KR20190045762A - Apparatus for prediction electrostatic discharge damage of smart junction box - Google Patents

Apparatus for prediction electrostatic discharge damage of smart junction box Download PDF

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KR20190045762A
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Abstract

The present invention relates to a simulation device for predicting electrostatic discharge damage of a smart junction box. The present invention comprises: a data input unit for receiving circuit information corresponding to a smart junction box of the type to test electrostatic discharge (ESD) damage; a 3D modeling unit for generating a three-dimensional PCB shape based on the circuit information; an ESD applying unit for applying a predetermined level of ESD to a designated position of the three-dimensional PCB shape; an electromagnetic field and transmission path analysis unit for analyzing electromagnetic fields of all ESD transmission paths from the point where the ESD is applied to the ground in the three-dimensional PCB shape; and a simulation result output unit for outputting a simulation result, in which the electromagnetic field analysis for the ESD transmission path is completed, in a designated format. According to the present invention, it is possible to check accurate damage voltage for a portion where a problem occurs due to static electricity.

Description

스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치{APPARATUS FOR PREDICTION ELECTROSTATIC DISCHARGE DAMAGE OF SMART JUNCTION BOX}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a smart junction box, and more particularly, to an apparatus for predicting electrostatic discharge damage in a smart junction box,

본 발명은 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 실제 스마트 정션 박스 제품에 정전기를 인가하지 않고 대신에 스마트 정션 박스의 데이터를 이용한 3차원 모델링을 통해 소프트웨어적으로 정전기를 인가하는 시뮬레이션을 실시하여 데미지(또는 손상)를 예측할 수 있도록 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for predicting electrostatic discharge damage in a smart junction box, and more particularly, to an apparatus for predicting an electrostatic discharge damage in a smart junction box, in which static electricity is not applied to an actual smart junction box, (Or damage) of the smart junction box by performing a simulation of applying the static discharge damage prediction simulation apparatus to the smart junction box.

통상적으로 자동차의 전기장치는 신경계통에 비유할 수 있으며, 전기장치가 정상적으로 작동하여야만 비로소 자동차는 그 성능을 제대로 발휘할 수 있게 된다.Generally, an electric device of a car can be likened to a nervous system, and only when the electric device operates normally, the performance of the car can be demonstrated properly.

이와 같은 자동차의 전기장치는 기관측 전기장치와 차체측 전기장치로 나눌 수 있는데, 기관측 전기장치는 점화코일, 배전기 고압 케이블, 점화 플러그 등으로 이루어지는 점화장치 및 발전기, 조정기로 이루어지는 충전장치로 되어 있고, 차체측 전기장치는 축전지를 비롯하여 조명용, 표지용, 신호용으로 이루어지는 등화장치, 인스트루먼트 패널에 설치되는 계기류 경고 표시장치 및 냉/난방장치 등이 있다.Such an electric apparatus of an automobile can be divided into an engine-side electric apparatus and a body-side electric apparatus, wherein the engine-side electric apparatus is a charging apparatus composed of an ignition device including an ignition coil, a distributor high-voltage cable, The body-side electrical apparatus includes a battery, an equalizing apparatus for illumination, a marking, and a signal, a meter warning display apparatus installed on the instrument panel, and a cooling / heating apparatus.

이러한 자동차의 전기장치들은 모두 와이어로 자동차의 엔진룸 내부에서 전자제어장치용 컴퓨터(Electronic Control Unit: ECU)와 연결되어 있는데, 이때 이들 와이어와 ECU를 서로 연결하는 중간 매개체로써 스마트 정션 박스(SJB : Smart Junction Box, 또는 스마트 정션 블록)가 사용된다.All of these automobile electrical devices are connected by wire to the electronic control unit (ECU) inside the engine room of the vehicle. The smart junction box (SJB: Smart Junction Box, or Smart Junction Block) is used.

따라서 상기 스마트 정션 박스는 차량의 안전에 직결되는 매우 중요한 장치이므로, 차량에 실장하기 전에 반드시 안전검사를 통해 성능을 검증함으로써 안전성을 확보해야 한다.Therefore, since the smart junction box is a very important device directly connected to the safety of the vehicle, it is necessary to secure safety by verifying the performance through safety inspection before mounting the vehicle in the vehicle.

상기 스마트 정션 박스(SJB)의 안전검사로서, 도 1에 도시된 바와 같이, 정전기 인가 장치(예 : ESD GUN : Electro Static Discharge GUN)을 이용하여 스마트 정션 박스(SJB)에 직접적으로 정전기를 인가하여, 상기 정전기에 의한 스마트 정션 박스(SJB : Smart Junction Box, 또는 스마트 정션 블록)의 부품 파손 및 오동작 여부를 확인하는 시험(안전검사)을 실시한다.As a safety inspection of the SmartJunction box (SJB), static electricity is directly applied to a Smart Junction Box (SJB) using an electrostatic application device (e.g., ESD GUN: Electro Static Discharge GUN) (Safety check) to check whether the static junction box (SJB: Smart Junction Box or Smart Junction Block) is broken or malfunctioned by the static electricity.

그런데 상기와 같이 정전기를 제품(예 : SJB)에 직접 인가하여 부품 파손 및 오동작 여부를 확인하는 시험(안전검사)은 정상(비정상) 판정은 가능하지만, 정전기에 의해 문제가 발생한 부분에 대한 정확한 데미지 전압의 확인이 어렵고, 정전기 개선 대책(예 : 부품의 용량 변경이나, 정전기 흡수를 위한 부품 추가 등)을 제안하는데 어려움이 있었다.However, in the test (safety inspection) for confirming whether a static electricity is directly applied to a product (for example, SJB) to check for breakage or malfunction of the component, it is possible to make a normal (abnormal) determination. However, It is difficult to confirm the voltage, and it has been difficult to propose measures for improving the static electricity (for example, changing the capacity of parts or adding components for absorbing static electricity).

본 발명의 배경기술은 대한민국 등록특허 10-0811009호(2008.02.29.등록, 고장 진단 기능을 갖춘 스마트 정션박스)에 개시되어 있다.The background art of the present invention is disclosed in Korean Registered Patent No. 10-0811009 (Registered on February 29, 2008, Smart Junction Box equipped with a failure diagnosis function).

본 발명의 일 측면에 따르면, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창작된 것으로서, 실제 스마트 정션 박스 제품에 정전기를 인가하지 않고 대신에 스마트 정션 박스의 데이터를 이용한 3차원 모델링을 통해 소프트웨어적으로 정전기를 인가하는 시뮬레이션을 실시하여 데미지(또는 손상)를 예측할 수 있도록 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치를 제공하는데 그 목적이 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided a smart junction box product, which is created to solve the above-described problems, and in which, instead of applying static electricity to an actual smart junction box product, The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide an electrostatic discharge damage prediction simulation device of a smart junction box that can simulate damage (or damage) by applying static electricity.

본 발명의 일 측면에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치는, ESD(Electro Static Discharge) 데미지를 시험할 종류의 스마트 정션 박스에 대응하는 회로 정보를 입력받는 데이터 입력부; 상기 회로 정보를 바탕으로 3차원 PCB 형상을 생성하는 3D 모델링부; 상기 3차원 PCB 형상의 지정된 위치에 지정된 레벨의 ESD를 인가하는 ESD 인가부; 상기 3차원 PCB 형상에서 상기 ESD가 인가된 지점으로부터 접지에 이르는 모든 ESD 전달경로에 대한 전자장을 해석하는 전자장 및 전달경로 해석부; 및 상기 ESD 전달경로에 대한 전자장 해석이 완료된 시뮬레이션 결과를 지정된 형식으로 출력하는 시뮬레이션 결과 출력부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for predicting electrostatic discharge damage of a smart junction box, comprising: a data input unit receiving circuit information corresponding to a smart junction box of a type for testing electrostatic discharge (ESD) damage; A 3D modeling unit for generating a three-dimensional PCB shape based on the circuit information; An ESD applying unit for applying a predetermined level of ESD to a designated position of the three-dimensional PCB shape; An electromagnetic field and propagation path analyzer for analyzing electromagnetic fields of all ESD propagation paths from the point where the ESD is applied to the ground to the ground in the three-dimensional PCB shape; And a simulation result output unit for outputting a simulation result in which the electromagnetic field analysis for the ESD transmission path is completed, in a specified format.

본 발명에 있어서, 상기 회로 정보는, 스마트 정션 박스의 회로도, PCB 아스키 파일, 스택업(Stack_up) 데이터, 및 소자 데이터를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, the circuit information includes a circuit diagram of a Smart Junction Box, a PCB ASCII file, Stack_up data, and device data.

본 발명에 있어서, 상기 PCB(Printed Circuit Board) 데이터는, PCB 설계 데이터로서 아스키 파일 데이터이고, 상기 스택업(Stack up) 데이터는, PCB 적층구조 데이터로서 패턴의 동박 및 에폭시 두께 데이터를 포함한 것이며, 상기 소자 데이터는 퓨즈, 케이블, 및 수동 소자 정보 중 적어도 하나 이상이 포함된 데이터인 것을 특징으로 한다.In the present invention, the printed circuit board (PCB) data is ASCII file data as PCB design data, and the stack up data includes copper foil and epoxy thickness data of a pattern as PCB stack structure data, The device data is data including at least one of fuse, cable, and passive device information.

본 발명에 있어서, 상기 3차원 PCB 형상은, PCB, 패턴, 퓨즈, 수동 소자, 케이블, 및 점프선 중 적어도 하나 이상이 실장된 3차원 형상인 것을 특징으로 한다.In the present invention, the three-dimensional PCB shape is a three-dimensional shape in which at least one of a PCB, a pattern, a fuse, a passive element, a cable, and a jump line is mounted.

본 발명에 있어서, 상기 ESD 인가부는, 실제 정전기 인가 장치에서 인가되는 ESD 파형과 동일한 형태의 ESD 파형을 인가할 수 있으며, 상기 ESD 파형의 생성을 위한 저항과 커패시터의 용량 조건을 변경하여 다른 형태의 ESD 파형을 생성할 수 있도록 구현된 것을 특징으로 한다.In the present invention, the ESD applying unit may apply an ESD waveform of the same type as the ESD waveform applied in the actual static electricity applying apparatus, and may change the resistance condition for generating the ESD waveform and the capacitance condition of the capacitor, And an ESD waveform can be generated.

본 발명에 있어서, 상기 전자장 및 전달경로 해석부는, ESD 전달경로에 대한 데미지 정도를 3차원 PCB 형상에 색상으로 표시하며, ESD 데미지 정도가 작을수록 지정된 제1 색상으로 더 진하게 표시하고, ESD 데미지 정도가 클수록 지정된 제2 색상으로 더 진하게 표시하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, the electromagnetic field and propagation path analyzing unit displays the degree of damage to the ESD transmission path in a color on the three-dimensional PCB shape, displays the first color more darkly as the degree of ESD damage becomes smaller, And the second color is darker.

본 발명에 있어서, 상기 전자장 및 전달경로 해석부는, ESD 데미지 정도가 지점에 대한 ESD 개선대책이 적용될 경우, 이를 시뮬레이션을 통해 다시 해석하여 적합이나 부적합을 판단하고, 상기 ESD 개선대책은, 새로운 소자를 삽입하거나, 기존에 삽입된 소자의 용량을 증감하거나, 기존에 삽입된 소자의 종류를 변경하거나, PCB 패턴의 동박 두께나 넓이를 조정하는 것 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the present invention, the ESD and propagation path analyzing unit re-interprets the ESD damage countermeasure by applying simulation if ESD damage countermeasure measures are applied to the point, and determines whether the ESD damage is inappropriate or unsuitable. Or adjusting the thickness or the width of the copper foil of the PCB pattern by increasing or decreasing the capacity of the previously inserted device, changing the type of the previously inserted device, or adjusting the thickness or the width of the copper foil of the PCB pattern.

본 발명의 일 측면에 따르면, 본 발명은 실제 스마트 정션 박스 제품에 정전기를 인가하지 않고 대신에 스마트 정션 박스의 데이터를 이용한 3차원 모델링을 통해 소프트웨어적으로 정전기를 인가하는 시뮬레이션을 실시하여 데미지(또는 손상)를 예측할 수 있도록 함으로써, 정전기에 의해 문제가 발생한 부분에 대한 정확한 데미지 전압을 확인할 수 있고, 정전기 개선 대책(예 : 부품의 용량 변경이나, 정전기 흡수를 위한 부품 추가 등)을 쉽게 제안할 수 있도록 하는 효과가 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a smart junction box product, which does not apply static electricity, but instead performs a simulation of applying static electricity by software through three-dimensional modeling using data of a smart junction box, Damage) can be predicted, it is possible to easily identify the correct damage voltage for the part where the problem is caused by static electricity, and to easily propose measures for improving the static electricity (for example, changing the capacity of parts or adding parts for absorbing static electricity) .

도 1은 종래의 스마트 정션 박스의 정전기 방전 시험 장치를 촬영한 사진.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치의 개략적인 구성을 보인 예시도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치의 개략적인 동작을 설명하기 위한 흐름도.
도 4는 상기 도 2에 있어서, 데이터 입력부를 통해 입력받는 데이터를 설명하기 위하여 보인 예시도.
도 5는 상기 도 2에 있어서, 3D 모델링부에서 생성한 3차원 PCB 형상을 예시적으로 보인 예시도.
도 6은 상기 도 2에 있어서, 전자장 및 전달경로 해석부에서 해석한 ESD 전달경로에 대한 데미지 정도를 모델링된 3차원 PCB 형상에 색상으로 표시한 예시도.
도 7은 상기 도 2에 있어서, ESD 데미지를 개선하기 전과 후의 시험 결과를 비교하기 위하여 보인 예시도.
1 is a photograph of an electrostatic discharge test apparatus of a conventional smart junction box.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an electrostatic discharge damage prediction simulation apparatus for a smart junction box.
3 is a flowchart illustrating a schematic operation of an apparatus for predicting electrostatic discharge damage in a smart junction box according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an exemplary diagram for explaining data input through the data input unit in FIG. 2; FIG.
FIG. 5 is an exemplary view showing the three-dimensional PCB shape generated by the 3D modeling unit in FIG. 2; FIG.
FIG. 6 is an exemplary diagram showing the degree of damage to the ESD transmission path analyzed by the electromagnetic field and propagation path analyzer in FIG. 2 in a color-coded three-dimensional PCB shape.
FIG. 7 is an exemplary diagram for comparing the test results before and after the improvement of the ESD damage in FIG. 2; FIG.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치의 일 실시예를 설명한다. Hereinafter, an embodiment of an apparatus for predicting electrostatic discharge damage in a smart junction box according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In this process, the thicknesses of the lines and the sizes of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation. In addition, the terms described below are defined in consideration of the functions of the present invention, which may vary depending on the intention or custom of the user, the operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout this specification.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치의 개략적인 구성을 보인 예시도이다.FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an apparatus for predicting the static discharge damage of a smart junction box according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치는, 데이터 입력부(110), 3D 모델링부(120), ESD 인가위치 선택부(130), ESD 인가레벨 설정부(140), ESD 인가부(150), 전자장 및 전달경로 해석부(160), 및 시뮬레이션 결과 출력부(170)를 포함한다.2, the ESD simulation apparatus of the smart junction box according to the present embodiment includes a data input unit 110, a 3D modeling unit 120, an ESD application position selection unit 130, an ESD application level A setting unit 140, an ESD applying unit 150, an electric field and propagation path analyzing unit 160, and a simulation result output unit 170.

상기 데이터 입력부(110)는 시험할 종류의 스마트 정션 박스에 대응하는 회로 정보(예 : 회로도, PCB 아스키 파일, Stack_up 데이터, BOM 데이터 등)를 입력받는다(도 4 참조). The data input unit 110 receives circuit information (e.g., circuit diagram, PCB ASCII file, Stack_up data, BOM data, etc.) corresponding to the type of smart junction box to be tested (see FIG.

도 4는 상기 도 2에 있어서, 데이터 입력부를 통해 입력받는 데이터를 설명하기 위하여 보인 예시도이다.FIG. 4 is an exemplary diagram illustrating data input through the data input unit in FIG.

상기 데이터 입력부(110)는 PCB(Printed Circuit Board) 데이터를 입력받기 위한 PCB 데이터 입력부(111)를 포함한다. 상기 PCB 데이터는, 도 4의 (a)에 도시된 보와 같은, PCB 설계 데이터(즉, 아스키 파일 데이터)를 의미한다.The data input unit 110 includes a PCB data input unit 111 for receiving PCB (Printed Circuit Board) data. The PCB data refers to PCB design data (i.e., ASCII file data) as shown in FIG. 4 (a).

상기 데이터 입력부(110)는 스택업(Stack up) 데이터를 입력받기 위한 Stack up 데이터 입력부(112)를 포함한다. 상기 스택업(Stack up) 데이터는, 도 4의 (b)에 도시된 보와 같은, PCB 적층구조(예 : 동박, 에폭시 두께 등)에 관련된 데이터를 의미한다.The data input unit 110 includes a stack up data input unit 112 for receiving stack up data. The stack up data refers to data related to a PCB laminate structure (e.g., copper foil, epoxy thickness, etc.) as shown in Fig. 4 (b).

상기 데이터 입력부(110)는 소자 데이터(즉, BOM List)를 입력받기 위한 소자 데이터 입력부(113)를 포함한다. 상기 소자 데이터(즉, BOM List)는 , 도 4의 (c)에 도시된 보와 같이 수동 소자 정보를 포함한다.The data input unit 110 includes a device data input unit 113 for receiving device data (i.e., a BOM list). The device data (i.e., the BOM List) includes passive element information as shown in Fig. 4 (c).

상기 3D 모델링부(120)는 상기 데이터 입력부(110)를 통해 입력받은 회로 정보(예 : 회로도, PCB 아스키 파일, Stack_up 데이터, BOM 데이터 등)를 바탕으로 소자가 장착된 3차원 PCB 형상을 생성한다(도 5 참조).The 3D modeling unit 120 generates a three-dimensional PCB shape on which elements are mounted based on circuit information (e.g., circuit diagram, PCB ASCII file, Stack_up data, BOM data, etc.) input through the data input unit 110 (See FIG. 5).

도 5는 상기 도 2에 있어서, 3D 모델링부에서 생성한 3차원 PCB 형상을 예시적으로 보인 예시도이다.FIG. 5 is an exemplary diagram showing a three-dimensional PCB shape generated by the 3D modeling unit in FIG.

도 5에 도시된 바와 같이, 상기 3차원 PCB 형상은 PCB, 패턴, 소자(예 : 퓨즈, 수동 소자 등), 및 케이블(예 : 점프선 등)이 3차원 형상으로 모델링되어 있다. 즉, 상기 데이터 입력부(110)를 통해 입력받은 회로 정보(예 : 회로도, PCB 아스키 파일, Stack_up 데이터, BOM 데이터 등)에 대응하는 3차원 PCB 형상을 모델링 한다.As shown in FIG. 5, the three-dimensional PCB shape is modeled as a three-dimensional shape of a PCB, a pattern, an element (e.g., a fuse, a passive element, etc.), and a cable (e.g., a jump line). That is, a three-dimensional PCB shape corresponding to circuit information (for example, circuit diagram, PCB ASCII file, Stack_up data, BOM data, etc.) input through the data input unit 110 is modeled.

상기 ESD 인가부(150)는 상기 3차원 PCB 형상의 원하는 특정 지점(또는 소자)에 미리 설정된 파형과 레벨의 ESD(정전기)를 인가한다(도 5 참조).The ESD applying unit 150 applies ESD (static electricity) of a predetermined waveform and level to a desired specific point (or element) of the three-dimensional PCB shape (see FIG. 5).

상기 ESD(정전기)는 실제 정전기 인가 장치(예 : ESD GUN)에서 인가되는 파형과 동일한 파형(예 : 330Ω-330pF Gun 모델의 ESD 파형)을 인가할 수 있으며, 상기 저항과 커패시터의 용량 조건을 변경하여 다른 형태의 ESD 파형을 생성하여 인가할 수도 있다.The ESD (static electricity) can apply the same waveform (for example, an ESD waveform of 330 Ω-330 pF Gun model) to a waveform applied in an actual static electricity applying device (for example, ESD GUN) and change the capacity condition of the resistor and the capacitor Thereby generating and applying another type of ESD waveform.

상기 ESD 인가위치 선택부(130)는 상기 ESD 인가부(150)를 통해 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에 ESD(정전기)를 인가할 위치(예 : 소자, 패턴, 접점 등)를 지정받는다. The ESD application position selection unit 130 designates a position (for example, an element, a pattern, a contact, etc.) to apply ESD (static electricity) to the modeled three-dimensional PCB shape through the ESD application unit 150.

상기 ESD 인가레벨 설정부(140)는 상기 ESD 인가부(150)를 통해 상기 ESD 인가위치 선택부(130)에서 지정받은 위치(예 : 소자, 패턴, 접점 등)에 인가할 ESD(정전기) 레벨을 설정받는다.The ESD application level setting unit 140 sets an ESD level to be applied to a position (e.g., device, pattern, contact, etc.) designated by the ESD application position selector 130 through the ESD application unit 150 Lt; / RTI >

예컨대 상기 ESD(정전기) 레벨은 ±4KV, ±8KV 등 가변될 수 있다.For example, the ESD (electrostatic) level may be varied to ± 4 KV, ± 8 KV, and the like.

이에 따라 상기 지정된 위치(예 : 소자, 패턴, 접점 등)에 지정된 레벨(예 : ±4KV, ±8KV 등)의 ESD(정전기)가 인가되면, 상기 전자장 및 전달경로 해석부(160)는 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에서 상기 ESD(정전기)가 인가된 지점으로부터 접지에 이르는 모든 ESD(정전기) 전달경로(예 : 패턴 및 소자를 포함하는 경로)에 대한 전자장을 해석한다(도 6 참조). Accordingly, when ESD (static electricity) of a specified level (for example, ± 4 KV, ± 8 KV, etc.) is applied to the designated position (eg, device, pattern, contact point, etc.), the electromagnetic field and propagation path analysis unit 160 (Electrostatic) propagation path (for example, a path including a pattern and a device) from a point where the ESD (static electricity) is applied to a ground to a ground in a three-dimensional PCB shape.

이때 상기 전자장 및 전달경로 해석부(160)는 전자장 해석을 위해서 맥스웰 방정식을 이용한 알고리즘이 적용될 수 있다.At this time, the electromagnetic field and propagation path analysis unit 160 may apply the algorithm using the Maxwell's equation for the electromagnetic field analysis.

도 6은 상기 도 2에 있어서, 전자장 및 전달경로 해석부에서 해석한 ESD(정전기) 전달경로에 대한 데미지(손상) 정도를 모델링된 3차원 PCB 형상에 색상으로 표시한 예시도이다.FIG. 6 is an exemplary diagram showing the degree of damage (damage) to the ESD (electrostatic) transmission path analyzed by the electromagnetic field and propagation path analysis unit in a modeled three-dimensional PCB shape in color in FIG.

도 6을 참조하면 ESD(정전기) 데미지(손상) 정도가 작을수록 파란색으로 표시되고, ESD(정전기) 데미지(손상) 정도가 클수록 빨간색으로 표시된다.Referring to FIG. 6, the smaller the degree of ESD (damage), the more blue is displayed, and the greater the degree of ESD (damage), the more red is displayed.

이에 따라 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에서 사용자는 색상을 참조하여, 간편하게 ESD(정전기) 레벨에 따라 ESD(정전기) 데미지(손상) 정도가 큰 위치를 확인할 수 있게 된다.Accordingly, in the modeled three-dimensional PCB shape, the user can easily see the position of ESD (electrostatic) damage (damage) according to ESD (static electricity) level by referring to the color.

상기 시뮬레이션 결과 출력부(170)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 인가된 ESD(정전기) 레벨에 따른 ESD(정전기) 데미지(손상)가 있는 위치 정보를 출력하고, 사용자는 데미지가 전압 제한값의 범위를 벗어나는 경우, ESD 대응소자(ESD 개선대책)를 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에 삽입한다.6, the output unit 170 outputs positional information with ESD (electrostatic) damage (damage) according to an applied ESD (static electricity) level, The ESD countermeasure device (ESD countermeasure measure) is inserted into the modeled three-dimensional PCB shape.

예컨대 상기 데이터 입력부(110)를 통해 ESD 대응소자 데이터를 입력함으로써 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에 삽입할 수 있다. 다만 이에 한정하지 않고 다른 방식(예 : 3차원으로 모델링된 대응소자를 직접 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에 삽입하는 방식)을 적용할 수도 있다. For example, ESD-responsive device data may be input through the data input unit 110 to be inserted into the modeled three-dimensional PCB shape. However, the present invention is not limited to this, and other methods (for example, a method of directly inserting a corresponding element modeled in three dimensions into the modeled three-dimensional PCB shape) may be applied.

이때 상기 ESD 대응소자(ESD 개선대책)는 반드시 새로운 소자를 삽입해야 되는 것은 아니며, 기존에 삽입된 소자의 용량을 증감하거나, 기존에 삽입된 소자의 종류를 변경하거나, 패턴의 동박 두께나 넓이를 조정하는 것까지 포함한다.At this time, the ESD countermeasure (ESD countermeasure) does not necessarily require the insertion of a new device. It is not necessary to increase or decrease the capacity of the previously inserted device, to change the type of the previously inserted device, It also includes adjustment.

상기와 같이 ESD 대응소자(ESD 개선대책)를 적용하여 다시 시뮬레이션을 수행할 경우, 도 7에 도시된 바와 같이, ESD 개선 결과가 간편하고 빠르게 도출될 수 있다. 도 7은 상기 도 2에 있어서, ESD(정전기) 데미지(손상)를 개선하기 전과 후의 시험 결과를 비교하기 위하여 보인 예시도이다.When the simulation is performed again by applying the ESD countermeasure device (ESD countermeasure) as described above, the ESD improvement result can be obtained easily and quickly as shown in FIG. FIG. 7 is an exemplary diagram for comparing test results before and after the improvement of ESD (electrostatic) damage (damage) in FIG. 2; FIG.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치의 개략적인 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating a schematic operation of an apparatus for predicting electrostatic discharge damage in a smart junction box according to an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치는, 상기 데이터 입력부(110)를 통해 시험할 종류의 스마트 정션 박스에 대응하는 회로 정보(예 : 회로도, PCB 아스키 파일, Stack_up 데이터, BOM 데이터 등)를 입력받는다(S101, S102). 3, the apparatus for predicting the electrostatic discharge damage of the smart junction box according to the present embodiment includes circuit information (for example, a circuit diagram, a circuit diagram, etc.) corresponding to a type of smart junction box to be tested through the data input unit 110, PCB ASCII file, Stack_up data, BOM data, etc.) (S101, S102).

다음 3D 모델링부(120)를 통해 상기 입력받은 회로 정보(예 : 회로도, PCB 아스키 파일, Stack_up 데이터, BOM 데이터 등)를 바탕으로 3차원 PCB 형상을 생성한다(S103).Dimensional PCB shape based on the inputted circuit information (e.g., circuit diagram, PCB ASCII file, Stack_up data, BOM data, etc.) through the following 3D modeling unit 120 (S103).

다음 ESD 인가부(150)를 통해 상기 3차원 PCB 형상에서 미리 지정된 특정 위치(예 : 소자, 패턴, 접점 등)에 지정된 레벨(예 : ±4KV, ±8KV 등)의 ESD(정전기)가 인가하고(S104), 전자장 및 전달경로 해석부(160)를 통해 상기 모델링된 3차원 PCB 형상에서 상기 ESD(정전기)가 인가된 지점으로부터 접지에 이르는 모든 ESD(정전기) 전달경로(예 : 패턴 및 소자를 포함하는 경로)에 대한 전자장을 해석한다(S105). ESD (static electricity) of a specified level (e.g., ± 4 KV, ± 8 KV, etc.) is applied to a predetermined position (eg, device, pattern, contact, etc.) predetermined in the three-dimensional PCB shape through the next ESD applying unit 150 (Electrostatic) transmission path (for example, a pattern and a device) from the point where the ESD (static electricity) is applied to the ground in the modeled three-dimensional PCB shape through the electromagnetic field and propagation path analysis unit 160 (Step S105).

상기 ESD 전달경로에 대한 전자장을 해석한 결과 부적합할 경우(S105의 부적합), 상기 전자장 및 전달경로 해석부(160)는 사용자가 제시한 ESD 개선대책을 해석하여 이 ESD 개선대책이 적합한지 부적합한지 체크한다(S106).If the result of the analysis of the electromagnetic field for the ESD transmission path is inadequate (unsuitable in S105), the electromagnetic field and propagation path analysis unit 160 interprets the ESD improvement measures suggested by the user to determine whether the ESD improvement measures are appropriate (S106).

여기서 상기 ESD 개선대책은, 새로운 소자를 삽입하거나, 기존에 삽입된 소자의 용량을 증감하거나, 기존에 삽입된 소자의 종류를 변경하거나, PCB 패턴의 동박 두께나 넓이를 조정하는 것을 포함하는 개념이다.Here, the ESD countermeasure includes the concept of inserting a new device, increasing or decreasing the capacity of a previously inserted device, changing the type of a previously inserted device, or adjusting the thickness or width of a copper foil of a PCB pattern .

이에 따라 상기 ESD 개선대책이 부적합한 경우에는 회로 정보를 변경하거나 재설계가 이루어지도록 한다.Accordingly, when the ESD countermeasure is inappropriate, circuit information is changed or redesigned.

다음 시뮬레이션 결과 출력부(170)를 통해 시뮬레이션 결과를 지정된 특정 형식(예 : ESD 시험 평가서 형식)으로 출력한다.The simulation result is outputted through the output unit 170 as a result of the next simulation in a specified specific format (e.g., an ESD test evaluation form).

상기와 같이 본 실시예는 실제 스마트 정션 박스 제품에 정전기를 인가하지 않고 대신에 스마트 정션 박스의 데이터를 이용한 3차원 모델링을 통해 소프트웨어적으로 정전기를 인가하는 시뮬레이션을 실시하여 데미지(또는 손상)를 예측할 수 있도록 함으로써, 정전기에 의해 문제가 발생한 부분에 대한 정확한 데미지 전압을 확인할 수 있고, 정전기 개선 대책(예 : 부품의 용량 변경이나, 정전기 흡수를 위한 부품 추가 등)을 쉽게 제안할 수 있도록 하는 효과가 있다.As described above, according to the present embodiment, a static electromotive force is applied to the actual smart junction box product instead of the static junction box, and instead, software is applied to the static electromagnetism through three-dimensional modeling using the data of the smart junction box to predict the damage It is possible to confirm the accurate damage voltage to the part where the problem is caused by the static electricity and to make it easy to propose the measures for the improvement of the static electricity (for example, the capacity change of the component or the component addition for the static electricity absorption) have.

이상으로 본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, I will understand the point. Accordingly, the technical scope of the present invention should be defined by the following claims.

110 : 데이터 입력부 120 : 3D 모델링부
130 : ESD 인가위치 선택부 140 : ESD 인가레벨 설정부
150 : ESD 인가부 160 : 전자장 및 전달경로 해석부
170 : 시뮬레이션 결과 출력부
110: data input unit 120: 3D modeling unit
130: ESD application position selection unit 140: ESD application level setting unit
150: ESD application section 160: electromagnetic field and propagation path analysis section
170: Simulation result output section

Claims (7)

ESD(Electro Static Discharge) 데미지를 시험할 종류의 스마트 정션 박스에 대응하는 회로 정보를 입력받는 데이터 입력부;
상기 회로 정보를 바탕으로 3차원 PCB 형상을 생성하는 3D 모델링부;
상기 3차원 PCB 형상의 지정된 위치에 지정된 레벨의 ESD를 인가하는 ESD 인가부;
상기 3차원 PCB 형상에서 상기 ESD가 인가된 지점으로부터 접지에 이르는 모든 ESD 전달경로에 대한 전자장을 해석하는 전자장 및 전달경로 해석부; 및
상기 ESD 전달경로에 대한 전자장 해석이 완료된 시뮬레이션 결과를 지정된 형식으로 출력하는 시뮬레이션 결과 출력부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
A data input unit for receiving circuit information corresponding to a type of smart junction box to be tested for electrostatic discharge (ESD) damage;
A 3D modeling unit for generating a three-dimensional PCB shape based on the circuit information;
An ESD applying unit for applying a predetermined level of ESD to a designated position of the three-dimensional PCB shape;
An electromagnetic field and propagation path analyzer for analyzing electromagnetic fields of all ESD propagation paths from the point where the ESD is applied to the ground to the ground in the three-dimensional PCB shape; And
And a simulation result output unit for outputting a simulation result in which the electromagnetic field analysis for the ESD transmission path is completed in a designated format.
제 1항에 있어서, 상기 회로 정보는,
스마트 정션 박스의 회로도, PCB 아스키 파일, 스택업(Stack_up) 데이터, 및 소자 데이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
2. The method of claim 1,
A schematic diagram of the smart junction box, a PCB ASCII file, stack up data, and device data.
제 2항에 있어서,
상기 PCB(Printed Circuit Board) 데이터는, PCB 설계 데이터로서 아스키 파일 데이터이고,
상기 스택업(Stack up) 데이터는, PCB 적층구조 데이터로서 패턴의 동박 및 에폭시 두께 데이터를 포함한 것이며,
상기 소자 데이터는 퓨즈, 케이블, 및 수동 소자 정보 중 적어도 하나 이상이 포함된 데이터인 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
3. The method of claim 2,
The PCB (Printed Circuit Board) data is ASCII file data as PCB design data,
The stack up data includes copper foil and epoxy thickness data of a pattern as PCB stack structure data,
Wherein the device data is data including at least one of fuse, cable, and passive device information.
제 1항에 있어서, 상기 3차원 PCB 형상은,
PCB, 패턴, 퓨즈, 수동 소자, 케이블, 및 점프선 중 적어도 하나 이상이 실장된 3차원 형상인 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
The method of claim 1, wherein the three-
Wherein the at least one of the PCB, the pattern, the fuse, the passive element, the cable, and the jump line is mounted in a three-dimensional shape.
제 1항에 있어서, 상기 ESD 인가부는,
실제 정전기 인가 장치에서 인가되는 ESD 파형과 동일한 형태의 ESD 파형을 인가할 수 있으며, 상기 ESD 파형의 생성을 위한 저항과 커패시터의 용량 조건을 변경하여 다른 형태의 ESD 파형을 생성할 수 있도록 구현된 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
The apparatus of claim 1,
It is possible to apply an ESD waveform of the same type as that of the ESD waveform applied in the actual static electricity applying apparatus and to change the capacitance condition of the resistor and the capacitor for generating the ESD waveform to generate another type of ESD waveform A Smart Discharge Damage Prediction Simulation Apparatus of Smart Junction Box.
제 1항에 있어서, 상기 전자장 및 전달경로 해석부는,
ESD 전달경로에 대한 데미지 정도를 3차원 PCB 형상에 색상으로 표시하며,
ESD 데미지 정도가 작을수록 지정된 제1 색상으로 더 진하게 표시하고,
ESD 데미지 정도가 클수록 지정된 제2 색상으로 더 진하게 표시하는 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
The apparatus of claim 1, wherein the electromagnetic field and propagation path analysis unit comprises:
The degree of damage to the ESD transfer path is displayed in color on the three-dimensional PCB shape,
The smaller the degree of ESD damage, the darker the designated first color,
And the ESD damage is displayed in a darker color in accordance with a greater degree of damage to the ESD damage.
제 6항에 있어서, 상기 전자장 및 전달경로 해석부는,
ESD 데미지 정도가 지점에 대한 ESD 개선대책이 적용될 경우, 이를 시뮬레이션을 통해 다시 해석하여 적합이나 부적합을 판단하고,
상기 ESD 개선대책은, 새로운 소자를 삽입하거나, 기존에 삽입된 소자의 용량을 증감하거나, 기존에 삽입된 소자의 종류를 변경하거나, PCB 패턴의 동박 두께나 넓이를 조정하는 것 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 스마트 정션 박스의 정전기 방전 데미지 예측 시뮬레이션 장치.
[7] The apparatus of claim 6,
When the ESD improvement measure for ESD damage points is applied, it is re-interpreted through simulation to determine suitability or nonconformity,
The ESD countermeasure includes at least one of inserting a new element, increasing or decreasing the capacity of a previously inserted element, changing the type of a previously inserted element, or adjusting the thickness or width of a copper foil of a PCB pattern Wherein the static discharge damage predictive simulation apparatus of the smart junction box comprises:
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