KR20190068986A - 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법은 (a) 복수 개의 홀에 대한 가공 위치가 표시된 가공 대상물의 이미지를 제 1이미지 데이터로 저장하는 단계, 가공 대상물에 대해 복수 개의 홀이 가공된 가공물의 이미지를 제 2이미지 데이터로 저장하는 단계, 제 1이미지 데이터의 복수 개의 홀에 대한 가공 위치와 제 2이미지 데이터의 가공물 상에 가공된 복수 개의 홀을 상호 비교하는 단계 및 가공물로부터 누락된 홀을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 가공 대상물과 가공물의 이미지 데이터를 상호 비교하여 가공물에 대한 누락 홀을 검출할 수 있으므로, 작업자의 개별적인 검사 작업 대비 검사소요 시간을 절감할 수 있다.

Description

이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법{INSPECTION METHOD OF PROCESSED ARTICLE USING IMAGE DATA}
본 발명은 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 가공 대상물의 이미지 정보와 가공 처리된 가공물의 이미지 정보를 상호 비교하여 가공물을 검사하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법에 관한 것이다.
가공물은 가공 대상물에 대해 작업자 또는 기계 또는 공구 등에 의해서 다양한 가공 공정이 수행되어 만들어진 물품이다. 가공물은 금속, 합성수지 등의 가공 대상물에 홀(hole), 두께 가공, 형상 가공 등과 같은 가공 공정을 통해서 만들어진다. 가공물은 작업자의 공구 작업 또는 선반, 밀링, CNC 등과 같은 다양한 기계 장비에 의해 만들어질 수 있다.
여기서, 가공물은 다양한 산업에서 존재한다. 실질적으로 가공물은 모든 제조 산업에서 결과물로 나온다고 볼 수도 있다. 예를 들어, 자동차, 항공, 조선 산업 분야 등에서 프레스 및 홀 등과 같은 다양한 가공 공정으로부터 가공물이 생성된다.
한편, 가공물은 가공 공정이 진행되기 전 가공 대상물 대비 설계상 요건을 충분히 충족하고 가공 공정이 되었는지 지속적인 검사가 필요하다. 예를 들어, 항공 산업 분야의 경우, 가공 대상물에 1만 개 이상의 홀을 생성하여 가공물을 만들어 내기도 한다. 이렇게 가공 대상물에 1만 개 이상의 홀을 생성하기 위해 가공 공정이 수행된 후, 실질적인 설계와 같이 가공물이 제작되었는지 확인이 필요하다.
그런데, 종래의 가공물에 생성된 복수 개의 홀을 검사하는 방식은 작업자에 의해 개별적인 확인이 이루어짐에 따라 가공물의 검사 소요시간이 증가하는 문제점이 있다. 또한, 가공물의 검사 소요시간이 길어짐에 따라 제품의 생산 사이클에 대한 소요 시간도 증가하는 문제점이 있다.
대한민국 등록특허공보 제10-1770558; 가공부품 검사 시스템
본 발명의 목적은 복수 개의 홀이 가공된 가공물의 검사소요 시간을 감소시킬 수 있도록 가공물의 검사 방법이 개선된 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 과제의 해결 수단은, 본 발명에 따라 (a) 복수 개의 홀에 대한 가공 위치가 표시된 가공 대상물의 이미지를 제 1이미지 데이터로 저장하는 단계와, (b) 상기 가공 대상물에 대해 복수 개의 상기 홀이 가공된 가공물의 이미지를 제 2이미지 데이터로 저장하는 단계와, (c) 상기 제 1이미지 데이터의 복수 개의 상기 홀에 대한 상기 가공 위치와 상기 제 2이미지 데이터의 상기 가공물 상에 가공된 복수 개의 상기 홀을 상호 비교하는 단계와, (d) 상기 가공물로부터 누락된 상기 홀을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법에 의해 이루어진다.
여기서, 상기 (c) 단계에서 상기 제 1이미지 데이터의 복수 개의 상기 홀에 대한 상기 가공 위치와 상기 제 2이미지 데이터의 상기 가공물 상에 가공된 복수 개의 상기 홀을 상호 비교하는 단계는 이미지 특성을 이용하는 피처 매칭(feature matching) 방식을 사용 할 수 있다.
또한, 상기 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법은 (e) 상기 (d) 단계에서 상기 가공물로부터 누락된 상기 홀이 검출되면 상기 가공물에 대한 추가 검사 단계를 더 포함 할 수 있다.
상기 추가 검사는 이미지 데이터의 이용과 작업자의 시인 중 적어도 어느 하나에 의해 이루어질 수 있다.
상기 제 1이미지 데이터와 상기 제 2이미지 데이터는 각각 상기 가공 대상물과 상기 가공물의 동일 영역 상의 이미지 정보를 포함 할 수 있다.
상기 (c) 단계는 동일 영역 상의 상기 가공 대상물의 이미지 정보와 상기 가공물의 이미지 정보의 특징을 상호 비교 할 수 있다.
기타 실시 예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명에 따른 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법의 효과들은 다음과 같다.
첫째, 가공 대상물과 가공물의 이미지 데이터를 상호 비교하여 가공물에 대한 누락 홀을 검출할 수 있으므로, 작업자의 개별적인 검사 작업 대비 검사소요 시간을 절감할 수 있다.
둘째, 가공 대상물과 가공물의 이미지 데이터 상호 비교 시 피처 매칭 방식을 이용하여 누락 홀을 검출을 정밀하게 수행할 수 있고, 이를 데이터로 전산화 하여 반복적인 오류를 해소시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치의 제어 블록도,
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치가 적용되는 가공 대상물의 개략 구성도,
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치가 적용되는 가공물의 개략 구성도,
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치의 제어 흐름도,
도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 가공물 검사장치의 제어 흐름도이다.
이하, 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 특히, 본 발명의 실시 예에 따른 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법을 상세히 설명한다.
설명하기에 앞서, 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치는 항공 산업 분야에서 적용되어 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법을 기재하고 있으나, 이에 한정되지 않고 복수 개의 홀을 가공하는 다양한 산업 분야에서도 사용될 수 있음을 미리 밝혀둔다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치의 제어 블록도, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치가 적용되는 가공 대상물의 개략 구성도, 그리고 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치가 적용되는 가공물의 개략 구성도이다.
도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치(10)는 영상부(100), 이미지 데이터 생성부(300), 비교부(500), 제어부(700) 및 출력부(900)를 포함한다.
영상부(100)는 복수 개의 홀(H)이 가공될 가공 대상물(PS)의 이미지와 복수 개의 홀(H)이 가공된 가공물(PA)의 이미지를 촬영한다. 영상부(100)는 카메라, 비전 카메라 등 산업 분야에서 널리 사용되는 영상 장비가 사용된다. 본 발명의 영상부(100)는 가공 대상물(PS)의 이미지를 촬영하는 제 1영상부(120)와 가공물(PA)의 이미지를 촬영하는 제 2영상부(140)를 포함한다.
여기서, 본 발명의 일 실시 예로서 영상부(100)는 가공 대상물(PS)과 가공물(PA)의 이미지를 각각 촬영하도록 제 1영상부(120)와 제 2영상부(140)를 포함하고 있으나, 단일로 마련되어 가공 대상물(PS)과 가공물(PA)의 이미지를 개별적으로 촬영 할 수도 있다.
이미지 데이터 생성부(300)는 영상부(100)로부터 촬영된 이미지에 기초하여 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)를 생성한다. 이미지 데이터 생성부(300)는 제 1이미지 데이터(ID1)를 생성하는 제 1이미지 데이터 생성부(320)와 제 2이미지 데이터(ID2)를 생성하는 제 2이미지 데이터 생성부(340)를 포함한다.
제 1이미지 데이터 생성부(320)는 제 1영상부(120)로부터 제공된 이미지를 복수 개의 홀(H)에 대한 가공 위치가 표시된 가공 대상물(PS)의 이미지를 제 1이미지 데이터(ID1)로 생성하여 저장한다. 제 1이미지 데이터(ID1)는 가공 대상물(PS)에 가공 대상홀(HT)의 위치를 포함한다.
제 2이미지 데이터 생성부(340)는 제 2영상부(140)로부터 제공된 가공물(PA)의 이미지를 제 2이미지 데이터(ID2)로 생성하여 저장한다. 제 2이미지 데이터(ID2)는 가공물(PA)의 가공 홀(HP), 그리고 누락 홀(HO)을 포함한다. 물론, 제 2이미지 데이터(ID2)는 가공물(PA)의 가공 홀(HP)만 포함 할 수 있다.
비교부(500)는 이미지 데이터 생성부(300)로부터 생성된 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)를 상호 비교한다. 구체적으로 비교부(500)는 제 1이미지 데이터 생성부(320)로부터 생성된 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)로부터 생성된 제 2이미지 데이터(ID2)를 상호 비교한다. 상세하게 비교부(500)는 제 1이미지 데이터(ID1)에 포함된 가공 대상홀(HT)과 제 2이미지 데이터(ID2)에 포함된 가공 홀(HP)을 상호 비교하여 제 2이미지 데이터(ID2) 상에 누락 홀(HO)의 유무를 비교한다.
여기서, 비교부(500)는 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)의 이미지 특성을 이용하는 피처 매칭(feature matching) 방식을 사용한다. 이러한 피처 매칭 방식은 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)의 유사도를 비교하는 방식으로서, 홀(H)의 왜곡 발생 등에서도 정밀한 비교 값을 출력 할 수 있는 이점이 있다.
제어부(700)는 비교부(500)로부터 제공된 비교 값에 기초하여 가공물(PA)로부터 누락 홀(HO)을 검출하도록 제어 신호를 출력한다. 예를 들어, 비교부(500)로부터 제공되는 비교 값이 0일 때는 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)는 동일, 즉 누락 홀(HO)이 존재하지 않는 것으로 산출되는 것이고, 비교 값이 1일 때는 제 1이미지 데이터(ID1)와 제 2이미지 데이터(ID2)가 상이, 즉 누락 홀(HO)이 존재하는 것으로 산출되는 것이다. 제어부(700)는 비교부(500)로부터 제공된 비교 값이 1일 때 가공물(PA)로부터 누락 홀(HO)의 개수와 누락 홀의 위치를 검출한다.
출력부(900)는 제어부(700)로부터의 제어 신호에 따라 가공물(PA)의 누락 홀(HO)의 개수 및 누락 홀(HO)의 위치를 출력한다. 출력부(900)는 작업자가 시인할 수 있도록 디스플레이 장치가 사용되는 것이 바람직하다. 출력부(900)는 단순히 누락 홀(HO)의 유무만을 출력할 때 경고등이 사용될 수 있다.
마지막으로 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 가공물 검사장치의 제어 흐름도이고, 도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 가공물 검사장치의 제어 흐름도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 우선 제 1영상부(120)로부터 촬영된 가공 대상물(PS)의 이미지를 제 1이미지 데이터(ID1)로 저장한다(S10). S10 단계에서 제 1이미지 데이터(ID1) 저장은 제 1영상부(120)로부터 촬영된 이미지를 제공 받은 제 1이미지 데이터 생성부(320)에 의해 생성되어 저장된다. 제 1이미지 데이터(ID1)는 가공 대상물(PS)과 가공 대상물(PS) 상의 가공 대상홀(HT)을 포함한다.
가공 대상물(PS)에 대한 가공 공정이 완료된 후 가공물(PA)에 대한 제 2이미지 데이터(ID2)를 저장한다(S30). S30 단계에서 제 2이미지 데이터(ID2) 저장은 본 발명의 일 실시 예로서, 제 2영상부(140)로부터 촬영된 이미지를 제공 받은 제 2이미지 데이터 생성부(340)에 의해 생성되어 저장된다. 제 2이미지 데이터(ID2)는 가공 대상물(PS)의 가공 결과에 따라 가공물(PA)의 가공 홀(HP) 및/또는 누락 홀(HO)을 포함한다.
비교부(500)는 S10 단계에서 생성되어 저장된 제 1이미지 데이터(ID1)와 S30 단계에서 생성되어 저장된 제 2이미지 데이터(ID2)를 상호 비교 판단한다(S50). S50 단계에서 비교부(500)는 제 1이미지 데이터(ID1)의 가공 대상홀(HT)이 제 2이미지 데이터(ID2)의 가공 홀(HP)과 일치하는 지 비교 값을 산출한다. 이때 비교부(500)는 피처 매칭 방식을 이용한다. S50 단계에서 제 1이미지 데이터(ID1)의 가공 대상홀(HT)과 제 2이미지 데이터(ID2)의 가공 홀(HP)이 일치하지 않는 것으로 판단되면 누락 홀(HO)을 검출한다(S70). 여기서, S70 단계에서 검출된 누락 홀(HO)은 개수 및 위치로 출력될 수 있다.
S70 단계에서 누락된 누락 홀(HO)이 검출되면 가공물(PA)의 누락 홀(HO)을 재가공 한다.
한편, 도 5에 도시된 바와 같이 다른 실시 예로서 가공 대상물(PS)의 이미지를 제 1이미지 데이터(ID1)로 생성하여 저장한다(S100). 가공 대상물(PS)에 대한 가공 공정이 완료된 후 가공물(PA)에 대한 제 2이미지 데이터(ID2)를 생성하여 저장한다(S300).
비교부(500)는 S100 단계에서 생성되어 저장된 제 1이미지 데이터(ID1)와 S300 단계에서 생성되어 저장된 제 2이미지 데이터(ID2)를 상호 비교 판단한다(S500). S500 단계에서 비교부(500)는 제 1이미지 데이터(ID1)의 가공 대상홀(HT)이 제 2이미지 데이터(ID2)의 가공 홀(HP)과 일치하는 지 비교 값을 산출한다. S500 단계에서 제 1이미지 데이터(ID1)의 가공 대상홀(HT)과 제 2이미지 데이터(ID2)의 가공 홀(HP)이 일치하지 않는 것으로 판단되면 누락 홀(HO)을 검출한다(S700).
여기서, S700 단계에서 누락 홀(HO)이 검출되면 가공물(PA)에 대하여 추가 검사를 수행한다(S900). S900 단계에서 누락된 누락 홀(HO)이 검출되면 가공물(PA)의 누락 홀(HO)을 재가공 한다.
이에, 가공 대상물과 가공물의 이미지 데이터를 상호 비교하여 가공물에 대한 누락 홀을 검출할 수 있으므로, 작업자의 개별적인 검사 작업 대비 검사소요 시간을 절감할 수 있다.
또한, 가공 대상물과 가공물의 이미지 데이터 상호 비교 시 피처 매칭 방식을 이용하여 누락 홀을 검출을 정밀하게 수행할 수 있고, 이를 데이터로 전산화 하여 반복적인 오류를 해소시킬 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징들이 변경되지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것으로 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
10: 가공물 검사장치 100: 영상부
120: 제 1영상부 140: 제 2영상부
300: 이미지 데이터 생성부 320: 제 1이미지 데이터 생성부
340: 제 2이미지 데이터 생성부 500: 비교부
700: 제어부 900: 출력부
PS: 가공 대상물 PA: 가공물
H: 홀(hole) HT: 가공 대상홀
HP: 가공 홀 HO: 누락 홀
ID1: 제 1이미지 데이터 ID2: 제 2이미지 데이터

Claims (6)

  1. (a) 복수 개의 홀에 대한 가공 위치가 표시된 가공 대상물의 이미지를 제 1이미지 데이터로 저장하는 단계와;
    (b) 상기 가공 대상물에 대해 복수 개의 상기 홀이 가공된 가공물의 이미지를 제 2이미지 데이터로 저장하는 단계와;
    (c) 상기 제 1이미지 데이터의 복수 개의 상기 홀에 대한 상기 가공 위치와 상기 제 2이미지 데이터의 상기 가공물 상에 가공된 복수 개의 상기 홀을 상호 비교하는 단계와;
    (d) 상기 가공물로부터 누락된 상기 홀을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 (c) 단계에서 상기 제 1이미지 데이터의 복수 개의 상기 홀에 대한 상기 가공 위치와 상기 제 2이미지 데이터의 상기 가공물 상에 가공된 복수 개의 상기 홀을 상호 비교하는 단계는 이미지 특성을 이용하는 피처 매칭(feature matching) 방식을 사용하는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법은,
    (e) 상기 (d) 단계에서 상기 가공물로부터 누락된 상기 홀이 검출되면, 상기 가공물에 대한 추가 검사 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 추가 검사는 이미지 데이터의 이용과 작업자의 시인 중 적어도 어느 하나에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법.
  5. 제 2항에 있어서,
    상기 제 1이미지 데이터와 상기 제 2이미지 데이터는 각각 상기 가공 대상물과 상기 가공물의 동일 영역 상의 이미지 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 (c) 단계는 동일 영역 상의 상기 가공 대상물의 이미지 정보와 상기 가공물의 이미지 정보의 특징을 상호 비교하는 것을 특징으로 하는 이미지 데이터를 이용한 가공물의 검사 방법.
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Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101770558B1 (ko) 2015-04-03 2017-08-24 한국전자통신연구원 가공부품 검사 시스템

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