KR20190125892A - Extremely low temperature chiller apparatus for semiconductor - Google Patents
Extremely low temperature chiller apparatus for semiconductor Download PDFInfo
- Publication number
- KR20190125892A KR20190125892A KR1020180050274A KR20180050274A KR20190125892A KR 20190125892 A KR20190125892 A KR 20190125892A KR 1020180050274 A KR1020180050274 A KR 1020180050274A KR 20180050274 A KR20180050274 A KR 20180050274A KR 20190125892 A KR20190125892 A KR 20190125892A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- temperature
- refrigerant
- expansion valve
- primary
- heat exchanger
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67248—Temperature monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Devices That Are Associated With Refrigeration Equipment (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 극저온 반도체 칠러 장치에 관한 것으로, 특히 극저온 운전시 압력 상승 및 전류량 상승을 방지하여 안정적으로 운전할 수 있도록 하는 기술에 관련한다.The present invention relates to a cryogenic semiconductor chiller device, and more particularly, to a technology for stably operating by preventing a pressure rise and an increase in the amount of current during cryogenic operation.
칠러 장치는 반도체 소자의 제조공정에서 안정적인 공정제어를 위한 온도조절장치이다. 특히, 칠러 장치는 여러 공정 중 식각 및 노광 공정에서 주로 사용하는데 공정 중 과도한 열이 발생하는 전극판 및 챔버(chamber)의 온도를 일정하게 유지시켜 줌으로써 고온으로 인한 웨이퍼의 파손 및 생산성의 저하를 막아준다.The chiller device is a temperature control device for stable process control in a semiconductor device manufacturing process. In particular, the chiller device is mainly used in the etching and exposure processes of various processes, and keeps the temperature of the electrode plate and chamber where excessive heat is generated during the process to prevent wafer breakage and productivity decrease due to high temperature. give.
이러한 기능을 수행하는 칠러 장치의 냉동사이클은 냉매 경로와 브라인 경로가 일부분에서 중첩되어 열교환이 이루어진다.In the refrigerating cycle of the chiller device that performs this function, the refrigerant path and the brine path overlap each other to form heat exchange.
그런데 반도체 공정에 따라 사용온도가 다르며, 주위온도를 고온에서 사용하는 공정 또는 저온에 사용하는 공정으로 구분이 되어 그에 따라 열교환기 방식 칠러, 냉매 방식 칠러 장치가 사용된다.By the way, the use temperature is different according to the semiconductor process, it is divided into the process using the ambient temperature at a high temperature or the process used at a low temperature, accordingly, a heat exchanger chiller, a refrigerant chiller device is used.
현재 반도체 공정은 수율 확대를 위해 칠러 장치의 용량을 확대하고, 칠러 장치의 온도 범위의 폭을 확대하며, 사용온도를 더 낮게 요구하고 있다.Currently, semiconductor processes require increasing the capacity of the chiller device, increasing the width of the chiller device's temperature range, and lowering the operating temperature to increase yield.
그에 대비하여 현재 일반적으로 사용되는 칠러 장치는 1단 냉동사이클로 최저 -30℃까지 사용할 수 있지만 그보다 더 낮은 온도에서는 사용하기가 불가능하다.In contrast, currently commonly used chiller units can be used in a single stage refrigeration cycle down to -30 ° C, but not at lower temperatures.
또한, 극저온에 특화된 고압 냉매를 그대로 적용하여 상온 운전을 할 경우 압력이 매우 상승하기 때문에 위험성이 커질 뿐 아니라, 압력 상승으로 압축기에 과전류가 발생하여 운전이 되지 않는다.In addition, if the high pressure refrigerant specialized in cryogenic temperature is applied as it is, the pressure increases very much, so that the risk increases, and overpressure occurs in the compressor due to the increase in pressure, thereby preventing operation.
따라서, 본 발명의 목적은 냉동사이클을 통해 극저온까지 냉매의 온도를 하강시키고 유지시킴으로써 반도체 장비의 온도를 극저온 상태로 유지하여 반도체 공정을 안정적으로 운전시킬 수 있도록 하는 칠러 장치를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a chiller device that can stably operate a semiconductor process by maintaining the temperature of a semiconductor device in a cryogenic state by lowering and maintaining a temperature of a refrigerant to a cryogenic temperature through a refrigeration cycle.
본 발명의 다른 목적은 2단 캐스케이드 냉동사이클에 의한 극저온 운전과 상온 운전을 병용할 수 있는 칠러 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a chiller device that can use a combination of cryogenic operation and normal temperature operation by a two-stage cascade refrigeration cycle.
상기의 목적은, 냉매를 이용해서 온도를 하강시켜주는 냉동사이클과 상기 냉동사이클에서 하강된 온도를 냉매를 통해 메인 장비로 전달해주는 냉매사이클을 구비하며, 상기 냉동사이클은 캐스케이드(cascade) 연결된 1차 및 2차 냉동사이클로 구성되고, 상기 1차 및 2차 냉동사이클 각각은 팽창밸브와 열교환기로 구성되는 V-I(Vapor-Injection) 모듈을 구비하고, 상기 V-I 모듈에서, 상기 팽창밸브의 후단이 상기 열교환기로 연결되고 상기 팽창밸브의 전단에서 분기되어 상기 열교환기로 연결되어 상기 열교환기에서 이들이 서로 열교환 하여 냉매 온도를 하강시키는 것을 특징으로 하는 극저온 반도체 칠러 장치에 의해 달성된다.The above object has a refrigeration cycle for lowering the temperature by using a refrigerant and a refrigerant cycle for transferring the temperature lowered in the refrigeration cycle to the main equipment through the refrigerant, wherein the refrigeration cycle is cascade-connected primary And a secondary refrigeration cycle, wherein each of the primary and secondary refrigeration cycles has a VI (Vapor-Injection) module composed of an expansion valve and a heat exchanger, wherein the rear end of the expansion valve is connected to the heat exchanger. It is achieved by a cryogenic semiconductor chiller device, characterized in that connected to and branched in front of the expansion valve and connected to the heat exchanger in the heat exchanger they heat exchange with each other to lower the refrigerant temperature.
상기의 목적은, 냉매를 이용해서 온도를 하강시켜주는 냉동사이클과 상기 냉동사이클에서 하강된 온도를 냉매를 통해 메인 장비로 전달해주는 냉매사이클을 구비하며, 상기 냉동사이클은 캐스케이드(cascade) 연결된 1차 및 2차 냉동사이클로 구성되고, 상기 1차 냉동사이클은, 1차 압축기 -> 응축기 -> 1차 V-I(Vapor-Injection) 팽창밸브 -> 1차 V-I 열교환기 -> 상기 1차 압축기로 이루어지는 1차 메인 라인; 및 상기 1차 V-I 팽창밸브의 전단에서 분기되어 상기 1차 V-I 열교환기 -> 저온용 솔레노이드 밸브 -> 1차 저온용 팽창밸브 -> 캐스케이드 콘덴서(cascade condensor) -> 상기 1차 압축기로 이루어지는 1차 저온용 분기 라인으로 구성되고, 상기 2차 냉동사이클은, 2차 압축기 -> 상기 캐스케이드 콘덴서 -> 2차 V-I 팽창밸브 -> 2차 V-I 열교환기 -> 상기 2차 압축기로 이루어지는 2차 메인 라인; 및 상기 2차 V-I 팽창밸브의 전단에서 분기되어 상기 2차 V-I 열교환기 -> 2차 저온용 팽창밸브 -> 저온용 증발기 -> 상기 2차 압축기로 이루어지는 저온용 분기 라인으로 구성되는 것을 특징으로 하는 극저온 반도체 칠러 장치에 의해 달성된다.The above object has a refrigeration cycle for lowering the temperature by using a refrigerant and a refrigerant cycle for transferring the temperature lowered in the refrigeration cycle to the main equipment through the refrigerant, wherein the refrigeration cycle is cascade-connected primary And a secondary refrigeration cycle, wherein the primary refrigeration cycle includes a primary compressor-> condenser-> primary VI expansion valve-> primary VI heat exchanger-> primary compressor Main line; And a branch branched from the front end of the primary VI expansion valve, the primary VI heat exchanger-> low temperature solenoid valve-> primary low temperature expansion valve-> cascade condensor-> primary compressor The secondary refrigeration cycle comprises: a secondary main line consisting of a secondary compressor-> the cascade condenser-> a secondary VI expansion valve-> a secondary VI heat exchanger-> the secondary compressor; And a branch branch for low temperature consisting of the secondary VI heat exchanger-> secondary low temperature expansion valve-> low temperature evaporator-> the secondary compressor branched from the front end of the secondary VI expansion valve. Achieved by a cryogenic semiconductor chiller device.
바람직하게, 상기 1차 냉동사이클은 상기 V-I 열교환기의 후단에서 분기되어 상온용 솔레노이드 밸브 -> 상온용 팽창밸브 -> 상온용 증발기 -> 상기 1차 압축기로 이루어지는 상온용 분기 라인을 더 포함할 수 있다.Preferably, the primary refrigeration cycle may further include a room temperature branching line which is branched from the rear end of the VI heat exchanger and is made of a solenoid valve for normal temperature-> room temperature expansion valve-> room temperature evaporator-> the primary compressor. have.
바람직하게, 상기 냉매사이클은, 공정 챔버에서 브라인이 유입되는 상기 상온용 증발기 -> 상기 저온용 증발기 -> 냉매 탱크 -> 히터 -> 펌프로 구성될 수 있다.Preferably, the refrigerant cycle, the room temperature evaporator in which the brine flows in-may be composed of the low temperature evaporator-> refrigerant tank-> heater-> pump.
상기한 구성에 의하면, 2단 캐스케이드 냉동사이클을 적용하여 -80℃의 극저온까지 온도를 하강시킬 수 있다.According to the above configuration, by applying a two-stage cascade refrigeration cycle it is possible to lower the temperature to a cryogenic temperature of -80 ℃.
또한, 2단 캐스케이드 냉동사이클에 의한 극저온 운전방식과 상온 운전방식을 분리시켜 온도대별로 안정적으로 칠러 장치를 운영할 수 있으며, 특히 상온 운전시 우려되는 고압상승을 해결할 수 있다.In addition, by separating the cryogenic operation method and the normal temperature operation method by the two-stage cascade refrigeration cycle, the chiller device can be stably operated for each temperature zone, and in particular, it is possible to solve the high pressure rise that is concerned when operating at room temperature.
또한, 2단 냉동사이클의 각 단에서, V-I 모듈을 구성하는 팽창밸브와 열교환기를 이용하여 응축온도를 하강시킴으로써 냉동효율을 극대화하여 극저온 운전이 안정적으로 수행되고, 압축기 흡입온도를 상승시켜 압축기의 결빙을 방지할 수 있다.In addition, in each stage of the two-stage refrigeration cycle, the condensation temperature is reduced by using the expansion valve and the heat exchanger constituting the VI module to maximize the refrigerating efficiency, so that the cryogenic operation is performed stably, and the compressor suction temperature is increased to freeze the compressor. Can be prevented.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 시스템 계통도를 나타낸다.1 is a system schematic diagram according to an embodiment of the present invention.
본 발명에서 사용되는 기술적 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아님을 유의해야 한다. 또한, 본 발명에서 사용되는 기술적 용어는 본 발명에서 특별히 다른 의미로 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 의미로 해석되어야 하며, 과도하게 포괄적인 의미로 해석되거나 과도하게 축소된 의미로 해석되지 않아야 한다. 또한, 본 발명에서 사용되는 기술적인 용어가 본 발명의 사상을 정확하게 표현하지 못하는 잘못된 기술적 용어일 때에는, 당업자가 올바르게 이해할 수 있는 기술적 용어로 대체되어 이해되어야 할 것이다. 또한, 본 발명에서 사용되는 일반적인 용어는 사전에 정의되어 있는 바에 따라, 또는 전후 문맥상에 따라 해석되어야 하며, 과도하게 축소된 의미로 해석되지 않아야 한다.Technical terms used in the present invention are merely used to describe specific embodiments, it should be noted that it is not intended to limit the present invention. In addition, the technical terms used in the present invention should be interpreted as meanings generally understood by those skilled in the art unless the present invention has a special meaning defined in the present invention, and is excessively comprehensive. It should not be interpreted in the sense of or in the sense of being excessively reduced. In addition, when a technical term used in the present invention is an incorrect technical term that does not accurately express the spirit of the present invention, it should be replaced with a technical term that can be properly understood by those skilled in the art. In addition, the general terms used in the present invention should be interpreted as defined in the dictionary or according to the context before and after, and should not be interpreted in an excessively reduced sense.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 시스템 계통도를 나타낸다.1 is a system schematic diagram according to an embodiment of the present invention.
본 발명의 칠러 장치가 구비하는 시스템은 크게 냉동사이클과 냉매사이클로 구분되며, 사이클 별로 각기 다른 냉매를 사용한다.The system provided by the chiller device of the present invention is largely divided into a refrigeration cycle and a refrigerant cycle, and different refrigerants are used for each cycle.
냉동사이클은 냉매를 이용해서 온도를 하강시켜주는 역할을 하며, 도 1에 점선으로 나타낸 것처럼, 2단 캐스케이드(cascade)로 구성된다.The refrigeration cycle serves to lower the temperature by using the refrigerant, and as shown by a dotted line in Figure 1, it consists of a two-stage cascade.
냉매사이클은 냉동사이클에서 하강된 온도를 브라인(brine)을 통해 메인 장비로 전달해주는 역할을 한다.The refrigerant cycle serves to transfer the temperature lowered in the refrigeration cycle to the main equipment through brine.
양 사이클 모두 냉매를 이용하지만, 이하에서는 구별의 편의를 위해 냉동사이클과 냉매사이클로 구분하여 사용한다. 특히, 2차 냉동사이클에 사용되는 냉매는 R-508B 냉매와 같은 고압 냉매로서 장치가 정지시 냉매가 팽창하여 배관내 압력이 상승할 위험성이 있기 때문에 팽창탱크의 용량을 최적화하여 버퍼 역할을 하도록 함으로써 배관내 압력을 안전하게 유지시킬 수 있다.Although both cycles use a refrigerant, hereinafter, the refrigerant cycle and the refrigerant cycle are used separately for convenience of distinction. In particular, the refrigerant used in the secondary refrigeration cycle is a high-pressure refrigerant, such as the R-508B refrigerant, there is a risk that the refrigerant expands when the device is stopped, thereby increasing the pressure in the pipe to optimize the capacity of the expansion tank to serve as a buffer The pressure in the pipe can be maintained safely.
구체적으로 설명하면, 통상 R-508B와 같은 고압 냉매는 온도 10℃ 시의 압력이 34bar 정도인데, 냉동사이클 운전 중 1차 냉동사이클로 인해 고압 냉매가 적용되는 2차 냉동사이클의 응축온도가 -20℃ 이하가 되기 때문에 압력 상승이 일정하게 유지되지만 장비 정지 시 외부 온도에 따라서 배관 내 고압 냉매가 팽창하여 압력이 상승하게 된다.Specifically, a high-pressure refrigerant such as R-508B usually has a pressure of about 34 bar at a temperature of 10 ° C., and a condensation temperature of the secondary refrigeration cycle to which the high-pressure refrigerant is applied due to the primary refrigeration cycle during the refrigeration cycle operation is -20 ° C. As the pressure rises below, the pressure rise is kept constant, but when the equipment is stopped, the high pressure refrigerant in the pipe expands according to the external temperature, thereby increasing the pressure.
따라서, 도 1에 도시된 것처럼, 2차 냉동사이클의 압축기(200)의 전단과 후단 사이에 분기 라인에 팽창탱크(280)와 응축압력 조절밸브(270) 및 모세관(290)을 설치한다.Therefore, as shown in FIG. 1, an expansion tank 280, a condensation pressure regulating valve 270, and a capillary tube 290 are installed in a branch line between the front end and the rear end of the
냉매가 설정압력 이상으로 되면 응축압력 조절밸브(270)가 개방되고 팽창탱크(280) 쪽으로 냉매가 흐르며, 모세관(290)을 통하여 낮은 압력의 냉매가 압축기(200)로 흡입되도록 한다.When the refrigerant is above the set pressure, the condensation pressure regulating valve 270 is opened and the refrigerant flows toward the expansion tank 280, and the refrigerant of low pressure is sucked into the
이와 같이 팽창탱크(280)가 최적화된 체적을 확보하여 버퍼(Buffer) 역할을 함으로써 압력의 상승을 방지할 수 있고, 이에 따라 압축기(200)에 과전류가 발생하는 것을 방지한다.As such, the expansion tank 280 serves as a buffer to secure an optimized volume, thereby preventing an increase in pressure, thereby preventing overcurrent from occurring in the
반도체 공정을 수행하는 메인 장비의 운전방식은 적용 온도를 기준으로 극저온 운전방식과 상온 운전방식으로 구분할 수 있다.The operation method of the main equipment that performs the semiconductor process can be divided into cryogenic operation and room temperature operation based on the applied temperature.
여기서, 극저온과 상온을 구분하는 온도의 경계는 -30℃로, -30℃ 이하에서는 극저온 운전방식으로 운전되고 -30℃ 이상에서는 상온 운전방식으로 운전된다.Here, the boundary between the temperature that separates the cryogenic temperature from the normal temperature is −30 ° C., and is operated by the cryogenic operation method at −30 ° C. or less, and operated by the normal temperature operation method at −30 ° C. or more.
이하의 설명에서는 상기와 같이 구분하여 설명한다.In the following description, the description will be made separately as described above.
2단 냉동사이클과 냉매사이클이 서로 겹쳐서 구성되며, 각 사이클의 구성을 각 냉매의 흐름 방향을 기준으로 설명한다.The two-stage refrigeration cycle and the refrigerant cycle overlap each other, and the configuration of each cycle will be described based on the flow direction of each refrigerant.
2단 냉동사이클은 1차 냉동사이클과 2차 냉동사이클이 캐스케이드로 연결되어 구성되며, 각 냉동사이클은, 도면에서 일점쇄선으로 나타낸 V-I(Vapor-Injection) 모듈을 구비하여 1,2차 냉동사이클의 응축온도를 하강시켜 극저온 운전방식에 적합한 냉동능력을 극대화함과 동시에 압축기 흡입온도를 상승시켜 압축기의 결빙을 방지할 수 있다.The two-stage refrigeration cycle consists of a cascade of the first refrigeration cycle and the second refrigeration cycle, each of the refrigeration cycle is equipped with a VI (Vapor-Injection) module shown by a dashed line in the drawings The condensation temperature can be lowered to maximize the refrigerating capacity suitable for cryogenic operation and at the same time, the compressor suction temperature is increased to prevent freezing of the compressor.
1차 냉동사이클은 메인 라인, 저온용 분기 라인, 및 상온용 분기라인으로 이루어진다.The primary refrigeration cycle consists of a main line, a low temperature branch line, and a room temperature branch line.
메인 라인은, 압축기(100) -> 응축기(110) -> 수액기(120) -> 팽창밸브(140) -> 열교환기(130) -> 압축기(100)로 이루어진다.The main line is composed of compressor 100-> condenser 110-> receiver 120-> expansion valve 140-> heat exchanger 130->
저온용 분기 라인은, 팽창밸브(140)의 전단에서 분기되어 열교환기(130) -> 저온 솔레노이드 밸브(150) -> 저온용 팽창밸브(160) -> 캐스케이드 콘덴서(cascade condensor)(190) -> 압축기(100)로 이루어진다.The low temperature branching line branches at the front end of the
또한, 상온용 분기 라인은, 저온용 분기 라인의 열교환기(130)의 후단에서 분기되어 상온 솔레노이드 밸브(170) -> 상온용 팽창밸브(180) -> 상온용 증발기(300) -> 압축기(100)로 이루어진다.In addition, the branching line for room temperature is branched from the rear end of the
2차 냉동사이클은 메인 라인과 저온용 분기 라인으로 이루어진다.The secondary refrigeration cycle consists of a main line and a low temperature branch line.
메인 라인은, 압축기(200) -> 캐스케이드 콘덴서(190) -> 팽창밸브(220) -> 열교환기(210) -> 압축기(200)로 이루어진다.The main line consists of the compressor 200-> cascade condenser 190-> expansion valve 220-> heat exchanger 210->
저온용 분기 라인은, 팽창밸브(220)의 전단에서 분기되어 열교환기(210) -> 저온용 팽창밸브(230) -> 저온용 증발기(240) -> 압축기(200)로 이루어진다.The low temperature branching line branches at the front end of the
상기와 같이, 1차 및 2차 냉동사이클에서는 V-I 모듈을 구성하는 팽창밸브(140, 220)와 열교환기(130, 210)를 이용하여 응축온도를 하강시킴으로써 냉동효율을 극대화하여 극저온 운전이 안정적으로 수행되고, 압축기 흡입온도를 상승시켜 압축기의 결빙을 방지할 수 있다.As described above, in the first and second refrigeration cycle, the cryogenic operation is stably maximized by maximizing the refrigeration efficiency by lowering the condensation temperature by using the
이하에서는 V-I 모듈을 구성하는 팽창밸브와 열교환기를 특히 V-I 팽창밸브와 V-I 열교환기로 명명한다.Hereinafter, the expansion valve and the heat exchanger constituting the V-I module will be referred to as the V-I expansion valve and V-I heat exchanger.
냉매사이클은, 공정 챔버에서 브라인이 유입되는 상온용 증발기(300) -> 저온용 증발기(240) -> 냉매 탱크(310) -> 히터(320) -> 펌프(330)로 구성된다.The refrigerant cycle is composed of a
이하, 운전방식별 칠러 장치의 작동에 대해 설명한다.Hereinafter, the operation of the chiller device for each driving method will be described.
<극저온 운전방식><Cryogenic operation method>
상기한 것처럼, 극저온 운전방식은 설정온도가 -30℃ 이하일 때 적용된다.As described above, the cryogenic operation is applied when the set temperature is -30 ° C or lower.
극저온 운전시 1차 및 2차 냉동사이클이 모두 작동되는 2단 캐스케이드 냉동 시스템이 작동된다.In cryogenic operation, a two-stage cascade refrigeration system is operated in which both the primary and secondary refrigeration cycles are operated.
1차 냉동사이클에서, 압축기(100)가 운전되어 70℃ 정도의 냉매가 토출되어 응축기(110)를 거쳐 냉매가 응축되고, 응축된 냉매는 대략 24℃ 정도로서 수액기(120)를 거쳐 두 개의 라인으로 분기된다.In the first refrigerating cycle, the
하나의 라인은 메인 라인을 구성하여 V-I 팽창밸브(140)를 거쳐 V-I 열교환기(130)로 통해 압축기(100)로 흡입되며, 냉매는 팽창에 의해 대략 -16℃ 정도가 된다.One line constitutes a main line and is sucked into the
다른 라인은 바로 V-I 열교환기(130)로 흡입되는데, 이때 V-I 팽창밸브(140)를 통해 V-I 열교환기(130)로 유입된 냉매와 열교환하여 대략 9℃ 정도의 냉매로 나온다.The other line is directly sucked into the
상기한 것처럼, 1차 냉동사이클에서, V-I 열교환기(130) 이후에는 저온용 분기 라인과 상온용 분기 라인으로 나누어지는데, 극저온 운전방식에서는 도시되지 않은 제어부에 의해 상온 솔레노이드 밸브(170)가 닫혀 상온용 분기 라인은 차단된다.As described above, in the first refrigeration cycle, after the VI
따라서, 냉매는 저온용 분기 라인을 따라 흘러 저온 솔레노이드 밸브(150)를 거쳐 저온용 팽창밸브(160)에서 팽창되어 대략 -26℃ 정도의 온도로 캐스케이드 콘덴서(190)에 유입된다.Accordingly, the refrigerant flows along the low temperature branching line, expands in the low
캐스케이드 콘덴서(190)에서, 후술하는 것처럼, 2차 냉동사이클의 냉매와 열교환한 후, 대략 17℃ 정도의 온도를 유지하여 압축기(100)로 회수된다.In the
또한, 2차 냉동사이클에서, 압축기(200)를 통해 75℃ 정도의 냉매가 토출되며, 상기한 것처럼, 캐스케이드 응축기(190)에서 1차 냉동사이클에서 응축된 냉매와 열교환되어 -23℃ 정도의 냉매로 나온다.In addition, in the secondary refrigeration cycle, the refrigerant of about 75 ° C. is discharged through the
캐스케이드 응축기(190)에서 열교환되어 나온 냉매는 V-I 팽창밸브(220)의 전단에서 두 라인으로 분기된다.The refrigerant heat exchanged from the
하나의 라인은 V-I 팽창밸브(220)를 거쳐 냉매가 -75℃ 정도로 하강하여 V-I 열교환기(210)로 들어가서 열교환한 후 냉매가 -8℃ 정도로 상승하여 압축기(200)로 흡입된다. One line passes through the
다른 라인은 직접 V-I 열교환기(210)로 유입되어, 상기한 것처럼, V-I 팽창밸브(220)를 거쳐 들어온 냉매와 열교환되어 대략 -35℃ 정도를 유지하면서 나오며, 팽창밸브(230)를 통해 -80℃로 하강되어 저온용 증발기(240)로 유입되고 메인 챔버에서 나온 냉매와 열교환되어 -60℃ 정도로 압축기(200)로 흡입된다.The other line flows directly into the
냉매사이클에서, 메인 챔버로부터 나온 브라인은 상온용 증발기(300)를 그대로 통과하여 저온용 증발기(240)로 유입되어, 상기한 것처럼, -80℃로 유입되는 냉매와 열교환한 후 냉매 탱크(310), 히터(320), 그리고 펌프(330)를 통하여 메인 챔버로 다시 공급된다.In the refrigerant cycle, the brine from the main chamber passes through the
따라서, 극저온 운전 시 실질적으로 메인 챔버로부터 나온 브라인이 열교환되는 곳은 저온용 증발기(240)로 이곳을 통해 -80℃ 정도로 하강된 냉매와 열교환하여 온도를 극저온으로 하강시킨다.Therefore, the place where the brine from the main chamber substantially exchanges heat during the cryogenic operation is a
<상온 운전방식><Room temperature operation method>
상기한 것처럼, 상온 운전방식은 설정온도가 -30℃ 이상일 때 적용된다.As described above, the room temperature operation method is applied when the set temperature is -30 ° C or more.
설정온도가 -30℃ 이상 시 냉동 사이클 중 1차 냉동사이클만 작동되고 2차 냉동 사이클은 정지되며, 상온 운전방식에 적용되므로 1차 냉동사이클에서 저온용 분기 라인은 당연히 차단된다.When the set temperature is above -30 ℃, only the first refrigeration cycle is operated during the refrigeration cycle, the second refrigeration cycle is stopped, and the low temperature branch line is naturally blocked in the first refrigeration cycle because it is applied to the normal temperature operation method.
1차 냉동사이클에서, 압축기(100)가 운전되어 70℃ 정도의 냉매가 토출되어 응축기(110)를 거쳐 냉매가 응축되고, 응축된 냉매는 대략 24℃ 정도로서 수액기(120)를 거쳐 두 개의 라인으로 분기된다.In the first refrigerating cycle, the
하나의 라인은 메인 라인을 구성하여 V-I 팽창밸브(140)를 거쳐 V-I 열교환기(130)로 통해 압축기(100)로 흡입되며, 냉매는 팽창에 의해 대략 -16℃ 정도가 된다.One line constitutes a main line and is sucked into the
다른 라인은 바로 V-I 열교환기(130)로 흡입되는데, 이때 V-I 팽창밸브(140)를 통해 V-I 열교환기(130)로 유입된 냉매와 열교환하여 대략 9℃ 정도의 냉매로 나온다.The other line is directly sucked into the
상기한 것처럼, 상온 운전방식에서는 도시되지 않은 제어부에 의해 저온 솔레노이드 밸브(150)가 닫혀 저온용 분기 라인은 차단된다.As described above, in the room temperature operation method, the low
따라서, 냉매는 상온용 분기 라인을 따라 흘러 상온 솔레노이드 밸브(170)를 거쳐 상온용 팽창밸브(180)에서 팽창되어 대략 -25℃ 정도의 온도로 상온용 증발기(300)에 유입된다.Accordingly, the refrigerant flows along the branch line for room temperature, expands through the room
유입된 냉매는 상온용 증발기(300)에서 메인 챔버로부터 나온 냉매와 열교환하여 대략 -10℃ 정도의 온도로 압축기(100)로 흡입된다.The introduced refrigerant is heat-exchanged with the refrigerant from the main chamber in the
상기한 것처럼, 메인 챔버에서 나온 브라인은 상온용 증발기(300)에서 열교환한 후, 저온용 증발기(240)를 통과하여 냉매 탱크(310), 히터(320), 그리고 펌프(330)를 통하여 메인 챔버로 다시 공급된다.As described above, the brine from the main chamber is heat-exchanged in the
상기한 구성에 의하면, 2단 캐스케이드 냉동사이클을 적용하여 -80℃의 극저온까지 온도를 하강시킬 수 있다.According to the above configuration, by applying a two-stage cascade refrigeration cycle it is possible to lower the temperature to a cryogenic temperature of -80 ℃.
또한, 2단 캐스케이드 냉동사이클에 의한 극저온 운전방식과 상온 운전방식을 분리시켜 온도대별로 안정적으로 칠러 장치를 운영할 수 있으며, 특히 상온 운전시 우려되는 고압상승을 해결할 수 있다.In addition, by separating the cryogenic operation method and the normal temperature operation method by the two-stage cascade refrigeration cycle, the chiller device can be stably operated for each temperature zone, and in particular, it is possible to solve the high pressure rise that is concerned when operating at room temperature.
2단 냉동사이클의 각 단에서, V-I 모듈을 구성하는 팽창밸브와 열교환기를 이용하여 응축온도를 하강시킴으로써 냉동효율을 극대화하여 극저온 운전이 안정적으로 수행되고, 압축기 흡입온도를 상승시켜 압축기의 결빙을 방지할 수 있다.In each stage of the two-stage refrigeration cycle, the condensation temperature is reduced by using the expansion valve and the heat exchanger that constitute the VI module to maximize the refrigerating efficiency, so that the cryogenic operation is performed stably, and the compressor suction temperature is raised to prevent the freezing of the compressor. can do.
이상에서는 본 발명의 실시 예를 중심으로 설명하였지만, 당업자의 수준에서 다양한 변경을 가할 수 있음은 물론이다. 따라서, 본 발명의 권리범위는 상기한 실시 예에 한정되어 해석될 수 없으며, 이하에 기재되는 청구범위에 의해 해석되어야 한다.In the above description, the embodiment of the present invention has been described, but various changes can be made at the level of those skilled in the art. Therefore, the scope of the present invention should not be construed as limited to the above embodiment, but should be construed by the claims described below.
100, 200: 압축기
110: 응축기
120: 수액기
130, 210: V-I 열교환기
140, 220: V-I 팽창밸브
150: 저온용 솔레노이드 밸브
160: 저온용 팽창밸브
170: 상온용 솔레노이드 밸브
180: 상온용 팽창밸브
190: 캐스케이드 콘덴서
230: 팽창밸브
240: 저온용 증발기
300: 상온용 증발기
310: 냉매 탱크100, 200: compressor
110: condenser
120: receiver
130, 210: VI heat exchanger
140, 220: VI expansion valve
150: low temperature solenoid valve
160: low temperature expansion valve
170: Solenoid valve for room temperature
180: expansion valve for room temperature
190: cascade condenser
230: expansion valve
240: low temperature evaporator
300: room temperature evaporator
310: refrigerant tank
Claims (4)
상기 냉동사이클은 캐스케이드(cascade) 연결된 1차 및 2차 냉동사이클로 구성되고,
상기 1차 및 2차 냉동사이클 각각은 팽창밸브와 열교환기로 구성되는 V-I(Vapor-Injection) 모듈을 구비하고,
상기 V-I 모듈에서, 상기 팽창밸브의 후단이 상기 열교환기로 연결되고 상기 팽창밸브의 전단에서 분기되어 상기 열교환기로 연결되어 상기 열교환기에서 이들이 서로 열교환 하여 냉매 온도를 하강시키는 것을 특징으로 하는 극저온 반도체 칠러 장치.It has a refrigeration cycle for lowering the temperature using the refrigerant and a refrigerant cycle for transferring the temperature lowered in the refrigeration cycle to the main equipment through the refrigerant,
The refrigeration cycle consists of cascade connected primary and secondary refrigeration cycles,
Each of the first and second refrigeration cycles has a VI (Vapor-Injection) module consisting of an expansion valve and a heat exchanger,
In the VI module, the cryogenic semiconductor chiller device, characterized in that the rear end of the expansion valve is connected to the heat exchanger and branched in front of the expansion valve and connected to the heat exchanger so that they exchange heat with each other in the heat exchanger to lower the refrigerant temperature. .
상기 냉동사이클은 캐스케이드(cascade) 연결된 1차 및 2차 냉동사이클로 구성되고,
상기 1차 냉동사이클은,
1차 압축기 -> 응축기 -> 1차 V-I(Vapor-Injection) 팽창밸브 -> 1차 V-I 열교환기 -> 상기 1차 압축기로 이루어지는 1차 메인 라인; 및
상기 1차 V-I 팽창밸브의 전단에서 분기되어 상기 1차 V-I 열교환기 -> 저온용 솔레노이드 밸브 -> 1차 저온용 팽창밸브 -> 캐스케이드 콘덴서(cascade condensor) -> 상기 1차 압축기로 이루어지는 1차 저온용 분기 라인으로 구성되고,
상기 2차 냉동사이클은,
2차 압축기 -> 상기 캐스케이드 콘덴서 -> 2차 V-I 팽창밸브 -> 2차 V-I 열교환기 -> 상기 2차 압축기로 이루어지는 2차 메인 라인; 및
상기 2차 V-I 팽창밸브의 전단에서 분기되어 상기 2차 V-I 열교환기 -> 2차 저온용 팽창밸브 -> 저온용 증발기 -> 상기 2차 압축기로 이루어지는 저온용 분기 라인으로 구성되는 것을 특징으로 하는 극저온 반도체 칠러 장치.It has a refrigeration cycle for lowering the temperature using the refrigerant and a refrigerant cycle for transferring the temperature lowered in the refrigeration cycle to the main equipment through the refrigerant,
The refrigeration cycle consists of cascade connected primary and secondary refrigeration cycles,
The first refrigeration cycle,
Primary compressor->Condenser-> Primary Vapor-Injection (VI) expansion valve-> Primary VI heat exchanger-> Primary main line consisting of the primary compressor; And
The primary VI heat exchanger branched from the front end of the primary VI expansion valve-> low temperature solenoid valve-> primary low temperature expansion valve-> cascade condensor-> primary low temperature consisting of the primary compressor Consists of branch lines for
The secondary refrigeration cycle,
Secondary compressor-> the cascade condenser-> secondary VI expansion valve-> secondary VI heat exchanger-> secondary main line consisting of the secondary compressor; And
Cryogenic temperature is characterized by consisting of a branch line for low temperature consisting of the secondary VI heat exchanger-> secondary low temperature expansion valve-> low temperature evaporator-> the secondary compressor branched from the front of the secondary VI expansion valve. Semiconductor chiller device.
상기 1차 냉동사이클은 상기 V-I 열교환기의 후단에서 분기되어 상온용 솔레노이드 밸브 -> 상온용 팽창밸브 -> 상온용 증발기 -> 상기 1차 압축기로 이루어지는 상온용 분기 라인을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 극저온 반도체 칠러 장치.In claim 2,
The primary refrigeration cycle further comprises a branching line for room temperature consisting of a solenoid valve for normal temperature-> expansion valve for room temperature-> evaporator for room temperature-> the primary compressor branched from the rear end of the VI heat exchanger. Cryogenic Semiconductor Chiller Device.
상기 냉매사이클은, 공정 챔버에서 브라인이 유입되는 상기 상온용 증발기 -> 상기 저온용 증발기 -> 냉매 탱크 -> 히터 -> 펌프로 구성되는 것을 특징으로 하는 극저온 반도체 칠러 장치.
In claim 3,
The coolant cycle is a cryogenic semiconductor chiller device, characterized in that consisting of the evaporator for room temperature-> the low temperature evaporator-> refrigerant tank->heater-> pump in which brine flows in the process chamber.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180050274A KR102082790B1 (en) | 2018-04-30 | 2018-04-30 | Extremely low temperature chiller apparatus for semiconductor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180050274A KR102082790B1 (en) | 2018-04-30 | 2018-04-30 | Extremely low temperature chiller apparatus for semiconductor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190125892A true KR20190125892A (en) | 2019-11-07 |
KR102082790B1 KR102082790B1 (en) | 2020-02-28 |
Family
ID=68579160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020180050274A KR102082790B1 (en) | 2018-04-30 | 2018-04-30 | Extremely low temperature chiller apparatus for semiconductor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102082790B1 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102290890B1 (en) * | 2020-07-06 | 2021-08-20 | 주식회사 에프에스티 | Mixed chiller system used in semiconductor processing equipment |
KR20230003698A (en) * | 2021-06-29 | 2023-01-06 | (주)테키스트 | Temperature control system |
KR102488817B1 (en) | 2021-07-20 | 2023-01-18 | 한국생산기술연구원 | A high-efficiency cryogenic cooling apparatus including preliminarily cooling and using a mixed refrigerant, and a cooling method using the same |
KR20240005425A (en) | 2022-07-05 | 2024-01-12 | 주식회사 에프에스티 | Cryogenic cooling system |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102631379B1 (en) | 2022-12-09 | 2024-02-01 | 크라이오에이치앤아이(주) | Cryogenic cooling device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120022202A (en) * | 2010-09-01 | 2012-03-12 | (주)대성마리프 | Refrigerating and cooling system provided with overheat protection heat exchanger using carbon dioxide refrigerant |
JP2013200056A (en) * | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Sanden Corp | Refrigerating cycle and refrigerating showcase |
KR101757439B1 (en) * | 2016-09-02 | 2017-07-12 | (주)테키스트 | Hybrid Chiller for semiconductor manufacturing equipment |
KR20170112781A (en) * | 2016-04-01 | 2017-10-12 | 유니셈(주) | Chiller for semiconductor process using thermoelement |
-
2018
- 2018-04-30 KR KR1020180050274A patent/KR102082790B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120022202A (en) * | 2010-09-01 | 2012-03-12 | (주)대성마리프 | Refrigerating and cooling system provided with overheat protection heat exchanger using carbon dioxide refrigerant |
JP2013200056A (en) * | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Sanden Corp | Refrigerating cycle and refrigerating showcase |
KR20170112781A (en) * | 2016-04-01 | 2017-10-12 | 유니셈(주) | Chiller for semiconductor process using thermoelement |
KR101757439B1 (en) * | 2016-09-02 | 2017-07-12 | (주)테키스트 | Hybrid Chiller for semiconductor manufacturing equipment |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102290890B1 (en) * | 2020-07-06 | 2021-08-20 | 주식회사 에프에스티 | Mixed chiller system used in semiconductor processing equipment |
KR20230003698A (en) * | 2021-06-29 | 2023-01-06 | (주)테키스트 | Temperature control system |
KR102488817B1 (en) | 2021-07-20 | 2023-01-18 | 한국생산기술연구원 | A high-efficiency cryogenic cooling apparatus including preliminarily cooling and using a mixed refrigerant, and a cooling method using the same |
KR20240005425A (en) | 2022-07-05 | 2024-01-12 | 주식회사 에프에스티 | Cryogenic cooling system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102082790B1 (en) | 2020-02-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102082790B1 (en) | Extremely low temperature chiller apparatus for semiconductor | |
US9958194B2 (en) | Refrigeration cycle apparatus with a heating unit for melting frost occurring in a heat exchanger | |
ES2966139T3 (en) | Refrigeration cycle device | |
JP2007139225A (en) | Refrigerating device | |
CN104154692B (en) | A kind of novel Gas-supplying enthalpy-increasing system and control method thereof | |
CN108369046B (en) | Refrigeration cycle device | |
US11473814B2 (en) | Integrated cooling system with flooded air conditioning heat exchanger | |
US20210063066A1 (en) | Circulation system of air conditioner, air conditioner, and air conditioner control method | |
CN109869941B (en) | Heat pump system, air suction superheat degree and vapor-liquid separator accumulated liquid evaporation control method | |
US20110067435A1 (en) | Refrigeration cycle | |
KR20040058020A (en) | Refrigeration equipment | |
EP3734193A1 (en) | Air conditioner system | |
US20240093921A1 (en) | Cooling system with flooded low side heat exchangers | |
EP3696473A1 (en) | Air conditioning device | |
US10082325B2 (en) | Refrigerating apparatus | |
KR20190122433A (en) | Cooling system for a low temperature storage | |
KR102101267B1 (en) | Chiller apparatus of working process equipment for preventing water-inflow | |
CN110926046B (en) | Refrigerating device | |
US20220228780A1 (en) | Cooling system with flexible evaporating temperature | |
EP3734192A1 (en) | Air conditioner system | |
KR20190122426A (en) | Cooling system for a low temperature storage | |
KR100549062B1 (en) | Refrigerator | |
CN212806116U (en) | Incubator refrigerating system | |
KR100505236B1 (en) | Air-conditioner | |
KR20180056854A (en) | High-capacity rapid-cooling cryogenic freezer capable of controlling the suction temperature of the compressor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |