KR20190119625A - 신발의 형상, 치수 및 가요성을 측정하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

신발의 형상, 치수 및 가요성을 측정하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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그리고리 블라디미로비치 추이코
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예고르 안드레예비치 레브코프
나탈야 데미안노브나 그리쉬코
빅토르 발레레비치 포스메테프
드미트리 미하일로비치 카닌
레오니드 드미트리예비치 부토야로프
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Abstract

본 발명은 측정 기술에 관한 것으로, 신발의 형상, 내부 치수 및 탄성을 측정하기 위한 것이다. 적용되는 측정 방법은 인디케이터(indicator)를 갖는 프로브를 사용하는 것으로 이루어지고, 인디케이터는 측정될 표면에 스트레스를 생성한다. 신발의 내측 표면의 형상을 추적하기 위해, 카메라와 플랫 마킹 스트립이 사용된다. 전체 이미지에 기반하여, 제어될 신발의 내측 표면의 3차원 모델이 구축되고, 상이한 힘으로 대상물을 스캔할 때 탄성 특성이 결정된다. 본 장치는, 본체, 이 본체에 설치되는 카메라, 인디케이터를 갖는 2개 이상의 프로브(probe) 및 플랫 마킹 스트립(flat marking strip)을 포함한다. 본 발명은 정확도를 증가시킬 수 있고, 또한 노동 강도와 측정 시간을 줄일 수 있다.

Description

신발의 형상, 치수 및 가요성을 측정하기 위한 방법 및 장치
본 발명은 측정 기술 및 측정 방법에 관한 것으로, 이는 신발 산업에서, 특히, 부츠에서 샌달에 이르기까지 대부분의 상이한 종류의 신발의 치수를 결정하기 위한 장치에 사용될 수 있다.
이 방법과 장치는, 신발, 의류, 편물 의류 산업에서, 신발(해부학적 신발/정형 외과적 신발을 포함하여), 옷, 헤드웨어(headwear)뿐만 아니라, 인간 몸에 정확히 맞아야 하는 제품(예컨대, 정형 외과적 안창, 보조기, 보철물)의 품질을 측정하고, 제조하고, 설계하고 또한 평가할 때 사용될 수 있다. 이 방법과 장치는 일상에서 또는 거래 산업에서, 고객의 실제 특별한 신체 특성에 맞는 신발, 옷, 헤드웨어를 시장에서 착용하고 판매하며 또한 원격 구매할 때 사용될 수 있다.
이 방법과 장치는, 벽이 얇은 다른 대상물, 예컨대 임의의 형상의 파이프, 사이펀(siphon), 다양한 용기, 채널 등을 측정할 때에도 사용될 수 있다. 이 장치는 다음과 같은 파라미터, 즉 둘레(girth), 원주, 타원도(ovality), 형상 편차, 프로파일의 기하학적 구조를 측정할 수 있다.
신발의 내측 표면을 결정하기 위한 장치가 공지되어 있는데, 이 장치의 작동 원리는, 카메라에 단단히 연결되는 프로브(probe)에, 측정될 표면과 접촉하게 되는 감지 요소가 배치되고, 카메라는 대상물의 외부에 위치되는 마크의 2D 이미지에 의해 안내되며, 그 이미지는 카메라에 대해 가변적이다는 사실에 기반하고 있다. 그리고 3D 모델이 프로그램으로 구축된다[US20100238271 A1, 2010년 9월 23일].
공지된 이 장치의 단점은, 단지 하나의 감지 프로브만 존재하고, 전체 표면을 수동으로 살펴야만 하고, 프로브의 상이한 압력 크기로 인해 측정 결과가 왜곡되며, 또한 노동 강도 및 측정 기간에 있다.
광학적 방법으로 신발, 파이프와 같은 내부 공간의 3차원 형상을 검출하기 위한 방법 및 이 방법을 수행하기 위한 장치가 공지되어 있다[US2005/0168756 A1, 2005년 8월 4일].
상기 발명은 내부 공간의 3차원 형상을 광학적으로 검출하는 방법 및 이 방법을 수행하기 위한 장치에 관한 것이다. 프로토타입(prototype)의 작동 원리는, 마킹을 갖는 형상 끼워맞춤 재료가 공간의 내벽에 고정되는 것이다. 카메라가 내부에 수용되고 일련의 겹치는 이미지를 찍게 된다. 이 이미지는 사진 계측법에 의해 처리되고 내측 표면의 3D 모델이 얻어진다.
이 접근 방안의 단점은, 측정될 표면에 거쳐 마킹 재료를 고정시킬 필요가 있다는 것인데, 이는, 접착 수단을 제공할 필요가 있고 또한 나중에 제거해야 하기 때문에 어렵다. 추가로, 재료가 고형(solid)이 아니면, 측정될 대상물의 진정한 형상이 왜곡될 수 있다.
중공 대상물의 내측 표면의 형상, 치수 및 탄성 특성을 측정하는 방법의 기술적인 결과는, 정확도를 개선하고 또한 노동 강도 및 측정 시간을 줄이는 것이다.
기술적 결과는 중공 대상물의 내측 표면의 형상, 치수 및 탄성 특성을 측정하는 방법을 사용함으로써 달성되고, 이 방법에서, 장치가 측정될 대상물 안으로 삽입되면, 측정될 표면에 대한 균일한 스트레스 상태를 생성하는 프로브(probe)에 위치되는 인디케이터(indicator)를 통해, 카메라가 플랫 마킹 스트립(flat marking strip)에 대한 관한 공간 데이터를 받고, 이 공간 데이터에 의해, 대상물의 내부 공간의 3차원 모델이 구축되고, 대상물의 치수는 회복된 3차원 모델을 측정한 결과로 얻어지고, 탄성 특성은, 동일한 대상물을 상이한 힘으로 스캔하고, 또한 변형된 본체의 최종 치수와 원래 치수 사이의 계수차(difference modulus)를 측정한 결과로 얻어진다.
본 방법은 3D 대상물을 측정하는 접촉식 방법과 비접촉식 방법의 조합을 제안한다. 본 장치는 대상물의 형상과 치수에 관한 데이터를 수집하여 그 대상물의 3차원 디지털 모델을 얻을 수 있다. 3D 데이터를 추출하기 위하여 카메라 이미지가 사용된다(카메라의 시야 내에서 표면의 치수와 형상에 관한 정보를 수집함). 그 결과, 대상물 표면의 포인트의 기하학적 클라우드(cloud)가 얻어진다.
특히, 장치의 프로브에 의해 가해지는 기계적 팽창 스트레스의 영향 하에서 탄성적인 관형 대상물의 영역이 동시에 스스로 복원되므로, 정확도의 개선이 이루어진다.
탄성적인 대상물에 진정한 형상을 주기 위해, 표면은 탄성 프로브의 시스템에 의해 측정될 영역의 한계 내에서 균일하게 팽창된다.
측정될 대상물 안으로 장치를 처음에 부드럽게 삽입하기 위해, 프로브를 후퇴 및 연장시키는 기구(mechanism)가 사용된다.
스트레스 상태에 있는 프로브는 측정될 표면에 단단히 접하게 되고, 따라서, 측정될 재료가 탄성을 갖는 경우에, 그 재료는 원래의 형상을 회복하게 되며, 이에 의해 측정의 정확도가 증가된다.
프로토타입과는 대조적으로, 본 출원인은 마킹 재료를 일측에서만 사용하는 것을 제안한다. 본 출원인의 경우에 내측 표면의 3D 모델의 생성은, 측정될 대상물의 이미지에 의한 것이 아니라, 플랫 마킹 스트립에 대한 프로브 상의 인디케이터의 위치의 이미지에 의한 것이다. 추가로, 프로브는 측정될 공간 내부에 스트레스 상태로 있으며, 대상물의 재료를 균일하게 신장시키며, 그리하여, 그 대상물의 원래의 비변형 형상을 측정할 수 있다.
측정 결과는 포인트 클라우드 형태로 나오게 되며, 이 포인트 클라우드는 CAD 파일(obj)을 생성한다.
본 장치의 기구에는 측정 프로브가 구비된다.
3차원 축 좌표의 판독은, 좌표가 대상물의 내측 표면을 따라 이동하는 중에 일어난다. 본 장치에는 비디오 또는 사진 카메라가 구비되어 있는데, 이 카메라에 의해, 3개의 평면에서 스캐닝 프로브의 선단의 정확한 위치에 관한 정보를 실시간으로 받을 수 있다.
도 1은 신발의 형상과 치수를 결정하는 위치에서의 장치를 나타낸다.
도 2는 카메라 이미지를 나타내며, 이 카메라 이미지에서 플랫 마킹 스트립 및 인디케이터를 명확히 볼 수 있다.
도 3은 포인트 클라우드를 나타낸다.
도 4는 제안된 장치의 요소를 나타낸다.
도 5는 플랫 마킹 스트립을 나타낸다.
도 6은 플랫 마킹 스트립의 이미지를 나타낸다.
도 7은 프로브를 나타낸다.
도 8은 장치를 사용하여 신발의 발가락 부분 캡을 측정하는 것을 나타낸다.
도 9는 장치를 사용하여 신발의 뒷 부분을 측정하는 것을 나타낸다.
도 10은 장치를 사용하여 신발의 중간 부분을 측정하는 것을 신발의 단면으로 나타낸다.
도 11은, 투명한 상측 부분을 갖는 신발에서, 발가락 부분을 측정할 때 장치의 프로브의 위치를 나타낸다.
도 12 및 13은 적용 분야가 신발에 한정되지 않고, 또한 장치가 옷(슬리브)뿐만 아니라 기술적 대상물-파이프의 내측 표면을 측정할 수 있는 것을 보여준다.
도 14는 높은 스트레스를 갖는 슬리브 커프의 탄성을 측정하는 것을 나타낸다.
도 15는 낮은 스트레스를 갖는 슬리브 커프의 탄성을 측정하는 것을 나타낸다.
도 16 및 도 17은 슬리브 커프의 탄성을 측정할 때 카메라 이미지를 나타낸다.
도 18은 카메라 이미지를 나타내고, 이 카메라 이미지에서 셔츠의 심(seam)을 볼 수 있다.
도 1은 신발의 형상과 치수를 결정하는 위치에서의 장치를 나타낸다.
중공 대상물의 내측 표면의 3차원 모델을 구축하는 방법의 기술적 결과는, 정확도를 증가시키고, 또한 노동 강도 및 측정 시간을 줄이는 것이다.
이는 본 방법을 사용함으로써 달성되고, 이 방법에서, 장치가 측정될 대상물 안으로 삽입되면, 측정될 표면에 대한 균일한 스트레스 상태를 생성하는 프로브(probe)에 위치되는 인디케이터를 통해, 카메라가 플랫 마킹 스트립에 관한 공간 데이터를 받고, 이 공간 데이터에 의해, 대상물의 내부 공간의 3차원 모델이 구축되고, 대상물의 치수는 회복된 3차원 모델을 측정한 결과로 얻어지고, 탄성 특성은, 동일한 대상물을 상이한 힘으로 스캔하고, 또한 변형된 본체의 최종 치수와 원래 치수 사이의 계수차를 측정한 결과로 얻어지는 된다.
장치를 측정될 대상물 안으로 삽입할 때, 이미지가 카메라로 기록된다. 각 이미지에 대한 추가 처리 과정에서, 프로브의 인디케이터 및 플랫 마킹 스트립의 이미지의 단편의 위치가 결정된다. 도 2는 카메라 이미지를 나타내는데, 이 카메라 이미지에서 플랫 마킹 스트립 및 인디케이터를 명확히 볼 수 있고, 그래서, 받은 정보에 근거하여, 소프트웨어로 이미지를 처리할 수 있고, 또한 측정될 대상물의 포인트의 좌표를 얻을 수 있다.
프로브의 인디케이터의 이미지에서, 이미지 형식 RGB(적색, 녹색, 청색)의 녹색 채널(G)에 대한 탐색이 수행된다. 이 탐색은 두 단계로 수행된다. 먼저, 완전 스캔으로, 녹색 화소(pixel)가 기록된다. 그런 다음, 녹색 화소들 사이에서, 몬테-카를로(Monte-Carlo) 방법으로, 최대 수의 녹색 화소를 포함하는 원형의 영역(640x480 화소의 이미지 크기로 5 화소 반경)이 탐색된다. 제1 인디케이터를 찾은 후에, 그에 속하는 녹색 화소가 메인 이미지로부터 제거되고, 다음 인디케이터의 탐색이 수행된다. 녹색 화소로 채워진 다른 원형 영역을 찾을 수 없게 되면, 시야에 있는 인디케이터의 수에 대한 결론이 내려진다.
시야에 있는 인디케이터의 수가 상당히 감소하면(특히, 8개에서 3개로) 비디오 기록이 중단되는데, 이는 장치가 측정될 공동부에서 나갈 때 프로브의 변형 보정(straightening)을 의미한다.
각 이미지에서, 프로브의 인디케이터는 내측 표면의 영역에 대한 정보를 얻을 수 있다.
이미지의 시퀀스는 내측 표면의 복수의 영역(포인트 클라우드)을 받을 수 있다. 영역들을 서로 조합하기 위해, 플랫 마킹 스트립이 사용되어, 공간에서의 각 측정된 영역의 위치를 높은 정확도로 알 수 있다.
인디케이터는 프로브의 단부로부터 떨어져 있기 때문에, 예비 보정이 수행되어, 이미지의 광학적 중심으로부터 화소에서의 인디케이터의 거리를 카메라의 축과 내측 표면에 있는 프로브의 접촉 포인트 사이의 실제 각도로 관련시킬 수 있다.
마커 스트립 상의 이미지는 흑색과 백색의 직사각형과 타원의 랜덤 조합이다. 치수에 의한 도면의 분포는, 이미지의 작은 단편이 고유하고 동일한 마커 스트립에서 반복되지 않도록 하는 방식으로 선택된다. 고유성(uniqueness)의 요건은, 상이한 치수의 단편(특히, 2x2mm2 내지 20x20mm2의 정사각형 단편)에 대해 특성 거리의 넓은 범위에서 충족되어야 한다.
프로브는 특정 폭을 가지고 있기 때문에, 프로브는 플랫 마킹 스트립의 이미지의 대부분을 덮게 된다. 그러므로, 장치의 위치를 결정하기 위해, 프로브 사이(특히, 신발의 앞 부분을 측정할 때) 또는 프로브의 단부 사이(특히, 신발의 뒷 부분을 측정할 때)에 둘러싸이는 마킹 스트립의 이미지의 단편이 사용된다.
마커 스트립의 이미지의 단편을 찾기 위해, 좁은 범위의 몬테-카를로 방법이 사용되어, 마커 스트립의 좌표계에서의 단편의 xφ, yφ 좌표, 정사각형 형상의 단편의 치수(aφ)를 결정할 수 있고, 또한 이들 파라미터를 카메라로 얻어진 이미지에서의 단편의 파라미터, 즉 x, y 좌표 및 사다리꼴 파라미터와 링크시킬 수 있고, 사다리꼴 파라미터는 어떤 각도에서 볼 때 왜곡된 정사각형 단편(상측 가장자리와 하측 가장자리 사이의 차이, 하측 가장자리에 대한 상측 가장자리의 수평 오프셋, 전체적인 사다리꼴 회전각)을 나타낸다. 이미지의 단편을 조합하기 위한 기준으로서, 대응하는 화소의 강도차의 제곱의 합이 사용된다.
각 프레임에 대해, 마커 스트립의 이미지의 정사각형 형상의 세 단편, 즉 메인 단편, 및 메인 단편에 대해 위쪽으로 만입되어 있는 단편, 및 우측으로 만입되어 있는 단편에 대한 탐색이 수행된다. 플랫 마킹 스트립에 있는 세 단편의 xφ, yφ 좌표에 따라, 카메라의 광학적 중심의 세 좌표(xε, yε, zε) 및 카메라의 광학적 축의 배향각(αε, βε, γε)이 계산된다. 마지막 6개의 파라미터로, 공간에서의 프로브의 단부의 위치를 명확하게 또한 큰 정확도로 결정할 수 있고, 또한 이 프레임에 대해 받은 포인트를 측정될 대상물의 내측 표면의 형상에 대응하는 포인트의 공통 클라우드에 추가할 수 있다(도 3).
중공 대상물의 내측 표면의 형상, 치수 및 탄성 특성을 측정하기 위한 그리고 중공 대상물의 내측 표면의 3차원 모델을 구축하기 위한 장치를 사용하는 기술적 결과로, 정확도가 개선되고, 또한 노동 강도 및 측정 시간이 줄어든다.
기술적 결과는, 본체, 이 본체에 설치되는 카메라, 인디케이터를 갖는 2개 이상의 프로브 및 플랫 마킹 스트립으로 이루어진 장치를 사용함으로써 얻어진다.
도 4는 본체(1), 축(2), 렌즈 유닛(3), 키(key)(4), 핸들(5), 인디케이터(7)를 갖는 프로브(6), 잠금 하프 링(8)과 고정 하프 링(9), 렌즈(10), 컴퓨터에 연결되는 카메라(11)를 나타낸다. 본 장치에는, 측정될 탄성 표면의 형상을 복원하기 위해 탄성 프로브의 개방 각도를 고정할 수 있는 기구가 있다.
신발을 측정하기 위한 안창 형태의 플랫 마킹 스트립이 도 5에 공간적으로 나타나 있는데, 이 마킹 스트립은 카메라로부터 받은 이미지를 위치시키기 위한 것이다.
플랫 마킹 스트립에 대한 이미지가 도 6에 나타나 있고, 상기 이미지는 상이한 치수를 갖는 흑백 직사각형과 타원의 랜덤 조합으로 발생된다.
도 7에 나타나 있는 프로브는, 핸들의 운동이 전달되는 생크(shank), 본체의 베드에 위치되고 핸들이 상대 회전하는 축, 및 축의 옆에 있는 볼록 형상의 샤프트를 포함하는 복합적인 형상을 가지며, 프로브를 연장시킬 때 압축력을 생성시키기 위해 샤프트의 시작 부분은 가요적이고, 단부에는, 재료의 긁힘을 방지하고 또한 더 양호한 접촉을 위해 라운딩 부분이 있으며, 샤프트의 고형(solid) 부분에는 인디케이터를 위한 하나 이상의 돌출부가 배치되어 있으며, 3차원 공간에서 그 돌출부의 위치는 기구에 내장되는 카메라로 모니터링된다.
소프트웨어에 의해, 캡쳐된 포인트 클라우드(cloud)가 측정된 내측 표면의 3차원 모델로 변환될 수 있다.
장치는 다음과 같이 작동한다. 핸들(5)을 렌즈(10)의 반대 방향으로 움직이면, 프로브(6)의 생크가 렌즈 유닛(3)의 슬롯에서 움직여, 프로브가 서로 접촉할 때까지 프로브의 개방 각도가 감소된다. 동시에, 키(key)(4)는, 탄성 특성 때문에, 본체(1)의 표면에서 스트레스 상태로 있다. 프로브(6)의 후퇴 위치에서, 장치는 측정될 대상물의 내부에 배치된다. 핸들(5)을 렌즈(10)의 방향으로 움직이면, 프로브(6)가 요구되는 힘(키(4)가 스냅 결합되는 본체(1)의 슬롯에 의해 결정됨)까지 개방되어, 핸들로부터 힘을 제거할 때 프로브의 굽힘을 방지한다. 카메라(11)가 기록을 위해 켜지고 마커 스트립에 대한 인디케이터(7)의 위치를 컴퓨터에 전송한다. 핸들(5)에 의해, 장치는 측정될 대상물로부터 제거되고, 프로브(6)는, 프로브에 가해지는 스트레스 때문에, 측정될 표면에 단단히 접하게 된다. 측정 이미지를 찍은 후에 카메라는 꺼진다. 컴퓨터는 받은 정보를 측정된 내측 표면의 3D 모델로 변환시킨다.
도 8, 9 및 10은 측정될 대상물(신발)의 내측 표면을 따라 움직일 때 장치의 위치를 나타낸다. 도 8은 장치에 의해 신발의 발가락 부분 캡을 측정하는 것을 나타낸다. 도 9는 장치로 신발의 뒷 부분을 측정하는 것을 나타낸다. 신발 내의 장치의 위치를 나타내기 위해, 신발을 길이 방향으로 절개하였다. 도 10은 장치에 의해 신발의 중간 부분을 측정하는 것을 신발의 단면으로 나타낸다. 도 11은, 투명한 상측 부분을 갖는 신발에서, 발가락 부분을 측정할 때 장치의 프로브의 위치를 나타낸다. 도면에서, 모든 위치에서, 인디케이터를 갖는 프로브는 신발의 내측 표면에 단단히 접하는 것을 볼 수 있다.
도 12 및 13은, 적용 분야는 신발에 한정되지 않고, 본 장치는 옷(슬리브)뿐만 아니라 기술적 대상물-파이프의 내측 표면도 측정할 수 있음을 보여준다.
본 장치는 프로브를 여러 위치, 적어도 세 위치, 즉 아암 폐쇄 위치, 절반 개방 위치, 완전 개방 위치(100°의 각도)에 고정시킬 수 있다. 이리하여, 프로브를 요구되는 힘으로 개방할 수 있다. 탄성 재료의 동일한 대상물이 다른 힘으로 측정되는 경우, 그의 탄성 특성, 특히, 변형된 본체의 최종 치수와 초기 치수 사이의 계수차와 동일한 절대 변형 크기가 쉽게 결정될 수 있다. 따라서, 본 장치에 의해, 상이한 종류의 가죽, 직물 및 다른 재료의 탄성적인 인장 특성을 측정할 수 있게 된다. 도 14 및 15는 슬리브 커프(sleeve cuff)의 탄성을 측정하는 것을 나타낸다. 도 14에서 스트레스는 높고, 도 15에서는 스트레스가 낮다. 도 16 및 17은 슬리브 커프의 탄성을 측정할 때의 카메라 이미지를 나타낸다. 도 16 및 17에서, 인디케이터의 포인트로 구성된 영역은 도 17에서 보다 도 16에서 더 크다는 것을 알 수 있다.
또한, 본 장치로 표면의 품질을 제어할 수 있고, 탄성 재료를 신장시킬 때에만 보일 수 있는 결함을 검출할 수 있다. 도 18은 카메라 이미지를 나타내는데, 이 카메라 이미지에서 셔츠의 심(seam)을 볼 수 있다. 본 장치를 슬리브에 삽입하면, 직물이 신장되고 또한 심(seam)도 신장되며, 카메라를 통해 모든 결함이 제어될 수 있다.

Claims (3)

  1. 중공 대상물의 내측 표면의 형상, 치수 및 탄성 특성을 측정하는 방법으로서,
    장치가 측정될 대상물 안으로 삽입되면, 측정될 표면에 대한 균일한 스트레스 상태를 생성하는 프로브(probe)에 위치되는 인디케이터(indicator)를 통해, 카메라가 플랫 마킹 스트립(flat marking strip)에 관한 공간 데이터를 받고, 이 공간 데이터에 의해, 상기 대상물의 내부 공간의 3차원 모델이 구축되고, 상기 대상물의 치수는 회복된 3차원 모델을 측정한 결과로 얻어지고, 상기 탄성 특성은, 동일한 대상물을 상이한 힘으로 스캔하고, 또한 변형된 본체의 최종 치수와 원래 치수 사이의 계수차(difference modulus)를 측정한 결과로 얻어지는, 중공 대상물의 내측 표면의 형상, 치수 및 탄성 특성을 측정하는 방법.
  2. 중공 대상물의 내측 표면의 3차원 모델을 구축하는 방법으로서,
    비디오 이미지 프레임에서 프로브의 인디케이터의 위치를 검출하는 단계, 포인트의 위치 및 프로브와 표면의 접촉 포인트 전체의 위치를 수학적 알고리즘으로 계산하는 단계, 및 일 세트의 포인트의 형태로 상기 내측 표면의 일 세트의 현재 영역을 얻는 단계;
    상기 비디오 이미지 프레임에서 플랫 마킹 스트립의 요소를 검출하는 단계, 현재 좌표 및 상기 플랫 마킹 스트립에 대한 장치의 각도 배향을 결정하는 단계, 및 표면의 현재 영역을 공통 좌표계에 링크시키는 단계;
    일련의 프레임에 대해 얻어진 영역들을 조합하는 단계, 및 포인트 클라우드(cloud) 형태로 상기 내측 표면의 3차원 모델을 받는 단계로 이루어지는, 중공 대상물의 내측 표면의 3차원 모델을 구축하는 방법.
  3. 중공 대상물의 내측 표면의 형상, 치수 및 탄성 특성을 측정하고, 또한 중공 대상물의 내측 표면의 3차원 모델을 구축하기 위한 측정 및 구축 장치로서,
    본체, 상기 본체에 설치되는 카메라, 인디케이터를 갖는 2개 이상의 프로브(probe) 및 플랫 마킹 스트립으로 이루어지는, 측정 및 구축 장치.
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