KR20200060505A - 극성 반전으로부터 보호된 열전도체에 연결하기 위한 플러그 및 소켓 - Google Patents

극성 반전으로부터 보호된 열전도체에 연결하기 위한 플러그 및 소켓 Download PDF

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Abstract

본 발명은 극성 반전으로부터 보호되는 코딩된 열선에 연결될 수 있도록 각각 설계되는 플러그 및 소켓에 관한 것이다. 이를 위해, 플러그 및 소켓은 각각 비대칭적으로 설계된 단면을 갖는 열선을 극성 반전으로부터 보호되는 방식으로 수용하도록 구성된 리세스, 및 각각 제 1 및 제 2 영역을 포함하는 전기 전도성의 제 1 및 제 2 플러그 또는 소켓 요소를 포함한다. 플러그 및 소켓 요소들의 제 1 영역은 각각 스프링 접점을 포함하고, 플러그 및 소켓 요소들은 2개의 스프링 접점이 각각 수용된 열선의 코어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 배열된다.

Description

극성 반전으로부터 보호된 열전도체에 연결하기 위한 플러그 및 소켓
본 발명은 플러그인 전기 접속(electrical plug-in connection)을 위한 플러그, 플러그인 전기 접속을 위한 소켓, 및 플러그 및 소켓을 포함한 시스템에 관한 것이다. 본 발명은 특히 극성 반전(polarity reversal)으로부터 보호된 열전도체(thermal conductor)에 연결하기 위한, 플러그, 소켓, 및 플러그 및 소켓을 포함한 시스템에 관한 것이다.
플러그 및 소켓으로부터 각각 연장되는 2개의 선 사이에 전기 접속을 얻기 위해 플러그가 소켓 내에 꽂힐 수 있는 플러그인 접속부(플러그인 커넥터라고도 함)가 일반적으로 알려져 있다.
나아가, 열전쌍 및 저항 온도계 측정 시스템을 위한 플러그인 커넥터가 일반적으로 알려져 있다. 그러한 플러그인 커넥터는 2개의 열전기 전도체(thermoelectric conductor)를 연결하기 위해 사용될 수 있는 열 플러그(thermal plug) 및 열 소켓(thermal socket)을 포함한다.
따라서, 수많은 그러한 (열) 플러그 및 (열) 소켓("열 플러그인 커넥터(thermal plug-in connector)"라고도 함)은 테스트 차량의 측정 시스템의 일부로서 자동차 산업 및 공급 산업에서 열전기 전도체에 대해 사용될 수 있다.
특히, 플러그인 커넥터는 특정 측정 지점에서의 온도가 소위 열전쌍을 통해 결정되는 측정 시스템에서 사용된다. 그러한 열전쌍은 상이한 물질을 함유한 2개의 와이어, 소위 열전기 전도체로 구성되며, 이들은 각각 일 단부에서 연결되어 있다. (측정 지점) 온도는 열전기 전도체 내의 상이한 전도체 재료들에 의해 생기는 전압차를 통해 결정된다.
열전쌍의 열전기 전도체는 측정 시스템 내에서 다른 열전기 전도체(이것은 예컨대 모듈 블록 내로 개방됨)에 연결될 수 있다. 측정된 데이터는 신호 처리기에서 증폭 및 디지털화되며, 이어서 그곳으로부터 데이터 로거로 전송될 수 있다.
열전기 전도체 및 모듈 블록은 DE 10 2014 017157 B3로부터 공지되어 있는데, 여기에서 열전기 전도체는 모듈 블록에 전기 접속될 때 듀얼 코어 열전기 전도체를 극성 반전으로부터 보호하는 단면을 갖는다.
본 발명의 목적은 열전기 전도체에 연결될 수 있는 개량된 플러그인 커넥터(또는 플러그 및 소켓)를 만드는 것이다.
제 1 태양에 따르면, 본 발명은 청구항 1에 따른 플러그인 전기 접속을 위한 플러그를 제공한다.
제 2 태양에 따르면, 본 발명은 청구항 9에 따른 플러그인 전기 접속을 위한 소켓을 제공한다.
제 3 태양에 따르면, 본 발명은 청구항 11에 따른 플러그 및 소켓을 포함한 시스템을 제공한다.
본 발명의 다른 태양 및 특징은 종속 청구항, 첨부 도면 및 하기의 설명으로부터 도출될 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예들은 단지 예로서 첨부 도면을 참조하여 설명될 것인데, 도면에서:
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 플러그의 사시도이고;
도 2는 본 발명의 바람직한 예시적인 실시예에 따른 플러그의 상면도이고;
도 3은 본 발명에 따른 플러그의 예시적인 실시예의 개략도로서; 인코딩된 열전기 전도체(encoded thermoelectric conductor)가 그로부터 돌출한 상태의 도면이고;
도 4는 본 발명의 바람직한 예시적인 실시예에 따른 소켓의 사시도이고;
도 5는 본 발명의 바람직한 예시적인 실시예에 따른 소켓의 상면도이고;
도 6은 본 발명에 따른 소켓의 예시적인 실시예의 개략도로서, 인코딩된 열전기 전도체가 그로부터 돌출한 상태의 도면이고;
도 7은 본 발명에 따른 소켓 요소의 예시적인 실시예의 개략도이고;
도 8은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 소켓 요소의 사시도이고;
도 9는 도 8에 도시된 예시적인 실시예에 따른 소켓 요소의 상면도이고;
도 10은 플러그 및 소켓을 포함한, 본 발명에 따른 시스템의 예시적인 실시예의 개략도이고;
도 11은 플러그 및 소켓을 포함한, 본 발명에 따른 시스템의 예시적인 실시예의 다른 개략도이다.
도 1 및 도 2에는 본 발명에 따른 플러그의 예시적인 실시예가 도시되어 있다. 도 3에는 플러그가 인코딩된 열전기 전도체에 연결된 상태가 도시되어 있다. 도 4 및 도 5에는 본 발명에 따른 소켓의 예시적인 실시예가 도시되어 있다. 도 6에는 소켓이 열전기 전도체에 연결된 상태가 도시되어 있다. 도 7에는 소켓 요소의 예시적인 실시예가 도시되어 있다. 도 8 및 도 9에는 소켓 요소의 다른 예시적인 실시예가 도시되어 있다. 도 10 및 도 11에는 본 발명에 따른 플러그 및 본 발명에 따른 소켓을 포함한 시스템의 예시적인 실시예가 도시되어 있다.
상세한 설명을 시작하기 전에, 먼저 예시적인 실시예들 및 이들의 장점에 대해 개략적으로 설명할 것이다.
본 발명에 따른 플러그, 본 발명에 따른 소켓, 및 본 발명에 따른 플러그-앤-소켓 시스템은 주로 이동 차량 측정 기술에서 사용하기 위한 것이지만, 이들은 어떤 식으로든 이 용도에 한정되지 않는다. 따라서, 본 발명에 따른 플러그-앤-소켓 시스템은 특히 인코딩된 열전기 전도체가 사용되는 임의의 응용 분야를 위한 것이다.
나아가, 플러그-앤-소켓 시스템은 극성 반전으로부터 보호된 열전기 전도체들을 연결하는 것에 배타적으로 한정되지 않는다. 또한, 본 발명은 예컨대 극성 반전으로부터 보호된 열전기 전도체를 극성 반전으로부터 보호되지 않은 열전기 전도체에 전기적으로 접속하는 데 사용될 수 있다. 극성 반전으로부터 보호된 열전기 전도체를 수용하도록 구성된 본 발명에 따른 플러그를, 극성 반전으로부터 보호되지 않은 열전기 전도체를 수용한 종래의 공지된 소켓에 연결하는 것이 가능하다. 또한, 극성 반전으로부터 보호된 열전기 전도체를 수용하도록 구성된 본 발명에 따른 소켓을 종래의 공지된 플러그에 연결하는 것도 생각할 수 있다.
예시적인 실시예들은 플러그와 관련된다. "플러그"란 용어는 달리 특정되지 않는 한 핀(pin) 또는 수형부(male)를 의미하는 것으로 이해된다. "수형부"란 용어는 본 예에서의 "수형부"를 의미하며, 돌출형 전도체를 구비한 플러그 커넥터를 가리킨다.
플러그는 극성 반전으로부터 보호되도록 비대칭 단면을 갖는 열전기 전도체를 수용하도록 구성된 리시버(receiver)를 포함한다. 따라서, 리시버는 인코딩된 열전기 전도체가 극성 반전으로부터 보호되는 방식으로 리시버 내에 삽입될 수 있도록 구성된다. 따라서, 리시버는 인코딩된 열전기 전도체에 상보적으로 성형될 수 있다. 리시버는 리시버에 삽입된 열전기 전도체와 그의 둘레에서 접촉하도록 채널 형상일 수 있다. 몇몇 실시예에서 리시버의 단면은 테이퍼질 수 있다. 그 결과, 열전기 전도체를 플러그에 간단히 조립하는 것뿐만 아니라, 플러그와 열전기 전도체 사이의 강고한 기계적 연결이 얻어질 수 있다.
몇몇 실시예에서, 리시버는 변형을 완화하며 내부에 수용된 열전기 전도체를 기계적으로 연결하기 위한 변형 완화부(strain relief)를 갖는다. 변형 완화부는 바람직하게는 열전기 전도체와 플러그 사이의 전기 접속이 외부 영향(예컨대, 진동, 인장력 또는 압력)으로 인해 분리되는 것을 방지한다.
몇몇 실시예에서, 변형 완화부는 절연재 제거 커넥터(insulation-displacement connector) 또는 잠금용 클리트(locking cleat)일 수 있다. 변형 완화부 요소는 멈춤쇠(pawl)가 있는 적어도 하나의 클로(claw)를 구비할 수 있으며, 멈춤쇠는 내부에 삽입된 열전기 전도체의 절연재 내로 눌려서, 미늘(barb)과 유사한 방식으로 열전기 전도체를 고정한다. 바람직한 실시예에서, 클로는 모듈 블록 내에 삽입된 열전기 전도체를 최대 5개의 지점에서 고정하기 위해 5개의 멈춤쇠를 갖는다. 멈춤쇠는 열전기 전도체가 변형 완화부에 의해 손상되지 않는 것을 보장한다.
본 발명에 따른 플러그는 또한 각각 제 1 및 제 2 영역을 갖는 전기 전도성의 제 1 및 제 2 플러그 요소를 포함한다. 플러그 요소는 접촉판 또는 일종의 평평한 핀일 수 있다. 2개의 플러그 요소는 대체로 임의의 공통 물질(예컨대, 구리, 철 또는 니켈)로 제조될 수 있다. 일반적으로, 플러그 요소에는 표준화된 열전기 재료(예컨대, 타입 T, 타입 R, 타입 S, 타입 B, 타입 L, 타입 U, 타입 J, 또는 타입 K)가 사용된다. 본 발명에 따른 2개의 플러그 요소는 일반적으로 상이한 물질들을 함유한다.
몇몇 실시예에서, 바람직하게는 제 1 플러그 요소는 니켈로 제조되고, 제 2 플러그 요소는 크롬-니켈로 제조된다. 몇몇 실시예에서, 타입 K의 2개의 플러그 요소는, 제 1 플러그 요소가 크롬 및 니켈(크로멜)로 제조되며 제 2 플러그 요소가 알루미늄 및 니켈(알루멜)로 제조되는 열전기 재료에 대응한다.
본 발명에 따른 플러그 요소의 제 1 영역들은 각각 스프링 접점을 갖는다. 몇몇 실시예에서, 스프링 접점은 플러그 요소 내로 눌릴 수 있다. 플러그 요소와 스프링 접점은 일체형 유닛이거나 또는 다수의 구성요소로 이루어질 수 있다.
몇몇 실시예에서, 스프링 접점은 스프링 요소 및 테스트 프로브를 포함한다. 스프링 요소는 나선형으로 감긴 와이어에 의해 형성되는 나선형 스프링 또는 압축 스프링일 수 있다. 나아가, 스프링 요소는 특정 힘이 작용할 때 특정 정도까지 변형되는 임의의 탄성 요소일 수 있다. 스프링 요소는 몇몇 실시예에서 금속(예컨대, 강, 구리)로 제조된다. 몇몇 실시예에서, 압축 스프링은 금도금 강으로 제조된다. 몇몇 실시예에서, 스프링 요소는 대략 1~3㎜, 바람직하게는 2㎜의 최대 스프링 변형량(maximum spring deflection)을 갖도록 설계된다. 이러한 경우, 스프링 요소는 1.8㎜의 파워 스트로크(power stroke)로 130cN±20%의 스프링력을 발휘할 수 있다.
테스트 프로브는 바늘 형상의 첨예한 접점을 형성할 수 있다. 테스트 프로브는 열전기 재료로 제조될 수 있다. 바람직한 예시적인 실시예에서, 테스트 프로브는 관련된 플러그 요소와 동일한 재료로 제조된다. 타입 K의 경우, 이는 알루멜 플러그 요소의 테스트 프로브는 알루멜로 제조됨을 의미한다. 테스트 프로브는 0.3㎜ 내지 0.7㎜, 바람직하게는 0.5㎜의 직경을 가질 수 있다.
몇몇 실시예에서, 스프링 접점은 또한 테프론(Teflon) 또는 PEEK로 제조될 수 있는 안내 소켓을 포함한다.
본 발명에 따른 플러그 요소는 직경이 0.5㎜ 내지 0.9㎜, 바람직하게는 0.7㎜인 구멍을 내부에 가질 수 있다. 몇몇 실시예에서, 스프링 접점은 구멍 내에 삽입된다.
본 발명에 따른 플러그 요소는 2개의 스프링 접점 각각이 내부에 수용된 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 배열된다. 열전기 전도체 내의 각 와이어는 다수의 가닥, 바람직하게는 7개의 가닥으로 이루어져서, 와이어의 단면에 있어서 중간에 공간을 형성한다. 그에 따라, 2개의 스프링 접점이 다수의 가닥으로 이루어진 각각의 와이어 내의 중간 공간을 관통할 때 전기 접촉 또는 전기 접속이 얻어진다. 또한, 2개의 스프링 접점 중 하나가 와이어의 절연재와 하나 이상의 가닥 사이에서 종단될 때 접촉이 보장될 수 있다. 또한, 스프링 접점이 와이어의 단부면에 접촉할 때에도 접촉이 보장될 수 있다. 바람직한 실시예에서, 양 스프링 접점 모두는 삽입된 열전기 전도체의 와이어 내로 대략 0.5㎜ 내지 2㎜를 축방향으로 관통한다.
스프링 접점은 플러그 내의 평면에 배열될 수 있다. 이 평면은 플러그에 대해 수평 또는 수직인 것으로 생각할 수 있다. 몇몇 실시예에서, 플러그 요소는 플러그의 종축에 실질적으로 평행하게 배열된다. 나아가, 몇몇 실시예에서, 스프링 접점은 플러그의 종축에 실질적으로 평행하게 배열된다. 몇몇 실시예에서, 스프링 접점은, 삽입된 열전기 전도체 내의 와이어와 축방향으로 접촉할 수 있게 하기 위해, 플러그 내로부터 리시버의 입구 쪽을 향하도록 배열된다.
몇몇 실시예에서, 스프링 요소와 테스트 프로브는, 열전기 전도체가 테스트 프로브의 변형 완화부 내에 수용될 때, 이것이 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 상호 작용하며, 스프링 접점과 수용된 열전기 전도체의 확고한 전기 접속을 가능케 하기 위해 스프링 요소의 스프링력이 열전기 전도체에 압력을 가한다. 이러한 경우, 스프링 요소의 스프링력 및 테스트 프로브는 변형 완화부와 상호 작용한다. 즉, 열전기 전도체가 플러그의 리시버 내에 삽입될 때, 열전기 전도체는 변형 완화부를 통과한 후 스프링 접점의 테스트 프로브와 충돌한다. 열전기 전도체가 테스트 프로브와 접촉할 때의 압력의 결과로서, 스프링 요소는 탄성적으로 변형하게 되며, 그에 의해 스프링 요소가 압축되고 열전기 전도체는 더욱 리시버 내로 밀려 들어간다. 열전기 전도체를 삽입하는 힘보다 스프링력이 더 클 경우, 또는 스프링 요소의 최대 스프링 변형량에 도달한 경우, 열전기 전도체는 더 이상 삽입될 수 없다. 이와 동시에, 변형 완화부는 미늘에 필적하는 열전기 전도체의 순수한 기계적인 고정을 형성함으로써, 열전기 전도체가 플러그 내의 리시버로부터 빠져나올 가능성을 차단한다.
몇몇 실시예에서, 리시버는 하우징의 일부이다. 나아가, 리시버는 단면이 비대칭적일 수 있다. 하우징 내의 리시버는 인코딩된 열전기 전도체가 형태 맞춤(form fitting) 방식으로 내부에 삽입될 수 있도록 성형될 수 있다. 수용될 열전기 전도체 또는 플러그 내 리시버의 단면은 비대칭적인 모서리 또는 에지를 가질 수 있다. 단면은 형상을 이루는 원형 곡선 부분 및 2개의 평탄 부분으로 이루어질 수 있다. 나아가, 리시버의 단면은 삼각형이거나, 또는 "서양배 형상(pear-shaped)" 또는 "눈물 방울(teardrop)" 구조를 가질 수 있다.
몇몇 실시예에서, 플러그는 적어도 제 1 및 제 2 부분을 구비한 하우징을 포함하는데, 제 1 및 제 2 부분은 하우징 부분들을 서로 고정하고 내부를 둘러싸기 위해 스냅-핏(snap-fit) 조립체에 의해 결합될 수 있다. 유리하게는, 그에 의해 하우징을 나사 연결 없이 폐쇄하는 것이 가능하다. 하우징은 플라스틱으로 제조될 수 있다. 플러그 요소는 하우징 부분들 중 하나 내에 위치될 수 있다. 또한, 하우징은 추가 하우징 부분들을 포함할 수 있다.
몇몇 실시예에서, 플러그 요소는, 플러그의 종방향 또는 횡방향으로의 변위를 방지하기 위해, 하우징 부분들 중 하나 내의 안내 볼트(guide bolt)를 통해 사전결정된(predetermined) 위치에 유지된다. 안내 볼트가 하우징 부분들 중 하나 상에 형성되는 경우, 나머지 하우징 부분은 안내 볼트를 수용하도록 구성된 구멍을 대응 위치에 구비한다. 플러그 요소가 배치되지 않은 하우징 부분 상에 안내 볼트가 형성되는 것이 바람직하다. 이것은 플러그 요소들이 먼저 공구 없이 제 1 하우징 부분에 배치되고 이어서 2개의 하우징 부분의 접합시에 제 2 하우징 부분 내에서 안내 볼트에 의해 종방향 및 횡방향으로 고정될 수 있는 장점을 갖는다.
몇몇 실시예에서, 플러그 요소는 적어도 하나의 구멍을 갖는데, 이 구멍에 의해 플러그 요소가 적어도 하나의 안내 볼트와 맞물린다. 나아가, 구멍은 또한 플러그 부분이 위치된 하우징 부분을 통해 연장될 수 있다.
본 발명에 따른 플러그 요소는 또한 전기 접촉을 얻기 위해 소켓 요소에 의해 수용될 수 있도록 구성된 제 2 영역을 구비한다. 플러그 요소의 제 2 영역은 장타원형(oblong)일 수 있다. 몇몇 실시예에서, 플러그 요소의 제 2 영역은 핀형 요소를 형성한다. 플러그의 2개의 플러그 요소의 제 2 영역들은 극성 반전으로부터 보호하기 위해 폭이 상이할 수 있다. 나아가, 플러그 요소의 제 2 영역은 플러그의 하우징으로부터 돌출할 수 있다. 이들 돌출 영역은 본 발명에 따른 소켓을 위한 하우징 내에 전체적으로 수용될 수 있다. 유리하게는, 플러그 내의 모든 전도체들은 연결된 상태일 때에 하우징 내부에 배치되며, 이에 의해 단락을 방지한다. 플러그 요소의 제 2 영역은 또한 소켓 요소의 하우징 위에서 형태 맞춤 방식으로 슬라이딩함으로써 그것이 본 발명에 따른 소켓 요소의 하우징에 연결될 때 그것을 밀봉하는 하우징 부분에 의해 둘러싸일 수 있다.
나아가, 예시적인 실시예들은 소켓과 관련된다. "소켓"이란 용어는 달리 특정되지 않는 한 접점 또는 암형부(female)를 말한다. "암형부"란 용어는 "암형부"를 의미하며, 수형 대응부 또는 플러그 요소의 제 2 영역 둘레에 슬리브를 형성하는 플러그인 커넥터를 가리킨다. 본 발명에 따른 소켓은 바람직하게는 상술한 실시예들 중 임의의 것에 따른 플러그에 연결된다.
본 발명에 따른 소켓은 극성 반전으로부터 보호되는 방식으로 비대칭 단면을 갖는 열전기 전도체를 수용하도록 구성된 리시버, 및 각각 제 1 및 제 2 영역을 갖는 전기 전도성의 제 1 및 제 2 소켓 요소를 포함한다. 소켓 요소들의 제 1 영역은 각각 스프링 접점을 갖는다. 나아가, 소켓 요소는 2개의 스프링 접점 각각이 내부에 수용된 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 배열된다.
2개의 소켓 요소의 제 1 영역 내의 스프링 접점 및 리시버는 2개의 플러그 요소의 제 1 영역 내의 스프링 접점 및 리시버와 동일할 수 있다. 따라서, 2개의 플러그 요소의 제 1 영역 내의 스프링 접점 및 리시버에 대한 상기 설명은 2개의 소켓 요소의 제 1 영역 내의 스프링 접점 및 리시버에 대해서도 유사하게 적용될 수 있다.
따라서, 몇몇 실시예에 있어서의 소켓 내의 스프링 접점은 열전기 전도체를 변형 완화부 내에 수용할 때 테스트 프로브가 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 상호 작용하는 스프링 요소 및 테스트 프로브를 포함하고, 스프링 접점과 수용된 열전기 전도체의 확고한 전기 접촉을 가능케 하기 위해 스프링 요소의 스프링력이 열전기 전도체에 압력을 가한다.
나아가, 소켓 내의 리시버는 변형을 완화하고 내부에 수용된 열전기 전도체를 기계적으로 연결하기 위한 변형 완화부를 포함할 수 있다. 위에서 기술한 플러그 내의 변형 완화부의 실시예들에 대한 설명은 소켓 내의 변형 완화부에 대해서도 유사하게 적용된다.
몇몇 실시예에서, 소켓의 하우징은 하우징 부분들을 함께 고정하고 내부를 둘러싸기 위해 스냅-핏 조립체에 의해 서로 연결될 수 있는 제 1 및 제 2 하우징 부분을 구비한다. 또한, 하우징은 비대칭 단면을 갖는 리시버를 포함할 수 있다.
몇몇 실시예에서, 소켓 요소들은 종방향 및 횡방향으로의 변위를 방지하기 위해, 하우징 부분들 중 하나 내의 안내 볼트를 통해 사전결정된 위치에 유지된다.
몇몇 실시예에서, 소켓 요소는 적어도 하나의 구멍을 갖고, 그 구멍에 의해 소켓 요소는 적어도 하나의 안내 볼트와 맞물린다.
위에서 기술한 플러그 요소와 유사하게, 제 1 소켓 요소는 바람직하게는 니켈로 제조될 수 있고, 제 2 소켓 요소는 바람직하게는 크롬-니켈로 제조될 수 있다. 또한, 플러그 요소의 재료와 관련하여 상술한 실시예들은 소켓 요소에 대해서도 유사하게 적용될 수 있다.
본 발명에 따른 소켓에 있어서, 소켓 요소는 플러그 요소가 내부에 수용되어 전기 접촉을 형성할 수 있도록 구성된 제 2 영역을 갖는다. 몇몇 실시예에서, 소켓 요소의 제 2 영역은 전체적으로 소켓의 하우징 내에 위치된다. 하우징은 소켓 요소의 제 2 영역 근처에 플러그 요소의 제 2 영역이 수용되는 개구를 가질 수 있다. 몇몇 실시예에서, 2개의 소켓 요소의 제 2 영역 근처의 하우징 내의 개구들은 상이한 폭의 플러그 요소의 대응하는 제 2 영역들을 소켓 하우징 내에 수용할 때 극성 반전으로부터 보호하기 위해 상이한 폭을 가질 수 있다.
몇몇 실시예에서, 소켓은 소켓 요소의 수직 방향 움직임을 방지하고 대응 플러그의 플러그 요소와의 확고한 전기 접촉을 형성하기 위해 접촉 스프링 요소(contact spring element)를 소켓 요소의 제 2 영역 내에 포함한다. 접촉 스프링 요소는 각각의 소켓 요소에 힘을 가하도록 소켓 내에 배열된 탄성 요소이다. 플러그 요소를 소켓 하우징 내에 삽입할 때, 접촉 스프링 요소는 플러그 요소의 적어도 제 2 영역이 소켓 내에 수용될 때까지 상향으로 눌린다. 나아가, 접촉 스프링 요소는 플러그 요소의 제 2 영역을 밀어붙인다. 유리하게는, 그러한 실시예에 의해 플러그와 소켓 사이에 기계적 접속 및 전기적 접속 모두가 얻어질 수 있다.
또한, 예시적인 실시예들은 상술한 실시예들 중 임의의 것에 따른 플러그 및 상술한 실시예들 중 임의의 것에 따른 소켓을 포함한 시스템과 관련된다. 플러그 및 소켓은 바람직하게는 2개의 열전기 전도체를 서로 전기적으로 접속하기 위해 전기 접촉을 형성할 수 있다.
도면으로 돌아가면, 도 1은 본 발명에 따른 플러그의 사시도를 나타낸다(여기에서는 플러그의 내부를 잘 보여주기 위해 상부 하우징 커버를 도시하지 않았다). 도 2는 상부 하우징 커버가 없는 상태의 본 발명에 따른 플러그의 상면도를 나타낸다. 도 3은 인코딩된 열전기 전도체가 연결된 본 발명에 따른 플러그를 나타낸다. 도 4는 본 발명에 따른 소켓의 사시도를 나타낸다(여기에서는 소켓의 내부를 잘 보여주기 위해 상부 하우징 커버를 도시하지 않았다). 도 5는 상부 하우징 커버가 없는 상태의 본 발명에 따른 소켓의 상면도를 나타낸다. 도 6은 인코딩된 열전기 전도체에 연결된 본 발명에 따른 소켓을 나타낸다. 도 7은 본 발명에 따른 소켓 요소의 예시적인 실시예를 나타낸다. 도 8 및 도 9에는 본 발명에 따른 소켓 요소의 다른 예시적인 실시예가 도시된다. 도 10 및 도 11에는 본 발명에 따른 플러그 및 본 발명에 따른 소켓을 포함한 시스템의 예시적인 실시예가 도시된다.
도 1은 본 발명에 따른 플러그(10)의 예시적인 실시예를 나타내는데, 여기에서는 플러그(10)의 내부를 잘 보여주기 위해 상부 하우징 부분을 도시하지 않았다.
플러그는 제 1 영역에서 블록형 섹션을 관통하는 2개의 채널을 갖는 제 1 하우징 부분(15)를 구비하는데, 이들 채널은 플러그(10)의 종방향으로 연장된다. 2개의 플러그 요소(12a, 12b)가 채널 내에 배치된다. 제 1 플러그 요소(12a)는 알루멜로 제조되는 반면에, 제 2 플러그 요소(12b)는 크로멜로 제조된다. 플러그 요소(12a, 12b)는 또한 임의의 다른 열 재료(thermal material)로 제조될 수 있다. 각각의 플러그 요소(12a, 12b)는 제 1 영역 및 제 2 영역을 갖는다. 2개의 플러그 요소(12a, 12b)는 평면 내에 놓인다. 제 1 하우징 부분(15)의 평평한 하우징 섹션은 제 1 하우징 부분(15)의 블록형 하우징 섹션에 인접한다. 플러그 요소(12a, 12b)의 제 1 영역들은 이 평평한 하우징 섹션 상에 위치된다.
플러그 요소(12a, 12b)의 제 1 영역들은 각각 스프링 접점(13)을 포함한다. 플러그 요소의 2개의 스프링 접점(13)은 플러그(10)의 종방향으로 연장된다. 플러그 요소(12a, 12b)는 플러그(10)의 종방향에 실질적으로 평행하다. 또한, 스프링 접점(13)은 플러그 요소(12a, 12b)의 종축으로부터 보았을 때 실질적으로 중심에 있다. 플러그 요소(12a, 12b)의 제 1 영역들의 대향하는 측면들은 이격되어 있다. 나아가, 종방향으로 연장되는 스프링 접점(13)은 또한 이들이 각각 내부에 수용된 인코딩된 열전기 전도체 내의 와이어와 접촉하도록 이격되어 있다.
플러그 요소(12a, 12b)의 제 2 영역들은 전기 접촉 방식으로 소켓에 의해 수용될 수 있도록 구성된다. 본 예시적인 실시예에서, 플러그 요소(12a, 12b)는 2개의 장타원형 접촉판이다. 제 1 플러그 요소(12a)의 제 2 영역은 제 2 플러그 요소(12b)의 제 2 영역보다 더 넓다. 그 결과, 대응 개구를 갖는 소켓과의 연결이 극성 반전으로부터 확실하게 보호될 수 있다.
또한, 평평한 하우징 부분 내에 변형 완화부(14)가 있다. 변형 완화부(14)는 절연재 제거 커넥터의 형태이다. 이것은 5개의 클램프(clamp)를 갖는다. 이들은 인코딩된 열전기 전도체를 수용할 때 내측으로 굽혀질 수 있고, 그 후 삽입된 열전기 전도체의 절연재 내로 파고들 수 있으며, 이에 의해 열전기 전도체가 기계적으로 적소에 고정된다.
제 1 하우징 부분(15)은 또한 평평한 하우징 섹션의 영역 내에 스냅-핏 후크(16) 형태의 측방향 연장부를 갖는다. 이 스냅-핏 후크(16) 및 제 1 하우징 부분(15)의 반대면 상의 다른 스냅-핏 후크가 제 2 하우징 부분(18)(예컨대 도 3 참조)을 제 1 하우징 부분(15)에 기계적으로 연결한다. 그 결과, 플러그(10)의 조립을 위한 나사 연결이 불필요하다.
플러그 요소(12a, 12b)는 각각 제 1 영역에 구멍을 갖는데, 이 구멍은 하부의 평평한 하우징 섹션을 통해 연장된다. 제 1 하우징 부분(15)을 제 2 하우징 부분(18)(예컨대 도 3 참조)에 연결할 때, 제 2 하우징 부분(18) 상의 안내 볼트가 이들 구멍에 들어간다. 그 결과, 플러그 요소(12a, 12b)는 공구 없이 삽입될 수 있으며, 플러그 요소(12a, 12b)가 플러그(10)의 종방향 및 횡방향으로 움직이게 되는 것이 방지된다.
플러그(10)는 또한 리시버(11)를 갖는다. 이것은 극성 반전으로부터 보호되도록 열전기 전도체를 수용하기 위해 (하우징이 닫혔을 때) 비대칭 단면을 갖는다. 리시버(11)는 또한 인코딩된 열전기 전도체의 삽입을 용이하게 하는 둥글게 되고 테이퍼진 입구를 갖는다. 변형 완화부(14)는 또한 리시버(11)의 영역에 위치된다. 변형 완화부(14) 상의 5개의 클램프는 이들이 리시버(11)의 단면과 실질적으로 동일한 비대칭 단면을 갖는 개구를 형성하도록 배열된다.
도 2는 도 1의 예시적인 실시예에 따른 플러그(10)의 상면도이다. 도 2는 2개의 스프링 접점(13)이 평면 내에 서로 나란히 배열된 것을 도시한다. 나아가, 리시버는 열전기 전도체의 삽입을 용이하게 하는 둥글게 된 영역을 갖는다. 리시버(11)는 플러그(10)의 내부를 향해 종방향으로 테이퍼진다. 변형 완화부(14)는 종방향을 가로질러서 리시버의 영역 내에 형성된다. 리시버(11)의 내측 단부에는 플러그의 종방향으로 배열된 스프링 접점(13)의 2개의 평행한 테스트 프로브가 있는데, 이들은 플러그 요소(12a, 12b)의 제 1 영역으로부터 멀어지게 연장된다. 이들은 각각 인코딩된 열전기 전도체가 삽입될 때 인코딩된 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 위치된다.
도 3은 도 1 및 도 2의 예시적인 실시예에 따른 플러그(10)를 도시하는데, 여기에서는 제 2 하우징 부분(18)이 제 1 하우징 부분(15)과 접합되어 있다. 제 2 하우징 부분(18)은 2개의 스냅-핏 후크(16)를 이용하여 제 1 하우징 부분(15)에 연결된다. 플러그 요소(12a, 12b)의 제 2 영역을 제외하고, 모든 전도성 구성요소들이 플러그(10)의 내부에 위치된다. 나아가, 도 3에는 인코딩된 열전기 전도체(30a)가 도시되어 있는데, 이것은 플러그(10)의 리시버(11) 내에 위치된다. 본 예시적인 실시예에서, 플러그(10) 내의 리시버(11)는 "서양배 형상"의 열전기 전도체(30a)를 수용하도록, 그리고 플러그(10) 내에 위치된 테스트 프로브와 확실하게 접촉하도록 구성된다.
도 4는 본 발명에 따른 소켓(20)의 예시적인 실시예를 도시하는데, 여기에서는 소켓(20)의 내부를 잘 보여주기 위해 상부 하우징 부분(도 6의 도면부호 28 참조)을 도시하지 않았다.
소켓(20)은 블록형 제 1 하우징 섹션 내에 2개의 채널형 중공 공간을 갖는 제 1 하우징 부분(25)을 구비하는데, 이들 공간은 소켓(20)의 종방향으로 연장된다. 각각의 채널형 중공 공간 내에는 소켓 요소(22a, 22b)가 배치된다. 제 1 소켓 요소(22a)는 알루멜로 제조되는 반면에, 제 2 소켓 요소(22b)는 크로멜로 제조된다. 또한, 소켓 요소(22a, 22b)는 임의의 다른 열 재료로 제조될 수도 있다. 각각의 소켓 요소(22a, 22b)는 제 1 및 제 2 영역을 갖는다.
소켓 요소(22a, 22b)의 제 1 영역들은 각각 스프링 접점(23)을 포함한다. 소켓 요소 내의 2개의 스프링 접점(23)은 소켓(20)의 종방향으로 연장된다. 소켓 요소(22a, 22b)는 소켓(20)의 종방향에 실질적으로 평행하다. 또한, 스프링 접점(23)은 소켓 요소(22a, 22b)의 종축으로부터 보았을 때 중심에 배치되거나 또는 실질적으로 중심에 놓인다. 소켓 요소(22a, 22b)의 제 1 영역들의 대향하는 측면들은 이격되어 있으며 (수평) 평면 내에 위치된다. 나아가, 종방향으로 연장되는 스프링 접점(23)은 이들이 각각 리시버(21) 내에 삽입된 인코딩된 열전기 전도체 내의 와이어와 접촉하도록 이격되어 있다.
소켓 요소(22a, 22b)의 제 2 영역들은 소켓 내에 형성된 플러그가 소켓 요소(22a, 22b)의 제 2 영역들과 접촉하도록 구성된다. 본 예시적인 실시예에서, 소켓 요소(22a, 22b)는 2개의 장타원형 접촉판이다. 2개의 소켓 요소(22a, 22b)의 제 2 영역들은 각각 동일한 폭을 갖는다. 나아가, 양 소켓 요소(22a, 22b)는 모두 동일한 치수를 갖는다. 2개의 소켓 요소(22a, 22b)의 제 2 영역들은 제 1 하우징 부분(25)에 의해 전체적으로 둘러싸인다. 소켓 요소(22a, 22b)의 제 1 영역들로부터 멀어지는 쪽에, 제 1 하우징 부분(25)은 대응하는 플러그의 플러그 요소를 수용하기 위한 2개의 개구를 갖는다. 2개의 개구는 폭이 상이하여, 극성 반전으로부터 보호되도록 플러그에 접속될 수 있다.
제 1 하우징 부분(25)의 블록형 하우징 섹션으로부터 연장되는 제 1 하우징 부분(25)의 평평한 하우징 섹션에 있어서 리시버(21)의 영역 내에서 제 1 하우징 부분(25) 내에는 변형 완화부(24)가 부분적으로 배치되어 있다. 변형 완화부(24)는 절연재 제거 커넥터의 형태이다. 이것은 5개의 클램프를 갖는다. 이들은 인코딩된 열전기 전도체를 리시버(21) 내에 수용할 때 내측으로 굽혀질 수 있고, 그 후 수용된 열전기 전도체의 절연재 내로 파고들 수 있으며, 이에 의해 열전기 전도체가 기계적으로 적소에 고정된다.
제 1 하우징 부분(25)은 또한 평평한 하우징 섹션의 영역 내에 스냅-핏 후크 형태의 측방향 연장부를 갖는다. 이 스냅-핏 후크 및 반대측의 스냅-핏 후크(26)가 제 2 하우징 부분(28)(도 6 참조)을 제 1 하우징 부분(25)에 기계적으로 연결한다. 그 결과, 소켓(20)을 닫기 위한 나사 연결이 불필요하다.
소켓 요소(22a, 22b)는 각각 제 1 영역에 구멍(27)을 갖는데, 이 구멍(27)은 하부의 평평한 하우징 섹션을 통해 연장된다. 제 1 하우징 부분(25)을 제 2 하우징 부분(28)(도 6 참조)에 접합할 때, 제 2 하우징 부분(28) 상의 안내 볼트가 이들 구멍(27)에 들어간다. 그 결과, 소켓 요소(22a, 22b)는 소켓(20)의 종방향 및 횡방향으로 움직일 수 없다.
소켓(20)은 또한 리시버(21)를 갖는다. 이것은 극성 반전으로부터 보호되도록 열전기 전도체를 수용하기 위해 (하우징이 닫혔을 때) 비대칭 단면을 갖는다. 리시버(21)는 또한 인코딩된 열전기 전도체의 삽입을 용이하게 하는 둥글게 되고 테이퍼진 입구 영역을 갖는다. 변형 완화부(24) 상의 5개의 클램프는 이들이 리시버(21)의 단면과 실질적으로 동일한 비대칭 단면을 갖는 개구를 형성하도록 배열된다.
도 5는 도 4의 예시적인 실시예에 따른 소켓(20)의 상면도이다. 도 5는 2개의 스프링 접점(23)이 평면 내에서 서로 인접하게 위치된 것을 도시한다. 또한, 리시버(21)가 소켓(20)의 내부의 종방향으로 테이펴져 있는 것을 도 5로부터 알 수 있다. 변형 완화부(24)는 리시버(21)의 영역에서 종방향을 가로질러 연장된다. 리시버(21)의 내측 단부에는 소켓의 종방향에 평행하게 연장되는 스프링 접점(23)의 2개의 테스트 프로브가 위치되는데, 이들은 소켓 요소(22a, 22b)의 제 1 영역으로부터 연장되며, 이들 각각은 인코딩된 열전기 전도체가 리시버(21) 내에 삽입될 때 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하게 된다.
도 6은 도 4 및 도 5의 예시적인 실시예에 따른 소켓(20)을 도시하는데, 여기에서는 제 2 하우징 부분(28)이 제 1 하우징 부분(25)에 연결되어 있다. 제 2 하우징 부분(28)은 2개의 스냅-핏 후크(26)를 이용하여 제 1 하우징 부분(25)에 접합된다. 소켓(20)의 모든 전도성 구성요소들은 소켓(20)의 내부에 위치된다. 나아가, 도 6에는 인코딩된 열전기 전도체(30b)가 도시되어 있는데, 이것은 소켓의 리시버(21) 내에 위치된다. 본 예시적인 실시예에서, 소켓(20) 내의 리시버(21)는 "서양배 형상"의 열전기 전도체(30b)를 수용하도록 구성된다.
도 7은 도 4 및 도 5의 소켓의 예시적인 실시예에 따른 소켓 요소(22a, 22b)를 도시한다. 소켓 요소(22a, 22b)는 접촉판 또는 평평한 바늘을 형성한다. 소켓 요소(22a, 22b)는 실질적으로 직사각형 형상을 갖는 평평하고 장타원형의 요소이다. 직사각형 형상은 소켓 요소(22a, 22b)의 종축을 따라 연장되는 측방향 돌출부에 의해 중단된다. 또한, 스프링 접점(23)은 돌출부로부터 소켓 요소(22a, 22b)의 종방향으로 연장된다.
소켓 요소(22a, 22b)는 제 1 영역 및 제 2 영역으로 분할될 수 있다. 제 1 영역은 구멍 및 돌출부로부터 연장되는 스프링 접점(23)을 적어도 포함한다. 스프링 접점(23)은 스프링 요소 및 테스트 프로브를 포함하는데, 도 7에는 테스트 프로브의 일부만이 도시되어 있다. 스프링 요소는 보이지 않는다(도 8 및 도 9 참조). 구멍은 소켓 요소(22a, 22b) 상의 측방향 돌출부 내로 연장되며, 측방향 돌출부는 소켓 요소(22a, 22b)의 종방향으로 연장된다. 또한, 제 1 영역은 원형 개구 또는 구멍(27)을 구비한다. 소켓 요소(22a, 22b)의 제 2 영역은 실질적으로 제 1 영역의 장타원형이고 직사각형이며 폭이 더 좁은 연장부에 대응한다.
여기에 도시된 소켓 요소(22a, 22b)의 제 1 영역은 도 1 및 도 2에 도시된 예시적인 실시예에서의 구성의 측면에서 플러그 요소(12a, 12b)의 제 1 영역에 대응한다. 플러그 요소(12a, 12b)의 제 2 영역들은 폭이 상이하다는 점에서 소켓 요소(22a, 22b)의 제 2 영역만이 플러그 요소(12a, 12b)의 제 2 영역과 상이하다.
도 8 및 도 9는 소켓 요소(40)의 다른 예시적인 실시예를 도시한다. 도 8 및 도 9의 예시적인 실시예는 단지 구조적인 변화의 관점에서 도 7의 실시예와 상이하다. 그들은 스프링 접점의 구조에 관해서는 동일하다.
소켓(40)은 스프링 요소(42) 및 테스트 프로브(44)를 포함한다. 스프링 요소(42)는 금 도금 강으로 제조된 나선형 스프링이다. 스프링 요소(42)는 2㎜의 최대 스프링 변형량(L1)을 갖도록 구성된다. 스프링 요소(42)는 1.8㎜의 파워 스트로크로 130cN±20%의 스프링력을 갖는다.
테스트 프로브(44)는 바늘 형상의 첨예한 접점이다. 테스트 프로브(44)는 소켓 요소(40)와 동일한 재료로 제조된다. 타입 K의 경우, 이는 크로멜 소켓 요소의 테스트 프로브는 크로멜로 제조되고 알루멜 소켓 요소의 테스트 프로브는 알루멜로 제조됨을 의미한다. 테스트 프로브는 0.5㎜의 직경(d2)을 갖는다. 소켓 요소(40)는 직경이 0.7㎜인 구멍을 갖는다. 이 구멍은 예시적인 실시예에서는 6.1㎜인 깊이(L2)를 갖는다.
도 9에는 소켓 요소(40)의 분해도가 도시되어 있다. 스프링 요소(42) 및 테스트 프로브(44) 외에, 스프링 접점은 테프론 또는 PEEK로 제조될 수 있는 안내 소켓(46)을 구비한다.
도 8 및 도 9의 예시적인 실시예에 따른 소켓 요소 내의 스프링 접점은 본 발명에 따른 플러그 요소 내의 스프링 접점과 동일하다. 또한, 리시버 내에 수용된 열전기 전도체의 와이어와 접촉을 이루는 방식은 본 발명에 따른 소켓 및 본 발명에 따른 플러그 양자 모두에서 동일하다.
본 발명에 따른 플러그(10), 본 발명에 따른 소켓(20), 및 인코딩된 열전기 전도체(30)로 이루어진 시스템이 도 10에 도시되어 있다. 예시적인 실시예에서, 단일 열전기 전도체 세그먼트(30)가 플러그(10)를 소켓(20)에 연결한다. 인코딩된 열전기 전도체(30)는 일 단부가 플러그 내의 리시버에 삽입되며, 다른 단부는 소켓(20) 내의 리시버에 삽입된다.
플러그 및 소켓으로 이루어진 본 발명에 따른 시스템의 다른 예시적인 실시예가 도 11에 도시되어 있다. 이 경우, 플러그(10)는 인코딩된 열전기 전도체(30a)에 연결되어 있다. 플러그(10)는 플러그 요소들이 소켓(20) 내에 수용되도록 구성된다. 플러그(10) 및 소켓(20)을 위한 하우징은 이들이 서로 동일 평면을 이루도록 접합된다. 다음에는 인코딩된 열전기 전도체(30b)가 소켓(20)으로부터 연장된다. 플러그 및 소켓으로 이루어진 본 발명에 따른 시스템은 도 10 및 도 11에 도시된 예시적인 실시예들에 한정되지 않는다. 대신에, 인코딩된 열전기 전도체를 연결하기 위한 본 발명에 따른 플러그 및 본 발명에 따른 소켓의 임의의 조합이 여기에 포함된다. 본 발명은 또한 인코딩된 열전기 전도체 및 인코딩되지 않은 열전기 전도체를 연결하기 위해 본 발명에 따른 플러그 또는 소켓이 종래 기술의 공지된 플러그 또는 소켓과 함께 사용되는 시스템을 포함한다.

Claims (11)

  1. 플러그인 전기 접속(electrical plug-in connection)을 위한 플러그에 있어서,
    극성 반전(polarity reversal)으로부터 보호되는 방식으로 비대칭 단면을 갖는 열전기 전도체(thermoelectric conductor)를 수용하도록 구성된 리시버(receiver), 및
    각각 제 1 및 제 2 영역을 갖는 전기 전도성의 제 1 및 제 2 플러그 요소를 포함하고,
    상기 플러그 요소들의 제 1 영역들은 각각 스프링 접점을 갖고, 상기 플러그 요소들은 2개의 스프링 접점이 각각 내부에 수용된 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 배열되고,
    상기 플러그 요소들의 제 2 영역들은 이들이 소켓 요소 내에 수용되어 전기 접촉을 형성할 수 있도록 구성되는
    플러그.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 리시버는 변형을 완화하고 내부에 수용된 열전기 전도체를 기계적으로 연결하기 위한 변형 완화부(strain relief)를 갖는
    플러그.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 스프링 접점은, 열전기 전도체가 상기 변형 완화부 내에 수용될 때, 테스트 프로브가 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 상호 작용하는 스프링 요소 및 테스트 프로브를 포함하고, 상기 스프링 접점과 내부에 수용된 열전기 전도체와의 확고한 전기 접속을 가능케 하기 위해 상기 스프링 요소의 스프링력이 상기 열전기 전도체에 압력을 가하는
    플러그.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 리시버는 하우징의 일부로서 형성되며, 상기 리시버는 비대칭 단면을 갖는
    플러그.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 하우징은 적어도 제 1 및 제 2 하우징 부분을 구비하고, 이들 하우징 부분은 하우징 부분들을 함께 고정하고 내부를 둘러싸기 위해 스냅-핏 조립체(snap-fit assembly)에 의해 접합될 수 있는
    플러그.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 플러그 요소들은 상기 하우징 부분들 중 하나 내의 안내 볼트(guide bolt)를 거쳐서 사전 결정된 위치에 유지되어, 종방향 및 횡방향으로의 움직임이 방지되는
    플러그.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 플러그 요소들은 적어도 하나의 구멍을 갖고, 상기 구멍에 의해 상기 플러그 요소들이 적어도 하나의 안내 볼트와 맞물리는
    플러그.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 플러그 요소는 바람직하게는 니켈로 제조되고, 상기 제 2 플러그 요소는 바람직하게는 크롬-니켈로 제조되는
    플러그.
  9. 플러그인 전기 접속을 위한 소켓에 있어서,
    극성 반전으로부터 보호되는 방식으로 비대칭 단면을 갖는 열전기 전도체를 수용하도록 구성된 리시버, 및
    각각 제 1 및 제 2 영역을 갖는 전기 전도성의 제 1 및 제 2 소켓 요소를 포함하고,
    상기 소켓 요소들의 제 1 영역들은 각각 스프링 접점을 갖고, 상기 소켓 요소들은 2개의 스프링 접점이 각각 내부에 수용된 열전기 전도체 내의 와이어와 실질적으로 축방향으로 접촉하도록 배열되고,
    상기 소켓 요소들의 제 2 영역들은 플러그 요소를 수용하여 전기 접촉이 형성되도록 구성되는
    소켓.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 소켓 요소들의 수직 방향 움직임을 방지하고 대응 플러그의 플러그 요소들과의 확고한 전기 접촉을 제공하기 위해, 상기 소켓 요소들의 제 2 영역들 내에 위치되는 접촉 스프링 요소(contact spring element)를 더 포함하는
    소켓.
  11. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 기재된 플러그, 및 제 9 항 또는 제 10 항에 기재된 소켓을 포함하고,
    2개의 열전기 전도체를 서로 전기적으로 접속하기 위해, 상기 플러그 및 상기 소켓을 이용하여 전기 접촉이 이루어질 수 있는
    시스템.
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