KR20200006028A - Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium - Google Patents

Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium Download PDF

Info

Publication number
KR20200006028A
KR20200006028A KR1020190177812A KR20190177812A KR20200006028A KR 20200006028 A KR20200006028 A KR 20200006028A KR 1020190177812 A KR1020190177812 A KR 1020190177812A KR 20190177812 A KR20190177812 A KR 20190177812A KR 20200006028 A KR20200006028 A KR 20200006028A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
image
abnormality
solder
Prior art date
Application number
KR1020190177812A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102228957B1 (en
Inventor
김재형
노정규
이재환
이덕영
Original Assignee
주식회사 고영테크놀러지
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 고영테크놀러지 filed Critical 주식회사 고영테크놀러지
Priority to KR1020190177812A priority Critical patent/KR102228957B1/en
Publication of KR20200006028A publication Critical patent/KR20200006028A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102228957B1 publication Critical patent/KR102228957B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N2021/95638Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's
    • G01N2021/95646Soldering

Abstract

Disclosed is a printed circuit board inspecting apparatus. The printed circuit board inspecting apparatus comprises: a memory to store a machine learning-based model learned to derive at least one value indicating the relation of one or more fault types of a screen printer to an image indicating whether a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board are abnormal; and a processor to generate at least one image indicating whether a plurality of solder pastes printed on a first printed circuit board are abnormal if an abnormality of at least one solder paste among the plurality of solder pastes is sensed by using an image for the first printed circuit board, use the machine learning-based model to acquire at least one value indicating the relation of the one or more one fault types to the generated at least one image, and determine a fault type associated with the sensed at least one solder paste among the one or more fault types based on the acquired at least one value.

Description

인쇄 회로 기판 검사 장치, 스크린 프린터의 결함 유형 결정 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체{PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTING APPARATUS, METHOD FOR DETERMINING FAULT TYPE OF SCREEN PRINTER AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM}PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTING APPARATUS, METHOD FOR DETERMINING FAULT TYPE OF SCREEN PRINTER AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM}

본 개시는 인쇄 회로 기판 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 인쇄 회로 기판의 인쇄에 이용된 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하기 위한 인쇄 회로 기판 검사 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present disclosure relates to a printed circuit board inspection apparatus, and more particularly, to a printed circuit board inspection apparatus for determining a defect type of a screen printer used for printing a printed circuit board.

본 개시는 산업통상자원부의 로봇산업융합핵심기술개발사업의 일환으로 수행한 연구로부터 도출된 것이다[과제고유번호: 10077589, 연구과제명: 기계학습 기반 SMT 최적화 시스템 기술 개발].The present disclosure is derived from a study conducted as a part of the robot industry convergence core technology development project of the Ministry of Trade, Industry and Energy [Task No .: 10077589, Project title: Development of SMT optimization system technology based on machine learning].

전자 장치에 장착되는 인쇄 회로 기판에 솔더 페이스트가 인쇄되는 공정은 스크린 프린터에 의해 수행되며, 스크린 프린터가 인쇄 회로 기판에 솔더 페이스트를 인쇄하는 공정은 다음과 같다. 스크린 프린터는 인쇄 회로 기판을 고정시키기 위한 테이블에 인쇄 회로 기판을 위치 시키고, 스텐실의 개구가 대응되는 인쇄 회로 기판의 패드 상에 위치하도록 스텐실을 인쇄 회로 기판 상에 정렬시킨다. 이 후, 스크린 프린터는 스퀴지(squeegee)를 이용하여 스텐실의 개구를 통해 솔더 페이스트를 인쇄 회로 기판에 인쇄한다. 그 후, 스크린 프린터는 스텐실과 인쇄 회로 기판을 분리시킨다.A process of printing solder paste on a printed circuit board mounted on an electronic device is performed by a screen printer, and a process of printing solder paste on a printed circuit board by a screen printer is as follows. The screen printer places the printed circuit board on a table for fixing the printed circuit board, and aligns the stencil on the printed circuit board so that the opening of the stencil is located on the pad of the corresponding printed circuit board. The screen printer then uses a squeegee to print the solder paste onto the printed circuit board through the openings in the stencil. The screen printer then separates the stencil and the printed circuit board.

인쇄 회로 기판에 인쇄되는 솔더 페이스트의 형상은 SPI(solder paste inspection) 기술을 통해 검사될 수 있다. SPI 기술은, 광학 기술을 통해 인쇄 회로 기판에 인쇄된 솔더 페이스트의 2차원 또는 3차원 영상을 획득하고, 획득된 영상으로부터 인쇄 회로 기판에 인쇄되는 솔더 페이스트의 형상을 검사하는 기술이다.The shape of the solder paste printed on the printed circuit board may be inspected through solder paste inspection (SPI) technology. SPI technology is a technique of obtaining a two-dimensional or three-dimensional image of the solder paste printed on the printed circuit board through the optical technology, and to examine the shape of the solder paste printed on the printed circuit board from the obtained image.

본 개시는, 머신-러닝 기반 모델을 이용하여 솔더 페이스트의 이상(anomaly)과 관련된 스크린 프린터의 결함(fault) 유형을 결정할 수 있는 인쇄 회로 기판 검사 장치를 제공한다.The present disclosure provides a printed circuit board inspection apparatus capable of determining a fault type of a screen printer associated with anomaly of solder paste using a machine-learning based model.

본 개시는, 인쇄 회로 기판 검사 장치가 머신-러닝 기반 모델을 이용하여 솔더 페이스트의 이상과 관련된 스크린 프린터의 결함 유형의 결정을 수행하도록 하는 실행 가능한 명령을 포함하는 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 제공한다.The present disclosure discloses a computer-readable recording medium having recorded thereon a program comprising executable instructions for causing a printed circuit board inspection apparatus to use a machine-learning based model to determine a defect type of a screen printer associated with an abnormality of solder paste. To provide.

본 개시는, 인쇄 회로 기판 검사 장치에서, 머신-러닝 기반 모델을 이용하여 솔더 페이스트의 이상과 관련된 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 방법을 제공한다.The present disclosure provides a method for determining a defect type of a screen printer related to an abnormality of solder paste using a machine-learning based model in a printed circuit board inspection apparatus.

본 개시의 일 실시예에 따르면, 인쇄 회로 기판을 검사하는 장치는, 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델을 저장하는 메모리 및 상기 메모리와 전기적으로 연결된 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 프로세서는, 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성하고, 상기 머신-러닝 기반 모델을 이용하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하고, 상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다.According to one embodiment of the present disclosure, an apparatus for inspecting a printed circuit board includes at least one indicating a relationship between at least one defect type of a screen printer and an image indicating whether a plurality of solder pastes printed on the printed circuit board are abnormal. It may include a memory for storing the machine-learning based model trained to derive a value of and a processor electrically connected with the memory. When an abnormality of at least one solder paste of a plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is detected by using an image of the first printed circuit board, the processor determines whether the plurality of solder pastes are abnormal. Generate at least one image representative, and use the machine-learning based model to obtain at least one value indicating a relationship between the at least one defect type and the generated at least one image, wherein the acquired at least Based on one value, a defect type associated with at least one solder paste in which the abnormality is detected among the at least one defect type may be determined.

일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 통해 획득되는 상기 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지할 수 있다.In one embodiment, the processor uses the first measurement information for the plurality of solder pastes obtained through an image of the first printed circuit board, the at least one solder of the plurality of solder pastes. It can detect abnormality of paste.

일 실시예에서, 상기 제1 측정 정보는, 솔더 페이스트에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In an embodiment, the first measurement information may include at least one of a volume, an area, a height, a shape, or a position of the solder paste.

일 실시예에서, 상기 메모리는, 상기 제1 인쇄 회로 기판보다 앞서 상기 인쇄 회로 기판 검사 장치에 의해 이상 여부가 검사된 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제2 측정 정보를 더 저장하고, 상기 프로세서는, 상기 제1 측정 정보와 상기 제2 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지할 수 있다.In example embodiments, the memory may include a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards, which have been checked for abnormality by the printed circuit board inspection apparatus before the first printed circuit board. The apparatus further stores the second measurement information, and the processor may detect whether the at least one solder paste is abnormal among the plurality of solder pastes by using the first measurement information and the second measurement information.

일 실시예에서, 상기 제2 측정 정보는, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 시계열적으로 결합되어 생성될 수 있다.In example embodiments, the second measurement information may include measurement information regarding a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards according to an inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards. Can be generated by combining time series.

일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 제2 측정 정보에 기초하여, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따른 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화를 판단하고, 상기 판단된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화에 기초하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상과 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다.In an embodiment, the processor may further include a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards according to an inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards, based on the second measurement information. At least one solder paste printed on the first printed circuit board of the at least one defect type is determined based on a change of the measurement information on the determined plurality of solder pastes. The type of defect associated with the abnormality can be determined.

일 실시예에서, 상기 적어도 하나의 결함 유형은, 스퀴즈 블레이드 결함, 스퀴즈 블레이드 고정 결함, 지지대 결함, 테이블 결함, 그리드 락 설정 불량에 따른 결함, 솔더 페이스트의 방치와 솔더 페이스트의 반죽 불량으로 인한 결함, 솔더 페이스트의 부족에 의한 결함 및 스텐실 접촉 불량으로 인한 결함 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In one embodiment, the at least one defect type is a squeeze blade defect, a squeeze blade fixation defect, a support defect, a table defect, a defect due to poor grid lock setting, a defect due to bad solder paste and a poor paste paste, And at least one of a defect due to a lack of solder paste and a defect due to a poor stencil contact.

일 실시예에서, 상기 머신-러닝 기반 모델은, CNN(convolution neural network) 모델일 수 있다.In one embodiment, the machine-learning based model may be a convolution neural network (CNN) model.

일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 이미지들을 통해 상기 머신-러닝 기반 모델을 학습시킬 수 있다.In one embodiment, the processor may generate the machine-learning based model through a plurality of images indicating whether a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of printed circuit boards classified according to the at least one defect type are abnormal. I can learn.

일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정한 후, 상기 생성된 적어도 하나의 이미지를 통해 상기 머신-러닝 기반 모델을 학습시킬 수 있다.In an embodiment, the processor may determine a defect type associated with at least one solder paste in which the abnormality is detected, and then train the machine-learning based model through the generated at least one image.

일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 획득된 적어도 하나의 값 중, 미리 설정된 임계값 이상인 적어도 하나의 값에 대응하는 결함 유형을 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형으로 결정할 수 있다.In an embodiment, the processor may determine a defect type corresponding to at least one value of the obtained at least one value that is greater than or equal to a preset threshold value as a defect type associated with the at least one solder paste in which the abnormality is detected. have.

본 개시의 일 실시예에 따르면, 컴퓨터 상에서 수행하기 위한 프로그램을 기록한 비일시적 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 있어서, 상기 프로그램은, 프로세서에 의한 실행 시, 상기 프로세서가, 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성하는 단계, 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델을 이용하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하는 단계 및 상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정하는 단계를 수행하도록 하는 실행 가능한 명령을 포함할 수 있다.According to one embodiment of the present disclosure, in a non-transitory computer readable recording medium having recorded thereon a program for performing on a computer, the program may, when executed by a processor, cause the processor to display an image of a first printed circuit board. If an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is detected, generating at least one image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal, a screen printer The at least one defect using a machine-learning based model trained to derive at least one value representative of at least one defect type and an image indicating whether the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board are abnormal; Type and the association of the generated at least one image Acquiring at least one value representing a property and determining a defect type associated with at least one solder paste in which the abnormality of the at least one defect type is detected based on the obtained at least one value. It can contain executable instructions to make them work.

일 실시예에서, 상기 실행 가능한 명령은, 상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 통해 획득되는 상기 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하는 단계를 더 수행하도록 할 수 있다.In one embodiment, the executable command is the at least one of the plurality of solder pastes using first measurement information for the plurality of solder pastes obtained through an image of the first printed circuit board. Detecting whether the solder paste is abnormal may be further performed.

일 실시예에서, 상기 제1 측정 정보는, 솔더 페이스트에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In an embodiment, the first measurement information may include at least one of a volume, an area, a height, a shape, or a position of the solder paste.

일 실시예에서, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하는 단계는, 상기 제1 측정 정보와 제2 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지하는 단계를 포함하고, 상기 제2 측정 정보는,상기 제1 인쇄 회로 기판보다 앞서 상기 인쇄 회로 기판 검사 장치에 의해 이상 여부가 검사된 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 시계열적으로 결합되어 생성될 수 있다.In an embodiment, detecting whether the at least one solder paste is abnormal among the plurality of solder pastes may include detecting at least one of the at least one solder paste using the first measurement information and the second measurement information. And detecting the abnormality of one solder paste, wherein the second measurement information comprises: a plurality of second printed circuits which are inspected for abnormality by the printed circuit board inspection apparatus before the first printed circuit board; According to an inspection order of each of the substrates, measurement information about a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards may be combined in time series to be generated.

일 실시예에서, 상기 머신-러닝 기반 모델은, CNN(convolution neural network) 모델일 수 있다.In one embodiment, the machine-learning based model may be a convolution neural network (CNN) model.

일 실시예에서, 상기 실행 가능한 명령은, 상기 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 이미지들을 통해 상기 머신-러닝 기반 모델을 학습시키는 단계를 더 수행하도록 할 수 있다.In one embodiment, the executable instruction is further configured to perform the step of training the machine-learning based model through a plurality of images indicating whether the plurality of solder pastes are classified according to the at least one defect type. Can be.

일 실시예에서, 상기 결함 유형을 결정하는 단계는, 상기 획득된 적어도 하나의 값 중, 미리 설정된 임계값 이상인 적어도 하나의 값에 대응하는 결함 유형을 상기 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, the determining of the defect type may include determining a defect type associated with the detected at least one solder paste, the defect type corresponding to at least one value of the obtained at least one value that is greater than or equal to a preset threshold. It may include the step of determining.

본 개시의 일 실시예에 따르면, 인쇄 회로 기판 검사 장치에서 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 방법은, 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성하는 단계, 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델을 이용하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하는 단계 및 상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, a method of determining a defect type of a screen printer in a printed circuit board inspection apparatus includes a plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board using an image of the first printed circuit board. If at least one of the solder pastes is detected, generating at least one image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal, at least one defect type of a screen printer and a plurality of solders printed on a printed circuit board Using at least one value representing a relationship between the at least one defect type and the generated at least one image, using a machine-learning based model trained to derive at least one value representing a relationship with the image indicating an abnormality of pastes. Obtaining one value and the obtained at least one value And based on the at least one defect type, determining a defect type associated with at least one solder paste in which the abnormality is detected.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 인쇄 회로 기판 검사 장치는, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지를 이용하여, 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형 중, 이상이 감지된 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다. 이를 통해, 솔더 페이스트의 이상을 초래한 스크린 프린터의 결함 유형을 신속히 파악하여 이를 교정할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, an apparatus for inspecting a printed circuit board may include solder, in which an abnormality is detected among at least one defect type of a screen printer, by using an image indicating whether a plurality of solder pastes are printed on a printed circuit board. The type of defect associated with the paste can be determined. This allows you to quickly identify and correct the type of screen printer defect that caused the solder paste to fail.

도 1은 본 개시의 다양한 실시예에 따른 인쇄 회로 기판 검사 장치의 블록도이다.
도 2는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 이상이 감지된 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정하는 방법의 흐름도이다.
도 3은 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상을 감지하는 방법의 흐름도이다.
도 4a 내지 도 4c는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 제1 측정 정보 및 제2 측정 정보를 나타내는 그래프들을 도시한다.
도 5는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 방법의 흐름도이다.
도 6은 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 제2 측정 정보 및 제2 측정 정보로부터 분해되는 복수의 정보들을 나타내는 그래프이다.
도 7a 및 도 7b는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지들을 도시한다.
도 8은 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 머신 러닝-기반 모델에 대한 개념도이다.
1 is a block diagram of an apparatus for inspecting a printed circuit board according to various embodiments of the present disclosure.
2 is a flowchart of a method of determining a defect type associated with a solder paste in which an abnormality is detected, according to various embodiments of the present disclosure.
3 is a flowchart of a method of detecting an abnormality of at least one solder paste printed on a printed circuit board according to various embodiments of the present disclosure.
4A-4C illustrate graphs representing first measurement information and second measurement information, according to various embodiments of the present disclosure.
5 is a flowchart of a method of determining a defect type of a screen printer associated with at least one solder paste in which an anomaly is detected, according to various embodiments of the present disclosure.
6 is a graph illustrating a plurality of pieces of information decomposed from the second measurement information and the second measurement information according to various embodiments of the present disclosure.
7A and 7B illustrate images indicating whether a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board are abnormal according to various embodiments of the present disclosure.
8 is a conceptual diagram for a machine learning-based model, in accordance with various embodiments of the present disclosure.

본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments of the present disclosure are illustrated for the purpose of describing the technical spirit of the present disclosure. The scope of the present disclosure is not limited to the embodiments set forth below or the detailed description of these embodiments.

본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical and scientific terms used in the present disclosure, unless defined otherwise, have the meanings that are commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this disclosure belongs. All terms used in the present disclosure are selected for the purpose of more clearly describing the present disclosure, and are not selected to limit the scope of the rights according to the present disclosure.

본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.As used in this disclosure, expressions such as "comprising", "including", "having", and the like, are open terms that imply the possibility of including other embodiments unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. It should be understood as (open-ended terms).

본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.As used herein, the singular forms "a", "an" and "the" are intended to include the plural forms as well, unless the context clearly indicates otherwise.

본 개시에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.Expressions such as “first”, “second”, and the like used in the present disclosure are used to distinguish a plurality of components from each other, and do not limit the order or importance of the components.

본 개시에서 사용되는 "~에 기초하여"라는 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 기술되는, 결정, 판단의 행위 또는 동작에 영향을 주는 하나 이상의 인자를 기술하는데 사용되며, 이 표현은 결정, 판단의 행위 또는 동작에 영향을 주는 추가적인 인자를 배제하지 않는다.As used in this disclosure, the expression “based on” is used to describe one or more factors that affect the behavior or behavior of a decision, judgment, described in a phrase or sentence that includes the expression, which expression Does not exclude additional factors that affect decisions, actions of behaviour, or actions.

본 개시에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 경우, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로, 또는 새로운 다른 구성요소를 매개로 하여 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로 이해되어야 한다.In the present disclosure, when a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, the component may be directly connected to or connected to the other component, or new It is to be understood that the connection may be made or may be connected via other components.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 개시의 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, the same or corresponding components are given the same reference numerals. In addition, in the following description of the embodiments, it may be omitted to duplicate the same or corresponding components. However, even if the description of the component is omitted, it is not intended that such component is not included in any embodiment.

도 1은 본 개시의 다양한 실시예에 따른 인쇄 회로 기판 검사 장치의 블록도이다.1 is a block diagram of an apparatus for inspecting a printed circuit board according to various embodiments of the present disclosure.

본 개시의 다양한 실시예에 따르면, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)는, 이미지 센서(110), 메모리(120) 및 프로세서(130)를 포함할 수 있다. 또한, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)는 프로세서(130)에 의해 처리된 결과를 출력하기 위한 디스플레이(140), 다른 출력 장치(미도시) 또는 처리된 결과를 다른 전자 장치로 전송하기 위한 통신 회로(미도시)를 더 포함할 수 있다. 이미지 센서(110), 메모리(120), 프로세서(130) 및 디스플레이(140)는 전기적으로 연결되어 신호를 송수신할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the printed circuit board inspection apparatus 100 may include an image sensor 110, a memory 120, and a processor 130. Also, the printed circuit board inspection apparatus 100 may include a display 140 for outputting a result processed by the processor 130, another output device (not shown), or a communication circuit for transmitting the processed result to another electronic device. It may further include (not shown). The image sensor 110, the memory 120, the processor 130, and the display 140 may be electrically connected to transmit and receive signals.

일 실시예에서, 이미지 센서(110)는 스크린 프린터(101)에 의해 복수의 솔더 페이스트들이 인쇄된 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 이미지 센서(110)에 의해 획득되는 이미지는 인쇄 회로 기판에 대한 2차원 또는 3차원 이미지일 수 있다. 이미지 센서(110)에 의해 획득되는 인쇄 회로 기판에 대한 이미지는, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 정보를 측정하는 데에 이용될 수 있다. 예를 들어, 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나를 포함하는 정보가 측정될 수 있다. 다만, 이는 설명의 목적일 뿐, 이에 제한되는 것은 아니며, 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 통해, 복수의 솔더 페이스트 각각의 특성을 나타낼 수 있는 다양한 정보가 측정될 수 있다. 이하에서. '측정 정보'는 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 측정되는 복수의 솔더 페이스트에 대한 정보로 정의될 수 있다.In one embodiment, the image sensor 110 may obtain an image of a printed circuit board on which a plurality of solder pastes are printed by the screen printer 101. The image obtained by the image sensor 110 may be a two-dimensional or three-dimensional image of the printed circuit board. The image for the printed circuit board obtained by the image sensor 110 can be used to measure information for a plurality of solder pastes printed on the printed circuit board. For example, using an image of a printed circuit board, information including at least one of volume, area, height, shape or position for each of the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board may be measured. However, this is only for the purpose of explanation and the present invention is not limited thereto. Various information that may represent characteristics of each of the plurality of solder pastes may be measured through an image of a printed circuit board. From below. 'Measurement information' may be defined as information on a plurality of solder pastes measured using an image of a printed circuit board.

일 실시예에서, 메모리(120)는 머신-러닝 기반 모델을 저장할 수 있다. 머신-러닝 기반 모델은, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습될 수 있다. 머신-러닝 기반 모델은 예를 들어, 머신 러닝 기반 모델은, CNN(convolution neural network) 모델일 수 있다. 또한, 머신-러닝 기반 모델은 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)와 유선 또는 무선으로 연동된 전자 장치(예: 외부 서버 등)의 메모리에 저장될 수도 있다. 이 경우, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)는 유선 또는 무선으로 연동된 전자 장치와 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정하기 위한 정보를 송수신할 수 있다.In one embodiment, memory 120 may store a machine-learning based model. The machine-learning based model may be trained to derive at least one value representing the relationship between at least one defect type of the screen printer 101 and an image indicating whether the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board are abnormal. have. The machine-learning based model may be, for example, the machine learning based model may be a convolution neural network (CNN) model. In addition, the machine-learning based model may be stored in a memory of an electronic device (eg, an external server) that is connected to the printed circuit board inspection apparatus 100 by wire or wirelessly. In this case, the printed circuit board inspection apparatus 100 may transmit / receive information for determining a defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected with an electronic device interworked with a wire or wirelessly.

일 실시예에서, 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값은 확률 값일 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 값은 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지가 스크린 프린터(101)의 제1 결함 유형과의 관련성이 a %이고, 스크린 프린터(101)의 제2 결함 유형과의 관련성이 b %인 것으로 나타낼 수 있다. 다만, 이는 설명의 목적일 뿐, 이에 제한되는 것은 아니며, 관련성을 나타낼 수 있는 다양한 값이 이용될 수 있다.In one embodiment, at least one value indicating a relationship between at least one defect type and an image indicating whether a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board is abnormal may be a probability value. For example, the at least one value indicates that the image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal is a% related to the first defect type of the screen printer 101, and the image is related to the second defect type of the screen printer 101. Relevance can be indicated as b%. However, this is only for the purpose of description and the present invention is not limited thereto. Various values that may indicate relevance may be used.

일 실시예에서, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형은 스크린 프린터(101)에서 발생 가능한 다양한 결함 유형들 중, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 솔더 페이스트의 이상을 초래할 수 있는 적어도 하나의 결함 유형일 수 있다. 예를 들어, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형은 스크린 프린터(101)의 스퀴즈 블레이드 결함, 스퀴즈 블레이드 고정 결함(예: 스퀴드 블레이드를 고정하기 위한 나사 고정의 결함 등), 스크린 프린터(101)의 지지대 결함, 스크린 프린터(101)의 테이블 결함, 지지대로 그리드 락을 사용하는 경우, 그리드 락 설정 불량에 따른 결함, 스크린 프린터(101)에서 공급하는 솔더 페이스트의 상태, 예를 들어, 솔더 페이스트의 방치, 솔더 페이스트의 반죽 불량으로 인한 결함, 스크린 프린터(101)에서 공급하는 솔더 페이스트의 부족에 의한 결함 및 스텐실 접촉 불량으로 인한 결함 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. In one embodiment, the at least one defect type of the screen printer 101 is at least one defect type that may result in an abnormality of the solder paste printed on the printed circuit board, among the various defect types that may occur in the screen printer 101. Can be. For example, at least one defect type of the screen printer 101 may be a squeeze blade defect of the screen printer 101, a squeeze blade fixing defect (e.g., a defect of a screw fixing to fix the squeeze blade, etc.), a screen printer 101 ), A table defect of the screen printer 101, a grid lock as a support, a defect due to a poor grid lock setting, a state of the solder paste supplied from the screen printer 101, for example, a solder paste. It may include at least one of neglect, defects due to poor solder paste, defects due to lack of solder paste supplied from the screen printer 101, and defects due to poor stencil contact.

다만, 이는 설명의 목적일 뿐, 이에 제한되는 것은 아니며, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 솔더 페이스트의 이상을 초래할 수 있는 스크린 프린터(101)의 다양한 결함 유형이 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형에 포함될 수 있다.However, this is only for the purpose of description and the present invention is not limited thereto, and various defect types of the screen printer 101 which may cause an abnormality of the solder paste printed on the printed circuit board include at least one defect type of the screen printer 101. Can be included.

일 실시예에서, 메모리(120)에 저장된 머신-러닝 기반 모델은, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 나타내는 복수의 이미지들을 통해 학습될 수 있다. 예를 들어, 머신-러닝 기반 모델은, 스크린 프린터(101)의 제1 결함 유형으로 분류된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 제1 이미지들, 스크린 프린터(101)의 제2 결함 유형으로 분류된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 제2 이미지들을 통해 학습될 수 있다. 이와 같이 학습된 머신-러닝 기반 모델은 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지가 입력되면, 입력된 이미지와 제1 결함 유형 및 제2 결함 유형 중 적어도 하나와의 관련성을 나타내는 값을 출력할 수 있다. 머신-러닝 기반 모델의 구체적인 학습 방법에 대해서는 후술하도록 한다.In one embodiment, the machine-learning based model stored in the memory 120 is an abnormality of a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of printed circuit boards classified according to at least one defect type of the screen printer 101. It can be learned through a plurality of images representing. For example, the machine-learning based model may include a plurality of first images indicating whether a plurality of solder pastes classified as a first defect type of the screen printer 101 are abnormal, a second defect type of the screen printer 101. It may be learned through a plurality of second images indicating whether or not a plurality of solder pastes classified as are abnormal. The machine-learning based model thus learned may output a value indicating a relationship between the input image and at least one of the first defect type and the second defect type when an image indicating whether a plurality of solder pastes are abnormal. have. A detailed learning method of the machine-learning based model will be described later.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 이미지 센서(110)에 의해 획득된 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지할 수 있다. 제1 인쇄 회로 기판은 스크린 프린터(101)에서 복수의 솔더 페이스트들이 인쇄된 후 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)로 이송된 검사 대상이 되는 인쇄 회로 기판일 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보를 생성할 수 있다. 프로세서(130)는 생성된 제1 측정 정보를 이용하여 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지할 수 있다.In one embodiment, the processor 130 uses the image of the first printed circuit board obtained by the image sensor 110 to at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. Can detect abnormality of. The first printed circuit board may be a printed circuit board that is an inspection object transferred to the printed circuit board inspection apparatus 100 after a plurality of solder pastes are printed in the screen printer 101. For example, the processor 130 may generate first measurement information for the plurality of solder pastes by using an image of the first printed circuit board. The processor 130 may detect whether at least one solder paste is abnormal among the plurality of solder pastes by using the generated first measurement information.

일 실시예에서, 메모리(120)는 제1 인쇄 회로 기판 보다 앞서 검사가 수행된 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제2 측정 정보를 저장할 수 있다. 프로세서(130)는 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 과정에서 생성되는 제2 측정 정보를 메모리(120)에 저장할 수 있다. 예를 들어, 제2 측정 정보는 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 보다 이후에 검사가 수행되는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 이상 여부를 감지하는 데에 이용될 수 있다. 예를 들어, 제2 측정 정보는 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라, 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 시계열적으로 결합되어 생성될 수 있다. 제2 측정 정보를 생성하는 구체적인 방법에 대해서는 후술하도록 한다.In one embodiment, the memory 120 may store second measurement information for the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards that have been inspected before the first printed circuit board. The processor 130 may store the second measurement information generated in the inspection process of each of the plurality of second printed circuit boards in the memory 120. For example, the second measurement information may be used to detect an abnormality of a plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board after the inspection is performed after the plurality of second printed circuit boards. . For example, the second measurement information may be coupled in time series with measurement information for a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards according to an inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards. Can be generated. A detailed method of generating the second measurement information will be described later.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 제1 측정 정보와 제2 측정 정보를 이용하여, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 제1 제1 측정 정보와 제2 측정 정보를 비교하여 측정 정보와 제2 측정 정보의 차이를 판단하고, 판단된 차이가 미리 설정된 범위를 벗어나는 경우, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 미리 설정된 범위를 벗어나는 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대해 이상이 있는 것으로 감지할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 제1 측정 정보와 제2 측정 정보의 차이를 판단하고, 판단된 차이가 미리 설정된 범위를 벗어나지 않는 경우, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 이상이 없는 것으로 감지할 수 있다. 다만, 이는 설명의 목적일 뿐, 이에 제한되는 것은 아니며, 프로세서(130)는 제1 측정 정보 및 제2 측정 정보를 통계적으로 분석하거나 인쇄 회로 기판의 검사 순서에 따라 시계열적으로 분석하는 등과 같이 다양한 방법으로 제1 측정 정보 및 제2 측정 정보를 이용하여, 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지할 수 있다.In an embodiment, the processor 130 may detect an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board using the first measurement information and the second measurement information. have. For example, the processor 130 compares the first measurement information with the second measurement information to determine a difference between the measurement information and the second measurement information, and when the determined difference is out of a preset range, the first printing. It may be detected that there is an abnormality in at least one solder paste out of a predetermined range among the plurality of solder pastes printed on the circuit board. In addition, the processor 130 determines a difference between the first measurement information and the second measurement information, and when the determined difference does not deviate from a preset range, the processor 130 may have abnormalities in the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. It can be detected as missing. However, this is only for the purpose of explanation and the present invention is not limited thereto. The processor 130 may variously analyze the first measurement information and the second measurement information statistically or time-series according to the inspection order of the printed circuit board. By using the first measurement information and the second measurement information as a method, it is possible to detect the abnormality of the at least one solder paste.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 제2 측정 정보에 기초하여, 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따른 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 차이를 판단하고, 판단되는 차이가 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라 어떻게 변화되고 있는 지를 판단할 수 있다.In one embodiment, the processor 130 is based on the second measurement information to the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards according to the inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards. The change in the measurement information can be determined. For example, the processor 130 may determine a difference in measurement information for a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards, and the determined difference may be determined in each of the plurality of second printed circuit boards. You can determine how the test sequence is changing.

또한, 프로세서(130)는 판단된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화에 기초하여, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형 중, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중, 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 판단된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화에 기초하여, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상과 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다.In addition, the processor 130 may determine a defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected among at least one defect type of the screen printer 101 based on a change in measurement information about the plurality of determined solder pastes. Can be determined. For example, if an abnormality of at least one solder paste is detected among the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board, the processor 130 is based on a change in measurement information about the determined plurality of solder pastes. Thus, the defect type associated with the abnormality of the at least one solder paste in which the abnormality is detected can be determined.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성할 수 있다. 프로세서(130)는 머신-러닝 기반 모델을 이용하여 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 스크린 프린터(101)의 결함 유형을 결정하기 위하여, 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성할 수 있다.In an embodiment, when an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is detected, the processor 130 generates at least one image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal. can do. The processor 130 uses at least one image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal in order to determine a defect type of the screen printer 101 associated with the at least one solder paste in which the abnormality is detected using a machine-learning based model. Can be generated.

예를 들어, 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지는, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 전체에 대한 이상 여부를 나타내는 이미지, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 과납 이상 여부를 나타내는 이미지 및 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 소납 이상 여부를 나타내는 이미지 중 적어도 하나일 수 있다.For example, the at least one image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal may include an image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormally printed on the first printed circuit board, and the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. And at least one of an image indicating whether or not over soldering is performed on the solder pastes and an image indicating whether or not soldering is abnormally performed on the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board.

예를 들어, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 이상 여부를 나타내는 이미지를 생성하거나, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 과납 이상 여부를 나타내는 이미지 및 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 소납 이상 여부를 나타내는 이미지를 생성할 수 있다. 다만, 이는 설명의 목적일 뿐, 이에 제한되는 것은 아니며, 프로세서(130)는 머신-러닝 기반 모델의 학습에 이용된 이미지를 생성할 수 있다.For example, the processor 130 may generate an image indicating whether the plurality of solder pastes are printed on the first printed circuit board, or may generate abnormalities for the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. An image indicating whether or not and a plurality of solder pastes printed on the PCB may be generated. However, this is only for the purpose of explanation and the present invention is not limited thereto. The processor 130 may generate an image used for learning the machine-learning based model.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 메모리(120)에 저장된 머신-러닝 기반 모델을 이용하여, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형과 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득할 수 있다. 프로세서(130)는 획득된 값들에 기초하여, 적어도 하나의 결함 유형 중, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다. 프로세서(130)는 결정된 결함 유형에 대한 정보를 디스플레이(140) 또는 다른 출력 장치(미도시)를 통해 출력할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 결정된 결함 유형에 대한 정보를 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)에 포함된 통신 회로(미도시)를 통해 다른 전자 장치로 송신할 수 있다. 또한, 결정되는 결함 유형은 복수 일 수도 있다.In one embodiment, processor 130 uses a machine-learning based model stored in memory 120 to indicate at least one association of at least one defect type of screen printer 101 with at least one image generated. Can be obtained. The processor 130 may determine a defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected, based on the obtained values. The processor 130 may output information on the determined defect type through the display 140 or another output device (not shown). In addition, the processor 130 may transmit information about the determined defect type to another electronic device through a communication circuit (not shown) included in the printed circuit board inspection apparatus 100. In addition, the defect type to be determined may be plural.

예를 들어, 프로세서(130)는 획득된 값들 중, 미리 설정된 임계값 이상인 값에 대응하는 결함 유형을 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형으로 결정할 수 있다.For example, the processor 130 may determine a defect type corresponding to a value that is equal to or greater than a preset threshold among the acquired values as a defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 스크린 프린터(101)의 결함 유형을 결정한 후, 생성된 적어도 하나의 이미지를 통해 머신-러닝 기반 모델을 학습시킬 수 있다. 이와 같이, 프로세서(130)는 인쇄 회로 기판에 대한 검사가 수행될 때마다 머신-러닝 기반 모델을 학습시킴으로써, 이상이 감지된 솔더 페이스트와 관련된 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형을 보다 정확하게 결정할 수 있다.In one embodiment, the processor 130 may determine the defect type of the screen printer 101 associated with the at least one solder paste in which an anomaly is detected, and then train the machine-learning based model through the generated at least one image. have. As such, the processor 130 learns a machine-learning based model each time an inspection of the printed circuit board is performed to more accurately identify at least one defect type of the screen printer 101 associated with the solder paste in which an anomaly was detected. You can decide.

도 2는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 이상이 감지된 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정하는 방법의 흐름도이다.2 is a flowchart of a method of determining a defect type associated with a solder paste in which an abnormality is detected, according to various embodiments of the present disclosure.

도 2, 도 3, 도 5, 및 도 9에 도시된 흐름도에서 프로세스 단계들, 방법 단계들, 알고리즘들 등이 시계열적인 순서로 설명되었지만, 그러한 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들은 임의의 적합한 순서로 작동하도록 구성될 수 있다. 다시 말하면, 본 개시의 다양한 실시예들에서 설명되는 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들의 단계들이 본 개시에서 기술된 순서로 수행될 필요는 없다. 또한, 일부 단계들이 비동시적으로 수행되는 것으로서 설명되더라도, 다른 실시예에서는 이러한 일부 단계들이 동시에 수행될 수 있다. 또한, 도면에서의 묘사에 의한 프로세스의 예시는 예시된 프로세스가 그에 대한 다른 변화들 및 수정들을 제외하는 것을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스 또는 그의 단계들 중 임의의 것이 본 개시의 다양한 실시예들 중 하나 이상에 필수적임을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스가 바람직하다는 것을 의미하지 않는다.Although process steps, method steps, algorithms, and the like have been described in time series in the flowcharts shown in FIGS. 2, 3, 5, and 9, such processes, methods, and algorithms may be in any suitable order. It can be configured to work. In other words, the steps of the processes, methods, and algorithms described in various embodiments of the present disclosure need not be performed in the order described in this disclosure. In addition, although some steps are described as being performed asynchronously, in some embodiments these some steps may be performed simultaneously. Moreover, illustration of the process by depiction in the figures does not mean that the illustrated process excludes other changes and modifications thereto, and any of the illustrated process or steps thereof is one of the various embodiments of the present disclosure. It is not meant to be essential to more than one, nor does it mean that the illustrated process is preferred.

210 단계에서, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 이미지 센서(110)를 통해 복수의 솔더 페이스트들이 인쇄된 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 프로세서(130)는 획득된 이미지를 이용하여 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보를 더 획득할 수 있다. 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보는 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In operation 210, the processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 may acquire an image of the first printed circuit board on which the plurality of solder pastes are printed through the image sensor 110. The processor 130 may further obtain measurement information about the plurality of solder pastes using the obtained image. The measurement information for the plurality of solder pastes may include at least one of volume, area, height, shape, or position for each of the plurality of solder pastes.

220 단계에서, 프로세서(130)는 획득된 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성할 수 있다. 프로세서(130)는 메모리(120)에 저장된 머신-러닝 기반 모델을 이용하여 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 스크린 프린터(101)의 결함 유형을 결정하기 위하여, 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 적어도 하나의 이미지를 생성할 수 있다.In operation 220, when an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes is detected using the obtained image of the first printed circuit board, the processor 130 may indicate whether the plurality of solder pastes are abnormal. You can create one image. The processor 130 determines whether the plurality of solder pastes are abnormal in order to determine a defect type of the screen printer 101 associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected using a machine-learning based model stored in the memory 120. At least one image may be generated.

230 단계에서, 프로세서(130)는 메모리(120)에 저장된 머신-러닝 기반 모델을 이용하여, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형과 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득할 수 있다. 예를 들어, 머신-러닝 기반 모델은 생성된 적어도 하나의 이미지의 특징들을 추출하고, 추출된 특징들에 기반하여, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형과 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출할 수 있다.In operation 230, the processor 130 uses the machine-learning based model stored in the memory 120 to display at least one defect type representing the at least one defect type of the screen printer 101 and at least one image generated. The value can be obtained. For example, the machine-learning based model extracts features of the generated at least one image, and based on the extracted features, at least one defect type of the screen printer 101 and at least one image generated. At least one value representing relevance may be derived.

240 단계에서, 프로세서(130)는 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형 중, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다.In operation 240, the processor 130 may determine a defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected among at least one defect type of the screen printer 101 based on the obtained at least one value.

예를 들어, 프로세서(130)는 획득된 값들 중, 미리 설정된 임계값 이상인 값에 대응하는 결함 유형을 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형으로 결정할 수 있다.For example, the processor 130 may determine a defect type corresponding to a value that is equal to or greater than a preset threshold among the acquired values as a defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected.

또 다른 예로, 프로세서(130)는 획득된 값들 중, 값의 크기에 따라 상위 n개의 값들에 대응하는 복수의 결함 유형들을 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형들로 결정할 수 있다. 여기에서, n에 대응하는 숫자는 설정에 따라 조정될 수 있다.As another example, the processor 130 may determine a plurality of defect types corresponding to the top n values among the obtained values as defect types associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected. Here, the number corresponding to n can be adjusted according to the setting.

도 3은 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상을 감지하는 방법의 흐름도이다.3 is a flowchart of a method of detecting an abnormality of at least one solder paste printed on a printed circuit board according to various embodiments of the present disclosure.

310 단계에서, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 이미지 센서(110)를 통해 획득되는 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보를 획득할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 이미지를 통해 복수의 솔더 페이스트 각각에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나에 대한 정보를 측정하고, 측정된 정보를 통해 제1 측정 정보를 생성할 수 있다.In operation 310, the processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 uses a plurality of solders printed on the first printed circuit board by using an image of the first printed circuit board acquired through the image sensor 110. First measurement information about the pastes may be obtained. For example, the processor 130 may measure information on at least one of a volume, an area, a height, a shape, or a position of each of the plurality of solder pastes through an image, and generate first measurement information through the measured information. Can be.

320 단계에서, 프로세서(130)는 제2 측정 정보를 메모리(120)에서 검색할 수 있다. 또 다른 예로, 프로세서(130)는 제2 측정 정보를 외부 서버로부터 수신할 수 있다. 제2 측정 정보는 제1 인쇄 회로 기판에 앞서 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)에 의해 검사가 수행된 복수의 제2 인쇄 회로 기판 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보일 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 복수의 제2 인쇄 회로 기판 각각에 대한 검사 과정에서, 복수의 제2 인쇄 회로 기판 각각에 대한 이미지를 통해 복수의 제2 인쇄 회로 기판 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나에 대한 정보를 측정하고, 측정된 정보를 통해 제2 측정 정보를 생성할 수 있다. 프로세서(130)는 생성된 제2 측정 정보를 메모리(120)에 저장하거나 외부 서버에 저장할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 대한 검사가 수행된 후, 제1 측정 정보를 제2 측정 정보에 부가하여, 제2 측정 정보를 갱신할 수 있다.In operation 320, the processor 130 may retrieve the second measurement information from the memory 120. As another example, the processor 130 may receive the second measurement information from an external server. The second measurement information may be measurement information about a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards that are inspected by the printed circuit board inspection apparatus 100 prior to the first printed circuit board. For example, the processor 130 may check a plurality of solders printed on each of the plurality of second printed circuit boards through an image of each of the plurality of second printed circuit boards during the inspection of each of the plurality of second printed circuit boards. Information about at least one of a volume, an area, a height, a shape, or a position of the pastes may be measured, and second measurement information may be generated through the measured information. The processor 130 may store the generated second measurement information in the memory 120 or in an external server. In addition, after the inspection of the first printed circuit board is performed, the processor 130 may update the second measurement information by adding the first measurement information to the second measurement information.

330 단계에서, 프로세서(130)는 제1 측정 정보와 제2 측정 정보를 이용하여, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 제1 측정 정보와 제2 측정 정보를 비교하여 제1 측정 정보와 제2 측정 정보의 차이를 판단하고, 판단된 차이에서 설정된 범위를 벗어나는 부분이 있는 경우, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 미리 설정된 범위를 벗어나는 부분에 대응하는 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대해 이상이 있는 것으로 감지할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 제1 측정 정보와 제2 측정 정보의 차이를 판단하고, 판단된 차이가 미리 설정된 범위를 벗어나지 않는 경우, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 이상이 없는 것으로 감지할 수 있다.In operation 330, the processor 130 may detect an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board using the first measurement information and the second measurement information. . For example, the processor 130 may determine the difference between the first measurement information and the second measurement information by comparing the first measurement information and the second measurement information, and if there is a part that is outside the set range from the determined difference, One of the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board may detect that there is an abnormality in at least one solder paste corresponding to a portion outside the preset range. In addition, the processor 130 determines a difference between the first measurement information and the second measurement information, and when the determined difference does not deviate from a preset range, the processor 130 may have abnormalities in the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. It can be detected as missing.

도 4a 내지 도 4c는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 제1 측정 정보 및 제2 측정 정보를 나타내는 그래프 및 이상이 감지된 솔더 페이스트가 인쇄된 인쇄 회로 기판을 도시한다.4A-4C illustrate a printed circuit board on which a graph showing first measurement information and second measurement information and a solder paste in which an abnormality is detected are printed according to various embodiments of the present disclosure.

도 4a 내지 도 4c를 참조하면, 제2 측정 정보(412, 422, 432)는 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)에 의해 검사된 순서에 따라 시계열적으로 복수의 제2 인쇄 회로 기판에 대한 측정 정보가 결합되어 생성될 수 있다. 여기에서, 측정 정보는 각 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대하여 측정된 정보들을 포함할 수 있다. 4A to 4C, the second measurement information 412, 422, and 432 is measurement information for a plurality of second printed circuit boards in time series according to the order of inspection by the printed circuit board inspection apparatus 100. Can be generated in combination. Here, the measurement information may include information measured for each of the plurality of solder pastes printed on each printed circuit board.

예를 들어, 제1 측정 정보(411, 421, 431)와 제2 측정 정보(412, 422, 432)는 하나의 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들이 인쇄된 패드들 간의 면적비(area ratio)에 따라 정렬된 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대한 하여 측정된 정보들을 포함할 수 있다. 다만, 이는 설명의 목적일 뿐, 이에 제한되는 것은 아니며, 제1 측정 정보(411, 421, 431)와 제2 측정 정보(410, 420, 430)에 포함되는 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대하여 측정된 정보들은 복수의 솔더 페이스트들이 인쇄된 패드들의 ID 정보, 종횡비(aspect ratio)에 따라 정렬될 수도 있고, 복수의 솔더 페이스트들 각각의 검사 순서에 따라 시계열적으로 정렬될 수도 있고, 별도의 기준 없이 랜덤하게 정렬될 수도 있다.For example, the first measurement information 411, 421, 431 and the second measurement information 412, 422, 432 are area ratios between pads on which a plurality of solder pastes printed on one printed circuit board are printed. The measured information may be included for each of the plurality of solder pastes aligned according to the " However, this is only for the purpose of description and the present invention is not limited thereto. For each of the plurality of solder pastes included in the first measurement information 411, 421, and 431 and the second measurement information 410, 420, and 430. The plurality of pieces of solder paste may be sorted according to ID information and aspect ratio of printed pads, and may be arranged in time series according to the inspection order of each of the plurality of solder pastes. It may be ordered randomly.

일 실시예에서, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 제1 측정 정보(411, 421, 431)와 제2 측정 정보(412, 422, 432)를 비교할 수 있다. 프로세서(130)는 제1 측정 정보(411, 421, 431)와 제2 측정 정보(412, 422, 432)의 비교를 통해 제1 측정 정보(411, 421, 431)와 제2 측정 정보(412, 422, 432)의 차이를 판단할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 판단된 차이에서 설정된 범위를 벗어나는 부분(413, 423, 433)을 판단할 수 있다. 프로세서(130)는 판단된 설정된 범위를 벗어나는 부분(413, 423, 433)에 대응하는 적어도 하나의 솔더 페이스트에 이상이 있는 것으로 감지할 수 있다.In one embodiment, the processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 may compare the first measurement information 411, 421, 431 and the second measurement information 412, 422, 432. The processor 130 compares the first measurement information 411, 421, 431 and the second measurement information 412, 422, 432 with the first measurement information 411, 421, 431 and the second measurement information 412. , 422, 432 can be determined. In addition, the processor 130 may determine portions 413, 423, and 433 that deviate from the set range from the determined difference. The processor 130 may detect that there is an abnormality in at least one solder paste corresponding to the portions 413, 423, and 433 outside the determined set range.

일 실시예에서, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 대한 검사가 종료된 후, 제1 측정 정보(411, 421, 431)를 제2 측정 정보(412, 422, 432)에 부가함으로써, 제2 측정 정보(412, 422, 432)를 갱신할 수도 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 이상이 발생하지 않은 경우에만, 제2 측정 정보(412, 422, 432)를 갱신할 수 있다. 또 다른 예로, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트에 이상이 발생한 경우에도, 제2 측정 정보(412, 422, 432)를 갱신할 수 있다.In one embodiment, the processor 130 adds the first measurement information 411, 421, 431 to the second measurement information 412, 422, 432 after the inspection of the first printed circuit board ends. The second measurement information 412, 422, 432 may be updated. For example, the processor 130 may update the second measurement information 412, 422, and 432 only when no abnormality occurs in the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. As another example, the processor 130 may update the second measurement information 412, 422, 432 even when an abnormality occurs in at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. have.

도 5는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 방법의 흐름도이다.5 is a flowchart of a method of determining a defect type of a screen printer associated with at least one solder paste in which an anomaly is detected, according to various embodiments of the present disclosure.

510 단계에서, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 제2 측정 정보에 기초하여, 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따른 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 어떻게 변화되고 있는 지를 판단할 수 있다.In operation 510, the processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 may determine a plurality of second printed circuit boards according to an inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards, based on the second measurement information. It is possible to determine a change in the measurement information for the plurality of printed solder pastes. For example, the processor 130 may determine how the measurement information for the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards is changed according to the inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards. You can judge.

520 단계에서, 프로세서(130)는 판단된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화에 기초하여, 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 중, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 머신-러닝 기반 모델을 이용하기에 앞서, 판단된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화에 기초하여, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다. 또 다른 예로, 프로세서(130)는 머신-러닝 기반 모델을 통한 결함 유형 결정과 측정 정보의 변화에 기초한 결함 유형 결정을 동시에 수행할 수도 있다. 이 경우, 프로세서(130)는 머신-러닝 기반 모델을 통한 결함 유형 결정과 측정 정보의 변화에 기초한 결함 유형 결정 결과를 이용하여 최종적으로, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 결함 유형을 결정할 수 있다.In operation 520, the processor 130 may determine a defect related to at least one solder paste in which at least one defect of the screen printer 101 is detected, based on a change in measurement information regarding the plurality of determined solder pastes. The type can be determined. For example, if an abnormality of at least one solder paste printed on the first printed circuit board is detected, the processor 130 may measure measurement information on the plurality of determined solder pastes before using the machine-learning based model. Based on the change in, it is possible to determine the defect type associated with at least one solder paste in which an anomaly is detected. As another example, the processor 130 may simultaneously perform defect type determination through a machine-learning based model and defect type determination based on a change in measurement information. In this case, the processor 130 finally determines the defect type associated with at least one solder paste in which an abnormality is detected, using the defect type determination result based on the change in the measurement information and the defect type determination through the machine-learning based model. Can be.

530 단계에서, 프로세서(130)는 결정된 결함 유형에 대한 정보를 디스플레이(140) 또는 다른 출력 장치를 통해 출력할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 결정된 결함 유형에 대한 정보를 다른 전자 장치로 송신할 수도 있다.In operation 530, the processor 130 may output information about the determined defect type through the display 140 or another output device. In addition, the processor 130 may transmit information about the determined defect type to another electronic device.

도 6은 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 제2 측정 정보 및 제2 측정 정보로부터 분해되는 복수의 정보들을 나타내는 그래프이다.6 is a graph illustrating a plurality of pieces of information decomposed from the second measurement information and the second measurement information according to various embodiments of the present disclosure.

일 실시예에서, 제2 측정 정보는 인쇄 회로 기판(100)에 의해 검사가 수행된 순서에 따라 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 시계열적으로 결합되어 생성될 수 있다.In one embodiment, the second measurement information is measured in time series in which the measurement information for the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards in the order in which the inspection is performed by the printed circuit board 100. Can be generated in combination.

도 6과 같이, 제1 PCB 내지 제9 PCB가 인쇄 회로 기판(100)에 의해 검사 순서에 따라 시계열적으로 검사가 수행 된 경우, 제2 측정 정보(610)는 제1 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보 내지 제9 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 제1 PCB 내지 제9 PCB의 검사 순서에 따라 시계열적으로 결합되어 생성될 수 있다. 이러한 제2 측정 정보(610)는 이후에 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)로 이송되어 검사가 수행되는 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 감지하는 데에 이용될 수 있다.As illustrated in FIG. 6, when the first to ninth PCBs are inspected in time series by the printed circuit board 100 in the inspection order, the second measurement information 610 may include a plurality of printed on the first PCB. Measurement information on the solder pastes and the measurement information on the plurality of solder pastes printed on the ninth PCB may be generated by being coupled in time series according to the inspection order of the first to ninth PCBs. The second measurement information 610 may be transferred to the printed circuit board inspection apparatus 100 and then used to detect an abnormality of the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board on which the inspection is performed.

또한, 제1 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보 내지 제9 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대한 측정 정보는 제1 PCB 내지 제9 PCB에 솔더 페이스트들이 인쇄되는 복수의 패드들에 대한 정보에 기초하여 정렬될 수 있다. 정렬된 제1 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보 내지 제9 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대한 측정 정보는 제1 PCB 내지 제9 PCB의 검사 순서에 따라 시계열적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 복수의 패드들 각각의 특징(예: 면적비(area ratio), 종횡비(aspect ratio), 위치 클러스터 그룹 ID(Position Cluster group ID) 또는 패드 ID 등)에 기초하여 제1 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보 내지 제9 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 각각에 대한 측정 정보가 정렬될 수 있다.In addition, the measurement information for the plurality of solder pastes printed on the first PCB to the measurement information for each of the plurality of solder pastes printed on the ninth PCB may include the plurality of solder pastes printed on the first to ninth PCBs. Can be sorted based on information about the pads. The measurement information for the plurality of solder pastes printed on the aligned first PCB to the measurement information for each of the plurality of solder pastes printed on the ninth PCB is time-series according to the inspection order of the first to ninth PCBs. Can be combined. For example, printed on the first PCB based on characteristics of each of the plurality of pads (eg, area ratio, aspect ratio, position cluster group ID or pad ID, etc.). The measurement information for the plurality of solder pastes to the measurement information for each of the plurality of solder pastes printed on the ninth PCB may be aligned.

복수의 솔더 페이스트들이 인쇄되는 인쇄 회로 기판 상의 패드들은 각 패드의 특징이 상이할 수 있으므로, 제2 측정 정보(610)를 보다 정확히 분석하기 위하여, 제2 측정 정보(610)를 수학식 1과 같이 주기 정보(620), 추세 정보(630), 조건부 분산 정보(640), 평균의 이동 추세 정보(650) 및 오차 정보(660)로 분해할 수 있다.Since the pads on the printed circuit board on which the plurality of solder pastes are printed may have different characteristics of each pad, in order to analyze the second measurement information 610 more accurately, the second measurement information 610 may be expressed by Equation 1 below. It may be decomposed into period information 620, trend information 630, conditional variance information 640, moving trend information 650 of an average, and error information 660.

Figure pat00001
Figure pat00001

여기에서, 여기에서, Yt는 제2 측정 정보(610)이고, St는 주기 정보(620)이고, Tt는 추세 정보(630)이고, ht는 조건부 분산 정보(640)이고, μt는 평균의 이동 추세 정보(650), Et는 오차 정보(660)이다. 이와 같이, 제2 측정 정보(610)가 생성되면, 제2 측정 정보(610)를 분해하여 주기 정보(620), 추세 정보(630), 조건부 분산 정보(640), 평균의 이동 추세 정보(650) 및 오차 정보(660)를 생성할 수 있다.Here, Y t is the second measurement information 610, S t is the period information 620, T t is the trend information 630, h t is the conditional variance information 640, μ t is the moving trend information 650 of the average, and E t is the error information 660. As such, when the second measurement information 610 is generated, the second measurement information 610 is decomposed to cycle information 620, trend information 630, conditional variance information 640, and moving trend information 650 of an average. ) And error information 660 may be generated.

예를 들어, 주기 정보(620)는 제1 PCB 내지 제9 PCB에서 동일하고, 추세 정보(630)는 제1 PCB 내지 제9 PCB 에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 경향성을 나타낼 수 있다. 조건부 분산 정보(640)는 패드 별 상이한 특성에 따른 변동성을 나타내는 정보이고, 평균의 이동 추세 정보(650)는 패드 별 상이한 특징으로 인해 다른 평균 값을 가지는 솔더 페이스트에 대한 측정 정보의 추세를 나타내는 정보일 수 있다. 오차 정보(660)는 제2 측정 정보(610)에서 주기 정보(620), 추세 정보(630) 및 조건부 분산 정보(640), 평균의 이동 추세 정보(650)를 제거한 잡음(noise)일 수 있다. 이와 같이, 인쇄 회로 기판의 각 패드 별 상이한 특징을 고려하여 제2 측정 정보(610)를 분해함으로써, 제1 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보 내지 제9 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 제1 PCB 내지 제9 PCB의 검사 순서에 따라 시계열적으로 결합된 제2 측정 정보(610)를 보다 정확히 분석할 수 있다. 또한, 분석 결과에 따른 제1 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보 내지 제9 PCB에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화를 판단함으로써, 스크린 프린터(101)의 결함을 결정할 수 있다.For example, the period information 620 is the same on the first to ninth PCBs, and the trend information 630 indicates the tendency of the measurement information for the plurality of solder pastes printed on the first to ninth PCBs. Can be. The conditional variance information 640 is information indicating variability according to different characteristics of each pad, and the moving trend information 650 of averages is information indicating a trend of measurement information for solder paste having different average values due to different characteristics of each pad. Can be. The error information 660 may be noise obtained by removing the period information 620, the trend information 630, the conditional variance information 640, and the average moving trend information 650 from the second measurement information 610. . As such, by decomposing the second measurement information 610 in consideration of different characteristics of each pad of the printed circuit board, the measurement information of the plurality of solder pastes printed on the first PCB to the plurality of printed on the ninth PCB The measurement information on the solder pastes may more accurately analyze the second measurement information 610 which is coupled in time series according to the inspection order of the first to ninth PCBs. In addition, the defect of the screen printer 101 may be determined by determining a change in the measurement information of the plurality of solder pastes printed on the first PCB to the plurality of solder pastes printed on the ninth PCB according to the analysis result. Can be determined.

일 실시예서, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보 역시 제1 인쇄 회로 기판의 복수의 패드들 각각의 특징에 따라 주기 정보, 추세 정보, 조건부 분산 정보, 평균의 이동 추세 정보 및 오차 정보로 분해될 수 있다. 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 제1 측정 정보로부터 분해된 주기 정보, 추세 정보, 조건부 분산 정보, 평균의 이동 추세 정보 및 오차 정보는 제2 측정 정보(610)로부터 분해된 주기 정보(620), 추세 정보(630), 조건부 분산 정보(640), 평균의 이동 추세 정보(650) 및 오차 정보(660)와 비교할 수 있다. 프로세서(130)는 비교 결과에 따라 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지할 수 있다.In one embodiment, the first measurement information for the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board also includes period information, trend information, conditional variance information, and average according to characteristics of each of the plurality of pads of the first printed circuit board. It can be decomposed into the moving trend information and error information of. The processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 may decompose period information, trend information, conditional dispersion information, average moving trend information, and error information decomposed from the first measurement information. Period information 620, trend information 630, conditional variance information 640, average moving trend information 650, and error information 660 may be compared. The processor 130 may detect whether at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is abnormal according to the comparison result.

도 7a 및 도 7b는 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지들을 도시한다.7A and 7B illustrate images indicating whether a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board are abnormal according to various embodiments of the present disclosure.

일 실시예에서, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지(710)을 통해 머신-러닝 기반 모델의 학습에 이용된 적어도 하나의 이미지(720, 730, 740)를 생성할 수 있다. 프로세서(130)는 학습된 머신-러닝 기반 모델을 이용하여, 생성된 적어도 하나의 이미지와 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형과의 관련성을 나타내는 값을 도출할 수 있다.In one embodiment, the processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 uses at least one image 720, 730 to train the machine-learning based model via the image 710 on the first printed circuit board. , 740 may be generated. The processor 130 may use the learned machine-learning based model to derive a value indicating a relationship between the generated at least one image and at least one defect type of the screen printer 101.

예를 들어, 머신-러닝 기반 모델이 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지(720)를 통해 학습된 경우, 프로세서(130)는 도 7a와 같이, 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지(720)를 생성할 수 있다. 생성되는 이미지(720)에는 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 정보가 표시될 수 있다. 예를 들어, 복수의 솔더 페이스트들 중 이상이 감지되지 않은 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대해서는 검은색으로 표시하고, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대해서는 흰색으로 표시할 수 있다. 또한, 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부는 0 또는 1 값으로 표시될 수 도 있다. 예를 들어, 이상이 감지되지 않은 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대응하는 픽셀 값은 0으로 설정하고, 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대응하는 픽셀 값은 1로 설정할 수 있다.For example, when the machine-learning based model is trained through an image 720 indicating whether a plurality of solder pastes are printed on the first printed circuit board, the processor 130 may print the first print as shown in FIG. 7A. An image 720 indicating whether a plurality of solder pastes printed on the circuit board is abnormal may be generated. In the generated image 720, information indicating whether a plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is abnormal may be displayed. For example, the at least one solder paste in which no abnormality is detected among the plurality of solder pastes may be displayed in black, and the at least one solder paste in which abnormality is detected may be displayed in white. In addition, whether the plurality of solder pastes are abnormal may be indicated by a value of zero or one. For example, a pixel value corresponding to at least one solder paste for which no abnormality is detected may be set to 0, and a pixel value corresponding to at least one solder paste for which abnormality is detected may be set to 1.

또 다른 예로, 머신-러닝 기반 모델이 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 과납 이상 여부를 나타내는 이미지(730) 및 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 소납 이상 여부를 나타내는 이미지(740)를 통해 학습된 경우, 프로세서(130)는 도 7b와 같이, 복수의 솔더 페이스트들에 대한 과납 이상 여부를 나타내는 이미지 (730) 및 복수의 솔더 페이스트들에 대한 소납 이상 여부를 나타내는 이미지(740)를 생성할 수 있다. 생성되는 이미지(730)에는 복수의 솔더 페이스트들의 과납 이상 여부가 표시될 수 있다. 생성되는 이미지(740)에는 복수의 솔더 페이스트들에 대한 소납 이상 여부가 표시될 수 있다.As another example, a machine-learning based model includes an image 730 indicating whether there is an overpayment for a plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board, and a plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board. In the case of learning through the image 740 indicating whether the solder is abnormal or not, the processor 130 may check the image 730 and the plurality of solder pastes indicating the over-payment of the plurality of solder pastes, as shown in FIG. 7B. An image 740 indicating whether an abnormality is present may be generated. The generated image 730 may indicate whether the solder pastes are overcharged. The generated image 740 may indicate whether the solder is abnormal for the plurality of solder pastes.

또한, 프로세서(130)는 상술한 이미지들 와는 다른 적어도 하나의 이미지를 통해 머신-러닝 기반 모델이 학습된 경우, 상술한 이미지들 와는 다른 적어도 하나의 이미지를 생성할 수 있다.In addition, when the machine-learning based model is trained through at least one image different from the above-described images, the processor 130 may generate at least one image different from the above-described images.

도 8은 본 개시의 다양한 실시예에 따른, 머신 러닝-기반 모델에 대한 개념도이다.8 is a conceptual diagram for a machine learning-based model, in accordance with various embodiments of the present disclosure.

일 실시예에서, 인쇄 회로 기판 검사 장치(100)의 프로세서(130)는 스크린 프린터(101)의 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 이미지들을 통해 머신-러닝 기반 모델을 학습시킬 수 있다. 이하에서는, 설명의 편의를 위하여 머신-러닝 기반 모델 중 하나인 CNN 모델을 중심으로 설명하나, 이에 제한되는 것은 아니며, 다양한 머신-러닝 기반 모델이 이용될 수 있다.In one embodiment, the processor 130 of the printed circuit board inspection apparatus 100 includes an abnormality of a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of printed circuit boards classified according to at least one defect type of the screen printer 101. A machine-learning based model can be trained through a plurality of images indicating whether or not. Hereinafter, for convenience of description, a description will be made based on a CNN model, which is one of the machine-learning based models, but is not limited thereto. Various machine-learning based models may be used.

일 실시예에서, CNN 모델을 학습시키기 위해 이용되는 이미지로 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 이상 여부를 나타내는 이미지, 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 과납 이상 여부를 나타내는 이미지 및 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 소납 이상 여부를 나타내는 이미지 중 적어도 하나가 이용될 수 있다.In one embodiment, the image used to train the CNN model is an image indicating whether there is a problem with the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board, and whether there is an overpayment of the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board. At least one of an image indicating and an image indicating whether or not a solder is abnormal for a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board may be used.

예를 들어, 적어도 하나의 컨볼루션 레이어(convolution layer) 및 적어도 하나의 풀링 레이어(pooling layer)를 포함하는 CNN의 특징 추출 레이어(810)는 복수의 솔더 페이스트들에 대한 이상 여부를 나타내는 이미지의 특징들을 추출할 수 있다. 특징 추출 레이어(810)는 이미지의 특징을 추출하기 위하여 3x3 또는 5x5 필터를 사용할 수 있다. 3x3 또는 5x5 필터의 계수들은 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 이미지들을 통해 CNN이 학습되는 과정에서 결정될 수 있다.For example, the feature extraction layer 810 of the CNN, which includes at least one convolution layer and at least one pooling layer, is a feature of an image that indicates abnormality for a plurality of solder pastes. Can extract them. The feature extraction layer 810 may use a 3x3 or 5x5 filter to extract features of the image. The coefficients of the 3x3 or 5x5 filter may be determined in the course of the CNN learning through a plurality of images indicating whether or not the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of printed circuit boards classified according to the at least one defect type.

또한, CNN의 완전 연결 레이어(fully connected layer)로 구성된 분류기(820)는 특징 추출 레이어(810)에서 추출된 특징들을 이용하여 복수의 솔더 페이스트들에 대한 이상 여부를 나타내는 이미지를 분류할 수 있다. 분류기(820)를 통해 도출되는 분류 결과는 복수의 솔더 페이스트들에 대한 이상 여부를 나타내는 이미지와 적어도 하나의 결함 유형과의 관련성을 나타내는 값을 포함할 수 있다.In addition, the classifier 820 configured as a fully connected layer of the CNN may classify an image indicating whether a plurality of solder pastes are abnormal using the features extracted from the feature extraction layer 810. The classification result derived through the classifier 820 may include a value indicating an image and a relationship between at least one defect type and an image indicating whether the plurality of solder pastes are abnormal.

상기 방법은 특정 실시예들을 통하여 설명되었지만, 상기 방법은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의해 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 ROM, RAM, CD-ROM, 광데이터 저장장치 등을 포함할 수 있다. 또한, 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고, 상기 실시예들을 구현하기 위한 기능적인(functional) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 개시가 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.Although the method has been described through specific embodiments, the method may also be embodied as computer readable code on a computer readable recording medium. Computer-readable recording media include all kinds of recording devices that store data that can be read by a computer system. The computer-readable recording medium may include a ROM, a RAM, a CD-ROM, an optical data storage device, and the like. The computer readable recording medium can also be distributed over network coupled computer systems so that the computer readable code is stored and executed in a distributed fashion. In addition, functional programs, codes, and code segments for implementing the above embodiments can be easily inferred by programmers in the art to which the present disclosure belongs.

이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예에 의해 본 개시의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 개시의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.While the technical spirit of the present disclosure has been described with reference to some embodiments and the examples shown in the accompanying drawings, the technical spirit and scope of the present disclosure may be understood by those skilled in the art. It will be appreciated that various substitutions, modifications, and alterations can be made in the scope. Also, such substitutions, modifications and variations are intended to be included within the scope of the appended claims.

Claims (22)

인쇄 회로 기판을 검사하는 장치에 있어서,
스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델을 저장하는 메모리; 및
상기 메모리와 전기적으로 연결된 프로세서
를 포함하고, 상기 프로세서는,
제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성하고 - 상기 적어도 하나의 이미지는 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 이상이 감지된 제1 솔더 페이스트와 이상이 감지되지 않은 제2 솔더 페이스트가 구분되는 이미지임 - ,
상기 생성된 적어도 하나의 이미지를 상기 머신-러닝 기반 모델에 입력하고,
상기 머신-러닝 기반 모델로부터 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하고,
상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
In the apparatus for inspecting a printed circuit board,
A memory for storing a machine-learning based model trained to derive at least one value representing a relationship between at least one defect type of a screen printer and an image indicating whether a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board are abnormal; And
A processor electrically connected to the memory
Including, the processor,
When an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is detected by using an image of the first printed circuit board, at least one of the plurality of solder pastes indicates whether the abnormality is present. Generate an image, wherein the at least one image is an image in which a first solder paste in which an abnormality is detected and a second solder paste in which no abnormality is detected among the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board are distinguished; ,
Input the generated at least one image into the machine-learning based model,
Obtain at least one value from said machine-learning based model indicating at least one defect type of said screen printer and an association of said generated at least one image,
And determine a defect type of the screen printer associated with at least one solder paste in which the abnormality of the at least one defect type of the screen printer is detected based on the obtained at least one value.
제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 수신하고,
상기 수신된 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하고,
상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 적어도 하나의 이미지를 생성하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 1,
The processor,
Receive an image for the first printed circuit board,
Detecting an abnormality of the at least one solder paste of the plurality of solder pastes by using the received image of the first printed circuit board,
And if the abnormality of the at least one solder paste is detected, generating the at least one image.
제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 통해 획득되는 상기 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 1,
The processor,
Detecting whether the at least one solder paste of the plurality of solder pastes is abnormal by using first measurement information of the plurality of solder pastes obtained through an image of the first printed circuit board Circuit board inspection device.
제3항에 있어서,
상기 제1 측정 정보는,
솔더 페이스트에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나를 포함하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 3,
The first measurement information,
A printed circuit board inspection device comprising at least one of volume, area, height, shape or location for the solder paste.
제4항에 있어서,
상기 메모리는,
상기 제1 인쇄 회로 기판보다 앞서 상기 인쇄 회로 기판 검사 장치에 의해 이상 여부가 검사된 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제2 측정 정보를 더 저장하고,
상기 프로세서는,
상기 제1 측정 정보와 상기 제2 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 4, wherein
The memory,
Further storing second measurement information on the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards, which are inspected for abnormality by the printed circuit board inspection apparatus, before the first printed circuit board,
The processor,
And detecting the abnormality of the at least one solder paste of the plurality of solder pastes using the first measurement information and the second measurement information.
제5항에 있어서,
상기 제2 측정 정보는,
상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 시계열적으로 결합되어 생성되는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 5,
The second measurement information,
A printed circuit board, in which measurement information for a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards is combined in time series, according to an inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards; Inspection device.
제6항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제2 측정 정보에 기초하여, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따른 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보의 변화를 판단하고,
상기 판단된 측정 정보의 변화에 기초하여, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상과 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 6,
The processor,
Based on the second measurement information, the change of the measurement information for the plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards according to the inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards is determined. and,
Determining a defect type of the screen printer associated with an abnormality of at least one solder paste printed on the first printed circuit board, among the at least one defect type of the screen printer, based on the determined change of the measurement information. Circuit board inspection device.
제1항에 있어서,
상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형은,
스퀴즈 블레이드 결함, 스퀴즈 블레이드 고정 결함, 지지대 결함, 테이블 결함, 그리드 락 설정 불량에 따른 결함, 솔더 페이스트의 방치와 솔더 페이스트의 반죽 불량으로 인한 결함, 솔더 페이스트의 부족에 의한 결함 및 스텐실 접촉 불량으로 인한 결함 중 적어도 하나를 포함하는 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 1,
At least one defect type of the screen printer is
Squeeze blade defects, squeeze blade fixing defects, support defects, table defects, defects due to poor grid lock setting, defects due to neglect of solder paste and poor solder paste kneading, defects due to insufficient solder paste and poor stencil contact A printed circuit board inspection device comprising at least one of the defects.
제1항에 있어서,
상기 머신-러닝 기반 모델은,
CNN(convolution neural network) 모델인, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 1,
The machine-learning based model,
A printed circuit board inspection device, a model of a convolution neural network (CNN).
제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 이미지들을 통해 상기 머신-러닝 기반 모델을 학습시키는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 1,
The processor,
A printed circuit board learning the machine-learning based model through a plurality of images indicating whether a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of printed circuit boards classified according to at least one defect type of the screen printer Inspection device.
제10항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 결정한 후, 상기 생성된 적어도 하나의 이미지를 통해 상기 머신-러닝 기반 모델을 학습시키는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 10,
The processor,
And determining the defect type of the screen printer associated with the at least one solder paste in which the abnormality is detected, and then training the machine-learning based model through the generated at least one image.
제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 획득된 적어도 하나의 값 중, 미리 설정된 임계값 이상인 값에 대응하는 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형으로 결정하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
The method of claim 1,
The processor,
A printed circuit board that determines a defect type of the screen printer corresponding to a value that is equal to or greater than a preset threshold among the obtained at least one value as a defect type of the screen printer associated with at least one solder paste in which the abnormality is detected. Inspection device.
컴퓨터 상에서 수행하기 위한 프로그램을 기록한 비일시적 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 있어서,
상기 프로그램은, 프로세서에 의한 실행 시, 상기 프로세서가,
제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성하는 단계 - 상기 적어도 하나의 이미지는, 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 이상이 감지된 제1 솔더 페이스트와 이상이 감지되지 않은 제2 솔더 페이스트가 구분되는 이미지임 - ;
스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델에 상기 생성된 적어도 하나의 이미지를 입력하는 단계;
상기 머신-러닝 기반 모델로부터, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하는 단계; 및
상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 단계
를 수행하도록 하는 실행 가능한 명령을 포함하는 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
A non-transitory computer readable recording medium having recorded thereon a program for running on a computer, comprising:
When the program is executed by a processor, the processor,
When an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is detected by using an image of the first printed circuit board, at least one of the plurality of solder pastes indicates whether the abnormality is present. Generating an image, wherein the at least one image is an image in which a first solder paste in which an abnormality is detected and a second solder paste in which no abnormality is detected among the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board are distinguished Im-;
The at least one generated in the machine-learning based model trained to derive at least one value indicative of at least one defect type of the screen printer and an image indicating whether the plurality of solder pastes printed on the printed circuit board are abnormal. Inputting an image of the;
Obtaining, from the machine-learning based model, at least one value indicative of an association of at least one defect type of the screen printer with the generated at least one image; And
Based on the obtained at least one value, determining a defect type of the screen printer associated with at least one solder paste in which the abnormality is detected among the at least one defect type of the screen printer
And a computer readable recording medium comprising executable instructions for causing the computer to perform the operation.
제13항에 있어서,
상기 실행 가능한 명령은,
상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 수신하는 단계;
상기 수신된 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하는 단계; 및
상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 적어도 하나의 이미지를 생성하는 단계
를 더 수행하도록 하는, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 13,
The executable command is:
Receiving an image for the first printed circuit board;
Detecting an abnormality of the at least one solder paste of the plurality of solder pastes by using the received image of the first printed circuit board; And
If an abnormality of the at least one solder paste is detected, generating the at least one image
Computer readable recording medium.
제13항에 있어서,
상기 실행 가능한 명령은,
상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 통해 획득되는 상기 복수의 솔더 페이스트들에 대한 제1 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하는 단계
를 더 수행하도록 하는, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 13,
The executable command is:
Detecting an abnormality of the at least one solder paste of the plurality of solder pastes by using first measurement information of the plurality of solder pastes obtained through the image of the first printed circuit board.
Computer readable recording medium.
제15항에 있어서,
상기 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 측정 정보는,
상기 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 부피, 면적, 높이, 형상 또는 위치 중 적어도 하나를 포함하는 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 15,
Measurement information for the at least one solder paste,
And at least one of volume, area, height, shape, or position for the at least one solder paste.
제15항에 있어서,
상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상 여부를 감지하는 단계는,
상기 제1 측정 정보와 제2 측정 정보를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트들 중 상기 적어도 하나의 솔더 페이스트에 대한 이상 여부를 감지하는 단계
를 포함하고,
상기 제2 측정 정보는,
상기 제1 인쇄 회로 기판보다 앞서 이상 여부가 검사된 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각의 검사 순서에 따라, 상기 복수의 제2 인쇄 회로 기판들 각각에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들에 대한 측정 정보가 시계열적으로 결합되어 생성되는, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 15,
Detecting whether the at least one solder paste is abnormal among the plurality of solder pastes,
Detecting whether the at least one solder paste is abnormal among the plurality of solder pastes using the first measurement information and the second measurement information.
Including,
The second measurement information,
Measurement information of a plurality of solder pastes printed on each of the plurality of second printed circuit boards in accordance with an inspection order of each of the plurality of second printed circuit boards which have been checked for abnormality before the first printed circuit board. Computer-readable recording medium is generated by combining the time series.
제13항에 있어서,
상기 머신-러닝 기반 모델은,
CNN(convolution neural network) 모델인, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 13,
The machine-learning based model,
A computer readable recording medium that is a convolution neural network (CNN) model.
제13항에 있어서,
상기 실행 가능한 명령은,
상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형에 따라 분류된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 복수의 이미지들을 통해 상기 머신-러닝 기반 모델을 학습시키는 단계
를 더 수행하도록 하는 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 13,
The executable command is:
Training the machine-learning based model through a plurality of images indicating whether a plurality of solder pastes classified according to at least one defect type of the screen printer are abnormal;
A computer readable recording medium for further performing.
제13항에 있어서,
상기 결함 유형을 결정하는 단계는,
상기 획득된 적어도 하나의 값 중, 미리 설정된 임계값 이상인 적어도 하나의 값에 대응하는 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 상기 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형으로 결정하는 단계
를 포함하는, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
The method of claim 13,
Determining the defect type,
Determining a defect type of the screen printer corresponding to at least one value of the obtained at least one value that is greater than or equal to a preset threshold value as a defect type of the screen printer associated with the sensed at least one solder paste.
And a computer readable recording medium.
인쇄 회로 기판 검사 장치에서 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 방법에 있어서,
제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 적어도 하나의 솔더 페이스트의 이상이 감지되면, 상기 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 적어도 하나의 이미지를 생성하는 단계 - 상기 적어도 하나의 이미지는, 상기 제1 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들 중 이상이 감지된 제1 솔더 페이스트와 이상이 감지되지 않은 제2 솔더 페이스트가 구분되는 이미지임 - ;
스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델에 상기 생성된 적어도 하나의 이미지를 입력하는 단계;
상기 머신-러닝 기반 모델로부터, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하는 단계; 및
상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는 단계
를 포함하는 결함 유형 결정 방법.
A method of determining a defect type of a screen printer in a printed circuit board inspection device,
When an abnormality of at least one solder paste of the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board is detected by using an image of the first printed circuit board, at least one of the plurality of solder pastes indicates whether the abnormality is present. Generating an image, wherein the at least one image is an image in which a first solder paste in which an abnormality is detected and a second solder paste in which no abnormality is detected among the plurality of solder pastes printed on the first printed circuit board are distinguished Im-;
The at least one generated in the machine-learning based model trained to derive at least one value indicative of an association between at least one defect type of a screen printer and an image indicating a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board. Inputting an image of the;
Obtaining, from the machine-learning based model, at least one value indicating a relationship between at least one defect type of the screen printer and the generated at least one image; And
Based on the obtained at least one value, determining a defect type of the screen printer associated with at least one solder paste in which the abnormality is detected among the at least one defect type of the screen printer
Defect type determination method comprising a.
인쇄 회로 기판을 검사하는 장치에 있어서,
스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 인쇄 회로 기판에 인쇄된 복수의 솔더 페이스트들의 이상 여부를 나타내는 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 도출하도록 학습된 머신-러닝 기반 모델을 저장하는 메모리; 및
상기 메모리와 전기적으로 연결된 프로세서
를 포함하고, 상기 프로세서는,
복수의 솔더 페이스트가 인쇄된 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 수신하고,
상기 제1 인쇄 회로 기판에 대한 이미지를 이용하여, 상기 복수의 솔더 페이스트 중 이상이 발생한 적어도 하나의 제1 솔더 페이스트를 검출하고,
상기 적어도 하나의 제1 솔더 페이스트가 검출되면, 상기 이상이 발생한 적어도 하나의 제1 솔더 페이스트만이 표시되고, 이상이 발생하지 않은 적어도 하나의 제2 솔더 페이스트는 표시되지 않는 적어도 하나의 이미지를 생성하고,
상기 생성된 적어도 하나의 이미지를 상기 머신-러닝 기반 모델에 입력하고,
상기 머신-러닝 기반 모델로부터 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형과 상기 생성된 적어도 하나의 이미지와의 관련성을 나타내는 적어도 하나의 값을 획득하고,
상기 획득된 적어도 하나의 값에 기초하여, 상기 스크린 프린터의 적어도 하나의 결함 유형 중 상기 이상이 감지된 적어도 하나의 제1 솔더 페이스트와 관련된 상기 스크린 프린터의 결함 유형을 결정하는, 인쇄 회로 기판 검사 장치.
In the apparatus for inspecting a printed circuit board,
A memory for storing a machine-learning based model trained to derive at least one value representing a relationship between at least one defect type of a screen printer and an image indicating whether a plurality of solder pastes printed on a printed circuit board are abnormal; And
A processor electrically connected to the memory
Including, the processor,
Receive an image of a first printed circuit board having a plurality of solder pastes printed thereon,
Detecting at least one first solder paste having an abnormality among the plurality of solder pastes by using an image of the first printed circuit board,
When the at least one first solder paste is detected, only at least one first solder paste having the abnormality is displayed, and at least one second solder paste having no abnormality is generated at least one image is not displayed. and,
Input the generated at least one image into the machine-learning based model,
Obtain at least one value from the machine-learning based model indicating at least one defect type of the screen printer and an association of the generated at least one image,
A based on the obtained at least one value, determining a defect type of the screen printer associated with at least one first solder paste in which the abnormality is detected among the at least one defect type of the screen printer. .
KR1020190177812A 2019-12-30 2019-12-30 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium KR102228957B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190177812A KR102228957B1 (en) 2019-12-30 2019-12-30 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190177812A KR102228957B1 (en) 2019-12-30 2019-12-30 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170177379A Division KR20190084167A (en) 2017-12-21 2017-12-21 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200006028A true KR20200006028A (en) 2020-01-17
KR102228957B1 KR102228957B1 (en) 2021-03-17

Family

ID=69370008

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190177812A KR102228957B1 (en) 2019-12-30 2019-12-30 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102228957B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111899248A (en) * 2020-08-05 2020-11-06 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 Automatic PCB soldering paste defect detection method based on machine learning
WO2022032046A1 (en) * 2020-08-07 2022-02-10 Kla Corporation 3d structure inspection or metrology using deep learning

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180089911A (en) * 2015-12-31 2018-08-09 케이엘에이-텐코 코포레이션 Hybrid Checker
KR20180094121A (en) * 2016-01-11 2018-08-22 케이엘에이-텐코 코포레이션 Accelerate semiconductor-related calculations using a learning-based model
KR20190034021A (en) * 2017-09-22 2019-04-01 삼성전자주식회사 Method and apparatus for recognizing an object
KR20190084167A (en) * 2017-12-21 2019-07-16 주식회사 고영테크놀러지 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium
KR20190092975A (en) * 2018-01-31 2019-08-08 삼성전자주식회사 Method of managing vision inspection and vision inspection system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180089911A (en) * 2015-12-31 2018-08-09 케이엘에이-텐코 코포레이션 Hybrid Checker
KR20180094121A (en) * 2016-01-11 2018-08-22 케이엘에이-텐코 코포레이션 Accelerate semiconductor-related calculations using a learning-based model
KR20190034021A (en) * 2017-09-22 2019-04-01 삼성전자주식회사 Method and apparatus for recognizing an object
KR20190084167A (en) * 2017-12-21 2019-07-16 주식회사 고영테크놀러지 Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium
KR20190092975A (en) * 2018-01-31 2019-08-08 삼성전자주식회사 Method of managing vision inspection and vision inspection system

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
‘Solder Paste Scooping Detection by Multilevel Visual Inspection of Printed Circuit Boards‘, Csaba Benedek 등, IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, 60(6), 2318-2331, 2013.6* *
‘심층학습에 기반한 표면실장부품의 결함분류방법’, 김영규 등, 대한전기학회 학술대회 논문집, 15-16, 2017.10* *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111899248A (en) * 2020-08-05 2020-11-06 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 Automatic PCB soldering paste defect detection method based on machine learning
CN111899248B (en) * 2020-08-05 2024-02-02 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 Automatic PCB solder paste defect detection method based on machine learning
WO2022032046A1 (en) * 2020-08-07 2022-02-10 Kla Corporation 3d structure inspection or metrology using deep learning
US11644756B2 (en) 2020-08-07 2023-05-09 KLA Corp. 3D structure inspection or metrology using deep learning

Also Published As

Publication number Publication date
KR102228957B1 (en) 2021-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109946319B (en) Printed circuit board inspection apparatus, method of determining defect type of screen printer, and computer-readable recording medium
KR102106349B1 (en) Printed circuit board inspecting apparatus, method for detecting anomalry of solder paste and computer readable recording medium
US11386546B2 (en) System for creating learned model for component image recognition, and method for creating learned model for component image recognition
KR102300951B1 (en) Methods for Determining Defect Types in Board Inspection Devices and Screen Printers
JP2018025481A (en) Surface mounting line survey instrument and quality management system
CN106168582B (en) Inspection apparatus and inspection method
KR102228957B1 (en) Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium
CN113971654A (en) Welding spot detection model training method, welding spot detection method and welding spot detection device
TWI732296B (en) System for generating detection model according to standard data to confirm soldering state and method thereof
KR102174424B1 (en) Method for Inspecting Component basesd Server and system and apparatus therefor
CN114782431A (en) Printed circuit board defect detection model training method and defect detection method
CN112453750A (en) System and method for establishing detection model according to standard value to confirm welding state
EP4134883B1 (en) Systems and methods for automated x-ray inspection
JP2021056004A (en) Image determination device and image determination method
US20210055235A1 (en) Method to Automatically Inspect Parts Using X-Rays
WO2022157995A1 (en) Inspection management system, inspection management device, inspection management method, and program
WO2022196003A1 (en) Quality evaluation device and inspection management system
CN115587959A (en) Abnormality detection system and abnormality detection method
KrishnaPriya DEEP LEARNING FOR FLAWS IN PCB DESIGN
CN114428082A (en) Electronic component image capturing method and capacitor polarity determination method using same
CN116739967A (en) Inspection system and AI model data management method
JP2023050857A (en) Image inspection method, and image inspection device
CN114894801A (en) Inspection system, inspection method, and inspection program
Khare et al. Defects Detection in Printed Circuit Board using Integrated Framework
CN116710957A (en) Automated optical inspection using hybrid imaging system

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant