KR20200076078A - Apparatus for inspecting cover glass - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a cover glass inspection apparatus. An object of the present invention is to provide the cover glass inspection apparatus capable of increasing inspection accuracy by determining whether or not an intrinsic defect is detected during a defect inspection of a cover glass. A first imaging machine acquires an image of the cover glass while descending step by step from the origin above the cover glass to be inspected. A second imaging machine descends step by step together with the first imaging machine and simultaneously acquires an image of the cover glass. A controller detects an uppermost position of the cover glass based the image information acquired by the second imaging machine. In addition, the controller determines whether or not there is an intrinsic defect by detecting a defective position of the cover glass based on detected uppermost position information of the cover glass and the image information acquired by the first imaging machine.

Description

커버 글라스 검사장치{Apparatus for inspecting cover glass}Cover glass inspection device {Apparatus for inspecting cover glass}

본 발명은 스마트폰 등에 사용되는 커버 글라스의 불량을 검사하는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to a technique for inspecting a defect in a cover glass used in a smartphone or the like.

커버 글라스는 스마트폰 등의 화면을 충격과 긁힘으로부터 보호하기 위해 화면의 가장 바깥쪽에 위치하는 제품이다. 스마트폰의 경우, 커버 글라스는 스마트폰 화면의 가장 바깥쪽에 위치하여 스마트폰의 디스플레이와 터치패널을 보호한다.Cover glass is a product located on the outermost side of the screen to protect the screen of a smartphone or the like from shock and scratches. In the case of a smartphone, the cover glass is located on the outermost side of the smartphone screen to protect the display and touch panel of the smartphone.

한편, 커버 글라스에 이물질 등에 의한 불량이 있게 되면, 불량으로 인해 화면 시야가 방해되어 화면 가시성이 떨어질 수 있다. 커버 글라스가 멀티??레이어(multi-layer)로 구성되는 경우, 불량은 커버 글라스의 표면뿐 아니라 커버 글라스의 내부에 위치되기도 한다.On the other hand, if there is a defect due to a foreign material or the like in the cover glass, the screen visibility may be disturbed due to the defect, and the screen visibility may deteriorate. When the cover glass is composed of a multi-layer, defects are located not only on the surface of the cover glass, but also on the inside of the cover glass.

커버 글라스의 표면 불량은 표면 가공 등을 통해 쉽게 보수될 수 있으므로 가성 불량으로 분류할 수 있고, 커버 글라스의 내부 불량은 보수될 수 없으므로 진성 불량으로 분류할 수 있다. 따라서, 커버 글라스에 대한 불량 검사시, 불량 위치를 확인하여 진성 불량 여부를 판정할 필요가 있다.The surface defects of the cover glass can be easily repaired through surface treatment, and thus can be classified as a caustic defect, and the internal defects of the cover glass cannot be repaired, so it can be classified as an intrinsic defect. Therefore, it is necessary to determine whether the authenticity is defective by checking the defect position during the defect inspection on the cover glass.

본 발명의 과제는 커버 글라스에 대한 불량 검사시 진성 불량 여부를 판정하여 검사 정확도를 높일 수 있는 커버 글라스 검사장치를 제공함에 있다.An object of the present invention is to provide a cover glass inspection device capable of increasing inspection accuracy by determining whether or not an intrinsic defect is detected during a defect inspection on the cover glass.

상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 커버 글라스 검사장치는 제1 촬상기기와, 제2 촬상기기, 및 컨트롤러를 포함한다. 제1 촬상기기는 검사대상인 커버 글라스의 상방에서 원점으로부터 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스에 대한 영상을 획득한다. 제2 촬상기기는 제1 촬상기기와 함께 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스에 대한 영상을 동시에 획득한다. 컨트롤러는 제2 촬상기기에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 커버 글라스의 최상단 위치를 검출하고, 검출된 커버 글라스의 최상단 위치 정보와 제1 촬상기기에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 커버 글라스의 불량 위치를 검출하여 진성 불량 여부를 판정한다.The cover glass inspection apparatus according to the present invention for achieving the above object includes a first imaging device, a second imaging device, and a controller. The first imaging device acquires an image of the cover glass while descending in step units from the origin from the top of the cover glass to be inspected. The second imaging device simultaneously acquires an image for the cover glass while descending in step units with the first imaging device. The controller detects the topmost position of the cover glass based on the image information obtained by the second imaging device, and the defect of the cover glass based on the detected topmost position information of the cover glass and the image information obtained by the first imaging device The position is detected to determine whether authenticity is defective.

여기서, 컨트롤러는 제1 촬상기기에 의해 획득된 영상에 순번을 부여하고, 커버 글라스의 불량 부위에 대한 선명도가 가장 높은 영상 번호로부터 커버 글라스의 최상단 위치에서 획득된 영상 번호를 뺀 값에 스텝 값을 곱해서 불량 위치를 검출할 수 있다.Here, the controller gives a sequence number to the image obtained by the first imaging device, and a step value is obtained by subtracting the image number obtained at the uppermost position of the cover glass from the image number with the highest clarity for the defective portion of the cover glass. The defective position can be detected by multiplying.

제1 촬상기기는 커버 글라스의 상방에서 커버 글라스를 조명하는 제1 조명기와, 제1 조명기에 의해 조명된 커버 글라스에 대한 영상을 획득하는 제1 카메라를 포함할 수 있다. 제2 촬상기기는 커버 글라스의 측방에서 커버 글라스를 조명하는 제2 조명기와, 제2 조명기에 의해 조명된 커버 글라스에 대한 영상을 획득하는 제2 카메라를 포함할 수 있다.The first imaging device may include a first illuminator illuminating the cover glass from above the cover glass, and a first camera acquiring an image of the cover glass illuminated by the first illuminator. The second imaging device may include a second illuminator illuminating the cover glass on the side of the cover glass, and a second camera acquiring an image of the cover glass illuminated by the second illuminator.

본 발명에 따르면, 커버 글라스에 대한 불량 검사시 진성 불량인지 혹은 가성 불량인지 여부를 판정하여 불량 종류를 분류할 수 있으므로, 커버 글라스에 대한 검사 정확도를 높일 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to classify a defect type by determining whether it is an intrinsic defect or a false-positive defect when inspecting a defect in the cover glass, thereby improving the inspection accuracy of the cover glass.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 커버 글라스 검사장치에 대한 구성도이다.
도 2는 제1 촬상기기 및 제2 촬상기기가 원점 위치에 대기한 상태를 도시한 도면이다.
도 3은 제2 촬상기기가 하강해서 커버 글라스의 최상단 위치를 검출한 상태를 도시한 도면이다.
도 4는 제1 촬상기기가 하강해서 커버 글라스의 불량 위치를 검출한 상태를 도시한 도면이다.
도 5는 제1 촬상기기가 도 2 내지 도 4의 각 위치에서 획득한 영상을 나타낸 도면이다.
도 6은 제2 촬상기기가 도 2 내지 도 4의 각 위치에서 획득한 영상을 나타낸 도면이다.1 is a configuration diagram for a cover glass inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a state in which the first imaging device and the second imaging device stand by at the home position.
3 is a view showing a state in which the second imaging device descends and the uppermost position of the cover glass is detected.
4 is a view showing a state in which the first imaging device descends and the defective position of the cover glass is detected.
5 is a view showing an image acquired by the first imaging device at each position in FIGS. 2 to 4.
6 is a view showing an image acquired by the second imaging device at each position of FIGS. 2 to 4.

본 발명에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 여기서, 동일한 구성에 대해서는 동일부호를 사용하며, 반복되는 설명, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다. 본 발명의 실시형태는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.If described in detail with reference to the accompanying drawings for the present invention. Here, the same reference numerals are used for the same components, and repeated descriptions and detailed descriptions of well-known functions and components that may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention are omitted. Embodiments of the present invention are provided to more fully describe the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape and size of elements in the drawings may be exaggerated for a clearer explanation.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 커버 글라스 검사장치에 대한 구성도이다. 도 2는 제1 촬상기기 및 제2 촬상기기가 원점 위치에 대기한 상태를 도시한 도면이다. 도 3은 제2 촬상기기가 하강해서 커버 글라스의 최상단 위치를 검출한 상태를 도시한 도면이다. 도 4는 제1 촬상기기가 하강해서 커버 글라스의 불량 위치를 검출한 상태를 도시한 도면이다. 도 5는 제1 촬상기기가 도 2 내지 도 4의 각 위치에서 획득한 영상을 나타낸 도면이다. 도 6은 제2 촬상기기가 도 2 내지 도 4의 각 위치에서 획득한 영상을 나타낸 도면이다.1 is a configuration diagram for a cover glass inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 2 is a view showing a state in which the first imaging device and the second imaging device stand by at the home position. 3 is a view showing a state in which the second imaging device descends and the uppermost position of the cover glass is detected. 4 is a view showing a state in which the first imaging device descends and the defective position of the cover glass is detected. 5 is a view showing an image acquired by the first imaging device at each position in FIGS. 2 to 4. 6 is a view showing an image acquired by the second imaging device at each position in FIGS. 2 to 4.

도 1 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 커버 글라스 검사장치(100)는 제1 촬상기기(110)와, 제2 촬상기기(120), 및 컨트롤러(130)를 포함한다.1 to 6, the cover glass inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes a first imaging device 110, a second imaging device 120, and a controller 130 .

제1 촬상기기(110)는 검사대상인 커버 글라스(10)의 상방에서 원점으로부터 스텝(step) 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득한다. 제1 촬상기기(110)는 도 5에 도시된 바와 같이, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11) 상방에서 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 포커싱이 가장 잘된 영상, 즉 선명도가 가장 높은 영상을 획득하여 컨트롤러(130)로 제공할 수 있게 한다.The first imaging device 110 acquires an image of the cover glass 10 while descending in steps of a step from the origin from the top of the cover glass 10 to be inspected. As illustrated in FIG. 5, the first imaging device 110 focuses on the defective portion 11 of the cover glass 10 while descending in step units from the defective portion 11 of the cover glass 10. A well-established image, that is, an image having the highest clarity is acquired and provided to the controller 130.

커버 글라스(10)가 스테이지(101)의 수평면 상에 안착되어 위치 고정된 상태에서, 제1 촬상기기(110)가 승강 기구(102)에 의해 승강 동작할 수 있다. 제1 촬상기기(110)는 승강 기구(102)에 의해 원점으로 상승한 상태에서 원점으로부터 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득할 수 있다.In a state in which the cover glass 10 is seated on the horizontal surface of the stage 101 and is fixed in position, the first imaging device 110 may move up and down by the lifting mechanism 102. The first imaging device 110 may acquire an image of the cover glass 10 while descending in steps of the origin from the origin in a state where it is raised to the origin by the lifting mechanism 102.

여기서, 스텝 값은 제1 촬상기기(110)의 초점심도(depth of focus)보다 크게 설정될 수 있다. 초점심도는 렌즈의 광축에 따라 물체의 위치를 바꾸었을 때 초점을 맞춘 채로 움직일 수 있는 범위로서, 선명한 상을 찍을 수 있는 거리의 의미이다. 따라서, 제1 촬상기기(110)는 스텝마다 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대해 포커싱된 영상을 획득할 수 있게 된다. 제1 촬상기기(110)의 하사점은 커버 글라스(110)의 최하단에 대한 영상까지 획득하도록 설정될 수 있다.Here, the step value may be set larger than a depth of focus of the first imaging device 110. Depth of focus is the range that can be moved while focusing when the position of an object is changed according to the optical axis of the lens. Therefore, the first imaging device 110 can acquire a focused image of the defective portion 11 of the cover glass 10 for each step. The bottom dead center of the first imaging device 110 may be set to acquire an image of the bottom of the cover glass 110.

승강 기구(102)는 압전 액추에이터 등과 같은 리니어 액추에이터로 이루어질 수 있다. 스테이지(101)는 수평 이동 기구(미도시)에 의해 수평 이동함에 따라 커버 글라스(10)를 수평 이동시킬 수 있다. 따라서, 제1 촬상기기(110)는 커버 글라스(10)에 대해 수평으로 상대 이동하면서 스캐닝함으로써, 커버 글라스(10)의 불량 부위를 미리 검출할 수 있다. 물론, 스테이지(101)가 위치 고정된 상태에서 제1 촬상기기(110)가 수평 이동할 수도 있다.The lifting mechanism 102 may be made of a linear actuator such as a piezoelectric actuator. The stage 101 may horizontally move the cover glass 10 as it is horizontally moved by a horizontal movement mechanism (not shown). Therefore, the first imaging device 110 can detect a defective portion of the cover glass 10 in advance by scanning while horizontally moving relative to the cover glass 10. Of course, the first imaging device 110 may move horizontally while the stage 101 is fixed.

일 예로, 제1 촬상기기(110)는 커버 글라스(10)의 상방에서 커버 글라스(10)를 조명하는 제1 조명기(111)와, 제1 조명기(111)에 의해 조명된 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득하는 제1 카메라(116)를 포함할 수 있다.For example, the first imaging device 110 includes a first illuminator 111 illuminating the cover glass 10 from above the cover glass 10 and a cover glass 10 illuminated by the first illuminator 111 It may include a first camera 116 for obtaining an image for.

제1 조명기(111)는 광원(112)과, 미러(113a), 및 빔 스플리터(113b)를 구비할 수 있다. 광원(112)은 LED(light emitting diode)로 이루어질 수 있다. 광원(112)은 커버 글라스(10)의 상면에 수직한 방향으로 광을 조사하도록 배치될 수 있다. 미러(113a)는 광원(112)으로부터 출사된 광을 빔 스플리터(113b)로 전달한다. 빔 스플리터(113b)는 광을 반사시켜 커버 글라스(10)를 상방에서 조명하고, 커버 글라스(10)로부터 반사된 광을 투과시켜 제1 카메라(116)로 전달할 수 있다.The first illuminator 111 may include a light source 112, a mirror 113a, and a beam splitter 113b. The light source 112 may be made of a light emitting diode (LED). The light source 112 may be arranged to irradiate light in a direction perpendicular to the top surface of the cover glass 10. The mirror 113a transmits light emitted from the light source 112 to the beam splitter 113b. The beam splitter 113b reflects light to illuminate the cover glass 10 from above, and transmits the reflected light from the cover glass 10 to the first camera 116.

제1 촬상기기(110)는 커버 글라스(10)로부터 반사된 광을 대물 렌즈(114)와 튜브 렌즈(tube lens, 115)를 거쳐 제1 카메라(116)로 전달될 수 있다. 대물 렌즈(114)는 근적외선용 대물 렌즈로 이루어져, 가시광선 대역에서 근적외선 대역까지 색수차를 보정할 수 있다. 튜브 렌즈(115)는 대물 렌즈(114)와 함께 배율을 결정하고 수차를 보정할 수 있다. 예컨대, 튜브 렌즈(115)는 0.75배율을 가질 수 있고, 대물 렌즈(114)는 10배율을 가질 수 있다. 즉, 제1 촬상기기(110)는 현미경 광학계를 포함하여, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 영상 정보를 획득할 수 있다.The first imaging device 110 may transmit light reflected from the cover glass 10 to the first camera 116 through the objective lens 114 and the tube lens 115. The objective lens 114 is composed of an objective lens for near-infrared rays, and can correct chromatic aberration from the visible light band to the near infrared band. The tube lens 115 may determine the magnification and correct the aberration together with the objective lens 114. For example, the tube lens 115 may have a 0.75 magnification, and the objective lens 114 may have a 10 magnification. That is, the first imaging device 110 may acquire image information on the defective portion 11 of the cover glass 10, including the microscope optical system.

제2 촬상기기(120)는 제1 촬상기기(110)와 함께 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 동시에 획득한다. 제2 촬상기기(120)는 도 6에 도시된 바와 같이, 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)의 최상단 위치 정보를 컨트롤러(130)로 제공할 수 있게 한다. 제2 촬상기기(120)는 제1 촬상기기(100)와 함께 승강 지지체에 고정되어 승강 기구(102)에 의해 승강 동작할 수 있다.The second imaging device 120 simultaneously acquires an image for the cover glass 10 while descending in step units with the first imaging device 110. As shown in FIG. 6, the second imaging device 120 descends in units of steps and provides the topmost position information of the cover glass 10 to the controller 130. The second imaging device 120 is fixed to the lifting support together with the first imaging device 100 to be moved up and down by the lifting mechanism 102.

예컨대, 제2 촬상기기(120)는 커버 글라스(10)의 측방에서 커버 글라스(100)를 조명하는 제2 조명기(121)와, 제2 조명기(121)에 의해 조명된 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득하는 제2 카메라(126)를 포함할 수 있다. 제2 조명기(121)는 커버 글라스(10)의 상면에 대해 경사진 각도로 광을 조사할 수 있다. 제2 조명기(121)는 레이저 광원 또는 LED 광원을 포함하여, 라인 빔 형태의 광을 조사하도록 구성될 수 있다. 즉, 제2 촬상기기(120)는 광삼각법 광학계를 포함하여 커버 글라스(10)의 최상단 위치 정보를 획득할 수 있다.For example, the second imaging device 120 includes a second illuminator 121 illuminating the cover glass 100 from the side of the cover glass 10 and a cover glass 10 illuminated by the second illuminator 121. It may include a second camera 126 for acquiring an image for. The second illuminator 121 may irradiate light at an angle inclined with respect to the top surface of the cover glass 10. The second illuminator 121 may be configured to irradiate light in the form of a line beam, including a laser light source or an LED light source. That is, the second imaging device 120 may acquire the topmost position information of the cover glass 10, including the optical triangulation optical system.

컨트롤러(130)는 제2 촬상기기(120)에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 커버 글라스(10)의 최상단 위치를 검출하고, 검출된 커버 글라스(10)의 최상단 위치 정보와 제1 촬상기기(110)에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 커버 글라스(10)의 불량 위치를 검출하여 진성 불량 여부를 판정한다.The controller 130 detects the topmost position of the cover glass 10 based on the image information obtained by the second imaging device 120, and detects the topmost positional information of the detected cover glass 10 and the first imaging device ( Based on the image information obtained by 110), the defective position of the cover glass 10 is detected to determine whether the authenticity is defective.

예컨대, 컨트롤러(130)는 제1 촬상기기(110)에 의해 획득된 영상에 순번을 부여하고, 커버 글라스(10)의 불량 부위에 대한 선명도가 가장 높은 영상 번호로부터 커버 글라스(10)의 최상단 위치에서 획득된 영상 번호를 뺀 값에 스텝 값을 곱해서 불량 위치를 검출할 수 있다.For example, the controller 130 gives a sequence number to the image obtained by the first imaging device 110, and the topmost position of the cover glass 10 from the image number with the highest clarity for the defective portion of the cover glass 10 The defective position can be detected by multiplying the value obtained by subtracting the image number from the step value.

즉, 컨트롤러(130)는 하기 수학식 1에 의해 커버 글라스(10)의 최상단 위치를 기준으로 커버 글라스의 불량 위치를 검출할 수 있다.That is, the controller 130 may detect a defective position of the cover glass based on the topmost position of the cover glass 10 by Equation 1 below.

Figure pat00001
Figure pat00001

여기서, N번째 영상 번호는 커버 글라스(10)의 최상단 위치에서 획득된 영상으로부터 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상까지 순서대로 매겨진 번호에 해당한다.Here, the N-th image number corresponds to a number sequentially numbered from the image obtained at the uppermost position of the cover glass 10 to the image having the highest clarity for the defective portion 11 of the cover glass 10.

컨트롤러(130)는 제2 촬상기기(120)가 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득하는 과정에서, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 제2 조명기(121)로부터 커버 글라스(10)를 거쳐 반사된 광이 제2 카메라(126)의 설정 영역에 감지되는 시점의 위치를 커버 글라스(10)의 최상단 위치로 판단할 수 있다. 제2 카메라(126)의 설정 영역은 제2 카메라(126)의 촬상 부위 중앙 영역에 해당할 수 있으나, 예시된 바에 한정되지 않는다. 컨트롤러(130)는 커버 글라스(10)의 최상단 위치에서 제1 촬상기기(110)에 의해 획득된 영상 번호를 메모리에 저장할 수 있다.The controller 130 in the process of acquiring the image for the cover glass 10 while the second imaging device 120 descends in units of steps, as shown in (b) of FIG. 6, the second illuminator 121 The position of the point in time when light reflected through the cover glass 10 is sensed in the setting area of the second camera 126 may be determined as the uppermost position of the cover glass 10. The setting area of the second camera 126 may correspond to the central area of the imaging area of the second camera 126, but is not limited to the illustrated example. The controller 130 may store the image number obtained by the first imaging device 110 in the memory at the uppermost position of the cover glass 10.

컨트롤러(130)는 제1 촬상기기(110)가 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득하는 과정에서, 도 5의 (c)에 도시된 바와 같이, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택하여 그 영상 번호를 메모리에 저장할 수 있다.The controller 130 in the process of acquiring an image for the cover glass 10 while the first imaging device 110 descends in steps, as shown in (c) of FIG. 5, The image with the highest clarity for the defective portion 11 may be selected and the image number may be stored in the memory.

여기서, 컨트롤러(130)는 공간 상에서 경계(edge)의 퍼짐 정도를 측정하여 선명도를 추정하는 이미지 경계 기반 기법(edge-based methods)이나, 주파수 분포를 측정하여 선명도를 추정하는 주파수 기반 기법(spectral-based methods) 등을 이용하여, 제1 촬상기기(110)에 의해 스텝마다 획득된 영상들을 비교함으로써, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택할 수 있다.Here, the controller 130 is an image edge-based method for estimating sharpness by measuring a degree of spread of an edge in space, or a frequency-based method for estimating sharpness by measuring a frequency distribution (spectral- based methods) or the like, by comparing the images obtained for each step by the first imaging device 110, it is possible to select the image having the highest clarity for the defective portion 11 of the cover glass 10.

따라서, 컨트롤러(130)는 상기 수학식 1에 의해 커버 글라스(10)의 불량 위치를 검출할 수 있다. 컨트롤러(130)는 검출된 불량 위치가 커버 글라스(10)의 최상단과 최하단 사이에, 즉 커버 글라스(10)의 내부에 위치하는 것으로 판단되면, 진성 불량으로 판정하게 된다. 컨트롤러(130)는 검출된 불량 위치가 커버 글라스(10)의 최상단 또는 최하단, 즉 커버 글라스(10)의 표면에 위치하는 것으로 판단되면, 가성 불량으로 판정하게 된다.Therefore, the controller 130 may detect a defective position of the cover glass 10 by Equation 1 above. If it is determined that the detected defective position is located between the uppermost and lowermost ends of the cover glass 10, that is, inside the cover glass 10, the controller 130 determines that the defect is intrinsic. If the controller 130 determines that the detected defective position is located on the top or bottom of the cover glass 10, that is, on the surface of the cover glass 10, it is determined as a false positive.

전술한 커버 글라스 검사장치(100)에 의해 커버 글라스(10)의 불량을 검사하는 방법을 설명하면 다음과 같다.The method of inspecting the defect of the cover glass 10 by the above-described cover glass inspection apparatus 100 will be described.

먼저, 제1 촬상기기(110)는 도 2에 도시된 바와 같이, 원점 높이에서 커버 글라스(10)에 대해 수평으로 상대 이동하면서 스캐닝함으로써, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)를 미리 검출할 수 있다. 이때, 컨트롤러(130)는 제1 촬상기기(110)에 의해 스캐닝되어 획득된 영상을 기준 영상과 비교하여 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)를 검출할 수 있다.First, as shown in FIG. 2, the first imaging device 110 detects a defective portion 11 of the cover glass 10 in advance by scanning while moving horizontally relative to the cover glass 10 at the origin height. can do. At this time, the controller 130 may detect the defective portion 11 of the cover glass 10 by comparing the image obtained by scanning by the first imaging device 110 with the reference image.

커버 글라스(10)의 불량 부위(11)가 검출되면, 제1 촬상기기(110)는 도 3에 도시된 바와 같이, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11) 상방에서 원점으로부터 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득한다. 이와 동시에, 제2 촬상기기(120)는 제1 촬상기기(110)와 함께 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득한다.When the defective portion 11 of the cover glass 10 is detected, the first imaging device 110 descends from the origin in step units from above the defective portion 11 of the cover glass 10, as shown in FIG. While obtaining an image for the cover glass (10). At the same time, the second imaging device 120 acquires an image of the cover glass 10 while descending in step units with the first imaging device 110.

이 과정에서, 컨트롤러(130)는 제2 촬상기기(120)에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 커버 글라스(10)의 최상단 위치를 검출한다. 이때, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 컨트롤러(130)는 제2 조명기(121)로부터 커버 글라스(10)를 거쳐 반사된 광이 제2 카메라(126)의 설정 영역에 감지되는 시점의 위치를 커버 글라스(10)의 최상단 위치로 판단하고, 커버 글라스(10)의 최상단 위치에서 제1 촬상기기(110)에 의해 획득된 영상 번호를 메모리에 저장할 수 있다.In this process, the controller 130 detects the uppermost position of the cover glass 10 based on the image information acquired by the second imaging device 120. At this time, as shown in Figure 6 (b), the controller 130 is the time when the light reflected from the second illuminator 121 through the cover glass 10 is sensed in the set region of the second camera 126 It is possible to determine the position of the topmost position of the cover glass 10, and store the image number obtained by the first imaging device 110 in the topmost position of the cover glass 10 in a memory.

도 4에 도시된 바와 같이, 제1 촬상기기(110)는 계속해서 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득하게 된다. 제1 촬상기기(110)는 커버 글라스(10)의 최하단 위치까지 하강해서 커버 글라스(10)에 대한 영상을 획득할 수 있다. 이 과정에서, 컨트롤러(130)는 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택할 수 있다. 이때, 컨트롤러(130)는 도 5의 (c)에 도시된 바와 같이, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상 번호를 메모리에 저장할 수 있다.As shown in FIG. 4, the first imaging device 110 continuously descends in units of steps to acquire an image of the cover glass 10. The first imaging device 110 may descend to the lowest position of the cover glass 10 to obtain an image of the cover glass 10. In this process, the controller 130 may select an image having the highest clarity for the defective portion 11 of the cover glass 10. At this time, the controller 130, as shown in Figure 5 (c), can store the image number with the highest clarity for the defective portion 11 of the cover glass 10 in the memory.

이어서, 컨트롤러(130)는 메모리로부터 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상 번호와 커버 글라스(10)의 최상단 위치에서 획득된 영상 번호를 읽어 들인 후, 커버 글라스(10)의 불량 부위(11)에 대한 선명도가 가장 높은 영상 번호로부터 커버 글라스(10)의 최상단 위치에서 획득된 영상 번호를 뺀 값에 스텝 값을 곱해서 불량 위치를 검출할 수 있다.Subsequently, the controller 130 reads the image number with the highest clarity for the defective portion 11 of the cover glass 10 from the memory and the image number obtained at the uppermost position of the cover glass 10, and then the cover glass ( The defective position can be detected by multiplying the value obtained by subtracting the image number obtained from the uppermost position of the cover glass 10 from the image number with the highest clarity for the defective portion 11 of 10).

이어서, 컨트롤러(130)는 검출된 불량 위치가 커버 글라스(10)의 최상단과 최하단 사이, 즉 커버 글라스(10)의 내부에 위치하는 것으로 판단되면, 진성 불량으로 판정하게 된다. 컨트롤러(130)는 검출된 불량 위치가 커버 글라스(10)의 최상단 또는 최하단, 즉 커버 글라스(10)의 표면에 위치하는 것으로 판단되면, 가성 불량으로 판정하게 된다.Subsequently, if it is determined that the detected defective position is located between the uppermost and lowermost ends of the cover glass 10, that is, inside the cover glass 10, it is determined as an intrinsic defect. If the controller 130 determines that the detected defective position is located on the top or bottom of the cover glass 10, that is, on the surface of the cover glass 10, it is determined as a false positive.

이와 같이, 커버 글라스 검사장치(100)는 커버 글라스(10)에 대한 불량 검사시 진성 불량인지 혹은 가성 불량인지 여부를 판정하여 불량 종류를 분류할 수 있으므로, 커버 글라스(10)에 대한 검사 정확도를 높일 수 있게 된다.As described above, the cover glass inspection apparatus 100 may classify a defect type by determining whether the cover glass 10 is intrinsic or false or false when inspecting the cover glass 10, so the inspection accuracy of the cover glass 10 can be classified. Can be increased.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다. The present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, but this is merely exemplary, and those skilled in the art can understand that various modifications and other equivalent embodiments are possible therefrom. Will be able to. Therefore, the true protection scope of the present invention should be defined only by the appended claims.

10..커버 글라스 11..불량 부위
110..제1 촬상기기 111..제1 조명기
116..제1 카메라 120..제2 촬상기기
121..제2 조명기 126..제2 카메라
130..컨트롤러10..Cover glass 11..Poor parts
110..First imaging device 111..First illuminator
116..first camera 120..second imaging device
121..Second fixture 126..Second camera
130..Controller

Claims (3)

검사대상인 커버 글라스의 상방에서 원점으로부터 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스에 대한 영상을 획득하는 제1 촬상기기;
상기 제1 촬상기기와 함께 스텝 단위로 하강하면서 커버 글라스에 대한 영상을 동시에 획득하는 제2 촬상기기; 및
상기 제2 촬상기기에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 상기 커버 글라스의 최상단 위치를 검출하고, 검출된 커버 글라스의 최상단 위치 정보와 상기 제1 촬상기기에 의해 획득된 영상 정보를 기초로 커버 글라스의 불량 위치를 검출하여 진성 불량 여부를 판정하는 컨트롤러;
를 포함하는 커버 글라스 검사장치.A first imaging device for acquiring an image of the cover glass while descending in steps of an origin from the origin above the cover glass to be inspected;
A second imaging device for simultaneously acquiring an image of the cover glass while descending in step units with the first imaging device; And
The uppermost position of the cover glass is detected based on the image information obtained by the second imaging device, and the uppermost position information of the detected cover glass and the image information obtained by the first imaging device A controller that detects a defective position and determines whether or not it is intrinsic;
Cover glass inspection device comprising a. 제1항에 있어서,
상기 컨트롤러는,
상기 제1 촬상기기에 의해 획득된 영상에 순번을 부여하고, 커버 글라스의 불량 부위에 대한 선명도가 가장 높은 영상 번호로부터 커버 글라스의 최상단 위치에서 획득된 영상 번호를 뺀 값에 스텝 값을 곱해서 불량 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 검사장치.According to claim 1,
The controller,
Defective position is obtained by multiplying the value obtained by subtracting the image number obtained from the topmost position of the cover glass from the image number with the highest clarity for the defective part of the cover glass, and then giving the sequence number to the image obtained by the first imaging device. Cover glass inspection device characterized in that it detects. 제1항에 있어서,
상기 제1 촬상기기는,
커버 글라스의 상방에서 커버 글라스를 조명하는 제1 조명기와, 상기 제1 조명기에 의해 조명된 커버 글라스에 대한 영상을 획득하는 제1 카메라를 포함하며;
상기 제2 촬상기기는,
커버 글라스의 측방에서 커버 글라스를 조명하는 제2 조명기와, 상기 제2 조명기에 의해 조명된 커버 글라스에 대한 영상을 획득하는 제2 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 검사장치.According to claim 1,
The first imaging device,
A first illuminator illuminating the cover glass from above the cover glass, and a first camera acquiring an image of the cover glass illuminated by the first illuminator;
The second imaging device,
And a second illuminator illuminating the cover glass from a side of the cover glass, and a second camera acquiring an image of the cover glass illuminated by the second illuminator.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102386098B1 (en) * 2021-10-27 2022-04-14 (주)메티스 Inspection apparatus of glass transmissivity using optical lens
KR102350996B1 (en) * 2021-10-27 2022-01-14 (주)메티스 Inspection apparatus for particle of glass using optical lens

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100093213A (en) * 2009-02-16 2010-08-25 유근홍 System for inspecting defects on glass substrate using contrast value, and method of the same
KR20130030686A (en) * 2011-09-19 2013-03-27 삼성전자주식회사 Auto focusing apparatus for optical microscope
KR101485425B1 (en) * 2013-09-04 2015-01-22 주식회사 엠티엠 Cover-glass Analysis Apparatus
KR20180020046A (en) * 2016-08-17 2018-02-27 주식회사 엠티엠 Multi-angle cover glass analysis apparatus

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100535569B1 (en) * 2003-05-31 2005-12-08 삼성코닝정밀유리 주식회사 Method for detecting the position of the depth direction of the defect of a glass substrate
KR101033855B1 (en) * 2010-09-02 2011-05-16 노바테크 (주) System of 2d code detection and thickness measurement for glass substrate, and method of the same
TW201441604A (en) * 2013-04-25 2014-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method for detecting shape flaw
CN105269154B (en) * 2014-06-05 2017-07-21 大族激光科技产业集团股份有限公司 A kind of precise laser cutting head hunting gear and its control method
CN104764399A (en) * 2014-12-31 2015-07-08 广东万濠精密仪器股份有限公司 Measuring instrument capable of quickly focusing and measuring method thereof
CN105938107B (en) * 2016-06-27 2019-06-04 昆山国显光电有限公司 A kind of automatic optics inspection focusing localization method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100093213A (en) * 2009-02-16 2010-08-25 유근홍 System for inspecting defects on glass substrate using contrast value, and method of the same
KR20130030686A (en) * 2011-09-19 2013-03-27 삼성전자주식회사 Auto focusing apparatus for optical microscope
KR101485425B1 (en) * 2013-09-04 2015-01-22 주식회사 엠티엠 Cover-glass Analysis Apparatus
KR20180020046A (en) * 2016-08-17 2018-02-27 주식회사 엠티엠 Multi-angle cover glass analysis apparatus

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