时，即可以说明其驱动电流为定值。因此，预设阈值范围可以为0～ΔI0，该ΔI0为预设阈值，即在误差允许范围内有机发光二极管的驱动电流偏差的最大值。这样在有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，可以说明该有机发光二极管受到磁场作用而产生了感应电流，从而可以确定该有机发光二极管所在有机发光显示面板中的位置即为电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，在确定电磁触控的位置之后，还可以包括：
根据确定出的电磁触控的位置，确定待显示图像的数据信号；
根据确定出的数据信号，控制有机发光显示面板进行显示。这样可以通过电磁触控的位置，控制有机发光显示面板进行显示，使有机发光显示面板的电磁触控和显示实现一体化。
进一步地，在具体实施时，在本发明实施例中，在有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置的同时，还可以包括：
根据电流变化量确定有机发光二极管感应到的磁场的磁感应强度的强弱；其中，电流变化量越大，磁感应强度越强；
并且确定待显示图像的数据信号，具体可以包括：
根据确定出的电磁触控的位置和磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号。这样通过电流变化量确定磁感应强度的强弱，再根据电磁触控的位置和磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号从而可以使显示的图像效果提升。
进一步地，在具体实施时，磁场发射装置可以包括电磁笔，在本发明实施例中，根据确定出的电磁触控的位置和磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号，具体可以包括：
根据确定出的电磁触控的位置确定电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的磁场的磁感应强度的强弱，确定电磁笔的笔迹的粗细；
根据确定出的电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。一般电磁笔可以用来输入字体或进行绘图，这样通过确定电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，可以得到电磁笔描绘出的线条的轨迹和粗细，从而根据该轨迹和粗细进行显示，可以使有机发光显示面板显示的图像的效果提升。
下面通过具体实施例，对本发明实施例提供的电磁触控检测方法进行说明。但读者应知，其具体实施过程不局限于此。本发明实施例提供的电磁触控检测方法可以包括如下步骤：
(1)控制OLED逐行点亮，并实时获取流经点亮的OLED的检测电流I1。其中，I1＝I2+I3，I2代表OLED在点亮时的驱动电流，I3代表OLED的感应电流。
具体地，I3与OLED感应到的电磁笔发出的磁场相关，即在OLED感应到电磁笔发出的磁场时才会产生I3，在OLED未感应到电磁笔发出的磁场时则不会产生I3。
(2)根据各OLED的驱动电流I2和获取到的检测电流I1，确定各OLED的驱动电流和获取到的检测电流之间的电流变化量ΔI。
具体地，在OLED感应到电磁笔发出的磁场时，在误差允许范围之内可以有ΔI＝I3。在OLED未感应到电磁笔发出的磁场时，在误差允许范围之内可以有ΔI＝0。
(3)针对每一OLED，在一个OLED对应的电流变化量ΔI大于预设阈值ΔI0时，可以确定该OLED感应到电磁笔发出的磁场，即可以将该OLED所在位置确定为电磁触控的位置，以及可以根据该OLED对应的电流变化量ΔI确定该OLED感应到的磁场的磁感应强度的强弱。其中，电流变化量ΔI越大，则磁感应强度的越强。在一个OLED对应的电流变化量ΔI小于预设阈值ΔI0时，可以确定该OLED未感应到电磁笔发出的磁场，即可以将该OLED所在位置不是电磁触控的位置。
(4)根据确定出的电磁触控的位置可以确定电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的磁场的磁感应强度的强弱，确定电磁笔的笔迹的粗细。其中，磁感应强度的越强，对应的电磁笔的笔迹的可以越粗；反之，磁感应强度的越弱，对应的电磁笔的笔迹的可以越细。这样在通过电磁笔写字时，可以使写出的字出现加粗或变细的效果，从而提高标示性。或者在通过电磁笔绘画时，可以使电磁笔描绘出的图形出现加粗或变细，或使其描绘出的图形的颜色出现深浅的变化。
(5)根据确定出的电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。例如电磁笔写出的汉字为“你好”，则根据电磁笔写出的“你好”形成将要显示“你好”的图像的数据信号。或者，电磁笔进行绘画时，根据电磁笔描绘出的图形形成将要显示该图形的图像的数据信号。
(6)根据确定出的数据信号，控制有机发光显示面板进行显示。这样可以将“你好”或电磁笔描绘的图形显示在有机发光显示面板上，从而使有机发光显示面板既可以实现电磁触控功能又可以实现显示功能。
基于同一发明构思，本发明实施例提供一种电磁触控检测装置，如图6所示，可以包括：
驱动单元610，可以用于控制有机发光显示面板640中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮；
检测单元620，用于实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流；其中，检测电流包括：有机发光二极管的感应电流和其在点亮时的驱动电流，感应电流为有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与磁场的磁感应强度相关的电流；
第一处理单元630，可以用于根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流，确定电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，第一处理单元可以具体用于根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流，确定各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流之间的电流变化量；针对每一有机发光二极管，在有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置。
在具体实施时，在本发明实施例中，如图6所示，电磁触控检测装置还包括：第二处理单元650，用于根据确定出的电磁触控的位置，确定待显示图像的数据信号；
驱动单元610还用于根据确定出的数据信号，控制有机发光显示面板进行显示。
在具体实施时，在本发明实施例中，第一处理单元还用于在有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置的同时，根据电流变化量确定有机发光二极管感应到的磁场的磁感应强度的强弱；其中，电流变化量越大，磁感应强度越强；
第二处理单元还用于根据确定出的电磁触控的位置和磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号。
在具体实施时，在本发明实施例中，第二处理单元可以具体用于根据确定出的电磁触控的位置确定电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的磁场的磁感应强度的强弱，确定电磁笔的笔迹的粗细；根据确定出的电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。
在具体实施时，在本发明实施例中，驱动单元可以具体用于在控制一行有机发光二极管点亮时，向该行有机发光二极管的阴极施加正向导通电压，且向该行中各有机发光二极管的阳极分别施加对应的数据信号的电压，以及向其余行有机发光二极管的阴极施加反向截止电压。
在具体实施时，本发明实施例提供的电磁触控检测装置可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式，在此不作限定。
进一步地，在具体实施时，在本发明实施例中，驱动单元可以包括：显示驱动IC(Integrated Circuit，集成电路)；其中，显示驱动IC用于控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮。
进一步地，在具体实施时，在本发明实施例中，第一处理单元可以包括：第一触控驱动IC。第二处理单元可以包括：第二触控驱动IC。当然，也可以将第一触控驱动IC和第二触控驱动IC设置为一个触控驱动IC，以提高IC的集成度，进一步降低占用空间。
进一步地，在具体实施时，在本发明实施例中，检测单元可以包括电流检测电路。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种显示装置，如图7所示，可以包括：磁场发射装置710、有机发光显示面板720和本发明实施例提供的上述电磁触控检测装置。该显示装置解决问题的原理与前述电磁触控检测装置相似，因此该显示装置的实施可以参见前述电磁触控检测装置的实施，重复之处在此不再赘述。
在具体实施时，如图7所示，磁场发射装置710可以包括电磁笔。其中，电磁笔可以包括：压感装置、电磁体(Electromagnet)。其中，压感装置感应按压力度，传递不同强度信号到电磁体，电磁体根据信号产生相应强度的磁力。在实际应用中，电磁笔的结构可以与现有技术中的基本相同，在此不作赘述。
在具体实施时，本发明实施例提供的显示装置可以为：手机、平板电脑、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，并且该程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的上述任一种电磁触控检测方法的步骤。方法的步骤。具体地，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
在具体实施时，计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或数据存储设备，包括但不限于磁性存储器(例如软盘、硬盘、磁带、磁光盘(MO)等)、光学存储器(例如CD、DVD、BD、HVD等)、以及半导体存储器(例如ROM、EPROM、EEPROM、非易失性存储器(NAND FLASH)、固态硬盘(SSD))等。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时实现本发明实施例提供的上述任一种电磁触控检测方法的步骤。
在具体实施时，本发明实施例中的计算机设备还可以包括：输入设备与输出设备等，输入设备可以包括键盘、鼠标、触摸屏等，输出设备可以包括显示装置，如液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等。例如，该计算机设备可以为用于对本发明实施例提供的有机发光显示面板进行点亮检测的设置。
本发明实施例提供的电磁触控检测方法、电磁触控检测装置、显示装置、计算机可读存储介质及计算机设备，通过控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流。由于该检测电流包括：有机发光二极管的感应电流和该有机发光二极管在点亮时的驱动电流，该感应电流为有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与磁场的磁感应强度相关的电流，从而可以根据各有机发光二极管的驱动电流和获取到的检测电流确定出电磁触控的位置，从而使有机发光显示面板既可以实现电磁触控功能又可以实现显示功能，进而可以使结构简单、简化制备工艺以及降低成本。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (13)

1.一种电磁触控检测方法，其特征在于，包括：
控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮，并实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流；其中，所述检测电流包括：所述有机发光二极管的感应电流和其在点亮时的驱动电流，所述感应电流为所述有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与所述磁场的磁感应强度相关的电流；
根据各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流，确定各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流之间的电流变化量；
针对每一所述有机发光二极管，在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置；
所述预设阈值为在误差允许范围内所述有机发光二极管的驱动电流偏差的最大值。
2.如权利要求1所述的电磁触控检测方法，其特征在于，在所述确定电磁触控的位置之后，还包括：
根据确定出的电磁触控的位置，确定待显示图像的数据信号；
根据确定出的数据信号，控制所述有机发光显示面板进行显示。
3.如权利要求2所述的电磁触控检测方法，其特征在于，在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置的同时，还包括：
根据所述电流变化量确定所述有机发光二极管感应到的磁场的磁感应强度的强弱；其中，所述电流变化量越大，所述磁感应强度越强；
所述确定待显示图像的数据信号，具体包括：
根据确定出的电磁触控的位置和所述磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号。
4.如权利要求3所述的电磁触控检测方法，其特征在于，所述磁场发射装置包括电磁笔；
所述根据确定出的电磁触控的位置和所述磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号，具体包括：
根据确定出的电磁触控的位置确定所述电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的所述磁场的磁感应强度的强弱，确定电磁笔的笔迹的粗细；
根据确定出的所述电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。
5.如权利要求1-4任一项所述的电磁触控检测方法，其特征在于，在控制一行有机发光二极管点亮时，向该行有机发光二极管的阴极施加正向导通电压，且向该行中各有机发光二极管的阳极分别施加对应的数据信号的电压，以及向其余行有机发光二极管的阴极施加反向截止电压。
6.一种电磁触控检测装置，其特征在于，包括：
驱动单元，用于控制有机发光显示面板中呈阵列排布的有机发光二极管逐行点亮；
检测单元，用于实时获取流经点亮的有机发光二极管的检测电流；其中，所述检测电流包括：所述有机发光二极管的感应电流和其在点亮时的驱动电流，所述感应电流为所述有机发光二极管仅在感应到磁场发射装置发出的磁场时产生与所述磁场的磁感应强度相关的电流；
第一处理单元，用于根据各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流，确定各所述有机发光二极管的驱动电流和获取到的所述检测电流之间的电流变化量；针对每一所述有机发光二极管，在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置；所述预设阈值为在误差允许范围内所述有机发光二极管的驱动电流偏差的最大值。
7.如权利要求6所述的电磁触控检测装置，其特征在于，所述电磁触控检测装置还包括：第二处理单元，用于根据确定出的电磁触控的位置，确定待显示图像的数据信号；
所述驱动单元还用于根据确定出的数据信号，控制所述有机发光显示面板进行显示。
8.如权利要求7所述的电磁触控检测装置，其特征在于，所述第一处理单元还用于在所述有机发光二极管对应的电流变化量大于预设阈值时，将所述有机发光二极管所在位置确定为电磁触控的位置的同时，根据所述电流变化量确定所述有机发光二极管感应到的磁场的磁感应强度的强弱；其中，所述电流变化量越大，所述磁感应强度越强；
所述第二处理单元还用于根据确定出的电磁触控的位置和所述磁场的磁感应强度的强弱，确定待显示图像的数据信号。
9.如权利要求8所述的电磁触控检测装置，其特征在于，所述第二处理单元具体用于根据确定出的电磁触控的位置确定电磁笔的笔迹的轨迹，以及根据确定出的所述磁场的磁感应强度的强弱，确定所述电磁笔的笔迹的粗细；根据确定出的所述电磁笔的笔迹的轨迹和粗细，确定待显示图像的数据信号。
10.一种显示装置，其特征在于，包括：磁场发射装置、有机发光显示面板和如权利要求6-9任一项所述的电磁触控检测装置。
11.如权利要求10所述的显示装置，其特征在于，所述磁场发射装置包括电磁笔。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-5任一项所述的电磁触控检测方法的步骤。
13.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-5任一项所述的电磁触控检测方法的步骤。
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