KR20200012764A - Resin composition - Google Patents

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아지노모토 가부시키가이샤
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Abstract

Provided are: a resin composition having excellent storage stability of resin varnish and being able to obtain a cured product having a low dielectric tangent; a resin sheet containing the resin composition; a printed wiring board having an insulating layer formed by using the resin composition; and a semiconductor device. The resin composition contains: (A) an epoxy resin; (B) a curing agent; (C) a styrene-based elastomer; and (D) a resin having a radically polymerizable unsaturated group, wherein the content of a styrene unit in the component (C), is 61 mass% or more if the component (C) is 100 mass%.

Description

수지 조성물 {RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 당해 수지 조성물을 함유하는, 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. Moreover, it is related with a resin sheet, a printed wiring board, and a semiconductor device containing the said resin composition.

프린트 배선판의 제조 기술로서는, 내층 회로 기판 위에 절연층과 도체층을 교대로 쌓아 포개는 빌드업 방식에 의한 제조 방법이 알려져 있다. 최근의 절연층은, 고주파에서의 전기 신호 로스를 저감하는 것이 요구되고 있어, 유전 정접이 낮은 절연층이 요구되고 있다.As a manufacturing technique of a printed wiring board, the manufacturing method by the buildup system which piles up an insulation layer and a conductor layer alternately on the inner-layer circuit board and overlaps is known. In recent years, the insulation layer is required to reduce the electrical signal loss at a high frequency, and an insulation layer having a low dielectric tangent is required.

이러한 절연층을 형성하는 수지 조성물로서, 예를 들면, 특허문헌 1에는, (A) 말단에 스티렌기를 갖는 분자량 800 내지 1500의 열경화성 수지, (B) 액상 에폭시 수지, (C) 스티렌계 열가소성 엘라스토머, (D) 충전재, 및 (E) 경화제를 포함하고, (D) 성분이, 수지 조성물 100질량부에 대해, 30 내지 70질량부인 수지 조성물이 기재되어 있다.As a resin composition which forms such an insulating layer, Patent Document 1, for example, discloses a thermosetting resin having a molecular weight of 800 to 1500 having a styrene group at (A) terminal, (B) liquid epoxy resin, (C) styrene-based thermoplastic elastomer, The resin composition which contains (D) filler and (E) hardening | curing agent and (D) component is 30-70 mass parts with respect to 100 mass parts of resin compositions is described.

특허문헌 1: 일본 공개특허공보 특개2016-147945호Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-147945

본 발명자는, 유전 정접이 낮은 절연층을 얻기 위해, 수지 조성물 전체를 저극성화하는 라디칼 중합성 화합물을 함유하는 수지 조성물에 대해 검토하였다. 그 결과, 라디칼 중합성 화합물을 수지 조성물에 함유시키면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시의 보존 안정성이 떨어진다는 새로운 과제가 발견되었다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM This inventor examined the resin composition containing the radically polymerizable compound which makes the whole resin composition low polarization, in order to obtain the insulating layer with low dielectric tangent. As a result, when a radically polymerizable compound is contained in a resin composition, the new subject that the storage stability of the resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent is inferior was discovered.

본 발명의 과제는, 수지 바니시의 보존 안정성이 뛰어나고 유전 정접이 낮은 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판 및 반도체장치를 제공하는 것에 있다.The subject of this invention is resin composition which can obtain the hardened | cured material which is excellent in the storage stability of resin varnish, and low dielectric loss tangent; Resin sheet containing the resin composition; It is providing the printed wiring board and semiconductor device provided with the insulating layer formed using the said resin composition.

본 발명자는 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, (D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지에 추가하여, (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, 및 스티렌 단위의 함유량이 소정의 범위인 (C) 스티렌계 엘라스토머를 조합하여 포함하는 수지 조성물에 의해 상기 과제를 해결할 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성시켰다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly examining in order to solve the said subject, in addition to resin which has a (D) radically polymerizable unsaturated group, content of (A) epoxy resin, (B) hardening | curing agent, and a styrene unit is a predetermined range ( C) It was found that the above problems can be solved by a resin composition containing a combination of styrene-based elastomers, thereby completing the present invention.

즉, 본 발명은, 하기의 내용을 포함한다.That is, this invention includes the following content.

[1] (A) 에폭시 수지,[1] (A) epoxy resin,

(B) 경화제,(B) curing agent,

(C) 스티렌계 엘라스토머, 및(C) styrenic elastomers, and

(D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지(D) Resin having a radical polymerizable unsaturated group

를 포함하고,Including,

(C) 성분 중의 스티렌 단위의 함유량이, (C) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 이상인, 수지 조성물.The resin composition which is 61 mass% or more when content of the styrene unit in (C) component makes 100 mass% (C) component.

[2] (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%라고 한 경우, 0.5질량% 이상 18질량% 이하인, [1]에 기재된 수지 조성물.[2] The resin composition according to [1], wherein the content of the component (C) is 0.5 mass% or more and 18 mass% or less when the resin component in the resin composition is 100 mass%.

[3] (D) 성분이, 비닐페닐기, 아크릴로일기, 및 메타크릴로일기로부터 선택된 적어도 1종을 포함하는, [1] 또는 [2]에 기재된 수지 조성물.[3] The resin composition according to [1] or [2], in which the component (D) contains at least one member selected from vinylphenyl group, acryloyl group, and methacryloyl group.

[4] (D) 성분의 수 평균 분자량이 3000 이하인, [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[4] The resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the number average molecular weight of the component (D) is 3000 or less.

[5] 추가로, (E) 무기 충전재를 포함하는, [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], further comprising (E) an inorganic filler.

[6] (E) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 50질량% 이상인, [5]에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to [5], wherein the content of the component (E) is 50% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.

[7] 절연층 형성용인, [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], which is for forming an insulating layer.

[8] 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[8] The resin composition according to any one of [1] to [7], which is for forming an insulation layer for forming a conductor layer.

[9] 스퍼터 또는 금속박으로 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, [1]내지 [8] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], which is for forming an insulating layer for forming a conductor layer from sputter or metal foil.

[10] 탑 지름이 45㎛ 이하인 비아홀을 갖는 절연층 형성용인, [1] 내지 [9] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[10] The resin composition according to any one of [1] to [9], which is for forming an insulating layer having a via hole having a top diameter of 45 μm or less.

[11] 두께가 20㎛ 이하의 절연층 형성용인, [1] 내지 [10] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[11] The resin composition according to any one of [1] to [10], wherein the thickness is for forming an insulating layer having a thickness of 20 µm or less.

[12] 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물 층을 포함하는, 수지 시트.[12] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer comprising the resin composition according to any one of [1] to [11] provided on the support.

[13] [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.[13] A printed wiring board comprising an insulating layer formed of the cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11].

[14] [13]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[14] A semiconductor device comprising the printed wiring board described in [13].

본 발명에 의하면, 수지 바니시의 보존 안정성이 뛰어나고 유전 정접이 낮은 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판 및 반도체장치를 제공할 수 있다.According to this invention, it is excellent in the storage stability of resin varnish, and the resin composition which can obtain the hardened | cured material with low dielectric tangent; Resin sheet containing the resin composition; The printed wiring board and semiconductor device provided with the insulating layer formed using the said resin composition can be provided.

이하, 실시형태 및 예시물을 나타내어 본 발명에 대해 상세히 설명한다. 단, 본 발명은, 이하 실시형태 및 예시물에 한정되지 않으며, 본 발명의 청구범위 및 그 균등한 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경하여 실시할 수 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment and illustration are shown and this invention is demonstrated in detail. However, this invention is not limited to a following embodiment and an illustration, It can change and implement arbitrarily in the range which does not deviate from the Claim of this invention, and its equal range.

[수지 조성물][Resin composition]

본 발명의 수지 조성물은 (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 스티렌계 엘라스토머, 및 (D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지를 포함하고, (C) 성분 중의 스티렌 단위의 함유량이, (C) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 이상이다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 수지 바니시의 보존 안정성이 뛰어나고 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 것이 가능해진다. 또한, 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 통상, 도체층과의 사이의 필 강도를 높이는 것이 가능하다.The resin composition of this invention contains the resin which has (A) epoxy resin, (B) hardening | curing agent, (C) styrene-type elastomer, and (D) radically polymerizable unsaturated group, and content of the styrene unit in (C) component, When (C) component is 100 mass%, it is 61 mass% or more. By using such a resin composition, it becomes possible to obtain the hardened | cured material which is excellent in the storage stability of resin varnish, and low in dielectric tangent. In addition, by using such a resin composition, it is possible to raise the peeling strength with a conductor layer normally.

수지 조성물은, (A) 내지 (D)성분에 조합하여, 추가로 임의의 성분을 포함하고 있어도 좋다. 임의인 성분으로서는, 예를 들면, (E) 무기 충전재, (F) (C) 성분 이외의 스티렌계 엘라스토머, (G) 경화 촉진제, (H) 중합 개시제, 및 (I) 기타 첨가제 등을 들 수 있다. 이하, 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대해 상세히 설명한다.The resin composition may further contain arbitrary components in combination with (A)-(D) component. As arbitrary components, (E) inorganic filler, (F) styrene-type elastomers other than (C) component, (G) hardening accelerator, (H) polymerization initiator, (I) other additive, etc. are mentioned, for example. have. Hereinafter, each component contained in a resin composition is explained in full detail.

<(A) 에폭시 수지><(A) Epoxy Resin>

(A) 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상(線狀) 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As the (A) epoxy resin, for example, a bixylenol type epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a bisphenol S type epoxy resin, a bisphenol AF type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, and a tris Phenol type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin , Glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring Epoxy resin, cyclohexane epoxy resin, cyclohexane dimethanol epoxy resin, naphthylene ether A foxy resin, a trimethylol type epoxy resin, a tetraphenyl ethane type epoxy resin, etc. are mentioned. An epoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

수지 조성물은, (A) 에폭시 수지로서, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, (A) 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.It is preferable that a resin composition contains the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule as (A) epoxy resin. From the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention, the ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule to 100% by mass of the nonvolatile component of the (A) epoxy resin is preferably 50% by mass or more, and more. Preferably it is 60 mass% or more, Especially preferably, it is 70 mass% or more.

에폭시 수지에는, 온도 20℃에서 액상인 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있음)와, 온도 20℃에서 고체상인 에폭시 수지(이하 「고체상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있음)가 있다. 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 고체상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 포함하고 있어도 좋다.The epoxy resin may be a liquid epoxy resin (hereinafter may be referred to as "liquid epoxy resin") at a temperature of 20 ° C, and an epoxy resin (hereinafter may be referred to as "solid epoxy resin") which is solid at a temperature of 20 ° C. . The resin composition may contain only the liquid epoxy resin as the epoxy resin (A), may contain only the solid epoxy resin, or may contain the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin in combination.

고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계의 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As a solid epoxy resin, the solid epoxy resin which has three or more epoxy groups in 1 molecule is preferable, and the aromatic solid epoxy resin which has three or more epoxy groups in 1 molecule is more preferable.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하고, 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As a solid epoxy resin, a bixylenol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, a cresol novolak type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, a trisphenol type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a non- A phenyl type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol AF type epoxy resin, and a tetraphenylethane type epoxy resin are preferable, and a naphthalene type epoxy resin is more preferable.

고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-690」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-695」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-7200」, 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC7000L」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 가가쿠사 제조의 「ESN475V」(나프톨형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 가가쿠사 제조의 「ESN485」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000H」, 「YX4000」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미컬사 제조의 「PG-100」, 「CG-500」; 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1010」(고체상 비스페놀 A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a solid epoxy resin, "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin) by DIC Corporation; "HP-4700" and "HP-4710" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) by DIC Corporation; "N-690" (cresol novolak-type epoxy resin) by DIC Corporation; "N-695" (cresol novolak-type epoxy resin) by DIC Corporation; "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H" (dicyclopentadiene type epoxy resin) by DIC Corporation; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", and "HP6000" by a DIC company (naphthylene ether type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC7000L" (naphthol novolak-type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin); "ESN475V" (naphthol type epoxy resin) by Shin-Nitetsu Sumikin Chemical Co., Ltd .; "ESN485" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Chemical Co., Ltd. (naphthol novolac type epoxy resin); "YX4000H", "YX4000", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "YX4000HK" by Mitsubishi Chemical Corporation (Bixylenol type epoxy resin); "YX8800" (Anthracene type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "PG-100" and "CG-500" by Osaka Gas Chemical Co., Ltd .; "YL7760" (Bisphenol AF type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "YL7800" (fluorene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "JER1010" by the Mitsubishi Chemical Corporation (solid bisphenol A epoxy resin); "JER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하다.As a liquid epoxy resin, the liquid epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule is preferable.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, glycidyl ester type epoxy resins, glycidylamine type epoxy resins, and phenol novolac type epoxy resins. , An alicyclic epoxy resin having an ester skeleton, a cyclohexane type epoxy resin, a cyclohexane dimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin is more preferable.

액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「828US」, 「jER828EL」, 「825」, 「에피코트 828EL」(비스페놀 A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER807」, 「1750」(비스페놀 F형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER152」(페놀 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「630」, 「630LSD」(글리시딜아민형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨카가쿠사 제조의 「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨카가쿠사 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a liquid epoxy resin, "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) by a DIC company; Mitsubishi Chemical Corporation "828US", "jER828EL", "825", "Epicoat 828EL" (bisphenol A type epoxy resin); "JER807" and "1750" by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol F type epoxy resin); "JER152" (Methanol novolak-type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "ZX1059" by Shin-Nitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd. (mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin); "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin) by Nagase Chemtex Co., Ltd .; "Celoxide 2021P" by Daicel Corporation (alicyclic epoxy resin which has ester frame | skeleton); "PB-3600" by the Daicel company (epoxy resin which has butadiene structure); "ZX1658" and "ZX1658GS" (Liquid 1,4-glycidyl cyclohexane type epoxy resin) by Shin-Nitetsu Suminkagaku Co., etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

(A) 에폭시 수지로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 사용하는 경우, 이들의 양비(量比)(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 바람직하게는 1:1 내지 1:20, 보다 바람직하게는 1:1.5 내지 1:15, 특히 바람직하게는 1:2 내지 1:10이다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비가 이러한 범위에 있음으로써, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻을 수 있다. 또한, 통상, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에, 적당한 점착성을 가져온다. 또한, 통상, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에, 충분한 가요성을 얻을 수 있고, 취급성이 향상된다. 또한, 통상, 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.(A) When using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as an epoxy resin, these ratios (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) are mass ratio, Preferably it is 1: 1-1: 20, more preferably 1: 1.5 to 1:15, and particularly preferably 1: 2 to 1:10. When the ratio between the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin is in this range, the desired effect of the present invention can be remarkably obtained. Moreover, when using normally in the form of a resin sheet, moderate adhesiveness is brought. Moreover, when using normally in the form of a resin sheet, sufficient flexibility can be obtained and handleability improves. Moreover, the hardened | cured material which has sufficient breaking strength normally can be obtained.

(A) 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50g/eq.내지 5000g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq.내지 3000g/eq., 더욱 바람직하게는 80g/eq. 내지 2000g/eq., 보다 더 바람직하게는 110g/eq. 내지 1000g/eq.이다. 이 범위가 됨으로써, 수지 조성물 층의 경화물의 가교 밀도가 충분해지고, 표면 거칠기가 작은 절연층을 형성할 수 있다. 에폭시 당량은, 1당량의 에폭시기를 포함하는 에폭시 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은 JIS K7236에 따라 측정할 수 있다.(A) The epoxy equivalent of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 50g / eq.-5000g / eq., More preferably, it is 50g / eq.-3000g / eq., More preferably, it is 80g / eq. To 2000 g / eq., Even more preferably 110 g / eq. To 1000 g / eq. By setting it as this range, the crosslinking density of the hardened | cured material of a resin composition layer becomes enough, and the insulating layer with a small surface roughness can be formed. Epoxy equivalent is the mass of the epoxy resin containing 1 equivalent of epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JISK7236.

(A) 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 250 내지 3000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1500이다.The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin (A) is preferably from 100 to 5000, more preferably from 250 to 3000, still more preferably from 400 to 1500 from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention.

수지의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해, 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.The weight average molecular weight of resin can be measured as a value of polystyrene conversion by the gel permeation chromatography (GPC) method.

(A) 에폭시 수지의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 했을 때, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 2질량% 이상, 더욱 바람직하게는 3질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 15질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 특히 바람직하게는 5질량% 이하다. 또한, 본 발명에 있어서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 했을 때의 값이다.(A) When content of epoxy resin makes 100 mass% of non volatile components in a resin composition from a viewpoint of obtaining the insulating layer which shows favorable mechanical strength and insulation reliability, Preferably it is 1 mass% or more, More preferably, 2 mass% or more, More preferably, it is 3 mass% or more. The upper limit of the content of the epoxy resin is preferably 15% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, particularly preferably 5% by mass or less from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. In addition, in this invention, content of each component in a resin composition is a value at the time of making non-volatile component in a resin composition 100 mass% unless there is particular notice.

<(B) 경화제><(B) Curing Agent>

수지 조성물은 (B) 성분으로서 경화제를 포함한다. (B) 경화제는, 통상, (A) 에폭시 수지와 반응하여 수지 조성물을 경화시키는 기능을 갖는다.The resin composition contains a curing agent as the component (B). (B) A hardening | curing agent has a function which reacts with the (A) epoxy resin normally and hardens a resin composition.

(B) 경화제로서는, 예를 들면, 활성 에스테르계 경화제, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 카보디이미드계 경화제, 아민계 경화제, 산 무수물계 경화제 등을 들 수 있다. (B) 경화제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종류 이상을 병용해도 좋다.As the (B) hardener, for example, an active ester hardener, a phenol hardener, a naphthol hardener, a benzoxazine hardener, a cyanate ester hardener, a carbodiimide hardener, an amine hardener, an acid anhydride hardener, etc. Can be mentioned. (B) A hardening | curing agent may be used individually by 1 type, or may use two or more types together.

활성 에스테르계 경화제로서는, 1분자 중에 1개 이상의 활성 에스테르기를 갖는 화합물을 사용할 수 있다. 그 중에서도, 활성 에스테르계 경화제로서는, 페놀 에스테르류, 티오페놀 에스테르류, N-하이드록시아민 에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히, 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다.As an active ester type hardening | curing agent, the compound which has 1 or more active ester group in 1 molecule can be used. Especially, as an active ester type hardening | curing agent, it has two or more ester groups with high reaction activity in 1 molecule, such as phenol ester, thiophenol ester, N-hydroxyamine ester, and ester of a heterocyclic hydroxy compound. Compounds are preferred. It is preferable that the said active ester type hardening | curing agent is obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound, a hydroxy compound, and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound, a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable.

카복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다.Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid.

페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등을 들 수 있다. 여기서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, and m-. Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxy benzophenone, tetrahydroxy benzophenone, a fluoroglucin, benzene triol, a dicyclopentadiene type diphenol compound, a phenol novolak, etc. are mentioned. Here, a "dicyclopentadiene type diphenol compound" means the diphenol compound obtained by condensing 2 molecules of phenol to 1 molecule of dicyclopentadiene.

활성 에스테르계 경화제의 바람직한 구체예로서는, 디사이클로펜타디엔형디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀 노볼락의 벤조일화를 포함하는 활성 에스테르계 경화제를 들 수 있다. 그 중에서도, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어진 2가의 구조 단위를 나타낸다.Specific examples of the active ester curing agent include an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, an active ester curing agent containing a naphthalene structure, an active ester curing agent containing an acetylate of phenol novolac, and a phenol furnace. And active ester curing agents including benzoylation of volacs. Especially, the active ester type hardening | curing agent containing a naphthalene structure and the active ester type hardening | curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. "Dicyclopentadiene type diphenol structure" represents the bivalent structural unit which consists of phenylene dicyclopentylene phenylene.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC8000-65T」, 「HPC8000H-65TM」, 「EXB8000L-65TM」, 「EXB8150-65T」(DIC사 제조); 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서 「EXB9416-70BK」(DIC사 제조); 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서「DC808」(미츠비시 케미컬사 제조); 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시 케미컬사 제조); 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「DC808」(미츠비시 케미컬사 제조); 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시 케미컬사 제조), 「YLH1030」(미츠비시 케미컬사 제조), 「YLH1048」(미츠비시 케미컬사 제조) 등을 들 수 있다.As a commercial item of an active ester hardening | curing agent, as an active ester hardening | curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, it is "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC8000-65T", "HPC8000H-65TM", " EXB8000L-65TM "and" EXB8150-65T "(manufactured by DIC Corporation); "EXB9416-70BK" (made by DIC Corporation) as an active ester type hardening | curing agent containing a naphthalene structure; As an active ester hardening | curing agent containing the acetylide of a phenol novolak, "DC808" (made by Mitsubishi Chemical Corporation); "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester curing agent containing a benzoylidene of phenol novolac; "DC808" (made by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester hardening | curing agent which is an acetylide of a phenol novolak; Examples of the active ester curing agent which is a benzomonide of phenol novolac include "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 것이 바람직하다. 또한, 도체층과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다.As a phenol type hardening | curing agent and a naphthol type hardening | curing agent, what has a novolak structure from a heat resistant and water resistant viewpoint is preferable. Moreover, a nitrogen-containing phenol type hardening | curing agent is preferable from a viewpoint of adhesiveness with a conductor layer, and a triazine skeleton containing phenol type hardening | curing agent is more preferable.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」; 닛폰 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」; 신닛테츠 스미킨 가가쿠사 제조의 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN-495V」, 「SN375」; DIC사 제조의 「TD-2090」, 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-1356」, 「LA-3018-50P」, 「EXB-9500」 등을 들 수 있다.As a specific example of a phenol type hardening | curing agent and a naphthol type hardening | curing agent, For example, "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" by Meiwa Kasei Co., Ltd .; Nippon Kayaku Co., Ltd. "NHN", "CBN", "GPH"; "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN-495V", "SN375" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Corporation; "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018-50P", "EXB-9500", etc. made by DIC Corporation are mentioned.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, JFE 케미컬사 제조의 「ODA-BOZ」, 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠 카세이코교사 제조의 「P-d」, 「F-a」를 들 수 있다.As an example of a benzoxazine type hardening | curing agent, "ODA-BOZ" by JFE Chemical Co., Ltd. "HFB2006M" by Showa Kobunshi company, "P-d" by Shikoku Kasei Co., Ltd., and "F-a" are mentioned.

시아네이트 에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르, 등의 2관능 시아네이트 수지; 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지; 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트 에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(페놀 노볼락형 다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「ULL-950S」(다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 삼량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.As a cyanate ester type hardening | curing agent, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene- 1, 5- phenylene cyanate), 4,4'- methylenebis (2, 6-, for example) Dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4- Cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-sia Bifunctional cyanate resins such as natephenyl) thioether and bis (4-cyanatephenyl) ether; Polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolac, cresol novolac and the like; Prepolymer etc. which these cyanate resin partially triazineized are mentioned. As a specific example of cyanate ester type hardening | curing agent, "PT30" and "PT60" (phenol phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resin) by Lonza Japan company, "ULL-950S" (polyfunctional cyanate ester resin), "BA230 And "BA230S75" (a prepolymer in which part or all of the bisphenol A dicyanate is triazineated to form a trimer).

카보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛신보 케미컬사 제조의 「V-03」, 「V-05」, 「V-07」, 「V-09」; 라인케미사 제조의 스타바크졸(등록상표) P 등을 들 수 있다.As a specific example of a carbodiimide-type hardening | curing agent, "V-03", "V-05", "V-07", "V-09" by Nisshinbo Chemical Co., Ltd .; Stavazol (registered trademark) P manufactured by Rheinchem Co., Ltd. may be mentioned.

아민계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 아미노기를 갖는 경화제를 들 수 있고, 예를 들면, 지방족 아민류, 폴리에테르아민류, 지환식 아민류, 방향족 아민류 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 나타내는 관점에서, 방향족 아민류가 바람직하다. 아민계 경화제는, 제1급 아민 또는 제2급 아민이 바람직하고, 제1급 아민이 보다 바람직하다. 아민계 경화제의 구체예로서는, 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸아닐린), 디페닐디아미노설폰, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐설폰, 3,3'-디아미노디페닐설폰, m-페닐렌디아민, m-크실릴덴디아민, 디에틸톨루엔디아민, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디하이드록시벤지딘, 2,2-비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)프로판), 3,3-디메틸-5,5-디에틸-4,4-디페닐메탄디아민, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판), 2,2-비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)설폰, 비스(4-(3-아미노페녹시)페닐)설폰, 등을 들 수 있다. 아민계 경화제는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 닛폰 카야쿠사 제조의 「KAYABOND C-200S」, 「KAYABOND C-100」, 「카야하드 A-A」, 「카야하드 A-B」, 「카야하드 A-S」, 미츠비시 케미컬사 제조의 「에피큐어 W」 등을 들 수 있다.As an amine-type hardening | curing agent, the hardening | curing agent which has 1 or more amino group in 1 molecule is mentioned, For example, aliphatic amines, polyetheramines, alicyclic amines, aromatic amines, etc. are mentioned, Especially, of this invention From the viewpoint of showing the desired effect, aromatic amines are preferred. Primary amine or secondary amine is preferable, and, as for an amine hardening | curing agent, a primary amine is more preferable. Specific examples of the amine curing agent include 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylaniline), diphenyldiaminosulfone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone , 3,3'-diaminodiphenylsulfone, m-phenylenediamine, m-xylyldendiamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenylether, 3,3'-dimethyl-4, 4'-diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl ) Propane), 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane), 2,2-bis (4- (4 -Aminophenoxy) phenyl) propane, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene , 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) sulfone, bis (4- (3-aminophenoxy) phenyl) sulfone, and the like. Can be. Amine-type hardener may use a commercial item, for example, "KAYABOND C-200S" made by Nippon Kayaku Co., Ltd. "KAYABOND C-100", "Kayahad AA", "Kayahad AB", "Kayahad AS" And "Epicure W" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

산 무수물계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 산 무수물기를 갖는 경화제를 들 수 있다. 산 무수물계 경화제의 구체예로서는, 무수 프탈산, 테트라하이드로 무수프탈산, 헥사하이드로 무수프탈산, 메틸테트라하이드로 무수프탈산, 메틸헥사하이드로 무수프탈산, 메틸나딕산 무수물, 수소화 메틸나딕산 무수물, 트리알킬테트라하이드로 무수프탈산, 도데세닐 무수석신산, 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-3-사이클로헥센-1,2-디카복실산 무수물, 무수트리멜리트산, 무수피로멜리트산, 벤조페논테트라카복실산 이무수물, 비페닐테트라카복실산 이무수물, 나프탈렌테트라카복실산 이무수물, 옥시디프탈산 이무수물, 3,3'-4,4'-디페닐설폰테트라카복실산 이무수물, 1,3,3a,4,5,9b-헥사하이드로-5-(테트라하이드로-2,5-디옥소-3-푸라닐)-나프토[1,2-C]푸란-1,3-디온, 에틸렌글리콜비스(안하이드로트리멜리테이트), 스티렌과 말레산이 공중합한 스티렌·말레산 수지 등의 폴리머형의 산 무수물 등을 들 수 있다.As an acid anhydride type hardening | curing agent, the hardening | curing agent which has 1 or more acid anhydride group in 1 molecule is mentioned. Specific examples of the acid anhydride curing agent include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic acid anhydride, hydrogenated methylnadic acid anhydride and trialkyltetrahydrophthalic anhydride. , Dodecenyl succinic anhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, trimellitic anhydride, pyromelli anhydride Acid, benzophenonetetracarboxylic dianhydride, biphenyltetracarboxylic dianhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride, 1,3, 3a, 4,5,9b-hexahydro-5- (tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl) -naphtho [1,2-C] furan-1,3-dione, ethylene glycol bis Anhydro trimellitate, a copolymer of styrene and maleic acid Polymeric acid anhydrides, such as a styrene maleic acid resin, etc. are mentioned.

상술한 것 중에서도, (B) 경화제로서는, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 페놀계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 카보디이미드계 경화제, 벤조옥사진계 경화제로부터 선택되는 1종 이상인 것이 바람직하다.Among the above-mentioned, as (B) hardening | curing agent, it is preferable that they are 1 or more types chosen from a phenol type hardening | curing agent, an active ester type hardening | curing agent, a carbodiimide type hardening | curing agent, and a benzoxazine type hardening | curing agent from a viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of this invention. .

(A) 에폭시 수지와 (B) 경화제의 양비는, [(A) 성분의 에폭시기의 합계수]: [(B) 경화제의 반응기의 합계수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:20의 범위가 바람직하고, 1:0.05 내지 1:10이 보다 바람직하고, 1:0.1 내지 1:8이 더욱 바람직하다. 여기서, 「(A) 에폭시 수지의 에폭시기수」란, 수지 조성물 중에 존재하는 (A) 에폭시 수지의 불휘발 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. 또한, 「(B) 경화제의 활성기수」란, 수지 조성물 중에 존재하는 (B) 경화제의 불휘발 성분의 질량을 활성기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. (A) 에폭시 수지와 (B) 경화제의 양비를 이러한 범위 내로 함으로써, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻을 수 있고, 또한, 통상, 수지 조성물 층의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The ratio of (A) epoxy resin and (B) hardening | curing agent is a ratio of [total number of epoxy groups of (A) component]: [total number of reactors of (B) hardening agent], and it is the range of 1: 0.01 to 1:20. Is preferable, 1: 0.05-1: 10 are more preferable, 1: 0.1-1: 8 are still more preferable. Here, "the number of epoxy groups of (A) epoxy resin" is the value which totaled the value which divided the mass of the non-volatile component of (A) epoxy resin which exists in a resin composition by epoxy equivalent. In addition, "the number of active groups of (B) hardening | curing agent" is the value which totaled the value which divided the mass of the non volatile component of the (B) hardening | curing agent which exists in a resin composition by the active group equivalent. By setting the ratio between the (A) epoxy resin and the (B) curing agent within such a range, the desired effect of the present invention can be remarkably obtained, and usually, the heat resistance of the cured product of the resin composition layer is further improved.

(B) 경화제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 이상이며, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 15질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10질량% 이하이다.(B) Content of a hardening | curing agent is 0.1 mass% or more with respect to 100 mass% of non volatile components in a resin composition from a viewpoint which remarkably acquires the desired effect of this invention, More preferably, it is 0.3 mass% or more, More preferably, Preferably it is 0.5 mass% or more, Preferably it is 20 mass% or less, More preferably, it is 15 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or less.

<(C) 스티렌계 엘라스토머><(C) styrene elastomer>

수지 조성물은 (C) 스티렌계 엘라스토머를 함유한다. (C) 스티렌계 엘라스토머 중의 스티렌 단위의 함유량은, (C) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 이상이다. (C) 스티렌계 엘라스토머는, 스티렌 단위를 61질량% 이상 포함하므로, (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, 및 (D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지와의 상용성이 높다. 따라서, (A) 성분 및 (B) 성분과 (D) 성분과의 상 분리를 억제할 수 있다. 따라서, 수지 바니시의 보존 안정성을 향상시킬 수 있다.The resin composition contains (C) styrenic elastomer. Content of the styrene unit in (C) styrene-type elastomer is 61 mass% or more, when letting (C) component be 100 mass%. Since (C) styrene-type elastomer contains 61 mass% or more of styrene units, compatibility with (A) epoxy resin, (B) hardening | curing agent, and (D) radically polymerizable unsaturated group is high. Therefore, phase separation of (A) component, (B) component, and (D) component can be suppressed. Therefore, the storage stability of resin varnish can be improved.

(C) 스티렌계 엘라스토머중의 스티렌 단위의 함유량으로서는, (C) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 이상이며, 바람직하게는 63질량% 이상, 보다 바람직하게는 65질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 80질량% 이하, 보다 바람직하게는 75질량% 이하, 더욱 바람직하게는 70질량% 이하이다. 스티렌 단위의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, (A) 에폭시 수지 및 (B) 경화제와 (D) 성분과의 상용성을 보다 높일 수 있고, 그 결과, 수지 바니시의 보존 안정성을 향상시킬 수 있다. 상기 스티렌 단위의 함유량은, 예를 들면 (C) 성분을 구성하는 모노머의 주입량에 의해 측정할 수 있다.(C) As content of the styrene unit in a styrene-type elastomer, when (C) component is 100 mass%, it is 61 mass% or more, Preferably it is 63 mass% or more, More preferably, it is 65 mass% or more. Preferably an upper limit is 80 mass% or less, More preferably, it is 75 mass% or less, More preferably, it is 70 mass% or less. By carrying out content of a styrene unit in such a range, compatibility with (A) epoxy resin, (B) hardening | curing agent, and (D) component can be improved more, and as a result, the storage stability of resin varnish can be improved. Content of the said styrene unit can be measured by the injection amount of the monomer which comprises (C) component, for example.

(C) 스티렌계 엘라스토머로서는, 스티렌을 중합하여 얻어지는 구조를 갖는 반복 단위(스티렌 단위)를 포함하는 임의의 엘라스토머를 사용할 수 있다. (C) 스티렌계 엘라스토머는, 스티렌 단위에 조합하여, 상기 스티렌 단위와는 다른 임의의 반복 단위를 포함하는 공중합체라도 좋다.As the (C) styrene-based elastomer, any elastomer including a repeating unit (styrene unit) having a structure obtained by polymerizing styrene can be used. (C) The styrene-based elastomer may be a copolymer including any repeating unit different from the styrene unit in combination with the styrene unit.

임의의 반복 단위로서는, 예를 들면, 공액 디엔을 중합하여 얻어지는 구조를 갖는 반복 단위(공액 디엔 단위), 이를 수소화하여 얻어지는 구조를 갖는 반복 단위(수소 첨가 공액 디엔 단위) 등을 들 수 있다.As arbitrary repeating units, the repeating unit (conjugated diene unit) which has a structure obtained by superposing | polymerizing a conjugated diene, the repeating unit (hydrogenated conjugated diene unit) which has a structure obtained by hydrogenating this, etc. are mentioned, for example.

공액 디엔으로서는, 예를 들면, 부타디엔, 이소프렌, 2,3-디메틸부타디엔, 1,3-펜타디엔, 1,3-헥사디엔 등의 지방족 공액 디엔; 클로로프렌 등의 할로겐화 지방족 공액 디엔 등을 들 수 있다. 공액 디엔으로서는, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서 지방족 공액 디엔이 바람직하고, 부타디엔이 보다 바람직하다. 공액 디엔은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the conjugated diene include aliphatic conjugated dienes such as butadiene, isoprene, 2,3-dimethylbutadiene, 1,3-pentadiene, and 1,3-hexadiene; Halogenated aliphatic conjugated dienes, such as chloroprene, etc. are mentioned. As a conjugated diene, an aliphatic conjugated diene is preferable from a viewpoint of remarkably obtaining the effect of this invention, and butadiene is more preferable. A conjugated diene may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(C) 스티렌계 엘라스토머는, 랜덤 공중합체라도 좋지만, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 블럭 공중합체인 것이 바람직하다. (C) 스티렌계 엘라스토머로서는, 스티렌-공액 디엔 블럭 공중합체, 수소 첨가 스티렌-공액 디엔 공중합체가 바람직하다. 특히 바람직한 (C) 스티렌계 엘라스토머로서는, 예를 들면, 스티렌 단위를 포함하는 중합 블럭을 적어도 1개의 말단 블럭으로서 갖고, 또한 공액 디엔 단위 또는 수소 첨가 공액 디엔 단위를 포함하는 중합 블럭을 적어도 1개의 중간 블럭으로서 포함하는 블럭 공중합체를 들 수 있다.(C) Although the styrene-type elastomer may be a random copolymer, it is preferable that it is a block copolymer from a viewpoint of remarkably obtaining the effect of this invention. As the styrene-based elastomer (C), styrene-conjugated diene block copolymers and hydrogenated styrene-conjugated diene copolymers are preferable. Particularly preferred (C) styrenic elastomers include, for example, a polymerization block containing styrene units as at least one terminal block, and at least one intermediate block containing a conjugated diene unit or a hydrogenated conjugated diene unit. The block copolymer contained as a block is mentioned.

수소 첨가 스티렌-공액 디엔 블럭 공중합체란, 스티렌-공액 디엔 블럭 공중합체의 불포화 결합을 수소화하여 얻어지는 구조를 갖는 블럭 공중합체를 나타낸다. 통상, 이 수소 첨가 스티렌-공액 디엔 블럭 공중합체는, 지방족의 불포화 결합이 수소화되어, 벤젠환 등의 방향족의 불포화 결합은 수소화되어 있지 않다.Hydrogenated styrene-conjugated diene block copolymer represents the block copolymer which has a structure obtained by hydrogenating the unsaturated bond of a styrene-conjugated diene block copolymer. Usually, in this hydrogenated styrene conjugated diene block copolymer, an aliphatic unsaturated bond is hydrogenated and aromatic unsaturated bonds, such as a benzene ring, are not hydrogenated.

(C) 스티렌계 엘라스토머의 구체예로서는, 스티렌-부타디엔-스티렌 블럭 공중합체(SBS), 스티렌-이소프렌-스티렌 블럭 공중합체(SIS), 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블럭 공중합체(SEBS), 스티렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블럭 공중합체(SEPS), 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블럭 공중합체(SEEPS), 스티렌-부타디엔-부틸렌-스티렌 블럭 공중합체(SBBS), 스티렌-부타디엔 디블럭 코폴리머, 수소 첨가 스티렌-부타디엔 블럭 공중합체, 수소 첨가 스티렌-이소프렌 블럭 공중합체, 수소 첨가 스티렌-부타디엔 랜덤 공중합체 등을 들 수 있다.Specific examples of the (C) styrene-based elastomers include styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), and styrene. -Ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), styrene-butadiene diblock co Polymers, hydrogenated styrene-butadiene block copolymers, hydrogenated styrene-isoprene block copolymers, hydrogenated styrene-butadiene random copolymers, and the like.

(C) 스티렌계 엘라스토머의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 1000 내지 500000, 보다 바람직하게는 2000 내지 300000, 더욱 바람직하게는 3000 내지 200000이다. (C) 스티렌계 엘라스토머의 중량 평균 분자량은, (A) 에폭시 수지의 중량 평균 분자량과 동일한 방법으로 측정할 수 있다.(C) The weight average molecular weight (Mw) of the styrene-based elastomer is preferably from 1000 to 500000, more preferably from 2000 to 300000, still more preferably from 3000 to 200000 from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. The weight average molecular weight of (C) styrene-type elastomer can be measured by the method similar to the weight average molecular weight of (A) epoxy resin.

(C) 성분은, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 「터프텍 P2000」(아사히 카세이사 제조); 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「셉톤 2104」(쿠라레사 제조) 등을 들 수 있다. (C) 성분은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.A commercial item may be used for (C) component, For example, hydrogenated styrene-type thermoplastic elastomer "Toughtec H1043", "Toughtec P2000" (made by Asahi Kasei); Styrene-type thermoplastic elastomer "Septon 2104" (made by Kuraray Co., Ltd.) etc. are mentioned. (C) A component may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

(C) 성분의 함유량은, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 이상이다. 상한은 바람직하게는 18질량% 이하, 보다 바람직하게는 15질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10질량% 이하, 4질량% 이하이다.Content of (C) component, when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass% from a viewpoint of remarkably obtaining the effect of this invention, Preferably it is 0.1 mass% or more, More preferably, it is 0.3 mass% or more, Furthermore, Preferably it is 0.5 mass% or more. Preferably an upper limit is 18 mass% or less, More preferably, it is 15 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or less and 4 mass% or less.

(C) 성분의 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우의 함유량을 C1이라고 하고, (B) 성분의 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우의 함유량을 B1이라고 한다. 이 경우, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, C1/B1은, 바람직하게는 0.01 이상, 보다 바람직하게는 0.05 이상, 더욱 바람직하게는 0.1 이상이며, 바람직하게는 10 이하, 보다 바람직하게는 5 이하, 더욱 바람직하게는 3 이하이다.Content when the nonvolatile component in the resin composition of (C) component is 100 mass% is called C1, and content when the nonvolatile component in the resin composition of (B) component is 100 mass% is called B1. In this case, from the viewpoint of remarkably obtaining the effect of the present invention, C1 / B1 is preferably 0.01 or more, more preferably 0.05 or more, still more preferably 0.1 or more, preferably 10 or less, more preferably 5 Hereinafter, More preferably, it is three or less.

<(D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지><(D) Resin having a radically polymerizable unsaturated group>

수지 조성물은 (D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지를 함유한다. (D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지를 수지 조성물에 함유시킴으로써, 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 것이 가능해진다. (D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지를 사용하면, 그 경화물은 통상 유전 정접을 낮게 할 수 있는 한편, (D) 성분이 (A) 성분 및 (B) 성분과 상 분리를 일으켜서 수지 바니시의 보존 안정성이 저하되는 경향이 있다. 그러나, 본 발명에서는, 추가로 (C) 성분을 조합하여 함유시킴으로써 상 분리가 억제되어, 수지 바니시의 보존 안정성이 뛰어나고 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 것이 가능해진다.The resin composition contains a resin having the (D) radical polymerizable unsaturated group. (D) By containing resin which has a radically polymerizable unsaturated group in a resin composition, it becomes possible to obtain the hardened | cured material with low dielectric tangent. When the resin (D) having a radically polymerizable unsaturated group is used, the cured product can usually lower the dielectric tangent, while the component (D) causes phase separation with the component (A) and the component (B) so that the resin varnish There exists a tendency for storage stability to fall. However, in the present invention, by further containing (C) component in combination, phase separation is suppressed, and it is possible to obtain a cured product excellent in storage stability of the resin varnish and low in dielectric tangent.

라디칼 중합성 불포화기란, 활성 에너지선의 조사에 의해 경화성을 나타내는 에틸렌성 이중 결합을 갖는 기를 말한다. 이러한 기로서는, 예를 들면, 비닐기, 비닐페닐기, 아크릴로일기, 및 메타크릴로일기, 말레이미드기, 푸마로일기, 말레오일기를 들 수 있고, 비닐페닐기, 아크릴로일기, 및 메타크릴로일기로부터 선택된 적어도 1종인 것이 바람직하다. A radically polymerizable unsaturated group means group which has ethylenic double bond which shows sclerosis | hardenability by irradiation of an active energy ray. As such a group, a vinyl group, a vinylphenyl group, an acryloyl group, and a methacryloyl group, a maleimide group, a fumaroyl group, a maleoyl group are mentioned, for example, A vinylphenyl group, acryloyl group, and methacryl It is preferable that it is at least 1 sort (s) chosen from the royl group.

여기서, 아크릴로일기 및 메타크릴로일기를 합하여 「(메타))아크릴로일기」라고 하는 경우가 있다. 또한, 비닐페닐기는 이하에 나타낸 구조를 갖는 기이다.Here, acryloyl group and methacryloyl group may be referred to as "(meth)) acryloyl group". In addition, a vinylphenyl group is group which has a structure shown below.

Figure pat00001
Figure pat00001

(*는 결합손을 나타낸다)(* Indicates bond)

(D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지는, 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 관점에서, 1분자당 2개 이상의 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 것이 바람직하다.(D) It is preferable that resin which has a radically polymerizable unsaturated group has two or more radically polymerizable unsaturated groups per molecule from a viewpoint of obtaining hardened | cured material with low dielectric tangent.

(D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지는, 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 관점에서, 환상 구조를 갖는 것이 바람직하다. 환상 구조로서는, 2가의 환상기가 바람직하다. 2가의 환상기로서는, 지환식 구조를 포함하는 환상기 및 방향환 구조를 포함하는 환상기 중 어느 것이라도 좋다. 또한, 2가의 환상기는, 복수 갖고 있어도 좋다.(D) It is preferable that resin which has a radically polymerizable unsaturated group has a cyclic structure from a viewpoint of obtaining hardened | cured material with low dielectric tangent. As a cyclic structure, a bivalent cyclic group is preferable. As a bivalent cyclic group, any of the cyclic group containing an alicyclic structure and the cyclic group containing an aromatic ring structure may be sufficient. In addition, you may have two or more divalent ring groups.

2가의 환상기는, 본 발명이 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 3원환 이상, 보다 바람직하게는 4원환 이상, 더욱 바람직하게는 5원환 이상이며, 바람직하게는 20원환 이하, 보다 바람직하게는 15원환 이하, 더욱 바람직하게는 10원환 이하이다. 또한, 2가의 환상기로서는, 단환 구조라도 좋고, 다환 구조라도 좋다.The bivalent cyclic group is preferably a three-membered ring or more, more preferably a four-membered ring or more, even more preferably a five-membered ring or more, and preferably a 20-membered ring or less, more preferably from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. Is 15-membered ring or less, More preferably, it is 10-membered ring or less. Moreover, as a bivalent cyclic group, a monocyclic structure may be sufficient and a polycyclic structure may be sufficient.

2가의 환상기에서의 환은, 탄소 원자 이외에 헤테로 원자에 의해 환의 골격이 구성되어 있어도 좋다. 헤테로 원자로서는, 예를 들면, 산소 원자, 황 원자, 질소 원자 등을 들 수 있고, 산소 원자가 바람직하다. 헤테로 원자는, 상기 환에 1개 갖고 있어도 좋고, 2개 이상을 갖고 있어도 좋다.As for the ring in a bivalent cyclic group, the skeleton of a ring may be comprised by hetero atoms other than a carbon atom. As a hetero atom, an oxygen atom, a sulfur atom, a nitrogen atom, etc. are mentioned, for example, An oxygen atom is preferable. One hetero atom may have it in the said ring, and may have two or more.

2가의 환상기 구체예로서는 하기 2가의 기 (i) 내지 (xiii)를 들 수 있다.Specific examples of the divalent cyclic group include the following divalent groups (i) to (xiii).

Figure pat00002
Figure pat00002

(2가의 기 (xii), (xiii) 중, R1, R2, R5, R6, R7, R11, 및 R12는, 각각 독립적으로 할로겐 원자, 탄소 원자수 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타내고, R3, R4, R8, R9, 및 R10은, 각각 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 탄소 원자수 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타낸다)(In bivalent group (xii), (xiii), R <1> , R <2> , R <5> , R <6> , R <7> , R <11> and R <12> are respectively independently a halogen atom, an alkyl group of 6 or less carbon atoms, Or a phenyl group, and R 3 , R 4 , R 8 , R 9 , and R 10 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group)

할로겐 원자로서는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자를 들 수 있다. 탄소 원자수가 6 이하의 알킬기로서는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기 등을 들 수 있고, 메틸기인 것이 바람직하다. R1, R2, R5, R6, R7, R11, 및 R12로서는, 메틸기를 나타내는 것이 바람직하다. R3, R4, R8, R9, 및 R10은 수소 원자 또는 메틸기인 것이 바람직하다.As a halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom are mentioned. Examples of the alkyl group having 6 or less carbon atoms include methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, and the like, and are preferably methyl groups. Examples of R 1, R 2, R 5 , R 6, R 7, R 11, and R 12, preferably represents a methyl group. R 3 , R 4 , R 8 , R 9 , and R 10 are preferably a hydrogen atom or a methyl group.

또한, 2가의 환상기는, 복수의 2가의 환상기를 조합해도 좋다. 2가의 환상기를 조합한 경우의 구체예로서는 하기의 식 (a)로 표시되는 2가의 환상기(2가의 기(a))를 들 수 있다.In addition, you may combine a bivalent annular group with some bivalent annular group. As a specific example in the case of combining a bivalent cyclic group, the bivalent cyclic group (bivalent group (a)) represented by following formula (a) is mentioned.

Figure pat00003
Figure pat00003

(식 (a) 중, R21, R22, R25, R26, R27, R31, R32, R35 및 R36은, 각각 독립적으로 할로겐 원자, 탄소 원자수 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타내고, R23, R24, R28, R29, R30, R33 및 R34는, 각각 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 탄소 원자수 6이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타낸다. n 및 m은, 0 내지 300의 정수를 나타낸다. 단, n 및 m의 한쪽은 0인 경우는 제외한다)(In formula (a), R 21 , R 22 , R 25 , R 26 , R 27 , R 31 , R 32 , R 35 and R 36 each independently represent a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or A phenyl group, and R 23 , R 24 , R 28 , R 29 , R 30 , R 33 and R 34 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group. m represents an integer of 0 to 300, except that one of n and m is 0)

R21, R22, R35 및 R36은, 2가의 기 (xii) 중의 R1과 동일하다. R23, R24, R33 및 R34는, 2가의 기 (xii) 중의 R3과 동일하다. R25, R26, R27, R31, 및 R32는, 식 (xiii) 중의 R5와 같다. R28, R29, 및 R30은, 식 (xiii) 중의 R8과 동일하다.R 21 , R 22 , R 35, and R 36 are the same as R 1 in the divalent group (xii). R 23 , R 24 , R 33 and R 34 are the same as R 3 in the divalent group (xii). R 25 , R 26 , R 27 , R 31 , and R 32 are the same as R 5 in formula (xiii). R 28 , R 29 and R 30 are the same as R 8 in formula (xiii).

n 및 m은 0 내지 300의 정수를 나타낸다. 단, n 및 m의 한쪽은 0인 경우는 제외한다. n 및 m으로서는, 1 내지 100의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 1 내지 50의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하고, 1 내지 10의 정수를 나타내는 것이 더욱 바람직하다. n 및 m은 동일하도 좋고, 상이해도 좋다.n and m represent the integer of 0-300. Except that one of n and m is 0. As n and m, it is preferable to represent the integer of 1-100, It is more preferable to represent the integer of 1-50, It is further more preferable to represent the integer of 1-10. n and m may be the same and may differ.

2가의 환상기로서는, 2가의 기 (x), 2가의 기 (xi), 또는 2가의 기 (a)가 바람직하고, 2가의 기 (x) 또는 2가의 기 (a)가 보다 바람직하다.As a bivalent cyclic group, a bivalent group (x), a bivalent group (xi), or a bivalent group (a) is preferable, and a bivalent group (x) or a bivalent group (a) is more preferable.

2가의 환상기는 치환기를 갖고 있어도 좋다. 이러한 치환기로서는, 예를 들면, 할로겐 원자, 알킬기, 알콕시기, 아릴기, 아릴알킬기, 실릴기, 아실기, 아실옥시기, 카르복시기, 설포기, 시아노기, 니트로기, 하이드록시기, 머캅토기, 옥소기 등을 들 수 있고, 알킬기가 바람직하다.The divalent cyclic group may have a substituent. Examples of such a substituent include a halogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, an arylalkyl group, a silyl group, an acyl group, an acyloxy group, a carboxyl group, a sulfo group, a cyano group, a nitro group, a hydroxyl group, a mercapto group, Oxo group etc. are mentioned, An alkyl group is preferable.

라디칼 중합성 불포화기는, 2가의 환상기에 직접 결합되어 있어도 좋고, 2가의 연결기를 개재하여 결합되어 있어도 좋다. 2가의 연결기로서는, 예를 들면, 알킬렌기, 알케닐렌기, 아릴렌기, 헤테로아릴렌기, -C(=O)O-, -O-, -NHC(=O)-, -NC(=O)N-, -NHC(=O)O-, -C(=O)-, -S-, -SO-, -NH- 등을 들 수 있고, 이들을 복수 조합한 기라도 좋다. 알킬렌기로서는, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 5의 알킬렌기, 또는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬렌기가 더욱 바람직하다. 알킬렌기는, 직쇄, 분기, 환상 중 어느 것이라도 좋다. 이러한 알킬렌기로서는, 예를 들면, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기, 펜틸렌기, 헥실렌기, 1,1-디메틸에틸렌기 등을 들 수 있고, 메틸렌기, 에틸렌기, 1,1-디메틸에틸렌기가 바람직하다. 알케닐렌기로서는, 탄소 원자수 2 내지 10의 알케닐렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 6의 알케닐렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 5의 알케닐렌기가 더욱 바람직하다. 아릴렌기, 헤테로아릴렌기로서는, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴렌기 또는 헤테로아릴렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴렌기 또는 헤테로아릴렌기가 보다 바람직하다. 2가의 연결기로서는, 알킬렌기가 바람직하고, 그 중에서도 메틸렌기, 1,1-디메틸에틸렌기가 바람직하다.The radically polymerizable unsaturated group may be directly bonded to a divalent cyclic group, or may be bonded via a divalent linking group. As a bivalent coupling group, an alkylene group, an alkenylene group, an arylene group, a hetero arylene group, -C (= O) O-, -O-, -NHC (= O)-, -NC (= O) N-, -NHC (= O) O-, -C (= O)-, -S-, -SO-, -NH-, etc. can be mentioned, The group which combined these in multiple numbers may be sufficient. As the alkylene group, an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, or alkyl having 1 to 4 carbon atoms More preferably. The alkylene group may be any of linear, branched or cyclic. As such an alkylene group, a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a pentylene group, a hexylene group, a 1, 1- dimethylethylene group, etc. are mentioned, for example, A methylene group, an ethylene group, 1,1 -Dimethylethylene group is preferred. As the alkenylene group, an alkenylene group having 2 to 10 carbon atoms is preferable, an alkenylene group having 2 to 6 carbon atoms is more preferable, and an alkenylene group having 2 to 5 carbon atoms is more preferable. As an arylene group and a hetero arylene group, a C6-C20 arylene group or a hetero arylene group is preferable, and a C6-C10 arylene group or a hetero arylene group is more preferable. As a bivalent coupling group, an alkylene group is preferable and a methylene group and 1, 1- dimethylethylene group are especially preferable.

(D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지는 하기 식 (1)로 표시되는 것이 바람직하다.(D) It is preferable that resin which has a radically polymerizable unsaturated group is represented by following formula (1).

Figure pat00004
Figure pat00004

(식 (1) 중, R1 및 R4는 각각 독립적으로 라디칼 중합성 불포화기를 나타내고, R2 및 R3은 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 환 A는 2가의 환상기를 나타낸다)(In formula (1), R <1> and R <4> represents a radically polymerizable unsaturated group each independently, and R <2> and R <3> respectively independently show a bivalent coupling group. Ring A represents a bivalent cyclic group)

R1 및 R4는 각각 독립적으로 라디칼 중합성 불포화기를 나타내고, 비닐페닐기, (메타))아크릴로일기가 바람직하다.R 1 and R 4 each independently represent a radical polymerizable unsaturated group, and a vinylphenyl group and a (meth)) acryloyl group are preferable.

R2 및 R3은 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 2가의 연결기로서는, 상기 2가의 연결기와 동일하다.R 2 and R 3 each independently represent a divalent linking group. As a bivalent coupling group, it is the same as the said bivalent coupling group.

환 A는 2가의 환상기를 나타낸다. 환 A로서는, 상기 2가의 환상기와 동일하다.Ring A represents a divalent cyclic group. As ring A, it is the same as said bivalent cyclic group.

환 A는 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 상기 2가의 환상기가 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하다.Ring A may have a substituent. As a substituent, it is the same as the substituent which the said divalent cyclic group may have.

이하, (D) 성분의 구체예를 나타내지만, 본 발명은 이에 한정되지 않는다.Hereinafter, although the specific example of (D) component is shown, this invention is not limited to this.

Figure pat00005
Figure pat00005

(n1은, 식 (a) 중의 n과 동일하며, m1은, 식 (a) 중의 m과 동일하다)(n1 is the same as n in formula (a), and m1 is the same as m in formula (a))

(D) 성분은, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 미츠비시 가스 가가쿠사 제조의 「OPE-2St」, 신나카무라 가가쿠고교사 제조의 「A-DOG」, 교에이샤 가가쿠사 제조의 「DCP-A」 등을 들 수 있다. (D) 성분은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.A commercial item may use the (D) component, for example, "OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., "A-DOG" by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., "DCP by Kyoeisha Chemical Co., Ltd." -A "etc. are mentioned. (D) A component may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

(D) 성분의 수 평균 분자량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 3000 이하, 보다 바람직하게는 2500 이하, 더욱 바람직하게는 2000 이하, 1500 이하이다. 하한은, 바람직하게는 100 이상, 보다 바람직하게는 300 이상, 더욱 바람직하게는 500 이상, 1000 이상이다. 수 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)를 사용하여 측정되는 폴리스티렌 환산의 수 평균 분자량이다.The number average molecular weight of the component (D) is preferably 3000 or less, more preferably 2500 or less, still more preferably 2000 or less and 1500 or less from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. The lower limit is preferably 100 or more, more preferably 300 or more, still more preferably 500 or more and 1000 or more. The number average molecular weight is the number average molecular weight in terms of polystyrene measured using gel permeation chromatography (GPC).

(D) 성분의 함유량은, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 5질량% 이상, 보다 바람직하게는 10질량% 이상, 더욱 바람직하게는 15질량% 이상이다. 상한은 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하이다.The content of the component (D) is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the effect of the present invention, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. Preferably it is 15 mass% or more. Preferably an upper limit is 50 mass% or less, More preferably, it is 40 mass% or less, More preferably, it is 30 mass% or less.

<(E) 무기 충전재><(E) inorganic filler>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로, (E) 무기 충전재를 함유하고 있어도 좋다.In addition to the component mentioned above, the resin composition may contain (E) inorganic filler further as arbitrary components.

무기 충전재의 재료로서는 무기 화합물을 사용한다. 무기 충전재의 재료의 예로서는, 실리카, 알루미나, 유리, 코디어라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 뵈마이트, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화망간, 붕산알루미늄, 탄산스트론튬, 타이타늄산스트론튬, 타이타늄산칼슘, 타이타늄산마그네슘, 타이타늄산 비스무트, 산화타이타늄, 산화지르코늄, 타이타늄산바륨, 타이타늄산지르콘산바륨, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘, 인산지르코늄, 및 인산텅스텐산지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들면, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 공중 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는, 구상 실리카가 바람직하다. (E) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.An inorganic compound is used as a material of an inorganic filler. Examples of the material of the inorganic filler include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, carbonate Calcium, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, titanium Barium zirconate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, zirconium tungsten phosphate, and the like. Among these, silica is particularly suitable. As silica, amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, aerial silica, etc. are mentioned, for example. Moreover, as silica, spherical silica is preferable. (E) An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(E) 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들면, 덴카사 제조의 「UFP-30」;신닛테츠 스미킨 머티리얼즈사 제조의 「SP60-05」, 「SP507-05」; 아도마텍스사 제조의 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」; 토쿠야마사 제조의 「실필 NSS-3N」, 「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」; 아도마텍스사 제조의 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」 등을 들 수 있다.As a commercial item of (E) inorganic filler, For example, "UFP-30" by the Denka company; "SP60-05" and "SP507-05" by Shin-Nitetsu Sumikin Materials; "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", and "YA010C" by Ado-Matex Corporation; "Handwriting NSS-3N", "Handwriting NSS-4N", "Handwriting NSS-5N" by Tokuyama Co .; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1", etc. made by Ado-Matex Corporation are mentioned.

(E) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.1㎛ 이상이며, 바람직하게는 5㎛ 이하, 보다 바람직하게는 2㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1㎛ 이하이다.The average particle diameter of the (E) inorganic filler is preferably 0.01 µm or more, more preferably 0.05 µm or more, particularly preferably 0.1 µm or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. It is 2 micrometers or less, More preferably, it is 2 micrometers or less, More preferably, it is 1 micrometer or less.

(E) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중앙(median) 지름을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재 100mg, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하여 취하고, 초음파로 10분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치를 사용하여, 사용 광원 파장을 청색 및 적색으로 하고, 플로우 셀 방식으로 (E) 무기 충전재의 체적 기준의 입자 직경 분포를 측정하여, 얻어진 입자 직경 분포로부터 중앙 지름으로서 평균 입자 직경을 산출할 수 있다. 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치로서는, 예를 들면 호리바 세사쿠쇼사 제조 「LA-960」 등을 들 수 있다.(E) The average particle diameter of an inorganic filler can be measured by the laser diffraction scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can measure by making a particle diameter distribution of an inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction scattering particle diameter distribution measuring device, and making the median diameter into an average particle diameter. As a measurement sample, 100 mg of inorganic fillers and 10 g of methyl ethyl ketone were weighed out and taken in a vial bottle, and what disperse | distributed by ultrasonic wave for 10 minutes can be used. The particle size distribution obtained by making the measurement sample use the laser diffraction type particle diameter distribution measuring apparatus, and using the light source wavelength blue and red, and measuring the particle diameter distribution of the volume reference of (E) inorganic filler by the flow cell system. The average particle diameter can be calculated from the median diameter. As a laser diffraction type particle diameter distribution measuring apparatus, "LA-960" by Horiba Sesaku Sho Co., etc. is mentioned, for example.

(E) 무기 충전재의 비표면적은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 2㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 3㎡/g 이상이다. 상한에 특단의 제한은 없지만, 바람직하게는 60㎡/g 이하, 50㎡/g 이하 또는 40㎡/g 이하이다. 비표면적은, BET법에 따라, 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻을 수 있다.(E) The specific surface area of the inorganic filler is preferably 1 m 2 / g or more, more preferably 2 m 2 / g or more, particularly preferably 3 m 2 / g or more from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. . Although there is no restriction | limiting in particular in an upper limit, Preferably it is 60 m <2> / g or less, 50 m <2> / g or less, or 40 m <2> / g or less. A specific surface area can be obtained by adsorb | sucking nitrogen gas to a sample surface using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 by Mountain Tech) according to a BET method, and calculating a specific surface area using the BET multipoint method.

(E) 무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 예를 들면, 불소 함유 실란 커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 또한, 표면 처리제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.(E) It is preferable that an inorganic filler is processed with the surface treating agent from a viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. As the surface treatment agent, for example, a fluorine-containing silane coupling agent, an aminosilane-based coupling agent, an epoxysilane-based coupling agent, a mercaptosilane-based coupling agent, a silane-based coupling agent, an alkoxysilane, an organosilazane compound, and a titanate-based coupler Ring agent etc. are mentioned. In addition, a surface treating agent may be used individually by 1 type, and may be used combining two or more types arbitrarily.

표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠 가가쿠고교사 제조 「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다.As a commercial item of a surface treating agent, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make "KBM403" (3-glycidoxy propyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make "KBM803" (3-mercaptopropyl trimethoxysilane), for example. , Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), "SZ" by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. -31 "(hexamethyldisilazane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd." KBM103 "(phenyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd." KBM-4803 "(long chain epoxy type silane coupling agent), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. The production "KBM-7103" (3,3,3-trifluoropropyl trimethoxysilane) etc. are mentioned.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량부는, 0.2질량부 내지 5질량부의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량부 내지 3질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.3질량부 내지 2질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the grade of the surface treatment by a surface treating agent exists in a predetermined range from a viewpoint of the dispersibility improvement of an inorganic filler. Specifically, it is preferable that 100 parts by mass of the inorganic filler is surface-treated with a surface treating agent of 0.2 parts by mass to 5 parts by mass, preferably surface treated with 0.2 parts by mass to 3 parts by mass, and 0.3 parts by mass to 2 parts by mass. It is preferable that it is surface-treated.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니시의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by a surface treating agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg / m 2 or more, more preferably 0.1 mg / m 2 or more, and even more preferably 0.2 mg / m 2 or more. On the other hand, 1 mg / m <2> or less is preferable, 0.8 mg / m <2> or less is more preferable, and 0.5 mg / m <2> or less is more preferable from a viewpoint of suppressing the raise of the melt viscosity of a resin varnish and the sheet | seat viscosity.

무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 이용하여 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다. The carbon amount per unit surface area of the inorganic filler can be measured after washing the inorganic filler after the surface treatment with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treating agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25 ° C. for 5 minutes. After the supernatant is removed and the solids are dried, the carbon amount per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" by Horiba Sesaku Sho Co., Ltd. can be used.

(E) 무기 충전재의 함유량은, 유전 정접을 낮게 하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 50질량% 이상이며, 보다 바람직하게는 51질량% 이상, 더욱 바람직하게는 52질량% 이상이며, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 85질량% 이하, 더욱 바람직하게는 80질량% 이하이다.The content of the (E) inorganic filler is preferably 50% by mass or more, more preferably 51% by mass or more, from the viewpoint of lowering the dielectric tangent, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. Preferably it is 52 mass% or more, Preferably it is 90 mass% or less, More preferably, it is 85 mass% or less, More preferably, it is 80 mass% or less.

<(F) (C) 성분 이외의 스티렌계 엘라스토머><Styrene-based elastomers other than (F) (C) component>

수지 조성물은, (C) 성분에 추가하여, 본 발명의 효과에 영향을 주지 않는 범위 내에서, 또한, (F) (C) 성분 이외의 스티렌계 엘라스토머를 함유하고 있어도 좋다. (F) (C) 성분과는 다른 스티렌계 엘라스토머란, 스티렌 단위의 함유량이, (F) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 미만인 스티렌계 엘라스토머를 말한다. (F) 성분의 스티렌 단위의 함유량 이외의 요소는, <(C) 스티렌계 엘라스토머>란에서 설명한 바와 같아도 좋다.In addition to (C) component, the resin composition may contain styrene-type elastomers other than (F) (C) component within the range which does not affect the effect of this invention. (F) Styrene-type elastomer different from (C) component means styrene-type elastomer which is less than 61 mass% when content of a styrene unit makes (F) component 100 mass%. Elements other than content of the styrene unit of (F) component may be as having demonstrated in the <(C) styrene-type elastomer> column.

(F) 성분 중의 스티렌 단위의 함유량으로서는, (F) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 미만이며, 보다 바람직하게는 50질량% 이하, 더욱 바람직하게는 45질량% 이하이다. 하한은, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 10질량% 이상이다. 상기 스티렌 단위의 함유량은, 예를 들면 (F) 성분을 구성하는 모노머의 주입량에 의해 측정할 수 있다.As content of the styrene unit in (F) component, when (F) component is 100 mass%, it is less than 61 mass%, More preferably, it is 50 mass% or less, More preferably, it is 45 mass% or less. Preferably a minimum is 1 mass% or more, More preferably, it is 5 mass% or more, More preferably, it is 10 mass% or more. Content of the said styrene unit can be measured by the injection amount of the monomer which comprises (F) component, for example.

(F) 성분은, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 MP10」(아사이 카세이사 제조); 에폭시화 스티렌-부타디엔 열가소성 엘라스토머 「에포프렌드 AT501」(다이셀사 제조) 등을 들 수 있다. (F) 성분은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.A commercial item may be used for (F) component, For example, Hydrogenated styrene-type thermoplastic elastomer "Toughtec MP10" (made by Asai Kasei Co., Ltd.); Epoxidized styrene-butadiene thermoplastic elastomer "Epopren AT501" (made by Daicel Corporation) etc. are mentioned. (F) A component may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

(F) 성분의 함유량은, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 2질량% 이상, 더욱 바람직하게는 3질량% 이상이다. 상한은 바람직하게는 15질량% 이하, 보다 바람직하게는 13질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10질량% 이하이다.The content of the component (F) is preferably 1% by mass or more, more preferably 2% by mass or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the effect of the present invention, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. Preferably it is 3 mass% or more. Preferably an upper limit is 15 mass% or less, More preferably, it is 13 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or less.

<(G) 경화 촉진제><(G) Curing Accelerator>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로, (G) 경화 촉진제를 포함하고 있어도 좋다.The resin composition may further contain the (G) hardening accelerator as an optional component other than the component mentioned above.

경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 바람직하고, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a hardening accelerator, a phosphorus hardening accelerator, an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, a guanidine hardening accelerator, a metal hardening accelerator, etc. are mentioned, for example. Especially, a phosphorus hardening accelerator, an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, and a metal hardening accelerator are preferable, and an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, and a metal hardening accelerator are more preferable. A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.As a phosphorus hardening accelerator, a triphenyl phosphine, a phosphonium borate compound, tetraphenyl phosphonium tetraphenyl borate, n-butyl phosphonium tetraphenyl borate, tetrabutyl phosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenyl, for example Phosphonium thiocyanate, tetraphenyl phosphonium thiocyanate, butyl triphenyl phosphonium thiocyanate, etc. are mentioned, A triphenyl phosphine and tetrabutyl phosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6,-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있고, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, 1, 8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene, and the like, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferred.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지와의 어덕트체를 들 수 있고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.As imidazole series hardening accelerator, 2-methylimidazole, 2-undecyl imidazole, 2-heptadecyl imidazole, 1,2- dimethyl imidazole, 2-ethyl-4-methyl, for example. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Midazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl 4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecyl imidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium Trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecyl Imidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s- Triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid addition , 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3- Dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, 2-phenylimidazoline, etc. The adduct of an imidazole compound, an imidazole compound, and an epoxy resin is mentioned, 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 미츠비시 케미컬사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.A commercial item may be used as an imidazole series hardening accelerator, For example, "P200-H50" by Mitsubishi Chemical Corporation etc. is mentioned.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴))구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴))비구아니드 등을 들 수 있고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of the guanidine-based curing accelerators include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl)) guanidine, dimethylguanidine, and diphenyl. Guanidine, trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0 ] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1 , 1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1- (o-tolyl)) biguanide, and the like. Amide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene is preferred.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들면, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등을 들 수 있다.As a metal type hardening accelerator, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, tin, is mentioned, for example. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic iron complexes such as an organic zinc complex, iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organometallic salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate and zinc stearate.

(G) 경화 촉진제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.03질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.05질량% 이상이며, 바람직하게는 0.3질량% 이하, 보다 바람직하게는 0.2질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이하이다.(G) When content of a hardening accelerator makes 100 mass% the nonvolatile components in a resin composition from a viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of this invention, Preferably it is 0.01 mass% or more, More preferably, it is 0.03 mass% or more More preferably, it is 0.05 mass% or more, Preferably it is 0.3 mass% or less, More preferably, it is 0.2 mass% or less, More preferably, it is 0.1 mass% or less.

<(H) 중합 개시제><(H) polymerization initiator>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로, (H) 중합 개시제를 포함하고 있어도 좋다. (H) 중합 개시제는, 통상 (D) 성분에서의 라디칼 중합성 불포화기의 가교를 촉진시키는 기능을 갖는다. (H) 중합 개시제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종류 이상을 병용해도 좋다.In addition to the component mentioned above, the resin composition may further contain (H) polymerization initiator as arbitrary components. The polymerization initiator (H) usually has a function of promoting crosslinking of the radically polymerizable unsaturated group in the component (D). (H) A polymerization initiator may be used individually by 1 type, or may use two or more types together.

(H) 중합 개시제로서는, 예를 들면, t-부틸쿠밀퍼옥사이드, t-부틸퍼옥시아세테이트, α,α'-디(t-부틸퍼옥시)디이소프로필벤젠, t-부틸퍼옥시라우레이트, t-부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트t-부틸퍼옥시네오데카노에이트, t-부틸퍼옥시벤조에이트 등의 과산화물을 들 수 있다.As the (H) polymerization initiator, for example, t-butyl cumyl peroxide, t-butyl peroxy acetate, α, α'-di (t-butylperoxy) diisopropylbenzene, t-butylperoxylaurate and peroxides such as t-butylperoxy-2-ethylhexanoate t-butylperoxy neodecanoate and t-butylperoxybenzoate.

(H) 중합 개시제의 시판품으로서는, 예를 들면, 니치유사 제조의 「퍼부틸 C」, 「퍼부틸 A」, 「퍼부틸 P」, 「퍼부틸 L」, 「퍼부틸 O」, 「퍼부틸 ND」, 「퍼부틸 Z」, 「퍼쿠밀 P」, 「퍼쿠밀 D」 등을 들 수 있다.(H) As a commercial item of a polymerization initiator, "Perbutyl C", "Perbutyl A", "Perbutyl P", "Perbutyl L", "Perbutyl O", "perbutyl" by Nichi Oil Corporation, for example. ND "," Perbutyl Z "," Percumyl P "," Percumyl D ", etc. are mentioned.

(H) 중합 개시제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.05질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이상이며, 바람직하게는 1질량% 이하, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.4질량% 이하이다.(H) When content of a polymerization initiator makes the nonvolatile component in a resin composition 100 mass% from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of this invention, Preferably it is 0.01 mass% or more, More preferably, 0.05 mass% or more More preferably, it is 0.1 mass% or more, Preferably it is 1 mass% or less, More preferably, it is 0.5 mass% or less, More preferably, it is 0.4 mass% or less.

<(I) 기타 첨가제><(I) other additives>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로 기타 첨가제를 포함하고 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 예를 들면, 열가소성 수지(단 (C) 성분, (D) 성분 및 (F) 성분은 제외함); 유기 충전재; 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다. 이러한 첨가제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.In addition to the component mentioned above, the resin composition may further contain other additive as an arbitrary component. As such an additive, For example, a thermoplastic resin (except component (C), component (D), and component (F)); Organic fillers; Resin additives, such as a thickener, an antifoamer, a leveling agent, and an adhesive imparting agent, etc. are mentioned. These additives may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

<수지 조성물의 물성, 용도><Physical Properties and Uses of Resin Compositions>

수지 조성물을 유기 용제에 용해한 수지 바니시는 보존 안정성이 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 예를 들면, 수지 바니시를 5℃에서 100시간 보관 후 실온으로 되돌려도, 통상, 수지 바니시 중에는 1mm 이상의 응집물이 관찰되지 않는다.The resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent shows the characteristic which is excellent in storage stability. For example, even if the resin varnish is stored at 5 ° C. for 100 hours and then returned to room temperature, aggregates of 1 mm or more are not usually observed in the resin varnish.

수지 조성물을 200℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은 유전 정접이 낮다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물은, 유전 정접이 낮은 절연층을 형성한다. 유전 정접으로서는, 바람직하게는 0.005 이하, 보다 바람직하게는 0.0045 이하, 0.004 이하이다. 한편, 유전 정접의 하한값은 특별히 한정되지 않지만, 0.0001 이상 등으로 할 수 있다. 상기 유전 정접의 평가는, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The hardened | cured material which thermosetted the resin composition for 90 minutes at 200 degreeC shows the characteristic of low dielectric loss tangent. Therefore, the said hardened | cured material forms the insulating layer with low dielectric tangent. As dielectric loss tangent, Preferably it is 0.005 or less, More preferably, it is 0.0045 or less, 0.004 or less. On the other hand, the lower limit of the dielectric tangent is not particularly limited, but may be 0.0001 or more. Evaluation of the said dielectric loss tangent can be measured in accordance with the method as described in the Example mentioned later.

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 그 후 170℃에서 30분간 열경화시킨 경화 물은, 통상 도금 도체층과의 사이의 밀착 강도(필 강도)가 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물은, 도금 도체층과의 필 강도가 뛰어난 절연층을 형성한다. 필 강도로서는, 바람직하게는 0.3kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.4kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.5kgf/cm 이상이다. 한편, 필 강도의 상한값은 특별히 한정되지 않지만, 5kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. 상기 필 강도의 평가는 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The hardened | cured material which thermosetted the resin composition for 30 minutes at 130 degreeC after that for 30 minutes shows the characteristic that it is excellent in adhesive strength (fill strength) with a plating conductor layer normally. Therefore, the said hardened | cured material forms the insulating layer excellent in peeling strength with a plating conductor layer. As peel strength, Preferably it is 0.3 kgf / cm or more, More preferably, it is 0.4 kgf / cm or more, More preferably, it is 0.5 kgf / cm or more. On the other hand, the upper limit of the peel strength is not particularly limited, but may be 5 kgf / cm or less. Evaluation of the said peeling strength can be measured in accordance with the method as described in the Example mentioned later.

본 발명의 수지 조성물은, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 통상 필 강도가 큰 절연층을 형성할 수 있다. 따라서, 본 발명의 수지 조성물은 절연 용도의 수지 조성물로서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 절연층 위에 형성되는 도체층(재배선층을 포함함)을 형성하기 위한 당해 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다.The resin composition of this invention can make dielectric loss tangent low, and can form the insulating layer with a large peeling strength normally. Therefore, the resin composition of this invention can be used suitably as a resin composition for insulation use. Specifically, it can be suitably used as a resin composition (resin composition for forming an insulation layer for forming a conductor layer) for forming the insulation layer for forming a conductor layer (including a rewiring layer) formed on the insulation layer. have.

또한, 후술하는 다층 프린트 배선판에 있어서, 다층 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(다층 프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물), 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다. 그 중에서도, 탑 지름이 45㎛ 이하인 비아홀을 갖는 절연층 형성용의 수지 조성물로서 특히 적합하게 사용할 수 있고, 또한, 두께가 20㎛ 이하의 절연층 형성용의 수지 조성물로서 특히 적합하게 사용할 수 있다.Moreover, in the multilayer printed wiring board mentioned later, resin composition (resin composition for insulating layer formation of a multilayer printed wiring board) for forming the insulating layer of a multilayer printed wiring board, and resin composition (printed wiring board) for forming the interlayer insulation layer of a printed wiring board. Can be suitably used as the resin composition for forming an interlayer insulating layer. Especially, it can be used especially suitably as a resin composition for insulating layer formation which has a via hole whose tower diameter is 45 micrometers or less, and can be used especially suitably as a resin composition for insulating layer formation whose thickness is 20 micrometers or less.

또한, 예를 들면, 이하의 (1) 내지 (6) 공정을 거쳐 반도체 칩 패키지가 제조되는 경우, 본 발명의 수지 조성물은, 재배선층을 형성하기 위한 절연층으로서의 재배선 형성층용의 수지 조성물(재배선 형성층 형성용의 수지 조성물), 및 반도체 칩을 밀봉하기 위한 수지 조성물(반도체 칩 밀봉용의 수지 조성물)로서도 적합하게 사용할 수 있다. 반도체 칩 패키지가 제조될 때 밀봉층 위에 추가로 재배선층을 형성해도 좋다.For example, when a semiconductor chip package is manufactured through the following (1)-(6) processes, the resin composition of this invention is a resin composition for redistribution formation layers as an insulating layer for forming a redistribution layer ( It can be used suitably also as a resin composition for redistribution formation layer formation, and the resin composition (resin composition for semiconductor chip sealing) for sealing a semiconductor chip. When the semiconductor chip package is manufactured, an additional redistribution layer may be formed over the sealing layer.

(1) 기재에 가고정 필름을 적층하는 공정,(1) a step of laminating a temporarily fixed film on a substrate;

(2) 반도체 칩을, 가고정 필름 위에 가고정하는 공정,(2) process of temporarily fixing a semiconductor chip on a temporarily fixed film,

(3) 반도체 칩 위에 밀봉층을 형성하는 공정,(3) forming a sealing layer on the semiconductor chip;

(4) 기재 및 가고정 필름을 반도체 칩으로부터 박리하는 공정,(4) a step of peeling the substrate and the temporarily fixed film from the semiconductor chip,

(5) 반도체 칩의 기재 및 가고정 필름을 박리한 면에, 절연층으로서의 재배선 형성층을 형성하는 공정, 및(5) a step of forming a redistribution forming layer as an insulating layer on the surface from which the substrate and the temporarily fixed film of the semiconductor chip are peeled off, and

(6) 재배선 형성층 위에, 도체층으로서의 재배선층을 형성하는 공정.(6) A step of forming a redistribution layer as a conductor layer on the redistribution formation layer.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 부품 매립성이 양호한 절연층을 형성하므로, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다.Moreover, since the resin composition of this invention forms the insulation layer with favorable component embedding property, it can be used suitably also when a printed wiring board is a circuit board with a component.

[수지 시트][Resin Sheet]

본 발명의 수지 시트는, 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, 본 발명의 수지 조성물로 형성된 수지 조성물 층을 포함한다.The resin sheet of this invention contains a support body and the resin composition layer formed from the resin composition of this invention provided on the said support body.

수지 조성물 층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화, 및 당해 수지 조성물의 경화물이 박막이라도 절연성이 우수한 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 30㎛ 이하, 보다 바람직하게는 20㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 15㎛ 이하, 10㎛ 이하이다. 수지 조성물 층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 1㎛ 이상, 5㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 30 µm or less, more preferably 20 µm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product excellent in insulation even if the cured product of the resin composition is a thin film. More preferably, they are 15 micrometers or less and 10 micrometers or less. Although the minimum of the thickness of a resin composition layer is not specifically limited, Usually, it can be 1 micrometer or more, 5 micrometers or more.

지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.As a support body, the film, metal foil, and release paper which consist of plastics materials are mentioned, for example, The film and metal foil which consist of plastics materials are preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When using the film which consists of a plastic material as a support body, as a plastic material, polyethylene terephthalate (it may abbreviate as "PET" hereafter), polyethylene naphthalate (henceforth abbreviated as "PEN") may be used, for example. ), Such as polyester, polycarbonate (hereinafter may be abbreviated as "PC"), polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), Polyether ketone, polyimide and the like. Especially, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is especially preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 타이타늄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다.When using metal foil as a support body, copper foil, aluminum foil etc. are mentioned as metal foil, for example, copper foil is preferable. As copper foil, you may use foil which consists of a single metal of copper, and foil which consists of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good.

지지체는, 수지 조성물 층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다.The support body may perform a mat process, a corona treatment, and an antistatic process on the surface joined with a resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물 층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 토레사 제조의 「루미라 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니치카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.In addition, as a support body, you may use the support body with a release layer which has a mold release layer in the surface joined with a resin composition layer. As a mold release agent used for the mold release layer of a support body with a mold release layer, 1 or more types of mold release agents chosen from the group which consists of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin are mentioned, for example. A support body with a release layer may use a commercial item, for example, "SK-1", "AL-5" and "AL-" by Lintec Co., Ltd., which are PET films having a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. 7 "," Lumira T60 "by Toray Corporation," Purex "by Teijin Co., Ltd.," Unipill "by Unichika Co., etc. are mentioned.

지지체의 두께로서는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.Although it does not specifically limit as thickness of a support body, The range of 5 micrometers-75 micrometers is preferable, and the range which is 10 micrometers-60 micrometers is more preferable. In addition, when using the support body with a release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a release layer is the said range.

일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 추가로 필요에 따라, 기타 층을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 기타 층으로서는, 예를 들면, 수지 조성물 층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 마련된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물 층의 표면으로 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further contain other layers as needed. As such another layer, the protective film etc. which conformed to the support body provided in the surface (that is, the surface on the opposite side to a support body) which are not joined to the support body of a resin composition layer, etc. are mentioned, for example. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, they are 1 micrometer-40 micrometers. By laminating a protective film, adhesion and scratches of dust or the like can be suppressed on the surface of the resin composition layer.

수지 시트는, 예를 들면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를, 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 더욱 건조시켜서 수지 조성물 층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.A resin sheet can be manufactured by preparing the resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent, apply | coating this resin varnish on a support body using a die coater etc., and further drying and forming a resin composition layer. .

유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK) 및 사이클로헥사논 등의 케톤류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카비톨아세테이트 등의 아세트산 에스테르류; 셀로솔브 및 부틸카비톨 등의 카비톨류; 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류; 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드(DMAc) 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As an organic solvent, For example, ketones, such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK), and cyclohexanone; Acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; Carbitols such as cellosolve and butyl carbitol; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물 층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 따라서도 다르지만, 예를 들면 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 바니시를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 수지 조성물 층을 형성할 수 있다.You may perform drying by well-known methods, such as heating and hot air injection. Although drying conditions are not specifically limited, It drys so that content of the organic solvent in a resin composition layer may be 10 mass% or less, Preferably it is 5 mass% or less. Although it depends also on the boiling point of the organic solvent in a resin varnish, when using the resin varnish containing the organic solvent of 30 mass%-60 mass%, for example, resin is made by drying at 50 degreeC-150 degreeC for 3 to 10 minutes. The composition layer can be formed.

수지 시트는 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.A resin sheet can be wound up and preserve | saved in roll shape. When a resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off a protective film.

[프린트 배선판][Printed wiring board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함한다.The printed wiring board of this invention contains the insulating layer formed of the hardened | cured material of the resin composition of this invention.

프린트 배선판은, 예를 들면, 상술한 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.A printed wiring board can be manufactured by the method containing the process of following (I) and (II) using the resin sheet mentioned above, for example.

(I) 내층 기판 위에, 수지 시트의 수지 조성물 층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) The process of laminating so that the resin composition layer of a resin sheet may bond with an inner layer board | substrate on an inner layer board | substrate.

(II) 수지 조성물 층을 열경화하여 절연층을 형성하는 공정(II) Process of thermosetting a resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 당해 기판은, 그 한 면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 한 면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간 제조물도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용할 수 있다.The "inner layer substrate" used in the step (I) is a member that becomes a substrate of a printed wiring board. For example, a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene And ether substrates. In addition, the said board | substrate may have a conductor layer in the single side | surface or both surfaces, and this conductor layer may be pattern-processed. The inner layer substrate in which the conductor layer (circuit) is formed on one or both surfaces of the substrate may be referred to as an "inner layer circuit board". In addition, when manufacturing a printed wiring board, the intermediate | middle manufacture to which the insulation layer and / or conductor layer should be further formed is also included in the "inner layer board" said by this invention. When a printed wiring board is a circuit board with a built-in component, the inner layer board in which a component is built can be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들면, 지지체측에서 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 사이에 끼워 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination | stacking of an inner layer board | substrate and a resin sheet can be performed by heat-pressing a resin sheet to an inner layer board | substrate on the support body side, for example. As a member (henceforth a "heat-compression bonding member") which heat-presses a resin sheet to an inner layer board | substrate, a heated metal plate (SUS hard plate etc.), a metal roll (SUS roll), etc. are mentioned, for example. In addition, it is preferable not to press a heat-compression member directly to a resin sheet, but to press an elastic material, such as heat-resistant rubber, in between so that a resin sheet may fully follow the surface asperity of an inner layer board | substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이며, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이며, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에서 실시한다.You may perform lamination | stacking of an inner layer board | substrate and a resin sheet by the vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the heat compression temperature is preferably in the range of 60 ° C to 160 ° C, more preferably 80 ° C to 140 ° C, and the heat compression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably. Is in the range of 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the heat crimp time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. Lamination is preferably performed under reduced pressure conditions of 26.7 hPa or less.

적층은, 시판의 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 메이키 세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배치식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed by a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Sesaku Sho, a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials, a batch vacuum pressurized laminator, and the like.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측에서 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판의 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는, 상기 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행하여도 좋다.After lamination, a smoothing treatment of the laminated resin sheets may be performed by pressing the pressurized member under normal pressure (atmospheric pressure), for example, on the support side. The press conditions of the smoothing process can be made into the same conditions as the heat crimping conditions of the lamination. The smoothing process can be performed by a commercially available laminator. In addition, lamination and smoothing process may be performed continuously using the said commercially available vacuum laminator.

지지체는, 공정 (I)과 공정 (II)의 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between step (I) and step (II) or may be removed after step (II).

공정 (II)에서는 수지 조성물 층을 열경화하여 절연층을 형성한다. 수지 조성물 층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.In step (II), the resin composition layer is thermosetted to form an insulating layer. The thermosetting conditions of a resin composition layer are not specifically limited, You may use the conditions employ | adopted normally when forming the insulating layer of a printed wiring board.

예를 들면, 수지 조성물 층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 다르지만, 경화 온도는 바람직하게는 120℃ 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150℃ 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170℃ 내지 210℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간으로 할 수 있다.For example, although the thermosetting conditions of a resin composition layer differ also according to the kind of resin composition, etc., hardening temperature becomes like this. Preferably it is 120 degreeC-240 degreeC, More preferably, it is 150 degreeC-220 degreeC, More preferably, 170 degreeC To 210 ° C. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, still more preferably 15 minutes to 100 minutes.

수지 조성물 층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물 층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 조성물 층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 115℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 110℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물 층을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간) 예비 가열해도 좋다.Before thermosetting the resin composition layer, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, the resin composition layer is formed at a temperature of 50 ° C. or more and less than 120 ° C. (preferably 60 ° C. or more and 115 ° C. or less, more preferably 70 ° C. or more and 110 ° C. or less). You may preheat for 5 minutes or more (preferably 5 minutes-150 minutes, More preferably, 15 minutes-120 minutes, More preferably, 15 minutes-100 minutes).

절연층은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성되어 있으므로, 절연층의 두께를 얇게 하는 것이 가능하다. 절연층의 두께로서는, 바람직하게는 30㎛ 이하, 보다 바람직하게는 20㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 15㎛ 이하, 10㎛ 이하이다. 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 1㎛ 이상, 5㎛ 이상 등으로 할 수 있다.Since an insulating layer is formed of the hardened | cured material of the resin composition of this invention, it is possible to make thickness of an insulating layer thin. As thickness of an insulating layer, Preferably it is 30 micrometers or less, More preferably, it is 20 micrometers or less, More preferably, it is 15 micrometers or less, 10 micrometers or less. Although a minimum is not specifically limited, Usually, it can be 1 micrometer or more, 5 micrometers or more.

프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화(粗化) 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지의 각종 방법에 따라 실시해도 좋다. 또한, 지지체를 공정 (II) 후에 제거하는 경우, 당해 지지체의 제거는, 공정 (II)와 공정 (III) 사이, 공정 (III)과 공정 (IV) 사이, 또는 공정 (IV)와 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라, 공정 (II) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복하여 실시하여, 다층 배선판을 형성해도 좋다.When manufacturing a printed wiring board, you may further perform the process of perforating to an insulating layer (III), the process of roughening a (IV) insulating layer, and the process of forming a conductor layer (V). These processes (III) to (V) may be performed in accordance with various methods known to those skilled in the art used for the production of printed wiring boards. When the support is removed after step (II), the support is removed between step (II) and step (III), between step (III) and step (IV), or step (IV) and step (V). May be performed in between. Moreover, you may repeat formation of the insulating layer and conductor layer of process (II)-process (V) as needed, and may form a multilayer wiring board.

공정 (III)은 절연층에 천공하는 공정이며, 이로써 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하여 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라 적절히 결정해도 좋다.Step (III) is a step of puncturing the insulating layer, whereby holes such as via holes, through holes and the like can be formed in the insulating layer. Process (III) may be performed using a drill, a laser, a plasma, etc. according to the composition of the resin composition used for formation of an insulating layer, etc., for example. You may decide suitably the dimension and shape of a hole according to the design of a printed wiring board.

절연층은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성되어 있으므로, 탑 지름을 작게 하는 것이 가능하다. 상기 홀의 탑 지름으로서는, 바람직하게는 45㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하, 보다 바람직하게는 35㎛ 이하이다. 하한은, 1㎛ 이상 등으로 할 수 있다.Since an insulating layer is formed of the hardened | cured material of the resin composition of this invention, it is possible to make a tower diameter small. As a top diameter of the said hole, Preferably it is 45 micrometers or less, More preferably, it is 40 micrometers or less, More preferably, it is 35 micrometers or less. The minimum can be made 1 micrometer or more.

공정 (IV)는 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에서 스미어의 제거도 행해진다. 조화 처리의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 순서, 조건을 채용할 수 있다. 또한, 건식, 습식 중 어느 것을 사용해도 좋다. 도체층의 형성을 스퍼터에 의해 행하는 경우에는, 예를 들면 플라즈마를 사용한 디스미어 처리 등의 건식으로 행하는 것이 바람직하다. 특히, 상술한 수지 조성물은, 공정 (III)에서의 천공에 UV(자외선) 레이저를 사용하는 경우에, 스미어를 효과적으로 억제할 수 있는 경향이 있어, 건식 디스미어에 적합하다.Process (IV) is a process of roughening an insulating layer. Usually, smear is also removed in this step (IV). The order and conditions of a roughening process are not specifically limited, The well-known procedure and conditions normally used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be employ | adopted. Moreover, you may use either dry or wet. When forming a conductor layer with a sputter | spatter, it is preferable to carry out dry type, such as the desmear process using plasma, for example. In particular, the resin composition described above tends to effectively suppress smear when a UV (ultraviolet) laser is used for perforation in step (III), and is suitable for dry desmear.

스퍼터에서 사용하는 가스로서는, 예를 들면 아르곤, 산소, CF4 등을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.E. Examples of the gas used in the sputtering, for example, there may be mentioned argon, oxygen, CF 4 or the like. These may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 또한, 조화 처리 후의 절연층 표면의 자승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra) 및 자승 평균 평방근 거칠기(Rq)는 비접촉형 표면 조도계를 사용하여 측정할 수 있다.In one Embodiment, the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the insulating layer after a roughening process becomes like this. Preferably it is 400 nm or less, More preferably, it is 350 nm or less, More preferably, it is 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 0.5 nm or more, more preferably 1 nm or more. Moreover, the square root mean square roughness Rq of the surface of the insulating layer after a roughening process becomes like this. Preferably it is 400 nm or less, More preferably, it is 350 nm or less, More preferably, it is 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 0.5 nm or more, more preferably 1 nm or more. Arithmetic mean roughness Ra and square root mean square roughness Rq of the surface of the insulating layer can be measured using a non-contact surface roughness meter.

공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정이며, 절연층 위에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 타이타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·타이타늄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 타이타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·타이타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 타이타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하다.Process (V) is a process of forming a conductor layer, and forms a conductor layer on an insulating layer. The conductor material used for a conductor layer is not specifically limited. In a suitable embodiment, the conductor layer comprises at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. do. The conductor layer may be a short metal layer or an alloy layer, and as the alloy layer, for example, an alloy of two or more metals selected from the group (for example, nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, and copper-titanium alloy) The layer formed by) is mentioned. Among them, single metal layers of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel-chromium alloys, copper-nickel alloys, from the viewpoint of the generality of the conductor layer formation, the cost, the ease of patterning, and the like. , An alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of nickel-chromium alloy is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층한 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 타이타늄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may be a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different kinds of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.The thickness of the conductor layer depends on the design of the desired printed wiring board, but is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm.

일 실시형태에 있어서, 도체층은 스퍼터법에 의해 형성해도 좋다. 스퍼터법에 있어서는, 우선 스퍼터에 의해, 절연층 표면에 도체 시드층을 형성한 후, 스퍼터에 의해 당해 도체 시드층 위에 도체 스퍼터층이 형성된다. 스퍼터에 의한 도체 시드층 형성 전에, 역 스퍼터에 의해 절연층 표면을 클리닝해도 좋다. 당해 역 스퍼터에 사용하는 가스로서는, 각종 가스를 사용할 수 있지만, 그 중에서도 Ar, O2, N2가 바람직하다. 시드층이 Cu 및 Cu 합금의 경우에는 Ar 또는 O2 혹은 Ar, O2 혼합 가스, 시드층이 Ti의 경우는 Ar 또는 N2 또는 Ar, N2 혼합 가스, 시드층이 Cr 및 Cr 합금(니크롬 등)의 경우에는 Ar 또는 O2 혹은 Ar, O2 혼합 가스가 바람직하다. 스퍼터는, 마그네트론 스퍼터, 미라트론 스퍼터 등의 각종 스퍼터 장치를 사용하여 행할 수 있다. 도체 시드층을 형성하는 금속으로서는, Cr, Ni, Ti, 니크롬 등을 들 수 있다. 특히 Cr, Ti가 바람직하다. 도체 시드층의 두께는 통상, 바람직하게는 5nm 이상, 보다 바람직하게는 10nm 이상이며, 바람직하게는 1000nm 이하, 보다 바람직하게는 500nm 이하가 되도록 형성된다. 도체 스퍼터층을 형성하는 금속으로서는, Cu, Pt, Au, Pd 등을 들 수 있다. 특히 Cu가 바람직하다. 도체 스퍼터층의 두께는, 통상, 바람직하게는 50nm 이상, 보다 바람직하게는 100nm 이상이며, 바람직하게는 3000nm 이하, 보다 바람직하게는 1000nm 이하가 되도록 형성된다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by a sputtering method. In the sputtering method, first, after forming a conductor seed layer on the surface of an insulating layer by sputter | spatter, a conductor sputtering layer is formed on the said conductor seed layer by sputter | spatter. Before forming the conductor seed layer by sputtering, the surface of the insulating layer may be cleaned by reverse sputtering. As the gas used in the art reverse sputtering, may be used various kinds of gas, particularly Ar, O 2, N 2 are preferable. Ar or O 2 or Ar, O 2 mixed gas when the seed layer is Cu and Cu alloy, Ar or N 2 or Ar, N 2 mixed gas when the seed layer is Ti, Cr and Cr alloy (Nichrome Etc.), Ar or O 2 or Ar, O 2 mixed gas is preferable. Sputter | spatter can be performed using various sputter apparatuses, such as a magnetron sputter and a miratron sputter | spatter. Cr, Ni, Ti, nichrome, etc. are mentioned as a metal which forms a conductor seed layer. Cr and Ti are particularly preferable. The thickness of the conductor seed layer is usually 5 nm or more, more preferably 10 nm or more, preferably 1000 nm or less, and more preferably 500 nm or less. Cu, Pt, Au, Pd etc. are mentioned as a metal which forms a conductor sputtering layer. Especially preferred is Cu. The thickness of the conductor sputter layer is usually 50 nm or more, more preferably 100 nm or more, preferably 3000 nm or less, and more preferably 1000 nm or less.

도체 시드층 형성시에, 절연층 표면에 형성되는 표면 조도(Ra값)는, 당해 도체 시드층을 에칭에 의해 제거한 후에, 측정되는 값으로 150nm 이하가 바람직하고, 바람직하게는 10 내지 150nm의 범위가 더욱 바람직하고, 10 내지 120nm 이하가 더욱 바람직하다.When the conductor seed layer is formed, the surface roughness (Ra value) formed on the surface of the insulating layer is preferably 150 nm or less, preferably in the range of 10 to 150 nm, as a value measured after the conductor seed layer is removed by etching. Is more preferable, and 10-120 nm or less is more preferable.

스퍼터법에 의해 도체층을 형성한 후, 당해 도체층 위에, 추가로 전해 구리 도금에 의해 구리 도금층을 형성해도 좋다. 구리 도금층의 두께는, 통상, 바람직하게는 5㎛ 이상, 보다 바람직하게는 8㎛ 이상이며, 바람직하게는 75㎛ 이하, 보다 바람직하게는 35㎛ 이하가 되도록 형성된다. 회로 형성에는, 서브트랙티브법, 세미 어디티브법 등의 공지의 방법을 이용할 수 있다.After forming a conductor layer by the sputtering method, you may form a copper plating layer further on the said conductor layer by electrolytic copper plating. The thickness of the copper plating layer is usually 5 µm or more, more preferably 8 µm or more, preferably 75 µm or less, and more preferably 35 µm or less. Well-known methods, such as a subtractive method and a semiadditive method, can be used for circuit formation.

다른 일 실시형태에 있어서, 도체층은, 금속박을 사용하여 형성해도 좋다. 금속박을 사용하여 도체층을 형성하는 경우, 공정 (V)는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 실시하는 것이 적합하다. 예를 들면, 공정 (I) 후, 지지체를 제거하고, 노출된 수지 조성물 층의 표면에 금속박을 적층한다. 수지 조성물 층과 금속박과의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 적층의 조건은, 내층 기판과 수지 시트의 적층 조건과 동일하게 해도 좋다. 그 다음에, 공정 (II)를 실시하여 절연층을 형성한다. 그 후, 서브트랙티브법, 모디파이드 세미 어디티브법 등에 의해, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성해도 좋다.In another embodiment, you may form a conductor layer using metal foil. When forming a conductor layer using metal foil, it is suitable to perform process (V) between process (I) and a process (II). For example, after a process (I), a support body is removed and metal foil is laminated | stacked on the surface of the exposed resin composition layer. The lamination of the resin composition layer and the metal foil may be performed by a vacuum laminating method. The conditions of lamination may be the same as the lamination conditions of the inner layer substrate and the resin sheet. Next, process (II) is performed and an insulating layer is formed. Thereafter, the conductor layer having a desired wiring pattern may be formed by a subtractive method, a modulated semi-additive method, or the like.

금속박은, 예를 들면, 전해법, 압연법 등의 공지의 방법에 의해 제조할 수 있다. 금속박으로서는, 예를 들면, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 타이타늄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다. 금속박의 시판품으로서는, 예를 들면, JX 킨조쿠사 제조의 HLP박, JXUT-III박, 미츠이 킨조쿠코교사 제조의 3EC-III박, TP-III박 등을 들 수 있다.Metal foil can be manufactured by well-known methods, such as an electrolytic method and a rolling method, for example. As metal foil, copper foil, aluminum foil, etc. are mentioned, for example, copper foil is preferable. As copper foil, you may use foil which consists of a single metal of copper, and foil which consists of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good. As a commercial item of metal foil, HLP foil made by JX Kinzoku Co., Ltd., JXUT-III foil, 3EC-III foil made by Mitsui Kinzoku Co., Ltd., TP-III foil, etc. are mentioned, for example.

또한, 다른 일 실시형태에 있어서, 도체층은, 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들면, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하고, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In another embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, it can plate on the surface of an insulating layer by conventionally well-known techniques, such as a semiadditive method and a full additive method, and can form the conductor layer which has a desired wiring pattern, and from a viewpoint of simplicity of manufacture, it is semi It is preferable to form by the additive method. Hereinafter, the example which forms a conductor layer by the semiadditive method is shown.

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 그 다음에, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of an insulating layer by electroless plating. Next, on the formed plating seed layer, the mask pattern which exposes a part of plating seed layer is formed corresponding to a desired wiring pattern. After the metal layer is formed by electroplating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

[반도체 장치][Semiconductor Device]

본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 이용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of this invention contains the printed wiring board of this invention. The semiconductor device of this invention can be manufactured using the printed wiring board of this invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 차량(예를 들면, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices provided in electrical appliances (for example, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trams, ships, aircrafts, etc.). have.

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소에, 부품(반도체 칩)을 실장함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「프린트 배선판에서의 전기 신호를 전달하는 개소」이며, 그 장소는 표면이라도, 매립된 개소라도 어느 곳이라도 상관 없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of this invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) in the conduction part of a printed wiring board. A "conduction point" is a "point which transmits an electric signal in a printed wiring board", and the place may be a surface or a buried point anywhere. In addition, the semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효에 기능하기만 하면, 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법, 등을 들 수 있다. 여기서, 「범프리스 빌드업(BBUL)에 의한 실장 방법」이란, 「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 직접 매립하여, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」이다.The method for mounting a semiconductor chip at the time of manufacturing the semiconductor device is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding method, a flip chip mounting method, and a bumpless build-up layer (BBUL) The mounting method by, the mounting method by an anisotropic conductive film (ACF), the mounting method by a non-conductive film (NCF), etc. are mentioned. Here, the "mounting method by bumpless build-up (BBUL)" is a "mounting method which connects a semiconductor chip and the wiring on a printed wiring board directly by embedding a semiconductor chip in the recessed part of a printed wiring board".

[실시예]EXAMPLE

이하, 본 발명에 대해, 실시예를 나타내어 구체적으로 설명한다. 단, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다. 이하의 설명에 있어서, 양을 나타내는 「부」 및 「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다. 또한, 이하에 설명하는 조작은, 별도 명시가 없는 한, 상온 상압의 환경에서 행하였다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, an Example is shown and this invention is demonstrated concretely. However, this invention is not limited to a following example. In the following description, "part" and "%" which represent quantity mean "mass part" and "mass%", respectively, unless there is particular notice. In addition, the operation demonstrated below was performed in the environment of normal temperature normal pressure, unless otherwise specified.

[절연층과 도체층 사이의 필 강도(밀착 강도)의 측정][Measurement of Peel Strength (adhesive strength) between the insulating layer and the conductor layer]

<측정·평가용 샘플의 조제><Preparation of Sample for Measurement and Evaluation>

(1) 내층 회로 기판의 하지(下地) 처리(1) Underground Treatment of Inner Layer Circuit Board

내층 회로를 형성한 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18㎛, 기판 두께 0.4mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)의 양면을, 마이크로에칭제 (맥크사 제조 「CZ8101」)로 1㎛ 에칭하여 구리 표면의 조화 처리를 행하였다.1 micrometer is used for both surfaces of the glass cloth base material epoxy resin double-sided copper clad laminated board (18 micrometers of copper foil, board | substrate thickness 0.4mm, Panasonic Corporation "R1515A" made of inner layer circuit) with a microetching agent ("CZ8101" by Mack Corporation) which formed the inner layer circuit. It etched and performed the roughening process of the copper surface.

(2) 수지 시트의 적층(2) Lamination of Resin Sheets

실시예 및 비교예에서 제작한 수지 시트를, 배치식 진공 가압 라미네이터(메이키 세사쿠쇼사 제조 「MVLP-500」)를 사용하여, 수지 조성물 층이 내층 회로 기판과 접하도록, 내층 회로 기판의 양면에 적층하였다. 적층은, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 100℃, 압력 0.74MPa에서 30초간 라미네이트 처리함으로써 행하였다.Both sides of an inner layer circuit board were made so that the resin sheet produced by the Example and the comparative example was contacted with an inner layer circuit board using a batch type vacuum pressurized laminator ("MVLP-500" manufactured by Meiki Sesakusho Co., Ltd.). Stacked on. Lamination was carried out by performing a lamination process at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds after reducing the pressure for 30 seconds to set the pressure to 13 hPa or less.

(3) 수지 조성물 층의 경화(3) curing of the resin composition layer

적층된 수지 시트를, 100℃에서 30분간, 이어서 170℃에서 30분간 가열하고, 수지 조성물 층을 열경화하여 절연층을 형성하였다.The laminated resin sheet was heated at 100 degreeC for 30 minutes, and then at 170 degreeC for 30 minutes, and the resin composition layer was thermosetted and the insulating layer was formed.

(4) UV-YAG 레이저에 의한 비아 홀의 형성(4) Formation of Via Hole by UV-YAG Laser

지지체를 박리하여 절연층의 표면을 노출시켜, UV-YAG 레이저 가공기(비아메카닉스사 제조 「LU-2L212/M50L」)를 사용하여, 절연층에 하기 조건으로 비아홀을 형성하였다.The support was peeled off to expose the surface of the insulating layer, and via holes were formed in the insulating layer under the following conditions using a UV-YAG laser processing machine ("LU-2L212 / M50L" manufactured by Via Mechanics Co., Ltd.).

조건: 파워 0.30W, 쇼트 수 25, 목표 탑 지름 30㎛Condition: 0.30W power, 25 shorts, 30 µm target tower diameter

(5) 건식 디스미어 처리(5) dry desmear treatment

비아홀의 형성 후, 절연층을 형성한 내층 회로 기판을, 진공 플라즈마 에칭 장치(Tepla사 제조 100-E PLASMA SYSTEM)를 사용하여, O2/CF4(혼합 가스비)=25/75, 진공도 100Pa의 조건에서, 5분간 처리를 행하였다.After the formation of the via holes, the inner circuit board on which the insulating layer was formed was subjected to O 2 / CF 4 (mixed gas ratio) = 25/75 using a vacuum plasma etching apparatus (100-E PLASMA SYSTEM manufactured by Tepla), with a vacuum degree of 100 Pa. Under conditions, the treatment was performed for 5 minutes.

(6) 건식법에 의한 도체층의 형성(6) Formation of conductor layer by dry method

스퍼터링 장치(캐논 아넬바사 제조 「E-400S」)를 사용하여, 타이타늄층(두께 30nm), 이어서 구리층(두께 300nm)을 형성하였다. 얻어진 기판을, 150℃에서 30분간 가열하여 어닐 처리를 행한 후에, 세미 어디티브법에 따라 에칭 레지스트를 형성하고, 노광·현상에 의한 패턴 형성 후에, 황산구리 전해 도금을 행하여, 25㎛의 두께로 도체층을 형성하였다. 도체 패턴 형성 후, 200℃에서 60분간 가열하여 어닐 처리를 행하였다. 얻어진 프린트 배선판을 「평가 기판 A」라고 칭한다.Using a sputtering apparatus ("E-400S" by Canon Anelva Corporation), the titanium layer (thickness 30nm) and then the copper layer (thickness 300nm) were formed. After heating the obtained substrate at 150 degreeC for 30 minutes and performing an annealing process, an etching resist is formed in accordance with the semiadditive method, and after pattern formation by exposure and development, copper sulfate electroplating is performed and the conductor is carried out to the thickness of 25 micrometers. A layer was formed. After conductor pattern formation, it heated at 200 degreeC for 60 minutes, and performed the annealing process. The obtained printed wiring board is called "evaluation board A."

<필 강도의 측정><Measurement of peel strength>

절연층과 도체층 사이의 필 강도의 측정은, 평가 기판 A에 대해, JIS C6481에 준거하여 행하였다. 구체적으로는, 평가 기판 A의 도체층에, 폭 10mm, 길이 100mm의 부분의 절개를 넣고, 한쪽 끝을 벗겨서 집기구로 집어, 실온에서 50mm/분의 속도로 수직 방향으로 35mm을 떼어냈을 때의 하중(kgf/cm)을 측정하여, 필 강도를 구하였다. 측정에는 인장 시험기(TSE사 제조 「AC-50C-SL」)를 사용하였다.The measurement of the peeling strength between an insulating layer and a conductor layer was performed based on JIS C6481 about evaluation board A. FIG. Specifically, a load of 10 mm in width and 100 mm in length is cut into the conductor layer of the evaluation board A, and one end is peeled off and picked up by a collector, and 35 mm is removed in the vertical direction at a rate of 50 mm / min at room temperature. (kgf / cm) was measured and the peeling strength was calculated | required. A tensile tester ("AC-50C-SL" manufactured by TSE Corporation) was used for the measurement.

[유전 정접의 측정][Measurement of Dielectric Tangent]

<측정·평가용 샘플의 조제><Preparation of Sample for Measurement and Evaluation>

실시예 및 비교예에서 제작한 수지 시트를 200℃에서 90분간 가열하여 수지 조성물 층을 열경화시킨 후 지지체를 박리하였다. 얻어진 경화물을 「평가용 경화물 B」라고 칭한다.The resin sheet produced in the Example and the comparative example was heated at 200 degreeC for 90 minutes, thermosetting the resin composition layer, and peeling off the support body. The obtained hardened | cured material is called "hardened material B for evaluation."

<유전 정접의 측정>Measurement of Dielectric Junction

평가용 경화물 B를 폭 2mm, 길이 80mm의 시험편으로 절단하였다. 당해 시험편에 대해, 아질렌트 테크놀로지스사 제조 「HP8362B」를 사용하여, 공동 공진 섭동법에 의해 측정 주파수 5.8GHz, 측정 온도 23℃에서 유전 정접을 측정하였다. 2개의 시험편에 대해 측정을 행하여, 평균값을 산출하였다.Cured material B for evaluation was cut into the test piece of width 2mm and length 80mm. About this test piece, dielectric tangent was measured by the cavity resonance perturbation method at the measurement frequency of 5.8 GHz and measurement temperature of 23 degreeC using "HP8362B" by Agilent Technologies. Two test pieces were measured and the average value was computed.

[수지 바니시의 보존 안정성의 평가][Evaluation of Preservation Stability of Resin Varnishes]

실시예 및 비교예에서 제작한 수지 바니시를 5℃에서 100시간 보관하였다. 실온(25℃)으로 되돌린 후, 육안으로 응집물을 확인하여, 하기 기준에 의해 수지 바니시의 보존 안정성의 평가를 행하였다.The resin varnish produced in the Example and the comparative example was stored at 5 degreeC for 100 hours. After returning to room temperature (25 degreeC), the aggregate was confirmed visually and the storage stability of the resin varnish was evaluated by the following reference | standard.

○: 1mm 이상의 응집물이 관찰되지 않는다.(Circle): Aggregate 1 mm or more is not observed.

×: 1mm 이상의 응집물이 관찰된다.X: Aggregate 1 mm or more is observed.

[실시예 1]Example 1

비스페놀 A형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬사 제조 「828US」, 에폭시 당량 약 180) 15부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 톨루엔 25부, MEK 15부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(미츠비시 가스 가가쿠사 제조 「OPE-2St」, 수 평균 분자량 1200, 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 46부, 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 30부, 활성 에스테르형 경화제(DIC사 제조 「EXB9416-70BK」, 활성기 당량 약 330의 불휘발분 70질량%의 메틸이소부틸케톤 용액) 28부, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 약 151의 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 8부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼쿠밀 P」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 250부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여, 수지 바니시를 제작하였다.15 parts of bisphenol A type epoxy resin ("828US" made by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent approximately 180), styrene-based elastomer (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" made by Asai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) 3 parts toluene It melt | dissolved by stirring, stirring 25 parts and 15 parts of MEK. After cooling to room temperature, 46 parts of radically polymerizable compounds ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., number-average molecular weight 1200, toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), radically polymerizable compound (Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) are here. 30 parts of teacher production "NK ester A-DOG", molecular weight 326), 28 parts of active ester type hardening | curing agents (DIC company make "EXB9416-70BK", methyl isobutyl ketone solution of 70 mass% of non volatile matters of about 330 active group equivalents), 8 parts of triazine frame | skeleton containing phenolic hardening | curing agent (DIC company "LA-3018-50P", 2-methoxypropanol solution of 50% of solid content of hydroxyl equivalent approximately 151), hardening accelerator (N, N-dimethyl-4-amino Surface of 6 parts of pyridine (DMAP), MEK solution of 5 mass% of solid content), a polymerization initiator ("Percumyl P" by Nichiyu Corporation), a phenylamino silane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM573") Treated spherical silica (average particle diameter 0.5 μm, specific surface area 5.9 m 2 / g, adomatech Used to manufacture "SO-C2"), 250 parts of mixed and uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish.

이어서, 이형 처리 부착 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)의 이형면 위에, 건조 후의 수지 조성물 층의 두께가 20㎛가 되도록 수지 바니시를 균일하게 도포하고, 80 내지 120℃(평균 100℃)에서 3분간 건조시켜서 수지 시트를 제작하였다.Next, the resin varnish is apply | coated uniformly on the mold release surface of the polyethylene terephthalate film with a mold release process ("AL5" by Lintec company, thickness 38 micrometers) so that the thickness of the resin composition layer after drying may be 20 micrometers, and 80-120 degreeC It dried at (average 100 degreeC) for 3 minutes, and produced the resin sheet.

[실시예 2]Example 2

비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 약 269) 15부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 P2000」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 톨루엔 25부, MEK 15부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(미츠비시 가스 가가쿠사 제조 「OPE-2St」, 수 평균 분자량 1200, 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 46부, 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 30부, 활성 에스테르형 경화제(DIC사 제조 「HPC8000-65T」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 30부, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 약 151의 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 4부, 카보디이미드계 경화제(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 8부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 250부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시를 제작하고, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 시트를 제작하였다.15 parts of biphenyl type epoxy resin ("NC3000L" by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent approximately 269), styrene-based elastomer (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec P2000" by Asai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) 3 parts toluene It melt | dissolved by stirring, stirring 25 parts and 15 parts of MEK. After cooling to room temperature, 46 parts of radically polymerizable compounds ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., number-average molecular weight 1200, toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), radically polymerizable compound (Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) are here. 30 parts of teacher-made "NK ester A-DOG", molecular weight 326), active ester type hardening | curing agent ("HPC8000-65T" made by DIC Corporation, toluene solution of 65 mass% of solid content), triazine skeleton containing phenolic hardening | curing agent (DIC "LA-3018-50P" made by Corporation, four parts of 2-methoxypropanol solution of 50% of solid content of hydroxyl equivalent approximately 151, carbodiimide-type hardening | curing agent ("V-03 made by Nisshinbo Chemical Company", active group equivalent approximately 216 , 8 parts of toluene solution of 50 mass% of solid content, 6 parts of hardening accelerators (N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), MEK solution of 5 mass% of solid content), polymerization initiator (perbutyl C by Nichiyu Corp.) 1 part, phenylaminosilane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make, "KBM573") 250 parts of surface-treated spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, specific surface area: 5.9 m 2 / g, manufactured by Ado-Matex Co., Ltd.) were mixed and uniformly dispersed with a high speed rotary mixer to prepare a resin varnish. In the same manner as in Example 1, a resin sheet was produced.

[실시예 3]Example 3

비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 약 269) 15부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 P2000」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 톨루엔 25부, MEK 15부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 60부, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 약 151의 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 8부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 250부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시를 제작하고, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 시트를 제작하였다.15 parts of biphenyl type epoxy resin ("NC3000L" by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent approximately 269), styrene-based elastomer (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec P2000" by Asai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) 3 parts toluene It melt | dissolved by stirring, stirring 25 parts and 15 parts of MEK. After cooling to room temperature, 60 parts of radically polymerizable compounds ("NK ester A-DOG" by Shin-Nakamura Kagaku Kogyo Co., Ltd., molecular weight 326), triazine skeleton containing phenolic hardener (DIC company "LA-3018-50P") , 8 parts of 2-methoxypropanol solution of 50% of solid content of hydroxyl equivalent of about 151, 6 parts of hardening accelerator (N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), MEK solution of 5% by mass of solid content), polymerization Spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, specific surface area: 5.9 m2 / g) surface-treated with one part of an initiator ("Perbutyl C" manufactured by Nichiyu Co., Ltd.) and a phenylaminosilane-based coupling agent ("KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). And 250 parts of &quot; SO-C2 &quot; manufactured by Ado-Matex Co., Ltd. were mixed and uniformly dispersed with a high speed rotary mixer to produce a resin varnish, and a resin sheet was produced in the same manner as in Example 1.

[실시예 4]Example 4

비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬사 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 15부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 20부, 그 밖의 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 MP10」, 스티렌 함유량 30%) 20부를 톨루엔 50부, MEK 20부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(미츠비시 가스 가가쿠사 제조 「OPE-2St」, 수 평균 분자량 1200, 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 46부, 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 30부, 카보디이미드계 경화제(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 16부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 250부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시를 제작하고, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 시트를 제작하였다.15 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" made by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent approximately 238), 20 parts of styrene-type elastomers (hydrogenated styrene-type thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" made by Asai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%), 20 parts, 20 parts of other styrene-type elastomers (hydrogenated styrene-type thermoplastic elastomer "Toughtec MP10" made from Acai Kasei Co., Ltd., styrene content 30%) were melt | dissolved by stirring in 50 parts of toluene and 20 parts of MEK. After cooling to room temperature, 46 parts of radically polymerizable compounds ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., number-average molecular weight 1200, toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), radically polymerizable compound (Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) are here. 30 parts of teacher production "NK ester A-DOG", molecular weight 326), carbodiimide system hardener ("V-03" made by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active group equivalent approximately 216, toluene solution of 50 mass% of solid content) 16 parts, hardening 6 parts of promoter (N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), MEK solution of 5 mass% of solid content), a polymerization initiator ("perbutyl C" by Nichi Corporation), a phenylamino silane coupling agent (Shin-Etsu) 250 parts of spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, specific surface area: 5.9 m 2 / g, product made by Ado-Matex Co., Ltd.), surface-treated with Kagaku Kogyo Co., Ltd. To produce a resin varnish, and in the same manner as in Example 1 The sheet was produced.

[실시예 5]Example 5

비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬사 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 15부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 40부를 톨루엔 50부, MEK 20부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(미츠비시 가스 가가쿠사 제조 「OPE-2St」, 수 평균 분자량 1200, 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 46부, 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 30부, 벤조옥사진계 경화제(JFE 케미컬사 제조 「ODA-BOZ」의 고형분 50질량%의 MEK 용액) 16부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 250부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시를 제작하고, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 시트를 제작하였다.15 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" made by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent approximately 238), 40 parts of styrene-type elastomers (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" made by Asai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) 40 parts of toluene It melt | dissolved by stirring, stirring 50 parts and 20 parts of MEK. After cooling to room temperature, 46 parts of radically polymerizable compounds ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., number-average molecular weight 1200, toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), radically polymerizable compound (Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) are here. 30 parts of teacher production "NK ester A-DOG", molecular weight 326), 16 parts of benzoxazine type hardening | curing agents (MEK solution of 50 mass% of solid content of "ODA-BOZ" by JFE Chemical Co., Ltd.), a hardening accelerator (N, N-dimethyl 6 parts of -4-aminopyridine (DMAP), MEK solution of 5 mass% of solid content), a polymerization initiator ("perbutyl C" by Nichiyu Corp.), a phenylamino silane coupling agent (made by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM573" 250 parts of spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, specific surface area: 5.9 m 2 / g, product of Ado-Matex Co., Ltd.), surface-treated with ”) was mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to produce a resin varnish. In the same manner as in Example 1, a resin sheet was produced.

[실시예 6]Example 6

비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬사 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 15부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 톨루엔 25부, MEK 15부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(미츠비시 가스 가가쿠사 제조 「OPE-2St」, 수 평균 분자량 1200, 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 92부, 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 30부, 활성 에스테르형 경화제(DIC사 제조 「HPC8000-65T」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 30부, 카보디이미드계 경화제(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 16부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구상 실리카(평균 입자 직경 0.3㎛, 비표면적 30.7㎡/g, 덴카사 제조 「UFP-30」) 200부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시를 제작하고, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 시트를 제작하였다.15 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent approximately 238), styrene-based elastomer (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" by Asai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) 3 parts toluene It melt | dissolved by stirring, stirring 25 parts and 15 parts of MEK. After cooling to room temperature, 92 parts of radically polymerizable compounds ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., number-average molecular weight 1200, toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), radically polymerizable compound (Shin-Nakamura Chemical Industries) 30 parts of teacher-made "NK ester A-DOG", molecular weight 326), active ester type hardening | curing agent ("HPC8000-65T" made by DIC Corporation, toluene solution of 65 mass% of solid content), carbodiimide type hardening | curing agent (Nisshinbo chemical "V-03", 16 parts of active group equivalent weight, toluene solution of 50 mass% of solid content), hardening accelerator (N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), MEK solution of 5 mass% of solid content) 6 Part, spherical silica (average particle diameter 0.3 micrometer, specific surface area 30.7) surface-treated with 1 part of polymerization initiators ("Perbutyl C" by Nichiyu Corp.), and a phenylamino silane coupling agent ("KBM573" by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). M 2 / g, 200 parts of Denka Co., Ltd. "UFP-30") are mixed, and a high speed rotary mixer A resin sheet was produced by uniformly dispersing in the same manner as in Example 1 produce a resin varnish, and a.

[실시예 7]Example 7

비페닐형 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 약 269) 5부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬사 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 10부, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 P2000」, 스티렌 함유량 67%) 20부, (C) 성분 이외의 스티렌계 엘라스토머(다이셀사 제조 에폭시화 스티렌-부타디엔 열가소성 엘라스토머 「에포프렌드AT501」, 스티렌 함유량 40%) 20부를 톨루엔 50부, MEK 20부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각 후, 여기에 라디칼 중합성 화합물(신나카무라 가가쿠고교사 제조 「NK에스테르A-DOG」, 분자량 326) 90부, 활성 에스테르형 경화제(DIC사 제조 「HPC8000-65T」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 30부, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 약 151의 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 4부, 카보디이미드계 경화제 (닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 8부, 경화 촉진제(N,N-디메틸-4-아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 6부, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부, 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠 가가쿠고교사 제조, 「KBM573」)로 표면 처리된 구상 실리카(평균 입자 직경 0.3㎛, 비표면적 30.7㎡/g, 덴카사 제조 「UFP-30」) 200부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시를 제작하고, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 시트를 제작하였다.5 parts of biphenyl type epoxy resin ("NC3000L" by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent approximately 269), 10 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent approximately 238), styrene-type elastomer (Asai casee Hydrogenated styrene thermoplastic elastomer "Toughtec P2000", styrene content 67%) 20 parts, Styrene-type elastomer (Epylene AT501 made from Daicel Co., Ltd. epoxidized styrene butadiene thermoplastic elastomer other than (C) component, styrene content) 40%) and 20 parts were dissolved by heating while stirring with 50 parts of toluene and 20 parts of MEK. After cooling to room temperature, 90 parts of radically polymerizable compounds ("NK ester A-DOG" by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., molecular weight 326), active ester type hardening | curing agent ("HPC8000-65T" by DIC Corporation), 65 mass of solids are added here. 30 parts of toluene solution), 4 parts of triazine skeleton-containing phenol-based curing agent (DIC's "LA-3018-50P", 2-methoxypropanol solution of 50% of solid content of hydroxyl equivalent approximately 151), carbodiimide system 8 parts of hardening | curing agents ("V-03 by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active group equivalent about 216, toluene solution of 50 mass% of solid content), hardening accelerator (N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), 5 mass% of solid content) Spherical silica (average particle diameter 0.3) surface-treated with 6 parts of MEK solution), 1 part of polymerization initiator ("Perbutyl C" manufactured by Nichiyu Corporation), and a phenylaminosilane-based coupling agent ("KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 200 micrometers, specific surface area of 30.7 m <2> / g, and 200 parts of "UFP-30" by Denka Co., Ltd. A resin sheet was produced by uniformly dispersing in the same manner as in Example 1 produce a resin varnish, and a.

[비교예 1]Comparative Example 1

실시예 1에 있어서, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 사용하지 않았다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작하였다.In Example 1, 3 parts of styrene-type elastomers (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" made from Acai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) were not used. A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above matters.

[비교예 2]Comparative Example 2

실시예 1에 있어서,In Example 1,

1) 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 사용하지 않고,1) 3 parts of styrene-based elastomers (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" manufactured by Acai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) are not used,

2) 활성 에스테르형 경화제(DIC사 제조 「EXB9416-70BK」, 활성기 당량 약 330의 불휘발분 70질량%의 메틸이소부틸케톤 용액) 28부를 사용하지 않고,2) Without using 28 parts of active ester type hardening | curing agents (DEX company make "EXB9416-70BK", the methyl isobutyl ketone solution of 70 mass% of non volatile matters of about 330 active group equivalents),

3) 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 약 151의 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 8부를, 카보디이미드계 경화제(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 16부로 바꾸고,3) 8 parts of triazine frame | skeleton containing phenolic hardening | curing agent (DIC company "LA-3018-50P", 2-methoxypropanol solution of 50% of solid content of hydroxyl equivalent approximately 151) carbodiimide type hardening | curing agent (Nisshinbo Chemical Co., Ltd.) To 16 parts of production "V-03", active group equivalent approximately 216, toluene solution of 50 mass% of solid content),

4) 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼쿠밀 P」) 1부를, 중합 개시제(니치유사 제조 「퍼부틸 C」) 1부로 바꾸었다.4) 1 part of polymerization initiators ("Percumyl P" by Nichiyu Corp.) was changed into 1 part of polymerization initiators ("Perbutyl C" by Nichiyu Corp.).

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니시를 제작하였다. 이 수지 바니시로부터 수지 시트를 실시예 1과 동일하게 하여 제작하려 하였지만, 고속 회전 믹서로 분산 후에 1mm 이상의 응집물이 10개 이상 육안으로 관찰되었기 때문에, 수지 시트의 제작을 중지하였다.A resin varnish was produced in the same manner as in Example 1 except for the above matters. An attempt was made to produce a resin sheet from the resin varnish in the same manner as in Example 1, but production of the resin sheet was stopped because 10 or more aggregates of 1 mm or more were observed visually after dispersion by a high speed rotary mixer.

[비교예 3]Comparative Example 3

실시예 6에 있어서, 스티렌계 엘라스토머(아사이 카세이사 제조 수소 첨가 스티렌계 열가소성 엘라스토머 「터프텍 H1043」, 스티렌 함유량 67%) 3부를 사용하지 않았다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 6과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작하였다.In Example 6, 3 parts of styrene-type elastomers (hydrogenated styrene-based thermoplastic elastomer "Toughtec H1043" manufactured by Acai Kasei Co., Ltd., styrene content 67%) were not used. A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 6 except for the above matters.

Figure pat00006
Figure pat00006

실시예 1 내지 7에 있어서, (E) 성분 내지 (H) 성분을 함유하지 않는 경우라도, 정도에 차이는 있지만, 상기 실시예와 동일한 결과에 귀착됨을 확인하였다.In Examples 1-7, even if it does not contain (E) component-(H) component, although there was a difference in degree, it confirmed that it resulted in the same result as the said Example.

Claims (14)

(A) 에폭시 수지,
(B) 경화제,
(C) 스티렌계 엘라스토머, 및
(D) 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 수지
를 포함하고,
(C) 성분 중의 스티렌 단위의 함유량이, (C) 성분을 100질량%라고 한 경우, 61질량% 이상인, 수지 조성물.
(A) epoxy resin,
(B) curing agent,
(C) styrenic elastomers, and
(D) Resin having a radical polymerizable unsaturated group
Including,
The resin composition which is 61 mass% or more when content of the styrene unit in (C) component makes 100 mass% (C) component.
제1항에 있어서, (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%라고 한 경우, 0.5질량% 이상 18질량% 이하인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is 0.5 mass% or more and 18 mass% or less when content of (C) component makes the resin component in a resin composition 100 mass%. 제1항에 있어서, (D) 성분이 비닐페닐기, 아크릴로일기, 및 메타크릴로일기로부터 선택된 적어도 1종을 포함하는, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 in which (D) component contains at least 1 sort (s) chosen from a vinylphenyl group, acryloyl group, and methacryloyl group. 제1항에 있어서, (D) 성분의 수 평균 분자량이 3000 이하인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 whose number average molecular weights of (D) component are 3000 or less. 제1항에 있어서, 추가로 (E) 무기 충전재를 포함하는, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which further contains (E) an inorganic filler. 제5항에 있어서, (E) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 50질량% 이상인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 5 which is 50 mass% or more, when content of (E) component makes 100 mass% the nonvolatile components in a resin composition. 제1항에 있어서, 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for forming an insulation layer. 제1항에 있어서, 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for insulation layer formation for forming a conductor layer. 제1항에 있어서, 스퍼터 또는 금속박으로 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for insulation layer formation for forming a conductor layer from sputter | spatter or metal foil. 제1항에 있어서, 탑 지름이 45㎛ 이하인 비아홀을 갖는 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for formation of the insulation layer which has via hole whose tower diameter is 45 micrometers or less. 제1항에 있어서, 두께가 20㎛ 이하의 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 whose thickness is for insulation layer formation of 20 micrometers or less. 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물 층을 포함하는, 수지 시트.The resin sheet containing the support body and the resin composition layer containing the resin composition of any one of Claims 1-11 provided on the said support body. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.The printed wiring board containing the insulating layer formed of the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 1-11. 제13항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.The semiconductor device containing the printed wiring board of Claim 13.
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